KR20180098381A - 부품의 교체 주기 산출 장치 및 교체 주기 산출 방법 - Google Patents

부품의 교체 주기 산출 장치 및 교체 주기 산출 방법 Download PDF

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Abstract

부품의 교체 이력의 정보를 적절하게 분할할 수 있는 부품의 교체 주기 산출 장치를 제공한다. 교체 주기 산출 장치는 부품의 교체 이력의 정보와 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보를 대응지어 기억하는 부품 교체 이력 정보 기억부와, 상기 부품 교체 이력 정보 기억부에 기억된 정보에 기초하여, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석하는 영향 분석부와, 상기 영향 분석부에 의해 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 경향별 정보 분할부를 구비했다.

Description

부품의 교체 주기 산출 장치 및 교체 주기 산출 방법
본 발명은 부품의 교체 주기 산출 장치 및 교체 주기 산출 방법에 관한 것이다.
특허 문헌 1은 부품의 교체 주기 산출 장치를 개시한다. 당해 교체 주기 산출 장치는 지정된 요소에 있어서 부품의 교체 이력의 정보를 분할할 수 있다. 그 결과, 부품의 교체 주기를 적절하게 산출할 수 있다.
특허 문헌 1: 일본 특개 2013－214124호 공보
그렇지만, 특허 문헌 1에 기재된 교체 주기 산출 장치에 있어서, 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 요소는, 자의적으로 지정된다. 이 때문에, 부품의 교체 주기에 대한 당해 요소의 영향이 적은 경우, 부품의 교체 이력의 정보는 적절하게 분할되지 않는다.
본 발명은 상술한 과제를 해결하기 위해서 이루어졌다. 본 발명의 목적은 부품의 교체 이력의 정보를 적절하게 분할할 수 있는 부품의 교체 주기 산출 장치 및 교체 주기 산출 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 따른 부품의 교체 주기 산출 장치는 부품의 교체 이력의 정보와 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보를 대응지어 기억하는 부품 교체 이력 정보 기억부와, 상기 부품 교체 이력 정보 기억부에 기억된 정보에 기초하여, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석하는 영향 분석부와, 상기 영향 분석부에 의해 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 경향별 정보 분할부를 구비했다.
본 발명에 따른 부품의 교체 주기 산출 방법은 부품 교체 이력 정보 기억부에 있어서, 부품의 교체 이력의 정보와 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보를 대응지어 기억하는 부품 교체 이력 정보 기억 공정과, 영향 분석부에 있어서, 상기 부품 교체 이력 정보 기억 공정에 의해 기억된 정보에 기초하여, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석하는 영향 분석 공정과, 경향별 정보 분할부에 있어서, 상기 영향 분석 공정에 의해 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 경향별 정보 분할 공정을 구비한다.
이들 발명에 의하면, 분석 대상의 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 특정할 수 있다. 이 때문에, 당해 부품의 교체 이력의 정보를 적절하게 분할할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 영향 분석부의 처리와 경향별 정보 분할부의 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 동작의 개요를 설명하기 위한 순서도이다.
도 8은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 하드웨어 구성도이다.
본 발명을 실시하기 위한 형태에 대해 첨부 도면에 따라서 설명한다. 또한, 각 도면 중, 동일 또는 상당하는 부분에는 동일한 부호가 부여된다. 당해 부분의 중복 설명은 적당하게 간략화 내지 생략된다.
실시 형태 1.
도 1은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 블록도이다.
도 1에 있어서, 부품은 제품에 마련된다. 예를 들면, 부품은 엘리베이터의 로프이다. 예를 들면, 부품은 엘리베이터의 승강장 도어 가이드 롤러이다. 예를 들면, 부품은 에스컬레이터의 브레이크이다.
교체 주기 산출 장치(1)는 부품 교체 이력 정보 기억부(1a)와, 영향 분석부(1b)와, 경향별 정보 분할부(1c)와, 교체 주기 산출부(1d)를 구비한다.
