KR20180033120A - 노광 조정 인자 - Google Patents

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KR20180033120A
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휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피.
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Abstract

전자사진 이미저는 광전도 엘리먼트의 충전된 표면의 영역들을 노광하여 잠상을 형성하기 위하여 광전도 엘리먼트, 충전기 및 광원을 포함한다. 현상 엘리먼트는 충전된 마킹 에이전트를 통해 광전도 엘리먼트상에 잠상을 현상하기 위하여 광전도 엘리먼트에 대해 커플링된다. 노광 조정 인자는 노광 전에 잠상의 제 1 인쇄가능 영역에 선택적으로 적용된다.

Description

노광 조정 인자
본 발명은 노광 조정 인자에 관한 것이다.
디지털 전자사진 이미징은 문서 제작에 이미 혁신을 일으켰다. 그럼에도 불구하고, 줄곧 더 빨라지는 프로세싱과 더 커지는 이미징 용량은 인쇄된 문서들에서 고품질의 이미지를 달성하는데 있어서 계속해서 난제들을 제기한다.
도 1은 본 개시내용의 일례에 따른 전자사진 이미저의 부분들을 개략적으로 표현한 블록도이다.
도 2는 본 개시내용의 일례에 따른 전자사진 이미저를 개략적으로 표현한 측면도이다.
도 3은 본 개시내용의 일례에 따른, 전자사진 이미저의 전사 스테이션(transfer station)을 개략적으로 표현한 부분 측면도이다.
도 4는 본 개시내용의 일례에 따른, 광전도 벨트에 대해 커플링된 현상기를 개략적으로 표현한 측면도이다.
도 5a는 본 개시내용의 일례에 따른, 이미지 맵 및 현상 맵들의 어레이를 개략적으로 표현한 다이어그램이다.
도 5b는 본 개시내용의 일례에 따른 현상기 메모리를 개략적으로 표현한 블록도이다.
도 6a는 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 이미지 부분과 과소 현상된 이미지 부분의 비교를 개략적으로 표현한 다이어그램이다.
도 6b는 본 개시내용의 일례에 따른 현상 부분을 개략적으로 표현한 다이어그램이다.
도 6c는 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 이미지 부분과 과대 현상된 이미지 부분의 비교를 개략적으로 표현한 다이어그램이다.
도 7은 본 개시내용의 일례에 따른 노광 조정 관리자를 개략적으로 표현한 블록도이다.
도 8a은 본 개시내용의 일례에 따른 제어부를 개략적으로 표현한 블록도이다.
도 8b는 본 개시내용의 일례에 따른 사용자 인터페이스를 개략적으로 표현한 블록도이다.
도 9는 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 이미지 부분과 과소 현상된 이미지 부분의 비교를 개략적으로 표현한 다이어그램이다.
도 10은 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 이미지 부분과 과소 현상된 이미지 부분의 비교를 개략적으로 표현한 다이어그램이다.
도 11은 본 개시내용의 일례에 따라 전자사진 이미저를 제조하는 방법을 개략적으로 표현한 흐름도이다.
이하의 상세한 설명에서는 상세한 설명의 일부를 형성하고 개시내용이 실시될 수 있는 특정한 예시적인 예들로 도시된 첨부 도면들이 참조된다. 본 개시내용의 범위로부터 벗어나지 않고 다른 예들이 활용될 수 있고 구조적 또는 논리적 변화들이 이루어질 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 이하의 상세한 설명은 제한적인 의미로 받아들여서는 안된다. 본원에서 설명된 다양한 예들의 특징들은 달리 구체적으로 언급되지 않는 한, 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합될 수 있음이 이해되어야 한다.
본 개시내용의 적어도 일부 예들은 노광 조정 인자를 사용함으로써 고스팅 효과들을 감소시키면서 전자사진 이미징을 수행하는 것을 제공한다. 일부 예들에서, 이러한 고스팅 효과들은 이미지의 일부가 그 동일한 이미지의 다른 부분들내에 나타나는 의도치 않은 겹침을 지칭한다.
일부 예들에서, 노광 조정 인자는 잠상의 제 1 인쇄가능 영역에 선택적으로 적용되며, 노광 조정 인자의 크기는 제 1 인쇄가능 영역에 선행하는 잠상의 제 1 평가 부분에 관한 마킹 에이전트 전사 디맨드(marking agent transfer demand) 및 제 1 평가 부분에 대한 현상기 엘리먼트의 현상 상태에 적어도 기초한다. 일부 예들에서, 제 1 평가 부분은 제 1 인쇄 가능 영역에 바로 선행한다.
일부 예들에서, "마킹 에이전트 전사 디맨드"라는 용어는 마킹 에이전트를 통해 잠상의 의도된 현상량을 달성하기 위해 현상 엘리먼트로부터 광전도 엘리먼트로 전사될 마킹 에이전트의 절대량 또는 상대량을 지칭한다.
일부 예들에서, 노광 조정 인자는 전자사진 이미저가 자신의 정상 동작 절차들에 따라 노광 계산을 수행하는 것 외에 또는 이 이후에 광전도 엘리먼트상에서의 잠상의 일부의 의도적으로 증가 또는 감소시키는 노광을 지칭한다. 일부 예들에서, 노광 조정 인자의 크기는 정상 동작 절차들에 따라 주어진 픽셀 또는 영역에 대한 공칭 값을 초과하는 노광의 백분율 증가 (예컨대, 1 %, 2 %, 3 %, 4 %, 5 %, 10 % 등) 또는 정상 동작 절차들에 따라 주어진 픽셀 또는 영역에 대한 공칭 값 미만으로의 노광의 백분율 감소(예컨대, -1 %, -2 %, -3 %, -4 %, -5 %, -10 % 등)와 같은 백분율을 통해 표현될 수 있다.
일부 예들에서, "제 1"이라는 용어는 반드시 전체 잠상의 인쇄 가능 부분의 초기 인스턴스 또는 전체 잠상의 평가 부분의 첫 번째 인스턴스를 지칭하는 것이 아니라, 오히려 "제 1"이라는 용어는 조정이 적용될 수 있는 잠상내의 관심 부분을 지칭한다. 일부 경우들에서, "부분" 및 "영역"이라는 용어들은 이 2가지 용어들 사이에 어느 실질적인 차이도 의도하지 않고 본 개시내용 전반에 걸쳐 교환가능하게 사용될 수 있다.
일부 예들에서, 잠상의 제 1 평가 부분은 잠상의 제 2 인쇄가능 영역을 포함하고, 마킹 에이전트 전사 디맨드는 임계치에 대한 제 2 인쇄가능 영역의 최소 픽셀 밀도를 표시한다.
일부 예들에서, 잠상의 제 1 평가 부분은 연장된 시간 기간 동안 현상에 사용되지 않았던 현상 엘리먼트의 적어도 하나의 부분에 또한 대응하는 잠상의 인쇄 불가능 영역을 포함한다. 일부 예들에서, 이러한 연장된 비-현상은 비-현상이 발생한 현상 엘리먼트의 현상 사이클들의 수로서 표현된다.
일부 예들에서, 광원을 통해 광전도 엘리먼트를 노광시키기 전에, 노광량을 증가시키기 위하여 (즉, 과대 노광을 야기하기 위하여) 노광 조정 인자가 선택적으로 적용되어 이미지의 부분들의 현상 정도를 증가시키는데, 그렇지 않을 경우에는 현상기 엘리먼트의 적어도 일부 부분들의 상대적 마킹 에이전트 전사 디맨드 및/또는 상대적 현상 상태로 인해 현상이 부족하게 되었을 것이다.
일부 예들에서, 광원을 통해 광전도 엘리먼트를 노광시키기 전에, 노광량을 감소시키기 위해 노광 조정 인자가 선택적으로 적용되어 타겟 범위내에서 현상될 것으로 예상된 이미지의 부분들의 현상 정도를 감소시키며 (즉, 과소 현상되며), 이는 차례로 현상 엘리먼트의 적어도 일부 부분들의 상대적 마킹 에이전트 전사 디맨드 및/또는 상대적 현상 상태로 인해 과소 현상될 것으로 예상된 이미지의 부분들을 보상하는 전체 보상 패턴을 제공한다.
일부 예들에서, 의도치 않은 과소 현상 및/또는 고스팅 효과들을 최소화하기 위해, 이전에 설명된 예들 중 양자 예들의 조합이 사용된다. 예컨대, 과소 현상된 것으로 예상되는 이미지의 일부 부분들은 의도적으로 과대 노광될 것이며, 정상적으로 현상될 것으로 예상되는 동일한 이미지의 일부 부분들은 의도적으로 과소 노광될 것이다.
일부 예들에서, 노광 조정 인자의 크기 및 노광 조정 인자를 적용할지 여부에 대한 결정은 제 1 인쇄가능 영역의 마킹 에이전트 전사 디맨드와 후속 인쇄 가능 영역 간의 차이에 적어도 부분적으로 기초한다.
일부 예들에서, 노광 조정 인자의 사용은 페이지 간 갭 간격 동안 현상기 및/또는 광전도 엘리먼트의 바이어스 전압을 달리 변경하지 않고 수행되며, 그렇지 않은 경우는 마킹 에이전트가 낭비되고 동작 비용이 증가하게 되었을 것이다. 또한, 광전도 엘리먼트의 페이지간 갭 간격이 비교적 작은 배열들에서, (본 개시내용의 일부 예들에 따라) 노광 조정 인자의 선택적인 적용이 성공적으로 수행될 수 있는 반면에, 현상 엘리먼트 및/또는 광전도 엘리먼트의 바이어스 전압들을 변경함으로써 초과 마킹 에이전트를 퍼징(purging)하는 것을 통해 보정을 시도하기에 불충분한 시간은 이용하지 않을 수 있다.
일부 예들에서, 노광 조정 인자의 사용은 초과 마킹 에이전트 충전 및/또는 의도치 않은 과소충전의 현상을 고려하여 인쇄될 이미지상에서 이 현상이 발생할 수 있는 위치와 상관없이 이 현상을 최소화할 수 있다. 예컨대, 노광 조정 인자의 선택적 적용은 인쇄된 이미지의 중간 부분에서 의도치 않은 과소현상 및/또는 고스팅을 최소화할 수 있으며, 인쇄된 페이지의 시작시 의도치 않은 과소현상을 최소화하는 것으로 제한되지는 않는다.
이들 예들 및 추가 예들은 적어도 도 1-11와 관련하여 본 개시내용 전반에 걸쳐 설명된다.
도 1은 본 개시내용의 일례에 따른 전자사진 이미저(10)의 적어도 일부 부분들을 통한 이미징을 개략적으로 표현한 다이어그램이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 이미저(10)의 제어기(20)는 충전기(34)를 통해 충전되는 충전된 광전도 엘리먼트(30)상에 잠상의 패턴을 노광시키도록 광원(22)에 지시하기 위하여 이미지 정보를 사용한다. 예시적인 간략화를 위해 도시되지 않았지만, 제어기(20)는 또한 충전기(34), 광전도 엘리먼트(30) 및 현상 엘리먼트(33)의 동작들을 지시하고 그리고/또는 이들과 협력할 수 있음이 이해될 것이다.
현상 엘리먼트(33)는 광전도 엘리먼트(30)에 대해 커플링되며, 잠상을 현상된 이미지로 현상하여 나중에 미디어상으로 전사시킨다. 그러나, 전도성 엘리먼트(30)상에 이미지를 기록하기 전에, 제어기(20)를 통해, 이미저(10)는 광원 (22)이 충전된 광전도 엘리먼트(30)의 선택 부분들을 노광시키는 정도를 수정하기 위하여 선택적 노광 조정 인자(24)를 사용한다. 일부 예들에서, 이러한 수정의 위치 및 크기는 현상 엘리먼트(33)의 적어도 일부 부분들이 일정 시간 기간동안 현상되지 않은 정도에 그리고/또는 이미지-종속 마킹 에이전트 전사 디맨드에 적어도 부분적으로 기초한다. 일부 예들에서, 용어 "마킹 에이전트 전사 디맨드"와 관련하여 사용할 때, "이미지 종속"이라는 용어는 (현상 엘리먼트로부터 광전도 엘리먼트로) 전사되는 것으로 의도된 절대적 또는 상대적 마킹 에이전트량이 현상되고 있는 특정 이미지(또는 이미지의 부분)에 의존한다는 것을 의미한다. 이러한 배열에 관한 추가 세부사항들은 적어도 도 5a-11와 관련하여 이하에서 추가로 설명된다.
도 2는 본 개시내용의 일례에 따른 전자사진 이미저(21)를 개략적으로 표현한 측면도를 포함하는 다이어그램이다. 일례에서, 이미저(21)는 이미저(10)(도 1)의 실질적으로 동일한 특징들 및 속성들 중 적어도 일부를 포함하며, 여기서, 유사한 참조부호들은 유사한 엘리먼트들을 지칭한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 이미저(21)의 일례는 광원(22), 광전도 엘리먼트(30)(예컨대, 광전도 실린더) 및 미디어 롤러(42)를 포함한다. 더욱이, 이미저(21)는 충전기(34), 및 현상 엘리먼트(33)를 가진 현상기(32)를 포함한다. 일부 예들에서, 현상기 엘리먼트(33)는 반복적인 현상 사이클들을 연속적으로 제공한다. 일부 예들에서, 현상 엘리먼트(33)는 현상 롤러를 포함한다. 일 양상에서, 광전도 엘리먼트(30)는 외부 전자사진 표면 또는 플레이트(31)를 포함하는 반면에, 미디어 롤러(42)는 블랭킷(45)을 포함한다. 일부 예들에서, 표면 또는 플레이트(31)는 유기 광전도체(OPC: organic photoconductor)를 포함한다.
일부 예들에서, 이미저(21)는 이미저(21)의 일반적인 동작들을 지시하고 그리고/또는 도 1의 노광 조정 인자(24)를 구현하는 제어부(28)를 포함한다. 일부 예들에서, 제어부(28)는 적어도 도 8a와 관련하여 이하에서 설명되는 바와같은 제어부(380)의 특징들 및 속성들 중 적어도 일부를 포함한다.
도 1에 도시되지 않았지만, 일부 예들에서, 이미저(21)는 초과 "마킹 에이전트" 수집 메커니즘들, 클리너들, 추가 롤러들 등을 추가로 포함할 수 있다. 이미저(21)의 동작에 대한 간략한 설명은 다음과 같다.
이미지를 수신하기 위하여, 도 2에 추가로 도시된 바와 같이, 광전도 엘리먼트(30)는 광전도 엘리먼트(30)의 전자사진 표면(31)상에 균일한 충전 표면을 생성하기 위하여 충전 스테이션(34)(예컨대, 충전 롤러 또는 스코로트론(scorotron))으로부터 전하를 수신한다. 다음으로, 광전도 엘리먼트(30)가 (방향 화살표 A로 표현된 바와 같이) 회전할 때, 광원(22)은 이미지를 빔(23)을 통해 광전도 엘리먼트(30)의 표면(31)상에 투영하며, 이 광전도 엘리먼트(30)의 표면(31)은 이미지에 대응하는 광전도 엘리먼트(30)의 부분들을 방전시켜서 잠상을 형성한다. 이들 방전된 부분들은 "마킹 에이전트" 이미지를 생성하기 위하여 현상 엘리먼트(33)를 통해 (토너와 같은(그러나, 토너에 제한되지 않음)) 마킹 에이전트로 현상된다. 광전도 엘리먼트(30)가 계속해서 회전함에 따라, 마킹 에이전트 이미지는 광전도 엘리먼트(30)와 미디어 롤러(42) 사이의 압착 닙(40A)을 통과하는 미디어 M상에 전사된다.
도 2에 도시되지 않았지만, 일부 예들에서, 미디어 롤러(42)가 또한 미디어 공급부로서의 역할을 한다는 것이 이해되며, 이 경우 미디어 M은 미디어 롤러(42)의 외부 부분(45)을 형성하기 위하여 미디어 롤러(42)의 실린더(43)에 대해 감긴다. 일부 예들에서, 미디어 롤러(42)는 미디어 M이 압착 닙(40A)을 통과할 때 미디어 롤러(42)의 표면에 미디어 M을 분리가능하게 고정하여, 미디어 M은 압착 닙(40A)에서 미디어 롤러(42)에 감긴다.
일 양상에서, 현상 엘리먼트(33)는 인쇄 프로세스 동안 일반적으로 연속하는 마찰-충전(tribo-charging) 프로세스 동안 마찰에 의해 마킹 에이전트를 전기적으로 충전한다. 일부 경우들에서, 만일 현상 엘리먼트(33)가 잠상들을 현상하지 않고 비교적 긴 시간 기간 동안 순환되면 (예컨대, 롤러가 회전되면), 현상 엘리먼트(33)에서 현상기(32) 내의 마킹 에이전트는 과도하게 충전될 수 있는데, 이는 (현상 엘리먼트(33)의 표면상에 분배된) 마킹 에이전트를 광전도 엘리먼트(30) 상에 현상 또는 전사하는 것을 어렵게 만든다. 이러한 거동은 차례로 광전도 엘리먼트(30)상에 형성된 초기 마킹 에이전트 이미지를 외관에서 원하는 것보다 더 밝게 만든다. 다시 말해서, 초기 마킹 에이전트 이미지는 과소 현상된다. 영역이 광전도 엘리먼트(30)상에서 초기에 현상된 이후에, 현상 엘리먼트(33)에서 이용가능한 후속 마킹 에이전트는 낮은 전하량들을 가져서 광전도 엘리먼트(30)상에 현상(즉, 전사)하기에 더 용이하며, 따라서 광전도 엘리먼트(30)상에 후속하여 현상되는 영역들은 더 어둡게 나타나며, 즉 이 후속하여 현상되는 영역들은 의도된 어둠에 근접하게 현상된다. 이러한 과소 현상 효과는 마킹 에이전트 현상 없이 현상 엘리먼트(33)의 부분들의 연장된 연속 실행 이후에, 인쇄된 페이지상의 임의의 위치에서 발생할 수 있으며, 이는 차례로 현상 엘리먼트(33)상의 마킹 에이전트가 과도하게 충전되는 것을 허용한다. 더욱이, 과도하게 충전된 마킹 에이전트의 초기 고갈 이후에, 과충전 효과는 현상 엘리먼트(33)의 부분들이 현상을 위해 다시 사용될 때까지 현상 엘리먼트(33)가 순환할 때 선형 방식으로 다시 빌드업(build up)한다. 이러한 특이한 현상의 적어도 일부 양상들은 이러한 특이한 현상을 극복하는 본 개시내용의 적어도 일부 예들의 맥락에서 적어도 도 6a 및 도 9-10와 관련하여 예시된다.
일부 경우들에서, 잠상의 비교적 높은 픽셀 밀도 영역에 대한 현상 엘리먼트(33)상에 비교적 높은 마킹 에이전트 전사 디맨드(즉, 마킹 에이전트 전사 디맨드)를 둘 때, 현상 엘리먼트(33)상에서 마킹 에이전트의 상대적 충전량은 상당히 약화되어, 마킹 에이전트는 과소 충전된 것으로 고려될 수 있다. 이러한 과소 충전된 마킹 에이전트 조건의 경우에, 높은 밀도 픽셀 영역에 후속하는 잠상의 부분들의 현상을 수행할 때, 후속 부분들은 광전도 엘리먼트상에 전사하는 초과 마킹 에이전트로 인해 과대 현상될 수 있다. 이러한 특이한 현상의 적어도 일부 양상들은 이러한 특이한 현상을 극복하는 본 개시내용의 적어도 일부 예들의 맥락에서 적어도 도 6c와 관련하여 예시된다.
도 3은 본 개시내용의 일례에 따른 전자사진 이미저(50)의 일부분의 측면도를 포함하는 다이어그램이다. 일례에서, 이미저(50)는 광전도 엘리먼트(30)와 미디어 롤러(42) 사이에 삽입된 전사 롤러(52)를 추가로 포함하는 것을 제외하고 이미저(21)(도 2)와 실질적으로 동일한 특징들 및 속성들을 포함한다. 이전 예에서 처럼, 마킹 에이전트 이미지는 광전도 엘리먼트(30)의 표면(31)상에 형성된다. 광전도 엘리먼트(30)가 계속해서 회전함에 따라, 현상된 마킹 에이전트 이미지는 회전하는 전사 롤러(52)의 전기적으로 바이어싱된 블랭킷(54)상에 전사된다. (방향 화살표 B에 의해 표현된 바와같은) 전사 롤러(50)의 회전은 차례로 전사 롤러(50)와 미디어 롤러(42)사이의 압착 닙(62)을 통과하는 미디어 M상에, 현상된 마킹 에이전트 이미지를 전사한다.
도 4는 본 개시내용의 일례에 따른, 전자사진 이미저(71)의 일부분을 개략적으로 표현한 측면도이다. 이미저(71)는 현상 엘리먼트(33)(예컨대, 일부 경우들에서, 롤러)가 광전도 벨트(70)에 대해 커플링되는 경우에 (도 2-3에서 처럼) 실린더형 광전도 엘리먼트(30) 대신에 광전도 벨트(70)를 포함하는 것을 제외하고 이미저(21)(도 2) 또는 이미저(50)(도 3)와 같은 특징들 및 속성들을 포함한다.
도 5a는 본 개시내용의 일례에 따라, 인쇄가능(P) 부분들 및 인쇄 불가능(NP) 부분들을 포함하는 이미저(105) 및 현상 맵들(162A-162K)의 대응 어레이(160)의 병렬 배치(juxtaposition)를 개략적으로 표현하는 다이어그램(100)이다. 각각의 개개의 맵(162A-162K)은 이미징 프로세스동안 현상 엘리먼트(33)가 연속적으로 순환함에 따라 현상 엘리먼트(33)의 단일 사이클에 이용가능한 현상 표면을 표현한다. 일부 예들에서, 현상 엘리먼트(33)가 롤러를 포함할 때, 각각의 사이클은 회전에 대응한다.
일례에서, 이미지(105)는 도 1-4의 전자사진 이미저들 중 하나의 전자 이미저를 사용함으로써 미디어상에 형성될 것이다.
이미지(105)는 인쇄가능(P) 부분들 및 인쇄-불가능(NP) 부분들의 많은 상이한 조합들 및 구성들을 포함할 수 있으며, 따라서 도 5a의 이미지(105)는 많은 예시적인 구성들 중 오직 하나를 제공한다는 것이 이해될 것이다..
도 5a에 도시된 예에서, 이미지(105)는 인접 컬럼들(102, 103, 110, 및 120)을 포함하며, 인접 컬럼들 중 적어도 일부 컬럼들은 상이한 폭들을 가진다.
컬럼(102)은 컬럼(102)의 전체 길이 전반에 걸쳐 연장하는 인쇄 부분(P)을 포함하는 반면에, 컬럼(103)은 중요 정도의 비-인쇄 부분(104)을 포함하며, 비-인쇄 부분(104)에 후속하여 인쇄 부분(106)이 있다. 컬럼(110)은 인쇄 부분(112), 비-인쇄 부분(114) 및 인쇄 부분(116)을 포함한다. 일 양상에서, 개개의 인쇄 부분 및 비-인쇄 부분은 직사각형 형상들로 엄격하게 제한되는 것이 아니라 임의의 원하는 형상 또는 크기를 가질 수 있다. 유사하게, 컬럼(120)은 다수의 인쇄 부분들(122, 126, 140)과 이들내에 삽입된 비-인쇄 부분들(124, 130)을 포함한다.
오직 하나의 예시적인 예로서, 컬럼(120)의 개개의 인쇄 부분 및 비-인쇄 부분은 이미징 프로세스 동안 미디어 이동 방향을 따라 시리즈로 배열된다.
도 5a로부터 알 수 있는 바와 같이, 이미지(105)의 대부분의 부분들은 인쇄 부분과 비-인쇄 부분 간의 빈번한 변화들을 포함한다. 그러나, 컬럼(103)은 인쇄 부분(106)이 발생하기 전에 비-인쇄 부분(104)의 비교적 긴 스트레치(stretch)를 포함한다는 것은 도 5a로부터 알 수 있다. 이하에서 추가로 설명되는 바와 같이, 이러한 패턴은 인쇄 부분(106)의 과소 현상을 유발할 수 있으며, 본 개시내용의 적어도 일부 예들에 따라 노광 조정 인자(도 1에서 21)의 적용에 적합할 것이다.
맵들(162A-162K)의 어레이(160)에 대한 이미지(105)의 병렬 배치를 통해, 도 5a의 다이어그램(100)은, 현상 엘리먼트(33)의 반복 사이클들에 대해, 이미지(105)의 다양한 인쇄(P) 부분들과 비-인쇄(NP) 부분들의 상응관계를 나타낸다. 일부 예들에서, 현상 엘리먼트(33)는, 도 5a에 표현된 바와 같이, 이미지(105)의 폭(W1)과 적어도 동일한 폭(W2)을 가진다. 일부 예들에서, 광전도 엘리먼트(30)의 폭은 이미지(105)의 폭(W1) 및/또는 현상 엘리먼트(33)의 폭(W2)과 적어도 동일하거나 또는 이보다 더 크다.
도 5a에 도시된 특정 예에서, 이미지(105)는 미국 표준 레터(Letter) 크기(8.5” x 11”) 문서에 대응할 수 있으며, 현상 엘리먼트(33)는 전체 이미지(105)를 생성하는 것을 돕는데 현상 엘리먼트(33)의 11번의 사이클들이 걸리도록 하는 크기를 가질 수 있다. 따라서, 컬럼(103)과 같은 이미지(105)의 부분의 경우, 현상 엘리먼트(33)의 유효 수의 (예컨대, 7번의) 사이클들이 광전도 엘리먼트(30)상의 마킹 에이전트 현상 없이 발생할 것이다. 본 개시내용의 예들에 따른 노광 조정 인자가 없는 경우에, 의도치 않은 과소 현상 및/또는 고스팅이 적어도 도 6a 및 도 9-10과 관련하여 이하에서 추가로 설명되는 그러한 상황들로부터 초래될 수 있다.
본 개시내용의 적어도 일부 예들에서, 각각의 개개의 맵(162A-162K)은 현상 엘리먼트(33)의 하나의 사이클의 표면 영역에 대응하며, 각각의 맵은 현상 엘리먼트(33)의 현상 상태에 대한 이미지(105)의 픽셀들을 추적하기 위하여 사용된다. 이전에 논의된 바와 같이, 일부 예들에서, 현상 엘리먼트(33)는 인쇄 이미지(105)의 대략 1/11의 표면적을 가진다. 과도하게 충전된 마킹 에이전트가 있는 현상 엘리먼트(33)의 매핑 영역들에 대하여, 일부 예들에서, 75dpi x 75dpi의 해상도가 사용된다. "현상 엘리먼트 픽셀" 마다의 4비트가 사용된다고 가정하면, 32kbyte 메모리 버퍼는 과도하게 충전된 마킹 에이전트 또는 과소 충전된 마킹 에이전트를 가진 영역들을 계속해서 추적하기 위하여 현상 엘리먼트(33)를 매핑하기에 충분할 것이다. 따라서, 현상 엘리먼트(33)상의 픽셀들을 한번에 하나의 사이클씩 추적함으로써, 현상 엘리먼트(33)상의 과도하게 충전된 마킹 에이전트 또는 과소 충전된 마킹 에이전트를 추적하기 위하여, 비교적 작은 그리고 관리가능한 메모리 버퍼가 사용될 수 있다.
일부 예들에서, 메모리 버퍼는 도 5b에 도시된 바와같은 현상기 메모리(170)에 상주한다. 일부 예들에서, 현상기 메모리(170)는 도 8a의 메모리(384)의 부분 또는 일반적으로 도 8a의 제어부(382)의 부분을 형성한다. 그러나, 일부 예들에서, 도 5b의 현상기 메모리(170)는,비록 현상기 메모리(170)가 메모리(384)와 통신하거나 또는 일반적으로 제어부(382)(도 8a)와 통신할지라도, 메모리(384)(도 8a)와 분리되고 메모리(384)에 독립적이다.
대조적으로, 전체 이미지(105)(예컨대, 래스터 이미지)의 전체 그레이스케일 비트 맵(full greyscale bit map)은 과도하게 충전된 마킹 에이전트에 관한 픽셀들을 추적하기 위하여 훨씬 더 큰 메모리 소스를 수반할 것이다. 예컨대, YMCK 픽셀 마다 8비트를 가진 1200dpi x 600dpi 인쇄 해상도에서 8.5"x11"의 이미지 측정을 위하여, 메모리 소스는 페이지 마다 254 Mbyte(예컨대, 64 Mbyte/color)일 것이다.
따라서, 현상 엘리먼트(33)의 물리적 크기에 대응하는 픽셀들을 통해, 충전된 마킹 에이전트를 추적함으로써, 주어진 전체 크기 이미지에 대하여, "충전된 마킹 에이전트" 픽셀 추적이 발생한 경우에, 충전된 마킹 에이전트를 추적하지 않았다면 수반되었을 것보다 훨씬 더 작은 메모리가 사용될 수 있다.
일부 예들에서, 이미지(105)는 미국 레터 크기 문서보다 더 크거나 또는 더 작으며 그리고/또는 현상 엘리먼트(33)는 이미지(105)의 1/11 표면적과 다른 표면적을 가진다. 따라서, 현상 엘리먼트(33)가 롤러를 포함할 때, 현상 엘리먼트(33)는 1인치와 다른 원주를 가질 수 있다.
도 6a는 본 발명의 일례에 따른, 의도적으로 현상된 이미지의 부분(182A) 및 과소 현상된 이미지의 부분(182B)의 비교를 개략적으로 표현하는 다이어그램(180)이다. 일 양상에서, 과소 현상된 이미지 부분(182B)은 본 개시내용의 예들을 통한 노광 조정의 부재시 이미지의 인쇄 및 현상의 외관에 대응한다. 다른 양상에서, 노광 조정이 적용될 때, 실제로 현상된 이미지는 의도된 이미지 부분(182A)에 대응한다.
일부 예들에서, 부분(182A)은 전체 폭 페이지 이미지와 같은 (그러나, 이에 제한되지 않음) 보다 큰 이미지의 컬럼 또는 연장 부분에 대응한다. 이러한 일례에서, 부분(182A)은 도 5의 이미지(105)의 컬럼(103)에 대응한다. 일부 예들에서, 부분(182A)은 임의의 수(n)의 비-인쇄 세그먼트들(184A)을 포함하며, 비-인쇄 세그먼트들(184A) 중 적어도 일부에 후속하여 높은 픽셀 밀도 인쇄 영역(186A)이 있다. 일부 예들에서는 비-인쇄 세그먼트들(184A)의 적어도 일부분에 바로 후속하여, 높은 픽셀 밀도 인쇄 구역(186A)이 있다.
일부 예들에서, 각각의 세그먼트(184A)의 높이(H2)는 도 5a의 H1 또는 도 6b의 H1에 의해 표현되는, 현상 엘리먼트(33)의 하나의 사이클에 대한 표면에 대응한다. 충분한 수(n)의 비-인쇄 세그먼트들(184A)이 발생할 때, 현상 엘리먼트(33)는 현상되지 않았던 몇몇 대응하는 사이클들(예컨대, 롤러의 회전들)을 경험했을 것인데, 이는 도 6b의 다이어그램(195)에 도시된 현상 맵(162H)의 비-현상 부분(184C)에 의해 표현된다.
일부 예들에서, 세그먼트(188A) 앞의 적어도 마지막 비-인쇄 세그먼트(184A)는 제 1 평가 부분을 포함한다. 일부 경우들에서, 이러한 평가 부분은 제 1 평가 부분으로 지칭되는데, 왜냐하면 제 1 평가 부분은 마킹 에이전트 전사 디맨드에 대해 그리고/또는 제 1 평가 부분에 대응하는 현상 엘리먼트의 현상 부분의 현상 상태에 대하여 평가될 수 있기 때문이다. 일부 경우들에서, 제 1 평가 부분에 관한 이러한 정보는 제 1 평가 부분에 뒤따르는 제 1 인쇄가능 영역(예컨대, 인쇄 세그먼트(188A))에 대한 노광 조정 인자를 적용할지의 여부와 이 노광 조정 인자의 크기를 결정하기 위하여 사용된다. 일부 예들에서, 제 1 인쇄가능 영역은 제 1 평가 부분에 바로 뒤따른다. 이전에 언급된 바와 같이, 일부 예들에서, 노광 조정 인자의 크기는 잠상의 특정 부분들의 예상된 과소 현상을 보상하기 위하여 (정상 동작 절차들 마다 공칭 타겟 노광에 대하여) 증가된 노광의 백분율(예컨대, 1%, 2%, 5%, 10%, 등)로서 표현되거나 또는 구현된다.
일부 경우들에서, 비-인쇄 세그먼트들(184A)은 0의 픽셀 밀도와 이에 따라 0의 마킹 에이전트 전사 디맨드를 가진 영역으로서 보일 수 있다.
이러한 연장된 비-현상 시나리오에서, 만일 의도된 이미지 부분(182A)이 노광 조정 없이 실제로 인쇄되었다면, 높은 픽셀 밀도 구역(186B)의 세그먼트들(188B, 189B)이 부분(184C)의 연장된 비-현상 기간으로부터 발생하는, 현상 엘리먼트(33)상의 마찰 전하들의 과도한 축적으로 인해 과소 현상되는 도 6a의 부분(182B)이 발생했을 것이다. 연장된 비-현상 기간은 (비-인쇄 세그먼트들(184A)과 매칭되는) 비-인쇄 세그먼트들(184B)의 시리즈에 대응한다. 이러한 상황은 이미지 부분(182B)의 세그먼트(188B)가 과소-현상되도록 (이는 크로스-해칭((cross-hatching))에 의해 표현됨) 광전도 엘리먼트(30)(도 1-4)상에 마킹 에이전트가 덜 현상되게 한다. 일부 예들에서, 노광 조정 인자를 적용하기 위한 결정은 정상 동작 조건들하에서 타겟 현상량에 대한 백분율(예컨대, 5%, 10%, 20%, 등)인 예상된 과소현상에 기초하며, 백분율은 운영자에 의해 선택가능하거나 제어부(예컨대, 도 2의 28 또는 도 8a의 380)를 통해 자동적으로 선택가능하다.
도 6a의 비교적 더 조밀한 크로스-해칭에 의해 표현된 바와 같이, 세그먼트(189B)는 현상 엘리먼트(33)의 부분(184C)의 후속 사이클을 표현하며, (의도된 이미지 부분(182A)의) 의도된 높은 픽셀 밀도 구역(186A)의 일부 과소 현상을 계속해서 나타낸다. 그러나, 이와같이 후속하여 현상된 세그먼트(189B)는 현상 엘리먼트(33)상의 초과 충전된 마킹 에이전트의 일부 용량이 세그먼트(188B)의 현상을 통해 이동되었기 때문에 초기에 현상된 세그먼트(188B)보다 더 양호한 현상을 나타낸다. 최종적으로, 현상 엘리먼트(33)의 다음 사이클까지, 인쇄 부분(190B)은 크로스-해칭이 결여된 것으로 표현되는 의도된 전체 현상을 나타낸다. 이러한 거동은 광전도 엘리먼트(30)상의 현상이 지금 현상 엘리먼트(33)의 부분에서 충분히 자주 일어나기 때문에 현상 엘리먼트(33)의 그 부분이 현상 엘리먼트(33)에 의해 전달되는 충전된 마킹 에이전트량에 관한 정상 동작 범위쪽으로 리턴하였다는 표시를 제공한다.
도 6a에 도시되지 않았지만, 일부 경우들에서는 추가적인 과소 현상된 세그먼트들이 세그먼트들(188B, 189B) 뒤의 과소 현상된 이미지 부분(182B)에서 발생할 수 있다.
일부 예들에서는 이미지 부분(182B)의 오직 하나의 과소 현상된 세그먼트(188B)가 제 2 과소 현상된 세그먼트(189B) 없이 존재한다. 이러한 상황은 현상 롤러(33)의 부분(예컨대, 부분(184C))의 비-현상이 심각하지 않는 위치 및/또는 의도된 이미지 부분(182A)의 높은 픽셀 밀도 부분(186A)이 덜 조밀한 위치에서 발생할 수 있다.
적어도 일부 예들에서는 높은 픽셀 밀도 구역들이 그 구역들에서의 비교적 높은 정도의 충전 때문에 이러한 특이한 현상과 관련된다는 것이 이해될 것인데, 이는 차례로 현상 엘리먼트(33)로부터 충전된 마킹 에이전트상에 더 높은 디맨드를 둔다.
일부 예들에서, 이미지의 인쇄가능 부분의 상대적 픽셀 밀도는 잠상에 대한 정상 픽셀 밀도 보다 비교적 더 높거나 또는 더 낮은 픽셀 밀도를 지칭한다.
본 개시내용의 적어도 일부 예들은 의도된 이미지 부분(182A)을 광전도 엘리먼트(30)상에 노광하기 전에 의도된 이미지 부분(182A)에 노광 조정 인자(24)(도 1)를 선택적으로 적용하는 것을 통해 과소 현상된 부분(182B)에 의해 나타날 특이한 현상을 극복한다. 특히, 현상 엘리먼트(33)의 적어도 부분(184C)의 비-현상이 임계치를 초과했다는 것을 제어부(도 2의 (28) 또는 도 7의 (380))가 결정할 때(도 7-8b와 관련하여 설명됨), 노광 조정 인자(24)는 (현상 엘리먼트(33)의 연장된 비-현상 부분(184C)(도 6b)에 대응하는) 마지막 비-인쇄 부분(184A) 다음의 적어도 제 1 세그먼트(188A)에 대한 노광을 조정하도록 구현된다. 일부 예들에서, 제 1 세그먼트(188A)는 마지막 비-인쇄 구역(184A)에 바로 뒤따른다.
이러한 노광 조정이 본 개시내용의 적어도 일부 예들에 따라 구현될 때, 과소 현상된 인쇄 세그먼트들(188B, 189B)은 회피되며, 대신에 높은 픽셀 밀도 구역(186A)의 세그먼트들(188A, 189A)이 그들의 예상된 외관을 나타내거나 또는 그의 상당히 근접한 접근을 나타낼 의도된 이미지 부분(182A)이 실현된다.
이러한 조정이 구현되는 방식에 관한 추가 세부사항들은 도 7의 노광 조정 관리자(300)와 관련하여 설명된다.
도 6c는 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 현상 이미지 부분(252A)과 과대 현상된 이미지 부분(252B)의 비교를 개략적으로 표현하는 다이어그램(250)이다. 일 양상에서, 과대 현상된 이미지 부분(252B)은 본 개시내용의 예들을 통해 노광 조정이 없을 때 이미지의 인쇄 및 현상의 외관에 대응한다. 다른 양상에서, 노광 조정이 적용될 때, 실제로 현상된 이미지는 의도된 이미지 부분(252A)에 대응한다.
일부 예들에서, 부분(252A)은 전체 폭 페이지 이미지와 같은 (그러나, 이에 제한되지 않음) 보다 큰 이미지의 컬럼(예컨대, 연장 부분)에 대응한다. 이러한 일례에서, 부분(252A)은 도 5의 이미지(105)의 컬럼들 중 하나에 대응한다. 부분(252A)은 인쇄가능 세그먼트들(254A, 268A, 269A, 270A)을 포함하며, 여기서 세그먼트(268A)는 적어도 하나의 높은 픽셀 밀도 인쇄 부분(256A)을 포함하며, 이어서 높은 픽셀 밀도 인쇄 부분(256A)은 비-인쇄 부분(258A)에 의해 둘러싸인 별모양 부분(257A)을 포함한다. 일부 예들에서, 각각의 세그먼트(268A, 269A, 270A 등)의 높이(H2)는 도 5A의 H1 또는 도 6B의 H1에 의해 표현되는, 현상 엘리먼트(33)의 하나의 사이클에 대한 표면(184C)에 대응한다. 280A로서 표시된 영역은 일반적으로 연속하는 정상 인쇄 동작들을 표현하며, 여기서는 과소 현상도 과대 현상도 발생하지 않는다.
이러한 시나리오에서, 만일 의도된 이미지 부분(252A)이 실제로 노광 조정 없이 인쇄되었다면, 별모양 부분(257B) 및 주변 비-인쇄 부분(258B)이 별모양 부분(257A) 및 주변 비-인쇄 부분(258A)과 동일한 외관을 가지는 도 6C의 부분(252B)이 발생했을 것이다. 도 6c에 추가로 도시된 바와 같이, 과대 현상된 이미지 부분(252B)은 또한 높은 픽셀 밀도 세그먼트(256B)에 대한 높은 마킹 에이전트 전사 디맨드의 앞선 현상으로부터 발생하는 현상 엘리먼트(33)의 과소충전으로 인해 과대 현상되는 세그먼트(269B)를 포함할 것이다. 일부 예들에서, 높은 픽셀 밀도 세그먼트(256B)의 현상은 세그먼트(269B)에 바로 선행한다.
일부 예들에서, 적어도 268A는 제 1 평가 부분을 포함한다. 일부 경우들에서, 이러한 평가 부분은 제 1 평가 부분으로 지칭되는데, 왜냐하면 제 1 평가 부분은 마킹 에이전트 전사 디맨드에 대해 그리고/또는 제 1 평가 부분에 대응하는 현상 엘리먼트의 현상 부분의 현상 상태에 대하여 평가될 수 있기 때문이다. 일부 경우들에서, 제 1 평가 부분에 관한 이러한 정보는 후속 세그먼트(269A)(예컨대, 제 1 인쇄가능 영역)에 대한 노광 조정 인자를 적용할지 여부와 이 노광 조정 인자의 크기를 결정하기 위하여 사용된다.
높은 픽셀 밀도 세그먼트(268A) 다음의 세그먼트(269A)와 관련하여 도 6c에 예시된 상황은 예컨대, 이미지 부분(252B)의 세그먼트(269B)가 세그먼트(254B 또는 280B)에 대한 더 밝은 크로스-해칭과 비교하여 적어도 별모양 부분(267B) 및 보통의 부분(266B)의 더 어두운 크로스-해칭에 의해 표현되는 바와 같이 과소 충전으로 인해 의도치 않게 과대 현상되도록 광전도 엘리먼트(30)(도 1-4)상에 더 많은 마킹 에이전트가 현상되게 한다. 별모양-주변 부분(268B)은 과소 현상 도 과대 현상도 표현하지 않기 위하여 세그먼트(254B) 및/또는 세그먼트(270B)와 동일한 크로스-해칭으로 도시된다.
도 6c에 도시되지 않았지만, 일부 예들에서, 세그먼트(269B) 뒤의 적어도 하나의 세그먼트(270B)가 의도된 이미지 부분(252A)의 부분(270A)의 일부 과대 현상을 계속해서 나타낼 것이라는 것이 이해될 것이다. 그러나, 이러한 후속하여 현상된 세그먼트(270B)는 현상 엘리먼트(33)상의 의도된 정도의 임의의 충전된 마킹 에이전트량이 복원될 가능성이 있기 때문에 초기에 현상된 세그먼트(269B) 보다 양호한 현상을 나타낼 가능성 있다.
오직 하나의 세그먼트(269B)만이 과대 현상을 나타낸다고 가정하면, 세그먼트(270B)와 같은 후속 세그먼트들은 세그먼트들(254B, 270B 등)에 대하여 도시된 공칭 정도의 크로스-해칭에 의해 표현되는 의도된 현상을 나타낼 수 있다. 이러한 거동은 현상 엘리먼트(33)의 부분이 현상 엘리먼트(33)에 의해 전달되는 충전된 마킹 에이전트량에 관한 정상 동작 범위쪽으로 리턴되었다는 표시를 제공한다.
도 6c에 도시되지 않았지만, 일부 경우들에서, 세그먼트(269B) 뒤의 과대 현상된 이미지 부분(252B)에서 추가적인 과대 현상된 세그먼트들이 발생할 수 있다.
적어도 일부 예들에서는 높은 픽셀 밀도 구역들이 현상을 위해 그 구역들에서 사용되는 비교적 높은 정도의 충전 때문에 이러한 특이한 현상과 관련된다는 것이 이해될 것인데, 이는 차례로 현상 엘리먼트(33)로부터 충전된 마킹 에이전트상에 더 높은 디맨드를 둔다.
본 개시내용의 적어도 일부 예들은 광전도 엘리먼트(30)상에의 의도된 이미지 부분(252A)의 노광 전에 노광 조정 인자(24)(도 1)를 그 의도된 이미지 부분(252A)에 선택적으로 적용하는 것을 통해 과대 현상된 부분(252B)에 의해 나타날 특이한 현상을 극복한다. 특히, 부분에 대한 마킹 에이전트 전사 디맨드가 임계치를 초과할 수 있다고 제어부(도 2의 28 또는 도 7의 380)가 결정할 때(도 7-8b와 관련하여 추가로 설명됨), 노광 조정 인자(24)는 세그먼트(268A)의 마지막 높은 픽셀 밀도 영역(256A, 257A) 다음의 적어도 제 1 세그먼트(269A)에 대한 노광을 조정하기 위하여 구현된다. 일부 예들에서, 제 1 세그먼트(269A)는 세그먼트(268A)의 마지막 높은 픽셀 밀도 구역(256A, 257A)에 바로 뒤따른다.
이러한 노광 조정이 본 개시내용의 적어도 일부 예들에 따라 구현될 때, 과대 현상된 인쇄 세그먼트들(252B)은 회피되며, 대신에 높은 픽셀 밀도 구역(286A) 다음의 세그먼트(269A)가 그들의 예상된 외관을 나타내거나 또는 그의 상당히 근접한 접근을 나타낼 의도된 이미지 부분(252A)이 실현된다.
이러한 조정이 구현되는 방식에 관한 추가 세부사항들은 도 7의 노광 조정 관리자(300)와 관련하여 설명된다.
도 7은 본 개시내용의 일례에 따른 노광 조정 관리자(300)의 블록도인 반면에, 도 8a는 본 개시내용의 일례에 따른 제어부(380)의 블록도이다.
일반적인 표현으로, 노광 조정 관리자(330)는 현상 엘리먼트(33)의 특정 구역(들)에서의 연장된 비-현상 때문에 현상 엘리먼트(도 2의 33)상의 과도한 충전 빌드업으로 인해 발생할 수 있는 예상된 과소현상을 상쇄시키기 위해 현상 전에 광전도 엘리먼트(도 2의 30)의 노광을 선택적으로 조정하도록 동작한다.
도 7에 도시된 바와 같이, 일부 예들에서, 노광 조정 관리자(300)는 이미지 맵 모듈(310), 현상 맵 모듈(330) 및 조정 인자 모듈(350)을 포함한다.
일부 예들에서, 일반적 표현으로, 이미지 맵 모듈(310)은 현상 및 인쇄될 이미지의 맵을 제공한다. 도 7에 도시된 바와 같이, 일부 예들에서, 이미지 맵 모듈(310)은 인쇄 파라미터(312), 비-인쇄 파라미터(314), 크기 파라미터(316), 형상 파라미터(318), 타입 파라미터(320), 픽셀 밀도 파라미터(322) 및 암도 파라미터(324)를 포함한다. 인쇄 파라미터(312)는 이미지의 인쇄가능 부분들을 식별하여 추적하는 반면에, 비-인쇄 파라미터(314)는 이미지의 인쇄 불가능 부분들(즉, 인쇄가 일어나지 않는 영역들)을 식별하여 추적한다. 크기 파라미터(316), 형상 파라미터(318) 및 타입 파라미터(320)는 인쇄가능 부분들 또는 인쇄 불가능 부분들의 크기, 형상 및 타입을 식별하여 추적한다. 픽셀 밀도 파라미터(322)는 각각의 인쇄가능 부분의 픽셀 밀도를 추적하는 반면에, 암도 파라미터(324)는 각각의 인쇄가능 부분의 암도(예컨대, 그레이 레벨)을 추적한다. 일부 예들에서, 이하에서 추가로 상세히 설명되는 바와 같이, 픽셀 밀도 파라미터(322)는 노광 조정 인자가 적용되어야 하는지의 여부를 결정하기 위하여 이미지의 픽셀 단위 분석과 연관된다.
일부 예들에서, 이미지 맵 모듈(310)은 의도된 이미지의 특정 부분에 대한 상대적인 정도의 마킹 에이전트 전사 디맨드를 결정 및/또는 표시하기 위하여 마킹 에이전트 전사 디맨드 인자(325)를 포함한다. 예컨대, 높은 픽셀 밀도 구역은 현상 엘리먼트(33)의 주어진 사이클 동안 현상 엘리먼트(33)로부터의 현상을 통해 전사될 마킹 에이전트의 용량에 대해 상대적으로 높은 디맨드를 둘 수 있다. 일부 예들에서, 마킹 에이전트 전사 디맨드 인자(325)는 자신의 결정을 수행하기 위하여 픽셀 밀도 파라미터(324)와 연관되고 그리고/또는 이 픽셀 밀도 파라미터(324)를 활용한다.
일부 예들에서, 파라미터들(316, 318, 320)을 통해, 사용자는 추적될 인쇄가능 부분들 및 인쇄 불가능 부분들의 크기, 형상 및/또는 타입을 결정할 수 있다. 일부 예들에서, 인쇄가능 부분들 및 인쇄 불가능 부분들의 크기, 형상 및 타입은 픽셀 밀도 파라미터(322) 및/또는 암도 파라미터(324)에 기초하여 자동적으로 결정된다.
일부 예들에서, 현상 맵 모듈(330)은 일반적으로 연속 이미징 프로세싱 동안 현상 엘리먼트(33)상의 상대적인 마킹 에이전트 충전 정도를 결정하도록 동작하며, 상대적인 마킹 에이전트 충전 정도는 광전도 엘리먼트(30)상에 충전된 마킹 에이전트의 상대적인 현상 정도에 일반적으로 대응한다.,
도 7에 도시된 바와 같이, 일부 예들에서, 현상 맵 모듈(330)은 상태 기능부(332), 크기 파라미터(340), 및 형상 파라미터(342)를 포함한다. 상태 기능부(332)는 현상 엘리먼트(33)의 주어진 부분의 현상 상태를 추적한다. 일부 예들에서, 상태 기능부(332)는 위치 파라미터(334) 및 에이지(age) 파라미터(336)를 포함한다. 위치 파라미터(334)는 상대적인 현상 상태(즉, 존재하는 충전된 마킹 에이전트의 용량)에 관해 현상 엘리먼트(33)상의 위치를 식별하는 반면에, 에이지 파라미터(336)는 (파라미터(334) 마다) 특정 위치에서의 현상 엘리먼트(33)의 부분이 광전자 엘리먼트(30)상에 마킹 에이전트를 현상하기 위하여 마지막으로 사용된 이후부터의 에이지(예컨대, 사이클들의 수 또는 경과된 시간)을 추적한다.
일부 예들에서, 현상 맵 모듈(330)은 마킹 에이전트가 타겟 동작 범위내의 용량 또는 레이트에서 전사될 수 있는 (예컨대, 광전자 엘리먼트(30)상에 현상될 수 있는) 정도를 결정 및 표시하기 위하여 마킹 에이전트 전사성 파라미터(344)를 포함한다. 일부 예들에서, 마킹 에이전트 전사성 파라미터(344)는 현상 엘리먼트(33)의 표면에 걸친, 충전된 마킹 에이전트의 이용가능한 용량 및 이의 충전 정도에 적어도 부분적으로 기초한다. 따라서, 일부 예들에서, 마킹 에이전트 전사성 파라미터(344)는 현상 엘리먼트(33)상에서 마킹 에이전트의 상대적인 과대 충전 또는 상대적인 과소 충전의 표시자로서의 역할을 할 수 있다. 일부 예들에서, 마킹 에이전트 전사성 파라미터(344)의 값은 적어도 현상 엘리먼트(33)의 타겟 동작 범위에 대하여 평가될 수 있다.
일부 예들에서, 일반적인 표현으로, 조정 인자 모듈(350)은 현상 엘리먼트(33)(도 1-2)의 일부 부분들에 대한 비-현상의 연장된 기간들에 기인할 수 있는 상대적으로 과충전된 마킹 에이전트를 보상하거나 또는 최근의 높은 마킹 에이전트 전사 디맨드에 기인할 수 있는 현상 엘리먼트(33)상의 상대적으로 과소 충전된 마킹 에이전트를 보상하기 위하여 광전도 엘리먼트(30)에 대한 (광원(22)의) 노광 정도를 결정하여 이에 대한 조정을 구현하도록 동작한다.
도 7에 도시된 바와 같이, 일부 예들에서, 조정 인자 모듈(350)은 초기 현상 파라미터(352), 후속 현상 파라미터(354), 이미지 임계 파라미터(360) 및 현상 임계 파라미터(362)를 포함한다. 일부 예들에서, 조정 인자 모듈(350)은 재충전 간격 파라미터(364) 및 재충전 레이트 파라미터(366)를 포함한다. 일부 예들에서, 조정 인자 모듈(350)은 픽셀 단위 분석 파라미터(370)를 포함한다.
일부 예들에서, 초기 현상 파라미터(352)는 도 6a의 예에서와 같이 현상 엘리먼트(33)의 특정 부분에 대한 현상 엘리먼트(33)의 비-현상의 연장된 기간 이후에 또는 도 6c에서와 같이 높은 밀도 픽셀 구역 이후에 초기에 현상될 인쇄가능 세그먼트에 대하여 발생하는 상대적인 노광 조정 정도에 대응하는 값을 저장한다.
반면에, 후속 현상 파라미터(354)는 초기 인쇄가능 세그먼트 다음의 각각의 후속 인쇄가능 세그먼트(들)에 대하여 발생하는 상대적인 노광 조정 정도에 대응하는 값을 저장한다. 일부 예들에서, 후속 현상 파라미터(354) 마다 저장된 노광 조정 값은 일반적으로 초기 현상 파라미터(352) 마다 노광 조정 값 미만의 값이며, 일부 경우들에서 분수로서 표현될 수 있다.
일부 예들에서, (후속 현상 파라미터(354) 마다) 노광 조정 값은 각각의 후속 현상에 대해 크기가 감소한다.
일부 예들에서, 적어도 일부 후속 노광 조정치들은 초기 노광 조정치보다 크기가 더 크다.
일부 예들에서, 후속 현상 파라미터(354)는 상수 파라미터(356) 및 변수 파라미터(358)를 포함한다. 상수 파라미터(356)는 후속 현상 인스턴스들이 초기 현상 인스턴스를 얼마나 많이 뒤따르는지에 관계없이 후속 현상 인스턴스들에 대해 노광 조정의 상수 크기를 유지한다. 변수 파라미터(358)는 각각의 연속하는 후속 현상 인스턴스에 대해 크기가 감소하도록 노광 조정 크기를 변화시킨다. 일부 예들에서, 변수 파라미터(358)는 노광 조정이 후속 현상 인스턴스들에 적용될 횟수(예컨대, 2, 3, 4, 등)의 제한에 따라 동작한다.
일부 예들에서, 이미지 임계 파라미터(360)는 노광 조정 인자의 적용이 트리거될 픽셀 밀도(파라미터(322))의 임계치를 선택하여 추적하기 위한 메커니즘을 제공한다. 특히, 이미지가 광전도 엘리먼트(30)상에의 노광을 위해 준비될 때, 이미지의 주어진 영역에 어떤 픽셀 밀도가 있는지가 결정될 것이며, 의도된 픽셀 밀도가 임계치를 초과하는 경우 그리고 다른 조건들(예컨대, 현상 엘리먼트의 현상 상태)이 정당한 것으로 인정되는 경우에, 노광 조정 인자가 적용된다. 역으로, 특정 구역에서 이미지의 의도된 픽셀 밀도가 임계치 미만일 때, 노광 조정 인자가 적용되지 않는다.
일부 예들에서, 파라미터(360)마다 이미지 임계치가 적용되는 구역들의 크기 및/또는 형상을 결정하기 위하여 이미지에 관한 적어도 크기 및/또는 형상 파라미터들(316, 318)이 사용된다는 것이 이해될 것이다.
일부 예들에서, 현상 임계 파라미터(360)는 노광 조정 인자의 적용이 트리거될 현상 엘리먼트(33)의 부분들의 비-현상의 임계치(파라미터(362))를 선택하여 추적하기 위한 메커니즘을 제공한다. 특히, 일부 예들에서, 이미지가 광전도 엘리먼트(30)상에의 노광을 위해 준비될 때, 이미지의 임의의 높은 픽셀 밀도 구역들(파라미터(360)마다 이미지 임계치를 초과하는 구역들)에 대하여 현상 엘리먼트(33)의 부분들에 대한 현상 상태가 결정되며, 결정된 현상 상태가 파라미터(362)마다의 임계치를 초과하는 경우 노광 조정 인자가 적용된다. 역으로, 일부 예들에서, 특정 구역에서 현상 엘리먼트(33)의 결정된 현상 상태가 임계치(362) 미만일 때, 이미지의 대응 부분이 높은 픽셀 밀도인지 아닌지에 관계없이 노광 조정 인자가 적용되지 않는다.
일부 예들에서, 현상 임계 파라미터(362)가 적용될 수 있는 구역들의 크기 및/또는 형상을 결정하기 위하여 비-현상 영역에 관한 적어도 크기 및/또는 형상 파라미터들(340, 342)이 사용된다는 것이 이해될 것이다. 일부 예들에서, 현상 임계 파라미터(362)가 적용될 수 있는 구역들의 크기 및/또는 형상을 결정하기 위하여 과소 충전된 마킹 에이전트에 관한 적어도 크기 및/또는 형상 파라미터들이 사용된다는 것이 추가로 이해될 것이다.
일부 예들에서, 현상 임계 파라미터(362)는 현상 엘리먼트(33)의 적어도 하나의 부분에 대해 비-현상이 발생한 현상 엘리먼트(33)의 사이클의 횟수에 적어도 부분적으로 기초하여 임계치를 사용한다. 일부 예들에서, 사이클들의 횟수는 상태 기능부(332) 마다 현상 상태의 에이지 파라미터(336)와 연관되거나 또는 이와 상관된다.
일부 예들에서, 현상 임계 파라미터(362)는 현상 엘리먼트(33)상의 측정가능한 충전 필드 또는 (현상 엘리먼트(33)에 대한 특정 관심 구역에서의) 마지막 현상 이후로부터의 경과된 시간에 적어도 부분적으로 기초하여 임계치를 사용한다.
일부 예들에서, 노광 조정 인자가 적용되는지의 여부는 노광 조정 모듈(350)의 부분을 형성할 수 있는 재충전 간격 파라미터(364) 및/또는 재충전 레이트(366)(도 7)에 의존할 것이다. 재충전 간격 파라미터(364)는 현상 엘리먼트(33)가 재충전되는 간격(예컨대, 빈도)을 추적한다. 특히, 일부 예들에서, 재충전 간격이 간격 임계치 보다 충분히 낮거나 또는 미만인 상황들에서, 현상 엘리먼트(33)의 연장된 비-현상으로 인한 의도치 않은 과소 현상 및/또는 고스팅이 발생할 가능성이 있다. 따라서, 이들 상황들에서는 노광 조정 인자가 적용되지 않을 것이다. 그러나, 일부 예들에서, 재충전 간격이 임계치를 초과하기에 충분히 높아서 이러한 과소 현상 및/또는 고스팅이 발생할 가능성이 매우 높은 상황들을 일으키는 경우에, 노광 조정 인자가 적용될 것이다.
일부 예들에서, 재충전 레이트 및/또는 재충전 간격에 관한 정보는 과대 현상이 의도된 이미지의 높은 픽셀 밀도 구역 이후에 발생할 수 있는지의 여부에 영향을 미칠 수 있으며, 따라서 선택적인 노광 조정 인자가 적용될 수 있는지의 여부를 적어도 부분적으로 결정할 수 있다.
재충전 레이트 파라미터(364)는 재충전이 발생할 때마다 현상 엘리먼트(33)가 재충전되는 속도(예컨대, 얼마나 빠른지)를 추적한다. 특히, 재충전 레이트가 레이트 임계치 보다 충분히 낮거나 또는 미만인 상황들에서, 현상 엘리먼트(33)의 연장된 비-현상으로 인한 과소 현상 및/또는 고스팅은 발생할 가능성이 없다. 따라서, 이들 상황들에서는 노광 조정 인자가 적용되지 않을 것이다. 그러나, 재충전 레이트가 임계치를 초과하기에 충분히 높아서 이러한 과소 현상 및/또는 고스팅이 발생할 가능성이 매우 높은 상황들을 일으키는 경우에, 노광 조정 인자가 적용될 것이다.
일부 예들에서, 재충전 간격 파라미터(364) 및/또는 재충전 레이트(366)가 수정되지 않을 것이다. 일부 예들에서, 이들 파라미터들(364, 366)은 잠재적인 과소 현상 및/또는 고스팅 문제들을 적어도 부분적으로 제어 또는 보상하기 위하여 노광 조정 관리자(300)를 통해 수정될 수 있다.
노광 조정 관리자(300)의 동작의 적어도 일부 일반적인 양상들을 고려하여, 노광 조정 인자를 구현하는 더 특정한 예들이 설명될 것이다. 일부 예들에서, 노광 조정 인자의 적용에 관한 결정들은 도 7에 도시된 바와 같이 픽셀 단위 파라미터(370) 마다 픽셀 단위 분석을 통해 이루어진다.
예시적인 목적들을 위해, 현상 엘리먼트의 적어도 일부 부분들의 연장된 비-현상과 관련된 과소 현상 및 현상 엘리먼트(33)상의 마킹 에이전트의 연관된 과대 충전과 관련한 일부 예들이 설명될 것이다. 그러나, 실질적으로 동일한 원리들의 적어도 일부가 의도된 이미지의 높은 픽셀 밀도 구역들에 의해 강제된 높은 마킹 에이전트 전사 디맨드들과 관련된 현상 엘리먼트(33)상의 과소 충전된 마킹 에이전트로 인한 과대 현상에 관한 일부 예들에 적용될 수 있다는 것이 이해될 것이다.
예컨대, 별모양들을 인쇄할 때, 광원(22)과 연관된 노광 시스템은 기록될 개개의 픽셀의 초기 노광을 세팅하기 위하여 (픽셀 프레임 버퍼에서 이용가능한) 이미지 정보(20)(도 1)를 사용한다. 광원(22)에 의한 기록을 위하여 이러한 픽셀이 (제어부(28)를 통해) 릴리스(release)되기 전에, 픽셀은 적어도 현상 엘리먼트(33)와 연관된 현상기 메모리(170)(도 5b)내의 정보에 기초하여 노광 조정 인자(도 1의 24 및 도 7의 관리자(300) 마다의 노광 조정 인자)에 의해 스케일링된다. 일부 예들에서, 저장된 정보는 기록될 이미지의 영역내의 마킹 에이전트상에 존재하는 과도한 충전의 상태에 대응한다.
일부 예들에서, 기록될 픽셀에 대한 노광의 조정의 크기는 또한 각각의 주변 픽셀(예컨대, 4x4 샘플)에 대한 과도하게 충전된 마킹 에이전트의 값들에 적어도 부분적으로 기초한다. 일부 예들에서, 픽셀이 부분을 형성하는 고체 영역이 노광되거나, 단일 픽셀이 노광되거나 또는 중간색 영역들이 노광되는지의 여부에 따라 상이한 크기 조정이 이루어진다. 기록될 픽셀이 광원(22)에 의해 기록되도록 (도 2의 제어부(28)를 통해) 릴리스된 이후에, "현상 엘리먼트" 픽셀 영역에 대응하는 현상기 메모리(170)(도 5b)는 현상 엘리먼트(33)의 그 영역상에서 이용가능한 과도하게 충전된 마킹 에이전트의 감소량을 반영하도록 업데이트된다. 이후, 프로세스는 연속적으로 업데이트되고 있는 마킹 에이전트 충전 정보의 현상 상태를 가진 페이지 아래에서 (이를테면, 도 7의 상태 기능부(332)를 통해) 계속된다.
현상 엘리먼트(33)상의 마킹 에이전트의 비-현상 영역들이 롤러(33)의 각각의 회전시에 추가 전하를 픽업(pick up)한다는 것이 추가로 이해될 것이다. 따라서, 일부 예들에서, 이러한 특이한 현상은 현상 엘리먼트(33)상의 초과 충전 레벨을 추적하는 정확도를 증가시켜서 노광 조정 인자의 정확도를 증가시키기 위하여 추적된다. 따라서, 일부 예들에서, 현상 엘리먼트(33)상의 "마킹 에이전트 충전" 픽셀들을 추적하는 것과 연관된 메모리(예컨대, 도 5b의 170)는 영역이 과도하게 충전된 마킹 에이전트가 마지막으로 고갈된 이후로부터 현상 엘리먼트(33)의 사이클들의 수를 고려한다. 일부 예들에서, 현상기 메모리(170)(도 5b)는 현상 엘리먼트(33) 마다 64k 메모리 버퍼를 초래하기 위하여 "현상 엘리먼트" 픽셀 영역 당 총 8비트가 사용되도록 픽셀마다 추가 4비트를 사용한다.
메모리 크기가 현상 엘리먼트(33)의 크기 및/또는 형상 뿐만아니라 다른 인자들에 의존할 수 있기 때문에 메모리 크기의 이들 예들이 제한적이 아니라 예시적이라는 것이 이해될 것이다.
적어도 일부 예들이 픽셀 단위 노광 조정을 사용하는 경우, 현상 엘리먼트(33)상의 과도하게 충전된 마킹 에이전트로 인한 이미지 부분들(예컨대, 도 6a의 세그먼트(188b))의 과소 현상의 특이한 현상은 단순히 이미지의 시작에서 발생하는 대신에 이미지의 형성 동안 인쇄 프로세스 전반에 걸쳐 연속적으로 처리될 수 있다. 따라서, 조정들은 페이지의 최상부와 최하부 사이의 페이지의 임의의 부분내에서 이루어질 수 있다.
더욱이, 일 양상에서, 본 개시내용의 적어도 일부 예들은 과소 현상 및/또는 후속하는 고스팅을 최소화하지 않을 경우에 인쇄 작업의 각각의 페이지의 페이지간 갭내에 초과 충전된 마킹 에이전트를 퍼징(purging)할 때 발생하는 것처럼 마킹 에이전트를 불필요하게 낭비하지 않고 과소 현상 및/또는 후속 고스팅을 최소화할 수 있다.
따라서, 본 개시내용의 적어도 일부 예들은 마킹 에이전트를 절약함으로써 고객에 대한 동작 비용들을 감소시킬 수 있다. 더욱이, 이러한 퍼징 활동을 중지함으로써, 본 개시내용의 적어도 일부 예들은 훨씬 더 작은 페이지간 갭을 사용할 수 있으며, 이는 차례로 전자사진 이미징 프로세스 컴포넌트들 중 임의의 컴포넌트의 속도 또는 실제 페이지 속도를 가속하지 않고 보다 높은 효과적인 인쇄 속도를 가능하게 한다. 이어서, 이는 전자사진 이미징 시스템의 전기기계 부품들 모두의 수명을 연장시킬 수 있다.
또한, 보다 작은 페이지간 갭을 사용함으로써, 본 개시내용 솔루션의 적어도 일부 예는 주어진 인쇄 속도에 대해 각각의 페이지간의 물리적 공간이 더 작기 때문에 보다 높은 효과적인 인쇄 속도에서 인쇄할 때 수반되는 에너지 소비를 감소시킬 수 있다. 또한, 인쇄 프로세스가 동작중이나 페이지상에 아무것도 인쇄되지 않은 상황들에서 "유휴" 시간이 덜 발생한다.
적어도 일부 예들이 픽셀 단위 노광 조정을 이용하는 경우, 현상 엘리먼트(33)상의 과소 충전된 마킹 에이전트로 인한 이미지 부분들(예컨대, 도 6c의 세그먼트(269B))의 과대 현상의 특이한 현상은 단순히 이미지의 시작에서 발생하는 대신에 이미지의 형성 동안 인쇄 프로세스 전반에 걸쳐 연속적으로 처리될 수 있다. 따라서, 조정들은 페이지의 최상부와 최하부 사이의 페이지의 임의의 부분내에서 이루어질 수 있다. 또한, 일 양상에서, 본 개시내용의 적어도 일부 예들은 과대 현상 및/또는 후속하는 고스팅을 최소화할 수 있다.
도 8a은 본 개시내용의 일례에 따른 제어부(380)를 개략적으로 예시한 블록도이다. 일부 예들에서, 제어부(380)는 제어기(382) 및 메모리(384)를 포함한다. 일부 예들에서, 제어부(380)는 도 2의 이미저(21)의 제어부(28)의 하나의 예시적인 구현을 제공한다.
일반적인 표현으로, 제어부(380)의 제어기(382)는 적어도 하나의 프로세서 (383) 및 연관된 메모리들을 포함한다. 제어기(382)는 본 개시내용 전반에 걸쳐 설명되는 시스템들, 컴포넌트들 및 모듈들의 적어도 일부 컴포넌트들의 동작을 지시하는 제어 신호들을 생성하기 위하여 메모리(384)에 전기적으로 커플링하며 이와 통신한다. 일부 예들에서, 이들 생성된 제어 신호들은 본 개시내용의 적어도 일부 예들에서 설명되는 방식으로 전자사진 이미저의 의도치 않은 과소 현상, 의도치 않은 과대 현상 및/또는 관련 고스팅을 관리하기 위하여 메모리(384)에 저장된 노광 조정 관리자(385)를 이용하는 것을 포함하나 이에 제한되지 않는다. 제어부(380)(또는 다른 제어부)는 또한 전자사진 이미저의 일반적인 기능들을 동작시키기 위하여 사용될 수 있다는 것이 추가로 이해될 것이다. 일부 예들에서, 노광 조정 관리자(385)는 적어도 도 7과 관련하여 이전에 설명된 노광 조정 관리자(300)와 실질적으로 동일한 특징들 중 적어도 일부를 포함한다.
사용자 인터페이스(예컨대, 도 8b의 사용자 인터페이스(386))를 통해 그리고/또는 기계 판독가능 명령들을 통해 수신되는 커맨드들에 대한 응답으로 또는 이 커맨드들에 기초하여, 제어기(382)는 본 개시내용의 이전에 설명된 예들 및/또는 나중에 설명될 예들 중 적어도 일부에 따라 노광 조정 인자를 구현하기 위한 제어 신호들을 생성한다. 일부 예들에서는 제어기(382)가 범용 컴퓨터에서 구현되는 반면에, 다른 예들에서는 제어기(382)가 일반적으로 전자사진 이미저(도 1의 10; 도 2의 21)에서 구현되거나 또는 제어부(28)(도 2)와 같이 본 개시내용 전반에 걸쳐 설명된 컴포넌트들 중 적어도 일부에 통합되거나 또는 이들과 연관된다.
제어기(382)를 참조로 하는 본 출원의 경우, "프로세서"란 용어는 메모리에 포함된 기계 판독가능 명령들의 시퀀스들을 실행하는 현재 개발된 또는 미래에 개발될 프로세서(또는 프로세싱 자원들)를 의미할 것이다. 일부 예들에서, 제어부(380)의 메모리(384)를 통해 제공된 것들과 같은 기계 판독가능 명령들의 시퀀스들의 실행은 프로세서로 하여금 본 개시내용의 적어도 일부 예들에서 (또는 이들과 일치하게) 일반적으로 설명되는 바와 같이 노광 조정 인자를 구현하기 위하여 제어기(382)를 동작시키는 것과 같은 액션(action)들을 수행하게 한다. 기계 판독가능 명령들은 판독 전용 메모리(ROM), 대용량 저장 디바이스 또는 메모리(384)에 의해 표현되는 일부 다른 영속적인 저장 매체(예컨대, 비-일시적인 유형의 매체 또는 비-휘발성 유형의 매체)내의 그들의 저장 위치로부터 프로세서가 실행하기 위한 랜덤 액세스 메모리(RAM)에 로딩될 수 있다. 일부 예들에서, 메모리(384)는 제어기(382)의 프로세스에 의해 실행가능 기계 판독가능 명령들의 비-휘발성 저장을 제공하는 컴퓨터 판독가능한 유형의 매체를 포함한다. 다른 예들에서는 하드 와이어드(hard wired) 회로가 설명된 기능들을 구현하기 위한 기계 판독가능 명령들 대신에 또는 이러한 기계 판독가능 명령들과 결합하여 사용될 수 있다. 예컨대, 제어기(382)는 적어도 하나의 주문형 집적 회로(ASIC)의 부분으로서 구현될 수 있다. 적어도 일부 예들에서, 제어기(382)는 하드웨어 회로와 기계 판독가능 명령들의 임의의 특정 조합으로 제한되지도 않고 제어기(382)에 의해 실행되는 기계 판독가능 명령들에 대한 임의의 특정 소스에도 제한되지 않는다.
일부 예들에서, 사용자 인터페이스(386)는 본 개시내용의 전반에 걸쳐 설명되는 전자사진 이미저의 다양한 양상들 및/또는 제어부(380)의 다양한 컴포넌트들, 모듈들, 기능들, 파라미터들, 특징들 및 속성들 중 적어도 일부의 동시 디스플레이, 활성화 및/또는 동작을 제공하는 사용자 인터페이스 또는 다른 디스플레이를 포함한다. 일부 예들에서, 사용자 인터페이스(486)의 적어도 일부 부분들 또는 양상들은 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)를 통해 제공된다. 일부 예들에서, 도 8b에 도시된 바와 같이, 사용자 인터페이스(386)는 디스플레이(388) 및 입력(389)을 포함한다.
도 9는 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 이미지 부분과 과소 현상된 이미지 부분의 비교를 개략적으로 표현한 다이어그램이다.
일부 양상들에서, 도 9의 예는 도 6a-6b의 예에서와 실질적으로 동일한 노광 조정 인자의 동작의 특징들 및 속성들 중 적어도 일부를 포함한다.
도 9에 도시된 바와 같이, 도 9는 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 이미지의 부분(502A)과 과소 현상된 이미지의 부분(502B)의 비교를 개략적으로 표현한 다이어그램(500)을 도시한다. 일 양상에서, 과소 현상된 이미지 부분(502B)은 본 개시내용의 예들을 통해 노광 조정이 없을 때 의도된 이미지를 현상한 외관에 대응한다. 다른 양상에서, 노광 조정이 본 개시내용의 적어도 일부 예들에 따라 적용될 때, 실제로 현상된 이미지는 의도된 이미지 부분(502A)에 일반적으로 대응할 것이다.
도 6a의 예와 유사하게, 일부 예들에서는 부분(502A)이 높은 픽셀 밀도 인쇄 부분(512A)에 선행하는 임의의 수(n)의 비-인쇄 세그먼트들(510A)을 포함하는 부분(182A)을 가진 보다 큰 이미지의 컬럼 또는 연장 부분에 대응한다. 일부 예들에서, 임의의 수(n)의 비-인쇄 세그먼트들(510A)은 높은 픽셀 밀도 인쇄 영역(512A)에 바로 선행한다. 일 양상에서, 높은 픽셀 밀도 인쇄 구역(512A)은 제 1 또는 초기 세그먼트(515A)를 포함하며, 이 세그먼트(515A)의 일부분은 별모양 부분(520A), 및 높은 픽셀 밀도 별모양(520A)을 둘러싸는 하나의 비-인쇄 부분(522A), 즉 "별모양-주변" 부분을 포함한다. 다른 양상에서, 논의를 위하여, 높은 픽셀 밀도 구역(512A)은 세그먼트들(530A, 540A, 및 550A)과 같은 다른 세그먼트들에 분배가능하며, 세그먼트(530A)는 별모양(520A), 별모양-주변 비-인쇄 부분(522A) 및 하부 인쇄 부분(523A)을 또한 포함한다. 반면에, 세그먼트들(540A, 550A)은 임의의 비-인쇄 부분들이 없는 높은 픽셀 밀도 구역들을 포함한다.
일부 예들에서, 각각의 세그먼트(510A)의 높이(H2)는 도 5a의 H1 또는 도 9의 D1에 의해 표현되는, 현상 엘리먼트(33)의 원주에 대응한다. 충분한 수(n)의 비-인쇄 세그먼트들(510A)이 발생할 때, 현상 엘리먼트(33)는 도 6b의 다이어그램(195)으로 표현되는, 현상 엘리먼트(33)의 과도한 비-현상 부분(184C)이 존재할 수 있도록 현상되지 않았던 여러 대응 사이클들을 경험했을 것이다.
이러한 시나리오에서, 만일 의도된 이미지 부분(502A)이 노광 조정 없이 실제로 현상되었다면, 도 9의 부분(502B)이 초래되었을 것인데, 부분(502B)에서 높은 픽셀 밀도 구역(512B)의 초기 세그먼트(515B)(상부 별모양 부분(520B)을 포함함)는 부분(184C)(도 6B)의 연장된 비-현상 기간으로부터 발생하는 현상 엘리먼트(33)상의 마찰 전하들의 과도한 축적으로 인해 과소 현상된다. 연장된 비-현상 기간은 (비-인쇄 세그먼트들(510A)과 매칭되는) 비-인쇄 세그먼트들(510B)의 시리즈에 대응한다. 이러한 상황은 이미지 부분(182B)의 세그먼트(515B)(상부 별모양 부분(520B)을 포함함)가 크로스-해칭에 의해 표현되는 바와 같이 과소-현상되도록 현상 엘리먼트(33)(도 1-4)의 부분(184C)상에 마킹 에이전트(예컨대, 토너)가 덜 현상되게 한다.
이러한 예에서, 세그먼트(530B)는 주변 부분(542B)이 현상 롤러(33)의 연장된 비-현상 영역의 마지막 인스턴스(부분(522B)) 다음의 초기 현상 부분을 효과적으로 정의하기 때문에 현상 엘리먼트(33)(도 2)의 후속 사이클시에 (완전히 현상된 별모양 부분(540B)을 둘러싸는) 과소 현상된 부분(542B)이 발생하도록 현상 엘리먼트(33)(도 2)의 비-현상 부분에 아직 대응하는 (상부 별모양 부분(520B) 및 하부 별모양 부분(520C)을 둘러싸는) 주변 비-인쇄 부분(522B)을 포함한다.
도 9에서 상대적으로 더 조밀한 크로스-해칭 부분에 의해 표현된 바와 같이, 세그먼트(550B)는 현상 엘리먼트(33)의 동일한 부분의 후속 사이클을 표현하며, (의도된 이미지 부분(502A)의) 의도된 높은 픽셀 밀도 구역(512A)의 과소 현상을 계속해서 나타낸다. 후속하여 현상된 세그먼트(550B)의 주변 부분(552B)은 세그먼트(540)에서 별모양 부분(540C)을 둘러싸는 초기에 현상된 "별모양-주변" 부분(542B) 보다 양호한 현상을 나타낸다. 최종적으로, 현상 엘리먼트(33)의 다음 사이클까지, 세그먼트(550B) 다음의 인쇄된 부분은 구역(512B)의 나머지 구역에서 크로스-해칭이 결여된 것으로 표현되는 의도된 전체 현상을 나타낸다. 이는 현상이 지금 현상 엘리먼트(33)의 특정 부분에서 충분히 자주 일어나기 때문에 현상 엘리먼트(33)의 그 부분이 현상 엘리먼트(33)에 의해 전달되는 충전된 마킹 에이전트량에 관한 정상 동작 범위쪽으로 리턴하였다는 것을 표시한다.
일부 예들에서, 추가적인 과소 현상된 세그먼트들이 세그먼트(550B)에 후속하여 발생할 수 있으며, 세그먼트(550B)에서 다른 "별모양-주변" 부분이 그와 달리 완전히 현상된 높은 픽셀 밀도 구역(512B) 내의 과소 현상된 부분으로서 보일 것이다.
일부 예들에서는 제 2 과소 현상된 세그먼트(550B)(별모양 부분(550C) 및 "별모양-주변" 부분(552B)) 없이 오직 하나의 과소 현상된 세그먼트(540B)("별모양-주변" 부분(542B)을 포함함)만이 존재한다. 이러한 상황은 현상 롤러(33)의 부분의 비-현상이 심각하지 않는 위치 및/또는 의도된 이미지의 높은 픽셀 밀도 구역이 덜 조밀한 위치에서 발생할 수 있다.
이를 고려하여, 본 개시내용의 적어도 일부 예들은 의도된 이미지 부분(502A)을 광전도 엘리먼트(30)상에 노광하기 전에 노광 조정 인자(24)(도 1)를 그 의도된 이미지 부분(502A)에 선택적으로 적용하는 것을 통해 과소 현상된 부분(502B)에 의해 다른 상태로 나타날 현상을 극복한다. 특히, 현상 엘리먼트(33)의 적어도 부분(184C)의 비-현상이 임계치를 초과했다는 것을 제어부(도 2의 (28) 또는 도 7의 (380))이 결정할 때(도 7-8b와 관련하여 이전에 설명됨), 노광 조정 인자(24)는 마지막 비-인쇄 부분(510A)(이는 차례로 현상 엘리먼트(33)의 연장된 비-현상 부분(184C)(도 6b)에 대응함) 다음의 적어도 제 1 세그먼트(515A)에 대한 노광을 조정하도록 구현된다. 일부 예들에서, 제 1 세그먼트(515A)는 그 마지막 비-인쇄 구역(510A)에 바로 뒤따른다.
노광 조정 인자의 사용은 현상 엘리먼트(33)의 부분들의 연장된 비-현상 상태를 보상하여, 보상하지 않을 경우에 도 9에서 (부분(516B) 및 상부 별모양 부분(520B)으로서의) 세그먼트(515B)에서, ("별모양-주변" 부분(542B)으로서의) 세그먼트(540B)에서 그리고 ("별모양-주변" 부분(552B)으로서의) 세그먼트(550B)에서 달리 나타날 과소현상을 방지할 것이다.
이러한 노광 조정이 본 개시내용의 적어도 일부 예들에 따라 구현될 때, 전자사진 이미저는 도 9에서 과소 현상된 인쇄 세그먼트(515B)(부분들(516B, 520B)을 포함함), 과소 현상된 세그먼트(540B)("별모양-주변" 부분(542B)을 포함함), 및 과소 현상된 세그먼트(550B)("별모양-주변" 부분(552B)을 포함함)를 초래하는 것을 방지한다. 대신에, (별모양(520A)을 둘러싸는 비-인쇄 영역을 포함하는) 높은 픽셀 밀도 구역(512A)의 모든 세그먼트들이 그들의 예상된 외관(또는 그의 상당히 근접한 접근)을 나타낼 의도된 이미지 부분(502A)이 달성된다.
도 6a와 관련하여 언급한 바와 같이, 도 9의 예에 대한 이들 조정들은 적어도 도 7과 관련하여 이전에 설명된 바와 같이 노광 조정 관리자(300) 및/또는 제어부(382)를 통해 구현될 수 있다.
도 10는 본 개시내용의 일례에 따른, 의도된 이미지 부분(600A)과 과소 현상된 이미지 부분(600B)의 다이어그램(601)이다. 도 6a 및 도 9의 예들과 관련하여 이전에 설명한 것과 실질적으로 동일한 방식으로, 광전도 엘리먼트의 노광 전에 노광 조정 인자를 사용하는 것을 통해, 과소 현상된 이미지 부분(600B)이 방지되며 의도된 이미지(600A)의 적절한 현상이 발생한다.
도 6a 또는 도 9의 예들과 유사한 방식으로, 도 10은 초기 인쇄 구역(604A, 604B)에 선행하는 적어도 하나의 비-인쇄 세그먼트(602A 및 602B)를 각각 가진 의도된 이미지 부분(600A) 및 과소 현상된 이미지 부분(600B)을 도시한다.
그러나, 도 6a 또는 도 9의 이전 예들과 다르게, 도 10은 의도된 이미지 부분(600A)이 텍스트 문자들의 어레이를 포함하는 초기 인쇄 구역(604A)과 이에 후속하는 상대적으로 동질의 높은 픽셀 밀도 구역(606A)을 포함하는 것을 도시한다. 도 6a 또는 도 9의 이전 예들과 유사하게, (본 개시내용의 예들에 따라) 노광 조정 인자가 없을 때, 과소 현상된 이미지 부분(600B)은 텍스트 문자들을 가진 과소 현상된 세그먼트(604B) 및 비-인쇄 텍스트-주변 부분(605B)을 다른 상태로 나타낼 것이다.
상대적으로 균일한 높은 픽셀 밀도 세그먼트(610A)에서 보여야 하는 구역에서 과소 현상된 이미지로서 보이는 "텍스트-주변" 부분(611B)(인쇄된 텍스트 문자들을 둘러싸는 영역들)을 가진 후속 세그먼트(610B)에 선행하여 세그먼트(604B)가 존재한다.
특히, 세그먼트(610B)의 "텍스트-주변" 부분(611B)은 세그먼트(604A)의 텍스트 문자들을 둘러싸는 비-현상 부분(605A)의 마지막 반복/인스턴스 다음에 있는 높은 픽셀 밀도 세그먼트(610A)에 대한 초기 현상 인스턴스에 대응한다. 일부 예들에서, "텍스트-주변" 부분(611B)은 비-현상 부분(605A)의 마지막 반복/인스턴스에 바로 뒤따른다.
일 양상에서, 텍스트-주변 부분(611B)의 과소 현상은, 적어도, 세그먼트(604B)로부터의 텍스트 문자들이 적어도 세그먼트(610B)에서 의도치 않고 원하지 않은 외관을 만든다는 의미에서 세그먼트(604B)의 텍스트 문자들의 고스트를 유발한다.
상대적으로 더 조밀한 크로스-해칭에 의해 도 10에 추가로 도시된 바와 같이, 과소 현상된 이미지 부분(600B)의 후속 세그먼트(612B)는 과소 현상된 "텍스트-주변" 부분(613B)을 여전히 나타낼 것이나, 과소 현상된 "텍스트-주변" 부분(613B)은 세그먼트(612B)에서 보다 상대적으로 더 많은 현상을 가진다. 이러한 상황은 또한 세그먼트(604B)의 텍스트 문자들의 고스트가 세그먼트(612B)에 의도치 않고 원하지 않는 외관을 생기게 한다.
도 6a 및 도 9의 이전 예들에서처럼, 과소 현상된 "텍스트-주변" 부분들(611B 및 613B)은 적어도 도 1 및 도 7-8a와 관련하여 노광 조정 인자를 사용하는 것을 통해 일반적으로 방지되거나 또는 현저하게 약화되어, 의도된 이미지 부분(600A)이 생성될 수 있다.
도 11은 본 개시내용의 일례에 따라 전자사진 이미저를 제조하는 방법(701)의 흐름도(700)이다. 일부 예들에서, 방법(701)은 적어도 도 1-10과 관련하여 이전에 설명된 바와같은 컴포넌트들, 모듈들, 기능들, 파라미터들 및 시스템들의 적어도 일부분을 통해 수행될 수 있다. 예컨대, 일부 예들에서, 방법(701)은 제어기(20)(도 1)를 가진 이미저(10)(도 1)를 통해, 제어부(28)(도 2)를 가진 이미저(21)를 통해 그리고/또는 노광 조정 관리자(385)(도 8A)를 가진 제어기(382)(도 8a)를 통해 수행될 수 있다. 일부 예들에서, 방법(701)은 적어도 도 1-10과 관련하여 이전에 설명된 것들과 다른 적어도 일부 컴포넌트들, 모듈들, 기능들, 파라미터들 및 시스템들을 통해 수행될 수 있다.
도 11에 도시된 바와 같이, 706에서, 방법(701)은 잠상의 적어도 제 1 인쇄가능 부분에 제 1 노광 조정 인자를 선택적으로 적용하게 제어가능하도록 광원을 배열하는 것을 비롯하여 잠상을 형성하기 위하여 광전도 엘리먼트의 충전가능 표면의 영역들을 노광하도록 광원을 배열하는 단계를 포함한다. 일부 예들에서, 방법(701)은 잠상의 적어도 하나의 후속 인쇄가능 부분에 적어도 하나의 제 2 노광 조정 인자를 적용하는 단계를 더 포함한다.
708에서, 방법(701)은 마킹 에이전트(예컨대, 토너)를 사용하여 광전도 엘리먼트상에 잠상을 현상하기 위하여 광전도 엘리먼트에 대해 커플링될 현상 엘리먼트를 배열하는 단계를 포함한다. 일 양상에서, 적어도 제 1 노광 조정 인자는 제 1 인쇄가능 영역에 선행하는 잠상의 제 1 평가 부분의 픽셀 밀도의 크기 및 현상 엘리먼트의 현상 상태에 적어도 기초한다. 일부 예들에서, 제 1 평가 부분은 제 1 인쇄 가능 영역에 바로 선행한다. 일 양상에서, 적어도 제 2 노광 조정 인자는 또한 제 1 인쇄가능 영역에 선행하는 잠상의 제 1 평가 부분의 픽셀 밀도의 크기 및 현상 엘리먼트의 현상 상태에 적어도 기초한다. 일부 예들에서, 제 1 평가 부분은 제 1 인쇄 가능 영역에 바로 선행한다.
본 개시내용의 적어도 일부 예들은 노광 조정 인자를 사용함으로써 과소 현상, 과대 현상 및/또는 고스팅 효과들이 감소된 전자사진 이미징을 제공한다.
비록 특정 예들이 본원에서 예시되고 설명되었을지라도, 다양한 대안적인 그리고/또는 균등한 개선들이 본 개시내용의 범위로부터 벗어나지 않고 도시되고 설명된 특정 예들 대신에 대체될 수 있다. 본 출원은 본원에서 논의된 특정 예들의 임의의 개조들 또는 변형들을 커버하도록 의도된다.

Claims (15)

  1. 전자사진 이미저로서,
    광전도 엘리먼트;
    상기 광전도 엘리먼트의 표면을 충전하기 위한 충전기;
    잠상을 형성하기 위하여, 충전된 표면의 영역들을 노광하기 위한 광원;
    충전된 마킹 에이전트를 통해 상기 광전도 엘리먼트상에 상기 잠상을 현상하기 위하여 상기 광전도 엘리먼트에 대해 커플링된 현상 엘리먼트; 및
    상기 잠상의 제 1 인쇄가능 영역에 노광 조정 인자를 선택적으로 적용하기 위한 제어기를 포함하며, 상기 노광 조정 인자의 크기는 상기 제 1 인쇄가능 영역에 선행하는 상기 잠상의 제 1 평가 부분에 관한 마킹 에이전트 전사 디맨드(marking agent transfer demand) 및 상기 제 1 평가 부분에 대한 현상 엘리먼트의 현상 상태에 적어도 기초하는, 전자사진 이미저.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 잠상의 제 1 평가 부분은 상기 잠상의 제 2 인쇄가능 영역을 포함하며, 상기 마킹 에이전트 전사 디맨드는 제 2 인쇄가능 영역의 적어도 픽셀 밀도에 대응하는, 전자사진 이미저.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 잠상의 제 1 평가 부분은 상기 현상 엘리먼트의 적어도 하나의 비-현상 영역에 대응하는, 상기 잠상의 인쇄 불가능 영역을 포함하는, 전자사진 이미저.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어기는 상기 현상 엘리먼트의 현상 상태에 관한 맵을 픽셀 단위로 저장하기 위한 메모리와 연관되는, 전자사진 이미저.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 현상 상태는 상기 현상 엘리먼트상의 위치 및 상기 위치에서의 비-현상의 상대 에이지(age)를 포함하는, 전자사진 이미저.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어기는 미디어 이동 방향으로 상기 잠상을 따라 시리즈로 배열된 복수의 인쇄가능 영역들에 상기 노광 조정 인자를 선택적으로 적용하며, 상기 복수의 인쇄가능 영역들은 상기 제 1 인쇄가능 영역을 포함하며, 그리고
    각각의 상이한 인쇄가능 영역은 상기 현상 엘리먼트의 복수의 비-현상 영역들의 개개의 비-현상 영역에 대응하는, 전자사진 이미저.
  7. 제 1 항에 있어서,
    인쇄가능 영역들의 시리즈의 개개의 인쇄가능 영역의 적어도 제 1 현상에 대한 노광 조정 인자는 제 1 값을 가지며, 상기 시리즈에서 연속하는 인쇄가능 영역들의 적어도 일부 후속 현상들에 대한 노광 조정 인자는 상기 제 1 값과 상이한 제 2 값을 가지는, 전자사진 이미저.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 노광 조정 인자를 선택적으로 적용해야 할지의 여부에 대한 결정은 상기 현상 엘리먼트의 재충전 간격 및 상기 현상 엘리먼트가 각각의 재충전 사이클 동안 재충전되게 하는 재충전 레이트(rate)에 적어도 부분적으로 기초하는, 전자사진 이미저.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 노광 조정 인자를 선택적으로 적용해야 할지의 여부에 대한 결정은 상기 제 1 인쇄가능 영역의 픽셀 밀도가 비교되는 임계치에 적어도 부분적으로 기초하는, 전자사진 이미저.
  10. 전자사진 이미저 제어부로서,
    메모리에 저장된 명령들과 관련하여, 광전도 엘리먼트상의 잠상의 제 1 인쇄가능 부분에 상기 광전도 엘리먼트에 대한 노광 조정 인자를 선택적으로 적용하기 위한 프로세서를 포함하며;
    상기 노광 조정 인자를 적용해야 할지의 여부 및 상기 노광 조정 인자의 크기는 상기 제 1 인쇄가능 부분에 선행하는 상기 잠상의 제 1 평가 부분에 관한 이미지-종속 마킹 에이전트 전사 디맨드 및 상기 제 1 평가 부분에 대응하는 연관된 현상 엘리먼트의 제 1 현상 부분의 현상 상태에 적어도 기초하는, 전자사진 이미저 제어부.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 현상 엘리먼트는 상기 현상 엘리먼트의 현상 상태에 관한 맵을 픽셀 단위로 저장하는 상기 메모리를 이용하는 현상 엘리먼트이며, 상기 맵의 크기는 상기 현상 엘리먼트의 하나의 사이클의 표면 영역에 대응하며, 상기 현상 상태는 비-현상 영역의 위치 및 에이지를 포함하는, 전자사진 이미저 제어부.
  12. 제 10 항에 있어서,
    상기 제 1 평가 부분은,
    상기 현상 엘리먼트의 다수의 현상 사이클들 동안 현상이 발생하지 않은 현상 상태를 가진 제 1 현상 부분을 가진 인쇄 불가능 부분; 및
    상기 마킹 에이전트 전사 디맨드가 임계치를 초과하는 인쇄가능 부분 중 적어도 하나인, 전자사진 이미저 제어부.
  13. 전자사진 이미저를 제조하는 방법으로서,
    잠상을 형성하기 위하여 광전도 엘리먼트의 충전가능 표면의 영역들을 노광하도록 광원을 배열하는 단계 ― 상기 배열하는 단계는 상기 잠상의 제 1 인쇄가능 부분에 제 1 노광 조정 인자를 선택적으로 적용하고 상기 잠상의 적어도 하나의 후속 인쇄가능 부분에 적어도 하나의 제 2 노광 조정 인자를 선택적으로 적용하게 제어가능하도록 광원을 배열하는 단계를 포함함 ―; 및
    마킹 에이전트를 이용하여 상기 광전도 엘리먼트상에 상기 잠상을 현상하도록 상기 광전도 엘리먼트에 대해 커플링될 현상 엘리먼트를 배열하는 단계를 포함하며, 상기 제 1 노광 조정 인자 및 제 2 노광 조정 인자 각각은 상기 제 1 인쇄가능 영역에 선행하는 상기 잠상의 제 1 평가 부분의 픽셀 밀도의 크기 및 상기 현상 엘리먼트의 현상 상태에 적어도 기초하는, 전자사진 이미저를 제조하는 방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 제 1 평가 부분은 임계치를 초과하는 다수의 사이클들 동안 현상이 발생하지 않은 상기 현상 엘리먼트의 적어도 하나의 현상 부분에 대응하는, 전자사진 이미저를 제조하는 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    적어도 상기 제 1 노광 조정 인자의 크기는 상기 잠상의 제 1 인쇄가능 부분의 픽셀 밀도, 상기 적어도 하나의 현상 부분의 위치, 및 상기 사이클들의 수가 상기 임계치를 초과하는 크기에 적어도 추가로 기초하는, 전자사진 이미저를 제조하는 방법.
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