KR20160144701A - Picker for picking up semiconductor chip - Google Patents

Picker for picking up semiconductor chip

Info

Publication number
KR20160144701A
KR20160144701A KR1020150081149A KR20150081149A KR20160144701A KR 20160144701 A KR20160144701 A KR 20160144701A KR 1020150081149 A KR1020150081149 A KR 1020150081149A KR 20150081149 A KR20150081149 A KR 20150081149A KR 20160144701 A KR20160144701 A KR 20160144701A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
collet
holder
picker
semiconductor chip
vacuum
Prior art date
Application number
KR1020150081149A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102350553B1 (en
Inventor
이희철
김재용
Original Assignee
세메스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세메스 주식회사 filed Critical 세메스 주식회사
Priority to KR1020150081149A priority Critical patent/KR102350553B1/en
Publication of KR20160144701A publication Critical patent/KR20160144701A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102350553B1 publication Critical patent/KR102350553B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices

Abstract

A picker for picking up a semiconductor chip is disclosed. The picker comprises: a holder in which a collet is mounted to pick up the semiconductor chip; a drive shaft connected to an upper portion of the holder; and a collet body having a through hole into which the drive shaft is inserted for the holder to be moved. More specifically, a first vacuum flow path extending in an axial direction is provided in the drive shaft. In the collet body, a second vacuum flow path interconnected to the through hole in a direction vertical to an axial direction of the drive shaft is provided. In a side portion of the drive shaft, a connection hole to connect the first and the second vacuum flow path is provided.

Description

반도체 칩을 픽업하기 위한 피커{Picker for picking up semiconductor chip}[0001] The present invention relates to a picker for picking up semiconductor chips,

본 발명의 실시예들은 반도체 칩을 픽업하기 위한 피커에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 반도체 장치의 제조를 위한 다이 본딩 공정에서 인쇄회로기판 또는 리드 프레임과 같은 기판 상에 반도체 칩을 본딩하기 위하여 다이싱 테이프로부터 반도체 칩을 픽업하기 위한 피커에 관한 것이다.Embodiments of the present invention relate to pickers for picking up semiconductor chips. And more particularly to a picker for picking up a semiconductor chip from a dicing tape for bonding a semiconductor chip onto a substrate such as a printed circuit board or a lead frame in a die bonding process for manufacturing a semiconductor device.

일반적으로 반도체 소자들은 증착, 식각, 이온주입, 평탄화 등과 같은 일련의 제조 공정들을 반복적으로 수행함으로써 반도체 기판으로서 사용되는 실리콘 웨이퍼 상에 형성될 수 있다. 상기 반도체 소자들이 형성된 웨이퍼는 다이싱 공정을 통해 복수의 반도체 칩들로 개별화될 수 있으며, 상기 개별화된 반도체 칩들은 칩 본딩 공정을 통해 인쇄회로기판 또는 리드 프레임과 같은 기판 상에 본딩될 수 있다.Generally, semiconductor devices can be formed on a silicon wafer used as a semiconductor substrate by repeatedly performing a series of manufacturing processes such as deposition, etching, ion implantation, planarization, and the like. The wafer on which the semiconductor devices are formed may be individualized into a plurality of semiconductor chips through a dicing process, and the individualized semiconductor chips may be bonded on a substrate such as a printed circuit board or a lead frame through a chip bonding process.

상기 칩 본딩 공정을 수행하기 위한 장치는 상기 반도체 칩들로 분할된 웨이퍼로부터 상기 반도체 칩들을 픽업하기 위한 픽업 모듈과 상기 픽업된 반도체 칩을 기판 상에 부착시키기 위한 본딩 모듈을 포함할 수 있다. 또한, 상기 칩 본딩 장치는 상기 개별화된 반도체 칩들이 부착된 다이싱 테이프가 장착된 마운트 프레임을 지지하는 스테이지 유닛과 상기 스테이지 유닛의 하부에서 상기 반도체 칩들을 상기 다이싱 테이프로부터 분리시키기 위한 이젝트 유닛 등을 포함할 수 있다.The apparatus for performing the chip bonding process may include a pick-up module for picking up the semiconductor chips from the wafer divided into the semiconductor chips and a bonding module for attaching the picked-up semiconductor chip on the substrate. The chip bonding apparatus may further include a stage unit for supporting a mount frame on which the dicing tape with the individualized semiconductor chips mounted thereon is mounted, and an ejection unit for separating the semiconductor chips from the dicing tape at a lower portion of the stage unit . ≪ / RTI >

한편, 상기 픽업 모듈은 상기 반도체 칩을 픽업하기 위한 피커를 포함할 수 있다. 일 예로서, 대한민국 공개특허공보 제10-2011-0016192호에는 듀얼 피커 실린더 및 이를 구비 장착한 반도체 부품 픽업 이송 장치가 개시되어 있으며, 대한민국 공개특허공보 제10-2009-0010731호에는 반도체 다이를 픽업하는 피커와 상기 반도체 다이를 반전시키기 위한 플리퍼(Flipper)가 개시되어 있다.Meanwhile, the pick-up module may include a picker for picking up the semiconductor chip. As an example, Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2011-0016192 discloses a dual picker cylinder and a semiconductor part pickup transfer device equipped with the dual picker cylinder. Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2009-0010731 discloses a semiconductor pick- And a flipper for inverting the semiconductor die are disclosed.

상기 피커는 진공압을 이용하여 반도체 칩을 진공 흡착함으로서 상기 반도체 칩을 픽업할 수 있다. 이를 위하여 상기 피커는 수직 방향 구동부에 장착될 수 있으며, 또한 플리퍼에서 사용되는 경우 회전 구동부에 장착될 수 있다. 특히, 상기와 같이 진공압을 이용하여 반도체 칩을 픽업하기 위하여 상기 피커에는 진공 배관이 연결될 수 있다.The picker can pick up the semiconductor chip by vacuum suctioning the semiconductor chip using vacuum pressure. To this end, the picker may be mounted on a vertical driving part, or may be mounted on a rotary driving part when used in a flipper. In particular, a vacuum pipe may be connected to the picker to pick up the semiconductor chip using the vacuum pressure as described above.

한편, 상기와 같이 수직 및/또는 회전 구동부에 상기 피커가 장착되므로 유연한 재질의 진공 배관을 상기 피커에 장착하고 있으나 상기 피커의 이동을 고려해야 하는 이유로 상기 진공 배관의 처리에 어려움이 있다.Meanwhile, since the picker is mounted on the vertical and / or rotary driving unit as described above, a vacuum pipe of a flexible material is mounted on the picker, but it is difficult to process the vacuum pipe because the picker must be considered.

본 발명의 실시예들은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로 진공 배관의 처리가 용이한 반도체 칩 피커를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a semiconductor chip picker which can easily process a vacuum piping.

본 발명의 실시예들에 따르면, 반도체 칩 피커는, 반도체 칩을 픽업하기 위한 콜릿이 장착되는 홀더와, 상기 홀더의 상부에 연결되는 가동축과, 상기 홀더가 이동 가능하도록 상기 가동축이 삽입되는 관통공을 갖는 콜릿 바디를 포함할 수 있다. 이때, 상기 가동축에는 축 방향으로 연장하는 제1 진공 유로가 구비되고, 상기 콜릿 바디에는 상기 가동축의 축 방향에 대하여 수직하는 방향으로 상기 관통공과 연통하는 제2 진공 유로가 구비되며, 상기 가동축의 측면 부위에는 상기 제1 및 제2 진공 유로들을 연결하기 위한 연결공이 구비될 수 있다.According to embodiments of the present invention, a semiconductor chip picker includes: a holder to which a collet for picking up a semiconductor chip is mounted; a movable shaft connected to an upper portion of the holder; And a collet body having a through-hole. At this time, the movable shaft is provided with a first vacuum flow path extending in the axial direction, and the collet body is provided with a second vacuum flow path communicating with the through hole in a direction perpendicular to the axial direction of the movable shaft, And the side surface may be provided with a connection hole for connecting the first and second vacuum flow paths.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 연결공은 상기 축 방향으로 연장하는 장공 형태를 가질 수 있다.According to embodiments of the present invention, the connection hole may have a slot shape extending in the axial direction.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 홀더와 상기 콜릿 바디 사이에는 상기 반도체 칩을 픽업하는 동안 충격을 완화하기 위한 탄성 부재가 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, an elastic member may be disposed between the holder and the collet body to relieve an impact during pickup of the semiconductor chip.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 탄성 부재는 상기 가동축을 감싸도록 배치된 코일 스프링을 포함하며, 상기 콜릿 바디에는 상기 코일 스프링이 삽입되는 리세스가 구비될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the elastic member includes a coil spring arranged to surround the movable shaft, and the collet body may be provided with a recess into which the coil spring is inserted.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 콜릿 바디에는 상기 가동축의 축 방향으로 연장하며 상기 관통공과 연통하는 슬롯이 구비되고, 상기 가동축의 측면 부위에는 상기 홀더와 상기 가동축의 이동 거리를 제한하기 위하여 상기 슬롯을 통해 스토퍼가 장착될 수 있다.According to the embodiments of the present invention, the collet body is provided with a slot which extends in the axial direction of the movable shaft and communicates with the through hole, and on the side portion of the movable shaft, The stopper can be mounted through the slot.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 콜릿과 상기 홀더에는 상기 제1 진공 유로와 연결되는 진공홀들이 구비될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the collet and the holder may be provided with vacuum holes connected to the first vacuum passage.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 홀더에는 영구자석이 내장되며, 상기 콜릿은 상기 영구자석의 자기력에 의해 상기 홀더에 장착되도록 자성체 패드를 구비할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the holder includes a permanent magnet, and the collet may include a magnetic material pad to be mounted on the holder by the magnetic force of the permanent magnet.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 홀더의 측면 부위에는 상기 콜릿의 장착시 상기 홀더와 상기 콜릿 사이의 정렬을 위한 식별 마크가 구비될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the side surface of the holder may be provided with an identification mark for alignment between the holder and the collet when the collet is mounted.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 홀더의 하부면 부위에는 상기 콜릿의 장착시 상기 콜릿을 안내하는 가이드 부재들이 구비될 수 있다.According to embodiments of the present invention, guide members for guiding the collet when the collet is mounted may be provided on the lower surface of the holder.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 콜릿 바디는 상기 반도체 칩의 픽업을 위한 구동부에 하나의 체결 부재를 이용하여 장착되며, 상기 콜릿 바디의 측면 부위에는 상기 콜릿 바디의 장착 위치를 정렬하기 위한 기준 핀이 삽입되는 기준 홈이 구비될 수 있다.According to the embodiments of the present invention, the collet body is mounted to a driving part for picking up the semiconductor chip using one fastening member, and a side part of the collet body is provided with a reference for aligning the mounting position of the collet body A reference groove into which the pin is inserted may be provided.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 반도체 칩을 픽업하기 위한 피커는 콜릿이 장착되는 홀더와, 상기 홀더의 상부에 연결되는 가동축과, 상기 홀더가 이동 가능하도록 상기 가동축이 삽입되는 관통공을 갖는 콜릿 바디를 포함할 수 있다. 이때, 상기 가동축에는 제1 진공 유로가 축 방향으로 형성되고, 상기 콜릿 바디에는 상기 축 방향에 대하여 수직하는 방향으로 제2 진공 유로가 형성되며, 또한 상기 가동축의 측면 부위에는 상기 제1 및 제2 진공 유로들을 서로 연결하기 위한 연결공이 구비될 수 있다.According to the embodiments of the present invention as described above, the picker for picking up a semiconductor chip includes a holder to which a collet is mounted, a movable shaft connected to an upper portion of the holder, And a collet body having a through-hole. In this case, a first vacuum flow path is formed in the axial direction of the movable shaft, a second vacuum flow path is formed in the collet body in a direction perpendicular to the axial direction, And a connection hole for connecting the two vacuum channels to each other may be provided.

특히, 상기 제2 진공 유로는 진공 배관에 의해 진공 소스와 연결될 수 있다. 결과적으로, 상기 반도체 칩의 픽업 과정에서 상대적인 이동이 발생되는 상기 홀더 또는 상기 가동축에 상기 진공 배관이 직접 연결되지 않으며, 이에 따라 종래 기술과 비교하여 진공 배관의 설치가 매우 자유롭게 이루어질 수 있다.In particular, the second vacuum flow path may be connected to a vacuum source by a vacuum line. As a result, the vacuum tube is not directly connected to the holder or the movable shaft in which relative movement occurs in the pick-up process of the semiconductor chip, so that the vacuum tube can be installed much more freely than in the prior art.

또한, 상기 연결공은 상기 축 방향으로 연장하는 장공 형태를 가질 수 있으므로 상기 홀더와 상기 가동축이 상기 콜릿 바디에 대하여 상대 이동되더라도 상기 제1 및 제2 진공 유로들의 연결 상태가 일정하게 유지될 수 있다.In addition, since the connection hole may have a slot shape extending in the axial direction, even if the holder and the movable shaft are moved relative to the collet body, the connection state of the first and second vacuum channels may be maintained constant have.

추가적으로, 기준 핀을 이용하여 콜릿 바디와 피커 구동부 사이에서 정렬이 이루어질 수 있으며, 단지 하나의 체결 부재만으로 상기 콜릿 바디를 상기 피커 구동부에 장착할 수 있으므로 상기 피커의 전체적인 무게가 감소될 수 있으며, 이에 따라 상기 피커 구동부에 가해지는 부하가 감소될 수 있다.In addition, alignment can be performed between the collet body and the picker driving unit using the reference pin, and since the collet body can be mounted to the picker driving unit with only one fastening member, the overall weight of the picker can be reduced, The load applied to the picker driving unit can be reduced.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 칩 피커를 포함하는 칩 본딩 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 반도체 칩 피커를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 3 및 도 4는 도 2에 도시된 피커의 동작을 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 5 및 도 6은 도 2에 도시된 피커의 동작을 설명하기 위한 개략적인 정면도들이다.
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a schematic block diagram illustrating a chip bonding apparatus including a semiconductor chip picker according to an embodiment of the present invention; FIG.
2 is a schematic cross-sectional view for explaining the semiconductor chip picker shown in Fig.
Figs. 3 and 4 are schematic cross-sectional views for explaining the operation of the picker shown in Fig.
Figs. 5 and 6 are schematic front views for explaining the operation of the picker shown in Fig. 2. Fig.

이하, 본 발명의 실시예들은 첨부 도면들을 참조하여 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention should not be construed as limited to the embodiments described below, but may be embodied in various other forms. The following examples are provided so that those skilled in the art can fully understand the scope of the present invention, rather than being provided so as to enable the present invention to be fully completed.

본 발명의 실시예들에서 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들이 이들 사이에 개재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결되는 것으로 설명되는 경우 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다.In the embodiments of the present invention, when one element is described as being placed on or connected to another element, the element may be disposed or connected directly to the other element, . Alternatively, if one element is described as being placed directly on another element or connected, there can be no other element between them. The terms first, second, third, etc. may be used to describe various items such as various elements, compositions, regions, layers and / or portions, but the items are not limited by these terms .

본 발명의 실시예들에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.The terminology used in the embodiments of the present invention is used for the purpose of describing specific embodiments only, and is not intended to be limiting of the present invention. Furthermore, all terms including technical and scientific terms have the same meaning as will be understood by those skilled in the art having ordinary skill in the art, unless otherwise specified. These terms, such as those defined in conventional dictionaries, shall be construed to have meanings consistent with their meanings in the context of the related art and the description of the present invention, and are to be interpreted as being ideally or externally grossly intuitive It will not be interpreted.

본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화는 충분히 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차를 포함하는 것이며, 도면들에 설명된 요소들은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상은 요소들의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.Embodiments of the present invention are described with reference to schematic illustrations of ideal embodiments of the present invention. Thus, changes from the shapes of the illustrations, e.g., changes in manufacturing methods and / or tolerances, are those that can be reasonably expected. Accordingly, the embodiments of the present invention should not be construed as being limited to the specific shapes of the regions described in the drawings, but include deviations in the shapes, and the elements described in the drawings are entirely schematic and their shapes Is not intended to describe the exact shape of the elements and is not intended to limit the scope of the invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 칩 피커를 포함하는 칩 본딩 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이고, 도 2는 도 1에 도시된 반도체 칩 피커를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.FIG. 1 is a schematic view illustrating a chip bonding apparatus including a semiconductor chip picker according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic cross-sectional view illustrating the semiconductor chip picker shown in FIG.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 칩 피커(100)는 반도체 장치의 제조를 위한 칩 본딩 공정에서 반도체 칩(12)을 픽업하기 위하여 사용될 수 있다.Referring to FIG. 1, a semiconductor chip picker 100 according to an embodiment of the present invention may be used to pick up a semiconductor chip 12 in a chip bonding process for manufacturing a semiconductor device.

