KR20180059525A - 컨트롤러 시스템 및 센서 시스템 - Google Patents

컨트롤러 시스템 및 센서 시스템 Download PDF

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마사시 카와다
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파나소닉 디바이스 썬크스 주식회사
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Abstract

상위 컨트롤러(17)는, 각 하위 컨트롤러(18)의 제어 회로(19)로부터 출력되는 변위량 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하고, 또한, 각 하위 컨트롤러(18)의 제어 회로(19)로부터 출력되는 비교 결과 정보를 바탕으로 소정의 판정을 하고, 또한, 연산 결과와 판정 결과를 이용하여 종합 판정을 하는 기능을 구비하는 제어 회로(19); 연산 결과와 판정 결과와 종합 판정 결과를 출력 가능한 표시부(20); 및 표시부(20)로부터 출력하는 결과를 선택 가능한 조작부(21)를 구비한다.

Description

컨트롤러 시스템 및 센서 시스템
본 발명은, 센서 유닛과 접속되는 컨트롤러 시스템 및 센서 시스템에 관한 것이다.
종래, 센서 유닛의 일례로서 변위 센서 유닛을 복수 사용하여 검출 대상물의 높이나 두께, 평탄도 등을 측정하는 센서 시스템이 알려져 있다(예를 들면 특허문헌 1 참조).
특허문헌 1의 센서 시스템에서는, 검출을 하는 변위 센서 유닛(특허문헌 1에서는 검출부)과, 변위 센서 유닛과는 별체의 컨트롤러(특허문헌 1에서는 신호 처리부)을 각각 복수 구비한다. 각 변위 센서 유닛은, 검출 대상물에 대해 투광하여 얻어지는 반사광을 수광하여 검출 대상물과의 거리에 따른 검출 신호를 각 변위 센서 유닛에 접속되는 컨트롤러에 대해 출력한다. 특허문헌 1의 각 컨트롤러는, 접속되는 변위 센서 유닛으로부터 출력되는 검출 신호로부터 검출 대상물과의 거리를 산출하도록 되어 있다. 또한, 각 컨트롤러는, 각 컨트롤러 사이에서 신호를 주고 받을 수 있도록 각 컨트롤러가 서로 전기적으로 접속되고, 다른 컨트롤러에 대해 검출 대상물과의 거리의 산출 데이터를 출력할 수 있도록 되어 있다. 즉, 하위 컨트롤러에서 산출한 거리의 데이터를 상위 컨트롤러에 출력하고, 상위 컨트롤러에서 상위 컨트롤러 자체가 산출한 거리의 데이터와 하위 컨트롤러에서 산출한 거리의 데이터로부터 논리 연산을 할 수 있도록 되어 있다.
일본국 특허공개공보 2002-286413호 공보
그러나, 상기와 같은 센서 시스템에서는, 복수의 변위 센서 유닛과, 각 변위 센서 유닛과 접속되는 복수의 컨트롤러를 구비하고, 각 컨트롤러를 접속하여 상위 컨트롤러에서 논리 연산을 할 수 있도록 되어 있다. 이와 같은 센서 시스템에서는 사용자가 다양한 방법을 사용하여 이용하는 방법이 생각되고, 진일보의 편리성 향상이 요구되고 있다. 또한, 센서 유닛으로서는 광전 센서, 근접 센서나 압력 센서 등도 있고, 이와 같은 센서 유닛을 사용한 경우에도 편리성의 향상이 요구되고 있다.
본 발명은, 상기 과제를 해결하기 위해 안출된 것으로서, 그 목적은, 편리성을 향상시킬 수 있는 컨트롤러 시스템 및 센서 시스템을 제공하는 것에 있다.
상기 과제를 해결하는 컨트롤러 시스템은, 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고, 상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 바탕으로 소정의 판정을 하는 판정부; 상기 연산부에서 연산한 연산 결과와 상기 판정부에서 판정한 판정 결과를 이용하여 종합 판정을 하는 종합 판정부; 상기 연산 결과와 상기 판정 결과와 상기 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부; 및 상기 결과 출력부로부터 출력하는 결과를 선택 가능한 선택부를 구비한다.
