KR20170066492A - 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로, 방법 및 광학 측정 시스템 - Google Patents

광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로, 방법 및 광학 측정 시스템 Download PDF

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Abstract

광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로가 개시된다, 그리고 회로는 간단하고 자동적인 측정을 수행한다. 조정 회로는 포함한다: 광 신호를 감지하고 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하기 위한, 광학 센싱 모듈 (101); 전압 신호를 증폭시키기 위한, 증폭 모듈 (102); 전압 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A/D 변환 모듈 (104); 디지털 신호를 분석하기 위한, 제어 모듈 (105); 분석 결과에 따라 각각의 주파수 구형파 신호를 출력하기 위한 신호 생성 모듈 (106); 및 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 인자를 조정하기 위한 조정 모듈 (103).

Description

광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로, 방법 및 광학 측정 시스템{REGULATOR CIRCUIT, METHOD AND OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM FOR MEASURING OPTICAL PARAMETER}
본 발명은 일반적으로 광학 파라미터를 측정하는 기술 분야에 관련된 것이다, 그리고 더 구체적으로 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로와 방법 및 광학 측정 시스템에 관련된 것이다.
평면 패널 디스플레이 분야에서 널리 사용되는 광학 측정 시스템은 주로 광학 파라미터를 측정하는 것을 실행한다. 가장 많이 흔한 파라미터는 휘도 값이다. 실제는, 휘도 값의 변화 범위가 크기 때문에, 측정 범위는 실제적인 요구들을 맞출 수 없다. 따라서, 복수의 측정 범위들이 광학 측정 시스템에 요구된다.
선행 기술에서, 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하는 것은 복수의 측정 범위들을 구현할 수 있다. 도 1에 보여지는 것처럼, 광학 측정 시스템은 광학 센싱 모듈 11, 증폭 모듈 12, A/D 변환 모듈 13, 제어 모듈 14, 그리고 조정 모듈 15 을 포함한다. 조정 모듈 15 은 제1 저항기 R0, 다수의 조정 저항기들 R1-RN, 그리고 다수의 스위치들 K1-KN 을 포함한다. 조정 저항기들 R1-RN 의 각각은 스위치들 K1-KN 의 하나와 직렬로 연결된다, 그리고 조정 저항기들 R1-RN 은 병렬로 연결된다. 도 1에서, 스위치들 K1-KN 은 수동으로 턴온되거나 턴오프된다. 증폭 인자는 스위치들 K1-KN 을 스위칭함에 의해 제어된다. 그러나, 도 1에서 측정 범위들의 수는 고정된다, 그리고 따라서 연속적인 변화는 측정될 수 없다. 게다가, 측정 범위들의 수가 증가하면, 회로들은 복잡해진다, 따라서 간소화된 회로들이 구현될 수 없다. 또한, 스위치들 K1-KN 이 수동으로 턴온되거나 턴오프되기 때문에, 자동적인 측정이 이루어질 수 없다.
결론적으로, 선행 기술에서 전술된 문제점들을 해결하기 위한 새로운 기술적인 방법이 제공될 필요가 있다.
본 발명의 목적은 측정 범위들의 수가 증가될 때 측정 범위들의 수가 고정되고, 연속적인 변화를 측정할 수 없고, 회로들이 복잡하고, 간소화된 회로들이 구현될 수 없으며, 스위치들이 수동으로 턴온되거나 턴오프되기 때문에 자동적인 측정이 수행될 수 없는 선행 기술에서 문제점들을 해결하는 것을 목적으로 하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로와 방법 및 광학 측정 시스템을 제공하는 것이다.
전술된 문제점들을 해결하기 위하여, 본 발명의 기술적인 방법은 다음과 같이 설명된다. 본 발명에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 포함한다: 광 신호를 감지하고 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하기 위한 광학 센싱 모듈; 전압 신호를 증폭시키기 위한 증폭 모듈; 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A/D 변환 모듈; 분석된 결과를 생성하기 위해 디지털 신호를 분석하기 위한 제어 모듈; 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하기 위한 신호 생성 모듈; 및 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하기 위한 조정 모듈. 제어 모듈은 A/D 변환 모듈에 의해 전송된 디지털 신호를 분석하고 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단한다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈은 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 신호 생성 모듈을 제어하여, 대응하는 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하도록 조정 모듈을 제어한다. 증폭 모듈의 증폭 인자가 조정된 후에, 제어 모듈은 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단한다. 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈은 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 신호 생성 모듈을 더 제어하여, 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하도록 증폭 모듈을 제어한다. 전술된 판단 단계들은 제어 모듈이 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복된다.
본 발명에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 포함한다: 광 신호를 감지하고 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하기 위한 광학 센싱 모듈; 전압 신호를 증폭시키기 위한 증폭 모듈; 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A/D 변환 모듈; 분석된 결과를 생성하기 위해 디지털 신호를 분석하기 위한 제어 모듈; 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하기 위한 신호 생성 모듈; 및 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하기 위한 조정 모듈.
