KR20150065843A - 접속 단자 및 이것을 이용한 도통 검사 기구 - Google Patents

접속 단자 및 이것을 이용한 도통 검사 기구 Download PDF

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히로타다 테라니시
타카히로 사카이
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오므론 가부시키가이샤
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Abstract

고탄성을 가짐으로써, 접촉 상대의 부재를 손상시키는 일이 없고, 접촉 신뢰성이 높은 접속 단자를 제공한다. 탄성 변형 가능한 축부(6)를 중심으로 회동하고, 축부(6)를 지지하기 위한 지지부(20)와, 지지부(20)로부터 연재되고, 또한, 자유단부에 피검사체(7)와 당접 가능한 당접부(13)를 갖는 접점부(12)로 이루어지는 접속 단자(11)에 있어서, 당접부(13)가 피검사체(7)에 당접하여 지지부(20)와 함께 회동할 때에, 접점부(12)가 탄성 변형한다.

Description

접속 단자 및 이것을 이용한 도통 검사 기구{CONNECTION TERMINAL AND CONDUCTIVITY INSPECTING EQUIPMENT USING SAME}
본 발명은, 피검사체에 유연하게 접촉하여, 피검사체를 검출하기 위한 접속 단자 및 이것을 이용한 도통 검사 기구에 관한 것이다.
종래, 전자 기기 사이를 전기적으로 접속하는 접속 단자로서, 예를 들면, 특허 문헌 1에는, 하우징에 침(針) 누름구를 중심으로 회동 가능하게 지지된 접속 단자가 기재되어 있다. 이 접속 단자는, 그 선단이 피검사체의 전극에 당접하여, 침 누름구를 압축하면서, 침 누름구를 중심으로 회동한다. 이때, 접속 단자의 선단면이 전극 표면의 산화막의 일부를 깎아내어, 접속 단자와 전극과의 사이의 접촉 저항이 저감되어 올바른 통전 시험이 행하여진다.
특허 문헌 2에는, 강체(剛體)로 이루어지는 접속 단자를 탄성 부재로 지지하고, 탄성 부재가 탄성 변형함으로써, 반도체 장치와 접촉하는 접속 단자의 변위량을 흡수하고 있다.
그러나, 어느 특허 문헌에 기재된 접속 단자도 강체로 이루어지고 탄성 변형하지 않기 때문에, 접촉 상대의 부재를 깎아서, 손상시킨다는 문제가 있다. 또한, 강체이기 때문에 치수 공차에 대한 허용이 작고, 검사구로서 조립하면, 접촉압에 편차가 생기기 쉽고, 접촉 신뢰성이 낮다는 문제가 있다.
일본 특개2009-103563호 공보 일본 특개2010-118220호 공보
본 발명은, 상기 종래의 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 고탄성을 가짐으로써, 접촉 상대의 부재를 손상시키는 일이 없고, 접촉 신뢰성이 높은 접속 단자 및 이것을 이용한 도통 검사 기구를 제공하는 것을 과제로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 접속 단자는,
탄성 변형 가능한 축부(軸部)를 중심으로 회동하고, 상기 축부를 지지하기 위한 지지부와, 상기 지지부로부터 연재(延在)되고, 또한, 자유단부에 피검사체와 당접 가능한 당접부를 갖는 접점부로 이루어지는 접속 단자에 있어서,
상기 당접부가 상기 피검사체에 당접하여 상기 지지부와 함께 회동할 때에, 상기 접점부가 탄성 변형한다.
접점부가 탄성 변형하기 때문에, 당접부가 피검사 부재를 깎아서 손상시키는 것을 방지할 수 있다. 또한, 접속 단자는 탄성체로 이루어지기 때문에, 강체로 이루어지는 경우에 비하여, 접촉 신뢰성을 향상할 수 있다.
상기 접점부는,
상기 당접부와,
상기 지지부로부터 상기 당접부의 일단을 향하여 연재되는 제1 완부(腕部)와,
상기 지지부로부터 상기 당접부의 타단을 향하여 연재되는 제2 완부로 이루어지는 구멍부(孔部)을 구비하여도 좋다.
접점부가, 제1 완부와 제2 완부로 이루어지는 구멍부를 구비하고 있기 때문에, 탄성 변형하기 쉬워진다.
상기 접점부는,
상기 당접부와,
상기 지지부로부터 상기 당접부의 일단을 향하여 연재되는 제1 완부와,
상기 지지부로부터 상기 당접부의 타단을 향하여 연재되는 제2 완부와,
상기 제1 완부 및 상기 제2 완부의 각각과의 사이에 구멍부를 형성하도록, 상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 중간 완부를 구비하여도 좋다.
접점부가, 제1 완부와 중간 완부로 이루어지는 구멍부, 및 중간 완부와 제2 완부로 이루어지는 구멍부를 구비하고 있기 때문에, 탄성 변형하기 쉬워짐과 함께, 당접부의 지지 강도를 향상할 수 있다.
상기 접점부는,
상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 제1 탄성 완부를 가지며,
상기 제1 탄성 완부에 따라, 슬릿을 사이에 두고 상기 지지부로부터 연재된 제2 탄성 완부가 형성되어도 좋다.
상기 구성에 의해, 당접부가 하방으로 이동하면, 지지부, 제1 탄성 완부 및 제2 탄성 완부가 회동하면서, 제2 탄성 완부는 탄성 변형한다. 이때, 슬릿을 형성하고 있기 때문에 제1 탄성 완부와 제2 탄성 완부는 보다 한층, 탄성 변형하기 쉬워진다.
상기 접점부는,
상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 제1 탄성 완부를 가지며,
상기 제1 탄성 완부에 따라, 슬릿을 사이에 두고 상기 지지부로부터 연재된 제2 탄성 완부와,
상기 제2 탄성 완부와 슬릿을 사이에 두고 상기 지지부로부터 연재된 제3 탄성 완부가 형성되어도 좋다.
상기 구성에 의해, 당접부가 하방으로 이동하면, 지지부, 제1 탄성 완부, 제2 탄성 완부 및 제3 탄성 완부가 회동하면서, 제1 탄성 완부, 제2 탄성 완부 및 제3 탄성 완부는 탄성 변형한다. 이때, 제1 탄성 완부와 제2 탄성 완부와의 사이, 및 제2 탄성 완부와 제3 탄성 완부와의 사이에 슬릿을 형성하고 있기 때문에, 제1 탄성 완부, 제2 탄성 완부 및 제3 탄성 완부는 보다 한층, 탄성 변형하기 쉬워진다.
상기 접점부는,
상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 탄성 완부를 구비하고,
상기 탄성 완부의 기부(基部)에 U자형상의 세로(縱)슬릿을 형성하여도 좋다.
이에 의해, 탄성 완부는 보다 탄성 변형하기 쉬워진다.
상기 접점부는,
상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 탄성 완부를 구비하고,
상기 탄성 완부의 주연(周緣)에 역U자형상의 2개의 세로슬릿을 병설하여도 좋다.
이에 의해, 탄성 완부는 보다 탄성 변형하기 쉬워진다.
상기 접점부가,
상기 당접부의 일단부터 연재되는 제1 완부와,
상기 당접부의 타단부터 연재되고, 굴곡하여 상기 제1 완부를 향하는 제2 완부로 이루어지는 구멍부를 가지며,
상기 제2 완부와 상기 지지부와의 사이에 U자형의 슬릿을 형성하여도 좋다.
이에 의해, 제1 완부와 제2 완부는 보다 탄성 변형하기 쉬워진다.
고정 접점과,
탄성 변형 가능한 축부와,
상기 축부를 중심으로 회동하고, 상기 축부를 지지하기 위한 지지부와, 상기 지지부로부터 연재되고, 또한, 자유단부에 피검사체와 당접 가능한 당접부를 갖는 접점부를 구비한 접속 단자로 이루어지는 도통 검사 기구로서,
상기 피검사체가 상기 당접부에 당접하고, 상기 접속 단자가 회동함으로써, 상기 접속 단자와 상기 고정 접점이 도통함과 함께, 상기 접점부가 탄성 변형하여도 좋다.