이 구성에 의하면, 연산 결과와 비교 결과 정보로부터 종합 판정을 하는 종합 판정부; 연산 결과와 상기 판정 결과와 상기 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부; 및 결과 출력부로부터 출력하는 결과를 선택 가능한 선택부를 구비하기 때문에, 사용자의 요구에 맞춰 각종 결과를 얻을 수 있어, 편리성을 향상시킬 수 있다.
상기 과제를 해결하는 컨트롤러 시스템은, 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고, 상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 연산부에서 연산한 연산 결과와 임의의 상기 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 이용하여 종합 판정을 하는 종합 판정부; 및 적어도 상기 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비한다.
이 구성에 의하면, 연산 결과와 비교 결과 정보로부터 종합 판정을 하는 종합 판정부와, 그 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비하기 때문에, 단순한 연산 결과가 아닌, 복수의 조건으로부터 종합적인 판정을 하고, 그것을 출력할 수 있기 때문에, 편리성을 향상시킬 수 있다.
상기 과제를 해결하는 컨트롤러 시스템은, 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고, 상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 바탕으로 소정의 판정을 하는 판정부; 상기 연산부에서 연산한 연산 결과와 상기 판정부에서 판정한 판정 결과를 이용하여 종합 판정을 하는 종합 판정부; 및 상기 연산 결과와 상기 판정 결과와 상기 종합 판정 결과 중 적어도 상기 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비한다.
이 구성에 의하면, 연산 결과와 비교 결과 정보로부터 종합 판정을 하는 종합 판정부와, 연산 결과와 상기 판정 결과와 상기 종합 판정 결과 중 적어도 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비하기 때문에, 단순한 연산 결과가 아닌, 복수의 조건으로부터 종합적인 판정을 하고 그 결과를 출력할 수 있기 때문에, 편리성을 향상시킬 수 있다.
상기 과제를 해결하는 컨트롤러 시스템은, 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고, 상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 바탕으로 소정의 판정을 하는 판정부; 및 상기 연산 결과와 상기 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비한다.
이 구성에 의하면, 연산 결과와 판정 결과를 결과 출력부로부터 출력 가능하기 때문에, 단순한 연산 결과뿐만 아니라 판정 결과도 출력할 수 있어, 편리성을 향상시킬 수 있다.
상기 컨트롤러 시스템에 있어서, 상기 결과 출력부는, 사용자에 대해 표시에 의해 알리는 표시부인 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 사용자에 대해 표시부에 의한 표시에 의해 연산 결과와 판정 결과와 종합 판정 결과를 알릴 수 있다.
또한, 상기 과제를 해결하는 센서 시스템은, 상기 어느 하나에 기재된 컨트롤러 시스템과, 상기 컨트롤러 시스템의 상위 컨트롤러 및 하위 컨트롤러에 각각 접속되는 센서 유닛을 구비한다.
이 구성에 의하면, 상기 어느 하나에 기재된 효과와 동일한 효과를 발휘할 수 있다.
또한, 상기 과제를 해결하는 센서 시스템에 있어서, 센서 유닛은, 측정 대상물의 변위를 측정하는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 센서 유닛을 측정 대상물의 변위를 측정하는 것으로 한 이른바 변위 센서 시스템에 있어서 상기 어느 하나에 기재된 효과와 동일한 효과를 발휘할 수 있다.
본 발명의 컨트롤러 시스템 및 센서 시스템에 의하면, 편리성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 일 실시예에 있어서의 변위 센서 시스템의 사시도이다.
도 2는 일 실시예에 있어서의 변위 센서 시스템의 개략 구성을 설명하기 위한 블록도이다.
이하, 센서 시스템을 변위 센서 시스템에 적용한 일 실시예에 대해, 도면을 참조하면서 설명한다.
도 1에 나타내는 바와 같이, 본 실시예의 변위 센서 시스템(10)은, 복수의 센서 유닛(11)과, 복수의 센서 유닛(11)에 각각 접속되는 컨트롤러(12)를 구비한다. 본 실시예의 변위 센서 시스템(10)은, 센서 유닛(11)의 선단에 측정자(13a)를 구비하는 스핀들(13)이 센서 유닛(11)의 길이 방향에 있어서 이동 가능하게 지지되어 있고, 측정자(13a)를 측정 대상물에 접촉시키는 것에 의해 스핀들(13)이 이동하고, 그에 따라 측정 대상물의 두께나 표면의 요철 등을 측정하는 것이다. 즉, 본 실시예의 변위 센서 시스템(10)은 이른바 접촉식 변위 센서 시스템이다.
도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같이, 각 센서 유닛(11)은, 접속 케이블(14)을 통해 각 컨트롤러(12)에 접속되어 있다. 각 센서 유닛(11)은, 복수의 투광 소자(15)와, 각 투광 소자(15)와 대향하는 위치에 마련되는 복수의 수광 소자(16)를 구비한다. 각 센서 유닛(11)에서는, 상기 스핀들(13)이 센서 유닛(11)의 길이 방향으로 이동하여 투광 소자(15)의 광이 스핀들(13)에 의해 차단되는 것에 의해 대향하는 수광 소자(16)에 의해 광이 차단된 것을 검출하고, 스핀들(13)의 이동량(변위량)이 전기 신호로 변환되어 접속되는 컨트롤러(12)에 출력된다.
본 실시예의 컨트롤러(12)는, 1개가 상위 컨트롤러(17)로서 동작하고, 다른 것은 하위 컨트롤러(18)로서 동작하는 컨트롤러 시스템으로 되어 있다.
도 2에 나타내는 바와 같이, 상위 컨트롤러(17) 및 하위 컨트롤러(18)는, 각각 제어 회로(19)와, 표시부(20)와, 조작부(21)와, 메모리(22)를 구비한다. 한편, 도 2에서는 상위 컨트롤러(17)와 1개의 하위 컨트롤러(18)에만 제어 회로(19), 표시부(20) 등의 구성 부재를 기재하고 있고, 나머지의 하위 컨트롤러(18)에서는 도시를 생략하고 있다.
상위 컨트롤러(17) 및 하위 컨트롤러(18)의 제어 회로(19)는, 센서 유닛(11)으로부터 출력되는 신호를 적절히 처리하는 신호 처리부와, 각종 신호를 주고 받을 수 있는 송수신부를 포함한다.
표시부(20)는, 각종의 표시를 하는 것이다. 그 일례로서, 센서 유닛(11)에서 측정되는 스핀들 측정값(미가공 데이터값)이나, 스핀들 측정값을 가공한 가공값 등을 표시 가능하다. 한편, 이하에서는 스핀들 측정값 또는 가공값을 총칭하여 계측값이라고 하는 경우가 있다.
조작부(21)는, 각 컨트롤러(17, 18)의 판정에 사용하는 한계값을 설정하는 한계값 설정부(21a)를 포함한다. 한계값 설정부(21a)는, 예를 들면 센서 유닛(11)에서 측정되는 스핀들 측정값(미가공 데이터값) 또는 스핀들 측정값을 가공한 가공값 중의 어느 한 계측값과 비교하기 위한 한계값을 사용자가 사용할 때 사용하는 것이다.
또한, 상위 컨트롤러(17)의 조작부(21)는, 제1표시 전환부(21b)와 제2표시 전환부(21c)를 포함한다.
제1표시 전환부(21b)는, 예를 들면 사용자가 조작 가능한 스위치이고, 가압 조작될 때마다 표시부(20)에 있어서의 표시 내용을 전환하도록 되어 있다. 표시 내용의 일례로서는 "연산 결과", "논리 연산 판정 결과", "종합 판정 결과"를 들 수 있다.
제2표시 전환부(21c)는, 사용자가 조작 가능한 스위치이고, "연산 결과" 선택시의 표시부(20)에 있어서의 표시 내용을 전환하도록 되어 있다. 표시 내용의 일례로서는, "최대값", "최소값", "평탄도", "평균값", "기준차", "비틀림", "휨", "두께"를 들 수 있다.
메모리(22)는, 한계값 설정부(21a)에 의해 설정된 한계값 정보, 상위 컨트롤러(17)나 하위 컨트롤러(18)의 각종 프로그램 등이 기억되어 있다.
다음으로, 변위 센서 시스템(10)의 연산 결과 출력 기능에 대해 설명한다.
상위 컨트롤러(17)의 제1표시 전환부(21b)에서 "연산 결과"가 선택된 경우, 제2표시 전환부(21c)에 있어서 연산 결과 표시 기능에 있어서의 표시 내용을 전환 가능하게 된다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "최대값"이 선택된 경우에는, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, 대상이 되는 컨트롤러(17, 18) 중에서 가장 계측값이 큰 값을 연산 결과(A1)로서 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시하도록 되어 있다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "최소값"이 선택된 경우에는, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, 대상이 되는 컨트롤러(17, 18) 중에서 가장 계측값이 작은 값을 연산 결과(A1)로서 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "평탄도"가 선택된 경우에는, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, 컨트롤러(17, 18)를 복수 사용하여 검출 대상물의 평탄도를 표시부(20)에 표시한다. 더욱 구체적으로는, 대상이 되는 컨트롤러(17, 18) 중에서 계측값이 최대 및 최소인 것을 선택하고, 그 차(최대값-최소값)을 취한 연산 결과(A1)를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "평균값"이 선택된 경우에는, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, 대상이 되는 컨트롤러(17, 18)의 계측값의 합계값을 대상이 되는 컨트롤러(17, 18)의 대수로 나눈 연산 결과(A1)를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "기준차"가 선택된 경우에는, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, 대상이 되는 하위 컨트롤러(18)의 계측값(스핀들 측정값 또는 가공값)과 상위 컨트롤러(17)의 계측값(스핀들 측정값 또는 가공값)의 차를 연산 결과(A1)로서 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "비틀림"이 선택된 경우에는, 예를 들면 대상이 되는 4개의 컨트롤러(17, 18)의 계측값(스핀들 측정값 또는 가공값)을 바탕으로 비틀림의 정도를 산출하고, 그 연산 결과(A1)를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "휨"이 선택된 경우에는, 예를 들면 대상이 되는 3개의 컨트롤러(17, 18)의 계측값(스핀들 측정값 또는 가공값)을 바탕으로 휨의 정도를 산출하고, 그 연산 결과(A1)를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다.
예를 들면, 제2표시 전환부(21c)에서 "두께"가 선택된 경우에는, 예를 들면 대상이 되는 2개의 컨트롤러(17, 18)의 계측값(스핀들 측정값 또는 가공값)을 바탕으로, 측정 대상물의 두께를 산출하고, 그 연산 결과(A1)를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다.
다음으로, 변위 센서 시스템(10)의 논리 연산 판정 결과 출력 기능에 대해 설명한다.
예를 들면 제1표시 전환부(21b)에서 "논리 연산 판정 결과"가 선택된 경우에는, 각 컨트롤러(17, 18)마다에 설정된 한계값과 계측값의 비교 결과 정보를 판정한 판정 결과를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시하도록 되어 있다.
더욱 구체적으로는, 각 하위 컨트롤러(18)의 제어 회로(19)는, 한계값 설정부(21a)에서 설정된 한계값과 계측값(스핀들 측정값 또는 가공값)을 비교한다. 제어 회로(19)는, 한계값과 측정값을 비교하고, 측정값이 한계값 이상이면 비교 결과 정보로서 하이 신호를, 측정값이 한계값 미만이면 비교 결과 정보로서 로우 신호를 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)에 대해 출력한다. 한편, 한계값으로서 하한값과 상한값을 설정한 소정 범위내이면 하이 신호를, 상기 소정 범위외이면 로우 신호를 외부에 출력하는 구성을 채용해도 좋다. 또한, 이들을 사용자가 임의로 전환 가능하게 구성해도 좋다.
