KR20150099794A - 전도성 트랙을 갖는 기판을 위한 전기 커넥터 - Google Patents

전도성 트랙을 갖는 기판을 위한 전기 커넥터 Download PDF

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루카 발세치
미첼레 사라
마우리치오 볼페
로베르토 베레타
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Abstract

전기 커넥터(110)는 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)을 갖는 기판(351)을 수용할 수 있다. 커넥터는 포트(129)를 가진 하우징(120), 및 함께 삽입 방향(125)을 한정하는 적어도 하나의 정렬 특징부(121, 321)를 포함한다. 하우징에 장착되는 적어도 3개의 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)이 각각 커넥터 내에 삽입되는 기판의 전도성 트랙들 중 하나에 전기적으로 접속되는 접점(141, 142, 143, 144, 145)을 포함한다. 하우징에 장착되는 감지 핀(139)이 삽입된 기판의 전도성 트랙들 중 적어도 하나에 전기적으로 접속되는 접점(149)을 갖는다. 감지 핀은 복수의 전기적으로-접속된 세그먼트를 포함할 수 있으며, 각각의 세그먼트는 기판의 삽입 방향에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직하게 연장된다. 체액 샘플 내의 분석물을 검출하기 위한 시스템과 방법이 또한 기술된다.

Description

전도성 트랙을 갖는 기판을 위한 전기 커넥터{ELECTRICAL CONNECTOR FOR SUBSTRATE HAVING CONDUCTIVE TRACKS}
본 출원은 전도성 트랙(conductive track)을 갖는 기판, 그러한 기판과 전기 접속을 형성하기 위한 커넥터, 및 그러한 커넥터와 기판을 사용하는 방법에 관한 것이다. 다양한 태양에서, 그러한 기판은 혈당을 모니터링하는 데 사용하도록 구성된다.
유체 샘플 내의 분석물의 결정(예컨대, 검출 및/또는 농도 측정)은 의료 분야에서 특히 관심의 대상이다. 예를 들어, 소변, 혈액, 혈장, 간질액, 또는 사람 또는 다른 유기체의 신체에서 발견되는 다른 유체와 같은 체액의 샘플 내의 포도당, 케톤체, 콜레스테롤, 지질단백질, 트라이글리세라이드, 아세트아미노펜 및/또는 HbA1c 농도를 결정하는 것이 바람직할 수 있다. 그러한 결정은 분석 검사 스트립(analytical test strip) 및 검사 측정기(test meter) 조합을 사용하여 달성될 수 있다.
일 태양에 따르면, 선택된 폭의 제1 기판을 수용하도록 구성되는 전기 커넥터로서, 제1 기판은 제1 기판의 면 표면(face surface) 위에 배치되는 복수의 전도성 트랙들을 갖고, 전기 커넥터는,
a) 하우징으로서,
i) 포트(port); 및
ii) 전기 커넥터 내로의 제1 기판의 허용된 삽입 방향을 한정하도록 포트로부터 이격되는 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(alignment feature)를 포함하는, 하우징;
b) 하우징에 장착되는 적어도 3개의 기능 핀(function pin)들로서, 각각의 상기 기능 핀은 전기 커넥터 내에 삽입되는 제1 기판의 복수의 전도성 트랙들 중 각각의 트랙에 전기적으로 접속되도록 배열되는 각각의 접점(contact)을 갖고, 각각의 접점들은 허용된 삽입 방향으로 포트와 적어도 하나의 제1 정렬 특징부 사이에 배열되는, 적어도 3개의 기능 핀들;
c) 하우징에 장착되는 감지 핀(sense pin)으로서, 감지 핀은 전기 커넥터 내로 사전결정된 거리만큼 삽입될 때의 제1 기판의 복수의 전도성 트랙들 중 적어도 하나에 전기적으로 접속되도록 구성되는 접점을 갖는, 감지 핀을 포함하고,
감지 핀은 복수의 전기적으로-접속된 세그먼트(segment)들을 추가로 포함하고, 상기 세그먼트들 중 적어도 하나는 하우징에 기계적으로 장착되며, 각각의 상기 세그먼트는 상기 제1 기판의 허용된 삽입 방향에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직하게 연장되는, 전기 커넥터가 제공된다.
다른 태양에 따르면, 체액 샘플 내의 분석물을 검출하기 위한 시스템으로서,
a) 컨트롤러;
b) 샘플-수용 챔버(sample-receiving chamber) 및 서로 전기적으로 단속적인 복수의 전도성 트랙들을 갖는 검사 스트립으로서, 각각의 전도성 트랙은 적어도 부분적으로 상기 검사 스트립의 제1 면 상에 그리고 적어도 부분적으로 샘플-수용 챔버에 인접하게 배열되는, 검사 스트립;
c) 전기 커넥터로서,
i) 허용된 삽입 방향으로 삽입되는 검사 스트립을 수용하도록 구성되는 포트를 가진 하우징;
ii) 하우징에 장착되는 3개 이상의 기능 핀들로서, 각각의 상기 기능 핀은 전기 커넥터 내에 삽입되는 검사 스트립의 복수의 전도성 트랙들 중 각각의 트랙에 전기적으로 접속되도록 배열되는 각각의 접점을 갖는, 3개 이상의 기능 핀들; 및
iii) 하우징에 장착되고, 전기 커넥터 내에 삽입되는 검사 스트립의 복수의 전도성 트랙들의 각각의 트랙들 중 하나에 전기적으로 접속되도록 구성되는 접점을 갖는, 감지 핀으로서, 상기 감지 핀의 접점은 허용된 삽입 방향을 따라 포트에 대향하게 배열되는, 감지 핀을 포함하는, 전기 커넥터;
d) 감지 핀과 기능 핀들 중 적어도 하나 사이의 전기 접속을 검출하고, 어느 기능 핀(들)이 감지 핀에 전기적으로 접속되는지의 표시(indication)를 제공하도록 구성되는, 연속성 센서(continuity sensor); 및
e) 선택된 연속성 구성 및 기능 핀들 중 2개 이상의 대응하는 선택을 저장하는 저장 유닛(storage unit)을 포함하고,
컨트롤러는 자동으로,
i) 연속성 센서에 응답하여, 제공된 표시를 저장된 선택된 연속성 구성과 비교하고;
ii) 제공된 표시가 저장된 선택된 연속성 구성에 대응하는 경우, 저장된 대응하는 선택에 의해 표시되는 기능 핀들 각각을 작동시켜 샘플-수용 챔버에 걸쳐 검사 전기 신호를 인가하도록, 그리고 결과 전기 신호를 측정하여 샘플-수용 챔버 내의 분석물을 검출하도록 구성되는, 시스템이 제공된다.
다른 태양에 따르면, 체액 샘플 내의 분석물을 결정하기 위한 방법으로서,
분석 검사 스트립의 제1 면 상에 노출되는 적어도 3개의 전도성 트랙들이 전기 커넥터의 각각의 기능 핀들과 전기 접촉하고, 전도성 트랙들 중 적어도 하나가 전기 커넥터의 감지 핀과 추가로 전기 접촉하도록, 검사 측정기의 전기 커넥터를 사용하여 분석 검사 스트립을 수용하는 단계로서, 분석 검사 스트립은 체액 샘플을 수용하도록 구성되는 샘플-수용 챔버를 포함하는, 수용하는 단계;
검사 측정기의 컨트롤러를 사용하여, 감지 핀과 기능 핀들 중 제1 기능 핀 사이의 전기적 연속성을 감지하는 단계;
연속성이 감지될 때, 컨트롤러가 기능 핀들 중 제1 기능 핀의 아이덴티티(identity)를 저장된 연속성-구성 정보와 비교하는 단계;
기능 핀들 중 제1 기능 핀의 아이덴티티가 저장된 연속성-구성 정보에 대응하는 경우, 컨트롤러가 자동으로, 저장된 연속성-구성 정보에 의해 표시되는 기능 핀들 중 선택된 기능 핀들에 선택된 전기 신호를 인가하고, 결과 전기 신호를 측정하는 단계; 및
컨트롤러가 자동으로, 결과 전기 신호를 처리하여 체액 샘플이 샘플-수용 챔버에 적용되었는지의 여부를 검출하고, 그러한 경우 적용된 체액 샘플 내의 분석물을 결정하는 단계를 포함하는, 방법이 제공된다.
다른 태양에 따르면, 선택된 폭의 제1 기판을 수용하도록 구성되는 전기 커넥터로서, 제1 기판은 제1 기판의 면 표면 위에 배치되는 복수의 전도성 트랙들을 갖고, 전기 커넥터는,
a) 하우징으로서,
i) 포트; 및
ii) 전기 커넥터 내로의 제1 기판의 허용된 삽입 방향을 한정하도록 포트로부터 이격되는 적어도 하나의 제1 정렬 특징부를 포함하는, 하우징;
b) 하우징에 장착되는 적어도 3개의 기능 핀들로서, 각각의 상기 기능 핀은 전기 커넥터 내에 삽입되는 제1 기판의 복수의 전도성 트랙들 중 각각의 트랙에 전기적으로 접속되도록 배열되는 각각의 접점을 갖고, 각각의 접점들은 허용된 삽입 방향으로 포트와 적어도 하나의 제1 정렬 특징부 사이에 배열되는, 적어도 3개의 기능 핀들; 및
c) 하우징에 장착되는 감지 핀으로서, 감지 핀은 전기 커넥터 내로 사전결정된 거리만큼 삽입될 때의 제1 기판의 복수의 전도성 트랙들 중 적어도 하나에 전기적으로 접속되도록 구성되는 접점을 갖는, 감지 핀을 포함하고,
상기 감지 핀의 상기 접점은 허용된 삽입 방향에 실질적으로 수직한 방향으로 상기 적어도 3개의 기능 핀들 중 2개의 상기 각각의 접점들 사이에 배열되는, 전기 커넥터가 제공된다.
유리하게는, 예컨대 체액 샘플들 내의 분석물들을 검출하기 위해, 검사 스트립과 컨트롤러 사이에 효과적인 전기 접속이 제공될 수 있다. 또한, 다양한 유형들의 검사 스트립들이 검사 측정기에 별개로 이용될 수 있거나, 단지 선택된 연속성 구성을 가진 그러한 검사 스트립들만이 검사 측정기에 이용될 수 있다. 적어도 3개의 전극들과 대응하는 전도성 트랙들의 통합은 예컨대 혈액 샘플 내의 포도당과 별개로 헤마토크릿(hematocrit)을 측정함으로써 샘플들의 개선된 측정을 추가로 제공한다.
본 발명의 이러한 간단한 설명은 단지 하나 이상의 예시적인 실시예들에 따른 본 명세서에 개시된 발명 요지의 간단한 개요를 제공하도록 의도되고, 청구항들을 해석하거나 단지 첨부된 청구항들에 의해서만 한정되는 본 발명의 범주를 한정 또는 제한하는 지침의 역할을 하지 않는다. 이러한 간단한 설명은 아래에서 상세한 설명에 추가로 기술되는 예시적인 선택된 개념을 간략화된 형태로 소개하기 위해 제공된다. 이러한 간단한 설명은 청구된 발명 요지의 핵심적인 특징들 또는 필수적인 특징들을 식별하도록 의도되지도 않고, 그것은 청구된 발명 요지의 범주를 결정하는 데 도움을 주는 것으로서 사용되도록 의도되지도 않는다. 청구된 발명 요지는 배경기술에서 언급된 임의의 또는 모든 단점들을 해소하는 구현들로 제한되지 않는다.
본 발명의 위의 그리고 다른 목적들, 특징들 및 이점들이 하기의 설명, 및 도면들에 공통적인 동일한 특징부들을 가리키기 위해 가능한 경우 동일한 도면 부호들이 사용된 도면과 함께 취해질 때 더욱 명백해질 것이다.
도 1은 예시적인 실시예에 따른 커넥터의 상부 사시도.
도 2는 도 1의 커넥터의, 그 일부분이 부분적으로 절제된 저부 사시도.
도 3은 내부에 부분적으로 삽입된 기판을 포함하는, 도 1과 도 2의 커넥터의, 그 일부분이 부분적으로 절제된 상부 사시도.
도 4는 일 실시예에 따른 커넥터 하우징 내의 감지 핀을 도시하기 위해 부분적으로 절단된, 도 1 내지 도 3의 커넥터의 저부 사시도.
도 5는 커넥터 내에 삽입된 검사 스트립의 단면도.
도 6은 커넥터를 포함하는 그리고 하나의 버전에 따른, 체액 샘플 내의 분석물을 검출하기 위한 시스템의 부분 개략도.
도 7 내지 도 11은 다양한 태양에 따른 기판 상의 전도성 트랙의 레이아웃(layout)을 도시하는 도면.
도 12는 검사 스트립의 분해 사시도.
도 13은 체액 샘플 내의 분석물을 결정하기 위한 예시적인 방법을 예시하는 흐름도.
도 14는 예시적인 실시예에 따른 컨트롤러에 유용한 데이터-처리 시스템의 구성요소를 도시하는 블록도.
첨부된 도면들은 예시의 목적을 위한 것이고, 반드시 축척에 맞게 도시되지는 않는다.
