JP5348765B2 - 平板状透明体の微小凹凸欠陥検査方法及び装置 - Google Patents
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Images
Landscapes
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Description
11 フレーム
12 照明部
13 試料台
14 アフォーカルレンズ
15 小型テレセントリックレンズ
16 CCDカメラ
17 レンズ移動部
18 表示部
18a 表示面
19 光軸
21 高輝度拡散LED光源
22 ピンホールプレート
23 コリメート用凸レンズ
24 鏡筒
30 試料
30a 被検査面
32 台移動部
33 操作ダイヤル
35 集光用凸レンズ
36 凹レンズ
38 レンズ鏡筒
41 シフト機構
42 取り付け台
44 操作ダイヤル
50,53,55,56 表示画像
51 微小凸欠陥
52 微小凹欠陥
57 微小異物欠陥
71,72,73 凸レンズ
74 レンズターレット
Claims (8)
- 平板状透明体の被検査面に平行光を照射し、
前記被検査面から透過した平行光を凸レンズにより集光し、
前記凸レンズにより集光された光束を凹レンズにより縮小平行光にし、
テレセントリックレンズを用いて前記凹レンズからの平行光束を撮像装置により撮影する際に、前記撮像装置を前記平行光束の光軸方向に移動させて前記被検査面をデフォーカス撮影し、
前記平板状透明体の微小な凹凸欠陥の輝度増減現象および欠陥面積の拡大現象により前記凹凸欠陥を顕在化させて表示部に表示することを特徴とする平板状透明体の微小凹凸欠陥検査方法。 - 前記平板状透明体を保持する試料台を前記平行光束の光軸方向に移動自在に保持し、前記試料台による光軸方向移動によってデフォーカスの粗調整を行い、
前記撮像装置による光軸方向移動によってデフォーカスの微調整を行うことを特徴とする請求項1記載の平板状透明体の微小凹凸欠陥検査方法。 - 平板状透明体の被検査面に平行光を照射する平行光照明部と、
前記被検査面から透過した平行光を集光する凸レンズ及び前記凸レンズにより集光された光束を縮小平行光にする凹レンズからなるアフォーカルレンズと、
前記アフォーカルレンズにより縮小平行光とされた平行光束を撮像するためのテレセントリックレンズを有する撮像装置と、
前記撮像装置を前記平行光束の光軸方向に移動自在に保持して前記被検査面をデフォーカスして前記撮像装置により撮像するデフォーカス部とを有し、
前記アフォーカルレンズ及び前記テレセントリックレンズとは同一光軸上で分離して配置され、前記テレセントリックレンズが前記平行光束の光軸方向に移動自在にされていることを特徴とする平板状透明体の微小凹凸欠陥検査装置。 - 前記平板状透明体を保持する試料台を前記平行光束の光軸方向に移動自在に保持し、前記試料台による光軸方向移動によってデフォーカスの粗調整を行い、
前記撮像装置による光軸方向移動によってデフォーカスの微調整を行うことを特徴とする請求項3記載の平板状透明体の微小凹凸欠陥検査装置。 - 平板状透明体の被検査面に平行光を照射する平行光照明部と、
前記被検査面から透過する平行光を集光する凸レンズ、及び前記凸レンズにより集光された光束を縮小平行光にする凹レンズからなるアフォーカルレンズと、
前記アフォーカルレンズにより縮小平行光とされた平行光束を撮像するためのテレセントリックレンズを有する撮像装置と、
前記撮像装置を前記平行光束の光軸方向に移動自在に保持して前記被検査面をデフォーカス撮影するデフォーカス部と、
前記撮像装置により撮像されたデフォーカス画像を表示する表示部と
を備えることを特徴とする平板状透明体の微小凹凸欠陥検査装置。 - 前記デフォーカス部は、前記平行光束の光軸方向に移動自在であり前記平板状透明体を保持する試料台を有し、前記試料台による光軸方向移動によってデフォーカスの粗調整を行い、前記撮像装置による光軸方向移動によってデフォーカスの微調整を行うことを特徴とする請求項5記載の平板状透明体の微小凹凸欠陥検査装置。
- 前記アフォーカルレンズの前記凸レンズを、同じ焦点距離で口径を異ならせて複数有し、いずれか一つを選択的にセットすることを特徴とする請求項5または6記載の平板状透明体の微小凹凸欠陥検査装置。
- 前記アフォーカルレンズの前記凸レンズの直径が75mm以上200mm以下であり、前記凹レンズの直径及び前記テレセントリックレンズの対角視野の直径が70mm以下であることを特徴とする請求項5ないし7いずれか1項記載の平板状透明体の微小凹凸欠陥検査装置。
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