KR20110055861A - Inspection device of liquid crystal display device - Google Patents

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KR20110055861A
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Abstract

PURPOSE: An inspection device of a liquid crystal display device is provided to detect a defect of a log signal line(Line On Glass). CONSTITUTION: First and second probe drives(110,120) apply an output inspection signal by a gate line and a data line of a liquid crystal display panel. First and second probe printed circuit boards(140,150) form a plurality of signal line patterns and provide an output inspection signal to the first and second probe drivers. First and second probe drivers are mounted on first and second flexible circuit boards(135,165) and have an input line pattern corresponding to the signal line patterns and an output line pattern corresponding to a gate line and a data line. A LOG short circuit detecting unit(180) is formed on the probe printed circuit boards to detect the short-circuit of an LOG signal line.

Description

액정표시패널의 검사장치{Inspection device of Liquid Crystal Display device}Inspection device of liquid crystal display panel

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 LOG 신호라인의 불량 여부를 검출하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정표시장치의 검사장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an inspection apparatus for a liquid crystal display device, which can improve reliability of a product by detecting a defective LOG signal line.

일반적으로, 화상 정보를 화면에 나타내는 화면 표시 장치들 중에서, 박막형 평판표시장치가 가볍고, 어느 장소에든지 쉽게 사용할 수 있다는 장점 때문에 근래에 집중적인 개발의 대상이 되고 있다. 특히, 액정표시장치는 해상도가 높고, 동화상을 실현하기에 충분할 만큼 반응 속도가 빠르기 때문에, 가장 활발한 연구가 이루어지고 있는 제품이다. In general, among the screen display devices for displaying the image information on the screen, the thin-film flat panel display device is a target of intensive development in recent years because of the advantages of being light and easy to use anywhere. In particular, the liquid crystal display device has a high resolution and a reaction rate is fast enough to realize a moving picture, and thus the most active research is being made.

이러한, 액정표시장치(Liquid Crystal Display: LCD)는 비디오 신호에 따라 액정셀들의 광 투과율을 조절함으로써 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열된 액정표시패널에 비디오 신호에 해당하는 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여, 액정표시장치는 액정셀들이 액티브 매트릭스(Active Matrix) 형태로 배열된 액정표시패널과, 상기 액정표시패널을 구동하기 위한 구동회로를 포함한다. Such a liquid crystal display (LCD) displays an image corresponding to a video signal on a liquid crystal display panel in which liquid crystal cells are arranged in a matrix by adjusting the light transmittance of the liquid crystal cells according to the video signal. To this end, the liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel in which liquid crystal cells are arranged in an active matrix form, and a driving circuit for driving the liquid crystal display panel.

구동회로부는 액정표시패널의 게이트라인에 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부와, 상기 액정표시패널의 데이터라인에 데이터 신호를 공급하는 데이터 구동부를 포함한다. 이때, 상기 데이터 구동부 및 게이트 구동부는 다수의 드라이버 IC칩(Integrated Circuit Chip)들로 집적화된다. The driving circuit unit includes a gate driver supplying a scan signal to a gate line of the liquid crystal display panel, and a data driver supplying a data signal to a data line of the liquid crystal display panel. In this case, the data driver and the gate driver are integrated into a plurality of driver integrated circuit chips.

집적화된 데이터 드라이버 IC칩과 게이트 드라이버 IC칩 각각은 액정표시장치에 실장 시키는 방법에 따라 TCP(Tape Carrier Package) 상에 실장하여 액정표시패널에 접속되는 TAB(Tape Automated Bonding) 방식과 TFT 어레이 기판 상에 드라이버 IC칩을 직접 실장하는 COG(Chip On Glass) 방식이 있다. Each of the integrated data driver IC chip and the gate driver IC chip is mounted on a tape carrier package (TCP) and connected to a liquid crystal display panel by a tape automated bonding (TAB) method and a TFT array substrate. There is a chip on glass (COG) method that directly mounts the driver IC chip.

최근에는 PCB의 크기를 최소화함으로써 액정표시장치를 더욱 박형화하기 위해, 드라이버 IC칩들에 접속된 신호라인들은 LOG(Line On Glass) 방식으로 글래스 기판 상에 형성하고 있는 추세이다. 상기 드라이버 IC칩들에 접속된 신호라인들을 상기 LOG 방식으로 박막트랜지스터 어레이 기판 상에 실장함으로써 인쇄회로기판을 제거하고 액정표시패널을 더욱 박형화할 수 있다. Recently, in order to further reduce the size of the liquid crystal display by minimizing the size of the PCB, signal lines connected to the driver IC chips are being formed on a glass substrate in a line on glass (LOG) manner. By mounting the signal lines connected to the driver IC chips on the thin film transistor array substrate in the LOG method, the printed circuit board may be removed and the liquid crystal display panel may be further thinned.

