CN114460430B - 一种ate设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法 - Google Patents
一种ate设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114460430B CN114460430B CN202210009948.8A CN202210009948A CN114460430B CN 114460430 B CN114460430 B CN 114460430B CN 202210009948 A CN202210009948 A CN 202210009948A CN 114460430 B CN114460430 B CN 114460430B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- unit
- voltage
- module
- acquisition
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 53
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 47
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 31
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 24
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 18
- 230000011664 signaling Effects 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
- G01R19/2503—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques for measuring voltage only, e.g. digital volt meters (DVM's)
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明提出了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法。检测装置包括：信号模块，用于持续输出关于电压输出的波形信号至第一引脚，以持续调整待测芯片输出的电压值，以及生成触发信号并输出；采集模块，用于采集多个第二引脚输出的每个电压值；触发模块，用于发送触发信号至相应的采集模块，以同步驱动多个采集模块进行并行采集；并行计算模块，用于在采集模块持续采集过程中，实时统计采集的电压值，并进行并行计算。本发明的方案对芯片的输出电压灰阶值进行并行采集和并行计算，大幅缩短电压采集时间和电压计算的时间，极大提升了芯片输出电压的采集效率和处理效率。
Description
技术领域
本发明涉及半导体芯片测试领域，特别涉及一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法。
背景技术
ATE(Automatic Test Equipment)是自动测试设备，它是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试系统，计算机通过运行测试机程序的指令来控制测试硬件。半导体芯片ATE用于检测集成电路的功能和性能的完整性，是集成电路生产制造流程中确保集成电路品质的重要设备。
ATE设备在进行芯片的输出电压进行灰阶测试时，需要花费大量时间以及处理大量数据。芯片往往存在大量的电压输出引脚，每个电压输出引脚都需要测量多次，每个测量的电压值需要进行统计计算。大量的输出引脚结合重复次数的测量，以及庞大的电压数据，构成了极为复杂的工程。
现有技术中，存在两种测量方法，分别为串行采样串行计算和并行采样串行计算。
串行采样串行计算：ATE设备对芯片IOPin输入一个电压值控制值，芯片电压输出引脚VoltageOutPin产生一个电压值输出。ATE设备逐个采集芯片电压输出引脚的电压值，然后逐个芯片电压输出引脚VoltageOutPin的电压值进行统计计算。
并行采样串行计算：ATE设备通过用户Pattern控制芯片的IOPin电压值控制值的输入，同时进行多个芯片电压输出引脚VoltageOutPin的电压值的并行采样，然后逐个芯片电压输出引脚VoltageOutPin的电压值进行统计计算。
假设芯片具有1000个VoltageOutPin，电压输出值调整范围为1000个点，每个电压的采集样点数为2个，统计计算公式有三个：2样点平均、多VoltageOutPin电压偏差、ADC到电压值转换，每个电压值的采样耗时为3us，每个样点的统计计算耗时为3us。
采用串行采样和串行计算的方法耗时：
1000个电压点*1000个VoltageOutPin*3us+1000个电压点*1000个VoltageOutPin*3us＝6000ms
采用并行采样和串行计算的方法耗时：
1000个电压点*3us+1000个电压点*1000VoltageOutPin*3us＝3003ms
综上所述，现有技术针对芯片的电压灰阶测试时，普遍存在效率低的问题。
因此，急需一种关于ATE设备中芯片电压灰阶测试的相关方案来解决上述问题。
发明内容
有鉴于此，本发明提出了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法，具体方案如下：
一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置，适用于包括多个第一引脚和多个第二引脚的待测芯片，所述第一引脚用于输入关于电压输出的波形信号，所述第二引脚用于根据输入的波形信号输出相应的电压值；
所述检测装置包括：
信号模块，连接所述第一引脚，用于根据预配置的测试向量持续输出关于电压输出的波形信号至所述第一引脚，以持续调整所述待测芯片输出的电压值，以及生成触发信号并输出；
采集模块，连接所述待测芯片的多个第二引脚，用于采集多个所述第二引脚输出的每个电压值；
触发模块，用于获取所述触发信号，根据所述测试向量中的微指令获取待驱动的多个采集模块，发送所述触发信号至相应的采集模块，以同步驱动多个采集模块进行并行采集；
并行计算模块，用于在所述采集模块持续采集过程中，实时统计采集的电压值，并进行并行计算。
在一个具体实施例中，所述信号模块包括波形产生单元、调整单元、向量获取单元和逻辑单元；
所述逻辑单元，连接所述调整单元，用于调整所述调整单元的输出频率；
所述向量获取单元，用于获取预配置Pattern文件中的测试向量；
所述波形产生单元，连接所述向量获取单元、所述调整单元和所述触发模块，用于根据所述测试向量持续生成关于电压输出的波形信号，并输出至所述调整单元，以及根据所述测试向量生成触发信号并输出至所述触发模块；
所述调整单元，连接所述第一引脚，用于持续输出波形信号至所述第一引脚。
在一个具体实施例中，所述采集模块包括ADC芯片、采集单元、转换单元、传输单元；
所述ADC芯片，连接所述第二引脚，用于对所述第二引脚输出的模拟量进行采集，得到数字量；
所述采集单元，连接所述转换单元和所述ADC芯片，用于将所述数字量输出至所述转换单元，以及接收触发信号并控制所述ADC芯片进行采集；
所述转换单元，连接所述传输单元，用于将所述数字量转换为电压值，并输出至所述传输单元；
所述传输单元，连接所述并行计算模块，用于将所述电压值输出至所述并行计算模块。
在一个具体实施例中，每个第二引脚涉及多个采样点，通过采集每个采样点的采样值，来综合判断该第二引脚的输出电压；
所述并行计算模块具体包括：
在采集模块持续采集所述第二引脚的输出电压过程中，对已采样的输出电压进行并行计算；
计算多个采样值之间的平均值、第二引脚之间的电压偏差、所述模拟量转换为电压值的时间。
在一个具体实施例中，当收到所述采集模块的一个电压值时，所述并行计算模块启动并行计算。
在一个具体实施例中，每个所述采集模块至少能够采集100个第二引脚的输出电压、至多能够采集300个第二引脚的输出电压。
在一个具体实施例中，所述并行计算模块包括并行计算单元和存储单元；
所述并行计算单元，用于进行每个输出电压的计算，以及多个第二引脚间的电压值统计；
存储单元，用于存储每个第二引脚的所有电压值。
一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置的控制方法，适用于上述任一项所述的检测装置；
所述控制方法包括如下：
所述信号模块中根据预配置的测试向量持续输出关于电压输出的波形信号至所述待测芯片的第一引脚，以持续调整所述待测芯片输出的电压值；
通过所述信号模块生成触发信号并输出至所述触发模块；
通过所述触发模块获取所述触发信号，并根据所述测试向量中的微指令获取待驱动的多个采集模块，发送所述触发信号至相应的采集模块，以同步驱动多个采集模块进行并行采集；
通过所述采集模块采集多个所述第二引脚输出的每个电压值；
在所述采集模块持续采集过程中，通过所述并行计算模块实时统计采集的电压值，并进行并行计算。
在一个具体实施例中，所述信号模块包括波形产生单元、调整单元、向量获取单元和逻辑单元；
所述控制方法还包括：
通过所述逻辑单元调整所述调整单元的输出频率；
通过所述向量获取单元获取预配置Pattern文件中的测试向量；
所述波形产生单元根据所述测试向量持续生成关于电压输出的波形信号，并输出至所述调整单元；
所述波形产生单元根据所述测试向量生成触发信号并输出至所述触发模块；
所述调整单元持续输出波形信号至所述第一引脚。
在一个具体实施例中，所述采集模块包括ADC芯片、采集单元、转换单元、传输单元；
所述控制方法还包括：
通过所述ADC芯片对所述第二引脚输出的模拟量进行采集，得到数字量；
通过所述采集单元将所述数字量输出至所述转换单元，以及接收触发信号并控制所述ADC芯片进行采集；
通过所述转换单元将所述数字量转换为电压值；
通过所述传输单元将所述电压值输出至所述并行计算模块。
有益效果：本发明提出了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法，对芯片的输出电压灰阶值进行并行采集和并行计算，大幅缩短电压采集时间和电压计算的时间，极大提升了芯片输出电压的采集效率和处理效率。根据用户Pattern连续不断控制调整芯片VoltageOutPin的电压输出值，同时驱动多个采集模块进行并行连续采样，提高了采集效率。在采集过程中，并行计算模块对已经采样值进行并行统计计算，缩短了计算过程。相较于现有技术中的串行采样串行计算方案和并行采样串行计算方案，本发明的方案对芯片的输出电压灰阶值进行连续并行采集和同步并行计算，采集效率和计算效率大幅提高，解决了现有技术中芯片电压灰阶测试效率低的问题。
附图说明
图1为本发明实施例的检测装置结构示意图；
图2为本发明实施例的触发模块结构示意图；
图3为本发明实施例的采集模块结构示意图；
图4为本发明实施例的并行计算模块结构示意图；
图5为本发明实施例的控制方法流程示意图。
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
附图标记：1-信号模块；2-触发模块；3-采集模块；4-并行计算模块；11-向量获取单元；12-波形产生单元；13-逻辑单元；14-调整单元；31-采集单元；32-转换单元；33-传输单元；34-ADC芯片；41-并行计算单元；42-存储单元。
具体实施方式
在下文中，将更全面地描述本发明公开的各种实施例。本发明公开可具有各种实施例，并且可在其中做出调整和改变。然而，应理解：不存在将本发明公开的各种实施例限于在此公开的特定实施例的意图，而是应将本发明公开理解为涵盖落入本发明公开的各种实施例的精神和范围内的所有调整、等同物和/或可选方案。
需要说明的是，本发明涉及的芯片，具体为精准输出电压控制的驱动芯片，包含IoPins和VoltageOutPins，结构如说明书附图1所示。其中，IoPins负责接收输入电压控制波形信号(VoltageControl)，VoltageOutPins负责精确电压输出，一个芯片有几百到上千个VoltageOutPin引脚。一个芯片可以输出的电压范围可以有几千个电压点，芯片的IoPins输入一个电压控制数字波形信号(VoltageControl)，具体波形不同芯片有不同定义，芯片的VoltageOutPin就会产生一个电压点。ATE设备需要测试该芯片的该功能需要控制IoPins来产生几千个电压点，并对每个电压点进行采集所有VoltageOutPin引脚的电压输出，并进行计算。
在本发明公开的各种实施例中使用的术语仅用于描述特定实施例的目的并且并非意在限制本发明公开的各种实施例。如在此所使用，单数形式意在也包括复数形式，除非上下文清楚地另有指示。除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明公开的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本发明公开的各种实施例中被清楚地限定。
实施例1
本发明实施例1公开了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置。检测装置的模块示意图说明书附图1所示，具体方案如下：
一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置，结构如说明书附图1所示，包括：
信号模块1，连接第一引脚，用于根据预配置的测试向量持续输出关于电压输出的波形信号至第一引脚，以持续调整待测芯片输出的电压值，以及生成触发信号并输出；
采集模块3，连接待测芯片的多个第二引脚，用于采集多个第二引脚输出的每个电压值；
触发模块2，用于获取触发信号，根据测试向量中的微指令获取待驱动的多个采集模块3，发送触发信号至相应的采集模块3，以同步驱动多个采集模块3进行并行采集；
并行计算模块4，用于在采集模块3持续采集过程中，实时统计采集的电压值，并进行并行计算。
优选地，信号模块1具体为DIO模块。DIO模块是ATE设备中的组件，基本功能是产生对芯片的数字波形输入和对芯片的数字波形输出的测量。DIO模块会根据用户配置的Pattern文件中的测试向量产生相应的数字波形。
具体地，信号模块1包括波形产生单元12、调整单元14、向量获取单元11和逻辑单元13，具体结构如说明书附图1所示。
逻辑单元13，连接调整单元14，用于调整调整单元14的输出频率；
向量获取单元11，用于获取预配置Pattern文件中的测试向量；
波形产生单元12，连接向量获取单元11、调整单元14和触发模块2，用于根据测试向量持续生成关于电压输出的波形信号，并输出至调整单元14，以及根据测试向量生成触发信号并输出至触发模块2。
波形产生单元12根据用户Pattern文件的vector向量产生芯片的电压控制的波形信号，以及根据用户Pattern的trig微指令同步产生触发信号，以控制多个采集模块3并行采集。
调整单元14，连接第一引脚，用于持续输出波形信号至第一引脚。通过调整IOPin电压输出值控制波形的输入来控制芯片的电压值输出。
波形产生单元12和调整单元14根据用户Pattern连续不断控制调整VoltageOutPin电压输出值，使用Trig微指令同时驱动多个DGT模块进行并行连续的VoltageOutPin的电压输出值的采样，实现并行采集，采集效率高。
触发模块2的结构如说明书附图2所示。在测试向量的微指令中，记载有触发路径，即需要哪些采集模块3参与采集。触发信号在波形产生单元12中生成，并输出至触发模块2。触发模块2会根据用户的微指令，对特定的采集模块3输出触发信号。触发信号以脉冲信号的形式来驱动采集模块3工作。优选地，触发模块2由逻辑FPGA实现的功能模块。
采集模块3包括ADC芯片34、采集单元31、转换单元32、传输单元33。具体的结构示意图如说明书附3图所示。在本实施例中，采集模块3由于受到ATE设备体积的限制，具有100-300个引脚的测量能力，即每个采集模块3最多只能测量300个第二引脚，最少可测量100个第二引脚。
ADC芯片34，连接第二引脚，用于对第二引脚输出的模拟量进行采集，得到数字量；
采集单元31，连接转换单元32和ADC芯片34，用于将数字量输出至转换单元32，以及接收触发信号并控制ADC芯片34进行采集；
转换单元32，连接传输单元33，用于将数字量转换为电压值；
传输单元33，连接并行计算模块4，用于将电压值输出至并行计算模块4。
其中，采集单元31、转换单元32、传输单元33都是可通过逻辑FPGA实现的功能模块。
在本实施例中，每个第二引脚涉及多个采样点，通过采集多个采样点出的采样值，来综合判断该引脚的输出电压。并行计算模块4具体包括：
在采集模块3持续采集第二引脚的输出电压过程中，对已采样的输出电压进行并行计算，计算多个采样值的平均值、第二引脚之间的电压偏差、模拟量转换为电压值的时间。
并行计算模块4包括并行计算单元41和存储单元42，结构如说明书附图4所示。并行计算模块4会接收到采集模块3传输过来的电压值，计算后一并存储到存储单元42，通过并行计算单元41进行并行计算。
并行计算单元41，用于进行每个输出电压的计算，以及多个第二引脚间的电压值统计。并行计算单元41是一个通过逻辑FPGA实现的功能模块，可以进行一个电压点的计算以及多个引脚间的电压值的统计计算。
存储单元42，用于存储电压值，存储有每个引脚的所有电压值。
当并行计算单元41收到采集模块3一个电压点的采样值时，便启动并行计算，具体计算公式可以根据用户进行配置选择。
完整的采集流程包括：获取预配置的测试向量，根据测试向量产生关于待测芯片的输入信号，并将输入信号输入到波形输入引脚；待测芯片根据输入信号进行相应的电压输出；基于测试向量中的微指令，产生并行驱动相应采集模块3的触发信号；采集模块3根据触发信号同步采集待测芯片在各个电压输出引脚的输出电压值；并行计算模块4在采集过程中，对输出电压值进行并行计算。
假设待测芯片具有1000个VoltageOutPin，电压输出值调整范围为1000个点，每个电压的采集样点数为2个，统计计算公式有三个：2样点平均、多VoltageOutPin电压偏差、ADC到电压值转换，每个电压值的采样耗时为3us，每个样点的统计计算耗时为3us。则采用本实施例的检测装置耗时为：1000*3us＝3ms。
相较于现有技术中的串行采样串行计算方案和并行采样串行计算方案，本实施例的检测装置对芯片的输出电压灰阶值，进行连续并行采集和同步并行计算，大幅缩短电压采集时间和电压计算的时间，极大提升了芯片输出电压的采集效率和处理效率。
本实施例提供了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置，对芯片的输出电压灰阶值进行并行采集和并行计算，大幅缩短电压采集时间和电压计算的时间，极大提升了芯片输出电压的采集效率和处理效率。根据用户Pattern连续不断控制调整芯片VoltageOutPin的电压输出值，同时驱动多个采集模块进行并行连续采样，提高了采集效率。在采集过程中，并行计算模块对已经采样值进行并行统计计算，缩短了计算过程。
实施例2
本发明实施例2公开了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置的控制方法，将实施例1的检测装置方法化，方法的具体流程如说明书附图5所示，具体方案如下：
一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置的控制方法，适用于实施例1的检测装置。控制方法包括如下步骤：
101、信号模块根据预配置的测试向量持续输出关于电压输出的波形信号至待测芯片的第一引脚，以持续调整待测芯片输出的电压值；
102、通过信号模块生成触发信号并输出至触发模块；
103、通过触发模块获取触发信号，并根据测试向量中的微指令获取待驱动的多个采集模块，发送触发信号至相应的采集模块，以同步驱动多个采集模块进行并行采集；
104、通过采集模块采集多个第二引脚输出的每个电压值；
105、在采集模块持续采集过程中，通过并行计算模块实时统计采集的电压值，并进行并行计算。
其中，信号模块包括波形产生单元、调整单元、向量获取单元和逻辑单元。控制方法还包括：
通过逻辑单元调整调整单元的输出频率；
通过向量获取单元获取预配置Pattern文件中的测试向量；
波形产生单元根据测试向量持续生成关于电压输出的波形信号，并输出至调整单元；
波形产生单元根据测试向量生成触发信号并输出至触发模块；
调整单元持续输出波形信号至第一引脚。
其中，采集模块包括ADC芯片、采集单元、转换单元、传输单元。控制方法还包括：
通过ADC芯片对第二引脚输出的模拟量进行采集，得到数字量；
通过采集单元将数字量输出至转换单元，以及接收触发信号并控制ADC芯片进行采集；
通过转换单元将数字量转换为电压值；
通过传输单元将电压值输出至并行计算模块。
本实施例公开了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置的控制方法，将实施例1的检测装置方法化，使其更具实用性。
本发明提出了一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法，对芯片的输出电压灰阶值进行并行采集和并行计算，大幅缩短电压采集时间和电压计算的时间，极大提升了芯片输出电压的采集效率和处理效率。根据用户Pattern连续不断控制调整芯片VoltageOutPin的电压输出值，同时驱动多个采集模块进行并行连续采样，提高了采集效率。在采集过程中，并行计算模块对已经采样值进行并行统计计算，缩短了计算过程。相较于现有技术中的串行采样串行计算方案和并行采样串行计算方案，本发明的方案对芯片的输出电压灰阶值进行连续并行采集和同步并行计算，采集效率和计算效率大幅提高，解决了现有技术中芯片电压灰阶测试效率低的问题。
本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。上述本发明序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。以上公开的仅为本发明的几个具体实施场景，但是，本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置，其特征在于，适用于包括多个第一引脚和多个第二引脚的待测芯片，所述第一引脚用于输入关于电压输出的波形信号，所述第二引脚用于根据输入的波形信号输出相应的电压值；
所述检测装置包括：
信号模块，连接所述第一引脚，用于根据预配置的测试向量持续输出关于电压输出的波形信号至所述第一引脚，以持续调整所述待测芯片输出的电压值，以及生成触发信号并输出；
采集模块，连接所述待测芯片的多个第二引脚，用于采集多个所述第二引脚输出的每个电压值；
触发模块，用于获取所述触发信号，根据所述测试向量中的微指令获取待驱动的多个采集模块，发送所述触发信号至相应的采集模块，以同步驱动多个采集模块进行并行采集；
并行计算模块，用于在所述采集模块持续采集过程中，实时统计采集的电压值，并进行并行计算；
其中，所述信号模块包括波形产生单元、调整单元、向量获取单元和逻辑单元；
所述逻辑单元，连接所述调整单元，用于调整所述调整单元的输出频率；
所述向量获取单元，用于获取预配置Pattern文件中的测试向量；
所述波形产生单元，连接所述向量获取单元、所述调整单元和所述触发模块，用于根据所述测试向量持续生成关于电压输出的波形信号，并输出至所述调整单元，以及根据所述测试向量生成触发信号并输出至所述触发模块；
所述调整单元，连接所述第一引脚，用于持续输出波形信号至所述第一引脚。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述采集模块包括ADC芯片、采集单元、转换单元、传输单元；
所述ADC芯片，连接所述第二引脚，用于对所述第二引脚输出的模拟量进行采集，得到数字量；
所述采集单元，连接所述转换单元和所述ADC芯片，用于将所述数字量输出至所述转换单元，以及接收触发信号并控制所述ADC芯片进行采集；
所述转换单元，连接所述传输单元，用于将所述数字量转换为电压值，并输出至所述传输单元；
所述传输单元，连接所述并行计算模块，用于将所述电压值输出至所述并行计算模块。
3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，每个第二引脚涉及多个采样点，通过采集每个采样点的采样值，来综合判断该第二引脚的输出电压；
所述并行计算模块具体包括：
在采集模块持续采集所述第二引脚的输出电压过程中，对已采样的输出电压进行并行计算；
计算多个采样值之间的平均值、第二引脚之间的电压偏差、所述模拟量转换为电压值的时间。
4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，当收到所述采集模块的一个电压值时，所述并行计算模块启动并行计算。
5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，每个所述采集模块至少能够采集100个第二引脚的输出电压、至多能够采集300个第二引脚的输出电压。
6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述并行计算模块包括并行计算单元和存储单元；
所述并行计算单元，用于进行每个输出电压的计算，以及多个第二引脚间的电压值统计；
存储单元，用于存储每个第二引脚的所有电压值。
7.一种ATE设备对芯片输出电压的检测装置的控制方法，其特征在于，适用于权利要求1-6任一项所述的检测装置；
所述控制方法包括如下：
所述信号模块中根据预配置的测试向量持续输出关于电压输出的波形信号至所述待测芯片的第一引脚，以持续调整所述待测芯片输出的电压值；
通过所述信号模块生成触发信号并输出至所述触发模块；
通过所述触发模块获取所述触发信号，并根据所述测试向量中的微指令获取待驱动的多个采集模块，发送所述触发信号至相应的采集模块，以同步驱动多个采集模块进行并行采集；
通过所述采集模块采集多个所述第二引脚输出的每个电压值；
在所述采集模块持续采集过程中，通过所述并行计算模块实时统计采集的电压值，并进行并行计算；
其中，所述信号模块包括波形产生单元、调整单元、向量获取单元和逻辑单元；
所述控制方法还包括：
通过所述逻辑单元调整所述调整单元的输出频率；
通过所述向量获取单元获取预配置Pattern文件中的测试向量；
所述波形产生单元根据所述测试向量持续生成关于电压输出的波形信号，并输出至所述调整单元；
所述波形产生单元根据所述测试向量生成触发信号并输出至所述触发模块；
所述调整单元持续输出波形信号至所述第一引脚。
8.根据权利要求7所述的控制方法，其特征在于，所述采集模块包括ADC芯片、采集单元、转换单元、传输单元；
所述控制方法还包括：
通过所述ADC芯片对所述第二引脚输出的模拟量进行采集，得到数字量；
通过所述采集单元将所述数字量输出至所述转换单元，以及接收触发信号并控制所述ADC芯片进行采集；
通过所述转换单元将所述数字量转换为电压值；
通过所述传输单元将所述电压值输出至所述并行计算模块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210009948.8A CN114460430B (zh) | 2022-01-05 | 2022-01-05 | 一种ate设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210009948.8A CN114460430B (zh) | 2022-01-05 | 2022-01-05 | 一种ate设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114460430A CN114460430A (zh) | 2022-05-10 |
| CN114460430B true CN114460430B (zh) | 2023-11-03 |
Family
ID=81410384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210009948.8A Active CN114460430B (zh) | 2022-01-05 | 2022-01-05 | 一种ate设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114460430B (zh) |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6073264A (en) * | 1998-04-02 | 2000-06-06 | Intel Corporation | Debug vector launch tool |
| US6766266B1 (en) * | 1999-07-23 | 2004-07-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Testing device and testing method for semiconductor integrated circuits |
| CN203965503U (zh) * | 2014-05-28 | 2014-11-26 | 陕西海泰电子有限责任公司 | 一种多通道nV级交流电压检测设备 |
| CN105959007A (zh) * | 2016-06-08 | 2016-09-21 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种高精度数模转换器的测试系统及测试方法 |
| CN106443412A (zh) * | 2016-09-09 | 2017-02-22 | 杭州万高科技股份有限公司 | 一种ic测试装置及方法 |
| CN107024623A (zh) * | 2016-02-02 | 2017-08-08 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法 |
| CN111786768A (zh) * | 2020-07-10 | 2020-10-16 | 中国电子科技集团公司第十四研究所 | 一种多通道并行测试校准方法 |
| CN112462240A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-03-09 | 国微集团(深圳)有限公司 | 支持跨芯片信号同步触发检测方法及装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006268357A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | サンプリング装置、及び試験装置 |
| TWM326153U (en) * | 2007-07-10 | 2008-01-21 | Princeton Technology Corp | Circuit testing apparatus |
-
2022
- 2022-01-05 CN CN202210009948.8A patent/CN114460430B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6073264A (en) * | 1998-04-02 | 2000-06-06 | Intel Corporation | Debug vector launch tool |
| US6766266B1 (en) * | 1999-07-23 | 2004-07-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Testing device and testing method for semiconductor integrated circuits |
| CN203965503U (zh) * | 2014-05-28 | 2014-11-26 | 陕西海泰电子有限责任公司 | 一种多通道nV级交流电压检测设备 |
| CN107024623A (zh) * | 2016-02-02 | 2017-08-08 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法 |
| CN105959007A (zh) * | 2016-06-08 | 2016-09-21 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种高精度数模转换器的测试系统及测试方法 |
| CN106443412A (zh) * | 2016-09-09 | 2017-02-22 | 杭州万高科技股份有限公司 | 一种ic测试装置及方法 |
| CN111786768A (zh) * | 2020-07-10 | 2020-10-16 | 中国电子科技集团公司第十四研究所 | 一种多通道并行测试校准方法 |
| CN112462240A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-03-09 | 国微集团(深圳)有限公司 | 支持跨芯片信号同步触发检测方法及装置 |
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| TFTR LCD Souce Driver芯片测试研究;孟得全;万方硕士论文;39-42 * |
| 液晶屏显示驱动芯片测试技术研究;濮德龙;刘春来;张东;;数字技术与应用(第04期);59-61 * |
| 液晶驱动芯片测试程序开发及优化方法研究;张昊劼;中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑(第08期);I135-10 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN114460430A (zh) | 2022-05-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Voorakaranam et al. | Signature testing of analog and RF circuits: Algorithms and methodology | |
| US5576980A (en) | Serializer circuit for loading and shifting out digitized analog signals | |
| US5144225A (en) | Methods and apparatus for acquiring data from intermittently failing circuits | |
| US5793642A (en) | Histogram based testing of analog signals | |
| CN105959007B (zh) | 一种高精度数模转换器的测试系统及测试方法 | |
| TWI551067B (zh) | 用於同時測試多個資料封包信號收發器的系統及方法 | |
| US10838000B2 (en) | Method and apparatus for simultaneously testing a component at multiple frequencies | |
| TWI418824B (zh) | 判斷通訊頻道中的抖動之方法和系統 | |
| CN106896318A (zh) | 直接数字频率合成器电路动态参数测试系统及方法 | |
| KR101257251B1 (ko) | 캘리브레이션 회로 | |
| CN114460430B (zh) | 一种ate设备对芯片输出电压的检测装置及其控制方法 | |
| CN104536282A (zh) | 时间数字转换器、时间测量装置及其测量方法 | |
| US10371741B2 (en) | Characterization of phase shifter circuitry in integrated circuits (ICs) using standard automated test equipment (ATE) | |
| JP5179615B2 (ja) | Ａｐｄ測定器の検査装置及び検査方法 | |
| Balestrieri et al. | The jitter measurement ways: the instrumentation | |
| EP3534165A1 (en) | Pulse analyzer | |
| RU72773U1 (ru) | Автоматизированная система контроля и диагностики радиоэлектронных устройств "ас 5-2" | |
| Gomes et al. | Minimal length diagnostic tests for analog circuits using test history | |
| EP4318002A1 (en) | Signal generator circuit for a quantum computer control device | |
| US6795787B2 (en) | Method and apparatus for calibrating a sampling circuit | |
| US20170307731A1 (en) | Digital radio frequency memory synthetic instrument | |
| RU2784384C2 (ru) | Автоматизированная система контроля и диагностики сменных элементов радиоэлектронной аппаратуры | |
| US11308011B2 (en) | Signal collection method and signal collection device | |
| CN218037171U (zh) | 一种mos管器件动态特性测试设备 | |
| CN106841855B (zh) | 一种大功率三相桥式驱动器的阈值参数测试方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |