KR20140097694A

KR20140097694A - 액정표시장치와 그의 점등 검사방법

Info

Publication number: KR20140097694A
Application number: KR1020130009680A
Authority: KR
Inventors: 이대진; 이성민; 신동욱; 김성준; 박선자; 김창훈; 김보열; 진혜정; 서동민
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2013-01-29
Filing date: 2013-01-29
Publication date: 2014-08-07
Also published as: KR102047830B1

Abstract

본 발명에 따른 액정표시장치는 다수의 데이터라인들에 연결된 다수의 입력 패드들을 갖는 표시패널; 검사용 제어신호를 출력하는 드라이버 IC 구동 범퍼; 검사용 데이터신호를 출력하는 제1 오토 프로브 구동 범퍼와 제2 오토 프로브 구동 범퍼; 상기 검사용 제어신호에 응답하여, 상기 입력 패드들 중 오드 입력 패드들에 대응되는 오드 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 다수의 제1 스위치들과, 상기 입력 패드들 중 이븐 입력 패드들에 대응되는 이븐 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 다수의 제2 스위치들과, 상기 제1 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 오드 출력 채널들에 연결시키는 제1 검사용 스위치와, 상기 제2 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 이븐 출력 채널들에 연결시키는 제2 검사용 스위치를 포함한 드라이버 IC를 구비한다.

Description

액정표시장치와 그의 점등 검사방법{Liquid Crystal Display And Lighting Inspection Method Thereof}

본 발명은 액정표시장치와 그의 점등 검사방법에 관한 것이다.

액티브 매트릭스(Active Matrix) 구동방식의 액정표시장치는 스위칭 소자로서 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하 "TFT"라 함)를 이용하여 동영상을 표시하고 있다. 이 액정표시장치는 휴대용 정보기기, 사무기기, 컴퓨터, 텔레비젼 등의 표시기에 응용되고 있다.

액정표시장치의 제조공정은 기판 세정 공정, 기판 패터닝 공정, 배향막형성 및 러빙 공정, 액정적하 및 기판합착 공정, 검사 공정, 리페어 공정, 실장 공정 등으로 나누어진다.

기판 세정 공정에서는 액정표시장치의 기판 표면에 오염된 이물질을 세정액으로 제거하게 된다. 기판 패터닝 공정에서는 상부 기판(컬러필터 어레이 기판)의 패터닝과 하부 기판(TFT 어레이 기판)의 패터닝으로 나뉘어진다. 상부 기판에는 컬러필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 하부 기판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성되며, 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소영역에 TFT와 접속되는 화소전극이 형성된다. 배향막형성 및 러빙 공정에서는 상부 기판과 하부 기판 각각에 배향막을 도포하고 그 배향막을 러빙포 등으로 러빙하게 된다. 액정적하 및 기판합착 공정에서는 액정과 스페이서를 적하한 후 실재(Sealant)를 이용하여 상부 기판과 하부 기판을 합착한다. 검사 공정은 하부기판에 각종 신호배선과 화소전극이 형성된 후에 실시되는 전기적 점등검사와 각 화소의 불량검사를 포함한다. 리페어 공정은 검사 공정에 의해 리페어가 가능한 것으로 판정된 기판에 대한 복원을 실시한다. 한편, 검사 공정에서 리페어가 불가능한 불량기판들에 대하여는 폐기처분된다. 실장공정에서는 드라이브 IC(Intergrated Circuit)가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하, "TCP"라 한다)를 기판 상의 패드부에 접속시키게 된다. 이러한 드라이브 IC는 전술한 TCP를 이용한 테이프 오토메이티드 본딩(Tape Automated Bonding) 방식 이외에 칩 온 글라스(Chip On Glass ; COG) 방식 등으로 기판 상에 직접 실장될 수도 있다.

