KR20130135607A - 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법 - Google Patents

표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20130135607A
KR20130135607A KR1020120059330A KR20120059330A KR20130135607A KR 20130135607 A KR20130135607 A KR 20130135607A KR 1020120059330 A KR1020120059330 A KR 1020120059330A KR 20120059330 A KR20120059330 A KR 20120059330A KR 20130135607 A KR20130135607 A KR 20130135607A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power supply
clock signal
supply voltage
scan driving
electrode connected
Prior art date
Application number
KR1020120059330A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101879779B1 (ko
Inventor
정보용
최정미
김용재
황영인
박성일
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020120059330A priority Critical patent/KR101879779B1/ko
Priority to US13/668,191 priority patent/US9299279B2/en
Publication of KR20130135607A publication Critical patent/KR20130135607A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101879779B1 publication Critical patent/KR101879779B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0267—Details of drivers for scan electrodes, other than drivers for liquid crystal, plasma or OLED displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0286—Details of a shift registers arranged for use in a driving circuit
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/02—Details of power systems and of start or stop of display operation
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/04—Display protection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

표시 장치는 복수의 주사선에 연결된 복수의 화소를 포함하는 표시부, 상기 복수의 주사선에 연결되어 복수의 주사 신호를 인가하는 복수의 주사 구동 블록, 상기 복수의 주사 구동 블록을 정전하로부터 보호하는 ESD 부, 상기 복수의 화소의 검사시 제1 전원 전압 배선을 통해 상기 복수의 주사 구동 블록에 논리 하이 레벨 및 논리 로우 레벨로 변동하는 제1 전원 전압을 공급하는 교류 전원부, 및 제2 전원 전압 배선을 통해 상기 ESD 부에 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압을 공급하는 직류 전원부를 포함한다. 주사 구동 장치에 포함되는 복수의 주사 구동 블록을 동시에 발광시켜 화소 검사의 검출 효율을 향상시킬 수 있고, ESD 보호회로의 오동작을 방지할 수 있다.

Description

표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법{DISPLAY DEVICE, INSPECTING AND DRIVING METHOD THEREOF}
본 발명은 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법에 관한 것이다.
표시장치는 매트릭스 형태로 배열된 복수의 화소로 구성된 표시 패널을 포함한다. 표시 패널은 행 방향으로 형성된 복수의 주사선 및 열 방향으로 형성된 복수의 데이터선을 포함하고, 복수의 주사선 및 복수의 데이터선은 교차하면서 배열된다. 복수의 화소 각각은 대응하는 주사선 및 데이터선으로부터 전달되는 주사 신호 및 데이터 신호에 의해 구동된다.
사람의 신체 접촉 등에 의해 발생할 수 있는 정전하(static charges)가 표시장치의 내부회로에 흘러들어 갈 수 있다. 정전하는 고전압 펄스를 발생시키고, 고전압 펄스는 내부회로의 손상을 야기한다. 표시장치에는 고전압 펄스에 의한 손상으로부터 내부회로를 보호하기 위한 ESD(Electro Static Discharge) 보호회로가 구비된다. ESD 보호회로는 정전하가 내부회로로 흘러들어 가는 것을 방지하고 정전하를 접지로 흘려보내는 역할을 한다.
구동을 위한 전원 전압이 ESD 보호회로에 공급되는데, ESD 보호회로에 공급되는 전원 전압은 주사 신호를 생성하는 주사 구동 장치의 구동 전압으로도 사용된다. ESD 보호회로에 공급되는 전원 전압은 일정한 직류 전압으로 인가되어야 한다.그러나 주사 구동 장치에 공급되는 전원 전압은 화소 검사를 위해 전압 레벨을 변동시킬 필요가 있다.
화소 검사를 위해 전원 전압의 전압 레벨을 변동시키면 ESD 보호회로에 공급되는 전원 전압이 함께 변동하게 되고, 이에 따라, ESD 보호회로가 오동작하게 된다. ESD 보호회로의 오동작으로 인하여 표시장치의 내부회로는 정전하에 의한 고전압 펄스에 그대로 노출될 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 화소 검사의 검출 효율을 향상시키고 ESD 보호회로의 오동작을 방지할 수 있는 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 주사선에 연결된 복수의 화소를 포함하는 표시부, 상기 복수의 주사선에 연결되어 복수의 주사 신호를 인가하는 복수의 주사 구동 블록, 상기 복수의 주사 구동 블록을 정전하로부터 보호하는 ESD 부, 상기 복수의 화소의 검사시 제1 전원 전압 배선을 통해 상기 복수의 주사 구동 블록에 논리 하이 레벨 및 논리 로우 레벨로 변동하는 제1 전원 전압을 공급하는 교류 전원부, 및 제2 전원 전압 배선을 통해 상기 ESD 부에 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압을 공급하는 직류 전원부를 포함한다.
상기 복수의 화소의 검사시 상기 제1 전원 전압 배선은 상기 교류 전원부에 연결되고, 상기 복수의 화소의 검사 종료 후 상기 제1 전원 전압 배선은 상기 직류 전원부에 연결될 수 있다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은, 제1 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호가 전달되는 제1 노드, 제2 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호에 따라 입력 신호가 전달되는 제2 노드, 상기 제1 노드에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나가 인가되는 일 전극 및 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제1 트랜지스터, 및 상기 제2 노드에 연결되어 있는 게이트 전극, 제3 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제2 트랜지스터를 포함할 수 있다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은, 상기 제2 노드에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제1 커패시터를 더 포함할 수 있다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은, 상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나가 인가되는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제2 커패시터를 더 포함할 수 있다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은, 상기 제2 클록 신호 입력단에 연결되는 있는 게이트 전극, 상기 입력 신호가 인가되는 일 전극 및 상기 제2 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제3 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은, 상기 제1 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제1 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제4 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은, 상기 입력 신호가 인가되는 게이트 전극, 상기 제1 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 일 전극을 포함하는 제5 트랜지스터, 및 상기 제2 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제5 트랜지스터의 타 전극에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제6 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은, 상기 제3 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 게이트 전극 및 상기 제2 노드에 연결되어 있는 일 전극을 포함하는 제7 트랜지스터, 및 상기 제1 노드에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제7 트랜지스터의 타 전극에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제8 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.