상기 구성에 의해, 당접부가 피검사 부재를 깎아서 손상시키는 것을 방지함과 함께 접속 단자는 탄성체로 이루어지기 때문에, 강체로 이루어지는 경우에 비하여, 접촉 신뢰성을 향상할 수 있는 도통 검사 기구를 얻을 수 있다.
도 1(A)는 본 발명에 관한 제1 실시 형태의 접속 단자를 이용한 도통 검사 기구의 동작 전의 정면도, (B)는 (A)의 동작 후의 정면도.
도 2는 본 발명에 관한 제2 실시 형태의 접속 단자의 정면도.
도 3은 본 발명에 관한 제3 실시 형태의 접속 단자의 정면도.
도 4는 본 발명에 관한 제4 실시 형태의 접속 단자의 정면도.
도 5는 본 발명에 관한 제5 실시 형태의 접속 단자의 정면도.
도 6은 본 발명에 관한 제6 실시 형태의 접속 단자의 정면도.
도 7은 본 발명에 관한 제7 실시 형태의 접속 단자의 정면도.
본 발명에 관한 접속 단자의 실시 형태를 도 1 내지 도 7의 첨부 도면에 따라 설명한다.
제1 실시 형태에 관한 접속 단자(11)는, 도 1(A)에 도시하는 바와 같이, 도통 검사 기구(1)에 조립한 경우이다. 도통 검사 기구(1)는, 저부에 마련된 검사용 기판(2)과, 검사용 기판(2)으로부터 상방으로 세워지는 측벽(3, 3)에 둘러 싸여진 접속 단자 포켓(4)을 구비하고 있다. 검사용 기판(2)의 표면에는 고정 접점(5)이 매설되어 있다.
이 도통 검사 기구(1)는 피검사체(7)가, 검사용 기판(2)상에 배치된 접속 단자(11)의 선단에 당접함에 의해, 접속 단자(11)가 후술하는 축부(6)를 중심으로 회동한다. 이 때문에, 접속 단자(11)의 저부가 검사용 기판(2)의 고정 접점(5)에 당접하여, 피검사체(7)와 검사용 기판(2)이 도통함으로써 피검사체(7)를 검출한다.
접속 단자(11)는 판형상체(板狀體)이고, 접속 단자 포켓(4) 내에 회동 가능하게 지지되어 있다. 접속 단자(11)는, 그 단부(端部)에 형성되어 피검사체(7)와 당접하여 회동하고, 또한, 탄성 변형하는 접점부(12)와, 축부(6)를 지지하고, 또한, 상기 접점부(12)를 회동 가능하게 지지하는 지지부(20)를 구비하고 있다. 지지부(20)는 그 자체, 축부(6)를 중심으로 회동한다.
고리형상(環狀)의 접점부(12)는, 피검사체(7)와 당접 가능한 위치에 배치된 당접부(13)와, 지지부(20)의 상부로부터 당접부(13)의 일단을 향하여 늘어나는 상측 완부(14)와, 지지부(20)의 하부로부터 당접부(13)의 타단을 향하여 늘어나는 하측 완부(15)를 구비하고 있다. 상측 완부(14)는, 지지부(20)의 상부로부터 수평 방향으로 연재되고, 당접부(13)의 내측 단부를 향하여 경사 상방으로 굴곡하여 있다. 한편, 하측 완부(15)는, 지지부(20)의 하부로부터 상측 완부(14)의 경사각도보다도 작은 각도로 당접부(13)를 향하여 경사 상방으로 연재되어 있다. 그리고, 상측 완부(14)의 경사각도보다도 큰 각도가 되도록 굴곡하고, 당접부(13)의 외측 단부에 연속하고 있다. 당접부(13)와 지지부(20)를 상측 완부(14) 및 하측 완부(15)를 통하여 접속함으로써, 접점부(12)에 구멍부(17)가 형성되어 있다.
상기 지지부(20)는 개략 U자형상이고, 상연(上緣)으로부터 하방을 향하여 패여진 오목부(21)가 형성되어 있다.
도통 검사 기구(1)를 조립하기 위해, 접속 단자(11)를 접속 단자 포켓(4) 내에 배치하고, 오목부(21)에 탄성 변형 가능한 축부(6)를 감합한다. 이에 의해, 접속 단자(11)가 상기 축부(6)를 회동 중심으로 하여 회동 가능하게 지지된다.
다음에, 접속 단자(11)의 동작 과정을 설명한다.
피검사체(7)를 상방부터 하방으로 이동하고, 접속 단자(11)의 당접부(13)에 당접하여 하방으로 압하(押下)한다. 이에 의해, 지지부(20) 및 접점부(12)가, 비틀림 방향으로 탄성 변형하는 축부(6)를 중심으로 도 1(B) 중, 반시계방향으로 회동하고, 지지부(20)의 저부가 검사용 기판(2)의 고정 접점(5)에 당접한다. 이 후, 상측 완부(14) 및 하측 완부(15)가 탄성 변형하면서, 하측 완부(15)가 측벽(3)에 당접하여 회동을 정지한다. 이 결과, 피검사체(7), 접속 단자(11), 고정 접점(5)이 도통하고, 피검사체(7)를 검출한다. 또한, 접속 단자(11)의 당접부(13)를 하방으로 압하하는 힘을 해제하면, 축부(6)의 비틀림 상태가 해소되어, 지지부(20) 및 접점부(12)가 시계방향으로 회동한다. 그 결과, 지지부(20)의 저부가 검사용 기판(2)의 고정 접점(5)으로부터 도통 차단된다.
이상과 같이, 피검사체(7)를 접속 단자(11)에 당접하면, 접점부(12) 전체가 회동함과 함께, 상측 완부(14) 및 하측 완부(15)가 탄성 변형하기 때문에, 유연한 접촉을 실현할 수 있고, 피검사체(7)를 깎아서 손상시키는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 탄성 변형에 의해, 피검사체(7)와 당접부(13)와의 접촉압을 완화할 수 있다. 또한, 접속 단자(11)는 탄성체로 이루어지기 때문에, 강체로 이루어지는 경우에 비하여, 접촉 신뢰성을 향상할 수 있다.
또한 본 실시 형태에서는, 접속 단자(11)의 당접부(13)와 반대측의 단면(18)이 검사용 기판(2)으로부터 경사 상방을 향하여 늘어나도록 형성되고, 접속 단자(11)의 외형이 거의 원호 형상으로 되어 있다. 따라서, 당접부(13)가 하방으로 압하되면, 축부(6)를 중심으로 하여 접속 단자(11) 전체가 반시계방향으로 회동함에 의해, 상면(19)이 상방으로 압상(押上)된다. 이에 의해, 가령, 상기 상면(19)과 대향한 위치에 도시하지 않은 고정 접점을 배설하여 두면, 지레의 원리에 의해 고정 접점과 상면(19)과의 사이에서 충분한 접점압을 확보할 수 있음과 함께, 도통 검사 기구(1)의 설계의 자유도를 높일 수 있다.
제2 실시 형태에 관한 접속 단자(30)의 접점부(31)는, 지지부(20)로부터 당접부(13)의 일단을 향하여 연재되는 상측 완부(32)와, 지지부(20)로부터 당접부(13)의 타단에 향하여 연재되는 하측 완부(34)와, 상측 완부(32) 및 하측 완부(34)의 각각과의 사이에 구멍부(35, 35)를 형성하도록, 지지부(20)로부터 당접부(13)를 향하여 연재되는 중간 완부(33)를 구비하고 있다. 즉, 도 2에 도시하는 바와 같이, 고리형상의 접점부(31)가, 위로부터 상측 완부(32), 중간 완부(33) 및 하측 완부(34)를 구비하고, 지지부(20)에 접속되어 있다. 상측 완부(32)와 중간 완부(33)는, 지지부(20)로부터 수평 방향에 늘어나고, 굴곡하여 당접부(13)를 향하여 경사 상방으로 연재되어 있다. 하측 완부(34)는, 지지부(20)로부터 상측 완부(32) 및 중간 완부(33)보다도 작은 경사각도로 경사 상방으로 늘어나고, 또한, 굴곡하여 상측 완부(32) 및 중간 완부(33)보다도 큰 경사각도로 경사 상방으로 늘어나고 있다. 당접부(13)와 지지부(20)를 상측 완부(32), 중간 완부(33) 및 하측 완부(34)를 통하여 접속함에 의해, 접점부(31)에 2개의 구멍부(35, 35)가 형성되어 있다. 다른 것은, 전술한 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에, 동일 부분에는 동일 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
다음에, 접속 단자(30)의 동작 과정을 설명한다.
피검사체(7)가 상방부터 하방으로 이동하고, 접속 단자(30)의 당접부(13)에 당접하여 하방으로 압하한다. 이에 의해, 지지부(20) 및 접점부(31)가, 비틀림 방향으로 탄성 변형하는 축부(6)를 중심으로 도 2 중, 반시계방향으로 회동하면서, 상측 완부(32), 중간 완부(33) 및 하측 완부(34)는 탄성 변형한다. 이와 같이, 접점부(31)가, 상측 완부(32)와 중간 완부(33)로 이루어지는 구멍부(35) 및 중간 완부(33)와 하측 완부(34)로 이루어지는 구멍부(35)를 구비하고 있기 때문에, 탄성 변형하기 쉬워짐과 함께, 접점부(31)의 지지 강도를 향상할 수 있다.
제3 실시 형태에 관한 접속 단자(40)는, 도 3에 도시하는 바와 같이, 그 접점부(41)가, 당접부(13)와 지지부(20)를 접속하는 폭이 굵은 만곡하는 제1 탄성 완부(42)를 구비하고 있다. 제1 탄성 완부(42)의 하측에는, 슬릿(43)을 통하여 지지부(20)의 하부로부터 제1 탄성 완부(42)에 따라 경사 상방으로 제2 탄성 완부(44)가 연재되어 있다. 다른 것은, 전술한 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에, 동일 부분에는 동일 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
다음에, 접속 단자(40)의 동작 과정을 설명한다.
피검사체(7)가 상방부터 하방으로 이동하고, 접속 단자(40)의 당접부(13)에 당접하여 하방으로 압하한다. 이에 의해, 지지부(20) 및 제1 탄성 완부(42)와 제2 탄성 완부(44)가, 비틀림 방향으로 탄성 변형하는 축부(6)를 중심으로 도 3 중, 반시계방향으로 회동하면서, 제1 탄성 완부(42)와 제2 탄성 완부(44)는 탄성 변형한다. 이때, 제1 탄성 완부(42)와 제2 탄성 완부(44)의 사이에 슬릿(43)을 형성하고 있기 때문에, 제1 탄성 완부(42)와 제2 탄성 완부(44)는 보다 한층, 탄성 변형하기 쉬워진다.
제4 실시 형태에 관한 접속 단자(50)는, 도 4에 도시하는 바와 같이, 그 접점부(51)가, 당접부(13)와 지지부(20)를 접속하는 폭이 좁은 만곡하는 제1 탄성 완부(52)를 구비하고 있다. 제1 탄성 완부(52)의 하측에는, 제1 탄성 완부(52)에 따라 슬릿(53)을 통하여 지지부(20)로부터 경사 상방으로 제2 탄성 완부(54)가 연재되어 있다. 제2 탄성 완부(54)의 하측에는, 제2 탄성 완부(54)와 슬릿(55)을 통하여, 지지부(20)로부터 경사 상방으로 제3 탄성 완부(56)가 연재되어 있다. 다른 것은, 전술한 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에, 동일 부분에는 동일 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
다음에, 접속 단자(50)의 동작 과정을 설명한다.
피검사체(7)를 상방부터 하방으로 이동하고, 접속 단자(50)의 당접부(13)에 당접하여 하방으로 압하한다. 이에 의해, 지지부(20), 제1 탄성 완부(52), 제2 탄성 완부(54) 및 제3 탄성 완부(56)가, 비틀림 방향으로 탄성 변형하는 축부(6)를 중심으로 도 4 중, 반시계방향으로 회동하면서, 제1 탄성 완부(52), 제2 탄성 완부(54) 및 제3 탄성 완부(56)는 탄성 변형한다. 이때, 제1 탄성 완부(52)와 제2 탄성 완부(54)와의 사이에 슬릿(53)을 형성하고, 제2 탄성 완부(54)와 제3 탄성 완부(56)와의 사이에 슬릿(55)을 형성하고 있다. 따라서, 제1 탄성 완부(52), 제2 탄성 완부(54) 및 제3 탄성 완부(56)는 보다 한층, 탄성 변형하기 쉬워진다.
제5 실시 형태에 관한 접속 단자(60)는, 도 5에 도시하는 바와 같이, 그 접점부(61)가, 지지부(20)로부터 당접부(13)를 향하여 경사 상방으로 늘어나는 직선형상의 탄성 완부(62)를 구비하고, 탄성 완부(62)의 기부(基部)에 U자형상의 세로(縱)슬릿(63)을 형성하고 있다. 다른 것은, 전술한 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에, 동일 부분에는 동일 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
다음에, 접속 단자(60)의 동작 과정을 설명한다.
피검사체(7)가 상방부터 하방으로 이동하고, 접속 단자(60)의 당접부(13)에 당접하여 하방으로 압하한다. 이에 의해, 지지부(20) 및 탄성 완부(62)가, 비틀림 방향으로 탄성 변형하는 축부(6)를 중심으로 도 5 중, 반시계방향으로 회동하면서, 탄성 완부(62)는 탄성 변형한다. 이때, 탄성 완부(62)의 기부에 세로슬릿(63)을 형성하고 있기 때문에, 탄성 완부(62)는 보다 한층, 탄성 변형하기 쉬워진다.
제6 실시 형태에 관한 접속 단자(65)는, 도 6에 도시하는 바와 같이, 그 접점부(66)가, 지지부(20)로부터 당접부(13)를 향하여 경사 상방으로 늘어나는 직선형상의 탄성 완부(67)를 구비하고, 탄성 완부(67)의 하연(下緣)에 역U자형상의 2개의 세로슬릿(68, 68)을 병설하고 있다. 다른 것은, 전술한 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에, 동일 부분에는 동일 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
다음에, 접속 단자(65)의 동작 과정을 설명한다.
피검사체(7)가 상방부터 하방으로 이동하고, 접속 단자(65)의 당접부(13)에 당접하여 하방으로 압하한다. 이에 의해, 지지부(20) 및 탄성 완부(67)가, 비틀림 방향으로 탄성 변형하는 축부(6)를 중심으로 도 6 중, 반시계방향으로 회동하면서, 탄성 완부(67)는 탄성 변형한다. 이때, 탄성 완부(67)에 세로슬릿(68, 68)을 형성하고 있기 때문에, 탄성 완부(67)는 보다 한층, 탄성 변형하기 쉬워진다.
제7 실시 형태에 관한 접속 단자(70)는, 도 7에 도시하는 바와 같이, 그 접점부(71)가, 당접부(13)의 일단부터 경사 하방을 향하여 연재되고, 굴곡하여 수직 하방을 향하는 상측 완부(제2 완부)(72)와, 당접부(13)의 타단부터 경사 하방을 향하여 연재되는 하측 완부(제1 완부)(73)를 구비하고 있다. 상측 완부(72)와 하측 완부(73)는, 각각의 지지부측 단부가 합류하여 구멍부(74)를 갖는 고리형상으로 되어 있다. 상측 완부(72)와 지지부(20)와의 사이에는, U자형의 세로슬릿(75)이 형성되어 있다. 다른 것은, 전술한 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에, 동일 부분에는 동일 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
다음에, 접속 단자(70)의 동작 과정을 설명한다.
피검사체(7)를 상방부터 하방으로 이동하고, 접속 단자(70)의 당접부(13)에 당접하여 하방으로 압하한다. 이에 의해, 지지부(20)가 하방으로 탄성 변위함과 함께, 접점부(71)가, 비틀림 방향으로 탄성 변형하는 축부(6)를 중심으로 도 7 중, 반시계방향으로 회동하고, 상측 완부(72)와 하측 완부(73)는 탄성 변형한다. 이때, 접점부(71)는 고리형상으로 되어 있기 때문에, 상측 완부(72)와 하측 완부(73)는 보다 한층, 탄성 변형하기 쉬워진다.
또한, 상기 실시 형태에서는, 단면(18)이 경사하는 경우를 개시하였지만 이것으로 한정되지 않고, 예를 들면, 단면(18)을 연직으로 형성하여도 좋다. 이에 의해, 접속 단자(11)의 설계의 자유도가 보다 한층, 높아진다.
[산업상의 이용 가능성]
본 발명에 관한 접속 단자는 상기 실시 형태로 한정되지 않고, 여러 가지 변형이 가능하다.
1 : 도통 검사 기구
11 : 접속 단자(제1 실시 형태)
12 : 접점부
13 : 당접부
14 : 상측 완부(제1 완부)
15 : 하측 완부(제2 완부)
30 : 접속 단자(제2 실시 형태)
31 : 접점부
32 : 상측 완부(제1 완부)
33 : 중간 완부
34 : 하측 완부(제2 완부)
40 : 접속 단자(제3 실시 형태)
41 : 접점부
42 : 제1 탄성 완부
43 : 슬릿
44 : 제2 탄성 완부
50 : 접속 단자(제4 실시 형태)
51 : 접점부
52 : 제1 탄성 완부
53 : 슬릿
54 : 제2 탄성 완부
55 : 슬릿
56 : 제3 탄성 완부
60 : 접속 단자(제5 실시 형태)
61 : 접점부
62 : 탄성 완부
63 : 세로슬릿
65 : 접속 단자(제6 실시 형태)
66 : 접점부
67 : 탄성 완부
68 : 세로슬릿
70 : 접속 단자(제7 실시 형태)
71 : 접점부
72 : 상측 완부(제2 완부)
73 : 하측 완부(제1 완부)
75 : 세로슬릿

Claims (9)

  1. 탄성 변형 가능한 축부를 중심으로 회동하고, 상기 축부를 지지하기 위한 지지부와, 상기 지지부로부터 연재되고, 또한, 자유단부에 피검사체와 당접 가능한 당접부를 갖는 접점부로 이루어지는 접속 단자에 있어서,
    상기 당접부가 상기 피검사체에 당접하여 상기 지지부와 함께 회동할 때에, 상기 접점부가 탄성 변형하는 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 접점부는,
    상기 당접부와,
    상기 지지부로부터 상기 당접부의 일단을 향하여 연재되는 제1 완부와,
    상기 지지부로부터 상기 당접부의 타단을 향하여 연재되는 제2 완부로 이루어지는 구멍부를 구비한 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 접점부는,
    상기 당접부와,
    상기 지지부로부터 상기 당접부의 일단을 향하여 연재되는 제1 완부와,
    상기 지지부로부터 상기 당접부의 타단을 향하여 연재되는 제2 완부와,
    상기 제1 완부 및 상기 제2 완부의 각각과의 사이에 구멍부를 형성하도록, 상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 중간 완부를 구비한 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 접점부는,
    상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 제1 탄성 완부를 가지며,
    상기 제1 탄성 완부에 따라, 슬릿을 사이에 두고 상기 지지부로부터 연재된 제2 탄성 완부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  5. 제1항 또는 제4항에 있어서,
    상기 접점부는,
    상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 제1 탄성 완부를 가지며,
    상기 제1 탄성 완부에 따라, 슬릿을 사이에 두고 상기 지지부로부터 연재된 제2 탄성 완부와,
    상기 제2 탄성 완부와 슬릿을 사이에 두고 상기 지지부로부터 연재된 제3 탄성 완부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 접점부는,
    상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 탄성 완부를 구비하고,
    상기 탄성 완부의 기부에 U자형상의 세로슬릿을 형성한 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 접점부는,
    상기 지지부로부터 상기 당접부를 향하여 연재되는 탄성 완부를 구비하고,
    상기 탄성 완부의 주연에 역U자형상의 2개의 세로슬릿을 병설하고 있는 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 접점부가,
    상기 당접부의 일단부터 연재되는 제1 완부와,
    상기 당접부의 타단부터 연재되고, 굴곡하여 상기 제1 완부를 향하는 제2 완부로 이루어지는 구멍부를 가지며,
    상기 제2 완부와 상기 지지부와의 사이에 U자형의 슬릿을 형성한 것을 특징으로 하는 접속 단자.
  9. 고정 접점과,
    탄성 변형 가능한 축부와,
    상기 축부를 중심으로 회동하고, 상기 축부를 지지하기 위한 지지부와, 상기 지지부로부터 연재되고, 또한, 자유단부에 피검사체와 당접 가능한 당접부를 갖는 접점부를 구비한 접속 단자로 이루어지는 도통 검사 기구로서,
    상기 피검사체가 상기 당접부에 당접하고, 상기 접속 단자가 회동함으로써, 상기 접속 단자와 상기 고정 접점이 도통함과 함께, 상기 접점부가 탄성 변형하는 것을 특징으로 하는 도통 검사 기구.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6407672B2 (ja) * 2014-11-18 2018-10-17 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
JP6274137B2 (ja) * 2015-03-13 2018-02-07 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 搬送装置およびこれを備える画像形成装置
JP6625847B2 (ja) * 2015-09-07 2019-12-25 株式会社日本マイクロニクス プローブ、プローブ組立体の製造方法およびプローブ組立体
JP2017125696A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 オーキンス エレクトロニクス カンパニー，リミテッド コンタクトピンおよび異方導電性部材
DE102016004520A1 (de) * 2016-04-13 2017-10-19 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Kontaktstift und Testsockel mit Kontaktstiften
TWI599779B (zh) * 2016-07-11 2017-09-21 致茂電子股份有限公司 夾式探針裝置
WO2019225441A1 (ja) * 2018-05-22 2019-11-28 オムロン株式会社 プローブピン
CN111129825A (zh) * 2019-11-20 2020-05-08 苏州韬盛电子科技有限公司 一种用于测试集成电路的连接装置
EP4200621A1 (en) * 2020-08-05 2023-06-28 Equiptest Engineering Pte Ltd Multi-beam cantilever style contact pin for ic testing

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2495846A1 (fr) * 1980-12-05 1982-06-11 Cii Honeywell Bull Dispositif de connexion electrique a haute densite de contacts
JP2001102141A (ja) * 1999-07-27 2001-04-13 Mitsubishi Electric Corp テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材
US6794890B1 (en) 1999-07-27 2004-09-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Test socket, method of manufacturing the test socket, test method using the test socket, and member to be tested
JP2001083179A (ja) 1999-09-10 2001-03-30 Kiyota Seisakusho:Kk 超微小ピッチ検査用積層プローブコンタクト
JP2002246128A (ja) * 2001-02-19 2002-08-30 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
CN100343676C (zh) 2003-05-13 2007-10-17 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 通电试验用探针
US7625219B2 (en) * 2005-04-21 2009-12-01 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electrical connecting apparatus
JP4788456B2 (ja) * 2006-04-18 2011-10-05 富士ゼロックス株式会社 帯電ロール及び画像形成装置
JP4494396B2 (ja) 2006-12-25 2010-06-30 日本航空電子工業株式会社 接続部材
JP2008203036A (ja) * 2007-02-19 2008-09-04 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
US7422457B1 (en) 2007-08-31 2008-09-09 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Plug-in module with improved latch mechanism
US7589547B2 (en) 2007-09-13 2009-09-15 Touchdown Technologies, Inc. Forked probe for testing semiconductor devices
TWI333072B (en) 2007-09-27 2010-11-11 King Yuan Electronics Co Ltd A probe, socket, and tester thereof
CN201252250Y (zh) 2007-10-04 2009-06-03 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器组件
JP5113481B2 (ja) 2007-10-23 2013-01-09 株式会社日本マイクロニクス 接触子及びこれを用いる電気的接続装置
JP5203046B2 (ja) * 2008-05-30 2013-06-05 第一電子工業株式会社 コンタクト及び該コンタクトを用いたコネクタ
JP5343497B2 (ja) * 2008-10-01 2013-11-13 オムロン株式会社 コネクタ用接続端子およびそれを組み込んだコネクタ
JP5029969B2 (ja) 2008-11-12 2012-09-19 山一電機株式会社 電気接続装置

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