하기는 분석물(예컨대, 혈당)의 존재를 결정하기 위해 사용되는 분석 검사 스트립과 같은, 기판과 함께 사용하기 위한 커넥터의 소정의 예시적인 실시예와, 그와 함께 사용하기 위한 커넥터 및 시스템의 사용 방법에 관한 것이다. 논의 과정 전반에 걸쳐, 첨부 도면에 관하여 적합한 기준틀(frame of reference)을 제공하기 위해 소정 용어가 사용된다. 그러나, 이들 용어는 명확하게 지시되지 않는 한 첨부된 청구항의 범주를 포함하는 범주에 영향을 미칠 정도로 엄격히 해석되지 않아야 한다. 또한 그리고 하기의 설명에서, 보통 소프트웨어 프로그램으로서 구현될 측면에서 몇몇 태양이 기술될 것이다. 당업자는 그러한 소프트웨어의 등가물이 또한 하드웨어, 펌웨어, 또는 마이크로-코드로 구성될 수 있는 것을 쉽게 인식할 것이다. 데이터-조작 알고리즘과 시스템이 잘 알려져 있기 때문에, 본 설명은 특히 본 명세서에 기술된 시스템 또는 방법의 일부를 형성하거나 그와 더욱 직접적으로 협동하는 알고리즘과 시스템에 관련될 것이다. 그러한 알고리즘 및 시스템의 다른 태양과, 그와 관련된 신호를 생성하고 달리 처리하기 위한, 본 명세서에 구체적으로 도시되거나 기술되지 않은 하드웨어 또는 소프트웨어가 당업계에 알려져 있는 그러한 시스템, 알고리즘, 구성요소, 및 요소로부터 선택된다. 본 명세서에 기술된 바와 같은 시스템 또는 방법을 고려하면, 임의의 태양의 구현에 유용한, 본 명세서에 구체적으로 도시되거나 제안되거나 기술되지 않은 소프트웨어는 종래의 것이고, 그러한 기술분야의 통상의 기술 내에 있다.
본 개시 내용의 전반에 걸쳐, 특정 방향으로 2개의 다른 특징부들 사이에 있는 특징부의 임의의 논의가 그러한 특징부가 2개의 다른 특징부들 사이의 직선 상에 있을 것을 필요로 하지 않는다. 예를 들어, 대문자 Y의 스템(stem)이 Y의 좌상부 및 우상부 대각선 세그먼트들 사이의 임의의 직선 아래에 있더라도, 스템은 수평 방향으로 그들 세그먼트들 사이에 있다.
도 1은 예시적인 실시예에 따른 전기 커넥터의 사시도이다. 본 명세서에서 더욱 상세히 논의된 바와 같이, 전기 커넥터(110)는 제1 기판(351)(도 3)을 수용하도록 구성된다.
전기 커넥터(110)는 하우징(120)을 포함한다. 하우징(120)은 그것이 핀(131, 132, 133, 134, 135, 139)을 보유하기에 충분한 기계적 강도를 갖도록 사출-성형되거나 기계가공되거나 달리 형성될 수 있다. 하우징(129)은 핀이 그 내로 돌출되는 내부 공동(138)을 갖는다. 내부 공동(128)은 하우징(120) 내에 제거가능하게 삽입되는 기판을 수용하도록 크기설정되고 형상화된다. 기판은 하우징(120) 내의 포트(129)를 통해 삽입된다. 포트(129)는 본 명세서에 기술된 바와 같이, 제1 기판(351)이 전기 커넥터(110)의 내부(128)로 해제가능하게 삽입되도록 허용하거나 달리 전기 커넥터(110)와 작동 배열되도록 허용하는 구멍, 슬롯, 슬릿(slit), 리세스(recess), 또는 다른 접근 특징부일 수 있다.
하우징(120)은 또한 내부 공동 내에 한정되는 그리고 하우징(120)의 포트 면에 대향하는 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(121)를 포함한다. 각각의 제1 정렬 특징부(121)는 전기 커넥터(110) 내로의 제1 기판(351)의 허용된 삽입 방향(125)을 한정하도록 포트(129)로부터 이격된다. 한정된 허용된 삽입 방향(125)은 실질적으로 포트(129)로부터 적어도 하나의 정렬 특징부(121)를 향해 연장될 수 있다.
전기 커넥터(110)는 복수의 기능 핀을 포함한다. 이러한 예시적인 실시예에 따르면, 5개의 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)이 배치되지만, 2개 초과의 임의의 개수가 전형적으로 바람직하다. 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)은 이 예에서 하우징(120)을 형성하는 사출-성형 공정 동안 하우징(120)의 플라스틱 내에 통합됨으로써 하우징(120)에 장착된다. 본 명세서에 기술된 목적을 위해, 용어 "~에 장착되는"은 외부로든 내부로든 간에 임의의 방향으로 하우징(120)을 지나 돌출되는 것을 제공한다. 각각의 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)은 전기 커넥터(110) 내로 삽입되는 제1 기판(351)의 복수의 전도성 트랙(도 3) 중 적어도 각각의 트랙에 전기적으로 접속되도록 배열되는 각각의 접점(141, 142, 143, 144, 145)을 갖는다. 각각의 접점(141, 142, 143, 144, 145)은 다른 접점(141, 142, 143, 144, 145)과 동일한 전도성 트랙, 또는 다른 접점(141, 142, 143, 144, 145)에 의해 접촉되지 않는 전도성 트랙과 접촉할 수 있다. 접점(141, 142, 143, 144, 145)은 한정된 허용된 삽입 방향(125)으로 포트(129)와 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(121) 사이에 배열된다. 위에서 논의된 바와 같이, 용어 "사이에"는 반드시 공선성(collinearity)을 암시하거나 금지하지는 않는다. 아래에서 논의되는 바와 같이, 다양한 태양에서, 기능 핀은 유리하게는 다양한 구성의 전도성 트랙을 갖는 기판과 상관된다.
감지 핀(139)이 하우징(120)에 장착되며, 감지 핀(139)은 한정된 허용된 삽입 방향(125)을 따라 전기 커넥터(110) 내로 사전결정된 거리(352)(도 3)만큼 삽입되는 제1 기판(351)의 복수의 전도성 트랙 중 적어도 하나에 전기적으로 접속되도록 구성되는 접점(149)을 갖는다.
다양한 태양에서, 감지 핀(139)과 각각의 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)은 복수의 전기적으로-접속된 세그먼트(명확함을 위해, 라벨링되지 않음)를 포함하며, 세그먼트들 중 적어도 하나는 하우징(120)에 기계적으로 장착된다. 각각의 전기적으로-접속된 세그먼트는 스탬핑되거나(stamped) 다이-커팅되거나(die-cut) 달리 형성될 수 있다. 다양한 태양에서, 하우징(120)은 포트(129)를 갖는 포트 면(179) 및 포트 면(179)에 측방향으로 인접한 2개의 핀 면(171, 172)을 갖는다. 감지 핀(139)과 다양한 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)은 핀 면들(171, 172) 중 대응하는 핀 면을 통해 돌출된다. 하우징(120)은 또한 포트 면(179)에 대향하는 제4 면(174)을 가질 수 있다. 제4 면(174)은 핀 면들(171, 172) 중 하나 또는 둘 모두에 인접할 수 있다. 언급된 바와 같이, 본 명세서에 도시된 커넥터는 예시적이며, 따라서 다른 적합한 형상 및 구성이 가능하다. 즉, 커넥터(110)는 4개 초과의 면을 가질 수 있으며, 이러한 경우에 용어 "제4"는 제4 면(174)을 하우징(120) 또는 그의 풋프린트(footprint)의 주연부 주위의 특정 장소에 나타나도록 제약하지 않는다.
이러한 예시적인 실시예에 따르면, 기능 핀(131, 132, 133)은 하우징(120)에 장착되고, 전기 커넥터(110)와 전기 커넥터(110)가 그에 장착되는 인쇄-회로 보드(PCB) 또는 다른 구성요소 사이의 전기 접촉의 형성을 허용하기 위해 하우징(120)의 주연부를 지나 핀 면(171)을 통해 돌출되는 각각의 세그먼트(181, 182, 183)를 포함한다. 각각의 세그먼트(181, 182, 183)는 각각의 핀(131, 132, 133)과 그의 임의의 다른 세그먼트에 전기적으로 접속된다. 다양한 태양에서, 전기 커넥터(110)를 PCB에 대해 적소에 보유시키기 위해 장착 특징부(122)가 PCB(미도시) 내의 대응하는 특징부와 맞물린다. 기능 핀(134, 135)과 감지 핀(139)은 마찬가지로 전기 접촉을 가능하게 하기 위해 하우징(120)의 주연부를 지나 핀 면(172)을 통해 돌출되는 각각의 세그먼트(184, 185, 189)를 포함한다.
이러한 실시예에 따라 도시된 바와 같이, 감지 핀(139)의 접점(149)은 기능 핀들(131, 132, 133, 134, 135) 중 적어도 하나의 각각의 접점(141, 142, 143, 144, 145)보다, 포트(129)로부터 더 멀리, 예컨대 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(121)에 더 가깝게 배열될 수 있다. 이는 유리하게는 도 6에 관하여 후술되는 바와 같은, 시스템에서 잘못된 삽입 검출의 가능성을 감소시킬 수 있다. 감지 핀(139)의 접점(149)은 한정된 허용된 삽입 방향(125)으로 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)의 각각의 접점(141, 142, 143, 144, 145) 각각보다 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(121)에 더 가까울 수 있다. 이러한 방식으로, 제1 기판(351)(도 3)이 커넥터(110)의 내부로 삽입될 때, 감지 핀 접점(149)과 마지막으로 만난다.
도 2는 감지 핀(139)의 다양한 전기적으로-접속된 세그먼트(289, 189)를 더욱 명확하게 보여주기 위해 하나의 모서리(201)가 절제된, 커넥터(110)의 부분-절제 저부 사시도이다. 감지 핀 접점(149)에 접속된, 감지 핀(139)의 전기적으로-접속된 세그먼트(288)를 또한 볼 수 있다.
이러한 실시예에 따르면, 감지 핀(139)의 각각의 전기적으로-접속된 세그먼트, 예컨대 세그먼트(288, 289, 189)는 제1 기판(351)(도 3)의 한정된 허용된 삽입 방향(135)에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직하게 연장된다. 실질적으로 삽입 방향(135)에 대해 복수의 비-대각선 세그먼트를 사용하여 이러한 방식으로 감지 핀(139)을 경로설정(routing)하는 것은 기판(351)이 정기적으로 삽입되고 제거될 때 감지 핀(139)에 대한 응력을 감소시켜, 감지 핀(139) 및 그에 따라 전기 커넥터(110)의 수명을 연장시킬 수 있다. 적어도 하나의 버전에 따르면, 복수의 전기적으로-접속된 세그먼트 중 적어도 하나, 예컨대 세그먼트(189)는 한정된 허용된 삽입 방향(125)에 실질적으로 수직하게 연장된다.
도 3은 예시적인 전기 커넥터(110) 내에 삽입되는 제1 기판(351)의 부분-절제 사시도이다. 이 도면은 다양한 특징부를 기술하는 목적을 위해 필요한 명확함을 제공하도록 확대되었다. 보다 구체적으로, 제1 기판(351)을 더욱 명확하게 보여주기 위해 포트(129) 위에 있는 하우징(120)의 부분(301)이 절제된다(절제된 영역은 아래에서 논의되는 차단 특징부(blocking feature)(329)를 보여주기 위해 기판(351)에 걸쳐 연장됨). 또한, 커넥터(110)의 프로파일을 더욱 명확하게 보여주기 위해 정렬 특징부(121, 321)에 인접한 부분이 절제된다. 전도성 트랙(343), 접점(143), 및 부근 구성요소를 볼 수 있도록 감지 핀(139)의 일부분이 또한 이 도면에 도시되지 않는다.
이러한 논의를 위해, 제1 기판(351)은 아래에서 논의되는 바와 같은 그리고 폭(305)을 갖는, 검사 스트립을 위한 기판일 수 있다. 제1 기판(351)은 이를 한정된 허용된 삽입 방향(125)으로 커넥터의 포트 면 내로 밀어넣거나 달리 이동시킴으로써 전기 커넥터(110) 내로 삽입된다. 또한 그리고 예시적인 실시예에 따르면, 포트(129) 및 전기 커넥터(110)가 그에 장착되는 PCB 또는 다른 표면은 제1 기판(351)(및 그에 따라 다양한 태양에서 도 5의 검사 스트립(550))을 실질적으로 허용된 삽입 평면 내에 놓이도록 제약한다.
