KR20110081378A - 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법 - Google Patents

메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치에 관한 것으로, 다수의 메모리 모듈 테스트를 위한 장치로 기존의 메모리 테스트용 PC를 수평 또는 계단식으로 배열하여 테스트하는 방식이 아닌 메모리 테스트 PC를 다수를 하나의 행으로 구성된 보드 어레이로 연결하고 테스트용 메모리 모듈을 삽입 또는 탈거 시 수평으로 보드 어레이가 돌출하여 로봇의 행동 반복 시간인 사이클 타임을 최소화하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법에 관한 것이다.
이를 위한 본 발명의 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법은, 테스트하기 위한 메모리 모듈을 공급하기 위해 적재된 트레이와; 상기 메모리 모듈을 테스트하기 위한 메모리 테스트 실장 기기들을 장착하면서 양방향 레일이 구성된 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트의 레일 상에서 양방향으로 이동 가능하게 구성되어 존재하고, 상하 수직이동으로 모듈을 장착하는 직교 좌표용 로봇을 구비한 로봇이동 어레이부와; 상기 베이스 플레이트 상에 양측으로 위치한 로봇이동 어레이부의 가운데서 소정 이격된 수직구조로 다수의 층으로 구획되게 적층하여 상기 적층된 사이에 냉각공간을 형성하고 상기 베이스 플레이트 일측 끝단에 두 개의 테스트 소켓을 구성한 보드 어레이와; 상기 보드 어레이부를 중앙에서 소정 범위로 좌우 각각 이동하게 하는 지지부재와; 상기 지지부재가 존재하는 중앙 천장부분에 열을 방출하는 후드; 로 구성된다.

Description

메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법{THE APPARATUS FOR FULLY AUTOMATION OF MEMORY MODULE TEST AND METHOD THEREFOR}
본 발명은 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 다수의 메모리 모듈 테스트를 위한 장치로 기존의 메모리 테스트용 PC를 수평 또는 계단식으로 배열하여 테스트하는 방식이 아닌 메모리 테스트 PC를 다수를 하나의 행으로 구성된 보드 어레이로 연결하고 테스트용 메모리 모듈을 삽입 또는 탈거 시 수평으로 보드 어레이가 돌출하여 로봇의 행동 반복 시간인 사이클 타임을 최소화하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법에 관한 것이다.
일반적으로 실장시스템을 자동화하기 위한 방법으로 실장 기기를 계단식으로 배열하거나 수직으로 배열하는 방법을 사용하고 있다.
그러나, 계단식의 경우는 보다 많은 실장기의 수납을 위해서는 자동화 장비의 공간이 커지는 단점이 있고, 기타 정비 성능에서 떨어지는 면이 있었다.
더욱이 수평의 형태로 행을 이루어 수직으로 배열한 실장 기기의 경우는 메모리 모듈의 삽입, 배출 시 로봇이 실장 기기를 회피하는 경로가 필요하므로 많은 실장 기기를 수납할 경우 회피 경로가 많아 이에 따른 효과를 기대하기 어렵게 된다.
상기 종래 기술에 따른 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 수직식 또는 계단식의 단점을 보완하여 한정된 공간에 대량의 메모리 테스트 실장 기기를 장착할 수 있게 하고, 보드가 장착된 소형 메인 보드 어레이가 모듈 삽입 배출 시 돌출하여 로봇의 동선을 최소화하고, 모든 소형 메인 보드에 모듈 삽입 배출 작업이 완료되면 자동으로 소형 메인 보드 어레이(행)가 원래의 위치로 돌아가 다른 행의 보드가 돌출 시 로봇의 간섭을 회피하도록 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법을 제공함에 있다.
또한, 보드 어레이(Board array)는 수평으로 움직이는 구조로 이는 메모리 모듈을 이송하는 로봇의 동선을 축소할 수 있으며 같은 공간 내에 메모리 모듈 테스터의 장착 수 또는 수납공간을 확보하는데 특징이 있는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법을 제공함에 있다.
또한, 각각의 메모리 테스트 PC는 메모리 모듈과 메모리 소켓의 탈착이 용이하도록 자동 소켓 지그가 개별 장착되어 장기간 테스트용으로 사용 시 메인보드 소켓의 수명을 증가시키는데 사용의 목적이 있는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법을 제공함에 있다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치 및 테스트 방법은, 테스트하기 위한 메모리 모듈을 공급하기 위해 적재된 트레이와; 상기 메모리 모듈을 테스트하기 위한 메모리 테스트 실장 기기들을 장착하면서 양방향 레일이 구성된 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트의 레일 상에서 양방향으로 이동 가능하게 구성되어 존재하고, 상하 수직이동으로 모듈을 장착하는 직교 좌표용 로봇을 구비한 로봇이동 어레이부와; 상기 베이스 플레이트 상에 양측으로 위치한 로봇이동 어레이부의 가운데서 소정 이격된 수직구조로 다수의 층으로 구획되게 적층하여 상기 적층된 사이에 냉각공간을 형성하고 상기 베이스 플레이트 일측 끝단에 두 개의 테스트 소켓을 구성한 보드 어레이와; 상기 보드 어레이부를 중앙에서 소정 범위로 좌우 각각 이동하게 하는 지지부재와; 상기 지지부재가 존재하는 중앙 천장부분에 열을 방출하는 후드; 로 구성된 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 로봇이동 어레이부는, 부품 삽입용 4핸드 구조에 직교 좌표용 로봇(robot)에 장착되어 개별적인 상하 이동과 좌우로 길이 확장으로 메모리 모듈을 트레이에서 파지하여 두 개의 테스트 소켓에 공급하는 것을 포함함을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 보드 어레이는, 지지부재를 중심으로 양측에 다수개로 수직하게 적층되어 양측 좌우로 각각 150㎜로 연장되는 것을 포함함을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 보드 어레이는, 수평으로 움직이는 구조로 메모리 모듈을 이송하는 로봇이동 어레이부의 동선을 축소할 수 있으며 같은 공간 내에 메모리 모듈 테스터의 장착 수와 수납공간을 확보하는 것을 포함함을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 보드 어레이는, 다수개의 테스트 소켓을 구성하면서 각각의 테스트 소켓에 열을 방열하는 냉각부가 부착된 것을 포함함을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 베이스 플레이트에 양측으로 보드 어레이가 존재하여 각각 보드 어레이가 검사하는 활동공간의 메인 구역부가 베이스 플레이트에 존재하는 레일을 따라 양측으로 각각 500㎜로 연장되는 좌우 슬라이딩 확장되는 것을 포함함을 특징으로 한다.
한편, 본 발명은 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법에 관한 것으로서, 다수개로 이루어진 보드 어레이가 행렬조합으로 셀 선정하는 단계; 직교 좌표용 로봇의 2핸드에 구비된 센서에 의해 테스트 소켓의 기준 블록을 스캐닝하는 단계; 기준이 되는 테스트 소켓의 X, Y 축 기준 좌표 생성하는 단계; 직교 좌표용 로봇의 2핸드 높이 Z축 좌표 생성하는 단계; 기준이 되는 테스트 소켓의 X, Y 좌표 대비 x’, y’ 좌표 연산 및 저장하는 단계; 선정 셀 좌표 저장하는 단계; 테스트 할 메모리 모듈을 테스트 소켓에 삽입 테스트 단계; 상기 테스트에 의한 저장된 위치를 정확하게 조정하는 단계; 정확한 위전 선정하여 셀 좌표에 업데이트하는 단계; 직교 좌표용 로봇의 2핸드가 테스트 소켓에 정확하게 삽입하는 특정 규칙에 해당하는 최종 로우 데이타를 저장하는 단계; 상기 로우 테이타를 통해 중앙 형성된 보드 어레이에 로봇 이동 어레이부가 메모리 모듈을 테스트 소켓에 실장하여 순차적으로 테스트 반복하는 자동 테스트 단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 자동 테스트 단계는, 트레이에 메모리 모듈 2개를 다운하는 단계; 직교 좌표용 로봇이 이동하여 트레이에서 메모리 모듈 2개를 픽업하는 단계; 상기 직교 좌표용 로봇이 보드 어레이 측으로 이동하는 단계; 상기 보드 어레이의 테스트 소켓에 직교 좌표용 로봇의 2핸드가 메모리 모듈을 삽입하는 단계; 테스트 완료 후 테스트 소켓에서 직교 좌표용 로봇이 메모리 모듈을 인출하는 단계; 상기 직교 좌표용 로봇에 의해 테스트 완료된 메모리 모듈을 반출하는 단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 직교 좌표용 로봇이 보드 어레이 측으로 이동하는 단계에서 직교 좌표용 로봇이 이동하는 동안 보드 어레이는 로봇이동 어레이부 측으로 150m 돌출되는 것을 포함함을 특징으로 한다.
상술한 바와 같은 본 발명은, 다수의 메모리 모듈 테스트를 위한 장치로 메모리 테스트 PC를 다수를 하나의 행으로 이루어진 보드 어레이로 연결하고 테스트용 메모리 모듈을 삽입 또는 탈거 시 수평으로 보드 어레이가 돌출하여 로봇의 행동 반복 시간인 사이클 타임을 최소화하는 효과가 있다.
그리고, 보드 어레이(Board array)의 각각의 메모리 테스트 PC는 메모리 모듈과 메모리 소켓의 탈착이 용이하도록 자동 소켓 지그가 개별 장착되어 장기간 테스트용으로 사용 시 메인보드 소켓의 수명을 증가시키는 효과가 있다.
아울러, 소형 메인 보드를 행으로 연결하여 사용한 메모리 실장 자동화 장비는 공간 대비 수납할 수 있는 실장 기기의 수를 늘릴 수 있고, 기존 수직 형태에서 문제가 된 로봇 회피영역이 사라지게 되므로 로봇의 최단 거리 이동이 가능하게 되므로 생산량을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치의 전체 구성도.
도 2는 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치의 메모리 모듈 픽업을 도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치의 메모리 모듈이 공급된 보드 어레이 테스트 존을 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치의 보드 어레이 구성을 나타낸 도면.
도 5는 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법을 나타낸 블록도.
도 6은 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법의 기준 좌표 형성을 나타낸 도면.
도 7은 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법의 자동 테스트 단계를 나타낸 블록도.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은,
테스트하기 위한 메모리 모듈을 공급하기 위해 적재된 트레이와;
상기 메모리 모듈을 테스트하기 위한 메모리 테스트 실장 기기들을 장착하면서 양방향 레일이 구성된 베이스 플레이트와;
상기 베이스 플레이트의 레일 상에서 양방향으로 이동 가능하게 구성되어 존재하고, 상하 수직이동으로 모듈을 장착하는 직교 좌표용 로봇을 구비한 로봇이동 어레이부와;
상기 베이스 플레이트 상에 양측으로 위치한 로봇이동 어레이부의 가운데서 소정 이격된 수직구조로 다수의 층으로 구획되게 적층하여 상기 적층된 사이에 냉각공간을 형성하고 상기 베이스 플레이트 일측 끝단에 두 개의 테스트 소켓을 구성한 보드 어레이와;
상기 보드 어레이부를 중앙에서 소정 범위로 좌우 각각 이동하게 하는 지지부재와;
상기 지지부재가 존재하는 중앙 천장부분에 열을 방출하는 후드; 로 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치를 제공함으로써 달성하였다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면에 의하여 상세하게 설명한다.
이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 하나의 실시 예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1은 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치의 전체 구성도이다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치는 다수의 메모리 모듈(102) 테스트를 위한 장치로 기존의 메모리 테스트용 PC를 수평 또는 계단식으로 배열하여 테스트하는 방식이 아닌 메모리 테스트 PC를 다수를 하나의 행으로 구성된 보드 어레이(140)로 연결하고 테스트용 메모리 모듈(102)을 삽입 또는 탈거 시 수평으로 보드 어레이(140)가 돌출하여 로봇의 행동 반복 시간인 사이클 타임을 최소화하는 것이다.
이러한, 상기 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치는 도 1 및 도 3에 도시된 바와 같이, 다수의 메모리 모듈(102) 테스트를 위한 장치로 본 발명의 일실시예에 따른 트레이(110), 베이스 플레이트(120), 로봇이동 어레이부(130), 보드 어레이(140), 지지부재(150), 후드(160)를 포함한다.
상기 트레이(110)는 테스트하기 위한 메모리 모듈(102)을 공급하기 위해 다수의 메모리 모듈(102)이 적재된다.
상기 트레이(110)는 메모리 모듈(102)을 적재할 수 있고, 적재된 트레이(110)를 검사영역 쪽으로 신속하고 원활하게 공급할 수 있다.
상기 트레이(110)에서 공급하는 메모리 모듈(102)을 테스트하기 위한 메모리 테스트 실장 기기들을 장착하면서 양방향 레일이 구성된 베이스 플레이트(120)는 검사 영역을 제공한다.
상기 베이스 플레이트(120)의 레일(122)이 수평상태가 유지될 수 있도록 공간을 제공한다.
그리고, 상기 베이스 플레이트(120)의 레일(122) 상에서 양방향으로 이동 가능하게 구성되는 로봇이동 어레이부(130)가 존재한다.
한편, 상기 베이스 플레이트(120)에 양측으로 보드 어레이(140)가 존재하여 각각 보드 어레이(140)가 검사하는 활동공간의 메인구역부(170)가 베이스 플레이트(120)에 존재하는 레일(122)을 따라 양측으로 각각 500㎜로 연장되는 좌우 슬라이딩 확장되는 것이다.
도 1에서 나타낸 메인구역부(170)는 소형 보드 어레이(140)의 고장 또는 교체를 위한 공간으로 비 가동 시 500mm 이동하여 작업성 향상을 도모하게 된다.
아울러, 상기 로봇이동 어레이부(130)는 상하 수직이동으로 모듈을 장착하는 직교 좌표용 로봇(132)을 구비한 것이다.
이러한, 상기 로봇이동 어레이부(130)는 도 2에 도시한 바와 같이 일측에 좌우 이동이 가능하게 장착된 부품 삽입용 핸드(134)가 4 핸드(134) 구조로 트레이(110)에서 메모리 모듈(102)을 픽업 및 테스트 소켓(142)에 2 핸드(134)가 이동하여 척킹하게 된다.
즉, 상기 로복이동 어레이부(130)는 연장되는 이동가능한 총 4 핸드(134)로 이루어져 4 핸드(134)에 4개의 메모리 모듈(102)을 장착하여 한 개의 층에서는 2 핸드(134) 만이 이동하여 2개의 메모리 모듈(102)을 척킹하고 다음 층에서 남아있는 2 핸드(134)가 이동하여 2개의 메모리 모듈(102)을 테스트 소켓(142)에 척킹하는 것이다.
상기 로봇이동 어레이부(130)는 일측에 4 핸드(134) 구조를 구성하면서 직교 좌표용 로봇(132)에 장착되어 개별적인 상하 이동과 좌우로 길이 확장으로 메모리 모듈(102)을 트레이(110)에서 파지하여 두 개의 테스트 소켓(142)에 공급하는 것이다.
상기 로봇이동 어레이부(130)는 제어신호에 따라 상하 이송하고 4 핸드(134) 구조를 좌우 연장하게 된다.
이때, 상기 로봇이동 어레이부(130)는 수평의 위치에 좌우 방향으로 연장되는 슬라이드 구조를 구성된 것으로 실린더 구성에 의해 직교 좌표용 로봇(132)이 상하 이동하고 직교 좌표용 로봇(132)의 일측에 구성된 2 핸드(134)를 실린더에 의해 길이 연장되는 것이다.
상기 로봇이동 어레이부(130)는 단계적으로 상하로 이동하면서 어느 소정 위치에 정지하여 좌우 2 핸드(134)를 일측으로 연장할 수 있는 것이다.
한편, 베이스 플레이트(120) 상에 양측으로 위치한 로봇이동 어레이부(130)의 가운데서 소정 이격된 수직구조로 다수의 층으로 구획되게 적층하여 상기 적층된 사이에 냉각공간을 형성하고, 상기 베이스 플레이트(120) 일측 끝단에 다수의 테스트 소켓(142)을 구성한 보드 어레이(140)가 구성된다.
이러한, 상기 보드 어레이(140)는 지지부재(150)를 중심으로 양측에 다수개로 수직하게 적층되어 양측 좌우로 각각 150㎜로 연장되는 것이다.
도 4에서 각각의 소형 보드 어레이(140)는 원터치 파워(146), 시그널 통합 커넥터(148)가 장착되어 작업 시간을 효과적으로 줄여줌과 동시에 메인 보드 별 파워를 중앙에서 공급하게 되므로 소형 보드 어레이(140)의 경량화를 이룰 수 있다.
이때, 상기 보드 어레이(140)를 중앙에서 소정 범위로 좌우 각각 이동하게 하는 지지부재(150)가 존재하며, 상기 지지부재(150)가 존재하는 중앙 천장부분에 열을 방출하는 후드(160)가 구성된다.
상기 보드 어레이(140)도 로봇이동 어레이부(130)와 마찬가지로 실린더에 의해 좌우 연장되는 것이다.
이때, 상기 보드 어레이(140)는 다수개의 테스트 소켓(142)을 구성하면서 각각의 테스트 소켓(142)에 열을 방열하는 냉각부(144)가 부착한다.
상기 냉각부(144)는 메모리 모듈 테스트에 의해 테스트 소켓에서 발생하는 열을 방열하여 기판 및 부품 등의 수명을 연장시킨다.
상기 테스트 소켓(142)은 메모리 모듈(102)을 장착하기 위한 구조로 이젝트 지그 구조를 가져 장착시 스트레스를 최소화하며, 안정적인 메모리 모듈(102)의 삽입과 배출이 용이하게 된다.
즉, 상기 테스트 소켓(142)을 이젝트 지그 형태로 구성하여 테스트 소켓 당 지그 장착으로 안정적인 메모리 모듈(102) 삽입 또는 배출이 가능하고, 2 핸드(134)에서 삽입과 이격시 메모리 모듈(102)의 파손 및 보드 파손을 방지한다.
그리고, 삽입과 배출이 신속하게 이루어져 반복적으로 이루어지는 테스트 단계의 사이클 시간을 단축하는데 도움을 준다.
이같이, 상기 보드 어레이(140)는 수평으로 움직이는 구조로 메모리 모듈(102)을 이송하는 로봇이동 어레이부의 (130)동선을 축소할 수 있으며 같은 공간 내에 메모리 모듈(102) 테스터의 장착 수와 수납공간을 확보하는 것이다.
이러한, 상기 보드 어레이(140)는 소형 메인 보드 어레이(140)로 도 3에 도시된 바와 같이 어레이 보드(140)가 수평(행 방향)으로 연장되며, 각각의 보드 어레이(140)는 다수의 레이어(층)을 이루어 설비의 내부에 장착되게 된다.
상기 보드 어레이(Board array)(140)는 수평으로 움직이는 구조로 이는 메모리 모듈(102)을 이송하는 로봇의 동선을 축소할 수 있으며 같은 공간 내에 메모리 모듈(102) 테스터의 장착 수 또는 수납공간을 확보하는데 있다.
또한, 상기 보드 어레이(140)에 구성되는 테스트 소켓(142)은 각각의 메모리 테스트 PC로 구성되어 메모리 모듈(102)과 테스트 소켓(142)의 탈착이 용이하도록 자동 소켓 지그가 개별 장착되어 장기간 테스트용으로 사용 시 메인보드 소켓의 수명을 증가시키는데 기여한다.
상기 보드 어레이(140)는 각각의 레이어(층)은 로봇의 이동경로 회피를 위해 테스트 중에는 회피 경로로 이동하게 되고, 테스트 할 메모리 모듈(102)의 탈착 시에는 로봇의 2 핸드(134) 영역으로 돌출하여 자재의 탈착 시간을 단축하게 한다.
이와 같이, 로봇이동 어레이부(130)는 제어신호에 따라 작업 핸드(134)를 움직여 트레이(110)를 이송하고, 2 핸드(134)에 의해 메모리 모듈(102) 부품을 픽업하여 조립대상물인 보드 어레이(140)의 테스트 소켓(142)에 조립하게 되고, 상기 제어기의 제어신호에 따라 작업 2 핸드(134)를 움직여 테스트가 종료된 메모리 모듈(102)을 트레이(110)로 다시 이송하는 작업이 이루어진다.
상기 로봇이동 어레이부(130)에서 2 핸드(134)가 보드 어레이(140)로 이동함과 동시에 2 핸드(134)를 마중 나가게 되는 150m로 연장되어 소정 위치에서 만나게 되는 보드 어레이(140)의 테스트 소켓(142)에 2 핸드(134)가 메모리 모듈(102)을 삽입하고, 메모리 모듈(102)을 장착한 보드 어레이(140)는 다시 지지부재(150) 측으로 복귀 후 테스트를 실행하게 된다.
이후, 테스트가 완료된 보드 어레이(140)는 다시 일측 방향으로 연장되고 메모리 모듈(102)을 수거하기 위해 로봇이동 어레이부(130)의 2 핸드(134)를 연장하여 접촉지점에서 메모리 모듈(102)을 수거하여 복귀하게 된다.
여기서, 도 1과 도 2에서 표현한 소형 보드 어레이(140)가 자재의 탈착 시 이동하는 것은 로봇이동 어레이부(130) 이동경로의 회피 경로를 최소화하기 위함도 있지만 일반적으로 수직으로 로봇이동 어레이부(130)의 회피 경로를 포함시켜 배치시킬 경우 단위 공간당 수납하는 메인보드 실장기의 수가 줄어들게 되면서 전체적인 생산성이 저하되는 것에 대한 대안이기도 하다.
아울러, 도 1에서와 같이 로봇이동 어레이부는 자재를 탈착, 이송에 사용되며 각각의 어레이의 돌출 및 회피는 프로그램 되어져 로봇의 작업 순서에 맞춰 이루어지게 된다.
도 2와 같이 보드 어레이(140)를 다수의 개를 하나의 행으로 연결하고, 이를 자재를 이송하는 로봇의 위치에서 동선을 최소화하는 모션을 구현할 수 있도록 하며, 소형 보드 어레이(140)가 로봇의 동선을 회피할 수 있도록 공압 또는 기타의 구동장치를 장치한다.
각각의 행은 자재의 이송 및 적재를 위해 로봇은 최단의 동선으로 이동할 수 있도록 프로그램 한다.
각각의 행은 자재의 삽입 배출이 완료되면 로봇 회피 영역으로 이동하여 메모리 모듈 테(102)스트를 진행하게 한다.
상술한 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법에 대하여 도 5을 이용하여 설명하면 다음과 같다.
도 5는 본 발명에 따른 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법을 나타낸 블록도이다.
상기 도면에 도시된 바와 같이, 먼저 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈(102) 테스트 방법은 테스트 작업을 순차적으로 공급과 테스트, 테스트 후 배출하는 흐름 작업을 자동으로 진행하는 것이다.
아울러, 다수개로 이루어진 보드 어레이(140)가 행렬조합으로 셀 선정하게 된다.(S110)
그리고, 직교 좌표용 로봇(132)의 2 핸드(134)에 구비된 센서에 의해 테스트 소켓(142)의 기준 블록을 스캐닝한다.(S120)
도 6에 도시한 바와 같이 다음으로 기준이 되는 테스트 소켓(142)의 X, Y 축 기준 좌표 생성한다.(S130)
그리고, 직교 좌표용 로봇(132)의 2 핸드(134) 높이 Z축 좌표 생성한다.(S140)
이에 기준이 되는 테스트 소켓(142)의 X, Y 좌표 대비 x’, y’ 좌표 연산 및 저장한다.(S150)
이렇게, 선정 셀 좌표 저장한다.(S160)
기준 좌표가 정해지면 테스트 할 메모리 모듈(102)을 테스트 소켓(142)에 삽입 테스트한다.(S170)
상기 테스트에 의한 저장된 위치를 정확하게 다시 조정하는 작없을 하게 된다.(S180)
아울러, 정확한 위전 선정되면 셀 좌표에 업데이트 한다.(S190)
업데이트가 완료되면 직교 좌표용 로봇(132)의 2 핸드(134)가 테스트 소켓(142)에 정확하게 삽입하는 특정 규칙에 해당하는 최종 로우 데이타를 저장한다.(S200)
상기 로우 테이타를 통해 중앙 형성된 보드 어레이(140)에 로봇이동 어레이부(130)가 메모리 모듈(102)을 테스트 소켓(142)에 실장하여 순차적으로 테스트 반복하는 자동 테스트가 이루어진다.(S210)
여기서, 상기 자동 테스트 단계(S210)는 도 7에 도시한 바와 같이 트레이(110)에 메모리 모듈(102) 2개를 다운한다.(211) (소요 시간 0.5 초)
직교 좌표용 로봇(132)이 이동하여 트레이(110)에서 메모리 모듈(102) 2개를 픽업한다.(S212)(소요 시간 1.5 초)
그리고, 상기 직교 좌표용 로봇(132)이 보드 어레이(140) 측으로 이동한다.(S213)(소요 시간 1.5 초)
여기서, 상기 직교 좌표용 로봇(132)이 보드 어레이(140) 측으로 이동하는 단계에서 직교 좌표용 로봇(132)이 이동하는 동안 보드 어레이(140)는 로봇이동 어레이부(130) 측으로 150m 돌출되는 것이다.
상기 보드 어레이(140)의 테스트 소켓(142)에 직교 좌표용 로봇(132)의 2 핸드(134)가 메모리 모듈(102)을 삽입한다.(S214)
상기 메모리 모듈(102) 삽입 후 테스트 완료 후 테스트 소켓(142)에서 직교 좌표용 로봇(132)이 메모리 모듈(102)을 인출한다.(S215)(소요 시간 0.5 초)
상기 직교 좌표용 로봇(132)에 의해 테스트 완료된 메모리 모듈(102)을 반출하는 단계로 이루어진다.(S216)(소요 시간 1 초)
이후, 상기 직교 좌표용 로봇(132)에서 메모리 모듈(102)을 외부로 반출하고,(소요 시간 0.5 초) 트레이(110)에서 새로운 메모리 모듈(102)을 삽입한다.
그리고, 상기 트레이(110) 측으로 직교 좌표용 로봇(132)이 이동하는 하게 된다.(소요 시간 1.5 초)
이렇게 다시 트레이(110)에 메모리 모듈(102) 2개를 다운하는 작업을 반복하고, 이동하여 메모리 모듈(102)을 직교 좌표용 로봇(132)이 메모리 모듈(102)을 픽업한다.
이같이, 본 발명에 따르면 소형 보드 어레이(140)를 행으로 연결하여 사용한 메모리 실장 자동화 장비로 공간 대비 수납할 수 있는 실장 기기의 수를 늘릴 수 있고, 기존 수직 형태에서 문제가 된 로봇 회피영역이 사라지게 되므로 로봇의 최단 거리 이동이 가능하게 되므로 생산량을 증대시킬 수 있게 된다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
102:메모리 모듈 110:트레이
120:베이스 플레이트 122:레일
130:로봇이동 어레이부 132:직교 좌표용 로봇
134:핸드 140:보드 어레이
142:테스트 소켓 144:냉각부
146:원터치 파워 148:시그널 통합 커넥터
150:지지부재 160:후드
170:메인구역부

Claims (9)

  1. 메모리 모듈의 오류를 검출하는 실장 테스트 장치에 있어서,
    테스트하기 위한 메모리 모듈을 공급하기 위해 적재된 트레이와;
    상기 메모리 모듈을 테스트하기 위한 메모리 테스트 실장 기기들을 장착하면서 양방향 레일이 구성된 베이스 플레이트와;
    상기 베이스 플레이트의 레일 상에서 양방향으로 이동 가능하게 구성되어 존재하고, 상하 수직이동으로 모듈을 장착하는 직교 좌표용 로봇을 구비한 로봇이동 어레이부와;