상기 직류 전원부는 제3 전원 전압 배선을 통해 상기 ESD 부에 논리 로우 레벨의 제3 전원 전압을 공급할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법은 복수의 주사 구동 블록에 연결된 제1 전원 전압 배선을 교류 전원부에 연결하고, 상기 제1 전원 전압 배선에 인가되는 제1 전원 전압을 변동시켜 상기 복수의 주사 구동 블록에서 복수의 주사 신호를 동시에 출력시키는 단계, 및 상기 복수의 주사 구동 블록을 정전하로부터 보호하는 ESD 부에 제2 전원 전압 배선을 통해 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압을 공급하는 직류 전원부에 상기 제1 전원 전압 배선을 연결시키는 단계를 포함한다.
상기 복수의 주사 구동 블록 각각은 제1 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호가 전달되는 제1 노드, 상기 제1 노드에 게이트 전극이 연결되고 상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나를 출력단으로 전달하는 제1 트랜지스터, 및 상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나에 연결되는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되는 타 전극을 포함하는 커패시터를 포함하고, 상기 복수의 주사 구동 블록에서 복수의 주사 신호를 동시에 출력시키는 단계는, 상기 제1 전원 전압을 변동시켜 상기 제1 노드의 전압을 변동시키는 단계, 상기 제1 노드의 전압 변동으로 상기 제1 트랜지스터를 턴 온시키는 단계, 및 상기 제1 전원 전압을 상기 출력단으로 출력시키는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 제1 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호가 전달되는 제1 노드, 제2 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호에 따라 입력 신호가 전달되는 제2 노드, 상기 제1 노드에 게이트 전극이 연결되고 제1 전원 전압을 출력단으로 전달하는 제1 트랜지스터 및 상기 제2 노드에 게이트 전극이 연결되고 제3 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호를 상기 출력단으로 전달하는 제2 트랜지스터를 포함하는 주사 구동 블록을 복수개 포함하는 표시 장치의 구동 방법은, 상기 복수의 주사 구동 블록을 정전하로부터 보호하는 ESD 부에 제2 전원 전압 배선을 통해 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압을 공급하는 직류 전원부에 상기 제1 전원 전압을 전달하는 제1 전원 전압 배선을 연결시켜 상기 복수의 주사 구동 블록에 상기 제2 전원 전압을 인가하는 단계, 및 상기 복수의 주사 구동 블록에 복수의 클록 신호를 인가하여 복수의 주사 신호를 순차적으로 출력시키는 단계를 포함한다.
상기 복수의 주사 신호를 순차적으로 출력시키는 단계는, 상기 복수의 주사 구동 블록의 제1 클록 신호 입력단에 제1 클록 신호를 입력시키는 단계, 상기 복수의 주사 구동 블록의 제2 클록 신호 입력단에 상기 제1 클록 신호가 상기 제1 클록 신호의 1/2 듀티만큼 시프트된 신호인 제2 클록 신호를 입력시키는 단계, 상기 복수의 주사 구동 블록의 제3 클록 신호 입력단에 상기 제2 클록 신호가 상기 제2 클록 신호의 1/2 듀티만큼 시프트된 신호인 제3 클록 신호를 입력시키는 단계, 및 상기 제3 클록 신호에 동기된 주사 신호를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
주사 구동 장치에 포함되는 복수의 주사 구동 블록을 동시에 발광시켜 화소 검사의 검출 효율을 향상시킬 수 있고, ESD 보호회로의 오동작을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사시의 주사 구동 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사 완료 후 제품화된 주사 구동 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 주사 구동 블록을 나타내는 회로도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사시의 주사 구동 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사 완료 후 제품화된 주사 구동 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 타이밍도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
또한, 여러 실시예들에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적으로 제1 실시예에서 설명하고, 그 외의 실시예에서는 제1 실시예와 다른 구성에 대해서만 설명하기로 한다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시장치는 신호 제어부(100), 주사 구동 장치(200), 데이터 구동부(300) 및 표시부(500)를 포함한다.
신호 제어부(100)는 외부 장치로부터 입력되는 영상 신호(R, G, B) 및 이의 표시를 제어하는 입력 제어 신호를 수신한다. 영상 신호(R, G, B)는 각 화소(PX)의 휘도(luminance) 정보를 담고 있으며 휘도는 정해진 수효, 예를 들어 1024(=210), 256(=28) 또는 64(=26)개의 계조(gray)를 가지고 있다. 입력 제어 신호의 예로는 수직 동기 신호(Vsync)와 수평 동기 신호(Hsync), 메인 클록(MCLK), 데이터 인에이블 신호(DE) 등이 있다.
신호 제어부(100)는 입력 영상 신호(R, G, B)와 입력 제어 신호를 기초로 입력 영상 신호(R, G, B)를 표시부(500) 및 데이터 구동부(300)의 동작 조건에 맞게 적절히 처리하고 주사 제어신호(CONT1), 데이터 제어신호(CONT2) 및 영상 데이터 신호(DAT)를 생성한다. 신호 제어부(100)는 주사 제어신호(CONT1)를 주사 구동 장치(200)에 전달한다. 신호 제어부(100)는 데이터 제어신호(CONT2) 및 영상 데이터 신호(DAT)를 데이터 구동부(300)에 전달한다.
표시부(500)는 복수의 주사선(S1~Sn), 복수의 데이터선(D1~Dm) 및 복수의 신호선(S1~Sn, D1~Dm)에 연결되어 대략 행렬의 형태로 배열되는 복수의 화소(PX)를 포함한다. 복수의 주사선(S1~Sn)은 대략 행 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행하다. 복수의 데이터선(D1~Dm)은 대략 열 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행하다. 표시부(500)의 복수의 화소(PX)는 외부로부터 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)을 공급받는다.
주사 구동 장치(200)는 복수의 주사선(S1~Sn)에 연결되고, 주사 제어신호(CONT1)에 따라 화소(PX)에 대한 데이터 신호의 인가를 턴 온(turn on)시키는 게이트 온 전압(Von)과 턴 오프(turn off)시키는 게이트 오프 전압(Voff)의 조합으로 이루어진 주사 신호를 복수의 주사선(S1~Sn)에 인가한다.
주사 제어신호(CONT1)는 주사 시작 신호(SSP), 클록 신호(SCLK) 등을 포함한다. 주사 시작 신호(SSP)는 한 프레임의 영상을 표시하기 위한 첫 번째 주사 신호를 발생시키는 신호이다. 클록 신호(SCLK)는 복수의 주사선(S1~Sn)에 순차적으로 주사 신호를 인가시키기 위한 동기 신호이다.