상기 칩 본딩 공정을 수행하기 위한 장치는 도 1에 도시된 바와 같이 다이싱 공정에 의해 개별화된 복수의 반도체 칩들(12)로 이루어진 웨이퍼(10)를 지지하는 스테이지 유닛(20)과, 상기 웨이퍼(10)로부터 반도체 칩들(12)을 선택적으로 분리하기 위한 이젝트 유닛(30)과, 상기 이젝트 유닛(30)에 의해 분리된 반도체 칩(12)을 픽업하기 위한 피커(100)와, 상기 피커(100)를 이동시키기 위한 피커 구동부(40)를 포함할 수 있다.The apparatus for performing the chip bonding process comprises a stage unit 20 for supporting a wafer 10 made up of a plurality of semiconductor chips 12 individualized by a dicing process as shown in Fig. 1, A picker 100 for picking up the semiconductor chip 12 separated by the eject unit 30; a picker 100 for picking up the semiconductor chip 12 separated from the picker 100 And a picker driving unit 40 for moving the picker.

상기 웨이퍼(10)는 다이싱 테이프(14)에 부착될 수 있으며, 상기 다이싱 테이프(14)는 대략 원형 링 형태의 마운트 프레임(16)에 장착될 수 있다. 상기 스테이지 유닛(20)은 별도의 구동부(미도시)에 의해 수평 방향으로 이동 가능하게 구성된 스테이지(22)와, 상기 스테이지(22) 상에 배치되어 상기 다이싱 테이프(14)의 가장자리 부위를 지지하기 위한 확장 링(24)과, 상기 마운트 프레임(16)을 하강시킴으로써 상기 다이싱 테이프(14)를 확장시키기 위한 클램프(26) 등을 포함할 수 있다.The wafer 10 may be attached to a dicing tape 14 and the dicing tape 14 may be mounted to a mounting frame 16 in the form of a generally circular ring. The stage unit 20 includes a stage 22 configured to be movable in a horizontal direction by a separate driving unit (not shown), and a stage 22 disposed on the stage 22 to support the edge portion of the dicing tape 14 A clamp 26 for extending the dicing tape 14 by lowering the mount frame 16, and the like.

상기 피커(100)는 상기 스테이지 유닛(20)에 의해 지지된 웨이퍼(10)의 상부에 배치될 수 있으며, 상기 피커 구동부(40)의 가동 부재(42)에 장착될 수 있다. 상기 피커 구동부(40)는 상기 이젝트 유닛(30)에 의해 상기 다이싱 테이프(14)로부터 분리된 반도체 칩(12)을 픽업하기 위하여 상기 피커(100)를 수평 및 수직 방향으로 이동시킬 수 있다. 또한, 경우에 따라서, 상기 피커 구동부(40)는 상기 피커(100)에 의해 픽업된 반도체 칩(12)을 반전시키기 위하여 상기 피커(100)를 회전시킬 수도 있다.The picker 100 may be disposed on the upper side of the wafer 10 supported by the stage unit 20 and mounted on the movable member 42 of the picker driving unit 40. The picker driving unit 40 can move the picker 100 in the horizontal and vertical directions to pick up the semiconductor chip 12 separated from the dicing tape 14 by the eject unit 30. [ In some cases, the picker driving unit 40 may rotate the picker 100 to invert the semiconductor chip 12 picked up by the picker 100.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 반도체 칩 피커(100)는 상기 반도체 칩(12)을 픽업하기 위한 콜릿(110)이 장착되는 홀더(120)와, 상기 홀더(120)의 상부에 연결된 가동축(130)과, 상기 홀더(120)가 이동 가능하도록 상기 가동축(130)이 삽입되는 관통공(142)을 갖는 콜릿 바디(140)를 포함할 수 있다.2, the semiconductor chip picker 100 includes a holder 120 on which a collet 110 for picking up the semiconductor chip 12 is mounted, And a collet body 140 having a through hole 142 into which the movable shaft 130 is inserted so that the holder 120 can be moved.

상기 가동축(130)에는 축 방향으로 연장하는 제1 진공 유로(132)가 구비될 수 있으며, 상기 콜릿 바디(140)에는 상기 가동축(130)의 축 방향에 대하여 수직하는 방향으로 상기 관통공(142)과 연통하는 제2 진공 유로(144)가 구비될 수 있다. 또한, 상기 가동축(130)의 측면 부위에는 상기 제1 진공 유로(132)와 제2 진공 유로(144)를 연결하기 위한 연결공(134)이 구비될 수 있다.The movable shaft 130 may be provided with a first vacuum passage 132 extending in the axial direction of the movable shaft 130. The movable shaft 130 may be provided with a first vacuum passage 132 extending in a direction perpendicular to the axial direction of the movable shaft 130, And a second vacuum passage (144) communicating with the second vacuum chamber (142). The side surface of the movable shaft 130 may be provided with a connection hole 134 for connecting the first vacuum path 132 to the second vacuum path 144.

상기 제2 진공 유로(144)는 진공 배관(150)을 통해 진공 펌프 등을 포함하는 진공 소스(미도시)와 연결될 수 있다. 이때, 도시된 바와 같이 상기 진공 배관(150)은 상기 피커 구동부(40)의 가동 부재(42)에 고정될 수 있다.The second vacuum passage 144 may be connected to a vacuum source (not shown) including a vacuum pump or the like through a vacuum pipe 150. At this time, as shown in the drawing, the vacuum pipe 150 may be fixed to the movable member 42 of the picker driving unit 40.

도 3 및 도 4는 도 2에 도시된 피커의 동작을 설명하기 위한 개략적인 단면도들이고, 도 5 및 도 6은 도 2에 도시된 피커의 동작을 설명하기 위한 개략적인 정면도들이다.Figs. 3 and 4 are schematic cross-sectional views for explaining the operation of the picker shown in Fig. 2, and Figs. 5 and 6 are schematic front views for explaining the operation of the picker shown in Fig.

도 3 및 도 4를 참조하면, 상기 가동축(130)은 상기 콜릿 바디(140)의 관통공(142) 내에서 이동 가능하게 구성될 수 있다. 특히, 상기 홀더(120)와 상기 콜릿 바디(140) 사이에는 상기 피커 구동부(40)에 의해 상기 피커(100)가 상기 반도체 칩(12)을 픽업하기 위하여 하강되는 경우 상기 반도체 칩(12)과 상기 콜릿(110)과의 충격을 완화하기 위하여 탄성 부재(160)가 배치될 수 있다. 일 예로서, 상기 홀더(120)와 콜릿 바디(140) 사이에는 코일 스프링(160)이 상기 가동축(130)을 감싸도록 배치될 수 있으며 상기 콜릿 바디(140)의 하부에는 도시된 바와 같이 상기 코일 스프링(160)이 삽입되는 리세스가 구비될 수 있다.Referring to FIGS. 3 and 4, the movable shaft 130 may be configured to be movable in the through hole 142 of the collet body 140. Particularly, when the picker 100 is lowered between the holder 120 and the collet body 140 to pick up the semiconductor chip 12 by the picker driving unit 40, An elastic member 160 may be disposed to mitigate impact with the collet 110. For example, a coil spring 160 may be disposed between the holder 120 and the collet body 140 so as to surround the movable shaft 130. In the lower portion of the collet body 140, A recess into which the coil spring 160 is inserted may be provided.

상기와 같이 피커(100)가 상기 피커 구동부(40)에 의해 하강되는 경우 상기 콜릿(110)이 상기 반도체 칩(12)에 밀착된 후 상기 홀더(120)와 상기 가동축(130)은 상기 콜릿 바디(140)에 대하여 상기 축 방향으로 상대 이동될 수 있다. 이때, 상기 연결공(134)은 제1 진공 유로(132)와 제2 진공 유로(144) 사이의 연결 상태가 일정하게 유지될 수 있도록 상기 축 방향으로 연장하는 장공 형태를 가질 수 있다. 따라서, 상기 홀더(120)와 가동축(130)의 이동에도 불구하고 상기 반도체 칩(12)을 픽업하기 위한 진공압이 상기 반도체 칩(12)에 일정하게 제공될 수 있다.When the picker 100 is lowered by the picker driving unit 40 as described above, after the collet 110 is brought into close contact with the semiconductor chip 12, the holder 120 and the movable shaft 130 are moved together with the collet 110, And can be moved relative to the body 140 in the axial direction. At this time, the connection hole 134 may have a slot shape extending in the axial direction so that the connection state between the first vacuum path 132 and the second vacuum path 144 may be maintained constant. Therefore, the vacuum pressure for picking up the semiconductor chip 12 can be constantly provided to the semiconductor chip 12 despite the movement of the holder 120 and the movable shaft 130.

도 5 및 도 6을 참조하면, 상기 피커(100)는 상기 반도체 칩(12)을 픽업하는 동안 상기 홀더(120)와 가동축(130)의 상대 이동 거리를 제한하기 위한 스토퍼(170)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 콜릿 바디(140)에는 상기 관통공(142)과 연통하는 슬롯(146)이 상기 가동축(130)의 축 방향으로 형성될 수 있으며, 핀 형태의 스토퍼(170)가 상기 가동축(130)의 측면 부위에 상기 슬롯(146)을 통해 장착될 수 있다. 결과적으로, 상기 홀더(120)와 가동축(130)의 상대 이동 거리는 상기 슬롯(146) 내에서 상기 스토퍼(170)가 이동할 수 있는 거리로 제한될 수 있다.5 and 6, the picker 100 includes a stopper 170 for limiting a relative movement distance between the holder 120 and the movable shaft 130 while picking up the semiconductor chip 12 can do. For example, a slot 146 communicating with the through hole 142 may be formed in the collet body 140 in the axial direction of the movable shaft 130, and a stopper 170 in the form of a pin may be formed in the movable And can be mounted on the side portion of the shaft 130 through the slot 146. As a result, the relative movement distance of the holder 120 and the movable shaft 130 may be limited to a distance at which the stopper 170 can move within the slot 146.

다시 도 2를 참조하면, 상기 콜릿(110)과 홀더(120)에는 각각 진공홀들(112, 122)이 형성될 수 있으며, 상기 진공홀들(112, 122)은 상기 콜릿(110)이 상기 홀더(120)에 장착됨에 따라 서로 연결될 수 있다. 또한, 상기 홀더(120)의 진공홀(122)은 상기 제1 진공 유로(132)와 연결될 수 있다.Referring to FIG. 2 again, vacuum holes 112 and 122 may be formed in the collet 110 and the holder 120, respectively. The vacuum holes 112 and 122 may be formed in the collet 110, And may be connected to each other as they are mounted on the holder 120. Further, the vacuum hole 122 of the holder 120 may be connected to the first vacuum path 132.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 홀더(120)에는 영구자석(124)이 내장될 수 있으며, 상기 콜릿(110)은 상기 영구자석(124)의 자기력에 의해 상기 홀더(120)에 장착될 수 있도록 자성체 패드(114)를 구비할 수 있다. 예를 들면, 상기 콜릿(110)은 철제 패드(114)를 포함할 수 있으며, 상기 철제 패드(114) 아래에는 상기 반도체 칩(12)에 밀착되는 흡착 패드(116)가 구비될 수 있다. 상기 흡착 패드(116)는 상기 반도체 칩(12)의 손상을 방지하고 안정적인 진공 흡착을 위해 유연성을 갖는 수지 또는 고무 재질로 이루어질 수 있다. 일 예로서, 상기 흡착 패드(116)는 실리콘 수지로 이루어질 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the holder 120 may include a permanent magnet 124, and the collet 110 may be mounted on the holder 120 by the magnetic force of the permanent magnet 124 The magnetic substance pad 114 may be provided. For example, the collet 110 may include an iron pad 114, and an adsorption pad 116 may be provided under the iron pad 114 to closely contact the semiconductor chip 12. The absorption pad 116 may be made of resin or rubber having flexibility to prevent damage to the semiconductor chip 12 and to stably absorb the vacuum. For example, the adsorption pad 116 may be made of a silicone resin.