검사 공정에는 오토 프로브(Auto Probe)가 이용된다. 오토 프로브는 완성된 표시패널에 전기적 신호를 인가하여 원하는 화면을 시각적으로 볼 수 있게 한다. 검사자는 오토 프로브를 통한 검사 과정에서 패널 내의 점불량, 선불량, 얼룩등을 검출하여 패널의 양부를 판정한다. 오토 프로브를 이용한 검사 방법에는 트랜지스터의 싱글 스위칭을 통해 패널에 신호를 인가하여 검사를 수행하는 Tr 방식과, 프로브 핀을 패널의 입력 패드에 1:1로 접촉시켜 실제 드라이버 IC를 장착한 것과 유사한 상태에서 패널을 검사할 수 있는 니들(needle) 방식 등이 있으나, 검사 시간의 단축과 검사비용 절감을 위해 최근에는 쇼팅바 방식이 많이 사용되고 있다.

쇼팅바 방식은 쇼팅바를 통해 표시패널의 신호배선들을 쇼팅시키고, 최소의 핀 접촉으로 검사하는 방식이다. 이 방식은 공정 소모품비 최소화, 핀 접촉 미스로 인한 불량 누출이 없으며, 패드부 마진 확보가 불필요하는 등 여러 가지 장점이 있다.

도 1은 쇼팅바 방식의 일 예를 보여준다. 도 1에는 제1 쇼팅바(SB1)에 의해 전기적으로 쇼트된 오드 입력 패드들에 검사 신호를 공급하는 제1 오토 프로브 구동 범프(OBMP)와, 제2 쇼팅바(SB2)에 의해 전기적으로 쇼트된 이븐 입력 패드들에 검사 신호를 공급하는 제2 오토 프로브 구동 범프(EBMP)가 도시되어 있다. 이러한 쇼팅바 방식에서는 검사 공정이 완료된 후 반드시 레이져 트리밍(laser trimming) 을 통해 입력 패드들과 쇼팅바의 연결을 오픈시키는 추가 작업이 필요하다. 쇼팅바로부터 전기적으로 분리된 입력 패드부에는 전술한 실장 공정을 통해 드라이버 IC가 장착된다.

따라서, 드라이버 IC가 장착된 이후에는 입력 패드들과 쇼팅바의 연결이 해제되어 있으므로 더 이상 오토 프로브 검사를 수행할 수 없다. 즉, 레이져 트리밍 후에는 오토 프로브 구동 범프를 다시 사용할 수가 없어지며 오토 프로브 재검을 할 수 없다. 그 결과, 오토 프로브 검사 후 모듈 공정에서 나온 불량이 표면으로만 봤을 경우 패널 불량인지 또는, 회로부와 기구부 불량인지 명확하지 않은 경우, 액정 모듈 또는 보드 어셈블리를 분리하여 패널, 회로부, 기구부를 각각 분석해야 한다. 종래에는 이러한 불필요한 분석으로 인해 인력, 비용, 시간 등이 낭비되었다.

따라서, 본 발명의 목적은 쇼팅바 방식의 오토 프로브 검사에서 레이져 트리밍 후에도 다시 오토 프로브 검사를 가능하게 할 수 있도록 한 액정표시장치와 그의 점등 검사방법을 제공하는 데 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 다수의 데이터라인들에 연결된 다수의 입력 패드들을 갖는 표시패널; 검사용 제어신호를 출력하는 드라이버 IC 구동 범퍼; 검사용 데이터신호를 출력하는 제1 오토 프로브 구동 범퍼와 제2 오토 프로브 구동 범퍼; 상기 검사용 제어신호에 응답하여, 상기 입력 패드들 중 오드 입력 패드들에 대응되는 오드 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 다수의 제1 스위치들과, 상기 입력 패드들 중 이븐 입력 패드들에 대응되는 이븐 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 다수의 제2 스위치들과, 상기 제1 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 오드 출력 채널들에 연결시키는 제1 검사용 스위치와, 상기 제2 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 이븐 출력 채널들에 연결시키는 제2 검사용 스위치를 포함한 드라이버 IC를 구비한다.

상기 드라이버 IC는, 입력 디지털 비디오 데이터를 화상 표시용 데이터신호로 변환하는 데이터전압 발생부; 상기 화상 표시용 데이터신호를 완충하여 상기 오드 및 이븐 출력 채널들에 공급하는 다수의 버퍼들을 갖는 버퍼부; 및 상기 검사용 제어신호에 응답하여, 상기 버퍼부와 상기 오드 출력 채널들 사이의 전류 패스를 스위칭함과 아울러, 상기 버퍼부와 상기 이븐 출력 채널들 사이의 전류 패스를 스위칭하는 다수의 제3 스위치들을 구비한다.

상기 검사용 제어신호는 검사 공정을 위해 제1 논리로 발생되고, 그 외에는 제2 논리로 발생되며; 상기 제1 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 스위치들과 상기 제1 및 제2 검사용 스위치는 턴 온 되고, 상기 제3 스위치들은 턴 오프 되며; 상기 제2 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 스위치들과 상기 제1 및 제2 검사용 스위치는 턴 오프 되고, 상기 제3 스위치들은 턴 온 된다.

상기 제1 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 상기 오드 입력 패드들에는 상기 오드 출력 채널들을 통해 상기 검사용 데이터신호가 입력되고, 상기 이븐 입력 패드들에는 상기 이븐 출력 채널들을 통해 상기 검사용 데이터신호가 입력된다.

상기 제2 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 상기 입력 패드들에는 상기 오드 및 이븐 출력 채널들을 통해 상기 화상 표시용 데이터신호가 입력된다.

본 발명의 실시예에 따라 다수의 데이터라인들에 연결된 다수의 입력 패드들을 갖는 표시패널과, 상기 입력 패드들에 대응되는 다수의 출력 채널들을 갖는 드라이버 IC를 포함한 액정표시장치의 점등 검사방법은, 드라이버 IC 구동 범퍼를 통해 검사용 제어신호를 출력하는 단계; 제1 오토 프로브 구동 범퍼와 제2 오토 프로브 구동 범퍼를 통해 검사용 데이터신호를 출력하는 단계; 상기 검사용 제어신호를 다수의 제1 스위치들에 인가하여 상기 입력 패드들 중 오드 입력 패드들에 대응되는 상기 출력 채널들 중 오드 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 단계; 상기 검사용 제어신호를 다수의 제2 스위치들에 인가하여 상기 입력 패드들 중 이븐 입력 패드들에 대응되는 상기 출력 채널들 중 이븐 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 단계; 상기 검사용 제어신호를 제1 검사용 스위치에 인가하여 상기 제1 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 오드 출력 채널들에 연결시키는 단계; 및 상기 검사용 제어신호를 제2 검사용 스위치에 인가하여 상기 제2 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 이븐 출력 채널들에 연결시키는 단계를 포함한다.

본 발명은 레이져 트리밍 후에도 오토 프로브 재검이 가능하여, 패널 불량인지 또는, 회로부와 기구부 불량인지 명확하지 않은 경우, 액정 모듈 또는 보드 어셈블리를 분리할 필요없이 패널을 대상으로만 따로 화면 구동이 가능하다. 이를 통해 본 발명은 인력, 비용, 시간 등을 절약할 수 있어 보다 효율적으로 불량 대상 및 위치를 분석할 수 있다.

도 1은 종래 쇼팅바 방식의 오토 프로브 검사에서 레이져 트리밍에 의해 쇼팅바가 오픈되는 것을 보여주는 도면.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 보여주는 도면.
도 3은 레이져 트리밍을 수행하기 이전의 점등 검사방법을 보여주는 도면.
도 4는 레이져 트리밍을 수행한 이후의 점등 검사방법을 간략히 보여주는 도면.
도 5는 스위칭 작용을 통해 오토 프로브 검사가 가능한 소스 드라이버 IC의 내부 구성을 보여주는 도면.
도 6a는 검사용 제어신호가 제1 논리로 입력될 때의 스위치들의 스위칭 상태를 보여주는 도면.
도 6b는 검사용 제어신호가 제2 논리로 입력될 때의 스위치들의 스위칭 상태를 보여주는 도면.

이하, 도 2 내지 도 6b를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 보여준다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 표시패널(10), 타이밍 콘트롤러(11), 데이터 드라이버(12), 및 게이트 드라이버(13)를 구비한다.

표시패널(10)은 두 장의 유리기판들과, 그들 사이에 형성된 액정층을 포함한다. 이 표시패널(10)에는 신호라인들(14,15)의 교차 구조에 의해 매트릭스 형태로 배치된 화소 어레이(10A)가 형성된다.

표시패널(10)의 하부 유리기판에는 데이터라인들(14), 게이트라인들(15), TFT들, 및 스토리지 커패시터(Cst)가 형성된다. 액정셀(Clc)은 TFT에 접속되어 화소전극(1)과 공통전극(2) 사이의 전계에 의해 구동된다. 표시패널(10)의 상부 유리기판 상에는 블랙매트릭스, 컬러필터 및 공통전극(2)이 형성된다. 공통전극(2)은 TN(Twisted Nematic) 모드와 VA(Vertical Alignment) 모드와 같은 수직전계 구동방식에서 상부 유리기판 상에 형성되며, IPS(In Plane Switching) 모드와 FFS(Fringe Field Switching) 모드와 같은 수평전계 구동방식에서 화소전극(1)과 함께 하부 유리기판 상에 형성된다. 표시패널(10)의 상부 유리기판과 하부 유리기판 각각에는 편광판이 부착되고 액정의 프리틸트각(pre-tilt angle)을 설정하기 위한 배향막이 형성된다.

타이밍 콘트롤러(11)는 수직/수평 동기신호(Vsync, Hsync), 데이터 인에이블 신호(Data Enable, DE), 도트 클럭(DCLK) 등의 타이밍신호를 입력받아 데이터 드라이버(12)와 게이트 드라이버(13)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 제어신호들(SDC,GDC)을 발생한다. 타이밍 콘트롤러(11)는 데이터 드라이버(12)에 디지털 비디오 데이터(RGB)를 공급한다.

데이터 드라이버(12)는 타이밍 콘트롤러(11)의 제어 하에 디지털 비디오 데이터(RGB)를 래치한다. 그리고 데이터 드라이버(12)는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 극성제어신호(POL)에 따라 정극성/부극성 아날로그 데이터전압을 발생하여 화상 표시용 데이터신호로서 데이터라인들(14)에 공급한다. 데이터 드라이버(12)는 표시패널(10)에 접합되는 다수의 소스 드라이버 IC(DIC)을 포함한다. 소스 드라이버 IC(DIC)에는 화상 표시용 데이터신호를 출력하기 위한 다수의 출력 채널들이 형성된다. 소스 드라이버 IC(DIC)의 출력 채널들은 표시패널(10)에 형성된 입력 패드들을 통해 데이터라인들(14)에 전기적으로 연결된다. 소스 드라이버 IC(DIC)에는 도 3 내지 도 5와 같은 드라이버 IC 구동 범퍼(SBMP), 제1 오토 프로브 구동 범퍼(OBMP), 제2 오토 프로브 구동 범퍼(OBMP), 다수의 스위치들을 포함하여, 쇼팅바 방식의 오토 프로브 검사에서 레이져 트리밍 후에도 다시 오토 프로브 검사를 가능하게 한다.

게이트 드라이버(13)는 게이트 타이밍 제어신호들에 응답하여 게이트펄스를 게이트라인들(15)에 순차적으로 공급한다. 게이트 드라이버(13)는 표시패널(10)에서 화상이 표시되지 않는 비 표시영역에 GIP(Gate In Panel) 방식에 따라 실장될 수 있다. 게이트 드라이버(13)의 쉬프트 레지스터들은 TFT 공정으로 표시화면의 다른 TFT들과 함께 형성된다. 한편, 게이트 드라이버(13)는 GIP(Gate In Panel) 방식에 따라 표시패널(10)에 직접 실장되지 않고, 표시패널(10)에 접합되는 다수의 게이트 드라이버 IC들로 구현될 수 있다. 이 경우, 본 발명의 점등 검사를 위한 구성 및 방법은 소스 드라이버 IC에 한정되지 않고 게이트 드라이버 IC에도 적용될 수 있다. 이하에서는 소스 드라이버 IC를 대상으로 하여 본원의 점등 검사방법을 예시적으로 설명한다.

도 3은 레이져 트리밍을 수행하기 이전의 점등 검사방법을 보여주고, 도 4는 레이져 트리밍을 수행한 이후의 점등 검사방법을 간략히 보여준다.

도 3은 소스 드라이버 IC가 부착되기 이전에 쇼팅바 방식의 점등 검사방법으로, 도 3에는 제1 쇼팅바(SB1)에 의해 전기적으로 쇼트된 오드 입력 패드들에 검사용 데이터신호를 공급하는 제1 오토 프로브 구동 범프(OBMP)와, 제2 쇼팅바(SB2)에 의해 전기적으로 쇼트된 이븐 입력 패드들에 검사용 데이터신호를 공급하는 제2 오토 프로브 구동 범프(EBMP)가 도시되어 있다. 이에 따르면, 제1 쇼팅바(SB1)를 통해 검사용 데이터신호가 오드 입력 패드들에 공통으로 인가되고, 제2 쇼팅바(SB2)를 통해 검사용 데이터신호가 이븐 입력 패드들에 공통으로 인가되게 된다. 제1 및 제2 쇼팅바(SB1,SB2)는 적색(R) 액정셀들에 연결된 입력 패드들, 녹색(G) 액정셀들에 연결된 입력 패드들, 및 청색(B) 액정셀들에 연결된 입력 패드들에서 서로 달라질 수 있다. 이 경우 제1 및 제2 쇼팅바(SB1,SB2)를 통해 인가되는 검사용 데이터패턴은 R 패턴, G 패턴, B 패턴, 그레이 패턴, 화이트 패턴, 블랙 패턴으로 구현될 수 있다.

본 발명의 쇼팅바 방식에서 검사 공정이 완료되면 레이져 트리밍을 통해 입력 패드들과 쇼팅바의 연결이 도 4와 같이 오픈된다. 쇼팅바로부터 전기적으로 분리된 입력 패드부에는 전술한 실장 공정을 통해 소스 드라이버 IC가 장착된다. 종래의 쇼팅바 방식에서는 드라이버 IC가 장착된 이후에 입력 패드들과 쇼팅바의 연결이 해제되어 있으므로 더 이상 오토 프로브 검사를 수행할 수 없었으나, 본 발명은 쇼팅바 방식의 오토 프로브 검사에서 레이져 트리밍 후에도 다시 오토 프로브 검사를 가능하게 한다.

이를 위해, 본 발명은 도 4와 같이 소스 드라이버 IC에 제어핀(CP), 제1 입력핀(IP1), 제2 입력핀(IP2)을 설치하고, 드라이버 IC 구동 범퍼(SBMP)에서 출력되는 검사용 제어신호를 제어핀(CP)에 인가하고, 제1 및 제2 오토 프로브 구동 범프(OBMP,EBMP)에서 출력되는 검사용 데이터신호를 제1 입력핀(IP1)과 제2 입력핀(IP2)에 인가한다.

검사 공정을 위해, 검사용 제어신호는 다수의 제1 스위치들을 스위칭시켜 입력 패드들 중 오드 입력 패드들에 대응되는 오드 출력 채널들을 전기적으로 쇼트시키고, 다수의 제2 스위치들을 스위칭시켜 입력 패드들 중 이븐 입력 패드들에 대응되는 이븐 출력 채널들을 전기적으로 쇼트시킨다. 이때, 검사용 제어신호는, 다수의 제3 스위치들을 스위칭시켜 소스 드라이버 IC에서 정상적인 화상 표시용 데이터신호가 출력되는 것을 중지시킨다. 이 상태에서 검사용 데이터신호는, 제1 입력핀(IP1)을 통해 오드 입력 패드들에 인가되고, 또한 제2 입력핀(IP1)을 통해 이븐 입력 패드들에 인가된다. 레이져 트리밍 이후의 검사용 데이터패턴은 그레이 패턴, 화이트 패턴, 블랙 패턴으로 구현될 수 있다.

도 5는 스위칭 작용을 통해 오토 프로브 검사가 가능한 소스 드라이버 IC(DIC)의 내부 구성을 보여준다. 도 6a는 검사용 제어신호가 제1 논리로 입력될 때의 스위치들의 스위칭 상태를 보여주고, 도 6b는 검사용 제어신호가 제2 논리로 입력될 때의 스위치들의 스위칭 상태를 보여준다.

도 5를 참조하면, 소스 드라이버 IC(DIC)는 데이터전압 발생부(121), 버퍼부(122), 및 스위치 어레이(123)를 구비한다.

데이터전압 발생부(121)는 입력 디지털 비디오 데이터(RGB)를 화상 표시용 데이터신호로 변환한다. 데이터전압 발생부(121)는 래치 어레이, 감마보상전압 발생부, 디지털-아날로그 변환부 등을 포함할 수 있다.

버퍼부(122)는 다수의 버퍼들(BUF)을 포함하여 데이터전압 발생부(121)에서 발생된 화상 표시용 데이터신호를 완충한 후 오드 및 이븐 출력 채널들(CH1~CHn)에 공급한다.

스위치 어레이(123)는 제1 스위치들(SW1), 제2 스위치들(SW2), 제3 스위치들(SW3), 제1 검사용 스위치(SWx), 및 제2 검사용 스위치(SWy)를 포함한다.

제1 스위치들(SW1)은 검사용 제어신호에 응답하여 입력 패드들(P1~Pn) 중 오드 입력 패드들(P1,P3,...,Pn-1)에 대응되는 오드 출력 채널들(CH1,CH3,...,CHn-1) 간의 전기적 접속 여부를 스위칭한다. 제1 스위치들(SW1)은 이웃한 오드 출력 채널들(CH1,CH3,...,CHn-1) 사이마다 접속된다.

제2 스위치들(SW2)은 검사용 제어신호에 응답하여 입력 패드들(P1~Pn) 중 이븐 입력 패드들(P2,P4,...,Pn)에 대응되는 이븐 출력 채널들(CH2,CH4,...,CHn) 간의 전기적 접속 여부를 스위칭한다. 제2 스위치들(SW2)은 이웃한 이븐 출력 채널들(CH2,CH4,...,CHn) 사이마다 접속된다.

제3 스위치들(SW3)은 검사용 제어신호에 응답하여 버퍼부(122)와 오드 출력 채널들(CH1,CH3,...,CHn-1) 사이의 전류 패스를 스위칭함과 아울러, 버퍼부(122)와 이븐 출력 채널들(CH2,CH4,...,CHn) 사이의 전류 패스를 스위칭한다. 제3 스위치들(SW3)은 이웃한 출력 채널들(CH1~CHn) 사이마다 접속된다.

제1 검사용 스위치(SWx)는 검사용 제어신호에 응답하여 제1 오토 프로브 구동 범퍼(OBMP)를 오드 출력 채널들(CH1,CH3,...,CHn-1)에 연결시킨다. 그리고, 제2 검사용 스위치(SWy)는 검사용 제어신호에 응답하여 제2 오토 프로브 구동 범퍼(EBMP)를 이븐 출력 채널들(CH2,CH4,...,CHn)에 연결시킨다.

검사용 제어신호는 검사 공정을 위해 제1 논리로 발생되고, 그 외에는 제2 논리로 발생될 수 있다. 여기서, 제1 논리는 하이 논리로, 제2 논리는 로우 논리로 선택될 수 있으나, 그 반대일 수도 있다.

제1 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 제1 및 제2 스위치들(SW1,SW2)과 제1 및 제2 검사용 스위치(SWx,SWy)는 턴 온 되고, 제3 스위치들(SW3)은 턴 오프 될 수 있다. 이를 위해, 제3 스위치들(SW3)의 제어단자에는 인버터(INV)를 통해 반전된 검사용 제어신호가 입력될 수 있다. 제1 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 도 6a와 같이 오드 입력 패드들(P1,P3,...,Pn-1)에는 오드 출력 채널들(CH1,CH3,...,CHn-1)을 통해 검사용 데이터신호가 입력되고, 이븐 입력 패드들(P2,P4,...,Pn)에는 이븐 출력 채널들(CH2,CH4,...,CHn)을 통해 상기 검사용 데이터신호가 입력된다. 도 6a를 통해 알 수 있듯이, 본 발명은 스위칭 작용을 통해 오토 프로브 검사를 구현할 수 있게 된다.

한편, 제2 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 제1 및 제2 스위치들(SW1,SW2)과 제1 및 제2 검사용 스위치(SWx,SWy)는 턴 오프 되고, 제3 스위치들(SW3)은 턴 온 될 수 있다. 제2 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 도 6b와 같이 입력 패드들(P1~Pn)에는 출력 채널들(CH1~CHn)을 통해 화상 표시용 데이터신호가 입력되며, 그 결과 소스 드라이버 IC는 정상 구동된다.

상술한 바와 같이, 본 발명은 레이져 트리밍 후에도 오토 프로브 재검이 가능하여, 패널 불량인지 또는, 회로부와 기구부 불량인지 명확하지 않은 경우, 액정 모듈 또는 보드 어셈블리를 분리할 필요없이 패널을 대상으로만 따로 화면 구동이 가능하다. 이를 통해 본 발명은 인력, 비용, 시간 등을 절약할 수 있어 보다 효율적으로 불량 대상 및 위치를 분석할 수 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

10 : 표시패널 11 : 타이밍 콘트롤러
12 : 데이터 드라이버 13 : 게이트 드라이버

Claims

다수의 데이터라인들에 연결된 다수의 입력 패드들을 갖는 표시패널;
검사용 제어신호를 출력하는 드라이버 IC 구동 범퍼;
검사용 데이터신호를 출력하는 제1 오토 프로브 구동 범퍼와 제2 오토 프로브 구동 범퍼;
상기 검사용 제어신호에 응답하여, 상기 입력 패드들 중 오드 입력 패드들에 대응되는 오드 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 다수의 제1 스위치들과, 상기 입력 패드들 중 이븐 입력 패드들에 대응되는 이븐 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 다수의 제2 스위치들과, 상기 제1 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 오드 출력 채널들에 연결시키는 제1 검사용 스위치와, 상기 제2 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 이븐 출력 채널들에 연결시키는 제2 검사용 스위치를 포함한 드라이버 IC를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
제 1 항에 있어서,
상기 드라이버 IC는,
입력 디지털 비디오 데이터를 화상 표시용 데이터신호로 변환하는 데이터전압 발생부;
상기 화상 표시용 데이터신호를 완충하여 상기 오드 및 이븐 출력 채널들에 공급하는 다수의 버퍼들을 갖는 버퍼부; 및
상기 검사용 제어신호에 응답하여, 상기 버퍼부와 상기 오드 출력 채널들 사이의 전류 패스를 스위칭함과 아울러, 상기 버퍼부와 상기 이븐 출력 채널들 사이의 전류 패스를 스위칭하는 다수의 제3 스위치들을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
제 2 항에 있어서,
상기 검사용 제어신호는 검사 공정을 위해 제1 논리로 발생되고, 그 외에는 제2 논리로 발생되며;
상기 제1 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 스위치들과 상기 제1 및 제2 검사용 스위치는 턴 온 되고, 상기 제3 스위치들은 턴 오프 되며;
상기 제2 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 스위치들과 상기 제1 및 제2 검사용 스위치는 턴 오프 되고, 상기 제3 스위치들은 턴 온 되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
제 3 항에 있어서,
상기 제1 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 상기 오드 입력 패드들에는 상기 오드 출력 채널들을 통해 상기 검사용 데이터신호가 입력되고, 상기 이븐 입력 패드들에는 상기 이븐 출력 채널들을 통해 상기 검사용 데이터신호가 입력되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
제 4 항에 있어서,
상기 제2 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 상기 입력 패드들에는 상기 오드 및 이븐 출력 채널들을 통해 상기 화상 표시용 데이터신호가 입력되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
다수의 데이터라인들에 연결된 다수의 입력 패드들을 갖는 표시패널과, 상기 입력 패드들에 대응되는 다수의 출력 채널들을 갖는 드라이버 IC를 포함한 액정표시장치의 점등 검사방법에 있어서,
드라이버 IC 구동 범퍼를 통해 검사용 제어신호를 출력하는 단계;
제1 오토 프로브 구동 범퍼와 제2 오토 프로브 구동 범퍼를 통해 검사용 데이터신호를 출력하는 단계;
상기 검사용 제어신호를 다수의 제1 스위치들에 인가하여 상기 입력 패드들 중 오드 입력 패드들에 대응되는 상기 출력 채널들 중 오드 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 단계;
상기 검사용 제어신호를 다수의 제2 스위치들에 인가하여 상기 입력 패드들 중 이븐 입력 패드들에 대응되는 상기 출력 채널들 중 이븐 출력 채널들간의 전기적 접속 여부를 스위칭하는 단계;
상기 검사용 제어신호를 제1 검사용 스위치에 인가하여 상기 제1 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 오드 출력 채널들에 연결시키는 단계; 및
상기 검사용 제어신호를 제2 검사용 스위치에 인가하여 상기 제2 오토 프로브 구동 범퍼를 상기 이븐 출력 채널들에 연결시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 검사방법.
제 6 항에 있어서,
입력 디지털 비디오 데이터에 대응되는 화상 표시용 데이터신호를 버퍼부를 통해 완충하여 상기 오드 및 이븐 출력 채널들에 공급하는 단계; 및
상기 검사용 제어신호를 다수의 제3 스위치들에 인가하여, 상기 버퍼부와 상기 오드 출력 채널들 사이의 전류 패스를 스위칭함과 아울러, 상기 버퍼부와 상기 이븐 출력 채널들 사이의 전류 패스를 스위칭하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 검사방법.
제 7 항에 있어서,
상기 검사용 제어신호는 검사 공정을 위해 제1 논리로 발생되고, 그 외에는 제2 논리로 발생되며;
상기 제1 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 스위치들과 상기 제1 및 제2 검사용 스위치는 턴 온 되고, 상기 제3 스위치들은 턴 오프 되며;
상기 제2 논리의 검사용 제어신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 스위치들과 상기 제1 및 제2 검사용 스위치는 턴 오프 되고, 상기 제3 스위치들은 턴 온 되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 검사방법.
제 8 항에 있어서,
상기 제1 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 상기 오드 입력 패드들에는 상기 오드 출력 채널들을 통해 상기 검사용 데이터신호가 입력되고, 상기 이븐 입력 패드들에는 상기 이븐 출력 채널들을 통해 상기 검사용 데이터신호가 입력되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 검사방법.
제 9 항에 있어서,
상기 제2 논리의 검사용 제어신호가 인가될 때, 상기 입력 패드들에는 상기 오드 및 이븐 출력 채널들을 통해 상기 화상 표시용 데이터신호가 입력되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 점등 검사방법.