바람직하게, 증폭 모듈의 제1 입력 단은 광학 센싱 모듈과 전기적으로 연결된다. 조정 모듈의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결된다, 그리고 조정 모듈의 제2 단은 증폭 모듈의 제2 입력 단과 전기적으로 연결된다. A/D 변환 모듈의 제1 단은 증폭 모듈의 출력 단과 전기적으로 연결된다, 그리고 A/D 변환 모듈의 제1 단은 조정 모듈의 제3 단과 전기적으로 더 연결된다. 제어 모듈은 A/D 변환 모듈의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 신호 생성 모듈의 제1 단은 제어 모듈과 전기적으로 연결된다, 그리고 신호 생성 모듈의 제2 단은 조정 모듈의 제4 단과 전기적으로 연결된다.
바람직하게, 조정 모듈은 조정 저항기, 조정 캐패시터, 및 제어 스위치를 포함한다. 조정 저항기의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결된다, 그리고 조정 저항기의 제2 단은 증폭 모듈의 제2 입력 단과 전기적으로 연결된다. 조정 캐패시터의 제1 단은 조정 저항기의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치의 제1 단은 조정 캐패시터의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치의제2 단은 A/D 변환 모듈의 제1 단 및 증폭 모듈의 출력 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치의 제3 단은 신호 생성 모듈의 제2 단과 전기적으로 연결된다.
바람직하게, 조정 모듈은 조정 저항기, 조정 인덕터, 및 제어 스위치를 포함한다. 조정 저항기의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결된다, 그리고 조정 저항기의 제2 단은 증폭 모듈의 제2 입력 단과 전기적으로 연결된다. 조정 인덕터의 제1 단은 조정 저항기의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치의 제1 단은 조정 인덕터의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치의 제2 단은 A/D 변환 모듈의 제1 단 및 증폭 모듈의 출력 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치의 제3 단은 신호 생성 모듈의 제2 단과 전기적으로 연결된다.
바람직하게, 신호 생성 모듈은 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하기 위해 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력한다. 조정 캐패시터의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정된다.
바람직하게, 신호 생성 모듈은 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하기 위해 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력한다. 조정 인덕터의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정된다.
본 발명에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법은 포함한다: 광 신호를 감지하고 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하고; 전압 신호를 증폭시키고; 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환하고; 분석된 결과를 생성하기 위해 디지털 신호를 분석하고; 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하고; 그리고 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하고.
바람직하게, 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하는 단계는 포함한다: 주파수 구형파 신호에 따라 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하고; 주파수 구형파 신호에 따라 조정 캐패시터의 임피던스 값을 조정하고; 그리고 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 다라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하고.
바람직하게, 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하는 단계는 포함한다: 주파수 구형파 신호에 따라 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하고; 주파수 구형파 신호에 따라 조정 인덕터의 임피던스 값을 조정하고; 그리고 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하고.
본 발명에 의해 제공되는 광학 측정 시스템은 전술된 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로를 포함한다.
선행 기술과 비교하면, 본 발명은 제어 모듈과 함께 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단한다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 신호 생성 모듈은 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하여, 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어한다. 조정 캐패시터 또는 조정 인덕터의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 가장 좋은 증폭 인자로 조정된다. 결과적으로, 광학 측정 시스템에서 범위 또는 증폭 인자의 연속적인 변화는 본 발명에 리액턴스 원리를 적용함에 의해 구현될 수 있다, 그리고 측정 정확도를 증가시킬 수 있다. 선행 기술과 비교하면, 본 발명의 회로는 더 간단하다, 그리고 비용이 절약된다. 게다가, 자동적인 측정이 구현될 수 있다.
본 발명의 전술된 내용의 더 좋은 이해를 위해, 바람직한 실시예들이 더 많은 설명을 위해 첨부된 도면들에 따라 설명된다.
도 1은 선행 기술에서 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조적인 도면을 보여준다;
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따라 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조적인 도면을 보여준다;
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따라 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조적인 도면을 보여준다;
도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따라 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조적인 도면을 보여준다;
도 5는 본 발명의 실시예에 따라 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법의 흐름도를 보여준다;
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하는 흐름도를 보여준다; 그리고
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하는 흐름도를 보여준다.
명세서에서 용어 "실시예"는 하나 이상의 발명들의 구현 또는 예시를 나타낸다. 또한, 여기 명세서와 다음 청구범위를 통해 사용된 것처럼, "하나의"의 의미는 문맥이 명확하게 달리 지시하지 않으면 복수의 참조를 포함한다.
실시예 1
도 2를 참조한다. 도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조적인 도면을 보여준다. 편의를 위해, 본 발명에서 본 실시예에 대응하는 부분들만 도시된다.