한편, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 상기 홀더(120)의 측면 부위에는 상기 콜릿(110)의 장착시 상기 홀더(120)와 상기 콜릿(110) 사이의 정렬을 위한 식별 마크(126)가 구비될 수 있으며, 또한, 상기 홀더(120)의 하부면에는 상기 콜릿(110)의 장착시 상기 콜릿(110)을 안내하기 위한 가이드 부재들(128)이 구비될 수 있다.5 and 6, an identification mark 126 for alignment between the holder 120 and the collet 110 when the collet 110 is mounted is formed on the side surface of the holder 120, And guide members 128 for guiding the collet 110 when the collet 110 is mounted on the lower surface of the holder 120. [

다시 도 2를 참조하면, 상기 콜릿 바디(140)는 상기 가동 부재(42)에 체결 부재(180)를 통해 장착될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 콜릿 바디(140)의 측면 부위에는 도시된 바와 같이 상기 콜릿 바디(140)의 장착 위치를 정렬하기 위한 기준 핀(182)이 삽입되는 기준 홈(148)이 구비될 수 있다. 즉, 상기 콜릿 바디(140)와 상기 가동 부재(42) 사이의 정렬이 상기 기준 핀(182)에 의해 이루어질 수 있으므로 상기 콜릿 바디(140)는 하나의 체결 부재(180), 예를 들면, 하나의 볼트를 이용하여 상기 가동 부재(142)에 체결될 수 있다.Referring again to FIG. 2, the collet body 140 may be mounted to the movable member 42 through a fastening member 180. A reference groove 148 into which a reference pin 182 for aligning a mounting position of the collet body 140 is inserted is provided at a side portion of the collet body 140 according to an embodiment of the present invention . That is, since the alignment between the collet body 140 and the movable member 42 can be made by the reference pin 182, the collet body 140 can have a single fastening member 180, for example, And can be fastened to the movable member 142 using a bolt of a bolt.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 반도체 칩(12)을 픽업하기 위한 피커(100)는 콜릿(110)이 장착되는 홀더(120)와, 상기 홀더(120)의 상부에 연결되는 가동축(130)과, 상기 홀더(120)가 이동 가능하도록 상기 가동축(130)이 삽입되는 관통공(142)을 갖는 콜릿 바디(140)를 포함할 수 있다. 이때, 상기 가동축(130)에는 제1 진공 유로(132)가 축 방향으로 형성되고, 상기 콜릿 바디(140)에는 상기 축 방향에 대하여 수직하는 방향으로 제2 진공 유로(144)가 형성되며, 또한 상기 가동축(130)의 측면 부위에는 상기 제1 및 제2 진공 유로들(132, 144)을 서로 연결하기 위한 연결공(134)이 구비될 수 있다.The picker 100 for picking up the semiconductor chip 12 includes a holder 120 on which the collet 110 is mounted and a holder 120 on which the collet 110 is mounted. And a collet body 140 having a movable shaft 130 and a through hole 142 into which the movable shaft 130 is inserted to allow the holder 120 to move. At this time, a first vacuum passage 132 is formed in the axial direction of the movable shaft 130, a second vacuum passage 144 is formed in the collet body 140 in a direction perpendicular to the axial direction, In addition, a connection hole 134 for connecting the first and second vacuum flow paths 132 and 144 to each other may be formed on a side surface of the movable shaft 130.

상기 제2 진공 유로(144)는 진공 배관(150)에 의해 진공 소스와 연결될 수 있다. 결과적으로, 상기 반도체 칩(12)의 픽업 과정에서 상대적인 이동이 발생되는 상기 홀더(120) 또는 상기 가동축(130)에 상기 진공 배관(150)이 직접 연결되지 않으며, 이에 따라 종래 기술과 비교하여 진공 배관(150)의 설치가 매우 자유롭게 이루어질 수 있다.The second vacuum passage 144 may be connected to a vacuum source by a vacuum line 150. As a result, the vacuum tube 150 is not directly connected to the holder 120 or the movable shaft 130, which is relatively moved in the pickup process of the semiconductor chip 12, The vacuum piping 150 can be installed very freely.

또한, 상기 연결공(134)은 상기 축 방향으로 연장하는 장공 형태를 가질 수 있으므로 상기 홀더(120)와 상기 가동축(130)이 상기 콜릿 바디(140)에 대하여 상대 이동되더라도 상기 제1 및 제2 진공 유로들(132, 144)의 연결 상태가 일정하게 유지될 수 있다.The connection hole 134 may have a slot shape extending in the axial direction so that even though the holder 120 and the movable shaft 130 are moved relative to the collet body 140, The connection states of the two vacuum channels 132 and 144 can be maintained constant.

추가적으로, 기준 핀(182)을 이용하여 콜릿 바디(140)와 피커 구동부(40)의 가동 부재(42) 사이에서 정렬이 이루어질 수 있으며, 단지 하나의 체결 부재(180)만으로 상기 콜릿 바디(140)를 상기 피커 구동부(40)의 가동 부재(42)에 장착할 수 있으므로 상기 피커(100)의 전체적인 무게가 감소될 수 있으며, 이에 따라 상기 피커 구동부(40)에 가해지는 부하가 감소될 수 있다.In addition, alignment may be achieved between the collet body 140 and the movable member 42 of the picker drive 40 using the reference pin 182, and only one coupling member 180 may be used to move the collet body 140, Can be mounted on the movable member 42 of the picker driving unit 40 so that the overall weight of the picker 100 can be reduced and the load applied to the picker driving unit 40 can be reduced.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the present invention as defined by the following claims It can be understood that

10 : 웨이퍼 12 : 반도체 칩
20 : 스테이지 유닛 30 : 이젝트 유닛
40 : 피커 구동부 42 : 가동 부재
100 : 피커 110 : 콜릿
112 : 진공홀 114 : 자성체 패드
116 : 흡착 패드 120 : 홀더
122 : 진공홀 124 : 영구자석
126 : 식별 마크 128 : 가이드 부재
130 : 가동축 132 : 제1 진공 유로
134 : 연결공 140 : 콜릿 바디
142 ; 관통공 144 : 제2 진공 유로
146 : 슬롯 148 : 기준 홈
150 : 진공 배관 160 : 탄성 부재
170 : 스토퍼 180 : 체결 부재
182 : 기준 핀
10: wafer 12: semiconductor chip
20: stage unit 30: ejection unit
40: Picker drive unit 42:
100: Picker 110: Collet
112: vacuum hole 114: magnetic pad
116: absorption pad 120: holder
122: Vacuum hole 124: Permanent magnet
126: Identification mark 128: Guide member
130: movable shaft 132: first vacuum channel
134: connecting ball 140: collet body
142; Through hole 144: second vacuum flow path
146: Slot 148: Reference groove
150: vacuum pipe 160: elastic member
170: stopper 180: fastening member
182: Reference pin

Claims (10)

반도체 칩을 픽업하기 위한 콜릿이 장착되는 홀더;
상기 홀더의 상부에 연결되는 가동축; 및
상기 홀더가 이동 가능하도록 상기 가동축이 삽입되는 관통공을 갖는 콜릿 바디를 포함하되,
상기 가동축에는 축 방향으로 연장하는 제1 진공 유로가 구비되고, 상기 콜릿 바디에는 상기 가동축의 축 방향에 대하여 수직하는 방향으로 상기 관통공과 연통하는 제2 진공 유로가 구비되며, 상기 가동축의 측면 부위에는 상기 제1 및 제2 진공 유로들을 연결하기 위한 연결공이 구비되는 것을 특징으로 하는 피커.
A holder to which a collet for picking up a semiconductor chip is mounted;
A movable shaft connected to an upper portion of the holder; And
And a collet body having a through hole into which the movable shaft is inserted so that the holder can be moved,
Wherein the movable shaft includes a first vacuum flow path extending in the axial direction and the collet body is provided with a second vacuum flow path communicating with the through hole in a direction perpendicular to the axial direction of the movable shaft, Wherein a connection hole for connecting the first and second vacuum flow paths is provided.
제1항에 있어서, 상기 연결공은 상기 축 방향으로 연장하는 장공 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 피커.The picker according to claim 1, wherein the connecting hole has a slot shape extending in the axial direction. 제1항에 있어서, 상기 홀더와 상기 콜릿 바디 사이에는 상기 반도체 칩을 픽업하는 동안 충격을 완화하기 위한 탄성 부재가 배치되는 것을 특징으로 하는 피커.The picker according to claim 1, wherein an elastic member is disposed between the holder and the collet body for relieving an impact during pickup of the semiconductor chip. 제3항에 있어서, 상기 탄성 부재는 상기 가동축을 감싸도록 배치된 코일 스프링을 포함하며, 상기 콜릿 바디에는 상기 코일 스프링이 삽입되는 리세스가 구비되는 것을 특징으로 하는 피커.The picker of claim 3, wherein the resilient member includes a coil spring disposed to surround the movable shaft, and the collet body is provided with a recess into which the coil spring is inserted. 제1항에 있어서, 상기 콜릿 바디에는 상기 가동축의 축 방향으로 연장하며 상기 관통공과 연통하는 슬롯이 구비되고, 상기 가동축의 측면 부위에는 상기 홀더와 상기 가동축의 이동 거리를 제한하기 위하여 상기 슬롯을 통해 스토퍼가 장착되는 것을 특징으로 하는 피커.[2] The apparatus of claim 1, wherein the collet body is provided with a slot extending in the axial direction of the movable shaft and communicating with the through hole, And a stopper is mounted to the picker. 제1항에 있어서, 상기 콜릿과 상기 홀더에는 상기 제1 진공 유로와 연결되는 진공홀들이 구비되는 것을 특징으로 하는 피커.The picker of claim 1, wherein the collet and the holder are provided with vacuum holes connected to the first vacuum passage. 제1항에 있어서, 상기 홀더에는 영구자석이 내장되며, 상기 콜릿은 상기 영구자석의 자기력에 의해 상기 홀더에 장착되도록 자성체 패드를 구비하는 것을 특징으로 하는 피커.The picker of claim 1, wherein the holder includes a permanent magnet, and the collet includes a magnetic material pad to be mounted on the holder by a magnetic force of the permanent magnet. 제1항에 있어서, 상기 홀더의 측면 부위에는 상기 콜릿의 장착시 상기 홀더와 상기 콜릿 사이의 정렬을 위한 식별 마크가 구비되는 것을 특징으로 하는 피커.2. The picker of claim 1, wherein a side surface of the holder is provided with an identification mark for alignment between the holder and the collet when the collet is mounted. 제1항에 있어서, 상기 홀더의 하부면 부위에는 상기 콜릿의 장착시 상기 콜릿을 안내하는 가이드 부재들이 구비되는 것을 특징으로 하는 피커.The picker according to claim 1, wherein guide members for guiding the collet when the collet is mounted are provided on the lower surface of the holder. 제1항에 있어서, 상기 콜릿 바디는 상기 반도체 칩의 픽업을 위한 구동부에 하나의 체결 부재를 이용하여 장착되며, 상기 콜릿 바디의 측면 부위에는 상기 콜릿 바디의 장착 위치를 정렬하기 위한 기준 핀이 삽입되는 기준 홈이 구비되는 것을 특징으로 하는 피커.[3] The apparatus of claim 1, wherein the collet body is mounted on a driving part for picking up the semiconductor chip using one fastening member, and a reference pin for aligning a mounting position of the collet body is inserted into a side part of the collet body And a reference groove is formed in the guide groove.
KR1020150081149A 2015-06-09 2015-06-09 Picker for picking up semiconductor chip KR102350553B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150081149A KR102350553B1 (en) 2015-06-09 2015-06-09 Picker for picking up semiconductor chip

