KR20160017190A - 디스플레이 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 패턴 검사 공정이 용이하게 수행될 수 있는 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치를 제공하는 것으로, 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부; 상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및 상기 표시 라인의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 포함할 수 있다.

Description

디스플레이 장치{DISPLAY DEVICE}

본 발명은 디스플레이 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는, 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치에 관한 것이다.

일반적으로, 디스플레이 장치는 이동 통신 단말기, 전자 수첩, 전자 책, PMP(Portable Multimedia Player), 네비게이션, UMPC(Ultra Mobile PC), 모바일 폰, 스마트 폰, 태블릿 PC(Personal Computer), 및 와치 폰(watch phone) 등과 같은 휴대용 전자 기기뿐만 아니라 텔레비전, 노트북, 및 모니터 등의 다양한 제품의 표시 화면으로 널리 사용되고 있다.

디스플레이 장치 중에서 액정 표시 장치, 유기 발광 표시 장치 및 전기 영동 표시 장치는 박형화가 가능하므로, 이들을 플렉서블 디스플레이 장치로 구현하기 위한 연구 개발이 진행되고 있다.

유기 발광 소자를 이용한 플렉서블 디스플레이 장치는 데이터 신호에 따라 화소 전원 라인으로부터 유기 발광 소자에 흐르는 전류를 제어하여 원하는 화상을 표시한다. 이와 같은 유기 발광 소자를 이용한 플렉서블 디스플레이 장치는 신호 배선의 배치 구조와 화소 구동 전원 배선의 배치 구조, 및 구동 회로의 배치 구조로 인하여 평면적으로 직사각 형태의 표시부를 갖는다.

최근에는 디스플레이 장치의 외관 및 디자인이 중시되고, 와치 폰 등과 같은 웨어러블(wearable) 기기에 대한 소비자의 관심이 높아지면서, 직사각 형태가 아닌 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치에 대한 연구 개발이 진행되고 있다.

한편, 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치의 제조 공정은 비사각 표시부에 배열된 복수의 화소를 검사하는 화소 패턴 검사 공정을 포함하여 이루어질 수 있다.

화소 패턴 검사 공정에서는 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 패널을 스테이지에 안착시킨 후, 스테이지(또는 카메라)를 이동시키면서 비사각 표시부에 형성된 화소를 순차적으로 촬상하면서 촬상된 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다. 이때, 스테이지는 하나의 화소만큼 이동하며, 하나의 표시 라인에 형성된 모든 화소의 검사가 완료되면, 다음 표시 라인으로 이동하게 된다. 그리고, 화소 패턴 검사 공정에서는 화소 대 화소 검사 방식에 기초하여, 하나의 화소 주변에 배치된 8개 화소를 비교하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다.

화소 패턴 검사 공정에서, 스테이지는, 도 1에 도시된 바와 같이, 비사각 표시부(10)의 각 표시 라인마다 동일한 거리로 이동하기 때문에 비사각 표시부(10) 이외의 주변 영역에 대한 스테이지의 불필요한 이동 거리에 따른 검사 공정 시간의 증가로 인해 생산성이 저하되는 문제점이 있다.

또한, 도 2에 도시된 바와 같이, 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치에서, 비사각 표시부(10)는 영상을 표시하는 복수의 화소(P)가 매트릭스 형태로 배치된 표시 영역(AA)을 포함한다.

표시 영역(AA)의 외곽부(또는 가장자리 부분)는 비사각 표시부(10)의 곡률에 따라 계단 형태(11)로 형성되게 된다. 즉, 사각 형태의 화소를 비사각 표시부(10)에 배치할 경우, 비사각 표시부의 곡률에 따라 각 표시 라인마다 화소의 개수가 상이하기 때문에 비사각 표시부(10)의 가장자리 부분(11)은 불규칙적인 화소 배치 구조를 갖게 된다. 이에 따라, 화소 대 화소 검사 방식에 기초한 화소 패턴 검사 공정에서는 화소(P) 이외의 부분을 결함(Defect)으로 인식하기 때문에 비사각 표시부(10)의 가장자리 부분(11)에 형성된 화소가 모두 결함(Defect) 화소로 인식되는 문제점이 있다. 특히, 화소 대 화소 검사 방식에 기초한 화소 패턴 검사 공정은 검사 공정 중 결함 화소가 인식되면, 결함 화소의 위치에서 검사 공정을 일시 중단함과 동시에 화소 결함에 대한 경보음을 발생하게 된다. 그리고, 경보음이 발생되게 되면, 작업자는 화소 결함 위치가 비사각 표시부(10)의 가장자리 부분일 경우, 화소 결함을 정상으로 처리하여 일시 중단된 검사 공정이 다시 수행되도록 한다. 이와 같은, 화소 패턴 검사 공정에서는 검사 공정의 일시 중단과 작업자의 확인 과정에 따른 검사 공정 시간의 증가로 인해 생산성이 저하되는 문제점이 있다.

이상 설명한 배경기술의 내용은 본 출원의 발명자가 본 발명의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 본 발명의 도출 과정에서 습득한 기술 정보로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에게 공개된 공지기술이라 할 수는 없다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 패턴 검사 공정이 용이하게 수행될 수 있는 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.

전술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부; 상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및 상기 표시 라인의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 포함할 수 있다.

전술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부; 상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 표시 화소들을 둘러싸는 복수의 더미 화소를 포함하고, 상기 표시부는 상기 표시 라인의 길이 방향과 교차하는 방향으로 인접한 N개(단, N은 3 이상의 자연수)의 라인 단위로 이루어진 복수의 라인 그룹을 가지며, 상기 복수의 라인 그룹 단위로 상기 N개의 라인은 동일한 화소 수를 가질 수 있다.

상기 과제의 해결 수단에 의하면, 본 발명은 스테이지(또는 카메라)의 불필요한 이동 거리를 줄일 수 있으며, 비사각 형태의 표시부를 갖는 디스플레이 장치의 패턴 검사 공정을 용이하게 할 수 있고, 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명은 표시부의 외곽부에 배치된 표시 화소가 화소 결함으로 인식되는 것을 방지하고, 이를 통해 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.

위에서 언급된 본 발명의 기술적 과제 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

도 1은 종래의 원형 표시부를 갖는 디스플레이 장치의 화소 패턴 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 종래의 원형 표시부를 갖는 디스플레이 장치에서 표시부의 외곽부에 형성된 화소 배치 구조를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치를 간략하게 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 표시부에 형성되어 있는 화소를 설명하기 위한 회로도이다.
도 5는 도 3에 도시된 A 부분의 확대도이다.
도 6은 도 3에 도시된 B 부분의 확대도이다.
도 7은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 장치를 간략하게 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명에 따른 화소 패턴 검사 장치의 검사 진행 방향을 나타내는 도면이다.
도 9는 도 3에 도시된 A 부분의 다른 확대도로서, 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 3에 도시된 B 부분의 다른 확대도로서, 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 도 3에 도시된 A 부분의 또 다른 확대도로서, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 도 3에 도시된 B 부분의 또 다른 확대도로서, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.

본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제 1", "제 2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다. "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. "상에"라는 용어는 어떤 구성이 다른 구성의 바로 상면에 형성되는 경우 뿐만 아니라 이들 구성들 사이에 제3의 구성이 개재되는 경우까지 포함하는 것을 의미한다.

이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 바람직한 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.

도 3은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치를 간략하게 나타내는 평면도이고, 도 4는 도 3에 도시된 표시부에 형성되어 있는 화소를 설명하기 위한 회로도이고, 도 5는 도 3에 도시된 A 부분의 확대도이며, 도 6은 도 3에 도시된 B 부분의 확대도이다.

도 3 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치는 기판(110), 표시부(120), 복수의 표시 화소(P), 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함한다.

먼저, 상기 표시부(120)는 기판(110) 상에 비사각 형태로 정의될 수 있으며, 이하의 설명에서는 원 형태로 정의되는 것으로 가정하기로 한다.

상기 기판(110)은 플렉서블 기판, 예를 들어, 플라스틱 기판으로 이루어질 수 있다. 이러한, 기판(110)은 원호부(111) 및 구동 회로 접속부(113)를 포함하여 이루어질 수 있다.

상기 원호부(111)는 표시부(120)의 중심부를 기준으로 동일한 제 1 반지름을 갖는 원호 형태를 형성된다.

상기 구동 회로 접속부(113)는 원호부(111)의 일측부(예를 들어, 상측부)로부터 일정한 크기를 갖도록 돌출(또는 연장)된다. 상기 구동 회로 접속부(113)에는 표시부(120)에 연결되는 구동 회로부(130), 각종 링크 라인, 및 구동 패드부(113a) 등이 형성된다. 이러한, 구동 회로 접속부(113)는 구동 패드부(113a)를 통해 디스플레이 장치의 디스플레이 구동부(미도시)에 연결된다. 상기 구동 패드부(113a)는 디스플레이 구동부로부터 표시부(120)에 영상을 표시하기 위한 영상 데이터가 공급되는 복수의 데이터용 패드, 화소의 구동에 필요한 전원이 공급되는 복수의 전원용 패드, 및 제어 신호가 공급되는 복수의 제어 신호용 패드를 포함하여 이루어질 수 있다.

상기 기판(110)은 터치 회로 접속부(115)를 더 포함할 수 있다. 상기 터치 회로 접속부(115)는 원호부(111)의 타측부로부터 일정한 크기를 갖도록 돌출(또는 연장)된다. 상기 터치 회로 접속부(115)에는 표시부(120) 상에 배치되는 터치 패널(미도시)의 터치 구동 라인과 터치 센싱 라인에 연결되는 라우팅 라인과 터치용 패드부(115a) 등이 형성된다. 이러한, 터치 회로 접속부(115)는 터치용 패드부(115a)를 통해 디스플레이 장치의 터치 구동부(미도시)에 연결된다. 상기 터치용 패드부(115a)는 터치 구동 라인에 연결된 복수의 구동 라인 패드, 및 터치 센싱 라인에 연결된 복수의 센싱 라인 패드를 포함하여 이루어질 수 있다.