특히, 상대적으로 적은 신호라인들을 필요로 하는 게이트 드라이버 IC칩들에 접속된 신호라인들은 LOG 방식으로 박막트랜지스터 어레이 기판 상에 형성함으로써, 게이트 인쇄회로기판을 제거하는 방법이 많이 사용되고 있다. In particular, signal lines connected to gate driver IC chips requiring relatively few signal lines are formed on a thin film transistor array substrate in a LOG method, and thus, a method of removing a gate printed circuit board is widely used.

상기 LOG 방식을 적용한 신호라인들은 제1 및 제2 LOG 신호라인으로 구분될 수 있다. 상기 제1 LOG 신호라인은 데이터 PCB로부터 게이트 제어신호들 및 게이트 구동전압을 게이트 드라이버 IC칩으로 전송하는 신호라인이며, 제2 LOG 신호라인은 상기 게이트 드라이버 IC칩들을 서로 연결시키는 신호라인이다. Signal lines to which the LOG method is applied may be divided into first and second LOG signal lines. The first LOG signal line is a signal line for transmitting gate control signals and a gate driving voltage from a data PCB to a gate driver IC chip, and the second LOG signal line is a signal line for connecting the gate driver IC chips to each other.

한편, 이러한 LOG 방식의 액정표시장치는 액정표시패널의 불량 검출을 위해 오토-프로브(Auto-Probe) 검사가 실시된다. On the other hand, in the LOG type liquid crystal display device, an auto-probe test is performed to detect a failure of the liquid crystal display panel.

상기 LOG 방식의 액정표시장치에 오토-프로브 검사를 진행할 경우, 액정표시패널을 구동하기 위한 테스트 신호는 상기 액정표시패널에 부착된 인쇄회로기판과 직접적으로 접속되는 프로브 인쇄회로기판으로부터 제공된다. 상기 프로브 인쇄회로기판은 각각 상기 액정표시패널의 게이트 및 데이터 인쇄회로기판과 전기적으로 접속되어 테스트 신호를 상기 액정표시패널의 게이트라인 및 데이터라인으로 공급한다.When the auto-probe test is performed on the LOG type liquid crystal display device, a test signal for driving the liquid crystal display panel is provided from a probe printed circuit board directly connected to the printed circuit board attached to the liquid crystal display panel. The probe printed circuit board is electrically connected to the gate and the data printed circuit board of the liquid crystal display panel, respectively, and supplies a test signal to the gate line and the data line of the liquid crystal display panel.

그러나, 상기 LOG 방식의 액정표시장치의 제1 및 제2 LOG 신호라인은 상기 프로브 인쇄회로기판과 전기적으로 접속되지 않기 때문에 이러한 오토-프로브 검사방법을 적용할 수 없다. 따라서, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 단락여부의 검사가 불가능하여 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 불량 여부를 검출하지 못하는 문제점이 있다. However, since the first and second LOG signal lines of the LOG type liquid crystal display are not electrically connected to the probe printed circuit board, such an auto-probe inspection method cannot be applied. Therefore, it is impossible to check whether the first and second LOG signal lines are short-circuited and thus fail to detect whether the first and second LOG signal lines are defective.

또한, 상기 LOG 방식의 액정표시장치의 액정표시패널의 모든 공정이 다 끝난 후에 별도의 검사 공정을 통해 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 불량 여부를 검사하게 된다. 따라서, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인은 오토-프로브 검사시에 불량 검사를 실시하지 못하고 별도의 검사 공정을 통해 불량 여부 검사를 실시하게 된다.In addition, after all the processes of the liquid crystal display panel of the LOG-type liquid crystal display device is finished, a separate inspection process is used to inspect whether the first and second LOG signal lines are defective. Therefore, the first and second LOG signal lines do not perform the defect inspection during the auto-probe inspection, and perform a defect inspection through a separate inspection process.

본 발명은 데이터 프로브 인쇄회로기판 및 게이트 프로브 인쇄회로기판 중 어느 하나의 프로브 인쇄회로기판을 통해 제1 및 제2 LOG 신호라인의 일측으로 그라운드(GND) 전압을 인가하고, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 타측을 상기 프로브 인쇄회로기판 상에 형성된 단선 검출부와 연결시켜 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 단락 여부를 판단할 수 있는 액정표시장치의 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다. The present invention applies a ground (GND) voltage to one side of the first and second LOG signal lines through one of the data probe printed circuit board and the gate probe printed circuit board, and the first and second signals. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus of a liquid crystal display device which can determine whether the first and second LOG signal lines are short-circuited by connecting the other side of the LOG signal line with a disconnection detector formed on the probe printed circuit board.

또한, 본 발명은 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 단락 여부를 판단하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정표시장치의 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다. In addition, an object of the present invention is to provide an inspection apparatus of a liquid crystal display device that can improve the reliability of the product by determining whether the first and second LOG signal line is short.

본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사장치는 표시영역과 비표시영역으로 구분되고, 상기 비표시영역의 일측에 형성된 제1 및 제2 LOG 신호라인을 구비한 액정표시패널을 검사하는 액정표시패널의 검사장치에 있어서, 상기 액정표시패널의 게이트라인 및 데이터라인으로 출력 검사 신호를 인가하는 제1 및 제2 프로브 드라이버와, 복수개의 신호 라인 패턴이 형성되어 상기 제1 및 제2 프로브 드라이버로 각각의 출력 검사 신호를 제공하는 제1 및 제2 프로브 인쇄회로기판과, 일면에 상기 제1 및 제2 프로브 드라이버가 실장되고, 상기 신호 라인 패턴과 대응하는 입력 라인 패턴과 상기 게이트라인 및 데이터라인에 대응하는 출력 라인 패턴을 갖 는 제1 및 제2 연성회로기판 및 상기 제1 및 제2 프로브 인쇄회로기판 중 어느 하나의 프로브 인쇄회로기판 상에 형성되어 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 단락 여부를 검출하는 LOG 단락 검출부를 포함한다.An inspection apparatus of a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention is divided into a display area and a non-display area, and a liquid crystal for inspecting a liquid crystal display panel having first and second LOG signal lines formed on one side of the non-display area. An inspection apparatus for a display panel, comprising: first and second probe drivers configured to apply an output test signal to a gate line and a data line of the liquid crystal display panel, and a plurality of signal line patterns to form the first and second probe drivers First and second probe printed circuit boards providing respective output test signals, and first and second probe drivers are mounted on one surface thereof, and an input line pattern corresponding to the signal line pattern, the gate line, and data. A probe printed circuit of any one of the first and second flexible printed circuit boards having an output line pattern corresponding to the line and the first and second probe printed circuit boards; Is formed on the plate and a LOG short circuit detecting unit for detecting whether a short circuit of the first and the 2 LOG signal line.

본 발명에 따른 액정표시장치의 검사장치는 프로브 인쇄회로기판 상에 LED를 구비한 단락 여부 검출부를 구비하여 상기 단락 여부 검출부의 입력단과 박막트랜지스터 어레이 기판상에 형성된 제1 및 제2 LOG 신호라인의 일측을 연결시키고, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 타측을 프로브 인쇄회로기판의 그라운드(GND) 전압과 접속시켜 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 단락 여부를 검출하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.An inspection apparatus of a liquid crystal display according to the present invention includes a short circuit detection unit having an LED on a probe printed circuit board, the first and second LOG signal lines formed on the input terminal of the short circuit detection unit and the thin film transistor array substrate. Connect one side and connect the other side of the first and second LOG signal lines with the ground (GND) voltage of the probe printed circuit board to detect the short circuit of the first and second LOG signal lines to improve the reliability of the product. You can.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명하기로 한다. Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 셀 공정을 마친 LOG 방식의 액정표시패널을 개략적으로 나타낸 도면이다. FIG. 1 is a view schematically illustrating a LOG type liquid crystal display panel after cell processing.

도 1에 도시된 바와 같이, LOG 방식의 액정표시패널(100)은 박막트랜지스터 어레이 기판(103)과, 컬러필터 기판(101)이 일정한 셀-갭을 갖도록 대향하여 합착되고, 상기 셀-갭에 액정층이 형성되어 구성된다. 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(103)은 상기 컬러필터 기판(101)에 비해 돌출되며, 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(103)의 돌출된 영역에는 제1 및 제2 게이트 패드부(115)와 제1 내지 제5 데이터 패드부(125)가 구비된다. 또한, 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(103)과 컬러 필터 기판(101)이 대향 합착된 영역에는 화상 표시부(105)가 구비된다. As shown in FIG. 1, the LOG type liquid crystal display panel 100 is bonded to the thin film transistor array substrate 103 and the color filter substrate 101 to face each other so as to have a constant cell gap. A liquid crystal layer is formed and comprised. The thin film transistor array substrate 103 is protruded compared to the color filter substrate 101, and the first and second gate pad portions 115 and the first to second portions are formed in the protruding regions of the thin film transistor array substrate 103. 5 data pad section 125 is provided. Also, an image display unit 105 is provided in an area where the thin film transistor array substrate 103 and the color filter substrate 101 face each other.

상기 박막트랜지스터 어레이 기판(103)의 화상 표시부(105)에는 복수의 게이트라인(도시하지 않음)들이 배열되어 상기 제1 및 제2 게이트 패드부(115)에 접속되고, 복수의 데이터라인(도시하지 않음)들이 배열되어 상기 제1 내지 제5 데이터 패드부(125)에 접속된다. 상기 게이트라인과 데이터라인들은 서로 교차하며, 그 교차부에 박막트랜지스터 및 화소 전극을 구비하는 화소들이 형성된다.In the image display unit 105 of the thin film transistor array substrate 103, a plurality of gate lines (not shown) are arranged to be connected to the first and second gate pad portions 115, and a plurality of data lines (not shown). Are arranged) and are connected to the first to fifth data pad portions 125. The gate line and the data line cross each other, and pixels having a thin film transistor and a pixel electrode are formed at an intersection thereof.

상기 컬러필터 기판(101)의 화상 표시부(105)에는 블랙 매트릭스에 의해 화소별로 분리되어 도포된 적색, 녹색 및 청색의 컬러필터와 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(103)에 구비된 화소전극과 함께 액정층에 전계를 형성하는 공통전극이 구비된다. The image display unit 105 of the color filter substrate 101 includes a red, green, and blue color filter separated and applied to each pixel by a black matrix, and a pixel electrode included in the thin film transistor array substrate 103. The common electrode is formed in the electric field.

한편, 상기 컬러필터 기판(101)에 비해 돌출된 박막트랜지스터 어레이 기판(103)에 구비된 제1 및 제2 게이트 패드부(115)와 제1 내지 제5 데이터 패드부(125)는 상기 화상 표시부(105)에 대응되도록 형성된다. 상기 제1 및 제2 게이트 패드부(115)는 도시하지 않은 게이트 드라이버와의 접속을 위한 다수의 제1 입력 패드(115a)들을 포함하고, 상기 제1 내지 제5 데이터 패드부(125)는 도시하지 않은 데이터 드라이버와의 접속을 위한 다수의 제2 입력패드(125a)들을 포함한다. Meanwhile, the first and second gate pad portions 115 and the first to fifth data pad portions 125 of the thin film transistor array substrate 103 protruding from the color filter substrate 101 are the image display portion. It is formed to correspond to the (105). The first and second gate pad portions 115 include a plurality of first input pads 115a for connection with a gate driver (not shown), and the first to fifth data pad portions 125 are illustrated. And a plurality of second input pads 125a for connection with a non-data driver.

상기 박막트랜지스터 어레이 기판(103)의 일측 단변 및 일측 장변이 만나는 모서리 영역은 더미 영역이지만, 상기 LOG 방식의 액정표시패널(100)에서는 상기 더미 영역에 제1 LOG 신호라인(160)을 형성하여 외부로부터 공급되는 게이트 제어신호 및 게이트 구동전압들을 데이터 인쇄회로기판(도시하지 않음)으로부터 게이트 드라이버로 공급한다.The edge region where one short side and one long side of the thin film transistor array substrate 103 meet is a dummy region. However, in the LOG type liquid crystal display panel 100, a first LOG signal line 160 is formed in the dummy region to externally form a dummy region. The gate control signal and the gate driving voltages supplied from the same are supplied from the data printed circuit board (not shown) to the gate driver.

또한, 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(103)의 더미 영역에는 상기 제1 LOG 신호라인(160)과 더불어 게이트 드라이버들 간을 서로 연결시키는 제2 LOG 신호라인(170)이 더 형성된다. In addition, a second LOG signal line 170 is further formed in the dummy region of the thin film transistor array substrate 103 to connect the gate drivers with the first LOG signal line 160.

이러한 액정표시패널(100)은 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사장치를 이용한 검사 공정을 실시하게 된다. The liquid crystal display panel 100 performs an inspection process using the inspection apparatus of the liquid crystal display device according to the present invention.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사장치를 이용하여 도 1에 도시된 액정표시패널을 검사하는 것을 개략적으로 나타낸 도면이다. FIG. 2 is a diagram schematically illustrating an inspection of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 1 by using an inspection apparatus of the liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사장치(200)는 액정표시패널(100)에 형성된 화소들의 불량 여부를 검사하기 위한 프로브 유닛으로 사용되어, 내장된 게이트 프로브 드라이버(110)와 데이터 프로브 드라이버(120)를 통해 액정표시패널(100)로 출력 검사 신호를 인가하여 불량을 검출한다. 1 and 2, the inspection apparatus 200 of the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention is used as a probe unit for inspecting whether the pixels formed in the liquid crystal display panel 100 are defective. Defects are detected by applying an output test signal to the liquid crystal display panel 100 through the built-in gate probe driver 110 and the data probe driver 120.

출력 검사 신호는 액정표시패널(100) 상에 육안으로 불량 여부를 식별하기 쉬운 화상이 디스플레이 되도록 하는 신호로, 상기 액정표시패널(100)의 게이트라인으로 인가되는 게이트 신호와 데이터라인으로 인가되는 데이터 신호를 의미한다. The output test signal is a signal for displaying an image on the liquid crystal display panel 100 that is easy to identify whether it is defective or not. The data is applied to the gate signal and the data line applied to the gate line of the liquid crystal display panel 100. It means a signal.

이러한 프로브 유닛은 게이트 프로브 드라이버(110)와, 데이터 프로브 드라이버(120)와, 제1 연성회로기판(135)과, 제2 연성회로기판(165)과, 데이터 프로브 인쇄회로기판(140) 및 게이트 프로브 인쇄회로기판(150) 등을 포함하여 구성된다. The probe unit includes a gate probe driver 110, a data probe driver 120, a first flexible printed circuit board 135, a second flexible printed circuit board 165, a data probe printed circuit board 140, and a gate. It is configured to include a probe printed circuit board 150 and the like.

상기 프로브 유닛의 중앙 부분에는 상기 액정표시패널(100)과 대응되는 빈 공간이 되는 검사 영역이 형성되어, 검사 영역에 위치하는 액정표시패널(100)의 불량 여부를 검사하게 된다. In the center portion of the probe unit, an inspection area that is an empty space corresponding to the liquid crystal display panel 100 is formed to inspect whether the liquid crystal display panel 100 positioned in the inspection area is defective.

상기 데이터 프로브 인쇄회로기판(140)에는 상기 액정표시패널(100) 상에 형성된 제1 내지 제5 데이터 패드부(125)와 전기적으로 접속된 제1 패드부(145)가 형성된다. 상기 게이트 프로브 인쇄회로기판(150)에는 상기 액정표시패널(100) 상에 형성된 제1 및 제2 게이트 패드부(115)와 전기적으로 접속된 제2 패드부(155)가 형성된다. The data probe printed circuit board 140 has a first pad part 145 electrically connected to the first to fifth data pad parts 125 formed on the liquid crystal display panel 100. The gate probe printed circuit board 150 has a second pad portion 155 electrically connected to the first and second gate pad portions 115 formed on the liquid crystal display panel 100.

구체적으로, 상기 제1 패드부(145)는 제1 연성회로기판(135)을 통해 상기 데이터 프로브 드라이버(120) 및 제1 내지 제5 데이터 패드부(125)와 전기적으로 연결되며, 상기 제2 패드부(155)는 상기 제2 연성회로기판(165)을 통해 상기 게이트 프로브 드라이버(110) 및 제1 및 제2 게이트 패드부(115)와 전기적으로 연결된다.In detail, the first pad part 145 is electrically connected to the data probe driver 120 and the first to fifth data pad parts 125 through the first flexible circuit board 135. The pad part 155 is electrically connected to the gate probe driver 110 and the first and second gate pad parts 115 through the second flexible printed circuit board 165.

상기 제1 및 제2 연성회로기판(135, 165)은 필름 형태의 테이프 캐리어 패키지(TCP:Tape Carrier Package)로 제조되어 액정표시패널(100)과 접속되는 일면에 각각 데이터 프로브 드라이버(120)와 게이트 프로브 드라이버(110)가 실장되고, 상기 드라이버(110, 120)의 양측으로 입력 라인 패턴과 출력 라인 패턴이 형성된다.The first and second flexible printed circuit boards 135 and 165 may be made of a tape carrier package (TCP) in the form of a film and may be connected to the liquid crystal display panel 100. The gate probe driver 110 is mounted, and input line patterns and output line patterns are formed at both sides of the drivers 110 and 120.

상기 제1 및 제2 연성회로기판(135, 165)의 출력 라인 패턴은 상기 액정표시패널(100)의 데이터라인 및 게이트라인과 집적 접속되어 상기 액정표시패널(100)로 화소별 불량 여부를 검사하기 위한 출력 검사 신호를 인가한다.Output line patterns of the first and second flexible printed circuit boards 135 and 165 are connected to the data lines and the gate lines of the liquid crystal display panel 100 to check for defects for each pixel in the liquid crystal display panel 100. Apply an output test signal to

상기 게이트 프로브 드라이버(110) 및 데이터 프로브 드라이버(120)는 입력 채널을 통하여 각각 게이트 프로브 인쇄회로기판(150)과 데이터 프로브 인쇄회로기 판(140)의 신호 라인 패턴으로부터 입력 검사 신호가 인가되면, 출력 채널을 통하여 액정표시패널(100)의 게이트라인 및 데이터라인으로 출력 검사 신호를 인가한다. When the gate probe driver 110 and the data probe driver 120 receive an input test signal from the signal line patterns of the gate probe printed circuit board 150 and the data probe printed circuit board 140 through the input channel, respectively, The output test signal is applied to the gate line and the data line of the liquid crystal display panel 100 through the output channel.

