KR20120127037A - 유연 기판의 벤딩 테스트 장치 - Google Patents

유연 기판의 벤딩 테스트 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20120127037A
KR20120127037A KR1020110045251A KR20110045251A KR20120127037A KR 20120127037 A KR20120127037 A KR 20120127037A KR 1020110045251 A KR1020110045251 A KR 1020110045251A KR 20110045251 A KR20110045251 A KR 20110045251A KR 20120127037 A KR20120127037 A KR 20120127037A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode
flexible substrate
bar
electrode bar
slider
Prior art date
Application number
KR1020110045251A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101774302B1 (ko
Inventor
김기현
Original Assignee
한국전자통신연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국전자통신연구원 filed Critical 한국전자통신연구원
Priority to KR1020110045251A priority Critical patent/KR101774302B1/ko
Priority to US13/459,600 priority patent/US8806953B2/en
Publication of KR20120127037A publication Critical patent/KR20120127037A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101774302B1 publication Critical patent/KR101774302B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/20—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady bending forces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M13/00—Testing of machine parts
    • G01M13/02—Gearings; Transmission mechanisms
    • G01M13/025—Test-benches with rotational drive means and loading means; Load or drive simulation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M13/00—Testing of machine parts
    • G01M13/02—Gearings; Transmission mechanisms
    • G01M13/025—Test-benches with rotational drive means and loading means; Load or drive simulation
    • G01M13/026—Test-benches of the mechanical closed-loop type, i.e. having a gear system constituting a closed-loop in combination with the object under test
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/22—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady torsional forces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M5/00—Investigating the elasticity of structures, e.g. deflection of bridges or air-craft wings
    • G01M5/0041—Investigating the elasticity of structures, e.g. deflection of bridges or air-craft wings by determining deflection or stress
    • G01M5/005—Investigating the elasticity of structures, e.g. deflection of bridges or air-craft wings by determining deflection or stress by means of external apparatus, e.g. test benches or portable test systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

본 발명은 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치를 개시한다. 그의 장치는, 테이블과, 상기 테이블 상에서 유연 기판의 일측을 고정하는 제 1 전극부와, 상기 제 1 전극부에 인접하여 배치되고 상기 유연 기판의 일측에서 타측 방향으로 연장되는 가이드 레일과, 상기 가이드 레일을 따라 이동되는 슬라이더와, 상기 슬라이더에 연결되고 상기 유연 기판의 타측을 상기 제 1 전극부에 접근 또는 이격시키는 제 2 전극부를 포함한다.