이와 같은, 상기 기판(110)은 지지 기판(100) 상에 부착될 수 있다. 즉, 지지 기판(100)은 기판(110)과 동일한 형상으로 형성되어 유연한 재질로 이루어진 기판(110)을 평면 상태로 유지시킨다. 여기서, 상기 기판(100)이 유연하지 않은 재질로 이루어진 경우, 상기 지지 기판(100)은 디스플레이 장치의 슬림화를 위해 생략되는 것이 바람직하다.

상기 표시부(120)는 중심부를 기준으로 원호부(111)의 반지름보다 작은 제 2 반지름를 갖는 원 형태로 형성될 수 있다. 이때, 상기 원호부(111)와 표시부(120)는 실질적으로 동심원 형태로 형성된다.

상기 복수의 표시 화소(P)는 표시부(120)에 정의된 표시 영역(AA)의 표시 라인마다 형성되어 영상을 표시한다. 이때, 표시 라인마다 형성되는 표시 화소(P)의 개수는 표시부(120)의 곡률에 따라 상이하게 된다. 즉, 표시부(120)는 원 형태로 정의되는 반면에 표시 화소(P)는 사각 형태를 가지므로, 표시 영역(AA)의 외곽부는 표시부(120)의 곡률에 따라 계단 형태를 갖게 된다.

일 예에 따른 복수의 표시 화소(P) 각각은 상기 표시부(120)에 일정한 간격으로 형성된 복수의 스캔 라인(SL)과 복수의 화소 전원 라인(PL) 및 복수의 데이터 라인(DL)에 의해 정의되는 화소 영역에 형성된다. 여기서, 상기 복수의 화소 전원 라인(PL)과 복수의 데이터 라인(DL)은 상기 복수의 스캔 라인(SL)과 교차하도록 일정한 간격으로 형성된다.

상기 복수의 표시 화소(P) 각각은 화소 회로(PC) 및 유기 발광 소자(OLED)를 포함하여 이루어질 수 있다.

상기 화소 회로(PC)는 인접한 스캔 라인(SL)과 데이터 라인(DL) 및 화소 전원 라인(PL)에 연결되고, 화소 전원 라인(PL)에 공급되는 화소 구동 전원을 기반으로, 스캔 라인(SL)으로부터의 스캔 펄스에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 데이터 신호에 따라 유기 발광 소자(OLED)에 흐르는 전류를 제어한다. 일 예에 따른 화소 회로(PC)는 스위칭 트랜지스터(Tsw), 구동 트랜지스터(Tdr), 및 커패시터(Cst)를 포함하여 이루어질 수 있다. 상기 스위칭 트랜지스터(Tsw)는 스캔 라인(SL)에 공급되는 스캔 펄스에 따라 스위칭되어 데이터 라인(DL)에 공급되는 데이터 신호를 구동 트랜지스터(Tdr)에 공급한다. 상기 구동 트랜지스터(Tdr)는 스위칭 트랜지스터(Tsw)로부터 공급되는 데이터 신호에 따라 스위칭되어 화소 전원 라인(PL)으로부터 유기 발광 소자(OLED)로 흐르는 데이터 전류를 제어한다. 상기 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 단자와 소스 단자 사이에 접속되어 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 단자에 공급되는 데이터 신호에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 구동 트랜지스터(Tdr)의 턴-온시킨다.

상기 유기 발광 소자(OLED)는 구동 트랜지스터(Tdr)의 소스 단자에 연결되는 애노드 전극(또는 화소 전극), 및 애노드 전극과 캐소드 전극층(CE) 사이에 형성된 유기 발광층을 포함하여 이루어질 수 있다. 이러한, 상기 유기 발광 소자(OLED)는 구동 트랜지스터(Tdr)의 스위칭에 따라 화소 전원 라인(PL)으로부터 캐소드 전극층(CE)으로 흐르는 데이터 전류에 의해 발광함으로써 소정의 영상을 표시한다.

상기 캐소드 전극층(CE)은 표시부(120)를 덮도록 형성되어 각 표시 화소(P)에 형성된 유기 발광 소자(OLED)의 유기 발광층에 공통적으로 연결된다.

상기 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)는 표시 화소(P)로 이루어진 각 표시 라인의 양 끝단에 형성되는 것으로, 이는 화소 패턴 검사 공정시 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)의 위치를 제공하기 위한 것이다.

상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 표시 라인마다 첫번째 표시 화소(P)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 형성 공정과 함께 형성되는 것으로, "+" , "*", 또는 "×", 등의 기호 형태를 갖도록 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 화소 패턴 검사 공정시 각 표시 라인에 있어서, 표시 화소(P)의 시작 위치 또는 표시 화소(P)의 끝 위치를 제공하는 역할을 한다. 예를 들어, 표시부(120)에 형성된 홀수번째 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 시작 플래그일 수 있고, 표시부(120)에 형성된 짝수번째 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 끝 플래그일 수 있다.

상기 제 2 플래그 키(FK1)는 각 표시 라인마다 마지막 표시 화소(P)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 상기 제 2 플래그 키(FK2)는 상기 제 1 플래그 키(FK1)와 동일한 형태로 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 2 플래그 키(FK2)는 화소 패턴 검사 공정시 각 표시 라인에 있어서, 표시 화소(P)의 시작 위치 또는 표시 화소(P)의 끝 위치를 제공하는 역할을 한다. 예를 들어, 표시부(120)에 형성된 홀수번째 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK2)는 표시 화소(P)의 끝 플래그일 수 있고, 표시부(120)에 형성된 짝수번째 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 시작 플래그일 수 있다.

본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치는, 도 3에 도시된 바와 같이, 구동 회로부(130), 구동 전원 공급 라인(150), 및 캐소드 전원 공급 라인(160)을 더 포함할 수 있다.

제 1 예에 따른 구동 회로부(130)는 구동 패드부(113a)를 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 영상 데이터, 제어 신호, 및 구동 전압을 이용하여 표시부(120)의 표시 영역(AA)에 형성된 복수의 표시 화소(P)를 구동함으로써 표시부(120)의 표시 영역(AA)에 소정의 영상을 표시한다. 이러한, 제 1 예에 따른 구동 회로부(130)는 집적 회로로 이루어져 구동 회로 접속부(113)에 마련된 칩 실장 영역에 실장되고, 칩 실장 영역과 표시부(120) 사이에 형성된 링크 라인들을 통해 복수의 스캔 라인(SL)과 복수의 데이터 라인(DL)에 연결됨으로써 복수의 스캔 라인(SL)에 스캔 펄스를 공급함과 동기되도록 복수의 데이터 라인(DL)에 데이터 신호를 공급한다.

제 2 예에 따른 구동 회로부(130)는 구동 패드부(113a)를 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 영상 데이터, 제어 신호, 및 구동 전압을 이용하여 표시부(120)에 형성된 복수의 데이터 라인(DL)에 데이터 신호를 공급한다. 이러한, 제 2 예에 따른 구동 회로부(130)는 집적 회로로 이루어져 구동 회로 접속부(113)에 마련된 칩 실장 영역에 실장되고, 칩 실장 영역과 표시부(120) 사이에 형성된 데이터 링크 라인들을 통해 복수의 데이터 라인에 연결됨으로써 복수의 데이터 라인(DL)에 데이터 신호를 공급한다.

본 발명에 따른 디스플레이 장치가 상기 제 2 예에 따른 구동 회로부(130)를 포함하여 이루어지는 경우, 본 발명은 구동 회로부(130)의 스캔 채널과 복수의 스캔 라인(SL)을 일대일로 연결하기 위하여 구동 회로 접속부(113)에 형성되는 복수의 스캔 링크 라인을 생략하는 대신에, 상기 표시부(120)의 둘레를 따라 기판(110)의 원호부(111) 상에 형성된 스캔 구동 회로(140)를 더 포함한다.

상기 스캔 구동 회로(140)는 표시부(120)의 둘레를 따라 원호 형태로 형성되어 복수의 스캔 라인(SL)에 연결된다. 이러한, 상기 스캔 구동 회로(140)는 구동 패드부(113a)와 스캔 제어 링크 라인들을 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 스캔 제어 신호에 응답하여 스캔 펄스를 생성해 복수의 스캔 라인(SL)에 순차적으로 공급한다. 일 예로서, 상기 스캔 구동 회로(140)는 표시부(120)의 좌측 둘레 및/또는 우측 둘레를 따라 형성되어 복수의 스캔 라인(SL) 각각의 일단 및/또는 타단에 스캔 펄스를 공급한다.

본 발명에 따른 디스플레이 장치가 상기 스캔 구동 회로(140)를 포함하여 구성되는 경우, 본 발명은 상기 복수의 스캔 링크 라인의 생략에 따라 구동 회로 접속부(113)의 크기를 감소시키거나 구동 회로 접속부(113)의 길이를 감소시킴으로써 디스플레이 장치의 베젤 폭을 더욱 감소시킬 수 있으며, 상기 원호부(111)를 표시부(120)와 동심원 형태로 형성할 수 있다. 또는, 본 발명은 디스플레이 장치의 베젤 폭을 감소시키는 대신에, 생략된 복수의 스캔 링크 라인이 차지하는 공간만큼 데이터 링크 라인을 형성하기 위한 공간을 확보함으로써 복수의 데이터 링크 라인을 보다 여유롭게 구동 회로 접속부(113)에 배치하거나 형성할 수 있다.

상기 구동 전원 공급 라인(150)은 표시부(120)에 형성된 복수의 화소 전원 라인(PL)에 공급하는 메인 전원선의 역할을 하는 것으로, 일정한 폭과 두께를 가지도록 표시부(120)의 둘레를 따라 기판(110) 상에 형성되고, 그 양 끝단이 구동 회로 접속부(113)에 형성된 구동 패드부(113a)의 구동 전원 패드에 연결된다. 이러한, 구동 전원 공급 라인(150)은 복수의 구동 전원 링크 라인 각각을 통해 표시 영역(AA)의 중심부를 기준으로 복수의 화소 전원 라인(PL) 각각의 하측 끝단에 연결된다.

상기 복수의 구동 전원 링크 라인 각각은 상기 화소 전원 라인(PL)과 교차하는 방향(예를 들어, 스캔 라인(SL)의 길이 방향)을 따라 상기 구동 전원 공급 라인(150)으로부터 일정한 폭을 가지도록 연장되거나 돌출되어 해당하는 화소 전원 라인(PL)의 하측 끝단에 연결된다. 또한, 상기 복수의 구동 전원 링크 라인 각각은 데이터 라인(DL)과 교차하지 않도록 표시부(120)의 중심부와 표시부(120)의 하측부 사이에 형성된다. 이 경우, 본 발명은 데이터 신호와 화소 구동 전원 간의 신호 간섭으로 인하여 화질 불량을 방지할 수 있다.

상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 일정한 폭과 두께를 가지도록 표시부(120)의 둘레를 따라 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이의 기판(110) 상에 형성되고, 양 끝단이 구동 회로 접속부(113)에 형성된 구동 패드부(113a)의 캐소드 전원 패드에 연결된다. 일 예에 따른 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 동일한 구조를 가지면서 나란하게 형성될 수 있다. 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 표시부(120)를 덮도록 상기 원호부(111) 상에 형성되는 캐소드 전극층(CE)과 전기적으로 연결된다. 이러한, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 캐소드 전원 패드를 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 캐소드 전원을 상기 캐소드 전극층(CE)에 공급함으로써 상기 캐소드 전극층(CE)을 통해 상기 표시부(120)에 형성된 모든 표시 화소(P)의 유기 발광 소자(OLED)에 캐소드 전원이 공급되도록 한다.

이와 같은, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이에 형성됨으로써 본 발명은 디스플레이 장치의 베젤 폭을 감소시킬 수 있다. 구체적으로, 각 표시 화소(P)의 트랜지스터는 수분 전달이 원활한 유기물질로 이루어진 보호층(미도시)에 의해 덮이기 때문에 보호층으로 침투하는 수분으로 인한 유기 발광 소자(OLED)의 손상을 방지하기 위해, 보호층은 기판(110)의 외측벽으로부터 일정한 거리만큼 이격되어야 한다. 이에 따라, 본 발명은 보호층을 둘러싸는 캐소드 전극층(CE)에 연결되는 캐소드 전원 공급 라인(160)이 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이에 형성됨으로써 보호층이 기판(110)의 외측벽으로부터 일정한 거리만큼 이격됨에 따라 기판(110)의 외측벽과 표시부(120) 사이의 폭으로 정의되는 디스플레이 장치의 베젤 폭을 감소시킬 수 있다.

한편, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)보다 기판(110)의 외측벽에 인접하도록 형성될 수도 있다. 하지만, 이 경우에는 보호층을 기판(110)의 외측벽으로부터 일정한 거리만큼 이격시키기 위해, 기판(110)의 가장자리 부분이 외곽 쪽으로 더 연장되어야 하기 때문에 상기 디스플레이 장치의 베젤 폭이 증가하는 단점이 있다. 따라서, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이에 형성되는 것이 바람직하다.

도 7은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 장치를 간략하게 나타내는 도면이며, 도 8은 본 발명에 따른 화소 패턴 검사 장치의 검사 진행 방향을 나타내는 도면이다.

도 7 및 도 8을 참조하여 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치의 화소 패턴 검사 방법을 설명하면 다음과 같다.

먼저, 화소 패턴 검사 방법은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치(100)를 스테이지(200)에 안착시킨 후, 스테이지(200)(또는 카메라(300))를 표시 라인의 길이 방향(X)으로 이동시키면서 카메라(300)를 이용하여 하나의 표시 화소(P)를 순차적으로 촬상하고, 촬상된 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다.

구체적으로, 패턴 검사 제어부(미도시)는 카메라(300)가 제 1 표시 라인 상에 위치하도록 스테이지(200)의 위치를 정렬한다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 표시 라인의 길이 방향에 대응되는 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 1 표시 라인의 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 패턴 검사 제어부는 제 1 표시 라인의 화소 이미지에서 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되기 전까지는 화소의 불량 여부를 판단하지 않고, 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되면 검출된 제 1 플래그 키(FK1)를 제 1 표시 라인의 화소 시작 플래그로 인식하고, 검출된 제 1 플래그 키(FK1) 이후의 화소 이미지부터 표시 화소(P)에 대한 화소의 불량 여부를 판단하게 된다. 또한, 패턴 검사 제어부는 제 1 표시 라인의 화소 이미지에서 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되면, 검출된 제 2 플래그 키(FK2)를 제 1 표시 라인의 화소 끝 플래그로 인식하여 제 1 표시 라인에 대한 화소 패턴 검사를 중단하고, 카메라(300)로부터 제공되는 화소 이미지에서 제 2 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK2)가 검출될 때까지 스테이지를 설정된 길이만큼 제 1 방향(X)으로 더 이동시킨다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 2 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되면, 스테이지(200)의 제 1 방향(X)의 이동을 중단시키고, 카메라(300)가 제 2 표시 라인 상에 위치하도록 상기 스테이지를 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 2 표시 라인의 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 패턴 검사 제어부는 제 2 표시 라인의 화소 이미지에서 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되기 전까지는 화소의 불량 여부를 판단하지 않고, 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되면 검출된 제 2 플래그 키(FK2)를 제 2 표시 라인의 화소 시작 플래그로 인식하고, 검출된 제 2 플래그 키(FK2) 이후의 화소 이미지부터 표시 화소(P)에 대한 화소의 불량 여부를 판단하게 된다. 또한, 패턴 검사 제어부는 제 2 표시 라인의 화소 이미지에서 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되면, 검출된 제 1 플래그 키(FK1)를 제 2 표시 라인의 화소 끝 플래그로 인식하여 제 2 표시 라인에 대한 화소 패턴 검사를 중단하고, 카메라(300)로부터 제공되는 화소 이미지에서 제 3 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)가 검출될 때까지 스테이지(200)를 설정된 길이만큼 제 1 방향(X)으로 더 이동시킨다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 3 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되면, 스테이지(200)의 제 1 방향(X)의 이동을 중단시키고, 카메라(300)가 제 3 표시 라인 상에 위치하도록 상기 스테이지(200)를 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.

그런 다음, 패턴 검사 제어부는 제 3 표시 라인부터 마지막 표시 라인까지 전술한 제 1 및 제 2 표시 라인의 화소 패턴 검사 방법과 동일하게 스테이지(200)를 이동시키면서 화소 패턴 검사를 수행함으로써 표시부(120)에 형성된 모든 표시 화소(P)에 대한 화소 패턴 검사를 수행한다.

이와 같은, 본 발명의 제 1 예는 표시 화소(P)로 이루어진 각 표시 라인의 양 끝단에 형성된 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함함으로써 화소 패턴 검사 공정시 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 통해 표시부(120)의 화소 형성 영역만을 검사하므로 스테이지(또는 카메라)의 불필요한 이동 거리를 줄일 수 있으며, 비사각 형태의 표시부(120)를 갖는 디스플레이 장치의 패턴 검사 공정을 용이하게 할 수 있고, 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.

한편, 전술한 설명에서는, 각 표시 라인의 양 끝단에 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)가 형성되는 것으로 설명하였지만, 이에 한정되지 않고, 플래그 키는 표시부(120)의 일측 외곽부 또는 타측 외곽부에 형성되거나, 표시부(120)의 일측 외곽부와 타측 외곽부에 번갈아가며 형성될 수 있다. 이 경우, 본 발명은 각 표시 라인마다 화소 패턴 검사의 시작 전 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리 또는 화소 패턴 검사의 종료 이후 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리를 줄일 수 있다.

도 9 및 도 10은 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면들로서, 도 9는 도 3에 도시된 A 부분의 다른 확대도이며, 도 10은 도 3에 도시된 B 부분의 다른 확대도이다. 이러한, 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치는 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치에서 표시 영역의 외곽부에 복수의 더미 화소를 추가로 구성하고, 제 1 및 제 2 플래그 키의 위치를 변경한 것이다. 이에 따라, 이하의 설명에서는 복수의 더미 화소와 제 1 및 제 2 플래그 키에 대해서는 설명하기로 한다.

도 9 및 도 10을 참조하면, 복수의 더미 화소(DP)는 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)들 각각에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 즉, 복수의 더미 화소(DP)는 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)들을 둘러싸도록 표시 영역(AA)의 외곽부 둘레를 따라 형성된다. 이러한, 복수의 더미 화소(DP)는 표시 영역(AA)에 형성된 표시 화소(P)와 달리 영상을 표시하지 않는 대신에 외부의 정전기가 표시 영역(AA)의 표시 화소(P)로 전달되는 것을 방지하는 정전기 방지 회로의 역할을 한다.

상기 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)는 표시 라인의 길이 방향에 대응되는 표시부(120)의 각 라인의 양 끝단에 형성되는 것으로, 이는 화소 패턴 검사 공정시 표시부(120)에 형성된 화소(P, DP)의 위치를 제공하기 위한 것이다.

상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인마다 첫번째 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.

상기 제 2 플래그 키(FK2)는 각 라인마다 마지막 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.

한편, 상기 복수의 더미 화소(DP)와 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함하는 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 방법은 각 라인에 형성된 더미 화소(DP)와 표시 화소(P)의 화소 패턴 검사를 수행하는 것을 제외하고는 도 8과 동일한 패턴 검사 과정을 통해 수행되므로, 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.

따라서, 본 발명의 제 2 예는 비사각 형태의 표시부(120)를 갖는 디스플레이 장치의 패턴 검사 공정을 용이하게 할 수 있고, 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있으며, 더미 화소(DP)를 이용해 정전기로 인한 표시 화소(P)의 손상을 방지할 수 있다.

도 11 및 도 12는 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면들로서, 도 11은 도 3에 도시된 A 부분의 또 다른 확대도이며, 도 12는 도 3에 도시된 B 부분의 또 다른 확대도이다. 이러한, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치는 화소 대 화소 검사 방식에 기초하여, 하나의 화소 주변에 배치된 화소들을 비교하여 화소의 불량 여부를 판단하는 화소 패턴 검사 공정을 위한 것이다. 이에 따라, 이하의 설명에서는 표시부(120)에 형성되는 화소 배치 구조에 대해서만 설명하기로 한다.

먼저, 표시부(120)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)는 화소 패턴 검사 공정시 결함 화소로 인식되는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치의 표시부(120)는 표시 영역(AA)의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소(P), 및 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)들을 둘러싸는 복수의 더미 화소(DP)를 포함한다.

상기 표시부(120)는 표시 라인의 길이 방향에 대응되는 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 인접한 N개(단, N은 3 이상의 자연수)의 라인 단위로 이루어진 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)을 갖는다. 여기서, 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함되는 N개의 라인은 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 공정에 설정된 N×N 형태의 검사 블록(IB)의 라인 수에 대응되도록 설정된다.

상기 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각에 포함된 N개의 라인 각각의 화소(P, DP)의 개수는 동일하게 설정된다. 즉, 표시부(120)의 곡률에 따라 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함된 N개의 라인 각각은 상이한 개수의 표시 화소(P)를 가지므로, 화소 패턴 검사 공정시 결함 화소로 인식되는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해, 본 발명은 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 단위로 상기 N개의 라인 각각의 양 끝단에 더미 화소(DP)를 추가로 형성함으로써 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)별로 상기 N개의 라인 모두가 동일한 화소 수로 이루어지도록 한다. 여기서, 상기 더미 화소(DP)에는 화소 패턴 검사 공정시 화소 인식율을 높이기 위해 컨택 홀이 형성되지 않을 수 있다.

예를 들어, 제 1 라인 그룹(LG1)은 표시부(120)에 형성된 제 1 내지 제 3 라인으로 이루어지고, 상기 제 1 내지 제 3 라인 각각은 모두 i(단, i는 자연수)개의 화소(P, DP)로 이루어질 수 있다. 이때, 상기 제 1 라인은 i개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있고, 제 2 라인은 j(단, j는 i보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 i-j개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있으며, 및 제 3 라인은 k(단, k는 i보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 i-k개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있다. 이에 따라, 제 1 라인 그룹(LG1)의 제 1 내지 제 3 라인이 모두 동일한 화소(P. DP) 수로 이루어짐으로써 표시부(120)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)와 그 주변에 형성된 더미 화소(DP)는 3×3 형태의 화소 배치 구조를 갖게 된다.

예를 들어, 제 2 라인 그룹(LG2)은 표시부(120)에 형성된 제 4 내지 제 6 라인으로 이루어지고, 상기 제 4 내지 제 6 라인 각각은 모두 i+a(단, a는 자연수)개의 화소(P, DP)로 이루어질 수 있다. 이때, 상기 제 4 라인은 i-2개의 표시 화소(P)와 a개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있으며, 제 5 라인은 i+b(단, b는 a보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 a-b개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있으며, 및 제 6 라인은 i+c(단, c는 b보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 a-c개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있다. 이와 같이, 제 2 라인 그룹(LG2)의 제 4 내지 제 6 라인이 모두 동일한 화소(P. DP) 수로 이루어짐으로써 표시부(120)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)와 그 주변에 형성된 더미 화소(DP)는 3×3 형태의 화소 배치 구조를 갖게 된다.

한편, 화소 패턴 검사 공정이 하나의 화소씩 이동하면서 3×3 형태의 검사 블록(IB)마다 수행될 경우, 검사 진행 방향을 기준으로 제 1 라인 그룹(LG1)의 화소 배치 구조가 검사 블록(IB)과 매칭되는 3×3 형태를 이루어짐으로써 화소 패턴 검사 공정시 표시부(120)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되지 않게 된다.

구체적으로, 도 11 및 도 12를 도 6과 결부하면, 화소 패턴 검사 공정은 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치(100)를 스테이지(200)에 안착시킨 후, 스테이지(200)(또는 카메라(300))를 표시 라인의 길이 방향(X)으로 이동시키면서 카메라(300)를 이용하여 하나의 검사 블록(IB)을 순차적으로 촬상하고, 촬상된 블록 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다.

