KR20160102234A

KR20160102234A - 다중-배향 검사 스트립

Info

Publication number: KR20160102234A
Application number: KR1020167019405A
Authority: KR
Inventors: 데이비드 엘더; 스티븐 셋포드; 앨런 폴크너; 라이언 월쉬
Original assignee: 시락 게엠베하 인터내셔날
Priority date: 2013-12-23
Filing date: 2014-12-22
Publication date: 2016-08-29
Also published as: RU2016129955A; AU2014370087A1; US20150177175A1; RU2016129955A3; RU2672191C2; US9500616B2; AU2019203036A1; JP2017500566A; AU2014370087B2; WO2015100199A1; CA2934934C; JP2019090831A; EP3087383A1; CN106068452A; JP6501783B2; CA2934934A1

Abstract

스페이서 층에 의해 분리되는 전도성 표면들을 갖는 검사 스트립이 개시되는데, 스페이서 층은 검사 스트립이 다수의 가능한 배향들로 검사 측정기 내로 삽입될 수 있게 하는 복수의 샘플 챔버들을 형성하는 섹션들로 구성된다. 검사 스트립은 또한 그의 반대 면들 상에서 전기 접촉 패드들을 포함하여, 검사 측정기가 삽입 배향에 따라 접촉 패드들과 별개로 맞닿게 할 수 있다.

Description

다중-배향 검사 스트립{MULTI-ORIENTATION TEST STRIP}

우선권

본 국제특허 출원은 2013년 12월 23일자로 출원된 선행 출원인 미국 특허 출원 제14/138,671호에 대한 파리 조약 및 35 USC §119 하의 우선권의 이익을 주장하며, 이 선행 출원은 본 명세서에 참고로 포함된다.

본 출원은 일반적으로 혈액 분석물(analyte) 측정 시스템의 분야에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 몇몇 상이한 배향들 중 임의의 배향으로 혈액 분석물 측정 시스템 내로 삽입될 수 있는 검사 스트립(test strip)에 관한 것이다.

혈당 측정 시스템은 전형적으로, 보통은 검사 스트립의 형태인 생체센서(biosensor)를 수용하도록 구성되는 측정기를 포함한다. 이러한 시스템들 중 많은 것이 휴대 가능하고, 검사가 짧은 시간량 안에 완료될 수 있기 때문에, 환자는 그의 개인 일상에 대한 현저한 방해 없이 그의 일상 생활의 통상적인 과정에서 그러한 장치를 사용할 수 있다. 당뇨병을 가진 사람은 목표 범위 내에서의 그들의 혈당의 혈당 조절을 보장하기 위해 자가 관리 과정의 일부로서 하루에 몇 번 그들의 혈당 수준을 측정할 수 있다.

현재, 검사 스트립의 삽입 시 자동적으로 작동되도록 설계된 많은 입수 가능한 휴대용 전자 분석물 측정 장치들(즉, 측정기들)이 존재한다. 측정기 내의 전기 접촉부들 또는 프롱(prong)들이 검사 스트립 상의 접촉 패드들과의 연결을 확립하는 반면, 측정기 내의 마이크로컨트롤러는 검사 스트립이 적절하게 삽입되었는지 여부를 검사 스트립으로부터의 전기 신호들을 기초로 하여 판단한다. 그러나, 검사 스트립이 적당한 배향으로 삽입되지 않으면, 장치는 작동하지 않을 것이거나, 게다가 검사 스트립이 적절하게 재삽입될 때까지 에러 메시지를 표시할 수 있다. 이러한 노력은 특히 검사 스트립이 취급하기 어려운 경우에, 삽입 전 검사 스트립을 정확하게 배향시키려고 애쓸 수도 있는 일부 사용자들에게 어려움을 줄 수 있다.

사용자가 검사 측정기를 사용할 때 스트립 배향에 집중할 필요가 없도록 다수의 배향들로 검사 측정기 내로 삽입될 수 있는 검사 스트립을 구비하는 것이 유리할 것이다. 그러한 검사 스트립은 또한 사용자가 검사 측정기를 적절히 작동시키는 법을 배우는 데 필요한 훈련량을 감소시킬 것이다.

본 명세서에 포함되고 본 명세서의 일부를 구성하는 첨부 도면은 본 발명의 현재 바람직한 실시예를 예시하며, 위에서 주어진 개괄적인 설명 및 아래에서 주어지는 상세한 설명과 함께 본 발명의 특징부를 설명하는 역할을 한다(여기서, 동일한 도면 부호는 동일한 요소를 나타낸다).
도 1a는 예시적인 분석물 측정 시스템의 다이어그램.
도 1b는 도 1a의 분석물 측정 시스템의 예시적인 처리 시스템의 다이어그램.
도 2a 내지 도 2c는 도 1a와 도 1b의 분석물 측정 시스템에 사용하기 위한 예시적인 검사 스트립의 3개의 층들을 예시하는 도면.
도 2d는 도 2a 내지 도 2c에 예시된 층들로부터 조립된 예시적인 검사 스트립의 평면도.
도 2e는 검사 측정기의 전기 접점들에 관한 도 2d의 예시적인 검사 스트립의 사시도.
도 3a 내지 도 3c는 다른 예시적인 검사 스트립의 3개의 층들을 예시하는 도면.
도 3d는 도 3a 내지 도 3c에 예시된 층들로부터 조립된 예시적인 검사 스트립의 평면도.
도 3e는 검사 측정기의 전기 접점들에 관한 도 3d의 예시적인 검사 스트립의 사시도.
도 4a 내지 도 4c는 또 다른 예시적인 검사 스트립의 3개의 층들을 예시하는 도면.
도 4d 및 도 4e는 각각, 도 4a 내지 도 4c에 예시된 층들로부터 조립된 예시적인 검사 스트립의 평면도와 저면도.

하기의 상세한 설명은 도면을 참조하여 읽어야 하며, 도면에서 여러 도면 내의 동일한 요소는 동일한 도면 부호로 지시된다. 반드시 축척대로 도시된 것이 아닌 도면은 선택된 실시예를 도시하고, 본 발명의 범주를 제한하는 것으로 의도되지 않는다. 상세한 설명은 본 발명의 원리를 제한이 아닌 예로서 예시한다. 이러한 설명은 명백하게 당업자가 본 발명을 제조 및 사용할 수 있게 할 것이고, 현재 본 발명을 실시하는 최선의 모드로 여겨지는 것을 비롯한, 본 발명의 몇몇 실시예, 개작, 변형, 대안 및 사용을 기술한다.

본 명세서에 사용되는 바와 같이, 용어 "환자" 또는 "사용자"는 임의의 사람 또는 동물 대상을 지칭하며, 본 시스템 또는 방법을 사람에 대한 용도로 제한하고자 하는 것은 아니지만, 사람 환자에 대한 본 발명의 사용이 바람직한 실시예를 나타낸다.

용어 "샘플"은 성분의 유무 또는 성분의 농도와 같은, 그의 특성들 중 임의의 것의 정성적 또는 정량적 결정을 받도록 의도되는 일정 체적의 액체, 용액 또는 현탁액, 예컨대 분석물 등을 의미한다. 본 발명의 실시예는 사람과 동물의 전혈 샘플에 적용가능하다. 본 명세서에 기술된 바와 같은 본 발명의 맥락에서의 전형적인 샘플은 혈액, 혈장, 혈청, 그의 현탁액 및 헤마토크릿(haematocrit)을 포함한다.

설명 및 청구범위 전반에 걸쳐 수치 값과 관련하여 사용되는 용어 "약"은 당업자에게 익숙하고 허용 가능한 정확도의 구간을 나타낸다. 이 용어를 지배하는 구간은 바람직하게는 ± 10%이다. 달리 명시되지 않는 한, 상기에 기술된 용어는 본 명세서에 기술된 바와 같은 그리고 청구범위에 따른 본 발명의 범주를 좁히도록 의도되지 않는다.

도 1a는 분석물 측정기(10)를 포함하는 분석물 측정 시스템(100)을 도시한다. 분석물 측정기(10)는 도 1b의 데이터 관리 유닛(data management unit, "DMU")(140)을 포함한 복수의 구성요소들을 보유하는 하우징(11)에 의해 한정되고, 하우징(11)의 일측에 제공되고 생체센서를 수용하도록 적절히 크기설정된 검사 스트립 포트(22)를 추가로 포함한다. 일 실시예에 따르면, 분석물 측정기(10)는 핸드헬드(hand held) 혈당 측정기일 수 있고, 생체센서는 혈당 측정을 수행하기 위해 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입되는 검사 스트립(24)의 형태로 제공된다. 본 명세서에서 논의되는 바와 같이, 검사 스트립(24)은 복수의 가능한 기하학적 구조들 및 구성들 중 하나를 갖는 다중-배향(multi-orientation) 검사 스트립일 수 있다. 가능한 구성들 각각은 스트립(24)이 다수의 상이한 배향들로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 수 있게 하는 검사 스트립 설계들을 한정한다. 분석물 측정기(10)는 하우징(11)의 전방 대면 측에 배치되는, 도 1a에 도시된 바와 같은 복수의 사용자 인터페이스 버튼(16)들 및 디스플레이(14)를 추가로 포함한다. 미리 결정된 개수의 포도당 검사 스트립(24)들이 하우징(11) 내에 저장되고, 혈당 검사 시에 사용되도록 접근 가능하게 될 수 있다. 복수의 사용자 인터페이스 버튼(16)은 도 1b의 DMU(140)와 관련되고, 데이터의 입력을 허용하고 데이터의 출력을 프롬프트(prompt)하고 디스플레이(14) 상에 제시되는 메뉴를 탐색하고 명령의 실행을 개시하도록 구성될 수 있다. 출력 데이터는 디스플레이(14) 상에 제시되는 분석물 농도를 나타내는 값들을 포함할 수 있다. 사용자로부터의 입력이 디스플레이(14) 상에 제시되는 프롬프트를 통해 요청될 수 있고, 그에 대한 응답이 측정기(10)의 처리 유닛에 의해 명령의 실행을 개시할 수 있거나, 응답이 분석물 측정기(10)의 메모리 모듈에 저장될 수 있다. 구체적으로 그리고 이러한 예시적인 실시예에 따르면, 사용자 인터페이스 버튼(16)은, 사용자가 디스플레이(14) 상에 제시되는 사용자 인터페이스를 통해 탐색하는 것을 허용하는 마킹(marking), 예컨대 상향-하향 화살표, 텍스트 문자 "OK" 등을 포함한다. 본 명세서에서는 버튼(16)들이 별개의 스위치들로 도시되지만, 가상 버튼들을 갖는 디스플레이(14) 상의 터치 스크린 인터페이스가 또한 이용될 수 있다.

분석물 측정 시스템(100)의 전자 구성요소들은, 예를 들어 하우징(11) 내에 위치되는 인쇄 회로 기판 상에 배치되고, 본 명세서에 설명되는 시스템의 DMU(140)를 형성할 수 있다. 도 1b는 본 실시예의 목적을 위해 하우징(11) 내에 배치되는 전자 서브시스템(subsystem)들 중 몇몇을, 단순화된 개략적인 형태로 도시한다. DMU(140)는 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러, 주문형 집적회로(application specific integrated circuit, "ASIC"), 혼합 신호 프로세서(mixed signal processor, "MSP"), 필드 프로그램가능 게이트 어레이(field programmable gate array, "FPGA"), 또는 이들의 조합의 형태의 처리 유닛(122)을 포함하고, 후술되는 바와 같이, 인쇄 회로 기판 상에 포함되거나 이에 연결되는 다양한 전자 모듈들에 전기적으로 연결된다. 처리 유닛(122)은 예를 들어 AFE(analog front end) 서브시스템(125)을 통해 검사 스트립 포트 커넥터(104)(strip port connector, "SPC")에 전기적으로 연결된다. AFE 서브시스템(125)은 혈당 검사 동안에 스트립 포트 커넥터(104)에 전기적으로 연결된다. 선택된 분석물 농도를 측정하기 위해, AFE 서브시스템(125)은 일정 전위기(potentiostat)를 사용하여, 혈액 샘플이 분석물 검사 스트립에 인가되었음을 나타내는, 분석물 검사 스트립(24)의 전극들을 가로지른 저항 크기 변화를 검출한다. 혈액 샘플이 검사 스트립(24)에 인가된 후 미리 결정된 시간에, 미리 설정된 전압 파형이 전극들을 통해 샘플을 가로질러 인가되고, 이는 샘플을 통해 전류를 생성한다. AFE 서브시스템(125)은 전류 측정치를 도 1a에 도시된 바와 같이 디스플레이(14) 상에 제시하기 위한 디지털 형태로 변환한다. 전형적으로, 분석물 농도는 데시리터당 밀리그램(mg/dl) 또는 리터당 밀리몰(mmol/l)의 단위로 표시된다. 처리 유닛(122)은 스트립 포트 커넥터(104), AFE 서브시스템(125)으로부터 입력을 수신하도록 구성될 수 있고, 또한 일정 전위기 기능 및 전류 측정 기능의 일부를 수행할 수 있다.

언급된 바와 같이, 분석물 검사 스트립(24)은, 그 다양한 실시예들이 본 명세서에 기술된, 복수의 전기화학 셀들 및/또는 샘플 챔버를 포함하는, 포도당 농도 또는 생물학적 상태의 모니터링에 적합한 다른 분석물을 측정하기 위한 검사 스트립의 형태일 수 있다. 검사 스트립(24)은 하나 이상의 전극 또는 도전성 코팅이 침착될 수 있는 하나 이상의 비다공성의 비전도성 기재(substrate) 또는 층에 의해 형성된다. 이들 전극은 작동 전극, 기준 전극, 상대(counter) 전극, 또는 조합형 상대/기준 전극으로서 기능할 수 있다. 추가적인 비전도성 층은 전극의 구조물(들)의 평면 치수를 한정하도록 적용될 수 있다. 검사 스트립(24)은 또한 복수의 전기 접촉 패드들을 포함할 수 있는데, 여기서 각각의 전극은 도 2a 내지 도 4e와 관련하여 후술되는 바와 같이 적어도 하나의 전기 접촉 패드와 전기 연통 상태에 있을 수 있다. 전술한 특징부들 각각이 본 명세서에 더 상세히 기술된다. 스트립 포트 커넥터(104)는 가요적 전도성 프롱(prong) 형태의 전기 접점을 사용하여 전기 접촉 패드와 전기적으로 인터페이싱하고 전극과의 전기 연통을 형성하도록 구성될 수 있다. 검사 스트립(24)은 작동 전극을 포함한, 검사 스트립(24) 내의 하나 이상의 전극들 위에 배치된 시약 층을 추가로 포함한다. 시약 층은 효소 및 매개체를 포함할 수 있다. 시약 층에 사용하기에 적합한 예시적인 효소는 포도당 산화 효소, (피롤로퀴놀린 퀴논 보조-인자("PQQ")를 가진) 포도당 탈수소 효소, 및 (플라빈 아데닌 다이뉴클레오티드 보조-인자("FAD")를 가진) 포도당 탈수소 효소를 포함한다. 포도당을 결정하는 데 사용되는 것 외의 효소, 예를 들어 락트산을 위한 락트산 탈수소효소, β-하이드록시부티레이트(케톤체)를 위한 β-하이드록시부티레이트 탈수소효소가 또한 적용 가능하다. 시약 층에 사용하기에 적합한 예시적인 매개체는, 이러한 경우에 산화된 형태인 페리시아나이드를 포함한다. 원하는 스트립 동작 특성에 따라 다른 매개체, 예를 들어, 페로센, 퀴논 또는 오스뮴-기반 매개체가 동등하게 적용 가능할 수 있다. 시약 층은 인가된 샘플 내의 포도당을 효소 부산물로 물리적으로 변환시키고 이 과정에서 샘플의 포도당 농도에 비례하는 소정량의 환원된 매개체(예컨대, 페로시아나이드)를 생성하도록 구성될 수 있다. 그리고 나서, 작동 전극은 미리 결정된 전압 파형을 샘플에 인가하고 환원된 매개체의 농도를 전류 크기의 형태로 측정하는 데 사용될 수 있다. 이어서, 마이크로컨트롤러(122)는 측정된 전류 크기를 디스플레이(14) 상에 제시하기 위한 포도당 농도로 변환시킬 수 있다. 그러한 전류 측정을 수행하는 예시적인 분석물 측정기가, 마치 본 출원 내에 완전히 기재된 것처럼 본 명세서에 참고로 포함된, 발명의 명칭이 "샘플 내의 분석물을 측정하기 위한 시스템 및 방법(System and Method for Measuring an Analyte in a Sample)"인 미국 특허 출원 공개 2009/0301899 A1호에 기술되어 있다.

디스플레이 프로세서 및 디스플레이 버퍼를 포함할 수 있는 디스플레이 모듈(119)은, 출력 데이터를 수신하여 표시하기 위한 그리고 처리 유닛(122)의 제어 하에서 사용자 인터페이스 입력 옵션들을 표시하기 위한 전기 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다. 그러한 메뉴 옵션과 같은 사용자 인터페이스의 구조는 사용자 인터페이스 모듈(103)에 저장되고, 혈당 측정 시스템(100)의 사용자에게 메뉴 옵션을 제시하기 위해 처리 유닛(122)에 의해 접근 가능하다. 오디오 모듈(120)이 DMU(140)에 의해 수신되거나 저장된 오디오 데이터를 출력하기 위한 스피커(121)를 포함한다. 오디오 출력은 예를 들어 통지(notification), 리마인더(reminder), 및 알람(alarm)을 포함할 수 있거나, 디스플레이(14) 상에 제시되는 표시 데이터와 함께 재생되는 오디오 데이터를 포함할 수 있다. 그러한 저장된 오디오 데이터는 처리 유닛(122)에 의해 접근될 수 있고 적절한 시기들에서 재생 데이터로서 실행될 수 있다. 일정 음량의 오디오 출력이 처리 유닛(122)에 의해 제어되고, 이러한 음량 설정은 프로세서에 의해 결정되는 바에 따라 또는 사용자에 의해 조절되는 바에 따라 설정 모듈(105)에 저장될 수 있다. 키패드 모듈(102)이 사용자 인터페이스 버튼(16)들 또는 키패드를 통해 입력들을 수신하고, 입력들은 처리되어 전기 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)으로 전송된다. 처리 유닛(122)은, 이후에 필요한 대로 나중에 접근, 업로드 또는 표시될 수 있는 혈당 측정치들의 날짜 및 시간을 기록하기 위해 인쇄 회로 기판에 연결된 디지털 시각 계시기(digital time-of-day clock)에의 전기적 접근을 가질 수 있다.

디스플레이(14)는 대안적으로, 광원 제어 모듈(115)을 통해 처리 유닛(122)에 의해 광도가 제어될 수 있는 백라이트를 포함할 수 있다. 유사하게, 사용자 인터페이스 버튼(16)들은 또한 버튼들의 광 출력을 제어하기 위해 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된 LED 광원들을 사용하여 조명될 수 있다. 광원 모듈(115)은 디스플레이 백라이트 및 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다. 모든 광원들의 디폴트 휘도 설정들뿐만 아니라 사용자에 의해 조절된 설정들은 설정 모듈(105)에 저장되고, 처리 유닛(122)에 의해 접근 가능하고 조절 가능하다.

휘발성 랜덤 액세스 메모리(random access memory, "RAM")(112), 판독 전용 메모리(read only memory, "ROM") 또는 플래시 메모리를 포함할 수 있는 비휘발성 메모리(113); 및 예를 들어 USB 데이터 포트를 통해 외부 휴대용 메모리 장치에 연결하기 위한 회로(114)를 포함하지만 이로 한정되지 않는 메모리 모듈(101)이 전기 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다. 외부 메모리 장치는 썸드라이브(thumb drive)에 내장된 플래시 메모리 장치, 휴대용 하드 디스크 드라이브, 데이터 카드, 또는 임의의 다른 형태의 전자 저장 장치를 포함할 수 있다. 온보드 메모리(on-board memory)는, 본 명세서에서 설명되는 바와 같이, 분석물 측정기(10)의 동작을 위해 처리 유닛(122)에 의해 실행되는 프로그램 형태의 다양한 내장된 애플리케이션 및 저장된 알고리즘을 포함할 수 있다. 온보드 메모리는 또한 사용자의 혈당 측정치와 관련된 날짜 및 시간을 포함하는 사용자의 혈당 측정치의 이력을 저장하는 데 사용될 수 있다. 이하 설명되는 바와 같이, 분석물 측정기(10) 또는 데이터 포트(13)의 무선 전송 성능을 사용하여, 그러한 측정 데이터는 연결된 컴퓨터들 또는 다른 처리 장치들로 유선 또는 무선 전송을 통해 전송될 수 있다.

무선 모듈(106)은 하나 이상의 내부 디지털 안테나(107)들을 통한 무선 디지털 데이터 전송 및 수신을 위한 송수신기 회로를 포함할 수 있고, 전기 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다. 무선 송수신기 회로는 집적 회로 칩, 칩셋, 처리 유닛(122)을 통해 동작 가능한 프로그램가능 기능, 또는 이들의 조합의 형태일 수 있다. 무선 송수신기 회로들 각각은 상이한 무선 전송 표준과 호환 가능하다. 예를 들어, 무선 송수신기 회로(108)는 와이파이(WiFi)로 알려진 무선 근거리 네트워크(Wireless Local Area Network) IEEE 802.11 표준과 호환 가능할 수 있다. 송수신기 회로(108)는 분석물 측정기(10)에 근접한 와이파이 액세스 포인트를 검출하고 그러한 검출된 와이파이 액세스 포인트로부터 데이터를 전송 및 수신하도록 구성될 수 있다. 무선 송수신기 회로(109)는 저전력 블루투스 프로토콜과 호환 가능할 수 있고, 분석물 측정기(10)에 근접한 블루투스 스마트 중앙 장치와 통신하도록 구성된다. 무선 송수신기 회로(110)는 근접장 통신(near field communication, "NFC") 표준과 호환가능할 수 있고, 예를 들어 분석물 측정기(10)에 근접한 다른 NFC 준수 장치와의 무선 통신을 확립하도록 구성된다. 무선 송수신기 회로(111)는 셀룰러 네트워크(cellular network)와의 셀룰러 통신을 위한 회로를 포함할 수 있고, 이용 가능한 셀룰러 통신 타워를 검출하고 그에 연결하도록 구성된다.

전원 모듈(116)은 하우징(11) 내의 모든 모듈 및 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결되어 그에 전력을 공급한다. 전원 모듈(116)은 표준형 또는 충전식 배터리(118)를 포함할 수 있거나, 분석물 측정기(10)가 AC 전력의 공급원에 연결될 때 AC 전원(117)이 작동될 수 있다. 전원 모듈(116)이 또한 처리 유닛에 전력을 공급하기 위해 그리고 처리 유닛(122)이 전원 모듈(116)의 배터리 전력 모드에서 잔류 전력 수준을 모니터링할 수 있도록 전기 인터페이스(123)를 거쳐 처리 유닛(122)에 전기적으로 연결된다.

도 2a 내지 도 2e는 검사 스트립(200)이 적어도 4개의 배향들 중 어느 하나로 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때 분석물 측정을 위해 사용될 수 있는 실질적으로 평평한(평탄한), 직사각형 검사 스트립(200)의 예시적인 실시예를 도시하며, 여기서 검사 스트립(24)은 검사 스트립(200)에 의해 한정되는 평면 내에서 회전된다. 도 2a 내지 도 2c를 참조하면, 검사 스트립(200)은 일반적으로, 완전히 조립된 검사 스트립(200)의 저부 층(210), 상부 층(230), 및 이들 사이의 스페이서 층(220)으로 본 명세서에서 지칭되는 3개의 층들에 의해 한정된다. 각각의 상부 및 저부 층(230, 210)들은 기재 기부를 각각 한정하고, 형성된 전기화학 검사 스트립의 작동, 기준, 상대 또는 조합된 기준/상대 전극들을 형성하는 전도성 재료가 예를 들어 스퍼터링, 스크린-인쇄, 플렉소 인쇄(flexo printing), 그라비어 인쇄(gravure printing), 또는 다른 수단에 의해 상부에 침착된 불활성(비전도성) 지지 또는 배킹(backing) 재료로부터 제조된다. 불활성 배킹 재료는 전체로서 검사 스트립과 형성된 전극들 각각에 적절한 구조적 지지를 제공하기에 충분히 강성이다. 그러한 적합한 재료는 플라스틱(예컨대, PET, PETG, 폴리이미드, 폴리카르보네이트, 폴리에스테르), 규소, 세라믹, 유리 등을 포함한다. 전도성 재료는 바람직하게는 금속, 또는 탄소, 도핑된 탄소 등을 포함하는 비금속인데, 여기서 관심대상의 금속은 팔라듐(Pd), 금(Au), 백금, 은, 이리듐, 도핑된 이리듐 주석 산화물, 인듐 주석 산화물을 포함할 수 있다. 동종 금속(similar metal) 및 이종 금속(dissimilar metal), 즉 Au-Au 또는 Au-Pd가 상부 및 저부 층(230, 210)들 상에 사용될 수 있다.

이러한 특정 실시예에 따른 층(210, 230)들은 전도성 코팅이 일 면 상에 스퍼터링된 폴리에스테르의 시트로부터 제조될 수 있다. 저부 층(210)에 관하여, 팔라듐 코팅(214)이 폴리에스테르의 시트 상에 스퍼터링되어 저부 층(210)의 (조립 후의) 내향면(inward facing side) 상에 전도성 코팅을 형성할 수 있다. 폴리에스테르 시트는 이어서 도 2a에 예시된 바와 같은 대체로 직사각형인 형태로 절단될 수 있으며, 여기서 대향 코너(212)들이 절두(truncation)되고, 저부 층의 중심의, 대체로 직사각형인 영역이 또한 관통 개구(218)를 형성하도록 절제된다. 시약 필름(216)이 중심 개구(218)의 내부 에지로부터 저부 층(210)의 외부 에지, 또는 외주까지 연장되는 기다란 패턴으로 전도성 층(214) 위에 침착될 수 있다. 저부 층(210)이 폴리에스테르 시트로부터 절단되기 전이나 후에 시약 필름(216)이 전도성 층(214) 상에 침착될 수 있음이 이해될 것이다.

도 2b를 참조하면, 접착제가 양면 상에 배치된, 폴리에스테르 또는 다른 비-전기 전도성 재료, 예를 들어 플라스틱(PET, PETG, 폴리이미드, 폴리카르보네이트, 폴리스티렌), 세라믹, 유리 등의 시트로부터 스페이서 층(220)이 형성될 수 있다. 조립된 검사 스트립의 전기화학 셀을 위한 간격을 한정하는 스페이서 층(220)의 두께는 약 50으로부터 약 500 마이크로미터까지 다양할 수 있고, 보통 약 50 내지 약 150 마이크로미터의 범위이다. 이러한 특정 실시예에 따르면, 접착제-코팅된 폴리에스테르 스페이서 층(220)은 각각 약 95 마이크로미터 두께인 폴리에스테르로 된 4개의 대칭으로 형상화된 섹션(226)들을 포함하며, 여기서 각각의 섹션(226)은 절두 코너(222)를 포함하고, 검사 스트립(200)이 완전히 조립된 때 인접 섹션(226)으로부터 이격되어 사이에 채널, 또는 샘플 챔버(224)를 형성한다. 이러한 특정 치수는 응용에 따라 쉽게 수정될 수 있다. 스페이서 섹션(226)들의 양면 상의 접착제 코팅은 저부 및 상부 층(230, 210)들을 중간에 배치된 스페이서 층(220)에 맞닿아 고정시킨다. 검사 스트립(200)이 조립될 때, 스페이서 층(220) 섹션(226)들 중 2개의 스페이서 층 섹션들의 절두 코너(222)들은 저부 층(210)의 2개의 절두 코너들과 정렬되는 반면, 샘플 챔버(224)는 저부 층(210)의 전도성 코팅(214) 상의 시약 층(216)의 기다란 패턴과 정렬되고, 스페이서 층 내의 개구(228)는 저부 층(210) 내의 개구(218)와 정렬된다.

도 2c를 참조하면, 이 실시예에 따라 폴리에스테르 시트로부터 형성되는 상부 층(230)은 일 면 상에 스퍼터링된 금 코팅(234)을 가져 상부 층(230)의 (조립 후의) 내향면 상에 전도성 코팅을 형성할 수 있다. 폴리에스테르 시트는 이어서 도 2c에 예시된 바와 같은 대체로 직사각형인 형태로 절단될 수 있으며, 여기서 대향 코너(232)들이 절두되고, 상부 층(230)의 중심의, 대체로 직사각형인 개구(238)가 또한 절제된다. 시약 필름(216)이 저부 층(210) 상에 침착되는 것으로 도시되어 있지만, 당업자는 시약 층이 도 2a에 도시된 바와 동일한 패턴으로 상부 층(230)의 전도성 표면(234) 상에만 침착될 수 있거나, 시약 층이 상부 및 저부 층(230, 210)들 둘 모두 상에 각각 침착될 수 있음을 인식할 것이다. 검사 스트립(200)이 조립된 때, 도 2d에 도시된 바와 같이, 상부 층(230)의 절두 코너(232)들은 저부 층(210)의 비-절두 코너들에 인접하게 조립되고, 스페이서 층(220)의 절두 코너(222)들 중 2개와 정렬된다. 이전에 기술된 바와 같이, 스페이서 층(220) 섹션(226)들의 양면 상에 배치된 접착제가 상부 및 저부 층(230, 210)들을 이에 고정시킨다. 상부 층(230)은 투명 폴리에스테르 시트로부터 제조될 수 있어, 샘플 챔버(224)가 투명 상부 층(230)과 그 상부의 금 코팅(234)을 통해 보일 수 있게 한다.

도 2d와 도 2e를 구체적으로 참조하면, 이러한 예시적인 실시예에 따른 조립된 직사각형 검사 스트립(200)은 4개의 샘플 챔버(224)들 또는 전기화학 셀들을 포함하는데, 각각의 샘플 챔버 또는 전기화학 셀은 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 입구들 중 하나에 적용되는 샘플을 수용하기 위해 검사 스트립(200)의 하나의 외부 에지(변) 또는 외주에 있는 샘플 챔버 입구로부터 검사 스트립(200)의 중심 개구(207)에 있는 내부 에지까지 연장된다. 각각의 샘플 챔버(224)는 전극들 또는 전도성 코팅(214, 234)들을 포함하는 대향 벽들에 의해 한정되는데, 이들 중 하나 또는 둘 모두는 상부에 침착된 시약 필름을 포함할 수 있고, 시약 필름은 접촉 시 혼합되도록 샘플 챔버(224)에 적용된 샘플에 노출된다. 각각의 샘플 챔버(224)는 인접 스페이서 섹션(226)들에 의해 형성되는 대향 벽들에 의해 추가로 한정된다. 조립된 검사 스트립(200)은 그의 각각의 코너에 있는 접촉 패드(215, 235)들, 및 저부 층(210) 상의 팔라듐(214) 코팅 또는 상부 층(230) 상의 금 코팅(234)의 노출된 부분을 포함한다. 조립 동안에, 상부 및 저부 층(230, 210)들의 절두 코너들과 비-절두 코너들을 각각 정렬시킴으로써, 전도성 금속성 층(214, 234)들이 노출되어, 검사 측정기(10)(이들 도면에 도시되지 않음)의 스트립 포트 커넥터(104)에 배치된 가요성의 금속성 전도체 또는 프롱(206, 208)들에 전기적으로 연결하기 위한 접촉 패드(215, 235)들을 형성한다.

여전히 도 2d와 도 2e를 참조하면, 상부 층(230)을 향해 위로 대면하는 접촉 패드(215)들은 저부 층(210)의 전도성 코팅(214)의 노출된 부분들을 포함하고, 검사 스트립(200)의 대향 코너들에 배치된다. 유사하게, 저부 층(210)을 향해 아래로 대면하는 접촉 패드(235)들은 상부 층(210) 전도성 코팅(234)의 노출된 부분들을 포함하고, 검사 스트립(200)의 대향 코너들에 배치된다. 화살표(240)는 상부 또는 저부 층(210, 230)이 위로 대면하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립(200)을 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입하기 위한 4개의 허용 가능한 방향들을 나타낸다. 검사 스트립(200)을 스트립 포트 커넥터(104)를 포함하는 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입한 후에, 4개의 샘플 챔버(224)들의 4개의 입구들 중 하나가 노출되어 유지되고, 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 제공되는 샘플을 입구 내에 수용하기 위해 접근 가능하다.

도 2e를 구체적으로 참조하면, 그리고 스트립 포트 커넥터 회로(104) 내로 삽입된 검사 스트립이 없을 때, 프롱(206)들의 상부 및 하부 전도체들뿐만 아니라, 프롱(208)들의 상부 및 하부 전도체들이 서로 전기적으로 접촉하도록 가요성 있게 편의된다(biased). 이러한 특정 실시예에 따르면 그리고 검사 스트립(200)이 스트립 포트 커넥터 회로(104) 내로 삽입된 때, 접촉 패드(215)의 전도성 코팅(214)은 프롱(208)들의 상부 전도성 구조체와 전기 접촉을 이루는 반면, 접촉 패드(235)의 전도성 코팅(234)은 프롱(206)들의 하부 전도체와 전기 접촉을 이룬다. 이러한 특정 실시예에서, 검사 스트립이 180도 회전되면 동일한 전기 접촉이 확립된다. 예컨대 90도 또는 270도 회전된, 스트립 포트(22) 내에서의 검사 스트립(200)의 다른 가능한 배향들에서, 접촉 패드(235)의 전도성 코팅(234)은 프롱(208)의 하부 전도체와 전기 접촉을 이루는 반면, 접촉 패드(215)의 전도성 코팅(214)은 프롱(206)의 상부 전도체와 전기 접촉을 이룬다. 검사 스트립(24)의 삽입과 검사 스트립에 대한 샘플의 적용 후에, 정상 작동 과정에서처럼 샘플 분석이 수행될 수 있다. 따라서, 스트립 포트 커넥터(104)는 프롱(206, 208)들을 통해 전기 신호를 전송할 수 있으며, 이러한 전기 신호는 상부 및 하부 층(230, 210)들의 전도성 필름(214, 234)들을 통해, 그리고 4개의 샘플 챔버(224)들 중 하나 내에 제공되고 내부의 시약 층과 혼합된 샘플에 의해 형성되는 전기화학 셀을 통해 이동한다.

도 3a 내지 도 3e는 분석물 측정을 위해 사용될 수 있는 실질적으로 평평한(평탄한) 직사각형 검사 스트립(300)의 다른 예시적인 실시예를 도시하며, 여기서 본 명세서에 기술된 검사 스트립(300)은 적어도 4개의 배향들 중 하나로 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 수 있다. 도 3a 내지 도 3c를 참조하면, 검사 스트립(300)은 일반적으로, 완전히 조립된 검사 스트립(300)의 저부 층(310), 상부 층(330), 및 이들 사이의 스페이서 층(320)으로 본 명세서에서 지칭되는 3개의 층들에 의해 한정된다. 상부 및 저부 층(330, 310)들은 각각, 전도성 코팅이 일 면 상에 스퍼터링된 폴리에스테르 또는 다른 적합한 비전도성 및 불활성 재료의 시트로부터 제조될 수 있다. 이 실시예에 따른 저부 층(310)에 관하여, 팔라듐 코팅(314)이 폴리에스테르의 시트 상에 스퍼터링되어 저부 층(310)의 (조립 후의) 내향면 상에 전도성 코팅을 형성한다. 폴리에스테르 시트는 이어서 도 3a에 예시된 바와 같은 대체로 직사각형인 형태로 절단될 수 있으며, 여기서 각각의 측부 에지 또는 외주는 측부 에지로부터 절단되는 노치(312)를 포함하고, 저부 층의 중심의, 대체로 직사각형인 영역이 또한 관통 개구(318)를 형성하도록 절제된다. 시약 필름(316)이 중심 개구(318)의 내부 에지 또는 코너로부터 저부 층(310)의 2개의 대향 외부 에지들 또는 코너까지 연장되는 기다란 패턴으로 전도성 층(314) 위에 침착될 수 있다. 저부 층(310)이 폴리에스테르 시트로부터 절단되기 전이나 후에 시약 필름(316)이 전도성 층(314) 상에 침착될 수 있음이 이해될 것이다.

도 3b를 참조하면, 스페이서 층(320)이 접착제가 양면 상에 배치된 폴리에스테르 또는 다른 적합한 불활성 및 구조적 지지 재료의 시트로부터 형성될 수 있다. 폴리에스테르 스페이서 층(320)은 각각 약 95 마이크로미터 두께인, 폴리에스테르로 된 2개의 대칭적으로 형상화된 섹션(326)들을 포함할 수 있으며, 여기서 각각의 섹션(326)은 그의 2개의 변 각각 내로 절단되는 2개의 노치(322)들을 포함한다. 검사 스트립(300)이 완전히 조립된 때, 2개의 스페이서 섹션(326)들은 이격되어 이들 사이에 채널, 또는 샘플 챔버(324)를 형성한다. 스페이서 섹션(326)들의 양면 상의 접착제 코팅은 저부 및 상부 층(330, 310)들을 스페이서 층(320)에 맞닿아 고정시킨다. 2개의 스페이서 층 섹션(326)들의 각각의 변의 노치(322)들 중 하나는 저부 층(310)의 각각의 변의 노치(312)와 정렬된다. 검사 스트립(300)이 조립될 때, 샘플 챔버(324)는 저부 층(310)의 전도성 코팅(314) 상의 시약 층(316)의 기다란 패턴과 정렬되고, 스페이서 층 내의 개구(328)는 저부 층(310) 내의 개구(318)와 정렬된다.

도 3c를 참조하면, 이 실시예에 따라 폴리에스테르 시트로부터 형성되는 상부 층(330)은 일 면 상에 스퍼터링된 금 코팅(334)을 가져 상부 층(330)의 (조립 후의) 내향면 상에 전도성 코팅을 형성할 수 있다. 폴리에스테르 시트는 이어서 도 3c에 예시된 바와 같은 대체로 직사각형인 형태로 절단될 수 있으며, 여기서 각각의 변 내의 노치(332)가 절단되고, 상부 층(330)의 중심의, 대체로 직사각형인 개구(338)가 또한 절제된다. 시약 필름(316)이 저부 층(310) 상에 침착되는 것으로 도시되어 있지만, 당업자는 시약 층이 도 3a에 도시된 바와 동일한 패턴으로 상부 층(330)의 전도성 표면(334) 상에만 유사하게 침착될 수 있거나, 시약 층이 상부 및 저부 층(330, 310)들 둘 모두 상에 각각 침착될 수 있음을 인식할 것이다. 검사 스트립(300)이 조립될 때, 상부 층(330)의 노치(332)들은 2개의 스페이서 층 섹션(326)들의 각각의 변의 노치(322)들 중 하나와 정렬된다. 위에 언급된 바와 같이, 스페이서 층(320)의 섹션(326)들의 양면 상에 배치된 접착제가 상부 및 저부 층(330, 310)들을 이에 고정시킨다. 상부 층(330)은 투명 폴리에스테르 시트로부터 제조될 수 있어, 샘플 챔버(324)가 투명 상부 층(330)과 그 상부의 금 코팅(334)을 통해 보일 수 있게 한다.

도 3d와 도 3e를 구체적으로 참조하면, 이러한 예시적인 실시예에 따른 조립된 직사각형 검사 스트립(300)은 2개의 샘플 챔버(324)들 또는 전기화학 셀들을 포함하는데, 각각의 샘플 챔버 또는 전기화학 셀은 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 입구들 중 하나에 적용되는 샘플을 수용하기 위해 검사 스트립(300)의 하나의 외부 코너에 있는 샘플 챔버 입구로부터 검사 스트립(300)의 중심 개구(307)에 있는 내부 코너까지 연장된다. 각각의 샘플 챔버(324)는 전극들 또는 전도성 코팅(314, 334)들을 포함하는 대향 벽들에 의해 한정되는데, 이들 중 하나 또는 둘 모두는 상부에 침착된 시약 필름을 포함할 수 있고, 시약 필름은 접촉 시 혼합되도록 샘플 챔버(324)에 적용된 샘플에 노출된다. 각각의 샘플 챔버(324)는 인접 스페이서 섹션(326)들에 의해 형성되는 대향 벽들에 의해 추가로 한정된다. 조립된 검사 스트립(300)은, 그의 각각의 변에서, 저부 층(310) 상의 팔라듐 코팅(314)의 노출된 부분 및 상부 층(330) 상의 금 코팅(334)의 노출된 부분을 포함하는 2개의 접촉 패드(315, 335)들을 추가로 포함한다. 조립 동안에, 각각 상부 및 저부 층(330, 310)들의 노치형성된 에지들과 스페이서 층(320)의 노치형성된 에지들을 정렬시킴으로써, 전도성 금속성 층(314, 334)들이 노출되어, 검사 측정기(10)의 스트립 포트 커넥터(104)에 배치된 가요성의 금속성 전도체 또는 프롱(306, 308)들에 전기적으로 연결하기 위한 접촉 패드(315, 335)들을 형성한다.

도 3d와 도 3e에 도시된 바와 같이, 상부 층(330)을 향해 위로 대면하는 접촉 패드(315)들은 저부 층(310) 전도성 코팅(314)의 노출된 부분들을 포함하고, 직사각형 검사 스트립(300)의 각각의 에지 또는 외주에 하나씩 배치된다. 유사하게, 저부 층(310)을 향해 아래로 대면하는 접촉 패드(335)들은 상부 층(310) 전도성 코팅(334)의 노출된 부분들을 포함하고, 역시 직사각형 검사 스트립(300)의 각각의 에지 또는 외주에 하나씩 배치되어, 검사 스트립(300)의 4개의 변들 각각 상에 한 쌍의 접촉 패드들을 형성한다. 화살표(340)는 상부 또는 저부 층(310, 330)이 위로 대면하는 상태로 삽입될 수 있는, 검사 스트립(300)을 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입하기 위한 4개의 허용 가능한 방향들을 나타낸다. 검사 스트립(300)을 스트립 포트 커넥터(104)를 포함하는 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입한 후에, 2개의 샘플 챔버(324)들의 2개의 입구들 중 하나가 노출되어 유지되고, 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 제공되는 샘플을 입구 내에 수용하기 위해 접근 가능하다.

도 3e를 구체적으로 참조하면, 스트립 포트 커넥터 회로(104) 내로 삽입된 검사 스트립이 없을 때, 프롱(306)들의 상부 및 하부 전도 구조체들뿐만 아니라, 프롱(308)들의 상부 및 하부 전도 구조체들이 서로 전기적으로 접촉하도록 가요성 있게 편의된다. 검사 스트립(300)이 스트립 포트 커넥터 회로(104) 내로 삽입될 때, 접촉 패드(315)의 전도성 코팅(314)은 프롱(308)들의 상부 전도체와 전기 접촉을 이루는 반면, 접촉 패드(335)의 전도성 코팅(334)은 프롱(306)들의 하부 전도체와 전기 접촉을 이룬다. 예컨대 90도, 180도, 또는 270도 회전된, 스트립 포트(22) 내에서의 검사 스트립(300)의 다른 가능한 배향에서, 프롱(306, 308)들과 전도성 코팅(314, 334)들 사이의 전기 연결은 동일하게 유지된다. 검사 스트립(24)의 삽입과 검사 스트립에 대한 샘플의 적용 후에, 정상 작동 과정에서처럼 샘플 분석이 수행될 수 있다. 따라서, 스트립 포트 커넥터(104)는 프롱(306, 308)들을 통해 전기 신호를 전송할 수 있으며, 이러한 전기 신호는 상부 및 하부 층(330, 310)들의 전도성 표면(314, 334)들을 통해, 그리고 2개의 샘플 챔버(324)들 중 하나 내에 제공되고 내부의 시약 층과 혼합된 샘플에 의해 형성되는 전기화학 셀 또는 챔버를 통해 이동한다.

본 명세서에 기술된 바와 같은 프롱(206, 208, 306, 308)들 각각은 검사 스트립(200, 300)이 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 때 검사 스트립(200, 300)으로부터 멀어지는 방향으로 휘어지는, 전도성의 금속성 재료로부터 제조될 수 있는 가요성 스프링 아암을 포함한다. 프롱(206, 208, 306, 308)들은 이들 사이에 삽입된 검사 스트립이 없으면 함께 전기적으로 단락됨으로써, 공통 전압의 단일 회로 노드를 형성할 수 있다. 가요성 스프링 아암들은, 본 명세서에 기술된 바와 같이, 검사 스트립이 삽입될 때 그리고 분석물 측정이 검사 측정기(10)에 의해 수행되고 있을 때, 접촉 패드(215, 235, 315, 335)들과의 전기 접촉을 이루기에 그리고 검사 스트립(400)을 이들 사이에 고정시키기에 충분한 압착력을 제공한다.

도 4a 내지 도 4e는 검사 스트립(400)이 분석물 측정기(100)의 검사 스트립 포트(22) 내로 적어도 약 8개의 배향들 중 어느 하나로 삽입될 때 분석물 측정을 위해 사용될 수 있는 실질적으로 평평한(평탄한) 원형 검사 스트립(400)의 또 다른 예시적인 실시예를 예시한다. 도 4a 내지 도 4c를 참조하면, 검사 스트립(400)은 일반적으로, 완전히 조립된 검사 스트립(400)의 저부 층(410), 상부 층(430), 및 이들 사이의 스페이서 층(420)으로 본 명세서에서 지칭되는 3개의 층들에 의해 한정된다. 상부 및 저부 층(430, 410)들은 각각, 전도성 코팅이 일 면 상에 스퍼터링된 폴리에스테르 또는 다른 비전도성 재료의 시트로부터 제조될 수 있다. 저부 층(410)에 관하여 그리고 이러한 특정 실시예에 따르면, 팔라듐 코팅(414)이 폴리에스테르의 시트 상에 스퍼터링되어 저부 층(410)의 (조립 후의) 내향면 상에 전도성 코팅을 형성할 수 있다. 폴리에스테르 시트는 이어서 도 4a에 예시된 바와 같은 대체로 원형인 형태로 절단될 수 있으며, 여기서 저부 층의 중심의, 대체로 원형인 영역이 관통 개구(418)를 형성하도록 절제된다. 시약 필름(416)이 중심 개구(418)의 내부 에지로부터 똑바로 저부 층(410)의 외부 에지 또는 외주까지 반경방향으로 연장되는 복수의 기다란 패턴들로 전도성 층(414) 위에 침착될 수 있으며, 이는 휠의 스포크(spoke)와 유사하다고 말해질 수 있다. 저부 원형 층(410)이 폴리에스테르 시트로부터 절단되기 전이나 후에 시약 필름(416)이 전도성 층(414) 상에 침착될 수 있음이 이해될 것이다.

