KR20160048065A

KR20160048065A - 치주염 지표의 작성 방법, 그 작성 장치, 그 작성 프로그램, 이것을 기록한 기록 매체 그리고 치주염의 진단 방법, 그 진단 장치, 그 진단 프로그램 및 이것을 기록한 기록 매체

Info

Publication number: KR20160048065A
Application number: KR1020167002631A
Authority: KR
Inventors: 요시오 모테기
Original assignee: 요시오 모테기
Priority date: 2013-07-31
Filing date: 2013-07-31
Publication date: 2016-05-03
Also published as: KR101750663B1; EP2896384A1; TW201509387A; EP2896384A4; IN2014MN01921A; TWI589276B; HK1204906A1; US20160206238A1; WO2015015602A1; PH12015502686B1; JP5441141B1; US10285635B2; PH12015502686A1; CN104507415B; CN104507415A; JPWO2015015602A1; EP2896384B1

Abstract

보존 불가능으로서 발치된 복수의 치아를 대상으로 하여, 치종마다 각각 복수개씩을 추출하여 측정한 각 치아의 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 과, 총 치근막 면적 (S) 에 기초하여 상실 치근막 면적 (S_L) 을 산출하고, 또한, 각 치아의 교합력을 반영한 각 치종만에 따라 상이한 교합력 계수 (B) 와, 각 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적 (S_LB) 의 관계를 각 치종마다 통계 처리하고, 이 때 양자에 직선적 관계가 있는 것을 이용하여 교합력 계수 (B) 와, 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적 (S_LB) 의 관계를 나타내는 직선의 식을 작성하고, 상기 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적 (S_LB) 에 기초하여 구하는 (교합력을 가미한 잔존 치근막 면적 (S_SB)/총 치근막 면적 (S)) × 100 (％) 를 치주염의 진행 정도를 나타내는 치주염 지표 (BPI) 로서 산출한다.

Description

치주염 지표의 작성 방법, 그 작성 장치, 그 작성 프로그램, 이것을 기록한 기록 매체 그리고 치주염의 진단 방법, 그 진단 장치, 그 진단 프로그램 및 이것을 기록한 기록 매체{METHOD FOR PRODUCING PERIODONTAL INDEX, PRODUCTION DEVICE THEREFOR, PRODUCTION PROGRAM THEREFOR, RECORDING MEDIUM RECORDING SAME, METHOD FOR DIAGNOSING PERIODONTITIS, DIAGNOSIS DEVICE THEREOF, DIAGNOSIS PROGRAM THEREFOR, AND RECORDING MEDIUM RECORDING SAME}

본 발명은 치주염 지표의 작성 방법, 그 작성 장치, 그 작성 프로그램, 이것을 기록한 기록 매체 그리고 치주염의 진단 방법, 그 진단 장치, 그 진단 프로그램 및 이것을 기록한 기록 매체에 관한 것이며, 특히 치주병에 의한 발치의 필요성을 판단하는 경우에 적용하여 유용한 것이다.

어느 질환에 있어서도, 그 진행의 정도를 나타내는 지표가 필요한 것은 기본이지만, 치주병 치료에 있어서도, 또 요즈음의 투스 임플란트 치료에 있어서도 예지성이 높은 발치 기준의 확립이 요망되고 있다. 치주병은 치아를 지지하고 있는 치조골이 없어져 가는 병이지만, 완전히 없어져 버리면 악제(顎堤)를 토대로 하여 장착되는 의치는 불안정해진다. 또, 치조골 중에 매립하는 투스 임플란트 처치도 할 수 없게 되어, 저작(咀嚼) 회복이 곤란해진다.

그래서, 치주병 이환치를 언제의 시점에서 보존 불가능으로 판단하고, 비교적 많은 치조골을 남기면서 발치를 실시할지가 치주병 치료에 있어서의 공통의 문제점이 된다. 즉, 객관적으로 정확한 발치 기준을 제시하는 것이 매우 중요한 과제이다.

S_S/S (S = 총 치근막 면적, S_S= 잔존 치근막 면적) 는 치주병을 진단할 때의 진단 기준의 하나로서 동서 고금 치주병 학자에 의해 연구되어, 그 값을 내기 위한 방법론이 여러 가지 논해져 왔다. 이러한 진단 기준을 얻는 하나로서 X－P 사진을 백지에 트레이스하고, 치근을 둘러싸는 치조골의 양을 계측하는 방법이 제안되어 있다. 다만, 이러한 방법은, X－P 사진을 일일이 트레이스해야 되기 때문에 시간이 걸리는 점, 또 X－P 조사량이 모든 사람들에게 일정한 것은 아닌 점, 그리고 조사 방향이 일정하지 않은 점, 또한 피험자의 골밀도가 가지각색인 점 등의 원인에 의해, 동일한 기준으로서 평가될 수 없었다.

이들의 문제점을 개량한 것이 CT 를 이용하여 복수 방향으로부터의 촬영으로 컴퓨터를 이용하여 입체적인 치주 조직을 재현함으로써 S_S/S 를 계측하는 방법이다. 이와 같이 CT 를 이용하는 방법에서는, 일반적으로 치주 치료에서 실시되는 치주병 검진은 일생 중에서 몇 십회로 실시되지만, 그것을 생각하면 방대한 방사선 피폭량이 되는 것, 그리고, 인체 및 동물 실험과 같은 단신의 실험용 방법으로서는 성립하지만, CT 가 비교적 보급되어 있는 환경에서는 어떨지 몰라도, 한 나라 내에 수대 밖에 없는 나라가 대부분의 상태로, 광범위하게 치주병 진단을 실시하는 것은 곤란하다. 또한, 가령 이 S_S/S 를 정확하게 산출할 수 있었다고 해도, 그 지표 자체는, 포켓 깊이 등, 다른 진단 방법과 마찬가지로, 단독으로 객관적인 기준을 제공하는 숫자는 되지 않고, 다른 진단 방법에 의한 진단 결과를 가미하여 종합적으로 판단해야 된다는 불편도 존재한다.

건강한 치아를 지지하는 전체 치근 표면적 (S) 에 대한 현재의 치아를 지지하는 잔존 치근 표면적 (S_C) 의 비율 (S_C/S) 로서 산출된 값을 치근 표면적 지표로 하고, 동지표에 기초하여 치주병의 진행 상태를 검사하는 치주병의 검사 방법을 개시하는 선행 기술로서 특허문헌 1 및 특허문헌 2 가 공지이다.

일본 공개특허공보 2011－98047호 일본 공개특허공보 2011－72573호

그런데, 특허문헌 1 및 특허문헌 2 가 지표로서 개시하는 치근 표면적 지표 (S_C/S) 는, 상기 서술한 바와 같이 발치 기준을 나타내는 단독인 지표로는 될 수 없을 뿐만 아니라, 치근 표면적 지표 (S_C/S) 를, 치아를 치과용 X 선에 의해 촬상하는 화상 처리를 전제로 한다.

이 때문에, 여러 가지의 진찰 기기를 구비하는 선진국의 의료 현장에서는 어떻든, X 선 촬상 기기 등의 구비가 충분하지 않은 개발 도상국 등에 있어서는, 적용이 곤란하다는 문제가 있다.

나아가서는, 가령 치근 표면적 지표 (S_C/S) 를 정확하게 산출해도, 단독으로는 신뢰성이 높은 지표로는 될 수 없다.

본 발명은, 상기 종래 기술의 문제점을 감안하여, 간단한 검사로 신뢰성이 높은 발치 기준을 제시할 수 있는 치주염 지표의 작성 방법, 그 작성 장치, 그 작성 프로그램, 이것을 기록한 기록 매체 그리고 치주염의 진단 방법, 그 진단 장치, 그 진단 프로그램 및 이것을 기록한 기록 매체를 제공하는 것도 목적으로 한다.

상기 서술한 바와 같이, 종래 사용되고 있던 치근 표면적 지표 (S_C/S) 를 정확하게 산출해도, 당해 치근 표면적 지표 단독으로는 신뢰성이 높은 지표로는 될 수 없다. 그 원인으로서는, 다음의 것이 생각된다. 즉, 예를 들어, 도 1 에 나타내는 바와 같이, (S_C/S) = 1/2 인 2 종류의 치아를 생각한다. 하나는 하악(下顎) 1 번 (도 1(a) 참조), 또 하나는 하악 7 번 (도 1(b) 참조) 의 치아이다. 도 1 에 나타내는 치아는, 모두 (S_C/S) = 1/2 이지만, 치주병 임상 진단에서는, 도 1(a) 에 나타내는 하악 1 번은 예후 양호하지만, 도 1(b) 에 나타내는 하악 7 번은 예후 불량, 치주병 진단에서 말하면 치주병의 중독(重篤)이 된다.

이와 같이, 종래의 치근 표면적 지표 (S_C/S) 만으로는 치주병의 임상적 진단은 할 수 없고, 치근 표면적 지표 (S_C/S) 는 진단의 일조이긴 하지만, 그 밖의 여러 가지의 진단 방법을 이용하여 종합적으로 진단을 내리지 않으면 안된다.

그래서, 치근 표면적 지표 (S_C/S) 가, 동일 (예를 들어 1/2) 해도 치주병 임상 진단에 있어서는 차가 나 버리는 원인에 대해 고찰한다. 그것에는, 먼저 치주병 임상의 현상을 알 필요가 있다.

치주병 치료가 실시되어 메인터넌스기에 접어든 치주병 환자로, 예후 불량으로 부득이 발치가 된 치아 221 치(齒)를 상·하악에 있어서의 좌측, 우측의 치종(齒種)으로 분산하여 관찰했다. 이 결과, 치아 상실 시의 어태치먼트 레벨은 상·하악차, 좌우차는 없고 치종에 따라 상이한 것을 알 수 있었다.

여기서, 어태치먼트 레벨이란 치주 지지 조직의 정도를 말하며 그 하나는 치조골의 레벨을 나타낸다. 도 1(a) 의 하악 1 번의 치아의 경우를 예로 들면, 어태치먼트 레벨 (M) 은, 표면이 에나멜질로 이루어지는 치관부 (1) 와, 표면이 시멘트질로 이루어지는 치근부 (2) 의 경계인 시멘트·에나멜 경계 (CEJ) 로부터 치아면을 따라 치근막이 상실되어 있는 최하부까지의 거리로서 부여된다. 여기서, 상실된 치근막을 상실 치근막 (3A) 이라고 칭하고, 상실 치근막 (3A) 의 치근부 (2) 에 있어서의 전체 둘레의 면적을 상실 치근막 면적 (S_L) 이라고 칭한다. 또, 치조골 (4) 내에 잔존하는 치근막을 잔존 치근막 (3B) 이라고 칭하고, 잔존 치근막 (3B) 의 치근부 (2) 에 있어서의 전체 둘레의 면적을 잔존 치근막 면적 (S_S) 이라고 칭한다.

상기 서술한 바와 같이, 예후 불량으로 부득이 발치가 된 치아 221 치의 상·하악 및 좌측, 우측에 있어서의 분포를 표 1 에, 각 치아의 어태치먼트 레벨을 표 2 에, 또 각 치아의 어태치먼트 레벨의 막대 그래프를 도 2 에 각각 나타낸다.

예후 불량으로 부득이 발치가 된 각 치간의 어태치먼트 레벨의 차의 발생 원인에 대해 고찰한 결과, 그것에는 교합력이 관계하고 있는 것이 판명되었다. 더욱 상세히 말하면, 치근의 주위를 둘러싸고 있는 치근막, 그것은 치근 표면과의 시멘트질과 주위의 치조골을 연결하고 있는 결합 조직으로, 치아의 지지, 유지를 실시하고 있다. 그것이 치주병에 의해 파괴되어 상실되어 버린 치근 표면 상의 면적은, 저작하거나 이를 악물거나 할 때의 교합력과 패러렐인 것을 알 수 있었다. 즉, 악관절에 가까운 교합력이 강하게 작용하는 치종일수록, 치주병에 의해 상실되는 치근막 면적이 크다. 환언하면, (S_C/S) = 1/2 의 전치(前齒)와 구치(臼齒)에서는 남아 있는 치근막 면적은 절반끼리여도, 구치가 남아 있는 치근막이 빨리 상실되어 버려, 전치에 비해 구치가 예후가 나쁘다는 것이 된다.

그래서, 교합력을 가미함으로써 치주병의 정도를 정확하게 반영한 지표를 얻을 수 있는 것은 아닌가라는 예측하에, 교합력의 작용을 적절히 받아들인 지표를 얻는 본원 발명에 생각이 미쳤다.

이러한 예측에 기초하여 상기 목적을 달성하는 본 발명의 제 1 양태는,

보존 불가능으로서 발치된 복수의 치아를 대상으로 하여, 치종마다 각각 복수개씩을 추출한 샘플에 있어서의 각 치아의 시멘트·에나멜 경계 또는 피복 관치의 관변연(冠邊緣)으로부터 연하(緣下) 치석 부착부의 최심부까지의 치수인 샘플 어태치먼트 레벨을 각각 계측하는 계측 공정과,

상기 각 치아의 총 치근막 면적 및 상기 샘플 어태치먼트 레벨에 기초하는 상기 각 치아의 상실 치근막 면적을 구하는 치근막 면적 연산 공정과,

미리 부여되는 상기 각 치아의 교두로부터 악관절의 과두(顆頭)까지의 거리와, 기준 위치를 부여하는 특정의 기준 치아로부터 상기 과두까지의 거리의 비, 및 미리 부여되는 상기 기준 치아의 치아의 길이와, 상기 각 치아의 길이의 비에 기초하여 상기 각 치아의 교두를 지렛대의 작용점으로 하고, 상기 과두를 상기 지렛대의 지지점으로 하는 교합력 계수를 상기 각 치아에 관해서 각각 구하는 교합력 계수 연산 공정과,

상기 각 치종만에 따라 상이한 교합력 계수와, 상기 상실 치근막 면적의 관계를 각 치종마다 통계 처리한 경우에, 양자의 값에 직선 관계가 있는 것을 이용하여 상기 교합력 계수와, 상기 상실 치근막 면적의 관계를 나타내는 직선의 식인 교합력-상실 치근막 직선을 작성하는 직선 작성 공정과,

상기 직선 작성 공정에 있어서 얻어진 상기 교합력-상실 치근막 직선에 기초하여, 상기 교합력 계수를 가미하여 보정한 각 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적인 상실 시 상실 치근막 면적을 구하는 상실 치근막 면적 검출 공정과,

상기 총 치근막 면적으로부터 상기 상실 시 상실 치근막 면적을 빼서 구하는 상실 시 잔존 치근막 면적에 기초하여, (상실 시 잔존 치근막 면적/총 치근막 면적) × 100 (％) 를 각 치아의 상실 시의 치주염 지표로서 산출하는 상실 시 치주염 지표 연산 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법에 있다.

본 양태에 의하면, 치근막은, 치아의 지지, 유지를 실시하고 있지만, 치주병에 의해 파괴되어, 상실되어 버린 치근 표면 상의 면적은, 저작하거나 이를 악물거나 할 때의 교합력과 패러렐이라는 지견에 기초하여 교합력 계수라는 새로운 개념을 도입함과 함께, 샘플 어태치먼트 레벨과의 관계로부터 구해지는 각 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적이 상기 교합력 계수와 1 차 함수로 나타내지는 강한 상관 관계가 있고, 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적이, 교합력 계수를 가미한 것으로서 나타낼 수 있다는 지견을 이용하여, 총 치근막 면적에 대한 각 치아의 상실 시의, 교합력 계수를 가미한 잔존 치근막 면적의 비율인 치주염 지표를 작성할 수 있다.

이 결과, 치주염의 진행의 정도를 적확하게 반영한 새로운 객관적인 지표를 작성하는 데 있어서 필요하게 되는, 각 치아의 상실 시의, 교합력 계수를 가미한 잔존 치근막 면적의 비율인 상실 시 치주염 지표를 얻을 수 있다.

본 발명의 제 2 양태는,

제 1 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서,

치근막이 모두 남아 있는 경우의 치주염 지표를 100 으로 하고, 치근막이 전부 상실되어 있는 경우의 치주염 지표를 0 으로 하여, 상기 각 치아의 상실 시의 치주염 지표를 상실 시 치주염 지표로서 이들의 값을 나타내는 3 점을 지나는 선에 의해 나타내지고, 총 치근막 면적에 대한 상기 각 치아의 교합력 계수를 가미한 잔존 치근막 면적의 비율인 치주염 지표를 작성하는 치주염 지표 작성 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법에 있다.

본 양태에 의해 얻어지는 치주염 지표는, 치주염의 진행의 정도를 적확하게 반영한 객관적인 지표가 되어, 발치 기준을 객관적으로 제시하는 지표로서 유용한 것이 된다. 즉, 본 양태에 의하면, 보다 고정밀도로 치주병 임상에 준거한 치아의 건강도의 절대적인 지표로서의 치주염 지표를 용이하게 제공할 수 있다.

본 발명의 제 3 양태는,

제 1 또는 제 2 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서,

상기 치근막 면적 연산 공정은, 상기 각 치아의 총 치근막 면적을 수량적으로 계산할 수 있는 의사 치근을 작성하는 의사 치근 작성 공정과, 상기 의사 치근에 기초하여 총 치근막 면적을 산출하는 총 치근막 면적 연산 공정과, 상기 총 치근막 면적 및 상기 샘플 어태치먼트 레벨에 기초하여 상기 치아의 상실 치근막 면적을 산출하는 상실 치근막 면적 연산 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법에 있다.

본 양태에 의하면, 의사 치근을 작성함으로써, 총 치근막 면적, 상실 치근막 면적 및 잔존 치근막 면적을 의사 치근에 기초하는 면적으로서 간단하고 적확하게 구할 수 있다.

본 발명의 제 4 양태는,

제 3 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서,

상기 치근막 면적 연산 공정에 있어서의 의사 치근은, 단근치의 치근을 단일의 원추체로 간주함과 함께, 복근치의 치근을 복수의 원추체의 집합체로 간주하여, 상기 원추체의 저면의 직경 (R) 을 상기 치근의 상기 시멘트·에나멜 경계의 부분의 직경, 높이 (H) 를 치근 길이, 원추의 능선 길이 (C) 를 치근 능선 길이로서 작성하는 한편,

상기 총 치근막 면적은 식 (1) 에 기초하여 연산함과 함께, 잔존 치근막 면적은 식 (2) 에 기초하여 연산하고, 또한 상기 상실 치근막 면적은 식 (3) 을 이용하여 소정의 연산을 실시함으로써 구하는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법에 있다.

본 양태에 의하면, 간단하고 적확하게 의사 치근을 작성할 수 있고, 이것에 기초하는 총 치근막 면적, 잔존 치근막 면적 및, 상실 치근막 면적을 간단하고 적확하게 구할 수 있다.

본 발명의 제 5 양태는,

상기 교합력 계수는 식 (4) 에 기초하여 연산하는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법에 있다.

단, 상기 식 (4) 에 있어서,

T ： 각 치종의 교합 부위로부터 악관절 과두까지의 거리

A ： 하악 전치 1 번의 절연(切緣)으로부터 악관절 과두까지의 거리 (기준치)

P ： 하악 전치 1 번의 절연 순면(脣面) 우각부로부터 치근첨(齒根尖)까지의 거리 (기준치)

Q ： 치아의 길이 (교합 접촉되어 있는 부위로부터 가장 먼 치근첨까지의 거리)

본 양태에 의하면, 구체적이고 적확한 교합력 계수를 제공할 수 있다.

본 발명의 제 6 양태는,

제 2 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서,

상기 치주염 지표 작성 공정은, 상기 잔존 치근막 면적을 가로축에 취하고, 상기 치주염 지표를 세로축에 취한 경우에 있어서,

치근막이 모두 남아 있는 경우의 치주염 지표인 100 과, 치근막이 전부 상실되어 있는 경우의 치주염 지표인 0 의 2 점을 연결하는 직선을 긋고,

상기 상실 시의 치주염 지표를 플롯하여, 이 플롯한 점을 지나는 직선이 되도록 상기 직선을 평행 이동하고,

또한 상기 치주염 지표가 0 과 100 의 2 점을 지나고, 또한 상기 플롯한 점에서만 상기 평행 이동한 직선에 접하는 치주염 지표 곡선을 작성하고, 특정의 잔존 치근막 면적에 대응하는 상기 치주염 지표 곡선 상의 점을, 상기 특정의 잔존 치근막 면적에 대응하는 치주염 지표로 하는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법에 있다.

본 양태에 의하면, 치주염 지표 곡선을 이용하여 잔존 치근막 면적을 특정하는 것만으로 교합력을 가미한 원하는 치주염 지표를 얻을 수 있다.

본 발명의 제 7 양태는,

보존 불가능으로서 발치된 복수의 치아를 대상으로 하여, 치종마다 각각 복수개씩을 추출한 샘플에 있어서의 각 치아의 시멘트·에나멜 경계 또는 피복 관치의 관변연으로부터 연하 치석 부착부의 최심부까지의 치수인 샘플 어태치먼트 레벨을 각각 계측하여 얻은 상기 샘플의 계측치를 나타내는 샘플링 데이터가 입력되고,

제 1 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치근막 면적 연산 공정, 교합력 계수 연산 공정, 상실 치근막 면적 검출 공정 및 상실 시 치주염 지표 연산 공정의 각 처리를 실행하여 상기 각 치아의 상실 시의 치주염 지표를 작성하는 연산 처리부를 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 장치에 있다.

본 양태에 의하면, 샘플 어태치먼트 레벨에 관한 샘플링 데이터를 연산 처리부에 입력하는 것만으로, 각 치아의 상실 시의 치주염 지표를 자동적으로 얻을 수 있다.

이 결과, 보다 고정밀도로 치주병 임상에 준거한 치아의 건강도의 절대적인 지표인 치주염 지표의 작성에 기여시킬 수 있다.

본 발명의 제 8 양태는,

제 7 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 장치에 있어서,

상기 연산 처리부는, 제 2 양태 또는 제 6 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치주염 지표 작성 공정의 처리를 실행하고, 또한 치주염 지표를 작성하도록 구성한 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 장치에 있다.

본 양태에 의하면, 고정밀도로 치주병 임상에 준거한 치아의 건강도의 절대적인 지표인 치주염 지표를 자동적으로 작성시킬 수 있다.

본 발명의 제 9 양태는,

제 1 ∼ 제 5 양태 중 어느 하나에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치근막 면적 연산 공정, 교합력 계수 연산 공정, 상실 치근막 면적 검출 공정 및 상실 시 치주염 지표 연산 공정의 각 처리를 제 7 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에 실행시키는 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 프로그램에 있다.

본 양태에 의하면, 제 1 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 소정의 공정의 처리를 제 7 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에 양호하게 실행시킬 수 있다. 여기서, 당해 치주염 지표 작성 프로그램의 데이터는 인터넷 등의 전기 통신 회선을 통해서도 양호하게 치주염 지표 작성 장치에 제공할 수 있다. 따라서, 당해 치주염 지표 작성 프로그램을 인터넷 등으로부터 PC 에 다운로드함으로써 범용의 PC 를, 상기 치주염 지표 (BPI) 를 작성하는 치주염 지표 작성 장치로서 기능시킬 수 있다.

본 발명의 제 10 양태는,

제 2 또는 제 6 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치주염 지표 작성 공정의 처리를 제 8 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에 실행시키는 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 프로그램에 있다.

본 양태에 의하면, 제 2 또는 제 6 양태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 소정의 공정의 처리를, 치주염 지표 작성 공정의 처리도 포함하여 제 7 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에 양호하게 실행시킬 수 있다.

본 발명의 제 11 양태에 의하면,

제 7 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에서 판독 가능한 제 9 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 프로그램을 기록한 것을 특징으로 하는 기록 매체에 있다.

본 양태에 의하면, 제 9 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 프로그램의 반포 등을 양호하게 실시할 수 있다. 이 결과, PC 등의 하드웨어가 있으면, 이것에 대해 인스톨함으로써, 어디에서나 용이하게 각 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적에 기초하는 상실 시 치주염 지표의 작성 장치로서의 기능을 발휘시킬 수 있다.

본 발명의 제 12 양태에 의하면,

제 8 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에서 판독 가능한 제 10 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 프로그램을 기록한 것을 특징으로 하는 기록 매체에 있다.

본 양태에 의하면, 제 10 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 프로그램의 반포 등을 양호하게 실시할 수 있다. 이 결과, PC 등의 하드웨어가 있으면, 이것에 대해 인스톨함으로써, 어디에서나 용이하게 치주염 작성 장치로서의 기능을 발휘시킬 수 있다.

본 발명의 제 13 양태는,

진단 대상이 되는 특정 치아의 어태치먼트 레벨을 계측하여 실측 어태치먼트 레벨을 검출하고,

상기 실측 어태치먼트 레벨에 기초하여 상기 진단 대상의 치아의 잔존 치근막 면적 (S_S) 을 산출함과 함께,

제 2 양태 또는 제 6 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 공정에 의해 상기 잔존 치근막 면적 (S_S) 에 대응하는 상기 특정 치아의 치주염 지표 (BPI) 를 작성하는 것을 특징으로 하는 치주염의 진단 방법에 있다.

본 양태에 의하면, 진단 대상이 되는 특정 치아의 실측 어태치먼트 레벨의 데이터를 얻는 것만으로, 치종에 따라 상이한 교합력을 가미한 치주염 지표를 구하여 치주염 치료 시의 적확하고 객관적인 발치 기준을 얻을 수 있다. 이 결과, 적절한 치주염 치료를 실시할 수 있다.

본 발명의 제 14 양태는,

제 13 양태에 있어서 실측한 특정 치아의 실측 어태치먼트 레벨을 나타내는 실측 데이터가 입력됨과 함께,

상기 실측 어태치먼트 레벨에 기초하여 상기 진단 대상의 치아의 잔존 치근막 면적을 산출하고, 또한 제 2 또는 제 6 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 공정의 처리를 실행하여 상기 잔존 치근막 면적에 대응하는 상기 특정 치아의 치주염 지표를 작성하는 연산 처리부를 갖는 것을 특징으로 하는 치주염의 진단 장치에 있다.

본 양태에 의하면, 진단 대상이 되는 특정 치아의 어태치먼트 레벨을 계측하여 얻는 실측 어태치먼트 레벨의 데이터를 입력하는 것만으로, 치종에 따라 상이한 교합력을 가미한 치주염 지표를 간단하고 자동적으로 구할 수 있다. 이 결과, 치주염 치료 시의 적확하고 객관적인 발치 기준을 용이하게 얻을 수 있어, 적절한 치주염 치료를 용이하고 신속하게 실시할 수 있다. 여기서, 당해 진단 장치는 PC 등으로 바람직하게 제작할 수 있다. 따라서, 특정 치아의 실측 어태치먼트 레벨의 데이터만 얻어지면, 어디에라도 간단하게 반송할 수 있는 진단 장치로서 범용성이 우수한 장치가 된다. 이 결과, 소형이고 범용성이 우수한 장치로서 치주염에 의한 객관적인 발치 기준을 제공하는 진단에 이바지할 수 있다. 즉, 종래 이 종류의 진단에 이용하고 있던 X 선 장치 등에 비하면, 비약적으로 장치의 소형화를 도모할 수 있고, 가반성도 비약적으로 향상하고, 핸들링도 용이해진다. 또한, 치료 등에 수반되는 X 선 피폭량도 가급적으로 저감할 수 있다.

본 발명의 제 15 양태는,

제 13 양태에 기재하는 치주염의 진단 방법에 있어서의 실측 어태치먼트 레벨에 기초하는 진단 대상의 치아의 잔존 치근막 면적을 산출함과 함께,

제 2 또는 제 6 양태에 기재하는 치주염 지표 작성 공정에 의해 상기 잔존 치근막 면적에 대응하는 상기 특정 치아의 치주염 지표를 작성하는 처리를,

제 14 양태에 기재하는 치주염의 진단 장치에 실행시키는 것을 특징으로 하는 치주염의 진단 프로그램에 있다.

본 양태에 의하면, 소정의 치주염 지표를 자동적으로 생성시켜, 용이하고 신속한 치주염의 치료에 이바지할 수 있다. 여기서, 당해 치주염의 진단 프로그램의 데이터는 인터넷 등의 전기 통신 회선을 통해서도 양호하게 치주염 지표 작성 장치에 제공할 수 있다. 따라서, 당해 치주염의 진단 프로그램을 인터넷 등으로부터 PC 에 다운로드함으로써 PC 를 치주염 진단의 진단 장치로서 기능시킬 수 있다.

본 발명의 제 16 양태는,

제 14 양태에 기재하는 치주염의 진단 장치에서 판독 가능한 제 15 양태에 기재하는 치주염의 진단 프로그램을 기록한 것을 특징으로 하는 기록 매체에 있다.

본 양태에 의하면, 당해 프로그램의 반포 등을 양호하게 실시할 수 있다. 이 결과, X 선 촬상 장치 등의 고가의 의료 기기가 없어도 PC 등의 범용성이 있는 저렴한 하드웨어가 있으면, 이것에 대해 인스톨함으로써, 어디에서나 용이하게 치주염 지표 작성 장치로서의 기능을 발휘시킬 수 있다.

본 발명에 있어서는, 먼저 상실 치근막 면적 또는 잔존 치근막 면적과 교합력의 강한 상관 관계에 기초하여 양자의 관계를 나타낸 식에 의해 구해지는 교합력-상실 치근막 직선을 이용하여 신규 치주염 지표를 구하고 있다. 이 치주염 지표는 치주병 임상의 법칙에 준거하여 산출되고, 교합력을 가미하여 보정한 보정 잔존 치근막 면적 또는 보정 상실 치근막 면적을 사용한 것이므로, 치주병 임상에 준거한 치아의 건강도의 절대 평가가 된다. 특히 그 도출된 과정으로부터, 치아의 상실 시 근변을 상세하게 나타내는, 치주염의 진행 정도를 적확하게 나타내는 예지성이 높은 지표가 된다.

또한 본 발명에 의하면, 치주병 임상에 있어서 이환치의 소정의 (최심부의) 어태치먼트 레벨의 계측에 의해, 복잡한 기기나 순서를 취하지 않고도, BPI 소프트에 입력함으로써 치주병 평가가 가능해진다. 그것은 기기의 결점에 의한 오차나 시술자간의 판단의 오차를 일으키는 일 없이, 전 세계적으로 또 시간 경과적으로 동일 레벨로 치주병 평가가 가능해져, 치주병에 있어서의 일반 임상에 있어서도 또 치주병 임상 실험에 있어서도 치주병 평가의 유용한 수법이 될 수 있다.

도 1 은, 치아를 모식적으로 나타내는 도면으로, (a) 가 단근치, (b) 가 복근치이다.
도 2 는, 치주염 때문에 보존 불가능으로서 발치한 각 치종 마다의 샘플 어태치먼트 레벨을 나타내는 그래프이다.
도 3 은, 각종 의사 치근을 모식적으로 나타내는 설명도이다.
도 4 는, 원추체로 간주하여 단근치의 의사 치근을 작성하는 경우의 각 부의 치수를 설명하기 위한 설명도이다.
도 5 는, 교합력 계수와 상실 시의 상실 치근막 면적인 상실 시 상실 치근막 면적의 관계를 나타내는 그래프이다.
도 6 은, 교합력을 가미한 잔존 치근막 면적과 치주염 계수 (BPI) 의 관계를 나타내는 치주염 지표 곡선의 작성 방법을 나타내는 설명도이다.
도 7 은, 인종마다, 또 치종마다 상이한 치주염 곡선을 상악(上顎) 및 하악에 관해서 각각 나타내는 그래프이다.
도 8 은, 본 발명의 실시형태에 관련된 치주염 지표 작성 장치를 나타내는 블록도이다.
도 9 은, 도 8 에 나타내는 장치의 연산 처리부의 하드웨어 구성을 나타내는 블록도이다.

이하 본 발명의 실시형태를 도면에 기초하여 상세하게 설명한다.

＜치주염 지표의 작성 방법 및 치주염의 진단 방법＞

본 실시형태에 관련된 치주염 지표의 작성 방법에 있어서는, 먼저 보존 불가능으로서 발치된 복수의 치아 (본 예에서는 221 개) 를 대상으로 하여, 치종마다 각각 복수개씩을 추출한 샘플 (표 1 참조) 에 있어서의 각 치아의 시멘트·에나멜경계 또는 피복관치의 관변연으로부터 연하 치석 부착부의 최심부까지의 치수인 어태치먼트 레벨을 측정한다. 이 측정은, mm 단위로 실시하고, 1 개의 치아에 대해 6 점 (협측(頰側) 근심, 협측 중앙, 협측 원심, 설측 근심, 설측 중앙, 하측 원심) 에서 측정하고, 상악, 좌우측의 1 번 ∼ 7 번의 각각의 치아 및 하악, 좌우측의 1 번 ∼ 7 번의 각각의 치아의 샘플 어태치먼트 레벨로 한다. 이러한 샘플 어태치먼트 레벨은, 각 치아의 어태치먼트 레벨의 측정 결과 얻어지는 가장 큰 값으로 한다. 여기서, 각각의 치아의 연하 치석 부착 최심부의 값을 각 치종마다 나누어 (소구치부에 있어서는 해부학적 곤란성에서 4 번과 5 번을 함께 했다) 평균치를 구했다 (표 1 및 표 2 참조). 한층 더 구체적으로는, 각 치아로부터 얻어진 어태치먼트 레벨의 측정치로부터, (상하 좌우 각 치종의) 어태치먼트 레벨의 평균치를 산출하고, 그 값으로 2 원 배치 분산 분석을 실시하여 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 로 했다.

그 결과를 나타낸 것이 전술한 표 2 이다. 동표를 참조하면 분명한 바와 같이, 치아의 상실 시의 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 의 최대치는 상악·좌측의 2 번의 11.0 mm, 최소치는 하악·7 번의 4.0 mm 이며, 전치에서 크고, 구치에서 작은 경향이 있다. 통계 처리를 한 결과, 이후에 상세히 서술하는 바와 같이, 치아의 상실 시의 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 의 치종별 평균치에서 상악과 하악의 사이, 또 우측과 좌측 사이의 차는 인정되지 않았지만, 1 번에서 7 번의 치종에 의한 차가 인정되었다 (P = 0.0014).

다음으로, 상기 샘플로 한 각 치아의 총 치근막 면적 (S) 을 수량적으로 계산할 수 있는 의사 치근을 작성함과 함께, 의사 치근에 기초하여 각 치아의 총 치근막 면적 (S), 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 에 기초하여 상기 각 치아의 잔존 치근막 면적 (S_S), 및 총 치근막 면적 (S) 과 잔존 치근막 면적 (S_S)의 차인 상실 치근막 면적 (S_L)을 산출한다.

구체적으로는, 다음과 같은 의사 치근을 작성하고, 이것에 기초하여 다음과 같은 소정의 연산을 실시하여, 총 치근막 면적 (S), 잔존 치근막 면적 (S_S) 및 상실 치근막 면적 (S_L)을 산출한다.

먼저, 치근막 면적을 수량적으로 계산할 수 있는 의사 치근을 만든다. 구체적으로는, 단근치의 치근은 원추체로 간주하고, 복근치는 복수의 원추체의 집합체로 간주한다. 그리고 치근의 모든 표면적인 총 치근막 면적 (S) 및 치주염으로 상실한 치근막의 표면적인 상실 치근막 면적 (S_L), 그리고 상실되어 있지 않은 치근막의 표면적인 잔존 치근막 면적 (S_S) 을 원추체의 측면적으로부터 계산한다. 이러한 일련의 연산 공정을 도 3 에 기초하여 상세하게 설명한다.

1) 의사 치근을 만든다.

a) 도 1(a) 에 나타내는 단근치의 경우

도 3(a) 에 나타내는 바와 같이, 시멘트·에나멜 경계 CEJ (이하, CEJ 로 약칭한다) 의 부분에 있어서의 치근 (이하, CEJ 부 치근이라고 칭한다) 의 직경을, 원추체 저면의 직경으로 하고, 치근 길이를 원추체의 높이로 한다. 여기서, CEJ 부 치근에 있어서의 근원심과 협설측에서는 값이 상이하기 때문에, 그 평균치를 산출한다.

b) 도 1(b) 에 나타내는 복근치에서, 상악 4 번, 5 번의 경우

도 3(b) 에 나타내는 바와 같이, 협설측의 2 근으로 이루어지는 2 개의 원추체로 간주한다.

c) 복근치에서, 하악 6 번, 7 번의 경우

도 3(c) 에 나타내는 바와 같이, 근원심의 2 근으로 이루어지는 2 개의 원추체로 간주한다.

d) 복근치에서, 상악 6 번, 7 번의 경우

도 3(d) 에 나타내는 바와 같이, 구개측은 협설측의 1/2 의 폭의 원추체, 협측은 또한 근원심 폭의 1/2 의 폭의 2 개의 원추체로 이루어지는 합계 3 개의 원추체로 간주한다.

e) 여기서, 도 3(b) ∼ 도 3(d) 에 나타내는 경우도, 도 3(a) 에 나타내는 단근치와 마찬가지로, CEJ 부 치근에서는 근원심과 협설측에서는 값이 상이하기 때문에, 그 평균치를 산출한다.

f) CEJ 부 치근은 치근 근원심측에서는 치관 부근에, 치근 협설측에서는 치근첨 부근에 위치하고 있기 때문에, 치근의 길이는 근원심부의 CEJ 부 치근으로부터 근첨까지의 치근 길이와, 협설측부의 CEJ 부 치근으로부터 근첨까지의 치근 길이의 평균치를 사용한다.

g) 다근치의 상악 4 번, 5 번, 6 번, 7 번 및 하악 6 번, 7 번은 근원심근 및 협설근에 있어서 치근 길이가 상이하기 때문에, 각각 높이가 상이한 원추체의 집합체로 간주한다.

h) 여기서, 치근 CEJ 의 부분의 근원심 폭, 협설 폭 및 치근 길이는, 일본인의 치아 해부의 성서 카미조 야스히코 저술 「일본인 영구치의 해부학」 출판 아나토무사의 평균치를 사용했다.

i) 상기 a) ∼ h) 에 기초하여 산출된 각 치종마다의 의사 치근의 직경 및 치근 길이 (단위 mm) 를 표 3 에 나타낸다.

2) 의사 치근으로부터 총 치근막 면적 (S) 을 산출한다.

의사 치근의 원추체의 측면적을 총 치근막 면적 (S) 으로 간주하고, 도 4(a) 에 있어서의 H 를 치근 길이, C 를 치근 능선 길이, R 을 CEJ 부 치근의 직경, r 을 CEJ 부 치근의 반경으로 하면, 총 치근막 면적 (S) 은, S = πrC 로 나타내진다.

여기서, r = R/2, C = SQRT (r²＋ H²) 를 상기 식에 대입함으로써 총 치근막 면적 (S) 은 식 (5) 로 주어진다.

3) 의사 치근으로부터 잔존 치근막 면적 (S_S) 및 상실 치근막 면적 (S_L)을 산출한다.

도 4(b) 에 있어서, M, S, S_S, S_L, X 를 다음과 같이 한다.

M ； 실측한 6 점의 계측치의 최대의 샘플링 어태치먼트 레벨 (단위 mm)

S ； 총 치근막 면적 (단위 ㎟)

S_S ； 잔존 치근막 면적 (단위 ㎟)

S_L ； 상실 치근막 면적 (단위 ㎟)

X ； 잔존 치근의 반경 (단위 mm)

이 결과, 잔존 치근막 면적 (S_S) 은, S_S = π × (C － M) 으로 나타내진다.

상기 S_S의 식에 다음의 값을 대입하여 식 (6) 을 얻는다.

이 결과, 잔존 치근막 면적 (S_S) 은 다음 식 (7) 로 나타내진다.

여기서, 상실 치근막 면적 (S_L)= 총 치근막 면적 (S) － 잔존 치근막 면적 (S_S)인 점에서, 상실 치근막 면적 (S_L)은 다음 식 (8) 로 나타내진다.

4) 상기 식 (5), (7), (8) 에 각 치종에 따라 상이한 표 3 으로 나타낸 치근 길이 H 및 직경 R 의 값을 입력한다. 또한 표 1 에 나타내는 각 치아의 상실 시의 치종마다의 샘플링 어태치먼트 레벨을 상기 식 (5), (7), (8) 에 각각 입력하여 치아의 상실 시의 각 치종 치근의 총 치근막 면적 (S), 잔존 치근막 면적 (S_S), 상실 치근막 면적 (S_L) 을 산출한다. 그 결과를 표 4 에 나타낸다.

상기 식 (5), (7), (8) 에서 주어지는 총 치근막 면적 (S), 잔존 치근막 면적 (S_S), 상실 치근막 면적 (S_L) 을, 그대로 이용한 것만으로는, 치주병의 진행 정도를 나타내는 지표로서는, 전술한 바와 같이 불충분하다. 그래서, 본 형태에서는, 각 치아의 교합력의 차이에 의한 영향을 조사하여, 그 결과를 소정의 지표의 작성에 반영시키고 있다. 즉, 교합력으로 상기 잔존 치근막 면적 (S_S), 상실 치근막 면적 (S_L) 을 수정함으로써 각 치아마다의 치주염의 진행 정도를 보다 정확하게 반영한 지표를 얻을 수 있는 것은 아닌가하고 생각하여, 다음의 검토를 실시했다.

복잡한 교합력은 외력으로서 각 치아에 작용하고 있다고 생각되지만, 주가 될 수 있는 다음의 2 개의 요소로 수정을 가한다.

1) 각 치아의 교두를 지렛대의 원리의 작용점으로 하면 악관절의 과두가 지지점이라고 생각된다. 그래서, 하악 1 번을 기준으로 하여 각 치종의 교두로부터 악관절 과두까지의 거리의 비에 의해 교합력을 수정한다. 요컨대, 전치보다 대구치가 과두에 가깝기 때문에, 강대한 교합력이 작용한다고 생각한다.

2) 교합력을 받는 교두와 치근첨까지의 길이가 긴 치아일수록, 지렛대의 원리로 교합력이 외상력으로서 작용하기 쉬울 것이라고 생각한다. 그래서, 상하 악치가 임상적으로 교합 접촉하고 있는 부위로부터, 가장 먼 치근첨까지의 거리를 치아의 길이로서 사용한다. 그리고, 하악 1 번을 기준으로 하여, 각 치종마다의 치아의 길이의 비에 의해 교합력을 수정한다.

상기 1) 및 2) 를 고려하여, 각 치아의 교합력의 관계를 나타내는 교합력 계수 (B) 를 생각한다. 이 교합력 계수 (B) 는, 해부학적인 데이터로서 미리 주어지는 각 치아의 교두로부터 악관절의 과두까지의 거리 (T) 와, 기준 위치를 부여하는 특정의 기준 치아로부터 상기 과두까지의 거리 (A) 의 비, 및 미리 주어지는 상기 기준 치아의 치아의 길이 (P) 와, 상기 각 치아의 길이 (Q) 의 비에 기초하여 상기 각 치아의 교두를 지렛대의 작용점으로 하여, 상기 과두를 상기 지렛대의 지지점으로 하는 교합력 계수 (B) 를 상기 각 치아에 관해서 각각 산출한다.

즉, 교합력 계수 (B) 는, 다음 식 (9) 로 주어진다.

여기서, 다음의 가설을 세운다. 샘플링 어태치먼트 (M) 에 기초하는 각 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적 (S_L) 은 상기 표 4 에 나타내는 바와 같이, 각 치종간에 상이하다. 만약, 이것에 교합력을 가미한 수정을 실시함으로써, 각 치종간에 동일한 정도가 된다면, 「치근막 상실의 원인은 교합력이다」 고 할 수 있다.

그래서, 먼저 수정치를 비교했다. 구체적으로는, 표 4 에 나타내는 상실 치근막 면적 (S_L) 에, 표 5 에 나타내는 교합력 계수 (B) 를 곱셈하고, 각 치종의 상실 시의 치근막 면적 (S_L) 에 교합력의 수정을 실시한 값 (S_L·B) 을 표 6 에 나타낸다.

그 후, 각 치종의 상실 치근막 면적 (S_L) 과, 교합력 계수 (B) 를 가미하여 수정한 상실 치근막 면적 (S_L·B) 을 각 치종간에 비교 검토한다. 결과는 다음과 같다.

1) 상실 치근막 면적 (S_L) 에 대해 ；

a) 치종에 의한 차가 인정되었다 (P = 0.0000013, 반복이 없는 2 원 배치 분산 분석).

b) 상악과 하악의 사이에서는 차가 인정되었다 (P = 0.0046, 반복이 없는 2 원 배치 분산 분석).

c) 좌측과 우측의 사이에서는 차가 인정되지 않는다 (대응이 있는 경우의 t- 검정)

d) 상하·좌우 6 번을 제외하면, 치종에 의한 차가 인정되지만 (P = 0.0014, 반복이 없는 2 원 배치 분산 분석), 상악과 하악의 사이 및 좌측과 우측의 사이에서는 차가 인정되지 않는다 (반복이 없는 2 원 배치 분산 분석 및 대응이 있는 경우의 t-검정).

2) 교합력 계수 (B) 를 가미하여 수정을 실시한 S_L·B 에 대해 ；

a) 치종에 의한 차가 인정되었다 (P = 0.0025, 반복이 없는 2 원 배치 분산 분석).

b) 상악과 하악의 사이 및 좌측과 우측의 사이에 차는 인정되지 않는다 (반복이 없는 2 원 배치 분산 분석 및 대응이 있는 경우의 t-검정에서도 좌우차는 N. S.).

c) 상하·좌우 6 번을 제외하면, 치종에 의한 차가 인정되지 않는다. 또, 상악과 하악의 사이, 및 좌측과 우측의 사이에 차는 인정되지 않는다 (반복이 없는 2 원 배치 분산 분석 및 대응이 있는 경우의 t-검정).

이상의 결과, 상기 1) 및 2) 에 의해, 상하 6 번을 제외한 경우, 「치근막 상실의 원인은 교합력이다」 라고, 결론지을 수 있다.

이와 같이, 「치근막 상실의 원인은 교합력이다」 라는 사실을 근거로 하여 교합력 계수 (B) 와, 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 에 기초하는 치아의 상실 시의 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0) 의 관계를 조사하기 위해, 교합력 계수 (B) 를 가로축에 취하고, 상실 치근막 면적 (S_L) 을 세로축에 취하여 그래프를 작성했다.

다음으로, 상실 치근막 면적 (S_L) 및 교합력 계수 (B) 의 통계 처리 결과로부터 「상하·좌우 6 번을 제외하면 상악과 하악의 사이 및 좌측과 우측의 사이에 차는 인정되지 않는다」 로부터 1 치종에 각각 4 샘플이 되는 교합력 계수 (B) 와 상실 치근막 면적 (S_L) 의 값을 도 5 에 나타내는 그래프에 플롯한다.

이 경우의 교합력 계수 (B) 와 상실 치근막 면적 (S_L) 의 관계를 표 7 에 나타낸다.

여기서, 6 번을 제외한 합계 20 샘플을 통계 처리하면, 교합력 계수 (B) 와 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적 (S_L) 의 사이에는, 상관 계수 = -0.8826, 자유도 조정이 완료된 결정 계수 = 0.7667 로, 매우 고도의 직선적인 상관성이 있는 것을 알 수 있었다. 즉, 교합력 계수 (B) 와 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적 (S_L) 의 사이에는,

S_L= -203.9B ＋ 281.2···(10)

이라는 직선적인 관계가 성립하고 있다.

상기 식 (10) 으로 나타내는 직선, 즉 「교합력-상실 치근막 직선」 은 교합력 계수 (B) 와 상실 치근막 면적 (S_L) 이 패러렐로 대응하는 것을 나타내고 있다. 따라서, 이러한 「교합력-상실 치근막 직선」 을 구함으로써, 구체예를 일반론으로 치환한다. 요컨대 교합력 계수 (B) 는 해부학적 수치로, 미리 주어지는 정수이다. 한편, 상악과 하악에서는 교합하는 점이 상이하므로 교합하는 점과 악관절 과두까지의 거리도, 또 치아의 길이도 상이하다. 또한 해부학적 차이에서 동양인과 서양인에서도 상이하다. 따라서 교합력-상실 치근막 직선은 교합력 계수 (B) 와 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적 (S_L) 의 관계를 나타내는 보편적인 식이라고 할 수 있다.

따라서, 상기 식 (10) 에 특정 치아의 교합력 계수 (B) 를 대입하면, 하나의 상실 치근막 면적 (S_L) 이 특정되지만, 이 상실 치근막 면적 (S_L) 은 해부학적인 정수로서 미리 주어지는 교합력 계수 (B) 를 가미한 상실 시 (발치 시) 의 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0) 을 나타내는 수치가 된다. 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0) 은, 해부학적 정수인 교합력 계수 (B) 가 구해지면 일의(一意)로 결정된다.

즉, 도 5 에 나타내는 바와 같이, 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0) 은, 특정의 교합력 계수 (B) 로부터 세로축 방향으로 직선 (L_Y) 을 뻗어서 교합력-상실 치근막 직선에 접촉시켜, 접촉한 점으로부터 가로축 방향으로 직선 (L_X) 을 뻗어서 세로축에 접촉한 점의 상실 치근막 면적 (S_L) 의 값으로서 구해진다.

동일한 처리를, 각 교합력 계수 (B) 에 관해서 실시하면 각 교합력 계수 (B) 를 부여하는 각 치아의 교합력 계수 (B) 를 가미한 상실 시의 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0) 을 구할 수 있다.

여기서, 잔존 치근막 면적 (S_S) = 총 치근막 면적 (S) - 상실 치근막 면적 (S_L) 으로서 주어진다. 따라서, 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 을 부여하는 특정 치아의 상실 시의 잔존 치근막 면적 (S_S) 인 상실 시 잔존 치근막 면적 (S_SB0) 은,

상실 시 잔존 치근막 면적 (S_SB0) = 총 치근막 면적 (S) - 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0)

으로서 주어진다.

그래서, 교합력 계수 (B) 를 가미한 경우의 잔존 치근막 면적 (S_SB) 의 총 치근막 면적 (S) 에 대한 비율로서 치주염의 진행을 보다 적확하게 반영한 치주염 지표 (BPI) (Periodontal Index Modified Bite Force) 를 정의할 수 있다. 즉, 본 형태에 있어서의 치주염 지표 (BPI) 를 BPI = (S_SB/S) × 100 (％) 로 정의한다.

이러한 치주염 지표 (BPI) 를 치주염의 진행 정도를 나타내는 지표로 하려면, 치아의 잔존 치근막 (S_S) 을 변수로 하는 경우에 있어서, 교합력 계수 (B) 를 가미한 잔존 치근막 면적 (S_SB) 으로 수정하여 사용할 필요가 있지만, 이것은 다음과 같은 순서에 의해 실현할 수 있다. 이 순서를 도 6 에 기초하여 설명한다.

1) 먼저, 잔존 치근막 면적 (S_S) 을 가로축에 취하고, 치주염 지표 (BPI) 를 세로축에 취한 경우에 있어서, 치근막이 모두 남아 있는 경우의 치주염 지표 (BPI) 인 100 과, 치근막이 전부 상실되어 있는 경우의 치주염 지표 (BPI) 인 0 의 2 점을 연결하는 직선을 긋는다.

2) 다음으로, 치아의 상실 시의 상실 시 잔존 치근막 (S_SB0) 에 기초하는 값으로서 주어지는 치아의 상실 시의 치주염 지표 (BPI) 의 값 (도 6 의 경우의 점 P₅₀= 50 으로 했다) 을 플롯하고, 이 플롯한 점 P₅₀을 지나는 직선이 되도록 상기 직선을 평행 이동한다.

3) 또한, 치주염 지표 (BPI) 가 0 과 100 의 2 점을 지나고, 또한 상기 플롯한 점에서만 상기 평행 이동한 직선에 접하는 매끄러운 곡선으로서 치주염 지표 곡선을 작성한다.

4) 진찰 대상의 치아의 잔존 치근막 면적 (S_S) 등, 특정의 잔존 치근막 면적 (S_S) 에 대응하는 상기 치주염 지표 곡선 상의 점 P 를, 상기 특정의 잔존 치근막 면적 (S_S) 에 대응하는 치주염 지표 (BPI) 로 한다. 도 6 에서는 BPI = 60 이 된다.

본 양태에서 정의되는 치주염 지표 (BPI) 는, 임의의 잔존 치근막 면적 (S_S) 에 대한 치주염 지표 곡선 상의 점으로서 주어진다. 이와 같이, 치주염 지표 곡선을 이용하여 잔존 치근막 면적 (S_S) 을 특정하는 것만으로 교합력을 가미한 원하는 치주염 지표 (BPI) 를 얻을 수 있다.

이러한 치주염 지표 (BPI) 는, 치주염의 진행 정도를 적확하게 반영한 객관적인 지표가 되어, 발치 기준을 객관적으로 제시하는 지표로서, 보다 고정밀도로 치주병 임상에 준거한 치아의 건강도의 절대적인 지표로 할 수 있다.

본 형태에 있어서의 치주염 지표 (BPI) 는, 의사 치근이나 교합력 계수 (B) 등의 개념을 도입하여 정의되지만, 여기서 의사 치근 및 교합력 계수 (B) 를 도출하기 위한 해부학적 데이터에 관해서 설명해 둔다. 본 형태에서는, 골격이 상이한 세계의 인종을 동양인과 서양인의 2 개로 크게 분류했다. 동양인은 치주염과 교합력으로 나타낸 카미조 야스히코 저술 「일본인 영구치의 해부학」출판 아나토무사의 데이터를 대표로서 사용했다.

한편, 서양인은 다음의 2 개를 대표로서 사용했다.

치근 폭·치근 길이 ： Woelfel`s Dental Anatomy

Rickne c. Seheid

Gadriela Weiss

Wolters Kluwer

악관절 ： Head and Neck Anatomy for

Dental Medicine

Edited by Eric W. Baker Thieme

상기 각각의 자료로부터, 다음의 데이터를 갖추었다.

R ： 치근 (CEJ 부) 직경 (mm)

H ： 치근 길이 (mm)

Q ： 교두정으로부터 치근첨까지의 거리 (치아의 길이)

T ： 교합력 기능 부위로부터 악관절 과두까지의 거리

P ： 하악 전치 1 번의 절연으로부터 치근첨까지의 거리

A ： 하악 전치 1 번의 절연으로부터 악관절 과두까지의 거리

동양인 및 서양인에 관한, 해부학적 데이터를 표 8 에, 또 총 치근막 면적과 교합력 계수를 표 9 에, 각 치아의 상실 시의 상실 시 잔존 치근막 면적 (S_SB0) 및 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0) 을 표 10 에 각각 나타낸다.

도 7 은 상기 해부 데이터를 이용하여 작성한 동양인 및 서양인의 치종별 BPI 곡선을 나타내고 있다. 이 치종별 BPI 곡선을 이용하여 검사 대상이 되는 치아의 잔존 치근막 면적 (S_S) 을 특정함으로써, 이것에 대응하는 치주염 지표 (BPI) 를 인종별로, 간단하게 구할 수 있다.

도 7 에 나타내는 치종별 BPI 곡선을 이용하면, 원하는 치아의 치주염 지표 (BPI) 를 임의로 구할 수 있어, 이것을 치주염의 진단에 이용할 수도 있다.

이러한 치주염의 진단에 있어서는, 먼저 진단의 대상이 되는 치아의 어태치먼트 레벨을 실측하여 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 을 구한다. 이러한 실측은, 예를 들어 포켓 프로브를 이용하여 바람직하게 실시할 수 있다. 실측은, 치아의 협측근, 구개근, 협측 근심근, 협측 원심근, 근심근, 원심근의 6 지점에 있어서 실시하고, 가장 큰 값을 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 로서 채용한다.

다음으로, 전술한 바와 같은 방법으로, 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 에 기초하여 잔존 치근막 면적 (S_S) 을 구하고, 도 7 의 치종별 BPI 곡선 중, 진단의 대상이 되어 있는 치아에 대응하는 BPI 곡선 (w) 을 선택하여, 그 가로축에서 상기 잔존 치근막 면적 (S_S) 에 대응하는 점을 특정하고, 이 점에 대응하는 BPI 곡선 상의 점에 대응하는 세로축의 치주염 지표 (BPI) 를 읽는다.

이렇게 하여 구해지는 치주염 지표 (BPI) 의 수치에 의해 치주염의 진행 정도를 진단한다. 덧붙여서 이 수치가 클수록 건강한 치아인 것을 나타내고 있다. 따라서, 예를 들어, BPI = 40 ∼ 60 을 주의 영역, 40 미만을 위험 영역, 60 을 초과하는 경우를 안전 영역으로 하여, 치주염의 진행에 관한 주의를 환기할 수도 있다.

또한, 본 형태에 관련된 치주염 지표의 작성 방법에 있어서는, 도 5 에 기초하여 구해지는 교합력을 가미한 상실 시 치주염 지표 (BPI) 를 부여하는 1 점에, 치주염 지표 (BPI) 가 영 (치근막이 전부 상실되어, 잔존 치근막 면적 (S_S) 이 영) 및 100 (치근막이 전부 남아, 잔존 치근막 면적 (S_S) 이 전체 치근막 면적과 동일하다) 의 2 점을 더한 3 점이 주어지므로, 상기 서술한 바와 같은 처리에서 1 개의 치주염 지표 곡선이 일의로 정해진다. 다만, 도 5 에 기초하여 구해지는 교합력을 가미한 상실 시 치주염 지표 (BPI) 를 이용하는 방법이면, 치주염 지표 곡선의 작성 방법으로 특별한 제한은 없다.

또한, 치주염 지표 작성 공정은 반드시 필요한 것은 아닌 경우도 있다. 도 5 에 기초하여 구해지는 교합력을 가미한 상실 시 치주염 지표 (BPI) 가 구해지면, 단독으로 발치의 객관적인 기준으로 할 수 있는 경우도 생각되고, 또 상실 시 치주염 지표 (BPI) 만 구해지면, 이것을 이용하여 교합력을 가미한 잔존 치근막 면적 (S_SB) 과 총 치근막 면적 (S) 의 비인 치주염 지표 (BPI) 는, 여러 가지의 방법에 의해 구할 수 있다고 생각되기 때문이다.

＜치주염 지표의 작성 장치 겸 치주염의 진단 장치＞

도 8 은 본 발명의 실시형태에 관련된 치주염 지표 작성 장치를 나타내는 블록도, 도 9 는 그 연산 처리부의 하드웨어 구성을 나타내는 블록도이다. 도 8 에 나타내는 바와 같이, 치주염 지표 작성 장치 (I) 는, 입력 장치 (11), 입력 장치 (11) 를 통하여 소정의 데이터를 입력하여 소정의 정보 처리를 실행하는 연산 처리부 (10) 및 연산 처리부 (10) 에서 처리한 결과를 출력하는 출력 장치 (12) 로 이루어진다.

여기서, 입력 장치 (11) 는, 치주염 지표 (BPI) 를 작성하기 위한 기초 데이터인 샘플링 어태치먼트 레벨 (M) 을 나타내는 데이터 및 치주염의 진단을 실시하기 위해, 대상이 되는 치아에 관해서 계측한 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 을 나타내는 데이터를 연산 처리에 공급하는 등, 연산 처리에 필요한 데이터를 공급하는 것이다.

연산 처리부 (10) 는, 치근막 면적 연산 수단 (10A), 교합력 계수 연산 수단 (10B), 직선 작성 수단 (10C), 상실 시 상실 치근막 면적 검출 수단 (10D), 상실 시 치주염 지표 연산 수단 (10E), 치주염 지표 작성 수단 (10F) 을 가지고 있다.

여기서, 치근막 면적 연산 수단 (10A) 은, 각 치아의 총 치근막 면적 (S) 및 발치한 각 치아의 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 에 기초하는 각 치아의 상실 치근막 면적 (S_S) 을 산출한다. 동시에, 치근막 면적 연산 수단 (10A) 은, 진단의 대상이 되는 특정 치아의 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 에 기초하는 잔존 치근막 면적 (S_S) 도 산출한다.

교합력 계수 연산 수단 (10B) 은, 해부학적 데이터로서 미리 주어지는 각 치아의 교두로부터 악관절의 과두까지의 거리 (T) 와, 기준 위치를 부여하는 특정의 기준 치아로부터 과두까지의 거리 (A) 의 비, 및 미리 주어지는 기준 치아의 치아의 길이 (P) 와, 각 치아의 길이 (Q) 의 비에 기초하여 각 치아의 교두를 지렛대의 작용점으로 하고, 과두를 지렛대의 지지점으로 하는 교합력 계수 (B) 를 각 치아에 관해서 각각 산출한다.

직선 작성 수단 (10C) 은, 각 치종만에 따라 상이한 교합력 계수 (B) 와, 상실 치근막 면적 (S_L) 의 관계를 각 치종마다 통계 처리한 경우에, 양자의 값에 직선 관계가 있는 것을 이용하여 상기 교합력 계수 (B) 와, 상기 상실 치근막 면적 (S_L) 의 관계를 나타내는 직선의 식 (S_L= α·B ＋ β ； 단 α, β 는 정수) 인 교합력-상실 치근막 직선을 작성한다.

상실 시 상실 치근막 면적 검출 수단 (10D) 은, 직선 작성 수단 (10C) 에 있어서 얻어진 교합력-상실 치근막 직선에 기초하여, 교합력 계수 (B) 를 가미하여 보정한 각 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적인 상실 시 상실 치근막 면적 (S_LB0) 을 산출한다.

상실 시 치주염 지표 연산 수단 (10E) 은, 총 치근막 면적으로부터 상실 시 상실 치근막 면적을 빼서 구하는 상실 시 잔존 치근막 면적에 기초하여, (상실 시 잔존 치근막 면적 (S_SB0)/총 치근막 면적 (S)) × 100 (％) 를 각 치아의 상실 시의 치주염 지표 (BPI) 로서 산출한다.

치주염 지표 작성 수단 (10F) 은, 치근막이 모두 남아 있는 경우의 치주염 지표 (BPI) 를 100 으로 하고, 치근막이 전부 상실되어 있는 경우의 치주염 지표 (BPI) 를 0 으로 하여, 각 치아의 상실 시의 치주염 지표 (S_SB0/S) 를 상실 시 치주염 지표로서 이들의 값을 나타내는 3 점을 지나는 치주염 지표 곡선에 의해 나타내지고, 총 치근막 면적 (S) 에 대한 각 치아의 교합력 계수를 가미한 잔존 치근막 면적 (S_S) 의 비율인 치주염 지표 (BPI) 를 작성한다. 동시에, 치주염 지표 작성 수단 (10F) 은, 진단의 대상이 되는 특정 치아의 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 에 기초하여 산출된 잔존 치근막 면적 (S_S) 에 대응하는 치주염 지표 (BPI) 를 치주염 지표 곡선을 참조하여 구하고, 진단 대상이 되어 있는 특정 치아의 치주염 지표 (BPI) 를 작성한다.

출력 장치 (12) 는, 치주염 지표 작성 수단 (10F) 으로 작성한 치주염 지표 (BPI) 를 나타내는 데이터를 입력하고, 그 내용을 인자, 디스플레이 표시 등에 의해 가시화한다.

여기서, 도 9 에 나타내는 연산 처리부 (10) 는, CPU (21), RAM (22), ROM (23), 하드 디스크 (24) 등의 기억 수단을 구비하고, 키보드나 기록 매체 판독 장치 등의 입력 장치 (11) 와, 디스플레이, 프린터 등의 출력 장치 (12) 가 접속되어 있다.

본 형태에 의하면, 샘플 어태치먼트 레벨 (M) 에 관한 샘플링 데이터를 연산 처리부 (10) 에 입력하는 것만으로, 자동적으로 교합력을 가미한 치주염 지표 (BPI) 를 간단하게 얻을 수 있다. 이 결과, 보다 고정밀도로 치주병 임상에 준거한 치아의 건강도의 절대적인 지표를 용이하게 제공할 수 있다.

또, 진단 대상이 되는 특정 치아의 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 의 데이터를 입력하는 것만으로, 치종에 따라 상이한 교합력을 가미한 치주염 지표 (BPI) 를 간단하고 자동적으로 구할 수 있으므로, 치주염 치료 시의 적확하고 객관적인 발치 기준을 용이하게 얻을 수 있어, 적절한 치주염 치료를 용이하고 신속히 실시할 수 있다.

또한, 본 형태에 관련된 치주염 지표의 작성 장치에 있어서는, 작성 방법에서 기술한 것과 동일한 이유로, 치주염 지표 작성 수단 (10F) 은, 반드시 필요한 것은 아닌 경우가 생각된다.

＜치주염 지표 작성 프로그램 및 치주염의 진단 프로그램＞

본 실시형태는, 상기 실시형태에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치근막 면적 연산 공정, 교합력 계수 연산 공정, 상실 치근막 면적 검출 공정, 상실 시 치주염 지표 연산 공정 및 치주염 지표 작성 공정의 각 처리를 치주염 지표 작성 장치 또는 치주염의 진단 장치에 실행시키는 프로그램이다.

본 형태에 의하면, 상기 실시형태에 관련된 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 소정의 공정 처리를 도 8 에 나타내는 치주염 지표 작성 장치에 양호하게 실행시킬 수 있다.

또, 다른 실시형태는, 상기 실시형태의 치주염의 진단 방법에 있어서의 실측 어태치먼트 레벨 (M1) 에 기초하는 진단 대상의 치아의 잔존 치근막 면적 (S_S) 을 산출함과 함께, 치주염 지표 작성 공정에 의해 잔존 치근막 면적 (S_S) 에 대응하는 진단 대상이 되는 특정 치아의 치주염 지표 (BPI) 를 작성하는 처리를, 도 8 에 나타내는 치주염의 진단 장치에 실행시키는 프로그램이다.

본 양태에 의하면, 소정의 치주염 지표를 자동적으로 생성시켜, 용이하고 신속한 치주염의 치료에 이바지할 수 있다.

＜기록 매체＞

상기 치주염 지표 작성 프로그램 및 치주염의 진단 프로그램은 DVD 등의 기록 매체에 기록시킬 수 있다. 이러한 기록 매체에 의해 본 발명에 관련된 프로그램의 반포 등을 양호하게 실시할 수 있다. 이 결과, PC 등의 하드웨어가 있으면, 이것에 대해 인스톨함으로써, 어디에서나 용이하게 치주염 작성 장치로서의 기능을 발휘시킬 수 있다.

산업상 이용가능성

본 발명은 치과 의료 분야, 특히 치주병의 치료를 실시할 때의 객관적인 발치 기준을 부여하는 산업 분야에 있어서 바람직하게 이용할 수 있는 것이다.

I : 치주염 지표 작성 장치
10 : 연산 처리부
10A : 치근막 면적 연산 수단
10B : 교합력 계수 연산 수단
10C : 직선 작성 수단
10D : 상실 시 상실 치근막 면적 검출 수단
10E : 상실 시 치주염 지표 연산 수단
10F : 치주염 지표 작성 수단
11 : 입력 장치
12 : 출력 장치

Claims

보존 불가능으로서 발치된 복수의 치아를 대상으로 하여, 치종마다 각각 복수개씩을 추출한 샘플에 있어서의 각 치아의 시멘트·에나멜 경계 또는 피복 관치의 관변연으로부터 연하 치석 부착부의 최심부까지의 치수인 샘플 어태치먼트 레벨을 각각 계측하는 계측 공정과,
상기 각 치아의 총 치근막 면적 및 상기 샘플 어태치먼트 레벨에 기초하는 상기 각 치아의 상실 치근막 면적을 구하는 치근막 면적 연산 공정과,
미리 부여되는 상기 각 치아의 교두로부터 악관절의 과두까지의 거리와, 기준 위치를 부여하는 특정의 기준 치아로부터 상기 과두까지의 거리의 비, 및 미리 부여되는 상기 기준 치아의 치아의 길이와, 상기 각 치아의 길이의 비에 기초하여 상기 각 치아의 교두를 지렛대의 작용점으로 하고, 상기 과두를 상기 지렛대의 지지점으로 하는 교합력 계수를 상기 각 치아에 관해서 각각 구하는 교합력 계수 연산 공정과,
상기 각 치종만에 따라 상이한 교합력 계수와, 상기 상실 치근막 면적의 관계를 각 치종마다 통계 처리한 경우에, 양자의 값에 직선 관계가 있는 것을 이용하여 상기 교합력 계수와, 상기 상실 치근막 면적의 관계를 나타내는 직선의 식인 교합력-상실 치근막 직선을 작성하는 직선 작성 공정과,
상기 직선 작성 공정에 있어서 얻어진 상기 교합력-상실 치근막 직선에 기초하여, 상기 교합력 계수를 가미하여 보정한 각 치아의 상실 시의 상실 치근막 면적인 상실 시 상실 치근막 면적을 구하는 상실 치근막 면적 검출 공정과,
상기 총 치근막 면적으로부터 상기 상실 시 상실 치근막 면적을 빼서 구하는 상실 시 잔존 치근막 면적에 기초하여, (상실 시 잔존 치근막 면적/총 치근막 면적) × 100 (％) 를 각 치아의 상실 시의 치주염 지표로서 산출하는 상실 시 치주염 지표 연산 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법.
제 1 항에 있어서,
치근막이 모두 남아 있는 경우의 치주염 지표를 100 으로 하고, 치근막이 전부 상실되어 있는 경우의 치주염 지표를 0 으로 하여, 상기 각 치아의 상실 시의 치주염 지표를 상실 시 치주염 지표로서 이들의 값을 나타내는 3 점을 지나는 선에 의해 나타내지고, 총 치근막 면적에 대한 상기 각 치아의 교합력 계수를 가미한 잔존 치근막 면적의 비율인 치주염 지표를 작성하는 치주염 지표 작성 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 치근막 면적 연산 공정은, 상기 각 치아의 총 치근막 면적을 수량적으로 계산할 수 있는 의사 치근을 작성하는 의사 치근 작성 공정과, 상기 의사 치근에 기초하여 총 치근막 면적을 산출하는 총 치근막 면적 연산 공정과, 상기 총 치근막 면적 및 상기 샘플 어태치먼트 레벨에 기초하여 상기 치아의 상실 치근막 면적을 산출하는 상실 치근막 면적 연산 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법.
제 3 항에 있어서,
상기 치근막 면적 연산 공정에 있어서의 의사 치근은, 단근치의 치근을 단일의 원추체로 간주함과 함께, 복근치의 치근을 복수의 원추체의 집합체로 간주하여, 상기 원추체의 저면의 직경 (R) 을 상기 치근의 상기 시멘트·에나멜 경계의 부분의 직경, 높이 (H) 를 치근 길이, 원추의 능선 길이 (C) 를 치근 능선 길이로서 작성하는 한편,
상기 총 치근막 면적은 식 (1) 에 기초하여 연산함과 함께, 잔존 치근막 면적은 식 (2) 에 기초하여 연산하고, 또한 상기 상실 치근막 면적은 식 (3) 을 이용하여 소정의 연산을 실시함으로써 구하는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법.
[수학식 1]

[수학식 2]

[수학식 3]
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 교합력 계수는 식 (4) 에 기초하여 연산하는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법.
[수학식 4]

단, 상기 식 (4) 에 있어서,
T ： 각 치종의 교합 부위로부터 악관절 과두까지의 거리
A ： 하악 전치 1 번의 절연으로부터 악관절 과두까지의 거리 (기준치)
P ： 하악 전치 1 번의 절연 순면 우각부로부터 치근첨까지의 거리 (기준치)
Q ： 치아의 길이 (교합 접촉되어 있는 부위로부터 가장 먼 치근첨까지의 거리)
제 2 항에 있어서,
상기 치주염 지표 작성 공정은, 상기 잔존 치근막 면적을 가로축에 취하고, 상기 치주염 지표를 세로축에 취한 경우에 있어서,
치근막이 모두 남아 있는 경우의 치주염 지표인 100 과, 치근막이 전부 상실되어 있는 경우의 치주염 지표인 0 의 2 점을 연결하는 직선을 긋고,
상기 상실 시의 치주염 지표를 플롯하여, 이 플롯한 점을 지나는 직선이 되도록 상기 직선을 평행 이동하고,
또한 상기 치주염 지표가 0 과 100 의 2 점을 지나고, 또한 상기 플롯한 점에서만 상기 평행 이동한 직선에 접하는 치주염 지표 곡선을 작성하고, 특정의 잔존 치근막 면적에 대응하는 상기 치주염 지표 곡선 상의 점을, 상기 특정의 잔존 치근막 면적에 대응하는 치주염 지표로 하는 것을 특징으로 하는 치주염 지표의 작성 방법.
보존 불가능으로서 발치된 복수의 치아를 대상으로 하여, 치종마다 각각 복수개씩을 추출한 샘플에 있어서의 각 치아의 시멘트·에나멜 경계 또는 피복 관치의 관변연으로부터 연하 치석 부착부의 최심부까지의 치수인 샘플 어태치먼트 레벨을 각각 계측하여 얻은 상기 샘플의 계측치를 나타내는 샘플링 데이터가 입력되고,
제 1 항에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치근막 면적 연산 공정, 교합력 계수 연산 공정, 상실 치근막 면적 검출 공정 및 상실 시 치주염 지표 연산 공정의 각 처리를 실행하여 상기 각 치아의 상실 시의 치주염 지표를 작성하는 연산 처리부를 갖는 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 장치.
제 7 항에 있어서,
상기 연산 처리부는, 제 2 항 또는 제 6 항에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치주염 지표 작성 공정의 처리를 실행하고, 또한 치주염 지표를 작성하도록 구성한 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 장치.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치근막 면적 연산 공정, 교합력 계수 연산 공정, 상실 치근막 면적 검출 공정 및 상실 시 치주염 지표 연산 공정의 각 처리를 제 7 항에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에 실행시키는 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 프로그램.
제 2 항 또는 제 6 항에 기재하는 치주염 지표의 작성 방법에 있어서의 치주염 지표 작성 공정의 처리를 제 8 항에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에 실행시키는 것을 특징으로 하는 치주염 지표 작성 프로그램.
제 7 항에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에서 판독 가능한 제 9 항에 기재하는 치주염 지표 작성 프로그램을 기록한 것을 특징으로 하는 기록 매체.
제 8 항에 기재하는 치주염 지표 작성 장치에서 판독 가능한 제 10 항에 기재하는 치주염 지표 작성 프로그램을 기록한 것을 특징으로 하는 기록 매체.
진단 대상이 되는 특정 치아의 어태치먼트 레벨을 계측하여 실측 어태치먼트 레벨을 검출하고,
상기 실측 어태치먼트 레벨에 기초하여 상기 진단 대상의 치아의 잔존 치근막 면적을 산출함과 함께,
제 2 항 또는 제 6 항에 기재하는 치주염 지표 작성 공정에 의해 상기 잔존 치근막 면적에 대응하는 상기 특정 치아의 치주염 지표를 작성하는 것을 특징으로 하는 치주염의 진단 방법.
제 13 항에 있어서 실측한 특정 치아의 실측 어태치먼트 레벨을 나타내는 실측 데이터가 입력됨과 함께,
상기 실측 어태치먼트 레벨에 기초하여 상기 진단 대상의 치아의 잔존 치근막 면적을 산출하고, 또한 제 2 항 또는 제 6 항에 기재하는 치주염 지표 작성 공정의 처리를 실행하여 상기 잔존 치근막 면적에 대응하는 상기 특정 치아의 치주염 지표를 작성하는 연산 처리부를 갖는 것을 특징으로 하는 치주염의 진단 장치.
제 13 항에 기재하는 치주염의 진단 방법에 있어서의 실측 어태치먼트 레벨에 기초하는 진단 대상의 치아의 잔존 치근막 면적을 산출함과 함께,
제 2 항 또는 제 6 항에 기재하는 치주염 지표 작성 공정에 의해 상기 잔존 치근막 면적에 대응하는 상기 특정 치아의 치주염 지표를 작성하는 처리를,
제 14 항에 기재하는 치주염의 진단 장치에 실행시키는 것을 특징으로 하는 치주염의 진단 프로그램.
제 14 항에 기재하는 치주염의 진단 장치에서 판독 가능한 제 15 항에 기재하는 치주염의 진단 프로그램을 기록한 것을 특징으로 하는 기록 매체.