구체적으로, 패턴 검사 제어부(미도시)는 카메라(300)가 제 1 라인 그룹 상에 위치하도록 스테이지(200)의 위치를 정렬한다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 라인 그룹의 길이 방향에 대응되는 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 1 라인 그룹의 블록 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 제 1 라인 그룹(LG1)의 화소 배치 구조가 검사 블록(IB)과 매칭되는 3×3 형태를 이루어짐으로써 제 1 라인 그룹(LG1)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되지 않고 검사 공정이 수행되게 된다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 1 라인 그룹(LG1)의 검사 공정이 완료되면, 카메라(300)가 제 2 라인 그룹(LG2) 상에 위치하도록 상기 스테이지를 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 2 라인 그룹(LG2)의 블록 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 제 2 라인 그룹(LG2)의 화소 배치 구조가 검사 블록(IB)과 매칭되는 3×3 형태를 이루어짐으로써 제 2 라인 그룹(LG2)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되지 않고 검사 공정이 수행되게 된다.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 2 라인 그룹(LG2)의 검사 공정이 완료되면, 카메라(300)가 제 3 라인 그룹(LG3) 상에 위치하도록 상기 스테이지를 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.

그런 다음, 패턴 검사 제어부는 제 3 라인 그룹(LG3)부터 마지막 라인 그룹까지 전술한 제 1 및 제 2 라인 그룹의 화소 패턴 검사 방법과 동일하게 스테이지(200)를 이동시키면서 화소 패턴 검사를 수행함으로써 표시부(120)에 형성된 모든 표시 화소(P)에 대한 화소 패턴 검사를 수행한다.

이와 같은, 본 발명의 제 3 예는 더미 화소(DP)를 이용하여 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각에 포함된 N개의 라인 각각의 화소 수를 동일하게 함으로써 표시부(120)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되는 것을 방지하고, 이를 통해 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.

한편, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치는 상기 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각의 일측 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키(FK1), 및 상기 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각의 타측 외곽부에 형성된 제 2 플래그 키(FK2)를 더 포함할 수 있다.

상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)마다 첫번째 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 여기서, 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함된 N개의 라인 중 어느 하나에 형성된 첫번째 더미 화소(DP)에 인접하도록 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 일측 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.

상기 제 2 플래그 키(FK2)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)마다 마지막 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 여기서, 상기 제 2 플래그 키(FK2)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함된 N개의 라인 중 어느 하나에 형성된 마지막 더미 화소(DP)에 인접하도록 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 2 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 타측 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.

이와 같은, 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함하는 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 방법은 스테이지의 이동 방향에 따라 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 라인 그룹의 화소 시작 플래그 또는 라인 그룹의 화소 끝 플래그로 인식하는 것을 제외하고는 도 8과 동일한 패턴 검사 과정을 통해 수행되므로, 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.

따라서, 본 발명의 제 3 예는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 양 끝단에 형성된 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함함으로써 화소 패턴 검사 공정시 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 통해 표시부(120)의 화소 형성 영역만을 검사하므로 스테이지(또는 카메라)의 불필요한 이동 거리를 줄이고, 이를 통해 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.

한편, 전술한 설명에서는, 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 양 끝단에 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)가 형성되는 것으로 설명하였지만, 이에 한정되지 않고, 상기 플래그 키(FK1, FK2)는 표시부(120)의 일측 외곽부 또는 타측 외곽부에 형성되거나, 표시부(120)의 일측 외곽부와 타측 외곽부에 번갈아가며 형성될 수 있다. 이 경우, 본 발명은 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)마다 화소 패턴 검사의 시작 전 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리 또는 화소 패턴 검사의 종료 이후 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리를 줄일 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

100: 지지 기판 110: 기판
111: 원호부 113: 구동 회로 접속부
115: 터치 회로 접속부 120: 표시부
130: 구동 회로부 140: 스캔 구동 회로
150: 구동 전원 공급 라인 160: 캐소드 전원 공급 라인
200: 스테이지 300: 카메라

Claims (8)

1. 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부;
   상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및
   상기 표시 라인의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 포함하는 디스플레이 장치.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 표시 라인의 타측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 2 플래그 키를 더 포함하는 디스플레이 장치.
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 제 1 플래그 키는 상기 표시 라인의 첫번째 표시 화소에 인접하게 형성되고,
   상기 제 2 플래그 키는 상기 표시 라인의 마지막 표시 화소에 인접하게 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
4. 제 1 항에 있어서,
   상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 표시 화소들을 둘러싸는 복수의 더미 화소를 더 포함하고,
   상기 제 1 플래그 키는 상기 표시 라인의 첫번째 더미 화소에 인접하도록 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
5. 제 4 항에 있어서,
   상기 제 2 플래그 키는 상기 표시 라인의 마지막 더미 화소에 인접하도록 형성된 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
6. 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부;
   상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및
   상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 표시 화소들을 둘러싸는 복수의 더미 화소를 포함하고,
   상기 표시부는 상기 표시 라인의 길이 방향과 교차하는 방향으로 인접한 N개(단, N은 3 이상의 자연수)의 라인 단위로 이루어진 복수의 라인 그룹을 가지며,
   상기 복수의 라인 그룹 단위로 상기 N개의 라인은 동일한 화소 수를 갖는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
7. 제 6 항에 있어서,
   상기 라인 그룹의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 더 포함하는 디스플레이 장치.
8. 제 7 항에 있어서,
   상기 라인 그룹의 타측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 2 플래그 키를 더 포함하는 디스플레이 장치.

Images