도 4b를 참조하면, 스페이서 층(420)이 접착제가 양면 상에 배치된 폴리에스테르 또는 다른 적합한 불활성 및 구조적 지지 재료의 시트로부터 형성될 수 있다. 이러한 특정 실시예에 따르면, 폴리에스테르 스페이서 층(420)은 각각 약 95 마이크로미터 두께인 폴리에스테르로 된 약 8개의 대칭으로 형상화된 섹션(426)들을 포함하며, 여기서 각각의 섹션(426)은 검사 스트립(400)이 완전히 조립된 때 인접 섹션(426)으로부터 이격되어 사이에 채널, 또는 샘플 챔버(424)를 형성한다. 스페이서 섹션(426)들의 양면 상의 접착제 코팅은 저부 및 상부 층(430, 410)들을 스페이서 층(420)에 맞닿아 고정시킨다. 샘플 챔버(424)들은 저부 층(410)의 전도성 코팅(414) 상의 시약 층(416)의 기다란 패턴들과 정렬된다. 스페이서 층 내의 중심 개구(428)는 검사 스트립(400)이 조립된 때, 저부 층(410) 내의 개구(418)가 중심 개구(428)에 중심설정되도록 위치된다.

도 4c를 참조하면, 이 실시예에 따른 상부 층(430)은, 일 면 상에서, 상부 층(430)의 (조립 후의) 내향면 상에 전도성 코팅을 형성하도록 스퍼터링된 금 코팅(434)을 포함한다. 일련의 슬롯(432)들이 상부 층(430)을 통해 절단되어, 슬롯들을 통해 저부 층(410) 상의 전도성 코팅(414)에 접근하게 한다. 슬롯들은 상부 층(430)을 통해 대체로 원형인 패턴(438)을 형성할 수 있다. 원형 패턴(438)의 직경은 저부 층(410) 내의 중심 개구(418)의 직경보다 크고, 스페이서 층(420) 내의 중심 개구(428)의 직경보다 작거나 이와 동일하다. 폴리에스테르 시트는 이어서 도 4c에 예시된 바와 같은 대체로 원형인 형태로 절단될 수 있다. 시약 필름(416)이 저부 층(410) 상에 침착되는 것으로 도시되어 있지만, 당업자는 시약 층(416)이 도 4a에 도시된 바와 동일한 패턴으로 상부 층(430)의 전도성 표면(434) 상에만 침착될 수 있거나, 시약 층이 상부 및 저부 층(430, 410)들 둘 모두 상에 각각 침착될 수 있음을 인식할 것이다. 일 실시예에서, 검사 스트립(400)이 조립될 때, 상부 층(430) 내의 슬롯(432)들의 원형 패턴(438)은 스페이서 층(420)의 샘플 챔버(424)와 정렬될 수 있으며, 이는 개구(428) 내로 흘러 들어갈 수 있는 샘플의 과도한 "위킹(wicking)"을 방지하는 데 도움을 줄 수 있다. 저부 층(410) 상의 전도성 코팅(414)은, 도 4d에 예시된 바와 같이, 조립된 검사 스트립(400)을 상부 면(430)을 향하는 방향으로 볼 때 슬롯(432)들 각각 내에서 노출된다. 조립된 검사 스트립(400)을 그의 저부 면(410)을 향하는 방향으로 볼 때, 도 4e에 예시된 바와 같이, 상부 면(430) 상의 전도성 코팅(434)이 저부 면(410) 내의 개구(418) 내에서 노출된다. 위에 언급된 바와 같이, 스페이서 층(420) 섹션(426)들의 양면 상에 배치된 접착제가 각각 상부 및 저부 층(430, 410)들을 이에 고정시킨다. 상부 층(430)은 투명 폴리에스테르 시트로부터 제조될 수 있어, 샘플 챔버(424)가 투명 상부 층(430)과 그 상부의 금 코팅(434)을 통해 보일 수 있게 한다.

도 4d와 도 4e를 구체적으로 참조하면, 이러한 특정 실시예에 따른 조립된 원형 검사 스트립(400)은 8개의 샘플 챔버(424)들 또는 전기화학 셀들을 포함하는데, 각각의 샘플 챔버 또는 전기화학 셀은 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 입구들 중 하나에 적용되는 샘플을 수용하기 위해 원형 검사 스트립(400)의 외부 에지 또는 외주에 있는 샘플 챔버 입구로부터 검사 스트립(400)의 중심을 향해 연장된다. 검사 스트립(400)의 외부 에지 또는 외주에 있는 샘플 챔버(424) 입구들 각각은 외부 에지 또는 외주를 따라 서로 실질적으로 동등하게 이격된다. 도 4d 및 도 4e에 도시된 예시적인 실시예에서, 검사 스트립(400)은 8개의 샘플 챔버(424)들을 포함한다. 각각의 샘플 챔버(424)는 전극들 또는 전도성 코팅(414, 434)들을 포함하는 대향 벽들에 의해 한정되는데, 이들 중 하나 또는 둘 모두는 상부에 침착된 시약 필름(416)을 포함할 수 있고, 시약 필름은 접촉 시 혼합되도록 샘플 챔버(424)에 적용된 샘플에 노출된다. 각각의 샘플 챔버(424)는 인접 스페이서 섹션(426)들에 의해 형성되는 대향 벽들에 의해 추가로 한정된다. 대안적인 실시예에서, 일례가 도 4d 및 도 4e에 예시되는 복수의 개구들 또는 구멍(436)들이 예를 들어 슬롯(432)들에 근접한 샘플 챔버(424)들의 일단부에서 샘플 챔버(424)들 각각을 직접 관통하는 펀치 공구에 의해 검사 스트립(400)을 통해 형성될 수 있다. 그러한 구멍(436)들은 접촉 패드(435) 상으로의 제공된 샘플의 누출을 방지하는 데 도움을 줄 수 있고, 모든 샘플 챔버(424)들에 걸쳐 일관된 체적을 보장할 수 있다.

조립 동안에 3개의 층(410 내지 430)들의 외부 에지들을 정렬시킴으로써, 전도성 코팅(414, 434)들이 노출되어, 검사 측정기(10)의 스트립 포트 커넥터(104) 내에 배치된 프롱들에 전기적으로 연결하기 위한 접촉 패드(415, 435)들을 형성할 수 있다. 따라서, 조립된 검사 스트립(400)은 도 4d에 예시된 바와 같이 조립된 검사 스트립(400)의 상부 면으로부터 8개의 슬롯(432)들을 통해 접근 가능한 8개의 접촉 패드(415)들을 포함하는데, 접촉 패드들 각각은 저부 층(410) 상의 팔라듐(414) 코팅의 노출된 부분을 포함한다. 검사 스트립이 화살표(440)에 의해 표시된 바와 같은 약 8개의 상이한 배향들 중 임의의 배향으로 검사 측정기(10) 내로 삽입될 때, 가요성의 금속성 프롱들이 접촉 패드(415)들 중 적어도 하나와 전기 접촉을 이루도록 검사 측정기(10)의 스트립 포트 커넥터(104) 내에 배치될 수 있다. 프롱들은 2개의 나란한(인접한) 전도체들을 포함하도록 구성될 수 있어, 전도체들 중 적어도 하나가 인접 슬롯(432)들 사이의 간극을 피하고 대응하는 슬롯(432) 내의 접촉 패드(415)들 중 하나와 맞닿을 것이다. 그러한 나란한 전도체들을 포함하는 프롱들은 원형 검사 스트립(400)이 실질적으로 임의의 배향으로 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입될 수 있게 하고, 화살표(440)들로 표시된 8개의 배향들로 제한되지 않는다. 조립된 검사 스트립(400)은 도 4e에 예시된 바와 같이 조립된 검사 스트립(400)의 저부 면으로부터 저부 층(410)의 중심 개구(418)를 통해 접근 가능한 접촉 패드(435)를 포함하는데, 접촉 패드는 상부 층(430) 상의 금 코팅(434)의 노출된 부분을 포함한다. 검사 스트립이 임의의 배향으로 삽입될 때 적어도 하나의 가요성의 금속성 프롱이 접촉 패드(435)와 전기 접촉을 이루도록 검사 측정기(10)의 스트립 포트 커넥터(104) 내에 배치될 수 있는데, 그 이유는 접촉 패드(435)의 중심 위치가 검사 스트립(400)의 배향에 따라 달라지지 않기 때문이다.

검사 스트립(400)을 스트립 포트 커넥터(104)를 포함하는 검사 스트립 포트(22) 내로 삽입한 후에, 8개의 샘플 챔버(424)들의 적어도 하나의 입구가 노출되어 유지되고, 검사 측정기(10)의 사용자에 의해 제공되는 샘플을 입구 내에 수용하기 위해 접근 가능하다. 검사 스트립에의 샘플의 적용 후에, 정상 작동 과정에서처럼 샘플 분석이 수행될 수 있다. 따라서, 스트립 포트 커넥터(104)는 접촉 패드(415, 435)들에 전기적으로 연결되는 프롱들을 통해 전기 신호를 전송할 수 있으며, 이러한 전기 신호는 각각 상부 및 하부 층(430, 410)들의 전도성 표면(414, 434)들을 통해, 그리고 8개의 샘플 챔버(424)들 중 하나 내에 제공되고 내부의 시약 층(416)과 혼합된 샘플에 의해 형성되는 전기화학 셀을 통해 이동한다.

당업자는 본 명세서에서 기술된 검사 스트립 실시예(200, 300, 400)가 도시된 것들 이외의 다양한 구성을 가질 수 있고, 본 명세서에 개시된 그리고 당업계에 알려진 특징부들의 임의의 조합을 포함할 수 있다는 것을 인식할 것이다. 예를 들어, 검사 스트립은 본 명세서에 기술된 직사각형의 4변 실시예와 다른 다수의 변들을 갖는 정다각형, 예를 들어 삼각형, 육각형, 팔각형 등의 형태로 임의의 형상을 포함할 수 있다. 또한, 각각의 검사 스트립(200, 300, 400)은 샘플 내의 동일한 (포도당) 및/또는 상이한 분석물을 측정하기 위해 다양한 위치들에서 샘플 챔버를 포함할 수 있다.

검사 스트립(200, 300, 400)은 다양한 구성을 가질 수 있지만, 전형적으로는 분석물 측정 시스템(100)에 대한 연결 및 취급을 허용하기에 충분한 구조적 완전성을 갖는 강성, 반-강성, 또는 가요성 층의 형태이다. 본 명세서에 사용되는 바와 같이, 용어 "직사각형"이 정사각형 형상의 구성을 포함한다는 것에 주목하여야 한다. 본 명세서에 개시된 모든 실시예들에서, 검사 스트립 층들은 플라스틱, 중합체, 또는 도 2a 내지 도 2e에 관하여 본 명세서에 기술된 다른 재료를 비롯한, 본 명세서에 기술된 폴리에스테르 실시예와 다른 다양한 불활성 지지 또는 배킹 재료로부터 형성될 수 있다. 검사 스트립 층의 재료는 전형적으로 절연성(비전도성)인 재료이지만, 불활성 및/또는 전기화학적으로 비-기능적일 수 있으며, 여기서 그들은 시간 경과에 따라 쉽게 부식되지도 않고, 검사 스트립의 샘플 챔버에 적용된 샘플과 화학적으로 반응하지도 않는다. 상부 및 저부 비전도성 층들 상의 전도성 층, 또는 코팅은, 도 2a 내지 도 2e에 관하여 본 명세서에 기술된 바와 같이, 금 및 팔라듐과 다른 스퍼터링된 금속성 코팅들을 포함할 수 있고, 금속성 포일의 시트와 같은, 비전도성 상부 및 저부 층들에 부착되는 전도성 시트들을 포함할 수 있다. 전도성 층들 또는 코팅은 또한 부식에 저항성이어야 하며, 여기서 이들의 전도율은 검사 스트립의 보관 동안에 변하지 않는다. 전도성 층에는 예비 성형된 샘플 챔버를 생물학적 유래의 본질적으로 수성 기반인 샘플, 예컨대 메르캅토에탄 설폰산 등으로 충전하는 데 도움을 주는 적합한 재료가 혼입될 수 있다. 유사하게, 예시적인 검사 스트립 실시예(200, 300, 400)들에서 형성되는 바와 같은 스페이서 층은 다양한 구성, 두께를 가질 수 있고, 본 명세서에 기술된 도 2b를 참조하여 기술된 바와 같이, 접착제가 양면 상에 배치된 폴리에스테르 또는 다른 비-전기 전도성 재료, 예를 들어 플라스틱(예컨대, PET, PETG, 폴리이미드, 폴리카보네이트, 폴리스티렌), 세라믹, 유리 등의 시트로부터 형성될 수 있다.

당업자에 의해 인식되는 바와 같이, 본 발명의 태양들은 처리 시스템, 방법, 또는 기구로서 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명의 태양들은 전적으로 하드웨어인 실시예, 전적으로 소프트웨어인 실시예(펌웨어, 상주 소프트웨어, 마이크로-코드 등을 포함), 또는 본 명세서에서 일반적으로 "회로", "회로소자(circuitry)", "모듈", "서브시스템" 및/또는 "시스템"으로서 모두 언급될 수 있는 소프트웨어 및 하드웨어 태양들을 조합한 실시예의 형태를 취할 수 있다. 또한, 본 발명의 태양은 컴퓨터 판독 가능 프로그램 코드가 그 상에 구현된 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 매체(들)로 구현된 컴퓨터 프로그램 제품의 형태를 취할 수 있다.

수행된 작업 및 측정치를 나타내는 프로그램 코드 및/또는 데이터가, 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 매체(들)의 임의의 조합을 포함하지만 이로 한정되지 않는 임의의 적절한 매체를 사용하여 저장될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체는, 예를 들어 전자, 자기, 광, 전자기, 적외선 또는 반도체 시스템, 기구 또는 장치, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합일 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체의 보다 구체적인 예들은 하기를 포함할 것이다: 하나 이상의 와이어들을 갖는 전기 연결부, 휴대용 컴퓨터 디스켓, 하드 디스크, 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM), 삭제 가능 프로그램 가능 판독 전용 메모리(erasable programmable read-only memory, EPROM; 또는 플래시 메모리), 광섬유, 휴대용 콤팩트 디스크 판독 전용 메모리(CD-ROM), 광 저장 장치, 자기 저장 장치, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합. 본 명세서의 맥락에서, 컴퓨터 판독가능 저장 매체는 명령어 실행 시스템, 기기 또는 장치에 의해 또는 이와 관련하여 사용되는 프로그램을 포함하거나 저장할 수 있는 임의의 유형의(tangible) 비일시적(non-transitory) 매체일 수 있다.

수행된 작업 및 측정치를 나타내는 프로그램 코드 및/또는 데이터는 무선, 유선(wireline), 광섬유 케이블, RF 등, 또는 전술한 것들의 임의의 적합한 조합을 포함하지만 이로 한정되지 않는 임의의 적절한 매체를 사용하여 전송될 수 있다.

부호의 설명

10 분석물 측정기

11 하우징, 측정기

13 데이터 포트

14 디스플레이

16 사용자 인터페이스 버튼

22 검사 스트립 포트

24 검사 스트립

100 분석물 측정 시스템

101 메모리 모듈

102 키패드(버튼) 모듈

103 사용자 인터페이스 모듈

104 스트립 포트 커넥터

105 마이크로컨트롤러 설정 모듈

106 송수신기 모듈

107 안테나

108 와이파이 모듈

109 블루투스 모듈

110 NFC 모듈

111 GSM 모듈

112 RAM 모듈

113 ROM 모듈

114 외부 저장소

115 광원 모듈

116 전원 모듈

117 AC 전원

118 배터리 전원

119 디스플레이 모듈

120 오디오 모듈

121 스피커

122 마이크로컨트롤러 (처리 유닛)

123 통신 인터페이스

125 AFE 서브시스템

140 데이터 관리 유닛

200 검사 스트립

206 프롱

207 개구, 검사 스트립

208 프롱

210 저부 층

212 저부 층 코너, 절두됨

214 팔라듐 코팅

215 접촉 패드

216 시약 층

218 개구, 저부 층

220 스페이서 층

222 스페이서 층 코너, 절두됨

224 샘플 챔버

226 스페이서 섹션

228 개구, 스페이서 층

230 상부 층

232 상부 층 코너, 절두됨

234 금 코팅

235 접촉 패드

238 개구, 상부 층

240 화살표, 삽입 방향

300 검사 스트립

306 프롱

307 개구, 검사 스트립

308 프롱

310 저부 층

312 노치, 저부 층

314 팔라듐 코팅

315 접촉 패드

316 시약 층

318 개구, 저부 층

320 스페이서 층

322 노치, 스페이서 층

324 샘플 챔버

326 스페이서 섹션

328 개구, 스페이서 층

330 상부 층

332 노치, 상부 층

334 금 코팅

335 접촉 패드

338 개구, 상부 층

340 화살표, 삽입 방향

400 검사 스트립

410 저부 층

414 팔라듐 코팅

415 접촉 패드

416 시약 층

418 개구, 저부 층

420 스페이서 층

424 샘플 챔버

426 스페이서 섹션

428 개구, 스페이서 층

430 상부 층

432 원호형 슬롯

434 금 코팅

435 접촉 패드

436 개구, 검사 스트립

438 원형 패턴

440 화살표, 삽입 방향

본 발명이 특정 변형 및 예시적인 특징부에 관하여 기술되었지만, 당업자는 본 발명이 기술된 변형 또는 특징부로 제한되지 않음을 인식할 것이다. 또한, 전술된 방법 및 단계가 소정 순서로 일어나는 소정 이벤트를 나타내는 경우에, 당업자는 소정 단계의 순서가 변경될 수 있고, 그러한 변경은 본 발명의 변형에 따름을 인지할 것이다. 또한, 소정 단계는 가능할 때 병렬 프로세스로 동시에 수행될 수 있고, 또한 전술된 바와 같이 순차적으로 수행될 수 있다. 따라서, 본 발명의 사상 내에 있거나 청구범위에서 확인되는 본 발명과 동등한 본 발명의 변형이 존재하는 경우, 본 특허는 이러한 변형을 또한 포함하는 것으로 의도된다.

