KR20140059688A - 에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법 - Google Patents

Abstract

에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법을 공개한다. 본 발명은 전자 총에서 방출되는 전자 빔을 시료에 조사하고, 시료에서 방출되는 형광 엑스레이를 수집하여 시료에 포함된 원소를 분석하는 형광 분석기의 스캔 방법에 있어서, 형광 분석기는 시료에서 분석하고자 하는 관심 영역을 설정하는 단계, 관심 영역을 복수개의 세부 구역으로 분할하는 단계, 전자 빔이 조사되는 스팟 크기를 세부 구역의 크기에 대응하여 설정하는 단계, 전자 빔의 세기와 세부 구역의 크기 및 시료의 종류에 따라 전자 빔에 의해 시료의 변형이 발생되는 시간보다 짧게 빔 조사 시간을 설정하는 단계, 복수개의 세부 구역 각각에 대해 빔 조사 시간동안 전자 빔을 조사하여 형광 엑스레이를 수집하여 스펙트럼을 측정하고, 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계 및 누적하여 저장된 스펙트럼이 분석 가능한 스펙트럼인지 판별하여 분석할 수 없는 스펙트럼이면, 누적하여 저장된 스펙트럼이 분석 가능한 스펙트럼으로 판별될 때까지 복수개의 세부 구역 각각에 대해 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계를 반복하여 수행하는 단계를 포함한다.

Description

에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법{FRAME ACCUMULATION SCANNING METHOD FOR ENERGY DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER}

본 발명은 에너지 분산형 형광 분석기의 스캔 방법에 관한 것으로, 특히 에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법에 관한 것이다.

결함 등 특정영역을 분석하기 위해서는 일반적으로 FIB(Focused Ion Beam) 및 다이싱 소우(dicing saw)를 이용하여 샘플(sample)을 제작한 후 TEM(Transmission Electron Microscope : 투과전자현미경)으로 분석하고 있으며, 미소영역에 대한 성분분석에는 에너지 분산형 형광 분석기(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy : EDS)가 널리 사용되고 있다.

그리고 DRAM 등 반도체디바이스의 집적도가 향상되어 감에 따라 불량이나 결함등의 크기도 점점 작아지고 있으며, 미소영역에 대한 분석 필요성도 점점 증가하고 있다.

도1 은 기존의 형광 분석기의 동작 원리를 나타낸다.

도1 을 참조하면, 형광 분석기는 우선 전자총(Electron Gun)의 필라멘트에 전원을 가하여 열전자가 방출되면, 애노드(Anode)는 방출된 전자를 가속하여 전자 빔(Electron Beam)을 형성한다. 그리고 형성된 전자 빔은 마그네틱 렌즈(Manetic Lens)로 집약 되어 시료(Specimen) 방향으로 집중되어 주사된다. 즉 마그네틱 렌즈는 집속 렌즈로서의 역할을 수행한다. 그리고 X선 검출기(X-Ray Detector)는 전자의 충돌로 인해 시료에서 발생하는 형광 엑스레이를 검출한다.

즉 형광 분석기는 시료의 특정 위치에 전자 빔을 조사하고, 조사된 전자 빔에 의해 시료로부터 방출되는 형광 엑스레이를 검출하여, 시료를 구성하는 원소의 구성을 판별하거나 시료의 표면 형상을 판별한다. 즉 시료의 정성 및 정량 분석을 수행한다.

그러나 형광 분석기의 경우에 동일한 영역에 대해 일정 시간 이상 전자 빔을 조사하게 되면, 열변형과 같은 내부 변화가 시료에서 발생할 수 있다. 이에 동일한 전자 총의 에너지에 대해 전자 빔의 스팟 크기(Spot Size)를 크게 하면 에너지 밀도가 분산되어 시료의 변형이 느리게 진행된다.

도2 는 측정하고자 하는 시료의 관심 영역을 나타내고, 도3 및 도4 는 기존의 형광 분석기의 스캔 방법의 일예를 나타낸다. 그리고 도5 는 도3 및 도4 의 스캔 방법에 의해 검출된 시료의 원소 스펙트럼의 일예를 나타낸다.

도2 에 도시된 바와 같이 시료(Specimen)의 특정 영역에 대해 관심 영역(Region of Interest : ROI)을 설정하더라도, 상기한 바와 같이 최근에는 미소영역에 대한 분석의 필요성이 증가함에 따라 측정하고자 하는 측정 대상 영역의 크기는 점차로 줄어들고 있으므로, 관심 영역 전체를 한 번에 측정하지 않고, 구역별로 구분하고, 구분된 세부 구역별로 측정하는 것이 일반적이다. 즉 관심 영역을 하나의 영역으로서 측정하는 것이 아니라 관심 영역 내에서도 각 구역별 특징을 측정할 수 있도록 한다. 이렇게 세부 구역별로 나누어 관심 영역을 측정하는 방식을 스캐닝 방법이라고 한다. 스캐닝 방법의 장점은 관심 영역(ROI) 내에서도 각 세부 구역별 차이를 명확하게 측정할 수 있다는 것이다. 도1 에서는 관심 영역(ROI) 전체가 동일한 원소들로 구성되는 것으로 도시하였으나, 실제로는 관심 영역(ROI) 내에서도 각 위치별로 원소들의 구성 및 함량이 서로 다를 수 있다. 이러한 위치별 원소들의 구성 및 함량의 차이를 판별하기 위해서는 관심 영역을 세분화하는 스캐닝 기법이 적합하다.

도2 에서는 스캐닝 방법으로 시료를 분석하기 위해 관심 영역을 9개의 구역으로 구분하고, 구분된 9개의 구역 각각에 대해 X축 및 Y축 좌표를 설정하였다. 그리고 9개의 구역 각각의 크기는 15nm X 15nm 인 것으로 가정한다. 관심 영역을 분석하기 위해 스캐닝 방법을 적용하면, 관심 영역의 세부 구역 좌표 (0, 0)에서 (2, 2)까지 순차적으로 측정하게 된다. 도2 에서는 현재 측정 대상 영역의 좌표가 (1, 1)인 것으로 도시하였다.

일반적으로 형광 분석기에서 전자총의 에너지는 고정되어 있다. 따라서 전자총의 에너지가 고정됨에 따라 전자 빔의 세기가 고정된다. 그리고 형광 분석기가 현재 측정 대상인 세부 구역의 크기에 대응하여 지름 15nm의 원형인 스팟 크기로 전자 빔을 조사하는 경우, 측정 시료가 25ms부터 변형이 발생하기 시작하는 것으로 가정하고, 측정 영역의 정성/정량 분석을 위한 충분한 스펙트럼(Specturm)을 구성하기 위한 스캔 시간(scan-time) 구간이 1초 인 것으로 가정한다.

스펙트럼을 구성하기 위한 스캔 시간(scan-time) 구간이 1초인데 반해 시료의 변형은 25ms 로부터 발생하기 시작하므로, 스팟 크기를 그대로 유지하는 경우에는 스캔 시간 구간 이전에 시료에 변형이 발생하게 되므로 정확하게 시료를 조사할 수 없게 된다. 전자 빔의 세기가 고정되어 있기 때문에, 스펙트럼을 구성하기 위한 스캔 시간(scan-time) 구간동안 시료에 변형이 발생하지 않도록 하기 위에서는 불가피하게 스팟 크기를 크게 할 수 밖에 없다.

이에 도3 에 도시된 바와 같이, 기존의 스캔 방식은 측정 대상 영역에 정확하게 대응하는 최적 스팟 사이즈(OSS)로서 측정 대상 영역에 전자 빔을 조사할 수 있음에도 불구하고, 시료의 변형을 방지하기 위해 스캔 시간(scan-time) 구간인 1초 동안 시료에 변형이 발생하지 않는 크기의 확장 스팟 사이즈(ESS)(예를 들면, 지름 40nm)로 시료를 측정할 수밖에 없었다.

확장 스팟 사이즈(ESS)로 시료를 측정하게 되는 경우에는 한가운데 측정 대상 영역 이외의 영역에 대해서도 전자 빔이 조사된다. 만일 도3 과 같이 최적 스팟 사이즈(OSS)에 대응하는 영역에 포함된 원소와 확장 스팟 사이즈(ESS)에 대응하는 영역에 포함된 원소가 동일하다면, 도5 의 (a)에 도시된 바와 같이 동일한 원소가 중첩되어 측정됨에 따라 실제 측정 대상 영역에 포함된 원소의 함량보다 더 많은 함량의 원소가 포함된 것으로 표시되어 나타난다. 도5 에서 실선은 확장 스팟 사이즈(ESS)로 측정된 전체 원소의 함량을 나타내고, 점선은 전체 원소의 함량 중 확장 스팟 사이즈(ESS)로 인해 측정 대상 영역을 제외한 불필요 영역에서 포함된 원소의 함량을 나타낸다.

비록 도3 에서는 확장 스팟 사이즈(ESS)를 활용함에도 확장 스팟 사이즈(ESS)를 이용하여 측정되는 범위가 관심 영역(ROI) 내부 영역이므로, 동일 원소의 함량만이 변화되었다.

그에 비해 도4 와 같이 관심 영역(ROI)의 가장 자리 좌표(2, 2)가 현재 측정 대상 영역이 되면, 확장 스팟 사이즈(ESS)의해 측정되는 영역에 관심 영역(ROI) 이외의 영역이 포함될 수도 있다. 그리고 이러한 관심 영역(ROI) 이외의 영역에 대해 전자 빔이 주사되면, 원하지 않는 원소가 검출될 수도 있다. 또한 관심 영역(ROI) 내에서도 모든 영역이 동일한 원소 구성을 갖지 않을 수도 있다. 이런 경우에도 확장 스팟 사이즈(ESS)의해 측정 대상 영역이 확장되면, 의도하지 않은 원소가 검출될 수 있다.

확장 스팟 사이즈(ESS)에 대응하는 영역에 포함된 원소가 최적 스팟 사이즈(OSS)에 대응하는 영역에 포함된 원소 이외의 원소를 포함하는 경우에는 도5 의 (b)에 도시된 바와 같이 측정되지 않아야 하는 원소가 포함되어 표시된다. 도5 의 (b)에서 점선은 관심 영역(ROI) 이외의 영역에 전자 빔이 주사됨에 따라 추가로 검출된 원소의 스펙트럼을 나타낸다.

결과적으로 기존의 형광 분석기의 스캔 방식은 시료의 변형을 방지하기 위해 불필요하게 크기가 확장된 확장 스팟 사이즈(ESS)로 시료를 스캔함에 따라 시료의 관심 영역(ROI)의 측정 영역의 범위를 줄이는데 한계가 있어 정밀하고 정확한 측정을 수행할 수 없는 한계가 있었다. 즉 측정 영역의 크기가 크게 설정됨에 따라 관심 영역에 포함된 원소의 함량이 정확하게 측정되지 않을 뿐만 아니라, 원소의 분포를 확장 스팟 사이즈(ESS)에 대응하는 해상도로 획득할 수밖에 없으므로, 시료의 분석에 정확도가 떨어지는 문제가 있었다.

본 발명의 목적은 관심 영역에 대해 고해상도로 정확한 측정이 가능한 에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법을 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 예에 따른 에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법은 전자 총에서 방출되는 전자 빔을 시료에 조사하고, 상기 시료에서 방출되는 형광 엑스레이를 수집하여 상기 시료에 포함된 원소를 분석하는 형광 분석기의 스캔 방법에 있어서, 상기 형광 분석기는 상기 시료에서 분석하고자 하는 관심 영역을 설정하는 단계; 상기 관심 영역을 복수개의 세부 구역으로 분할하는 단계; 상기 전자 빔이 조사되는 스팟 크기를 상기 세부 구역의 크기에 대응하여 설정하는 단계; 상기 전자 빔의 세기와 상기 세부 구역의 크기 및 상기 시료의 종류에 따라 상기 전자 빔에 의해 상기 시료의 변형이 발생되는 시간보다 짧게 빔 조사 시간을 설정하는 단계; 상기 복수개의 세부 구역 각각에 대해 상기 빔 조사 시간동안 전자 빔을 조사하여 형광 엑스레이를 수집하여 스펙트럼을 측정하고, 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계; 및 누적하여 저장된 상기 스펙트럼이 분석 가능한 스펙트럼인지 판별하여 분석할 수 없는 스펙트럼의 양이면, 상기 누적하여 저장된 스펙트럼이 분석 가능한 스펙트럼으로 판별될 때까지 상기 복수개의 세부 구역 각각에 대해 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계를 반복하여 수행하는 단계;를 포함한다.

상기 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계는 상기 복수개의 세부 구역 각각에 대해 개별적으로 스펙트럼을 측정하고, 동일한 세부 구역에 대한 스펙트럼을 누적하여 저장하는 것을 특징으로 한다.

상기 복수개의 세부 구역은 동일한 크기의 영역으로 분할되는 것을 특징으로 한다.

상기 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계는 상기 복수개의 세부 구역 중 기설정된 복수개의 인접한 세부 구역들을 포함하는 적어도 하나의 그룹을 구성하고, 상기 적어도 하나의 그룹에 포함된 상기 복수개의 세부 구역들에 대한 스펙트럼을 누적하여 저장하는 것을 특징으로 한다.

따라서, 본 발명의 에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법은 측정하고자 하는 미소 영역의 크기에 대응하는 스팟 크기로 스캔을 수행하면서도 시료의 변형을 방지할 수 있으므로, 기존의 스캔 방법보다 매우 정밀한 고해상도로 관심 영역에 대해 정확한 측정을 수행할 수 있다.

도1 은 기존의 형광 분석기의 동작 원리를 나타낸다.
도2 는 측정하고자 하는 시료의 관심 영역을 나타낸다.
도3 및 도4 는 기존의 형광 분석기의 스캔 방법의 일예를 나타낸다.
도5 는 도3 및 도4 의 스캔 방법에 의해 검출된 시료의 원소 스펙트럼의 일예를 나타낸다.
도6 은 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법의 개념을 나타낸 도면이다.
도7 은 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법을 나타낸다.
도8 은 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법의 다른 활용 예를 나타낸다.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로서, 본 발명을 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 설명하는 실시예에 한정되는 것이 아니다. 그리고, 본 발명을 명확하게 설명하기 위하여 설명과 관계없는 부분은 생략되며, 도면의 동일한 참조부호는 동일한 부재임을 나타낸다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 “포함”한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 “...부”, “...기”, “모듈”, “블록” 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.

도6 은 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법의 개념을 나타낸 도면이다.

도6 에서 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법은 최적 스팟 크기(OSS)로 전체 관심 영역(ROI)을 지그재그형태로 순차적으로 스캔한다. 여기서 최적 스팟 크기(OSS)는 사용자가 관심 영역(ROI) 전체 영역을 측정하고자 하는 크기의 복수개의 세부 구역으로 분할하면, 복수개의 세부 구역 각각에 대응하는 크기로 설정된다. 그리고 각 세부 구역에 대한 빔 조사 시간은 현재 설정된 전자 총의 전자 빔에 의해 시료가 변형되는 시간(예를 들면 25ms) 이내의 시간(예를 들면 20ms)으로 설정된다. 각 세부 구역에 대한 빔 조사 시간이 시료가 변형되는 시간 이내로 설정됨에 따라, 빔 조사 시간이 각 세부 구역으로부터 스펙트럼을 구성하기 위한 스캔 시간(scan-time) 구간(예를 들면 1초)에 대한 시간보다 짧게 되어 한 번의 전자 빔 조사로 측정 영역의 정성/정량 분석을 위한 충분한 스펙트럼을 구성할 수 없다.

이에 본 발명에서는 관심 영역 내의 복수개의 세부 구간 각각에 대해 빔 조시 시간동안 전자 빔을 조사하여 측정하는 작업을 정성/정량 분석을 위한 스펙트럼을 구성할 수 있을 때까지 반복하여 수행한다. 상기한 바와 같이 시료는 전자 빔이 장시간 조사되면 열 변형이 발생한다. 그러나 전자 빔 조사 시간이 짧으면, 스펙트럼을 구성할 수 없다. 이에 본 발명에서는 상기한 2가지 문제를 동시에 해결하기 위해 전자 빔 조사를 스캔 시간동안 연속적으로 수행하는 것이 아니라 분할하고 분산하여 조사를 수행한다. 즉 복수개의 세부 구역에 대해 순차적으로 빔 조사 시간 동안 1회 조사하고, 다시 최초 위치로부터 복수개의 세부 구역에 대해 순차적으로 빔 조사 시간 동안 전자 빔을 반복하여 조사한다. 이렇게 빔을 짧은 시간으로 나누어 분산 조사하게 되면, 다른 세부 구역에 대해 빔을 조사하는 동안 이전 세부 구역에는 빔 조사에 의한 변형이 발생하지 않는다. 그리고 이러한 작업을 반복 수행하여 측정된 값을 누적함으로서 정성/정량 분석을 위한 스펙트럼을 구성할 수 있게 된다.

뿐만 아니라 시료의 변형을 방지하기 위해 스팟 크기를 확장하는 기존의 스캔 방식과 달리 스팟 크기를 확장할 필요가 없으므로, 작은 스팟 크기로 측정이 가능하다. 이는 관심 영역(ROI)를 매우 작은 크기의 세부 구역으로 구분하여도 측정이 가능하다는 것을 의미한다. 따라서 세부 구역 각각에 대해 정확한 측정 및 분석이 가능해지게 된다. 즉 도6 에 도시된 바와 같이 관심 영역(ROI) 내에서도 시료의 각 구성이 서로 상이한 영역(E1 ~ E3)가 존재하는 경우에도, 세부 구역의 크기를 작게 설정할 수 있으므로, 각 세부 영역에 대해 정확한 측정 및 분석이 가능하며, 서로 원소의 구성이 상이한 영역들의 구분을 명확하게 할 수 있다.

도7 은 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법을 나타낸다.

도6 을 참조하여 도7 의 형광 분석기의 스캔 방법을 설명하면, 형광 분석기는 먼저 시료에서 관심 영역(ROI)을 설정하고, 설정된 관심 영역(ROI)을 균등한 크기로 분할한 복수개의 세부 구역을 설정한다(S11). 여기서 관심 영역 및 복수개의 세부 구역은 사용자가 인가하는 명령에 응답하여 설정될 수 있으며, 복수개의 세부 구역의 크기 또한 사용자의 명령에 응답하여 설정될 수 있다. 그리고 본 발명에서는 스팟의 크기를 확장할 필요가 없어짐에 따라 세부 구역을 기존의 스캔 방법보다 매우 작은 크기로 설정할 수 있다.

관심 영역(ROI) 및 세부 구역이 설정되면, 전자 총을 설정하여 전자 빔의 세기를 조절한다(S12). 전자 빔의 세기가 조절되면, 스팟 크기를 설정한다(S13). 스팟 크기는 복수개의 세부 구역 각각의 크기에 대응하는 크기로 설정되는 것이 바람직하다. 예를 들어 세부 구역의 크기가 가로, 세로 15nm 인 정사각형이라면, 스팟 크기는 지름 15nm의 원으로 설정될 수 있다. 즉 도3 과 달리 스팟 크기를 세부 구역의 크기에 적합하게 대응시킬 수 있다.

그리고 설정된 전자 빔의 세기와 스팟 크기 및 시료를 고려하여 세부 구역별 주사 시간인 빔 조사 시간을 설정한다(S14). 여기서 빔 조사 시간에 전자 빔의 세기와 스팟 크기 및 시료를 고려하는 것은 시료의 변형 시간이 상기한 3가지에 의해 결정되기 때문이다. 빔 조사 시간은 상기한 바와 같이 전자 빔의 조사로 인해 시료의 변형이 발생하는 시간보다 짧은 시간으로 설정된다.

빔 조사 시간이 설정되면, 관심 영역(ROI)의 복수개의 세부 구역 중 스캔을 시작할 세부 구역에 대응하는 위치를 설정한다(S15). 즉 복수개의 세부 구역을 순차적으로 스캔하기 위한 초기 세부 구역 위치를 설정한다.

그리고 세부 구역별로 빔 조사 시간동안 빔을 조사한다(S16). 세부 구역에 대해 빔을 조사함에 의해 형광 엑스레이가 시료로부터 방출되고, 형광 엑스레이 검출기는 방출된 형광 엑스레이를 검출하여 전자 빔이 조사된 세부 구역의 스펙트럼을 측정한다(S17). 이후 측정된 세부 구역 스펙트럼을 저장한다(S18). 이때 세부 구역 스펙트럼은 동일한 세부 구역에 대해 이전 측정된 스펙트럼이 존재하면 이전 측정된 스펙트럼에 현재 측정된 스펙트럼을 누적하여 저장한다.

하나의 세부 구역에 대해 스펙트럼이 측정되어 저장되면, 관심 영역의 모든 세부 구역에 대해 스캔이 완료되었는지 판별한다(S19). 만일 스캔이 수행되지 않은 세부 구역이 존재하면, 측정할 세부 구역을 이동한다(S20). 이때 측정할 세부 구역은 마지막 측정된 세부 구역에 인접한 세부 구역일 수 있다. 그리고 이동된 세부 구역에 대해 다시 빔을 조사한다(S16). 반면 관심 영역 전체에 대해 스캔이 완료되었으면, 누적되어 저장된 관심 영역(ROI)의 세부 구역별 스펙트럼이 분석 가능한지 판별한다. 판별 결과 세부 구역별 스펙트럼이 분석 가능하지 않으면, 다시 스캔 시작 위치로 설정된 세부 구역으로 전자 총의 전자 빔 조사 방향을 이동시킨다(S22). 그리고 세부 구역에 대해 빔을 조사하여 관심 영역 전체에 대해 다시 스캔을 수행한다. 만일 누적 저장된 스펙트럼이 분석 가능한 것으로 판별되면, 관심 영역에 대한 스캔을 종료하고 저장된 스펙트럼을 이용하여 관심 영역을 분석한다(S23).

결과적으로 본 발명의 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법은 관심 영역을 복수개의 세부 구역으로 구성된 프레임으로 생각하고, 복수개의 세부 구역 각각을 프레임을 구성하는 픽셀의 개념으로 고려한다. 그리고 복수개의 픽셀 각각에 대해 시료의 변형이 발생하는 시간 이내의 시간으로 빔을 조사하여 전체 프레임의 스펙트럼을 획득하고, 획득된 프레임의 스펙트럼이 분석 가능한 수준이 될 때까지, 반복적(예를 들면 5회)으로 픽셀 각각에 대해 빔을 조사하여 측정되는 스펙트럼을 누적함으로서 관심 영역인 프레임에 대한 스캔을 수행한다.

도8 은 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법의 다른 활용 예를 나타낸다.

도6 및 도7 에서는 관심 영역을 복수개의 세부 구역으로 분할하고, 분할된 세부 구역 각각에 대해서 반복적으로 빔 조사시간 동안 전자 빔을 조사하여 측정을 수행하였다. 이렇게 측정된 관심 영역은 세부 구역별로 스펙트럼이 별도로 저장됨로 관심 영역의 세부적인 특징을 잘 파악할 수 있는 장점이 있으나, 경우에 따라서는 관심 영역에 대해 세부 구역보다 큰 크기 영역으로 분석을 수행해야 할 수도 있다. 이 경우, 본 발명에 따른 형광 분석기의 스캔 방법은 기설정된 소정 개수의 세부 구역(예를 들면 4개)을 하나의 그룹으로 묶어, 그룹 단위로 측정을 수행할 수도 있다. 즉 하나의 그룹으로 구성되는 4개의 세부 구역에 대해 측정을 수행하고, 측정되는 4개의 세부 구역의 값을 누적하여 하나의 측정값으로 설정할 수 있다. 이 경우 4개의 세부 구역의 값이 누적되어 스캔됨에 따라 스팟 크기의 면적이 4배로 확장된 것과 유사한 결과를 도출할 수 있다. 하나의 그룹에 대한 스캔이 완료되면, 다시 인접한 다른 그룹에 대해 측정을 수행할 수 있다. 이렇게 그룹으로 세부 구역을 묶는 경우, 세부 구역에 대응하도록 설정된 스팟 크기를 크게 그룹에 대응하도록 확장한 것과 유사한 효과를 나타낸다. 즉 그룹 내에 포함된 세부 구역들에 대한 스펙트럼을 모두 누적하여 저장할 수 있다.

본 발명에 따른 방법은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.

따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

Claims (5)

1. 전자 총에서 방출되는 전자 빔을 시료에 조사하고, 상기 시료에서 방출되는 형광 엑스레이를 수집하여 상기 시료에 포함된 원소를 분석하는 형광 분석기의 스캔 방법에 있어서, 상기 형광 분석기는
   상기 시료에서 분석하고자 하는 관심 영역을 설정하는 단계;
   상기 관심 영역을 복수개의 세부 구역으로 분할하는 단계;
   상기 전자 빔이 조사되는 스팟 크기를 상기 세부 구역의 크기에 대응하여 설정하는 단계;
   상기 전자 빔의 세기와 상기 세부 구역의 크기 및 상기 시료의 종류에 따라 상기 전자 빔에 의해 상기 시료의 변형이 발생되는 시간보다 짧게 빔 조사 시간을 설정하는 단계;
   상기 복수개의 세부 구역 각각에 대해 상기 빔 조사 시간동안 전자 빔을 조사하여 형광 엑스레이를 수집하여 스펙트럼을 측정하고, 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계; 및
   누적하여 저장된 상기 스펙트럼 양이 분석 가능한 스펙트럼인지 판별하여 분석할 수 없는 스펙트럼의 양이면, 상기 누적하여 저장된 스펙트럼이 분석 가능한 스펙트럼으로 판별될 때까지 상기 복수개의 세부 구역 각각에 대해 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계를 반복하여 수행하는 단계;를 포함하는 형광 분석기의 스캔 방법.
   
2. 제1 항에 있어서, 상기 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계는
   상기 복수개의 세부 구역 각각에 대해 개별적으로 스펙트럼을 측정하고, 동일한 세부 구역에 대한 스펙트럼을 누적하여 저장하는 것을 특징으로 하는 형광 분석기의 스캔 방법.
   
3. 제1 항에 있어서, 상기 복수개의 세부 구역은
   동일한 크기의 영역으로 분할되는 것을 특징으로 하는 형광 분석기의 스캔 방법.
   
4. 제1 항에 있어서, 상기 이전 측정된 스펙트럼에 누적하여 저장하는 단계는
   상기 복수개의 세부 구역 중 기설정된 복수개의 인접한 세부 구역들을 포함하는 적어도 하나의 그룹을 구성하고, 상기 적어도 하나의 그룹에 포함된 상기 복수개의 세부 구역들에 대한 스펙트럼을 누적하여 저장하는 것을 특징으로 하는 형광 분석기의 스캔 방법.
   
5. 제1 항 내지 제4 항 중 어느 한 항에 따른 형광 분석기의 스캔 방법을 수행하기 위한 프로그램 명령어가 기록된 기록매체.

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