서로 전기적으로 단속적인 복수의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)이 제1 기판(351) 위에 배치된다. 적어도 하나의 전도성 트랙이 제공되며, 여기서 총 5개의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)이 제1 기판(351)의 면 표면(381) 위에 배치되고, 그의 다양한 구성에 기초하여 도 7 내지 도 13에 관하여 아래에서 논의된다. 이 도면에서, 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)은 그들을 감지 핀(139) 및 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)과 구별하기 위해 해칭되어 도시된다. 도시된 예에서, 전기 접촉을 허용하기 위해, 도시된 바와 같이, 제1 기판(351)의 일 단부에 있는 영역을 제외하고는, 적어도 하나의 절연 층(385)이 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345) 위에 배치된다. 본 명세서에서 논의되는 바와 같이, 각각의 기능 핀 접점(141, 142, 143, 144, 145, 149)은 제1 기판(351)이 전기 커넥터(110) 내에 완전히 삽입될 때 각각의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)과 전기 접촉한다.
다양한 예에서, 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)과 감지 핀(139)의 접점(141, 142, 143, 144, 145, 149)은 허용된 삽입 평면에서 볼록 다각형의 정점이다. 다양한 예에서, 감지 핀(139)의 접점(149)은 허용된 삽입 평면에서 접점(149)으로부터 임의의 다른 접점(141, 142, 143, 144, 145)까지 직선이, 임의의 2개의 인접한 접점들(예컨대, 141-142, 142-143, 143-144, 144-145, 145-149, 149-141) 사이의 직선과 교차함이 없이, 그려질 수 있도록 배열된다. 이들 예는 아래에서 논의되는 바와 같이 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)의 더욱 간단한 경로설정을 허용한다.
포트(129)는 선택된 두께 한계보다 큰 두께를 갖는 제2 기판(미도시)의 삽입을 억제하거나 방지하도록 구성되는 하나 이상의 차단 특징부(들)(329)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 차단 특징부(329)는 전기 커넥터(110)가 그에 장착되는 PCB 또는 다른 장치보다 소정의 사전결정된 높이만큼 위에 있도록 설계되는 돌출부일 수 있다. 사전결정된 높이보다 두꺼운 임의의 기판이 PCB에 의해 차단 특징부(329)에 대항하여 가압되어 완전히 포트(129)에 들어가지 못하도록 제한되거나 방해될 것이다. 대안적으로, 핀 또는 다른 돌출부의 쌍과 같은 차단 특징부(329)가 제공될 수 있으며, 이러한 특징부는 고정된 거리만큼 이격되어 이러한 고정된 거리 이하의 두께를 가진 기판만이 포트(129)를 통과하도록 허용한다.
하우징(120)은 또한 포트(129)와 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(121)로부터 이격되는 적어도 하나의 제2 정렬 특징부(321)를 포함할 수 있다. 제1 및 제2 정렬 특징부(121, 321)는 도 5에 관하여 아래에서 논의된다. 다양한 예에서, 하우징(120)은 좌우 대칭이며, 따라서 제1 정렬 특징부(121)와 제2 정렬 특징부(321)가 하우징(120)의 대칭축을 중심으로 대칭이다. 다양한 다른 예에서, 대칭축은 한정된 바람직한 삽입 방향(125)에 평행하다.
다양한 태양에서, 포트(129)의 폭(309)은 제1 기판(351)의 선택된 폭(305)의 약 1.1배("약 1.1x") 이하, 또는 1.05x 이하, 또는 1.0748x 이하이다. 이러한 예시적인 실시예에서, 포트(129)는, 포트(129)의 대향 측면들 상에 배열되고 한정된 허용된 삽입 방향(125)에 실질적으로 평행하게 연장되는 2개의 안내 표면(398)을 포함한다. 다양한 예에서, 폭(305)은 5.5±0.15 mm이고 폭(309)은 5.7±0.05 mm이며, 따라서 5.75 mm/5.35 mm
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1.0748이 포트 폭(309)이 제1 기판(351)의 폭(305)을 초과하는 최대 계수(maximum factor)이다.
감지 핀 접점(149)은 측방향으로, 즉 한정된 방향(125)에 실질적으로 수직한 방향으로 기능 핀들 중 적어도 2개의 각각의 접점들 사이에 배열될 수 있다. 도시된 예에서, 감지 핀 접점(149)은 측방향으로 기능 핀 접점들(141, 142) 중 어느 하나와 핀 접점들(144, 145) 중 어느 하나 사이에 배치된다. 감지 핀 접점(149)은 감지 핀(149)의 세그먼트의 배향과 관계없이 측방향으로 배치된 접점과 공선적으로 정렬되거나 그로부터 편위될 수 있다. 즉, 대각선 세그먼트를 갖는 감지 핀, 또는 허용된 삽입 평면에서 세그먼트를 포함하지 않는 감지 핀(예컨대, 감지 핀(139)이 포고 핀(pogo pin)일 수 있음)이 이러한 방식으로 배치될 수 있다.
도 4는 하나의 세그먼트화된 구성에 따른 감지 핀을 포함하는 종래의 예시적인 전기 커넥터(110)를 예시한다. 감지 핀(139)은 명확함을 위해 해칭되어 도시된다. 이전에 기술된 바와 같이 그리고 이 실시예의 목적을 위해, 하우징은 사출 성형 공정과 같은 성형 공정으로부터 제조될 수 있다. 감지 핀(139)이 형성된 다음에, 그립(grip)(예컨대, 실린더형 핀)에 의해 주형(미도시) 내에 보유되면서 하우징(120)이 보유된 감지 핀 주위에 성형된다. 그러한 그립은 하우징(120) 내에 적어도 하나의 공극(400)을 남긴다. 기능 핀이 또한 보유 그립이 있거나 없이 유사하게 형성되고 메워 넣어 성형(molded-in)될 수 있다. 기능 핀 또는 감지 핀(139)이 또한 유사하게 하우징(120) 밖에 있는 핀의 부분, 예컨대 세그먼트(189)를 유지시키는 그립에 의해 성형 동안 보유될 수 있다.
다양한 예에서, 하나 이상의 제1 기판(들)(351)은 검사 측정기, 예컨대 포도당 측정기와 함께 사용되는 검사 스트립이다. 기판(351)은 커넥터(110)를 통해 하루에 4회 이상의 사이클로 사용될 수 있는데, 즉 삽입된 다음에 제거될 수 있다. 커넥터(110)의 일 실시예는 총 적어도 7300회 사이클에 대해 적어도 5년의 작동 수명을 갖는다. 각각의 사이클 동안, 감지 핀(139)과 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)은 휘어지거나 구부러진다. 핀(131, 132, 133, 134, 135, 139)이 변형을 겪을 때, 그들 핀의 재료 내의 잔류 응력이 균열을 일으키거나 그들의 전파를 가속시켜, 가능하게는 핀들 중 하나 이상의 피로 파괴를 초래할 수 있다. 따라서, 커넥터(110)를 핀 내의 잔류 응력을 감소시키는 방식으로 제조하는 것이 유용하다.
하우징(120)이 핀(131, 132, 133, 134, 135(모두 도 2), 139) 주위에 사출-성형될 때, 잔류 응력의 하나의 원인은 용융된 플라스틱에 의해 핀에 가해지는 압력이다. 핀을 단지 주형으로부터 돌출되는 세그먼트(181, 182, 183, 184, 185(모두 도 2), 189)에 의해서만 주형 내에 보유시키는 것은 용융된 플라스틱이 핀을 플라스틱이 그를 통해 주형에 들어가는 포트로부터 멀어지게 밀어내도록 허용할 수 있다. 이는 주형 내에서 핀의 병진 또는 회전을 유발할 수 있고, 핀 또는 플라스틱 내에 잔류 응력을 남길 수 있다. 충전 포트가 세그먼트(289)로부터 하우징(120)을 대각선으로 가로지르는 예에서, 핀(139) 내의 대각선 세그먼트가 한정된 방향(125)에 평행하거나 수직한 세그먼트보다 플라스틱에 의해 가해지는 힘에 대한 저항이 작을 수 있다. 그러한 대각선 세그먼트는 플라스틱의 유동에 비스듬한 대신에 그에 실질적으로 평행하거나 수직할 수 있다. 그러한 대각선 세그먼트를 사용하지 않는 것은 성형 동안 핀(139)의 비틀림을 감소시킬 수 있다. 위에서 논의된 그립을 사용하는 것은 핀(139)을 주형 내에 더욱 확고하게 고정시켜, 용융된 플라스틱에 의해 가해지는 힘에 대한 추가의 저항을 제공한다.
다양한 태양에서, 감지 핀(139)은 어떠한 세그먼트(예컨대, 세그먼트(288, 289, 189))도 한정된 허용된 삽입 방향(125)에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직한 것과 달리 연장되지 않도록 설계될 수 있다. 이러한 배향은 제1 기판(351)(도 3)이 커넥터(110) 내로 삽입되고 그로부터 제거될 때 감지 핀(139)에 대한 힘의 안정성과 반복성을 개선하여, 유리하게는 감지 핀(139)과 그에 따라 커넥터(110)의 수명을 증가시킬 수 있다.
커넥터(110)는 위에서 논의된 바와 같이 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(121)를 포함할 수 있다. 제1 정렬 특징부(들)(121), 제2 정렬 특징부(들)(321), 또는 둘 모두는 한정된 허용된 삽입 방향(125)을 따라 배치되는 적어도 하나의 안내 표면(422) 및 적어도 하나의 보유 표면(423)을 포함할 수 있다. 안내 표면(들)(422)은 한정된 허용된 삽입 방향(125)과 각각의 예각(들)(θ)을 형성한다(각각의 표면(422)은 θ의 상이한 값을 가질 수 있음). 보유 표면(들)(423)은 허용된 삽입 방향(125)에 실질적으로 평행하다. 안내 표면(들)(422)은 제1 기판(351)(도 3)을, 그의 선단 에지가 보유 표면(들)(423)에 접근함에 따라 안내한다. 보유 표면(들)(423)은 포트(129)와 함께 제1 기판(351)을 감지 핀(139)과 기능 핀(도 1)에 대해 바람직한 각도 위치로 유지시킨다.
도 5는 전기 커넥터(110) 내에 부분적으로 삽입된 검사 스트립(550)의 저면도를 도시한다. 검사 스트립(550)은 도 3에 도시된 바와 같이 기판(351)을 포함한다. 보유 표면(523, 524)은 도 4의 보유 표면(423)과 같다.
다양한 태양에서, 제2 정렬 특징부(321)는 포트(129)와 제1 정렬 특징부(121)로부터 이격된다. 정렬 특징부(121, 321)는 허용된 삽입 방향(125)에 대한 전기 커넥터(110) 내로 삽입되는 제1 기판(351)의 허용된 각도(φ)를 한정하도록 배열된다. 검사 스트립(550)의 종축(515)이 크기에 있어 허용된 각도(φ)보다 방향(125)으로부터 더 멀리 떨어져 있는 경우, 검사 스트립(550)이 정렬 특징부(121, 321), 또는 둘 모두에 의해 전기 커넥터(110) 내로의 완전한 삽입으로부터 차단될 것이다. 도시된 예에서, φ는 (이 예에서) 1.93°의 허용된 각도이다. 검사 스트립(550)은 단지 종축(515)이 (이 예에서) 방향(125)의 1.93° 내에 있는 경우에 전기 커넥터(110) 내로 완전히 삽입될 수 있다. 도시된 바와 같이, 이러한 각도에서, 검사 스트립(550)의 단부(551)가 보유 표면(523)과 접촉하지만 보유 표면(524)과는 접촉하지 않는다. 종축(515)이 여기에 도시된 바와 같이 1.93° 시계 방향 대신에 방향(125)으로부터 1.93° 반시계 방향인 경우, 단부(551)가 보유 표면(524)과 접촉하고 보유 표면(523)과는 접촉하지 않을 것이다. 보유 표면들(523, 524) 사이의 간격, 포트(129)의 폭(309)(도 3), 및 포트(128)와 정렬 특징부(121, 321)의 상대 위치는 검사 스트립(550) 또는 그의 기판(351)의 폭(305)(도 3)에 기초하여 원하는 방향(125)과 허용된 각도(φ)를 제공하도록 선택된다.
도 6은 다양한 태양에 따른 체액 샘플 내의 분석물을 검출하기 위한 시스템의 구성요소를 도시한다. 본 명세서에 도시된 바와 같이, 컨트롤러(686)가 시스템의 동작을 제어한다. 컨트롤러(686)는 마이크로컨트롤러, 마이크로프로세서, 현장-프로그램가능 게이트 어레이(FPGA), 프로그램가능 논리 어레이 또는 장치(PLA 또는 PLD), 프로그램가능 어레이 논리(PAL) 장치, 디지털 신호 프로세서(DSP), 또는 본 명세서에 기술된 기능을 수행하도록 구성되는 다른 논리 또는 처리 구성요소, 또는 그들 중 임의의 것의 하나 초과를 임의의 조합으로 포함할 수 있다.
검사 스트립(650)은 검사 스트립(550)과 유사하고, 샘플-수용 챔버(651)(파선 윤곽) 및 서로 전기적으로 단속적인 복수의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)을 포함한다. 이전에 언급된 바와 같이, 적어도 2개의 전도성 트랙이 요구된다. 각각의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)은 적어도 부분적으로 검사 스트립(650)의 제1 면(381)(도 3) 상에 배열되고, 샘플-수용 챔버(651)에 인접하고 그에 적어도 부분적으로 인접한다. 즉, 각각의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)은 트랙의 전기적 특성이 샘플-수용 챔버(651) 내의 샘플에 의해 영향받을 수 있도록, 또는 트랙을 통한 전기 신호가 샘플-수용 챔버 내의 샘플에 인가될 수 있도록 배열된다. 본 명세서에 도시된 바와 같이, 각각의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)은 그의 임의의 측면에서, 또는 그의 하나 초과의 측면에서 샘플-수용 챔버(651)에 인접할 수 있다. 검사 스트립(650)은 또한 반드시 샘플-수용 챔버(651)에 인접하지는 않은 다른 전도성 트랙(미도시)을 포함할 수 있다. 도시된 예에서, 유체 샘플이 포트(70)(도 12에 관하여 아래에서 논의됨)를 통해 샘플-수용 챔버(651)에 들어간다. 샘플-수용 챔버(651)는 포트(70)로부터 연장되는 샘플 채널, 및 효소 영역(여기서, 전극(671, 672, 673)과 중첩하는 넓은 직사각형 부분)을 포함한다. 효소가 효소 영역 내에 침착되며; 이는 시약 층(72)(도 12)에 관하여 아래에서 논의된다.
감지 핀(139)(도 1)이 하우징(120)에 장착된다. 감지 핀 접점(149)(정사각형으로 표현됨)은 전기 커넥터(110) 내에 삽입되는 검사 스트립(650)의 복수의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)의 각각의 트랙 중 적어도 하나에 전기적으로 접속되도록 구성된다. 이전에 논의된 바와 같이, 감지 핀 접점(149)은 한정된 허용된 삽입 방향(125)을 따라 포트(129)에 대향하게 배열될 수 있다. 감지 핀 접점(149)은 측방향으로(즉, 방향(125)에 실질적으로 수직한 방향으로) 중심에 있을 필요가 없다. 다양한 예에서, 핀 접점들 각각이 각각의 상이한 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)에 전기적으로 접속될 수 있거나, 핀 접점들 중 하나 초과가 전도성 트랙들(341, 342, 343, 344, 345) 중 동일한 트랙에 전기적으로 접속될 수 있다.
도시된 예에서, 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135, 139)이 명확함을 위해 도시되지 않지만, 각각의 전기적으로-접속된 세그먼트(181, 182, 183, 184, 185, 189)가 도시되고, 표시된 바와 같이 접점에 접속된다. 감지 핀 접점(149)과 세그먼트(189) 사이의 접속은 단지 그러한 접속을 도시된 다른 접속과 시각적으로 구별하기 위해 파선으로 도시된다. 컨트롤러(686)는 세그먼트를 컨트롤러(686)에 접속시키는 각각의 세그먼트(181, 182, 183, 184, 185, 189) 아래의 점선에 의해 도식적으로 표현되는 바와 같이 세그먼트들(181, 182, 183, 184, 185, 189) 중 일부 또는 전부와 통신할 수 있다.
연속성 센서(690)가 감지 핀(139)과 기능 핀들(131, 132, 133, 134, 135) 중 적어도 하나 사이의 전기 접속을 검출하도록 그리고 어느 기능 핀(들)(131, 132, 133, 134, 135)이 감지 핀(139)에 전기적으로 접속되는지의 표시를 컨트롤러(686)에 제공하도록 구성될 수 있다. 연속성 센서(690)는 단지 특정 핀 쌍 사이의 전기 접속, 또는 선택된 핀 쌍들 중 임의의 핀 쌍 사이의 전기 접속만을 검출하도록 구성될 수 있다. 도시된 예에서, 연속성 센서(690)는 세그먼트(183, 189)에 전기적으로 접속되며, 따라서 기능 핀(133)과 감지 핀(139) 사이의 전기 접속을 검출할 수 있다. 도시된 예에서, 이러한 접속은 검사 스트립(650)이 전기 커넥터(110) 내로 실질적으로 완전히 삽입될 때 전기-전도성 스트랩(strap)(652)에 의해 이루어진다. 스트랩(652)은 접점(143, 149)을 전기적으로 접속시킨다. 연속성 센서(690)는 전체적으로 또는 부분적으로 컨트롤러(686)의 구성요소로서 제공될 수 있거나, 컨트롤러(686)와 통신하는 별개의 구성요소일 수 있다. 연속성 센서(690)는 검사 전압 또는 전류를 인가하거나, 검사 전류, 전압, 또는 자기장을 감지하거나, 그들 또는 다른 연속성-검출 기술의 임의의 적합한 조합을 수행할 수 있다.
본 명세서에 기술된 바와 같이, 연속성 검출 불능은 검사 스트립(650)의 비-삽입, 커넥터(110) 내로의 검사 스트립의 불완전한 삽입, 2개의 접점을 접속시키도록 구성되는 스트랩(652)을 갖지 않은 검사 스트립의 삽입, 또는 기능 핀 및 감지 핀 접점(141, 142, 143, 144, 145, 149)과 전기 접속을 형성하도록 위치되는 전도성 트랙을 갖지 않은 검사 스트립의 삽입의 결과일 수 있다. 예가 아래에서 논의된다.
저장 유닛(689)이 선택된 연속성 구성과 기능 핀들 중 2개 이상의 대응하는 선택을 저장한다. 이들은 후술된다. 적합한 저장 유닛(689)은 비휘발성 랜덤-액세스 메모리(NVRAM), 플래시 메모리, 판독-전용 메모리(ROM), 마스크 하드와이어링(mask hardwiring), 실리콘 다이 상의 레이저-트리밍된(laser-trimmed) 저항기 또는 트레이스, PCB 또는 다이 상의 점퍼 또는 저항기, 이중 인라인 패키지(dual inline package, DIP) 스위치, PCB 브리지 또는 컷(cut), 또는 다른 저장 장치를 포함할 수 있다. 선택된 연속성 구성은 컨트롤러(686)에 의해 판독될 데이터로서 또는 컨트롤러(686)에 의해 실행될 코드로서 저장될 수 있다. 저장 유닛(689)은 컨트롤러(686)를 위한 비휘발성 프로그램 저장 장치를 포함할 수 있다.
컨트롤러(686)는 감지 핀(139)과 기능 핀들(131, 132, 133, 134, 135) 중 적어도 하나 사이에서 전기 접속이 검출되었다는 연속성 센서(690)로부터의 표시에 자동으로 응답하도록 구성될 수 있다. 컨트롤러(686)는 기능 핀들(131, 132, 133, 134, 135) 중 어느 것이 감지 핀(139)에 접속되는지의 제공된 표시를 저장 유닛(689)으로부터의 저장된 선택된 연속성 구성과 비교한다. 제공된 표시가 저장된 선택된 연속성 구성에 대응하는 경우, 컨트롤러(686)는 측정을 수행한다. 본 명세서에 기술된 바와 같이, 용어 "~에 대응한다"는 표시와 구성에 동일한 식별자가 사용되든 사용되지 않든 간에, 제공된 표시와 선택된 연속성 구성이 검사 스트립 상의 동일한 전도성 트랙을 나타냄을 의미한다. 여기에 도시된 예에서, 저장 유닛(689)은 감지 핀(139)에 "접속된 핀(133)"의 연속성 구성과 "핀(131, 132)"의 대응하는 선택을 저장할 수 있다.
컨트롤러(686)는 저장 유닛(689)으로부터의 저장된 대응하는 선택에 의해 표시되는 그러한 기능 핀(들)을 작동시킴으로써(예컨대, 핀(131, 132)을 작동시킴) 측정을 수행할 수 있다. 그들 기능 핀을 작동시키는 것은 샘플-수용 챔버(651)에 또는 그에 걸쳐 검사 전기 신호를 인가하는 결과를 가져온다(용어 "걸쳐"가 전기 기술 분야에서 통상적이고, 전극(671, 672)과 같은 전극의 기계적 배향을 제약하지 않는 것에 유의하여야 함). 샘플-수용 챔버(651) 내의 분석물을 검출하기 위해 생성된 전기 신호가 측정될 수 있다. 하나의 버전에 따르면, 전기 신호는 전압이고, 컨트롤러(686)는 전도성 트랙들 중 2개 사이의 전류를 측정하여 분석물을 검출하도록 추가로 구성된다.
"분석물을 검출하는 것"은 샘플-수용 챔버 내에 분석물이 존재하는지의 여부를 검출하고, 그러한 경우, 그 분석물의 특성을 검출하는 것을 포함할 수 있다. 위의 예를 계속하여 살펴보면, 컨트롤러(686)가 기능 핀(133)이 감지 핀(139)에 전기적으로 접속된다는 표시를 연속성 센서(690)로부터 수신할 때, 컨트롤러(686)는 저장된 연속성 구성과의 일치를 인지하고, 저장 유닛(689)으로부터 대응하는 선택을 가져온다. 대응하는 선택이 기능 핀(131, 132)을 포함하기 때문에, 컨트롤러(686)는 각각 세그먼트(181, 182)에 전압 또는 전류를 공급함으로써 기능 핀(131, 132)을 작동시킬 수 있다.
컨트롤러(686)는 제공된 표시가 저장된 선택된 연속성 구성에 대응하지 않을 경우, 오류 표시를 제시하도록 추가로 구성될 수 있다. 컨트롤러(686)는 출력 유닛(669)을 통해 오류를 제시할 수 있다. 출력 유닛(669)은 사용자에 대한 시각적 또는 청각적 표시를 생성하는 장치를 포함할 수 있다. 예를 들어, 출력 유닛(669)은 컨트롤러(686)가 오류를 제시할 때 점멸하거나 달리 조명되는 적어도 하나의 조명; 소리를 내는 벨, 비퍼(beeper) 또는 버저(buzzer); 또는 울리는 혼(horn)을 포함할 수 있다. 다른 태양에 따르면, 청각적 또는 시각적-재생 시스템(예컨대, 팝업 오류 대화창을 디스플레이하는 컴퓨터 스크린), 또는 인간-기계 인터페이스(HMI), 서버, 단말기, 스마트폰, 무선 호출기, 또는 다른 계산 또는 통신 장치로 오류에 관한 정보를 전송하는 네트워크 인터페이스가 작동될 수 있다.
다른 태양에서, 저장 유닛(689)은 복수의 선택된 연속성 구성 및 기능 핀들 중 2개 이상의 각각의 대응하는 선택을 저장할 수 있다. 예를 들어, 저장 유닛(689)은 다음을 저장할 수 있다:
Figure pct00002
이들 태양에 관하여, 컨트롤러는 제공된 표시를 저장된 선택된 연속성 구성들 각각과 비교할 수 있다. 제공된 표시가 저장된 선택된 연속성 구성들 중 하나에 대응하는 경우, 컨트롤러(686)는 저장된 각각의 대응하는 선택에 의해 표시되는 기능 핀들 각각을 작동시킨다. 따라서, 전술된 바와 같이, 전기 신호가 샘플-수용 챔버(651)에 걸쳐 인가되어 샘플-수용 챔버(651) 내의 분석물을 검출한다.
다양한 태양에서, 기능 핀의 하나 초과의 세트가 동시에 사용될 수 있다. 저장된 대응하는 선택은 기능 핀들 중 적어도 2개의 적어도 2개만큼 많은 세트가 각각 작동되는 것을 특정한다. 일례에서, 저장 유닛(689)은 다음을 저장한다:
Figure pct00003
다양한 이들 태양에서, 체액 샘플은 전혈이다. 컨트롤러는 제1 세트 내의 기능 핀에 걸쳐 포도당-측정 신호를 인가하고, 동시에 또는 순차적으로(어느 순서로든) 제2 세트 내의 기능 핀에 걸쳐 헤마토크릿-측정 신호를 인가함으로써 검사 전기 신호를 인가하도록 구성될 수 있다. 이는 변화하는 헤마토크릿 수준에 의해 초래될 수 있는 포도당 측정치의 잡음을 보정하는 것을 허용한다.
다양한 태양에서, 제1 세트는 커넥터(110)의 3개의 기능 핀을 포함할 수 있다. 일례에서, 저장 유닛(689)은 다음을 저장하며, 마킹된(*) 열은 도 6에 도시된 예에 대응한다:
Figure pct00004
컨트롤러(686)는 3개의 기능 핀들 중 제1 기능 핀과 3개의 기능 핀들 중 제2 기능 핀 사이에, 예컨대 열(*)에서, 핀들(132, 131) 사이에 포도당 측정 신호를 인가한다. 컨트롤러(686)는 또한 3개의 기능 핀들 중 제3 기능 핀과 3개의 기능 핀들 중 제2 기능 핀 사이에, 예컨대 핀들(133, 131) 사이에 포도당 측정 신호를 인가한다. 예를 들어, 핀(132, 133)은 둘 모두 전도성 트랙(341)을 통해 핀(131)에 전기적으로 접속되는 공통 상대/기준 전극(671)에 대해 샘플-수용 챔버(651)에 인접하게 작동식으로 배열되는 각각의 작업 전극(672, 673)에 예컨대 각각 전도성 트랙(342, 343)을 통해 전기적으로 접속될 수 있다. 이는 핀(133)에 접속된 전극(673) 또는 전도성 트랙(343)이 작동하지 않는 경우(예컨대, 기계적 손상으로 인해 개방됨) 단지 핀(132)만을 사용하여 측정이 수행될 수 있고 그 반대의 경우도 마찬가지인 간단한 안전 장치(failsafe)를 제공한다. 다양한 태양에서, 이러한 안전 장치가 사용되고, 헤마토크릿 측정이 사용되지 않는다.