부품 교체 이력 정보 기억부(1a)는 부품의 식별 정보에 제1 정보와 제2 정보와 제3 정보와 제4 정보를 대응지어 기억한다.
예를 들면, 제1 정보는 부품의 교체 이력의 정보이다. 예를 들면, 제1 정보는 당해 부품이 교체된 시간의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제1 정보는 당해 부품의 전회(前回) 교체로부터 이번 교체까지의 기간의 정보를 포함한다.
제2 정보는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보이다. 예를 들면, 제2 정보는 당해 부품의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 당해 부품이 마련된 제품의 동적 파라미터의 변화의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제2 정보는 당해 부품의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 기동 횟수의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제2 정보는 당해 부품의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 당해 부품이 마련된 엘리베이터로의 승차 인원수의 정보를 포함한다.
제3 정보는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보이다. 예를 들면, 제3 정보는 당해 부품이 마련된 제품에 있어서의 당해 부품과는 상이한 부품의 열화 정도에 대한 정보를 포함한다. 예를 들면, 제3 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 시브의 사용 연수(年數)의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제3 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 시브의 열화 정도에 대한 정보를 포함한다. 예를 들면, 제3 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 권상기의 사용 연수의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제3 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 권상기의 열화 정도에 대한 정보를 포함한다.
제4 정보는 당해 부품이 마련된 제품의 정적(靜的) 파라미터의 정보이다. 예를 들면, 제4 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 정격 용량의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제4 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 정격 속도의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제4 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터가 적용되는 층상 수의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제4 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터의 승강 행정(行程)의 정보를 포함한다. 예를 들면, 제4 정보는 당해 부품이 마련된 엘리베이터에 이용된 복수의 부품의 타입명의 정보를 포함한다.
영향 분석부(1b)는 부품 교체 이력 정보 기억부(1a)에 기억된 정보에 기초하여, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석한다.
예를 들면, 영향 분석부(1b)는 당해 부품이 마련된 제품의 정적 파라미터가 같은 제품에 대해서, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석한다.
경향별 정보 분할부(1c)는 영향 분석부(1b)에 의해 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할한다.
예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 당해 부품의 교체 주기에 가장 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할한다. 예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 복수의 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할한다. 예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소가 같은 제품에 있어서, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할한다.
교체 주기 산출부(1d)는 경향별 정보 분할부(1c)에 의해 분할된 집합에 대해서 당해 부품의 교체 주기를 산출한다.
다음에, 도 2를 이용하여, 영향 분석부(1b)의 처리와 경향별 정보 분할부(1c)의 처리를 설명한다.
도 2는 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 영향 분석부의 처리와 경향별 정보 분할부의 처리를 설명하기 위한 도면이다.
예를 들면, 영향 분석부(1b)는 외부로부터의 조작에 의해 분석 대상의 부품 α의 지정을 접수한다. 예를 들면, 부품 α가 엘리베이터의 로프인 경우, 영향 분석부(1b)는 부품 교체 이력 정보 기억부(1a)로부터 엘리베이터의 로프의 정보를 추출한다.
영향 분석부(1b)는 부품 α의 정보를 복수의 집합으로 나눈다. 예를 들면, 영향 분석부(1b)는 각 엘리베이터의 단위로 로프의 정보를 모음으로써 로프의 정보를 복수의 집합으로 나눈다. 예를 들면, 영향 분석부(1b)는 정적 파라미터가 같은 엘리베이터의 단위로 로프의 정보를 모음으로써 로프의 정보를 복수의 집합으로 나눈다.
영향 분석부(1b)는 부품 α의 식별 정보에 대응지어진 제2 정보와 제3 정보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 자동으로 분석한다. 예를 들면, 영향 분석부(1b)는 결정목(決定木, decision tree)을 이용하여 당해 부품 α의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 자동으로 분석한다. 예를 들면, 영향 분석부(1b)는 로지스틱 회귀 분석을 이용하여 부품 α의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 자동으로 분석한다.