Description

유연 기판의 벤딩 테스트 장치{bending test apparatus for flexible device}
본 발명은 테스트 장치에 관한 것으로, 구체적으로 표시소자를 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치에 관한 것이다.
유리 기판 위에 제작되는 디스플레이 소자는 휘어지지 않기 때문에 전기적 스트레스에 의한 신뢰성 평가를 주로 받는다. 그러나, 유연 기판 위에 제작되는 디스플레이 소자와 같은 플렉서블 소자는 휘어지는 특성을 가지기 때문에 전기적 스트레스 외에 기계적인 스트레스를 받게 된다. 그러므로, 기판 위에 증착되는 박막 및 플렉서블 소자의 기계적인 스트레스에 대한 신뢰성 측정이 필요하다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치를 제공하는 데 있다.
상기한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 유연 기판의 벤딩 테스트 장치는, 테이블; 상기 테이블 상에서 유연 기판의 일측을 고정하는 제 1 전극부; 상기 제 1 전극부에 인접하여 배치되고 상기 유연 기판의 일측에서 타측 방향으로 연장되는 가이드 레일; 상기 가이드 레일을 따라 이동되는 슬라이더; 및 상기 슬라이더에 연결되고 상기 유연 기판의 타측을 상기 제 1 전극부에 접근 또는 이격시키는 제 2 전극부를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 제 1 및 제 2 전극부들은 상기 유연 기판의 일측과 타측을 각각 삽입시키는 홈들을 갖는 클램프들일 수 있다. 상기 클램프들은 일측과 타측의 상기 유연 기판을 삽입시키는 홈들을 갖고 서로 맞물리게 결합되는 하부 전극바와, 상부 전극바를 포함할 수 있다. 상기 클램프들은 상기 하부 전극바와 상기 상부 전극바사이의 상기 홈들의 크기를 조절하는 가이드 핀들을 더 포함할 수 있다. 상기 클램프들은 상기 하부 전극바와 상기 상부 전극바 사이에서 상기 가이드 핀들을 통과시키고 상기 하부 클래프와 상기 상부 전극바를 이격시키는 스프링을 더 포함할 수 있다. 상기 클램프들은 상기 하부 전극바의 양측에 채결되는 전극 샤프트들을 더 포함할 수 있다. 상기 테이블 상에 상기 제 1 전극부를 고정시키고, 상기 제 1 전극부의 상기 전극 샤프트들을 지지하는 제 1 엘보들을 더 포함할 수 있다. 상기 슬라이더와 상기 제 2 전극부 사이에 연결되고, 상기 제 1 전극부와 평행한 방향으로 연장되는 이동 샤프트와, 상기 이동 샤프트에서 상기 제 2 전극부의 상기 전극 샤프트들을 지지하는 제 2 엘보들을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 상기 슬라이더를 이동시키는 구동부와, 상기 구동부를 제어하는 제어 신호를 출력하고, 상기 제 1 전극부와 상기 제 2 전극부들 사이의 상기 유연 기판의 벤딩 또는 펼침에 따른 전기적 성능 테스트를 수행하는 제어부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 테이블 상부를 덮는 하우징을 더 포함할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 과제 해결 수단에 따르면, 제 1 전극부와 제 2 전극부는 다양한 크기를 갖는 유연 기판의 일측과 타측을 각각 고정할 수 있다. 제 1 전극부는 테이블 상의 제 1 엘보들에 고정될 수 있다. 제 2 전극부는 가이드 레일을 따라 이동되는 슬라이더에 연결될 수 있다. 슬라이더는 구동부의 동력으로 가이드 레일을 따라 이동될 수 있다. 유연 기판은 제 2 전극부의 이동에 따라 정량적으로 벤딩 및/또는 펼쳐질 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예에 따른 유연 기판의 벤딩 테스트 장치는 테스트의 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유연 기판의 벤딩 테스트 장치를 나타내는 사시도.
도 2 및 도 3은 도 1의 평면도 및 측멱도.
도 4는 제 1 전극부의 분해도.
도 5 및 도 6은 제 1 전극부의 횡단면도 및 종단면도.
도 7 및 도 8은 제 2 전극부의 횡단면도 및 종단면도.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 또한, 바람직한 실시예에 따른 것이기 때문에, 설명의 순서에 따라 제시되는 참조 부호는 그 순서에 반드시 한정되지는 않는다. 이에 더하여, 본 명세서에서, 어떤 막이 다른 막 또는 기판 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 막 또는 기판 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 막이 개재될 수도 있다는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유연 기판의 벤딩 테스트 장치를 나타내는 사시도이다. 도 2 및 도 3은 도 1의 평면도 및 측멱도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 테스트 장치는, 테이블(10) 상부에서 유연 기판(20)의 일측(22)을 고정하는 제 1 전극부(30)와, 상기 제 1 전극부(30)에 고정된 유연 기판(20)의 타측(24)을 이동시키는 제 2 전극부(60)를 포함할 수 있다. 