KR20140116721A - Ｓｐｉ 데이터 관리 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 SPI 데이터 관리 시스템에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 SPI 장치로부터의 검사데이터를 수집하여 전송하는 지역클라이언트와; 상기 지역클라이언트들로부터 상기 검사데이터를 전송받아 데이터베이스를 구축하며, 상기 데이터베이스를 분석하여 각각의 상기 지역클라이언트와 연동하는 SPI 장치에 대응되는 생산라인의 가동정보를 도출하는 중앙프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하며, SPI 장치로부터 수집된 분석데이터를 수집하여 통합관리하며 생산라인에서의 공정결과를 제공할 수 있다.

Description

ＳＰＩ 데이터 관리 시스템 {SYSTEM FOR SPI DATA MANAGEMENT}

본 발명은 SPI 데이터 관리 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 SPI 장치로부터 수집된 분석데이터를 수집하여 통합관리하며 생산라인의 공정결과의 확인이 가능한 SPI 데이터 관리 시스템에 관한 것이다.

PCB의 표면에 전자 부품을 실장하거나 전기적인 접촉을 이루기 위하여 납땜(Soler)을 실시한다. 전자산업dl 발전 및 확장됨에 따라 PCB 표면에 실장하는 기술은 점차 다양해 졌고, 제품 수요자의 입장에서 불량을 줄이기 위해 더욱 정밀한 공정이 요구되고 있다.

SPI(Solder Paste Inspection) 장치는 납땜의 공정이 적절하게 실시되었는지 발라진 납 도포 상태를 검사하는 장비로 납 도포된 PCB를 촬영하거나 다양한 광학 모듈을 이용하여 납땜의 높이, 부피, 크기 등을 검사하여 사용가능한 공정이 실시되었는지를 검사하는 장비이다.

SPI 장치는 일반적으로 표면실장을 처리하는 생산라인에 각각 설치되어 납 도포 상태를 검사하는데, 생산라인이 다수로 구성되거나, 제조공장이 다른 장소에 있는 경우, 검사데이터를 일괄 처리하기 위해서는 SPI 장치로부터의 각각의 검사데이터를 수집하여 처리기가 있는 장소에서 일괄처리하는 방식으로 진행되었다.

각각의 SPI장비로부터 수집된 검사데이터를 SPI 장치에서 부분적인 검사결과를 확인할 수는 있으나, 각각의 라인에 설치된 SPI 장치마다 분석요원이 방문 또는 상주하여야 했으므로 관리 및 운용에 있어 비용적인 문제가 크게 발생하였다.

또한, 검사데이터를 확인하되 분석된 결과에 접근하는 것 또한 처리기가 있는 장소에서 제한적으로 실시하거나 처리결과를 별도로 작성하여 출력해 전달하는 방식으로 실시하여야 한다는 점으로 인해 신뢰성에 문제가 있었고, 이또한 생산관리에 있어서 비효율적인 면이 있었다.

대한민국공개특허 2011-0094558(공개일 2011년 08월 24일, 납땜 검사 장치 및 그 검사 방법)에는 PCB표면에 전자 부품을 장착하기 위하여 발라진 납땜의 상태를 검사하는 장치로 SPI에 격자 생성 장치인 PZT를 LCoS(Liquid Crystal on Silicon)를 이용한 프로젝터 모아레로 대체한 기술이 개시되어 있다. 선행기술에서 검출오차를 줄이기 위한 기술이지만 SPI에서의 검사데이터를 통합관리하고 분석하는 프로세서 및 접근성에 대한 기술은 개시하지 못하고 있다.

이에 다수의 SPI 장치를 갖춘 생산시설에서 검사데이터를 종합적으로 수집하여 관리하고 이와 동시에 분석결과를 원하는 사용자에게 용이하게 제공할 수 있는 시스템이 개발이 요구되고 있다.

이에, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로서, 개별적으로 관리던 SPI 데이터를 수집하여 통합관리하고, 시간과 장소에 제약없이 신뢰성있는 분석데이터를 사용자에게 제공할 수 있는 SPI 데이터 관리 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.

또한 분석데이터는 각각의 생산라인에서의 제조공정에 따른 SPI 장치 및 생산라인의 동작상태정보와 생산라인의 작업공정을 통해 생산되는 제품의 공정능력을 파악할 수 있는 생산통계정보를 사용자에게 제공하여 보다 효율적인 관리 시스템을 구축하는 데 그 목적이 있다.

상기 목적은 본 발명에 따라, SPI 장치로부터의 검사데이터를 수집하여 전송하는 지역클라이언트와; 상기 지역클라이언트들로부터 상기 검사데이터를 전송받아 데이터베이스를 구축하며, 상기 데이터베이스를 분석하여 각각의 상기 지역클라이언트와 연동하는 SPI 장치에 대응되는 생산라인의 가동정보를 도출하는 중앙프로세서를 포함하는 SPI 데이터 관리 시스템으로 달성될 수 있다.

여기서, 상기 가동정보는 상기 생산라인에서 검사되는 대상에 따른 상기 SPI장치의 동작상황을 나타내는 동작상태정보와, 상기 데이터베이스를 기초로 상기 SPI장치에 연동하는 상기 생산라인의 생산통계정보를 포함하는 것이 가능하다.

그리고, 상기 생산통계정보는 상기 생산라인에서의 공정수율, 불량종류, 검사결과, 공정능력지수(CP/CPK), 데이터 표준편차, 데이터 평균 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.

또한, 상기 동작상태정보는 상기 SPI장치로부터 수집된 검사 시작시간, 검사대상모델의 이름, 검사 PCB의 바코드 번호, 생산라인의 이름, 생산파트의 이름, 작업자 ID, 검사 소요 시간, 스퀴지 방향 중 적어도 어느 하나를 포함하는 검사데이터를 기초로 도출 가능하다.

그리고, 상기 생산통계정보는 상기 SPI장치로부터 수집된 도포된 납의 체적, 너비, 높이, X/Y축으로의 편차값 들에 대한 전체 평균, 최소값, 최대값, 전체 표준편차, CP, CPK 와; 체적, 너비, 부피, 편차값의 상/하한선 및 mask의 각도, mask가 움직인 x/y좌표, badmark 개수, 정상/비정상 pad 개수, 결함의 종류, 사용자가 판단한 pad 개수, 정상/비정상 array 개수 및 SPI에서 입력한 정보 코멘트 중 적어도 어느 하나를 포함하는 검사데이터를 기초로 도출될 수 있다.

한편으로 상기 중앙프로세서는 상기 가동정보를 도출하고자 하는 분석구간의 설정이 가능하며; 상기 분석구간은, 상기 검사데이터에서 분석구간으로 이용할 시작시점과 종료시점을 직접 입력하는 수동분석구간과, 상기 SPI 장치로부터 전송된 현 시점을 분석구간의 종료시점으로 처리하여 소정의 시간 범위로 설정된 자동분석구간을 가질 수 있다..

여기에서 상기 자동분석구간은 소정의 갱신주기의 설정이 가능하며, 상기 갱신주기에 따라 상기 SPI 장치로부터 전송된 검사데이터의 갱신여부를 확인하여 분석구간으로 적용할 수 있다.

한편으로, 상기 중앙프로세서에 접근하여 상기 가동정보를 출력하는 사용자 단말을 더 포함하며; 상기 사용자 단말은 GUI를 기반으로 상기 가동정보를 요청 및 출력 가능한 서비스 툴이 설치될 수 있다.

상기와 같은 구성에 따라 본 발명에 따르면, SPI 장치로부터 수집된 분석데이터를 수집하여 통합관리하며, 생산라인의 공정결과를 용이하게 확인 가능하다. 생산라인의 SPI 장치에 공정을 분석하는 별도의 요원을 대체할 수 있어 생산비용의절감의 효과가 있다.

또한, 다수의 생산라인에 따라 SPI가 다수로 설치되거나 인접하지 않는 생산라인에 대한 경우에 있어서도 중앙프로세서로 데이터를 수집하므로 검사데이터를 통합하여 분석할 및 관리가 가능해진다.

