KR20130103135A - Light emitting device package and light emitting module - Google Patents

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KR20130103135A
KR20130103135A KR1020120024530A KR20120024530A KR20130103135A KR 20130103135 A KR20130103135 A KR 20130103135A KR 1020120024530 A KR1020120024530 A KR 1020120024530A KR 20120024530 A KR20120024530 A KR 20120024530A KR 20130103135 A KR20130103135 A KR 20130103135A
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최석범
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엘지이노텍 주식회사
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Abstract

PURPOSE: A light emitting device package and a light emitting module are provided to improve the light extraction efficiency of the light emitting device package by including a light emitting device and a fluorescent layer which is separated from the light emitting device. CONSTITUTION: A body (211) has a cavity (212). A plurality of lead frames (215,217) are arranged in the cavity. A light emitting device (100) is arranged on the lead frames. A plurality of adhesive members (221,222) are arranged between the light emitting device and the lead frames. A light transmissive resin layer (21) is arranged in the cavity. A fluorescent layer (22) is arranged on the light transmissive resin layer and the light emitting device.

Description

발광 소자 패키지 및 발광 모듈{LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE AND LIGHT EMITTING MODULE}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a light emitting device package and a light emitting module,

실시 예는 발광 소자 패키지 및 발광 모듈에 관한 것이다. An embodiment relates to a light emitting device package and a light emitting module.

Ⅲ-Ⅴ족 질화물 반도체(group Ⅲ-Ⅴ nitride semiconductor)는 물리적, 화학적 특성으로 인해 발광 다이오드(LED) 또는 레이저 다이오드(LD) 등의 발광 소자의 핵심 소재로 각광을 받고 있다. Ⅲ-Ⅴ족 질화물 반도체는 통상 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질로 이루어져 있다.III-V nitride semiconductors (group III-V nitride semiconductors) are widely recognized as key materials for light emitting devices such as light emitting diodes (LEDs) and laser diodes (LD) due to their physical and chemical properties. The III-V group nitride semiconductors are usually made of a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y?

발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 화합물 반도체의 특성을 이용하여 전기를 적외선 또는 빛으로 변환시켜서 신호를 주고 받거나, 광원으로 사용되는 반도체 소자의 일종이다.BACKGROUND ART Light emitting diodes (LEDs) are a kind of semiconductor devices that convert the electric power to infrared rays or light using the characteristics of compound semiconductors, exchange signals, or use as a light source.

이러한 질화물 반도체 재료를 이용한 LED 혹은 LD는 광을 얻기 위한 발광 소자에 많이 사용되고 있으며, 핸드폰의 키 패드 발광부, 표시 장치, 전광판, 조명 장치 등 각종 제품의 광원으로 응용되고 있다. LEDs or LDs using such nitride semiconductor materials are widely used in light emitting devices for obtaining light, and they have been applied as light sources for various products such as a key pad light emitting portion of a cellular phone, a display device, an electric sign board, and a lighting device.

실시 예는 새로운 발광 소자 패키지를 제공한다.The embodiment provides a new light emitting device package.

실시 예는 웨이퍼 레벨 패키징된 발광 소자와 상기 발광 소자로부터 이격된 형광체층을 포함하는 발광 소자 패키지를 제공한다. Embodiments provide a light emitting device package including a light emitting device packaged at a wafer level and a phosphor layer spaced from the light emitting device.

실시 예는 세라믹 재질의 첨가제를 갖는 지지부재를 갖는 발광 소자가 탑재된 발광 소자 패키지 및 이를 구비한 발광 모듈을 제공한다. Embodiments provide a light emitting device package having a light emitting device having a supporting member having a ceramic material additive and a light emitting module having the same.

실시 예는 발광 소자를 갖는 발광 모듈, 발광 소자 패키지 및 조명 장치를 제공한다.Embodiments provide a light emitting module, a light emitting device package, and a lighting device having a light emitting element.

실시 예에 따른 발광 소자 패키지는, 캐비티를 갖는 몸체; 상기 캐비티에 배치된 복수의 리드 프레임; 상기 복수의 리드 프레임 상에 배치된 발광 소자; 상기 발광 소자와 상기 복수의 리드 프레임 사이에 배치된 복수의 접착 부재; 상기 캐비티에 배치된 투광성 수지층; 및 상기 투광성 수지층과 상기 발광 소자의 상에 배치된 형광체층을 포함하며, 상기 발광 소자는, 제1도전형 반도체층, 상기 제1도전형 반도체층 아래에 제2도전형 반도체층 및 상기 제1도전형 반도체층과 상기 제2도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조물; 상기 제2도전형 반도체층 아래에 반사 전극층; 상기 제1도전형 반도체층의 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제1전극 구조; 상기 반사 전극층 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제2전극 구조; 상기 발광 구조물, 상기 제1전극 구조 및 상기 제2전극 구조 사이에 배치된 절연층; 상기 제1전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제1리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제1연결 전극; 상기 제2전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제2리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제2연결 전극; 및 상기 적어도 하나의 제1연결 전극 및 상기 적어도 하나의 제2연결 전극의 둘레에 배치된 지지부재를 포함한다. A light emitting device package according to an embodiment includes: a body having a cavity; A plurality of lead frames disposed in the cavity; A light emitting element disposed on the plurality of lead frames; A plurality of adhesive members disposed between the light emitting element and the plurality of lead frames; A translucent resin layer disposed in the cavity; And a phosphor layer disposed on the light-transmissive resin layer and the light-emitting element, wherein the light-emitting element includes a first conductivity type semiconductor layer, a second conductivity type semiconductor layer below the first conductivity type semiconductor layer, A light emitting structure including an active layer between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer; A reflective electrode layer under the second conductive semiconductor layer; A first electrode structure disposed under the first conductive semiconductor layer and having a plurality of conductive layers; A second electrode structure disposed below the reflective electrode layer and having a plurality of conductive layers; An insulating layer disposed between the light emitting structure, the first electrode structure, and the second electrode structure; At least one first connection electrode disposed under the first electrode structure and electrically connected to the first lead frame; At least one second connection electrode disposed under the second electrode structure and electrically connected to the second lead frame; And a support member disposed around the at least one first connection electrode and the at least one second connection electrode.

실시 예에 따른 발광 소자 패키지는, 캐비티를 갖는 몸체; 상기 캐비티에 배치된 복수의 리드 프레임; 상기 복수의 리드 프레임 상에 배치된 발광 소자; 상기 발광 소자와 상기 복수의 리드 프레임 사이에 배치된 복수의 접착 부재; 상기 캐비티에 상기 발광 소자를 덮고, 서로 다른 형광체 함량을 갖는 복수의 층이 적층된 형광체층을 포함하며, 상기 발광 소자는, 제1도전형 반도체층, 상기 제1도전형 반도체층 아래에 제2도전형 반도체층 및 상기 제1도전형 반도체층과 상기 제2도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조물; 상기 제2도전형 반도체층 아래에 반사 전극층; 상기 제1도전형 반도체층의 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제1전극 구조; 상기 반사 전극층 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제2전극 구조; 상기 발광 구조물, 상기 제1전극 구조 및 상기 제2전극 구조 사이에 배치된 절연층; 상기 제1전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제1리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제1연결 전극; 상기 제2전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제2리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제2연결 전극; 및 상기 적어도 하나의 제1연결 전극 및 상기 적어도 하나의 제2연결 전극의 둘레에 배치된 지지부재를 포함한다.
A light emitting device package according to an embodiment includes: a body having a cavity; A plurality of lead frames disposed in the cavity; A light emitting element disposed on the plurality of lead frames; A plurality of adhesive members disposed between the light emitting element and the plurality of lead frames; And a phosphor layer covering the light emitting device and having a plurality of layers having different phosphor contents stacked in the cavity, wherein the light emitting device includes a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer below the first conductive semiconductor layer, A light emitting structure including a conductive semiconductor layer and an active layer between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; A reflective electrode layer under the second conductive semiconductor layer; A first electrode structure disposed under the first conductive semiconductor layer and having a plurality of conductive layers; A second electrode structure disposed below the reflective electrode layer and having a plurality of conductive layers; An insulating layer disposed between the light emitting structure, the first electrode structure, and the second electrode structure; At least one first connection electrode disposed under the first electrode structure and electrically connected to the first lead frame; At least one second connection electrode disposed under the second electrode structure and electrically connected to the second lead frame; And a support member disposed around the at least one first connection electrode and the at least one second connection electrode.

실시 예는 웨이퍼 레벨에서 패키징된 발광 소자 상에 형광체층을 이격시켜 줌으로써, 발광 소자 패키지의 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. Embodiments can improve the light extraction efficiency of the light emitting device package by separating the phosphor layer from the light emitting device packaged at the wafer level.

실시 예는 발광 소자 패키지의 발광 소자의 방열 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The embodiment can improve the heat radiation efficiency of the light emitting device of the light emitting device package.

실시 예는 발광 소자 패키지의 발광 소자에 공급되는 전류를 개선시켜 줄 수 있다. The embodiment can improve the current supplied to the light emitting device of the light emitting device package.

실시 예는 플립 방식으로 탑재된 발광 소자를 갖는 발광 소자 패키지 및 표시 장치, 조명 장치의 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다. The embodiment can improve the reliability of a light emitting device package, a display device, and a lighting device having a light emitting device mounted in a flip manner.

도 1은 제1실시 예에 따른 발광소자의 측 단면도이다.
도 2는 도 1의 발광 소자의 저면도이다.
도 3 내지 도 5는 도 1의 제1전극 및 제2전극 구조를 나타낸 도면이다.
도 6 내지 도 11는 제1실시 예에 따른 발광 소자의 제조 과정을 나타낸 도면이다.
도 12 제2실시 예에 따른 발광소자의 측 단면도이다.
도 13 및 도 14는 제3실시 예에 따른 발광 소자의 측 단면도 및 그 저면도이다.
도 15 및 도 16은 제4실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도 및 그 저면도이다.
도 17은 제5실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다.
도 18은 제6실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다.
도 19는 제7실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다.
도 20은 제8실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다.
도 21은 제9실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 22는 제10실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 23은 제11실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 24는 제12실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 25는 제13실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 26은 제14실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 27은 제15실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 28은 제16실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 29는 제17실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 30은 제18실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 31은 제19실시 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 32는 비교 예에 따른 발광 소자 패키지를 나타낸 측 단면도이다.
도 33은 실시 예와 비교 예의 전류에 따른 광속을 비교한 그래프이다.
도 34는 실시 예와 비교 예의 입력 전류와 순 방향 전압을 비교한 그래프이다.
도 35는 실시 예와 비교 예의 색 분포를 나타낸 도면이다.
도 36은 실시 예에 따른 발광 소자를 갖는 표시장치를 나타낸 도면이다.
도 37은 실시 예에 따른 발광 소자를 갖는 표시장치의 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 38은 실시 예에 따른 발광 소자를 갖는 조명장치를 나타낸 도면이다.
1 is a side sectional view of a light emitting device according to a first embodiment.
2 is a bottom view of the light emitting device of FIG.
FIGS. 3 to 5 are views showing the first electrode and the second electrode structure of FIG. 1. FIG.
6 to 11 are views showing a manufacturing process of the light emitting device according to the first embodiment.
12 is a side cross-sectional view of a light emitting device according to the second embodiment.
13 and 14 are a side sectional view and a bottom view of the light emitting device according to the third embodiment.
15 and 16 are a side sectional view and a bottom view of the light emitting device according to the fourth embodiment.
17 is a side sectional view showing a light emitting device according to a fifth embodiment.
18 is a side sectional view showing a light emitting device according to the sixth embodiment.
19 is a side sectional view showing a light emitting device according to the seventh embodiment.
20 is a side sectional view showing a light emitting device according to an eighth embodiment.
21 is a side sectional view showing a light emitting device package according to the ninth embodiment.
22 is a side sectional view showing a light emitting device package according to the tenth embodiment.
23 is a side sectional view showing a light emitting device package according to the eleventh embodiment.
24 is a side sectional view showing a light emitting device package according to a twelfth embodiment.
25 is a side sectional view showing a light emitting device package according to the thirteenth embodiment.
26 is a cross-sectional side view showing a light emitting device package according to the fourteenth embodiment.
27 is a side sectional view showing a light emitting device package according to a fifteenth embodiment.
28 is a side sectional view showing a light emitting device package according to the sixteenth embodiment.
29 is a side sectional view showing a light emitting device package according to a seventeenth embodiment.
30 is a side sectional view showing a light emitting device package according to an eighteenth embodiment.
31 is a side sectional view showing a light emitting device package according to a nineteenth embodiment.
32 is a side sectional view showing a light emitting device package according to a comparative example.
33 is a graph comparing luminous fluxes according to the currents of the embodiment and the comparative example.
34 is a graph comparing the input current and the forward voltage in the embodiment and the comparative example.
35 is a view showing the color distribution of the embodiment and the comparative example.
36 is a view showing a display device having a light emitting element according to the embodiment.
37 is a view showing another example of a display device having a light emitting element according to the embodiment.
38 is a view showing a lighting device having a light emitting device according to the embodiment.

실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on)"와 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In the description of the embodiments, it is to be understood that each layer (film), region, pattern or structure may be formed "on" or "under" a substrate, each layer The terms " on "and " under " include both being formed" directly "or" indirectly " Also, the criteria for top, bottom, or bottom of each layer will be described with reference to the drawings.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.The thickness and size of each layer in the drawings are exaggerated, omitted, or schematically shown for convenience and clarity of explanation. Also, the size of each component does not entirely reflect the actual size.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 제1실시 예에 따른 발광소자를 나타낸 측 단면도이며, 도 2는 도 1의 발광 소자의 저면도의 예를 나타낸 도면이다.FIG. 1 is a side sectional view showing a light emitting device according to a first embodiment, and FIG. 2 is a view showing an example of a bottom view of the light emitting device of FIG.

도 1 및 도 2를 참조하면, 발광 소자(100)는 기판(111), 발광 구조물(120), 반사 전극층(130), 제1절연층(121), 복수의 전도층을 갖는 제1전극 구조(131,133,135), 복수의 전도층을 갖는 제2전극 구조(132,134,136), 제2절연층(123), 제1연결 전극(141), 제2연결 전극(143) 및 지지부재(151)를 포함한다.1 and 2, the light emitting device 100 includes a substrate 111, a light emitting structure 120, a reflective electrode layer 130, a first insulating layer 121, a first electrode structure having a plurality of conductive layers, A second electrode structure having a plurality of conductive layers 132, 134 and 136, a second insulating layer 123, a first connecting electrode 141, a second connecting electrode 143 and a supporting member 151 .

상기 기판(111)은 투광성, 절연성 또는 도전성의 재질로 형성될 수 있으며, 예컨대, 사파이어(Al2O3), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, Ga2O3 중 적어도 하나를 이용할 수 있다. 상기 기판(111)의 상면 및 하면 중 적어도 하나에는 요철 패턴과 같은 광 추출 구조가 형성될 수 있으며, 상기의 요철 패턴은 상기 기판(111)의 식각을 통해 형성하거나, 별도의 러프니스와 같은 패턴을 형성할 수 있다. 상기 요철 패턴은 스트라이프 형상 또는 볼록 렌즈 형상을 포함할 수 있다.The substrate 111 may be formed of a material of the light transmissive, insulating or conductive, e.g., sapphire (Al 2 O 3), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, Ga 2 O 3 may be used. At least one of the upper surface and the lower surface of the substrate 111 may have a light extracting structure such as a concavo-convex pattern. The concavo-convex pattern may be formed through etching of the substrate 111, Can be formed. The concavo-convex pattern may include a stripe shape or a convex lens shape.

상기 기판(111) 아래에는 제1반도체층(113)이 형성될 수 있다. 상기 제1반도체층(113)은 II-VI족 화합물 반도체 또는 III-V족 화합물 반도체와 같은 II족 내지 VI족 화합물 반도체를 선택적으로 포함할 수 있다. 상기 제1반도체층(113)은 2족 내지 6족 화합물 반도체를 선택적으로 이용하여 적어도 한 층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있다. 상기 제1반도체층(113)은 예컨대, III족-V족 화합물 반도체를 이용한 반도체 예컨대, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 제1반도체층(113)은 ZnO 층과 같은 산화물로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. A first semiconductor layer 113 may be formed under the substrate 111. The first semiconductor layer 113 may selectively include Group II to VI compound semiconductors such as II-VI compound semiconductors or III-V compound semiconductors. The first semiconductor layer 113 may be formed of at least one layer or a plurality of layers by selectively using group II-VI compound semiconductors. The first semiconductor layer 113 may include at least one of a semiconductor using a Group III-V compound semiconductor, for example, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN and AlInN. The first semiconductor layer 113 may be formed of an oxide such as a ZnO layer, but is not limited thereto.

상기 제1반도체층(113)은 버퍼층으로 형성될 수 있으며, 상기 버퍼층은 상기 기판(111)과 질화물 반도체층 간의 격자 상수의 차이를 줄여줄 수 있다. 상기 제1반도체층(113)은 언도프드(undoped) 반도체층으로 형성될 수 있다. 상기 언도프드 반도체층은 III족-V족 화합물 반도체 예컨대, GaN계 반도체로 구현될 수 있다. 상기 언도프드 반도체층은 제조 공정시 의도적으로 도전형 도펀트를 도핑하지 않더라도 제1도전형 특성을 가지게 되며, 상기 제1도전형 반도체층(115)의 도전형 도펀트 농도보다는 낮은 저 전도성을 가지게 된다. 상기 제1반도체층(113)은 버퍼층 및 언도프드 반도체층 중 적어도 하나로 형성될 수 있으며, 또는 형성되지 않거나, 제거될 수 있다.
The first semiconductor layer 113 may be formed of a buffer layer, and the buffer layer may reduce a difference in lattice constant between the substrate 111 and the nitride semiconductor layer. The first semiconductor layer 113 may be formed of an undoped semiconductor layer. The undoped semiconductor layer may be formed of a Group III-V compound semiconductor, for example, a GaN-based semiconductor. The undoped semiconductor layer has a first conductivity type characteristic even when the conductive dopant is intentionally not doped in the fabrication process and has low conductivity lower than the conductivity type dopant concentration of the first conductive type semiconductor layer 115. The first semiconductor layer 113 may be formed of at least one of a buffer layer and an undoped semiconductor layer, or may be formed or removed.

상기 제1반도체층(113) 아래에는 발광 구조물(120)이 형성될 수 있다. 상기 발광 구조물(120)은 III족-V족 화합물 반도체를 포함하며, 예컨대 InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체를 갖고, 자외선 대역부터 가시 광선 대역의 파장 범위 내에서 소정의 주피크 파장을 발광하게 된다. A light emitting structure 120 may be formed under the first semiconductor layer 113. The light emitting structure 120 includes a group III-V compound semiconductor, and may include, for example, In x Al y Ga 1-xy N (0 x 1, 0 y 1, 0 x + y 1) Has a semiconductor having a composition formula and emits a predetermined main peak wavelength within a wavelength range from the ultraviolet band to the visible light band.

상기 발광 구조물(120)은 제1도전형 반도체층(115), 제2도전형 반도체층(119), 상기 제1도전형 반도체층(115)과 상기 제2도전형 반도체층(119) 사이에 형성된 활성층(117)을 포함한다.The light emitting structure 120 includes a first conductive semiconductor layer 115, a second conductive semiconductor layer 119, and a second conductive semiconductor layer 115 between the first conductive semiconductor layer 115 and the second conductive semiconductor layer 119 And an active layer 117 formed thereon.

상기 제1도전형 반도체층(115)은 상기 제1반도체층(113) 또는 상기 기판(111)의 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1도전형 반도체층(115)은 제1도전형 도펀트가 도핑된 III족-V족 화합물 반도체로 구현되며, 상기 제1도전형 반도체층(115)은 n형 반도체층이며, 상기 제1도전형 도펀트는 n형 도펀트로서, Si, Ge, Sn, Se, Te를 포함한다. The first conductive semiconductor layer 115 may be disposed under the first semiconductor layer 113 or the substrate 111. [ The first conductivity type semiconductor layer 115 is an n-type semiconductor layer. The first conductivity type semiconductor layer 115 is formed of a Group III-V compound semiconductor doped with a first conductivity type dopant, The conductive dopant is an n-type dopant including Si, Ge, Sn, Se, and Te.

상기 제1도전형 반도체층(115)과 상기 제1반도체층(113) 사이에는 서로 다른 반도체층들이 교대로 적층된 초 격자 구조가 형성될 수 있으며, 이러한 초격자 구조는 격자 결함을 감소시켜 줄 수 있다. 상기 초 격자 구조의 각 층은 수 A 이상의 두께로 적층될 수 있다. A superlattice structure in which different semiconductor layers are alternately stacked may be formed between the first conductive type semiconductor layer 115 and the first semiconductor layer 113. Such a superlattice structure may reduce lattice defects . Each layer of the superlattice structure may be stacked to a thickness of several A or more.

상기 제1도전형 반도체층(115)과 상기 활성층(117) 사이에는 제1클래드층이 형성될 수 있다. 상기 제1클래드층은 GaN계 반도체로 형성되거나, 상기 활성층(117)의 밴드 갭보다 넓은 밴드 갭으로 형성될 수 있다. 이러한 제1클래드층은 제1도전형으로 형성되며, 캐리어를 구속시켜 주는 역할을 한다. A first clad layer may be formed between the first conductive semiconductor layer 115 and the active layer 117. The first clad layer may be formed of a GaN-based semiconductor or may have a band gap wider than a band gap of the active layer 117. The first cladding layer is formed in the first conductivity type and serves to constrain carriers.

상기 제1도전형 반도체층(115) 아래에는 활성층(117)이 형성된다. 상기 활성층(117)은 단일 양자 우물, 다중 양자 우물(MQW), 양자 선(quantum wire) 구조 또는 양자 점(quantum dot) 구조를 선택적으로 포함하며, 우물층과 장벽층의 주기를 포함한다. 상기 우물층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 포함하며, 상기 장벽층은 InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 포함할 수 있다.An active layer 117 is formed under the first conductive type semiconductor layer 115. The active layer 117 selectively includes a single quantum well, a multiple quantum well (MQW), a quantum wire structure, or a quantum dot structure, and includes a well layer and a barrier layer period. The well layer comprises a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1), and wherein the barrier layer is In x Al y And Ga 1-xy N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? 1).

상기 우물층/장벽층의 주기는 예컨대, InGaN/GaN, GaN/AlGaN, InGaN/AlGaN, InGaN/InGaN, InAlGaN/InAlGaN의 적층 구조를 이용하여 1주기 이상으로 형성될 수 있다. 상기 장벽층은 상기 우물층의 밴드 갭보다 넓은 밴드 갭을 가지는 반도체 물질로 형성될 수 있다. The period of the well layer / barrier layer may be one or more cycles using a lamination structure of, for example, InGaN / GaN, GaN / AlGaN, InGaN / AlGaN, InGaN / InGaN, and InAlGaN / InAlGaN. The barrier layer may be formed of a semiconductor material having a band gap wider than a band gap of the well layer.

상기 활성층(117) 아래에는 제2도전형 반도체층(119)이 형성된다. 상기 제2도전형 반도체층(119)은 제2도전형 도펀트가 도핑된 반도체 예컨대, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN와 같은 화합물 반도체 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. 상기 제2도전형 반도체층(119)이 p형 반도체층이고, 상기 제2도전형 도펀트는 p형 도펀트로서, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba을 포함할 수 있다. A second conductive semiconductor layer 119 is formed under the active layer 117. The second conductive semiconductor layer 119 may be formed of any one of compound semiconductors such as GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, and AlInN doped with a second conductive dopant. The second conductive type semiconductor layer 119 may be a p-type semiconductor layer, and the second conductive type dopant may include Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba as a p-type dopant.

상기 제2도전형 반도체층(119)은 초격자 구조를 포함할 수 있으며, 상기 초격자 구조는 InGaN/GaN 초격자 구조 또는 AlGaN/GaN 초격자 구조를 포함할 수 있다. 상기 제2도전형 반도체층(119)의 초격자 구조는 비 정상적으로 전압에 포함된 전류를 확산시켜 주어, 상기의 활성층(117)을 보호할 수 있다.
The second conductive semiconductor layer 119 may include a superlattice structure, and the superlattice structure may include an InGaN / GaN superlattice structure or an AlGaN / GaN superlattice structure. The superlattice structure of the second conductivity type semiconductor layer 119 may protect the active layer 117 by diffusing a current contained in the voltage abnormally.

또한 상기 발광 구조물(120)의 도전형을 반대로 배치할 수 있으며, 예컨대 제1도전형 반도체층(115)은 P형 반도체층, 상기 제2도전형 반도체층(119)은 N형 반도체층으로 배치할 수 있다. 상기 제2도전형 반도체층(119) 상에는 상기 제2도전형과 반대의 극성을 갖는 제1도전형의 반도체층이 더 배치될 수도 있다. For example, the first conductivity type semiconductor layer 115 may be a p-type semiconductor layer, and the second conductivity type semiconductor layer 119 may be an n-type semiconductor layer. can do. A first conductive semiconductor layer having a polarity opposite to the second conductive type may be further disposed on the second conductive semiconductor layer 119.

상기 발광소자(100)는 상기 제1도전형 반도체층(115), 활성층(117) 및 상기 제2도전형 반도체층(119)을 발광 구조물(120)로 정의될 수 있으며, 상기 발광 구조물(120)은 n-p 접합 구조, p-n 접합 구조, n-p-n 접합 구조, p-n-p 접합 구조 중 어느 한 구조로 구현할 수 있다. 여기서, 상기 p는 p형 반도체층이며, 상기 n은 n형 반도체층이며, 상기 -은 p형 반도체층과 n형 반도체층이 직접 접촉되거나 간접 접촉된 구조를 포함한다. 이하, 설명의 편의를 위해, 발광 구조물(120)의 최 하층은 제2도전형 반도체층(119)으로 설명하기로 한다.
The light emitting device 100 may be defined as a light emitting structure 120 of the first conductivity type semiconductor layer 115, the active layer 117 and the second conductivity type semiconductor layer 119. The light emitting structure 120 ) May be implemented by any one of an np junction structure, a pn junction structure, an npn junction structure, and a pnp junction structure. Here, p is a p-type semiconductor layer, and n is an n-type semiconductor layer, and the - includes a structure in which the p-type semiconductor layer and the n-type semiconductor layer are in direct contact or indirect contact. Hereinafter, for convenience of explanation, the lowermost layer of the light emitting structure 120 will be described as the second conductivity type semiconductor layer 119. [

상기 제2도전형 반도체층(119) 아래에는 반사 전극층(130)이 형성되며, 상기 반사 전극층(130)은 상기 활성층(117)으로부터 방출된 광을 반사하게 된다. 상기 반사 전극층(130)은 금속, 금속 산화물과 같은 전도성 물질로 형성될 수 있으며, 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있다.A reflective electrode layer 130 is formed under the second conductive semiconductor layer 119 and the reflective electrode layer 130 reflects light emitted from the active layer 117. The reflective electrode layer 130 may be formed of a conductive material such as a metal or a metal oxide, and may be a single layer or a multilayer structure.

상기 반사 전극층(130)은 오믹 접촉층, 반사층, 및 확산 방지층, 보호층 중 적어도 하나를 포함한다. 상기 반사 전극층(130)은 오믹 접촉층/반사층/확산 방지층/보호층의 구조로 형성되거나, 반사층/확산 방지층/보호층의 구조로 형성되거나, 오믹 접촉층/반사층/보호층의 구조로 형성되거나, 반사층/확산 방지층으로 형성되거나, 반사층으로 형성될 수 있다.The reflective electrode layer 130 includes at least one of an ohmic contact layer, a reflective layer, a diffusion prevention layer, and a protective layer. The reflective electrode layer 130 may have a structure of an ohmic contact layer / a reflective layer / a diffusion barrier layer / a protective layer, a reflective layer / a diffusion barrier layer / a protective layer or an ohmic contact layer / a reflective layer / , A reflection layer / a diffusion prevention layer, or a reflection layer.

여기서, 상기 오믹 접촉층은 상기 제2도전형 반도체층(119) 아래에 접촉되며, 그 접촉 면적은 상기 제2도전형 반도체층(119)의 하면 면적의 70% 이상으로 형성될 수 있다. 상기 오믹 접촉층은 금속 산화물과 같은 전도성 물질 또는 금속을 포함하며, 예컨대 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), SnO, InO, INZnO, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Ni, Cr 및 이들의 선택적인 화합물 또는 합금 중에서 선택되며, 적어도 한 층으로 형성될 수 있다. 상기 오믹 접촉층의 두께는 1~1,000Å로 형성될 수 있다. Here, the ohmic contact layer is in contact with the second conductive semiconductor layer 119, and the contact area thereof may be 70% or more of the bottom area of the second conductive semiconductor layer 119. The ohmic contact layer may include a conductive material such as a metal oxide or a metal. For example, the ohmic contact layer may include at least one selected from the group consisting of ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), IZTO (indium zinc tin oxide) indium gallium zinc oxide, IGTO, aluminum zinc oxide, ATO, gallium zinc oxide, SnO, InO, INZnO, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Ni , Cr, and an optional compound or alloy thereof, and may be formed of at least one layer. The thickness of the ohmic contact layer may be 1 to 1,000 angstroms.

상기 반사층은 상기 오믹 접촉층 아래에 반사율이 70% 이상인 금속 물질 예컨대, Al, Ag, Ru, Pd, Rh, Pt, Ir의 금속과 상기의 금속 중 2 이상의 합금 중에서 선택될 수 있다. 상기 반사층의 금속은 상기 제2도전형 반도체층(119) 아래에 오믹 접촉될 수 있으며, 이 경우 상기 오믹 접촉층은 형성하지 않을 수 있다. 상기 반사층의 두께는 1~10,000Å으로 형성될 수 있다. The reflective layer may be selected from a metal material having a reflectivity of 70% or more below the ohmic contact layer, for example, a metal of Al, Ag, Ru, Pd, Rh, Pt, Ir and at least two of the metals. The metal of the reflective layer may be in ohmic contact with the second conductive type semiconductor layer 119, and the ohmic contact layer may not be formed. The reflective layer may have a thickness of 1 to 10,000 ANGSTROM.

상기 확산 방지층은 Au, Cu, Hf, Ni, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti 및 이들 중에서 2이상의 합금 중에서 선택될 수 있다. 상기 확산 방지층은 서로 다른 층의 경계에서 층간 확산을 방지하게 된다. 상기 확산 방지층의 두께는 1~10,000Å로 형성될 수 있다. The diffusion preventing layer may be selected from Au, Cu, Hf, Ni, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, Ta and Ti and alloys of two or more thereof. The diffusion barrier prevents interdiffusion at the boundaries of the different layers. The thickness of the diffusion preventing layer may be 1 to 10,000 angstroms.

상기 보호층은 Au, Cu, Hf, Ni, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti 및 이들 중에서 2이상의 합금 중에서 선택될 수 있으며, 그 두께는 1~10,000Å로 형성될 수 있다.
The protective layer may be selected from Au, Cu, Hf, Ni, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti and alloys of two or more thereof. As shown in FIG.

다른 예로서, 상기 반사 전극층(130)은 투광성 전극층/반사층의 적층 구조를 포함할 수 있으며, 상기 투광성 전극층은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), SnO, InO, INZnO, ZnO, IrOx, RuOx의 그룹 중에서 선택될 수 있다. 상기 투광성 전극층의 아래에는 반사층이 형성될 수 있으며, 상기 반사층은 금속성 또는 비 금속성 재질로 형성될 수 있다. 상기 비 금속성의 반사층은 제1굴절률을 갖는 제1층과 제2굴절률을 갖는 제2층이 교대로 2페어 이상 적층된 구조를 포함하며, 상기 제1 및 제2굴절률은 서로 다르고, 상기 제1층과 제2층은 1.5~2.4 사이의 물질 예컨대, 전도성 또는 절연성 물질로 형성될 수 있으며, 이러한 구조는 DBR(distributed bragg reflection) 구조로 정의될 수 있다. As another example, the reflective electrode layer 130 may include a laminate structure of a transparent electrode layer / reflective layer. The transparent electrode layer may be formed of indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO) IZO (indium aluminum zinc oxide), IGZO (indium gallium zinc oxide), IGTO (indium gallium tin oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide), GZO , ZnO, IrOx, and RuOx. A reflective layer may be formed below the transparent electrode layer, and the reflective layer may be formed of a metallic or non-metallic material. Wherein the non-metallic reflective layer includes a structure in which a first layer having a first refractive index and a second layer having a second refractive index are alternately stacked in two or more pairs, the first and second refractive indices being different from each other, Layer and the second layer may be formed of a material between 1.5 and 2.4, for example, a conductive or an insulating material, and this structure may be defined as a DBR (distributed bragg reflection) structure.

상기 제2도전형 반도체층(119) 및 상기 반사 전극층(130) 중 적어도 한 층의 표면에는 러프니스와 같은 광 추출 구조가 형성될 수 있으며, 이러한 광 추출 구조는 입사되는 광의 임계각을 변화시켜 주어, 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 광 추출 구조는 요철 패턴, 또는 복수의 돌기들이 형성된 구조를 포함한다.
A light extracting structure such as a roughness may be formed on the surface of at least one of the second conductive type semiconductor layer 119 and the reflective electrode layer 130. Such a light extracting structure may change the critical angle of incident light, , The light extraction efficiency can be improved. The light extracting structure includes a concavo-convex pattern or a structure in which a plurality of projections are formed.

상기 제1절연층(121)은 상기 반사 전극층(130) 아래에 형성될 수 있다. 상기 제1절연층(121)은 상기 제2도전형 반도체층(119)의 하면, 상기 제2도전형 반도체층(119) 및 상기 활성층(117)의 측면, 상기 제1도전형 반도체층(115)의 일부 영역(A1)의 하면에 형성될 수 있다. 상기 제1절연층(121)은 상기 발광 구조물(120)의 하부 영역 중에서 상기 반사 전극층(130), 제1전극(131) 및 제2전극(132)을 제외한 영역에 형성되어, 상기 발광 구조물(120)의 하부를 전기적으로 보호하게 된다.The first insulating layer 121 may be formed under the reflective electrode layer 130. The first insulating layer 121 is formed on the lower surface of the second conductive type semiconductor layer 119, the side surfaces of the second conductive type semiconductor layer 119 and the active layer 117, In the lower surface of the partial area A1. The first insulating layer 121 is formed in a region of the lower region of the light emitting structure 120 excluding the reflective electrode layer 130, the first electrode 131 and the second electrode 132, 120 are electrically protected.

상기 제1절연층(121)은 Al, Cr, Si, Ti, Zn, Zr 중 적어도 하나를 갖는 산화물, 질화물, 불화물, 및 황화물 중 적어도 하나로 형성된 절연물질 또는 절연성 수지를 포함한다. 상기의 절연성 수지는 폴리이미드 재질을 포함한다. 상기 제1절연층(121)은 예컨대, SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 제1절연층(121)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1절연층(121)은 발광 구조물(120)의 아래에 플립 본딩을 위한 금속 구조물을 형성할 때, 상기 발광 구조물(120)의 층간 쇼트를 방지하기 위해 형성된다.The first insulating layer 121 includes an insulating material or an insulating resin formed of at least one of oxides, nitrides, fluorides, and sulfides having at least one of Al, Cr, Si, Ti, Zn and Zr. The above-mentioned insulating resin includes a polyimide material. The first insulating layer 121 may be formed of, for example, SiO 2 , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , or TiO 2 . The first insulating layer 121 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto. The first insulating layer 121 is formed to prevent interlayer short circuiting of the light emitting structure 120 when the metal structure for flip bonding is formed below the light emitting structure 120.

상기 제1절연층(121)은 상기 반사 전극층(130) 하면에 형성되지 않고, 상기 발광 구조물(120)의 표면에만 형성될 수 있다. 이는 상기 반사 전극층(130)의 하면에는 절연성의 지지 부재(151)가 형성됨으로써, 상기 제1절연층(121)을 상기 반사 전극층(130)의 하면까지 연장하지 않을 수 있다.The first insulating layer 121 may be formed only on the surface of the light emitting structure 120 without being formed on the bottom surface of the reflective electrode layer 130. The first insulating layer 121 may not extend to the lower surface of the reflective electrode layer 130 by forming an insulating supporting member 151 on the lower surface of the reflective electrode layer 130.

상기 제1절연층(121)은 서로 다른 굴절률을 갖는 제1층과 제2층이 교대로 배치된 DBR 구조로 형성될 수 있으며, 상기 제1층은 SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 어느 하나이며, 상기 제2층은 상기 제1층 이외의 물질 중 어느 하나로 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 반사 전극층은 형성하지 않을 수 있다. The first insulating layer 121 may be formed of a DBR structure in which first and second layers having different refractive indexes are alternately arranged, and the first layer may be formed of SiO 2 , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , and TiO 2 , and the second layer may be formed of any material other than the first layer. In this case, the reflective electrode layer may not be formed.

상기 제1절연층(121)은 100~10,000Å 두께로 형성되며, 다층 구조로 형성된 경우 각 층은 1~50,000Å의 두께이거나, 각 층당 100~10,000Å의 두께로 형성될 수 있다. 여기서, 상기 다층 구조의 제1절연층(121)에서 각 층의 두께는 발광 파장에 따라 반사 효율을 변화시켜 줄 수 있다. The first insulating layer 121 may have a thickness of about 100 to 10,000 ANGSTROM. When the first insulating layer 121 has a multilayer structure, the first insulating layer 121 may have a thickness of 1 to 50,000 ANGSTROM or a thickness of about 100 ANGSTROM to 10,000 ANGSTROM. Here, the thickness of each layer in the first insulation layer 121 of the multi-layer structure can change the reflection efficiency according to the emission wavelength.

상기 제1도전형 반도체층(115)의 일부 영역(A1) 아래에는 제1전극(131)이 형성되며, 상기 제1전극(131)의 아래에는 제1접합 전극(133)이 배치되고, 상기 제1접합 전극(133)의 아래에는 제3접합 전극(135)이 배치된다. 상기 제1전극(131)은 패드로 사용될 수 있으며, 상기 제1접합 전극(133)과 상기 제3접합 전극(135)은 상기 제1전극(131)과 상기 제1연결 전극(141) 사이를 연결시켜 주게 된다. 상기 제1접합 전극(133)과 상기 제3접합 전극(135) 중 적어도 하나는 형성하지 않을 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.A first electrode 131 is formed under a partial region A1 of the first conductive type semiconductor layer 115. A first junction electrode 133 is disposed under the first electrode 131, A third junction electrode 135 is disposed below the first junction electrode 133. The first electrode 131 may be used as a pad and the first junction electrode 133 and the third junction electrode 135 may be disposed between the first electrode 131 and the first connection electrode 141 . At least one of the first junction electrode 133 and the third junction electrode 135 may not be formed, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1전극(131)은 상기 제1도전형 반도체층(115)에 접촉 예컨대, 오믹 접촉될 수 있으며, 상기 제1접합 전극(133) 및 제3접합 전극(135)과 전기적으로 연결된다. The first electrode 131 may be in ohmic contact with the first conductive semiconductor layer 115 and may be electrically connected to the first junction electrode 133 and the third junction electrode 135.

상기 제1접합 전극(133)의 일부(133A)는 상기 발광 구조물(120)의 아래에 배치된 상기 제1절연층(121)의 아래에 더 배치될 수 있으며, 상기 제2접합 전극(135)의 일부(135A)는 상기 발광 구조물(120)의 아래에서 상기 제1접합 전극(133)의 일부(133A) 아래에 더 형성될 수 있다. 발광 소자의 측 단면에서 볼 때, 상기 제1접합 전극(133) 및 상기 제3접합 전극(135)의 너비는 상기 제1전극(131)의 너비보다 크거나 동일할 수 있다. 또한 상기 제1접합 전극(133)과 상기 제3접합 전극(135)의 너비는 서로 동일하거나 다를 수 있다. 여기서, 상기 상기 제1접합 전극(133) 및 상기 제3접합 전극(135)의 너비 방향은 상기 발광 구조물(120)의 두께 방향과 직교하는 방향이 될 수 있다.A portion 133A of the first junction electrode 133 may be further disposed under the first insulation layer 121 disposed below the light emitting structure 120, A portion 135A of the first junction electrode 133 may be further formed under the portion 133A of the first junction electrode 133 under the light emitting structure 120. [ The width of the first junction electrode 133 and the third junction electrode 135 may be greater than or equal to the width of the first electrode 131 as viewed from the side surface of the light emitting device. The widths of the first junction electrode 133 and the third junction electrode 135 may be the same or different from each other. The width direction of the first junction electrode 133 and the third junction electrode 135 may be perpendicular to the thickness direction of the light emitting structure 120.

상기 제1전극(131)은 상기 활성층(117) 및 제2도전형 반도체층(119)의 측면과 이격되며, 상기 제1도전형 반도체층(115)의 일부 영역(A1) 내에 배치될 수 있다.
The first electrode 131 may be spaced apart from the side surfaces of the active layer 117 and the second conductivity type semiconductor layer 119 and may be disposed in a partial region A1 of the first conductivity type semiconductor layer 115 .

상기 반사 전극층(130)의 일부 영역의 아래에는 제2전극(132)이 형성될 수 있다. 상기 제2전극(132)의 아래에는 제2접합 전극(134)이 배치되고, 상기 제2접합 전극(134)의 아래에는 제4접합 전극(136)이 배치된다. 상기 제2전극(132)은 패드로 사용될 수 있으며, 상기 제2접합 전극(134)과 상기 제4접합 전극(136)은 상기 제2전극(132)과 상기 제2연결 전극(143) 사이를 서로 접합시켜 주게 된다. 상기 제2접합 전극(134)과 상기 제4접합 전극(136) 중 적어도 하나는 형성하지 않을 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.A second electrode 132 may be formed under a part of the reflective electrode layer 130. A second bonding electrode 134 is disposed under the second electrode 132 and a fourth bonding electrode 136 is disposed under the second bonding electrode 134. The second electrode 132 may be used as a pad and the second junction electrode 134 and the fourth junction electrode 136 may be disposed between the second electrode 132 and the second connection electrode 143 And they are bonded to each other. At least one of the second junction electrode 134 and the fourth junction electrode 136 may not be formed, but the present invention is not limited thereto.

상기 제2전극(132)은 상기 반사 전극층(132)의 아래에 접촉될 수 있으며, 상기 제2접합 전극(134) 및 제4접합 전극(136)과 전기적으로 연결된다. 발광 소자의 측 단면에서 볼 때, 상기 제2접합 전극(134) 및 상기 제4접합 전극(136)의 너비는 상기 제2전극(132)의 너비보다 작거나 동일할 수 있다. 또한 상기 제2접합 전극(134)과 상기 제4접합 전극(136)의 너비는 서로 동일하거나 다를 수 있다.The second electrode 132 may be under the reflective electrode layer 132 and may be electrically connected to the second junction electrode 134 and the fourth junction electrode 136. The width of the second junction electrode 134 and the fourth junction electrode 136 may be smaller than or equal to the width of the second electrode 132 when viewed from the side surface of the light emitting device. The widths of the second junction electrode 134 and the fourth junction electrode 136 may be equal to or different from each other.

상기 제2전극(132)은 상기 반사 전극층(130)을 통해 상기 제2도전형 반도체층(119)과 물리적 또는/및 전기적으로 접촉될 수 있다. 상기 반사 전극층(130)에는 구멍이 형성되어, 상기 제2전극(132)의 일부가 배치될 수 있다. 상기 제2전극(132)은 전극 패드를 포함한다.
The second electrode 132 may be physically and / or electrically contacted with the second conductive type semiconductor layer 119 through the reflective electrode layer 130. A hole may be formed in the reflective electrode layer 130, and a part of the second electrode 132 may be disposed. The second electrode 132 includes an electrode pad.

상기 제1전극 구조(131,133,135)와 상기 제2전극 구조(132,134,136)의 적층 구조는 다수의 전도층의 적층 구조로서, 동일한 전도층의 적층 구조이거나, 서로 다른 전도층의 적층 구조를 포함한다.The lamination structure of the first electrode structures 131, 133, and 135 and the second electrode structures 132, 134, and 136 may be a lamination structure of a plurality of conductive layers or a stacked structure of the same conductive layers or a stacked structure of different conductive layers.

상기 제1전극(131) 및 상기 제2전극(132) 중 적어도 하나는 패드로부터 분기된 암(arm) 또는 핑거(finger) 구조와 같은 전류 확산 패턴이 더 형성될 수 있다. 또한 상기 제1전극(131) 및 상기 제2전극(132)의 패드는 하나 또는 복수로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광 구조물(120) 내에 비아 구조를 통해 제1도전형 반도체층(115)를 노출시킨 후, 상기 제1전극(131)을 비아 구조로 연결할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. At least one of the first electrode 131 and the second electrode 132 may be formed with a current diffusion pattern such as an arm or a finger structure which is branched from the pad. The pads of the first electrode 131 and the second electrode 132 may be formed of one or more pads, but the present invention is not limited thereto. After the first conductive semiconductor layer 115 is exposed through the via structure in the light emitting structure 120, the first electrode 131 may be connected in a via structure. However, the present invention is not limited thereto.

제2절연층(123)은 상기 제3접합 전극(135)의 아래에 배치되며, 일부는 상기 제1절연층(121)에 접촉될 수 있다. 상기 제2절연층(123)의 일부는 상기 제1 및 제3접합 전극(133,135)에 형성된 오픈 영역(P2) 내에 배치되어, 상기 제2연결 전극(143)의 둘레에 커버할 수 있다. 이에 따라 상기 제2절연층(123)은 상기 제2연결 전극(143)과 상기 제1 및 제3접합 전극(133,135) 사이를 이격시켜 주게 된다.The second insulating layer 123 may be disposed below the third junction electrode 135, and a part of the second insulating layer 123 may be in contact with the first insulating layer 121. A part of the second insulating layer 123 may be disposed in the open region P2 formed in the first and third junction electrodes 133 and 135 and may cover the periphery of the second connection electrode 143. [ Accordingly, the second insulating layer 123 separates the second connecting electrode 143 from the first and third bonding electrodes 133 and 135.

상기 제2절연층(123)은 상기 제1절연층(121)과 동일한 재질이거나, 다른 재질일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제2절연층(123)은 Al, Cr, Si, Ti, Zn, Zr 중 적어도 하나를 갖는 산화물, 질화물, 불화물, 및 황화물 중 적어도 하나로 형성된 절연물질 또는 절연성 수지를 포함한다. 상기의 절연성 수지는 폴리이미드 재질을 포함한다. 상기 제2절연층(123)은 예컨대, SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 제1절연층(121)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The second insulating layer 123 may be made of the same material as that of the first insulating layer 121 or may be made of another material, but the present invention is not limited thereto. The second insulating layer 123 includes an insulating material or an insulating resin formed of at least one of oxides, nitrides, fluorides, and sulfides having at least one of Al, Cr, Si, Ti, Zn, and Zr. The above-mentioned insulating resin includes a polyimide material. The second insulating layer 123 may be selectively formed of, for example, SiO 2 , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , or TiO 2 . The first insulating layer 121 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto.

상기 제2절연층(123)은 서로 다른 굴절률을 갖는 제1층과 제2층이 교대로 배치된 구조로 형성될 수 있으며, 상기 제1층은 SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 어느 하나이며, 상기 제2층은 상기 제1층 이외의 물질 중 어느 하나로 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 반사 전극층은 형성하지 않을 수 있다. 상기 제2절연층(123)은 100~10,000Å 두께로 형성되며, 다층 구조로 형성된 경우 각 층은 1~50,000Å의 두께이거나, 각 층당 100~10,000Å의 두께로 형성될 수 있다. The second insulating layer 123 may have a structure in which first and second layers having different refractive indexes are alternately arranged, and the first layer may be formed of SiO 2 , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 And TiO 2 , and the second layer may be formed of any material other than the first layer. In this case, the reflective electrode layer may not be formed. The second insulating layer 123 may be formed to a thickness of 100 to 10,000 ANGSTROM. When the multilayer structure is formed, each layer may have a thickness of 1 to 50,000 ANGSTROM or 100 to 10,000 ANGSTROM per layer.

상기 제1절연층(121) 및 제2절연층(123)은 금속 산화물과 같은 절연 물질로 형성되거나, 폴리이미드(polyimide)와 같은 재질로 형성되거나, 또는 상기의 절연 물질과 폴리이미드를 갖는 재질로 형성될 수 있다.
The first insulating layer 121 and the second insulating layer 123 may be formed of an insulating material such as metal oxide or a material such as polyimide or a material having the insulating material and polyimide As shown in FIG.

상기 제1전극 구조(131,133,135)의 아래 예컨대, 상기 제3접합 전극(135)의 아래에는 적어도 하나의 제1연결 전극(141)이 배치된다. 상기 제2전극 구조(132,134,136)의 아래 예컨대, 상기 제4접합 전극(136)의 아래에는 적어도 하나의 제2연결 전극(143)이 배치된다. At least one first connection electrode 141 is disposed below the first electrode structure 131, 133, and 135, for example, below the third junction electrode 135. At least one second connection electrode 143 is disposed under the second electrode structure 132, 134, and 136, for example, below the fourth junction electrode 136.

상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)은 전원을 공급하는 리드(lead) 기능과 방열 경로를 제공하게 된다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)은 측 단면이 기둥 형상일 수 있으며, 예컨대 구형, 원 기둥 또는 다각 기둥과 같은 형상이거나 랜덤한 형상을 포함할 수 있다. 여기서, 상기 다각 기둥은 등각이거나 등각이 아닐 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 상면 또는 하면 형상은 원형, 다각형을 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 하면은 상면과 다른 면적으로 형성될 수 있으며, 예컨대 상기 하면 면적은 상면 면적보다 더 크거나 작을 수 있다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 하면은 평탄한 면으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 하면은 동일한 평면 (즉, 수평 면) 상에 배치될 수 있다.The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 provide a lead function and a heat dissipation path for supplying power. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may have a columnar cross-section and may have a shape such as a sphere, a circular column, or a polygonal column or a random shape. Here, the polygonal column may be conformal or non-conformal, but is not limited thereto. The top surface or bottom surface of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may include a circular shape or a polygonal shape, but the shape is not limited thereto. The lower surfaces of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may have different areas than the upper surface. For example, the lower surface area may be larger or smaller than the upper surface area. The lower surface of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be formed as a flat surface, but the present invention is not limited thereto. The lower surfaces of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be disposed on the same plane (i.e., a horizontal surface).

상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143) 중 적어도 하나는 상기 발광 구조물(120)의 하면 너비보다는 작게 형성될 수 있고, 상기 각 전극(131,132)의 하면 너비 또는 직경 보다는 크게 형성될 수 있다. At least one of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be formed to be smaller than the bottom width of the light emitting structure 120 and larger than the bottom width or diameter of the electrodes 131 and 132 .

상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 직경 또는 너비는 1㎛~100,000㎛로 형성될 수 있으며, 예컨대 3㎛~100㎛ 범위로 형성될 수 있다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 높이는 1㎛~100,000㎛로 형성될 수 있으며, 예컨대 10㎛~300㎛ 범위로 형성될 수 있다. 여기서, 상기 제1연결 전극(141)의 두께는 상기 제2연결 전극(143)의 두께보다 더 두껍게 형성될 수 있다. 상기 제1 및 제2연결 전극(141,143)의 두께 방향은 상기 발광 구조물(120)의 각 층의 두께 방향일 수 있다.
The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may have a diameter or width ranging from 1 탆 to 100,000 탆, for example, from 3 탆 to 100 탆. The height of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be 1 μm to 100,000 μm, for example, 10 μm to 300 μm. Here, the thickness of the first connection electrode 141 may be greater than the thickness of the second connection electrode 143. The thickness direction of the first and second connection electrodes 141 and 143 may be a thickness direction of each layer of the light emitting structure 120.

상기 제1연결 전극(141) 및 제2연결 전극(143)은 어느 하나의 금속 또는 합금을 이용하여 단일 층으로 형성될 수 있으며, 상기의 단일 층의 너비 및 높이는 1㎛~100,000㎛ 범위 내에서 형성될 수 있으며, 예컨대 상기 단일 층의 두께는 상기 제2전극(143)의 두께보다 더 두꺼운 높이로 형성될 수 있다. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be formed of a single layer using any one metal or alloy, and the width and height of the single layer may be in the range of 1 탆 to 100,000 탆 For example, the thickness of the single layer may be greater than the thickness of the second electrode 143.

상기 제1연결 전극(141) 및 제2연결 전극(143)은 금속 예컨대, Ag, Al, Au, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Mo, Ni, Si, Sn, Ta, Ti, W 및 이들 금속의 선택적 합금 중 어느 하나로 형성될 수 있다. 상기 제1연결 전극(141) 및 제2연결 전극(143)은 상기 제1전극(131) 및 제2전극(132)과의 접착력 향상을 위하여 In, Sn, Ni, Cu 및 이들의 선택적인 합금 중의 어느 한 금속으로 도금될 수 있다. 이때 도금두께는 1~100,000Å 범위 예컨대, 10~100 Å 범위로 형성될 수 있다.The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 are formed of a metal such as Ag, Al, Au, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Mo, Ni, Si, Sn, W and a selective alloy of these metals. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be formed of In, Sn, Ni, Cu, or an alloy thereof selectively for improving adhesion to the first electrode 131 and the second electrode 132. [ Or the like. At this time, the plating thickness may be in the range of 1 to 100,000 angstroms, for example, in the range of 10 to 100 angstroms.

상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 표면에는 도금층이 더 형성될 수 있으며, 상기 도금층은 Tin 또는 이의 합금, Ni 또는 이의 합금, Tin-Ag-Cu 합금으로 형성될 수 있으며, 그 두께는 0.5㎛~10㎛로 형성될 수 있다. 이러한 도금층은 다른 본딩층과의 접합을 개선시켜 줄 수 있다.
A plating layer may further be formed on the surfaces of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143. The plating layer may be formed of Tin or an alloy thereof, Ni or an alloy thereof, or a Tin-Ag-Cu alloy. And the thickness thereof may be formed to 0.5 탆 to 10 탆. Such a plating layer can improve bonding with other bonding layers.

상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 재질은 Ag, Al, Au, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Mo, Ni, Si, Sn, Ta, Ti, W 및 이들의 선택적인 합금으로 형성될 수 있다. 또한 상기 제1연결 전극(141)과 상기 제2연결 전극(143)은 상기 제1전극(131)와 상기 제2전극(132)과의 접착력을 위해 In, Sn, Ni, Cu 및 이들의 합금을 이용한 도금층을 포함할 수 있으며, 상기 도금층의 두께는 1~100,000Å로 형성될 수 있다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2 연결 전극(143)은 솔더 볼 또는 금속 범프로 사용될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be made of any one of Ag, Al, Au, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Mo, Ni, Si, Sn, W, and their alloys. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be formed of a metal such as In, Sn, Ni, Cu, and alloys thereof for adhesion between the first electrode 131 and the second electrode 132. [ And the thickness of the plating layer may be 1 to 100,000 angstroms. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be used as a solder ball or a metal bump, but the invention is not limited thereto.

상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 재질은 Ag, Al, Au, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Mo, Ni, Si, Sn, Ta, Ti, W 및 이들의 선택적인 합금으로 형성될 수 있다. 또한 상기 제1연결 전극(141)과 상기 제2연결 전극(143)은 상기 제1전극(131)와 상기 제2전극(132)과의 접착력을 위해 In, Sn, Ni, Cu 및 이들의 합금을 이용한 도금층을 포함할 수 있으며, 상기 도금층의 두께는 1~100,000Å로 형성될 수 있다. 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2 연결 전극(143)은 솔더 볼 또는 금속 범프와 같은 단일 금속으로 사용될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be made of any one of Ag, Al, Au, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Mo, Ni, Si, Sn, W, and their alloys. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be formed of a metal such as In, Sn, Ni, Cu, and alloys thereof for adhesion between the first electrode 131 and the second electrode 132. [ And the thickness of the plating layer may be 1 to 100,000 angstroms. The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be used as a single metal such as a solder ball or a metal bump, but the invention is not limited thereto.

상기 지지 부재(151)는 발광 소자(100)를 지지하는 지지층으로 사용된다. 상기 지지 부재(151)는 절연성 재질로 형성되며, 상기 절연성 재질은 예컨대, 실리콘 또는 에폭시와 같은 수지층으로 형성된다. 다른 예로서, 상기 절연성 재질은 페이스트 또는 절연성 잉크를 포함할 수 있다. 상기 절연성 재질의 재질은 그 종류는 polyacrylate resin, epoxy resin, phenolic resin, polyamides resin, polyimides rein, unsaturated polyesters resin, polyphenylene ether resin (PPE), polyphenilene oxide resin (PPO), polyphenylenesulfides resin, cyanate ester resin, benzocyclobutene (BCB), Polyamido-amine Dendrimers (PAMAM), 및 Polypropylene-imine, Dendrimers (PPI), 및 PAMAM 내부 구조 및 유기-실리콘 외면을 갖는 PAMAM-OS(organosilicon)를 단독 또는 이들의 조합을 포함한 수지로 구성될 수 있다. 상기 지지부재(151)는 상기 제1절연층(121)과 다른 물질로 형성될 수 있다.The support member 151 is used as a support layer for supporting the light emitting device 100. The supporting member 151 is formed of an insulating material, and the insulating material is formed of a resin layer such as silicon or epoxy. As another example, the insulating material may include a paste or an insulating ink. The insulating material is selected from the group consisting of polyacrylate resin, epoxy resin, phenolic resin, polyamide resin, polyimides rein, unsaturated polyesters resin, polyphenylene ether resin (PPE), polyphenylene oxide resin (PPO), polyphenylenesulfide resin, cyanate ester resin, benzocyclobutene (BCB), Polyamido-amine Dendrimers (PAMAM), and Polypropylene-imine, Dendrimers (PPI), and PAMAM-internal structures and PAMAM-OS (organosilicon) with organic-silicone outer surfaces alone or combinations thereof . The support member 151 may be formed of a material different from that of the first insulating layer 121.

상기 지지 부재(151) 내에는 Al, Cr, Si, Ti, Zn, Zr 중 적어도 하나를 갖는 산화물, 질화물, 불화물, 황화물과 같은 화합물들 중 적어도 하나가 첨가될 수 있다. 여기서, 상기 지지 부재(151) 내에 첨가된 화합물은 열 확산제일 수 있으며, 상기 열 확산제는 소정 크기의 분말 입자, 알갱이, 필러(filler), 첨가제로 사용될 수 있으며, 이하 설명의 편의를 위해 열 확산제로 설명하기로 한다. 여기서, 상기 열 확산제는 절연성 재질 또는 전도성 재질일 수 있으며, 그 크기는 1Å~100,000Å으로 사용 가능하며, 열 확산 효율을 위해 1,000Å~50,000Å로 형성될 수 있다. 상기 열 확산제의 입자 형상은 구형 또는 불규칙한 형상을 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. At least one of compounds such as oxides, nitrides, fluorides and sulfides having at least one of Al, Cr, Si, Ti, Zn and Zr may be added to the support member 151. Here, the compound added to the support member 151 may be a heat spreader, and the heat spreader may be used as powder particles, pellets, fillers, and additives having a predetermined size. For convenience of explanation, The diffusion agent will be described. Here, the heat spreader may be an insulating material or a conductive material. The size of the heat spreader may be 1 ANGSTROM to 100,000 ANGSTROM and may be 1,000 ANGSTROM to 50,000 ANGSTROM for thermal diffusion efficiency. The particle shape of the heat spreader may include a spherical shape or an irregular shape, but is not limited thereto.

상기 열 확산제는 세라믹 재질을 포함하며, 상기 세라믹 재질은 동시 소성되는 저온 소성 세라믹(LTCC: low temperature co-fired ceramic), 고온 소성 세라믹(HTCC: high temperature co-fired ceramic), 알루미나(alumina), 수정(quartz), 칼슘지르코네이트(calcium zirconate), 감람석(forsterite), SiC, 흑연, 용융실리카(fusedsilica), 뮬라이트(mullite), 근청석(cordierite), 지르코니아(zirconia), 베릴리아(beryllia), 및 질화알루미늄(aluminum nitride) 중 적어도 하나를 포함한다. 상기 세라믹 재질은 질화물 또는 산화물과 같은 절연성 물질 중에서 열 전도도가 질화물이나 산화물보다 높은 금속 질화물로 형성될 수 있으며, 상기 금속 질화물은 예컨대, 열 전도도가 140 W/mK 이상의 물질을 포함할 수 있다. 상기 세라믹 재질은 예컨대, SiO2, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, BN, Si3N4, SiC(SiC-BeO), BeO, CeO, AlN와 같은 세라믹 (Ceramic) 계열일 수 있다. 상기 열 전도성 물질은 C (다이아몬드, CNT)의 성분을 포함할 수 있다. The heat spreader may include a ceramic material. The ceramic material may include a low temperature co-fired ceramic (LTCC), a high temperature co-fired ceramic (HTCC), an alumina, Quartz, calcium zirconate, forsterite, SiC, graphite, fused silica, mullite, cordierite, zirconia, beryllia, ), And aluminum nitride. The ceramic material may be formed of a metal nitride having thermal conductivity higher than that of nitride or oxide among the insulating materials such as nitride or oxide, and the metal nitride may include a material having a thermal conductivity of, for example, 140 W / mK or more. The ceramic material may be, for example, SiO 2 , Si x O y , Si 3 N 4 , Si x N y , SiO x N y , Al 2 O 3 , BN, Si 3 N 4 , SiC (SiC- CeO 2, AlN, and the like. The thermally conductive material may comprise a component of C (diamond, CNT).

상기 지지 부재(151)는 세라믹 기반 지지층으로 형성되거나, 폴리이미드 재질로 형성되거나, 세라믹 기판 지지층의 아래에 폴리 이미드 재질을 더 형성하여 배치될 수 있다. 상기 폴리이미드는 고내열 재질로서, 발광 구조물(120)로부터 발생된 열과 본딩 과정에 전달되는 열에 대해 안정적이다. 상기 폴리이미드는 필름 형태로 제공될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The support member 151 may be formed of a ceramic-based support layer, a polyimide material, or a polyimide material under the ceramic substrate support layer. The polyimide is a highly heat resistant material and is stable to heat generated from the light emitting structure 120 and heat transmitted to the bonding process. The polyimide may be provided in the form of a film, but is not limited thereto.

상기 지지 부재(151)는 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 지지 부재(151)는 수지 재잴의 내부에 상기 수지 재질보다 열 전달율이 높은 세라믹 물질의 분말과 같은 열 확산제를 첨가함으로써, 지지 부재(151)의 강도는 개선되고, 열 전도율은 향상될 수 있다.
The support member 151 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto. The strength of the support member 151 can be improved and the thermal conductivity can be improved by adding a heat diffusion agent such as powder of a ceramic material having a heat transfer rate higher than that of the resin material in the interior of the resin material of the support member 151 have.

상기 지지 부재(151) 내에 포함된 열 확산제는 1~99wt% 정도의 함량 비율로 첨가될 수 있으며, 효율적인 열 확산을 위해 50~99wt% 범위의 함량 비율로 첨가될 수 있다. 이러한 지지 부재(151) 내에 열 확산제가 첨가됨으로써, 내부에서의 열 전도율은 더 개선될 수 있다. 또한 상기 지지 부재(151)의 열 팽창 계수는 4-11 [x106/℃]이며, 이러한 열 팽창 계수는 상기 기판(111) 예컨대, 사파이어 기판과 동일하거나 유사한 열 팽창 계수를 갖게 되므로, 상기 기판(111) 상에 형성되는 발광 구조물(120)과의 열 팽창 차이에 의해 웨이퍼가 휘어지거나 결함이 발생되는 것을 억제하여 발광 소자의 신뢰성이 저하되는 것을 방지할 수 있다.The heat diffusion agent contained in the support member 151 may be added in a proportion of about 1 to 99 wt%, and may be added in an amount of 50 to 99 wt% for efficient heat diffusion. By adding the heat spreader to the support member 151, the heat conductivity inside can be further improved. The support member 151 has a coefficient of thermal expansion of 4-11 [x 10 6 / ° C], and the coefficient of thermal expansion of the support member 151 has the same or similar thermal expansion coefficient as that of the substrate 111, for example, The reliability of the light emitting device can be prevented from being deteriorated by suppressing warpage or defects of the wafer due to the difference in thermal expansion from the light emitting structure 120 formed on the substrate 111.

여기서, 상기 지지 부재(151)의 하면 면적은 상기 기판(111)의 상면과 실질적으로 동일한 면적으로 형성될 수 있다. 상기 지지 부재(151)의 하면 면적은 상기 제1도전형 반도체층(115)의 상면 면적과 동일한 면적으로 형성될 수 있다. 또한 상기 지지 부재(151)의 하면 너비는 상기 기판(111)의 상면과 상기 제1도전형 반도체층(115)의 상면 너비와 동일한 너비로 형성될 수 있다. 이는 지지 부재(151)를 형성한 다음 개별 칩으로 분리함으로써, 상기 지지부재(151)와 상기 기판(111) 및 상기 제1도전형 반도체층(115)의 측면이 동일 평면 상에 배치될 수 있다.Here, the lower surface area of the support member 151 may be substantially the same as the upper surface of the substrate 111. The bottom surface of the support member 151 may have the same area as the top surface of the first conductive semiconductor layer 115. The lower surface of the support member 151 may have a width equal to the width of the upper surface of the substrate 111 and the upper surface of the first conductive semiconductor layer 115. This is because the support member 151 and the side surfaces of the substrate 111 and the first conductivity type semiconductor layer 115 can be disposed on the same plane by forming the support member 151 and then separating the support member 151 into individual chips .

실시 예는 복수의 절연층(121,123)을 이용하여 서로 다른 극성으로 연결된 전극 구조들을 전기적으로 분리시켜 줄 수 있고, 또한 제1 및 제2절연층(121,123) 중 적어도 하나는 금속 산화물이거나, 폴리 이미드 재질와 같은 절연 재질 형성하거나, 지지부재(151)를 세라믹 기판 지지층 또는 폴리이미드 재질로 형성될 수 있다. The embodiment may electrically isolate electrode structures connected with different polarities using a plurality of insulating layers 121 and 123, and at least one of the first and second insulating layers 121 and 123 may be a metal oxide, Or the support member 151 may be formed of a ceramic substrate support layer or a polyimide material.

상기 발광 소자(100)의 두께는 200㎛-500㎛ 범위로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The thickness of the light emitting device 100 may range from 200 탆 to 500 탆, but is not limited thereto.

도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 지지 부재(151)의 제1변의 길이(D1)는 상기 기판(111)의 제1변의 길이와 실질적으로 동일하고, 제2변의 길이(D2)는 상기 기판(111)의 제2변의 길이와 실질적으로 동일하게 형성될 수 있다. 또한 제1연결 전극(141)과 제2연결 전극(143) 사이의 간격(D5)은 발광 소자의 한 변의 길이의 1/3 이상 이격될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1연결 전극(141)은 측면으로부터 소정 거리(D4)로 이격되거나, 이격되지 않을 수 있다. 또한 지지 부재(151)의 하면에서 볼 때, 상기 제1 및 제2연결 전극(141,143) 중 적어도 하나는 복수로 노출될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.1 and 2, the length D1 of the first side of the support member 151 is substantially the same as the length of the first side of the substrate 111, May be formed to be substantially equal to the length of the second side of the base 111. In addition, the distance D5 between the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 may be separated by at least one third of the length of one side of the light emitting device, but the invention is not limited thereto. The first connection electrode 141 may be spaced apart from the side surface by a predetermined distance D4 or may not be spaced apart. At least one of the first and second connection electrodes 141 and 143 may be exposed in plural as viewed from the lower surface of the support member 151, but the present invention is not limited thereto.

상기 지지 부재(151)의 하면은 실질적으로 평탄한 면으로 형성되거나, 불규칙한 면으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The lower surface of the support member 151 may be formed as a substantially flat surface or an irregular surface, but the present invention is not limited thereto.

상기 지지 부재(151)의 두께는 1㎛~100,000㎛ 범위에서 형성될 수 있으며, 다른 예로서 50㎛~1,000㎛ 범위로 형성될 수 있다.The thickness of the support member 151 may be in the range of 1 탆 to 100,000 탆, and may be in the range of 50 탆 to 1,000 탆.

상기 지지 부재(151)의 하면은 상기 제1전극(131) 및 상기 제2전극(132)의 하면보다 더 낮게 형성되고, 상기 제1연결 전극(141)의 하면, 상기 제2연결 전극(143)의 하면과 동일한 평면(즉, 수평 면) 상에 배치될 수 있다.The lower surface of the support member 151 is formed to be lower than the lower surfaces of the first electrode 131 and the second electrode 132. The lower surface of the first connection electrode 141 and the lower surface of the second connection electrode 143 (I.e., the horizontal surface) of the lower surface of the substrate (e.g.

상기 지지 부재(151)는 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 둘레 면에 접촉된다. 이에 따라 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)로부터 전도된 열은 상기 지지 부재(151)를 통해 확산되고 방열될 수 있다. 이때 상기 지지 부재(151)는 내부의 열 확산제에 의해 열 전도율이 개선되고, 전 표면을 통해 방열을 수행하게 된다. 따라서, 상기 발광 소자(100)는 열에 의한 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다.The support member 151 is in contact with the circumferential surfaces of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143. Accordingly, the heat conducted from the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 can be diffused through the support member 151 and dissipated. At this time, the thermal conductivity of the support member 151 is improved by the internal heat spreader, and the heat dissipation is performed through the entire surface. Therefore, the light emitting device 100 can improve reliability by heat.

또한 상기 지지 부재(151)의 측면은 상기 발광 구조물(120) 및 상기 기판(111)의 측면과 동일한 평면 (즉, 수직 면) 상에 배치될 수 있다. The side surface of the support member 151 may be disposed on the same plane (that is, the vertical surface) of the light emitting structure 120 and the side surface of the substrate 111.

상기의 발광 소자(100)는 플립 방식으로 탑재되며, 기판(111)의 상면 방향으로 대부분의 광이 방출되고, 일부 광은 상기 기판(111)의 측면 및 상기 발광 구조물(120)의 측면을 통해 방출되기 때문에, 광 추출 효율 및 방열 효율은 개선될 수 있다.
Most of the light is emitted in the direction of the top surface of the substrate 111 and a part of the light is transmitted through the side surface of the substrate 111 and the side surface of the light emitting structure 120 The light extraction efficiency and the heat radiation efficiency can be improved.

도 3 내지 도 5는 도 1의 전극 구조를 상세하게 나타낸 도면이다.FIGS. 3 to 5 are views showing the electrode structure of FIG. 1 in detail.

도 3은 제1 및 제2전극(131,132)을 나타낸 도면이며, 도 4는 제1 및 제2접합 전극(133,134)을 나타낸 도면이며, 도 5는 제3 및 제4접합 전극(135,136)을 나타낸 도면이다.FIG. 3 is a view showing the first and second electrodes 131 and 132, FIG. 4 is a view showing the first and second bonding electrodes 133 and 134, and FIG. 5 is a view showing the third and fourth bonding electrodes 135 and 136 FIG.

도 3을 참조하면, 상기 제1 및 제2전극(131,132)은 접착층(31), 상기 접착층(31) 아래에 반사층(32), 상기 반사층(32) 아래에 확산 방지층(33), 상기 확산 방지층(33) 아래에 본딩층(34)을 포함한다. 상기 접착층(31)은 도 1의 상기 반사 전극층(130)이나 제1도전형 반도체층(115)의 아래에 접촉되며, Cr, Ti, Co, Ni, V, Hf 및 이들의 선택적인 합금으로 형성될 수 있으며, 그 두께는 1~1,000Å으로 형성될 수 있다. 상기 반사층(32)은 상기 접착층(31) 아래에 형성되며, 그 물질은 Ag, Al, Ru, Rh, Pt, Pd 및 이들의 선택적인 합금으로 형성될 수 있으며, 그 두께는 1~10,000Å로 형성될 수 있다. 상기 확산 방지층(33)은 상기 반사층(32) 아래에 형성되며, 그 물질은 Ni, Mo, W, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti 및 이들의 선택적인 합금으로 형성될 수 있으며, 그 두께는 1~10,000Å을 포함한다. 상기 본딩층(34)은 Al, Au, Cu, Hf, Pd, Ru, Rh, Pt 및 이들의 선택적인 합금으로 형성될 수 있으며, 그 두께는 1~10,000Å로 형성될 수 있다. 상기 제2전극(132)은 상기 반사층(32)을 포함하지 않을 수 있다. 제1 및 제2전극(131,132)은 서로 동일한 적층 구조 또는 서로 다른 적층 구조를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.3, the first and second electrodes 131 and 132 include an adhesive layer 31, a reflective layer 32 under the adhesive layer 31, a diffusion prevention layer 33 under the reflective layer 32, 0.0 > 34 < / RTI > The adhesive layer 31 is in contact with the reflective electrode layer 130 or the first conductive type semiconductor layer 115 in FIG. 1 and is formed of Cr, Ti, Co, Ni, V, Hf, And its thickness may be formed to 1 to 1,000 angstroms. The reflective layer 32 is formed under the adhesive layer 31 and may be formed of Ag, Al, Ru, Rh, Pt, Pd, or an alloy thereof. . The diffusion preventing layer 33 is formed under the reflective layer 32 and may be formed of Ni, Mo, W, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti, The thickness includes 1 to 10,000 angstroms. The bonding layer 34 may be formed of Al, Au, Cu, Hf, Pd, Ru, Rh, Pt, or an alloy thereof. The second electrode 132 may not include the reflective layer 32. The first and second electrodes 131 and 132 may have the same or different lamination structure, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1전극(131)과 상기 제2전극(133)의 구조는 동일하거나, 상이할 수 있다. 상기 제1전극(131) 및 제2전극(133)은 접착층(31)/반사층(32)/확산 방지층(33)/본딩층(34)의 구조 또는 접착층(31)/확산방지층(33)/본딩층(34)의 구조로 형성될 수 있다.
The structures of the first electrode 131 and the second electrode 133 may be the same or different. The first electrode 131 and the second electrode 133 are formed on the structure of the adhesive layer 31 / the reflection layer 32 / the diffusion preventing layer 33 / the bonding layer 34 or the adhesive layer 31 / the diffusion preventing layer 33 / The bonding layer 34 may be formed.

도 4를 참조하면, 상기 제1 및 제2접합 전극(133,134)은 적어도 3개의 금속층으로 형성될 수 있다. 상기 제1 및 제2접합전극(133,134)은 접착층(35), 상기 접착층(35) 아래에 지지층(36), 상기 지지층(36) 아래에 보호층(37)을 포함한다. 상기 접착층(35)은 상기의 제1 및 제2전극과 접착되며, Cr, Ti, Co, Cu, Ni, V, Hf 및 이들 중 2이상의 합금 중에서 형성될 수 있으며, 그 두께는 1~1,000Å로 형성된다. 상기 지지층(36)은 상기 접착층(35)의 두께보다 두껍게 형성된 층으로서, Ag, Al, Au, Co, Cu, Hf, Mo, Ni, Ru, Rh, Pt, Pd 및 이들 중 2이상의 합금 중에서 선택적으로 형성될 수 있으며, 그 두께는 1~500,000Å의 범위이고, 다른 예로서 1,000~10,000Å의 두께로 형성될 수 있다. 상기 보호층(37)은 상기 반도체층에 미치는 영향을 보호하기 위한 층으로서, Au, Cu, Ni, Hf, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti 및 이들 중 2이상의 합금 중에서 선택적으로 형성될 수 있으며, 그 두께는 1~50,000Å로 형성될 수 있다. Referring to FIG. 4, the first and second junction electrodes 133 and 134 may be formed of at least three metal layers. The first and second junction electrodes 133 and 134 include an adhesive layer 35, a support layer 36 under the adhesive layer 35 and a protective layer 37 under the support layer 36. The adhesive layer 35 may be formed of Cr, Ti, Co, Cu, Ni, V, Hf and two or more alloys thereof. The thickness of the adhesive layer 35 may be 1 to 1,000 Å . The supporting layer 36 may be formed of a material selected from the group consisting of Ag, Al, Au, Co, Cu, Hf, Mo, Ni, Ru, Rh, Pt, Pd, And the thickness thereof is in the range of 1 to 500,000 angstroms, and as another example, it may be formed in the thickness of 1,000 to 10,000 angstroms. The protective layer 37 is a layer for protecting the influence on the semiconductor layer and may be formed of one of Au, Cu, Ni, Hf, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, 2 or more alloys, and the thickness thereof may be 1 to 50,000 angstroms.

다른 예로서, 상기 접착층(35)과 지지층(36)의 적층 주기는 반복적으로 적층될 수 있으며, 그 적층 주기는 1주기 이상으로 형성될 수 있다.As another example, the lamination period of the adhesive layer 35 and the supporting layer 36 may be repeatedly laminated, and the lamination period may be formed in one cycle or longer.

도 5를 참조하면, 상기 제3 및 제4접합 전극(135,136)은 적어도 3개의 금속층으로 형성될 수 있으며, 접착층(38), 상기 접착층(38) 아래에 확산 방지층(39), 상기 확산 방지층(39) 아래에 본딩층(40)을 포함한다. 상기 접착층(38)은 상기 제1접합전극(30B)과 접착된 층으로서, Cr, Ti, Co, Ni, V, Hf 및 이들 중 2이상의 합금 중에서 선택될 수 있으며, 그 두께는 1~1,000Å로 형성될 수 있다. 상기 확산 방지층(39)은 층간 확산을 방지하기 위한 층으로서, Ni, Mo, Hf, W, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti 및 이들의 2이상의 합금 중에서 선택될 수 있으며, 그 두께는 1~10,000Å로 형성될 수 있다. 상기 본딩층(40)은 연결 전극과의 본딩을 위한 층으로서, Au, Cu, Ni, Hf, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti 및 이들 중 2이상의 합금 중에서 선택될 수 있으며, 그 두께는 1~10,000Å로 형성될 수 있다. 상기 접착층(38)과 확산 방지층(39)의 적층 주기는 반복적으로 적층될 수 있으며, 그 적층 주기는 1주기 이상으로 형성될 수 있다.
Referring to FIG. 5, the third and fourth junction electrodes 135 and 136 may be formed of at least three metal layers, and may include an adhesive layer 38, a diffusion prevention layer 39 under the adhesive layer 38, 39). ≪ / RTI > The adhesive layer 38 may be selected from the group consisting of Cr, Ti, Co, Ni, V, Hf and two or more of these alloys. The thickness of the adhesive layer 38 may be 1 to 1,000 Å As shown in FIG. The diffusion preventive layer 39 may be selected from among Ni, Mo, Hf, W, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti and two or more alloys thereof, 1 to 10,000 ANGSTROM. The bonding layer 40 is a layer for bonding with the connection electrode and may be a layer of Au, Cu, Ni, Hf, Mo, V, W, Rh, Ru, Pt, Pd, La, Ta, Ti, And the thickness may be set to 1 to 10,000 angstroms. The stacking period of the adhesive layer 38 and the diffusion preventing layer 39 may be repeatedly stacked, and the stacking period may be one or more cycles.

도 6 내지 도 11는 제1실시 예에 따른 발광 소자의 제조 과정을 나타낸 도면이다. 이하의 제조 과정은 설명의 용이성을 위해 개별 소자로 도시되었으나, 웨이퍼 레벨에서 제조되며, 개별 소자는 후술하는 처리 공정을 통해 제조되는 것으로 설명될 수 있다. 또한 개별 소자의 후술하는 제조 공정으로 한정하는 것이 아니며, 각 공정의 특정 공정에 추가적인 공정 또는 더 적은 공정으로 제조될 수 있다. 6 to 11 are views showing a manufacturing process of the light emitting device according to the first embodiment. Although the following manufacturing processes are shown as individual elements for ease of explanation, they are manufactured at the wafer level, and individual elements can be described as being manufactured through a processing process described below. Further, the present invention is not limited to the production process of the individual elements described below, and can be manufactured in an additional process or a fewer process in a specific process of each process.

도 6을 참조하면, 기판(111)은 성장 장비에 로딩되고, 그 위에 II족 내지 VI족 원소의 화합물 반도체가 층 또는 패턴 형태로 형성될 수 있다. 상기 기판(111)은 성장 기판으로 사용된다.Referring to FIG. 6, the substrate 111 may be loaded into a growth apparatus, and a compound semiconductor of Group II to VI elements may be formed thereon in a layer or pattern form. The substrate 111 is used as a growth substrate.

여기서, 상기 기판(111)은 투광성 기판, 절연 기판 또는 전도성 기판으로 이루어질 수 있으며, 예컨대, 사파이어 기판(Al2O3), GaN, SiC, ZnO, Si, GaP, InP, Ga2O3, 그리고 GaAs 등으로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. 이러한 기판(111)의 상면에는 요철 패턴과 같은 광 추출 구조가 형성될 수 있으며, 이러한 요철 패턴은 광의 임계각을 변화시켜 주어 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The substrate 111 may be a transparent substrate, an insulating substrate, or a conductive substrate. The substrate 111 may be a sapphire substrate (Al 2 O 3 ), GaN, SiC, ZnO, Si, GaP, InP, Ga 2 O 3 , GaAs, and the like. On the upper surface of the substrate 111, a light extracting structure such as an irregular pattern may be formed. The irregular pattern may change the critical angle of light to improve the light extraction efficiency.

상기 성장 장비는 전자빔 증착기, PVD(physical vapor deposition), CVD(chemical vapor deposition), PLD(plasma laser deposition), 이중형의 열증착기(dual-type thermal evaporator), 스퍼터링(sputtering), MOCVD(metal organic chemical vapor deposition) 등에 의해 형성할 수 있으며, 이러한 장비로 한정하지는 않는다. The growth equipment may be an electron beam evaporator, physical vapor deposition (PVD), chemical vapor deposition (CVD), plasma laser deposition (PLD), dual-type thermal evaporator, sputtering, MOCVD vapor deposition, and the like, and the present invention is not limited thereto.

상기 기판(111) 상에는 제1반도체층(113)이 형성되며, 상기 제1반도체층(113)은 버퍼층 및/또는 언도프드 반도체층으로 형성될 수 있다. A first semiconductor layer 113 is formed on the substrate 111. The first semiconductor layer 113 may be formed of a buffer layer and / or an undoped semiconductor layer.

상기 제1반도체층(113) 상에는 발광 구조물(120)이 형성될 수 있다. 상기 발광 구조물(120)은 제1도전형 반도체층(115), 활성층(117) 및 제2도전형 반도체층(119)의 순서로 형성될 수 있다.The light emitting structure 120 may be formed on the first semiconductor layer 113. The light emitting structure 120 may include a first conductive semiconductor layer 115, an active layer 117, and a second conductive semiconductor layer 119 in this order.

상기 제1도전형 반도체층(115)은 제1도전형 도펀트가 도핑된 III족-V족 원소의 화합물 반도체 예컨대, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등에서 선택될 수 있다. 상기 제1도전형이 n형 반도체인 경우, 상기 제1도전형 도펀트는 Si, Ge, Sn, Se, Te 등과 같은 n형 도펀트를 포함한다. 상기 제1도전형 반도체층(115)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1도전형 반도체층(115)은 서로 다른 물질을 갖는 초격자 구조를 더 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The first conductive semiconductor layer 115 may be a compound semiconductor of a Group III-V element doped with a first conductive dopant, for example, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, and the like. When the first conductivity type is an n-type semiconductor, the first conductivity type dopant includes n-type dopants such as Si, Ge, Sn, Se, and Te. The first conductive semiconductor layer 115 may be formed as a single layer or a multilayer, but the present invention is not limited thereto. The first conductive semiconductor layer 115 may further include a superlattice structure having different materials, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1도전형 반도체층(115) 상에는 활성층(117)이 형성되며, 상기 활성층(117)은 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물 구조, 양자 선 구조, 양자 점 구조 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 활성층(117)은 3족-5족 원소의 화합물 반도체 재료를 이용하여 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 우물층과 장벽층의 주기, 예를 들면 InGaN 우물층/GaN 장벽층의 주기, InGaN 우물층/AlGaN 장벽층의 주기, InGaN우물층/InGaN 장벽층의 주기 등으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. An active layer 117 is formed on the first conductive semiconductor layer 115 and the active layer 117 may include at least one of a single quantum well structure, a multiple quantum well structure, a quantum wire structure, and a quantum dot structure. . The active layer 117 is made of a compound semiconductor material of Group 3-V group elements, and is made of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + For example, the period of the InGaN well layer / the GaN barrier layer, the period of the InGaN well layer / AlGaN barrier layer, the period of the InGaN well layer / the InGaN barrier layer, and the like And is not limited thereto.

상기 활성층(117)의 위 또는/및 아래에는 클래드층이 형성될 수 있으며, 상기 클래드층은 AlGaN계 반도체로 형성될 수 있다. 여기서, 상기 활성층(117)의 장벽층은 상기 우물층의 밴드 갭보다 높고, 상기 클래드층은 상기 장벽층의 밴드 갭보다 높게 형성될 수 있다.A cladding layer may be formed on and / or below the active layer 117, and the cladding layer may be formed of an AlGaN-based semiconductor. Here, the barrier layer of the active layer 117 may be formed to have a bandgap higher than that of the well layer, and the clad layer may be formed to have a bandgap higher than that of the barrier layer.

상기 활성층(117) 상에는 상기 제2도전형 반도체층(119)이 형성되며, 상기 제 2도전형 반도체층(119)은 제2도전형 도펀트가 도핑된 III족-V족 원소의 화합물 반도체 예컨대, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등에서 선택될 수 있다. 상기 제2도전형이 p형 반도체인 경우, 상기 제2도전형 도펀트는 Mg, Zn 등과 같은 p형 도펀트를 포함한다. 상기 제2도전형 반도체층(119)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있고, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제2도전형 반도체층(119)은 서로 다른 물질을 갖는 초격자 구조를 더 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The second conductivity type semiconductor layer 119 is formed on the active layer 117 and the second conductivity type semiconductor layer 119 is a compound semiconductor of a group III-V element doped with the second conductivity type dopant, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP and the like. When the second conductivity type is a p-type semiconductor, the second conductivity type dopant includes a p-type dopant such as Mg, Zn, and the like. The second conductive semiconductor layer 119 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto. The second conductive semiconductor layer 119 may further include a superlattice structure having different materials, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1도전형 반도체층(115), 상기 활성층(117) 및 상기 제2도전형 반도체층(119)은 발광 구조물(120)로 정의될 수 있다. 또한 상기 제2도전형 반도체층(119) 상에는 제2도전형과 반대의 극성을 갖는 제1도전형의 반도체층 예컨대, n형 반도체층이 형성될 수 있다. 이에 따라 상기 발광 구조물(120)은 n-p 접합, p-n 접합, n-p-n 접합, p-n-p 접합 구조 중 적어도 하나로 형성될 수 있다.
The first conductive semiconductor layer 115, the active layer 117, and the second conductive semiconductor layer 119 may be defined as a light emitting structure 120. Also, a first conductive semiconductor layer, for example, an n-type semiconductor layer having a polarity opposite to that of the second conductive type may be formed on the second conductive semiconductor layer 119. Accordingly, the light emitting structure 120 may be formed of at least one of an np junction, a pn junction, an npn junction, and a pnp junction structure.

도 7을 참조하면, 발광 구조물(120)의 일부 영역(A1)에 대해 에칭을 수행하게 된다. 상기 발광 구조물(120)의 일부 영역(A1)은 상기 제1도전형 반도체층(115)이 노출될 수 있으며, 상기 제1도전형 반도체층(115)의 노출 부분은 상기 활성층(117)의 상면보다 낮은 높이로 형성될 수 있다. 상기 발광 구조물(120)의 일부 영역(A1)은 상기 발광 구조물(120)의 에지 영역을 따라 형성되거나, 한 측면 또는 모서리 영역에 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. Referring to FIG. 7, etching is performed on a partial area A1 of the light emitting structure 120. FIG. The first conductivity type semiconductor layer 115 may be exposed in a part of the region A1 of the light emitting structure 120 and the exposed portion of the first conductivity type semiconductor layer 115 may be exposed on the upper surface of the active layer 117 May be formed at a lower height. A part of the region A1 of the light emitting structure 120 may be formed along the edge region of the light emitting structure 120 or may be formed on one side or edge region. However, the present invention is not limited thereto.

상기 에칭 과정은 상기 발광 구조물(120)의 상면 영역에 대해 마스크 패턴으로 마스킹한 다음, 상기 발광 구조물(120)의 일부 영역(A1)에 대해 건식 에칭을 수행하게 된다. 상기 건식 에칭은 ICP(Inductively Coupled Plasma) 장비, RIE(Reactive Ion Etching) 장비, CCP(Capacitive Coupled Plasma) 장비, 및 ECR(Electron Cyclotron Resonance) 장비 중 적어도 하나를 포함한다. 다른 에칭 방식으로서, 습식 에칭을 더 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The etching process is performed by masking the upper surface region of the light emitting structure 120 with a mask pattern and then performing a dry etching process on a partial region A1 of the light emitting structure 120. The dry etching includes at least one of ICP (Inductively Coupled Plasma) equipment, RIE (Reactive Ion Etching) equipment, CCP (Capacitive Coupled Plasma) equipment, and ECR (Electron Cyclotron Resonance) equipment. As another etching method, wet etching may be further included, but the present invention is not limited thereto.

여기서, 상기 발광 구조물(120)의 일부 영역(A1)은 에칭 영역으로서, 임의의 영역으로 설정될 수 있으며, 그 영역(A1)의 개수도 하나 또는 복수로 형성될 수 있다. Here, a part of the area A1 of the light emitting structure 120 may be an arbitrary area as an etching area, and the number of the areas A1 may be one or more.

상기 발광 구조물(120) 상에 반사 전극층(130)을 형성하게 된다. 상기 반사 전극층(130)은 상기 제2도전형 반도체층(119)의 상면 면적 이하의 면적으로 형성될 수 있으며, 이는 반사 전극층(130)의 제조 과정에 따른 쇼트를 방지할 수 있다. 여기서, 상기 반사 전극층(130)은 상기 반사 전극층(130)을 형성하지 않을 영역에 대해 마스크로 마스킹한 다음, 스퍼터(Sputter) 장비 또는/및 증착 장비로 증착시켜 줄 수 있다. 상기 반사 전극층(130)은 적어도 반사율이 70% 이상인 금속 물질이거나, 적어도 90% 이상인 금속 물질을 포함할 수 있다.A reflective electrode layer 130 is formed on the light emitting structure 120. The reflective electrode layer 130 may have an area less than the area of the upper surface of the second conductive type semiconductor layer 119. This may prevent a short circuit due to the manufacturing process of the reflective electrode layer 130. Here, the reflective electrode layer 130 may be masked with a mask not to form the reflective electrode layer 130, and then may be deposited using a sputtering apparatus or a vapor deposition apparatus. The reflective electrode layer 130 may include a metal material having a reflectivity of 70% or more, or a metal material having a reflectance of at least 90%.

상기 반사 전극층(130)은 예컨대, 오믹 접촉층/반사층/확산 방지층/보호층의 구조로 형성되거나, 반사층/확산 방지층/보호층의 구조로 형성되거나, 오믹 접촉층/반사층/보호층의 구조로 형성되거나, 반사층으로 형성될 수 있다. 상기 각 층의 물질 및 두께는 도 1의 설명을 참조하기로 한다. 여기서, 상기의 에칭 공정과 반사 전극층의 공정의 순서를 변경될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective electrode layer 130 may be formed of, for example, a structure of an ohmic contact layer / a reflective layer / a diffusion barrier layer / a protective layer, a structure of a reflective layer / a diffusion barrier layer / a protective layer, or a structure of an ohmic contact layer / Or may be formed as a reflective layer. The material and thickness of each layer will be described with reference to FIG. Here, the order of the etching process and the process of the reflection electrode layer may be changed, but the invention is not limited thereto.

상기 반사 전극층(130) 상에는 제2전극(132)이 형성되며, 상기 제1도전형 반도체층(115) 상에는 제1전극(131)이 형성된다. 상기 제1전극(131)과 제2전극(132)은 동일한 공정으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.A second electrode 132 is formed on the reflective electrode layer 130 and a first electrode 131 is formed on the first conductive semiconductor layer 115. The first electrode 131 and the second electrode 132 may be formed by the same process, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1전극(131) 및 제2전극(132)은 전극 형성 영역 이외의 영역을 마스크로 마스킹한 다음, 스퍼터 또는/및 증착 장비로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1전극(131) 및 제2전극(132)은 Cr, Ti, Co, Ni, V, Hf, Ag, Al, Ru, Rh, Pt, Pd, Ni, Mo, W, La, Ta, Ti 및 이들의 선택적인 합금 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 제1전극(131) 및 제2전극(132)은 다층으로 형성될 수 있으며, 예컨대 상기의 물질을 이용하여 접착층/반사층/확산방지층/본딩층 중 적어도 2층을 포함할 수 있다. 상기 제1전극(131)과 상기 제2전극(132)은 동일 공정으로 동일한 적층 구조로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The first electrode 131 and the second electrode 132 may be formed by sputtering and / or vapor deposition equipment after masking regions other than the electrode formation region with a mask, but the present invention is not limited thereto. The first electrode 131 and the second electrode 132 may be formed of one selected from the group consisting of Cr, Ti, Co, Ni, V, Hf, Ag, Al, Ru, Rh, Pt, Pd, Ni, Mo, And their optional alloys. The first electrode 131 and the second electrode 132 may be formed in multiple layers, and may include at least two layers of an adhesive layer / a reflective layer / a diffusion prevention layer / a bonding layer using the above materials. The first electrode 131 and the second electrode 132 may be formed in the same process and have the same lamination structure, but the present invention is not limited thereto.

상기 제2전극(132)은 상기 반사 전극층(130)과 상기 제2도전형 반도체층(119)에 물리적으로 접촉될 수 있다.
The second electrode 132 may be in physical contact with the reflective electrode layer 130 and the second conductive type semiconductor layer 119.

도 8을 참조하면, 상기 제1전극(131) 및 상기 제2전극(132)의 오픈 영역(P1,P2)을 제외한 영역에 제1절연층(121)을 형성하게 된다. 상기 제1절연층(121)은 스퍼터 또는 증착 방식으로 형성될 수 있다. 상기 제1절연층(121)은 상기 제1전극(131) 및 상기 제2전극(132)을 제외한 영역 상에 형성되어, 상기 반사 전극층(130) 및 상기 제2도전형 반도체층(119)의 상면, 상기 제1도전형 반도체층(115)의 노출된 영역을 커버하게 된다.Referring to FIG. 8, a first insulating layer 121 is formed in regions except for the open regions P1 and P2 of the first electrode 131 and the second electrode 132. Referring to FIG. The first insulating layer 121 may be formed by a sputtering method or a vapor deposition method. The first insulating layer 121 is formed on a region except for the first electrode 131 and the second electrode 132 so that the reflective electrode layer 130 and the second conductive semiconductor layer 119 And covers the exposed surface of the first conductive type semiconductor layer 115.

상기 제1절연층(121)은 Al, Cr, Si, Ti, Zn, Zr과 같은 물질의 산화물, 질화물, 불화물, 황화물 등 절연물질 또는 절연성 수지를 포함한다. 상기 절연성 수지는 폴리이미드 재질을 포함한다. 상기 제1절연층(121)은 예컨대, SiO2, Si3N4, Al2O3, TiO2 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 제1절연층(121)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
The first insulating layer 121 includes an insulating material such as oxide, nitride, fluoride, or sulfide of a material such as Al, Cr, Si, Ti, Zn, or Zr or an insulating resin. The insulating resin includes a polyimide material. The first insulating layer 121 may be formed of, for example, SiO 2 , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , or TiO 2 . The first insulating layer 121 may be formed as a single layer or a multilayer, but is not limited thereto.

도 9를 참조하면, 상기 제1전극(131) 상에 제1접합 전극(133)을 형성하고, 상기 제2전극(132)의 오픈 영역(P2)에 제2접합 전극(134)을 형성하게 된다. 그리고, 상기 제1접합 전극(133) 상에 제3접합 전극(135)을 형성하고, 상기 제2접합 전극(134) 상에 제4접합 전극(136)을 형성하게 된다. 9, a first bonding electrode 133 is formed on the first electrode 131 and a second bonding electrode 134 is formed on the open region P2 of the second electrode 132 do. A third junction electrode 135 is formed on the first junction electrode 133 and a fourth junction electrode 136 is formed on the second junction electrode 134.

상기 제1 및 제3접합 전극(133,135)과, 상기 제2 및 제4접합 전극(134,136)은 마스크로 보호할 영역을 마스킹한 다음, 스퍼터 또는/및 증착 장비로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 이러한 접합 전극에 대해서는 도 4 및 도 5를 참조하기로 한다.The first and third junction electrodes 133 and 135 and the second and fourth junction electrodes 134 and 136 may be formed by masking an area to be protected by a mask and then sputtering and / I do not. Such a bonding electrode will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG.

상기 제1 및 제3접합 전극(133,135)의 일부(133A,135A)는 상기 발광 구조물(120)의 제2도전형 반도체층(119)과 오버랩되는 영역에 더 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
The portions 133A and 135A of the first and third junction electrodes 133 and 135 may be further disposed in a region overlapping the second conductive type semiconductor layer 119 of the light emitting structure 120, Do not.

도 10을 참조하면, 상기 제3 및 제4접합 전극(135,136) 상에는 제2절연층(123)이 형성되며, 상기 제2절연층(123)은 제1 및 제2연결 전극(141,143)의 영역을 제외한 영역 상에 형성되며, 서로 다른 전극 구조 간의 접촉을 차단하게 된다.10, a second insulating layer 123 is formed on the third and fourth junction electrodes 135 and 136 and the second insulating layer 123 is formed on the regions of the first and second connection electrodes 141 and 143 Are formed on the region except for the electrode structure, and the contact between the different electrode structures is blocked.

상기 제3접합 전극(135) 상에는 제1연결 전극(141)이 본딩되며, 상기 제4접합 전극(136) 상에는 제2연결 전극(143)이 본딩된다. 상기 제1 연결 전극(141)은 솔더 볼 또는/및 금속 범프와 같은 전도성 패드를 포함한다. 상기 제1 연결 전극(141)은 상기 제3접합 전극(135) 상에 본딩되며, 상기 제1도전형 반도체층(115)의 상면에 대해 수직한 방향으로 배치될 수 있다. 상기 제2연결 전극(143)은 솔더 볼 또는/및 금속 범프와 같은 전도성 패드를 포함하며, 상기 제4접합전극(136) 상에 본딩되며, 상기 제2도전형 반도체층(119)의 상면에 대해 수직한 방향으로 배치될 수 있다.A first connection electrode 141 is bonded to the third junction electrode 135 and a second connection electrode 143 is bonded to the fourth junction electrode 136. The first connection electrode 141 includes a conductive pad such as a solder ball and / or a metal bump. The first connection electrode 141 is bonded on the third junction electrode 135 and may be disposed in a direction perpendicular to the upper surface of the first conductive type semiconductor layer 115. The second connection electrode 143 includes a conductive pad such as a solder ball and / or a metal bump. The second connection electrode 143 is bonded on the fourth junction electrode 136, and is formed on the upper surface of the second conductive type semiconductor layer 119 As shown in Fig.

여기서, 상기 제1연결 전극(141)의 두께는 상기 제2연결 전극(143)의 두께보다 적어도 두껍게 형성될 수 있으며, 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 하면은 서로 다른 평면 상에 배치되고, 이들의 상면은 동일한 평면 (즉, 수평 면)상에 배치된다.
The thickness of the first connection electrode 141 may be greater than the thickness of the second connection electrode 143. The thickness of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 Are disposed on different planes, and their upper surfaces are disposed on the same plane (i.e., horizontal plane).

도 11을 참조하면, 지지 부재(151)는 상기 제2절연층(121) 상에 스퀴지 또는/및 디스펜싱 방식으로 형성하게 된다. 또한 상기 지지부재(151)가 폴리이미드와 같은 재질로 형성될 수 있다. 또한 상기 지지부재(151)가 필름 타입인 경우, 상기 제1 및 제2연결 전극(141,143)에 대응되는 오픈 영역을 갖고, 접착될 수 있다.Referring to FIG. 11, the support member 151 is formed on the second insulation layer 121 by a squeegee and / or a dispensing method. Further, the support member 151 may be formed of a material such as polyimide. When the supporting member 151 is a film type, the supporting member 151 may have an open area corresponding to the first and second connection electrodes 141 and 143 and may be adhered thereto.

상기 지지 부재(151)는 실리콘 또는 에폭시와 같은 수지물 내에 열 확산제를 첨가하여 절연성 지지층으로 형성된다. 상기 열 확산제는 Al, Cr, Si, Ti, Zn, Zr과 같은 물질을 갖는 산화물, 질화물, 불화물, 황화물 중 적어도 하나의 물질 예컨대, 세라믹 재질을 포함할 수 있다. 상기 열 확산제는 소정 크기의 분말 입자, 알갱이, 필러(filler), 첨가제로 정의될 수 있다. The support member 151 is formed of an insulating support layer by adding a thermal diffusion agent in a resin such as silicone or epoxy. The heat spreader may include at least one material selected from the group consisting of oxides, nitrides, fluorides, and sulfides having a material such as Al, Cr, Si, Ti, Zn, and Zr. The heat spreader may be defined as a powder particle, a grain, a filler, or an additive having a predetermined size.

상기 열 확산제는 세라믹 재질을 포함하며, 상기 세라믹 재질은 동시 소성되는 저온 소성 세라믹(LTCC: low temperature co-fired ceramic) 또는 고온 소성 세라믹(HTCC: high temperature co-fired ceramic)을 포함한다. 상기 세라믹 재질은 질화물 또는 산화물과 같은 절연성 물질 중에서 열 전도도가 질화물이나 산화물보다 높은 금속 질화물로 형성될 수 있으며, 상기 금속 질화물은 예컨대, 열 전도도가 140 W/mK 이상의 물질을 포함할 수 있다. 상기 세라믹 재질은 SiO2, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, BN, Si3N4, SiC(SiC-BeO), BeO, CeO, AlN와 같은 세라믹 (Ceramic) 계열일 수 있다. 상기 열 전도성 물질은 C (다이아몬드, CNT)의 성분을 포함할 수 있다. 상기 열 확산제는 상기 지지 부재(151) 내에 1~99Wt/% 정도로 포함될 수 있어, 열 확산 효율을 위해 50% 이상으로 첨가될 수 있다.The heat spreader includes a ceramic material, and the ceramic material includes a low temperature co-fired ceramic (LTCC) or a high temperature co-fired ceramic (HTCC). The ceramic material may be formed of a metal nitride having thermal conductivity higher than that of nitride or oxide among the insulating materials such as nitride or oxide, and the metal nitride may include a material having a thermal conductivity of, for example, 140 W / mK or more. The ceramic material may be selected from the group consisting of SiO 2 , Si x O y , Si 3 N 4 , Si x N y , SiO x N y , Al 2 O 3 , BN, Si 3 N 4 , SiC (BeC) And may be a ceramic type such as AlN. The thermally conductive material may comprise a component of C (diamond, CNT). The heat spreader may be contained in the support member 151 in an amount of about 1 to 99 Wt /%, and may be added in an amount of 50% or more for thermal diffusion efficiency.

상기 지지 부재(151)는 잉크 또는 페이스트에 고분자 물질을 혼합하여 형성될 수 있으며, 상기 고분자 물질의 혼합 방식은 볼밀, 유성 볼밀, 임펠라 믹싱, Bead Mill, Basket Mill 을 이용한다. 이 경우 고른 분산을 위하여 용매와 분산제가 사용될 수 있으며, 용매는 점도 조절을 위해 첨가되며, 잉크의 경우 3 ~ 400Cps, 페이스트의 경우 1000 ~ 1백만 Cps 가 바람직하다. 또한, 그 종류는 물, 메탄올(Methanol), 에탄올(ethanol), 이소프로판올(isopropanol), 부틸카비톨(butylcabitol), MEK, 톨루엔(toluene), 자일렌(xylene), 디에틸렌글리콜(DiethyleneGlycol; DEG), 포름아미드(Formamide; FA), α-테르핀네올(α-terpineol; TP), γ-부티로락톤(γ-butylrolactone; BL), 메틸셀루로솔브(Methylcellosolve; MCS), 프로필메틸셀루로솔브(Propylmethylcellosolve; PM) 중 단독 또는 복수의 조합을 포함할 수도 있다. 추가적으로 입자간 결합을 증가 시키기 위해, 1-Trimethylsilylbut-1-yne-3-ol, Allytrimethylsilane, Trimethylsilyl methanesulfonate, TrimethylsilylThe support member 151 may be formed by mixing a polymer material with ink or paste. The mixing method of the polymer material may be a ball mill, a planetary ball mill, an impeller mixing, a bead mill, or a basket mill. In this case, a solvent and a dispersant can be used for uniform dispersion, and the solvent is added for viscosity control, and it is preferably 3 to 400 Cps for the ink and 1000 to 1 million Cps for the paste. It is also possible to use water, methanol, ethanol, isopropanol, butylcabitol, MEK, toluene, xylene, diethylene glycol (DEG) , Formamide (FA), alpha -terpineol (TP), gamma -butylurolactone (BL), methylcellosolve (MCS), propylmethylcellosolve (Propylmethylcellosolve; PM), or a combination thereof. Additionally, in order to increase inter-particle bonding, 1-Trimethylsilylbut-1-yne-3-ol, Allytrimethylsilane, Trimethylsilyl methanesulfonate, Trimethylsilyl

tricholoracetate, Methyl trimethylsilylacetate, Trimethylsilyl propionic acidtricholoracetate, Methyl trimethylsilylacetate, Trimethylsilyl propionic acid

등의 실란 계열의 첨가물이 들어 갈 수 있다.And other silane-based additives.

여기서, 제조 공정 상에서, 솔더 범프와 같은 연결 전극(141,143)은 미리 제조하여 본딩한 후, 상기 연결 전극(141,143)의 둘레에 지지 부재(151)를 형성할 수 있다. 반대로 잉크 또는 페이스트와 같은 제2절연층(123)은 프린트 또는 디스펜싱한 다음, 경화시킨 후, 연결 전극(141,143)에 상응하는 구멍을 형성한 후, 전도성 재질을 채워 연결 전극(141,143)을 형성할 수 있다.Here, in the manufacturing process, the connection electrodes 141 and 143 such as solder bumps may be manufactured and bonded in advance, and then the support members 151 may be formed around the connection electrodes 141 and 143. On the contrary, the second insulating layer 123 such as ink or paste is printed or dispensed, and after curing, holes corresponding to the connecting electrodes 141 and 143 are formed, and then conductive materials are filled to form connecting electrodes 141 and 143 can do.

상기 지지 부재(151)의 두께는 상기 제1연결 전극(141) 및 제2연결 전극(143)의 상면과 동일한 높이를 갖는 두께로 형성될 수 있다.The thickness of the support member 151 may be the same as the thickness of the upper surface of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143.

상기 지지 부재(151)는 상기 제1연결 전극(141), 상기 제2연결 전극(143)의 둘레에 채워지게 된다. 상기 지지 부재(151)의 상면에는 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 상면이 노출된다. The support member 151 is filled around the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143. An upper surface of the first connection electrode 141 and a surface of the second connection electrode 143 are exposed on the upper surface of the support member 151.

상기 지지 부재(151)는 절연성 지지층으로서, 복수의 연결 전극(141,143)의 둘레를 지지하게 된다. 즉, 상기 복수의 연결 전극(141,143)은 상기 지지 부재(151) 내에 삽입된 형태로 배치된다. The support member 151 is an insulating support layer and supports the periphery of the plurality of connection electrodes 141 and 143. That is, the plurality of connection electrodes 141 and 143 are inserted into the support member 151.

상기 지지 부재(151)의 두께는 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 상면이 노출되는 정도로 형성될 수 있다. 상기 지지 부재(151)에 대해 소정 온도 예컨대, 200℃±100℃ 내에서 경화되며, 이러한 경화 온도는 반도체층에 영향을 주지 않는 범위이다.The thickness of the support member 151 may be such that the upper surfaces of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 are exposed. The support member 151 is cured at a predetermined temperature, for example, 200 ° C ± 100 ° C, and the curing temperature is a range that does not affect the semiconductor layer.

여기서, 상기 지지 부재(151)를 형성한 후, 상기 지지 부재(151) 내에 연결 전극 구멍을 형성한 후, 상기 제1 및 제2 연결 전극(141,143)을 형성할 수 있다. Here, after the support member 151 is formed, a connection electrode hole may be formed in the support member 151, and then the first and second connection electrodes 141 and 143 may be formed.

여기서, 상기 기판(111)의 두께는 150㎛ 이상의 두께이거나, 상기 기판(111)의 하면의 폴리싱 과정을 거쳐 30㎛~150㎛ 범위의 두께로 형성될 수 있다. 이는 발광 소자(100) 내에 상기 기판(111)의 반대측에 별도의 지지 부재(151)를 더 구비함으로써, 기판(111)이 광을 방출하는 층으로 사용되므로, 상기 기판(111)의 두께는 더 얇게 가공될 수 있다. 여기서, 상기 지지 부재(151), 상기 제1연결 전극(141) 및 제2연결 전극(143)의 표면을 CMP(chemical mechanical polishing) 공정과 같은 폴리싱 공정을 수행할 수 있다.
Here, the substrate 111 may have a thickness of 150 μm or more, or may have a thickness ranging from 30 μm to 150 μm through a process of polishing the lower surface of the substrate 111. This is because the substrate 111 is further provided with a separate support member 151 on the opposite side of the substrate 111 in the light emitting device 100 so that the thickness of the substrate 111 is more It can be processed thinly. Here, the surface of the support member 151, the first connection electrode 141, and the second connection electrode 143 may be subjected to a polishing process such as a chemical mechanical polishing (CMP) process.

도 11과 같이 제조된 발광 소자를 180도 회전 시켜 제조된다. 이러한 발광 소자는 웨이퍼 레벨에서 지지 부재(151)로 패키징되며, 적어도 하나의 칩 단위로 스크라이빙, 브레이킹 또는/및 커팅하여, 개별 발광 소자로 제공될 수 있다. 상기 발광 소자는 웨이퍼 레벨에서 패키징됨으로써, 모듈 기판이나 패키지의 리드 프레임 상에 별도의 와이어 없이 플립 본딩 방식으로 탑재될 수 있다. 상기 지지 부재(151)의 상면 면적은 상기 기판(111)의 하면 면적보다 동일한 면적일 수 있다.
And the light emitting device manufactured as shown in FIG. 11 is rotated 180 degrees. Such a light emitting device is packaged as a support member 151 at the wafer level and can be provided as an individual light emitting device by scribing, braking, and / or cutting in at least one chip unit. The light emitting device may be packaged at a wafer level so that it can be mounted on a lead frame of a module substrate or a package without a separate wire in a flip bonding manner. The upper surface area of the support member 151 may be the same as the lower surface area of the substrate 111.

도 12는 제2실시 예에 따른 발광 소자(100A)의 측 단면도이다.12 is a side sectional view of the light emitting device 100A according to the second embodiment.

도 12를 참조하면, 상기 기판(111)의 상부에는 복수의 돌기부(11)가 형성되며, 상기 복수의 돌기부(11)는 상기 지지 부재(151)의 반대측 방향으로 돌출되어, 상기 기판(111)을 통해 입사되는 광의 임계각을 변화시켜 주게 된다. 이에 따라 발광 소자의 광 추출 효율은 개선될 수 있다. 상기 돌기부(11)는 볼록렌즈 형상, 반구형 형상, 다각형 형상의 구조물이 스트라이프 또는 매트릭스 형태로 배열될 수 있다.
12, a plurality of protrusions 11 are formed on the substrate 111. The plurality of protrusions 11 protrude in a direction opposite to the support member 151, Thereby changing the critical angle of the light incident through the light source. Accordingly, the light extraction efficiency of the light emitting device can be improved. The convex portion 11 may have a convex lens shape, a hemispherical shape, or a polygonal shape arranged in a stripe or matrix form.

도 13은 제3실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 도면이며, 도 14는 도 13의 저면도이다.FIG. 13 is a view showing a light emitting device according to a third embodiment, and FIG. 14 is a bottom view of FIG.

도 13 및 도 14를 참조하면, 지지 부재(152,152A) 사이에는 분리 홈(152B)이 형성되며, 상기 분리 홈(152B)은 상기 지지 부재(152,152A)를 양측으로 서로 물리적으로 분할시켜 준다. 제1지지 부재(152)는 상기 발광 구조물(120)의 제1영역 아래에 배치되며, 상기 제1연결 전극(141)의 주변 영역에 형성된다. 제2지지 부재(152A)는 상기 발광 구조물(120)의 제2영역 아래에 배치되며, 상기 제2연결 전극(143)의 주변 영역에 형성된다. 상기 제1연결 전극(141)과 상기 제2연결 전극(143)은 물리적 또는 전기적으로 분리된다.Referring to FIGS. 13 and 14, a separation groove 152B is formed between the support members 152 and 152A, and the separation groove 152B physically divides the support members 152 and 152A on both sides. The first supporting member 152 is disposed under the first region of the light emitting structure 120 and is formed in the peripheral region of the first connecting electrode 141. The second supporting member 152A is disposed under the second region of the light emitting structure 120 and is formed in a peripheral region of the second connecting electrode 143. [ The first connection electrode 141 and the second connection electrode 143 are physically or electrically separated from each other.

상기 분리 홈(152B)은 상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A) 사이를 물리적 및 전기적으로 분리시켜 주며, 상기 분리 홈(152B)의 하부에는 제2절연층(123)이 노출될 수 있다. The separation groove 152B physically and electrically separates the first support member 152 and the second support member 152A and a second insulation layer 123 is formed below the separation groove 152B. Lt; / RTI >

상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A)는 절연성 물질 또는 전도성 물질로 형성될 수 있다. 상기 절연성 재질은 상술한 열 확산제를 갖는 수지 재질이며, 상기 전도성 재질은 카본(Carbon), 실리콘 카바이드(SiC)와 같은 전도성 물질이거나 금속으로도 형성될 수 있다. 상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A)가 전도성 재질인 경우, 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 재질과는 다른 재질로 형성될 수 있다. The first supporting member 152 and the second supporting member 152A may be formed of an insulating material or a conductive material. The conductive material may be a conductive material such as carbon or silicon carbide (SiC), or may be formed of a metal. When the first supporting member 152 and the second supporting member 152A are made of a conductive material, they may be formed of a material different from the material of the first connecting electrode 141 and the second connecting electrode 143 have.

여기서, 상기 전도성 물질의 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A)는 은 분리 홈(152B)에 의해 분리됨으로써, 상기 제1연결 전극(141)과 상기 제2연결 전극(143) 간은 전기적으로 오픈된다. The first supporting member 152 and the second supporting member 152A of the conductive material are separated by the silver separating groove 152B so that the first connecting electrode 141 and the second connecting electrode 143 ) The liver is electrically opened.

상기 분리 홈(152B)은 상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A) 사이의 간격을 갖고, 그 깊이는 상기 제2지지 부재(152A)의 두께로 형성될 수 있다. 상기 분리 홈(152B)은 상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A) 간의 전기적인 간섭을 방지할 수 있고, 개별 방열 경로를 제공할 수 있다.The separation groove 152B may have an interval between the first support member 152 and the second support member 152A and the depth may be formed to a thickness of the second support member 152A. The separation groove 152B can prevent electrical interference between the first support member 152 and the second support member 152A and can provide an individual heat dissipation path.

상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A)의 하면은 상기 제1연결 전극(141) 및 상기 제2연결 전극(143)의 하면과 동일 평면 상에 배치될 수 있다. 여기서, 상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A)가 전도성 재질이더라도, 상기 제1연결 전극(141) 및 제2연결 전극(143)을 통해 탑재될 수 있다. The lower surfaces of the first support member 152 and the second support member 152A may be disposed on the same plane as the lower surfaces of the first connection electrode 141 and the second connection electrode 143. Here, the first supporting member 152 and the second supporting member 152A may be mounted through the first connecting electrode 141 and the second connecting electrode 143, even if they are made of a conductive material.

상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A) 사이에는 세라믹 계열의 절연 물질이 더 배치될 수 있으며, 상기 세라믹 계열의 절연 물질은 상기 제1지지 부재(152)와 상기 제2지지 부재(152A)의 하면과 동일한 수평 면 상에 배치될 수 있다.A ceramic-based insulating material may further be disposed between the first supporting member 152 and the second supporting member 152A, and the ceramic-based insulating material may be disposed between the first supporting member 152 and the second supporting member 152A. And can be disposed on the same horizontal surface as the lower surface of the support member 152A.

도 15는 제4실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이며, 도 16은 도 15의 발광 소자의 저면도이다.FIG. 15 is a side sectional view showing a light emitting device according to a fourth embodiment, and FIG. 16 is a bottom view of the light emitting device of FIG.

도 15 및 도 16을 참조하면, 발광 소자는 복수의 지지 부재(153,153A)를 포함하며, 상기 복수의 지지 부재(153,153A)는 각 연결 전극(141,143)의 둘레에 형성된다. 제1연결 전극(141)의 둘레는 제1지지 부재(153)에 의해 커버되며, 상기 제2연결 전극(143)의 둘레는 제2지지 부재(153A)에 의해 커버된다. 상기 제1 및 제2지지 부재(153,153A)의 재질은 절연성 재질 또는 전도성 재질일 수 있다.15 and 16, the light emitting device includes a plurality of support members 153 and 153A, and the plurality of support members 153 and 153A are formed around the connection electrodes 141 and 143, respectively. The periphery of the first connection electrode 141 is covered by the first support member 153 and the periphery of the second connection electrode 143 is covered by the second support member 153A. The materials of the first and second support members 153 and 153A may be an insulating material or a conductive material.

상기 제1지지 부재(153)의 너비(W3)는 상기 제1연결 전극(141)의 너비보다 더 넓게 형성됨으로써, 상기 제1지지 부재(153)는 열 전도 및 전기적인 전도 경로로 사용될 수 있다. 상기 제2지지 부재(153A)의 너비는 상기 제2연결 전극(143)의 너비보다 더 넓게 형성됨으로써, 상기 제2지지 부재(153A)는 열 전도 및 전기적인 전도 경로로 사용될 수 있다.The width W3 of the first support member 153 is wider than the width of the first connection electrode 141 so that the first support member 153 can be used as a thermal conduction path and an electrical conduction path . The width of the second support member 153A is wider than the width of the second connection electrode 143 so that the second support member 153A can be used as a thermal conduction path and an electrical conduction path.

상기 제1지지 부재(153) 및 상기 제2지지 부재(153A) 사이의 간격은 발광 구조물(120)의 어느 한 변의 길이의 1/3 이상 이격될 수 있다. The distance between the first supporting member 153 and the second supporting member 153A may be at least one third of the length of either side of the light emitting structure 120.

상기 제1지지 부재(153)와 상기 제2지지 부재(153A) 사이에는 세라믹 계열의 절연 물질이 더 배치될 수 있으며, 상기 세라믹 물질의 절연 물질은 상기 제1지지 부재(153)와 상기 제2지지 부재(153A)의 하면과 동일한 수평 면 상에 배치될 수 있다.
A ceramic material may be further disposed between the first supporting member 153 and the second supporting member 153A and the insulating material of the ceramic material may be disposed between the first supporting member 153 and the second supporting member 153A, And can be disposed on the same horizontal surface as the lower surface of the support member 153A.

도 17은 제5실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다. 17 is a side sectional view showing a light emitting device according to a fifth embodiment.

도 17을 참조하면, 발광 구조물(120)은 센터측 에칭 영역에 제1도전형 반도체층(115)을 노출시켜 준다. 상기 발광 구조물(120)은 복수의 셀 구조로 형성되거나, 오픈 영역에 제1도전형 반도체층(115)의 일부를 노출시켜 줄 수 있다.Referring to FIG. 17, the light emitting structure 120 exposes the first conductivity type semiconductor layer 115 to the center side etching region. The light emitting structure 120 may have a plurality of cell structures or may expose a portion of the first conductivity type semiconductor layer 115 in an open region.

상기 노출된 제1도전형 반도체층(115)의 아래에는 제1전극 구조(131,133,135)이 각각 형성되며, 반사 전극층(130)은 상기 제1연결 전극(141)의 둘레에 배치될 수 있다. 상기 반사 전극층(130)의 아래에는 복수의 제2전극 구조(132,134,136)가 각각 형성될 수 있다. 상기 제2전극 구조(131,133,135)는 제1전극 구조(131,133,135)의 양측에 배치되어, 전류를 균일하게 공급해 줄 수 있다. 상기 발광 구조물(120)이 복수의 셀로 형성됨으로써, 전체적인 휘도는 향상될 수 있다.
The first electrode structures 131, 133 and 135 may be formed under the exposed first conductive semiconductor layer 115 and the reflective electrode layer 130 may be disposed around the first connection electrode 141. A plurality of second electrode structures 132, 134, and 136 may be formed under the reflective electrode layer 130, respectively. The second electrode structures 131, 133, and 135 may be disposed on both sides of the first electrode structures 131, 133, and 135 to uniformly supply current. Since the light emitting structure 120 is formed of a plurality of cells, the overall luminance can be improved.

도 18은 제6실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다. 18 is a side sectional view showing a light emitting device according to the sixth embodiment.

도 18을 참조하면, 발광 소자는 기판(111), 제1반도체층(113), 발광 구조물(120), 반사 전극층(130), 제1절연층(121), 제1전극 구조(131,133,135), 제2전극 구조(132,134,136), 제2절연층(123), 제1연결 전극(141), 제2연결 전극(143) 및 지지부재(151)를 포함한다.18, the light emitting device includes a substrate 111, a first semiconductor layer 113, a light emitting structure 120, a reflective electrode layer 130, a first insulating layer 121, first electrode structures 131, 133, and 135, A second electrode layer 123, a first connection electrode 141, a second connection electrode 143, and a support member 151. The second electrode structure 132, 134, 136, the second insulation layer 123,

상기 기판(111)의 상부에는 제1패턴부(12)와 제2패턴부(13) 중 적어도 하나가 형성될 수 있다. 상기 제1패턴부(12)는 복수의 돌기를 갖는 제1요철 구조로 형성되며, 상기 제2패턴부(13)는 상기 제1요철 구조 상에 복수의 오목부를 갖는 제2요철 구조로 형성될 수 있다. 상기 제2요철 구조는 상기 제1요철 구조 상에 상기 돌기의 사이즈보다 작은 사이즈를 갖는 미세 요철로 형성될 수 있다.At least one of the first pattern portion 12 and the second pattern portion 13 may be formed on the substrate 111. The first pattern portion 12 is formed in a first concavo-convex structure having a plurality of projections, and the second pattern portion 13 is formed in a second concavo-convex structure having a plurality of concavities on the first concavo-convex structure . The second concavo-convex structure may be formed on the first concavo-convex structure with fine irregularities having a size smaller than the size of the protrusions.

상기 제1패턴부(12)의 돌기는 상기 기판(111)의 상면으로부터 돌출되는 형상 또는 양각 형상으로 형성될 수 있다. 다른 예로서, 상기 제1패턴부(12)는 상기 기판(111)의 상면보다 낮은 깊이로 오목한 형상 또는 음각 형상의 오목부로 형성될 수 있다. 상기 제2패턴부(13)의 오목부는 상기 제1패턴부(12)의 표면에 상기 제1패턴부(12)의 돌기의 사이즈보다 작은 사이즈로 음각 형상 또는 오목한 형상으로 형성될 수 있다. 다른 예로서, 상기 제2패턴부(13)는 양각 형상 또는 볼록한 형상을 갖고 상기 제1패턴부(12)의 돌기의 사이즈보다 작은 사이즈의 미세 돌기로 형성될 수 있다. 상기 제1패턴부(12)의 배열 형상은 매트릭스 형태 또는 격자 형태로 형성될 수 있다. 상기 제1패턴부(12)의 돌기는 측 단면이 반구형상, 원뿔 형상, 다각뿔 형상, 원 기둥 또는 다각 기둥과 같은 기둥 형상, 또는 뿔 대 형상과 같은 형상으로 형성될 수 있다. 상기 각 돌기는 위에서 볼 때, 원 형상, 다각형 형상, 구면과 각면이 혼합된 형상을 포함할 수 있다. The projection of the first pattern unit 12 may be formed in a protruding shape or a raised shape from the upper surface of the substrate 111. As another example, the first pattern portion 12 may be formed as a recess having a recessed shape or a depressed shape with a lower depth than the upper surface of the substrate 111. The concave portion of the second pattern portion 13 may be formed on the surface of the first pattern portion 12 to have a recessed shape or a concave shape with a size smaller than the size of the protrusion of the first pattern portion 12. As another example, the second pattern portion 13 may have a protruding shape having a convex or concave shape and a size smaller than that of the protrusions of the first pattern portion 12. The arrangement pattern of the first pattern units 12 may be formed in a matrix form or a lattice form. The protrusion of the first pattern portion 12 may be formed in a shape such as a hemispherical shape, a conical shape, a polygonal pyramid shape, a columnar shape such as a circular column or a polygonal column, or a conical shape. Each of the protrusions may include a circular shape, a polygonal shape, and a shape in which spherical and angular surfaces are mixed when viewed from above.

상기 제2패턴부(13)의 오목부는 측 단면이 반구형상, 원뿔 형상, 다각뿔 형상, 원 기둥 또는 다각 기둥과 같은 기둥 형상, 또는 뿔 대 형상과 같은 형상으로 형성될 수 있다. 상기 제2패턴부(13)는 위에서 볼 때, 원 형상, 다각형 형상, 구면과 각면이 혼합된 형상을 포함할 수 있다. The concave portion of the second pattern portion 13 may have a shape such as a hemispherical shape, a conical shape, a polygonal pyramid, a columnar shape such as a circular column or a polygonal column, or a conical shape. The second pattern portion 13 may include a circular shape, a polygonal shape, and a shape in which spherical and angular surfaces are mixed when viewed from above.

상기 제1패턴부(12)의 돌기의 너비의 사이즈 또는 두께의 사이즈는 0.1㎛-10㎛ 범위로 형성될 수 있으며, 예컨대 상기 기판(111)의 두께보다 작은 사이즈로 형성될 수 있다. 여기서, 상기 돌기의 너비는 상기 돌기의 두께(L1) 또는 높이보다 클 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제2패턴부(13)의 오목부의 깊이 또는 너비의 사이즈는 0.1nm-100nm 범위로 형성되거나, 0.1nm-100㎛ 범위로 형성될 수 있다. 상기 제1패턴부(12)의 돌기 간의 주기는 0.1㎛-100㎛ 범위로 형성될 수 있으며, 상기 제2패턴부(13)의 오목부 간의 주기는 0.1㎛-100㎛ 범위로 형성될 수 있다.The size or thickness of the width of the protrusion of the first pattern unit 12 may be in the range of 0.1 탆 to 10 탆 and may be smaller than the thickness of the substrate 111, for example. Here, the width of the projection may be larger than the thickness (L1) or height of the projection, but is not limited thereto. The depth or width of the concave portion of the second pattern portion 13 may be in the range of 0.1 nm to 100 nm or in the range of 0.1 nm to 100 탆. The period between the protrusions of the first pattern portion 12 may be in the range of 0.1 탆 - 100 탆, and the period between the recesses of the second pattern portion 13 may be in the range of 0.1 탆 - 100 탆 .

상기 제1패턴부(12)와 제2패턴부(13)는 입사되는 광의 임계각을 변환시켜 줌으로써, 입사되는 광의 전반사 비율을 낮추어 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 기판(111) 상에는 형광체층이 접촉되거나, 소정 거리를 갖고 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
The first pattern unit 12 and the second pattern unit 13 may change the critical angle of incident light to lower the total reflection ratio of the incident light to improve the light extraction efficiency. The phosphor layer may be in contact with the substrate 111 or may be disposed at a predetermined distance, but the present invention is not limited thereto.

도 19는 제7실시 예에 따른 발광소자를 나타낸 측 단면도이다. 19 is a side sectional view showing a light emitting device according to the seventh embodiment.

도 19를 참조하면, 발광 소자(101)는 발광 구조물(120), 반사 전극층(130), 제1절연층(121), 제1전극 구조(131,133,135), 제2전극 구조(132,134,136), 제2절연층(123), 제1연결 전극(141), 제2연결 전극(143) 및 지지부재(151)를 포함한다.19, the light emitting device 101 includes a light emitting structure 120, a reflective electrode layer 130, a first insulating layer 121, a first electrode structure 131, 133, 135, a second electrode structure 132, 134, 136, An insulating layer 123, a first connecting electrode 141, a second connecting electrode 143, and a supporting member 151.

상기 발광 소자(101)의 상부에는 기판의 제거로 인해 반도체층 예컨대, 제1도전형 반도체층(115)이 배치된다. 상기 발광 소자(101)의 하부에는 지지 부재(151)가 배치된다. 상기 제1도전형 반도체층(115)의 상면과 상기 지지 부재(151)의 하면은 서로 반대측에 배치된다. A semiconductor layer, for example, a first conductivity type semiconductor layer 115, is disposed on the light emitting device 101 due to removal of the substrate. A supporting member 151 is disposed below the light emitting device 101. The upper surface of the first conductive type semiconductor layer 115 and the lower surface of the supporting member 151 are disposed on the opposite sides.

제1도전형 반도체층(115), 활성층(117), 제2도전형 반도체층(119)은 발광 구조물(120)로 정의될 수 있다. 상기 발광 구조물(120)은 III족-V족 화합물 반도체를 포함하며, 예컨대 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체를 갖고, 자외선 대역부터 가시 광선 대역의 파장 범위 내에서 소정의 피크 파장을 발광할 수 있다.
The first conductive semiconductor layer 115, the active layer 117, and the second conductive semiconductor layer 119 may be defined as the light emitting structure 120. The light emitting structure 120 includes a group III-V compound semiconductor, for example, In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + ), And can emit a predetermined peak wavelength within a wavelength range from the ultraviolet band to the visible light band.

상기 발광 소자(101)는 도 1의 발광 소자로부터 기판 또는 기판/제1반도체층이 제거됨으로써, 상부에는 상기 제1도전형 반도체층(115) 또는 다른 반도체층의 배치될 수 있다. 상기 발광 소자(101)의 두께는 200㎛ 이하로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light emitting device 101 may be formed by removing the substrate or the first semiconductor layer from the light emitting device of FIG. 1, and the first conductive semiconductor layer 115 or another semiconductor layer may be disposed thereon. The thickness of the light emitting device 101 may be 200 탆 or less, but the present invention is not limited thereto.

상기 제2도전형 반도체층(119) 및 상기 반사전극층(130) 중 적어도 한 층의 표면에는 러프니스와 같은 광 추출 구조가 형성될 수 있으며, 이러한 광 추출 구조는 입사되는 광의 임계각을 변화시켜 주어, 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.A light extracting structure such as a roughness may be formed on the surface of at least one of the second conductive type semiconductor layer 119 and the reflective electrode layer 130. Such a light extracting structure may change the critical angle of incident light, , The light extraction efficiency can be improved.

지지 부재(151)의 측면은 상기 발광 구조물(120)의 측면과 동일한 평면 (즉, 수직 면) 상에 배치될 수 있다. The side surface of the support member 151 may be disposed on the same plane (i.e., a vertical surface) as the side surface of the light emitting structure 120.

상기의 발광 소자는 플립 방식으로 탑재되며, 상기 발광 구조물(120)의 상면 방향으로 대부분의 광이 방출되고, 일부 광은 상기 발광 구조물(120)의 측면을 통해 방출되기 때문에, 전극 구조에 의한 광 손실을 줄여줄 수 있다. 이에 따라 상기의 발광 소자의 광 추출 효율 및 방열 효율은 개선될 수 있다.
Since most of the light is emitted in the direction of the top surface of the light emitting structure 120 and some light is emitted through the side surface of the light emitting structure 120, Loss can be reduced. Accordingly, the light extraction efficiency and heat dissipation efficiency of the light emitting device can be improved.

도 20은 제7실시 예에 따른 발광 소자의 측 단면도이다.20 is a side sectional view of the light emitting device according to the seventh embodiment.

도 20을 참조하면, 상기 제1도전형 반도체층(115)의 상부에는 복수의 돌기부(115A)가 형성되며, 상기 복수의 돌기부(115A)는 상기 지지 부재(151)의 반대측 방향으로 돌출되어, 상기 제1도전형 반도체층(115)을 통해 입사되는 광의 임계각을 변화시켜 주게 된다. 이에 따라 발광 소자의 광 추출 효율은 개선될 수 있다. 상기 돌기부(115A)는 렌즈 형상, 뿔 형상, 다각형 형상의 구조물이 스트라이프 또는 매트릭스 형태로 배열될 수 있다. 상기 각 돌기부(115)는 복수의 삼차원 형상의 구조 예컨대, 다각 뿔 형상을 포함한다.20, a plurality of protrusions 115A are formed on the first conductive semiconductor layer 115. The plurality of protrusions 115A protrude in a direction opposite to the support member 151, The critical angle of light incident through the first conductive type semiconductor layer 115 is changed. Accordingly, the light extraction efficiency of the light emitting device can be improved. The protrusions 115A may be arranged in a stripe shape or a matrix shape in a lens shape, a horn shape, or a polygonal shape. Each protrusion 115 includes a plurality of three-dimensional structures, for example, polygonal horns.

도 21은 제8실시 예로서, 도 1의 발광 소자가 탑재된 발광 소자 패키지를 나타낸 도면이다.Fig. 21 is a view showing a light emitting device package on which the light emitting element of Fig. 1 is mounted as an eighth embodiment.

도 21을 참조하면, 발광 소자 패키지(200)는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(21)과, 상기 투광성 수지층(21) 상에 형광체층(22)을 포함한다. 21, the light emitting device package 200 includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, A light emitting device 100 disposed on the lead frames 215 and 217; a light transmitting resin layer 21 disposed on the cavity 212 to cover the light emitting device 100; Layer (22).

상기 몸체(211)는 수지 계열의 절연 물질 예컨대, 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide), PET 또는 EMC(epoxy molding compound)와 같은 수지 재질로 형성될 수 있다. 또는 상기 몸체(211)는 실리콘 계열, 또는 에폭시 계열, 또는 플라스틱 재질을 포함하는 열 경화성 수지, 또는 고내열성, 고 내광성 재질로 형성될 수 있다. 상기의 실리콘은 백색 계열의 수지를 포함한다. 이러한 열 경화성 수지 또는 고 내열성 재질은 트랜스퍼 몰딩 공정을 통하여 형성할 수 있다. The body 211 may be formed of a resin-based insulating material, for example, a resin material such as polyphthalamide (PPA), PET, or an epoxy molding compound (EMC). Alternatively, the body 211 may be formed of a thermosetting resin including a silicone-based material, an epoxy-based material, or a plastic material, or a material having high heat resistance and high light resistance. The above-mentioned silicon includes a white-based resin. Such thermosetting resin or high heat-resistant material can be formed through a transfer molding process.

또한 상기 몸체(211) 내에는 산무수물, 산화 방지제, 이형재, 광 반사재, 무기 충전재, 경화 촉매, 광 안정제, 윤활제, 이산화티탄 중에서 선택적으로 첨가될 수 있다. 상기 몸체(211)는 에폭시 수지, 변성 에폭시 수지, 실리콘 수지, 변성 실리콘 수지, 아크릴 수지, 우레탄 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종에 의해 성형될 수 있다. 예를 들면, 트리글리시딜이소시아누레이트, 수소화 비스페놀 A 디글리시딜에테르 등으로 이루어지는 에폭시 수지와, 헥사히드로 무수 프탈산, 3-메틸헥사히드로 무수 프탈산4-메틸헥사히드로 무수프탈산 등으로 이루어지는 산무수물을, 에폭시 수지에 경화 촉진제로서 DBU(1,8-Diazabicyclo(5,4,0)undecene-7), 조촉매로서 에틸렌 그리콜, 산화티탄 안료, 글래스 섬유를 첨가하고, 가열에 의해 부분적으로 경화 반응시켜 B 스테이지화한 고형상 에폭시 수지 조성물을 사용할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. In addition, the body 211 may be optionally added with an acid anhydride, an antioxidant, a release agent, a light reflector, an inorganic filler, a curing catalyst, a light stabilizer, a lubricant, and titanium dioxide. The body 211 may be formed of at least one member selected from the group consisting of an epoxy resin, a modified epoxy resin, a silicone resin, a modified silicone resin, an acrylic resin, and a urethane resin. For example, an epoxy resin comprising triglycidylisocyanurate, hydrogenated bisphenol A diglycidyl ether and the like and an acid comprising hexahydrophthalic anhydride, 3-methylhexahydrophthalic anhydride, 4-methylhexahydrophthalic anhydride and the like DBU (1,8-Diazabicyclo (5,4,0) undecene-7) as a curing accelerator in an epoxy resin, ethylene glycol, titanium oxide pigment and glass fiber as a cocatalyst were added, A solid epoxy resin composition that has been cured and B-staged can be used. However, the present invention is not limited thereto.

또한 상기 몸체(211) 내에 차광성 물질 또는 확산제를 혼합하여 투과하는 광을 저감시켜 줄 수 있다. 또한 상기 몸체(211)는 소정의 기능을 갖게 하기 위해서, 열 경화성 수지에 확산제, 안료, 형광 물질, 반사성 물질, 차광성 물질, 광 안정제, 윤활제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 적절히 혼합하여도 된다.In addition, a light shielding material or a diffusing agent may be mixed in the body 211 to reduce the transmitted light. In order to have a predetermined function, the body 211 may be formed by appropriately mixing at least one member selected from the group consisting of a diffusing agent, a pigment, a fluorescent material, a reflective material, a light shielding material, a light stabilizer, .

상기의 몸체(211)는 투광성 물질 또는 입사 광의 파장을 변환시키는 변환 물질을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 상기 몸체(211)는 단층 구조 또는 다층 구조로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The body 211 may be formed of a light-transmitting material or a material having a conversion material for converting the wavelength of incident light. The body 211 may have a single-layer structure or a multi-layer structure, but the present invention is not limited thereto.

캐쏘드 마크(cathode mark)는 상기 몸체(211) 또는 어느 하나의 리드 프레임(215,217)의 영역 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 캐쏘드 마크는 상기 발광소자 패키지(200)의 서로 다른 리드 프레임(215,217)의 극성을 구분하도록 표시하게 된다. The cathode mark may be selectively formed in the region of the body 211 or any one of the lead frames 215 and 217. The cathode mark is displayed to distinguish the polarities of the different lead frames 215 and 217 of the light emitting device package 200.

상기 몸체(211) 내에는 캐비티(212)가 형성되며, 상기 캐비티(212)는 상부가 개방된 오목한 형상을 포함한다. 상기 캐비티(212)는 소자 탑측에서 볼 때, 원 형상, 타원 형상, 다각형 형상으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 캐비티(212)의 바닥에는 복수의 리드 프레임(215,217)이 배치되며, 상기 복수의 리드 프레임(215,217)은 서로 이격되게 배치된다. A cavity 212 is formed in the body 211, and the cavity 212 has a concave shape with an open top. The cavity 212 may be formed in a circular shape, an elliptical shape, or a polygonal shape when viewed from the device top side, but the present invention is not limited thereto. A plurality of lead frames 215 and 217 are disposed on the bottom of the cavity 212. The plurality of lead frames 215 and 217 are spaced apart from each other.

상기 캐비티(212)의 둘레 면(212A)은 곡면 또는 각면으로 형성될 수 있으며, 상기 캐비티(212)의 바닥에 대해 경사지거나 수직하게 형성될 수 있다. 상기 캐비티(212)의 둘레 면(212A)은 단차진 구조로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The circumferential surface 212A of the cavity 212 may be curved or angled and may be inclined or perpendicular to the bottom of the cavity 212. The circumferential surface 212A of the cavity 212 may be formed in a stepped structure, but the present invention is not limited thereto.

상기 복수의 리드 프레임(215,217)의 적어도 일부는 상기 캐비티(212)의 바닥에 배치되며, 간극부(214)는 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 사이에 배치된다.At least a portion of the plurality of lead frames 215 and 217 is disposed at the bottom of the cavity 212 and the gap portion 214 is disposed between the plurality of lead frames 215 and 217.

상기 복수의 리드 프레임(215,217)은 소정 두께를 갖는 금속 플레이트로 형성될 수 있으며, 상기 금속 플레이트의 표면에 다른 금속층이 도금될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 복수의 리드 프레임(215,217)은 금속 재질, 예를 들어, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The plurality of lead frames 215 and 217 may be formed of a metal plate having a predetermined thickness, and another metal layer may be plated on the surface of the metal plate. However, the present invention is not limited thereto. The plurality of lead frames 215 and 217 may be formed of a metal material such as titanium (Ti), copper (Cu), nickel (Ni), gold (Au), chromium (Cr), tantalum (Ta) ), Tin (Sn), silver (Ag), and phosphorus (P).

상기 복수의 리드 프레임(215,217)은 적어도 2개를 포함하며, 예컨대 제1리드 프레임(215)과 제2리드 프레임(217)을 포함한다. 상기 제1, 2리드 프레임(215,217)은 다층 구조를 가지도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1 및 제2리드 프레임(215,217)의 두께는 100Å-100mm 범위이거나, 0.3mm~1.5mm 범위이거나, 0.3mm~0.8mm 범위일 수 있다.The plurality of lead frames 215 and 217 include at least two and include, for example, a first lead frame 215 and a second lead frame 217. The first and second lead frames 215 and 217 may have a multi-layer structure, but the present invention is not limited thereto. The thickness of the first and second lead frames 215 and 217 may be in the range of 100 to 100 mm, in the range of 0.3 to 1.5 mm, or in the range of 0.3 to 0.8 mm.

상기 간극부(214)는 상기 몸체(211)와 동일한 재질로 형성되거나, 상기 몸체(211)와 다른 재질로 형성될 수 있다. 상기 간극부(214)는 제1 및 제2리드 프레임(215,217) 사이를 전기적으로 오픈시켜 주기 위해 절연 물질로 형성된다.The gap 214 may be formed of the same material as that of the body 211 or may be formed of a material different from that of the body 211. The gap portion 214 is formed of an insulating material so as to electrically open between the first and second lead frames 215 and 217.

한편, 상기 제1 및 제2리드 프레임(215,217)은 캐비티(212)의 바닥에 배치되며, 접착 부재(221,222)에 의해 상기 발광 소자(100)의 제1연결 전극(141)과 제2연결 전극(143)과 전기적으로 연결된다. 상기 발광 소자(100)는 상기 캐비티(212) 내에 하나 또는 복수로 배치될 수 있고, 자외선 LED 칩, 청색 LED 칩, 적색 LED 칩, 녹색 LED 칩 중 적어도 하나일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The first and second lead frames 215 and 217 are disposed on the bottom of the cavity 212 and electrically connected to the first connection electrode 141 and the second connection electrode 141 of the light emitting device 100 by adhesive members 221 and 222, (Not shown). The light emitting devices 100 may be disposed in the cavity 212 or may be at least one of an ultraviolet LED chip, a blue LED chip, a red LED chip, and a green LED chip. However, the present invention is not limited thereto.

상기 접착 부재(221,222)는 전도성 재질 예컨대, 솔더(Solder)를 포함하는 재질로 형성될 수 있다. 또는 상기 접착 부재(221,222)는 금속 재질 또는 이의 혼합물을 포함하며, 상기 금속 재질은 Sn, Ag, Ni, Au 중 적어도 하나를 포함한다. 상기 접착 부재(221,222)의 두께는 1000Å-1000㎛ 범위 예컨대, 3000Å-30㎛ 범위로 형성될 수 있다.The adhesive members 221 and 222 may be formed of a material including a conductive material such as a solder. Alternatively, the bonding members 221 and 222 include a metal material or a mixture thereof, and the metal material includes at least one of Sn, Ag, Ni, and Au. The thickness of the adhesive members 221 and 222 may be in the range of 1000 Å to 1000 袖 m, for example, in the range of 3000 Å to 30 탆.

제1접착 부재(221)는 상기 발광 소자(100)의 제1연결 전극(141)과 상기 제1리드 프레임(215) 사이에 접착되고 전기적으로 연결시켜 준다. 제2접착 부재(222)는 상기 발광 소자(100)의 제2연결 전극(143)과 상기 제2리드 프레임(217) 사이에 접착되고 전기적으로 연결시켜 준다. 상기 제1접찹 부재(221)는 상기 발광 소자(100)의 제1연결 전극(141)의 너비보다 더 넓은 너비를 갖고 지지부재(151)와 면 접촉될 수 있으며, 상기 제2접착 부재(222)는 상기 발광 소자(100)의 제2연결 전극(143)의 너비보다 더 넓은 너비를 갖고 지지부재(151)와 면 접촉될 수 있다. 상기 제1접착 부재(221) 및 상기 제2접착 부재(222)의 접촉 면적에 비례하여 상기 발광 소자(100)의 방열 효율은 증가될 수 있다.The first bonding member 221 is bonded and electrically connected between the first connection electrode 141 of the light emitting device 100 and the first lead frame 215. The second bonding member 222 is bonded and electrically connected between the second connection electrode 143 of the light emitting device 100 and the second lead frame 217. The first attachment member 221 may have a width larger than the width of the first connection electrode 141 of the light emitting device 100 and may be in surface contact with the support member 151, May have a width larger than the width of the second connection electrode 143 of the light emitting device 100 and may be in surface contact with the support member 151. [ The heat radiation efficiency of the light emitting device 100 can be increased in proportion to the contact area of the first adhesive member 221 and the second adhesive member 222. [

여기서, 상기 발광 소자(100)의 지지 부재(151)의 하면은 상기 제1 및 제2리드 프레임(215,217)의 상면으로부터 일정한 간격으로 이격될 수 있다. 상기 발광 소자(100)의 지지 부재(151)의 하면과 상기 제1 및 제2리드 프레임(215,217)의 상면 사이에 절연성 접착 부재가 더 배치될 수 있으며, 상기 절연성 접착 부재는 열 전도율을 위해, 실리콘과 같은 수지 재질에 TiO2 또는 SiO2가 첨가된 물질로 형성될 수 있다.The lower surface of the support member 151 of the light emitting device 100 may be spaced apart from the upper surfaces of the first and second lead frames 215 and 217 at regular intervals. An insulating bonding member may be further disposed between the lower surface of the support member 151 of the light emitting device 100 and the upper surface of the first and second lead frames 215 and 217. For the heat conductivity, And may be formed of a material such as TiO 2 or SiO 2 added to a resin material such as silicon.

상기 발광 소자(100)는 상기 캐비티(212)의 바닥 중앙에 배치될 수 있으며, 이에 따라 발광 소자 패키지(200)로부터 방출된 광의 지향각 분포를 개선시켜 줄 수 있다.The light emitting device 100 may be disposed at the center of the bottom of the cavity 212 to improve the directivity distribution of the light emitted from the light emitting device package 200.

상기의 발광 소자(100)는 도 1의 발광 소자를 일 예로 설명하며, 다른 실시 예의 발광 소자를 선택적으로 적용할 수 있으며, 또한 기판(111)을 구비하거나, 기판이 제거된 구조로 배치될 수 있다.
The light emitting device 100 described above is an example of the light emitting device of FIG. 1, and the light emitting device of another embodiment may be selectively applied. Alternatively, the light emitting device 100 may be provided with a substrate 111, have.

상기 투광성 수지층(21)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투명한 수지 계열을 포함한다. 상기 투광성 수지층(21)은 형광체를 포함하지 않는 층이거나, 형광체와 발광 소자(100) 사이를 이격시켜 주는 층이 될 수 있다. 또는 상기 투광성 수지층(21)은 발광 소자(100)의 발광 구조물(120)로부터 형광체층(22) 즉, 형광체를 이격시켜 주는 층이 될 수 있다.The translucent resin layer 21 includes a transparent resin such as silicone or epoxy. The translucent resin layer 21 may be a layer that does not include a phosphor or may be a layer that separates the phosphor from the light emitting device 100. Alternatively, the light transmitting resin layer 21 may be a layer for separating the phosphor layer 22, that is, the phosphor from the light emitting structure 120 of the light emitting device 100.

상기의 투광성 수지층(21)의 굴절률은 상기 발광 구조물(120)의 굴절률보다 낮은 굴절률을 갖되, 2.0 이하 예컨대, 1.2~1.7 사이로 형성될 수 있다. 상기 투광성 수지층(21)의 상면(21-1)은 플랫한 면으로 형성될 수 있다. 상기 투광성 수지층(21)의 상면(21-1)은 요철 패턴과 같은 광 추출 구조가 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The refractive index of the light-transmitting resin layer 21 may be lower than 2.0 and lower than the refractive index of the light emitting structure 120, for example, between 1.2 and 1.7. The upper surface 21-1 of the translucent resin layer 21 may be formed as a flat surface. The upper surface 21-1 of the translucent resin layer 21 may be formed with a light extracting structure like a concavo-convex pattern, but the invention is not limited thereto.

상기 투광성 수지층(21)의 상면(21-1)과 상기 발광 소자(100)의 상면은 제1간격(T1)으로 이격되며, 상기 제1간격(T1)은 0.1㎛ 이상이 될 수 있다. The upper surface 21-1 of the light transmitting resin layer 21 and the upper surface of the light emitting device 100 are spaced apart from each other by a first distance T1 and the first distance T1 may be 0.1 탆 or more.

상기 투광성 수지층(21)은 상기 발광 소자(100)를 형광체층(22)으로부터 이격시켜 주어, 상기 발광 소자(100)로부터 방출된 광을 전 영역으로 가이드할 수 있다. The translucent resin layer 21 may separate the light emitting device 100 from the phosphor layer 22 to guide the light emitted from the light emitting device 100 to the entire area.

상기 형광체층(22)은 상기 투광성 수지층(21) 상에 형성된다. 상기 투광성 수지층(21)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 수지 재질로 형성되며, 내부에 형광체를 포함한다. 상기 형광체는 YAG, TAG, Silicate, Nitride, Oxy-nitride 계 물질 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 형광체는 청색 형광체, 적색 형광체, 황색 형광체, 녹색 형광체 중 적어도 하나를 포함하며, 상기 발광 구조물(120)로부터 방출된 광의 일부를 여기시켜 다른 파장의 광으로 발광하게 된다. 청색 형광체는 Sr2MgSi2O7:Eu2+의 물질, BaMgAl10O17: Eu(Mn), Sr5Ba3MgSi2O8:Eu2 +, Sr2P2O7:Eu2 +, SrSiAl2O3N2:Eu2+, (Ba1 - xSrx)SiO4:Eu2 +, (Sr,Ca,Ba,Mg)10(PO4)6Cl2:Eu2 +, CaMgSi2O6:Eu2 + 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 적색 형광체는 La2O2S:Eu3+, Y2O2S:Eu3 +, Y2O3:Eu3 +(Bi3 +), CaS:Eu2 +, (Zn,Cd)S:Ag+(Cl-), K5(WO4)6.25:Eu3 + 2.5, LiLa2O2BO3:Eu3+ 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 녹색 형광체는 ZnS:Cu+(Al3 +), SrGa2S4:Eu2 +, CaMgSi2O7:Eu2 +, Ca8Mg(SiO4)Cl2:Eu2+(Mn2+), (Ba, Sr)2SiO4:Eu2 + 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 황색 형광체는 Y3Al5O12:Ce3 +, Sr2SiO4:Eu2 + 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The phosphor layer 22 is formed on the translucent resin layer 21. The translucent resin layer 21 is formed of a resin material such as silicone or epoxy, and includes a fluorescent material therein. The phosphor may be selectively formed from YAG, TAG, Silicate, Nitride, and Oxy-nitride based materials. The phosphor includes at least one of a blue phosphor, a red phosphor, a yellow phosphor, and a green phosphor, and excites a part of light emitted from the light emitting structure 120 to emit light with a different wavelength. Blue phosphor Sr 2 MgSi 2 O 7: material, BaMgAl 10 O of Eu 2+ 17: Eu (Mn) , Sr 5 Ba 3 MgSi 2 O 8: Eu 2 +, Sr 2 P 2 O 7: Eu 2 +, SrSiAl 2 O 3 N 2: Eu 2+, (Ba 1 - x Sr x) SiO 4: Eu 2 +, (Sr, Ca, Ba, Mg) 10 (PO 4) 6 C l2: Eu 2 +, CaMgSi 2 O 6 : Eu 2 + . Red phosphor La 2 O 2 S: Eu 3+ , Y 2 O 2 S: Eu 3 +, Y 2 O 3: Eu 3 + (Bi 3 +), CaS: Eu 2 +, (Zn, Cd) S: Ag + (Cl -), K 5 (WO 4) 6.25: Eu 3 + 2.5, LiLa 2 O 2 BO 3: may include at least one of Eu 3+. Green phosphor ZnS: Cu + (Al 3 + ), SrGa 2 S 4: Eu 2 +, CaMgSi 2 O 7: Eu 2 +, Ca 8 Mg (SiO 4) Cl 2: Eu 2+ (Mn 2+), (Ba, Sr) 2 SiO 4 : may include at least one of Eu 2 +. The yellow phosphor may include at least one of Y 3 Al 5 O 12 : Ce 3 + , and Sr 2 SiO 4 : Eu 2 + .

상기 형광체층(22)의 형광체 조성은 0.1-99wt% 범위 예컨대, 5-50wt% 범위로 사용될 수 있다. 상기 형광체층(22)의 두께는 상기 투광성 수지층(21)의 두께보다 얇은 두께로 형성될 수 있으며, 예컨대 1-100000㎛ 범위 예컨대, 1-50㎛ 범위로 형성될 수 있다. 상기 형광체층(22)은 상기 투광성 수지층(21)의 굴절률과 같거나, 더 낮은 굴절률로 형성될 수 있다.The phosphor composition of the phosphor layer 22 may be used in the range of 0.1-99 wt%, for example, 5-50 wt%. The thickness of the phosphor layer 22 may be less than the thickness of the light transmitting resin layer 21, and may be in a range of, for example, 1-100,000 mu m, for example, 1-50 mu m. The phosphor layer 22 may have a refractive index equal to or lower than that of the light transmitting resin layer 21.

상기 형광체층(22)은 상기 캐비티(212)의 바닥으로부터 적어도 201㎛ 또는 그 이상으로 이격될 수 있다. 상기 형광체층(22)을 발광 소자(100)로부터 이격시켜 주어, 색 좌표 분포에서 링(ring) 형상이 발생되는 것을 제거할 수 있다. 또한 상기 발광 소자(100)가 플립 방식으로 탑재되면, 상기 발광 구조물(120)의 활성층 상에는 제2도전형 반도체층(예: p형 반도체층)보다 두꺼운 제1도전형 반도체층(예: n형 반도체층)과 투광성의 기판(111)이 배치된다. 이에 따라 활성층과 형광체층(22) 사이의 간격을 다른 칩 구조에 비해 더 이격시켜 줄 수 있다. 이에 따라 광이 진행하는 경로를 확보할 수 있어, 색 분포를 개선시켜 줄 수 있다. 또한 도 33의 실시 예(M1)의 전류 증가에 따른 광속 그래프 바와 같이, 비교 예(M1)보다 1.5배 이상의 전류에서도 광속이 증가됨을 알 수 있다. 또한 도 34와 같이 실시 예(M1)에서 전류에 따른 순 방향 전압(VF)도 낮추어 줄 수 있다.The phosphor layer 22 may be spaced at least 201 탆 or more from the bottom of the cavity 212. It is possible to remove the phosphor layer 22 from the light emitting device 100 and to prevent occurrence of a ring shape in a color coordinate distribution. When the light emitting device 100 is mounted in a flip manner, a first conductivity type semiconductor layer (for example, an n-type semiconductor layer) thicker than the second conductivity type semiconductor layer Semiconductor layer) and a transparent substrate 111 are arranged. Accordingly, the gap between the active layer and the phosphor layer 22 can be further spaced apart from other chip structures. As a result, a path through which light travels can be ensured and the color distribution can be improved. It is also seen that the luminous flux is increased at a current of 1.5 times or more than that of the comparative example M1 as shown in the luminous flux graph according to the current increase of the embodiment M1 of FIG. 34, the forward voltage VF according to the current can also be lowered in the embodiment (M1).

여기서, 상기 발광 소자(100)의 반사 전극층(130)은 상기 발광 구조물(120)의 아래에 배치되어, 상기 발광 구조물(120)로부터 하 방향으로 진행하는 광을 반사시켜 주게 된다. 상기 발광 소자(100)로부터 방출된 광은 투광성 수지층(21)을 투과하여 진행하게 되며, 상기 투광성 수지층(22)을 투과한 광은 형광체층(22)을 거쳐 방출된다. 이때 상기 형광체층(22)의 형광체는 일부 광을 파장 변환하여, 상기 발광 구조물(120)로부터 방출된 광보다 장 파장의 광으로 발광하게 된다.
The reflective electrode layer 130 of the light emitting device 100 is disposed below the light emitting structure 120 to reflect light traveling downward from the light emitting structure 120. The light emitted from the light emitting device 100 is transmitted through the light transmitting resin layer 21 and the light transmitted through the light transmitting resin layer 22 is emitted through the phosphor layer 22. At this time, the phosphor of the phosphor layer 22 wavelength-converts a part of light and emits light of a longer wavelength than the light emitted from the light emitting structure 120.

도 22는 제9실시 예로서, 도 1의 발광 소자를 갖는 발광 소자 패키지를 나타낸 도면이다. 제9실시 예를 설명함에 있어서, 도 21과 동일한 구성 요소는 도 21의 설명을 참조하기로 한다.22 is a view showing a light emitting device package having the light emitting element of Fig. 1 as a ninth embodiment. In describing the ninth embodiment, the same components as those in Fig. 21 will be described with reference to the description of Fig.

도 22를 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(21)과, 상기 투광성 수지층(21) 상에 형광체층(22)을 포함한다.22, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, A translucent resin layer 21 disposed on the cavity 212 to cover the light emitting element 100 and a phosphor layer 22 on the translucent resin layer 21, ).

상기 투광성 수지층(21)의 상면(21-1)은 오목한 형상으로서, 캐비티(212)의 바닥에 대해 센터 영역에서 외측 영역으로 갈수록 점차 높아지는 높이로 형성된다.The upper surface 21-1 of the translucent resin layer 21 has a concave shape and is formed to have a height gradually increasing from the center area to the outer area with respect to the bottom of the cavity 212. [

상기 형광체층(22)은 상기 발광 소자(100)의 상면으로부터 이격된다. 상기 발광 소자(100)는 상기 형광체층(22)으로부터 제2간격(T2)으로 이격되며, 상기 제2간격(T2)은 적어도 0.1㎛ 이상이 될 수 있다. The phosphor layer 22 is spaced from the upper surface of the light emitting device 100. The light emitting device 100 may be spaced apart from the phosphor layer 22 by a second interval T2 and the second interval T2 may be at least 0.1 m or more.

상기 형광체층(22)의 상면(22-1)은 오목한 형상으로 형성될 수 있다. 상기 형광체층(22)의 상면(22-1)이 오목하게 형성됨으로써, 방출되는 광의 지향각 분포를 증가시켜 줄 수 있다.The upper surface 22-1 of the phosphor layer 22 may be formed in a concave shape. Since the upper surface 22-1 of the phosphor layer 22 is concave, the directivity angle distribution of the emitted light can be increased.

상기 형광체층(22)은 센터 영역과 외측 영역이 동일한 두께로 형성될 수 있다. 상기 형광체층(22)의 두께가 일정한 두께로 형성될 경우, 상기 형광체층(22)으로부터 방출된 광의 휘도 분포는 균일할 수 있다.
The phosphor layer 22 may have the same thickness as the center region and the outer region. When the thickness of the phosphor layer 22 is formed to a constant thickness, the luminance distribution of the light emitted from the phosphor layer 22 may be uniform.

도 23은 제10실시 예로서, 도 1의 발광 소자를 갖는 발광 소자 패키지를 포함한다. 제10실시 예를 설명함에 있어서, 도 21 또는 도 22와 동일한 구성 요소에 대해서는 상세한 설명은 생략하기로 한다.Fig. 23 is a tenth embodiment, which includes the light emitting device package having the light emitting element of Fig. In describing the tenth embodiment, detailed description of the same components as those in FIG. 21 or 22 will be omitted.

도 23을 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(21)과, 상기 투광성 수지층(21) 상에 형광체층(22)을 포함한다.23, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, A translucent resin layer 21 disposed on the cavity 212 to cover the light emitting element 100 and a phosphor layer 22 on the translucent resin layer 21, ).

상기 형광체층(22)은 발광 구조물(120)로부터 이격되는 데, 예컨대 상기 발광 소자(100)의 상면과 제2간격(T2)으로 이격되거나, 상기 발광 소자(100)의 기판(111)의 상면에 접촉될 수 있다. The phosphor layer 22 is spaced apart from the light emitting structure 120 such that the phosphor layer 22 is spaced apart from the upper surface of the light emitting device 100 by a second interval T2, As shown in FIG.

상기 형광체층(22)의 상면(22-1)은 플랫하거나, 오목한 면으로 형성될 수 있다. 상기 형광체층(22)은 중심부에 오목부(22-2)를 포함하며, 상기 오목부(22-2)는 상기 형광체층(22)의 상면(22-1)의 연장 선에 대해 상기 발광 소자(100) 방향으로 오목하게 형성된다. 이에 따라 상기 오목부(22-2)의 중심부는 가장 얇은 두께를 갖고, 상기 발광 소자(100)의 중심과 대응되게 배치된다. 상기 오목부(22-2)는 측 단면에서 볼 때, 뿔 형상, 다각형 형상, 반구형 형상일 수 있고, 이러한 오목부(22-2)의 구조는 상기 발광 소자(100)로부터 입사된 일부 광에 대해 임계각을 변화시켜 주거나, 전 반사시켜 줄 수 있다. The upper surface 22-1 of the phosphor layer 22 may be formed as a flat or concave surface. The phosphor layer 22 includes a concave portion 22-2 at the central portion thereof and the concave portion 22-2 is formed in the center of the light emitting element 22-2 with respect to the extension line of the upper surface 22-1 of the phosphor layer 22. [ (100) direction. Accordingly, the central portion of the concave portion 22-2 has the thinnest thickness and is arranged to correspond to the center of the light emitting device 100. [ The concave portion 22-2 may have a conical shape, a polygonal shape, or a hemispherical shape when viewed from the side end face. The structure of the concave portion 22-2 may be a part of the light incident from the light emitting element 100 The critical angle can be changed or the total reflection can be performed.

한편, 몸체(211)의 아래에는 지지부(213)가 배치되며, 상기 지지부(213)의 아래에는 상기 제1리드 프레임(215)의 일부(217A) 및 상기 제2리드 프레임(217)의 일부(217A)가 상기 제1 및 제2리드 프레임(215,217)로부터 절곡되어 배치될 수 있다. 상기 지지부(213)는 상기 몸체(211)와 동일한 재질로 사출 성형되거나, 서로 다른 재질로 접착될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
A support portion 213 is disposed under the body 211 and a portion 217A of the first lead frame 215 and a portion 217A of the second lead frame 217 217A may be bent from the first and second lead frames 215, The supporting portion 213 may be injection-molded using the same material as the body 211, or may be bonded to each other using different materials, but the present invention is not limited thereto.

도 24는 제11실시 예로서, 도 1의 발광 소자를 갖는 발광 소자 패키지를 포함한다. 제11실시 예를 설명함에 있어서, 도 21 또는 도 22와 동일한 구성 요소에 대해서는 상세한 설명은 생략하기로 한다.Fig. 24 is a eleventh embodiment, which includes a light emitting device package having the light emitting element of Fig. In the description of the eleventh embodiment, the same elements as those in FIG. 21 or 22 will not be described in detail.

도 24를 참조하면, 발광 소자 패키지는 형광체층(22)의 상면(22-3)이 요철 패턴으로 형성될 수 있다. 상기 요철 패턴의 형상은 다각형 형상 또는 뿔 형상을 포함하며, 일정한 간격 또는 불규칙한 간격을 갖는 철 패턴들이 배열될 수 있다.
Referring to FIG. 24, in the light emitting device package, the upper surface 22-3 of the phosphor layer 22 may be formed in a concavo-convex pattern. The shape of the concavo-convex pattern includes a polygonal shape or a horn shape, and iron patterns having a constant interval or irregular intervals may be arranged.

도 25는 제12실시 예로서, 도 12의 발광 소자(100A)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 25를 설명함에 있어서, 도 21-도 24의 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.25 is a side sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100A of Fig. 12 as a twelfth embodiment. In explaining FIG. 25, the description of the components in FIGS. 21 to 24 will be referred to.

도 25를 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100A)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100A)를 덮는 투광성 수지층(21)과, 상기 투광성 수지층(21) 상에 형광체층(24) 및 렌즈(25)를 포함한다.25, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, A translucent resin layer 21 disposed on the cavity 212 and covering the light emitting element 100A; and a phosphor layer 24 on the translucent resin layer 21, And a lens 25, as shown in Fig.

상기 투광성 수지층(21)의 상면(21-2)은 상기 발광 소자(100A)의 상면보다 적어도 높게 배치되며, 센터 영역은 상기 발광 소자(100A)의 상면과 접촉될 수 있다. 상기 투광성 수지층(21)의 상면(21-2)의 높이를 보면, 상기 캐비티(212)의 바닥을 기준으로 외측 영역의 높이는 높고 센터 영역의 높이는 낮게 형성된다.The upper surface 21-2 of the light transmitting resin layer 21 may be disposed at least higher than the upper surface of the light emitting device 100A and the center region may be in contact with the upper surface of the light emitting device 100A. When the height of the upper surface 21-2 of the translucent resin layer 21 is viewed, the height of the outer region is high and the height of the center region is low with respect to the bottom of the cavity 212.

상기 발광 소자(100A)는 기판(111)의 복수의 돌기부(11)가 상기 형광체층(24) 방향으로 돌출되므로, 광 추출 효율이 증대될 수 있다. 이에 따라 상기 형광체층(24)은 상기 복수의 돌기부(11)과 접촉되며, 상기 복수의 돌기부(11)에 의해 임계각이 변화된 광들이 상기 형광체층(24)으로 효과적으로 입사될 수 있다. 이에 따라 형광체층(24)에 의한 색 변환 효율을 개선시켜 줄 수 있다.Since the plurality of protrusions 11 of the substrate 111 protrude toward the phosphor layer 24, the light extraction efficiency of the light emitting device 100A can be increased. Accordingly, the phosphor layer 24 is in contact with the plurality of protrusions 11, and light having a critical angle changed by the plurality of protrusions 11 can be effectively incident on the phosphor layer 24. Accordingly, the color conversion efficiency by the phosphor layer 24 can be improved.

상기 형광체층(24) 상에는 렌즈(25)가 배치되며, 상기 렌즈(25)는 반구형 형상의 중심부에 오목부(25-1)가 형성된다. 상기 오목부(25-1)는 상기 발광 소자(100A)의 방향으로 오목하게 형성되며, 전 반사면을 구비할 수 있다. 상기 렌즈(25)는 오목부(25-1)에 의해 입사되는 광을 사이드 방향으로 반사시켜 줌으로써, 광 지향각의 분포를 넓혀 줄 수 있다.
A lens 25 is disposed on the phosphor layer 24 and a concave portion 25-1 is formed in the center of the hemispherical shape of the lens 25. The concave portion 25-1 may be recessed in the direction of the light emitting device 100A and may have a full reflecting surface. The lens 25 can broaden the distribution of the light directing angle by reflecting the light incident by the concave portion 25-1 in the side direction.

도 26은 제13실시 예로서, 도 1의 발광 소자(100)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 26를 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.26 is a side sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100 of Fig. 1 as a thirteenth embodiment. In the description of Fig. 26, the description of the components described above will be referred to.

도 26을 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(21)과, 상기 투광성 수지층(21) 상에 형광체층(22)을 포함한다.26, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in a cavity 212 of the body 211, A translucent resin layer 21 disposed on the cavity 212 to cover the light emitting element 100 and a phosphor layer 22 on the translucent resin layer 21, ).

상기 투광성 수지층(21)은 상면(21-3)이 볼록한 구면으로 형성되며, 그 센터 영역은 상기 발광 소자(100)의 상면 높이보다 더 두껍게 형성되며, 그 외측 영역은 상기 발광 소자(100)의 상면보다 낮은 높이로 형성될 수 있다. The light transmissive resin layer 21 is formed in a spherical shape having a convex surface on the upper surface 21-3 and a center region thereof is formed to be thicker than a top surface height of the light emitting device 100, As shown in FIG.

상기 형광체층(22)은 상기 투광성 수지층(21) 상에 형성되며, 상기 발광 소자(100)의 상면으로부터 이격된다. 상기 형광체층(22)은 센터 영역의 두께(T3)가 가장 얇고, 외측 영역의 두께가 가장 두꺼운 구조로 형성될 수 있다. 다른 예로서, 상기 형광체층(22)의 상면은 오목한 형상 또는 볼록한 형상으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
The phosphor layer 22 is formed on the light transmitting resin layer 21 and is spaced from the upper surface of the light emitting device 100. The phosphor layer 22 may have a structure in which the thickness T3 of the center region is the thinnest and the thickness of the outer region is the thickest. As another example, the upper surface of the phosphor layer 22 may be formed in a concave shape or a convex shape, but the invention is not limited thereto.

도 27은 제14실시 예로서, 도 1의 발광 소자(100)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 27를 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.27 is a side sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100 of Fig. 1 as a fourteenth embodiment. In the description of FIG. 27, the description of the components described above will be referred to.

도 27를 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 형광체층(51)을 포함한다.27, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, And a phosphor layer 51 disposed on the cavity 212 and covering the light emitting device 100. The light emitting device 100 includes a light emitting device 100,

상기 형광체층(51)은 복수의 층(P1-PN)을 포함하며, 제1층(P1)은 상기 발광 소자(100)의 표면 둘레를 덮도록 형성되며, 제2층(P2)은 상기 제1층(P1)의 표면을 덮도록 형성된다. 이러한 방식으로 N(2이상의 자연수)개의 층을 적층할 수 있어, 습기 침투를 방지할 수 있다. 그리고, 제1N층(PN)은 상면이 플랫하거나, 오목하거나, 볼록한 형상으로 형성될 수 있으며, 또는 요철 패턴을 갖는 구조로 형성될 수 있다.The phosphor layer 51 includes a plurality of layers P1-PN and the first layer P1 is formed so as to cover the surface of the light emitting device 100, Is formed so as to cover the surface of the first layer (P1). In this way, N (two or more natural number) layers can be stacked, and moisture penetration can be prevented. The first N layer PN may be formed in a flat, concave, or convex shape on its top surface, or may have a concavo-convex pattern.

상기 복수의 층(P1-PN) 각각은 동일한 컬러를 발광하는 형광체로 형성되거나 적어도 2층이 동일한 컬러를 발광하는 형광체로 첨가될 수 있다. 다른 예로서, 상기 복수의 층(P1-PN)은 제1층(P1)에서 제N층(PN) 방향을 갈수록, 각 층(P1-PN)의 내에 첨가된 형광체의 함량이 점차 증가하거나, 점차 감소되게 형성할 수 있다. 또는 상기 복수의 층(P1-PN)은 서로 다른 형광체 함량을 가질 수 있으며, 예를 들면 제1층(P1)과 제N층(PN)은 형광체 함량을 다른 층들에 비해 가장 적게 첨가할 수 있다. Each of the plurality of layers P1-PN may be formed of a phosphor emitting the same color, or at least two layers may be added to a phosphor emitting the same color. As another example, the content of phosphor added in each layer (P1-PN) gradually increases in the direction from the first layer (P1) to the Nth layer (PN) It can be formed to be gradually reduced. Alternatively, the plurality of layers (P1-PN) may have different phosphor contents, for example, the first layer (P1) and the Nth layer (PN) may have the least amount of phosphor content compared to the other layers .

여기서, 상기 제1층(P1)과 제N층(PN)의 두께가 다른 층들에 비해 더 두껍게 형성될 수 있다. 이는 상기 제1층(P1)은 발광 소자(100)로부터 발생된 열로부터 형광체를 보호하게 되며, 상기 제N층(PN)은 외부로부터 습기 침투를 방지할 수 있고 표면을 보호할 수 있다. Here, the thicknesses of the first layer (P1) and the N-layer (PN) may be thicker than those of the other layers. This is because the first layer P1 protects the phosphor from heat generated from the light emitting device 100, and the Nth layer PN can prevent moisture penetration from the outside and protect the surface.

상기 각 층(P1-PN)의 형광체 조성은 0.1-99wt% 범위 예컨대, 5-50wt%로 형성될 수 있으며, 각 층의 두께는 1-100000㎛ 범위 예컨대, 1-50㎛ 범위로 형성될 수 있다. 상기와 같이 형광체층(51)이 복수의 층(P1-PN)으로 형성되므로, 도 35의 실시 예(M1)와 같이 색좌표 분포가 R1 영역 상에 분포하게 되어, 다른 예보다는 상승하게 된다.
The phosphor composition of each layer P1-PN may be in the range of 0.1-99 wt%, for example, 5-50 wt%, and the thickness of each layer may be in the range of 1-100000 mu m, for example, 1-50 mu m have. Since the phosphor layer 51 is formed of a plurality of layers P1-PN as described above, the color coordinate distribution is distributed on the R1 region as in the embodiment M1 of Fig.

도 28은 제15실시 예로서, 도 1의 발광 소자(100)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 28를 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.28 is a side sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100 of FIG. 1 as a fifteenth embodiment. In the description of Fig. 28, the description of the components described above will be referred to.

도 28를 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(31) 및 상기 투광성 수지층(31) 상에 배치된 형광체층(52)을 포함한다.28, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, A translucent resin layer 31 disposed on the cavity 212 and covering the light emitting element 100 and a phosphor layer (not shown) disposed on the translucent resin layer 31 52).

상기 투광성 수지층(31)은 형광체를 구비하지 않고, 형광체를 발광 소자(100)로부터 이격시켜 줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(31)의 상면은 상기 발광 소자(100)의 상면 높이로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The translucent resin layer 31 does not have a phosphor and can separate the phosphor from the light emitting element 100. [ The upper surface of the light-transmissive resin layer 31 may be formed on the upper surface of the light emitting device 100, but the present invention is not limited thereto.

상기 형광체층(52)은 복수의 층(P11-PN, N은 2이상의 자연수)으로 형성될 수 있으며, 상기 복수의 층(P11-PN)은 동일한 컬러의 광을 발광하는 형광체가 첨가되거나, 서로 다른 컬러의 광을 발광하는 형광체가 첨가될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The phosphor layers 52 may be formed of a plurality of layers (P11-PN, N being a natural number of 2 or more), and the plurality of layers P11-PN may include phosphors emitting light of the same color, A phosphor capable of emitting light of a different color may be added, but the present invention is not limited thereto.

상기 복수의 층(P11-PN)의 형광체 함량은 서로 다른 조성을 가질 수 있으며, 에를 들면 발광 소자(100)에 가까워질수록 형광체의 함량을 점차 감소되도록 첨가하거나 점차 증가하도록 첨가할 수 있다. 이러한 형광체의 함량 변화를 통해 색감을 개선시켜 줄 수 있다.The phosphor layers of the plurality of layers P11-PN may have different compositions. For example, the phosphor may be added to the light emitting device 100 to gradually decrease the phosphor content, or the phosphor may be added thereto gradually. By changing the content of the phosphor, the color tone can be improved.

상기 형광체층(52) 및 상기 몸체(211) 상에는 렌즈(33)가 배치될 수 있다. 상기 렌즈(33)는 반구형 형상을 갖고, 그 상면(33-1)이 요철 패턴으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
A lens 33 may be disposed on the phosphor layer 52 and the body 211. The lens 33 has a hemispherical shape, and the top surface 33-1 of the lens 33 may be formed in a concavo-convex pattern, but the present invention is not limited thereto.

도 29는 제16실시 예로서, 도 1의 발광 소자(100)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 29를 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.29 is a side cross-sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100 of FIG. 1 as a sixteenth embodiment. In describing Fig. 29, reference will be made to the description of the components described above.

도 29를 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(53) 및 상기 투광성 수지층(53) 상에 배치된 형광체층(54)을 포함한다.29, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, A light transmitting element layer 53 disposed on the cavity 212 and covering the light emitting element 100 and a phosphor layer (not shown) disposed on the light transmitting resin layer 53. The light emitting element 100, 54).

상기 투광성 수지층(53)의 상면은 상기 발광 소자(100)의 상면보다 낮은 두께로 형성되는 데, 예를 들면 캐비티 바닥으로부터 상기 발광 소자(100)의 발광 구조물(120) 또는 반사전극층(130)의 높이 보다 낮은 높이(T5)로 배치될 수 있다. 상기 투광성 수지층(53)의 상면은 상기 반사 전극층(130)과 상기 발광 구조물(120) 사이의 높이로 형성될 수 있다. The upper surface of the light transmitting resin layer 53 is formed to have a lower thickness than the upper surface of the light emitting device 100. For example, the light emitting structure 120 or the reflective electrode layer 130 of the light emitting device 100, The height T5 may be less than the height T5. The upper surface of the light transmitting resin layer 53 may be formed to have a height between the reflective electrode layer 130 and the light emitting structure 120.

상기 투광성 수지층(53)은 고 굴절률을 갖는 SiO2 또는 TiO2가 첨가될 수 있으며, 광 반사율을 증가시켜 줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(53)은 상기 반사 전극층(130)의 외측으로 누설된 광이 접착 부재(221,222)에 의해 손실되지 않고 반사되도록 할 수 있다. 상기 투광성 수지층(53)의 반사율은 형광체층(54)의 반사율보다 높게 형성될 수 있다.The light transmitting resin layer 53 may be doped with SiO 2 or TiO 2 having a high refractive index and may increase the light reflectance. The light transmitting resin layer 53 can reflect the light leaking to the outside of the reflective electrode layer 130 without being lost by the adhesive members 221 and 222. The reflectivity of the translucent resin layer 53 may be higher than that of the phosphor layer 54. [

상기 형광체층(54)은 상기 투광성 수지층(53) 상에 복수의 층(P21-PN)(N: 2이상의 자연수)으로 형성될 수 있으며, 복수의 층(P21-PN) 중에서 적어도 하나의 층(P21)은 발광 구조물(120)의 측면에 접촉되어, 일부 광을 파장 변환하게 된다. 상기 복수의 층(P21-PN)은 서로 다른 광을 발광하는 형광체 또는 서로 동일한 광을 발광하는 형광체를 포함할 수 있으며, 또한 적어도 한 층은 다른 층에 비해 형광체 함량이 다르게 첨가될 수 있다. The phosphor layer 54 may be formed of a plurality of layers P21-PN (N: 2 or more natural numbers) on the light-transmitting resin layer 53, and at least one of the plurality of layers P21- (P21) is brought into contact with the side surface of the light emitting structure 120, thereby converting a part of light into a wavelength. The plurality of layers P21-PN may include phosphors emitting different lights or phosphors emitting the same light, and at least one of the layers may have a different phosphor content than the other layers.

상기의 형광체층(54)은 상기 발광 소자(100)의 측면과 상면 둘레에 배치되어, 파장 변환을 극대화하여 색 혼합 율을 개선시켜 줄 수 있다.
The phosphor layer 54 may be disposed on the side surface and the upper surface of the light emitting device 100 to maximize the wavelength conversion to improve the color mixing ratio.

도 30은 제17실시 예로서, 도 1의 발광 소자(100)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 30을 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.30 is a side sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100 of Fig. 1 as a seventeenth embodiment. In describing Fig. 30, the description of the components described above will be referred to.

도 30을 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211)와, 상기 몸체(211)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 제1형광체층(58)을 갖는 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(55,56) 및 상기 투광성 수지층(56) 상에 배치된 제2형광체층(57)을 포함한다.30, the light emitting device package includes a body 211 having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211, A light emitting device 100 having a first phosphor layer 58 on the light emitting device 100 and a light transmitting resin layer 55 and 56 disposed on the cavity 212 to cover the light emitting device 100, And a second phosphor layer (57) disposed on the second phosphor layer (56).

발광 소자(100)의 상면 예컨대, 기판(111)의 상면에는 제1형광체층(58)을 포함하며, 상기 제1형광체층(58)은 상기 발광 소자(100)의 상면 면적과 동일한 면적으로 형성된다. 상기 제1형광체층(58)은 적색 형광체, 녹색 형광체, 황색 형광체, 청색 형광체 중 적어도 하나를 포함한다. 상기 제1형광체층(58)은 형성하지 않을 수 있다.The first phosphor layer 58 is formed on the upper surface of the substrate 111 such that the first phosphor layer 58 is formed in the same area as the upper surface area of the light emitting device 100, do. The first phosphor layer 58 includes at least one of a red phosphor, a green phosphor, a yellow phosphor, and a blue phosphor. The first phosphor layer 58 may not be formed.

투광성 수지층(55,56)은 상기 발광 구조물(120)과 반사 전극층(130) 사이에 배치된 제1투광성 수지층(55)와, 상기 제1투광성 수지층(55)와 제2형광체층(57) 사이에 배치된 제2투광성 수지층(56)을 포함한다. 상기 제2투광성 수지층(56)은 상면이 상기 발광 소자(100)의 상면과 동일한 높이로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light transmitting resin layers 55 and 56 include a first light transmitting resin layer 55 disposed between the light emitting structure 120 and the reflective electrode layer 130 and a second light transmitting resin layer 55 between the first light transmitting resin layer 55 and the second phosphor layer And a second translucent resin layer (56) disposed between the first and second transparent resin layers. The upper surface of the second translucent resin layer 56 may have the same height as the upper surface of the light emitting device 100, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1투광성 수지층(55)은 상기 제2투광성 수지층(56)에 비해 반사율이 높은 층으로 형성될 수 있으며, 예컨대 내부에 SiO2 또는 TiO2가 0.1wt% 이상 첨가될 수 있다. 이에 따라 상기 제1투광성 수지층(55)의 광 반사율은 상기 제2투광성 수지층(56)에 비해 높게 형성됨으로써, 광 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 제2투광성 수지층(56)은 입사되는 광이 진행하는 것을 가이드하게 된다.The first light-transmissive resin layer 55 and the second may be formed of a highly reflective layer than the light-transmitting resin layer 56 is, for example, a SiO 2 or TiO 2 can be added to the inside more than 0.1wt%. Accordingly, the light reflectance of the first light transmitting resin layer 55 is higher than that of the second light transmitting resin layer 56, so that the light loss can be reduced. The second translucent resin layer 56 guides the incident light to proceed.

상기 제2형광체층(57)은 상기 제2투광성 수지층(56) 및 상기 제1형광체층(58) 상에 배치되며, 그 내부에는 상기 제1형광체층(58)의 형광체와 다른 컬러를 발광하는 형광체를 포함한다. The second phosphor layer 57 is disposed on the second translucent resin layer 56 and the first phosphor layer 58 and has a color different from that of the phosphor of the first phosphor layer 58 .

상기 제1 및 제2형광체층(58, 57)은 서로 다른 컬러를 발광하는 형광체를 포함함으로써, 발광 소자 패키지의 색감을 개선시켜 줄 수 있다.
The first and second phosphor layers 58 and 57 include phosphors emitting different colors, thereby improving the color of the light emitting device package.

도 31은 제18실시 예로서, 도 1의 발광 소자(100)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 31을 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.31 is a side sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100 of FIG. 1 as an eighteenth embodiment. In the description of FIG. 31, the description of the components described above will be referred to.

도 31을 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211B)와, 상기 몸체(211B)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 배치된 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(61)과, 상기 투광성 수지층(61) 및 몸체(211B) 상에 배치된 형광체층(62)을 포함한다.31, the light emitting device package includes a body 211B having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in the cavity 212 of the body 211B, A light transmitting element layer 61 disposed on the cavity 212 and covering the light emitting element 100; and a light emitting element 100 disposed on the light transmitting resin layer 61 and the body 211B And a phosphor layer 62 disposed on the phosphor layer 62.

상기 몸체(211B)는 투과율이 0.1% 이상인 물질로 형성될 수 있으며, 예컨대 실리콘, 에폭시, 및 PPA 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 몸체(211B) 내에는 형광체 예컨대, 청색 형광체가 첨가될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The body 211B may be formed of a material having a transmittance of 0.1% or more, and may include at least one of silicon, epoxy, and PPA. A fluorescent material such as a blue fluorescent material may be added to the body 211B, but the present invention is not limited thereto.

상기 몸체(211B)의 표면 및 상기 투광성 수지층(61)의 상면에는 형광체층(211B)이 형성될 수 있다. 상기 형광체층(211B)은 투광성 수지층(61)을 투과한 일부 광과 상기 몸체(211B)를 투과한 일부 광을 파장 변환할 수 있다.
The phosphor layer 211B may be formed on the surface of the body 211B and the upper surface of the light transmitting resin layer 61. [ The phosphor layer 211B can convert a part of light transmitted through the translucent resin layer 61 and a part of light transmitted through the body 211B.

도 32는 비교 예로서, 도 1의 발광 소자(100)를 갖는 발광 소자 패키지의 측 단면도이다. 도 32을 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성 요소의 설명을 참조하기로 한다.32 is a side sectional view of a light emitting device package having the light emitting device 100 of FIG. 1 as a comparative example. In the description of Fig. 32, reference will be made to the description of the components described above.

도 32를 참조하면, 발광 소자 패키지는 캐비티(212)를 갖는 몸체(211B)와, 상기 몸체(211B)의 캐비티(212)에 배치된 복수의 리드 프레임(215,217)과, 상기 복수의 리드 프레임(215,217) 상에 형광체층(72)을 갖는 발광 소자(100)와, 상기 캐비티(212)에 배치되어 상기 발광 소자(100)를 덮는 투광성 수지층(71)을 포함한다. 32, the light emitting device package includes a body 211B having a cavity 212, a plurality of lead frames 215 and 217 disposed in a cavity 212 of the body 211B, And a translucent resin layer 71 disposed on the cavity 212 and covering the light emitting device 100. The light emitting device 100 includes a light emitting device 100 having a phosphor layer 72 on a substrate 210,

상기 발광 소자(100)은 표면에 형광체층(72)이 배치되어, 발광 구조물(120)과 형광체층(72)이 근접하게 배치되어 있어서, 발광 구조물(120)로부터 방출된 광의 파장 변환 효율이 저하될 수 있다. 또한 상기 발광 소자(100)의 표면에 형광체가 인접하게 배치되어, 발광 소자(100)로부터 발생된 열에 의해 형광체가 손상될 수 있다.
The phosphor layer 72 is disposed on the surface of the light emitting device 100 and the light emitting structure 120 and the phosphor layer 72 are disposed closely to each other so that the wavelength conversion efficiency of light emitted from the light emitting structure 120 is lowered . Further, the phosphor may be disposed adjacent to the surface of the light emitting device 100, and the phosphor may be damaged by the heat generated from the light emitting device 100.

상기에 개시된 실시 예(들)의 발광 소자 패키지(도 21-도 31 중 어느 하나)와 비교 예의 발광 소자 패키지(도 32)의 광속, 순 방향 전압, 및 색 좌표 분포는 도 33 내지 도 35를 참조하여 비교하기로 한다. The light flux, forward voltage, and color coordinate distribution of the light emitting device package (any one of Figs. 21 to 31) and the light emitting device package (Fig. 32) of the comparative example of the above- .

도 33은 실시 예와 비교 예의 전류에 따른 광속을 비교한 그래프로서, 실시 예(M1)는 입력 전류의 증가에 따른 광속이 비교 예(M2)의 광속에 비해 1.5배 이상 증가됨을 알 수 있다. FIG. 33 is a graph comparing the luminous fluxes according to the currents of the embodiment and the comparative example. In the embodiment (M1), the luminous flux according to the increase of the input current is increased 1.5 times or more as compared with the luminous flux of the comparative example (M2).

도 34는 실시 예와 비교 예의 입력 전류와 순 방향 전압을 비교한 그래프로서, 실시 예(M1)의 순 방향 전압은 비교 예(M2) 보다 낮게 구동될 수 있다. Fig. 34 is a graph comparing the input current and the forward voltage in the embodiment and the comparative example, and the forward voltage of the embodiment M1 can be driven lower than that of the comparative example M2.

도 35는 실시 예와 비교 예의 색 분포를 나타낸 도면으로서, 실시 예(M1)와 비교 예(M2,M3)의 목적하는 색좌표 분포를 보면, R2 분포 영역에 비교 예1(M2)가 분포하게 되며, R3 분포 영역에 비교 예2(M3)들이 분포하게 되며, R1 분포 영역에 실시 예(M1)들이 분포하게 된다. 분포 영역 R2과 R3 분포 영역간의 차이(G1)는 0.5Cd 이상 차이(평균)를 가지며, R3와 R2 분포 영역 간의 차이(G2)는 0.3Cd 이상의 차이(평균)를 가지게 된다. 여기서, 실시 예(M1)는 도 27 내지 도 30의 발광 소자 패키지의 예이다. 비교 예1(M1)은 도 32의 발광 소자 패키지이며, 비교 예2(M3)는 형광체가 첨가된 형광체층을 단일 층 구조로 캐비티에 디스펜싱한 구조이다. 실시 예의 색 좌표 분포는 비교 예1,2의 색좌표 분포보다 균일한 영역에 분포하게 된다.
35 shows the color distributions of the examples and the comparative examples. The distribution of the color coordinates of the example (M1) and the comparative example (M2, M3) shows that the comparative example 1 (M2) is distributed in the R2 distribution area (M3) are distributed in the R3 distribution area, and the embodiments (M1) are distributed in the R1 distribution area. The difference (G1) between the distribution region R2 and the R3 distribution region has a difference (average) of 0.5Cd or more, and the difference (G2) between the distribution regions R3 and R2 has a difference (average) of 0.3Cd or more. Here, the embodiment (M1) is an example of the light emitting device package of Figs. 27 to 30. Comparative Example 1 (M1) is a light emitting device package of Fig. 32, and Comparative Example 2 (M3) is a structure in which a phosphor layer doped with a phosphor is dispensed in a cavity with a single layer structure. The color coordinate distribution of the embodiment is distributed in a more uniform region than the color coordinate distribution of Comparative Examples 1 and 2.

<조명 시스템><Lighting system>

실시예에 따른 발광 소자(100) 또는 발광 소자 패키지(200)는 라이트 유닛에 적용될 수 있다. 상기 라이트 유닛은 복수의 발광 소자 패키지(200)가 배열된 예를 설명하기로 한다. 도 36 및 도 37에 도시된 표시 장치, 도 38에 도시된 조명 장치를 포함하고, 조명등, 신호등, 차량 전조등, 전광판 등이 포함될 수 있다.The light emitting device 100 or the light emitting device package 200 according to the embodiment may be applied to a light unit. The light unit will be described by way of example in which a plurality of light emitting device packages 200 are arranged. The display device shown in Figs. 36 and 37, and the lighting device shown in Fig. 38, and may include an illumination lamp, a traffic light, a vehicle headlight, an electric signboard, and the like.

도 36은 실시 예에 따른 표시 장치의 분해 사시도이다. 36 is an exploded perspective view of the display device according to the embodiment.

도 36을 참조하면, 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 도광판(1041)과, 상기 도광판(1041)에 빛을 제공하는 발광 모듈(1031)와, 상기 도광판(1041) 아래에 반사 부재(1022)와, 상기 도광판(1041) 상에 광학 시트(1051)와, 상기 광학 시트(1051) 상에 표시 패널(1061)과, 상기 도광판(1041), 발광 모듈(1031) 및 반사 부재(1022)를 수납하는 바텀 커버(1011)를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.36, a display device 1000 according to an embodiment includes a light guide plate 1041, a light emitting module 1031 for providing light to the light guide plate 1041, and a reflection member 1022 An optical sheet 1051 on the light guide plate 1041, a display panel 1061 on the optical sheet 1051, the light guide plate 1041, a light emitting module 1031, and a reflecting member 1022 But the present invention is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011), 반사시트(1022), 도광판(1041), 광학 시트(1051)는 라이트 유닛(1050)으로 정의될 수 있다.The bottom cover 1011, the reflective sheet 1022, the light guide plate 1041, and the optical sheet 1051 can be defined as a light unit 1050.

상기 도광판(1041)은 빛을 확산시켜 면광원화 시키는 역할을 한다. 상기 도광판(1041)은 투명한 재질로 이루어지며, 예를 들어, PMMA(polymethyl metaacrylate)와 같은 아크릴 수지 계열, PET(polyethylene terephthlate), PC(poly carbonate), COC(cycloolefin copolymer) 및 PEN(polyethylene naphthalate) 수지 중 하나를 포함할 수 있다. The light guide plate 1041 serves to diffuse light into a surface light source. The light guide plate 1041 may be made of a transparent material such as acrylic resin such as polymethyl methacrylate (PET), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), cycloolefin copolymer (COC), and polyethylene naphthalate Resin. &Lt; / RTI &gt;

상기 발광모듈(1031)은 상기 도광판(1041)의 적어도 일 측면에 빛을 제공하며, 궁극적으로는 표시 장치의 광원으로써 작용하게 된다.The light emitting module 1031 provides light to at least one side of the light guide plate 1041, and ultimately acts as a light source of the display device.

상기 발광모듈(1031)은 적어도 하나를 포함하며, 상기 도광판(1041)의 일 측면에서 직접 또는 간접적으로 광을 제공할 수 있다. 상기 발광 모듈(1031)은 모듈 기판(1033)과 상기에 개시된 실시 예에 따른 발광 소자 패키지(200)를 포함하며, 상기 발광 소자 패키지(200)는 상기 모듈 기판(1033) 상에 소정 간격으로 어레이될 수 있다. 다른 예로서, 상기 모듈 기판(1033) 상에는 실시 예에 따른 발광 소자(100)가 어레이될 수 있다.The light emitting module 1031 may include at least one light source, and may provide light directly or indirectly from one side of the light guide plate 1041. The light emitting module 1031 includes a module substrate 1033 and a light emitting device package 200 according to the embodiment described above and the light emitting device package 200 is mounted on the module substrate 1033 at a predetermined interval, . As another example, the light emitting device 100 according to the embodiment may be arrayed on the module substrate 1033.

상기 모듈 기판(1033)은 회로패턴(미도시)을 포함하는 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board)일 수 있다. 다만, 상기 모듈 기판(1033)은 일반 PCB 뿐 아니라, 메탈 코어 PCB(MCPCB, Metal Core PCB), 연성 PCB(FPCB, Flexible PCB) 등을 포함할 수도 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광 소자 패키지(200)는 상기 바텀 커버(1011)의 측면 또는 방열 플레이트 상에 탑재될 경우, 상기 모듈 기판(1033)은 제거될 수 있다. 여기서, 상기 방열 플레이트의 일부는 상기 바텀 커버(1011)의 상면에 접촉될 수 있다.The module substrate 1033 may be a printed circuit board (PCB) including a circuit pattern (not shown). However, the module substrate 1033 may include not only a general PCB, but also a metal core PCB (MCPCB), a flexible PCB (FPCB), and the like. When the light emitting device package 200 is mounted on the side surface of the bottom cover 1011 or on the heat radiation plate, the module substrate 1033 can be removed. Here, a part of the heat radiating plate may be in contact with the upper surface of the bottom cover 1011.

그리고, 상기 다수의 발광 소자 패키지(200)는 상기 모듈 기판(1033) 상에 빛이 방출되는 출사면이 상기 도광판(1041)과 소정 거리 이격되도록 탑재될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광 소자 패키지(200)는 상기 도광판(1041)의 적어도 일측면인 입광부에 광을 직접 또는 간접적으로 제공할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The plurality of light emitting device packages 200 may be mounted on the module substrate 1033 such that the light emitting surface is spaced apart from the light guiding plate 1041 by a predetermined distance. However, the present invention is not limited thereto. The light emitting device package 200 may directly or indirectly provide light to at least one side surface of the light guide plate 1041. However, the present invention is not limited thereto.

상기 도광판(1041) 아래에는 상기 반사 부재(1022)가 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 도광판(1041)의 하면으로 입사된 빛을 반사시켜 위로 향하게 함으로써, 상기 라이트 유닛(1050)의 휘도를 향상시킬 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 예를 들어, PET, PC, PVC 레진 등으로 형성될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 바텀 커버(1011)의 상면일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective member 1022 may be disposed under the light guide plate 1041. The reflection member 1022 reflects the light incident on the lower surface of the light guide plate 1041 so as to face upward, thereby improving the brightness of the light unit 1050. The reflective member 1022 may be formed of, for example, PET, PC, or PVC resin, but is not limited thereto. The reflective member 1022 may be an upper surface of the bottom cover 1011, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 상기 도광판(1041), 발광모듈(1031) 및 반사 부재(1022) 등을 수납할 수 있다. 이를 위해, 상기 바텀 커버(1011)는 상면이 개구된 박스(box) 형상을 갖는 수납부(1012)가 구비될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 바텀 커버(1011)는 탑 커버와 결합될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may house the light guide plate 1041, the light emitting module 1031, the reflective member 1022, and the like. To this end, the bottom cover 1011 may be provided with a housing portion 1012 having a box-like shape with an opened upper surface, but the present invention is not limited thereto. The bottom cover 1011 may be coupled to the top cover, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 금속 재질 또는 수지 재질로 형성될 수 있으며, 프레스 성형 또는 압출 성형 등의 공정을 이용하여 제조될 수 있다. 또한 상기 바텀 커버(1011)는 열 전도성이 좋은 금속 또는 비 금속 재료를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may be formed of a metal material or a resin material, and may be manufactured using a process such as press molding or extrusion molding. In addition, the bottom cover 1011 may include a metal or a non-metal material having good thermal conductivity, but the present invention is not limited thereto.

상기 표시 패널(1061)은 예컨대, LCD 패널로서, 서로 대향되는 투명한 재질의 제 1 및 제 2기판, 그리고 제 1 및 제 2기판 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 상기 표시 패널(1061)의 적어도 일면에는 편광판이 부착될 수 있으며, 이러한 편광판의 부착 구조로 한정하지는 않는다. 상기 표시 패널(1061)은 광학 시트(1051)를 통과한 광에 의해 정보를 표시하게 된다. 이러한 표시 장치(1000)는 각 종 휴대 단말기, 노트북 컴퓨터의 모니터, 랩탑 컴퓨터의 모니터, 텔레비젼 등에 적용될 수 있다. The display panel 1061 is, for example, an LCD panel, including first and second transparent substrates facing each other, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. A polarizing plate may be attached to at least one surface of the display panel 1061, but the present invention is not limited thereto. The display panel 1061 displays information by light passing through the optical sheet 1051. Such a display device 1000 can be applied to various types of portable terminals, monitors of notebook computers, monitors of laptop computers, televisions, and the like.

상기 광학 시트(1051)는 상기 표시 패널(1061)과 상기 도광판(1041) 사이에 배치되며, 적어도 한 장의 투광성 시트를 포함한다. 상기 광학 시트(1051)는 예컨대 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등과 같은 시트 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 또는/및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다. 또한 상기 표시 패널(1061) 상에는 보호 시트가 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The optical sheet 1051 is disposed between the display panel 1061 and the light guide plate 1041 and includes at least one light-transmitting sheet. The optical sheet 1051 may include at least one of a sheet such as a diffusion sheet, a horizontal and vertical prism sheet, and a brightness enhancement sheet. The diffusion sheet diffuses incident light, and the horizontal and / or vertical prism sheet condenses incident light into a display area. The brightness enhancing sheet improves the brightness by reusing the lost light. A protective sheet may be disposed on the display panel 1061, but the present invention is not limited thereto.

여기서, 상기 발광 모듈(1031)의 광 경로 상에는 광학 부재로서, 상기 도광판(1041), 및 광학 시트(1051)를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
Here, the optical path of the light emitting module 1031 may include the light guide plate 1041 and the optical sheet 1051 as an optical member, but the present invention is not limited thereto.

도 37은 실시 예에 따른 표시 장치를 나타낸 도면이다. 37 is a view showing a display device according to the embodiment.

도 37을 참조하면, 표시 장치(1100)는 바텀 커버(1152), 상기에 개시된 발광 소자 패키지(200)가 어레이된 모듈 기판(1120), 광학 부재(1154), 및 표시 패널(1155)을 포함한다. 37, the display device 1100 includes a bottom cover 1152, a module substrate 1120 on which the above-described light emitting device package 200 is arrayed, an optical member 1154, and a display panel 1155 do.

상기 모듈 기판(1120)과 상기 발광 소자 패키지(200)는 발광 모듈(1160)로 정의될 수 있다. 상기 바텀 커버(1152), 적어도 하나의 발광 모듈(1160), 광학 부재(1154)는 라이트 유닛(1150)으로 정의될 수 있다. 상기 모듈 기판(1120) 상에는 발광 소자가 플립 방식으로 탑재되어 어레이될 수 있다. 또한 상기 모듈 기판(1120) 상에는 실시 예에 개시된 발광 소자 패키지가 어레이될 수 있다. 상기 바텀 커버(1152)에는 수납부(1153)를 구비할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The module substrate 1120 and the light emitting device package 200 may be defined as a light emitting module 1160. The bottom cover 1152, the at least one light emitting module 1160, and the optical member 1154 may be defined as a light unit 1150. On the module substrate 1120, light emitting devices may be mounted and arrayed in a flip manner. Also, the light emitting device package disclosed in the embodiment may be arrayed on the module substrate 1120. The bottom cover 1152 may include a receiving portion 1153, but the present invention is not limited thereto.

여기서, 상기 광학 부재(1154)는 렌즈, 도광판, 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 도광판은 PC 재질 또는 PMMA(Poly methy methacrylate) 재질로 이루어질 수 있으며, 이러한 도광판은 제거될 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다.
Here, the optical member 1154 may include at least one of a lens, a light guide plate, a diffusion sheet, a horizontal and vertical prism sheet, and a brightness enhancement sheet. The light guide plate may be made of a PC material or a PMMA (poly methy methacrylate) material, and such a light guide plate may be removed. The diffusion sheet diffuses incident light, and the horizontal and vertical prism sheets condense incident light into a display area. The brightness enhancing sheet enhances brightness by reusing the lost light.

도 38은 실시 예에 따른 조명 장치의 사시도이다.38 is a perspective view of a lighting apparatus according to the embodiment.

도 38을 참조하면, 조명 장치(1500)는 케이스(1510)와, 상기 케이스(1510)에 설치된 발광모듈(1530)과, 상기 케이스(1510)에 설치되며 외부 전원으로부터 전원을 제공받는 연결 단자(1520)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 38, the lighting apparatus 1500 includes a case 1510, a light emitting module 1530 installed in the case 1510, a connection terminal (not shown) installed in the case 1510 and supplied with power from an external power source 1520).

상기 케이스(1510)는 방열 특성이 양호한 재질로 형성되는 것이 바람직하며, 예를 들어 금속 재질 또는 수지 재질로 형성될 수 있다.The case 1510 is preferably formed of a material having a good heat dissipation property, and may be formed of, for example, a metal material or a resin material.

상기 발광 모듈(1530)은 모듈 기판(1532)과, 상기 모듈 기판(1532)에 탑재되는 실시 예에 따른 발광소자 패키지(200)를 포함할 수 있다. 상기 발광 소자 패키지(200)는 복수개가 매트릭스 형태 또는 소정 간격으로 이격되어 어레이될 수 있다. 상기 모듈 기판(1532) 상에는 발광 소자가 플립 방식으로 탑재될 수 있다.The light emitting module 1530 may include a module substrate 1532 and a light emitting device package 200 mounted on the module substrate 1532 according to an embodiment. A plurality of the light emitting device packages 200 may be arrayed in a matrix or at a predetermined interval. On the module substrate 1532, a light emitting device may be mounted in a flip manner.

상기 모듈 기판(1532)은 절연체에 회로 패턴이 인쇄된 것일 수 있으며, 예를 들어, 일반 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board), 메탈 코아(Metal Core) PCB, 연성(Flexible) PCB, 세라믹 PCB 등을 포함할 수 있다. The module substrate 1532 may have a circuit pattern printed on an insulator. For example, the module substrate 1532 may be a printed circuit board (PCB), a metal core PCB, a flexible PCB, a ceramic PCB And the like.

또한, 상기 모듈 기판(1532)은 빛을 효율적으로 반사하는 재질로 형성되거나, 표면이 빛이 효율적으로 반사되는 컬러, 예를 들어 백색, 은색 등의 코팅층될 수 있다.In addition, the module substrate 1532 may be formed of a material that efficiently reflects light, or may be a coating layer of a color such as white, silver, or the like whose surface is efficiently reflected.

상기 모듈 기판(1532) 상에는 적어도 하나의 발광소자 패키지(200)가 탑재될 수 있다. 상기 발광소자 패키지(200) 각각은 적어도 하나의 LED(LED: Light Emitting Diode) 칩을 포함할 수 있다. 상기 LED 칩은 적색, 녹색, 청색 또는 백색의 유색 빛을 각각 발광하는 유색 발광 다이오드 및 자외선(UV, UltraViolet)을 발광하는 UV 발광 다이오드를 포함할 수 있다.At least one light emitting device package 200 may be mounted on the module substrate 1532. Each of the light emitting device packages 200 may include at least one LED (Light Emitting Diode) chip. The LED chip may include a colored light emitting diode that emits red, green, blue, or white colored light, and a UV light emitting diode that emits ultraviolet (UV) light.

상기 발광모듈(1530)은 색감 및 휘도를 얻기 위해 다양한 발광소자 패키지(200)의 조합을 가지도록 배치될 수 있다. 예를 들어, 고 연색성(CRI)을 확보하기 위해 백색 발광 다이오드, 적색 발광 다이오드 및 녹색 발광 다이오드를 조합하여 배치할 수 있다.The light emitting module 1530 may be arranged to have a combination of various light emitting device packages 200 to obtain colors and brightness. For example, a white light emitting diode, a red light emitting diode, and a green light emitting diode may be arranged in combination in order to secure a high color rendering index (CRI).

상기 연결 단자(1520)는 상기 발광모듈(1530)과 전기적으로 연결되어 전원을 공급할 수 있다. 상기 연결 단자(1520)는 소켓 방식으로 외부 전원에 돌려 끼워져 결합되지만, 이에 대해 한정하지는 않는다. 예를 들어, 상기 연결 단자(1520)는 핀(pin) 형태로 형성되어 외부 전원에 삽입되거나, 배선에 의해 외부 전원에 연결될 수도 있는 것이다.
The connection terminal 1520 may be electrically connected to the light emitting module 1530 to supply power. The connection terminal 1520 is connected to the external power source by being inserted in a socket manner, but the present invention is not limited thereto. For example, the connection terminal 1520 may be formed in a pin shape and inserted into an external power source or may be connected to an external power source through wiring.

이상에서 실시 예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시 예에 포함되며, 반드시 하나의 실시 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
The features, structures, effects and the like described in the embodiments are included in at least one embodiment of the present invention and are not necessarily limited to one embodiment. Further, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments can be combined and modified by other persons having ordinary skill in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.

21,31,53,55,56,61,71: 투광성 수지층
22,24,51,52,54,57,58,62,72: 형광체층
25,33: 렌즈
100,100A,101: 발광소자 111: 기판
113:제1반도체층 115:제1도전형 반도체층
117:활성층 119:제2도전형 반도체층
120:발광 구조물 130:반사 전극층
121,123:절연층 131, 132: 전극
133,134,135,136: 접합 전극 141, 141A, 143: 연결 전극
151,152,152A,153,153A: 지지 부재
200: 발광 소자 패키지
215,217: 리드 프레임
221,222: 접착 부재
21, 31, 53, 55, 56, 61, 71:
22, 24, 51, 52, 54, 57,
25, 33: Lens
100, 100A, 101: light emitting element 111: substrate
113: first semiconductor layer 115: first conductive type semiconductor layer
117: active layer 119: second conductive type semiconductor layer
120: light emitting structure 130: reflective electrode layer
121, 123: insulating layer 131, 132: electrode
133, 134, 135, and 136: junction electrodes 141, 141A, and 143:
151, 152, 152A, 153, 153A:
200: Light emitting device package
215, 217: Lead frame
221, 222:

Claims (17)

캐비티를 갖는 몸체;
상기 캐비티에 배치된 복수의 리드 프레임;
상기 복수의 리드 프레임 상에 배치된 발광 소자;
상기 발광 소자와 상기 복수의 리드 프레임 사이에 배치된 복수의 접착 부재;
상기 캐비티에 배치된 투광성 수지층; 및
상기 투광성 수지층과 상기 발광 소자의 상에 배치된 형광체층을 포함하며,
상기 발광 소자는, 제1도전형 반도체층, 상기 제1도전형 반도체층 아래에 제2도전형 반도체층 및 상기 제1도전형 반도체층과 상기 제2도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조물; 상기 제2도전형 반도체층 아래에 반사 전극층; 상기 제1도전형 반도체층의 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제1전극 구조; 상기 반사 전극층 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제2전극 구조; 상기 발광 구조물, 상기 제1전극 구조 및 상기 제2전극 구조 사이에 배치된 절연층; 상기 제1전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제1리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제1연결 전극; 상기 제2전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제2리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제2연결 전극; 및 상기 적어도 하나의 제1연결 전극 및 상기 적어도 하나의 제2연결 전극의 둘레에 배치된 지지부재를 포함하는 발광 소자 패키지.
A body having a cavity;
A plurality of lead frames disposed in the cavity;
A light emitting element disposed on the plurality of lead frames;
A plurality of adhesive members disposed between the light emitting element and the plurality of lead frames;
A translucent resin layer disposed in the cavity; And
And a phosphor layer disposed on the light-transmissive resin layer and the light-emitting element,
The light emitting device includes a first conductivity type semiconductor layer, a second conductivity type semiconductor layer below the first conductivity type semiconductor layer, and an active layer between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer structure; A reflective electrode layer under the second conductive semiconductor layer; A first electrode structure disposed under the first conductive semiconductor layer and having a plurality of conductive layers; A second electrode structure disposed below the reflective electrode layer and having a plurality of conductive layers; An insulating layer disposed between the light emitting structure, the first electrode structure, and the second electrode structure; At least one first connection electrode disposed under the first electrode structure and electrically connected to the first lead frame; At least one second connection electrode disposed under the second electrode structure and electrically connected to the second lead frame; And a support member disposed around the at least one first connection electrode and the at least one second connection electrode.
제1항에 있어서, 상기 투광성 수지층은 캐비티 내의 형광체로부터 이격되며, 상기 발광 소자와 상기 형광체층의 사이에 더 배치되는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 1, wherein the light transmitting resin layer is spaced apart from the fluorescent substance in the cavity, and further disposed between the light emitting element and the fluorescent substance layer. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 형광체층의 상면 센터 영역에 상기 발광 소자 방향으로 오목한 오목부를 갖는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 1 or 2, further comprising a concave portion recessed in the direction of the light emitting element in the center region of the upper surface of the phosphor layer. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 투광성 수지층의 상면 및 상기 형광체층의 상면 중 적어도 하나는 요철 패턴을 포함하는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 1 or 2, wherein at least one of the upper surface of the light transmitting resin layer and the upper surface of the phosphor layer comprises a concavo-convex pattern. 제1항에 있어서, 상기 발광 소자는 상기 발광 구조물 상에 투광성의 기판을 포함하며, 상기 기판은 상면에 복수의 돌기부를 포함하는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 1, wherein the light emitting device includes a light transmitting substrate on the light emitting structure, and the substrate includes a plurality of protrusions on an upper surface thereof. 제5항에 있어서, 상기 복수의 돌기부는 상기 형광체층과 상기 투광성 수지층 사이의 계면보다 상기 형광체층 방향으로 돌출되는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 5, wherein the plurality of protrusions protrude from the interface between the phosphor layer and the light transmitting resin layer in the direction of the phosphor layer. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 몸체 및 상기 형광체층 상에 중심부에 오목부가 배치된 렌즈를 포함하는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 5 or 6, further comprising a lens having a concave portion disposed at a central portion on the body and the phosphor layer. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 투광성 수지층의 상면 중에서 센터 영역은 상기 발광 소자의 상면보다 상에 배치되며, 외측 영역은 상기 발광 소자의 상면보다 낮은 높이로 배치되는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 1 or 2, wherein a center region of the upper surface of the light transmitting resin layer is disposed on an upper surface of the light emitting element, and an outer region of the light emitting element is disposed at a lower height than an upper surface of the light emitting element. 제1항에 있어서, 상기 투광성 수지층의 상면은 상기 발광 소자의 반사 전극층의 높이보다 아래에 배치되며,
상기 투광성 수지층은 상기 형광체층보다 높은 반사율을 갖는 발광 소자 패키지.
The light-emitting device according to claim 1, wherein the upper surface of the light-transmitting resin layer is disposed below the height of the reflective electrode layer of the light-
Wherein the light transmitting resin layer has a reflectance higher than that of the phosphor layer.
제1항 또는 제9항에 있어서, 상기 형광체층은 형광체 함량이 서로 다른 복수의 층을 포함하는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 1 or 9, wherein the phosphor layer includes a plurality of layers having different phosphor contents. 제1항에 있어서, 상기 투광성 수지층은 상기 발광 소자의 반사 전극층의 보다 낮은 높이로 형성된 제1투광성 수지층; 상기 제1투광성 수지층과 상기 형광체층 사이에 배치된 제2투광성 수지층을 포함하며,
상기 제1투광성 수지층의 반사율이 상기 제2투광성 수지층의 반사율보다 더 높은 발광 소자 패키지.
The light emitting device according to claim 1, wherein the light transmitting resin layer comprises: a first light transmitting resin layer formed at a lower height of the reflective electrode layer of the light emitting element; And a second translucent resin layer disposed between the first translucent resin layer and the phosphor layer,
Wherein a reflectivity of the first light transmitting resin layer is higher than a reflectance of the second light transmitting resin layer.
캐비티를 갖는 몸체;
상기 캐비티에 배치된 복수의 리드 프레임;
상기 복수의 리드 프레임 상에 배치된 발광 소자;
상기 발광 소자와 상기 복수의 리드 프레임 사이에 배치된 복수의 접착 부재;
상기 캐비티에 상기 발광 소자를 덮고, 서로 다른 형광체 함량을 갖는 복수의 층이 적층된 형광체층을 포함하며,
상기 발광 소자는, 제1도전형 반도체층, 상기 제1도전형 반도체층 아래에 제2도전형 반도체층 및 상기 제1도전형 반도체층과 상기 제2도전형 반도체층 사이에 활성층을 포함하는 발광 구조물; 상기 제2도전형 반도체층 아래에 반사 전극층; 상기 제1도전형 반도체층의 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제1전극 구조; 상기 반사 전극층 아래에 배치되며 복수의 전도층을 갖는 제2전극 구조; 상기 발광 구조물, 상기 제1전극 구조 및 상기 제2전극 구조 사이에 배치된 절연층; 상기 제1전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제1리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제1연결 전극; 상기 제2전극 구조의 아래에 배치되고 상기 제2리드 프레임과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 제2연결 전극; 및 상기 적어도 하나의 제1연결 전극 및 상기 적어도 하나의 제2연결 전극의 둘레에 배치된 지지부재를 포함하는 발광 소자 패키지.
A body having a cavity;
A plurality of lead frames disposed in the cavity;
A light emitting element disposed on the plurality of lead frames;
A plurality of adhesive members disposed between the light emitting element and the plurality of lead frames;
And a phosphor layer covering the light emitting device in the cavity and having a plurality of layers having different phosphor contents stacked,
The light emitting device includes a first conductivity type semiconductor layer, a second conductivity type semiconductor layer below the first conductivity type semiconductor layer, and an active layer between the first conductivity type semiconductor layer and the second conductivity type semiconductor layer structure; A reflective electrode layer under the second conductive semiconductor layer; A first electrode structure disposed under the first conductive semiconductor layer and having a plurality of conductive layers; A second electrode structure disposed below the reflective electrode layer and having a plurality of conductive layers; An insulating layer disposed between the light emitting structure, the first electrode structure, and the second electrode structure; At least one first connection electrode disposed under the first electrode structure and electrically connected to the first lead frame; At least one second connection electrode disposed under the second electrode structure and electrically connected to the second lead frame; And a support member disposed around the at least one first connection electrode and the at least one second connection electrode.
제12항에 있어서, 상기 형광체층은 청색 형광체, 녹색 형광체, 황색 형광체, 적색 형광체 중 적어도 하나를 포함하는 발광 소자 패키지.13. The light emitting device package according to claim 12, wherein the phosphor layer comprises at least one of a blue phosphor, a green phosphor, a yellow phosphor, and a red phosphor. 제12항에 있어서, 상기 형광체층은 상기 발광 소자로부터 멀어질수록 상기 형광체층의 함량이 점차 증가되는 발광 소자 패키지.13. The light emitting device package according to claim 12, wherein the phosphor layer gradually increases in content from the light emitting element. 제12항에 있어서, 상기 형광체층의 복수의 층 중에서 상기 발광 소자에 인접한 층의 형광체 함량이 다른 층에 비해 가장 낮은 발광 소자 패키지.13. The light emitting device package according to claim 12, wherein a phosphor content of a layer adjacent to the light emitting element among the plurality of layers of the phosphor layer is lowest compared to other layers. 제1항 또는 제12항에 있어서, 상기 몸체는 광 투과율을 갖는 실리콘 또는 에폭시 재질을 포함하는 발광 소자 패키지.The light emitting device package according to claim 1 or 12, wherein the body comprises a silicon or epoxy material having a light transmittance. 제16항에 있어서, 상기 형광체층은 상기 몸체의 상면 및 측면에 배치되는 발광 소자 패키지.
17. The light emitting device package according to claim 16, wherein the phosphor layer is disposed on an upper surface and a side surface of the body.
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