    상기 베이스 플레이트 상에 양측으로 위치한 로봇이동 어레이부의 가운데서 소정 이격된 수직구조로 다수의 층으로 구획되게 적층하여 상기 적층된 사이에 냉각공간을 형성하고 상기 베이스 플레이트 일측 끝단에 두 개의 테스트 소켓을 구성한 보드 어레이와;
    상기 보드 어레이부를 중앙에서 소정 범위로 좌우 각각 이동하게 하는 지지부재와;
    상기 지지부재가 존재하는 중앙 천장부분에 열을 방출하는 후드; 로 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 로봇이동 어레이부는,
    부품 삽입용 4핸드 구조에 직교 좌표용 로봇(robot)에 장착되어 개별적인 상하 이동과 좌우로 길이 확장으로 메모리 모듈을 트레이에서 파지하여 두 개의 테스트 소켓에 공급하는 것을 포함함을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 보드 어레이는,
    지지부재를 중심으로 양측에 다수개로 수직하게 적층되어 양측 좌우로 각각 150㎜로 연장되는 것을 포함함을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 보드 어레이는,
    수평으로 움직이는 구조로 메모리 모듈을 이송하는 로봇이동 어레이부의 동선을 축소할 수 있으며 같은 공간 내에 메모리 모듈 테스터의 장착 수와 수납공간을 확보하는 것을 포함함을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 보드 어레이는,
    다수개의 테스트 소켓을 구성하면서 각각의 테스트 소켓에 열을 방열하는 냉각부가 부착된 것을 포함함을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트에 양측으로 보드 어레이가 존재하여 각각 보드 어레이가 검사하는 활동공간의 메인 구역부가 베이스 플레이트에 존재하는 레일을 따라 양측으로 각각 500㎜로 연장되는 좌우 슬라이딩 확장되는 것을 포함함을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스터 장치.
  7. 메모리 모듈의 오류를 검출하는 실장 테스트 방법에 있어서,
    다수개로 이루어진 보드 어레이가 행렬조합으로 셀 선정하는 단계;
    직교 좌표용 로봇의 2핸드에 구비된 센서에 의해 테스트 소켓의 기준 블록을 스캐닝하는 단계;
    기준이 되는 테스트 소켓의 Ｘ, Ｙ축 기준 좌표 생성하는 단계;
    직교 좌표용 로봇의 2핸드 높이 Ｚ축 좌표 생성하는 단계;
    기준이 되는 테스트 소켓의 Ｘ, Ｙ 좌표 대비 Ｘ', Ｙ' 좌표 연산 및 저장하는 단계;
    선정 셀 좌표 저장하는 단계;
    테스트 할 메모리 모듈을 테스트 소켓에 삽입 테스트 단계;
    상기 테스트에 의한 저장된 위치를 정확하게 조정하는 단계;
    정확한 위전 선정하여 셀 좌표에 업데이트하는 단계;
    직교 좌표용 로봇의 2핸드가 테스트 소켓에 정확하게 삽입하는 특정 규칙에 해당하는 최종 로우 데이타를 저장하는 단계;
    상기 로우 테이타를 통해 중앙 형성된 보드 어레이에 로봇 이동 어레이부가 메모리 모듈을 테스트 소켓에 실장하여 순차적으로 테스트 반복하는 자동 테스트 단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 자동 테스트 단계는,
    트레이에 메모리 모듈 2개를 다운하는 단계;
    직교 좌표용 로봇이 이동하여 트레이에서 메모리 모듈 2개를 픽업하는 단계;
    상기 직교 좌표용 로봇이 보드 어레이 측으로 이동하는 단계;
    상기 보드 어레이의 테스트 소켓에 직교 좌표용 로봇의 2핸드가 메모리 모듈을 삽입하는 단계;
    테스트 완료 후 테스트 소켓에서 직교 좌표용 로봇이 메모리 모듈을 인출하는 단계;
    상기 직교 좌표용 로봇에 의해 테스트 완료된 메모리 모듈을 반출하는 단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 직교 좌표용 로봇이 보드 어레이 측으로 이동하는 단계에서 직교 좌표용 로봇이 이동하는 동안 보드 어레이는 로봇이동 어레이부 측으로 150m 돌출되는 것을 포함함을 특징으로 하는 메모리 모듈 테스트를 위한 메모리 모듈 테스트 방법.
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