KR20170107630A - 검사장치 및 검사장치를 이용한 표시장치의 검사방법 - Google Patents

Abstract

본 발명에 따른 검사장치는, 외부의 회로기판에 배치된 커넥터의 패드 영역에 검사 신호를 전달하는 검사 패드 영역을 포함하는 하면 및 상면을 포함하는 검사회로기판, 상기 상면에 배치된 적어도 하나의 커버 개폐기를 포함하고, 상기 커버 개폐기는, 상기 검사회로기판이 상기 커넥터에 결합될 때 상기 커넥터의 패드 영역을 커버하는 상기 커넥터의 덮개를 개방하며, 상기 검사회로기판이 상기 커넥터로부터 분리될 때 상기 덮개를 폐쇄시키는 것을 특징으로 한다.

Description

검사장치 및 검사장치를 이용한 표시장치의 검사방법{INSPECTION DEVICE AND THE INSPECTION METHOD OF A DISPLAY DEVICE USING THE INSPECTION DEVICE}

본 발명은 검사장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 표시장치에 포함된 패널을 검사하기 위한 검사장치 및 검사장치를 이용한 표시장치의 검사방법에 관한 것이다.

표시장치는 영상을 표시하는 표시패널을 포함한다. 표시패널은, 복수의 게이트 라인들, 복수의 데이터 라인들, 복수의 게이트 라인들과 복수의 데이터 라인들에 연결된 복수의 화소들을 포함한다. 표시장치는 복수의 게이트 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 구동 신호들을 제공하는 회로기판을 포함한다.

한편, 회로기판은 외부 검사장치와 전기적으로 연결되기 위한 커넥터를 포함할 수 있다. 이러한 커넥터는 화소들의 구동 상태를 검사하기 위한 검사 신호들을 외부 검사장치로부터 수신할 수 있다.

본 발명의 목적은 회로기판의 커넥터에 직접적으로 체결되는 검사장치 및 검사장치를 이용한 표시장치의 검사방법을 제공하는 데 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 검사장치는, 외부의 회로기판에 배치된 커넥터의 패드 영역에 검사 신호를 전달하는 검사 패드 영역을 포함하는 하면 및 상면을 포함하는 검사회로기판, 상기 상면에 배치된 적어도 하나의 커버 개폐기를 포함하고, 상기 커버 개폐기는, 상기 검사회로기판이 상기 커넥터에 결합될 때 상기 커넥터의 패드 영역을 커버하는 상기 커넥터의 덮개를 개방하며, 상기 검사회로기판이 상기 커넥터로부터 분리될 때 상기 덮개를 폐쇄시키는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 상기 커버 개폐기는 상기 상면에 배치된 지지대 및 상기 지지대에 회전 가능하게 결합된 후크를 포함한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 상기 후크는 상기 지지대에 연결된 막대부, 상기 막대부로부터 절곡된 절곡부를 포함한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 상기 후크는 상기 상면으로부터 소정의 기울기를 갖는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 상기 후크는 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 상기 검사회로기판은, 절연층, 상기 절연층 상에 배치된 배선들, 상기 검사 패드 영역에 배치되며, 상기 배선들과 전기적으로 연결된 복수의 검사 패드들을 포함한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 상기 검사회로기판이 상기 커넥터에 결합됨에 따라, 상기 검사 패드들은 상기 패드 영역에 배치된 복수의 신호 패드들과 접촉하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 상기 검사회로기판에 배치되며, 외부 장치와 연결되기 위한 검사 커넥터를 더 포함한다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시장치의 검사방법은, 패드 영역 및 상기 패드 영역을 커버하는 덮개를 포함하는 회로기판의 커넥터에 검사장치의 검사 패드 영역을 결합하는 단계, 상기 검사 패드 영역에서 상기 패드 영역으로 검사 신호를 제공하는 단계, 상기 회로기판으로 제공된 상기 검사 신호를 이용하여 상기 회로기판과 전기적으로 연결된 표시패널의 동작을 점검하는 단계, 상기 커넥터로부터 상기 검사장치를 분리하는 단계를 포함하고, 상기 검사장치는 커버 개폐기를 포함하고, 상기 커버 개폐기는, 상기 검사장치가 상기 커넥터에 결합될 때 상기 덮개를 개방하며, 상기 검사장치가 상기 커넥터로부터 분리될 때 상기 덮개를 폐쇄시키는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 검사장치는, 복수의 검사 패드들이 배치된 상기 검사 패드 영역을 포함하는 하면 및 상면을 포함하는 검사회로기판, 상기 상면에 배치된 상기 커버 개폐기를 적어도 하나 포함한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 커버 개폐기는 상기 상면에 배치된 지지대 및 상기 지지대에 회전 가능하게 결합된 후크를 포함한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 후크는, 상기 지지대에 연결된 막대부, 상기 막대부로부터 절곡된 절곡부를 포함한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 후크는 상기 상면으로부터 소정의 기울기를 갖는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 커넥터에 상기 검사장치를 결합하는 단계는, 상기 후크를 통해 상기 덮개를 개방시키는 단계, 상기 검사 패드들을 상기 패드 영역에 포함된 복수의 신호 패드들에 접촉시키는 단계를 포함한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 커넥터로부터 상기 검사장치를 분리하는 단계는, 상기 신호 패드들로부터 상기 검사 패드들을 분리하는 단계, 상기 후크를 통해 상기 덮개를 폐쇄시키는 단계를 포함한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 후크는 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따르면, 상기 커넥터는, 상기 패드 영역에 포함된 복수의 신호 패드들이 배치된 체결홈을 포함하는 하우징, 상기 하우징에 연결되어 상기 체결홈을 커버하는 상기 덮개를 포함한다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 검사장치는 회로기판에 실장된 커넥터에 직접적으로 체결될 수 있다. 즉, 검사장치 및 회로기판에 실장된 커넥터를 서로 연결하는 별도의 연결 부재가 사용되지 않는다. 그 결과, 표시패널을 검사하는 데 필요한 전반적인 비용 및 시간이 줄어들 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 검사장치는 커버 개폐기를 포함한다. 커버 개폐기는 검사장치 및 커넥터가 결합 또는 분리 시에, 커넥터의 덮개를 개방 또는 폐쇄시킬 수 있다. 따라서, 검사 과정이 편리해질 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치의 분해 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 I-I’를 따라 절단한 단면도이다.
도 3a 및 도 3b는 도 1에 도시된 K 영역을 확대한 확대도이다.
도 4는 도 3b에 도시된 II-II’를 따라 절단한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 검사장치를 보여주는 사시도이다.
도 6은 도 5에 도시된 검사장치의 하면에 배치된 검사 패드들을 보여주는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 후크의 회전 동작을 보여주는 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시 예에 따른 검사장치 및 커넥터가 서로 결합되는 과정을 보여주는 도면이다.
도 8c는 도 8b에 도시된 W 영역을 확대한 확대도이다.
도 8d는 본 발명의 실시 예에 따른 검사장치 및 커넥터가 서로 분리되는 과정을 보여주는 도면이다.
도 9는 도 8b에 도시된 III-III’를 따라 절단한 단면도이다.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대 또는 축소하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들 의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치의 분해 사시도이다. 도 2는 도 1에 도시된 I-I’를 따라 절단한 단면도이다.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치(DD)가 적용된 예로써 휴대용 단말기를 도시하였다. 휴대용 단말기는 태블릿 PC, 스마트폰, PDA(Personal Digital Assistant), PMP(Portable Multimedia Player), 게임기, 손목 시계형 전자 기기 등을 포함할 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다.