상기 게이트 프로브 드라이버(110) 및 데이터 프로브 드라이버(120)에는 상기 제2 및 제1 연성회로기판(165, 135)을 통하여 입력 상기 게이트 프로브 드라이버(110) 및 데이터 프로브 드라이버(120)로 입력 검사 신호를 인가하는 복수개의 신호 라인 패턴이 형성된다. An input test signal is input to the gate probe driver 110 and the data probe driver 120 through the second and first flexible printed circuit boards 165 and 135. A plurality of signal line patterns for applying the are formed.

상기 게이트 프로브 드라이버(110)는 도 3에 도시된 바와 같이, 제1 내지 제3 영역(A ~ C)으로 구분될 수 있고, 상기 제1 게이트 패드부(115) 또한 제1 내지 제3 영역(A' ~ C')으로 구분될 수 있다. As shown in FIG. 3, the gate probe driver 110 may be divided into first to third regions A to C, and the first gate pad part 115 may also be divided into first to third regions (see FIG. 3). A 'to C').

상기 게이트 프로브 드라이버(110)의 제1 영역(A)은 상기 제2 연성회로기판(165)을 통해 상기 제1 게이트 패드부(115)의 제1 영역(A')과 전기적으로 접속된다. 또한, 상기 게이트 프로브 드라이버(110)의 제2 영역(B)은 상기 제2 연성회로기판(165)을 통해 상기 제1 게이트 패드부(115)의 제2 영역(B')과 전기적으로 접속된다. 상기 게이트 프로브 드라이버(110)의 제3 영역(C)은 상기 제2 연성회로기판(165)을 통해 상기 제1 게이트 패드부(115)의 제3 영역(C')과 전기적으로 접속된다. The first region A of the gate probe driver 110 is electrically connected to the first region A ′ of the first gate pad part 115 through the second flexible circuit board 165. In addition, the second region B of the gate probe driver 110 is electrically connected to the second region B ′ of the first gate pad part 115 through the second flexible circuit board 165. . The third region C of the gate probe driver 110 is electrically connected to the third region C ′ of the first gate pad part 115 through the second flexible circuit board 165.

상기 제1 게이트 패드부(115)의 제1 영역(A')은 상기 제1 LOG 신호라인(160)과 전기적으로 접속되며, 상기 제1 게이트 패드부(115)의 제3 영역(C')은 상기 제2 LOG 신호라인(170)과 전기적으로 접속된다. 상기 제1 LOG 신호라인(160)으로 어떠 한 전기적인 신호가 입력되면 상기 신호는 상기 게이트 프로브 드라이버(110) 및 제1 게이트 패드부(115)를 통해 상기 제2 LOG 신호라인(170)으로 입력된다. The first area A 'of the first gate pad part 115 is electrically connected to the first LOG signal line 160 and the third area C' of the first gate pad part 115. Is electrically connected to the second LOG signal line 170. When an electrical signal is input to the first LOG signal line 160, the signal is input to the second LOG signal line 170 through the gate probe driver 110 and the first gate pad unit 115. do.

상기 게이트 프로브 인쇄회로기판(150)에는 상기 액정표시패널(100)의 더미 영역에 형성된 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)의 단락 불량을 검출하기 위한 LOG 단락 검출부(180)가 형성된다. The LOG probe short circuit detecting unit 180 is formed on the gate probe printed circuit board 150 to detect short circuit defects in the first and second LOG signal lines 160 and 170 formed in the dummy region of the liquid crystal display panel 100. do.

상기 제1 LOG 신호라인(160)은 제1 데이터 패드부(125) 및 제1 게이트 패드부(115)를 통해 상기 데이터 프로브 인쇄회로기판(140) 및 상기 LOG 단락 검출부(180)와 전기적으로 접속되어 있다. 상기 제2 LOG 신호라인(170)은 상기 제1 게이트 패드부(115) 및 제2 게이트 패드부(115) 사이에 위치한다. The first LOG signal line 160 is electrically connected to the data probe printed circuit board 140 and the LOG short detection unit 180 through a first data pad unit 125 and a first gate pad unit 115. It is. The second LOG signal line 170 is positioned between the first gate pad part 115 and the second gate pad part 115.

상기 제1 LOG 신호라인(160)의 일측은 상기 데이터 프로브 인쇄회로기판(140)의 그라운드(GND) 전압에 접속되어 있고, 타측은 상기 제1 게이트 패드부(115) 및 게이트 프로브 드라이버(120)를 통해 상기 LOG 단락 검출부(180)와 전기적으로 접속된다. 또한, 제2 LOG 신호라인(170)의 일측은 상기 제1 게이트 패드부(115)와 전기적으로 접속되어 상기 그라운드(GND) 전압에 접속되고, 타측은 상기 제2 게이트 패드부(115)를 통해 상기 LOG 단락 검출부(180)와 전기적으로 접속된다.One side of the first LOG signal line 160 is connected to a ground GND voltage of the data probe printed circuit board 140, and the other side of the first LOG signal line 160 is connected to the first gate pad unit 115 and the gate probe driver 120. It is electrically connected to the LOG short detection unit 180 through. In addition, one side of the second LOG signal line 170 is electrically connected to the first gate pad unit 115 and is connected to the ground (GND) voltage, and the other side is connected to the ground gate unit 115. It is electrically connected to the LOG short detection unit 180.

이와 같이, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)의 일측은 그라운드(GND) 전압에 접속되고, 타측은 상기 LOG 단락 검출부(180)의 입력부와 접속된다. As such, one side of the first and second LOG signal lines 160 and 170 is connected to a ground (GND) voltage, and the other side thereof is connected to an input of the LOG short detection unit 180.

상기 LOG 단락 검출부(180)는 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)의 타측이 접속되는 입력부(Input)와, 전원전압(Vcc)과, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)의 단락 여부를 나타내는 LED(180a)와, 상기 LED(180a)의 전류의 흐름을 조절하는 스위치 소자(180b)로 구성될 수 있다. As illustrated in FIG. 4, the LOG short detection unit 180 includes an input unit to which the other side of the first and second LOG signal lines 160 and 170 are connected, a power supply voltage Vcc, and the LED 180a indicating whether the first and second LOG signal lines 160 and 170 are short-circuited, and a switch element 180b that controls the flow of current through the LED 180a.

예를 들어, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)이 단락(Short)되면, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)과 접속된 입력부(Input)에는 어떠한 신호가 인가되지 않으므로, 상기 LED(180a)가 점등되게 된다. 상기 LOG 단락 검출부(180)의 LED(180a)가 점등되면 검사자는 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)의 단락 불량을 검출할 수 있다. 또한, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)이 단락(Short)되지 않는다면, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)과 접속된 입력부(Input)에는 신호가 인가되어 상기 LED(180a)가 오프(Off) 된다. 이로 인해, 검사자는 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)이 단락되지 않았음을 알 수 있다. For example, when the first and second LOG signal lines 160 and 170 are shorted, a signal may be applied to an input connected to the first and second LOG signal lines 160 and 170. Since it is not applied, the LED 180a is turned on. When the LED 180a of the LOG short detection unit 180 is turned on, the inspector may detect a short circuit failure of the first and second LOG signal lines 160 and 170. In addition, if the first and second LOG signal lines 160 and 170 are not shorted, a signal is applied to an input unit connected to the first and second LOG signal lines 160 and 170. The LED 180a is turned off. As a result, the inspector may know that the first and second LOG signal lines 160 and 170 are not shorted.

이와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사장치(200)는 상기 액정표시패널(100)의 게이트라인 및 데이터라인으로 출력 검사 신호를 인가하여 불량을 검출하는 동시에 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인(160, 170)의 단락 불량을 검출할 수 있다. As described above, the inspection apparatus 200 of the liquid crystal display according to the present invention applies an output inspection signal to the gate line and the data line of the liquid crystal display panel 100 to detect defects and at the same time the first and second LOG signals. Short circuit defects in lines 160 and 170 may be detected.

도 1은 셀 공정을 마친 LOG 방식의 액정표시패널을 개략적으로 나타낸 도면.1 is a view schematically showing a LOG type liquid crystal display panel after cell processing.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사장치를 이용하여 도 1에 도시된 액정표시패널을 검사하는 것을 개략적으로 나타낸 도면.FIG. 2 is a view schematically illustrating inspecting a liquid crystal display panel shown in FIG. 1 by using an inspection apparatus of a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3은 도 2의 게이트 패드부와 게이트 프로브 드라이버가 전기적으로 연결되는 모습을 개략적으로 나타낸 도면.3 is a view schematically illustrating a state in which the gate pad part and the gate probe driver of FIG. 2 are electrically connected to each other;

도 4는 도 2의 LOG 단락 검출부를 나타낸 도면.4 is a diagram illustrating a LOG short circuit detecting unit of FIG. 2.

<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명><Brief description of the main parts of the drawing>

100:액정표시패널 101:컬러픽터 기판100: liquid crystal display panel 101: color picture substrate

103:박막트랜지스터 어레이 기판 110:게이트 프로브 드라이버103: thin film transistor array substrate 110: gate probe driver

115:제1 및 제2 게이트 패드부 115a:제1 입력패드115: first and second gate pad portions 115a: first input pad

120:데이터 프로브 드라이버 125:제1 내지 제5 데이터 패드부120: data probe driver 125: first to fifth data pad unit

125a:제2 입력패드 135:제1 연성회로기판125a: second input pad 135: first flexible printed circuit board

140:데이터 프로브 인쇄회로기판 145:제1 패드부140: data probe printed circuit board 145: first pad portion

150:게이트 프로브 인쇄회로기판 155:제2 패드부150: gate probe printed circuit board 155: second pad portion

160:제1 LOG 신호라인 165:제2 연성회로기판160: the first LOG signal line 165: the second flexible circuit board

170:제2 LOG 신호라인 180:LOG 단락 검출부170: second LOG signal line 180: LOG short detection unit

180a:LED 180b:스위치 소자180a: LED 180b: switch element

Claims (6)

표시영역과 비표시영역으로 구분되고, 상기 비표시영역의 일측에 형성된 제1 및 제2 LOG 신호라인을 구비한 액정표시패널을 검사하는 액정표시패널의 검사장치에 있어서,A liquid crystal display panel inspection apparatus for inspecting a liquid crystal display panel which is divided into a display area and a non-display area and has first and second LOG signal lines formed on one side of the non-display area. 상기 액정표시패널의 게이트라인 및 데이터라인으로 출력 검사 신호를 인가하는 제1 및 제2 프로브 드라이버;First and second probe drivers configured to apply an output test signal to a gate line and a data line of the liquid crystal display panel; 복수개의 신호 라인 패턴이 형성되어 상기 제1 및 제2 프로브 드라이버로 각각의 출력 검사 신호를 제공하는 제1 및 제2 프로브 인쇄회로기판;First and second probe printed circuit boards having a plurality of signal line patterns formed thereon to provide respective output test signals to the first and second probe drivers; 일면에 상기 제1 및 제2 프로브 드라이버가 실장되고, 상기 신호 라인 패턴과 대응하는 입력 라인 패턴과 상기 게이트라인 및 데이터라인에 대응하는 출력 라인 패턴을 갖는 제1 및 제2 연성회로기판; 및First and second flexible printed circuit boards mounted on one surface of the first and second probe drivers, the first and second flexible printed circuit boards having an input line pattern corresponding to the signal line pattern and an output line pattern corresponding to the gate line and the data line; And 상기 제1 및 제2 프로브 인쇄회로기판 중 어느 하나의 프로브 인쇄회로기판 상에 형성되어 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 단락 여부를 검출하는 LOG 단락 검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.And a LOG short detection unit formed on one of the first and second probe printed circuit boards and detecting whether the first and second LOG signal lines are shorted. Inspection device of the device. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 일측은 상기 LOG 단락 검출부가 실장되지 않은 프로브 인쇄회로기판으로부터 그라운드(GND) 전압이 인가되고, 타측은 상기 LOG 단락 검출부와 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사 장치.One side of the first and second LOG signal line is a ground (GND) voltage is applied from the probe printed circuit board on which the LOG short detection unit is not mounted, the other side is electrically connected to the LOG short detection unit Inspection device of the display. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 제1 LOG 신호라인은 상기 액정표시패널의 일측에 부착될 데이터 인쇄회로기판으로부터 공급되는 게이트 제어신호 및 게이트 구동전압들을 상기 게이트라인으로 공급하기 위한 신호라인이고, 상기 제2 LOG 신호라인은 상기 액정표시패널의 타측에 부착될 게이트 드라이버들 간을 서로 전기적으로 접속시키는 신호라인인 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치. The first LOG signal line is a signal line for supplying a gate control signal and gate driving voltages supplied from a data printed circuit board to be attached to one side of the liquid crystal display panel to the gate line. And a signal line electrically connecting the gate drivers to be attached to the other side of the liquid crystal display panel to each other. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 LOG 단락 검출부는 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인의 단락(Short) 여부에 따라 온/오프(On/Off) 되는 발광 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.The LOG short detection unit includes a light emitting diode that is turned on / off depending on whether the first and second LOG signal lines are shorted. 제4 항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 발광 다이오드는 상기 제1 및 제2 LOG 신호라인이 단락(Short) 된 경우 점등 되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.And the light emitting diode is turned on when the first and second LOG signal lines are shorted. 제4 항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 LOG 단락 검출부는 상기 발광 다이오드의 전류를 제어하는 스위치 소자 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.The LOG short detection unit further comprises a switch element for controlling the current of the light emitting diode.
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