데이터 구동부(300)는 복수의 데이터선(D1~Dm)에 연결되고, 영상 데이터 신호(DAT)에 따른 계조 전압을 선택한다. 데이터 구동부(300)는 데이터 제어신호(CONT2)에 따라 선택한 계조 전압을 데이터 신호로서 복수의 데이터선(D1~Dm)에 인가한다.
상술한 구동 장치(100, 200, 300) 각각은 적어도 하나의 집적 회로 칩의 형태로 화소 영역 외부에 장착되거나, 가요성 인쇄 회로막(flexible printed circuit film) 위에 장착되거나 TCP(tape carrier package)의 형태로 표시부(500)에 부착되거나, 별도의 인쇄 회로 기판(printed circuit board) 위에 장착되거나, 또는 신호선(S1~Sn, D1~Dm)과 함께 화소 영역 외부에 집적될 수 있다.
표시 장치는 생산 공정에 따라 생산된 후 화소의 점등 및 어레이(array)를 검사하는 화소 검사가 수행된다. 화소 검사시 주사 구동 장치(200)는 VGH 전원 전을 이용하여 복수의 주사 신호를 동시에 출력한다. 화소 검사 후 제품화된 표시장치는 VDH 전원 전압을 이용하여 복수의 주사 신호를 순차적으로 출력한다. VGH 전원 전압은 교류 전압이고, VDH 전원 전압을 직류 전압이다. 즉, 표시 장치는 화소 검사시 교류 전압을 이용하여 복수의 주사 신호를 동시 출력할 수 있고, 제품화된 이후 직류 전압을 이용하여 복수의 주사 신호를 순차적으로 출력할 수 있다.
만일, 주사 신호를 순차적으로 출력하여 화소 검사를 수행하는 경우에는 불량이 발생한 주사 구동 블록 이후에는 주사 신호가 출력되지 않아 모든 화소의 점등 및 어레이를 검사하지 못 할 수 있다. 따라서, 화소 검사시 복수의 주사 신호를 동시에 출력하여 모든 화소의 발광하도록 하여 화소 검사를 수행할 필요가 있다.
이하, 도 2 및 3을 참조하여 화소 검사시의 주사 구동 장치(200)의 구성 및 화소 검사 후 제품화된 주사 구동 장치(200)의 구성에 대하여 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사시의 주사 구동 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 2를 참조하면, 주사 구동 장치는 순차적으로 배열되는 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)을 포함한다. 각 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)은 복수의 주사선(S1~Sn) 각각에 전달되는 주사 신호(S[1], S[2], ..., S[n])를 생성한다.
복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n) 각각은 제1 클록 신호 입력단(CLK1), 제2 클록 신호 입력단(CLK2), 제3 클록 신호 입력단(CLK3), 입력 신호 입력단(IN) 및 출력단(OUT)을 포함한다.
복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n) 각각은 제1 클록 신호 배선(c1), 제2 클록 신호 배선(c2), 제3 클록 신호 배선(c3) 및 제4 클록 신호 배선(c4) 중 3개의 클록 신호 배선에 연결된다. 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n) 각각의 제1 클록 신호 입력단(CLK1), 제2 클록 신호 입력단(CLK2) 및 제3 클록 신호 입력단(CLK3)에는 제1 클록 신호(SCLK1), 제2 클록 신호(SCLK2), 제3 클록 신호(SCLK3) 및 제4 클록 신호(SCLK4) 중 3개의 클록 신호가 입력된다.
첫 번째 주사 구동 블록(210_1)에는 제1 클록 신호(SCLK1), 제2 클록 신호(SCLK2) 및 제3 클록 신호(SCLK3)가 입력된다. 두 번째 주사 구동 블록(210_2)에는 제2 클록 신호(SCLK2), 제3 클록 신호(SCLK3) 및 제4 클록 신호(SCLK4)가 입력된다. 순차적으로 배열되는 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)에 4개 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4) 중 3개의 클록 신호가 순환적으로 입력된다.
복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n) 각각은 제1 전원 전압 배선(p1)에 연결된다. 제1 전원 전압 배선(p1)에는 제1 전원 전압(VGH)이 인가된다. 제1 전원 전압(VGH)은 논리 로우 레벨의 전압 및 논리 하이 레벨의 전압으로 변동하는 교류 전압이다. 예를 들어, 제1 전원 전압(VGH)은 -5V 내지 15V의 전압 레벨로 변동할 수 있다.
복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)의 입력 신호 입력단(IN)에는 앞서 배열된 주사 구동 블록의 주사 신호가 입력된다. 즉, k번째 주사 구동 블록(210_k)의 입력 신호 입력단(IN)에는 k-1번째 주사 구동 블록(210_k-1)의 주사 신호(S[k-1])가 입력된다. 이때, 첫 번째 주사 구동 블록(210_1)의 입력 신호 입력단(IN)에는 주사 시작 신호(SST)가 입력된다.
각 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)은 제1 클록 신호 입력단(CLK1), 제2 클록 신호 입력단(CLK2), 제3 클록 신호 입력단(CLK3) 및 입력 신호 입력단(IN)으로 입력되는 신호에 따라 생성된 주사 신호(S[1], S[2], ..., S[n])를 출력단(OUT)으로 출력한다.
첫 번째 주사 구동 블록(210_1)은 주사 시작 신호(SSP)를 입력받아 생성한 주사 신호(S[1])를 첫 번째 주사선(S1) 및 두 번째 주사 구동 블록(210_2)의 입력 신호 입력단(IN)에 전달한다. k 번째 배열된 주사 구동 블록(210_k)은 k-1 번째 배열된 주사 구동 블록(210_k-1)에서 출력되는 주사 신호(S[k-1])를 입력받아 생성된 주사 신호(S[k])를 출력한다(1<k<=n).
주사 구동 장치는 ESD(Electro Static Discharge) 부(220), 직류 전원부(230) 및 교류 전원부(240)를 더 포함할 수 있다. 여기서는 ESD 부(220), 직류 전원부(230) 및 교류 전원부(240)가 주사 구동 장치에 포함되는 것으로 설명하지만, ESD 부(220), 직류 전원부(230) 및 교류 전원부(240) 중 적어도 어느 하나는 주사 구동 장치와 별도 마련될 수 있다.
ESD 부(220)는 제2 전원 전압 배선(p2) 및 제3 전원 전압 배선(p3)에 연결된다. ESD 부(220)는 제2 전원 전압(VDH) 및 제3 전원 전압(VGL)을 이용하여 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)으로 정전하가 흘러들어 가는 것을 방지하여 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)을 정전하로부터 보호한다. 제2 전원 전압(VDH)은 논리 하이 레벨의 직류 전압이고, 제3 전원 전압(VGL)은 논리 로우 레벨의 직류 전압이다.
직류 전원부(230)는 제2 전원 전압 배선(p2) 및 제3 전원 전압 배선(p3)에 연결된다. 직류 전원부(230)는 제2 전원 전압 배선(p2)에 제2 전원 전압(VDH)을 공급하고, 제3 전원 전압 배선(p3)에 제3 전원 전압(VGL)을 공급한다.
교류 전원부(240)는 제1 전원 전압 배선(p1)에 연결되어 제1 전원 전압(VGH)을 공급한다. 교류 전원부(240)는 화소 검사시 제1 전원 전압(VGH)을 게이트 오프 전압에서 게이트 온 전압으로 변동시킨다. 게이트 온 전압은 각 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)에 포함되는 트랜지스터를 턴 온시키는 전압이고, 게이트 오프 전압은 각 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)에 포함되는 트랜지스터를 턴 오프시키는 전압이다.
교류 전원부(240)는 제1 전원 전압(VGH)을 공급하는 회로를 포함하는 제1 전원 패드일 수 있고, 직류 전원부(230)는 제2 전원 전압(VDH)을 공급하는 회로를 포함하는 제1 전원 패드일 수 있다. 즉, 직류 전원부(230) 및 교류 전원부(240)는 서로 분리된 2개의 전원 패드로 이루어질 수 있다.
화소 검사시 복수의 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4)가 게이트 온 전압으로 인가되고, 제1 전원 전압(VGH)이 게이트 오프 전압에서 게이트 온 전압으로 인가됨에 따라, 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)은 동시에 게이트 온 전압의 주사 신호를 출력한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사 완료 후 제품화된 주사 구동 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 3을 참조하면, 도 2의 화소 검사시 주사 구동 장치의 구성과의 차이점 위주로 설명한다.
화소 검사가 완료되면 제1 전원 전압 배선(p1)은 교류 전원부(240)와 단선된다. 그리고 제1 전원 전압 배선(p1)은 직류 전원부(230)에 연결된다. 직류 전원부(230)는 제1 전원 전압 배선(p1)에 제2 전원 전압(VDH)을 공급한다. 또는, 화소 검사가 완료된 후 직류 전원부(230)와 교류 전원부(240)는 소스 PCB로 연결되고, 제1 전원 전압 배선(p1)이 직류 전원부(230)에 연결되도록 하여 제1 전원 전압 배선(p1)에 제2 전원 전압(VDH)이 공급되도록 할 수 있다.
ESD 부(220)를 위한 제2 전원 전압 배선(p2)이 주사 구동 장치의 구동을 위한 제1 전원 전압 배선(p1)과 별도로 마련됨으로써, 화소 검사시 ESD 부(220)는 제2 전원 전압(VDH) 및 제3 전원 전압(VGL)에 의해 정상 동작하도록 하면서 제1 전원 전압 배선(p1)에 교류 전압을 인가하여 복수의 주사 신호(S[1], S[2], ..., S[n])가 동시에 출력되도록 할 수 있다.
만일, 제2 전원 전압 배선(p2)이 별도로 마련되지 않고, ESD 부(220)가 제1 전원 전압 배선(p1)에 연결되어 있는 경우, 화소 검사를 위해 제1 전원 전압 배선(p1)에 교류 전압을 인가하게 되면 ESD 부(220)는 오동작하게 된다. ESD 부(220)의 오동작에 의해 표시장치의 내부회로는 정전하에 의한 고전압 펄스에 그대로 노출될 수 있다.
이제, 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)의 회로 구성에 대하여 설명하고, 화소 검사시 주사 구동 장치가 주사 신호를 동시에 출력하는 동작 및 화소 검사 완료 후 제품화된 주사 구동 장치가 주사 신호를 순차적으로 출력하는 동작에 대하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 주사 구동 블록을 나타내는 회로도이다.
도 4를 참조하면, 도 2 및 3의 주사 구동 장치에 포함되는 주사 구동 블록이다.
주사 구동 블록은 복수의 트랜지스터(M11, M12, M13, M14, M15, M16, M17, M18) 및 복수의 커패시터(C11, C12)를 포함한다.
제1 트랜지스터(M11)는 제1 노드(QB)에 연결되어 있는 게이트 전극, 전원 전압(VGH 또는 VDH)에 연결되어 있는 일 전극 및 출력단(OUT)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제2 트랜지스터(M12)는 제2 노드(Q)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제3 클록 신호 입력단(CLK3)에 연결되어 있는 일 전극 및 출력단(OUT)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제3 트랜지스터(M13)는 제2 클록 신호 입력단(CLK2)에 연결되어 있는 게이트 전극, 입력 신호 입력단(IN)에 연결되어 있는 일 전극 및 제2 노드(Q)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제4 트랜지스터(M14)는 제1 클록 신호 입력단(CLK1)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제1 클록 신호 입력단(CLK1)에 연결되어 있는 일 전극 및 제1 노드(QB)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제5 트랜지스터(M15)는 입력 신호 입력단(IN)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제1 클록 신호 입력단(CLK1)에 연결되어 있는 일 전극 및 제6 트랜지스터(M16)의 일 전극에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제6 트랜지스터(M16)는 제2 클록 신호 입력단(CLK2)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제5 트랜지스터(M15)의 타 전극에 연결되어 있는 일 전극 및 제1 노드(QB)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제5 트랜지스터(M15) 및 제6 트랜지스터(M16)는 입력 신호 입력단(IN)에 인가되는 입력 신호 및 제2 클록 신호 입력단(CLK2)에 입력되는 클록 신호에 의해 함께 턴 온되어 제1 노드(QB)에 제1 클록 신호 입력단(CLK1)으로 입력되는 클록 신호를 전달한다. 따라서, 제5 트랜지스터(M15)와 제6 트랜지스터(M16)는 그 위치가 서로 바뀔 수 있으며, 이러한 경우에도 주사 구동 블록은 동일하게 동작할 수 있다.
