KR20100138045A - 웨이퍼 상에서 테스트 가능한 ｒｆｉｄ 태그 및 그 테스트 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 웨이퍼 상에서 RFID 태그에 직접 테스트 신호와 전원 전압을 인가하여 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시켜 테스트를 수행하는 RFID 태그및 테스트 방법에 관한 것이다.
구체적으로, 본 발명은 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터, 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 i) 테스트 입력 신호 또는 ii) 어드레스 신호 및 제어 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및 외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 테스트 시리얼 입력 신호, 테스트 클럭, 테스트 입력 신호, 어드레스 신호 및 제어 신호를 입력받고, 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그를 개시한다.
RFID, 태그, 테스트, 순차적, 직렬, 활성화, 입력, 출력

Description

웨이퍼 상에서 테스트 가능한 ＲＦＩＤ 태그 및 그 테스트 방법 {RFID TAG BEING TESTED ON THE WAFER AND METHOD THEREOF}
본 발명은 웨이퍼 상에서 RFID 태그에 직접 테스트 신호와 전원 전압을 인가하여 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시켜 테스트를 수행하는 RFID 태그 및 테스트 방법에 관한 것이다.
더 상세하게는, 본 발명은 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터, 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 i) 테스트 입력 신호 또는 ii) 어드레스 신호 및 제어 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및 외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 테스트 시리얼 입력 신호, 테스트 클럭, 테스트 입력 신호, 어드레스 신호 및 제어 신호를 입력받고, 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그에 관한 것이다.
RFID란 무선 신호를 이용하여 사물을 자동으로 식별하기 위하여 식별 대상 사물에는 RFID 태그를 부착하고 무선 신호를 이용한 송수신을 통해 RFID 리더와 통 신을 하는 비접촉식 자동 식별 방식을 제공하는 기술로서, 종래의 자동 식별 기술인 바코드 및 광학 문자 인식 기술의 단점을 보완할 수 있는 기술이다.
최근에 들어, RFID 태그는 물류 관리 시스템, 사용자 인증 시스템, 전자 화폐 시스템, 교통 시스템 등의 여러 가지 경우에 이용되고 있다.
예를 들어, 물류 관리 시스템에서는 배달 전표 또는 태그 대신에 데이터가 기록된 IC(Integrated Circuit) 태그를 이용하여 화물의 분류 또는 재고 관리 등이 행해지고 있다. 또한, 사용자 인증 시스템에서는 개인 정보 등을 기록한 IC 카드를 이용하여 입실 관리 등을 행하고 있다.
일반적으로 RFID 태그에는 불휘발성 강유전체 메모리가 사용될 수 있다.
불휘발성 강유전체 메모리 즉 FeRAM(Ferroelectric Random Access Memory)은 디램(DRAM;Dynamic Random Access Memory) 정도의 데이터 처리 속도를 갖고, 전원의 오프시에도 데이터가 보존되는 특성 때문에 차세대 기억 소자로 주목받고 있다.
이러한 FeRAM은 디램과 거의 유사한 구조를 갖는 소자로서, 기억 소자로 강유전체 커패시터를 사용한다. 강유전체는 높은 잔류 분극 특성을 가지는데, 그 결과 전계를 제거하더라도 데이터가 지워지지 않는다.
RFID는 여러 대역의 주파수를 사용하는데, 주파수 대역에 따라 그 특성이 달라진다. 일반적으로 RFID는 주파수 대역이 낮을수록 인식 속도가 느리고 짧은 거리에서 동작하며, 환경의 영향을 적게 받는다. 반대로, 주파수 대역이 높을수록 인식 속도가 빠르고 긴 거리에서 동작하며, 환경의 영향을 많이 받는다.
도 1은 종래 기술에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 1을 참조하면, 종래 기술에 따른 RFID 태그는 크게 안테나부(10), 아날로그부(100), 디지털부(200) 및 메모리(300)를 포함한다.
안테나부(10)는 RFID 리더로부터 송신된 무선 신호를 수신하는 역할을 한다. 수신된 무선 신호는 안테나 패드(11,12)를 통해 아날로그부(100)로 입력된다.
아날로그부(100)는 입력된 무선 신호를 증폭하여, RFID 태그의 구동전압인 전원전압 VDD을 생성한다. 그리고 입력된 무선 신호에서 동작 명령 신호를 검출하여 명령 신호 CMD를 디지털부(200)에 출력한다. 그 외에, 아날로그부(100)는 출력 전압 VDD을 감지하여 리셋 동작을 제어하기 위한 파워 온 리셋신호 POR와 클록신호 CLK를 디지털부(200)로 출력한다.
디지털부(200)은 아날로그부(100)로부터 전원전압 VDD, 파워 온 리셋신호 POR, 클록신호 CLK 및 명령 신호 CMD를 입력받아, 어드레스 ADD, 입/출력 데이터 I/O, 제어 신호 CTR 및 클록 CLK을 메모리(300)에 출력한다.
메모리(300)는 메모리 소자를 이용하여 데이타를 리드/라이트하고, 데이터를 저장한다.
이러한 RFID 태그가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하는 가장 바람직한 방법은 개별 RFID 태그의 안테나 패드(11,12)를 통해 무선 신호를 인가하고, RFID 태그 내부의 디지털부(200)에 의해 무선 신호가 처리되어 생성된 응답 신호 RP를 변조하여 RFID 리더로 송신하고, RFID 리더에서 수신된 신호가 원하는 신호인지 여부를 확인하는 것이다.
하지만 웨이퍼 당 수천개 이상의 RFID 태그를 개별적으로 무선 신호를 인가 하여 테스트하는 것은 비용이 많이 들고, 비효율적이라는 문제점이 있다.
상기한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 웨이퍼 상에서 RFID 태그 포함된 입/출력 패드를 통해 RFID 태그 내부 회로에 직접 테스트 신호, 전원 전압 및 제어 신호를 인가하여 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시켜 테스트를 수행하는 RFID 태그 및 테스트 방법을 개시한다.