본 발명은 텔레비전 또는 외부 광고판과 같은 대형 전자 장비를 비롯하여, 퍼스널 컴퓨터, 노트북 컴퓨터, 자동차 네이게이션 유닛, 카메라와 같은 중소형 전자 장비 등에 사용될 수 있다. 이것들은 단지 실시 예로 제시된 것들로서, 본 발명의 개념에서 벗어나지 않은 이상 다른 전자 기기에도 채용될 수 있음은 물론이다.

먼저, 도 1 및 도 2를 참조하면, 표시장치(DD)는 표시면 상에서 구분되는 복수의 영역들을 포함한다. 표시장치(DD)는 영상이 표시되는 표시 영역(DA), 표시 영역(DA)에 인접한 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 일 예로, 표시 영역(DA)은 사각 형상일 수 있다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)을 둘러싼다. 또한, 도시되지 않았지만, 일 예로, 표시장치(DD)는 부분적으로 굴곡된 형상을 포함할 수 있다. 그 결과, 표시 영역(DA)의 일 영역이 굴곡된 형상을 가질 수 있다.

자세하게, 표시장치(DD)는 윈도우 부재(100), 표시모듈(200), 및 케이스(300)를 포함한다. 윈도우 부재(100)는 표시모듈(200) 상부에 배치될 수 있다. 윈도우 부재(100)는 표시모듈(200)이 제공하는 영상을 투과시키는 표시 영역(DA)과 표시 영역(DA)에 인접한 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 예시적으로, 윈도우 부재(100)는 유리, 사파이어, 플라스틱 등으로 구성된 커버 윈도우(미도시)를 포함할 수 있다.

표시모듈(200)은 표시층(210), 봉지층(220), 구동 집적회로(D-IC), 연결회로기판(FP), 및 회로기판(M-PB)을 포함한다.

표시층(210)은 어레이기판(211) 및 표시부(212)를 포함할 수 있다. 도시되지 않았지만, 어레이기판(211)은 표시 영역(DA)에 대응하도록 배치된 복수의 화소들 및 화소들 각각에 연결된 복수의 신호 라인들을 포함한다. 일 예로, 신호 라인들은 제2 방향(DR2)으로 연장되고 제1 방향(DR1)으로 배열된 복수의 게이트 라인들을 포함한다. 일 예로, 신호 라인들은 제1 방향(DR1)으로 연장되고 제2 방향(DR2)으로 배열된 복수의 데이터 라인들을 포함할 수 있다. 게이트 라인들과 데이터 라인들은 각각 절연 교차한다.

그러나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되지 않으며, 게이트 라인들은 제1 방향(DR1)으로 연장되며, 제2 방향(DR2)으로 배열될 수 있다. 또한, 데이터 라인들은 제2 방향(DR2)으로 연장되며, 제1 방향(DR1)으로 배열될 수 있다.

화소들은 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)에 의해 정의되는 매트릭스 형상(matrix shape)으로 배열된다. 화소들은 게이트 라인들 중 대응되는 게이트 라인 및 데이터 라인들 중 대응되는 데이터 라인에 각각 연결된다. 화소들은 대응되는 게이트 라인 및 대응되는 데이터 라인으로부터 전기적 신호를 수신하여 영상을 생성한다.

표시부(212)는 어레이기판(211) 상에 배치된다. 표시부(212)는 표시소자를 포함할 수 있다. 실시 예에 따르면, 표시모듈(200)은 다양한 표시소자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시소자는 액정 캐패시터, 유기발광소자, 전기영동소자, 또는 전기습윤소자일 수 있다. 이 중, 본 발명에 따른 표시소자는 복수의 유기발광소자들(Organic Light Emetting Diode)인 것으로 설명된다. 따라서, 본 발명에 따른 표시장치(DD)는 유기발광 표시패널을 포함하는 유기발광 표시장치일 수 있다. 한편, 이하에서, 유기발광 표시패널은 표시패널로 설명된다.

봉지층(220)은 표시부(212) 상에 배치된다. 봉지층(220)은 표시소자(OLED)를 밀봉하여 수분 및 산소로부터 표시소자(OLED)를 보호한다. 봉지층(220)은 투명한 절연성 물질로 구성될 수 있다. 봉지층(220)은 유기물 및 무기물 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않은며 다양한 형태로 제공될 수 있다.

구동 집적회로(D-IC)는 어레이기판(211)에 배치된 신호 라인들 중 적어도 일부와 연결된다. 구동 집적회로(D-IC)는 신호 라인들을 통해 화소들 각각에 전기적 신호를 제공할 수 있다. 실시 예에 따르면, 구동 집적회로(D-IC)는 칩 온 글래스(Chip on glass: COG) 방식으로 표시모듈(200)에 실장될 수 있다.

연결회로기판(FP)은 표시층(210) 및 회로기판(M-PB)을 전기적으로 연결한다. 예를 들어, 연결회로기판(FP)은 플렉서블 회로기판(Flexible printed circuit)으로 제공될 수 있다. 연결회로기판(FP)의 일단은 표시층(210)의 일 영역에 배치된 패드들 상에 본딩되어, 표시층(210)과 전기적으로 연결될 수 있다. 여기서, 표시층(210)의 일 영역에 배치된 패드들은 구동 집적회로(D-IC)와 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 연결회로기판(FP)의 타단은 회로기판(M-PB)의 일 영역에 배치된 패드들 상에 본딩되어, 회로기판(M-PB)과 전기적으로 연결될 수 있다.

회로기판(M-PB)은 연결회로기판(FP)의 타단과 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 회로기판(M-PB)은 인쇄회로기판(Printed circuit board)으로 제공될 수 있다. 회로기판(M-PB)에는 영상 표시에 필요한 영상 신호들 및 구동 신호들을 출력하는 구동 소자(미도시)가 배치될 수 있다. 구동 소자는 회로기판(M-PB)의 일 영역에 배치된 도전 패턴들에 전기적으로 연결된다. 이러한 도전 패턴들은 연결회로기판(FPC)과 전기적으로 연결된다. 그 결과, 구동 소자로부터 출력된 영상 신호들 및 구동 신호들이 연결회로기판(FP)을 통해 구동 집적회로(D-IC)에 전달될 수 있다.

본 발명의 실시 예에 따르면, 회로기판(M-PB)에는 커넥터(CN)가 배치될 수 있다. 커넥터(CN)는 외부의 검사장치(500, 도5 참조)와 결합될 수 있다. 커넥터(CN)가 검사장치(500)와 결합됨에 따라, 검사장치(500)로부터 제공된 검사 신호가 커넥터(CN)를 통해 표시패널에 제공될 수 있다. 그 결과, 검사 신호에 응답하여, 표시패널에 배치된 화소들의 동작 상태가 점검될 수 있다.

도 3a 및 도 3b는 도 1에 도시된 K 영역을 확대한 확대도이다. 도 4는 도 3b에 도시된 II-II’를 따라 절단한 단면도이다.

도 3a는 커넥터(CN)에 포함된 덮개(CR)가 개방된 형상이며, 도 3b는 커넥터(CN)에 포함된 덮개(CR)가 폐쇄된 형상이다.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 커넥터(CN)는 회로기판(M-PB)에 배치될 수 있다. 커넥터(CN)는 하우징(BR) 및 하우징(BR)에 연결된 덮개(CR)를 포함할 수 있다.

예시적으로, 하우징(BR)이 사각기둥 형상을 갖는 것으로 설명되나, 하우징(BR)의 형상은 다양하게 제공될 수 있다. 하우징(BR)은 적어도 일 영역에 홈이 정의된 체결홈(CH) 및 체결홈(CH)에 배치된 복수의 신호 패드들(PDa)을 포함할 수 있다. 여기서, 신호 패드들(PDa)이 배치된 영역은 패드 영역으로 정의된다. 덮개(CR)는 체결홈(CH)을 커버하도록 하우징(BR)의 일 부분에 연결될 수 있다.

실시 예에 따르면, 덮개(CR)는 커넥터(CN)와 검사장치(500, 도5 참조)가 서로 결합 시에 개방(open)될 수 있으며, 커넥터(CN)와 검사장치(500)가 서로 분리 시에 폐쇄(close)될 수 있다. 여기서, 덮개(CR)가 개방됨에 따라, 체결홈(CH)에 배치된 신호 패드들(PDa)이 외부에 전체적으로 노출될 수 있다. 또한, 덮개(CR)가 폐쇄됨에 따라, 신호 패드들(PDa)이 외부로 전체적으로 노출되지 않을 수 있다.

도시되지 않았지만, 일 예로, 덮개(CR)의 회전을 위해 덮개(CR)에는 힌지(Hinge) 축이 포함될 수 있다. 이러한 힌지 축의 양단은 하우징(BR)에 연결될 수 있다. 그 결과, 덮개(CR)의 회전이 가능해질 수 있다. 따라서, 검사장치(500)가 커넥터(CN)와 결합 또는 분리될 시에, 덮개(CR)가 개방 또는 폐쇄될 수 있다. 그러나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되지 않으며, 덮개(CR)가 회전하기 위한 덮개(CR) 및 하우징(BR) 간의 연결 구조는 다양하게 변화될 수 있다.

또한, 도시되지 않았지만, 표시모듈(200)은 터치패널 및 터치패널의 구동에 필요한 터치회로기판을 더 포함할 수 있다. 이러한 터치회로기판에는 본 발명의 실시 예에 따른 커넥터(CN)가 동일하게 배치 될 수 있다. 그 결과, 터치회로기판에 배치된 커넥터와 본 발명에 따른 외부 검사장치가 서로 연결될 수 있다.

또한, 도 4를 참조하면, 회로기판(M-PB)은 제1 베이스층(By), 제1 신호층(SL), 제1 절연층(IL1), 제2 절연층(IL2), 제1 연결라인들(SLa), 및 제1 연결 패드들(PD1)을 포함한다. 도 1에 도시된 바와 같이, 회로기판(M-PB)은 연결회로기판(FP)을 통해 표시모듈(200)에 포함된 구동 집적회로(D-IC)에 전기적으로 연결될 수 있다.

자세하게, 회로기판(M-PB)을 전반적으로 지지하는 제1 베이스층(By)이 제공된다. 제1 베이스층(By) 상에는 제1 신호층(SL)이 배치될 수 있다. 이러한 제1 신호층(SL)은 연결회로기판(FP)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 절연층(IL1)은 제1 신호층(SL) 상에 배치될 수 있다. 제1 절연층(IL1)에는 복수의 홀들이 정의될 수 있다. 복수의 홀들에는 제1 신호층(SL)과 전기적으로 연결되는 복수의 제1 연결라인들(SLa)이 각각 배치될 수 있다. 또한, 제1 절연층(IL1) 상에는 제1 연결라인들(SLa)과 전기적으로 연결되는 복수의 제1 연결 패드들(PD1)이 각각 배치된다. 제2 절연층(IL2)은 제1 연결 패드들(PD1)을 커버하도록 제1 절연층(IL1) 상에 배치될 수 있다.

즉, 제1 연결라인들(SLa)은 제1 신호층(SL) 및 제1 연결 패드들(PD1)을 전기적으로 연결할 수 있다. 따라서, 커넥터(CN)로부터 전달된 검사신호가 제1 연결 패드들(PD1), 제1 연결라인들(SLa), 및 제1 신호층(SL)을 통해 연결회로기판(FP)으로 전달할 수 있다.

커넥터(CN)는 솔더들(Solder, SB)을 통해 회로기판(M-PB)과 전기적으로 연결될 수 있다. 자세하게, 커넥터(CN)는 제2 베이스층(Byb), 제3 절연층(IL3), 덮개(CR), 제2 연결 패드들(PD2), 제2 연결라인들(SLb), 및 신호 패드들(PDa)을 포함한다.

자세하게, 커넥터(CN)를 전반적으로 지지하는 제2 베이스층(Byb)이 제공된다. 제2 베이스층(Byb)에는 복수의 홀들이 정의되며, 홀들에는 제2 연결라인들(SLb)이 배치될 수 있다. 또한, 제2 베이스층(Byb)은 상면 및 하면을 포함할 수 있다. 제2 베이스층(Byb)의 하면에는 제2 연결라인들(SLb)의 일단과 전기적으로 연결되는 복수의 제2 연결 패드들(PD2)이 각각 배치될 수 있다. 제3 절연층(IL3)은 제2 연결패드들(PD2)을 커버하도록 베이스층(Byb)의 하면에 배치될 수 있다.

또한, 제2 베이스층(Byb)의 상면에는 제2 연결라인들(SLb)의 타단과 전기적으로 연결되는 복수의 신호 패드들(PDa)이 각각 배치될 수 있다. 덮개(CR)는 제2 연결라인들(SLb)을 커버하도록 베이스층(Byb) 상면에 배치될 수 있다.

한편, 제2 절연층(IL2)은 복수의 제1 홈들을 포함할 수 있다. 이러한 제2 절연층(IL2)에 포함된 제1 홈들은 제1 연결패드들(PD1)과 중첩될 수 있다. 즉, 제1 연결패드들(PD1)은 제1 홈들을 통해 노출될 수 있다. 제3 절연층(IL3)은 복수의 제2 홈들을 포함할 수 있다. 이러한 제3 절연층(IL3)에 포함된 제2 홈들은 제2 연결패드들(PD2)과 중첩될 수 있다. 즉, 제2 연결패드들(PD2)은 제2 홈들을 통해 노출될 수 있다.

솔더들(SB)은 이러한 제1 홈들 및 제2 홈들에 노출된 제1 연결패드들(PD1) 및 제2 연결패드들(PD2)에 전기적으로 연결될 수 있다.

따라서, 신호 패드들(PDa)을 통해 전달된 전기적 신호는 제2 연결라인들(SLb) 및 제2 연결 패드들(PD2)을 통해 솔더들(SB)에 전달될 수 있다. 또한, 신호 패드들(PDa)로부터 솔더들(SB)에 전달된 전기적 신호는 제1 연결 패드들(PD1) 및 제1 연결라인들(SLa)을 통해 신호층(SL)에 전달될 수 있다.

상술된 바와 같이, 도 4를 통해 본 발명의 실시 예에 따른 회로기판(M-PB) 및 커넥터(CN)의 단면도가 설명되었으나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되지 않는다. 즉, 회로기판(M-PB) 및 커넥터(CN)의 구조는 다양하게 변경될 수 있다.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 검사장치를 보여주는 사시도이다. 도 6은 도 5에 도시된 검사장치의 하면에 배치된 검사 패드들을 보여주는 도면이다. 도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 후크의 회전 동작을 보여주는 도면이다.

도 3a 및 도 5를 참조하면, 본 발명에 따른 검사회로기판(510)은 표시장치(DD, 도1 참조)의 점검을 위해, 커넥터(CN)와 직접적으로 결합 또는 분리될 수 있다. 예를 들어, 표시장치(DD)가 정상적으로 동작될 경우, 검사장치(500)는 커넥터(CN)로부터 분리된다. 이와 반대로, 표시장치(DD)가 비정상적으로 동작될 경우, 검사장치(500)는 커넥터(CN)에 결합되어 표시장치(DD)를 검사한다. 이 경우, 검사장치(500)는 커넥터(CN)에 결합되어, 커넥터(CN)에 검사 신호를 제공할 수 있다. 그 결과, 검사장치(500)로부터 제공된 검사 신호에 응답하여, 표시패널 또는 터치패널의 구동 상태가 점검될 수 있다.

자세하게, 검사장치(500)는 검사회로기판(510), 제1 커버 개폐기(520a), 제2 커버 개폐기(520b), 및 외부 커넥터(CN-B)를 포함한다. 본 발명의 설명에 따르면, 검사장치(500)가 제1 및 제2 커버 개폐기들(520a, 520b)을 포함하는 것으로 설명되었으나, 검사장치(500)는 적어도 하나의 커버 개폐기를 포함할 수 있다.

검사회로기판(510)은 예시적으로 인쇄회로기판(Printed circuit board)으로 제공될 수 있으며, 상면 및 하면을 포함할 수 있다. 실시 예에 따르면, 검사회로기판(510)의 상면에는 제1 커버 개폐기(520a), 제2 커버 개폐기 (520b), 및 외부 커넥터(CN-B)가 배치될 수 있다. 또한, 도 6에 도시된 바와 같이, 검사회로기판(510)의 하면에는 커넥터(CN)에 포함된 신호 패드들(PDa)과 전기적으로 접촉되기 위한 복수의 검사 패드들(PDb)이 배치될 수 있다. 여기서, 검사 패드들(PDb)이 배치된 영역은 검사 패드 영역으로 정의된다.

실시 예에 따르면, 검사회로기판(510)과 커넥터(CN)가 서로 결합됨에 따라, 검사회로기판(510)의 검사 패드 영역과 커넥터(CN)의 패드 영역은 서로 중첩될 수 있다. 그 결과, 검사 패드들(PDb)과 신호 패드들(PDa)이 서로 접촉될 수 있다.

제1 커버 개폐기(520a)는 제1 지지대(521a) 및 제1 후크(521b)를 포함한다. 제1 지지대(521a)는 검사회로기판(510)의 상면에 배치되며, 검사회로기판(510) 상면에 고정된 형상을 가질 수 있다. 또한, 도시되지 않았지만, 제1 지지대(521a)는 힌지 축을 포함할 수 있다. 이러한 제1 지지대(521a)의 힌지 축은 제1 후크(521b)와 연결되어, 제1 후크(521b)를 회전 가능하게 한다. 한편, 일 예로, 제1 지지대(521a)에 힌지 축이 포함된 것으로 설명되었으나, 이에 한정되지 않는다. 제1 지지대(521a)는 제1 후크(521b)가 회전되기 위한 다양한 구조로 제공되어, 검사회로기판(510) 상면에 배치될 수 있다.

제1 후크(521b)는 제1 지지대(521a)의 힌지 축에 연결되어 회전될 수 있다. 제1 후크(521b)는 제1 지지대(521a)에 연결된 제1 막대부(P1a) 및 제1 막대부(P1a)로부터 절곡된 제1 절곡부(P1b)를 포함한다.

제1 막대부(P1a)는 일 방향으로 연장된 형상을 가질 수 있다. 제1 막대부(P1a)의 일단은 제1 지지대(521a)에 연결될 수 있으며, 타단은 제1 절곡부(P1b)에 연결될 수 있다. 제1 절곡부(P1b)는 제1 막대부(P1a)의 타단으로 연장되어 절곡된 형상을 가질 수 있다. 일 예로, 도 5에 도시된 바와 같이 제1 절곡부(P1b)는 고리 형상을 가진 것으로 도시되었다.

그러나, 제1 절곡부(P1b)의 형상은 이에 한정되지 않으며, 덮개(CR)를 개방 또는 폐쇄 시키기위한 다양한 형상으로 제공될 수 있다. 또한, 제1 막대부(P1a) 및 제1 절곡부(P1b)가 개별적으로 설명되었지만, 제1 막대부(P1a) 및 제1 절곡부(P1b)는 하나의 형상으로 제공될 수 있다.

실시 예에 따르면, 제1 후크(521b)는 검사회로기판(510)의 상면으로부터 소정의 기울기를 가질 수 있다. 이처럼, 소정의 기울기를 갖는 제1 후크(521b)에 의해 커넥터(CN)의 덮개(CR)가 개방될 수 있다. 이에 대해서는, 도 8a 및 도 8b를 통해 보다 자세히 설명된다.

또한, 실시 예에 따르면, 제1 후크(521b)는 탄성체를 포함할 수 있다. 예를 들어, 탄성체로는 폴리이소프렌(polyisoprene), 폴리부타디엔(polybutadiene), 폴리이소부틸렌(polyisobutylene), 및 폴리우레탄(polyurethane) 등이 사용될 수 있다. 그러나, 탄성체의 종류는 이에 한정되지 않으며, 다양한 재료로 제공될 수 있다.

제2 커버 개폐기(520b)는 제2 지지대(522a) 및 제2 후크(522b)를 포함한다. 제2 지지대(522a)는 검사회로기판(510)의 상면에 배치되며, 검사회로기판(510) 상면에 고정된 형상을 가질 수 있다. 제2 커버 개폐기(520b)는 제1 커버 개폐기(520a)과 비교하여, 일 방향에서 서로 평행하도록 검사회로기판(510)의 상면에 배치될 수 있다. 여기서, 일 방향은 검사장치(500)가 커넥터(CN)에 결합되기 위한 방향일 수 있다.

또한, 마찬가지로, 제2 지지대(522a)는 힌지 축을 포함할 수 있다. 이러한 제2 지지대(522a)의 힌지 축은 제2 후크(522b)와 연결되어, 제2 후크(522b)를 회전 가능하게 한다. 한편, 일 예로, 제2 지지대(522a)에 힌지 축이 포함된 것으로 설명되었으나, 이에 한정되지 않는다. 제2 지지대(522a)는 제2 후크(522b)가 회전되기 위한 다양한 구조로 제공되어, 검사회로기판(510) 상면에 배치될 수 있다.

제2 후크(522b)는 제2 지지대(522a)의 힌지 축에 연결되어 회전될 수 있다. 제2 후크(522b)는 제2 지지대(522a)에 연결된 제2 막대부(P2a) 및 제2 막대부(P2a)로부터 절곡된 제2 절곡부(P2b)를 포함한다.

이러한 제2 커버 개폐기(520b)에 포함된 제2 막대부(P2a) 및 제2 절곡부(P2b)는 제1 커버 개폐기(520a)에 포함된 제1 막대부(P1a) 및 제1 절곡부(P1b)와 동일한 형상을 가질수 있다. 즉, 제2 커버 개폐기(520b)는 제1 커버 개폐기(520a)와 비교하여 동일한 형상을 가지며 검사회로기판(510)의 상면에 배치될 수 있다. 따라서, 제2 막대부(P2a) 및 제2 절곡부(P2b)에 대한 설명은 생략된다.

외부 커넥터(CN-B)는 검사회로기판(510)의 상면에 배치되어, 외부 장치와 연결될 수 있다. 예를 들어, 외부 커넥터(CN-B)는 외부 장치와 연결되어, 표시장치(DD)의 점검에 필요한 다양한 검사 신호들을 제공받을 수 있다.

도 7를 참조하면, 본 발명에 따른 검사회로기판(510) 상면에 배치된 커버 개폐기는 회전 가능하도록 움직일 수 있다. 앞서 상술된 바와 같이, 검사장치(500)가 커넥터(CN) 방향으로 결합되기 위해 이동될 경우, 후크(521)는 기울기가 더욱 커지도록 회전될 수 있다. 이와 반대로, 검사장치(500)가 커넥터(CN)로부터 분리되기 위해 이동될 경우, 후크(521)는 기울기가 더욱 작아지도록 회전될 수 있다.