다양한 예에서, 헤마토크릿은 제2 세트 내의 핀(134, 135)으로 측정될 수 있다. 이들 핀은 각각 전도성 트랙(344, 345)을 통해 각각 전극(674, 675)에 접속된다. 전극(674, 675)은 전극들(671, 672, 673) 중 포트(70)에 가장 가까운 전극(671)과 포트(70) 사이에 위치된다. 컨트롤러(686)는 헤마토크릿-측정 신호 또는 다른 샘플-파라미터 측정 신호를 전극(674, 675)에 인가한다. 컨트롤러(686)는 전극(674, 675)에 대한 신호의 결과적인 전기적 특성(예컨대, 전압, 전류, 파형, 또는 주파수)을 측정하고, 이러한 측정된 특성을 사용하여 샘플-수용 챔버(651) 내의 샘플의 파라미터를 결정한다. 예를 들어, 컨트롤러(686)는 헤마토크릿 측정을 사용하여 포도당-분석 지연 시간을 설정할 수 있다. 컨트롤러(686)는 이어서 포도당 측정 신호를 선택된 기능 핀에 인가하기 전에 포도당-분석 지연 시간이 경과하기를 기다린다.
헤마토크릿을 측정하는 것은 높은 헤마토크릿 수준 또는 낮은 헤마토크릿 수준을 갖는 혈액 샘플에서 더욱 정확한 포도당 판독을 허용할 수 있다. 헤마토크릿 수준은 적혈구에 의해 점유되는 체적의 백분율을 나타낸다. 일반적으로, 높은 헤마토크릿 혈액 샘플은 낮은 헤마토크릿 혈액 샘플(20% 헤마토크릿에서 약 3 센티푸아즈(centipoise))보다 더 점성이다(70% 헤마토크릿에서 최대 약 10 센티푸아즈). 또한, 높은 헤마토크릿 혈액 샘플은 산소를 위한 캐리어인 헤모글로빈의 수반되는 증가로 인해 낮은 헤마토크릿 혈액보다 높은 산소 함량을 갖는다. 따라서, 헤마토크릿 수준은 혈액의 점도와 산소 함량에 영향을 미칠 수 있다. 점도 및 산소 함량 둘 모두는 포도당 전류의 크기를 변화시킬 수 있고, 이어서 포도당 농도 측정을 부정확하게 만들 수 있다. 헤마토크릿을 측정하는 것은 그들 부정확성을 보정하는 것을 허용한다. 헤마토크릿 보정의 예가 본 명세서에 참고로 포함되는 미국 특허 출원 공개 제2011/0005941호에 주어진다.
전기 커넥터(110)는 예컨대 도 3에 도시된 바와 같이 배열되는 2개 이상의 정렬 특징부를 추가로 포함할 수 있다. 기능 핀(131, 132, 133, 134, 135)과 감지 핀(139)의 각각의 접점(141, 142, 143, 144, 145, 149(도 3))이 허용된 삽입 방향(125)으로 포트(129)와 정렬 특징부들(121, 321) 각각(둘 모두 도 3) 사이에 있다.
다양한 태양에서, 도 4에 도시된 바와 같이, 감지 핀(129)은 복수의 전기적으로-접속된 세그먼트, 예컨대 세그먼트(288, 289, 189)를 포함한다. 세그먼트들 중 적어도 하나가 하우징(120)에 기계적으로 장착된다. 각각의 세그먼트는 허용된 삽입 방향(125)에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직하게 연장된다. 다양한 태양에서, 감지 핀(129)은 허용된 삽입 방향(125)에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직한 것과 달리 연장되는 어떠한 세그먼트도 포함하지 않는다.
위에서 논의된 바와 같이, 검사 스트립의 삽입시 연속성 검출 불능은 2개의 접점을 접속시키도록 구성되는 스트랩(652)을 갖지 않은 검사 스트립의 삽입의 결과일 수 있다. 검출 불능은 또한 저장된 연속성 구성에 의해 표시되는 바와 다른 방식으로 위치되는 스트랩(652)을 갖는 검사 스트립의 삽입의 결과일 수 있다. 따라서, 분석 검사 스트립과 검사 측정기 조합의 다양한 태양은 유리하게는 신호 처리 모듈이 적절한 전기적 연속성 또는 전기적 단속성을 감지하는지에 기초하여 검사 측정기에 의한 사용에 적합하거나 부적합한 것으로서 분석 검사 스트립을 쉽게 식별하는 것을 허용한다. 그러한 식별은 유리하게는 검사 측정기가 단지 적절할 때에만 분석물 결정을 진행하도록 허용하여, 부적합한 분석 검사 스트립의 사용에 기초하는 잠재적으로 부적절하거나 잘못되거나 부정확한 분석물 결정을 회피한다.
다양한 상업 시장이 다양한 태양에 따른 분석 검사 스트립과 측정기 조합을 공급받을 수 있는 것이 구상된다. 예를 들어, 상업 시장 "A"는 제1 전기적 구성(예컨대, 핀(141, 149)을 접속시키는 스트랩(652))을 갖는 분석 검사 스트립을 공급받을 수 있는 한편, 상업 시장 "B"는 제2 상이한 전기적 구성(예컨대, 핀(145, 149)을 접속시키는 스트랩(652))을 갖는 분석 검사 스트립을 공급받을 수 있다. 그러한 시나리오에서, 시장 "A"와 "B"에서 사용자에게 공급된 검사 측정기의 신호 처리 모듈이 적절한 전기적 연속성 또는 단속성을 가진 분석물 검사 스트립을 사용에 적합한 것으로서 식별하고 부적절한 전기적 연속성 또는 단속성을 가진 분석물 검사 스트립을 사용에 부적합한 것으로서 식별하도록 프로그래밍될 것이다. 시장 A를 위해 구성된 분석 검사 스트립이 우발적으로 시장 B에 채용되는 경우, 시장 B 검사 측정기는 분석 검사 스트립이 사용에 부적합하다고 결정할 것이고(왜냐하면 표시가 저장된 연속성 구성과 일치하지 않을 것이기 때문에), 원한다면, 사용자에게로의 적절한 메시지를 검사 스트립의 디스플레이 모듈 상에 디스플레이할 것이다.
도 7 내지 도 11은 다양한 태양에 따른 기판(351) 상의 전도성 트랙의 레이아웃을 도시한다. 각각 접점(141, 142, 143, 144, 145)(도식적으로 원으로 표현됨)에 전기적으로 접속되는 복수의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)이 도시된다. 감지 핀 접점(149)(도 1에 도식적으로 원으로 표현됨)이 또한 도시된다. 도 7은 기능 핀 접점(143)을 감지 핀 접점(149)에 전기적으로 접속시키는 스트랩(652)을 도시한다. 도 8은 접점(141)을 접점(149)에 전기적으로 접속시키는 스트랩(652)을 도시한다. 도 9는 접점(142)을 접점(149)에 전기적으로 접속시키는 스트랩(652)을 도시한다. 도 10은 접점(144)을 접점(149)에 전기적으로 접속시키는 스트랩(652)을 도시한다. 도 11은 접점(145)을 접점(149)에 전기적으로 접속시키는 스트랩(652)을 도시한다.
도 12는 예시적인 검사 스트립의 분해 사시도이다. 추가의 상세 사항이 본 명세서에 참고로 포함되는 미국 특허 출원 공개 제2007/0074977호에 제공된다.
검사 스트립(62)은 제1 지지 층(66), 스페이서(spacer)(60), 및 제2 지지 층(64)을 포함한다. 지지 층(66, 64)과 스페이서(60)는 전기 절연성, 예컨대 플라스틱일 수 있다. 지지 층(66, 64)과 스페이서(60)는 검사 스트립(62)에 대한 기계적 지지를 제공하기 위해 충분히 강성일 수 있거나, 다른 충분히 강성의 구조체 위에 코팅되는 층일 수 있다. 완전히 조립될 때, 검사 스트립(62)은 샘플, 예컨대 체액 샘플을 수용하기 위한 샘플-수용 챔버(61)를 포함한다. 샘플-수용 챔버(61)는 스페이서(60) 내의 컷아웃(cutout) 영역(68)에 의해 형성된다. 샘플, 예컨대 체액 샘플이 포트(70)를 통해 전달될 수 있다. 검사 스트립(62)은 1개 또는 2개의 포트(70), 또는 더 많은 포트를 가질 수 있다. 포트들(70) 중 하나는 샘플 입구를 제공할 수 있고, 다른 하나는 통기구(vent)로서 작용할 수 있다.
샘플-수용 챔버(61)는 작은 체적의 샘플을 분석하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 샘플-수용 챔버(61)는 약 0.1 마이크로리터 내지 약 5 마이크로리터, 또는 0.2 내지 약 3 마이크로리터, 또는 약 0.3 마이크로리터 내지 약 1 마이크로리터 범위의 체적을 가질 수 있다. 작은 샘플 체적을 수용하기 위해, 검사 스트립의 전극들이 밀접하게 이격될 수 있다. 예를 들어, 스페이서(60)가 전극(1201)과 전극(1202) 사이의 거리를 한정할 때, 스페이서(60)의 높이는 약 1 마이크로미터 내지 약 500 마이크로미터, 또는 약 10 마이크로미터 내지 약 400 마이크로미터, 또는 약 40 마이크로미터 내지 약 200 마이크로미터 범위 내일 수 있다. 예시적인 검사 스트립의 추가의 상세 사항이 본 명세서에 참고로 포함되는 미국 특허 제8,163,162호에 주어진다.
하나 이상의 전기 전도체가 지지 층(64, 66) 위에 배치될 수 있다. 도시된 예에서, 전극(1201)은 샘플-수용 챔버(61)에 인접하게 지지 층(66) 위에 배치된다. 전극들은 대면하는(facing) 또는 반대로 향하는(opposing faced) 배열로, 또는 다른 공면 또는 비-공면 구성으로 이격되어 배열될 수 있다.
시약 층(72)이 슬롯 코팅(slot coating), 튜브의 단부로부터 액체를 분배함에 의한 코팅, 잉크 젯팅(ink jetting), 및 스크린 인쇄(screen printing)와 같은 공정을 사용하여 샘플-수용 챔버(61) 내에 배치될 수 있다. 그러한 공정은 예를 들어 각각이 전체적으로 본 명세서에 참고로 포함되는 미국 특허 제6,749,887호; 제6,689,411호; 제6,676, 995호; 및 제6,830,934호에 기술된다. 다양한 태양에서, 시약 층(72)은 전극 상에 침착되고, 적어도 매개체와 효소를 포함한다. 매개체는, 산화성 물질 또는 환원성 물질로서 지칭될 수 있는 2가지 산화환원 상태(redox state)들 중 어느 하나일 수 있다. 적합한 매개체의 예는 페리시안화물, 페로센, 페로센 유도체, 오스뮴 바이피리딜 착물, 및 퀴논 유도체를 포함한다. 적합한 효소의 예는 포도당 산화효소, 피롤로퀴놀린 퀴논 보조 인자를 기반으로 하는 포도당 탈수소효소(GDH), 및 니코틴아미드 아데닌 다이뉴클레오티드 보조 인자를 기반으로 하는 GDH를 포함한다. 시약 층(72)을 위한 하나의 예시적인 시약 제형이 전체적으로 본 명세서에 참고로 포함되는, 미국 출원 공개 제2004/0120848호로 공개된, 발명의 명칭이 "살균되고 교정된 바이오센서-기반 의료 장치를 제조하기 위한 방법(Method for Manufacturing a Sterilized and Calibrated Biosensor-Based Medical Device)"인 미국 출원 제10/242,951호에 기술된다.
전극은 도 12에서 볼 수 있는 제1 지지 층(66)의 면 위에, 그리고 도 12에서 볼 수 없는 제2 지지 층(64)의 면 위에 배치될 수 있다. 전극은 샘플-수용 챔버(61)의 양 면 상에, 또는 그의 에지 주위에 배치될 수 있다. 또한, 지지 층(66) 또는 지지 층(64) 위에, 전극에 접속되는 하나 이상의 전도성 트랙이 배치된다. 이 예에서, 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)은 지지 층(66) 위에 배치되고, 각각 접점(141, 142, 143, 144, 145)(도식적으로 흑색 원으로 표현됨)에 전기적으로 접속된다. 전도성 트랙(341)이 전극(1201)에 접속된다. 다른 전극은 도시되지 않지만, 각각의 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)은 0개 이상의 전극에 접속될 수 있다. 스페이서(60)는 지지 층(66) 상의 전도성 트랙과 지지 층(64) 상의 전도성 트랙 사이의 전기 접속을 제공하기 위해 전기-전도성 비아(via)를 포함할 수 있다. 도 6에 관하여 위에서 논의된 바와 같이, 접점(141, 142, 143, 144, 145, 149)은 샘플-수용 챔버(61) 또는 그 내의 유체 또는 체액 샘플에 전기 신호를 인가하는 것을 허용하기 위해 전도성 트랙(341, 342, 343, 344, 345)과 전기적으로 접속된다. 검사 스트립(62)은 측정기에 전기적으로 접속시키기 위한 다양한 전기 접점 구성을 포함할 수 있다. 예를 들어, 미국 특허 제6,379,513호는 전기화학 셀 접속 수단을 개시하며, 전체적으로 본 명세서에 참고로 포함된다.
전극, 예컨대 전극(1201)은 얇은 필름일 수 있다. 다양한 태양에서, 전극은 금, 팔라듐, 탄소, 은, 백금, 산화주석, 이리듐, 인듐, 및 이들의 조합(예컨대, 인듐-도핑된(doped) 산화주석 또는 "ITO")과 같은 재료로부터 형성되는 전도성 재료를 포함한다. 전극은 전도성 재료를 스퍼터링(sputtering), 무전해 도금, 또는 스크린 인쇄 공정에 의해 지지 층(66, 64) 상에 배치함으로써 형성될 수 있다. 일례에서, 스퍼터링된 금 전극(1202)이 지지 층(64)의 면(1265)(도 12에서 볼 수 없는 면) 위에 배치되고, 스퍼터링된 팔라듐 전극(1201)이 지지 층(66)의 면(1266)(도 12에서 볼 수 있는 면) 위에 배치된다. 절연 시트로서 채용될 수 있는 적합한 재료는 예를 들어 플라스틱(예컨대, PET, PETG, 폴리이미드, 폴리카르보네이트, 폴리스티렌), 실리콘, 세라믹, 유리, 및 이들의 조합을 포함한다. 예를 들어, 지지 층(64, 66)은 7 밀(mil) 폴리에스테르 기판(들)으로부터 형성될 수 있다.
일례에서, 지지 층(66)은 작업 전극(1201)을 형성하는 Pd 코팅이 예컨대 스퍼터링에 의해 그 상에 침착된 폴리에스테르 기부를 포함한다. 건조 시약 층(72)이 본 명세서에 기술된 바와 같이 완충제, 매개체, 및 효소를 포함한다. 스페이서(60)는 전기화학 셀을 한정하는 컷아웃 영역(68)을 갖는 양면형 접착제이다. 스페이서는 약 200 μm 미만의 두께일 수 있다. 지지 층(64)은 기준 전극(1202)을 형성하는 Au 코팅이 예컨대 스퍼터링에 의해 그 상에 침착된 폴리에스테르 기부를 포함한다. 이 예에서, 포도당 산화효소/페리시안화물 시스템이 하기의 반응을 통해 포도당 농도를 결정하기 위해 사용된다:
[반응 1]
포도당 + 포도당 산화효소 → 글루콘산 + 환원된 포도당 산화효소
[반응 2]
환원된 포도당 산화효소 + 2 페리시안화물 → 포도당 산화효소 + 2 페로시안화물
페리시안화물 ([Fe(CN)6]3-)은, 환원된 포도당 산화효소를 그의 촉매적 상태로 되돌리는 매개체이다. 효소 촉매인 포도당 산화효소는, 여분의 매개체가 존재하기만 한다면, 포도당을 계속 산화시킬 것이다. 페로시안화물 ([Fe(CN)6]4-)은 전체 반응의 생성물이다. 이상적으로는, 초기에는 페로시안화물이 존재하지 않지만, 실제로는, 종종 소량으로 존재한다. 반응이 완료된 후에, (전기화학적으로 측정된) 페로시안화물의 농도는 포도당의 초기 농도를 나타낸다. 전체 반응은 반응 1과 반응 2의 합이다.
[반응 3]
포도당 + 2 페리시안화물 → 글루콘산 + 2 페로시안화물
"포도당"은 구체적으로 β-D-포도당을 지칭한다. 이러한 시스템의 상세 사항은 PCT 출원 WO 97/18465호 및 미국 특허 제6,444,115호에 기술되며, 이들 각각은 본 명세서에 참고로 포함된다.
도 13은 다양한 태양에 따른 체액 샘플 내의 분석물을 결정하기 위한 예시적인 흐름도이다. 이들 단계의 다양한 조합과 순서가 사용될 수 있다. 처리는 단계(1310)부터 시작한다.
단계(1310)에서, 분석 검사 스트립이 검사 측정기의 전기 커넥터를 사용하여 수용된다. 분석 검사 스트립은 예컨대 도 12에 도시된 바와 같이 체액 샘플을 수용하도록 구성되는 샘플-수용 챔버를 포함한다. 수용하는 단계는, 예컨대 도 6에 도시된 바와 같이, 분석 검사 스트립의 제1 면 상에 노출되는 적어도 3개의 전도성 트랙이 전기 커넥터의 각각의 기능 핀과 전기 접촉하고, 전도성 트랙들 중 적어도 하나가 전기 커넥터의 감지 핀과 추가로 전기 접촉하도록, 이러한 예시적인 방법에 따라 수행된다. 단계(1310) 후에 단계(1320)가 이어진다.
단계(1320)에서, 검사 측정기의 컨트롤러가 감지 핀과 기능 핀들 중 제1 기능 핀 사이의 전기적 연속성을 감지하기 위해 사용된다. 도 6에 관하여 위에서 논의된 바와 같이, 컨트롤러는 연속성 센서를 포함하거나 그에 전기적으로 접속될 수 있다. 컨트롤러는 그렇게 함으로써 그것이 다른 구성요소에 의존하든 의존하지 않든 간에 전기적 연속성을 감지한다. 연속성이 감지될 때, 단계(1320) 후에 단계(1330)가 이어진다. 연속성이 검출되지 않은 경우, 컨트롤러는 연속성을 기다리거나, 사용자에게 스트립을 삽입하도록 촉구하거나, 오류 신호를 보낼 수 있다.
단계(1330)에서, 연속성이 감지될 때, 컨트롤러는 기능 핀들 중 제1 기능 핀의 아이덴티티를 저장된 연속성-구성 정보(1331)와 비교한다. 기능 핀들 중 제1 기능 핀의 아이덴티티는 핀 번호 또는 위치, 또는 그들과 상관되는 다른 식별 값일 수 있다. 예를 들어, 단계(1320)는 다중-비트(multi-bit) 디지털 값 또는 비트마스크(bitmask)를 컨트롤러에 제공하는 연속성 센서를 포함할 수 있으며, 그러한 값 또는 비트마스크는 기능 핀들 중 어느 것이 감지 핀에 전기적으로 접속되는지를 표시한다. 아이덴티티가 일치할 때, 단계(1330) 후에 단계(1340)가 이어진다. 아이덴티티가 일치하지 않을 때, 단계(1330) 후에 단계(1335)가 이어질 수 있다.
단계(1335)에서, 컨트롤러는 자동으로 오류 표시를 제시한다. 오류는 기능 핀들 중 제1 기능 핀의 아이덴티티가 저장된 연속성-구성 정보에 대응하지 않는 것을 표시한다. 오류는 예컨대 출력 유닛(669)(도 6)에 관하여 전술된 바와 같이, 디스플레이, 오디오 인터페이스, 네트워크 인터페이스, 또는 다른 장치 상에 제시될 수 있다.
단계(1340)에서, 기능 핀들 중 제1 기능 핀의 아이덴티티가 저장된 연속성-구성 정보에 대응하는 경우, 컨트롤러는 자동으로, 저장된 연속성-구성 정보에 의해 표시되는 기능 핀들 중 선택된 기능 핀에 선택된 전기 신호를 인가하고, 적어도 하나의 결과 전기 신호를 측정한다. 단계(1340) 후에 단계(1350)가 이어진다.
다양한 태양에서, 단계(1330)는 컨트롤러가 자동으로 기능 핀들 중 제1 기능 핀의 아이덴티티를 연속성-구성 정보의 복수의 저장된 값들 각각과 비교하는 단계를 포함한다. 아이덴티티가 복수의 저장된 값들 중 하나와 일치하는 경우, 단계(1340)는 컨트롤러가 자동으로 연속성-구성 정보의 일치하는 저장된 값에 의해 표시되는 기능 핀들 중 선택된 기능 핀에 선택된 전기 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 이는 하나의 컨트롤러로 상이한 구성의 검사 스트립을 사용하는 것을 허용한다.
단계(1350)에서, 컨트롤러는 자동으로, 결과 전기 신호를 처리하여 체액 샘플이 샘플-수용 챔버에 적용되었는지의 여부를 검출하고, 그러한 경우 적용된 체액 샘플 내의 분석물을 결정한다. 예가 아래에서 논의된다. 단계(1350) 후에 단계(1360)가 이어질 수 있다. 다양한 태양에서, 분석물은 포도당이고, 체액 샘플은 전혈 샘플이다.
단계(1360)에서, 결정된 분석물의 표시가 예컨대 컨트롤러가 디스플레이에 자동으로 명령함으로써 디스플레이 상에 제시된다. 예를 들어, mg/dL 또는 mmol/L 단위로 측정되는, 혈액 샘플 내의 포도당의 수준이 숫자로 디스플레이될 수 있다.
수성 샘플, 예컨대 체액 샘플 내의 분석물 농도를 측정하기 위한 전기화학적(전류측정) 방법이 샘플을 전류 측정에 적합한 임피던스를 갖는 2개의 전극(예컨대, 도 12의 전극(1201, 1202))을 갖는 전기화학 셀 내의 반응 구역(예컨대, 도 12의 샘플-수용 챔버(61)) 내에 배치하는 단계를 수반한다. 분석물은 전술된 바와 같이 전극 또는 산화환원 시약과 직접 반응하도록 허용되어, 분석물 농도에 대응하는 양으로 산화성(또는 환원성) 물질을 형성한다. 이때 산화성(또는 환원성) 물질의 양은 전기화학적으로 결정된다. 다양한 태양은 샘플이 반응 구역에서 검출되는 시점을 정확하게 결정한다. 이는 전기화학적 파형(예컨대, 전압)이 샘플이 적용된 직후에 인가되도록 허용하고, 배양 기간 또는 반응 시간을 정확하게 한정한다. 결과적으로, 이는 분석의 정확도와 정밀도를 개선한다.
우선, 작은 정전류원이 전기화학 진단 스트립의 전극에 걸쳐 인가될 수 있고, 전극들 사이의 전위차가 모니터링된다. 샘플이 샘플-수용 챔버(61)에 적용되기 전에, 전극들(1201, 1202) 사이에 건조 간극(dry gap)이 존재한다. 따라서, 무시해도 될 정도의 전류가 흐른다. 샘플이 스트립에 적용되고 간극을 충전할 때, 측정된 전압이 급격히 감소하여, 검사 시간이 개시되게 한다. 컨트롤러(686)(도 6)는 전압의 감소를 샘플의 표시로서 인식하도록 구성될 수 있고, 기능 핀들(131, 132, 133, 134, 135(도 1)) 중 선택된 기능 핀에 정전류 전기 신호를 인가하는 것을 자동으로 중지시킨다. 컨트롤러는 이어서 기능 핀들(131, 132, 133, 134, 135) 중 선택된 기능 핀에 정전압 전기 신호를 인가할 수 있다. 정전압이 인가되는 동안, 전류 또는 전하가 시간의 함수로서 측정되어 분석물 농도가 계산되도록 허용한다.
정전압이 인가된 후에 사전결정된 시간에 측정되는 전류는 일단 시스템이 알려진 분석물 농도를 갖는 샘플을 사용하여 교정되었으면 분석물 농도의 척도이다. 사전결정된 시간의 지속기간은 중요하지 않다. 그것은 유체가 혈액이고 분석물이 포도당일 때 적어도 약 3초일 수 있다. 그러한 지속기간은 일반적으로 시약을 용해시키고 쉽게 측정가능한 매개체의 양을 감소시키기에 충분한 시간을 제공한다. 모든 조건이 같다면, 높은 헤마토크릿에서, 더 긴 시간이 필요하다. 지속기간은 <10초일 수 있다. 동일한 사전결정된 시간이 각각의 샘플의 다수의 연속적인 측정을 위해 사용될 수 있다. 추가의 예가 각각이 본 명세서에 참고로 포함되는 미국 특허 제6,193,873호 및 미국 특허 출원 공개 제2007/0074977호에 주어진다.
도 14는 데이터를 분석하고 본 명세서에 기술된 다른 분석을 수행하기 위한 데이터-처리 시스템의 구성요소를 도시하는 블록도이다. 시스템은 데이터 처리 시스템(1410), 주변 장치 시스템(1420), 사용자 인터페이스 시스템(1430), 및 데이터 저장 시스템(1440)을 포함한다. 주변 장치 시스템(1420), 사용자 인터페이스 시스템(1430) 및 데이터 저장 시스템(1440)은 데이터 처리 시스템(1410)에 통신 접속된다. 컨트롤러(186)와 수신기(130)는 각각 시스템들(1410, 1420, 1430, 1440) 중 하나 이상을 포함할 수 있다.
데이터 처리 시스템(1410)은 본 명세서에 기술된 예시적인 프로세스를 비롯한 다양한 태양의 프로세스를 구현하는 하나 이상의 데이터 처리 장치를 포함한다. 어구 "데이터 처리 장치" 또는 "데이터 프로세서"는 중앙 처리 장치("CPU"), 데스크톱 컴퓨터, 랩톱 컴퓨터, 메인프레임 컴퓨터, 개인 휴대 정보 단말기, 블랙베리(Blackberry)™, 디지털 카메라, 휴대 전화, 또는 전기적, 자기적, 광학적, 생물학적 구성요소, 또는 다른 것 중에서 어느 것으로 구현되든 간에 데이터 처리, 데이터 관리, 또는 데이터 취급을 위한 임의의 다른 장치를 포함하도록 의도된다.
데이터 저장 시스템(1440)은 본 명세서에 기술된 프로세스를 비롯한 다양한 태양의 프로세스를 실행하는 데 필요한 정보를 포함하는 정보를 저장하도록 구성되는 하나 이상의 프로세서-접근가능 메모리를 포함한다. 데이터 저장 시스템(1440)은 복수의 컴퓨터 또는 장치를 통해 데이터 처리 시스템(1410)에 통신 접속되는 다중 프로세서-접근가능 메모리를 포함하는 분산 프로세서-접근가능 메모리 시스템일 수 있다. 다른 한편, 데이터 저장 시스템(1440)은 분산 프로세서-접근가능 메모리 시스템일 필요는 없으며, 결과적으로, 단일 데이터 프로세서 또는 장치 내에 위치되는 하나 이상의 프로세서-접근가능 메모리를 포함할 수 있다. 다양한 태양에서, 컨트롤러(686)(도 6) 내의 데이터 저장 시스템(1440)은 신호 처리 모듈(386)이 분석 검사 스트립(650)(도 6)의 전기화학 응답에 기초하여 분석물을 결정하는 적합한 알고리즘을 수행하게 하는 코드 또는 다른 명령을 포함한다. 알고리즘은 전기화학-기반 분석 검사 스트립(650) 내의 다양한 전극(예컨대, 도 12의 전극(1201))의 전기화학 응답을 수용할 수 있다.
어구 "프로세서-접근가능 메모리"는 휘발성 또는 비휘발성, 전자적, 자기적, 광학적, 또는 다른 것 중에서 어느 것이든 간에, 레지스터, 플로피 디스크, 하드 디스크, 콤팩트 디스크, DVD, 플래시 메모리, ROM, RAM을 포함하지만 이에 제한되지 않는 임의의 프로세서-접근가능 데이터 저장 장치를 포함하도록 의도된다.
어구 "통신 접속되는"은 유선이든 무선이든 간에, 데이터가 통신될 수 있는 장치들, 데이터 프로세서들, 또는 프로그램들 사이의 임의의 유형의 접속을 포함하도록 의도된다. 어구 "통신 접속되는"은 단일 데이터 프로세서 내의 장치들 또는 프로그램들 사이의 접속, 상이한 데이터 프로세서 내에 위치되는 장치들 또는 프로그램들 사이의 접속, 및 데이터 프로세서 내에 위치되지 않는 장치들 사이의 접속을 포함하도록 의도된다. 이와 관련하여, 데이터 저장 시스템(1440)이 데이터 처리 시스템(1410)과 별개로 도시되지만, 당업자는 데이터 저장 시스템(1440)이 완전히 또는 부분적으로 데이터 처리 시스템(1410) 내에 저장될 수 있는 것을 인식할 것이다. 추가로 이와 관련하여, 주변 장치 시스템(1420)과 사용자 인터페이스 시스템(1430)이 데이터 처리 시스템(1410)과 별개로 도시되지만, 당업자는 그러한 시스템들 중 하나 또는 둘 모두가 완전히 또는 부분적으로 데이터 처리 시스템(1410) 내에 저장될 수 있는 것을 인식할 것이다.
주변 장치 시스템(1420)은 데이터 처리 시스템(1410)에 디지털 콘텐츠 레코드(digital content record)를 제공하도록 구성되는 하나 이상의 장치를 포함할 수 있다. 예를 들어, 주변 장치 시스템(1420)은 디지털 스틸 카메라, 디지털 비디오 카메라, 휴대 전화, 또는 다른 데이터 프로세서를 포함할 수 있다. 데이터 처리 시스템(1410)은 주변 장치 시스템(1420) 내의 장치로부터 디지털 콘텐츠 레코드의 수신시 그러한 디지털 콘텐츠 레코드를 데이터 저장 시스템(1440) 내에 저장할 수 있다.
사용자 인터페이스 시스템(1430)은 마우스, 키보드, 다른 컴퓨터, 또는 데이터가 데이터 처리 시스템(1410)에 그로부터 입력되는 임의의 장치 또는 장치들의 조합을 포함할 수 있다. 이와 관련하여, 주변 장치 시스템(1420)이 사용자 인터페이스 시스템(1430)과 별개로 도시되지만, 주변 장치 시스템(1420)은 사용자 인터페이스 시스템(1430)의 일부로서 포함될 수 있다.
사용자 인터페이스 시스템(1430)은 또한 디스플레이 장치, 프로세서-접근가능 메모리, 또는 데이터가 데이터 처리 시스템(1410)에 의해 그에 출력되는 임의의 장치 또는 장치들의 조합을 포함할 수 있다. 이와 관련하여, 사용자 인터페이스 시스템(1430)이 프로세서-접근가능 메모리를 포함하는 경우, 그러한 메모리는, 사용자 인터페이스 시스템(1430)과 데이터 저장 시스템(1440)이 도 14에 별개로 도시되더라도, 데이터 저장 시스템(1440)의 일부일 수 있다.
본 발명의 태양이 시스템, 방법, 또는 컴퓨터 프로그램 제품으로서 구현될 수 있다. 따라서, 태양이 전적으로 하드웨어, 전적으로 소프트웨어(펌웨어, 상주 소프트웨어, 마이크로-코드 등), 또는 소프트웨어와 하드웨어의 조합의 형태를 취할 수 있다. 이들 형태와 태양은 모두 일반적으로 본 명세서에서 "서비스(service)", "회로(circuit)", "회로망(circuitry)", "모듈" 또는 "시스템"으로 지칭될 수 있다.
다양한 태양이 컴퓨터 판독가능 프로그램 코드가 그 상에 구현되는 하나 이상의 컴퓨터 판독가능 매체(들)로 구현되는 컴퓨터 프로그램 제품의 형태를 취할 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 하나 이상의 저장 매체, 예를 들어; 자기 디스크(예컨대, 플로피 디스크) 또는 자기 테이프와 같은 자기 저장 매체; 광학 디스크, 광학 테이프, 또는 기계 판독가능 바 코드와 같은 광학 저장 매체; 랜덤 액세스 메모리(RAM) 또는 판독-전용 메모리(ROM)와 같은 고체 전자 저장 장치; 또는 하나 이상의 컴퓨터를 다양한 태양을 실시하도록 제어하기 위한 명령어를 갖는 컴퓨터 프로그램을 저장하기 위해 채용되는 임의의 다른 물리적 장치 또는 매체를 포함할 수 있다. 컴퓨터-판독가능 저장 매체의 다른 예는 휴대용 컴퓨터 디스켓, 하드 디스크, 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독-전용 메모리(ROM), 소거가능 프로그램가능 판독-전용 메모리(EPROM 또는 플래시 메모리), 광섬유, 휴대용 콤팩트 디스크 판독-전용 메모리(CD-ROM), 광학 저장 장치, 자기 저장 장치, 또는 전술한 것의 임의의 적합한 조합을 포함한다. 컴퓨터 판독가능 저장 매체는 명령어 실행 시스템, 기기, 또는 장치에 의해 또는 그와 함께 사용하기 위한 프로그램을 포함하거나 저장할 수 있는 임의의 유형의 매체(tangible medium)일 수 있다.
컴퓨터 판독가능 매체 상에 구현되는 프로그램 코드 및/또는 실행가능 명령어는 무선, 와이어라인(wireline), 광섬유 케이블, RF, 또는 적절한 매체의 임의의 적합한 조합을 포함하지만 이에 제한되지 않는 임의의 적절한 매체를 사용하여 전송될 수 있다.
다양한 태양에 대한 동작을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램 코드는 전적으로 사용자의 컴퓨터(장치) 상에서, 부분적으로 사용자의 컴퓨터 상에서, 독립형 소프트웨어 패키지로서, 부분적으로 사용자의 컴퓨터 상에서 그리고 부분적으로 원격 컴퓨터 상에서, 또는 전적으로 원격 컴퓨터 또는 서버 상에서 실행될 수 있다. 후자의 시나리오에서, 원격 컴퓨터가 근거리 통신망(LAN) 또는 광역 통신망(WAN)을 비롯한 임의의 유형의 네트워크를 통해 사용자의 컴퓨터에 접속될 수 있거나, 이러한 접속이 외부 컴퓨터에 대해 이루어질 수 있다(예를 들어, 인터넷 서비스 제공자를 사용하여 인터넷을 통함).
컴퓨터 프로그램 명령어는 컴퓨터, 다른 프로그램가능 데이터 처리 기기, 또는 다른 장치에 특정 방식으로 기능하도록 지시할 수 있는 컴퓨터 판독가능 매체 내에 저장될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 명령어는 또한 컴퓨터, 다른 프로그램가능 데이터 처리 기기, 또는 다른 장치에 로딩되어, 일련의 동작 단계가 컴퓨터, 다른 프로그램가능 기기 또는 다른 장치 상에서 수행되게 하여, 컴퓨터 또는 다른 프로그램가능 기기 상에서 실행되는 명령어가 본 명세서에 명시된 기능/동작을 구현하기 위한 프로세스를 제공하도록 컴퓨터 구현식 프로세스를 생성할 수 있다.
도 1 내지 도 14에 대한 부호 목록
Figure pct00005
본 발명은 본 명세서에 기술된 태양들의 조합을 포함한다. "특정 태양" 등에 대한 언급은 본 발명의 적어도 하나의 태양에 존재하는 특징부를 지칭한다. "일 태양" 또는 "특정 태양" 등에 대한 별개의 언급은 반드시 동일한 태양 또는 태양들을 지칭하지는 않지만; 그러한 태양들은 상호 배타적인 것으로 지시되지 않는 한 또는 당업자에게 쉽게 명백한 바와 같이 상호 배타적이지 않다. "방법" 또는 "방법들" 등을 지칭함에 있어 단수형 또는 복수형의 사용은 제한적이지 않다. 단어 "또는"은 달리 명시적으로 언급되지 않는 한 본 개시 내용에서 비-배타적인 의미로 사용된다.
본 발명이 특히 그의 소정의 바람직한 태양에 관하여 상세히 기술되었지만, 본 발명의 사상 및 범주 내에서 당업자에 의해 변형, 조합, 및 변경이 달성될 수 있는 것이 이해될 것이다.

Claims (25)

  1. 선택된 폭의 제1 기판을 수용하도록 구성되는 전기 커넥터로서, 상기 제1 기판은 상기 제1 기판의 면 표면(face surface) 위에 배치되는 복수의 전도성 트랙(conductive track)들을 갖고, 상기 전기 커넥터는,
    a) 하우징으로서,
    i) 포트(port); 및
    ii) 상기 전기 커넥터 내로의 상기 제1 기판의 허용된 삽입 방향을 한정하도록 상기 포트로부터 이격되는 적어도 하나의 제1 정렬 특징부(alignment feature)를 포함하는, 상기 하우징;
    b) 상기 하우징에 장착되는 적어도 3개의 기능 핀(function pin)들로서, 각각의 상기 기능 핀은 상기 전기 커넥터 내에 삽입되는 상기 제1 기판의 상기 복수의 전도성 트랙들 중 각각의 트랙에 전기적으로 접속되도록 배열되는 각각의 접점(contact)을 갖고, 상기 각각의 접점들은 상기 허용된 삽입 방향으로 상기 포트와 상기 적어도 하나의 제1 정렬 특징부 사이에 배열되는, 상기 적어도 3개의 기능 핀들;
    c) 상기 하우징에 장착되는 감지 핀(sense pin)으로서, 상기 감지 핀은 상기 전기 커넥터 내로 사전결정된 거리만큼 삽입될 때의 상기 제1 기판의 상기 복수의 전도성 트랙들 중 적어도 하나에 전기적으로 접속되도록 구성되는 접점을 갖는, 상기 감지 핀을 포함하고,
    상기 감지 핀은 복수의 전기적으로-접속된 세그먼트(segment)들을 추가로 포함하고, 상기 세그먼트들 중 적어도 하나는 상기 하우징에 기계적으로 장착되며, 각각의 상기 세그먼트는 상기 제1 기판의 상기 허용된 삽입 방향에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직하게 연장되는, 전기 커넥터.
  2. 제1항에 있어서, 상기 감지 핀은 상기 허용된 삽입 방향에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직한 것과 달리 연장되는 어떠한 세그먼트도 포함하지 않는, 전기 커넥터.
  3. 제1항에 있어서, 상기 감지 핀의 상기 접점은 상기 적어도 3개의 기능 핀들 중 적어도 하나의 상기 각각의 접점보다 상기 포트로부터 더 멀리 배열되는, 전기 커넥터.
  4. 제1항에 있어서, 상기 포트는 선택된 두께 한계보다 큰 두께를 갖는 제2 기판의 삽입을 억제하도록 구성되는 차단 특징부(blocking feature)를 포함하는, 전기 커넥터.
  5. 제1항에 있어서, 상기 감지 핀의 상기 접점은 상기 허용된 삽입 방향으로 상기 기능 핀들의 상기 각각의 접점들 각각보다 상기 적어도 하나의 제1 정렬 특징부에 더 가까운, 전기 커넥터.
  6. 제1항에 있어서, 상기 하우징은 상기 포트와 상기 적어도 하나의 제1 정렬 특징부로부터 이격되는 제2 정렬 특징부를 포함하고, 상기 제1 정렬 특징부 및 제2 정렬 특징부는 상기 허용된 삽입 방향에 대한 상기 전기 커넥터 내로 삽입되는 상기 제1 기판의 허용된 각도를 한정하도록 배열되는, 전기 커넥터.
  7. 제1항에 있어서, 상기 적어도 하나의 제1 정렬 특징부는 상기 허용된 삽입 방향을 따라 배치되는 안내 표면 및 보유 표면을 포함하고, 상기 안내 표면은 상기 허용된 삽입 방향과 예각을 형성하며, 상기 보유 표면은 상기 허용된 삽입 방향에 실질적으로 평행한, 전기 커넥터.
  8. 제1항에 있어서, 상기 포트의 폭은 상기 제1 기판의 상기 선택된 폭의 약 1.1배 이하이고, 상기 포트는, 상기 포트의 대향 측면들 상에 배열되고 상기 허용된 삽입 방향에 실질적으로 평행하게 연장되는 2개의 안내 표면들을 포함하는, 전기 커넥터.
  9. 제1항에 있어서, 상기 하우징은 상기 포트를 갖는 포트 면 및 상기 포트 면에 인접한 2개의 핀 면들을 갖고, 상기 기능 핀들 및 상기 감지 핀 각각은 상기 핀 면들 중 하나를 통해 돌출되는, 전기 커넥터.
  10. 제1항에 있어서, 상기 적어도 3개의 기능 핀들은 상기 하우징에 장착되는 5개의 기능 핀들을 포함하는, 전기 커넥터.
  11. 체액 샘플 내의 분석물을 검출하기 위한 시스템으로서,
    a) 컨트롤러;
    b) 샘플-수용 챔버(sample-receiving chamber) 및 서로 전기적으로 단속적인 복수의 전도성 트랙들을 갖는 검사 스트립(test strip)으로서, 각각의 전도성 트랙은 적어도 부분적으로 상기 검사 스트립의 제1 면 상에 그리고 적어도 부분적으로 상기 샘플-수용 챔버에 인접하게 배열되는, 상기 검사 스트립;
    c) 전기 커넥터로서,
    i) 허용된 삽입 방향으로 삽입되는 상기 검사 스트립을 수용하도록 구성되는 포트를 가진 하우징;
    ii) 상기 하우징에 장착되는 3개 이상의 기능 핀들로서, 각각의 상기 기능 핀은 상기 전기 커넥터 내에 삽입되는 상기 검사 스트립의 상기 복수의 전도성 트랙들 중 각각의 트랙에 전기적으로 접속되도록 배열되는 각각의 접점을 갖는, 상기 3개 이상의 기능 핀들; 및
    iii) 상기 하우징에 장착되고, 상기 전기 커넥터 내에 삽입되는 상기 검사 스트립의 상기 복수의 전도성 트랙들의 각각의 트랙들 중 하나에 전기적으로 접속되도록 구성되는 접점을 갖는, 감지 핀으로서, 상기 감지 핀의 상기 접점은 상기 허용된 삽입 방향을 따라 상기 포트에 대향하게 배열되는, 상기 감지 핀을 포함하는, 상기 전기 커넥터;
    d) 상기 감지 핀과 상기 기능 핀들 중 적어도 하나 사이의 전기 접속을 검출하고, 어느 기능 핀(들)이 상기 감지 핀에 전기적으로 접속되는지의 표시(indication)를 제공하도록 구성되는, 연속성 센서(continuity sensor); 및
    e) 선택된 연속성 구성 및 상기 기능 핀들 중 2개 이상의 대응하는 선택을 저장하는 저장 유닛(storage unit)을 포함하고,
    상기 컨트롤러는 자동으로,
    i) 상기 연속성 센서에 응답하여, 상기 제공된 표시를 상기 저장된 선택된 연속성 구성과 비교하고;
    ii) 상기 제공된 표시가 상기 저장된 선택된 연속성 구성에 대응하는 경우, 상기 저장된 대응하는 선택에 의해 표시되는 상기 기능 핀들 각각을 작동시켜 상기 샘플-수용 챔버에 걸쳐 검사 전기 신호를 인가하도록, 그리고 결과 전기 신호를 측정하여 상기 샘플-수용 챔버 내의 상기 분석물을 검출하도록 구성되는, 시스템.
  12. 제11항에 있어서, 상기 컨트롤러는, 상기 제공된 표시가 상기 저장된 선택된 연속성 구성에 대응하지 않을 경우, 오류 표시를 제시하도록 추가로 구성되는, 시스템.
  13. 제11항에 있어서, 상기 저장 유닛은 복수의 선택된 연속성 구성들 및 상기 기능 핀들 중 2개 이상의 각각의 대응하는 선택들을 저장하고, 상기 컨트롤러는,
    i) 상기 제공된 표시를 상기 저장된 선택된 연속성 구성들 각각과 비교하고;
    ii) 상기 제공된 표시가 상기 저장된 선택된 연속성 구성들 중 하나에 대응하는 경우, 상기 저장된 각각의 대응하는 선택에 의해 표시되는 상기 기능 핀들 각각을 작동시켜, 전기 신호가 상기 샘플-수용 챔버 내의 상기 분석물을 검출하기 위해 상기 샘플-수용 챔버에 걸쳐 인가되도록 추가로 구성되는, 시스템.
  14. 제11항에 있어서,
    a) 상기 체액 샘플은 전혈이고;
    b) 상기 저장된 대응하는 선택은 상기 기능 핀들 중 적어도 2개의 2개 세트들이 각각 작동되는 것을 특정하며;
    c) 상기 컨트롤러는, 상기 제1 세트 내의 상기 기능 핀들에 걸쳐 포도당-측정 신호를 인가하고, 상기 제2 세트 내의 상기 기능 핀들에 걸쳐 헤마토크릿(hematocrit)-측정 신호를 인가함으로써, 상기 검사 전기 신호를 인가하도록 구성되는, 시스템.
  15. 제14항에 있어서, 상기 제1 세트는 상기 기능 핀들 중 3개를 포함하고, 상기 컨트롤러는 상기 3개의 기능 핀들 중 제1 기능 핀과 상기 3개의 기능 핀들 중 제2 기능 핀 사이에, 그리고 또한 상기 3개의 기능 핀들 중 제3 기능 핀과 상기 3개의 기능 핀들 중 상기 제2 기능 핀 사이에 상기 포도당 측정 신호를 인가하는, 시스템.
  16. 제11항에 있어서, 상기 전기 커넥터는 2개의 정렬 특징부들을 추가로 포함하고, 상기 2개의 정렬 특징부들은 상기 기능 핀들과 상기 감지 핀의 상기 각각의 접점들이 상기 허용된 삽입 방향으로 상기 포트와 상기 정렬 특징부들 각각 사이에 있도록 배열되는, 시스템.
  17. 제11항에 있어서, 상기 감지 핀은 복수의 전기적으로-접속된 세그먼트들을 포함하고, 상기 세그먼트들 중 적어도 하나는 상기 하우징에 기계적으로 장착되며, 각각의 상기 세그먼트는 상기 허용된 삽입 방향에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직하게 연장되는, 시스템.
  18. 제11항에 있어서, 상기 감지 핀은 상기 허용된 삽입 방향에 실질적으로 평행하거나 실질적으로 수직한 것과 달리 연장되는 어떠한 세그먼트도 포함하지 않는, 전기 커넥터.
  19. 제11항에 있어서, 상기 전기 신호는 전압이고, 상기 컨트롤러는 상기 전도성 트랙들 중 2개 사이의 전류를 측정하여 상기 분석물을 검출하도록 추가로 구성되는, 시스템.
  20. 체액 샘플 내의 분석물을 결정하기 위한 방법으로서,
    분석 검사 스트립의 제1 면 상에 노출되는 적어도 3개의 전도성 트랙들이 전기 커넥터의 각각의 기능 핀들과 전기 접촉하고, 상기 전도성 트랙들 중 적어도 하나가 상기 전기 커넥터의 감지 핀과 추가로 전기 접촉하도록, 검사 측정기의 상기 전기 커넥터를 사용하여 상기 분석 검사 스트립을 수용하는 단계로서, 상기 분석 검사 스트립은 상기 체액 샘플을 수용하도록 구성되는 샘플-수용 챔버를 포함하는, 상기 수용하는 단계;
    상기 검사 측정기의 컨트롤러를 사용하여, 상기 감지 핀과 상기 기능 핀들 중 제1 기능 핀 사이의 전기적 연속성을 감지하는 단계;
    연속성이 감지될 때, 상기 컨트롤러가 상기 기능 핀들 중 상기 제1 기능 핀의 아이덴티티(identity)를 저장된 연속성-구성 정보와 비교하는 단계;
    상기 기능 핀들 중 상기 제1 기능 핀의 상기 아이덴티티가 상기 저장된 연속성-구성 정보에 대응하는 경우, 상기 컨트롤러가 자동으로, 상기 저장된 연속성-구성 정보에 의해 표시되는 상기 기능 핀들 중 선택된 기능 핀들에 선택된 전기 신호를 인가하고, 결과 전기 신호를 측정하는 단계; 및
    상기 컨트롤러가 자동으로, 상기 결과 전기 신호를 처리하여 체액 샘플이 상기 샘플-수용 챔버에 적용되었는지의 여부를 검출하고, 그러한 경우 상기 적용된 체액 샘플 내의 상기 분석물을 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
  21. 제20항에 있어서, 상기 분석물은 포도당이고, 상기 체액 샘플은 전혈 샘플인, 방법.
  22. 제20항에 있어서, 상기 결정된 분석물의 표시를 디스플레이 상에 제시하는 단계를 추가로 포함하는, 방법.
  23. 제20항에 있어서, 상기 기능 핀들 중 상기 제1 기능 핀의 상기 아이덴티티가 상기 저장된 연속성-구성 정보에 대응하지 않을 경우, 상기 컨트롤러가 자동으로 오류 표시를 제시하는 단계를 추가로 포함하는, 시스템.
  24. 제20항에 있어서, 상기 비교하는 단계는 상기 컨트롤러가 자동으로 상기 기능 핀들 중 상기 제1 기능 핀의 상기 아이덴티티를 연속성-구성 정보의 복수의 저장된 값들 각각과 비교하고, 상기 아이덴티티가 상기 복수의 저장된 값들 중 하나와 일치하는 경우, 상기 컨트롤러가 자동으로 상기 연속성-구성 정보의 상기 일치하는 저장된 값들에 의해 표시되는 상기 기능 핀들 중 선택된 기능 핀들에 선택된 전기 신호를 인가하는 것을 포함하는, 시스템.
  25. 선택된 폭의 제1 기판을 수용하도록 구성되는 전기 커넥터로서, 상기 제1 기판은 상기 제1 기판의 면 표면 위에 배치되는 복수의 전도성 트랙들을 갖고, 상기 전기 커넥터는,
    a) 하우징으로서,
    i) 포트; 및
    ii) 상기 전기 커넥터 내로의 상기 제1 기판의 허용된 삽입 방향을 한정하도록 상기 포트로부터 이격되는 적어도 하나의 제1 정렬 특징부를 포함하는, 상기 하우징;
    b) 상기 하우징에 장착되는 적어도 3개의 기능 핀들로서, 각각의 상기 기능 핀은 상기 전기 커넥터 내에 삽입되는 상기 제1 기판의 상기 복수의 전도성 트랙들 중 각각의 트랙에 전기적으로 접속되도록 배열되는 각각의 접점을 갖고, 상기 각각의 접점들은 상기 허용된 삽입 방향으로 상기 포트와 상기 적어도 하나의 제1 정렬 특징부 사이에 배열되는, 상기 적어도 3개의 기능 핀들; 및
    c) 상기 하우징에 장착되는 감지 핀으로서, 상기 감지 핀은 상기 전기 커넥터 내로 사전결정된 거리만큼 삽입될 때의 상기 제1 기판의 상기 복수의 전도성 트랙들 중 적어도 하나에 전기적으로 접속되도록 구성되는 접점을 갖는, 상기 감지 핀을 포함하고,
    상기 감지 핀의 상기 접점은 상기 허용된 삽입 방향에 실질적으로 수직한 방향으로 상기 적어도 3개의 기능 핀들 중 2개의 상기 각각의 접점들 사이에 배열되는, 전기 커넥터.
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