광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 광학 센싱 모듈 101, 증폭 모듈 102, 조정 모듈 103, A/D(아날로그를 디지털로) 변환 모듈 104, 제어 모듈 105, 및 신호 생성 모듈 106 을 포함한다. 증폭 모듈 102 의 제1 입력 단은 광학 센싱 모듈 101 과 전기적으로 연결된다. 조정 모듈 103 의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결된다, 그리고 조정 모듈 103 의 제2 단은 증폭 모듈 102 의 제2 입력 단과 전기적으로 연결된다. A/D 변환 모듈 104 의 제1 단은 증폭 모듈 102 의 출력 단과 전기적으로 연결된다, 그리고 A/D 변환 모듈 104 의 제1 단은 조정 모듈 103 의 제3 단과 전기적으로 연결된다. 제어 모듈 105 은 A/D 변환 모듈 104 의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 신호 생성 모듈 106 의 제1 단은 제어 모듈 105 과 전기적으로 연결된다, 그리고 신호 생성 모듈 106 의 제2 단은 조정 모듈 103 의 제4 단과 전기적으로 연결된다.
광학 센싱 모듈 101 은 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하고 전압 신호를 증폭 모듈 102 로 출력한다. 증폭 모듈 102 은 전압 신호를 증폭시키고 증폭된 전압 신호를 A/D 변환 모듈 104 로 출력한다. A/D 변환 모듈 104 은 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환한다. 제어 모듈 105 은 분석된 결과를 생성하기 위해 A/D 변환 모듈 104 에 의해 전송된 디지털 신호를 분석하고 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하도록 신호 생성 모듈 106 을 제어한다. 조정 모듈 103 은 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈 102 의 증폭 인자를 조정한다.
본 발명의 본 실시예에서, 제어 모듈 105 은 A/D 변환 모듈 104 에 의해 전송된 디지털 신호를 분석하고 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단한다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 105 은 신호 생성 모듈 106 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈 102 의 증폭 인자를 조정하도록 조정 모듈 103 을 제어한다. 증폭 모듈 102 의 증폭 인자가 조정된 후에, 제어 모듈 105 은 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단한다. 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 105 은 신호 생성 모듈 106 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 더 제어하여, 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈 102 의 증폭 인자를 조정하도록 조정 모듈 103 을 제어한다. 전술된 판단 단계들은 제어 모듈 105 이 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복된다.
그러나, 광학 센싱 모듈 101 이 광전 센서일 수 있음을 알 수 있다. 제어 모듈 105 은 마이크로 컨트롤 유닛 (MCU) 일 수 있다. 증폭 모듈 102 과 조정 모듈 103 은 증폭기 내에 설치될 수 있다. 증폭기는 연산 증폭기일 수 있다. A/D 변환 모듈 104 은 A/D 컨버터일 수 있다. A/D 변환 모듈 104 은 제어 모듈 105 에 통합될 수도 있다.
위에 언급된 것으로부터 본 실시예에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 제어 모듈 105 과 함께 판단하는 것을 알 수 있다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 105 은 신호 생성 모듈 106 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈 102 의 증폭 인자를 가장 좋은 증폭 인자로 조정하도록 조정 모듈 103 을 제어한다. 결과적으로, 광학 측정 시스템에서 범위 또는 증폭 인자의 연속적인 변화는 본 실시예에서 구현될 수 있다, 그리고 측정 정확도를 증가시킬 수 있다. 선행 기술과 비교하여, 본 실시예에서 회로는 더 간단하다, 그리고 비용이 절감된다. 또한, 자동적인 측정이 본 실시예에서 구현될 수 있다.
실시예 2
도 3을 참조한다. 도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조적인 도면을 보여준다. 편의를 위해, 본 발명에서 본 실시예에 대응하는 부분들만 도시된다.
광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 광학 센싱 모듈 201, 증폭 모듈 202, 조정 모듈 203, A/D (아날로그를 디지털로) 변환 모듈 204, 제어 모듈 205, 및 신호 생성 모듈 206 을 포함한다. 증폭 모듈 202 의 제1 입력 단은 광학 센싱 모듈 201 과 전기적으로 연결된다. 조정 모듈 203 은 조정 저항기 R0, 조정 캐패시터 C, 및 제어 스위치 Q 를 포함한다. 조정 저항기 R0 의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결된다. 조정 저항기 R0 의 제2 단은 증폭 모듈 202 의 제2 입력 단과 전기적으로 연결된다. 조정 캐패시터 C 의 제1 단은 조정 저항기 R0 의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q 의 제1 단은 조정 캐패시터 C 의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q 의 제2 단은 증폭 모듈 202 의 출력 단과 전기적으로 연결된다. A/D 변환 모듈 204 의 제1 단은 증폭 모듈 202 의 출력 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q 의 제2 단은 A/D 변환 모듈 204 의 제1 단과 전기적으로 연결된다. 제어 모듈 205 은 A/D 변환 모듈 204 의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 신호 생성 모듈 206 의 제1 단은 제어 모듈 205 과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q 의 제3 단은 신호 생성 모듈 206 의 제2 단과 전기적으로 연결된다.
광학 센싱 모듈 201 은 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하고 전압 신호를 증폭 모듈 202 로 출력한다. 증폭 모듈 202 은 전압 신호를 증폭시키고 증폭된 전압 신호를 A/D 변환 모듈 204 로 출력한다. A/D 변환 모듈 204 은 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환한다. 제어 모듈 205 은 분석된 결과를 생성하기 위해 A/D 변환 모듈 204 에 의해 전송된 디지털 신호를 분석하고 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하도록 신호 생성 모듈 206 을 제어하여, 제어 스위치 Q 가 턴온되거나 턴오프되도록 제어한다. 조정 캐패시터 C 의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 202 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R0 의 저항 값에 따라 조정된다.