Claims

다중-배향 검사 스트립(multi-orientation test strip)으로서,
제1 전도성 표면을 갖는 제1 층;
상기 제1 전도성 표면에 대면하는 제2 전도성 표면을 갖는 제2 층; 및
상기 제1 층과 상기 제2 층 사이에 배치되는 스페이서(spacer) 층으로서, 상기 스페이서 층은 상기 검사 스트립의 외부 에지(edge)들에 형성되는 복수의 대응하는 샘플 챔버 입구들을 갖는 복수의 인접 샘플 챔버들을 형성하도록 배열되는 복수의 스페이서 섹션들을 포함하고, 상기 샘플 챔버 입구들 각각은 상기 샘플 챔버들 중 대응하는 샘플 챔버와 유체 연통되는, 상기 스페이서 층
을 포함하는, 다중-배향 검사 스트립.
제1항에 있어서, 상기 스페이서 층은 상기 제1 및 제2 전도성 표면들에 부착되는, 다중-배향 검사 스트립.
제1항에 있어서, 상기 샘플 챔버들은 상기 검사 스트립의 내부 에지와 외부 에지 사이에서 연장되는, 다중-배향 검사 스트립.
제3항에 있어서, 상기 제1 층, 상기 제2 층 및 상기 스페이서 층 각각은 다각형 형상이고, 실질적으로 유사한 크기를 가져 실질적으로 다각형인 검사 스트립을 형성하는, 다중-배향 검사 스트립.
제4항에 있어서, 상기 샘플 챔버 입구들 각각은 4개의 변(side)들 중 하나의 변의 외부 에지에 배치되는, 다중-배향 검사 스트립.
제4항에 있어서, 상기 제1 층의 복수의 코너(corner)들이 절두되고(truncated), 상기 제1 층의 절두된 코너들에 인접하지 않는 상기 제2 층의 복수의 코너들이 절두되며, 상기 스페이서 층의 코너들 각각은 상기 검사 스트립이 조립될 때 상기 제1 및 제2 전도성 층들 각각이 노출된 코너들을 포함하도록 절두되는, 다중-배향 검사 스트립.
제4항에 있어서, 상기 제1 층은 투명 폴리에스테르 층을 포함하고, 상기 샘플 챔버들은 상기 제1 폴리에스테르 층을 통해 보이는, 다중-배향 검사 스트립.
제4항에 있어서, 상기 샘플 챔버들 각각은 상기 검사 스트립의 코너에 있는 샘플 챔버 입구로부터 상기 검사 스트립의 중심을 향해 연장되는, 다중-배향 검사 스트립.
제4항에 있어서, 상기 제1 층의 복수의 변들 각각은 노치(notch)를 포함하고, 상기 제2 층의 복수의 변들 각각은 상기 제1 층 내의 임의의 노치와 정렬되지 않는 노치를 포함하며, 상기 스페이서 층의 복수의 변들 각각은, 상기 검사 스트립이 조립될 때 상기 제1 및 제2 층들 각각이 다른 하나의 층의 노치들에 의해 노출되는 전도성 표면 영역들을 포함하도록, 상기 제1 층 내의 또는 상기 제2 층 내의 단 하나의 노치와 각각 정렬되는 2개의 노치들을 포함하는, 다중-배향 검사 스트립.
제3항에 있어서, 상기 제1 층, 상기 제2 층 및 상기 스페이서 층 각각은 형상이 실질적으로 원형이고, 상기 층들은 조립되어 실질적으로 원형인 검사 스트립을 형성하는, 다중-배향 검사 스트립.
제10항에 있어서, 상기 샘플 챔버 입구들 각각은 상기 검사 스트립의 외부 에지를 따라 동일하게 이격되는, 다중-배향 검사 스트립.
제11항에 있어서, 상기 제1 층은 제1 직경의 중심 개구를 포함하고, 상기 제2 층은 상기 제1 직경보다 큰 제2 직경을 갖는 원형 패턴을 묘사하는 복수의 만곡된 개구들을 포함하며, 상기 스페이서 층은 상기 검사 스트립의 상기 외부 에지에 반경방향으로 배치되어 상기 샘플 챔버 입구들을 형성하는 복수의 부분들을 포함하여, 상기 검사 스트립이 조립될 때 상기 제1 전도성 층은 상기 제2 층 내의 상기 복수의 만곡된 개구들을 통해 노출되고, 상기 제2 전도성 층은 상기 제1 층 내의 상기 중심 개구를 통해 노출되는, 다중-배향 검사 스트립.
검사 스트립과 검사 측정기를 사용하여 분석물 측정을 수행하는 방법으로서,
각각이 내부에 샘플을 수용하기 위한 복수의 샘플 챔버들을 포함하는 검사 스트립을 제공하는 단계로서, 상기 검사 스트립은 복수의 상이한 배향들 중 임의의 배향으로 상기 검사 측정기 내로 삽입되도록 구성되는, 상기 검사 스트립을 제공하는 단계;
상기 검사 스트립을 상기 복수의 배향들 중 하나의 배향으로 상기 검사 측정기 내에 수용하는 단계;
상기 샘플을 상기 복수의 샘플 챔버들 중 하나의 샘플 챔버 내에 수용하는 단계; 및
상기 샘플의 수용에 응답하여 상기 분석물 측정을 수행하는 단계
를 포함하는, 분석물 측정을 수행하는 방법.
제13항에 있어서, 상기 복수의 샘플 챔버들 중 상기 하나의 샘플 챔버를 상기 샘플의 수용에 이용 가능하게 하는 단계 및 상기 복수의 샘플 챔버들 중 적어도 하나의 다른 샘플 챔버를 상기 샘플의 수용에 이용 불가능하게 하는 단계를 추가로 포함하는 분석물 측정을 수행하는 방법.
제14항에 있어서, 상기 검사 스트립을 제공하는 단계는 상기 복수의 샘플 챔버들과 전기 연통되는 제1 및 제2 전극들을 갖는 검사 스트립을 제공하는 단계를 포함하는, 분석물 측정을 수행하는 방법.
제15항에 있어서, 상기 검사 스트립을 제공하는 단계는 변들의 개수가 샘플 챔버들의 개수와 동일한 다각형으로서 형상화되는 검사 스트립을 제공하는 단계를 포함하는, 분석물 측정을 수행하는 방법.
분석물 측정 시스템으로서,
검사 스트립으로서, 상기 검사 스트립의 상부면 상의 제1 접촉 패드 및 상기 검사 스트립의 저부면 상의 제2 접촉 패드를 포함하는, 상기 검사 스트립; 및
스트립 포트 커넥터(strip port connector)를 갖는 검사 측정기를 포함하고,
상기 스트립 포트 커넥터는,
상기 검사 스트립이 제1 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 상기 제1 접촉 패드와 작동 가능하게 접촉하고, 상기 검사 스트립이 제2 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 상기 제2 접촉 패드와 작동 가능하게 접촉하도록 구성되는 제1 전기 접점 세트; 및
상기 검사 스트립이 상기 제1 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 상기 제2 접촉 패드와 작동 가능하게 접촉하고, 상기 검사 스트립이 상기 제2 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 상기 제1 접촉 패드와 작동 가능하게 접촉하도록 구성되는 제2 전기 접점 세트를 포함하는, 분석물 측정 시스템.
제17항에 있어서, 상기 검사 스트립은 상기 검사 스트립이 상기 제1 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 샘플을 수용하는 데 이용 가능한 제1 샘플 챔버, 및 상기 검사 스트립이 상기 제2 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 상기 샘플을 수용하는 데 이용 가능한 제2 샘플 챔버를 추가로 포함하는, 검사 스트립 및 스트립 포트 커넥터 시스템.
제18항에 있어서, 상기 제1 샘플 챔버는 상기 검사 스트립이 상기 제2 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 상기 샘플을 수용하는 데 이용 불가능하고, 상기 제2 샘플 챔버는 상기 검사 스트립이 상기 제1 배향으로 상기 스트립 포트 커넥터 내로 삽입될 때 상기 샘플을 수용하는 데 이용 불가능한, 검사 스트립 및 스트립 포트 커넥터 시스템.
제17항에 있어서, 상기 제1 및 제2 배향들은 90도 이하만큼 오프셋되는, 검사 스트립 및 스트립 포트 커넥터 시스템.
전기화학-기반 분석 검사로서,
다층 구조체로서,
내부의 제1 전극 및 제2 전극,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 유체 연통되는 복수의 샘플-수용 개구들,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 전기 연통되는 복수의 노출된 용장성(redundant) 전기 접점들, 및
외주연(outer perimeter)
을 구비하는, 상기 다층 구조체를 포함하고,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 전기 연통되는 상기 복수의 노출된 용장성 전기 접점들은 상기 다층 구조체의 외주연 주위에 대칭으로 배치되는, 전기화학-기반 분석 검사.
전기화학-기반 분석 검사 스트립에 적용되는 체액 샘플 내의 분석물의 결정을 위한 방법으로서,
다층 구조체로서,
내부의 제1 전극 및 제2 전극,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 유체 연통되는 복수의 샘플-수용 개구들,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 전기 연통되는 복수의 노출된 용장성 전기 접점들, 및
외주연을 구비하고,
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 전기 연통되는 상기 복수의 노출된 용장성 전기 접점들은 상기 다층 구조체의 외주연 주위에 대칭으로 배치되는, 상기 다층 구조체
를 포함하는 전기화학-기반 분석 검사 스트립에 체액 샘플을 적용하는 단계; 및
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 전기화학 응답에 기초하여 상기 분석물을 결정하는 단계
를 포함하는, 체액 샘플 내의 분석물의 결정을 위한 방법.