KR20130143284A - 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법 - Google Patents
백라이트유닛 검사장치 및 검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20130143284A KR20130143284A KR1020120066706A KR20120066706A KR20130143284A KR 20130143284 A KR20130143284 A KR 20130143284A KR 1020120066706 A KR1020120066706 A KR 1020120066706A KR 20120066706 A KR20120066706 A KR 20120066706A KR 20130143284 A KR20130143284 A KR 20130143284A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- scan camera
- backlight unit
- image information
- inclination
- vertical
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95684—Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
본 발명은 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 측면에 따르면 확산시트와, 확산시트 상측에 적층되고 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량 여부를 검사하기 위한 검사장치에 있어서, 백라이트유닛이 안착되는 검사대; 검사대 상측에 배치되고, 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1수직스캔카메라; 검사대 상측에 배치되고, 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1경사스캔카메라; 및 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보에 따라 불량 여부를 판단하는 중앙처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치가 제공된다.
또한, 본 발명의 다른 측면에 따르면 확산시트와, 확산시트 상측에 적층되고 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량 여부를 검사하는 검사방법에 있어서, 백라이트유닛을 검사대 위에 안착시키는 안착단계; 검사대 상측에 배치된 제1수직스캔카메라를 통하여, 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1수직정보촬영단계; 검사대 상측에 배치된 제1경사스캔카메라를 통하여 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1경사정보촬영단계; 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하는 제1패턴분석단계; 및 제1패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단하는 제1불량판단단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사방법이 제공된다.
또한, 본 발명의 다른 측면에 따르면 확산시트와, 확산시트 상측에 적층되고 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량 여부를 검사하는 검사방법에 있어서, 백라이트유닛을 검사대 위에 안착시키는 안착단계; 검사대 상측에 배치된 제1수직스캔카메라를 통하여, 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1수직정보촬영단계; 검사대 상측에 배치된 제1경사스캔카메라를 통하여 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1경사정보촬영단계; 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하는 제1패턴분석단계; 및 제1패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단하는 제1불량판단단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사방법이 제공된다.
Description
본 발명은 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 용이하고 신속하게 불량이 발생 여부 및 불량의 종류를 판별하기 위한 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
일반적으로 LCD(Liquid Crystal Display)는 각종 정보를 표시하는 소자로, 자체 발광능력이 없으므로 후면에 광원을 배치하여 LCD 화면을 밝혀주어야 하는데, 이러한 역할을 하는 것이 바로 백라이트유닛(Back Light Unit, BLU)이다.
도 1을 참조하면, 백라이트유닛은 기본적으로 LED(광원, 6), 백라이트유닛을 구성하는 각각의 부품을 일체로 고정시키는 몰드 프레임(mold frame, 5), 광원으로부터 받아들인 빛을 화면 전영역에 걸쳐 균일하게 분포시키는 도광판(Light Guide Panel, 3), 도광판(3) 아랫면으로 빠져나오는 빛을 다시 반사시켜 도광판 내로 돌려보내는 반사 시트(Reflector Sheet, 4), 도광판 표면으로부터 일정한 방향으로 빠져나오는 빛을 산란시켜 도광판 표면 전반에 걸쳐 골고루 퍼지게 하는 확산 시트(Diffuser Sheet, 2), 및 확산시트(2)에서 나오는 빛을 굴절, 집광시켜 백라이트 표면에서 휘도를 상승시키는 프리즘 시트(Prism Sheet, 1)를 포함한다.
백라이트유닛은 상술한 도광판, 반사 시트, 확산 시트, 프리즘 시트 등을 적층하여 제조되는데, 이러한 제조 과정에서 시트들 자체에 이물이나 스크래치 등의 결함이 존재하거나, 적층되는 시트들 사이에 이물 등이 존재하여 제품 불량이 발생될 수 있다.
이에 따라 위와 같은 불량을 검출하기 위해 한국등록특허 제10-0826097호(2008.04.23) "액정표시장치의 백라이트유닛 검사장치"에서는 불량 백라이트유닛을 취출함과 더불어 검사 카메라를 통하여 백라이트유닛을 검사하는 검사장치를 개시하고 있다.
이러한 한국등록특허 제10-0826097호에서는 구체적으로, 조립완료된 백라이트유닛 상에 이물질, 백점, 흑점, 얼룩, 스크래치와 같은 각종 결함이 존재하는지를 검사하여 불량여부를 판별하게 하는 액정표시장치의 백라이트유닛 검사장치에 있어서, 본체; 본체에 축결합되어 회전되는 회전판과, 회전판의 상부에 결합되며 점등체가 형성된 수납홈을 갖는 수납지그가 구비된 회전체; 본체의 상부에 설치되며, 수납홈에 수납된 백라이트유닛의 보호필름을 제거하는 보호필름제거부가 구비된 보호필름 제거수단; 본체의 상부에 설치되며, 보호필름이 제거된 후 회전체에 의해 이동된 백라이트유닛의 수평 방향에서 화면내 불량을 검사하는 제1스캔카메라가 구비된 백라이트유닛 1차검사체; 본체의 상부에 설치되며, 백라이트유닛 1차검사체를 거쳐 이동된 백라이트유닛의 수직 방향에서 화면내 불량을 검사하는 제2스캔카메라가 구비된 백라이트유닛 2차검사체; 본체의 상부에 설치되며, 백라이트유닛 2차검사체를 거쳐 이동된 백라이트유닛의 정면에서 화면내 불량을 검사하는 에어리어 카메라가 구비된 백라이트유닛 3차검사체; 본체의 상부에 설치되며, 백라이트유닛 3차검사체를 거쳐 이동된 백라이트유닛의 보호필름을 부착하는 필름흡착 가압부가 구비된 보호필름 부착수단; 본체의 상부에 설치되며, 보호필름 부착수단을 거쳐 이동된 양품과 불량 백라이트유닛을 자동으로 구분하여 취출하는 취출집게가 구비된 취출수단을 포함하며, 이 백라이트유닛 1차검사체는, 본체 상측에 설치되는 제2지지프레임과, 제2지지프레임의 상측에 결합되며 내부에 회전 가능하게 결합되는 제2볼스크류와 이 제2볼스크류를 회전시키는 제2수평 구동모터와 제2볼스크류 상에 고정되어 제2볼스크류를 따라 이동되는 제2슬라이딩부를 갖는 제2수평프레임과, 제2슬라이딩부에 결합되는 제2브래킷과 이 제2브래킷에 결합되어 백라이트유닛의 수평 방향에서 화면내 불량을 검사하는 제1스캔 카메라를 갖는 제1카메라부를 구비하도록 하고 있으며, 이에 따르면, 양품 및 불량 백라이트유닛을 구분하여 취출 함과 더불어 검사 카메라를 상하 좌우로 조절하여 검사의 정확도를 높일 수 있는 액정표시장치의 백라이트유닛 검사장치를 제공할 수 있는 효과가 있다.
그러나, 이러한 종래의 검사장치에서는 백라이트유닛의 각 부분을 검사하는 카메라가 개별적으로 설치되어 있고 각 카메라에서 촬영되는 이미지정보의 비교 내지는 조합이 어려워 구체적인 불량에 대한 정보를 파악하기 곤란하였다. 예컨대, 제1스캔 카메라는 어느 한 방향에서 백라이트유닛의 수평 방향 불량 여부를 촬영하고 제2스캔 카메라는 다른 방향에서 백라이트유닛의 수직 방향 불량 여부를 촬영하도록 하고 있는데, 제1스캔 카메라와 제2스캔 카메라가 각각 개별적으로 시간차를 두고 작동되는 것이므로 각 카메라에 의해 촬영된 정보의 비교 내지는 조합이 어렵고, 불량에 대한 정보의 신속한 도출이 곤란하였다.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 일 실시예는 백라이트유닛의 수직방향의 영상 및 경사방향의 영상을 동시에 얻도록 함으로써 각 영상정보(이미지정보)의 조합이 용이하게 이루어질 수 있고 결함의 신속한 발견이 가능하도록 하는 것과 관련된다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치는, 확산시트와, 상기 확산시트 상측에 적층되고 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량 여부를 검사하기 위한 검사장치에 있어서, 상기 백라이트유닛이 안착되는 검사대; 상기 검사대 상측에 배치되고, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1수직스캔카메라; 상기 검사대 상측에 배치되고, 상기 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1경사스캔카메라; 및 상기 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보에 따라 불량 여부를 판단하는 중앙처리부;를 포함한다.
상기 백라이트유닛에는 보호필름이 포함되고, 상기 검사대에 인접하여 형성되고 상기 백라이트유닛에서 분리된 상기 보호필름이 안착되는 고정용지그;를 더 포함한다.
상기 검사대는 상기 고정용지그와 함께 이동 가능하게 형성되되, 상기 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라의 배열방향과 직교하는 방향 또는 평행한 방향으로 이동한다.
상기 백라이트유닛에는, 상기 제1프리즘시트 상측에 적층되되 패턴이 다른 제2프리즘시트가 포함되고, 상기 백라이트유닛 검사장치는, 상기 검사대 상측에 배치되고 상기 제2프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2경사스캔카메라;를 더 포함하고, 상기 제2경사스캔카메라는 상기 제1경사스캔카메라를 거친 상기 백라이트유닛을 촬영하며, 상기 제2경사스캔카메라에 의한 이미지정보와 상기 제1경사스캔카메라의 이미지정보는 서로 직교하는 방향에서 촬영된다.
상기 제1경사스캔카메라와 제2경사스캔카메라는 서로 직교하는 방향을 바라보도록 배치된다.
상기 제1경사스캔카메라와 제2경사스캔카메라는 서로 평행한 방향을 바라보도록 배치되고, 상기 검사대는 상기 제1경사스캔카메라를 거친 후 90°회전한다.
상기 검사대 상측에 배치되고, 상기 제1수직스캔카메라를 거친 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2수직스캔카메라;를 더 포함하고, 상기 중앙처리부는 상기 제2수직스캔카메라와 제2경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보에 따라 불량 여부를 판단한다.
상기 제1경사스캔카메라는 한쌍으로 구비되고, 상기 제1수직스캔카메라를 중심으로 대칭된다.
상기 제2경사스캔카메라는 한쌍으로 구비되고, 상기 제2수직스캔카메라를 주심으로 대칭된다.
본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사방법은, 확산시트와, 상기 확산시트 상측에 적층되고 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량 여부를 검사하는 검사방법에 있어서, 상기 백라이트유닛을 검사대 위에 안착시키는 안착단계; 상기 검사대 상측에 배치된 제1수직스캔카메라를 통하여, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1수직정보촬영단계; 상기 검사대 상측에 배치된 제1경사스캔카메라를 통하여 상기 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1경사정보촬영단계; 상기 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하는 제1패턴분석단계; 및 상기 제1패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단하는 제1불량판단단계;를 포함한다.
상기 제1수직정보촬영단계와 제1경사정보촬영단계는 동일한 조건 또는 동일한 시간에 진행된다.
상기 백라이트유닛에는 보호필름이 포함되고, 상기 보호필름을 고정용지그에 안착시키는 보호필름안착단계를 더 포함한다.
상기 백라이트유닛에는 상기 제1프리즘시트 상측에 적층되되 패턴이 다른 제2프리즘시트가 포함되고, 상기 제1수직스캔카메라를 거친 후 상기 검사대 상측에 배치된 제2수직스캔카메라를 통하여, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2수직정보촬영단계; 상기 제1경사스캔카매라를 거친 후 상기 검사대 상측에 배치된 제2경사스캔카메라를 통하여 상기 제2프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2경사정보촬영단계; 상기 제2수직스캔카메라 및 제2경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하는 제2패턴분석단계; 및 상기 제2패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단하는 제2불량판단단계;를 더 포함한다.
상기 제2수직정보촬영단계와 제2경사정보촬영단계는 동일한 조건 또는 동일한 시간에 진행된다.
상술한 바와 같은 본 발명의 일 실시예에 따르면 우선, 제1수직스캔카메라와 제1경사스캔카메라를 통하여 백라이트유닛을 촬영하여 이미지정보를 얻게 됨으로써, 확산시트 및 제1프리즘시트를 통하여 투과되는 이미지 중 정면에서 감지되지 않는 불량이면서 측면에서 감지되는 불량에 대한 정보가 동시에 나타나게 되므로 신속한 불량감지가 가능하고, 제1수직스캔카메라와 제1경사스캔카메라를 통한 이미지의 조합을 통하여 불량의 위치를 보다 정확히 감지할 수 있게 된다.
또한, 제1경사스캔카메라는 제1프리즘시트의 이미지 패턴에 따라 그 경사를 조정할 수 있고, 제1수직스캔카메라를 중심으로 대칭으로 설치되므로 불량이 감지되지 않는 범위를 최소화할 수 있다.
또한, 제2프리즘시트의 패턴을 고려하여 제2경사스캔카메라와 제2수직스캔카메라가 더 설치되도록 함으로써, 모든 방향에서의 불량 검사가 함께 진행될 수 있다.
도 1은 일반적인 백라이트유닛의 기본 구조를 개략적으로 도시한 분해사시도,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치를 도시한 사시도,
도 3은 백라이트유닛의 시트별 동일 이물의 이미지 패턴변화를 도시한 도면,
도 4는 도 2에 따른 백라이트유닛 검사장치에서 일부 구성을 개략적으로 도시한 사시도,
도 5는 도 4에 따른 백라이트유닛 검사장치의 일부 구성을 도시한 평면도,
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치의 일부 구성을 개략적으로 도시한 평면도,
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사방법을 나타낸 순서도,
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사방법을 나타낸 순서도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치를 도시한 사시도,
도 3은 백라이트유닛의 시트별 동일 이물의 이미지 패턴변화를 도시한 도면,
도 4는 도 2에 따른 백라이트유닛 검사장치에서 일부 구성을 개략적으로 도시한 사시도,
도 5는 도 4에 따른 백라이트유닛 검사장치의 일부 구성을 도시한 평면도,
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치의 일부 구성을 개략적으로 도시한 평면도,
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사방법을 나타낸 순서도,
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사방법을 나타낸 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법을 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치를 도시한 사시도이고, 도 3은 백라이트유닛의 시트별 동일 이물의 이미지 패턴변화를 도시한 도면이며, 도 4는 도 2에 따른 백라이트유닛 검사장치에서 일부 구성을 개략적으로 도시한 사시도이다.
본 발명에 따른 백라이트유닛 검사장치는 도 1에 도시된 형태와 같은 백라이트유닛의 불량을 검사하기 위한 장치이며, 조립완료된 백라이트유닛 상에 이물질, 백점, 흑점, 얼룩, 스크래치와 같은 각종 결함이 존재하는지를 검사하기 위한 장치이다. 본 발명은 특히 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량을 검사하며, 상기 제1프리즘시트는 도 1에서 아래쪽에 위치하는 프리즘시트에 해당하는 것으로 이해될 수 있다.
다만, 도 1에서와 같이, (서로 다른 패턴이 형성된) 두 개의 프리즘시트를 반드시 갖는 백라이트유닛의 검사에만 사용되는 것은 아니고, 하나의 프리즘시트만을 갖는 백라이트유닛의 검사에도 사용될 수 있음은 물론이다. 즉, 도 1에서, 상측에 위치하는 프리즘시트(1)가 배제된, 단일의 프리즘시트를 갖는 형태의 백라이트유닛의 검사에도 사용될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 동일한 이물일지라도 서로 다른 시트에서 서로 다른 특징(예를 들어, 이미지 형태, 농도, 크기 등)을 지님을 알 수 있다.
좀더 구체적으로, 상부에 위치하는 프리즘시트 상에 이물이 존재하는 경우, 실측 크기와 검사 크기의 오차가 거의 발생하지 않는다. 그러나, 하부에 위치하는 프리즘시트 상에 이물이 존재하는 경우, 상기 상부 프리즘시트 상에서 하나의 이미지로 보이던 이물이 하부 프리즘시트 상에서는 여러 개의 이미지로 나타난다. 또한, 상기 이물이 확산시트 상에 존재하는 경우, 상기 상부 프리즘시트 및 상기 하부 프리즘시트에서와 달리 이미지가 상당히 약하게 보인다.
이러한 점은 광원으로부터 조사된 빛이, 확산시트, 제1프리즘시트(하부 프리즘시트) 및 제2프리즘시트(상부 프리즘시트)를 거치면서 각 시트에 위치하는 동일한 이물이 상이하게 보이도록 산란, 굴절 등이 되기 때문이다. 또한, 각 시트상에 위치하는 이물질, 백점, 흑점, 얼룩, 스크래치의 크기와 위치 등에 따라 이미지가 나타나지 않을 수 있다. 예컨대, 프리즘시트의 정면에서 나타나지 않는 불량에 대한 이미지라도, 보는 방향을 달리하여 촬영된 이미지에는 불량이 나타날 수 있다.
본 발명에서는 이러한 점을 고려하여 제1수직스캔카메라(31)와 함께 제1경사스캔카메라(32)가 구비되도록 하고 있으며, 이하 이를 좀더 구체적으로 설명한다.
본 발명에 따른 백라이트유닛 검사장치는, 고정용지그(20), 검사대(10), 제1수직스캔카메라(31), 제1경사스캔카메라(32) 및 중앙처리부를 포함한다.
조립이 완료된 상기 백라이트유닛에서 보호필름(보호시트)은 분리된 상태로 불량 검사가 이루어지며, 백라이트유닛에서 분리된 보호필름은 상기 고정용지그(20)에 안착된다.
상기 검사대(10)에는 보호필름이 분리된 백라이트유닛이 안착된다. 상기 검사대(10)는, 반복적인 검사를 위하여 다수개가 연속하여 배열되며, 각 검사대(10) 위에 백라이트유닛이 안착된다. 그리고, 후술하는 바와 같이 상기 검사대(10)는 일측 방향(수평 방향)으로 이동가능하게 형성되며, 상기 고정용지그(20)와 함께 이동한다. 그리고 상기 검사대(10)에는, 검사 대상이 되는 백라이트유닛을 점등시키는 점등수단(미도시)이 마련되며, 백라이트유닛이 점등된 상태에서 제1수직스캔카메라(31)와 제1경사스캔카메라(32)에 의하여 이미지정보가 촬영되게 된다.
상기 고정용지그(20)는 상기 검사대(10)와 함께 이동하고, 검사가 이루어지는 백라이트유닛에 인접하여 보호필름이 위치하게 되므로, 검사 완료 후 백라이트유닛에 용이하게 보호필름을 재결합할 수 있다.
상기 검사대(10) 상측으로는 제1수직스캔카메라(31)가 형성된다. 상기 제1수직스캔카메라(31)는 반원 형태의 제1고정프레임(30) 중앙에 고정되며 수직 아래를 바라보도록 형성된다.
그리고 상기 제1수직스캔카메라(31)는 검사 대상이 되는 백라이트유닛의 폭 전체에서 라인스캐닝이 가능하게 이루어지며 수직 방향에서 바라본 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영한다.
상기 제1고정프레임(30)에서, 상기 제1수직스캔카메라(31) 옆으로는 제1경사스캔카메라(32)가 설치되고, 상기 제1경사스캔카메라(32)는 경사방향에서 바라본 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영한다. 특히, 상기 제1경사스캔카메라(32)는 제1프리즘시트의 패턴에 대응된 각도로 경사를 유지하며, 상기 제1경사스캔카메라(32)의 촬영방향이 상기 제1프리즘시트의 패턴이 이루는 면에 수직을 이루도록 조정된다.
상기 제1경사스캔카메라(32) 또한 검사 대상이 되는 백라이트유닛의 폭 전체에서 라인스캐닝이 가능하게 이루어지며 경사 방향에서 바라본 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영한다.
상기 제1경사스캔카메라(32)는 한쌍으로 구비되어 상기 제1수직스캔카메라(31)를 중심으로 대칭된 형태로 형성되며, 상기 제1수직스캔카메라(31)와 두 개의 상기 제1경사스캔카메라(32)와 촬영방향의 연장선은 한 점에서 만나게 된다.
상기 제1수직스캔카메라(31)에 의한 이미지정보의 촬영과, 상기 제1경사스캔카메라(32)에 의한 이미지정보의 촬영은 동시에 이루어지거나 동일한 조건에서 이루어질 수 있다. 후자의 경우, 상기 제1수직스캔카메라(31)에 의한 이미지정보의 촬영 후 상기 제1경사스캔카메라(32)에 의한 이미지정보의 촬영이 이루어질 수 있으나, 백라이트유닛의 이동과 같은 어떠한 변화 없이 촬영이 이루어진다.
상기 중앙처리부는 상기 제1수직스캔카메라(31) 및 제1경사스캔카메라(32)에 의해 촬영된 이미지정보에 따라 불량 여부를 판단하고, 각 이미지를 조합하여 불량에 대한 하나의 데이터를 산출할 수 있다. 상기 중앙처리부는, 이미지정보를 미세한 다수의 구역으로 분할하고, 각 구역별 농도, 색상 등을 감지한 후 기준치 이상으로 구별되는 구역의 개수에 따라 불량을 판단하는 형태로 이루어질 수 있다.
이처럼, 본 발명에 따른 백라이트유닛 검사장치는, 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영함에 있어서 수직 방향에서 바라본 이미지정보와, 경사방향에서 바라본 이미지정보를 동시에 또는 동일한 조건에서 촬영할 수 있게 되므로, 불량에 대한 정확한 정보의 도출이 가능하게 된다.
예컨대, 제1수직스캔카메라(31)에 의하여 획득된 이미지정보에 따른 이물의 크기가 허용가능한 범위(작거나 무시할 수 있는 정도)라고 하더라도, 제1경사스캔카메라(32)에 의하여 획득된 이미지정보에 따른 이물의 크기가 불량의 범위라면, 중앙처리부는 바로 불량의 판단을 할 수 있으며 신속한 검사가 이루어지게 된다.
또한, 중앙처리부는 상기 제1수직스캔카메라(31)와 제1경사스캔카메라(32)에 의하여 동시에 또는 동일한 조건에서 이미지정보를 제공받게 되므로, 양 이미지에 대한 정보의 신속하고 용이한 조합이 가능하게 되며, 불량에 대한 입체적인 정보를 도출할 수 있다.
아울러, 상기 제1경사스캔카메라(32)에 의하여 촬영된 이미지정보는 백라이트유닛의 시야각에 대한 정보를 함께 제공할 수 있다.
도 5는 도 4에 따른 백라이트유닛 검사장치의 일부 구성을 도시한 평면도이고, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사장치의 일부 구성을 개략적으로 도시한 평면도이다.
본 발명에 따른 백라이트유닛 검사장치는, 제2경사스캔카메라(42) 및 제2수직스캔카메라(41)를 더 포함하여 이루어질 수 있다.
상기 제2수직스캔카메라(41)는 반원 형태의 제2고정프레임(40) 중앙에 고정되며 수직 아래를 바라보도록 형성된다. 상기 제2고정프레임(40)에 고정되는 상기 제2경사스캔카메라(42) 또한 한쌍으로 구비되어 상기 제2수직스캔카메라(41)를 중심으로 대칭된 형태로 형성되며, 상기 제2수직스캔카메라(41)와 두 개의 상기 제2경사스캔카메라(42)와 촬영방향의 연장선은 한 점에서 만나게 된다.
상기 제2수직스캔카메라(41) 및 제2경사스캔카메라(42)의 구조 및 작동은, 상기 제1수직스캔카메라(31) 및 제1경사스캔카메라(32)와 동일하며, 다만 상기 제1수직스캔카메라(31) 및 제1경사스캔카메라(32)가 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영한 후, 상기 제2수직스캔카메라(41) 및 제2경사스캔카메라(42)가 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영한다.
상술한 바와 같이, 상기 검사대(10)는 상기 고정용지그(20)와 함께 이동하며, 상기 제1수직스캔카메라(31) 및 제1경사스캔카메라(32)의 배열방향과 직교하는 방향 또는 평행한 방향으로 이동한다. 도 5에는 전자의 방향으로 이동하는 형태가 도시되어 있다.
도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1경사스캔카메라(32)와 제2경사스캔카메라(42)는 서로 직교하는 방향을 바라보도록 배치될 수 있다. 즉 상기 제1고정프레임(30)과 제2고정프레임(40)이 직교하는 방향으로 배치될 수 있다.
이와 달리, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제1경사스캔카메라(32)와 제2경사스캔카메라(42)는 서로 평행한 방향을 바라보도록 배치될 수 있다. 이 경우, 상기 검사대(10)는 상기 제1경사스캔카메라(32)를 거친 후 90°회전하게 된다.
본 발명에 따른 백라이트유닛 검사장치는, 도 1에서와 같이, (서로 다른 패턴이 형성된) 두 개의 프리즘시트를 갖는 백라이트유닛의 검사에 적합하며, 이를 위하여 제2경사스캔카메라(42) 및 제2수직스캔카메라(41)를 포함하도록 한다. 모든 방향에서의 우수한 시야각 확보를 위하여 제1프리즘시트(도 1에서의 하부 프리즘시트)와 제2프리즘시트(도 1에서 상부 프리즘시트)의 패턴 방향은 직교하는 방향으로 형성될 수 있으며, 본 발명에 따른 이러한 형태의 백라이트유닛에 적합하게 사용된다.
상기 제2경사스캔카메라(42) 또한 경사방향에서 바라본 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영한다. 특히, 상기 제2경사스캔카메라(42)는 제2프리즘시트의 패턴에 대응된 각도로 경사를 유지하며, 상기 제2경사스캔카메라(42)의 촬영방향이 상기 제2프리즘시트의 패턴이 이루는 면에 수직을 이루도록 조정된다.
상기 중앙처리부는 상기 제2수직스캔카메라(41) 및 제2경사스캔카메라(42)에 의해 촬영된 이미지정보에 따라 불량 여부를 판단하고, 각 이미지를 조합하여 불량에 대한 하나의 데이터를 산출할 수 있다.
이처럼, 본 발명에서는 모든 방향에서 이미지정보가 촬영되도록 하며 상기 제2수직스캔카메라(41) 및 제2경사스캔카메라(42)에 의해서도 수직 방향에서 바라본 이미지정보와, 경사방향에서 바라본 이미지정보를 동시에 또는 동일한 조건에서 촬영할 수 있도록 하여, 불량에 대한 정확한 정보의 도출이 가능하게 한다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사방법을 나타낸 순서도이다.
본 발명에 따른 백라이트유닛 검사방법은, 보호필름안착단계(S111), 백라이트유닛 안착단계(S112), 제1수직정보촬영단계(S113), 제1경사정보촬영단계(S114), 제1패턴분석단계(S115) 및 제1불량판단단계(S116)를 포함하며, 이를 간단히 설명하면 다음과 같다.
검사에 있어서, 상술한 바와 같이, 보호필름은 분리된 상태에서 검사가 시작되며 보호필름이 고정용지그(20)에 안착된다.(S111)
다음으로, 백라이트유닛이 검사대(10) 위에 안착되며 수평방향으로 이송된다.(S112)
다음으로, 상기 검사대(10) 상측에 배치된 제1수직스캔카메라(31)를 통하여, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영한다. (S113)
다음으로, 상기 검사대(10) 상측에 배치된 제1경사스캔카메라(32)를 통하여 상기 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영한다. 백라이트유닛의 이미지정보를 촬영함에 있어서 수직 방향에서 바라본 이미지정보 촬영(S113)과 경사방향에서 바라본 이미지정보 촬영은 동시에 또는 동일한 조건에서 이루어진다. (S114)
다음으로, 중앙처리부를 통하여 상기 제1수직스캔카메라(31) 및 제1경사스캔카메라(32)에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하며(S115), 상기 제1패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단한다.(S116)
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 백라이트유닛 검사방법을 나타낸 순서도이다.
본 발명에 따른 백라이트유닛 검사방법은, 보호필름안착단계(S111), 백라이트유닛 안착단계(S112), 제1수직정보촬영단계(S113), 제1경사정보촬영단계(S114), 제1패턴분석단계(S115) 및 제1불량판단단계(S116)에 더하여, 제2수직정보촬영단계(S117) , 제2경사정보촬영단계(S118), 제2패턴분석단계(S119) 및 제2불량판단단계(S120)를 더 포함한다.
상기 제1수직스캔카메라(31) 및 제1경사스캔카메라(32)에 의하여 촬영된 이미지정보를 통하여 상기 중앙처리부가 불량여부를 판단(S116)한 후, 백라이트유닛은 검사대(10)를 통해 수평방향으로 이동하며, 상기 제2고정프레임(40)이 위치하는 영역으로 이동한다.
이후 상기 제2고정프레임(40)에 설치된 상기 제2수직스캔카메라(41)를 통하여, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영한다. (S117)
다음으로, 상기 제2고정프레임(40)에 설치된 제2경사스캔카메라(42)를 통하여 상기 제2프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영한다. (S118)
백라이트유닛의 이미지정보를 촬영함에 있어서 수직 방향에서 바라본 이미지정보 촬영(S117)과 경사방향에서 바라본 이미지정보 촬영(S118)은 동시에 또는 동일한 조건에서 이루어진다.
다음으로, 상기 중앙처리부를 통하여 상기 제2수직스캔카메라(41) 및 제2경사스캔카메라(42)에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하며(S119), 상기 제2패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단한다.(S120)
이상에서는, 본 발명의 일 실시예에 따라 본 발명을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 변경 및 변형한 것도 본 발명에 속함은 당연하다.
10 : 검사대 20 : 고정용지그
30 : 제1고정프레임 31 : 제1수직스캔카메라
32 : 제1경사스캔카메라
40 : 제2고정프레임 41 : 제2수직스캔카메라
43 : 제2경사스캔카메라
S111 : 보호필름안착단계 S112 : 백라이트유닛 안착단계
S113 : 제1수직정보촬영단계 S114 : 제1경사정보촬영단계
S115 : 제1패턴분석단계 S116 : 제1불량판단단계
S117 : 제2수직정보촬영단계 S118 : 제2경사정보촬영단계
S119 : 제2패턴분석단계 S120 : 제2불량판단단계
30 : 제1고정프레임 31 : 제1수직스캔카메라
32 : 제1경사스캔카메라
40 : 제2고정프레임 41 : 제2수직스캔카메라
43 : 제2경사스캔카메라
S111 : 보호필름안착단계 S112 : 백라이트유닛 안착단계
S113 : 제1수직정보촬영단계 S114 : 제1경사정보촬영단계
S115 : 제1패턴분석단계 S116 : 제1불량판단단계
S117 : 제2수직정보촬영단계 S118 : 제2경사정보촬영단계
S119 : 제2패턴분석단계 S120 : 제2불량판단단계
Claims (14)
- 확산시트와, 상기 확산시트 상측에 적층되고 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량 여부를 검사하기 위한 검사장치에 있어서,
상기 백라이트유닛이 안착되는 검사대;
상기 검사대 상측에 배치되고, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1수직스캔카메라;
상기 검사대 상측에 배치되고, 상기 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1경사스캔카메라; 및
상기 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보에 따라 불량 여부를 판단하는 중앙처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 백라이트유닛에는 보호필름이 포함되고,
상기 검사대에 인접하여 형성되고 상기 백라이트유닛에서 분리된 상기 보호필름이 안착되는 고정용지그;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 2 항에 있어서,
상기 검사대는 상기 고정용지그와 함께 이동 가능하게 형성되되, 상기 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라의 배열방향과 직교하는 방향 또는 평행한 방향으로 이동하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 3 항에 있어서,
상기 백라이트유닛에는, 상기 제1프리즘시트 상측에 적층되되 패턴이 다른 제2프리즘시트가 포함되고,
상기 백라이트유닛 검사장치는, 상기 검사대 상측에 배치되고 상기 제2프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2경사스캔카메라;를 더 포함하고,
상기 제2경사스캔카메라는 상기 제1경사스캔카메라를 거친 상기 백라이트유닛을 촬영하며,
상기 제2경사스캔카메라에 의한 이미지정보와 상기 제1경사스캔카메라의 이미지정보는 서로 직교하는 방향에서 촬영되는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 4 항에 있어서,
상기 제1경사스캔카메라와 제2경사스캔카메라는 서로 직교하는 방향을 바라보도록 배치되는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 4 항에 있어서,
상기 제1경사스캔카메라와 제2경사스캔카메라는 서로 평행한 방향을 바라보도록 배치되고,
상기 검사대는 상기 제1경사스캔카메라를 거친 후 90°회전하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 4 항에 있어서,
상기 검사대 상측에 배치되고, 상기 제1수직스캔카메라를 거친 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2수직스캔카메라;를 더 포함하고,
상기 중앙처리부는 상기 제2수직스캔카메라와 제2경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보에 따라 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1경사스캔카메라는 한쌍으로 구비되고, 상기 제1수직스캔카메라를 중심으로 대칭되는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 제 7 항에 있어서,
상기 제2경사스캔카메라는 한쌍으로 구비되고, 상기 제2수직스캔카메라를 주심으로 대칭되는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사장치.
- 확산시트와, 상기 확산시트 상측에 적층되고 일정한 패턴을 갖는 제1프리즘시트를 포함하는 백라이트유닛의 불량 여부를 검사하는 검사방법에 있어서,
상기 백라이트유닛을 검사대 위에 안착시키는 안착단계;
상기 검사대 상측에 배치된 제1수직스캔카메라를 통하여, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1수직정보촬영단계;
상기 검사대 상측에 배치된 제1경사스캔카메라를 통하여 상기 제1프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제1경사정보촬영단계;
상기 제1수직스캔카메라 및 제1경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하는 제1패턴분석단계; 및
상기 제1패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단하는 제1불량판단단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사방법.
- 제 10 항에 있어서,
상기 제1수직정보촬영단계와 제1경사정보촬영단계는 동일한 조건 또는 동일한 시간에 진행되는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사방법.
- 제 10 항에 있어서,
상기 백라이트유닛에는 보호필름이 포함되고,
상기 보호필름을 고정용지그에 안착시키는 보호필름안착단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사방법.
- 제 10 항에 있어서,
상기 백라이트유닛에는 상기 제1프리즘시트 상측에 적층되되 패턴이 다른 제2프리즘시트가 포함되고,
상기 제1수직스캔카메라를 거친 후 상기 검사대 상측에 배치된 제2수직스캔카메라를 통하여, 상기 백라이트유닛을 수직에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2수직정보촬영단계;
상기 제1경사스캔카매라를 거친 후 상기 검사대 상측에 배치된 제2경사스캔카메라를 통하여 상기 제2프리즘시트의 패턴에 대응되게 상기 백라이트유닛을 경사방향에서 바라본 이미지정보를 얻도록 촬영하는 제2경사정보촬영단계;
상기 제2수직스캔카메라 및 제2경사스캔카메라에 의해 촬영된 이미지정보의 패턴을 분석하는 제2패턴분석단계; 및
상기 제2패턴분석단계에 따른 패턴에 따라 불량 여부를 판단하는 제2불량판단단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사방법.
- 제 13 항에 있어서,
상기 제2수직정보촬영단계와 제2경사정보촬영단계는 동일한 조건 또는 동일한 시간에 진행되는 것을 특징으로 하는 백라이트유닛 검사방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120066706A KR101445126B1 (ko) | 2012-06-21 | 2012-06-21 | 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120066706A KR101445126B1 (ko) | 2012-06-21 | 2012-06-21 | 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130143284A true KR20130143284A (ko) | 2013-12-31 |
KR101445126B1 KR101445126B1 (ko) | 2014-10-01 |
Family
ID=49986557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120066706A KR101445126B1 (ko) | 2012-06-21 | 2012-06-21 | 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101445126B1 (ko) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170004566A (ko) * | 2015-07-03 | 2017-01-11 | (주)소닉스 | 백라이트유닛 검사장치 |
KR20180086313A (ko) * | 2017-01-20 | 2018-07-31 | 황의권 | 비전 시스템을 이용한 고성능 엘이디-백 라이트 유닛 자동 조립장치 |
KR101908342B1 (ko) | 2017-12-08 | 2018-10-16 | 재단법인 전남생물산업진흥원 | 새싹인삼과 차풀 복합추출물을 유효성분으로 하는 피부상태 개선용 조성물 및 이의 제조방법 |
KR20190063880A (ko) | 2017-11-30 | 2019-06-10 | 주식회사 하연 | 새싹인삼과 차풀 복합추출물을 유효성분으로 하는 기능성 마스크 팩 |
KR20230059596A (ko) * | 2021-10-26 | 2023-05-03 | 주식회사 신화아이티 | 이차전지 리드탭 비전검사장치 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100798396B1 (ko) * | 2005-04-27 | 2008-01-28 | (주)소닉스 | 비엘유 검사장치 |
KR100647528B1 (ko) * | 2005-08-10 | 2006-11-23 | 동양반도체 주식회사 | 백라이트유닛의 표면을 검사하는 방법 및 장치 |
KR100794490B1 (ko) * | 2006-07-13 | 2008-01-16 | (주)소닉스 | 비엘유 검사장치 |
-
2012
- 2012-06-21 KR KR1020120066706A patent/KR101445126B1/ko active IP Right Grant
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170004566A (ko) * | 2015-07-03 | 2017-01-11 | (주)소닉스 | 백라이트유닛 검사장치 |
KR20180086313A (ko) * | 2017-01-20 | 2018-07-31 | 황의권 | 비전 시스템을 이용한 고성능 엘이디-백 라이트 유닛 자동 조립장치 |
KR20190063880A (ko) | 2017-11-30 | 2019-06-10 | 주식회사 하연 | 새싹인삼과 차풀 복합추출물을 유효성분으로 하는 기능성 마스크 팩 |
KR101908342B1 (ko) | 2017-12-08 | 2018-10-16 | 재단법인 전남생물산업진흥원 | 새싹인삼과 차풀 복합추출물을 유효성분으로 하는 피부상태 개선용 조성물 및 이의 제조방법 |
KR20230059596A (ko) * | 2021-10-26 | 2023-05-03 | 주식회사 신화아이티 | 이차전지 리드탭 비전검사장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101445126B1 (ko) | 2014-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104081192B (zh) | 一种对玻璃多层面摄像的摄像装置及其方法 | |
WO2010024082A1 (ja) | 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 | |
JP4884738B2 (ja) | 液晶パネル検査装置 | |
KR101445126B1 (ko) | 백라이트유닛 검사장치 및 검사방법 | |
KR101401146B1 (ko) | 미세 전도체를 가지는 패터닝된 장치를 검사하는 시스템 및방법 | |
JP5348765B2 (ja) | 平板状透明体の微小凹凸欠陥検査方法及び装置 | |
JP4876201B1 (ja) | ガラスびん検査装置及びテレセントリックレンズユニット | |
TW201447422A (zh) | 液晶面板檢查裝置 | |
WO2015014067A1 (zh) | 液晶屏的质量检测方法、装置及设备 | |
KR101391312B1 (ko) | 백라이트유닛 불량검사용 카메라 조립체 | |
KR101015807B1 (ko) | 표면 검사 장치 및 표면 검사 방법 | |
CN212514319U (zh) | 定位柱缺陷工业视觉检测设备 | |
KR100662209B1 (ko) | 백라이트 유닛의 비젼 및 휘도 검출시스템 | |
CN106200036B (zh) | 点灯检测设备 | |
KR100826097B1 (ko) | 액정표시장치의 백라이트유닛 검사장치 | |
JP2018040761A (ja) | 被検査物の外観検査装置 | |
TW201629470A (zh) | 光學檢驗中的可分離的多個照射源 | |
TWM514002U (zh) | 光學檢測設備 | |
JP2007333449A (ja) | 検査装置 | |
KR101157081B1 (ko) | 조명장치와 이를 포함하는 기판 검사 장치 | |
TW200303410A (en) | Method and apparatus for measuring a line width | |
TWI289662B (en) | The defect testing apparatus for testing the backside of glass substrate | |
TW200508597A (en) | Apparatus for automatically inspecting image quality of LCD panel | |
KR100802036B1 (ko) | 모발 검사장치 및 모발을 검사하는 방법 | |
JP2002139455A (ja) | 検査装置および検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181029 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190923 Year of fee payment: 6 |