본 발명은 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터, 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 테스트 입력 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및 외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 테스트 시리얼 입력 신호, 테스트 클럭 및 테스트 입력 신호를 입력받고, 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그를 개시한다.
추가적으로, 본 발명은 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터, 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 어드레스 신호 및 제어 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및 외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 테스트 시리얼 입력 신호, 테스트 클럭 및 어드레스 신호 및 제어 신호를 입력받고, 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부 를 포함하는 RFID 태그를 개시한다.
추가적으로, 본 발명은 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터, 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 테스트 입력 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및 외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 테스트 시리얼 입력 신호, 테스트 클럭 및 테스트 입력 신호를 입력받고, 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그를 테스트하는 방법으로서, 테스트 시리얼 출력 신호에 의해 테스트 회로부를 활성화시키는 단계, 입/출력 패드부를 통해 테스트 입력 신호를 입력하는 단계, 테스트 입력 신호에 따라 테스트 회로부가 테스트 동작을 수행하고 테스트 출력 신호를 생성하는 단계, 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 단계, 및 테스트 입력 신호와 테스트 출력 신호를 비교하는 단계를 포함하는 RFID 태그 테스트 방법을 개시한다.
마지막으로, 본 발명은 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터, 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 어드레스 신호 및 제어 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및 외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 테스트 시리얼 입력 신호, 테스트 클럭, 어드레스 신호 및 제어 신호를 입력받고, 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그를 테스트하는 방법으로서, 테스트 시리얼 출력 신호에 의해 테 스트 회로부를 활성화시키는 단계, 입/출력 패드부를 통해 어드레스 신호 및 제어 신호를 입력하는 단계, 어드레스 신호 및 제어 신호에 따라 테스트 회로부가 테스트 동작을 수행하고 테스트 출력 신호를 생성하는 단계, 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 단계, 및 테스트 입력 신호와 테스트 출력 신호를 비교하는 단계를 포함하는 RFID 태그 테스트 방법을 개시한다.
첫째, 본 발명은 복수 개의 RFID 태그를 하나의 RFID 태그 어레이으로 설정하고, RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 테스트함으로써, 테스트에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있다는 장점이 있다. 예를 들어, 10만개의 RFID 태그를 테스트한다고 가정하면 10만개를 각각 테스트 할 경우에 1초씩 10만초가 소요되지만, 1000개의 RFID 태그를 포함하는 RFID 태그 어레이 단위로 테스트 할 경우에는 100개의 RFID 태그 어레이에 대하여 동시에 테스트를 진행할 수 있기 때문에 1000초가 소요되어 테스트 시간을 단축시킬 수 있다.
둘째, 본 발명은 태그 어레이마다 하나의 테스트 칩을 설정하고, 테스트 칩만 초기화해주면 테스트 칩과 연결된 복수 개의 RFID 태그가 순차적으로 활성화되어 테스트를 수행되기 때문에 웨이퍼 상의 모든 RFID 태그를 활성화해줄 필요가 없다. 따라서 복수 개의 RFID 태그에 대한 테스트를 간편하게 수행할 수 있다.
셋째, 본 발명은 태그 어레이마다 하나의 테스트 칩을 설정하고, 테스트 칩만 초기화해주면 직렬로 연결된 RFID 태그 사이에서 테스트 출력 신호가 순차적으로 전송되어 RFID 태그를 활성화시키고 테스트가 수행된다. 만약 모든 RFID 태그에 테스트 입력/출력 신호를 동시에 입력/출력시킨다면 테스트 입력/출력 신호의 입/출력에 필요한 추가적인 스크라이브 라인이 필요하게 된다. 하지만 본 발명은 추가적인 스크라이브 라인없이 복수 개의 RFID 태그를 각각 직렬로 연결해 주기만 하면 되기 때문에 레이아웃이 감소하고, 회로 구성이 간단해진다.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 복수 개의 RFID 태그 어레이를 포함하는 웨이퍼를 나타내는 구성도이다.
도 2를 참고하면, 하나의 웨이퍼 상에는 복수 개의 RFID 태그 어레이가 배열되어 있다. 각각의 RFID 태그 어레이는 복수 개의 RFID 태그(미도시)를 포함한다. 즉 RFID 태그 어레이는 복수 개의 RFID 태그를 스크라이브 라인을 이용하여 서로 연결한 RFID 태그들의 집합을 의미한다.
도 3은 본 발명에 따른 하나의 RFID 태그 어레이의 구성을 나타내는 구성도이다.
도 3을 참고하면, 하나의 RFID 태그 어레이는 하나의 테스트 칩과 복수 개의 RFID 태그를 포함한다. 테스트 칩은 전원 전압이 공급되면 초기화되어 가장 먼저 활성화되고, RFID 태그 TAG01 내지 RFID 태그 TAGN이 순차적으로 활성화된다.
도 4는 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에서 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시키는 과정을 나타내는 구성도이다.
도 4를 참고하면, 테스트 칩이 초기화되면 제 1 행에서 X 축의 양의 방향으 로 RFID 태그 TAG01~TAG09를 순차적으로 활성화시켜 제 1 행의 RFID 태그 각각에 대한 테스트 동작을 수행한다. 그리고 제 2 행에서 X 축의 음의 방향으로 RFID 태그 TAG10~TAG19를 순차적으로 활성화시켜 제 2 행의 RFID 태그 각각에 대한 테스트 동작을 수행한다. 그리고 제 3 행에서 X 축의 양의 방향으로 RFID 태그 TAG20~TAG29를 순차적으로 활성화시켜 제 3 행의 RFID 태그에 대한 테스트 동작을 수행한다. 이러한 방식으로 RFID 태그 어레이에 포함된 모든 RFID 태그를 순차적으로 활성화시켜 테스트 동작을 수행한다.
