JP6955989B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
特許文献1の検査装置は、検査中に撮像デバイスに光を照射するために、ハロゲンランプからなる光源を有する光源部が、テストヘッドの上方に設置されている。なお、特許文献1の検査装置には、テストヘッドの上方に位置する光源から該テストヘッドの下方に位置する撮像デバイスに、該光源からの光を導くための光学系が設けられている。また、特許文献1の検査装置のプローブカードには撮像デバイスに対応する位置に開口部が形成されており、該開口部の周りにプローブ針が配列されている。
また、別の観点による本発明は、被検査体に形成された撮像デバイスに光を入射させながら、該撮像デバイスの配線層に接触端子を電気的に接触させて、該撮像デバイスを検査する検査装置であって、前記撮像デバイスは、前記配線層が設けられた側とは反対側の面である裏面から光が入射されるものであり、当該検査装置は、前記撮像デバイスの裏面と対向する形態で前記被検査体が載置される、光透過部材で形成された載置台と、前記載置台を間に挟んで前記被検査体に対向するように配置され、前記被検査体を指向する複数のLEDを有する光照射機構と、を備え、前記載置台は、前記LEDからの光を透過可能な冷媒が通流する冷媒流路を有し、当該検査装置は、前記冷媒の条件を調節して、前記載置台上の前記被検査体の温度を制御する温度制御部と、前記載置台と前記被検査体との間に、該載置台と該被検査体との間の熱抵抗を低減させる流体を供給する熱抵抗低減流体供給部をさらに備えることを特徴としている。
図1に示すように、裏面照射型撮像デバイスDは、略円板状のウェハWに複数形成されている。
続いて、本発明の第1の実施形態にかかる検査装置について説明する。
図3及び図4はそれぞれ、本発明の第1の実施形態にかかる検査装置としてのプローバ1の構成の概略を示す斜視図及び正面図である。図2では、図1のプローバ1の後述の収容室とローダが内蔵する構成要素を示すため、その一部が断面で示されている。
プローブカード11は、インターフェース12を介してテスター4へ接続されている。各プローブ11aがウェハWの各撮像デバイスDの電極Eに接触する際、各プローブ11aは、テスター4からインターフェース12を介して撮像デバイスDへ電力を供給し、または、撮像デバイスDからの信号をインターフェース12を介してテスター4へ伝達する。
ステージ10は、図5に示すように、上方から順に、載置台30と、光照射機構40とを有する。
コリメータ部材42は、例えば、周囲が黒体で覆われた貫通孔を有する平板状部材や、ボールレンズ、非球形レンズといったレンズ部材からなる。
ベース43は、その内部に、LED41を冷却するための水が通流する水流路43aが形成されている。
図6に示すように、光照射機構40は、ウェハW上に形成された撮像デバイスD(図1参照)と同数のLEDユニットUを有し、図7に示すように、各LEDユニットUは複数のLED41を有する。
なお、赤色LED41Rは、当該LED41Rからの光が撮像デバイスDの全ての光電変換部PDに受光されるように配置されてもよい。同様に、青色LED41Bは、当該青色LED41Bからの光が撮像デバイスDの全ての光電変換部PDに受光されるように配置されてもよく、緑色LED41Gは、当該緑色LED41Gからの光が撮像デバイスDの全ての光電変換部PDに受光されるように配置されてもよい。
赤色透過フィルタ44R、青色透過フィルタ44B、緑色透過フィルタ44Gは、例えば、ガラス膜上に厚さを制御した誘電体膜が形成されたものであってもよいし、電圧を加えたときに屈折率が変化する膜により構成してもよい。
上蓋31は、図8に示すように、円板状に形成されており、その上面すなわち表面には、ウェハWを吸着するための吸着穴31aが形成されている。吸着穴31aは、上蓋31の側方に形成された吸引孔(図示省略)に連通している。該吸引孔からポンプ(図示省略)により吸引することで、上蓋31すなわち載置台30にウェハWを吸着することができる。なお、吸着穴31aは、上蓋31上にウェハWが載置されたときに該吸着穴31aの上方に撮像デバイスDが位置しない領域に形成される。
プローバ1では、図10に示すように、各プローブ11aがインターフェース12に配置された複数の配線20によってテスター4に接続されるが、各配線20のうち、撮像デバイスDにおける電位差生成回路(例えば、ダイオード)の2つの電極Eに接触する2つのプローブ11aとテスター4を接続する2つの配線20のそれぞれに、リレー21が設けられる。
まず、ローダ3のFOUPからウェハWが取り出されてステージ10に搬送される。ステージ10には、ウェハWは、裏面照射型撮像デバイスDの裏面がステージ10側となるように載置される。
次いで、ステージ10が移動され、ステージ10の上方に設けられているプローブ11aとウェハWの電極Eとが接触する。
そして、光照射機構40から光が照射されると共に、プローブ11aに検査用に信号が入力される。これにより、裏面照射型撮像デバイスDの検査を行う。なお、上記検査中、当該撮像デバイスDの電位差生成回路に生じる電位差が電位差測定ユニット14により測定され、ベースユニット13により上記電位差に基づいて撮像デバイスDの温度が測定されると共に測定された電位差に基づいて冷媒流路32aを流れる冷媒の条件が調整され、撮像デバイスDの温度が所望の値に制御される。
以後、全ての裏面照射型撮像デバイスDの検査が完了するまで上述の処理が繰り返される。
また、載置台30を構成する上蓋31及び有底部材32を上述のような材料で形成しているため、載置台30全体の熱容量が小さいので、載置台30に通流する冷媒の条件を調節してから載置台30の温度が変化するまでの応答性を速くすることができる。
裏面照射型のプローブ装置においても平行光を用いない光照射機構を使用した場合には各フィルタ間に配設された金属シールドへ光が吸収されてしまいセンサに到達する光量が不明確となる。そのため、精度良く検査を実施するためにはフィルタ間に配設された金属シールドの影響を都度調べる必要がある。それに対して、本実施形態では、光照射機構から平行光を照射しているため、金属シールドの影響を抑制することができ、検査効率向上が図られる。
図11は、本発明の第2の実施形態にかかる上蓋31の構成を概略的に示す上面図である。
本実施形態の上蓋31には、図11に示すように、吸着穴31aに加えて、熱抵抗低減流体供給部としての噴出穴31bが設けられており、該噴出穴31bからヘリウムガスや水素ガス等の分子量の小さいガスが噴出される。噴出されたガスは、ウェハWと載置台30との間に供給される。ウェハWの載置台30との接触面はオンチップレンズLが形成されているため凹凸形状を有する。したがって、ウェハWと載置台30との間には隙間が形成される。この隙間を、分子量が小さく熱伝導率の高いガスで充填することで、ウェハWと載置台30との間の熱抵抗を低減させることができ、これにより、ウェハWの温度を面内でより均一にすることができる。
なお、上記噴出穴31bは、上蓋31の側方に形成された供給孔(図示省略)に連通している。該供給孔から供給されたガスが上記噴出穴31bから噴出される。噴出穴31bも、上蓋31上にウェハWが載置されたときに該噴出穴31bの上方に撮像デバイスDが位置しない領域に形成される。
図12は、本発明の第3の実施形態にかかるステージ10の構成を概略的に示す断面図である。
本実施形態のステージ10は、図12に示すように、載置台30に対する光照射機構40からの光の角度すなわち載置台30上のウェハWに対する光照射機構40からの光の角度を調整する角度調整機構50を有する。角度調整機構50は、例えば、光照射機構40の一端の下部を支持するピエゾ素子51と、光照射機構40の他端の下部を支持する他のピエゾ素子52とを有し、ピエゾ素子51、52が互いに独立して制御可能に構成されている。この角度調整機構50を設けることにより、撮像デバイスDの指向性の検査、言い換えると、撮像デバイスDの光入射角依存性の検査をすることができる。
2 収容室
3 ローダ
4 テスター
10 ステージ
11 プローブカード
11a プローブ
12 インターフェース
13 ベースユニット
14 電位差測定ユニット
18 テスターコンピュータ
19 ユーザインターフェース部
30 載置台
31 上蓋
31a 吸着穴
31b 噴出穴
32 有底部材
32a 冷媒流路
40 光照射機構
41 LED
42 コリメータ部材
44B 青色透過フィルタ
44G 緑色透過フィルタ
44R 赤色透過フィルタ
50 角度調整機構
D 裏面照射型撮像デバイス
Da 表面
E 電極
F カラーフィルタ
L オンチップレンズ
PD 光電変換部
PL 配線層
W ウェハ
Claims (9)
- 被検査体に形成された撮像デバイスに光を入射させながら、該撮像デバイスの配線層に接触端子を電気的に接触させて、該撮像デバイスを検査する検査装置であって、
前記撮像デバイスは、前記配線層が設けられた側とは反対側の面である裏面から光が入射されるものであり、
当該検査装置は、
前記撮像デバイスの裏面と対向する形態で前記被検査体が載置される、光透過部材で形成された載置台と、
前記載置台を間に挟んで前記被検査体に対向するように配置され、前記被検査体を指向する複数のLEDを有する光照射機構と、を備え、
前記載置台は、前記被検査体側に第1の部材を、前記光照射機構側に第2の部材を有し、前記第1の部材と前記第2の部材により、前記LEDからの光を透過可能な冷媒が通流する冷媒流路が形成され、
前記第1の部材は、前記被検査体より熱伝導率が高く、前記第2の部材は、前記被検査体より熱伝導率が低く、
当該検査装置は、前記冷媒の条件を調節して、前記載置台上の前記被検査体の温度を制御する温度制御部をさらに備えることを特徴とする検査装置。 - 前記第1の部材は、サファイヤ、窒化ガリウムまたは炭化ケイ素からなることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記第2の部材は、石英、ポリカーボネイト、ポリ塩化ビニル、アクリル樹脂またはガラスからなることを特徴とする請求項1または2に記載の検査装置。
- 前記載置台と前記被検査体との間に、該載置台と該被検査体との間の熱抵抗を低減させる流体を供給する熱抵抗低減流体供給部を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 被検査体に形成された撮像デバイスに光を入射させながら、該撮像デバイスの配線層に接触端子を電気的に接触させて、該撮像デバイスを検査する検査装置であって、
前記撮像デバイスは、前記配線層が設けられた側とは反対側の面である裏面から光が入射されるものであり、
当該検査装置は、
前記撮像デバイスの裏面と対向する形態で前記被検査体が載置される、光透過部材で形成された載置台と、
前記載置台を間に挟んで前記被検査体に対向するように配置され、前記被検査体を指向する複数のLEDを有する光照射機構と、を備え、
前記載置台は、前記LEDからの光を透過可能な冷媒が通流する冷媒流路を有し、
当該検査装置は、
前記冷媒の条件を調節して、前記載置台上の前記被検査体の温度を制御する温度制御部と、
前記載置台と前記被検査体との間に、該載置台と該被検査体との間の熱抵抗を低減させる流体を供給する熱抵抗低減流体供給部をさらに備えることを特徴とする検査装置。 - 前記光照射機構は、前記LEDからの光を平行光とするコリメータ部材を有し、前記平行光を前記被検査体に照射することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記載置台に対する前記光照射機構の角度を調整する角度調整機構を有することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記複数のLEDは、互いに異なる波長の光を出射するLEDを含むことを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記光照射機構は、前記LEDから出射された光のうち所定の波長を有する光のみを透過するフィルタを介して、前記被検査体に照射することを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の検査装置。
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