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150081149A KR102350553B1 (en) 2015-06-09 2015-06-09 Picker for picking up semiconductor chip

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160144701A true KR20160144701A (en) 2016-12-19
KR102350553B1 KR102350553B1 (en) 2022-01-14

Family

ID=57735398

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150081149A KR102350553B1 (en) 2015-06-09 2015-06-09 Picker for picking up semiconductor chip

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102350553B1 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101864535B1 (en) * 2017-05-11 2018-06-04 민병직 Mold shock absorber
CN108511381A (en) * 2017-02-28 2018-09-07 韩美半导体株式会社 Engage equipment and its control method
KR20190009991A (en) * 2017-07-20 2019-01-30 인하대학교 산학협력단 Pick-and-place apparatus
KR20190096555A (en) * 2018-02-09 2019-08-20 코리아테크노(주) Device and method for transporting wafer ring using supporting wafer
KR20190096551A (en) * 2018-02-09 2019-08-20 코리아테크노(주) Wafer transfer device and wafer transfer method
KR20210055917A (en) * 2019-11-08 2021-05-18 세메스 주식회사 Apparatus for picking up a semiconductor device

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20240018871A (en) * 2022-08-03 2024-02-14 (주)제이티 Picker
KR20240018872A (en) * 2022-08-03 2024-02-14 (주)제이티 Picker

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090009641A (en) * 2007-07-20 2009-01-23 삼성전자주식회사 Apparatus for bonding semiconductor chip on substrate
KR20090012135U (en) * 2008-05-26 2009-12-01 세크론 주식회사 Apparatus for picking up a semiconductor device
KR20130009540A (en) * 2011-07-15 2013-01-23 가부시끼가이샤 히다찌 하이테크 인스트루먼츠 Biaxial driving mechanism and die bonder, and driving method for die bonder
JP2014011287A (en) * 2012-06-29 2014-01-20 Ohashi Seisakusho:Kk Feeding device for semiconductor chips

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090009641A (en) * 2007-07-20 2009-01-23 삼성전자주식회사 Apparatus for bonding semiconductor chip on substrate
KR20090012135U (en) * 2008-05-26 2009-12-01 세크론 주식회사 Apparatus for picking up a semiconductor device
KR20130009540A (en) * 2011-07-15 2013-01-23 가부시끼가이샤 히다찌 하이테크 인스트루먼츠 Biaxial driving mechanism and die bonder, and driving method for die bonder
JP2014011287A (en) * 2012-06-29 2014-01-20 Ohashi Seisakusho:Kk Feeding device for semiconductor chips

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108511381A (en) * 2017-02-28 2018-09-07 韩美半导体株式会社 Engage equipment and its control method
KR101864535B1 (en) * 2017-05-11 2018-06-04 민병직 Mold shock absorber
KR20190009991A (en) * 2017-07-20 2019-01-30 인하대학교 산학협력단 Pick-and-place apparatus
KR20190096555A (en) * 2018-02-09 2019-08-20 코리아테크노(주) Device and method for transporting wafer ring using supporting wafer
KR20190096551A (en) * 2018-02-09 2019-08-20 코리아테크노(주) Wafer transfer device and wafer transfer method
KR20210055917A (en) * 2019-11-08 2021-05-18 세메스 주식회사 Apparatus for picking up a semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
KR102350553B1 (en) 2022-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20160144701A (en) Picker for picking up semiconductor chip
KR101482870B1 (en) Apparatus for exchanging a collet
KR101422356B1 (en) Die pickup unit and die bonder including the same
US20120079672A1 (en) Unit for removing foreign matter and apparatus and method for semiconductor packaging using the same
US8857486B2 (en) Flip arm module for a bonding apparatus incorporating changeable collet tools
KR101422355B1 (en) Buffer stage and die bonder including the same
KR101977625B1 (en) Picker
KR20120064305A (en) Pick-up device for transferring diced semiconductor chips
KR102559271B1 (en) Apparatus for binding dies
KR20160149723A (en) Apparatus for ejecting dies
KR102386335B1 (en) Die pickup unit and die bonder including the same
KR101657531B1 (en) Unit for transferring a die, die bonder including the same and method of transferring a die
KR102221702B1 (en) Apparatus for supplying collets
KR101515710B1 (en) Apparatus for supplying collets
KR20170074141A (en) Flip device handler
KR101165034B1 (en) Pick up head and flip chip bonder having the same
KR101946851B1 (en) Apparatus for fabricating semi-conductor
KR101939347B1 (en) Apparatus for fabricating semi-conductor
KR101944355B1 (en) Apparatus for fabricating semi-conductor
KR20190054293A (en) Die picking-up module and die bonding apparatus including the same
KR102535165B1 (en) Magnetic pin block injector
JP7450429B2 (en) Electronic component mounting equipment
KR102011410B1 (en) Picker
JP7451259B2 (en) Electronic component mounting equipment
KR20090010731A (en) Flipper of semiconductor die bonding apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right