KR20110092172A - 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법 - Google Patents
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 239000007921 spray Substances 0.000 title claims abstract description 17
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 title description 36
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title description 3
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 23
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 claims abstract description 11
- NWZSZGALRFJKBT-KNIFDHDWSA-N (2s)-2,6-diaminohexanoic acid;(2s)-2-hydroxybutanedioic acid Chemical compound OC(=O)[C@@H](O)CC(O)=O.NCCCC[C@H](N)C(O)=O NWZSZGALRFJKBT-KNIFDHDWSA-N 0.000 claims abstract description 7
- IKDUDTNKRLTJSI-UHFFFAOYSA-N hydrazine monohydrate Substances O.NN IKDUDTNKRLTJSI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 7
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- HUKFCVYEXPZJJZ-UHFFFAOYSA-N cadmium;hydrate Chemical compound O.[Cd] HUKFCVYEXPZJJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims abstract 6
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 18
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 claims description 4
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 claims description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 2
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 abstract 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 235000011121 sodium hydroxide Nutrition 0.000 description 5
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000908 ammonium hydroxide Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 3
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000007514 bases Chemical class 0.000 description 2
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000224 chemical solution deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 2
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003917 TEM image Methods 0.000 description 1
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- DZVRGWYMCGLNKJ-UHFFFAOYSA-J cadmium dichloride hemipentahydrate Chemical compound O.O.O.O.O.Cl[Cd]Cl.Cl[Cd]Cl DZVRGWYMCGLNKJ-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N copper indium Chemical compound [Cu].[In] HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- ZZEMEJKDTZOXOI-UHFFFAOYSA-N digallium;selenium(2-) Chemical compound [Ga+3].[Ga+3].[Se-2].[Se-2].[Se-2] ZZEMEJKDTZOXOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002524 electron diffraction data Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000000445 field-emission scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 1
- -1 hemi cadmium chloride pentahydrate Chemical compound 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N tellurium dioxide Chemical compound O=[Te]=O LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010896 thin film analysis Methods 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000002525 ultrasonication Methods 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0256—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
- H01L31/0264—Inorganic materials
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02623—Liquid deposition
- H01L21/02628—Liquid deposition using solutions
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- H—ELECTRICITY
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/072—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type
- H01L31/073—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type comprising only AIIBVI compound semiconductors, e.g. CdS/CdTe solar cells
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1828—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIBVI compounds, e.g. CdS, ZnS, CdTe
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
본 발명은 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 본 발명은 (i) 텔루륨 산화물, 염산, 카드뮴염 수화물 및 환원제를 포함하는 전구체 용액을 준비하는 단계; (ii) 상기 전구체 용액의 pH를 조절하는 단계; 및 (iii) 불활성 기체 또는 환원성 분위기 하에서 상기 전구체 용액을 기판에 스프레이 하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법에 관한 것이다.
Description
본 발명은 스프레이법을 이용하여 저온 증착함으로써 종래보다 균일하고 치밀한 태양전지용 CdTe 박막을 저가로 제조할 수 있는 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법에 관한 것이다.
카드뮴 텔루라이드(CdTe), 구리인듐셀레나이드(CuInSe2), 구리인듐갈륨디셀레나이드(CuInxGa(1-x)Se2) 및 무정형 실리콘(a-Si) 등과 같은 박막 소재는 제2세대 태양전지의 소재로서 현재 각광받고 있다. 박막 태양전지는 결정성 실리콘계 태양전지와 비교하면 낮은 공정비, 보다 가벼운 무게 및 유연성을 포함한 많은 장점을 지닌다.
한편, CdTe 박막 태양전지를 생산하기 위해 여러 가지 기술이 시도되어 왔는데, 예를들면 TCO(transparent conductive oxide) 박막 형성에는 CVD(chemical vapor deposition) 방법, CdS(cadmium sulfide) 박막 형성에는 CSS(closed space sublimation) 또는 CBD(chemical bath deposition) 방법, CdTe(cadmium telluride) 박막 형성에는 CSS 또는 VTD(vapor transport deposition) 방법, 그리고 후면 전극(back contact) 형성에는 스퍼터링(sputtering)이나 스크린 프린팅(screen printing) 방법이 사용되고 있다.
CdTe 박막을 형성하기 위한 기술로는 CSS, VTD, 열 증착(thermal evaporation), e-beam 증착, 스퍼터링 등이 사용되었고 이중 CSS와 VTD만이 대면적 CdTe 박막을 올리는데 성공적으로 채택되었다.
이러한 방법들을 이용하여 CdTe 박막 태양전지를 생산하는 경우의 문제점은 필요한 박막들을 형성하는데 있어서 너무 많은 다른 기술들이 요구된다는 것이다. 따라서 이러한 복잡한 생산과정은 높은 제조단가와 낮은 생산성을 가져오게 된다. 또한, CdTe 박막을 형성하기 위해 사용되는 CSS와 VTD 방법은 비교적 높은 공정 온도(>500℃)를 필요로 하는데, 이는 SnO2:F(fluorine-doped tin oxide)보다 높은 가시광 투과율로 태양전지에 더 적합한 것으로 알려진 ZnO:Al(aluminum-doped zinc oxide)나 ITO(indium tin oxide)등의 TCO 박막에 손상을 줄 수 있다.
상기 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명의 목적은 스프레이법을 이용하여 저온 증착함으로써 저가로 균일하고 치밀한 CdTe 박막을 형성할 수 있다는 점에 착안하여 본 발명을 완성하였다.
이에, 본 발명의 목적은 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법을 제공하는 데에 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 (i) 텔루륨 산화물, 염산, 카드뮴염 수화물 및 환원제를 포함하는 전구체 용액을 준비하는 단계; (ii) 상기 전구체 용액의 pH를 조절하는 단계; 및 (iii) 불활성 기체 또는 환원성 분위기 하에서 상기 전구체 용액을 기판에 스프레이 하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법을 제공한다.
상기 전구체 용액은 텔루륨 산화물 0.01-0.05 M, 염산 3.0-6.0 M, 카드뮴염 수화물 0.01-0.05 M 및 환원제 0.03-0.06 M을 포함하는 것이 바람직하다. 만약, 전구체 용액의 각 구성성분의 함량이 상기 범위를 벗어나면 균일하고 밀도가 높은 박막증착과 박막의 결정구조에 문제가 야기될 수 있다.
상기 환원제로는 히드라진 수화물을 포함할 수 있으며, 상기 전구체 용액의 pH는 10.5 내지 11.5로 조절하는 것이 바람직하다. 이때, pH 조절을 위하여 암모늄 하이드록사이드, 소듐 하이드록사이드, 가성소다 등의 염기성 화합물을 사용할 수 있으며, pH가 상기 범위를 벗어나 조절되면 균일하고 밀도가 높은 박막증착과 박막의 결정구조에 문제가 야기될 수 있다.
상기 기판은 (i) 기판을 농 수산화나트륨 용액에서 가열하여 세정하는 단계; 및 (ii) 기판에 초순수물을 가하여 초음파 세정하는 단계를 거쳐 기판을 미리 세정할 수 있다.
이하, 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.
1. 기판 세정
본 발명에서는 상업용 현미경 글래스(Fisher Scientific), 소다석회 유리 또는 코닝 유리를 기판으로 사용할 수 있으며, 기판의 상단에 ITO를 스퍼터링에 의해 증착시켜 사용한다. 이러한 기판은 수산화나트륨 수용액에서 초음파 처리한 후, 초순수물로 헹구어 준비한다.
2. CdTe 박막 증착
텔루륨 산화물(TeO2) 0.01 내지 0.05 M, 염산 3.0 내지 6.0 M, 염화카드뮴 헤미 펜타하이드레이트(CdCl2·2.5H2O) 0.01 내지 0.05 M 및 히드라진 하이드레이트(H4N2·X·H2O) 0.03 내지 0.06 M을 혼합하여 준비하며, 이때, 히드라진 하이드레이트는 Te4+로부터 Te2-를 얻고자 환원제로서 사용된다. 상기 전구체 용액의 pH를 10.5 내지 11.5로 유지하기 위하여 암모늄 하이드록사이드(NH4OH) 등과 같은 염기성 화합물을 상기 전구체 용액에 첨가한다.
상기 준비된 전구체 용액을 글래스/ITO 기판 상에 스프레이 증착시키고, 이때, 전구체 용액의 유속은 1-10 ml/초이며, 증착온도는 100-300℃이고, 증착시간은 1-10분일 수 있다.
박막의 결정화를 개선하고 산화를 방지하기 위하여, 증착된 CdTe 박막을 진공 혹은 질소 분위기 하에서 1-3 시간 동안 100-600℃에서 열처리할 수 있다.
본 발명에 따른 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법은 스프레이법을 이용하여 저온 증착함으로써 종래보다 매끈하고 치밀한 태양전지용 CdTe 박막을 저가로 제조할 수 있다.
도 1a는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 표면 형태를 나타낸 SEM 이미지이고,
도 1b는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 횡단면을 나타낸 SEM 이미지이고,
도 2는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 XRD 패턴을 나타낸 것이고,
도 3은 본 발명에 따른 CdTe 박막의 TEM-전자회절 패턴을 나타낸 것이고,
도 4는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 TEM 이미지를 나타낸 것이고,
도 5는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 UV-Vis 흡수 분석 결과를 나타낸 것이다.
도 1b는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 횡단면을 나타낸 SEM 이미지이고,
도 2는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 XRD 패턴을 나타낸 것이고,
도 3은 본 발명에 따른 CdTe 박막의 TEM-전자회절 패턴을 나타낸 것이고,
도 4는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 TEM 이미지를 나타낸 것이고,
도 5는 본 발명에 따른 CdTe 박막의 UV-Vis 흡수 분석 결과를 나타낸 것이다.
이하, 하기 실시예에 의해 본 발명을 보다 상세하게 설명한다. 그러나, 하기 실시예는 본 발명의 내용을 구체화하기 위한 설명일 뿐 실시예에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다.
<실시예 1> CdTe 박막 제조
1. 기판 세정
25.4mm X 76.2mm X 1mm 치수의 코닝 글래스 쿠폰을 기판로 이용하였다. 쿠폰의 상단에 ITO를 스퍼터링에 의해 증착시켰다. 글래스 상 ITO의 두께는 3㎛이며, 이의 광학 투시 및 전자 저항력은 각각 82% 및 2.25X10-4 Ωcm였다. 기판 세정은 농 수산화나트륨 용액에서 30분 동안 끓이면서 화학적으로 세정한 후, 초순수물로 초음파 처리하여 세정하였다.
2. 전구체 용액 제조
전구체 용액은 0.02M 텔루륨 산화물(TeO2, Ardrich), 4.7M 염산(Duksan Pure Chemical), 0.02M 염화카드뮴 헤미 펜타하이드레이트(CdCl2·2.5H2O, A.C.S regent) 및 0.48M 히드라진 하이드레이트(H4N2·X·H2O, Aldrich)를 혼합하여 준비하였다. 이때, 히드라진 하이드레이트는 Te4+로부터 Te2-를 얻고자 환원제로서 사용되었다. 상기 전구체 용액의 pH를 11로 유지하기 위하여 암모늄 하이드록사이드(NH4OH, Aldrich)를 상기 전구체 용액에 첨가하였다.
이렇게 준비된 전구체 용액을 300℃로 가열된 글래스/ITO 기판 상에 스프레이하였고, 캐리어 가스로 질소를 사용하였다. 모든 실험은 대기 조건에서 사용되었다. 이때, 스프레이를 위한 전구체 용액의 유속은 9.5 ml/min이었고, 180℃에서 3분 동안 스프레이 공정을 수행하여 증착하였다. 이렇게 얻어진 CdTe 박막의 두께는 약 10㎛이었다.
증착된 CuInSe2 박막의 결정화를 개선하고 산화를 방지하기 위하여, 증착된 CuInSe2 박막을 진공 혹은 질소 분위기 하에서 1시간 동안 300℃에서 열처리하였다.
<실시예 2> CdTe 박막 분석
1. 표면 형태 분석
글래스 기판 상에 증착된 다결정질의 CdTe 박막의 표면 형태를 분석하기 위하여, 주사전자현미경(SEM; Hitachi, LTD S-4800 FE-SEM)을 사용하였다.
도 1a에 스프레이법에 의해 증착된 CdTe 박막의 표면 형태를 나타내었고, 도 1b에 이러한 CdTe 박막의 횡단면의 이미지를 나타내었다. 도 1a 및 도 1b에 나타난 바와 같이, 스프레이법에 의해 증착된 CdTe 박막은 균일하게 분포된 입도를 지닌 표면을 나타내었고, 어떠한 빈 공간도 관찰되지 않았으며, 박막의 두께는 10㎛이었고, 이는 스프레이 시간에 따라 조절될 수 있다.
2. 구조 분석
글래스 기판 상에 증착된 다결정질의 CuInS2 박막의 구조 및 결정 방향성을 X-선 회절 분광계(XRD; PANalytical MPD for thin film)를 사용하여 결정하였다.
도 2에 도시된 바와 같이, XRD 분석에서 관찰된 최대 피크는 (111), (200), (220), (311), (222), (400), (331) 및 (422)로 나타났다. 이러한 회절 피크는 CdTe 표준(JCPDS 75-2086)에 대응하였다. 2θ=27.814°에서 검출된 최대 피크는 (200) 방향에 따라 방향성을 지닌 정방상 CdTe 구조를 의미하였다. CdTeO3의 형성은 관찰되지 않았다.
또한, CdTe 박막의 입자경과 결정성 구조를 조사하기 위하여 투사전자현미경(TEM; Hitachi H-7600) 분석을 수행하였다.
그 결과, 도 3과 같이 명확한 결정성 회절을 관찰하였고, 전자 패턴이 CdTe의 결정성 구조 형성을 나타내었다. 이러한 패턴은 정방 CdTe 구조(JCPDS 75-2083)와 부합하는 다결정질 박막 필름의 형성을 확인시켜 주었다. CdTe의 입자경은 도 4와 같이 약 20.23nm로 나타났고, 광학 밴드 갭 값은 도 5와 같이 ∼1.57eV로 측정되었다.
Claims (6)
- (i) 텔루륨 산화물, 염산, 카드뮴염 수화물 및 환원제를 포함하는 전구체 용액을 준비하는 단계;
(ii) 상기 전구체 용액의 pH를 조절하는 단계; 및
(iii) 불활성 기체 또는 환원성 분위기 하에서 상기 전구체 용액을 기판에 스프레이 하는 단계
를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법. - 청구항 1에 있어서, 상기 전구체 용액은 텔루륨 산화물 0.01-0.05 M, 염산 3.0-6.0 M, 카드뮴염 수화물 0.01-0.05 M 및 환원제 0.03-0.06 M을 포함하는, 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 환원제는 히드라진 수화물을 포함하는, 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 전구체 용액의 pH는 10.5 내지 11.5로 조절하는, 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 기판은 (i) 기판을 농 수산화나트륨 용액에서 가열하여 세정하는 단계; 및 (ii) 기판에 초순수물을 가하여 초음파 세정하는 단계를 거쳐 기판을 미리 세정하는, 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법.
- 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 열처리 단계는 진공 또는 질소 분위기 하 100-600℃에서 1-3 시간 동안 열처리하는, 스프레이법을 이용한 태양전지용 CdTe 박막의 제조방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100011684A KR101114635B1 (ko) | 2010-02-08 | 2010-02-08 | 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100011684A KR101114635B1 (ko) | 2010-02-08 | 2010-02-08 | 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110092172A true KR20110092172A (ko) | 2011-08-17 |
KR101114635B1 KR101114635B1 (ko) | 2012-03-13 |
Family
ID=44929153
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100011684A KR101114635B1 (ko) | 2010-02-08 | 2010-02-08 | 스프레이법을 이용한 박막태양전지용 CdTe 박막의 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101114635B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101463327B1 (ko) * | 2013-01-31 | 2014-12-03 | 영남대학교 산학협력단 | 스프레이법을 이용한 화합물 태양전지용 CuInSe₂박막의 제조방법 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6126740A (en) | 1995-09-29 | 2000-10-03 | Midwest Research Institute | Solution synthesis of mixed-metal chalcogenide nanoparticles and spray deposition of precursor films |
JP2001223376A (ja) | 2000-02-10 | 2001-08-17 | Midwest Research Inst | 多結晶半導体薄膜太陽電池の製造方法およびその方法で製造された太陽電池 |
US20070093006A1 (en) | 2005-10-24 | 2007-04-26 | Basol Bulent M | Technique For Preparing Precursor Films And Compound Layers For Thin Film Solar Cell Fabrication And Apparatus Corresponding Thereto |
WO2007120905A2 (en) | 2006-04-18 | 2007-10-25 | Dow Corning Corporation | Cadmium telluride-based photovoltaic device and method of preparing the same |
-
2010
- 2010-02-08 KR KR1020100011684A patent/KR101114635B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101463327B1 (ko) * | 2013-01-31 | 2014-12-03 | 영남대학교 산학협력단 | 스프레이법을 이용한 화합물 태양전지용 CuInSe₂박막의 제조방법 |
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Publication number | Publication date |
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KR101114635B1 (ko) | 2012-03-13 |
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