제 1 전극부(30)는 테이블(10)에 체결된 제 1 엘보들(12)에 고정될 수 있다. 제 2 전극부(60)는 슬라이더(74) 및 이동 샤프트(70)에 의해 수평으로 이동될 수 있다. 유연 기판(20)은 제 1 및 제 2 전극부들(30, 60)의 접근에 의해 벤딩될 수 있다. 제 1 및 제 2 전극부들(30, 60)은 유연 기판(20)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제어부(80)는 구동부(50)를 제어하는 제어 신호를 출력하여 유연 기판(20)의 벤딩에 따른 전기적 성능 테스트를 수행시킬 수 있다. 유연 기판(20)은 제 2 전극부(60)의 이동에 따라 정량적으로 벤딩 또는 펼쳐질 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예에 따른 유연 기판(20)의 벤딩 테스트 장치는, 테스트의 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있다.
테이블(10)은 하우징(90)의 격벽(92)에 의해 분리된 제어 영역(14)과, 유연 기판(20)의 테스트 영역(16)을 포함할 수 있다. 하우징(90)은 테이블(10)의 상부를 둘러쌀 수 있다. 하우징(90)은 제어 영역(14)을 덮는 제 1 하우징(94)과 테스트 영역(16)을 덮는 제 2 하우징(96)과, 상기 제 2 하우징(96) 및 제 1 하우징(94)사이의 격벽(92)을 포함할 수 있다. 제 1 및 제 2 하우징들(94, 96)은 독립적으로 개폐될 수 있다. 제 2 하우징(96)은 유연 기판(20)의 로딩/언로딩 시에 유동적으로 개방될 수 있다. 격벽(92)은 제 2 전극부(60)와 가이드 레일(40) 사이의 이동 샤프트(70)를 통과시키는 개방구(93)를 포함할 수 있다. 개방구(93)는 가이드 레일(40)과 동일한 방향으로 형성될 수 있다.
제어 영역(14)에는 가이드 레일(40), 슬라이더(74), 구동부(50), 및 제어부(80)가 배치될 수 있다. 가이드 레일(40)은 유연 기판(20)의 일측(22)에서 타측(24)으로 연장될 수 있다. 가이드 레일(40)은 테이블(10)상의 제 1 전극부(30)에 인접하여 배치될 수 있다. 가이드 레일(40)은 유연 기판(20)의 일측(22)에서 타측(24)의 방향으로 연장될 수 있다. 슬라이더(74)는 가이드 레일(40)를 따라 이동될 수 있다. 구동부(50)는 슬라이더(74)를 이동시키는 동력을 생성할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 구동부(50)는 제어부(80)의 제어 신호에 따라 회전 동력을 생성하는 스텝 모터와, 상기 스텝 모터의 회전 동력으로부터 가이드 레일(40)을 따라 상기 슬라이더(74)를 직선으로 이동시키는 베벨 기어 및/또는 크랭크를 포함할 수 있다. 제어부(80)는 제 1 및 제 2 케이블들(미도시)에 의해 제 1 전극부(30) 및 제 2 전극부(60)에 전기적으로 연결될 수 있다.
테스트 영역(16)은 제 1 전극부(30) 및 제 2 전극부(60)를 포함할 수 있다. 제 1 전극부(30)는 테이블(10)에 고정될 수 있다. 제 1 엘보들(12)은 테이블(10)에 고정될 수 있다. 제 1 엘보들(12)은 제 1 전극부(30)를 테이블(10)에 고정시킬 수 있다. 제 2 전극부(60)는 제 2 엘보들(72)에 의해 이동 샤프트(70)에 고정될 수 있다. 이동 샤프트(70)는 제어 영역(14)의 슬라이더(74)에 채결될 수 있다. 이동 샤프트(70)는 격벽(92)의 개방구(93)를 통과하고 제 1 전극부(30)와 평행한 방향으로 연장될 수 있다. 제 2 전극부(60)는 이동 샤프트(70)에 고정될 수 있다. 제 2 엘보들(72)은 이동 샤프트(70) 상에서 제 2 전극부(60)를 지지할 수 있다. 제 2 전극부(60)는 이동 샤프트(70) 및 슬라이더(74)에 의해 이동될 수 있다.
도 4는 제 1 및 제 2 전극부들의 분해도들이다. 도 5 및 도 6은 제 1 전극부의 횡단면도와 종단면도이다. 도 7 및 도 8은 제 2 전극부의 횡단면도 및 종단면도이다.
도 1 내지 도 6을 참조하면, 제 1 전극부(30)는 일측(22)의 유연 기판(20)이 삽입되는 제 1 홈(31)을 갖는 제 1 클램프일 수 있다. 제 1 전극부(30)는 제 1 하부 전극바(36)와, 제 1 상부 전극바(34)를 포함할 수 있다. 제 1 하부 전극바(36)와, 제 1 상부 전극바(34)는 유연 기판(20)의 일측(22)을 고정할 수 있도록 맞물리게 채결될 수 있다. 제 1 하부 전극바(36)는 제 1 전극 샤프트들(32)사이에 연결될 수 있다. 제 1 전극 샤프트들(32)은 제 1 엘보들(12)에 지지될 수 있다. 제 1 전극 샤프트들(32)은 제 1 캡들(39)과 제 2 볼트들(17)에 의해 제 1 하부 전극바(36)의 양측에 고정될 수 있다. 제 1 전극 샤프트들(32)은 제 1 전극부(30)와 제 2 전극부(60)간의 거리가 변할 때, 유연 기판(20)의 벤딩 및/또는 펼침에 따라 제 1 엘보들(12)에서 회전될 수 있다. 제 1 베어링(13)은 제 1 전극 샤프트(32)의 회전을 도울 수 있다. 제 1 베어링(13)은 제 1 전극 샤프트(32)와 제 1 엘보들(12)의 마찰을 줄일 수 있다. 제 1 엘보들(12)은 제 1 볼트들(15)에 의해 테이블(10)에 고정될 수 있다. 제 1 단자 홀더(38)는 격벽(92)에 인접하는 제 1 전극 샤프트(32)의 말단에 체결될 수 있다. 제 1 전극 샤프트들(32)은 저항이 낮은 도전성 금속을 포함할 수 있다. 제 1 캐이블(미도시))은 제 1 단자 홀더(38)에서 제어부(80)로 연결될 수 있다. 제 1 상부 전극바(34)는 제 1 하부 전극바(36) 상에 맞물리게 결합될 수 있다. 제 1 상부 전극바(34)는 제 3 볼트들(18)에 의해 제 1 하부 전극바(36)에 결합될 수 있다. 제 1 홈(31)은 일측(22)의 유연 기판(20)을 유입시키는 제 1 상부 전극바(34) 및 제 1 하부 전극바(36)사이의 틈에 대응될 수 있다. 제 1 홈(31)은 1mm 내지 3mm 정도의 크기를 가질 수 있다. 제 1 가이드 핀들(37)은 제 1 홈(31)의 크기를 조절할 수 있다. 제 1 가이드 핀들(37)은 제 1 상부 전극바(34)와 제 1 하부 전극바(36)의 너트 홀들(미도시)에 삽입될 수 있다. 제 1 가이드 핀들(37)은 제 1 상부 전극바(34)와 제 1 하부 전극바(36)사이의 간극을 조절할 수 있다. 제 1 스프링들(35)은 제 1 하부 전극바(36)와 제 1 상부 전극바(34)을 이격시킬 수 있다. 제 1 가이드 핀들(37)은 제 1 스프링들(35)내부로 통과될 수 있다. 제 1 가이드 핀들(37)은 제 1 홈(31)을 통해 제 1 상부 전극바(34)와 제 1 하부 전극바(36)의 내부로 유입된 유연 기판(20)의 일측(22)을 고정시킬 수 있다. 제 1 상부 전극바(34)와 제 1 하부 전극바(36)는 구리, 알루미늄, 및/또는 그들의 합금 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제 1 상부 전극바(34)와 제 1 하부 전극바(36)는 유연 기판(20)의 도전성 물질에 전기적으로 접촉될 수 있다.
도 1 내지 도 8을 참조하면, 제 2 전극부(60)는 유연 기판(20)의 타측(24)을 고정할 수 있다. 제 2 전극부(60)는 유연 기판(20)의 타측(24)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제 2 전극부(60)는 제 1 전극부(30)와 유사한 구조를 갖고 대칭적으로 배치될 수 있다. 제 2 전극부(60)는 타측(24)의 유연 기판(20)이 삽입되는 제 2 홈(31)을 갖는 제 2 클램프일 수 있다. 제 2 전극부(60)는 이동 샤프트(70)의 제 2 엘보들(72)에 지지되는 제 2 전극 샤프트들(62)과, 상기 제 2 전극 샤프트들(62)사이에 연결되는 제 2 하부 전극바(66)와, 상기 제 2 하부 전극바(66)에 채결되어 유연 기판(20)의 타측(24)을 고정하는 제 2 상부 전극바(64)를 포함할 수 있다. 제 2 전극 샤프트들(62)은 제 2 캡들(69)과 제 2 볼트들(17)에 의해 제 2 하부 전극바(66)의 양측에 고정될 수 있다. 제 2 전극 샤프트들(62)은 유연 기판(20)의 벤딩 및/또는 펼침에 따라 회전될 수 있다. 제 2 베어링들(73)은 제 2 전극 샤프트들(62)과 제 2 엘보들(72)의 마찰을 줄일 수 있다. 제 2 단자 홀더(68)는 격벽(92)에 인접하는 제 2 전극 샤프트(62)의 말단에 체결될 수 있다. 제 2 전극 샤프트들(62)은 저항이 낮은 도전성 금속을 포함할 수 있다. 제 2 캐이블(미도시))은 제 2 단자 홀더(68)에서 제어부(80)로 연결될 수 있다. 제 2 상부 전극바(64)는 제 3 볼트들(18)에 의해 제 2 하부 전극바(66) 상에 맞물리게 결합될 수 있다. 제 2 홈(61)은 유연 기판(20)의 타측(24)을 유입시킬 수 있다. 제 2 가이드 핀들(67)은 제 2 홈(61)의 크기를 조절할 수 있다. 제 2 스프링(65)는 제 2 하부 전극바(66)와 제 2 상부 전극바(64)를 이격시킬 수 있다. 제 2 가이드 핀들(67)은 제 2 스프링(65)을 통과할 수 있다. 제 2 가이드 핀들(77)은 제 2 상부 전극바(64)와 제 2 하부 전극바(66)의 너트 홀들 내에 삽입될 수 있다. 제 2 가이드 핀들(67)은 제 2 홈(61)을 통해 제 2 상부 전극바(64)와 제 2 하부 전극바(66)의 내부로 유입된 유연 기판(20)의 타측(24)을 고정시킬 수 있다. 제 2 상부 전극바(64)와 제 2 하부 전극바(66)는 구리, 알루미늄, 및/또는 그들의 합금 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제 2 전극부(60)는 제어부(80)의 제어 신호에 따라 제 1 전극부(30)에 접근되거나 멀어질 수 있다. 유연 기판(20)은 제 2 전극부(60)의 이동에 따라 정량적으로 벤딩 또는 펼쳐질 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예에 따른 유연 기판(20)의 벤딩 테스트 장치는 유연 기판(20)의 테스트 신뢰성을 증대 또는 극대화할 수 있다.
이상, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들에는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
10: 테이블 20: 유연기판
30: 제 1 전극부 40: 가이드 레일
50: 구동부 60: 제 2 전극부
70: 이동 샤프트 80: 제어부
90: 하우징

Claims (10)

  1. 테이블;
    상기 테이블 상에서 유연 기판의 일측을 고정하는 제 1 전극부;
    상기 제 1 전극부에 인접하여 배치되고 상기 유연 기판의 일측에서 타측 방향으로 연장되는 가이드 레일;
    상기 가이드 레일을 따라 이동되는 슬라이더; 및
    상기 슬라이더에 연결되고 상기 유연 기판의 타측을 상기 제 1 전극부에 접근 또는 이격시키는 제 2 전극부를 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 전극부들은 상기 유연 기판의 일측과 타측을 각각 삽입시키는 홈들을 갖는 클램프들인 벤딩 테스트 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 클램프들은 상기 유연 기판 상하에서 맞물리게 결합되는 하부 전극바와, 상부 전극바를 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 클램프들은 상기 하부 전극바와 상기 상부 전극바사이의 상기 홈들의 크기를 조절하는 가이드 핀들을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 클램프들은 상기 하부 전극바와 상기 상부 전극바 사이에서 상기 가이드 핀들을 통과시키고 상기 하부 클래프와 상기 상부 전극바를 이격시키는 스프링을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  6. 제 3 항에 있어서,
    상기 클램프들은 상기 하부 전극바의 양측에 채결되는 전극 샤프트들을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 테이블 상에 상기 제 1 전극부를 고정시키고, 상기 제 1 전극부의 상기 전극 샤프트들을 지지하는 제 1 엘보들을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 슬라이더와 상기 제 2 전극부 사이에 연결되고, 상기 제 1 전극부와 평행한 방향으로 연장되는 이동 샤프트; 및
    상기 이동 샤프트에서 상기 제 2 전극부의 상기 전극 샤프트들을 지지하는 제 2 엘보들을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 슬라이더를 이동시키는 구동부; 및
    상기 구동부를 제어하는 제어 신호를 출력하고, 상기 제 1 전극부와 상기 제 2 전극부들 사이의 상기 유연 기판의 벤딩 또는 펼침에 따른 전기적 성능 테스트를 수행하는 제어부를 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 테이블 상부를 덮는 하우징을 더 포함하는 유연 기판의 벤딩 테스트 장치.
KR1020110045251A 2011-05-13 2011-05-13 유연 기판의 벤딩 테스트 장치 KR101774302B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110045251A KR101774302B1 (ko) 2011-05-13 2011-05-13 유연 기판의 벤딩 테스트 장치
US13/459,600 US8806953B2 (en) 2011-05-13 2012-04-30 Bending test apparatus for flexible device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110045251A KR101774302B1 (ko) 2011-05-13 2011-05-13 유연 기판의 벤딩 테스트 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120127037A true KR20120127037A (ko) 2012-11-21
KR101774302B1 KR101774302B1 (ko) 2017-09-05

Family

ID=47140935

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110045251A KR101774302B1 (ko) 2011-05-13 2011-05-13 유연 기판의 벤딩 테스트 장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8806953B2 (ko)
KR (1) KR101774302B1 (ko)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101446590B1 (ko) * 2013-06-28 2014-10-06 대원강업주식회사 스프링 횡강성 측정용 지그
KR20140122932A (ko) * 2013-04-11 2014-10-21 삼성디스플레이 주식회사 벤딩 장치 및 이를 이용한 벤딩 방법
KR101459697B1 (ko) * 2013-05-08 2014-11-12 경희대학교 산학협력단 유연 발전 소자용 굽힘 시험기 및 이를 이용한 발전 효율 측정 방법
CN104729929A (zh) * 2013-12-18 2015-06-24 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 柔性屏幕弯曲方法及系统
KR20160024289A (ko) * 2014-08-25 2016-03-04 주식회사 준일테크 유연기판과 유연 표시소자의 곡률반경에 따른 벤딩 테스트 장치
US9354150B2 (en) 2013-08-02 2016-05-31 Samsung Display Co., Ltd. Test apparatus for a flexible device
WO2019009603A1 (ko) * 2017-07-06 2019-01-10 동우 화인켐 주식회사 터치 센서 검사 장치 및 방법
WO2021187705A1 (ko) * 2020-03-17 2021-09-23 (주)플렉시고 플렉시블 소재의 내구성 평가용 슬라이딩장치 및 평가시스템
KR20210152422A (ko) * 2020-06-08 2021-12-15 단국대학교 천안캠퍼스 산학협력단 디스플레이 기판을 감기는 방향으로 끼워 지지할 수 있도록 한 헤드롤러를 구비한 롤러블 디스플레이용 롤링 신뢰성 평가장치

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101295887B1 (ko) * 2010-04-13 2013-08-12 한국전자통신연구원 플렉서블 소자의 벤딩 테스트 설비
KR102026690B1 (ko) * 2013-05-08 2019-10-01 삼성디스플레이 주식회사 기판 평가 장치, 및 이를 이용한 기판 평가 방법
CN104729833B (zh) 2013-12-18 2018-02-13 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 柔性屏体弯曲测试方法和系统
KR102242519B1 (ko) * 2014-06-02 2021-04-22 삼성디스플레이 주식회사 플렉서블 디바이스의 테스트 장치
KR102250769B1 (ko) * 2014-08-11 2021-05-12 삼성디스플레이 주식회사 플렉서블 디바이스의 테스트 장치
CN107631861A (zh) * 2017-08-28 2018-01-26 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 柔性显示装置弯折测试设备及系统
CN208559785U (zh) * 2018-06-25 2019-03-01 深圳市大疆创新科技有限公司 一种折叠测试平台
CN209894615U (zh) * 2019-05-08 2020-01-03 苏州昇特智能科技有限公司 一种可视化柔性材料压弯性能测量装置
CN112113827B (zh) * 2020-09-27 2022-09-23 天长市安瑞医疗器械有限公司 一种导尿管耐弯曲性试验工具

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3986746A (en) * 1975-09-23 1976-10-19 Guy-Chart Tools Limited Clamp
JP2002157927A (ja) * 2000-11-21 2002-05-31 Sumitomo Wiring Syst Ltd 電線の屈曲試験装置
US6776050B2 (en) 2001-09-28 2004-08-17 Osrano Opto Semiconductors Gmbh Support for bending test of flexible substrates
JP4238774B2 (ja) 2004-04-28 2009-03-18 パナソニック株式会社 曲げ試験装置および曲げ試験方法
TWI377343B (en) * 2008-11-11 2012-11-21 Ind Tech Res Inst Clip for detecting bending forces and electrical characteristics
KR101295887B1 (ko) 2010-04-13 2013-08-12 한국전자통신연구원 플렉서블 소자의 벤딩 테스트 설비

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140122932A (ko) * 2013-04-11 2014-10-21 삼성디스플레이 주식회사 벤딩 장치 및 이를 이용한 벤딩 방법
KR101459697B1 (ko) * 2013-05-08 2014-11-12 경희대학교 산학협력단 유연 발전 소자용 굽힘 시험기 및 이를 이용한 발전 효율 측정 방법
KR101446590B1 (ko) * 2013-06-28 2014-10-06 대원강업주식회사 스프링 횡강성 측정용 지그
US9354150B2 (en) 2013-08-02 2016-05-31 Samsung Display Co., Ltd. Test apparatus for a flexible device
CN104729929A (zh) * 2013-12-18 2015-06-24 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 柔性屏幕弯曲方法及系统
US10054527B2 (en) 2013-12-18 2018-08-21 Kunshan New Flat Panel Display Technology Center Co., Ltd. Method and system for bending test of flexible screen
KR20160024289A (ko) * 2014-08-25 2016-03-04 주식회사 준일테크 유연기판과 유연 표시소자의 곡률반경에 따른 벤딩 테스트 장치
WO2019009603A1 (ko) * 2017-07-06 2019-01-10 동우 화인켐 주식회사 터치 센서 검사 장치 및 방법
WO2021187705A1 (ko) * 2020-03-17 2021-09-23 (주)플렉시고 플렉시블 소재의 내구성 평가용 슬라이딩장치 및 평가시스템
KR20210152422A (ko) * 2020-06-08 2021-12-15 단국대학교 천안캠퍼스 산학협력단 디스플레이 기판을 감기는 방향으로 끼워 지지할 수 있도록 한 헤드롤러를 구비한 롤러블 디스플레이용 롤링 신뢰성 평가장치
KR20210152276A (ko) * 2020-06-08 2021-12-15 단국대학교 천안캠퍼스 산학협력단 롤러블 디스플레이용 롤링 신뢰성 평가장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR101774302B1 (ko) 2017-09-05
US8806953B2 (en) 2014-08-19
US20120285257A1 (en) 2012-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20120127037A (ko) 유연 기판의 벤딩 테스트 장치
KR101649330B1 (ko) 유연기판과 유연 표시소자의 곡률반경에 따른 벤딩 테스트 장치
US9118227B2 (en) Rotating electrical machine
US10113944B2 (en) Circuit board testing apparatus and circuit board testing method
CN106662790A (zh) 镜头驱动装置
WO2014190784A1 (zh) 电触头材料的静熔焊力测试装置及其测试方法
KR101247298B1 (ko) 도금용 랙 어셈블리
JP2010214528A (ja) ロボットの回転関節用配線装置
JP5646057B2 (ja) タンク形真空遮断器
JP2009162589A (ja) コネクタ導通検査治具
CN111745942A (zh) 柔性显示面板的折弯装置和折弯方法
JP6723142B2 (ja) コンデンサユニット、電動圧縮機
JP4850541B2 (ja) アクチュエータのケーブル引き出し構造
JP5333275B2 (ja) 電力変換装置
KR101404662B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장비용 그리퍼 장치
CN101316014B (zh) 电连接装置及其组装方法
WO2015182006A1 (ja) スイッチギヤ
JP4813578B2 (ja) 結線装置および挟持装置
CN109079300A (zh) Pin针点焊机构及汽车线圈绕线点焊流水线
CN214097711U (zh) 一种电控板测试装置
JP2007221904A (ja) モーター端子箱内のフレキシブル導体とのパワーケーブル接続装置
CN208872488U (zh) 一种电动直线振动平台
JP2011072090A (ja) 電気的接続装置
KR101380703B1 (ko) 집전 장치
CN109100106A (zh) 一种电动直线振动平台

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right