KR20120051894A - 사파이어 잉곳 성장장치 - Google Patents

사파이어 잉곳 성장장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20120051894A
KR20120051894A KR1020100113238A KR20100113238A KR20120051894A KR 20120051894 A KR20120051894 A KR 20120051894A KR 1020100113238 A KR1020100113238 A KR 1020100113238A KR 20100113238 A KR20100113238 A KR 20100113238A KR 20120051894 A KR20120051894 A KR 20120051894A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
ingot
crucible
sapphire
heater
heat
Prior art date
Application number
KR1020100113238A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101263082B1 (ko
Inventor
이상훈
이재훈
김수열
오현정
Original Assignee
주식회사 엘지실트론
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지실트론 filed Critical 주식회사 엘지실트론
Priority to KR1020100113238A priority Critical patent/KR101263082B1/ko
Priority to PCT/KR2011/008507 priority patent/WO2012067372A2/en
Priority to JP2013538638A priority patent/JP2013542169A/ja
Priority to EP11841249.3A priority patent/EP2640875A4/en
Priority to CN201180053669.1A priority patent/CN103201415B/zh
Priority to US13/297,023 priority patent/US20120118228A1/en
Priority to TW100141645A priority patent/TWI458865B/zh
Publication of KR20120051894A publication Critical patent/KR20120051894A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101263082B1 publication Critical patent/KR101263082B1/ko

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/14Heating of the melt or the crystallised materials
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/16Oxides
    • C30B29/20Aluminium oxides
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1032Seed pulling
    • Y10T117/1068Seed pulling including heating or cooling details [e.g., shield configuration]

Abstract

실시예는 사파이어 잉곳 성장장치에 관한 것이다.
실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치는 챔버; 상기 챔버 내에 구비되어 알루미나 융액을 수용하는 도가니; 상기 도가니 외측에 구비되어 상기 도가니를 가열하는 히터; 및 상기 도가니로부터 성장되는 잉곳 상측에 구비되어 상기 잉곳에 열을 가하는 열공급부;를 포함한다.

Description

사파이어 잉곳 성장장치{Sapphire Ingot Grower}
실시예는 사파이어 잉곳 성장장치에 관한 것이다.
종래기술에 의하면 사파이어 웨이퍼는 고순도 알루미나(Al2O3) 원료를 장입한 성장로를 약 2100℃ 이상에서 가열하여 원료를 용용한 후, 초크랄스키법(Czochralski Method, 이하 "CZ법"이라 함), 키로풀러스법(Kyropoulos Method), EFG(Edge-defined Film-fed Growth)법, 수직수평온도구배법(VHGF) 등 다양한 방법으로 단결정으로 성장시킨 잉곳 봉(Ingot Boule)을 코어링(Coring), 그라인딩(Grinding), 슬라이싱(Slicing), 래핑(Lapping), 열처리, 폴리싱(Polishing) 등 일련의 연삭 및 연마공정을 거쳐 제작된다.
한편, 사파이어 단결정을 생산하는 데 있어 기포(Bubble) 제어와 전위(Dislocation) 제어가 품질에 큰 영향을 미친다.
전위는 결정성장 후 식각(Etching)법을 이용해 측정할 수 있으며, 이러한 전위 생성은 결정 성장 시 발생하는 결정 내외부의 온도 차, 즉 열응력에 의해 발생되며, 이러한 열응력을 제어함으로써 발생되는 전위의 농도를 제어할 수 있다.
한편, 종래기술에 의한 키로풀러스법은 측부와 하부에서의 히팅(Heating)으로 결정상부는 차가우며, 하부는 뜨거워 결정의 상부와 하부 사이에 온도구배가 발생되는 구조이다. 이러한 온도구배로 인해 열응력이 발생하게 되고, 열응력에 의해 전위가 생성되게 된다. 따라서 이러한 열응력을 제어할 수 있는 추가적인 장치가 필요하다.
실시예는 사파이어(Sapphire) 단결정의 품질 중 전위 품질을 제어할 수 있는 사파이어 잉곳 성장장치를 제공하고자 한다.
실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치는 챔버; 상기 챔버 내에 구비되어 알루미나 융액을 수용하는 도가니; 상기 도가니 외측에 구비되어 상기 도가니를 가열하는 히터; 및 상기 도가니로부터 성장되는 잉곳 상측에 구비되어 상기 잉곳에 열을 가하는 열공급부;를 포함한다.
실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치에 의하면, 사파이어 단결정 잉곳의 상부에 히터(Heater)나 리플렉터(Reflector) 등과 같은 열공급부를 구비함으로써 사파이어 단결정의 상부와 하부의 온도편차를 줄임으로써 열응력을 감소시키고, 이를 통해 전위 발생을 억제할 수 있다.
또한, 실시예에 의하면 열응력의 제어에 의해 사파이어 단결정 성장시의 스트럭쳐 로스(Structure loss)와 같은 문제를 해결할 수 있을 뿐만 아니라, 열응력에 의해 발생되는 전위농도를 제어함으로써 고품질의 사파이어단결정을 성장시킬 수 있다.
도 1은 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치의 예시도.
도 2는 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치의 부분 확대 예시도.
도 3은 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치의 평면도 예시도.
도 4는 비교예의 결정 내외부의 온도편차 예시도.
도 5 및 도 6은 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치 적용시 결정 내외부의 온도편차 예시도.
도 7은 비교예의 열응력 분포 예시도.
도 8 및 도 9는 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치 적용시 열응력 분포 예시도.
실시 예의 설명에 있어서, 각 웨이퍼, 장치, 척, 부재, 부, 영역 또는 면 등이 각 웨이퍼, 장치, 척, 부재, 부, 영역 또는 면등의 "상(on)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상(on)"과 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 구성요소를 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 구성요소의 "상" 또는 "아래"에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다. 도면에서의 각 구성요소들의 크기는 설명을 위하여 과장될 수 있으며, 실제로 적용되는 크기를 의미하는 것은 아니다.
(실시예)
도 1은 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치(100)의 예시도이며, 도 2는 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치(100)의 부분 확대 예시도이고, 도 3은 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치(100)의 평면도 예시도이다.
실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치(100)는 초크랄스키법(Czochralski Method) 또는 키로풀러스법(Kyropoulos Method)이 적용될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치(100)는 챔버(110)와, 상기 챔버(110) 내에 구비되어 알루미나 융액(M)을 수용하는 도가니(120)와, 상기 도가니(120) 외측에 구비되어 상기 도가니(120)를 가열하는 히터(130) 및 상기 도가니(120)로부터 성장되는 잉곳(IG) 상측에 구비되어 상기 잉곳(IG)에 열을 가하는 열공급부(150)를 포함할 수 있다.
상기 챔버(110)는 사파이어 잉곳(IG)을 성장시키기 위한 소정의 공정들이 수행되는 공간을 제공한다.
상기 도가니(120)는 알루미나 융액을 담을 수 있도록 상기 챔버(110)의 내부에 구비되며, 텅스텐(W) 또는 몰리브덴(Mo) 등의 재질로 이루어질 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 히터(130)는 측면 히터(132)와 하부 히터(134)를 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 히터(130)는 저항 가열히터 또는 유도 가열 히터일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
예를 들어, 상기 히터(130)가 저항 가열 히터인 경우 상기 히터(130)는 그라파이트(C), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo) 등으로 제조될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
한편, 상기 히터(130)가 유도 가열히터인 경우 RF-코일(coil)(미도시)을 구비하고, 상기 도가니(120)는 이리듐(Iridium:Ir) 도가니일 수 있다. 상기 RF-코일은 고전압의 전류의 흐름 방향이 무선주파수(Radio Frequency)로 바뀌면서 Ir-도가니 표면에 유도전류를 발생시킨다. 상기 Ir-도가니는 유도전류의 흐름방향 변화에 의한 도가니 표면의 스트레스(Stress)에 기인한 열을 발생시키며, 용융된 고온의 알루미나(Al2O3)를 담고 있는 용탕으로 역할을 할 수 있다.
실시예는 상기 챔버(110) 내측에 히터(130)의 열이 방출되지 못하도록 복사 단열재(140)를 구비할 수 있다. 상기 단열재(140)는 도가니(120)의 측면에 배치되는 측면 단열재(142)와 도가니(120)의 하측에 배치되는 하부 단열재(144)를 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 단열재(140)는 히터(130) 및 도가니(120)에서 최적의 열적 분포를 내고 그 에너지를 최대한 손실 없이 활용 가능하도록 재질과 형상으로 설계될 수 있다.
일반적으로, 고온의 사파이어 융액(Melt)(M)에서 단결정을 성장시키는 방법에서는 잉곳 내부에 온도편차가 발생하게 되고, 이로 인해 열응력이 발생하게 된다.
실시예는 이러한 열응력을 제어하기 위해서는 온도편차를 작게 하기 위해 사파이어 잉곳(IG) 상부에 상부 히터(Upper Heater)나 리플렉터(Reflector) 등과 같은 열공급부(150)를 설치함으로써 사파이어 잉곳(IG)의 온도편차를 줄일 수 있다.
실시예에서 열공급부(150)가 상부 히터인 경우, 상부 히터의 사이즈(size)는 잉곳 사이즈(size)에 비례해서 증가할 수 있으며, 이에 따라 최대 직경은 잉곳의 직경일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 상부 히터의 재질은 텅스텐이나 그라파이트(Graphite) 재질일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 상부 히터는 저항 가열식일 수 있으며, 이에 따라 전극(152)에서의 전기가 가해짐에 따라 상부 히터 자체에서 발열할 수 있다.
한편, 상기 열공급부(150)가 상기 챔버(110)로부터 발생되는 열을 상기 잉곳(IG)의 상측에 반사하는 리플렉터(reflector)를 구비하는 경우, 상기 리플렉터는 몰리브덴 등과 같은 반사율이 높은 물질로 제조될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
실시예에서 상기 열공급부(150)는, 상기 알루미나 융액(M) 표면에 수평하거나 상기 알루미나 융액 표면에 대해 약 -30° 내지 약 +30°의 각도로 배치됨으로써 잉곳에 대해 열공급을 효율적으로 진행할 수 있다.
도 4는 비교예의 결정 내외부의 온도편차 예시도이며, 도 5 및 도 6은 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치 적용시 결정 내외부의 온도편차 예시도이다.
예를 들어, 도 5는 리플렉터(Reflector)를 설치한 경우의 잉곳 내외부의 온도편차이며, 도 6은 상부 히터를 설치하고, 약 5KW의 파워(Power)를 가했을 경우 잉곳 내외부의 온도편차를 나타낸 것이다.
실시예에 의하면, 리플텍터와 상부 히터를 설치하였을 경우 축 방향의 온도구배인 ΔTy 값 및 수평 방향의 온도 구배인 ΔTx 값이 줄어드는 것을 알 수 있다.
도 7은 비교예의 열응력 분포 예시도이며, 도 8 및 도 9는 실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치 적용시 열응력 분포 예시도이다.
예를 들어, 도 8은 리플렉터를 설치한 경우의 열응력 분포 예시도이며, 도 9는 상부 히터를 설치한 경우의 열응력 분포 예시도이다.
상술한 바와 같이, 열공급부(150)의 채용에 따른 온도구배의 감소는 도 8 및 도 9와 같은 열응력의 차이로 나타난다. 도 7의 비교예(Reference) 값에 비해 도 8 및 도 9의 조건에서 열응력 값이 줄어드는 것을 확인할 수 있으며, 이를 통해 전위 농도를 제어할 수 있다.
실시예에 따른 사파이어 잉곳 성장장치에 의하면, 사파이어 단결정 잉곳의 상부에 히터(Heater)나 리플렉터(Reflector) 등과 같은 열공급부를 구비함으로써 사파이어 단결정의 상부와 하부의 온도편차를 줄임으로써 열응력을 감소시키고, 이를 통해 전위 발생을 억제할 수 있다.
또한, 실시예에 의하면 열응력의 제어에 의해 사파이어 단결정 성장시의 스트럭쳐 로스(Structure loss)와 같은 문제를 해결할 수 있을 뿐만 아니라, 열응력에 의해 발생되는 전위농도를 제어함으로써 고품질의 사파이어단결정을 성장시킬 수 있다.
이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 실시예를 한정하는 것이 아니며, 실시예가 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 설정하는 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (5)

  1. 챔버;
    상기 챔버 내에 구비되어 알루미나 융액을 수용하는 도가니;
    상기 도가니 외측에 구비되어 상기 도가니를 가열하는 히터; 및
    상기 도가니로부터 성장되는 잉곳 상측에 구비되어 상기 잉곳에 열을 가하는 열공급부;를 포함하는 사파이어 잉곳 성장장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 열공급부는,
    상기 알루미나 융액 표면에 수평하거나 상기 알루미나 융액 표면에 -30° 내지 +30°의 각도로 배치되는 단결정 성장장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 열공급부는,
    발열하는 상부 히터를 포함하는 단결정 성장장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 상부 히터는,
    저항 가열 상부 히터를 구비하는 단결정 성장장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 열공급부는,
    상기 챔버로부터 발생되는 열을 상기 잉곳의 상측에 반사하는 리플렉터를 포함하는 단결정 성장장치.
KR1020100113238A 2010-11-15 2010-11-15 사파이어 잉곳 성장장치 KR101263082B1 (ko)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100113238A KR101263082B1 (ko) 2010-11-15 2010-11-15 사파이어 잉곳 성장장치
PCT/KR2011/008507 WO2012067372A2 (en) 2010-11-15 2011-11-09 Sapphire ingot grower
JP2013538638A JP2013542169A (ja) 2010-11-15 2011-11-09 サファイアインゴットの成長装置
EP11841249.3A EP2640875A4 (en) 2010-11-15 2011-11-09 DEVICE FOR GROWING A SAPPHIRE BAG
CN201180053669.1A CN103201415B (zh) 2010-11-15 2011-11-09 蓝宝石锭生长机
US13/297,023 US20120118228A1 (en) 2010-11-15 2011-11-15 Sapphire ingot grower
TW100141645A TWI458865B (zh) 2010-11-15 2011-11-15 藍寶石單晶錠長晶器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100113238A KR101263082B1 (ko) 2010-11-15 2010-11-15 사파이어 잉곳 성장장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120051894A true KR20120051894A (ko) 2012-05-23
KR101263082B1 KR101263082B1 (ko) 2013-05-09

Family

ID=46046637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100113238A KR101263082B1 (ko) 2010-11-15 2010-11-15 사파이어 잉곳 성장장치

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20120118228A1 (ko)
EP (1) EP2640875A4 (ko)
JP (1) JP2013542169A (ko)
KR (1) KR101263082B1 (ko)
CN (1) CN103201415B (ko)
TW (1) TWI458865B (ko)
WO (1) WO2012067372A2 (ko)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10052848B2 (en) 2012-03-06 2018-08-21 Apple Inc. Sapphire laminates
TW201350632A (zh) * 2012-06-12 2013-12-16 Wcube Co Ltd 藍寶石製造裝置及鏡頭保護玻璃
US9221289B2 (en) * 2012-07-27 2015-12-29 Apple Inc. Sapphire window
TWI460319B (zh) * 2012-12-28 2014-11-11 Sino American Silicon Prod Inc 長晶裝置及晶體製造方法
US9232672B2 (en) 2013-01-10 2016-01-05 Apple Inc. Ceramic insert control mechanism
US9657411B2 (en) * 2013-01-23 2017-05-23 Lg Siltron Incorporated Single-crystal growth apparatus
TWI529265B (zh) * 2013-03-15 2016-04-11 聖高拜陶器塑膠公司 以斜角熱遮板製造藍寶石薄片之裝置及方法
KR101472351B1 (ko) * 2013-03-20 2014-12-12 주식회사 엘지실트론 사파이어 단결정 성장의 해석 방법 및 사파이어 단결정의 성장 방법
US9678540B2 (en) 2013-09-23 2017-06-13 Apple Inc. Electronic component embedded in ceramic material
US9632537B2 (en) 2013-09-23 2017-04-25 Apple Inc. Electronic component embedded in ceramic material
US9154678B2 (en) 2013-12-11 2015-10-06 Apple Inc. Cover glass arrangement for an electronic device
US9225056B2 (en) 2014-02-12 2015-12-29 Apple Inc. Antenna on sapphire structure
DE212015000206U1 (de) 2014-08-27 2017-05-02 Apple Inc. Saphirabdeckung für elektronische Vorrichtungen
CN104451879A (zh) * 2014-11-24 2015-03-25 河南晶格光电科技有限公司 一种蓝宝石晶棒生产工艺
EP3042986A1 (en) * 2015-01-09 2016-07-13 Forschungsverbund Berlin e.V. Method for growing beta phase of gallium oxide (ß-Ga2O3) single crystals from the melt contained within a metal crucible by controlling the partial pressure of oxygen.
US10406634B2 (en) 2015-07-01 2019-09-10 Apple Inc. Enhancing strength in laser cutting of ceramic components
AT524600B1 (de) 2020-12-29 2023-05-15 Fametec Gmbh Verfahren zur Herstellung eines einkristallinen Kristalls, insbesondere eines Saphirs
AT524602B1 (de) 2020-12-29 2023-05-15 Fametec Gmbh Vorrichtung zur Herstellung eines Einkristalls

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6046998A (ja) * 1983-08-26 1985-03-14 Sumitomo Electric Ind Ltd 単結晶引上方法及びそのための装置
JPH0261965U (ko) * 1988-10-27 1990-05-09
JPH04170388A (ja) * 1990-10-31 1992-06-18 Nec Corp 結晶育成装置
JPH0754290Y2 (ja) * 1992-11-30 1995-12-18 日本鋼管株式会社 単結晶の製造装置
JP3662962B2 (ja) * 1994-12-22 2005-06-22 Tdk株式会社 単結晶の製造方法及び装置
DE602005022316D1 (de) * 2004-08-05 2010-08-26 Amosov Vladimir Iljich Vorrichtung zum ziehen von einkristallen aus einer schmelze
JP2006176359A (ja) * 2004-12-22 2006-07-06 Tdk Corp 単結晶の製造装置及び製造方法
JP2007223830A (ja) * 2006-02-22 2007-09-06 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 酸化物単結晶の育成方法
US20090130415A1 (en) * 2007-11-21 2009-05-21 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. R-Plane Sapphire Method and Apparatus
JP5163101B2 (ja) * 2007-12-25 2013-03-13 信越半導体株式会社 単結晶製造装置および製造方法
KR20100056640A (ko) * 2008-11-20 2010-05-28 주식회사 실트론 단결정 성장장치
CN103703170B (zh) * 2011-06-06 2017-04-26 Gtat公司 用于晶体生长装置的加热器组件
TW201350632A (zh) * 2012-06-12 2013-12-16 Wcube Co Ltd 藍寶石製造裝置及鏡頭保護玻璃

Also Published As

Publication number Publication date
EP2640875A4 (en) 2014-05-07
WO2012067372A3 (en) 2012-09-20
EP2640875A2 (en) 2013-09-25
TW201224226A (en) 2012-06-16
CN103201415A (zh) 2013-07-10
CN103201415B (zh) 2016-10-26
US20120118228A1 (en) 2012-05-17
KR101263082B1 (ko) 2013-05-09
TWI458865B (zh) 2014-11-01
WO2012067372A2 (en) 2012-05-24
JP2013542169A (ja) 2013-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101263082B1 (ko) 사파이어 잉곳 성장장치
US9068277B2 (en) Apparatus for manufacturing single-crystal silicon carbide
US8597756B2 (en) Resistance heated sapphire single crystal ingot grower, method of manufacturing resistance heated sapphire single crystal ingot, sapphire single crystal ingot, and sapphire wafer
KR20150060690A (ko) 실리콘 단결정 육성장치 및 실리콘 단결정 육성방법
KR101574749B1 (ko) 단결정 제조용 상부히터, 단결정 제조장치 및 단결정 제조방법
KR101048831B1 (ko) 단결정 제조용 흑연 히터 및 단결정 제조장치와 단결정 제조방법
KR101680215B1 (ko) 실리콘 단결정 잉곳 제조 방법 및 그 제조방법에 의해 제조된 실리콘 단결정 잉곳
US9938633B2 (en) System for manufacturing a crystalline material by directional crystallization provided with an additional lateral heat source
JPH09221380A (ja) チョクラルスキー法による結晶製造装置、結晶製造方法、およびこの方法から製造される結晶
KR100297575B1 (ko) 단결정제조방법및그인발장치
KR20130119096A (ko) 잉곳 성장 방법 및 잉곳
KR101333791B1 (ko) 단결정 성장장치
KR101020429B1 (ko) 비저항 특성이 균일한 단결정 제조방법 및 이 방법에 의해 제조된 단결정
JP4148060B2 (ja) 単結晶製造用黒鉛ヒーター及び単結晶製造装置ならびに単結晶製造方法
JP4218460B2 (ja) 単結晶製造用黒鉛ヒーター及び単結晶製造装置ならびに単結晶製造方法
JP2019514836A (ja) 単結晶シリコンの半導体ウェハを製造するための方法、単結晶シリコンの半導体ウェハを製造するための装置および単結晶シリコンの半導体ウェハ
KR101339151B1 (ko) 단결정 실리콘 잉곳 제조 장치 및 방법
JPS6395196A (ja) 単結晶の育成方法
KR100868192B1 (ko) 가변 자기장을 이용한 반도체 단결정 제조 방법, 그 장치및 반도체 단결정 잉곳
RU2531514C1 (ru) Нагреватель устройства для выращивания монокристаллов из расплава методом чохральского
KR20140101538A (ko) 사파이어 잉곳의 성장 장치
JP2018193277A (ja) 結晶育成装置
JP2004217502A (ja) 単結晶製造用黒鉛ヒーター及び単結晶製造装置ならびに単結晶製造方法
JP2014062044A (ja) 四角形の単結晶シリコンウェ−ハ
KR20140101938A (ko) 단결정 성장 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160401

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170328

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180319

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190325

Year of fee payment: 7