제7 트랜지스터(M17)는 제3 클록 신호 입력단(CLK3)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제2 노드(Q)에 연결되어 있는 일 전극, 제8 트랜지스터(M18)의 일 전극에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제8 트랜지스터(M18)는 제1 노드(QB)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제7 트랜지스터(M17)의 타 전극에 연결되어 있는 일 전극 및 출력단(OUT)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제1 커패시터(C11)는 제2 노드(Q)에 연결되어 있는 일 전극 및 출력단(OUT)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
제2 커패시터(C12)는 전원 전압(VGH 또는 VDH)에 연결되어 있는 일 전극 및 제1 노드(QB)에 연결되어 있는 타 전극을 포함한다.
복수의 트랜지스터(M11 내지 M18)는 p-채널 전계 효과 트랜지스터이다. 복수의 트랜지스터(M11 내지 M18)를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 논리 로우 레벨의 전압이고 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 논리 하이 레벨의 전압이다. 구동 검사시 인가되는 전원 전압(VGH)은 논리 로우 레벨 및 논리 하이 레벨의 전압으로 변동하는 교류 전압이다. 구동 검사 완료 후 제품화된 주사 구동 장치에 인가되는 전원 전압(VDH)은 논리 하이 레벨의 전압이다.
여기서는 복수의 트랜지스터(M11 내지 M18)가 p-채널 전계 효과 트랜지스터인 것으로 설명하였으나, 복수의 트랜지스터(M11 내지 M18)는 n-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다. n-채널 전계 효과 트랜지스터를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 논리 하이 레벨의 전압이고 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 논리 로우 레벨의 전압이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사시의 주사 구동 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 2, 4 및 5를 참조하면, 화소 검사시의 주사 구동 장치에 포함되는 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)에 연결되는 제1 전원 전압 배선(p1)은 교류 전원부(240)에 연결된다. 이에 따라, 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)에는 논리 로우 레벨 및 논리 하이 레벨로 변동되는 제1 전원 전압(VGH)이 공급된다.
t11~12 구간은 주사 구동 장치에 포함되는 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)이 논리 로우 레벨의 주사 신호(S[1], S[2], ..., S[n])를 출력하도록 하여 복수의 화소의 점등 및 어레이를 검사하는 검사 구간이다. 검사 구간에서, 주사 시작 신호(SSP)는 플로팅되거나 논리 하이 레벨로 인가되고, 복수의 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4)는 논리 로우 레벨의 전압으로 인가된다. 그리고 제1 전원 전압(VGH)은 t11 시점에 논리 하이 레벨에서 논리 로우 레벨로 변동되고, 검사 구간 동안 논리 로우 레벨로 유지된다.
t11~t12 구간에서, 복수의 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4)가 논리 로우 레벨의 전압으로 인가됨에 따라 제3 트랜지스터(M13), 제4 트랜지스터(M14) 및 제7 트랜지스터(M17)가 턴 온된다. 제1 노드(QB)에 논리 로우 레벨의 전압이 전달되고, 제2 노드(Q)에는 논리 하이 레벨의 전압이 전달된다. 제1 노드(QB)의 논리 로우 레벨의 전압에 의해 제1 트랜지스터(M11) 및 제8 트랜지스터(M18)가 턴 온된다. 턴 온된 제1 트랜지스터(M11)를 통해 논리 로우 레벨의 제1 전원 전압(VGH)이 출력단(OUT)으로 출력된다. 그리고, 턴 온된 제7 트랜지스터(M17) 및 제8 트랜지스터(M18)를 통해 제2 노드(Q)의 논리 하이 레벨의 전압이 출력단(OUT)으로 전달된다.
복수의 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4)가 모두 논리 로우 레벨의 전압으로 인가되므로, 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)은 동일하게 동작한다. 즉, 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)은 동시에 논리 로우 레벨의 주사 신호(S[1], S[2], ..., S[n])를 동시에 출력한다.
복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n) 중 어느 하나의 주사 구동 블록에 불량이 발생하는 경우, 불량이 발생한 주사 구동 블록 이후의 주사 구동 블록에서는 주사 신호가 정상적으로 출력되지 않아 화소의 점등 및 어레이 검사가 불가능하게 된다.
제안하는 바와 같이, 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)이 논리 로우 레벨의 주사 신호(S[1], S[2], ..., S[n])를 동시에 출력하도록 함으로써, 모든 화소의 점등 및 어레이 검사를 수행할 수 있다. 주사 신호가 순차적으로 출력되는 경우 화소 검사의 검출 효율이 저하될 수 있으나, 주사 신호를 동시에 출력하는 경우에는 화소 검사의 검출 효율을 높일 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 검사 완료 후 제품화된 주사 구동 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 3, 4 및 6을 참조하면, 제품화된 주사 구동 장치에 포함되는 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)에 연결되는 제1 전원 전압 배선(p1)은 직류 전원부(230)에 연결된다. 이에 따라, 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)에는 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압(VDH)이 공급된다.
제품화된 주사 구동 장치는 주사 시작 신호(SSP) 및 복수의 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4)에 의해 논리 로우 레벨의 주사 신호를 순차적으로 출력한다.
제1 클록 신호(SCLK1)는 제1 기간의 논리 로우 레벨 및 제1 기간의 논리 하이 레벨로 반복된다. 제2 클록 신호(SCLK2)는 제1 클록 신호(SCLK1)가 제1 클록 신호(SCLK1)의 1/2 듀티 만큼 시프트된 신호이다. 클록 신호의 듀티는 주사 구동 블록에 포함되는 트랜지스터를 턴 온 시키는 구간을 의미한다. 제3 클록 신호(SCLK3)는 제2 클록 신호(SCLK2)가 제2 클록 신호(SCLK2)의 1/2 듀티 만큼 시프트된 신호이다. 제4 클록 신호(SCLK4)는 제3 클록 신호(SCLK3)가 제3 클록 신호(SCLK3)의 1/2 듀티 만큼 시프트된 신호이다. 4개의 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4)는 서로 다른 동기를 가진다.
설명의 편의를 위해, 첫 번째 주사 구동 블록(210_1)의 동작에 대하여 먼저 설명한다. 첫 번째 주사 구동 블록(210_1)은 4개의 클록 신호(SCLK1 내지 SCLK4) 중에서 제1 클록 신호(SCLK1), 제2 클록 신호(SCLK2) 및 제3 클록 신호(SCLK3)를 이용한다.
주사 시작 신호(SSP)는 t22~t24 구간에서 논리 로우 레벨의 전압으로 인가된다.
t21~t22 구간에서, 제1 클록 신호(SCLK1)가 논리 로우 레벨의 전압으로 인가되고, 제2 클록 신호(SCLK2) 및 제3 클록 신호(SCLK3)는 논리 하이 레벨의 전압으로 인가된다. 제4 트랜지스터(M14)가 턴 온되고 논리 로우 레벨의 전압이 제1 노드(QB)에 전달된다. 제1 트랜지스터(M11)가 턴 온되고, 턴 온된 제1 트랜지스터(M11)를 통해 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압(VDH)이 출력단(OUT)으로 전달된다.
t22~t23 구간에서, 제1 클록 신호(SCLK1) 및 제2 클록 신호(SCLK1)가 논리 로우 레벨의 전압으로 인가되고, 제3 클록 신호(SCLK3)는 논리 하이 레벨의 전압으로 인가된다. 논리 로우 레벨의 신호에 의해 제3 트랜지스터(M13), 제4 트랜지스터(M14), 제5 트랜지스터(M15) 및 제6 트랜지스터(M16)가 턴 온된다. 제1 노드(QB) 및 제2 노드(Q)에는 논리 로우 레벨의 전압이 전달된다. 제1 노드(QB)의 논리 로우 레벨의 전압에 의해 제1 트랜지스터(M11)가 턴 온되고, 턴 온된 제1 트랜지스터(M11)를 통해 제2 전원 전압(VDH)이 출력단(OUT)으로 전달된다. 제2 노드(Q)의 논리 로우 레벨의 전압에 의해 제2 트랜지스터(M12)가 턴 온되고, 턴 온된 제2 트랜지스터(M12)를 통해 논리 하이 레벨의 전압이 출력단(OUT)으로 전달된다. 이때, 제1 커패시터(C11)는 제2 노드(Q)의 논리 로우 레벨의 전압 및 출력단(OUT)의 논리 하이 레벨의 전압에 의한 전압차로 충전된다.
t23~t24 구간에서, 제2 클록 신호(SCLK2) 및 제3 클록 신호(SCLK3)가 논리 로우 레벨의 전압으로 인가되고, 제1 클록 신호(SCLK1)가 논리 하이 레벨의 전압으로 인가된다. 논리 로우 레벨의 신호에 의해 제3 트랜지스터(M13), 제5 트랜지스터(M15), 제6 트랜지스터(M16) 및 제7 트랜지스터(M17)가 턴 온된다. 턴 온된 제3 트랜지스터(M13)를 통해 논리 로우 레벨의 전압이 제2 노드(Q)에 전달된다. 턴 온된 제5 트랜지스터(M15) 및 제6 트랜지스터(M16)를 통해 논리 하이 레벨의 전압이 제1 노드(QB)에 전달된다. 제1 노드(QB)의 논리 하이 레벨의 전압에 의해 제1 트랜지스터(M11) 및 제8 트랜지스터(M18)는 턴 오프된다. 제3 클록 신호(SCLK3)가 논리 로우 레벨의 전압으로 바뀜에 따라 제2 트랜지스터(M12)는 제1 커패시터(C11)에 의한 부트스트랩에 의해 완전히 턴 온된다. 턴 온된 제2 트랜지스터(M12)를 통해 논리 로우 레벨의 전압이 출력단(OUT)으로 전달된다.
t24~t25 구간에서, 제3 클록 신호(SCLK3)가 논리 로우 레벨의 전압으로 인가되고, 제1 클록 신호(SCLK1) 및 제2 클록 신호(SCLK2)는 논리 하이 레벨의 전압으로 인가된다. 논리 하이 레벨의 신호에 의해 제3 트랜지스터(M13), 제4 트랜지스터(M14), 제5 트랜지스터(M15) 및 제6 트랜지스터(M16)가 턴 오프된다. 제1 노드(QB)는 플로팅 상태가 되고, 제1 노드(QB)의 전압은 논리 하이 레벨을 유지한다. 제2 트랜지스터(M12)는 턴 온된 상태를 유지하고, 논리 로우 레벨의 전압은 출력단(OUT)으로 지속적으로 전달된다.
이와 같이, 첫 번째 주사 구동 블록(210_1)은 t23~t25 구간에서 논리 로우 레벨의 주사 신호(S[1])를 출력한다. 첫 번째 주사 구동 블록(210_1)의 논리 로우 레벨의 주사 신호(S[1])는 두 번째 주사 구동 블록(210_2)의 입력 신호 입력단(IN)에 전달된다.
t25~t26 구간에서, 제1 클록 신호(SCLK1)가 논리 로우 레벨의 전압으로 인가되고, 제2 클록 신호(SCLK2) 및 제3 클록 신호(SCLK3)가 논리 하이 레벨의 전압으로 인가된다. 제1 클록 신호(SCLK1)에 의해 제4 트랜지스터(M14)가 턴 온되고 논리 로우 레벨의 전압이 제1 노드(QB)에 전달된다. 제1 노드(QB)의 논리 로우 레벨의 전압에 의해 제1 트랜지스터(M11)가 턴 온된다. 턴 온된 제1 트랜지스터(M11)를 통해 제2 전원 전압(VDH)이 출력단(OUT)으로 전달된다.
두 번째 주사 구동 블록(210_2)은 첫 번째 주사 구동 블록(210_1)이 이용하는 클록 신호들(SCLK1, SCLK2, SCLK3)보다 1/2 듀티 시프트된 클록 신호들(SCLK2, SCLK3, SCLK4)을 이용하므로, 두 번째 주사 구동 블록(210_2)은 첫 번째 주사 구동 블록(210_1)보다 1/2 듀티 만큼 늦게 논리 로우 레벨의 주사 신호(S[2])를 출력한다. 이러한 방식으로 복수의 주사 구동 블록(210_1, 210_2, ..., 210_n)은 순차적으로 논리 로우 레벨의 주사 신호(S[1], S[2], ..., S[n])를 출력한다.
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100 : 신호 제어부
200 : 주사 구동 장치
210 : 주사 구동 블록
220 : ESD 부
230 : 직류 전원부
240 : 교류 전원부
300 : 데이터 구동부
500 : 표시부

Claims (14)

  1. 복수의 주사선에 연결된 복수의 화소를 포함하는 표시부;
    상기 복수의 주사선에 연결되어 복수의 주사 신호를 인가하는 복수의 주사 구동 블록;
    상기 복수의 주사 구동 블록을 정전하로부터 보호하는 ESD 부;
    상기 복수의 화소의 검사시 제1 전원 전압 배선을 통해 상기 복수의 주사 구동 블록에 논리 하이 레벨 및 논리 로우 레벨로 변동하는 제1 전원 전압을 공급하는 교류 전원부; 및
    제2 전원 전압 배선을 통해 상기 ESD 부에 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압을 공급하는 직류 전원부를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 복수의 화소의 검사시 상기 제1 전원 전압 배선은 상기 교류 전원부에 연결되고, 상기 복수의 화소의 검사 종료 후 상기 제1 전원 전압 배선은 상기 직류 전원부에 연결되는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은,
    제1 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호가 전달되는 제1 노드;
    제2 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호에 따라 입력 신호가 전달되는 제2 노드;
    상기 제1 노드에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나가 인가되는 일 전극 및 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제1 트랜지스터; 및
    상기 제2 노드에 연결되어 있는 게이트 전극, 제3 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제2 트랜지스터를 포함하는 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은,
    상기 제2 노드에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제1 커패시터를 더 포함하는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은,
    상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나가 인가되는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제2 커패시터를 더 포함하는 표시 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은,
    상기 제2 클록 신호 입력단에 연결되는 있는 게이트 전극, 상기 입력 신호가 인가되는 일 전극 및 상기 제2 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제3 트랜지스터를 더 포함하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은,
    상기 제1 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제1 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제4 트랜지스터를 더 포함하는 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은,
    상기 입력 신호가 인가되는 게이트 전극, 상기 제1 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 일 전극을 포함하는 제5 트랜지스터; 및
    상기 제2 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제5 트랜지스터의 타 전극에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제6 트랜지스터를 더 포함하는 표시 장치.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은,
    상기 제3 클록 신호 입력단에 연결되어 있는 게이트 전극 및 상기 제2 노드에 연결되어 있는 일 전극을 포함하는 제7 트랜지스터; 및
    상기 제1 노드에 연결되어 있는 게이트 전극, 상기 제7 트랜지스터의 타 전극에 연결되어 있는 일 전극 및 상기 출력단에 연결되어 있는 타 전극을 포함하는 제8 트랜지스터를 더 포함하는 표시 장치.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 직류 전원부는 제3 전원 전압 배선을 통해 상기 ESD 부에 논리 로우 레벨의 제3 전원 전압을 공급하는 표시 장치.
  11. 복수의 주사 구동 블록에 연결된 제1 전원 전압 배선을 교류 전원부에 연결하고, 상기 제1 전원 전압 배선에 인가되는 제1 전원 전압을 변동시켜 상기 복수의 주사 구동 블록에서 복수의 주사 신호를 동시에 출력시키는 단계; 및
    상기 복수의 주사 구동 블록을 정전하로부터 보호하는 ESD 부에 제2 전원 전압 배선을 통해 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압을 공급하는 직류 전원부에 상기 제1 전원 전압 배선을 연결시키는 단계를 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록 각각은 제1 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호가 전달되는 제1 노드, 상기 제1 노드에 게이트 전극이 연결되고 상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나를 출력단으로 전달하는 제1 트랜지스터, 및 상기 제1 전원 전압 및 상기 제2 전원 전압 중 어느 하나에 연결되는 일 전극 및 상기 제1 노드에 연결되는 타 전극을 포함하는 커패시터를 포함하고,
    상기 복수의 주사 구동 블록에서 복수의 주사 신호를 동시에 출력시키는 단계는,
    상기 제1 전원 전압을 변동시켜 상기 제1 노드의 전압을 변동시키는 단계;
    상기 제1 노드의 전압 변동으로 상기 제1 트랜지스터를 턴 온시키는 단계; 및
    상기 제1 전원 전압을 상기 출력단으로 출력시키는 단계를 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  13. 제1 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호가 전달되는 제1 노드, 제2 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호에 따라 입력 신호가 전달되는 제2 노드, 상기 제1 노드에 게이트 전극이 연결되고 제1 전원 전압을 출력단으로 전달하는 제1 트랜지스터 및 상기 제2 노드에 게이트 전극이 연결되고 제3 클록 신호 입력단에 입력되는 클록 신호를 상기 출력단으로 전달하는 제2 트랜지스터를 포함하는 주사 구동 블록을 복수개 포함하는 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 복수의 주사 구동 블록을 정전하로부터 보호하는 ESD 부에 제2 전원 전압 배선을 통해 논리 하이 레벨의 제2 전원 전압을 공급하는 직류 전원부에 상기 제1 전원 전압을 전달하는 제1 전원 전압 배선을 연결시켜 상기 복수의 주사 구동 블록에 상기 제2 전원 전압을 인가하는 단계; 및
    상기 복수의 주사 구동 블록에 복수의 클록 신호를 인가하여 복수의 주사 신호를 순차적으로 출력시키는 단계를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 복수의 주사 신호를 순차적으로 출력시키는 단계는,
    상기 복수의 주사 구동 블록의 제1 클록 신호 입력단에 제1 클록 신호를 입력시키는 단계;
    상기 복수의 주사 구동 블록의 제2 클록 신호 입력단에 상기 제1 클록 신호가 상기 제1 클록 신호의 1/2 듀티만큼 시프트된 신호인 제2 클록 신호를 입력시키는 단계;
    상기 복수의 주사 구동 블록의 제3 클록 신호 입력단에 상기 제2 클록 신호가 상기 제2 클록 신호의 1/2 듀티만큼 시프트된 신호인 제3 클록 신호를 입력시키는 단계; 및
    상기 제3 클록 신호에 동기된 주사 신호를 출력하는 단계를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
KR1020120059330A 2012-06-01 2012-06-01 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법 KR101879779B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120059330A KR101879779B1 (ko) 2012-06-01 2012-06-01 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법
US13/668,191 US9299279B2 (en) 2012-06-01 2012-11-02 Display device, inspecting and driving method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120059330A KR101879779B1 (ko) 2012-06-01 2012-06-01 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130135607A true KR20130135607A (ko) 2013-12-11
KR101879779B1 KR101879779B1 (ko) 2018-07-19

Family

ID=49669775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120059330A KR101879779B1 (ko) 2012-06-01 2012-06-01 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9299279B2 (ko)
KR (1) KR101879779B1 (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101804315B1 (ko) * 2010-12-06 2018-01-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치, 표시 장치를 위한 주사 구동 장치 및 그 구동 방법
KR102189577B1 (ko) * 2014-01-20 2020-12-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
CN103941507B (zh) * 2014-04-02 2017-01-11 上海天马微电子有限公司 一种阵列基板、显示面板及显示装置
KR102270333B1 (ko) * 2014-11-24 2021-07-01 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102271488B1 (ko) * 2014-12-02 2021-07-01 엘지디스플레이 주식회사 전압 공급부와 이를 포함한 표시장치
KR20210013509A (ko) 2019-07-26 2021-02-04 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN110767149B (zh) * 2019-11-18 2021-10-22 合肥京东方卓印科技有限公司 栅极驱动电路、显示装置及修复方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS313282B1 (ko) * 1953-04-08 1956-05-04
JP3366496B2 (ja) * 1995-07-11 2003-01-14 株式会社日立製作所 液晶表示装置
US6753836B2 (en) * 2000-12-06 2004-06-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal device driver circuit for electrostatic discharge protection
KR20070096509A (ko) * 2006-03-24 2007-10-02 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 셀 테스트 기능을 갖는 액정 패널, 그를 구비한 액정 표시장치, 및 그 액정 패널의 제조 방법
US20070248204A1 (en) * 2006-04-25 2007-10-25 Mitsubishi Electric Corporation Shift register circuit and image display apparatus equipped with the same
KR20090100272A (ko) * 2008-03-18 2009-09-23 세이코 엡슨 가부시키가이샤 검사 회로, 전기 광학 장치 및 전자 기기

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3313282B2 (ja) * 1996-06-24 2002-08-12 株式会社日立製作所 液晶表示装置
JP3707404B2 (ja) * 2001-08-03 2005-10-19 ソニー株式会社 検査方法、半導体装置、及び表示装置
CN100480693C (zh) 2002-01-23 2009-04-22 马雷纳系统有限公司 采用红外热成像法进行缺陷检测和分析
KR100776511B1 (ko) * 2006-04-18 2007-11-16 삼성에스디아이 주식회사 주사구동회로 및 이를 이용한 유기발광표시장치
KR100796137B1 (ko) * 2006-09-12 2008-01-21 삼성에스디아이 주식회사 쉬프트 레지스터 및 이를 이용한 유기전계발광 표시장치
KR101502366B1 (ko) * 2007-06-12 2015-03-16 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
KR100993404B1 (ko) * 2009-03-23 2010-11-09 삼성모바일디스플레이주식회사 정전기 보호회로 및 이를 구비한 유기전계발광 표시장치
TWI434611B (zh) 2010-02-25 2014-04-11 Richtek Technology Corp 具有電壓調整功能之ｌｅｄ陣列控制電路及其驅動電路與方法
KR101108172B1 (ko) 2010-03-16 2012-01-31 삼성모바일디스플레이주식회사 스캔 드라이버 및 이를 이용한 유기 발광 표시 장치
JP5429815B2 (ja) 2010-04-05 2014-02-26 株式会社ジャパンディスプレイ シフトレジスタ回路
KR101769069B1 (ko) 2010-11-29 2017-08-18 삼성디스플레이 주식회사 주사 구동 장치 및 그 구동 방법

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS313282B1 (ko) * 1953-04-08 1956-05-04
JP3366496B2 (ja) * 1995-07-11 2003-01-14 株式会社日立製作所 液晶表示装置
US6753836B2 (en) * 2000-12-06 2004-06-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal device driver circuit for electrostatic discharge protection
KR20070096509A (ko) * 2006-03-24 2007-10-02 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 셀 테스트 기능을 갖는 액정 패널, 그를 구비한 액정 표시장치, 및 그 액정 패널의 제조 방법
US20070248204A1 (en) * 2006-04-25 2007-10-25 Mitsubishi Electric Corporation Shift register circuit and image display apparatus equipped with the same
KR20090100272A (ko) * 2008-03-18 2009-09-23 세이코 엡슨 가부시키가이샤 검사 회로, 전기 광학 장치 및 전자 기기

Also Published As

Publication number Publication date
US9299279B2 (en) 2016-03-29
US20130321644A1 (en) 2013-12-05
KR101879779B1 (ko) 2018-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11348530B2 (en) Scan driver and display device having the same
KR101879779B1 (ko) 표시 장치, 표시 장치의 검사 방법 및 표시 장치의 구동 방법
US9886891B2 (en) Sensing driving circuit and display device including the same
US10198998B2 (en) Gate driver shift register and mask circuit and display device using the same
KR102061256B1 (ko) 스테이지 회로 및 이를 이용한 유기전계발광 표시장치
US10706784B2 (en) Stage circuit and scan driver using the same
KR20130092814A (ko) 표시장치를 위한 주사 구동 장치 및 그 구동 방법
US8466905B2 (en) Display, scan driving apparatus for the display, and driving method thereof
CN108269536B (zh) 有机发光显示面板和包括该显示面板的有机发光显示装置
KR101878374B1 (ko) 주사 구동 장치 및 그 구동 방법
KR101581401B1 (ko) 주사 구동 장치
US11100847B2 (en) Scan driver and display device including the same
US20200152127A1 (en) Stage and emission control driver having the same
KR102080133B1 (ko) 주사 구동부 및 그 구동 방법
CN113053288A (zh) 显示设备
US9324269B2 (en) Scan driving device and method of driving the same
US10242626B2 (en) Stage and organic light emitting display device using the same
EP3637401B1 (en) Gate driver and display device including the same
US11263962B2 (en) Stage and display device including the same
KR102411044B1 (ko) 게이트 구동부와 이를 포함한 유기발광 표시장치
KR20170018156A (ko) 보호 회로 및 이를 포함하는 유기발광 표시장치
CN114120849A (zh) 显示装置
KR102199490B1 (ko) 발광제어 구동부 및 이를 포함하는 유기전계발광 표시장치
KR20130051750A (ko) 주사 구동 장치 및 그 구동 방법
KR101975864B1 (ko) 주사 구동 장치 및 그 리페어 방법

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant