CN104769442A - 连接端子和使用该连接端子的导通检查设备 - Google Patents

连接端子和使用该连接端子的导通检查设备 Download PDF

Info

Publication number
CN104769442A
CN104769442A CN201380057971.3A CN201380057971A CN104769442A CN 104769442 A CN104769442 A CN 104769442A CN 201380057971 A CN201380057971 A CN 201380057971A CN 104769442 A CN104769442 A CN 104769442A
Authority
CN
China
Prior art keywords
arm
abutting part
splicing ear
support
elastic arm
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201380057971.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104769442B (zh
Inventor
寺西宏真
酒井贵浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Publication of CN104769442A publication Critical patent/CN104769442A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104769442B publication Critical patent/CN104769442B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G01R1/06727—Cantilever beams
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441—Details
    • G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connection Of Batteries Or Terminals (AREA)

Abstract

提供了一种连接端子，该端子具有高的抵接可靠性，并且通过为非常弹性的而不会损坏正在被抵接的部件。连接端子(11)包括用于支撑可弹性变形的轴部(6)并围绕该轴部(6)旋转的支承部(20)，以及抵接部(12)，该抵接部从该支承部(20)延伸并具有在自由端上可邻接测试主体(7)的邻接部分(13)，其中所述抵接部(12)在当邻接部分(13)邻接测试主体(7)并与支承部(20)旋转时弹性变形。

