CN215005504U - 一种测试治具 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及电子器械技术领域,公开了一种测试治具,包括:基座;固定于基座上的背光板;固定于背光板背离基座一侧的测试转板;固定于测试转板背离背光板一侧的测试探针固定座,测试探针固定座具有多个沿厚度方向贯穿测试探针固定座的探针孔;测试探针,测试探针固定于探针孔,以使测试探针的一端与测试转板接触,另一端探出探针孔;显示板固定模组,显示板固定模组用于固定安装影像显示板、并将影像显示板与测试探针固定座配合压紧,以使得测试探针与影像显示板上的测试点接触。本申请公开的测试治具,保证了测试影像没有被挡区域,从而保证了脏点测试没有盲区,很好地解决了成像有脏污的问题。

Description

一种测试治具
技术领域
本申请涉及电子器械技术领域,特别涉及一种测试治具。
背景技术
现有的测试治具(例如用于影像显示板的测试治具),由于测试探针的长度较长,高于测试探针固定座2.5mm左右,测试探针会发生摆动的情况,而上述情况会导致测试取影的画面会有一部分被探针挡到,而被挡到的位置如果有脏污,就无法被检查出来,从而导致成像有脏污的风险。因此,如何解决成像有脏污的问题是本领域技术人员亟待解决的事情。
实用新型内容
本实用新型提供了一种测试治具,可有效解决现有技术中影像显示板在成像时产生脏污的问题。
为了达到上述目的,本实用新型提供了一种测试治具,包括:
基座;
固定于所述基座上的背光板;
固定于所述背光板背离所述基座一侧的测试转板;
固定于所述测试转板背离所述背光板一侧的测试探针固定座,所述测试探针固定座具有多个沿厚度方向贯穿所述测试探针固定座的探针孔;
测试探针,所述测试探针固定于所述探针孔,以使所述测试探针的一端与所述测试转板接触,另一端探出所述探针孔;
显示板固定模组,所述显示板固定模组用于固定安装影像显示板、并将所述影像显示板与所述测试探针固定座配合压紧,以使得所述测试探针与影像显示板上的测试点接触。
上述测试治具,通过在背光板与测试探针固定座之间设置测试转板,并且测试探针固定座上设有多个探针孔,当测试探针固定于探针孔内时,探针孔的一端与位于测试探针固定座下方的测试转板连接,另一端探出探针孔,显示板固定模组将影像显示板固定好后,压到基座上并使得影像显示板的测试点与测试探针接触,从而使得影像显示于显示器上。由于采用了测试转板,并将测试转板放置于测试探针固定座下方,当进行成像时,测试探针的一端与测试转板接触,另一端与影像显示板接触,在此过程中能够保证测试探针不会摆动,从而能够使得测试影像没有被挡区域,也保证了脏点测试没有盲区,从而很好地解决了成像有脏污的问题。
因此,本实用新型提供的测试治具,通过在测试探针固定座与背光板之间设置测试转板,保证了测试影像没有被挡区域,从而保证了脏点测试没有盲区,很好地解决了成像有脏污的问题。
优选地,还包括吸附装置,所述吸附装置用于当所述显示板固定模组安装影像显示板后使得所述显示板固定模组与所述基座吸附压紧。
优选地,所述吸附装置包括固定于所述基座的多个第一磁吸部以及固定于所述显示板固定模组且与所述第一磁吸部一一对应的第二磁吸部。
优选地,所述显示板固定模组包括用于固定影像显示板的第一固定板和用于固定所述第一固定板的第二固定板,当所述显示板固定模组安装影像显示板后固定于所述基座时,所述第一固定板位于所述影像显示板背离所述基座的一侧,所述第二固定板位于所述第一固定板与所述影像显示板之间。
优选地,所述第一固定板设有用于与影像显示板定位配合的第一定位结构。
优选地,所述第一定位结构包括位于所述第一固定板背离所述第二固定板一侧的多个第一定位柱。
优选地,所述第二固定板设有用于与所述第一固定板定位配合的第二定位结构。
优选地,所述第二定位结构包括位于所述第二固定板朝向所述第一固定板一侧的多个第二定位柱,所述第一固定板设有与所述第二定位柱一一对应的定位孔。
优选地,当所述测试探针固定于所述探针孔时,所述测试探针探出所述探针孔的一端与所述测试探针固定座背离所述测试转板的一侧表面之间的距离为0.4-0.6mm。
附图说明
图1为本实用新型中测试治具与影像显示板配合测试的一种结构示意图;
图2为本实用新型中测试治具未固定显示板固定模组时的一种正面结构示意图;
图3为本实用新型中测试治具未固定显示板固定模组时的一种整体结构示意图;
图4为图2中A处的放大结构示意图;
图5为图3中B处的放大结构示意图;
图6为本实用新型中显示板固定模组的一种结构示意图;
图7为本实用新型中显示板固定模组安装影像显示板之后的一种侧面结构示意图。
图中:
10-基座;20-背光板;30-测试转板;40-测试探针固定座;41-探针孔;50-测试探针;60-显示板固定模组;61-第一固定板;62-第二固定板;63-第一定位结构;64-第二定位结构;70-影像显示板;80-吸附装置。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参考图1-7,本实用新型提供了一种测试治具,包括:
基座10;
固定于基座10上的背光板20;
固定于背光板20背离基座10一侧的测试转板30;
固定于测试转板30背离背光板20一侧的测试探针固定座40,上述测试探针固定座40具有多个沿厚度方向贯穿测试探针固定座40的探针孔41;
测试探针50,上述测试探针50固定于探针孔41,以使测试探针50的一端与测试转板30接触,另一单探出探针孔41;
显示板固定模组60,用于固定安装影像显示板70、并将影像显示板70与测试探针固定座40配合压紧,以使得测试探针50与影像显示板70上的测试点接触。
上述测试治具,通过在背光板20与测试探针固定座40之间设置测试转板30,并且测试探针固定座40上设有多个探针孔41,当测试探针50固定于探针孔41内时,探针孔41的一端与位于测试探针固定座40下方的测试转板30连接,另一端探出探针孔41,显示板固定模组60将影像显示板70固定好后,压到基座10上并使得影像显示板70的测试点与测试探针50接触,从而使得影像显示于显示器上。由于采用了测试转板30,并将测试转板30放置于测试探针固定座40下方,当进行成像时,测试探针50的一端与测试转板30接触,另一端与影像显示板70接触,在此过程中能够保证测试探针50不会摆动,从而能够使得测试影像没有被挡区域,也保证了脏点测试没有盲区,从而很好地解决了成像有脏污的问题。
因此,本实用新型提供的测试治具,通过在测试探针固定座40与背光板20之间设置测试转板30,保证了测试影像没有被挡区域,从而保证了脏点测试没有盲区,很好地解决了成像有脏污的问题。
在一些实施例中,如图1所示,本申请中的测试治具还包括吸附装置80,上述吸附装置80用于当将影像显示板70固定于显示板固定模组60后,将显示板固定模组60放置于基座10上时能够自动吸附并压紧,从而使得测试探针50能够准确与影像显示板70上的测试点对位接触,从而保证成像的效果。
可选的,上述吸附装置80可以包括固定于基座10上的多个第一磁吸部以及固定于显示板固定模组60上的与第一磁吸部一一对应的第二磁吸部,当将固定有影像显示板70的显示板固定模组60放置于基座10上时,第一磁吸部与第二磁吸部相互吸附,并且能够使得影像显示板70的测试点与测试探针50一一对应连接。
在一些实施例中,如图6以及图7所示,上述显示板固定模组60包括用于固定影像显示板70的第一固定板61和用于固定第一固定板61的第二固定板62,当显示板固定模组60安装影像显示板70后固定于基座10时,上述第一固定板61位于影像显示板70背离基座10的一侧,第二固定板62位于第一固定板61与影像显示板70之间。上述显示板固定模组60在安装影像显示板70时,先将影像显示板70固定于第一固定板61上,然后再将第一固定板61固定于第二固定板62上。
为保证在将影像显示板70固定于显示板固定模组60上时,二者之间对位准确,从而确保在获取影像时影像的质量良好,如图6所示,第一固定板61上设有用于与影像显示板70定位配合的第一定位结构63,同时,第二固定板62上设有用于与第一固定板61定位配合的第二定位结构64。上述显示板固定模组60,先将影像显示板70通过第一定位结构63与第一固定板61对齐后再固定安装于第一固定板61,然后将第一固定板61通过第二定位结构64与第二固定板62对齐后再将第一固定板61固定于第二固定板62上。由于采用了第一定位结构63和第二定位结构64,能够保证影像显示板70在固定到显示板固定模组60上时定位准确,从而保证在测试时影像显示板70上的各测试点能够与测试探针50一一对应接触。
可选的,上述第一定位结构63可以是多个第一定位柱,如图6所示,第一定位结构63包括两个位于第一固定板61中部的第一定位柱。
可选的,上述第二定位结构64可以是多个第二定位柱,如图6所示,第二定位柱包括多个与第一固定板61的各个角对应的第二定位柱,同时,第一固定板61设有与第二定位柱一一对应的定位孔。
需要说明的是,上述第一定位结构63以及第二定位结构64的具体结构仅仅作为举例说明,只需满足对影像显示板70以及第一固定板61起到定位作用即可,其具体结构不做限定。此外,当上述测试装置还通过磁铁吸附装置80来将显示板固定模组60与基座10之间吸附压紧时,设置于显示板固定模组60上的第二磁吸部位于第二固定板62朝向第一固定板61的一侧。
在一些实施例中,上述测试治具,如图5所示,当测试探针50固定于探针孔41内时,测试探针50探出探针孔41的一端与测试探针固定座40背离测试转板30的一侧表面之间的距离在0.4-0.6mm,由于上述测试探针50高出测试探针固定座40的高度较小,从而能够使得测试探针50基本不会发生摆动的情况,而后续将影像显示板70的测试点与测试探针50接触时,能够保证良好的成像效果,并且也可有效降低测试治具的复测率,从而提高了生产效率。
此外,由于现有技术中测试探针高于测试探针固定座的高度较高,在测试的过程中,探针易断,而整个测试治具的结构导致换针较困难,而本申请中的测试探针固定座40可采用Pogo pin的方式,利用测试转板30,并且测试探针50高于测试探针固定座40仅0.4-0.6mm,可使得测试探针50在测试过程中不易发生断裂的情况,从而节省了测试治具的维修时间。
一种实现方式中,本申请中的测试探针50可定做为总长3.3mm的结构,当固定于探针孔41内时,测试探针50高于测试探针固定座40的高度为0.5mm,上述结构不仅保证了良好的测试影像效果,也极大降低了测试治具的复测率,复测率可降低到零,从而提高了生产效率,并且节省了治具的维修的时间。
需要说明的是,本实用新型提供的测试治具可用于相机影像显示板测试,也可用于其他电子装置的影像显示板进行测试,或者也可用于其他类似工作原理的仪器,本实用新型在此不做限定。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型实施例进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种测试治具,其特征在于,包括:
基座;
固定于所述基座上的背光板;
固定于所述背光板背离所述基座一侧的测试转板;
固定于所述测试转板背离所述背光板一侧的测试探针固定座,所述测试探针固定座具有多个沿厚度方向贯穿所述测试探针固定座的探针孔;
测试探针,所述测试探针固定于所述探针孔,以使所述测试探针的一端与所述测试转板接触,另一端探出所述探针孔;
显示板固定模组,所述显示板固定模组用于固定安装影像显示板、并将所述影像显示板与所述测试探针固定座配合压紧,以使得所述测试探针与影像显示板上的测试点接触。
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,还包括吸附装置,所述吸附装置用于当所述显示板固定模组安装影像显示板后使得所述显示板固定模组与所述基座吸附压紧。
3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述吸附装置包括固定于所述基座的多个第一磁吸部以及固定于所述显示板固定模组且与所述第一磁吸部一一对应的第二磁吸部。
4.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述显示板固定模组包括用于固定影像显示板的第一固定板和用于固定所述第一固定板的第二固定板,当所述显示板固定模组安装影像显示板后固定于所述基座时,所述第一固定板位于所述影像显示板背离所述基座的一侧,所述第二固定板位于所述第一固定板与所述影像显示板之间。
5.根据权利要求4所述的测试治具,其特征在于,所述第一固定板设有用于与影像显示板定位配合的第一定位结构。
6.根据权利要求5所述的测试治具,其特征在于,所述第一定位结构包括位于所述第一固定板背离所述第二固定板一侧的多个第一定位柱。
7.根据权利要求4所述的测试治具,其特征在于,所述第二固定板设有用于与所述第一固定板定位配合的第二定位结构。
8.根据权利要求7所述的测试治具,其特征在于,所述第二定位结构包括位于所述第二固定板朝向所述第一固定板一侧的多个第二定位柱,所述第一固定板设有与所述第二定位柱一一对应的定位孔。
9.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,当所述测试探针固定于所述探针孔时,所述测试探针探出所述探针孔的一端与所述测试探针固定座背离所述测试转板的一侧表面之间的距离为0.4-0.6mm。
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