도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시 예에 따른 검사장치 및 커넥터가 결합되는 과정을 보여주는 도면이다. 도 8c는 도 8b에 도시된 W 영역을 확대한 확대도이다. 도 8d는 본 발명의 실시 예에 따른 검사장치 및 커넥터가 분리되는 과정을 보여주는 도면이다.

도 8a 및 도 8b를 참조하면, 검사장치(500)가 제1 방향(D1)을 따라 커넥터(CN)에 결합될 수 있다. 자세하게, 검사장치(500)가 커넥터(CN)와의 결합을 위해 제1 방향(D1)으로 이동될 경우, 제1 및 제2 후크들(521b, 522b)이 덮개(CR)에 먼저 접촉될 수 있다. 즉, 도 4에 도시된 제1 후크(521b)의 제1 절곡부(P1b) 및 제2 후크(522b)의 제2 절곡부(P2b) 부분이 덮개(CR)의 일 부분에 접촉될 수 있다.

앞서 상술된 바와 같이, 제1 및 제2 후크들(521b, 522b)은 검사회로기판(510)의 상면으로부터 소정의 기울기를 가질 수 있다. 특히, 제1 및 제2 후크들(521b, 522b)이 덮개(CR)에 접촉된 후, 검사장치(500)가 제1 방향(D1)으로 이동됨에 따라, 제1 및 제2 후크들(521b, 522b)의 기울기는 더욱 커질 수 있다. 이처럼, 제1 및 제2 후크들(521b, 522b)의 기울기가 더욱 커짐에 따라, 덮개(CR)가 개방되도록 회전될 수 있다. 그 결과, 신호 패드들(PDa)이 외부에 전체적으로 노출될 수 있다. 이 후, 검사회로기판(510)의 하면에 배치된 검사 패드들(PDb)이 커넥터(CN)의 체결홈(CH, 도4 참조)에 배치된 신호 패드들(PDa) 상면에 접촉될 수 있다.

한편, 덮개(CR)는 신호 패드들(PDa)과 서로 마주하는 하면 및 상면을 포함할 수 있다. 도 8b 및 도 8c에 도시된 바와 같이, 덮개(CR)가 개방된 경우, 덮개(CR)의 상면에는 제1 절곡부(P1b) 및 제2 절곡부(P2b)들의 적어도 일 부분이 서로 마주할 수 있다.

또한, 도 8d를 참조하면, 검사장치(500)가 제2 방향(D2)을 따라 움직임에 따라, 커넥터(CN)로부터 분리될 수 있다. 자세하게, 검사장치(500)가 제2 방향(D2)을 따라 움직임에 따라, 제1 절곡부(P1b) 및 제2 절곡부(P2b)에 의해 덮개(CR)가 폐쇄 될 수 있다. 즉, 덮개(CR)의 상면과 마주하는 제1 절곡부(P1b) 및 제2 절곡부(P2b)의 적어도 일 부분이 제2 방향(D2)을 따라 움직임에 따라, 덮개(CR)가 폐쇄되도록 회전될 수 있다. 그 결과, 신호 패드들(PDa)이 외부에 노출되지 않을 수 있다.

상술된 바와 같이, 본 발명에 따르면, 검사장치(500)는 회로기판(M-PB)에 배치된 커넥터(CN)와 별도의 연결 부재 없이 직접적으로 연결될 수 있다. 또한, 본 발명에 따르면, 커넥터(CN)의 덮개(CR)는 검사장치(500)에 포함된 제1 및 제2 후크들(521b, 522b)에 의해 자동적으로 개폐 또는 폐쇄될 수 있다.

도 9는 도 8b에 도시된 III-III’를 따라 절단한 단면도이다.

도 9는 도 6에 도시된 회로기판(M-PB) 및 커넥터(CN)에 검사회로기판(510)이 배치된 단면도이다. 따라서, 도 4을 통해 회로기판(M-PB) 및 커넥터(CN)가 설명됨에 따라, 회로기판(M-PB) 및 커넥터(CN)에 대한 설명은 생략된다.

자세하게, 도 8b 및 도 9를 참조하면, 검사회로기판(510)은 제4 절연층(ILa), 배선층(SR), 제5 절연층(ILb), 제3 연결라인들(SRa), 및 검사 패드들(PDb)을 포함한다.

제4 절연층(ILa) 상에는 복수의 배선들을 포함하는 배선층(SR)이 배치될 수 있다. 또한, 배선층(SR) 상에는 제5 절연층(ILb)이 배치될 수 있다. 배선층(SR)에 배치된 배선들은 외부 커넥터(CN-B)와 전기적으로 연결되고, 외부 커넥터(CN-B)로부터 전기적 신호를 수신할 수 있다.

제5 절연층(ILb)에는 복수의 홀들이 정의되며, 제5 절연층(ILb)에 정의된 홀들에는 제3 연결라인들(SRa)이 배치될 수 있다. 즉, 제3 연결라인들(SRa)의 일단은 배선층(SR)에 연결될 수 있으며, 타단은 검사 패드들(PDb)에 각각 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 검사장치(500)가 커넥터(CN)에 연결됨에 따라, 검사 패드들(PDb)은 커넥터(CN)에 포함된 신호 패드들(PDa)과 접촉될 수 있다.

상술된 바와 같이, 도 9를 통해 본 발명의 실시 예에 따른 검사회로기판(510)의 단면도가 설명되었으나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되지 않는다. 즉, 검사회로기판(510)의 구조는 다양하게 변경될 수 있다.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 실시 예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허 청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허 청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

100: 윈도우 부재
200: 표시모듈
300: 케이스
500: 검사장치
510: 검사회로기판
520a: 제1 커버 개폐기
521a: 제1 지지대
521b: 제1 후크
520b: 제2 커버 개폐기
522a: 제2 지지대
522b: 제2 후크

Claims (17)

1. 외부의 회로기판에 배치된 커넥터의 패드 영역에 검사 신호를 전달하는 검사 패드 영역을 포함하는 하면 및 상면을 포함하는 검사회로기판; 및
   상기 상면에 배치된 적어도 하나의 커버 개폐기를 포함하고,
   상기 커버 개폐기는, 상기 검사회로기판이 상기 커넥터에 결합될 때 상기 커넥터의 패드 영역을 커버하는 상기 커넥터의 덮개를 개방하며, 상기 검사회로기판이 상기 커넥터로부터 분리될 때 상기 덮개를 폐쇄시키는 것을 특징으로 하는 검사장치.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 커버 개폐기는 상기 상면에 배치된 지지대 및 상기 지지대에 회전 가능하게 결합된 후크를 포함하는 검사장치.
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 후크는,
   상기 지지대에 연결된 막대부; 및
   상기 막대부로부터 절곡된 절곡부를 포함하는 검사장치.
4. 제 2 항에 있어서,
   상기 후크는 상기 상면으로부터 소정의 기울기를 갖는 것을 특징으로 하는 검사장치.
5. 제 2 항에 있어서,
   상기 후크는 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
6. 제 1 항에 있어서,
   상기 검사회로기판은,
   절연층;
   상기 절연층 상에 배치된 배선들; 및
   상기 검사 패드 영역에 배치되며, 상기 배선들과 전기적으로 연결된 복수의 검사 패드들을 포함하는 검사장치.
7. 제 6 항에 있어서,
   상기 검사회로기판이 상기 커넥터에 결합됨에 따라, 상기 검사 패드들은 상기 패드 영역에 배치된 복수의 신호 패드들과 접촉하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
8. 제 1 항에 있어서,
   상기 검사회로기판에 배치되며, 외부 장치와 연결되기 위한 검사 커넥터를 더 포함하는 검사장치.
9. 패드 영역 및 상기 패드 영역을 커버하는 덮개를 포함하는 회로기판의 커넥터에 검사장치의 검사 패드 영역을 결합하는 단계;
   상기 검사 패드 영역에서 상기 패드 영역으로 검사 신호를 제공하는 단계;
   상기 회로기판으로 제공된 상기 검사 신호를 이용하여 상기 회로기판과 전기적으로 연결된 표시패널의 동작을 점검하는 단계; 및
   상기 커넥터로부터 상기 검사장치를 분리하는 단계를 포함하고,
   상기 검사장치는 커버 개폐기를 포함하고,
   상기 커버 개폐기는, 상기 검사장치가 상기 커넥터에 결합될 때 상기 덮개를 개방하며, 상기 검사장치가 상기 커넥터로부터 분리될 때 상기 덮개를 폐쇄시키는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
10. 제 9 항에 있어서,
    상기 검사장치는,
    복수의 검사 패드들이 배치된 상기 검사 패드 영역을 포함하는 하면 및 상면을 포함하는 검사회로기판; 및
    상기 상면에 배치된 상기 커버 개폐기를 적어도 하나 포함하는 표시장치의 검사방법.
11. 제 10 항에 있어서,
    상기 커버 개폐기는 상기 상면에 배치된 지지대 및 상기 지지대에 회전 가능하게 결합된 후크를 포함하는 표시장치의 검사방법.
12. 제 11 항에 있어서,
    상기 후크는,
    상기 지지대에 연결된 막대부; 및
    상기 막대부로부터 절곡된 절곡부를 포함하는 표시장치의 검사방법.
13. 제 11 항에 있어서,
    상기 후크는 상기 상면으로부터 소정의 기울기를 갖는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
14. 제 11 항에 있어서,
    상기 커넥터에 상기 검사장치를 결합하는 단계는,
    상기 후크를 통해 상기 덮개를 개방시키는 단계; 및
    상기 검사 패드들을 상기 패드 영역에 포함된 복수의 신호 패드들에 접촉시키는 단계를 포함하는 표시장치의 검사방법.
15. 제 14 항에 있어서,
    상기 커넥터로부터 상기 검사장치를 분리하는 단계는,
    상기 신호 패드들로부터 상기 검사 패드들을 분리하는 단계; 및
    상기 후크를 통해 상기 덮개를 폐쇄시키는 단계를 포함하는 표시장치의 검사방법.
16. 제 11 항에 있어서,
    상기 후크는 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
17. 제 9 항에 있어서,
    상기 커넥터는,
    상기 패드 영역에 포함된 복수의 신호 패드들이 배치된 체결홈을 포함하는 하우징; 및
    상기 하우징에 연결되어 상기 체결홈을 커버하는 상기 덮개를 포함하는 표시장치의 검사방법.

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