본 발명의 본 실시예에서, 제어 모듈 205 은 A/D 변환 모듈 204 에 의해 전송된 디지털 신호를 분석하고 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단한다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 205 은 신호 생성 모듈 206 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 제어 스위치 Q 가 턴온되도록 제어한다. 조정 캐패시터 C 의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 202 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R0 의 저항 값에 따라 조정된다. 증폭 모듈 202 의 증폭 인자가 조정된 후에, 제어 모듈 205 은 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단한다. 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 205 은 신호 생성 모듈 206 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 더 제어하여, 제어 스위치 Q 가 턴온되도록 제어한다. 조정 캐패시터 C 의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 202 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R0 의 저항 값에 따라 조정된다. 전술된 판단 단계들은 제어 모듈 205 이 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복된다. 제어 모듈 205 은 제어 스위치 Q 가 턴오프되도록 제어하기 위해 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 신호 생성 모듈 206 을 제어한다.
위에 언급된 것으로부터 본 실시예에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 제어 모듈 205 과 함께 판단하는 것을 알 수 있다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 205 은 신호 생성 모듈 206 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 제어 스위치 Q 가 턴온되도록 제어한다. 조정 캐패시터 C 의 임피던스 값이 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 202 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R0 의 저항 값에 따라 가장 좋은 증폭 인자로 조정된다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단되면, 제어 모듈 205 은 신호 생성 모듈 206 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 제어 스위치 Q 가 턴오프되도록 제어한다. 결과적으로, 광학 측정 시스템에서 범위 또는 증폭 인자의 연속적인 변경이 본 실시예에 용량성 리액턴스 원리를 적용함에 의해 구현될 수 있다, 그리고 측정 정확도가 증가될 수 있다. 선행 기술과 비교하면, 본 실시예에서 회로는 더 간단하다, 그리고 비용이 절감된다. 또한, 자동적인 측정이 본 실시예에서 구현될 수 있다.
실시예 3
도 4를 참조한다. 도 4는 본 발명의 제3 실시예에 따른 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조적인 도면을 보여준다. 편의를 위해, 본 발명의 본 실시예에 대응하는 부분들만 도시된다.
광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 광학 센싱 모듈 301, 증폭 모듈 302, 조정 모듈 303, A/D (아날로그를 디지털로) 변환 모듈 304, 제어 모듈 305, 및 신호 생성 모듈 306 을 포함한다. 증폭 모듈 302 의 제1 입력 단은 광학 센싱 모듈 301 과 전기적으로 연결된다. 조정 모듈 303 은 조정 저항기 R1, 조정 인덕터 L, 및 제어 스위치 Q1 을 포함한다. 조정 저항기 R1 의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결된다. 조정 저항기 R1 의 제2 단은 증폭 모듈 302 의 제2 입력 단과 전기적으로 연결된다. 조정 인덕터 L 의 제1 단은 조정 저항기 R1 의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q1 의 제1 단은 조정 인덕터 L 의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q1 의 제2 단은 증폭 모듈 302 의 출력 단과 전기적으로 연결된다. A/D 변환 모듈 304 의 제1 단은 증폭 모듈 302 의 출력 단과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q1 의 제2 단은 A/D 변환 모듈 304 의 제1 단과 전기적으로 연결된다. 제어 모듈 305 은 A/D 변환 모듈 304 의 제2 단과 전기적으로 연결된다. 신호 생성 모듈 306 의 제1 단은 제어 모듈 305 과 전기적으로 연결된다. 제어 스위치 Q1 의 제3 단은 신호 생성 모듈 306 의 제2 단과 전기적으로 연결된다.
광학 센싱 모듈 301 은 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하고 전압 신호를 증폭 모듈 302 로 출력한다. 증폭 모듈 302 은 전압 신호를 증폭시키고 증폭된 전압 신호를 A/D 변환 모듈 304 로 출력한다. A/D 변환 모듈 304 은 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환한다. 제어 모듈 305 은 분석된 결과를 생성하기 위해 A/D 변환 모듈 304 에 의해 전송된 디지털 신호를 분석하고 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하도록 신호 생성 모듈 306 을 제어하여, 제어 스위치 Q1 이 턴온되거나 턴오프되도록 제어한다. 조정 인덕터 L 의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 302 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R1 의 저항 값에 따라 조정된다.
본 발명의 본 실시예에서, 제어 모듈 305 은 A/D 변환 모듈 304 에 의해 전송된 디지털 신호를 분석하고 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단한다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 305 은 신호 생성 모듈 306 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 제어 스위치 Q1 이 턴온되도록 제어한다. 조정 인덕터 L 의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 302 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R1 의 저항 값에 따라 조정된다. 증폭 모듈 302 의 증폭 인자가 조정된 후에, 제어 모듈 305 은 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단한다. 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 305 은 신호 생성 모듈 306 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 더 제어하여, 제어 스위치 Q1 이 턴온되도록 제어한다. 조정 인덕터 L 의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 302 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R1 의 저항 값에 따라 조정된다. 전술된 판단 단계들은 제어 모듈 305 이 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복된다. 제어 모듈 305 은 제어 스위치 Q1 가 턴오프되도록 제어하기 위해 신호 생성 모듈 306 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어한다.
위에 언급된 것으로부터 본 실시예에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로는 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 제어 모듈 305 과 함께 판단하는 것을 알 수 있다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈 305 은 신호 생성 모듈 306 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 제어 스위치 Q1 이 턴온되도록 제어한다. 조정 인덕터 L 의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈 302 의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기 R1 의 저항 값에 따라 가장 좋은 증폭 인자로 조정된다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단되면, 제어 모듈 305 은 신호 생성 모듈 306 이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 제어 스위치 Q1 이 턴오프되도록 제어한다. 결과적으로, 광학 측정 시스템에서 범위 또는 증폭 인자의 연속적인 변경이 본 실시예에 용량성 리액턴스 원리를 적용함에 의해 구현될 수 있다, 그리고 측정 정확도가 증가될 수 있다. 선행 기술과 비교하면, 본 실시예에서 회로는 더 간단하다, 그리고 비용이 절감된다. 또한, 자동적인 측정이 구현될 수 있다.
도 5를 참조한다. 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법의 흐름도를 보여준다.
광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법은 다음 단계들을 포함한다.
단계 S101 에서, 광 신호가 감지된다, 그리고 감지된 광 신호가 전압 신호로 변환된다.
단계 S102 에서, 전압 신호가 증폭된다.
단계 S103 에서, 증폭된 전압 신호가 디지털 신호로 변환된다.
단계 S104 에서, 디지털 신호가 분석된 결과를 생성하기 위해 분석된다.
본 발명의 본 실시예에서, 제어 모듈 (예. 마이크로컨트롤러 유닛(MCU)) 은 디지털 신호를 분석하기 위해 활용된다, 그리고 휘도 값들과 가장 좋은 증폭 인자들 사이의 대응 테이블이 제어 모듈에 저장된다. 제어 모듈은 디지털 신호를 분석하고 대응 테이블에 따라 현재 휘도에 대응하는 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단한다. 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 대응하는 주파수 구형파 신호가 출력되고 증폭 모듈의 증폭 인자가 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈의 증폭 인자가 조정된 후에, 제어 모듈은 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단한다. 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 대응하는 주파수 구형파 신호가 출력되고 증폭 모듈의 증폭 인자가 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 전술된 판단 단계들은 제어 모듈이 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복된다.
단계 S105 에서, 대응하는 주파수 구형파 신호가 분석된 결과에 따라 출력된다.
단계 S106 에서, 증폭 모듈의 증폭 인자가 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다.
도 6을 참조한다. 단계 S106 은 본 발명의 실시예에서 다음 단계들을 포함한다.
단계 S1061 에서, 제어 스위치는 주파수 구형파 신호에 따라 턴온되거나 턴오프되도록 제어된다.
단계 S1062 에서, 조정 캐패시터의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다.
본 발명의 본 실시예에서, 조정 캐패시터의 임피던스 값은 다음과 같이 계산된다:
Xc = 1/(2πFC)
Xc는 조정 캐패시터의 임피던스 값이다, 그리고 그것의 단위는 옴(ohm)이다. F는 구형파 신호의 주파수 값이다, 그리고 그것의 단위는 헤르츠(Hz)이다. C는 캐패시턴스 값이다, 그리고 그것의 단위는 패럿(farad)이다.
단계 S1063 에서, 증폭 모듈의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정된다.
본 발명의 본 실시예에서, 증폭 인자는 다음과 같이 계산된다:
A = 1+XC/R0
A는 증폭 인자이다. XC는 조정 캐패시터의 임피던스 값이다, 그리고 그것의 단위는 옴(ohm)이다. R0은 조정 저항기의 저항 값이다, 그리고 그것의 단위는 옴(ohm)이다.
도 7을 참조한다. 단계 S106 은 본 발명의 다른 실시예에서 다음 단계들을 포함한다.
단계 S61 에서, 제어 스위치는 주파수 구형파 신호에 따라 턴온되거나 턴오프되도록 제어된다.
단계 S62 에서, 조정 인덕터의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다.
본 발명의 본 실시예에서, 조정 인덕터의 임피던스 값은 다음과 같이 계산된다:
XL = 2πFL
XL은 조정 인덕터의 임피던스 값이다, 그리고 그것의 단위는 옴(ohm)이다. F는 구형파 신호의 주파수 값이다, 그리고 그것의 단위는 헤르츠(Hz)이다. L 은 인덕턴스 값이다, 그리고 그것의 단위는 헨리(henry)이다.
단계 S63 에서, 증폭 모듈의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정된다.
본 발명의 본 실시예에서, 증폭 인자는 다음과 같이 계산된다:
A = 1+XL/R1
A는 증폭 인자이다. XL은 조정 인덕터의 임피던스 값이다, 그리고 그것의 단위는 옴(ohm)이다. R1은 조정 저항기의 저항 값이다, 그리고 그것의 단위는 옴(ohm)이다.
위에 언급된 것으로부터 본 실시예에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법은 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단한다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 증폭 모듈의 증폭 인자를 가장 좋은 증폭 인자로 조정하기 위하여, 대응하는 주파수 구형파 신호가 출력된다. 결과적으로, 광학 측정 시스템에서 범위 또는 증폭 인자의 연속적인 변경과 환경들의 다른 휘도 레벨들에서 적응적인 조정이 본 실시예에서 구현될 수 있다, 그리고 측정 정확도가 증가될 수 있다. 선행 기술과 비교하면, 자동적인 측정이 구현될 수 있다.
본 발명의 실시예는 광학 측정 시스템을 더 제공한다. 광학 측정 시스템은 위에 설명된 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로를 포함한다. 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로의 구조는 위에 세부적으로 설명된다, 그리고 그것은 여기서 반복되지 않는다.
요약하면, 실시예들에 의해 제공되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로와 방법 및 광학 측정 시스템은 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 제어 모듈과 함께 판단한다. 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 제어 모듈은 신호 생성 모듈이 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 제어하여, 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어한다. 조정 캐패시터 또는 조정 인덕터의 임피던스 값은 주파수 구형파 신호에 따라 조정된다. 증폭 모듈의 증폭 인자는 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 가장 좋은 증폭 인자로 조정된다. 결과적으로, 광학 측정 시스템에서 범위 또는 증폭 인자의 연속적인 변경이 본 발명에 리액턴스 원리를 적용함에 의해 구현될 수 있다, 그리고 측정 정확도가 증가될 수 있다. 선행 기술과 비교하면, 본 발명의 회로는 더 간단하다, 그리고 비용이 절감된다. 또한, 자동적인 측정이 구현될 수 있다.
비록 발명이 특정 바람직한 실시예 또는 실시예들과 관련되어 보여지고 설명되었지만, 동등한 변경 및 변형이 이 명세서와 부속된 도면들을 읽고 이해한 당업자에게 일어날 것은 자명하다. 특히 위에 설명된 엘리먼트들 (구성요소들, 부품들, 장치들, 조성물들, 등) 에 의해 수행되는 다양한 기능들과 관련하여, 그러한 엘리먼트들을 설명하기 위해 사용된 용어들 ("수단"에 관한 것을 포함하여) 은, 달리 지시되지 않는다면, 여기에서 본 발명의 예시적인 실시예 또는 실시예들로 설명된 기능을 수행하는 개시된 구조와 구조적으로 동등하지 않더라도, 설명된 엘리먼트 (예, 기능적으로 동등한) 의 구체적인 기능을 수행하는 어느 엘리먼트에 대응하는 것이 의도된다. 또한, 발명의 특정 특징은 하나 이상의 여러 도시된 실시예들과 관련되어 위에 설명되었을 수 있지만, 그러한 특징은 다른 실시예들의 하나 이상의 다른 특징들과 결합될 수 있고, 어느 주어진 또는 특정 애플리케이션을 위해 요구되고 이점을 가질 수 있다. 또한, 용어들 "포함하는", "포함하다", "갖는", "갖다", "함께", 또는 이들의 변형들이 상세한 설명 및/또는 청구범위에서 사용되는 범위에서, 그러한 용어들은 용어 "포함하는(comprising)"과 유사한 방식으로 포함하는 것이 의도된다.
당업자에 의해 이해되는 것처럼, 본 발명의 전술한 바람직한 실시예들은 본 발명을 제한하는 것보다 예시적이다. 첨부된 청구범위의 사상과 범위에 포함되는 다양한 변형들과 유사한 배열들을 포함하는 것으로 의도되며, 그 범위는 모든 그러한 변형들과 유사한 구조들을 포함하는 가장 넓은 해석과 일치해야만 한다.

Claims (20)

  1. 광 신호를 감지하고 상기 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하기 위한 광학 센싱 모듈;
    상기 전압 신호를 증폭시키기 위한 증폭 모듈;
    상기 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A/D 변환 모듈;
    분석된 결과를 생성하기 위해 상기 디지털 신호를 분석하기 위한 제어 모듈;
    상기 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하기 위한 신호 생성 모듈; 및
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 상기 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하기 위한 조정 모듈;을 포함하고,
    상기 제어 모듈은 상기 A/D 변환 모듈에 의해 전송된 상기 디지털 신호를 분석하고 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단하고,
    상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 상기 제어 모듈은 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 제어하여, 상기 대응하는 주파수 구형파 신호에 따라 상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자를 조정하도록 상기 조정 모듈을 제어하고;
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자가 조정된 후에, 상기 제어 모듈은 상기 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단하고,
    상기 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 상기 제어 모듈은 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 더 제어하여, 상기 주파수 구형파 신호에 따라 상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자를 조정하도록 상기 조정 모듈을 제어하고;
    위에 언급된 판단 단계들은 제어 모듈이 상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 증폭 모듈의 제1 입력 단은 상기 광학 센싱 모듈과 전기적으로 연결되고;
    상기 조정 모듈의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 상기 조정 모듈의 제2 단은 상기 증폭 모듈의 제2 입력 단과 전기적으로 연결되고;
    상기 A/D 변환 모듈의 제1 단은 상기 증폭 모듈의 출력 단과 전기적으로 연결되고, 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단은 상기 조정 모듈의 제3 단과 전기적으로 더 연결되고;
    상기 제어 모듈은 상기 A/D 변환 모듈의 제2 단과 전기적으로 연결되고; 그리고
    상기 신호 생성 모듈의 제1 단은 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되고, 상기 신호 생성 모듈의 제2 단은 상기 조정 모듈의 제4 단과 전기적으로 연결된 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 조정 모듈은,
    제1 단은 상기 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 증폭 모듈의 상기 제2 입력 단과 전기적으로 연결된 조정 저항기;
    제1 단이 상기 조정 저항기의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 조정 캐패시터; 및
    제1 단은 상기 조정 캐패시터의 제2 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단 및 상기 증폭 모듈의 상기 출력 단과 전기적으로 연결되고, 제3 단은 상기 신호 생성 모듈의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 제어 스위치를 포함하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 신호 생성 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하기 위해 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하고,
    상기 조정 캐패시터의 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고; 그리고
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제어 모듈은 상기 A/D 변환 모듈에 의해 전송된 상기 디지털 신호를 분석하고 상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 판단하고,
    상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 상기 제어 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되도록 제어하기 위해, 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 제어하고;
    상기 조정 캐패시터의 상기 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고;
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 상기 저항 값에 따라 조정되고;
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자가 조정된 후에, 상기 제어 모듈은 상기 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단하고;
    상기 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 상기 제어 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되도록 제어하기 위해, 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 더 제어하고;
    상기 조정 캐패시터의 상기 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고;
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 상기 저항 값에 따라 조정되고;
    위에 언급된 판단 단계들은 상기 제어 모듈이 상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복되고, 상기 제어 모듈은 상기 제어 스위치가 턴오프되도록 제어하기 위해, 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 제어하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 조정 모듈은,
    제1 단은 상기 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 증폭 모듈의 상기 제2 입력 단과 전기적으로 연결된 조정 저항기;
    제1 단이 상기 조정 저항기의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 조정 인덕터; 및
    제1 단은 상기 조정 인덕터의 제2 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단 및 상기 증폭 모듈의 상기 출력 단과 전기적으로 연결되고, 제3 단은 상기 신호 생성 모듈의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 제어 스위치를 포함하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 신호 생성 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하기 위해 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하고;
    상기 조정 인덕터의 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고; 그리고
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제어 모듈은 상기 A/D 변환 모듈에 의해 전송된 상기 디지털 신호를 분석하고 상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 인자인지 여부를 판단하고,
    상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 상기 제어 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되도록 제어하기 위해, 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 제어하고;
    상기 조정 인덕터의 상기 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고;
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 상기 저항 값에 따라 조정되고;
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자가 조정된 후에, 상기 제어 모듈은 상기 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자인지 여부를 더 판단하고;
    상기 조정된 증폭 인자가 가장 좋은 증폭 인자가 아닌 것으로 판단되면, 상기 제어 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되도록 제어하기 위해, 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 더 제어하고;
    상기 조정 인덕터의 상기 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고;
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 상기 저항 값에 따라 조정되고; 그리고
    위에 언급된 판단 단계들은 상기 제어 모듈이 상기 현재 증폭 인자가 가장 좋은 인자인 것으로 판단하고 출력할 때까지 반복되고, 상기 제어 모듈은 상기 제어 스위치가 턴오프되도록 제어하기 위해, 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하도록 상기 신호 생성 모듈을 제어하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  9. 광 신호를 감지하고 상기 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하기 위한 광학 센싱 모듈;
    상기 전압 신호를 증폭시키기 위한 증폭 모듈;
    상기 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A/D 변환 모듈;
    분석된 결과를 생성하기 위해 상기 디지털 신호를 분석하기 위한 제어 모듈;
    상기 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하기 위한 신호 생성 모듈; 및
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 상기 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하기 위한 조정 모듈을 포함하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 증폭 모듈의 제1 입력 단은 상기 광학 센싱 모듈과 전기적으로 연결되고;
    상기 조정 모듈의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 상기 조정 모듈의 제2 단은 상기 증폭 모듈의 제2 입력 단과 전기적으로 연결되고;
    상기 A/D 변환 모듈의 제1 단은 상기 증폭 모듈의 출력 단과 전기적으로 연결되고, 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단은 상기 조정 모듈의 제3 단과 전기적으로 더 연결되고;
    상기 제어 모듈은 상기 A/D 변환 모듈의 제2 단과 전기적으로 연결되고; 그리고
    상기 신호 생성 모듈의 제1 단은 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되고, 상기 신호 생성 모듈의 제2 단은 상기 조정 모듈의 제4 단과 전기적으로 연결된 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 조정 모듈은,
    제1 단은 상기 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 증폭 모듈의 상기 제2 입력 단과 전기적으로 연결된 조정 저항기;
    제1 단이 상기 조정 저항기의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 조정 캐패시터; 및
    제1 단은 상기 조정 캐패시터의 상기 제2 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단 및 상기 증폭 모듈의 상기 출력 단과 전기적으로 연결되고, 제3 단은 상기 신호 생성 모듈의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 제어 스위치를 포함하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 신호 생성 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하기 위해 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하고;
    상기 조정 캐패시터의 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고; 그리고
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 조정 모듈은,
    제1 단은 상기 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 증폭 모듈의 상기 제2 입력 단과 전기적으로 연결된 조정 저항기;
    제1 단이 상기 조정 저항기의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 조정 인덕터; 및
    제1 단은 상기 조정 인덕터의 제2 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단 및 상기 증폭 모듈의 상기 출력 단과 전기적으로 연결되고, 제3 단은 상기 신호 생성 모듈의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 제어 스위치를 포함하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 신호 생성 모듈은 상기 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하기 위해 상기 대응하는 주파수 구형파 신호를 출력하고;
    상기 조정 인덕터의 임피던스 값은 상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정되고; 그리고
    상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자는 상기 임피던스 값과 상기 조정 저항기의 저항 값에 따라 조정되는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로.
  15. 광 신호를 감지하고 상기 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하고;
    상기 전압 신호를 증폭하고;
    상기 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환하고;
    분석된 결과를 생성하기 위해 상기 디지털 신호를 분석하고;
    상기 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하고; 그리고
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자를 조정하는 단계는,
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하고;
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정 캐패시터의 임피던스 값을 조정하고; 그리고
    상기 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자를 조정하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자를 조정하는 단계는,
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 제어 스위치가 턴온되거나 턴오프되도록 제어하고;
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 조정 인덕터의 임피던스 값을 조정하고; 그리고
    상기 임피던스 값과 조정 저항기의 저항 값에 따라 상기 증폭 모듈의 상기 증폭 인자를 조정하는 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 방법.
  18. 광학 파라미터를 측정하기 위한 조정 회로를 포함하는 광학 측정 시스템에 있어서,
    상기 조정 회로는,
    광 신호를 감지하고 상기 감지된 광 신호를 전압 신호로 변환하기 위한 광학 센싱 모듈;
    상기 전압 신호를 증폭시키기 위한 증폭 모듈;
    상기 증폭된 전압 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A/D 변환 모듈;
    분석된 결과를 생성하기 위해 상기 디지털 신호를 분석하기 위한 제어 모듈;
    상기 분석된 결과에 따라 주파수 구형파 신호를 출력하기 위한 신호 생성 모듈; 및
    상기 주파수 구형파 신호에 따라 상기 증폭 모듈의 증폭 인자를 조정하기 위한 조정 모듈,을 포함하고,
    상기 증폭 모듈의 제1 입력 단은 상기 광학 센싱 모듈과 전기적으로 연결되고;
    상기 조정 모듈의 제1 단은 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 상기 조정 모듈의 제2 단은 상기 증폭 모듈의 제2 입력 단과 전기적으로 연결되고;
    상기 A/D 변환 모듈의 제1 단은 상기 증폭 모듈의 출력 단과 전기적으로 연결되고, 상기 A/D 변환 모듈의 제1 단은 상기 조정 모듈의 제3 단과 전기적으로 더 연결되고;
    상기 제어 모듈은 상기 A/D 변환 모듈의 제2 단과 전기적으로 연결되고; 그리고
    상기 신호 생성 모듈의 제1 단은 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되고, 상기 신호 생성 모듈의 제2 단은 상기 조정 모듈의 제4 단과 전기적으로 연결된 광학 측정 시스템.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 조정 모듈은,
    제1 단은 상기 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 증폭 모듈의 상기 제2 입력 단과 전기적으로 연결된 조정 저항기;
    제1 단이 상기 조정 저항기의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 조정 캐패시터; 및
    제1 단은 상기 조정 캐패시터의 제2 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단 및 상기 증폭 모듈의 상기 출력 단과 전기적으로 연결되고, 제3 단은 상기 신호 생성 모듈의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 제어 스위치를 포함하는 광학 측정 시스템.
  20. 제18항에 있어서,
    상기 조정 모듈은,
    제1 단은 상기 그라운드 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 증폭 모듈의 상기 제2 입력 단과 전기적으로 연결된 조정 저항기;
    제1 단이 상기 조정 저항기의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 조정 인덕터; 및
    제1 단은 상기 조정 인덕터의 제2 단과 전기적으로 연결되고, 제2 단은 상기 A/D 변환 모듈의 상기 제1 단 및 상기 증폭 모듈의 상기 출력 단과 전기적으로 연결되고, 제3 단은 상기 신호 생성 모듈의 상기 제2 단과 전기적으로 연결된 제어 스위치를 포함하는 광학 측정 시스템.
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