상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, 한계값 설정부(21a)에서 설정된 한계값과 계측값(스핀들 측정값 또는 가공값)을 비교한다. 제어 회로(19)는, 한계값과 측정값을 비교하고, 측정값이 한계값 이상이지 여부를 판정한다.
상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, 각 하위 컨트롤러(18)의 제어 회로(19)로부터 출력되는 신호(비교 결과 정보)와, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)에서 판정된 판정 결과와 논리 연산을 하여 논리 연산 결과(A2)를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다. 논리 연산은 논리곱 또는 논리합 중의 어느 것이어도 좋고, 사용자가 임의로 설정 가능하게 해도 좋다.
다음으로, 변위 센서 시스템(10)의 종합 판정 결과 출력 기능에 대해 설명한다.
예를 들면 제1표시 전환부(21b)에서 "종합 판정 결과"가 선택된 경우에는, "연산 결과"로부터 산출된 연산 결과(A1)와 "논리 연산 판정 결과"에 있어서의 논리 연산 결과(A2)에 기초하여 종합 판정을 하도록 되어 있다. 여기서, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)는, "연산 결과"로부터 산출된 연산 결과(A1)와 상위 컨트롤러(17)의 한계값 설정부(21a)에서 설정된 연산 결과용 한계값과 비교를 하여 비교 결과(A3)를 산출하도록 되어 있다. 그리고, 제어 회로(19)는, 비교 결과(A3)와 논리 연산 결과(A2)를 논리 연산하고, 그 종합적인 논리 연산 결과(A4)를 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 표시한다. 논리 연산은 논리곱 또는 논리합 중의 어느 것이어도 좋고, 사용자가 임의로 설정 가능하게 해도 좋다.
다음으로, 상기한 바와 같이 구성된 변위 센서 시스템의 작용에 대해 설명한다.
본 실시예의 변위 센서 시스템(10)에서는, 각 센서 유닛(11)의 측정자(13a)를 검출 대상물에 대해 당접시키는 것에 의해 각 센서 유닛(11)의 측정자(13a) 및 스핀들(13)이 이동(변위)하고, 그 이동량에 따른 전기 신호가 각 컨트롤러(12(17, 18))에 출력된다.
상위 컨트롤러(17) 및 하위 컨트롤러(18)에서는, 센서 유닛(11)으로부터 출력되는 전기 신호에 기초하여 다양한 처리를 한다.
다음으로, 본 실시예의 효과를 기재한다.
(1) 선택부로서의 상위 컨트롤러(17)의 조작부(21)에 의해 연산 결과(A1)와, 논리 연산 결과(A2)와, 논리 연산 결과(A4)로부터 사용자가 표시(출력)하고자 하는 결과를 선택할 수 있기 때문에, 사용자의 요구에 맞춰 각종 결과를 얻을 수 있어, 편리성을 향상시킬 수 있다.
(2) 사용자에 대해 표시부(20)에 의한 표시에 의해 연산 결과(A1)와 판정 결과로서의 논리 연산 결과(A2)와 종합 판정 결과로서의 논리 연산 결과(A4)를 알릴 수 있다.
한편, 상기 실시예는, 다음과 같이 변경해도 좋다.
상기 실시예에서는, 조작부(21)에 의해 연산 결과(A1)와, 논리 연산 결과(A2)와, 논리 연산 결과(A4)로부터 사용자가 표시(출력)하고자 하는 결과를 선택할 수 있는 구성으로 했지만, 이에 한정되지 않는다. 적어도 논리 연산 결과(A4)를 출력(표시부(20)에 표시)하는 구성이면 된다. 이와 같은 구성이어도 단순한 연산 결과가 아닌, 복수의 조건으로부터 종합적인 판정을 하고 그것을 출력할 수 있기 때문에, 편리성을 향상시킬 수 있다.
상기 실시예에서는, 상위 컨트롤러(17)의 제어 회로(19)에 의해 각 하위 컨트롤러(18)로부터 출력되는 한계값과의 비교에 따른 로우 또는 하이 신호(비교 정보)를 바탕으로 판정하는 구성으로 했지만, 이를 생략한 구성을 채용해도 좋다. 즉, 상기 실시예에 있어서의 논리 연산 판정 결과 출력 기능을 생략한 구성을 채용해도 좋다. 이 경우에 있어서의 종합 판정 결과 출력 기능으로서는, 상기 연산부에서 연산한 연산 결과와 임의의 하위 컨트롤러(18)의 제어 회로(19)로부터 출력되는 비교 결과 정보로부터 종합 판정을 한다. 한편, "임의의 하위 컨트롤러(18)"란, 예를 들면 사용자가 하위 컨트롤러(18) 또는 상위 컨트롤러(17) 등을 이용하여 사용하는 하위 컨트롤러(18)를 선택하는 것을 가리킨다. 이와 같은 구성이어도 단순한 연산 결과(A)가 아닌, 복수의 조건으로부터 종합적인 판정을 하고 그 판정 결과를 출력할 수 있기 때문에, 편리성을 향상시킬 수 있다.
상기 실시예에서는, 표시부(20)에서 종합 판정 결과로서의 논리 연산 결과(A4)를 표시하는 구성으로 했지만, 예를 들면 논리 연산 결과(A4)의 표시는 생략하고, 연산 결과(A1)와 논리 연산 결과(A2)를 표시부(20)에 동시에 표시하는 구성을 채용해도 좋다. 이와 같은 구성이어도 연산 결과와 판정 결과로서의 논리 연산 결과(A2)를 표시부(20)로부터 표시(출력) 가능하기 때문에, 단순한 연산 결과(A1)뿐만 아니라 논리 연산 결과(A2)도 출력할 수 있어, 편리성을 향상시킬 수 있다.
상기 실시예에서는, 복수의 컨트롤러(12) 중의 하나를 상위 컨트롤러(17)로 하고 나머지의 컨트롤러(12)를 하위 컨트롤러(18)로 했지만, 예를 들면, 각 컨트롤러(12(17, 18))에 대해 하위 컨트롤러(18)를 포함하는 상위 컨트롤러(17)의 기능을 구비하고, 사용자에 의해 설정하는 것에 의해 상위와 하위의 관계를 전환하는 구성을 채용해도 좋다.
상기 실시예에서는, 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 각종의 결과를 표시하는 구성으로 했지만, 하위 컨트롤러(18)나 외부 접속된 다른 기기에 표시(출력)하는 구성을 채용해도 좋다.
상기 실시예에서는, 상위 컨트롤러(17)의 표시부(20)에 각종의 결과를 출력(표시)하는 것으로 했지만, 이에 한정되지 않는다. 예를 들면 소리(음성) 등에 의해 각종의 결과를 출력하는 구성을 채용해도 좋다.
상기 실시예에서는, 각 컨트롤러(17, 18)와, 센서 유닛(11)을 접속 케이블(14)에 의해 유선 접속하는 구성으로 했지만, 이에 한정되지 않고, 컨트롤러(17, 18)와 센서 유닛(11)을 무선 접속하는 구성을 채용해도 좋다.
상기 실시예에서는, 각 컨트롤러(12(17, 18))와, 센서 유닛(11)을 별체로 했지만 일체 구성을 채용해도 좋다.
상기 실시예에서는, 변위 센서 시스템(10)의 센서 유닛(11)으로서 접촉식을 채용했지만, 레이저식, 과전류식, 초음파식 등의 비접촉식의 센서 유닛을 채용해도 좋다.
상기 실시예에서는, 센서 유닛(11)에 의해 측정 대상물의 변위를 측정하는 구성으로 했지만, 이에 한정되지 않는다. 센서 유닛(11)으로서 광전 센서를 사용하여 측정 대상물의 유무 등을 측정하는 구성을 채용해도 좋다. 이 경우, 광전 센서에 있어서의 측정값은 수광량이다.
또한, 센서 유닛(11)으로서 근접 센서를 사용하여 측정 대상물의 유무 등을 측정하는 구성을 채용해도 좋다. 근접 센서로서는, 전자기 유도를 이용한 고주파 발진형, 자석을 사용한 자기형, 검출 물체와 센서 사이의 정전 용량 변화를 검출하는 정전 용량형의 3종류를 들 수 있다.
또한, 센서 유닛(11)으로서 압력 센서를 사용하여 액압이나 기압(공기압) 등을 검출하는 구성을 채용해도 좋다. 이 경우, 압력 센서에 있어서의 측정값은, 압력값이다.
상기 실시예 및 각 변형예는 적절히 조합해도 좋다.
본 발명을 상세하게 또한 특정의 실시예를 참조하여 설명했지만, 본 발명의 정신과 범위내에서 다양한 변경이나 수정을 더할 수 있다는 것은 당업자에게 자명하다.
본 출원은, 2015년 10월 28일에 출원된 일본특허출원(특원2015-211607)을 기초로 하는 것이며, 그 내용은 본 명세서에 참조로서 원용된다.
10: 변위 센서 시스템(센서 시스템)
11: 센서 유닛
12: 컨트롤러
17: 컨트롤러 시스템을 구성하는 상위 컨트롤러
18: 컨트롤러 시스템을 구성하는 하위 컨트롤러
19: 제어 회로(연산부, 판정부, 종합 판정부, 정보 출력부)
20: 표시부(결과 출력부)
21: 조작부(선택부)
21b: 선택부를 구성하는 제1표시 전환부
21c: 선택부를 구성하는 제2표시 전환부

Claims (7)

  1. 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고,
    상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고,
    상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 바탕으로 소정의 판정을 하는 판정부; 상기 연산부에서 연산한 연산 결과와 상기 판정부에서 판정한 판정 결과를 이용하여 종합 판정을 하는 종합 판정부; 상기 연산 결과와 상기 판정 결과와 상기 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부; 및 상기 결과 출력부로부터 출력하는 결과를 선택 가능한 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 컨트롤러 시스템.
  2. 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고,
    상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고,
    상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 연산부에서 연산한 연산 결과와 임의의 상기 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 이용하여 종합 판정을 하는 종합 판정부; 및 적어도 상기 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 컨트롤러 시스템.
  3. 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고,
    상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고,
    상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 바탕으로 소정의 판정을 하는 판정부; 상기 연산부에서 연산한 연산 결과와 상기 판정부에서 판정한 판정 결과를 이용하여 종합 판정을 하는 종합 판정부; 및 상기 연산 결과와 상기 판정 결과와 상기 종합 판정 결과 중 적어도 상기 종합 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 컨트롤러 시스템.
  4. 센서 유닛 및 하위 컨트롤러를 접속 가능한 상위 컨트롤러와, 해당 상위 컨트롤러에 접속되는 센서 유닛과는 다른 센서 유닛을 각각 접속 가능한 복수의 하위 컨트롤러를 구비하고, 상기 상위 컨트롤러와 상기 각 하위 컨트롤러 사이에서 통신 가능하게 접속되는 컨트롤러 시스템이고,
    상기 각 하위 컨트롤러는, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값을 미리 설정된 한계값과 비교한 비교 결과 정보와, 상기 센서 유닛에서 측정된 측정값의 정보를 상기 상위 컨트롤러에 출력 가능한 정보 출력부를 구비하고,
    상기 상위 컨트롤러는, 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 측정값의 정보를 바탕으로 소정의 연산을 하는 연산부; 상기 각 하위 컨트롤러의 상기 정보 출력부로부터 출력되는 비교 결과 정보를 바탕으로 소정의 판정을 하는 판정부; 및 상기 연산 결과와 상기 판정 결과를 출력 가능한 결과 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 컨트롤러 시스템.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 결과 출력부는, 사용자에 대해 표시에 의해 알리는 표시부인 것을 특징으로 하는 컨트롤러 시스템.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 기재된 컨트롤러 시스템과,
    상기 컨트롤러 시스템의 상위 컨트롤러 및 하위 컨트롤러에 각각 접속되는 센서 유닛을 구비하는 것을 특징으로 하는 센서 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 센서 유닛은, 측정 대상물의 변위를 측정하는 것을 특징으로 하는 센서 시스템.
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