예를 들면, 영향 분석부(1b)는 집합 A에 대해서는 시브의 열화 정도를 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소로서 특정한다. 예를 들면, 영향 분석부(1b)는, 집합 B에 대해서 엘리베이터의 기동 횟수를 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소로서 특정한다. 예를 들면, 영향 분석부(1b)는 집합 C에 대해서 시브의 열화 정도를 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소로서 특정한다.
이 때, 영향 분석부(1b)는 미리 설정된 값을 임계치로 하는 통계량에 기초하여 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 복수의 요소를 특정하기도 한다.
경향별 정보 분할부(1c)는 복수의 집합에 있어서 영향 분석부(1b)에 의해 특정된 요소에 기초하여 부품 α의 교체 이력의 정보를 분할한다. 예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 집합 A에 있어서 시브의 열화 정도로 로프의 교체 이력의 정보를 분할한다. 예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 집합 B에 있어서 엘리베이터의 기동 횟수로 로프의 교체 이력의 정보를 분할한다. 예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 집합 C에 있어서 시브의 열화 정도로 로프의 교체 이력의 정보를 분할한다. 또한, 경향별 정보 분할부(1c)는 영향 분석부(1b)에 의해 특정된 요소가 같은 복수의 집합을 모은 하나의 집합에 대해서 부품 α의 교체 이력의 정보를 분할하기도 한다.
다음에, 도 3을 이용하여, 엘리베이터의 로프에 대한 영향 분석을 설명한다.
도 3은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 3에 있어서, 「교체 연월일」은 로프가 교체된 시간을 나타낸다. 「전회 교체로부터의 연수」는 로프의 전회 교체로부터 이번 교체까지의 기간을 나타낸다. 「교체 연수가 표준 주기(3년) 이하=1」은 로프의 교체 연수가 표준 주기 이하인지 여부를 나타낸다. 이 때의 표준 주기는 채용되는 분석 수법에 따라 설정된다. 예를 들면, 로지스틱 회귀 분석이 채용되는 경우, 표준 주기는 로프에 대해서 설정된 교체 주기가 된다.
「기동 횟수」는 로프가 마련된 엘리베이터의 기동 횟수를 나타낸다. 「전회 교체로부터의 승차 인원수」는 로프의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 로프가 마련된 엘리베이터로의 승차 인원수를 나타낸다. 「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」는, 로프의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 로프가 마련된 엘리베이터의 도어 열림 횟수를 나타낸다. 「시브의 교환년」은 로프가 마련된 엘리베이터의 시브의 교환년을 나타낸다. 당해 교환년은 열화 정도에 대응한다.
영향 분석부(1b)는 「교체 연월일」과「전회 교체로부터의 연수」와「교체 연수가 표준 주기(3년) 이하=1」과「기동 횟수」와「전회 교체로부터의 승차 인원수」와「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」와「시브의 교환년」에 대해서 통계적 수법을 이용하여 영향 분석을 행한다. 이때, 영향 분석부(1b)는 「교체 연월일」과「전회 교체로부터의 연수」와「교체 연수가 표준 주기(3년) 이하=1」과「기동 횟수」와「전회 교체로부터의 승차 인원수」와「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」와「시브 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」의 통계량을 계산한다.
예를 들면, 「시브의 교환년」의 통계량은 「0.01922」이다. 예를 들면, 「기동 횟수」의 통계량은 「0.72010」이다. 예를 들면, 「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」의 통계량은 「0.88972」이다.
예를 들면, 통계량 0.05 미만의 요소가 로프의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 여겨지는 경우, 영향 분석부(1b)는 「시브의 교환년」을 로프의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소로 한다.
다음에, 도 4를 이용하여, 엘리베이터의 승강장 도어 가이드 롤러에 대한 영향 분석을 설명한다.
도 4는 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 4에 있어서, 「교체 연월일」은 승강장 도어 가이드 롤러가 교체된 시간을 나타낸다. 「전회 교체로부터의 연수」는 승강장 도어 가이드 롤러의 전회 교체로부터 이번 교체까지의 기간을 나타낸다. 「교체 연수가 표준 주기(4년) 이하=1」은 승강장 도어 가이드 롤러의 교체 연수가 표준 주기 이하인지 여부를 나타낸다.
「기동 횟수」는 승강장 도어 가이드 롤러가 마련된 엘리베이터의 기동 횟수를 나타낸다. 「전회 교체로부터의 승차 인원수」는 승강장 도어 가이드 롤러의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 로프가 마련된 엘리베이터로의 승차 인원수를 나타낸다. 「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」는 승강장 도어 가이드 롤러의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 로프가 마련된 엘리베이터의 도어 열림 횟수를 나타낸다. 「승강장 도어 행거 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」는, 승강장 도어 가이드 롤러가 마련된 엘리베이터의 승강장 도어 행거의 전회 교체로부터의 경과 연수를 나타낸다. 당해 경과 연수는 열화 정도에 대응한다.
영향 분석부(1b)는 「교체 연월일」과「전회 교체로부터의 연수」와「교체 연수가 표준 주기(4년) 이하=1」과「기동 횟수」와「전회 교체로부터의 승차 인원수」와「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」와「승강장 도어 행거 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」에 대해서 통계적 수법을 이용하여 영향 분석을 행한다. 이 때, 영향 분석부(1b)는 「교체 연월일」과「전회 교체로부터의 연수」와「교체 연수가 표준 주기(4년) 이하=1」과「기동 횟수」와「전회 교체로부터의 승차 인원수」와「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」와「승강장 도어 행거 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」의 통계량을 계산한다.
예를 들면, 「승강장 도어 행거 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」의 통계량은 「0.01922」이다. 예를 들면, 「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」의 통계량은 「0.02010」이다. 예를 들면, 「전회 교체로부터의 승차 인원수」의 통계량은 「0.98713」이다.
예를 들면, 통계량 0.05 미만의 요소가 승강장 도어 가이드 롤러의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 여겨지는 경우, 영향 분석부(1b)는 「승강장 도어 행거 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」와「전회 교체로부터의 도어 열림 횟수」를 승강장 도어 가이드 롤러의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소로 한다.
다음에, 도 5를 이용하여, 에스컬레이터의 브레이크에 대한 영향 분석을 설명한다.
도 5는 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 5에 있어서, 「교체 연월일」은 브레이크가 교체된 시간을 나타낸다. 「전회 교체로부터의 연수」는 브레이크의 전회 교체로부터 이번 교체까지의 기간을 나타낸다. 「교체 연수가 표준 주기(3년) 이하=1」은 브레이크의 교체 연수가 표준 주기 이하인지 여부를 나타낸다.
「운전 시간」은 브레이크가 마련된 에스컬레이터의 운전 시간을 나타낸다. 「전회 교체로부터의 승차 인원수」는 브레이크의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 브레이크가 마련된 에스컬레이터로의 승차 인원수를 나타낸다. 「전회 교체로부터의 정지 횟수」는 브레이크의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 브레이크가 마련된 에스컬레이터의 정지 횟수를 나타낸다. 「구동 벨트 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」는 브레이크가 마련된 에스컬레이터의 구동 벨트의 전회 교체로부터의 경과 연수이다. 당해 경과 연수는 열화 정도에 대응한다.
영향 분석부(1b)는 「교체 연월일」과「전회 교체로부터의 연수」와「교체 연수가 표준 주기(3년) 이하=1」과「운전 시간」과「전회 교체로부터의 승차 인원수」와「전회 교체로부터의 정지 횟수」와「구동 벨트 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」에 대해서 통계적 수법을 이용하여 영향 분석을 행한다. 이 때, 영향 분석부(1b)는 「교체 연월일」과「전회 교체로부터의 연수」와「교체 연수가 표준 주기(3년) 이하=1」과「운전 시간」과「전회 교체로부터의 승차 인원수」와「전회 교체로부터의 정지 횟수」와「구동 벨트 전회 교체로부터의 경과 연수(열화 정도)」의 통계량을 계산한다.
예를 들면, 「전회 교체로부터의 정지 횟수」의 통계량은 「0.01022」이다. 예를 들면, 「운전 시간」의 통계량은 「0.06010」이다. 예를 들면, 「전회 교체로부터의 승차 인원수」의 통계량은 「0.77972」이다.
예를 들면, 통계량 0.05 미만의 요소가 브레이크의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 여겨지는 경우, 영향 분석부(1b)는 「전회 교체로부터의 정지 횟수」를 브레이크의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소로 한다.
다음에, 도 6을 이용하여, 엘리베이터의 로프의 교체 이력의 정보에 대한 분할을 설명한다.
도 6은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치에 기억된 정보를 나타내는 도면이다.
도 6에 있어서, 「건물 번호」는 로프가 마련된 엘리베이터를 구비한 건물의 식별 번호를 나타낸다. 「호기」는 로프가 마련된 엘리베이터의 식별 번호를 나타낸다. 「부품」은 로프의 식별 번호를 나타낸다. 「전회 교체로부터의 연수」는 로프의 전회 교체로부터 이번 교체까지의 기간을 나타낸다. 「시브의 교환년」은 로프가 마련된 엘리베이터의 시브의 교환년을 나타낸다. 「로프의 교체 주기에 주는 영향」은 로프의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 것으로서 특정된 요소를 나타낸다.
예를 들면, 「로프의 교체 주기에 주는 영향」이 「시브의 교환년」인 경우, 경향별 정보 분할부(1c)는 「로프의 교체 주기에 주는 영향」이 「시브의 교환년」인 정보를 부품 교체 이력 정보 기억부(1a)로부터 추출한다. 예를 들면, 「로프의 교체 주기에 주는 영향」이 「시브의 교환년」과「전회 교체로부터의 승차 인원수」인 경우, 경향별 정보 분할부(1c)는 「로프의 교체 주기에 주는 영향」이 「시브의 교환년」과「전회 교체로부터의 승차 인원수」인 정보를 부품 교체 이력 정보 기억부(1a)로부터 추출한다. 또한, 경향별 정보 분할부(1c)는 「호기」에 기초하여 나누어진 복수의 집합마다 정보를 부품 교체 이력 정보 기억부(1a)로부터 추출하기도 한다.
경향별 정보 분할부(1c)는 추출한 정보에 대해서 복수의 분할 경계를 설정한다. 경향별 정보 분할부(1c)는 복수의 분할 경계의 각각으로 검정(檢定)을 행한다. 예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 로그 랭크 검정을 행한다. 경향별 정보 분할부(1c)는 검정 결과에 기초하여 교체 주기의 산출시에 이용하는 분할 경계를 설정한다.
예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 미세하게 경계를 어긋나게 하여 2분할한다. 예를 들면, 경향별 정보 분할부(1c)는 분할된 2개의 집합 사이의 경향 차가 가장 커서 유의차(有意差)가 있는 분할 경계를 교체 주기의 산출시에 이용하는 분할 경계로서 설정한다.
또한, 복수의 요소가 로프의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 경우는, 경향별 정보 분할부(1c)는 복수의 요소에서 분할 경계를 어긋나게 해 가, 교체 주기의 산출시에 이용하는 분할 경계를 설정한다.
또, 분할 경계의 후보는 과거의 지견(知見)에 기초하여 수작업으로 설정되기도 한다.
다음에, 도 7을 이용하여, 교체 주기 산출 장치(1)의 동작의 개요를 설명한다.
도 7은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 동작의 개요를 설명하기 위한 순서도이다.
스텝 S1에서는, 교체 주기 산출 장치(1)는 분석 대상의 부품의 지정을 접수했는지 여부를 판정한다. 스텝 S1에서 교체 주기 산출 장치(1)가 분석 대상의 부품의 지정을 접수하고 있지 않은 경우는, 교체 주기 산출 장치(1)는 스텝 S1의 동작을 반복한다. 스텝 S1에서 교체 주기 산출 장치(1)가 분석 대상의 부품의 지정을 접수한 경우는, 교체 주기 산출 장치(1)는 스텝 S2의 동작을 행한다.
스텝 S2에서는, 교체 주기 산출 장치(1)는 당해 부품에 대한 영향 분석을 행한다. 그 후, 교체 주기 산출 장치(1)는 스텝 S3의 동작을 행한다. 스텝 S3에서는, 교체 주기 산출 장치(1)는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할한다. 그 후, 교체 주기 산출 장치(1)는 스텝 S4의 동작을 행한다. 스텝 S4에서는, 교체 주기 산출 장치(1)는 분할 후의 집합에 있어서 당해 부품의 교체 주기를 산출한다. 그 후, 교체 주기 산출 장치(1)는 동작을 종료한다.
이상에서 설명한 실시 형태 1에 의하면, 분석 대상의 부품의 교체 주기에 영향을 미치는 요소를 특정할 수 있다. 이 때문에, 당해 부품의 교체 이력의 정보를 적절하게 분할할 수 있다. 그 결과, 부품의 교체 주기를 적절하게 산출할 수 있다.
또, 분석 대상의 부품의 교체 주기에 영향을 미치는 요소로서, 당해 부품의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 당해 부품이 마련된 제품의 동적 파라미터의 변화가 특정된다.
예를 들면, 분석 대상의 부품이 엘리베이터의 부품인 경우는, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치는 요소로서, 엘리베이터의 사용 상황이 특정된다.
예를 들면, 「기동 횟수」가 엘리베이터의 로프의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 특정된 경우, 로프의 교체 이력의 정보는 「기동 횟수」에 기초하여 분할된다. 그 후, 로프의 교체 주기가 산출된다. 예를 들면, 「기동 횟수」가 월 당 0회에서부터 30000회인 엘리베이터의 집합에 대해, 로프의 교체 주기는 5년이 된다. 예를 들면, 「기동 횟수」가 월 당 30000회 이상의 엘리베이터의 집합에 대해, 로프의 교체 주기는, 2년이 된다. 이때, 특정의 엘리베이터의 「기동 횟수」에 기초하여 당해 엘리베이터가 어느 집합에 속하는지를 판단하면, 로프의 교체 주기를 보다 적절하게 설정할 수 있다.
또, 분석 대상의 부품의 교체 주기에 영향을 미치는 요소로서, 당해 부품이 마련된 제품에 있어서의 당해 부품과는 상이한 부품의 열화 정도가 특정된다.
예를 들면, 분석 대상의 부품이 엘리베이터의 부품인 경우는, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치는 요소로서, 엘리베이터의 당해 부품과는 상이한 부품의 열화 정도가 특정된다. 이 때문에, 엘리베이터의 복수의 부품에 있어서의 서로의 영향을 확인할 수 있다. 예를 들면, 시브가 열화되어 있으면 로프의 수명이 짧아지는 것을 확인할 수 있다.
예를 들면, 분석 대상의 부품이 에스컬레이터의 부품인 경우는, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치는 요소로서, 에스컬레이터의 당해 부품과는 상이한 부품의 열화 정도가 특정된다. 이 때문에, 에스컬레이터의 복수의 부품에 있어서의 서로의 영향을 확인할 수 있다. 예를 들면, 난간 구동 장치가 열화되어 있으면 난간의 수명이 짧아지는 것을 확인할 수 있다.
또한, 부품의 교체 주기에 가장 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할해도 된다. 이 경우, 교체 주기 산출 장치(1)의 계산 부하를 줄일 수 있다.
또, 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 복수의 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할해도 된다. 이 경우, 부품의 교체 이력의 정보를 보다 적절하게 분석할 수 있다.
또, 부품이 마련된 제품의 정적 파라미터가 같은 제품에 대해서, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석해도 된다. 이 경우, 엘리베이터와 같이 단체(單體)로는 통계적 수법을 이용하기 위한 충분한 정보가 존재하지 않더라도, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 특정할 수 있다.
다음에, 도 8을 이용하여, 교체 주기 산출 장치(1)의 예를 설명한다.
도 8은 본 발명의 실시 형태 1에 있어서의 부품의 교체 주기 산출 장치의 하드웨어 구성도이다.
교체 주기 산출 장치(1)의 각 기능은 처리 회로에 의해 실현된다. 예를 들면, 처리 회로는 적어도 1개의 프로세서(2a)와 적어도 1개의 메모리(2b)를 구비한다. 예를 들면, 처리 회로는 적어도 1개의 전용의 하드웨어(3)를 구비한다.
처리 회로가 적어도 1개의 프로세서(2a)와 적어도 1개의 메모리(2b)를 구비하는 경우, 교체 주기 산출 장치(1)의 각 기능은 소프트웨어, 펌웨어, 또는 소프트웨어와 펌웨어의 조합으로 실현된다. 소프트웨어 및 펌웨어의 적어도 한쪽은, 프로그램으로서 기술된다. 소프트웨어 및 펌웨어의 적어도 한쪽은, 적어도 1개의 메모리(2b)에 격납된다. 적어도 1개의 프로세서(2a)는 적어도 1개의 메모리(2b)에 기억된 프로그램을 읽어내어 실행함으로써, 교체 주기 산출 장치(1)의 각 기능을 실현한다. 적어도 1개의 프로세서(2a)는 CPU(Central Processing Unit), 중앙 처리 장치, 처리 장치, 연산 장치, 마이크로 프로세서, 마이크로 컴퓨터, DSP라고도 한다. 예를 들면, 메모리(2b)는 RAM, ROM, 플래쉬 메모리, EPROM, EEPROM 등의, 불휘발성 또는 휘발성의 반도체 메모리, 자기 디스크, 플렉서블 디스크, 광 디스크, 콤팩트 디스크, 미니 디스크, DVD 등이다.
처리 회로가 적어도 1개의 전용의 하드웨어(3)를 구비하는 경우, 처리 회로는, 예를 들면, 단일 회로, 복합 회로, 프로그램화한 프로세서, 병렬 프로그램화한 프로세서, ASIC, FPGA, 또는 이들 조합으로 실현된다. 예를 들면, 교체 주기 산출 장치(1)의 각 기능은, 각각 처리 회로로 실현된다. 예를 들면, 교체 주기 산출 장치(1)의 각 기능은, 통괄하여 처리 회로로 실현된다.
교체 주기 산출 장치(1)의 각 기능에 대해서, 일부를 전용의 하드웨어(3)로 실현하고, 다른 부분은 소프트웨어 또는 펌웨어로 실현해도 된다. 예를 들면, 영향 분석부(1b)의 기능에 대해서는 전용의 하드웨어(3)로서의 처리 회로로 실현하고, 영향 분석부(1b)의 기능 이외의 기능에 대해서는 적어도 1개의 프로세서(2a)가 적어도 1개의 메모리(2b)에 격납된 프로그램을 읽어내어 실행함으로써 실현해도 된다.
이와 같이, 처리 회로는 하드웨어(3), 소프트웨어, 펌웨어, 또는 이들 조합으로 교체 주기 산출 장치(1)의 각 기능을 실현한다.
또한, 교체 주기 산출부(1d)의 기능은 교체 주기 산출 장치(1) 이외의 장치로 실현해도 된다.
[산업상의 이용 가능성]
이상과 같이, 본 발명에 따른 부품의 교체 주기 산출 장치 및 교체 주기 산출 방법은, 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 시스템에 이용할 수 있다.
1: 교체 주기 산출 장치 1a: 부품 교체 이력 정보 기억부
1b: 영향 분석부 1c: 경향별 정보 분할부
1d: 교체 주기 산출부 2a: 프로세서
2b: 메모리 3: 하드웨어

Claims (12)

  1. 부품의 교체 이력의 정보와 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보를 대응지어 기억하는 부품 교체 이력 정보 기억부와,
    상기 부품 교체 이력 정보 기억부에 기억된 정보에 기초하여, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석하는 영향 분석부와,
    상기 영향 분석부에 의해 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 경향별 정보 분할부를 구비한 부품의 교체 주기 산출 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 부품 교체 이력 정보 기억부는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보로서, 당해 부품의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 당해 부품이 마련된 제품의 동적 파라미터의 정보를 기억하는 부품의 교체 주기 산출 장치.
  3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 부품 교체 이력 정보 기억부는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보로서, 당해 부품이 마련된 제품에 있어서의 당해 부품과는 상이한 부품의 열화 정도에 대한 정보를 기억하는 부품의 교체 주기 산출 장치.
  4. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 경향별 정보 분할부는 당해 부품의 교체 주기에 가장 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 부품의 교체 주기 산출 장치.
  5. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 경향별 정보 분할부는, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 복수의 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 부품의 교체 주기 산출 장치.
  6. 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 부품 교체 이력 정보 기억부는 부품의 교체 이력의 정보와 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보에 대해서 당해 부품이 마련된 제품의 정적(靜的) 파라미터의 정보를 대응지어 기억하고,
    상기 영향 분석부는 당해 부품이 마련된 제품의 정적 파라미터가 같은 제품에 대해서, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석하고,
    상기 경향별 정보 분할부는 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소가 같은 제품에 있어서, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 부품의 교체 주기 산출 장치.
  7. 부품 교체 이력 정보 기억부에 있어서, 부품의 교체 이력의 정보와 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보를 대응지어 기억하는 부품 교체 이력 정보 기억 공정과,
    영향 분석부에 있어서, 상기 부품 교체 이력 정보 기억 공정에 의해 기억된 정보에 기초하여, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석하는 영향 분석 공정과,
    경향별 정보 분할부에 있어서, 상기 영향 분석 공정에 의해 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 경향별 정보 분할 공정을 구비한 부품의 교체 주기 산출 방법.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 부품 교체 이력 정보 기억 공정은 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보로서, 당해 부품의 전회 교체로부터의 동안에 있어서의 당해 부품이 마련된 제품의 동적 파라미터의 정보를 기억하는 공정을 포함하는 부품의 교체 주기 산출 방법.
  9. 청구항 7 또는 청구항 8에 있어서,
    상기 부품 교체 이력 정보 기억 공정은 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보로서, 당해 부품이 마련된 제품에 있어서의 당해 부품과는 상이한 부품의 열화 정도에 대한 정보를 기억하는 공정을 포함하는 부품의 교체 주기 산출 방법.
  10. 청구항 7 내지 청구항 9 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 경향별 정보 분할 공정은 당해 부품의 교체 주기에 가장 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 공정을 포함하는 부품의 교체 주기 산출 방법.
  11. 청구항 7 내지 청구항 9 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 경향별 정보 분할 공정은 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 복수의 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 공정을 포함하는 부품의 교체 주기 산출 방법.
  12. 청구항 7 내지 청구항 11 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 부품 교체 이력 정보 기억 공정은 부품의 교체 이력의 정보와 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보의 정보에 대해서 당해 부품이 마련된 제품의 정적 파라미터의 정보를 대응지어 기억하는 공정을 포함하고,
    상기 영향 분석 공정은 당해 부품이 마련된 제품의 정적 파라미터가 같은 제품에 대해서, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 생각되는 복수의 요소의 후보 중에서 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소를 분석하는 공정을 포함하고,
    상기 경향별 정보 분할 공정은 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있는 요소가 같은 제품에 있어서, 당해 부품의 교체 주기에 영향을 미치고 있다고 분석된 요소에 있어서 당해 부품의 교체 이력의 정보를 분할하는 공정을 포함하는 부품의 교체 주기 산출 방법.
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