Description

连接端子和使用该连接端子的导通检查设备
技术领域
本发明涉及一种连接端子，该连接端子被设计成通过与一物体软抵接来检测该物体，以及使用该连接端子的导通检查设备。
背景技术
例如在专利文献1中已经公开了一种用于电连接电气部件的连接端子。根据所述配置，连接端子由针保持器支撑在壳体内以使得当连接端子的自由端部通过与物体的有关电极抵接被施力时，它围绕针保持器摇摆以使针保持器压缩变形。在摇摆期间，连接端子的自由端部与有关电极摩擦抵接以将在电极上产生的氧化薄膜移除，减小了连接端子和有关电极之间的电阻以建立它们之间的可靠的电接触。
再者，专利文献2公开了另一配置，其中刚性连接端子由弹性构件支撑以使得由与半导体器件抵接引起的连接端子的位移被弹性构件的压缩变形吸收。
在任何情形下，公开的连接端子由刚性材料制成因此不可弹性变形，其在抵接时不利地擦伤和损坏测试构件。再者，连接端子的刚性仅允许小的尺度公差。因此，当组装在测试装置中时，抵接力是不稳定的，其导致与所述测试构件的不可靠的抵接。
现有技术专利文献
专利文献1:JP 2009-103563A
专利文献2:JP 2010-118220A
发明内容
技术问题
考虑到上述缺点，本发明要提供一种连接端子，该连接端子具有合适的弹性因此不可能损坏抵接构件并且能够使抵接可靠。本发明也要提供一种使用该连接端子的导通检查设备。
解决问题的技术方案
为了克服所述缺点，本发明的连接端子具有：
支承部，其以可弹性变形的轴部为中心进行旋转，用于保持该轴部；
触点部，其从所述支承部延伸并且在自由端部具有能够与测试元件抵接的抵接部，
其特征在于，在所述抵接部与所述测试元件抵接并且与所述支承部一起旋转时，所述触点部进行弹性变形。
本发明的有益效果
根据该配置，触点部弹性变形，其防止触点部损坏测试元件。而且，连接端子由弹性材料制成，与由刚性材料制成的相比，其改善了接触可靠性。
触点部可具有抵接部，从支承部朝向抵接部的一端延伸的第一臂部，和从支承部朝向抵接部的另一端延伸的第二臂部，其中抵接部、第一臂部和第二臂部形成在它们内部的孔部。
根据该配置，由第一和第二臂部形成的孔部的存在改善了触点部的可弹性变形性。
触点部可具有抵接部，从支承部朝向抵接部的一端延伸的第一臂部，从支承部朝向抵接部的另一端延伸的第二臂部，和中间臂部，该中间臂部从支承部朝向抵接部延伸以形成在第一臂部和中间臂部之间和在第二臂部和中间臂部之间的孔部。
根据该配置，形成在第一臂部和中间臂部之间及第二臂部和中间臂部之间的孔部改善了触点部的可弹性变形性和抵接部的支撑强度。
触点部可具有从支承部朝向抵接部的一端延伸的第一弹性臂部；和第二弹性臂部，该第二弹性臂部从支承部且沿着第一弹性臂部延伸以限定在第一和第二弹性臂部之间的槽。
根据该配置，抵接部的向下运动引起第一和第二弹性臂部的旋转和第二弹性臂部的弹性变形。槽的存在改善了第一和第二弹性臂部的弹性变形。
触点部可具有从支承部朝向抵接部的一端延伸的第一弹性臂部；第二弹性臂部，该第二弹性臂部从支承部沿着第一弹性臂部延伸以限定第一和第二弹性臂部之间的槽；以及第三弹性臂部，该第三弹性臂部从支承部沿着第二弹性臂部延伸以限定第二和第三弹性臂部之间的槽。
根据该配置，抵接部的向下运动引起支承部和第一到第三弹性臂部的旋转以及第一到第三弹性臂部的弹性变形。在第一和第二弹性臂部之间和在第二和第三弹性臂部之间的槽的存在改善了第一到第三弹性臂部的弹性变形。
触点部可具有从支承部朝向抵接部延伸的弹性臂部，该弹性臂部具有近端部分，该近端部分包括限定在其中的U形的纵槽。该配置改善了弹性臂部的弹性变形。
触点部可具有从支承部朝向抵接部延伸的弹性臂部，该弹性臂部具有限定在其中以从弹性臂部的周缘竖直延伸的两个倒U形的槽。该配置改善了弹性臂部的弹性变形。
触点部可具有从抵接部的一端延伸的第一臂部；和从所述抵接部的另一端延伸的第二臂部，该第二臂部朝向第一臂部弯曲以形成在所述第一和第二臂部之间的孔部；其中第二臂部限定在该第二臂部和支承部之间的U形的槽。该配置改善了第一和第二臂部的弹性变形。
一种导通检查设备，包括：
固定触点；
可弹性变形的轴；以及
连接端子，其具有支承部和触点部，所述支承部以所述轴部为中心进行旋转，用于保持所述轴部，所述触点部具有从该支承部延伸并且在其自由端部能够与测试元件抵接的抵接部，
其中，通过所述测试元件与所述抵接部进行抵接并且所述连接端子进行旋转，所述连接端子和所述固定触点导通，且所述触点部进行弹性变形。
该配置防止触点部损坏所述测试元件。而且，导通检查设备被获得，其中连接端子由弹性材料制成，因此与由刚性材料制成的相比，抵接可靠性得以改善。
附图说明
图1A和1B是包括根据第一实施例的连接端子的变形前和变形后的导通检查设备的前视图；
图2是根据第二实施例的连接端子的前视图；
图3是根据第三实施例的连接端子的前视图；
图4是根据第四实施例的连接端子的前视图；
图5是根据第五实施例的连接端子的前视图；
图6是根据第六实施例的连接端子的前视图；和
图7是根据第七实施例的连接端子的前视图。
具体实施方式
参照附图1A、1B到7，将在下面描述根据本发明的连接端子的实施例。如图1A所示，根据本发明的第一实施例的总的由附图标记11表示的连接端子被示出为它被组装在总的由附图标记1表示的导通检查设备中。导通检查设备1具有形成它的底部部分的测试基底2，并具有围绕的侧壁3，该侧壁3从测试基底2向上延伸以在其内部限定一抵接空腔4。固定触点5嵌入测试基底2的表面。
导通检查设备1被配置为以使得测试元件7给测试基底2上的连接端子11的自由端部施力以使连接端子11围绕轴部6如下所述地旋转，从允许连接端子11的底部部分与测试基底2的固定触点5抵接从而建立测试元件7和测试基底2之间的电连接以检测所述测试元件7。
连接端子11，其由板构件制成，被支撑用于在抵接空腔4内旋转。具体地说，连接端子11具有总的由附图标记12表示的触点部，该触点部是可动的且通过与测试元件7抵接是可弹性变形的；以及支承部20，该支承部保持轴部6以使得支承部20以及触点部12围绕轴部6旋转。
环状或环形的触点部12具有定位为与测试元件7抵接的抵接部13，从支承部20的上部部分延伸到抵接部13的一端的上臂部14，以及从支承部20的下部部分延伸到抵接部13的另一端的下臂部15。上臂部14从支承部20的上部部分水平地延伸然后朝向抵接部13的内端向上倾斜地延伸。下臂部15从支承部20的下部部分以小于上臂部14的角度的角度向上倾斜地延伸然后弯曲来以大于上臂部14的角度的角度朝向抵接部13的外端向上倾斜地延伸。如上所述的，抵接部13通过上臂部14和下臂部15与支承部20连接以在触点部12中限定孔部17。如从图中可看到的，支承部20基本上为U形的以限定凹状部分21，该凹状部分从支承部20的上部外围向下延伸。
当组装导通检查设备1时，连接端子11通过凹状部分21装配在可弹性变形的轴部6的周围而被定位在抵接空腔4内，所述轴部允许连接端子11被支撑，用于通过轴部6的扭转运动而旋转或摇摆运动。
具体地说，当测试元件7向下运动以迫使连接端子11的抵接部13向下时，随着轴部6产生它的扭转的、弹性变形，触点部12和支承部20围绕轴部6在图13中的逆时针方向上旋转，从而允许支承部20的底部部分与测试基底2的固定触点5抵接。然后，上臂部14和下臂部15弹性地变形直到下臂部15邻接侧壁3，所述侧壁使连接端子11的旋转运动停止。这通过连接端子11引起测试元件7和固定触点5之间的电连接，从而允许测试元件7的存在被检测到。然后，当连接端子11的抵接部13上的向下的力被移除时，扭转变形的轴部6向回运动到它的原始位置以使支承部20在顺时针方向上旋转，这断开支承部20的底部部分和测试基底2的固定触点5之间的电连接。
如上所述的，测试元件7对连接端子11施力允许触点部12的旋转以引起上臂部14和下臂部15的弹性变形，其确保测试元件7的软的或阻尼的抵接，结果，防止测试元件7被该抵接损坏。而且，弹性变形减小了测试元件7和抵接部13之间的抵接力。进一步，连接端子11的弹性与它由刚性材料制成时相比增加了抵接可靠性。
而且，根据本实施例，定位为远离连接端子11的抵接部13的侧表面18被形成为从测试基底2向上倾斜地延伸以使得连接端子11具有基本弓形的构型。这使得当抵接部13被向下施力时连接端子11围绕轴部6在逆时针方向上旋转以使相对的上表面19向上升起。这意味着，如果在上表面19上方存在固定触点，由于杠杆作用的原理在固定触点和上表面19之间可获得足够的抵接力，其会使导通检查设备1的设计的可能性扩展。
根据本发明的第二实施例的连接端子30的触点部31具有从支承部20延伸到抵接部13的一端的上臂部32，从支承部20延伸到抵接部13的另一端的下臂部34，以及中间臂部33，该中间臂部从支承部20延伸到抵接部13以便限定在所述中间臂部33和上下臂部32和34之间的孔部35。具体地说，如图2所示，环状或环形的触点部31具有上臂部32，中间臂部33和下臂部34并且通过那些臂部32、33和34被连接到支承部20。在该实施例中，上臂部32和中间臂部33从支承部20水平地延伸然后朝向抵接部13向上倾斜地延伸。下臂部34从支承部20以比上臂部32和中间臂部33的倾斜延伸的部分小的角度向上倾斜延伸然后弯曲以使得它以大于上臂部32和中间臂部33的角度的角度向上倾斜地延伸。如上所述的，抵接部13和支承部20通过上臂部32，中间臂部33和下臂部34被连接以在触点部31中限定两个孔部35。其他结构类似于与第一实施例相关描述的那些，相同的部件用相同的附图标记表示以消除对其的重复描述。
下面将描述连接端子30的操作。当测试元件7向下运动以迫使连接端子30的抵接部13向下时，触点部31和支承部20在图2中的逆时针方向上围绕轴部6旋转，其引起轴部6的扭转的、弹性变形以及上臂部32，中间臂部33和下臂部34的弹性变形。在上臂部32和中间臂部33之间和在中间臂部33和下臂部34之间限定的孔部35的存在允许这些臂部的弹性变形并且增加了触点部31的支撑强度。
参照图3，示出了根据本发明的第三实施例的连接端子40，其中它的触点部41具有一宽的且弯曲的连接在抵接部13和支承部20之间的第一弹性臂部42以及第二弹性臂部44。第二弹性臂部44，其设置在第一弹性臂部42下方，并且经由限定在它们之间的槽43，从支承部20的下部部分且沿着第一弹性臂部42向上倾斜地延伸。其他的结构类似于关于第一实施例描述的那些，并且同样的部件表示相同的附图标记以消除对其的重复描述。
下面将描述连接端子40的操作。当测试元件7向下运动以迫使连接端子40的抵接部13向下时，支承部20，第一弹性臂部42和第二弹性臂部44在图3中的逆时针方向上围绕轴部6旋转，其引起轴部6的扭转的、弹性变形以及第一弹性臂部42和第二弹性臂部44的弹性变形。限定在第一弹性臂部42和第二弹性臂部44之间的槽43的存在增强了第一弹性臂部42和第二弹性臂部44的弹性变形。
参照图4，示出根据本发明的第四实施例的连接端子50，其中触点部51具有窄的且弯曲的连接在抵接部13和支承部20之间的第一弹性臂部52；第二弹性臂部54，其设置在第一弹性臂部52下方，且经由限定在它们之间的槽53从支承部20且沿着第一弹性臂部52向上倾斜地延伸；以及第三弹性臂部56，其设置在第二弹性臂部54下方，经由限定在它们之间的槽55从支承部20向上倾斜地延伸。其他的结构类似于关于第一实施例描述的那些，并且相同的部件用相同的附图标记表示以消除对其的重复描述。
下面将描述连接端子50的操作。当测试元件7向下运动以迫使连接端子50的抵接部13向下时，支承部20，第一弹性臂部52，第二弹性臂部54和第三弹性臂部56在图4中的逆时针方向上围绕轴部6旋转，其引起轴部6的扭转的、弹性变形以及第一弹性臂部52，第二弹性臂部54和第三弹性臂部56的弹性变形。在第一弹性臂部52和第二弹性臂部54之间的槽53和在第二弹性臂部54和第三弹性臂部56之间的槽55的存在增强了第一弹性臂部52，第二弹性臂部54和第三弹性臂部56的弹性变形。
参照图5，示出了根据本发明的第五实施例的连接端子60，其中触点部61具有从支承部20朝向抵接部13直线地且倾斜地延伸的弹性臂部62。弹性臂部62具有U形的、限定在其近端的纵向的槽63。其他的结构类似于关于第一实施例描述的那些，并且相同部件用附图标记表示以消除对其的重复描述。
下面将描述连接端子60的操作。当测试元件7向下运动以迫使连接端子60的抵接部13向下时，随着弹性臂部62扭转地弹性变形以及弹性臂部62弹性变形，支承部20和弹性臂部62在图5中的逆时针方向上围绕轴部6旋转。在弹性臂部62中的纵槽63的存在增强了弹性臂部62的弹性变形。
参照图6，示出了根据本发明的第六实施例的连接端子65，其中连接端子65的触点部66具有弹性臂部67，该弹性臂部从支承部20朝向抵接部13直线地且倾斜地延伸。弹性臂部67具有从弹性臂部67的下边缘向上延伸的两个倒U形的/纵槽68。其他的结构类似于关于第一实施例描述的那些，相同的部件用相同的附图标记表示以消除对其的重复描述。
下面将描述连接端子65的操作。当测试元件7向下运动以迫使连接端子65的抵接部13向下时，随着弹性臂部67扭转地弹性变形和弹性臂部67弹性变形，支承部20和弹性臂部67在图6中的逆时针方向上围绕轴部6旋转。在弹性臂部67中的纵槽68的存在增强了弹性臂部67的弹性变形。
参照图7，示出根据本发明的第七实施例的连接端子70，其中连接端子70的触点部71具有上臂部(第二臂部)72，该上臂部从抵接部13的一端向下倾斜地延伸然后向下纵向地弯曲，以及下臂部(第一臂部)73，该下臂部从抵接部13的另一端向下倾斜地延伸。上臂部72和下臂部73的与支承部相邻的一端彼此汇合以形成在它们之间的孔部74。而且，U形的纵槽75形成在上臂部72和支承部20之间。其他的结构类似于关于第一实施例描述的那些，相同的部件用相同的附图标记表示以消除对其的重复描述。
下面将描述连接端子70的操作。当测试元件7向下运动以迫使连接端子70的抵接部13向下时，随着上臂部72和下臂部73弹性变形，支承部20向下变形以及触点部71在图7中的逆时针方向上围绕轴部6旋转。闭环或环形的触点部71的存在增强了上臂部72和下臂部73的弹性变形。
虽然在前述的实施例中，侧表面18被表示为倾斜地延伸，但是这对本发明不是限制性的并且它可竖直地延伸，其增强了为连接端子11设计的可能性。
工业应用性
本发明不限于以上所述的实施例并且它可以以各种方式修改。
附图标记列表
1：导通检查设备
11：触点(第一实施例)
12：触点部
13：抵接部
14：上臂部(第一臂部)
15：下臂部(第二臂部)
30：连接端子(第二实施例)
31：触点部
32：上臂部(第一臂部)
33：中间臂部
34：下臂部(第二臂部)
40：连接端子(第三实施例)
41：触点部
42：第一弹性臂部
43：槽
44：第二弹性臂部
50：连接端子(第四实施例)
51：触点部
52：第一弹性臂部
53：槽
54：第二弹性臂部
55：槽
56：第三弹性臂部
60：连接端子(第五实施例)
61：触点部
62：弹性臂部
63：纵槽
65：连接端子(第六实施例)
66：触点部
67：弹性臂部
68：纵槽
70：连接端子(第七实施例)
71：触点部
72：上臂部(第二臂部)
73：下臂部(第一臂部)
75：纵槽

Claims (9)

1.一种连接端子，包括：
支承部，其以可弹性变形的轴部为中心进行旋转，用于保持该轴部；
触点部，其从所述支承部延伸并且在自由端部具有能够与测试元件抵接的抵接部，
其特征在于，在所述抵接部与所述测试元件抵接并且与所述支承部一起旋转时，所述触点部进行弹性变形。
2.如权利要求1所述的连接端子，其中，所述触点部具有孔部，该孔部具有：
所述抵接部，
第一臂部，其从所述支承部朝向所述抵接部的一端延伸，以及
第二臂部，其从所述支承部朝向所述抵接部的另一端延伸。
3.如权利要求1或2所述的连接端子，其中，所述触点部具有：
所述抵接部，
第一臂部，其从所述支承部朝向所述抵接部的一端延伸，
第二臂部，其从所述支承部朝向所述抵接部的另一端延伸，以及
中间臂部，其从所述支承部朝向所述抵接部延伸以形成在所述第一臂和所述中间臂之间以及所述第二臂和所述中间臂之间的孔部。
4.如权利要求1所述的连接端子，其中，所述触点部具有：第一弹性臂部，其从所述支承部朝向所述抵接部延伸，
并且形成有第二弹性臂部，该第二弹性臂部沿着所述第一弹性臂部经由槽从所述支承部延伸。
5.如权利要求1或4所述的连接端子，其中，所述触点部具有第一弹性臂部，该第一弹性臂部从所述支承部朝向所述抵接部延伸，并且形成有第二弹性臂部和第三弹性臂部，
所述第二弹性臂部，其沿着所述第一弹性臂部经由槽从所述支承部延伸；以及
所述第三弹性臂部，其沿着所述第二弹性臂部经由槽从所述支承部延伸。
6.如权利要求1所述的连接端子，其中，所述触点部具有从所述支承部朝向所述抵接部延伸的弹性臂部，并且在该弹性臂部的基部形成有U形的纵槽。
7.如权利要求1所述的连接端子，其中，所述触点部具有从所述支承部朝向所述抵接部延伸的弹性臂部，并且在该弹性臂部的周缘并列形成有倒U形的两个纵槽。
8.如权利要求1所述的连接端子，其中，所述触点部具有孔部，该孔部具有：
第一臂部，其从所述抵接部的一端延伸；以及
第二臂部，其从所述抵接部的另一端延伸并且进行弯曲而朝向所述第一臂部，
其中，在所述第二臂部和所述支承部之间形成有U形的槽。
9.一种导通检查设备，包括：
固定触点；
可弹性变形的轴；以及
连接端子，其具有支承部和触点部，所述支承部以所述轴部为中心进行旋转，用于保持所述轴部，所述触点部具有从该支承部延伸并且在其自由端部能够与测试元件抵接的抵接部，
其中，通过所述测试元件与所述抵接部进行抵接并且所述连接端子进行旋转，所述连接端子和所述固定触点导通，且所述触点部进行弹性变形。
CN201380057971.3A 2012-11-07 2013-10-22 连接端子和使用该连接端子的导通检查设备 Active CN104769442B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012-245548 2012-11-07
JP2012245548 2012-11-07
PCT/JP2013/078589 WO2014073368A1 (ja) 2012-11-07 2013-10-22 接続端子およびこれを用いた導通検査器具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104769442A true CN104769442A (zh) 2015-07-08
CN104769442B CN104769442B (zh) 2018-02-02

Family

ID=50684480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201380057971.3A Active CN104769442B (zh) 2012-11-07 2013-10-22 连接端子和使用该连接端子的导通检查设备

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9797926B2 (zh)
EP (1) EP2919020A4 (zh)
JP (1) JP5999192B2 (zh)
KR (1) KR20150065843A (zh)
CN (1) CN104769442B (zh)
TW (1) TWI485405B (zh)
WO (1) WO2014073368A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111129825A (zh) * 2019-11-20 2020-05-08 苏州韬盛电子科技有限公司 一种用于测试集成电路的连接装置

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6407672B2 (ja) * 2014-11-18 2018-10-17 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
JP6274137B2 (ja) * 2015-03-13 2018-02-07 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 搬送装置およびこれを備える画像形成装置
JP6625847B2 (ja) * 2015-09-07 2019-12-25 株式会社日本マイクロニクス プローブ、プローブ組立体の製造方法およびプローブ組立体
JP2017125696A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 オーキンス エレクトロニクス カンパニー，リミテッド コンタクトピンおよび異方導電性部材
DE102016004520A1 (de) 2016-04-13 2017-10-19 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Kontaktstift und Testsockel mit Kontaktstiften
TWI599779B (zh) * 2016-07-11 2017-09-21 致茂電子股份有限公司 夾式探針裝置
CN112005448B (zh) * 2018-05-22 2022-09-23 欧姆龙株式会社 探针销
WO2022031219A1 (en) * 2020-08-05 2022-02-10 Equiptest Engineering Pte Ltd Multi-beam cantilever style contact pin for ic testing

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001083179A (ja) * 1999-09-10 2001-03-30 Kiyota Seisakusho:Kk 超微小ピッチ検査用積層プローブコンタクト
JP2001102141A (ja) * 1999-07-27 2001-04-13 Mitsubishi Electric Corp テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材
JP2002246128A (ja) * 2001-02-19 2002-08-30 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
JP2008157800A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 接続部材
CN101419244A (zh) * 2007-10-23 2009-04-29 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 触头及使用该触头的电气连接装置
CN101771208A (zh) * 2008-10-01 2010-07-07 欧姆龙株式会社 连接器用连接端子及组装有连接器用连接端子的连接器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2495846A1 (fr) * 1980-12-05 1982-06-11 Cii Honeywell Bull Dispositif de connexion electrique a haute densite de contacts
US6794890B1 (en) 1999-07-27 2004-09-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Test socket, method of manufacturing the test socket, test method using the test socket, and member to be tested
EP1624308B1 (en) 2003-05-13 2007-06-20 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Probe for testing electric conduction
JP4472002B2 (ja) 2005-04-21 2010-06-02 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
JP4788456B2 (ja) * 2006-04-18 2011-10-05 富士ゼロックス株式会社 帯電ロール及び画像形成装置
JP2008203036A (ja) * 2007-02-19 2008-09-04 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
US7422457B1 (en) 2007-08-31 2008-09-09 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Plug-in module with improved latch mechanism
US7589547B2 (en) 2007-09-13 2009-09-15 Touchdown Technologies, Inc. Forked probe for testing semiconductor devices
TWI333072B (en) 2007-09-27 2010-11-11 King Yuan Electronics Co Ltd A probe, socket, and tester thereof
CN201252250Y (zh) 2007-10-04 2009-06-03 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器组件
JP5203046B2 (ja) * 2008-05-30 2013-06-05 第一電子工業株式会社 コンタクト及び該コンタクトを用いたコネクタ
JP5029969B2 (ja) 2008-11-12 2012-09-19 山一電機株式会社 電気接続装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001102141A (ja) * 1999-07-27 2001-04-13 Mitsubishi Electric Corp テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材
JP2001083179A (ja) * 1999-09-10 2001-03-30 Kiyota Seisakusho:Kk 超微小ピッチ検査用積層プローブコンタクト
JP2002246128A (ja) * 2001-02-19 2002-08-30 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
JP2008157800A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 接続部材
CN101419244A (zh) * 2007-10-23 2009-04-29 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 触头及使用该触头的电气连接装置
CN101771208A (zh) * 2008-10-01 2010-07-07 欧姆龙株式会社 连接器用连接端子及组装有连接器用连接端子的连接器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111129825A (zh) * 2019-11-20 2020-05-08 苏州韬盛电子科技有限公司 一种用于测试集成电路的连接装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5999192B2 (ja) 2016-09-28
KR20150065843A (ko) 2015-06-15
EP2919020A1 (en) 2015-09-16
US9797926B2 (en) 2017-10-24
WO2014073368A1 (ja) 2014-05-15
TWI485405B (zh) 2015-05-21
TW201423108A (zh) 2014-06-16
CN104769442B (zh) 2018-02-02
EP2919020A4 (en) 2016-07-20
US20150276808A1 (en) 2015-10-01
JPWO2014073368A1 (ja) 2016-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104769442A (zh) 连接端子和使用该连接端子的导通检查设备
US20170005521A1 (en) Connection tip and protecting case for portable device
CN102637969B (zh) 一种插座
CN104979720B (zh) 连接器结构
US10103471B1 (en) Reversible connector interface
CN103490208A (zh) 电连接器
CN203800240U (zh) 微型射频连接器
CN205723970U (zh) 短体弹片及移动终端
JP5587886B2 (ja) 接点組立体を備える電気装置
CN103887626A (zh) 同轴连接器
CN204205220U (zh) 同轴线缆连接器
WO2015092774A3 (en) Switch housing assembly, fuse unit, electrical connector and connector housing having elastic arm
CN216648768U (zh) 一种电连接器及电子设备
CN209329232U (zh) 一种连接器
KR101587774B1 (ko) Ito 필름 검사를 위한 포고 핀 및 포고 핀 가이드 블록
CN201352603Y (zh) 探针式连接器
JP2018105785A (ja) 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP2016091719A (ja) コンタクトおよびコネクタ
KR200473526Y1 (ko) 휴대 단말기용 이어 커넥터의 접속단자
KR20160064424A (ko) 터미널
CN203166141U (zh) 掀盖式电连接器及使用其的电气装置
CN104283075A (zh) 同轴线缆连接器
TWM522481U (zh) 電子卡連接器
CN103560375A (zh) 可弯曲手柄的usb插头
KR20160076566A (ko) 피메일 단자 스프링

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
EXSB Decision made by sipo to initiate substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant