KR20130026793A - 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 엘씨디 검사 장치는 PC에 연결된 송신부로부터 엘씨디 검사를 위한 BMP 패턴의 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호 중 하나 이상의 신호를 전송받는 수신부와, 상기 수신부로부터 상기 신호를 전송받아 내장된 프로토콜을 통해 변환하고, 상기 변환된 신호를 하나 이상의 채널로 동시에 출력하는 제어부를 포함하며, 상기 수신부는 상기 LVDS 신호를 수신받아 상기 제어부에 제공하는 PCI 수신부, 상기 광신호를 수신받아 병렬로 변경하여 상기 제어부에 전송하는 광수신부 및, 상기 TMDS 신호를 수신받아 병렬로 변경하여 상기 제어부에 전송하는 DVI-D 수신부를 구비하여, 다양한 신호를 입력받을 수 있도록 구성하였다. 따라서, 본 발명에 따른 엘씨디 검사 장치는 사용자의 작업 환경에 따라 원하는 방식의 신호를 선택적으로 사용할 수 있는 환경을 제공한다.

Description

다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치{INSPECTION DEVIDE FOR LCD WITH MULTIPLE INTERFACE}
본 발명은 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로 입출력 인터페이스를 작업환경에 맞춰 다양화한 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치에 관한 것이다.
종래의 시스템은 PCI(Peripheral Communication Interface 또는 Peripheral Component Interconnect)카드로부터 입력되는 LVDS(Low Voltage Differential Signals) 신호를 리시버(Receiver)칩을 이용해 TTL(Transistor Transistor Logic)신호로 변경하여 메인칩인 FPGA(Field Programmable Gate Array)에 전송한다. 그리고, 종래의 시스템은 메인칩으부터 출력되는 TTL 신호를 별도의 트랜스미터(Transmitter)칩을 통해 LVDS 신호로 변경하여 전송한다.
따라서, 종래의 시스템은 입출력 데이터를 TTL로 신호로 변환하였다. 여기서, TTL 신호로 전송된다는 것은 결국 병렬로 데이터를 전송하기 때문에 고속 데이터를 전송할 경우 공통 잡음(Common Noise)에 의한 신호 왜곡에 매우 취약하였다.
뿐만 아니라, 종래의 시스템은 차세대 엘씨디인 옥탈 타입(Octal Type)을 구동하기 위해서 1개의 리시버칩, 출력에는 8개 이상의 트랜스미터칩을 사용하여 엘씨디 데이터 전송 신호 규격인 LVDS 신호로 변경해야만 한다.
도 1은 종래의 엘씨디 검사 장치의 시스템 구성도이고, 도 2는 도 1의 종래 엘씨디 검사 장치에 따른 메인보드의 도면이다.
따라서, 종래의 엘씨디 검사 장치는 LVDS 리시버칩을 통해 직렬데이터인 LVDS 신호의 BMP 패턴을 수신받는다. 그리고, LVDS 수신부는 수신된 LVDS 신호를 FPGA칩으로 전송한다. FPGA칩은 수신된 LVDS 신호를 TTL 신호로 복원시킨다. 또한, LVDS 트랜스시버칩은 엘씨디 검사를 위해 TTL 신호를 LVDS 신호로 또다시 변환한다. 그리고, 종래의 엘씨디 검사 장치는 변환된 LVDS 신호를 별도의 확장 보드를 통해 외부로 전송한다.
따라서, 종래의 엘씨디 검사 장치는 사용자의 작업 환경에 맞는 입출력 인터페이스를 제공하지 못하는 문제가 있으며, 별도의 확장보드를 사용해 비용이 증가하는 문제가 있었다.
[등록특허번호 10-0816995] 선행기술은 PCI 데이터 신호의 변환 전송 장치에 있어서, PC에 결합되고 TTL 병렬 신호를 출력하는 PCI 슬롯과, 상기 PCI 슬롯에서 출력된 TTL 병렬 신호를 단일 데이터 스트림으로 직렬화하여 LVDS 신호를 형성하고 송신하는 LVDS 송신부를 구비한 BMP PCI 카드와, 상기 BMP PCI 카드 내의 상기 LVDS 송신부에서 송신된 직렬 데이터인 LVDS 신호를 수신하여 병렬 데이터인 TTL 신호로 복원시키는 LVDS 수신부를 구비하고 화면 검사용 신호를 발생시키는 보드를 포함하는 PCI 데이터 신호의 변환 전송 장치이다.
따라서, 종래와 같은 문제를 해결하기 위해 본 발명의 목적은 엘씨디 검사 장치의 입력단이 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호의 다양한 BMP 패턴을 입력받을 수 있는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치를 제공하고자 한다.
또, 본 발명의 다른 목적은 다중 인터페이스 적용을 위해 각 신호 별 해당 프로토콜을 FPGA 칩에 내장하여 고가의 별도 칩이 없이도 입출력 가능한 환경을 제공하고자 한다.
또, 본 발명의 다른 목적은 출력단을 다양화하고 FPGA 칩에서 직접 8채널의 LVDS 신호를 출력하도록 하여 별도의 추가장치 없이 다양한 엘씨디를 검사할 수 있는 환경을 제공하고자 한다.
또, 본 발명의 다른 목적은 시스템 내부에 BMP패턴 저장장치인 SD 카드를 장착하여 장소의 제약 없이 사용자가 원하는 BMP 패턴으로 엘씨디를 검사할 수 있는 환경을 제공하고자 한다.
상기 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 PC에 연결된 송신부로부터 엘씨디 검사를 위한 BMP 패턴의 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호 중 하나 이상의 신호를 전송받는 수신부와, 상기 수신부로부터 상기 신호를 전송받아 내장된 프로토콜을 통해 변환하고, 상기 변환된 신호를 하나 이상의 채널로 동시에 출력하는 제어부를 포함한다.
그리고, 본 발명의 상기 수신부는 상기 LVDS 신호를 수신받아 상기 제어부에 제공하는 PCI 수신부와, 상기 광신호를 수신받아 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부에 전송하는 광수신부와, 상기 TMDS 신호를 수신받아 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부에 전송하는 DVI-D 수신부를 포함한다.
또한, 본 발명의 상기 PCI 수신부는 상기 LVDS 신호를 직렬 통신으로 상기 제어부에 제공하고, 상기 광수신부는 상기 광신호를 SFP(small form-factor pluggable) Moudule을 통해 직렬 신호로 변경하고, 상기 직렬 신호를 GTP(Gigabit Transceiver Port) 칩을 통해 상기 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부로 제공하며, 상기 GTP 칩을 통해 8비트의 상기 직렬 신호에 2비트의 제어 신호를 추가하여 상기 병렬 신호로 변경한다. 그리고, 상기 DVI-D 수신부는 상기 TMDS 신호를 짝수 및 홀수 픽셀의 상기 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부로 전송한다.
그리고, 상기 제어부는 상기 LVDS 신호의 직렬 데이터를 병렬 데이터로 변경하고, 상기 변경된 병렬 데이터를 비트 교환(Bit Swap)하여 입력버퍼에 저장하는 프로토콜을 내장하고, 상기 광신호의 병렬 데이터를 전송받아 입력버퍼에 저장하는 프로토콜을 내장하며, 상기 TMDS 신호의 병렬 데이터를 전송받아 입력버퍼에 저장하는 프로토콜을 내장한다. 상기 제어부는 상기 변환된 신호를 8개의 채널로 출력하며, 상기 채널은 상기 LVDS 신호를 직접 출력해 엘씨디를 검사하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 엘씨디 검사용 BMP 패턴을 저장하고 상기 제어부로 상기 BMP 패턴을 제공하는 BMP 패턴 저장부;를 더 포함하며, 상기 BMP 패턴 저장부는 SD 카드로 구성되어 상기 제어부에 연결되는 것을 특징으로 하고, 상기 제어부는 상기 BMP 패턴 저장부로부터 상기 BMP 패턴을 병렬 신호로 전송받고, 상기 내장된 프로토콜을 통해 상기 병렬 신호를 변환하여 입력버퍼에 하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 엘씨디 검사 장치는 PC에 연결된 송신부로부터 엘씨디 검사를 위한 BMP 패턴의 광신호, TMDS 신호 중 하나 이상의 신호를 전송받는 수신부와, 상기 수신부로부터 상기 신호를 전송받아 내장된 프로토콜을 통해 변환하고, 상기 변환된 신호를 하나 이상의 채널로 동시에 출력하는 제어부;를 포함하며, 상기 제어부는 상기 LVDS 신호를 전송받는 PCI 수신부를 내장하여 상기 LVDS 신호를 직접 수신하는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이,본 발명의 엘씨디 검사 장치는 입력단을 다양화하여, LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호의 다양한 BMP 패턴을 입력받을 수 있는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치를 제공한다.
또, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 각 신호 별 해당 프로토콜을 FPGA 칩에 내장하여 고가의 별도 칩이 없이도 입출력 가능한 환경을 제공한다.
또, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 출력단을 다양화하고 FPGA 칩에서 직접 8채널의 LVDS 신호를 출력하도록 하여, 별도의 추가장치가 없어도 8개의 싱글 타입의 엘씨디를 개별 구동할 수 있을 뿐만 아니라 차세대 엘씨디인 옥탈 타입의 엘씨디도 검사할 수 있는 환경을 제공한다.
또, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 시스템 내부에 BMP 저장장치인 SD 카드를 장착하여 장소의 제약 없이 사용자가 원하는 BMP 패턴으로 엘씨디를 검사할 수 있는 환경을 제공한다.
도 1은 종래의 엘씨디 검사 장치의 시스템 구성도이다.
도 2는 도 1의 종래 엘씨디 검사 장치에 따른 메인보드의 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 검사 장치의 블록 구성도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 검사 장치 입력단의 신호 입력을 나타낸 블록 구성도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 검사 장치의 제어부의 블록 구성도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 출력부의 신호 전송을 나타낸 블록 구성도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따라 출력부의 8채널이 동시에 구동되어 엘씨디를 검사하는 블록 구성도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따라 SD 카드를 활용한 BMP 패턴의 데이터 흐름을 나타낸 블록 구성도이다.
도 9는 본 발명의 제1실시예에 따른 엘시디 검사 장치의 구동 과정을 도시한 순서도이다.
도 10은 본 발명의 제2실시예에 따라 SD 카드에 저장된 BMP 패턴을 통한 엘씨디 검사 과정을 도시한 순서도이다.
도 11은 본 발명에 따른 엘씨디 검사 장치의 운용 구성도이다.
도 12는 도 11의 본 발명에 따른 본 발명 엘씨디 검사 장치의 메인보드의 도면이다.
본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 서술하는 실시예로 인해 한정되어지는 것으로 해석되어서는 안된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서 도면에서의 구성 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.
이하 첨부된 도 3 내지 도 12를 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 검사 장치의 블록 구성도이다.
따라서, 본 발명에 따른 엘씨디 검사 장치는 수신부(20), 제어부(30) 및, BMP 패턴 저장부(50)를 포함한다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 검사 장치의 입력단의 신호 입력을 나타낸 블록 구성도이다.
도 4에 따른 수신부(20)는 PCI(Peripheral Communication Interface 또는 Peripheral Component Interconnect)수신부(22), 광수신부(24), DVI(Digital Video Interface)-D 수신부(26)를 포함한다.
수신부(20)는 PC(1)에 연결된 송신부(2)로부터 엘씨디 검사를 위한 BMP 패턴의 LVDS(Low Voltage Differential Signal) 신호, 광신호, TMDS(Transition Minimized Differential Signaling) 신호 중 하나 이상의 신호를 전송받는다. 그리고, 수신부(20)는 상기 수신된 신호들을 제어부(30)에 제공한다.
여기서, 송신부(2)는 PC(1)와 PCI 슬롯에 의해 연결되어 하나 이상의 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호를 출력하여 수신부(20)로 제공한다. 그리고, 송신부(2)는 PCI 카드(4), 광카드(6), 그래픽카드(8)를 포함한다. 송신부(2)는 PCI 카드(4)를 통해 상기 LVDS 신호를 PCI 수신부(22)로 전송하고, 광카드(6)를 통해 광신호를 광수신부(24)로 전송하며, DVI-D 카드를 통해 TMDS 신호를 DVI-D 수신부(26)로 전송한다.
PCI 수신부(22)는 상기 송신부(2)로부터 상기 LVDS 신호를 전송받아 상기 제어부(30)에 제공한다. 따라서, PCI 수신부(22)는 PC(1)에 연결된 PCI 카드(4)를 통해 상기 LVDS 신호를 전송받고, 전송된 직렬의 LVDS 신호를 상기 제어부(30)에 제공한다.
광수신부(24)는 상기 송신부(2)의 광카드(6)로부터 광신호를 입력받아, 입력된 광신호를 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부(30)에 전송한다.
여기서, 상기 광수신부(24)는 상기 광신호를 SFP(small form-factor pluggable) Moudule을 통해 직렬 신호로 변경하고, 상기 직렬로 변경된 신호를 GTP(Gigabit Transceiver Port)칩을 통해 다시 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부(30)로 제공하는 것을 특징으로 한다.
상기 GTP 칩은 8비트의 상기 직렬 신호에 2비트의 제어 신호를 추가하여 상기 병렬 신호로 변경한다. 따라서, 광수신부(24)는 SFP Module를 통해 받은 광신호를 서데스(SERDES)하여 제어부(30)에 전송하여 준다.
DVI-D 수신부(26)는 송신부(2)의 DVI-D를 통해 TMDS 신호를 입력받아, 전송된 TMDS 신호를 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부(30)에 제공한다. 그리고, 일실시예에 따라 상기 DVI-D 수신부(26)는 상기 TMDS 신호를 짝수 및 홀수 픽셀의 상기 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부(30)로 전송하는 것을 특징으로 한다.
그러므로, 본발명 엘씨디 검사 장치의 수신부(20)는 종래에 PCI 카드(4)에서 송신된 신호만 받던 입력단을 광카드(6) 및 그래픽카드(8)로부터 송신된 신호도 수신받을 수 있도록 구성하여, 다양한 신호를 수신받을 수 있는 다중 인터페이스 환경을 구현한다. 그리고, 본발명 엘씨디 검사 장치는 각각의 신호에 따른 전송 방식이 다르므로 각각의 신호에 따른 전송 프로토콜을 제어부(30)(예를들면, FPGA칩)의 내부에 내장함으로써, 광카드(6) 및 그래픽카드(8)를 통해 전송되는 고속데이터 또한 실시간으로 처리 가능하다. 따라서, 본발명 엘씨디 검사 장치는 이처럼 다중의 입력단이 내장되어 있기 때문에 사용자의 작업 환경과 호환성이 좋으며, 원하는 방식을 선택하여 사용할 수 있다.
제어부(30)는 상기 수신부(20)로부터 전송된 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호를 별도로 내장된 프로토콜을 통해 변환하고, 상기 변환된 신호를 하나 이상의 채널로 동시에 출력한다. 그리고, 본 발명의 일실시예에 따라, 제어부(30)는 FPGA칩으로 구성될 수 있으며, 이하 도면에서는 제어부(30)를 FPGA칩으로 도시하였다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 엘씨디 검사 장치의 제어부(30)의 블록 구성도이며, 도 5에 따른 제어부(30)는 신호 입력부(32), 프로토콜 저장부(36), 프로토콜 변환부(34), 입력버퍼(36) 및, 출력부(40)를 포함한다.
신호 입력부(32)는 엘씨디 검사 장치의 수신부(20)로부터 수신된 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호를 입력받는다. 그리고, 본 발명의 일실시예에 따라 제어부(30)는 상기 LVDS 신호를 전송받는 PCI 수신부(22)를 신호 입력부(32)에 내장하여 상기 LVDS 신호를 직접 수신받을 수 있다.
프로토콜 저장부(36)는 상기 각종 신호들을 제어부(30) 내에서 처리 가능하도록 각 신호에 따른 프로토콜을 내장한다.
여기서, 프로토콜 저장부(36)는 상기 LVDS 신호의 직렬 데이터를 병렬 데이터로 변경하고, 상기 변경된 LVDS 신호의 병렬 데이터를 Bit Swap(비트 교환)하여 입력버퍼(36)에 저장하는 프로토콜을 내장한다. 즉, 제어부(30)는 LVDS 신호를 변환하는 프로토콜을 프로토콜 저장부(36)에 내장하여, TTL 신호를 사용하지 않고 직접 LVDS 신호를 입/출력 받을 수 있다. 또한, 본 발명은 일실시에에 따라 자인(Thine)과 네셔널(National)사에서 규정한 LVDS 리시버 및 트랜스미터(LVDS Receiver /Transmitter)의 서데스(SERDES) 프로토콜을 내장하였다.
따라서, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 LVDS 신호를 직접 입출력 받도록 제어부(30)에 LVDS 신호의 프로토콜을 내장하였으며, 이는 데이터 전송을 위한 별도의 칩(예를들면, LVDS 수신기 및 트랜스시버)이 불필요하게 되어 전체적인 시스템의 원가를 절감할 수 있다. 또한, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 상기와 같은 칩을 사용하지 않음에 따라 회로의 간소화하며 피씨비(PCB) 기판의 설계 비용을 감소시킬 수 있으며, TTL 신호에 의한 신호 왜곡, 칩에 의한 지터(Jitter) 및, 노이즈(EMC/EMI) 등에 강하기 때문에 시스템이 전체적으로 안정화되었다.
그리고, 프로토콜 저장부(36)는 상기 광신호의 병렬 데이터를 전송받아 입력버퍼(36)에 저장하는 프로토콜을 내장하며, 상기 TMDS 신호의 병렬 데이터를 전송받아 입력버퍼(36)에 저장하는 프로토콜을 내장한다. 또한, 일실시예에 따라 프로토콜 저장부(36)는 후술할 BMP 패턴 저장부(50)에 저장된 BMP 패턴을 처리할 수 있는 프로토콜도 함께 내장한다.
프로토콜 변환부(34)는 프로토콜 저장부(36)에 저장된 각종 프로토콜을 이용해 신호 입력부(32)를 통해 입력된 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호를 각각 변환한다. 따라서, 제어부(30)는 상기 프로토콜 변환부(34)에 저장된 각종 프로토콜을 이용해, 수신부(20)에 전송되는 다양한 각종 신호 즉, LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호의 처리가 가능하다.
입력버퍼(36)는 프로토콜 변환부(34)를 통해 변환된 각종 신호를 제어부(30) 내에 임시 저장하는 버퍼이다.
출력부(40)는 프로토콜 변환부(34)를 통해 변환된 신호를 한 개 이상의 채널로 출력한다. 여기서, 변환된 신호는 12비트의 RGB 데이터로서, 출력부(40)는 각 채널마다 12비트의 RGB 데이터를 출력한다. 그리고, 본 발명의 일실시예에 따라 출력부(40)는 8개의 채널로 출력하는 것을 특징으로 한다.
또한, 일실시예에 따라 제어부(30)는 종래의 출력단 칩의 기능을 상기 제어부(30)의 출력부(40)에 내장하여 LVDS 신호를 직접 출력한다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 출력부(40)의 신호 전송을 나타낸 블록 구성도이고, 도 7은 본 발명의 일실시예에 따라 8채널이 동시에 구동되어 엘씨디를 검사하는 블록 구성도이다.
따라서, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 종래의 방식과 달리 별도의 입출력 칩이나 확장 보드, 또는 별도의 케이블이 없어도 8 채널의 LVDS 신호 데이터를 출력하기 때문에 메인보드만으로 다중의 엘씨디[예를들면, 옥탈 타입(Octal Type)]가 개별 구동이 가능하다. 이는 전체적인 시스템을 간소화하여 원가 절감뿐만 아니라 확장 보드나 케이블에서 수반되는 임피던스 매칭, 노이즈(예를들면, EMI, CMC)의 문제를 해결하여 고속데이터를 실시간으로 전송하는데 매우 효과가 있다.
BMP 패턴 저장부(50)는 엘씨디 검사용 BMP 패턴을 저장하고 상기 제어부(30)로 상기 BMP 패턴을 제공한다. 그리고, 일실시예에 따라 상기 BMP 패턴 저장부(50)는 SD 카드로 구성된 것을 특징으로 한다.
또한, BMP 패턴 저장부(50)는 제어부(30)로 상기 BMP 패턴을 병렬 신호로 전송하고, 제어부(30)는 프로토콜 변환부(34)에 내장된 프로토콜을 통해 상기 병렬 신호를 엘시디 검사를 위한 출력이 가능하도록 변환하여 입력버퍼(36)에 저장한다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따라 SD 카드를 활용한 BMP 패턴의 데이터 흐름을 나타낸 블록 구성도이다. 본 발명의 일실시예에 의해, 이는 메인보드에 있는 별도의 MCU(Micro Controller Unit)에 의해 제어됨을 보여준다. MCU는 SD 카드에 저장된 BMP 패턴을 인출해 FPGA 칩 내의 버퍼에 저장하고, BMP 패턴을 검사하고자 하는 엘씨디로 출력한다.
따라서, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 BMP 패턴 저장부(50)에 저장된 BMP 패턴을 통해 엘씨디를 검사함으로써, 종래에 비해 다양한 BMP 패턴을 제공하고 장소의 제약없이 엘씨디를 검사할 수 있는 장점이 있다.
즉, 종래의 휴대용 엘씨디 검사기는 별도의 BMP 패턴을 입력하지 않고 FPGA 칩의 내부 로직을 만들어서 엘씨디를 검사하는 용도로 사용하였다. 그러나, 이러한 내부 로직은 FPGA 칩의 내부 자원에 따라 테스트할 수 있는 패턴의 수가 제한되어, 단순한 패턴만 구동이 가능하다는 단점이 있었다.
그러므로, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 내부에 SD 카드를 추가하여 일반 PC에서 사용하는 BMP 패턴의 저장이 가능토록 구현하였다. 이는 별도의 입력장치(예를들면, PC)가 없이도 사용자가 원하는 BMP 패턴뿐만 아니라 다양하고 정교한 종류의 BMP 패턴을 제공할 수 있기 때문에 장소의 제약이 없이 정밀하게 엘씨디를 검사할 수 있게 된다.
도 9는 본 발명의 제1실시예에 따른 엘시디 검사 장치의 구동 과정을 도시한 순서도이다.
도 9에 따른 엘시디 검사 장치의 구동 과정은 PC(1)의 송신부(2)를 통해 엘씨디 검사를 위한 각종 신호 송신하고(S10), 상기 신호에 대응되어 연결된 수신부(20)에서 신호를 수신한다(S12). 제어부(30)의 프로토콜 변환부(34)는 수신된 신호에 대응되는 프로토콜을 이용해 수신된 신호를 엘씨디 검사를 위한 신호로 변환하고(S14), 변환된 신호를 입력버퍼(36)에 저장한다(S16). 그리고, 엘씨디 검사 장치는 복수 개의 채널로 신호를 출력하여 엘씨디를 검사한다(S18, S20).
도 10은 본 발명의 제2실시예에 따라 SD 카드에 저장된 BMP 패턴을 통한 엘씨디 검사 과정을 도시한 순서도이다.
저장된 BMP 패턴을 통한 엘시디 검사 과정은 검사하고자 하는 유형의 BMP 패턴을 SD 카르로부터 인출해 입력버퍼(36)에 저장하고(S30, S32), 저장된 BMP 패턴을 동시에 최대 8개의 채널로 출력해 엘씨디를 검사한다(S34, S36).
도 11은 본 발명에 따른 엘씨디 검사 장치의 운용 구성도이고, 도 12는 도 11의 본 발명에 따른 메인보드의 도면이다.
본 발명에 따른 엘씨디 검사 장치의 수신부(20)는 종래에 PCI 카드(4)로만 받던 입력단을 광카드(6) 및 그래픽카드(8)로도 전송 가능하도록 구성하여, 다중 인터페이스를 적용하였다. 따라서, 본 발명은 사용자가 작업환경에 맞게 입력단을 선택할 수 있을 뿐만 아니라 일반 PC와 호환이 가능하며, 많은 양의 데이터를 실시간으로 처리할 수 있다.
또한, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 LVDS 신호를 직접 입출력 받도록 제어부(30)에 LVDS 신호의 프로토콜을 내장하였으며, 이는 데이터 전송을 위한 별도의 칩(예를들면, LVDS 수신기 및 트랜스미터)이 불필요하게 되어 전체적인 시스템의 원가를 절감할 수 있다. 또한, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 상기와 같은 칩을 사용하지 않음에 따라 회로의 간소화하며 피씨비(PCB) 기판의 설계 비용을 감소시킬 수 있으며, TTL 신호에 의한 신호 왜곡, 칩에 의한 지터(Jitter) 및, 노이즈(EMC/EMI) 등에 강하기 때문에 시스템이 전체적으로 안정화되었다.
그리고, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 BMP 패턴 저장부(50)에 저장된 BMP 패턴을 통해 엘씨디를 검사함으로써, 종래에 비해 다양한 BMP 패턴을 제공하고 장소의 제약없이 엘씨디를 검사할 수 있는 장점이 있다. 따라서, 본 발명은 별도의 PC나 입력단 없이도 시스템 자체에서 LCD 테스트가 가능하다. 그리고, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 FPGA칩의 내부로직과 달리 사용자가 원하는 BMP 및 복잡한 패턴의 BMP를 통한 엘씨디 검사가 가능하다.
또한, 본 발명의 엘씨디 검사 장치는 종래의 방식과 달리 별도의 입출력 칩이나 확장 보드, 또는 별도의 케이블이 없어도 8 채널의 LVDS 신호 데이터를 출력하기 때문에 메인보드만으로 다중의 엘씨디[예를들면, 옥탈 타입(Octal Type)]가 개별 구동이 가능하다. 또한, 이는 LVDS 신호 출력이기 때문에 8 채널을 동시에 모두 사용하여도 안정적이다.
이상에서, 본 발명에 따른 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치의 구성 및 작용을 상세한 설명과 도면에 따라 도시하였지만, 이는 실시예를 들어 설명한 것에 불과하며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능하다.
1: PC 2: 송신부
4: PCI 카드 6: 광카드
8: 그래픽카드 10: 엘씨디 검사 장치
20: 수신부 22: PCI 수신부
24: 광수신부 26: DVI-D 수신부
30: 제어부 32: 신호 입력부
34: 프로토콜 변환부 36: 프로토콜 저장부
38: 입력버퍼 40: 출력부
50: BMP 패턴 저장부

Claims (14)

  1. 엘씨디 검사 장치에 있어서,
    PC에 연결된 송신부로부터 엘씨디 검사를 위한 BMP 패턴의 LVDS 신호, 광신호, TMDS 신호 중 하나 이상의 신호를 전송받는 수신부;
    상기 수신부로부터 상기 신호를 전송받아 내장된 프로토콜을 통해 변환하고, 상기 변환된 신호를 하나 이상의 채널로 동시에 출력하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 수신부는
    상기 LVDS 신호를 수신받아 상기 제어부에 제공하는 PCI 수신부;
    상기 광신호를 수신받아 병렬로 변경하여 상기 제어부에 전송하는 광수신부 및;
    상기 TMDS 신호를 수신받아 병렬로 변경하여 상기 제어부에 전송하는 DVI-D 수신부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 광수신부는
    상기 광신호를 SFP(small form-factor pluggable) Moudule을 통해 직렬로 변경하고, 상기 직렬로 변경된 신호를 GTP(Gigabit Transceiver Port) 칩을 통해 병렬로 변경하여 상기 제어부로 제공하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 GTP 칩은
    8비트의 직렬 신호에 2비트의 제어 신호를 추가하여 병렬 신호로 변경하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 DVI-D 수신부는
    상기 수신된 TMDS 신호를 짝수 및 홀수 픽셀의 병렬 신호로 변경하여 상기 제어부로 전송하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는
    직렬로 전송된 상기 LVDS 신호를 병렬 신호로 변경하고, 상기 변경된 병렬 신호를 비트 교환(Bit Swap)하여 입력버퍼에 저장하는 프로토콜을 내장하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는
    병렬로 변경된 상기 광신호를 전송받아 입력버퍼에 저장하는 프로토콜을 내장하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는
    병렬로 변경된 상기 TMDS 신호를 전송받아 입력버퍼에 저장하는 프로토콜을 내장하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는
    상기 변환된 신호를 8개의 채널로 출력하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 채널은
    상기 LVDS 신호를 직접 출력해 엘씨디를 검사하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  11. 제 1항에 있어서,
    엘씨디 검사용 BMP 패턴을 저장하고 상기 제어부로 상기 BMP 패턴을 제공하는 BMP 패턴 저장부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 BMP 패턴 저장부는
    SD 카드로 구성되어 상기 제어부에 연결되는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  13. 제 11항에 있어서,
    상기 제어부는
    상기 BMP 패턴을 상기 BMP 패턴 저장부로부터 병렬 신호로 전송받고, 상기 전송된 BMP 패턴을 입력버퍼에 저장하는 프로토콜을 내장하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
  14. 엘씨디 검사 장치에 있어서,
    PC에 연결된 송신부로부터 엘씨디 검사를 위한 BMP 패턴의 광신호, TMDS 신호 중 하나 이상의 신호를 전송받는 수신부;
    상기 수신부로부터 상기 신호를 전송받아 내장된 프로토콜을 통해 변환하고, 상기 변환된 신호를 하나 이상의 채널로 동시에 출력하는 제어부;를 포함하며,
    상기 제어부는
    상기 송신부로부터 LVDS 신호를 전송받는 PCI 수신부;를 내장하여, 상기 내장된 프로토콜을 통해 상기 전송된 LVDS 신호를 입출력하는 것을 특징으로 하는 다중 인터페이스를 적용한 엘씨디 검사 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US11231468B2 (en) * 2019-03-07 2022-01-25 Wistron Corp. Inspection apparatus and inspection method thereof

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108600211A (zh) * 2018-04-18 2018-09-28 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 一种汽车虚拟仪表获取升级文件的方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050015029A (ko) * 2003-08-01 2005-02-21 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정 표시 장치의 에이징 테스트 구동 회로
KR100738325B1 (ko) 2005-10-27 2007-07-12 주식회사 이너텍 복수개의 디스플레이 모듈 검사용 테스터기
KR100816995B1 (ko) 2006-11-06 2008-03-27 오성엘에스티(주) 피씨아이 데이터 신호의 변환 전송 장치
KR101013892B1 (ko) 2009-05-22 2011-02-11 (주)비원테크 무선통신모듈을 구비한 임베디드형 화상검사장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11231468B2 (en) * 2019-03-07 2022-01-25 Wistron Corp. Inspection apparatus and inspection method thereof

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