또한, 수집된 검사데이터를 기초로 분석결과를 도출하는데 있어서도 별도의 처리없이 시스템에서 제공하므로 일관성 및 신뢰성 있는 분석자료의 도출이 가능하다.

그리고, 사용자 단말에 서비스 툴을 설치하여 시공간의 제약없이 중앙프로세서에 접근하여 실시간 모니터링과 분석결과의 확인이 가능한 SPI 데이터 관리 시스템이 제공된다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 SPI 데이터 관리 시스템의 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 사용자 단말에 설치된 서비스 툴을 이용한 가동정보의 출력을 나타낸 도면이다.
도 2a 내지 2f는 도 2를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 검사한 데이터를 출력을 설정하기 위한 화면을 나타내고 있다.
도 4는 검사결과를 요약하여 리포트한 화면의 예시이다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예들을 상세히 설명한다. 본 발명에 따른 SPI 데이터 관리 시스템의 실시예들을 설명하는데 있어, 상호 대응하는 구성요소에 대해서는 동일한 참조번호를 사용하여 설명하며, 필요에 따라 그 설명은 생략될 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 SPI 데이터 관리 시스템의 구성을 나타낸 도면이다.

이를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 SPI 데이터 관리 시스템(10)은 하나 이상의 지역클라이언트(120)와 중앙프로세서(200)를 포함하여 이루어진다.

또한 본 발명의 일 실시예에서는 지역클라이언트(120)와 상기 중앙프로세서(200)는 인터넷 망을 이용하여 연결된다. 그러나, 인터넷 망은 데이터의 전송이 가능한 다양한 통신망으로 대체될 수 있음이 분명하다.

지역클라이언트(120)는 SPI 장치(110)로부터 검사데이터를 수집하여 전송한다. SPI 장치(110)는 생산라인에 각각 설치되어 PCB에 실장되는 부품을 전기적으로 연결시키고 부착하는 납 도포 공정을 검사하여 검사데이터를 생성하는데 지역클라이언트(120)는 검사데이터를 수집하여 중앙프로세서(200)로 전달한다.

지역클라이언트(120)는 SPI 장치(110)에 연동하도록 설치된 일종의 소프트웨어를 예시로 한다. 중앙서버 역할을 하는 중앙프로세서(200) 또는 추후 설명할 사용자 단말(300)과 호환성을 고려하여 설치되는 것으로 그 기능에 준하는 하드웨어를 사용하여도 무방하다.

본 발명에서 예시로 하는 SPI 장치(110)는 매회 검사 완료시 보드(Board)데이터, 어레이(Array)데이터, 컴포넌트(Component) 데이터, 패드(Pad) 데이터를 생성하게 되는데, 본 발명은 생산라인에 연동하는 SPI 장치(110)의 동작의 유무와, 각각의 생산라인에서의 생산통계 및 특정상황 발생을 판단하는 데 목적이 있어, 이를 도출할 수 있는 검사데이터가 포함된 Board 데이터만을 필요로 한다. 따라서 지역클라이언트(120)는 검사데이터 중 Board 데이터를 수집하여 중앙프로세서(200)로 전달하게 된다. 이로써 생산통계정보를 도출하는데 무리없이 데이터의 최소화에 따른 처리성능과 관리 효율성이 개선된다.

도시된 것처럼 중앙프로세서(200)는 분석 DB(210)를 더 포함할 수 있는데 지역클라이언트(120)들로부터 검사데이터를 전송받아 데이터베이스를 구축한다. 전술한 것처럼 Board 데이터 성분들이 지역클라이언트(120)로부터 전달되면 중앙프로세서(200)는 Board 데이터 성분을 데이터베이스로 저장한다. 이 후, 데이터베이스를 분석하여 지역클라이언트(120)와 연동하는 SPI 장치(110)에 대응되는 생산라인의 가동정보를 도출한다.

여기에서 가동정보는 생산라인에서 검사되는 대상에 따른 상기 SPI 장치(110)의 동작상황을 나타내는 동작상태정보와, 데이터베이스를 기초로 SPI 장치(110)에 연동하는 상기 생산라인의 생산통계정보를 포함하고 있다.

board 데이터는 SPI 장치(110)로부터 수집된 상기 동작상태정보는 상기 SPI 장치(110)로부터 수집된 검사 시작시간, 검사대상모델의 이름, 검사 PCB의 바코드 번호, 생산라인의 이름, 생산파트의 이름, 작업자 ID, 검사 소요 시간, 스퀴지 방향 등과 같이 SPI 장치(110)의 동작과 SPI 장치(110)로부터 검사되고 있는 대상에 관련한 데이터를 가지며, 이는 동작상태정보를 위한 데이터이다.

또한 board 데이터는 volume, area, height, offsetx, offsety 값들에 대한 전체 평균, 최소값, 최대값, 전체 표준편차, CP, CPK 와, volum, height, area, offset 값의 상하한선 및 mask의 각도, mask가 움직인 x/y좌표, badmark 개수, 정상/비정상 pad 개수, 결함의 종류, 사용자가 판단한 pad 개수, 정상/비정상 array 개수 및 SPI에서 입력한 정보 코멘트 등과 같이 SPI 장치(110)에 대응하는 생산라인의 생산량에 관련한 데이터 즉, 생산통계정보를 위한 데이터를 포함한다.

board 데이터 중 주요 데이터에 대한 용도는 추후 설명하기로 한다.

한편, 중앙프로세서(200)는 중앙프로세서(200)에 접근한 사용자의 요청에 의해 데이터베이스를 분석하여 가동정보를 도출하는데 도시된 바와 같이 사용자 단말(300)을 통해 접근하는 것이 가능하다.

사용자 단말(300)은 통신망을 통해 중앙프로세서(200)로 접근하는데, SPI 장치(110)에 GUI를 기반으로 가동정보를 요청 및 출력 가능한 서비스 툴이 설치되어 중앙프로세서(200)로부터 도출된 가동정보를 차트형태의 히스토그램으로 확인한다.

생산통계정보는 생산라인에서의 공정수율(Yield), 불량종류(Defect), 검사결과(Result), 공정능력지수(CP/CPK), 데이터 표준편차(Sigma), 데이터 평균(Average)중 적어도 어느 하나를 포함한다.

공정수율(Yield)는 생산활동을 관리 및 평가하기 위해 사용하는 지표로 공정에 투입된 원재료와 가공원가를 기초로 계산한 기대완성품의 수량과 실제 생산된 완성품 수량의 비율이다.

공정수율(Yield)은 양품 수율과 불량 수율의 비율로 계산된다. 불량(Defect)은 volume, area, height, offset의 범위가 기준치를 벗어나는 경우, 와 납 도포의 미실시, 납 도포 간 브리지와 치우침 및 메모리의 흠집의 경우가 포함될 수 있다.

검사결과(Result)는 검사시 발생한 결과정보를 개수로 나타내며, 결과는 양품, 불량, 사용자가 임의로 양품 또는 불량으로 판단, 불량은 아니나, Warn 구간에 해당, Fiducial Mark, Bad Mark 등을 나타낸다.

공정능력지수(CP, CPK)는 생산라인의 생산가능한 대표값에 얼마만큼 비슷한 척도로 생산하는지를 나타내는 지표이다.

데이터 표준편차(Sigma)와 데이터 평균(Average)는 SPI 장치(110)의 1회 검사당 발생하는 데이터들의 표준편차와 평균을 의미한다.

도 2는 사용자 단말에 설치된 서비스 툴을 이용한 가동정보의 출력을 나타낸 도면이며, 도 2a 내지 2e는 도 2를 설명하기 위한 도면이다.

중앙프로세서(200)는 가동정보를 도출하고자 하는 분석구간의 설정이 가능하다. 분석구간은 수동분석구간과 자동분석구간으로 설정이 가능하다.

도 2a를 참조하면, 수동분석구간은 분석구간으로 이용할 시작시점과 종료시점을 직접 입력하는 방식이며, 자동분석구간은 SPI 장치(110)로부터 전송된 현 시점을 분석구간의 종료시점으로 처리하여 소정의 시간 범위 분석구간에서 가동정보를 도출하게 된다.

수동분석구간 설정 시, 시작시점과 종료시점을 모두 입력하거나, 둘 중 어느 하나의 입력과 함께 소정의 구간을 선택하면, 입력된 시작시점 또는 종료시점을 기준으로 소정의 범위에 해당하는 가동정보를 도출한다.

자동분석구간 설정 시, 갱신주기(Refresh)를 설정할 수 있으며, 갱신주기마다 SPI 장치(110)로부터 전송된 현 시점을 분석구간의 종료시점으로 처리하여 소정의 구간에 해당하는 가동정보를 도출한다.

여기에서 소정의 구간은 당일, 일주일, 월, 분기, 년 단위로 사용자의 설정에 의해 설정된다.

자동분석구간 설정 시, SPI 장치(110)로부터 전송된 현 시점을 분석구간의 시작시점으로 처리될 수 있는데 소정의 분석구간 없이 시작시점부터 소정의 갱신주기마다 업데이트된 검사데이터를 기초로 가동정보를 도출하는 방식을 적용하는 것이 그 예이다.

도시된 Select All은 체크버튼으로 활성시키며, 분석하고자 하는 생산라인을 선택하는 기능이다.

도 2B는 검색한 생산라인과 검사대상의 모델의 리스트를 나타낸다. 전술하였던 동작상태정보를 위한 데이터를 통해 생산라인의 가동상황과 검사되는 대상이 갖는 모델의 명칭을 표시한다. 도시된 것처럼 리스트에 색상블록을 통해 가동상황을 개략적으로 나타낸다. 이로써 생산라인의 가동상태와 검사되고 있는 대상모델의 파악이 가능하므로 생산관리에 유용하게 활용된다.

도 2C는 출력하고자하는 생산통계정보를 선택하는 옵션이며, 도 2D는 차트가 출력되는 메인화면을 나타낸다.

생산통계정보 중 공정수율(Yield), 불량(Defect), 검사결과(Result)는 데이타 타입에 관계없이 결과값을 표시하지만, 공정능력지수(CP, CPK), 데이터 표준편차(Sigma) 및 데이터 평균(Average,X-bar)에 대한 생산통계를 선택 시, 납 도포의 volume, area, height, offsetx, offsety에 해당하는 데이타 타입을 선택하도록 활성된다. 활용의 예시로, 차트의 종류(value type)를 데이터 타입이 요구되는 평균을 선택하고, 데이타 타입을 볼륨을 선택할 경우, 선택된 생산라인에서의 볼륨의 평균을 표시하는 방식이다.

도 2D는 공정수율(Yield)을 나타내고 있는 것으로 생산 라인별로 양품과 불량의 정도를 나타내고 있다. 도 2e는 라인별 상세정보를 나타낸 것으로 메인화면에 표시되는 생산라인을 선택하고 세부정보 표시를 활성시키는 경우에 출력된다. 더블클릭을 통해 활성하거나 펑션키를 이용하는 방식과 같이 다양한 형태로 실시가능하며, 활성되는 출력에는 라인에 포함하는 대상모델 별 공정수율이 표시된다. 물론 선택된 차트의 종류(value type)에 따른 세부정보가 표시됨은 당연하다.

또한 출력되는 생산통계정보는 사용자의 설정에 따라 생산라인 및 모델 리스트에 대한 시간별로 그룹을 설정하여 그룹화된 데이터를 표시하는 것이 가능하며, 검사데이터 이상과 같은 SPI에 특이사항 발생시 경고 메시지의 출력도 가능하다.

도 3은 검사한 데이터를 출력을 설정하기 위한 화면을 나타내고 있다. 설정부를 통해 그룹화할 시간을 설정하거나, 메인 차트에 축에 표시되는 그룹의 수, 차트의 범위 설정하여 출력환경의 설정 및 실행 시, 자동 및 수동 분석구간의 적용여부, 통신망을 이용한 접속경로 등을 설정한다.

도 4는 검사결과를 요약하여 리포트한 화면의 예시이다.

사용자가 원하는 분석구간에서 라인별 검사결과를 요약하여 저장한 것으로, 주요 생산통계 정보와 작성한 코멘트 정보를 포함하여 작성된다. 작성된 요약 리포트는 분석 DB(210)나 사용자 단말(300)에 할당된 별도의 저장공간에 저장하거나 설정된 경로로 전달한다.

비록 본 발명의 몇몇 실시예들이 도시되고 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.

10 : SPI 관리 시스템
110 : SPI 장치
120 : 지역클라이언트
200 : 중앙프로세서
210 : 분석 DB
300 : 사용자 단말

Claims (8)

1. SPI 장치로부터의 검사데이터를 수집하여 전송하는 지역클라이언트와;
   상기 지역클라이언트들로부터 상기 검사데이터를 전송받아 데이터베이스를 구축하며,
   상기 데이터베이스를 분석하여 각각의 상기 지역클라이언트와 연동하는 SPI 장치에 대응되는 생산라인의 가동정보를 도출하는 중앙프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 가동정보는
   상기 생산라인에서 검사되는 대상에 따른 상기 SPI장치의 동작상황을 나타내는 동작상태정보와,
   상기 데이터베이스를 기초로 상기 SPI장치에 연동하는 상기 생산라인의 생산통계정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   
3. 제2항에 있어서,
   상기 생산통계정보는
   상기 생산라인에서의 공정수율, 불량종류, 검사결과, 공정능력지수(CP/CPK), 데이터 표준편차, 데이터 평균 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   
4. 제2항에 있어서,
   상기 동작상태정보는 상기 SPI장치로부터 수집된 검사 시작시간, 검사대상모델의 이름, 검사 PCB의 바코드 번호, 생산라인의 이름, 생산파트의 이름, 작업자 ID, 검사 소요 시간, 스퀴지 방향 중 적어도 어느 하나를 포함하는 검사데이터를 기초로 도출되는 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   
5. 제3항에 있어서,
   상기 생산통계정보는
   상기 SPI장치로부터 수집된 납 도포된 체적, 너비, 높이, X/Y축으로의 편차 값들에 대한 전체 평균, 최소값, 최대값, 전체 표준편차, CP, CPK 와,
   체적, 너비, 부피, 편차 값의 상하한선 및
   mask의 각도, mask가 움직인 x/y좌표, badmark 개수, 정상/비정상 pad 개수, 결함의 종류, 사용자가 판단한 pad 개수, 정상/비정상 array 개수 및 SPI에서 입력한 정보 코멘트 중 적어도 어느 하나를 포함하는 검사데이터를 기초로 도출되는 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   
6. 제3항에 있어서,
   상기 중앙프로세서는 상기 가동정보를 도출하고자 하는 분석구간의 설정이 가능하며;
   상기 분석구간은, 상기 검사데이터에서 분석구간으로 이용할 시작시점과 종료시점을 직접 입력하는 수동분석구간과,
   상기 SPI 장치로부터 전송된 현 시점을 분석구간의 종료시점으로 처리하여 소정의 시간 범위로 설정된 자동분석구간을 포함하는 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   
7. 제6항에 있어서,
   상기 자동분석구간은
   소정의 갱신주기의 설정이 가능하며, 상기 갱신주기에 따라 상기 SPI 장치로부터 전송된 검사데이터의 갱신여부를 확인하여 분석구간의 종료시점으로 처리하는 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   
8. 제1항 또는 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 중앙프로세서에 접근하여 상기 가동정보를 출력하는 사용자 단말을 더 포함하며;
   상기 사용자 단말은 GUI를 기반으로 상기 가동정보를 요청 및 출력 가능한 서비스 툴이 설치된 것을 특징으로 하는 SPI 데이터 관리 시스템.
   

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