KR20180025300A - 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법 - Google Patents

데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법 Download PDF

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Abstract

데이터 수집용 칩의 테스트 장치(10) 및 그 제어방법에 있어서, 상기 테스트 장치(10)는 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하는 데이터 수집 모듈(200); 저장 모듈(300); 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 처리 모듈(400); 상기 노이즈 테스트 결과를 업로딩하는 데이터 전송 모듈(500); 제어 모듈(600); 을 포함하여 구성된다. 상기 테스트 장치(10)는 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 단지 노이즈 테스트 결과만을 호스트 컴퓨터로 전송함으로써, 칩 테스트의 효율을 향상시키고 칩 테스트의 원가를 절감하며 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

Description

데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법{TEST SYSTEM, DEVICE OF A DATA COLLECTING CHIP AND CONTROL METHOD FOR THE TEST DEVICE OF THE DATA COLLECTING CHIP}
본 출원 신청은 2016년2월2일에 중국 특허청에 제출한 출원 번호가 201610074545.6, 발명의 명칭이 "데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법"인 중국 특허 출원의 우선권으로서, 그 모든 내용은 인용을 통하여 본 출원에 결합되어 있다
본 발명은 지문인식 기술분야에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법에 관한 것이다.
종래 기술에 따른 지문인식용 칩의 테스트 시스템은 통상적으로 도 1에 도시된 바와 같이, 동시에 복수개 칩에 대한 테스트를 수행함으로써 테스트 효율의 향상을 도모하고 있다. 그중, ATE(Automatic Test Equipment, 자동 테스트 장치)에는 계산 기능이 구비되어 있지 않으므로, 테스트를 수행하는 과정 중, ATE는 우선 복수개 DUT(Device Under Test, 테스트 대상 장치)의 테스트 데이터를 수집한 다음, 이어서 상기 복수개 DUT의 테스트 데이터를 PC로 업로딩하여 PC에서 각 DUT의 노이즈 계산을 완성하게 된다. 노이즈의 계산은 통상적으로 복수개 프레임 데이터 중 동일한 픽셀 포인트의 데이터 분산 값을 분석하는 방법을 사용한다.
단, 상기 시스템에 있어서 ATE와 PC 사이의 데이터 전송은 직렬 전송 방식을 사용하기 때문에 수집된 데이터의 량이 아주 클 경우 데이터의 전송에 매우 많은 시간이 소요될 뿐만 아니라, 특히 대규모로 생산되는 칩에 대한 테스트를 수행할 때 테스트 원가를 대폭으로 인상시키게 되며, 또한 단순한 분산 값 분석 방법을 통하여 노이즈의 계산을 수행할 때 일단 노이즈가 이탈로 표현되면 도 2에 도시된 바와 같이 데이터의 분산 값이 상기 픽셀 포인트의 노이즈 크기를 정확하게 반영하지 못하게 되어 지문인식용 칩의 안정성에 영향을 주게 되고, 더 나아가서 지문인식의 정확도가 낮아지게 된다.
본 발명은 적어도 일정한 정도에서 종래 기술 중의 한가지 기술적 문제를 해결하기 위한 것이다.
따라서, 본 발명의 목적은 칩 테스트의 효율을 향상시키고 칩 테스트의 원가를 절감할 수 있는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템을 제공하는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 일 실시예는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치를 제공하되, 상기 데이터 수집용 칩은 복수개의 데이터 샘플링 포인트를 포함하고, 상기 테스트 장치는 데이터 수집용 칩과 연결되어 상기 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하는 데이터 수집 모듈; 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장하는 저장 모듈; 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 상기 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 처리 모듈; 상기 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 전송하는 데이터 전송 모듈; 및 상기 데이터 수집 모듈, 상기 저장 모듈, 상기 처리 모듈과 상기 데이터 전송 모듈에 다한 제어를 수행하는 제어 모듈; 을 포함하여 구성된다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치는 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하고, 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산함으로써 노이즈 테스트 결과를 최득하며, 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 전송함으로써, 칩 테스트의 효율을 향상시키고 칩 테스트의 원가를 절감하며 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 상기 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치는 또한 하기와 같은 부가적인 기술적 특징을 구비할 수 있다.
선택적으로, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 상기 데이터 수집용 칩은 지문인식용 칩일 수 있다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 상기 저장 모듈은 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장하는 기억 장치 모듈; 상기 기억 장치 모듈 및 상기 제어 모듈과 연결되어 상기 제어 모듈의 제어에 의하여 상기 기억 장치 모듈을 제어하여 복수개 프레임의 샘플링 데이터의 읽기 및 쓰기 동작을 수행하는 기억 장치 제어 모듈; 을 포함하여 구성된다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중, 각 프레임의 샘플링 데이터에는 복수개 데이터 샘플링 포인트의 샘플링 데이터를 포함하고, 상기 처리 모듈은 상기 제어 모듈과 연결되어 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 분산 값 및 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 이탈 값을 계산하는 계산 유닛 모듈; 상기 계산 유닛 모듈과 연결되어 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 작은지 또한 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 이탈 값이 미리 설정된 이탈 값보다 작은지 판단하여 상기 각 데이터 샘플링 포인트의 노이즈 테스트의 통과 여부를 판단하며 더 나아가서 노이즈 테스트 결과를 취득하는 노이즈 판단 모듈; 을 포함하여 구성된다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 상기 데이터 수집 모듈은 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 버퍼링하는 버퍼 메모리를 포함하여 구성된다.
선택적으로, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 상기 테스트 장치는 하나 혹은 복수개 스위치를 포함하는 스위칭 모듈을 더 포함하여 구성되고 상기 데이터 수집용 칩은 하나 혹은 복수개 구비되며, 하나 혹은 복수개 데이터 수집용 칩은 각각 하나 혹은 복수개 스위치와 연결되고; 상기 데이터 수집용 모듈은 상기 스위칭 모듈이 폐합되었을 때 상기 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 다른 실시예는 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템을 제공하되, 상기와 같은 데이터 수집용 칩의 테스트 장치; 상기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치와 연결되는 자동 테스트 장치 ATE; 상기 ATE와 연결되고, 상기 ATE를 통하여 상기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치가 업로딩하는 노이즈 테스트 결과를 취득하며, 더 나아가서 상기 노이즈 테스트 결과에 의하여 상기 데이터 수집용 칩에 대하여 대응되는 조작을 수행하는 PC; 를 포함하여 구성된다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템은 테스트 장치를 통하여 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하고, 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산함으로써 노이즈 테스트 결과를 최득하며, 이를 통하여 노이즈 테스트 결과를 취득한 다음 더 나아가서 데이터 수집용 칩의 합격 여부를 판단하며, 노이즈 테스트 결과를 PC로 전송함으로써, 칩 테스트의 효율을 향상시키고 칩 테스트의 원가를 절감하며 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 또 다른 실시예는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법을 제공하되, 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하고, 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장하는 단계; 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 상기 복수개 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계; 및 상기 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 업로딩하는 단계; 를 포함하여 구성된다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법은 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하고, 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산함으로써 노이즈 테스트 결과를 최득하며, 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 전송함으로써, 칩 테스트의 효율을 향상시키고 칩 테스트의 원가를 절감하며 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 상기 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법은 또한 하기와 같은 부가적인 기술적 특징을 구비할 수 있다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중, 각 프레임의 샘플링 데이터에는 복수개 데이터 샘플링 포인트의 샘플링 데이터를 포함하고, 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계는 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 분산 값 및 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 이탈 값을 계산하는 단계; 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 작은지 또한 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 이탈 값이 미리 설정된 이탈 값보다 작은지 판단하여 상기 각 데이터 샘플링 포인트의 노이즈 테스트의 통과 여부를 판단하며 더 나아가서 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계; 를 포함하여 구성된다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 상기 방법은 상기 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하는 단계 이후, 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 버퍼링하는 단계; 를 더 포함하여 구성된다.
본 발명의 부가적인 방면과 장점 중의 일 부분은 하기 내용을 통하여 설명될 것이고, 다른 부분은 하기 내용을 통하여 더욱 명확하게 되거나 본 발명의 실천을 통하여 이해될 것이다.
본 발명의 상기 및/혹은 부가적인 방면의 장점은 하기 도면과 결합되여 설명되는 실시예를 통하여 더욱 명확하게 이해될 것이다.
도 1은 종래 기술에 따른 지문인식용 칩의 테스트 시스템 구조 예시도이다.
도 2는 종래 기술에 따른 이탈 노이즈 예시도이다.
도 3은 종래 기술에 따른 지문인식용 칩 중의 픽셀 매트릭스 예시도이다.
도 4는 종래 기술에 따른 픽셀 포인트의 노이즈 예시도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치 구조 예시도이다.
도 6은 본 발명의 구체적인 일 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치 구조 예시도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 구체적인 일 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법 흐름도이다.
이하 본 발명에 따른 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다. 그중, 상기 실시예의 예시는 도면에 도시되어 있고, 전반 명세서에 걸쳐서 동일 혹은 유사한 도면 부호는 시종일관하게 동일 혹은 유사한 소자거나 동일 혹은 유사한 기능을 가진 소자를 표시한다. 하기 참고 도면을 통하여 설명되는 실시예는 예시적인 것에 불과하고, 본 발명을 설명하고자 한 목적일 뿐 본 발명에 대한 제한으로 이해하면 아니 된다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법을 설명하기 전, 우선 칩 테스트의 중요성을 간단하게 설명하면 다음과 같다.
지문인식용 칩을 예로 들면, 지문인식용 칩의 안정성은 수집된 지문 이미지의 품질 및 최종의 지문인식 정확도에 영향을 주게 된다. 도 3에 도시된 바와 같이, 지문인식용 칩의 표면에는 m×n개 픽셀 포인트가 포함되어 있고 회로 중 소자 및 부품 사이의 차이성 및 시스템 디자인의 영향으로 인하여 각 픽셀 포인트에는 다양한 노이즈가 존재하게 되며, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 도면은 무부하 상태에서 서로 다른 시간에 동일한 필섹 포인트에서 수집된 데이터로서, 노이즈의 영향으로 인하여 수집된 데이터 폭에 파동이 생기게 되고 노이즈가 클 수록 파동도 더욱 심하게 되며, 노이즈가 일정한 범위를 초과하게 되면 상기 픽셀 포인트에서 수집된 데이터는 식별 불가능하게 되고, m×n의 픽셀 매트릭스에서 식별 불가능한 픽셀 포인트가 일정한 수량을 초과하면 지문인식에 실패하게 된다. 이로부터 칩 테스트의 중요성을 알 수 있다.
단, 종래 기술에 따르면 수집된 데이터의 량이 아주 클 경우 ATE와 PC 사이의 데이터 전송(직렬 전송)에 매우 많은 시간이 소요되여 테스트 원가를 대폭으로 인상시키게 될 뿐만 아니라, 또한 데이터의 분산 값이 상기 픽셀 포인트의 노이즈 크기를 정확하게 반영하지못하기 때문에 지문인식용 칩의 안정성에 영향을 주게 되고, 더 나아가서 지문인식의 정확도가 낮아지게 된다.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위하여 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법을 제공한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법을 상세하게 설명한다. 우선, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예에서 제공하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치를 설명하면 다음과 같다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치 구조 예시도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 상기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치(10)는 스위칭 모듈(100), 데이터 수집 모듈(200), 저장 모듈(300), 처리 모듈(400), 데이터 전송 모듈(500) 및 제어 모듈(600)을 포함하여 구성된다.
그중, 데이터 수집용 칩은 복수개 데이터 샘플링 포인트를 포함하여 구성된다. 구체적으로 말하면, 데이터 수집 모듈(200)은 스위칭 모듈(100)을 통하여 데이터 수집용 칩과 연결되어, 스위칭 모듈(100)이 폐합되었을 때 데이터 수집 모듈(200)은 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수한다. 저장 모듈(300)은 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장한다. 처리 모듈(400)은 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이지 테스트 결과를 취득한다. 데이터 전송 모듈(500)은 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 업로딩한다. 제어 모듈(600)은 스위칭 모듈(100), 데이터 수집 모듈(200), 저장 모듈(300), 처리 모듈(400) 및 데이터 전송 모듈(500)을 제어한다. 본 발명의 실시예에 따른 테스트 장치(10)는 PC의 노이즈 계산 능력을 구비하기 때문에 샘플링 데이터에 대한 연산을 거쳐 노이즈 테스트 결과만 호스트 컴퓨터로 업로딩하여 데이터 수집용 칩과 호스트 컴퓨터 사이의 데이터 전송량을 줄일 수 있고, 이에 따라서 칩 테스트의 효율과 정확도를 향상시키고 칩 테스트의 원가를 절감하며 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
선택적으로, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 데이터 수집용 칩은 지문인식용 칩일 수 있고, 대량의 지문인식용 칩의 테스트 원가를 절감하고 지문인식용 칩의 안정성을 확보하며 더 나아가서 지문인식의 정확도를 향상시킬 수 있다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 일시예에 있어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 호스트 컴퓨터는 ATE(20) 및 PC(30)를 포함하여 구성된다. 그중, ATE(20)은 테스트 장치와 연결되고, PC(30)는 ATE(20)와 연결된다.
데이터 수집용 칩(테스트 대상 칩), ATE 및 본 발명의 실시예에 따른 테스트 장치(10)는 각각 양자 사이에서 독립적으로 통신을 수행할 수 있지만, 테스트 대상 칩과 본 발명에 따른 장치 사이에는 스위칭 모듈(100)(아날로그 스위치에 대응됨)을 통하여 서로 이격시킴으로써 본 발명의 실시예에 따른 테스트 장치(10)가 ATE를 통하여 DUT의 기타 테스트 항목을 테스트할 때 발생하는 영향을 방지할 수 있고; 스위칭 모듈이 폐합된 다음 본 발명의 실시예에 따른 테스트 장치(10)를 통하여 데이터의 수집, 변환을 수행하고 내부 대용량 기억 장치에 버퍼링함으로써 테스트의 안정성을 확보할 수 있다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 저장 모듈(300)은 기억 장치 모듈(301) 및 기억 장치 제어 모듈(302)을 포함하여 구성된다.
그중, 기억 장치 모듈(301)은 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장한다. 기억 장치 제어 모듈(302)은 각각 기억 장치 모듈(301) 및 제어 모듈(600)과 연결되어 제어 모듈(600)의 제어에 의하여 기억 장치 모듈(301)을 제어하여 복수개 프레임의 샘플링 데이터의 읽기 및 쓰기 동작을 수행한다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 데이터 수집 모듈(200)은 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 버퍼링하는 버퍼 메모리(도면 미도시)를 포함하여 구성된다.
선택적으로, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 스위칭 모듈(100)은 하나 혹은 복수개 스위치(예를 들면 도 6 중의 스위치(101), 스위치(102), …, 스위치(10N))를 포함하여 구성되고 데이터 수집용 칩은 하나 혹은 복수개(DUT 1, DUT 2, …, DUT n) 구비되며, 하나 혹은 복수개 데이터 수집용 칩은 각각 하나 혹은 복수개 스위치와 연결된다.
더 나아가서, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 처리 모듈(400)은 계산 유닛 모듈(401) 및 노이즈 판단 모듈(402)을 포함하여 구성된다.
그중, 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중, 각 프레임의 샘플링 데이터에는 복수개 데이터 샘플링 포인트의 샘플링 데이터를 포함한다. 구체적으로 말하면, 계산 유닛 모듈(401)은 제어 모듈(600)과 연결되어 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 분산 값 및 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 이탈 값을 계산한다. 노이즈 판단 모듈(402)은 계산 유닛 모듈(401)과 연결되고, 노이즈 판단 모듈(402)은 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 작은지 또한 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 이탈 값이 미리 설정된 이탈 값보다 작은지 판단하여 각 데이터 샘플링 포인트의 노이즈 테스트의 통과 여부를 판단하며 더 나아가서 데이터 수집용 칩의 노이즈 테스트 결과를 취득한다. 예를 들면, 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 크거나 혹은 이탈 값이 미리 설정된 이탈 값보다 크거나 혹은 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 큰 동시에 이탈 값도 미리 설정된 이탈 값보다 큰 데이터 샘플링 포인트의 수량을 기록하고, 상기 수량이 미리 설정된 수량보다 클 경우, 대응되는 데이터 수집용 칩의 노이즈 테스트를 통과로 판단하고, 그러지 아니하면 실패로 판단한다.
더 상세하게 설명하여야 할 것은, 미리 설정된 분산 값, 미리 설정된 이탈 값 및 미리 설정된 수량은 모두 실제적인 상황에 근거하여 조절할 수 있다.
본 발명에 따른 실시예에 있어서, 본 발명의 실시예에 따른 테스트 장치(10)는 동일한 픽셀 포인트가 서로 다른 시간에서의 샘플링 데이터 분산 값 및 이탈 값을 통하여 노이즈 테스트를 수행하고, 모든 연산을 완성한 다음 단지 데이터 수집용 칩의 노이즈 테스트 통과 혹은 실패와 같은 노이즈 테스트 결과만을 ATE(20)와 같은 호스트 컴퓨터에 업로딩한다.
본 발명에 따른 구체적인 일 실시예에 있어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 데이터 수집용 모듈(200), 저장 모듈(300), 처리 모듈(400), 데이터 전송 모듈(500) 및 제어 모듈(600)은 FPGA(Field-Programmable Gate Array, 필드 프로그램 가능 게이트 어레이)를 통하여 실현할 수 있다. 그중, 스위칭 모듈(100)은 DUT와 FPGA 사이의 데이터 전송 버스의 연통 여부를 제어하되, 스의칭 모듈(100)이 개방되어 있을 때, DUT는 ATE(20)과 통신을 수행할 수 있고; 스위칭 모듈(100)이 폐합되어 있을 때, DUT는 FPGA와 통신을 수행할 수 있다. 데이터 수집 모듈(200)은 주로 DUT의 데이터 수집을 수행 즉 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하고, 이어서 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 대하여 관련 변환을 수행한 다음 버퍼로 전송하며, 버퍼링된 데이터가 일정한 수량에 도달한 다음 청구 정보를 생성하여 하위 모듈로 출력한다. 제어 모듈(600)은 주로 예를 들면 데이터 수집 모듈(200)을 트리커하여 데이터를 수집하거나, 버퍼 판독 청구 정보를 접수하거나, 기억 장치 제어 모듈(302)을 촉발하여 기억 장치 모듈(301)을 구동하여 데이터의 읽기 혹은 쓰기를 수행하는 등 전반 시스템의 제어를 수행한다. 기억 장치 제어 모듈(302)은 주로 기억 장치 모듈(301)의 제어 및 데이터의 읽기 혹은 쓰기의 중재를 수행한다. 기억 장치 모듈(301)은 주로 DUT의 대용량 데이터의 저장을 수행한다. 계산 유닛 모듈(401)은 주로 노이즈 테스트 알고리즘의 실현 및 계산 결과의 출력을 수행한다. 노이즈 판단 모듈(402)은 주로 계산 유닛 모듈(401)이 출력한 계산 결과에 대한 판단 즉 테스트 통과 여부의 판단을 수행한다. 데이터 전송 모듈(500)은 주로 ATE(20)가 FPGA로 전송하는 데이터의 접수 및 ATE(20)로의 노이즈 테스트 결과 전송을 수행한다.
예를 들면, ATE(20)는 DUT와 FPGA에 대한 설정을 수행한 다음, 스위칭 모듈(100) 중의 스위치를 폐합시켜 데이터가 스위칭 모듈(100)을 통하여 데이터 수집 모듈(200)로 입력되도록 하고, 상기 데이터 수집 모듈(200) 내에서의 데이터 정리가 완성된 다음 즉 직병렬 변환, 버피링 등을 포함한 처리가 완성된 다음 제어 모듈(600)을 촉발하며, 제어 모듈(600)은 기억 장치 제어 모듈(302)을 구동하여 기억 장치 제어 모듈(302)이 순차적으로 상위 모듈이 버퍼링한 데이터를 기억 장치 모듈(301)로 기록하고, N 프레임의 데이터를 저장한 다음 제어 모듈(600)은 기억 장치 제어 모듈(302)을 구동하여 기억 장치 모듈(301)로부터 데이터를 판독하여 계산 유닛 모듈(401)로 전송하며, 계산 유닛 모듈(401)은 노이즈의 계산을 완성한 다음 그 계산 결과를 노이즈 판단 모듈(402)로 전송하고, 노이즈 판단 모듈(402)에서는 노이즈 계산 결과와 설정된 역치를 비교하여 상기 샘플링 포인트의 데스트 통과 여부를 판단하며, 이어서 노이즈 테스트 결과를 데이터 전송 모듈(500)으로 전송하여 해석을 거친 다음 ATE(20)를 통하여 PC로 전송하고, PC는 접수된 예를 들면 DUT 0의 노이즈 테스트의 통과 혹은 실패 등 노이즈 테스트 결과에 의하여 DUT에 대한 분류를 수행하며, 노이즈의 테스트 결과가 실패인 DUT는 폐기하게 된다.
더 상세하게 설명하여야 할 것은, 하기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법에 관한 실시예에서 분산 값 및 이탈 값을 계산하는 방법에 대하여 상세하게 설명하게 될 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치에 따르면, 스위칭 모듈이 폐합되었을 때, 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하고, 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산함으로써 노이즈 테스트 결과를 최득하며, 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 업로딩함에 따라 테스트 시간을 줄이고 칩 테스트의 효율을 향상시키며, 분산 값 및 이탈 값의 계산을 통하여 노이즈의 계산을 완성하여 칩 테스트의 정확도를 향상시키고, 칩 테스트의 원가를 절감하여 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
본 발명에 따른 실시예는 또한 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템을 제공하되, 상기 시스템은 상기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치, ATE 및 PC를 포함하여 구성된다. 그중, ATE는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치와 연결되고, PC는 ATE와 연결되며, PC는 ATE를 통하여 데이터 수집용 칩의 테스트 장치가 업로딩한 노이즈 테스트 결과를 취득한 다음, 더 나아가서 노이즈 테스트 결과에 의하여 데이터 수집용 칩에 대하여 대응되는 조작을 수행한다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템의 구체적인 실현 과정은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치에 대한 설명과 동일하기 때문에, 그 상세한 설명은 생략하도록 한다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템에 따르면, 테스트 장치는 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하고, 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈에 의하여 데이터 수집용 칩의 합격 여부를 판단한 다음, 노이즈 테스트 결과를 ATE로부터 PC로 업로딩함에 따라 테스트 시간을 줄이고 칩 테스트의 효율을 향상시키며, 분산 값 및 이탈 값의 계산을 통하여 노이즈의 계산을 완성하여 칩 테스트의 정확도를 향상시키고, 칩 테스트의 원가를 절감하여 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법 흐름도이다.
도 7에 도시된 바와 같이, 상기 데이터 수집용 칩(복수개 데이터 샘플링 포인트 포함)의 테스트 장치의 제어방법은 하기와 같은 단계를 포함하여 구성된다.
S701, 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하고, 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장하는 단계.
그중, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 본 발명의 실시예에 따른 제어방법은 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하는 단계 이후, 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 버퍼링하는 단계; 를 더 포함하여 구성된다.
S702, 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계.
그중, 본 발명에 따른 일 실시예에 있어서, 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중, 각 프레임의 샘플링 데이터에는 복수개 데이터 샘플링 포인트의 샘플링 데이터를 포함하고, 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계는 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 분산 값 및 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 이탈 값을 계산하는 단계; 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 작은지 또한 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 이탈 값이 미리 설정된 이탈 값보다 작은지 판단하여 각 데이터 샘플링 포인트의 노이즈 테스트의 통과 여부를 판단하며 더 나아가서 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계; 를 포함하여 구성된다.
S703, 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 업로딩하는 단계.
더 상세하게 설명하여야 할 것은, 상기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치에 관한 실시예에 대한 설명 내용이 상기 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법에도 적용되기 때문에, 그 상세한 설명은 생략하도록 한다.
본 발명의 구체적인 일 실시예에 있어서, 그중 분산 값 및 이탈 값을 계산하는 방법에 대하여 상세하게 설명하고자 한다. 도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 제어방법은 하기와 같은 단계를 포함하여 구성된다.
S801, 파라미터 설정.
ATE는 우선 스위칭 모듈 중의 스위치를 개방한 다음, 설정 파라미터를 전송하는 방식으로 DUT 및 FPGA가 특정 모드 상태에서 작동하도록 제어한다.
그중, DUT에 대한 설정은 스캔 모드, ADC 폭, 적분 횟수 등 설정을 포함하여 DUT가 스캔 대기 상태로 진입하도록 하고; FPGA에 대한 설정은 현재 DUT의 픽셀 규격(m×n 매트릭스), 데이터 수집 비트 너비, 데이터 수집 프레임 수량 등 설정을 포함하여 최종 수집 대기 상태로 진입하도록 한다.
S802, 데이터 수집.
다시 말하면, ATE가 DUT 및 FPGA에 대한 파라미터 설정을 완성한 다음, 스위칭 모듈 중의 스위치를 폐합시키고 DUT 및 FPGA를 촉발하여 데이터 수집 모드로 진입시킨다. DUT와 FPGA 사이에 연결된 데이터 버스는 통상적으로 SPI, I2C와 같은 직렬 버스이기 때문에, 수집된 데이터가 FPGA에 입력된 다음 우선 직병렬 변환을 거쳐서 특정한 포맷으로 버퍼에 저장되어야 하며, 버퍼링은 통상적으로 FIFO를 사용하여 실현한다. ATE가 설정한 파라미터에 근거하여, 버퍼링된 데이터가 설정된 수량에 도달하였을 때 청구 신호를 전송하여 하위 모듈이 버퍼 중의 데이터를 판독하도록 할 수 있다.
S803, 데이터 저장.
더 나아가서, 데어 모듈은 청구 정보를 접수한 다음 기억 장치 제어 모듈을 구동하여 데이터 수집 모듈중에 버퍼링된 데이터를 판독한 다음, 기억 장치 모듈로 기록하되, 상기 기억 장치는 통상적으로 SDRAM, SRAM 등과 같은 외부 기억 장치이다. 데이터의 수집 과정 중 복수개 DUT에 대하여 병행으로 수집하기 때문에, 기억 장치 제어 모듈에서 데이터에 대한 중재를 수행하여야 하며, N(설계의 수요에 의하여 N의 값을 설정하되, N은 2 혹은 2 이상이여야 함)개 프레임의 데이터 저장이 완성될 때까지 각 DUT의 데이터를 각각 순차적으로 기억 장치 모듈로 기록한다.
S804, 노이즈 계산.
예를 들면, N개 프레임의 데이터 수집을 완성한 다음, 제어 모듈은 기억 장치 제어 모듈을 구동하여 데이터를 특정 포맷으로 판독한 다음 계산 유닛 모듈로 전송하도록 하고, 이어서 계산 유닛 모듈에서 각 픽셀 포인트의 노이즈 계산을 완성한다. 노이즈 계산은 두개 부분을 포함하는 바, 그중 제1 부분은 하기와 같은 공식에 의하여 복수개 프레임의 데이터 중 동일 픽셀 포인트 데이터의 분산 값 S2를 계산하는 것이다.
S2 = ((x1 - M)2 + (x2 - M)2 + …(xn - M)2)/n.
그중, x1, x2, …, xn은 각각 대응되는 픽셀 포인트의 제1프레임, 제2프레임, …, 제n프레임의 데이터이고, M은 상기 필섹 포인트의 N개 프레임 데이터의 평균값이다.
제2 부분은 하기와 같은 공식에 의하여 복수개 프레임 데이터 중 동일 픽셀 포인트 데이터의 이탈 값 V를 계산하는 것이다.
V = max(x1, x2, …, xn) - min(x1, x2, …, xn).
S805, 노이즈 판단.
그중, 노이즈의 판단은 하기와 같은 두개 항목으로 나눌 수 있다.
첫째는 각 픽셀 포인트의 분산 값 S2와 이탈 값 V가 역치 LimVar 및 LimJit보다 작은지 판단하여, 양자가 모두 대응되는 역치보다 작을 경우, 상기 픽셀 포인트의 노이즈 테스트 결과를 통과(pass)로 판단하고; 그러지 아니하면 실패(fail)로 판단하며 카운터 FailNum에 1을 더한다.
S2 ≥ LimVar 혹은 V ≥ LimJit : 실패; FailNum ++;
S2 < LimVar 및 V < LimJit : 통과;
둘째는 픽셀 매트릭스 중 노이즈 테스트에 실패한 픽셀 포인트의 수량이 역치 LimNum보다 큰지 판단하여, 역치 LimNum보다 작을 경우, 상기 픽셀 매트릭스와 대응되는 DUT 노이즈 테스트 결과를 통과(pass)로 판단하고, 그러지 아니하면 실패(fail)로 판단한다.
FailNum ≥ LimNum : 실패;
FailNum < LimNum : 통과.
S806, 결과 출력.
다시 말하면, 노이즈 판단 모듈은 노이즈 테스트 결과를 데이터 전송 모듈로 전송하고, 이어서 데이터 전송 모듈은 인터페이스 프로토콜에 의하여 결과를 ATE로 업로딩한다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법에 따르면, 스위칭 모듈이 폐합되었을 때, 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하고, 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산함으로써 노이즈 테스트 결과를 최득하며, 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 업로딩함에 따라 테스트 시간을 줄이고 칩 테스트의 효율을 향상시키며, 분산 값 및 이탈 값의 계산을 통하여 노이즈의 계산을 완성하여 칩 테스트의 정확도를 향상시키고, 칩 테스트의 원가를 절감하여 테스트의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
본 발명에 대한 설명 중, 용어 "중심", "세로 방향", "가로 방향", "길이", "너비", "두께", "상", "하", "전", "후", "좌", "우", "수직", "수평", "꼭대기", "밑바닥", "내", "외", "시계 방향", "시계 반대 방향", "축 방향", "지름 방향", "둘레 방향" 등이 지시하는 방위 및 위치 관계는 도면을 기초로 지시하는 방위 및 위치 관계이고, 이는 본 발명의 설명을 간소화하기 위한 것일 뿐, 지시하는 장치 혹은 소자가 반드시 특정 방위, 특정 방위 구조 혹은 조작이여야 함을 지시하거나 암시하는 것은 아니므로, 이를 본 발명에 대한 제한으로 이해하면 아니된다.
또한, 용어 "제1", "제2"는 설명의 목적일 뿐, 상대적인 중요성을 지시하거나 암시하는 것 혹은 지시하는 기술적 특징의 수량을 나타내는 것으로 이해하면 아니된다. 따라서, "제1", "제2"로 한정된 특징은 적어도 하나의 상기 특징을 명시하거나 은연히 포함할 수 있다. 본 발명에 대한 설명 중, 특별히 구체적으로 한정된 경우를 제외하고, "복수개"의 의미는 2개, 3개 등과 같이 적으로 2개를 의미한다.
본 발명에 있어서 특별히 구체적으로 규정되거나 한정된 경우를 제외하고, 용어 "설치", "접속", "연결", "고정" 등은 광범위한 의미로 해석되어야 한다. 예를 들면, 고정 연결이거나 착탈 가능한 연결 혹은 일체로 형성될 수 있고; 기계적 연결이거나 전기적 연결일 수 있으며; 직접 연결이거나 중간 매개물을 통한 간접 연결 혹은 두개 소자 내부의 연통 혹은 두개 소자의 상호 작용 관계일 수도 있다. 본 분야의 일반적인 기술자에게 있어서, 구체적인 상황에 근거하여 상기 용어가 본 발명에서의 구체적인 의미를 이해할 수 있다.
본 발명에 있어서 특별히 구체적으로 규정되거나 한정된 경우를 제외하고, 제1 특징이 제2 특징의 "위" 혹은 "아래"에 있다는 것은 제1 및 제2 특징의 직접적인 접촉 혹은 제1 및 제2 특징이 중간 매개물을 통한 간접 접촉일 수 있다. 또한, 제1 특징이 제2 특징의 "위측", "상측" 및 "상면"에 있다는 것은 제1 특징이 제2 특징의 바로 위측, 비스듬히 경사진 위측 혹은 제1 특징의 수평 높이가 제2 특징보다 높은 경우일 수 있다. 제1 특징이 제2 특징의 "아래측", "하측" 및 "하면"에 있다는 것은 제1 특징이 제2 특징의 바로 아래측, 비스듬히 경사진 아래측 혹은 제1 특징의 수평 높이가 제2 특징보다 낮은 경우일 수 있다.
본 명세서의 설명에 있어서, 참고 용어 "일 실시예", "일부 실시예", "사례", "구체 사례" 혹은 "일부 사례" 등 설명은 상기 실시예 혹은 사례의 구체적인 특징, 구조, 재료 혹은 특점이 본 발명에 따른 적어도 하나의 실시예 혹은 사례에 포함되어 있음을 의미한다. 본 명세서에 있어서, 상기 용어에 대한 설명은 반드시 동일한 실시예 혹은 사례를 가리켜야 하는 것은 아니다. 또한, 설명한 구체적인 특징, 구조, 재료 혹은 특점은 임의 혹은 복수개 실시예 혹은 사례 중 적당한 방식으로 결합될 수 있다. 또한, 서로 모순되지 않는 상황 하에서, 본 분야의 기술자는 본 명세서에서 설명하는 다양한 실시예 혹은 사례 및 다양한 실시예 혹은 사례의 특징에 대하여 결합 혹은 조합할 수 있다.
비록 상기 내용에서 본 발명에 따른 실시예에 대하여 설명하였지만, 상기 실시예는 예시적인 내용일 뿐, 본 발명에 대한 제한으로 이해하면 아니되고, 본 분야의 일반 기술자는 본 발명의 범위 내에서 상기 실시예에 대하여 다양한 변화, 수정, 교체 혹은 변형을 수행할 수 있다.

Claims (10)

  1. 데이터 수집용 칩의 테스트 장치에 있어서, 상기 데이터 수집용 칩은 복수개의 데이터 샘플링 포인트를 포함하고, 상기 테스트 장치는
    데이터 수집용 칩과 연결되어 상기 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하는 데이터 수집 모듈;
    상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장하는 저장 모듈;
    상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 상기 복수개 데이터 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 처리 모듈;
    상기 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 전송하는 데이터 전송 모듈; 및
    상기 데이터 수집 모듈, 상기 저장 모듈, 상기 처리 모듈과 상기 데이터 전송 모듈에 다한 제어를 수행하는 제어 모듈; 을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 수집용 칩은 지문인식용 칩인 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 저장 모듈은
    상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장하는 기억 장치 모듈;
    상기 기억 장치 모듈 및 상기 제어 모듈과 연결되어 상기 제어 모듈의 제어에 의하여 상기 기억 장치 모듈을 제어하여 복수개 프레임의 샘플링 데이터의 읽기 및 쓰기 동작을 수행하는 기억 장치 제어 모듈; 을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중, 각 프레임의 샘플링 데이터에는 복수개 데이터 샘플링 포인트의 샘플링 데이터를 포함하고,
    상기 처리 모듈은
    상기 제어 모듈과 연결되어 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 분산 값 및 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 이탈 값을 계산하는 계산 유닛 모듈;
    상기 계산 유닛 모듈과 연결되어 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 작은지 또한 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 이탈 값이 미리 설정된 이탈 값보다 작은지 판단하여 상기 각 데이터 샘플링 포인트의 노이즈 테스트의 통과 여부를 판단하며 더 나아가서 노이즈 테스트 결과를 취득하는 노이즈 판단 모듈; 을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 수집 모듈은 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 버퍼링하는 버퍼 메모리를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 장치는 하나 혹은 복수개 스위치를 포함하는 스위칭 모듈을 더 포함하여 구성되고 상기 데이터 수집용 칩은 하나 혹은 복수개 구비되며, 하나 혹은 복수개 데이터 수집용 칩은 각각 하나 혹은 복수개 스위치와 연결되고;
    상기 데이터 수집용 모듈은 상기 스위칭 모듈이 폐합되었을 때 상기 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치.
  7. 청구항 1 내지 청구항 6의 임의 항에 기재된 데이터 수집용 칩의 테스트 장치;
    상기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치와 연결되는 자동 테스트 장치 ATE;
    상기 ATE와 연결되고, 상기 ATE를 통하여 상기 데이터 수집용 칩의 테스트 장치가 업로딩하는 노이즈 테스트 결과를 취득하며, 더 나아가서 상기 노이즈 테스트 결과에 의하여 상기 데이터 수집용 칩에 대하여 대응되는 조작을 수행하는 PC; 를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템.
  8. 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법에 있어서, 상기 데이터 수집용 칩은 복수개의 데이터 샘플링 포인트를 포함하고,
    데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하고, 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 저장하는 단계;
    상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계; 및
    상기 노이즈 테스트 결과를 호스트 컴퓨터로 업로딩하는 단계; 를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중, 각 프레임의 샘플링 데이터에는 복수개 데이터 샘플링 포인트의 샘플링 데이터를 포함하고, 상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터에 의하여 복수개 샘플링 포인트의 노이즈를 계산하여 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계는
    복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 분산 값 및 복수개 프레임의 샘플링 데이터 중 각 데이터 샘플링 포인트의 복수개 샘플링 데이터의 이탈 값을 계산하는 단계;
    각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 분산 값이 미리 설정된 분산 값보다 작은지 또한 각 데이터 샘플링 포인트와 대응되는 이탈 값이 미리 설정된 이탈 값보다 작은지 판단하여 상기 각 데이터 샘플링 포인트의 노이즈 테스트의 통과 여부를 판단하며 더 나아가서 노이즈 테스트 결과를 취득하는 단계; 를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 데이터 수집용 칩이 수집한 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 접수하는 단계 이후,
    상기 복수개 프레임의 샘플링 데이터를 버퍼링하는 단계; 를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 데이터 수집용 칩의 테스트 장치의 제어방법.
KR1020177011071A 2016-02-02 2016-07-08 데이터 수집용 칩의 테스트 시스템, 장치 및 그 제어방법 KR101953332B1 (ko)

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