상기 순서는 예시적인 것이고, 복수 개의 RFID 태그를 활성화시키는 순서는 사용자의 의도에 따라 스크라이브 라인의 배열을 바꿈으로써 변경이 가능하다. 예를 들어, i) 제 1 열에 대해 Y 축의 음의 방향으로 RFID 태그를 활성화시킨 후에, 제 2 열에 대해 Y 축의 양의 방향으로 RFID 태그를 활성화시키거나, ii) 대각선 방향, 즉 RFID 태그 TAG01, RFID 태그 TAG19, RFID 태그 TAG20, RFID 태그 TAG18 등의 순서로 RFID 태그를 활성화시킬 수도 있다.
도 5는 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이를 나타내는 회로도이다.
도 5를 참고하면, 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이는 하나의 테스트 칩과 복수 개의 RFID 태그를 포함한다.
외부로부터 공급된 전원 전압 VDD 및 그라운드 전압 GND은 X 및 Y축 방향으로 배열된 복수 개의 스크라이브 라인을 거쳐, RFID 태그의 입/출력 패드를 통해 RFID 태그 내부 회로로 공급된다.
외부로부터 입력되는 테스트 입력 신호 TI, 테스트 클록 TCLK, 제어 신호, 어드레스 신호 등은 X 및 Y축 방향으로 배열된 복수 개의 스크라이브 라인을 거쳐, RFID 태그의 입/출력 패드를 통해 RFID 태그 내부 회로로 입력된다.
RFID 태그에서 생성된 테스트 출력 신호 TO, 제어 결과 신호 등은 RFID 태그 내부 회로로부터 RFID 태그의 입/출력 패드를 통해 X 및 Y축 방향으로 배열된 복수 개의 스크라이브 라인을 거쳐 외부로 출력된다.
테스트 칩과 RFID 태그 TAG01, 각각의 RFID 태그 TAG02~TAGN는 X 및 Y 축 방향으로 배열된 복수 개의 스크라이브 라인에 의해 서로 연결된다. 이 스크라이브 라인을 통해 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 시리얼 출력 신호가 RFID 태그 사이에서 순차적으로 전송된다.
도 6은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시키고, 활성화 구간동안 테스트하는 과정을 나타내는 회로도이다.
도 6을 참고하면, RFID 태그 어레이를 테스트하기 위해서는 먼저 테스트 칩을 초기화한다. 테스트 칩을 초기화하는 방법은 여러 가지 방법이 사용될 수 있다. 예를 들어, 입/출력 패드를 통해 전원 전압 VDD이 공급되기 시작하면 테스트 칩이 초기화되도록 설정할 수 있다.
테스트 칩이 초기화되면, 테스트 시리얼 입력 신호가 입력 단자 TS000로부터 RFID 태그 TAG01의 입력 단자 TSI01로 입력된다.
RFID 태그 TAG01는 전원 전압 VDD 및 그라운드 전압 GND이 공급되고 테스트 시리얼 입력 신호가 입력된 상태에서 테스트 클록 TCLK에 동기하여 활성화된다. RFID 태그 TAG01가 활성화되면, 입/출력 패드를 통해 테스트 입력 신호 TI가 RFID 태그 TAG01로 입력되어 테스트 동작을 수행한다.
RFID 태그 TAG01에 대한 테스트 동작이 종료되면 테스트 클록 TCLK에 동기하여 테스트 시리얼 출력 신호가 생성된다. 그리고 테스트 시리얼 출력 신호는 출력 단자 TS001로부터 입력 단자 TSI02로 전송된다.
도 7은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시키고, 활성화 구간동안 테스트하는 과정을 나타내는 회로도이다.
도 7을 참고하면, RFID 태그 TAG02는 전원 전압 VDD 및 그라운드 전압 GND이 공급되고 테스트 시리얼 출력 신호가 입력된 상태에서 테스트 클록 TCLK에 동기하여 활성화된다. RFID 태그 TAG02가 활성화되면, 입/출력 패드를 통해 테스트 입력 신호 TI가 RFID 태그 TAG02로 입력되어 테스트 동작을 수행한다.
RFID 태그 TAG02에 대한 테스트 동작이 종료되면 테스트 클록 TCLK에 동기하여 테스트 시리얼 출력 신호가 생성된다. 그리고 테스트 시리얼 출력 신호는 출력 단자 TS002로부터 입력 단자 TSI03로 전송된다.
마찬가지로, RFID 태그 TAG03~TAGN에 대해서도 테스트 시리얼 출력 신호가 전송되면서 각각의 RFID 태그가 활성화되고, 활성화 구간동안 테스트 동작을 수행할 수 있다.
도 8은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에서 각각의 RFID 태그가 스크라이브 라인을 통해 연결되는 구성을 나타내는 회로도이다.
도 8을 참고하면, 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이는 하나의 테스트 칩과 복수 개의 RFID 태그를 포함한다. 그리고 X 및 Y 축 방향으로 배열된 복수 개의 스크라이브 라인은 M1 및 M2 레이어와 같은 서로 다른 레이어에 형성될 수 있다.
M1 레이어에는 X 축 방향으로 복수 개의 스크라이브 라인이 형성되고, M2 레이어에는 Y 축 방향으로 복수 개의 스크라이브 라인이 형성된다. 그리고 M1 레이어의 스크라이브 라인과 M2 레이어의 스크라이브 라인은 콘택을 통해 서로 연결된다.
외부로부터 공급된 전원 전압 및 그라운드 전압은 M1 레이어의 X 축 방향으로 배열된 스크라이브 라인, 콘택, M2 레이어의 Y 축 방향으로 배열된 스크라이브 라인을 차례로 거쳐 RFID 태그의 입/출력 패드를 통해 RFID 태그 내부 회로로 공급된다.
외부로부터 입력되는 테스트 입력 신호, 테스트 클록, 제어 신호, 어드레스 신호는 M1 레이어의 X 축 방향으로 배열된 스크라이브 라인, 콘택, M2 레이어의 Y 축 방향으로 배열된 스크라이브 라인을 차례로 거쳐 RFID 태그의 입/출력 패드를 통해 RFID 태그 내부 회로로 입력된다.
RFID 태그에서 생성된 테스트 출력 신호, 테스트 시리얼 출력 신호, 제어 출력 신호 등은 RFID 태그 내부 회로로부터 RFID 태그의 입/출력 패드를 통해 M2 레이어의 Y축 방향으로 배열된 스크라이브 라인, 콘택, M1 레이어의 X 축 방향으로 배열된 스크라이브 라인을 차례로 거쳐 외부로 출력된다.
테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 시리얼 출력 신호는 M2 레이어의 Y 축 방향으로 배열된 스크라이브 라인, 콘택, M1 레이어의 X 축 방향으로 배열된 스크 라이브 라인, 콘택, M2 레이어의 Y 축 방향으로 배열된 스크라이브 라인을 통해, 테스트 칩과 RFID 태그 TAG01, 각각의 RFID 태그 TAG02~TAGN 사이로 전송된다.
도 9는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 RFID 태그는 크게 안테나부(10), 아날로그부(100), 디지털부(200) 및 메모리(300)를 포함한다.
안테나부(10)는 RFID 리더로부터 송신된 무선 신호를 수신하는 역할을 한다. 수신된 무선 신호는 안테나 패드(11,12)를 통해 아날로그부(100)로 입력된다.
아날로그부(100)는 전압 증폭부(110), 복조부(120), 클록 발생부(130), 파워 온 리셋부(140), 테스트 입력 버퍼(150), 변조부(160) 및 테스트 출력 구동부(170)를 포함한다.
전압 증폭부(110)는 안테나부(10)로부터 인가되는 무선 신호를 정류 및 승압하여 RFID 태그의 구동전압인 전원 전압을 생성한다.
복조부(120)는 전압 증폭부(110)의 출력전압에 따라 안테나부(10)로부터 입력되는 무선 신호를 복조하여 복조 신호 DEMOD를 생성하고, 생성된 복조 신호 DEMOD를 테스트 입력 버퍼(150)로 출력한다.
클록 발생부(130)는 전압 증폭부(110)에서 생성된 전원 전압에 따라 디지털부(200)의 동작을 제어하기 위한 클록 CLK를 디지털부(200)에 공급한다.
파워 온 리셋부(140)는 전압 증폭부(110)에서 생성된 전원 전압을 감지하여 리셋 동작을 제어하기 위한 파워 온 리셋 신호 POR를 전압 조정부(120) 및 디지털부(200)에 출력한다.
파워 온 리셋 신호 POR는 전원 전압이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하는 동안 전원 전압과 같이 상승하다가, 전원 전압이 전원 전압 레벨 VDD로 공급되는 순간 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하여 RFID 태그 내부의 회로를 리셋시키는 신호를 의미한다.
테스트 입력 버퍼(150)는 테스트 신호 입력 패드(13)를 통해 입력되는 테스트 입력 신호 TI와 복조부(120)로부터 입력되는 복조 신호 DEMOD로부터 동작 명령 신호를 검출하여 명령 신호 CMD를 생성한다.
변조부(160)는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 변조하여 안테나부(10)에 전송한다.
전원 전압 인가 패드(15)는 RFID 태그가 활성화되어 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 전원 전압 VDD이 인가되는 패드를 나타내고, 그라운드 전압 인가 패드(16)는 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 그라운드 전압 GND이 인가되는 패드를 나타낸다.
즉 RFID 태그가 RFID 리더와 통신을 하여 무선 신호를 수신하는 경우에는 전압 증폭부(110)가 전원 전압 VDD을 공급하지만, 본 발명에서는 웨이퍼 상에서 테스트를 수행하기 때문에 별도의 전원 전압 인가 패드(15) 및 그라운드 전압 인가 패드(16)를 통해 전원 전압 VDD 및 그라운드 전압 GND이 공급된다.
테스트 출력 구동부(170)는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP에 따라 테스트 출력 신호 TO를 구동하여 테스트 신호 출력 패드(14)를 통해 출력한다.
디지털부(200)는 아날로그부(100)로부터 전원 전압, 파워 온 리셋 신호 POR, 클록 CLK 및 명령 신호 CMD를 입력받아 명령 신호 CMD를 해석하고 제어 신호 및 처리신호들을 생성한다. 그리고 제어 신호 및 처리신호에 대응하는 응답 신호 RP를 아날로그부(100)로 출력한다.
디지털부(200)는 RFID 태그를 활성화시키기 위한 슬롯 카운터 제어부(210)를 포함한다. 슬롯 카운터 제어부(210)는 테스트 클록 입력 패드(201)로부터 테스트 클록 TCLK을 입력받고, 테스트 시리얼 신호 입력 패드(202)로부터 테스트 시리얼 입력 신호 또는 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받으며, 파워 온 리셋부(140)로부터 파워 온 리셋 신호 POR를 입력받는다. 그리고 슬롯 카운터 제어부(210)는 슬롯 카운터 비트를 생성하여 RFID 태그의 활성화 여부를 제어하고, 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 테스트 시리얼 신호 출력 패드(203)을 통해 다른 RFID 태그로 출력한다.
마지막으로, 디지털부(200)는 어드레스 ADD, 입/출력 데이터 I/O, 제어 신호 CTR 및 클록 CLK을 메모리(300)에 출력한다. 메모리(300)는 데이터를 저장 소자에 라이트하고, 저장 소자에 저장된 데이터를 리드하는 역할을 한다.
메모리(300)로는 불휘발성 강유전체 메모리(FeRAM)가 사용될 수 있다. FeRAM은 디램 정도의 데이터 처리 속도를 갖는다. 또한, FeRAM은 디램과 거의 유사한 구조를 가지고, 커패시터의 재료로 강유전체를 사용하여 강유전체의 특성인 높은 잔류 분극을 가진다. 이와 같은 잔류 분극 특성으로 인하여 전계를 제거하더라도 데이터가 지워지지 않는다.
도 10은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 10을 참고하면, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 RFID 태그는 크게 안테나부(10), 아날로그부(100), 디지털부(200) 및 메모리(300)를 포함한다.
제 2 실시예의 안테나부, 디지털부(200) 및 메모리(300)의 구성은 제 1 실시예와 동일하고, 제 2 실시예의 아날로그부(100)는 전압 리미터(180)를 더 포함한다. 전압 리미터(180)는 전압 증폭부(110)에서 증폭된 전압 또는 외부로부터 공급된 전원 전압이 전원 전압 레벨 VDD보다 순간적으로 높아져서 RFID 태그 내부 회로를 손상시키는 것을 방지하기 위해, 일정 전압 레벨로 전압이 높아지지 않도록 전압의 크기를 제한한다.
도 11은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 슬롯 카운터 제어부(210)를 나타내는 블록 다이어그램이다.
도 11을 참고하면, 본 발명의 슬롯 카운터 제어부(210)는 슬롯 카운터(211) 및 시프트 레지스터(212)를 포함한다.
테스트 클록 TCLK은 테스트 클록 입력 패드(201)를 통해 슬롯 카운터(211) 및 시프트 레지스터(212)로 입력된다. 테스트 클록 입력 패드(201)와 그라운드 단자 사이에는 패드 저항 Rpd이 병렬로 연결된다.
패드 저항 Rpd은 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되지 않는 경우, 즉 테스트 클록 TCLK에 노이즈가 발생하여 로우 레벨과 하이 레벨 사이의 레벨로 입력되는 경우, 노이즈가 슬롯 카운터(211)에 입력되지 않도록 입력 신호를 로우 레벨로 바이어스시킨다. 다만 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면, 입력 신호 자 체의 구동 능력이 있기 때문에 패드 저항 Rpd에 의해 입력 신호가 로우 레벨로 바이어스되지 않는다.
테스트 칩으로부터 입력되는 테스트 시리얼 입력 신호 또는 다른 RFID 태그로부터 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호는 테스트 시리얼 신호 입력 패드(202)를 통해 시프트 레지스터(212)로 입력된다. 테스트 시리얼 신호 입력 패드(202)와 그라운드 단자 사이에는 패드 저항 Rpd이 병렬로 연결된다.
패드 저항 Rpd은 테스트 시리얼 입력(출력) 신호가 하이 레벨로 입력되지 않는 경우, 즉 테스트 시리얼 입력(출력) 신호에 노이즈가 발생하여 로우 레벨과 하이 레벨 사이의 레벨로 입력되는 경우, 노이즈가 시프트 레지스터(212)에 입력되지 않도록 입력되는 신호를 로우 레벨로 바이어스시킨다. 다만 테스트 시리얼 입력(출력) 신호가 하이 레벨로 입력되면, 입력되는 신호 자체의 구동 능력이 있기 때문에 패드 저항 Rpd에 의해 입력되는 신호가 로우 레벨로 바이어스되지 않는다.
슬롯 카운터(211)는 테스트 클록 TCLK에 의해 세트되어 슬롯 카운터 비트를 로우 레벨로 출력하고, 시프트 레지스터(212)로부터 출력되는 테스트 시리얼 출력 신호에 의해 리셋되어 슬롯 카운터 비트를 하이 레벨로 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 로우 레벨로 출력되면 RFID 태그가 활성화되고, 하이 레벨로 출력되면 RFID 태그가 비활성화된다.
시프트 레지스터(212)는 테스트 칩으로부터 입력되는 테스트 시리얼 입력 신호 또는 다른 RFID 태그로부터 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호의 값을 저장했다가 테스트 클록 TCLK에 의해 시프트 레지스터(212)가 활성화되면 테스트 시리얼 입 력 신호 또는 다른 RFID 태그로부터 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호의 값을 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. 테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211) 및 테스트 시리얼 신호 출력 패드(203)로 출력된다. 시프트 레지스터(212)는 파워 온 리셋부(140)로부터 파워 온 리셋 신호 POR를 입력받아 리셋된다.
도 12는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 RFID 태그의 테스트에 사용되는 입/출력 패드를 나타내는 구성도이다.
도 12를 참고하면, 본 발명의 RFID 태그의 입/출력 패드는 테스트 신호 입력 패드(13), 테스트 신호 출력 패드(14), 전원 전압 인가 패드(15), 그라운드 전압 인가 패드(16) 및 테스트 클록 입력 패드(201), 테스트 시리얼 신호 입력 패드(202) 및 테스트 시리얼 신호 출력 패드(203)를 포함한다.
테스트 신호 입력 패드(13)를 통해 테스트 입력 신호 TI가 입력되고, 테스트 신호 출력 패드(14)를 통해 테스트 출력 신호 TO가 출력되고, 전원 전압 인가 패드(15)를 통해 전원 전압 VDD이 인가되고, 그라운드 전압 인가 패드(16)를 통해 그라운드 전압 GND이 인가되고, 테스트 클록 입력 패드(201)를 통해 테스트 클록 TCLK이 입력되고, 테스트 시리얼 신호 입력 패드(202)를 통해 테스트 시리얼 입력(출력) 신호가 입력되며, 테스트 시리얼 신호 출력 패드(203)를 통해 테스트 시리얼 출력 신호가 출력된다.
도 13은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 RFID 태그 TAG01에 포함된 슬롯 카운터 제어부(210)의 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 13를 참고하면, ti에서 전원 전압 인가 패드(15)를 통해 전원 전압 VDD이 공급되기 시작하면 테스트 칩이 초기화된다. 동시에 파워 온 리셋 신호 POR도 로우 레벨에서 하이 레벨로 초기화된다. 파워 온 리셋 신호 POR는 시프트 레지스터(212)에도 입력되므로 시프트 레지스터(212)도 파워 온 리셋 신호 POR에 의해 초기화된다.
t0에서, 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이한다. 즉 테스트 시리얼 입력 신호가 테스트 칩으로부터 RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI01로 입력된다. RFID 태그 TAG01로 입력된 테스트 시리얼 입력 신호는 슬롯 카운터 제어부(210)의 시프트 레지스터(212)로 입력된다.
시프트 레지스터(212)는 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨일 때 활성화되므로, t1에서, 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이할 때 시프트 레지스터(212)는 비활성화된다. 따라서 시프트 레지스터(212)는 활성화될 때까지 초기화된 상태에서 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다.
t1에서, 테스트 클록 TCLK은 슬롯 카운터(211)의 세트 단자로 입력되기 때문에, 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 입력되면 슬롯 카운터(211)가 세트되어 "111..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "111..."로 출력되면 RFID 태그가 비활성화된다. 따라서 테스트 동작이 수행될 수 없다.
t2에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하면 시프트 레지스터(212)가 활성화된다. 시프트 레지스터(212)가 활성화되면, 시프트 레지스터(212)는 t2에서의 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다.
시프트 레지스터(212)는 활성화될 때의 입력 신호를 저장했다가 비활성화될 때까지 계속 출력한다. 따라서 t3에서 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨로 천이하더라도, 테스트 클록 TCLK이 계속 로우 레벨로 유지되어 시프트 레지스터(212)가 활성화된 상태를 유지하는 동안은 테스트 시리얼 출력 신호는 하이 레벨로 출력된다. 테스트 시리얼 입력 신호는 테스트 클럭 TCLK이 하이 레벨로 천이하는 t4 이전에 로우 레벨로 입력되는 것이 바람직하다.
테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력된다. 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨이면, 슬롯 카운터(211)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되면 RFID 태그가 활성화된다.
즉 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되어 시프트 레지스터(212)가 비활성화될 때까지는 슬롯 카운터(211)가 리셋 상태를 유지한다. 따라서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되는 t4까지는 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되어 RFID 태그는 활성화 상태를 유지하고, 이 활성화 구간동안 테스트 동작을 수행할 수 있다.
테스트 동작은 RFID 태그의 사용자의 의도에 따라 아날로그부(100), 디지털부(200) 또는 메모리(300)에 수행될 수 있다. 예를 들어, 메모리(300)에 대해 테스트 동작을 수행할 경우, 메모리(300)의 각 메모리 셀에 리셋 데이터를 라이트한다. 그리고 입/출력 패드를 통해 테스트 입력 신호 TI가 입력된다. 테스트 입력 신호 TI는 테스트 입력 버퍼(150)에 입력되어 명령 신호 CMD를 생성한다. 명령 신호 CMD 에는 RFID 태그에 라이트된 데이터를 리드하도록 동작하는 신호가 포함된다.
디지털부(200)는 명령 신호 CMD에 따라 제어 신호 CTR를 이용하여 메모리(300)에 라이트된 데이터를 리드한다. 디지털부(200)에서 생성되는 응답 신호 RP는 리드된 데이터에 대한 정보를 포함한다. 응답 신호 RP는 테스트 출력 구동부(170)에 의해 구동되어 테스트 출력 신호 TO의 형태로 테스트 신호 출력 패드(14)를 통해 출력된다. 테스트 출력 신호 TO로부터 리드된 데이터에 대한 정보를 얻고, RFID 태그 외부의 테스트 장비(도시되지 않음)는 리드된 데이터와 라이트된 데이터와 일치하는지 여부를 비교한다. 리드된 데이터와 라이트된 데이터가 일치하면 정상으로 판정하고, 일치하지 않으면 불량으로 판정함으로써 테스트 동작을 완료한다.
t4에서, 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하면 시프트 레지스터(212)가 비활성화된다. 시프트 레지스터(212)는 다음 테스트 클럭 TCLK이 로우 레벨로 입력되어 시프트 레지스터(212)가 활성화될 때까지 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다. 그리고 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되면 슬롯 카운터(212)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되면 RFID 태그 TAG01가 활성화된다.
t5에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하면 RFID 태그 TAG01의 시프트 레지스터(212)가 다시 활성화된다. 시프트 레지스터(212)가 활성화되면, 시프트 레지스터(212)는 t5에서 RFID 태그 TAG01로 입력되는 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. 따라서 t5에서 테스트 시리얼 입력 신호는 로우 레벨로 입력되므로 테스트 시리얼 출력 신호는 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이한다. 테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨을 유지하면 슬롯 카운터(211)가 세트 상태를 유지하여 "111..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 “111..."로 출력되면 RFID 태그 TAG01는 비활성화된 상태를 유지한다.
도 14는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 복수 개의 RFID 태그가 순차적으로 활성화되는 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 14를 참고하면, ti에서 전원 전압 VDD이 공급되기 시작하면 테스트 칩이 초기화된다. 동시에 파워 온 리셋 신호 POR도 로우 레벨에서 하이 레벨로 초기화된다. 파워 온 리셋 신호 POR는 시프트 레지스터(212)에도 입력되므로 시프트 레지스터(212)도 파워 온 리셋 신호 POR에 의해 초기화된다.
t0에서, 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이한다. 즉 테스트 시리얼 입력 신호가 테스트 칩으로부터 RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI01로 입력된다. RFID 태그 TAG01로 입력된 테스트 시리얼 입력 신호는 슬롯 카운터 제어부(210)의 시프트 레지스터(212)로 입력된다.
시프트 레지스터(212)는 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨일 때 활성화되므로, t1에서 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이할 때 시프트 레지스터(212)는 비활성화된다. 따라서 RFID 태그 TAG01의 시프트 레지스터(212)는 활성화될 때까지 초기화된 상태에서 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력하게 된다.
t1에서, 테스트 클록 TCLK은 슬롯 카운터(211)의 세트 단자로 입력되기 때문에, 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 입력되면 슬롯 카운터(211)가 세트되어 "111..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "111..."로 출력되면 RFID 태그가 비활성화된다. 따라서 테스트 동작이 수행될 수 없다.
t2에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하면 시프트 레지스터(212)가 활성화된다. 시프트 레지스터(212)가 활성화되면, 시프트 레지스터(212)는 t2에서의 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다.
t2에서, 테스트 시리얼 입력 신호는 하이 레벨로 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호도 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이한다. 테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력된다. 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨이면 슬롯 카운터(211)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 그 결과 RFID 태그 TAG01가 활성화된다.
시프트 레지스터(212)는 활성화될 때의 입력 신호를 저장했다가 비활성화될 때까지 계속 출력한다. 따라서 t3에서 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨로 천이하더라도, 테스트 클록 TCLK이 계속 로우 레벨로 유지되어 시프트 레지스터(212)가 활성화된 상태를 유지하는 동안은 테스트 시리얼 출력 신호는 하이 레벨로 출력된다. 테스트 시리얼 입력 신호는 테스트 클럭 TCLK이 하이 레벨로 천이하는 t4 이전에 로우 레벨로 입력되는 것이 바람직하다.
테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력된다. 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨이면, 슬롯 카운터(211)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되면 RFID 태그가 활성화된다.
t4에서, 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하면 시프트 레지스터(212)가 비활성화된다. 시프트 레지스터(212)는 다음 테스트 클럭 TCLK이 로우 레벨로 입력되어 시프트 레지스터(212)가 활성화될 때까지 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다. 그리고 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되면 슬롯 카운터(212)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되면 RFID 태그 TAG01가 활성화된다.
t5에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하면 RFID 태그 TAG01의 시프트 레지스터(212)가 다시 활성화된다. 시프트 레지스터(212)가 활성화되면, 시프트 레지스터(212)는 t5에서 RFID 태그 TAG01로 입력되는 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. 따라서 t5에서 테스트 시리얼 입력 신호는 로우 레벨로 입력되므로 테스트 시리얼 출력 신호는 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이한다. 테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨을 유지하면 슬롯 카운터(211)가 세트 상태를 유지하여 "111..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 “111..."로 출력되면 RFID 태그 TAG01는 비활성화된다.
한편, RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 출력 신호는 RFID 태그 TAG02의 테 스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI02로 입력된다.
t5에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하면 RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터(212)가 활성화된다. 시프트 레지스터(212)가 활성화되면, 시프트 레지스터(212)는 t5에서 RFID 태그 TAG02로 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다.
실제 회로에서는 테스트 클록 TCLK이 천이하는 시점과 테스트 시리얼 출력 신호가 천이하는 시점 사이에 약간의 딜레이가 발생한다. 즉 t5에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하고 약간의 딜레이 후에 RFID 태그 TAG02에 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이한다. 따라서 t5에서 RFID 태그 TAG02에 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값은 하이 레벨이므로, RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터(212)는 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다.
테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨이면 슬롯 카운터(211)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되면 RFID 태그 TAG02가 활성화된다.
t6에서, 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하면 시프트 레지스터(212)가 비활성화된다. 시프트 레지스터(212)는 다음 테스트 클럭 TCLK이 로우 레벨로 입력되어 시프트 레지스터(212)가 활성화될 때까지 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다. 그리고 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출 력되면 슬롯 카운터(212)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 따라서 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되므로 RFID 태그 TAG02가 활성화 상태를 유지한다.
t7에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하면 RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터(212)가 다시 활성화된다. 시프트 레지스터(212)가 활성화되면, 시프트 레지스터(212)는 t7에서 RFID 태그 TAG02로 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. 따라서 t7에서 테스트 시리얼 출력 신호는 로우 레벨로 입력되므로 테스트 시리얼 출력 신호는 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이한다. 테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨을 유지하면 슬롯 카운터(211)가 세트 상태를 유지하여 "111..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 “111..."로 출력되면 RFID 태그 TAG02는 비활성화된다.
마찬가지로, RFID 태그 TAG02의 테스트 시리얼 출력 신호는 RFID 태그 TAG03의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI03로 입력된다.
t7에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하면 RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터(212)가 활성화된다. 시프트 레지스터(212)가 활성화되면, 시프트 레지스터(212)는 t7에서 RFID 태그 TAG03로 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다.
실제 회로에서는 테스트 클록 TCLK이 천이하는 시점과 테스트 시리얼 출력 신호가 천이하는 시점 사이에 약간의 딜레이가 발생한다. 즉 t7에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하고 약간의 딜레이 후에 RFID 태그 TAG03에 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값이 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이한다. 따라서 t7에서 RFID 태그 TAG02에 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값은 하이 레벨이므로, RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터(212)는 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다.
테스트 시리얼 출력 신호는 슬롯 카운터(211)의 리셋 단자로도 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨이면 슬롯 카운터(211)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되면 RFID 태그 TAG03가 활성화된다.
t8에서, 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하면 시프트 레지스터(212)가 비활성화된다. 시프트 레지스터(212)는 다음 테스트 클럭 TCLK이 로우 레벨로 입력되어 시프트 레지스터(212)가 활성화될 때까지 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다. 그리고 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되면 슬롯 카운터(212)가 리셋되어 "000..."의 슬롯 카운터 비트를 출력한다. 따라서 슬롯 카운터 비트가 "000..."로 출력되므로 RFID 태그 TAG02가 활성화 상태를 유지한다.
이상에서 살펴본 것처럼, RFID 태그 TAG04~TAGN에 대해서도 각 RFID 태그를 순차적으로 활성화시키고, 활성화 구간동안 테스트 동작을 수행할 수 있다. 도 15는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 테스트하는 방법을 나타내는 순서도이다.
도 15를 참고하면, RFID 태그 어레이에 포함된 테스트 칩에 전원 전압을 공급하여 테스트 칩을 초기화한다(S101).
파워 온 리셋 신호를 이용하여 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 리셋한다(S102).
테스트 칩이 초기화되면, 테스트 칩은 테스트 시리얼 입력 신호를 생성하여 RFID 태그 TAG01로 출력한다(S103).
RFID 태그 TAG01가 테스트 시리얼 입력 신호를 입력받으면, RFID 태그 TAG01가 테스트 클록 TCLK에 동기하여 활성화되고, 비활성화되기 전까지의 활성화 구간동안 테스트 동작을 수행한다(S104).
RFID 태그 TAG01가 테스트 시리얼 출력 신호를 RFID 태그 TAG02로 출력한다(S105).
마지막 RFID 태그가 활성화되어 테스트 동작을 완료할 때까지 상기 테스트 시리얼 신호를 다음 RFID 태그로 출력하고 테스트 동작을 수행하는 단계를 반복한다(S106).
도 16는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 테스트 입력 버퍼(150)를 나타내는 회로도이다.
도 16을 참고하면, 본 발명에 따른 테스트 입력 버퍼(150)는 테스트 입력 신호 TI 및 복조 신호 DEMOD가 논리 소자 OR로 입력된다.
테스트 입력 신호 TI가 입력되는 논리 소자 OR의 입력 단자와 그라운드 단자 사이에는 패드 저항 Rpd이 병렬로 연결된다.
패드 저항 Rpd은 테스트 입력 신호 TI가 하이 레벨로 입력되지 않는 경우, 즉 테스트 입력 신호에 노이즈가 발생하여 로우 레벨과 하이 레벨 사이의 레벨로 입력되는 경우, 노이즈가 테스트 입력 버퍼(150)에 입력되지 않도록 입력 신호를 로우 레벨로 바이어스시킨다. 다만 테스트 입력 신호 TI가 하이 레벨로 입력되면, 입력 신호 자체의 구동 능력이 있기 때문에 패드 저항 Rpd에 의해 입력 신호가 로우 레벨로 바이어스되지 않는다.
논리 단자 OR는 입력되는 테스트 입력 신호 TI와 복조 신호 DEMOD를 OR 연산한다. 즉 테스트 입력 신호 TI 또는 복조 신호 DEMOD 중 하나가 활성화될 경우 명령 신호 CMD를 활성화시켜 디지털 블록(200)에 출력한다.
도 17은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 RFID 태그가 비활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼(150)의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 17을 참고하면, 테스트 입력 신호 TI가 로우 레벨로 입력되므로 테스트 동작을 수행할 수 없다. 복조 신호 DEMOD가 입력될 경우, 명령 신호 CMD는 복조 신호 DEMOD에 동기하여 활성화된다. 즉 복조 신호 DEMOD가 하이 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD가 하이 레벨로 출력되고, 복조 신호 DEMOD가 로우 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD가 로우 레벨로 출력된다.
도 18은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 RFID 태그가 활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼(150)의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 18을 참고하면, 전원 전압 VDD 및 그라운드 전압 GND이 RFID 태그에 공급된다.
테스트 동작을 수행할 경우, 무선 신호를 수신하지 않는 것이 바람직하므로 복조 신호 DEMOD는 로우 레벨로 입력된다. 그리고 테스트 입력 신호 TI에 동기하여 명령 신호 CMD가 출력된다. 즉 테스트 입력 신호 TI가 하이 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD가 하이 레벨로 출력되고, 테스트 입력 신호 TI가 로우 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD가 로우 레벨로 출력된다.
도 19는 본 발명에 따른 테스트 출력 구동부(170)를 나타내는 회로도이다.
도 19를 참고하면, 본 발명에 따른 테스트 출력 구동부(170)는 오픈 드레인 구조를 갖는 NMOS 트랜지스터 N를 포함한다. NMOS 트랜지스터 N는 게이트로 응답 신호 RP가 입력되고, 소스는 그라운드 단자에 연결되며, 드레인은 테스트 신호 출력 패드(14)에 연결된다.
응답 신호 RP가 하이 레벨로 입력되면 NMOS 트랜지스터 N가 턴 온되어 소스와 드레인이 도통되므로, 테스트 출력 신호 TO가 로우 레벨로 구동되고, 응답 신호 RP가 로우 레벨로 입력되면 NMOS 트랜지스터 N가 턴 오프되어 소스와 드레인이 차단되므로, 테스트 출력 신호 TO가 하이 레벨로 구동된다.
도 20은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 테스트 출력 구동부(170)의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 20을 참고하면, 본 발명에 따른 테스트 출력 구동부(170)는 전원 전압 VDD 및 그라운드 전압 GND이 RFID 태그에 공급된다.
응답 신호 RP가 로우 레벨로 입력되면 NMOS 트랜지스터 N가 턴 오프되어 테스트 출력 신호 TO를 하이 레벨로 출력하고, 응답 신호 RP가 하이 레벨로 입력되면 NMOS 트랜지스터 N가 턴 온되어 테스트 출력 신호 TO를 로우 레벨로 출력한다. 즉 테스트 출력 구동부(170)는 응답 신호 RP와 반대 위상을 가지는 테스트 출력 신호 TO를 테스트 신호 출력 패드(14)에 출력한다.
도 21은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 21을 참조하면, 본 발명의 제 3 실시예에 따른 RFID 태그는 크게 안테나부(10), 아날로그부(100), 디지털부(200), 테스트 회로(300) 및 메모리(400)를 포함한다.
안테나부(10)는 RFID 리더로부터 송신된 무선 신호를 수신하는 역할을 한다. 수신된 무선 신호는 안테나 패드(11,12)를 통해 아날로그부(100)로 입력된다.
아날로그부(100)는 전압 증폭부(110), 복조부(120), 클록 발생부(130), 파워 온 리셋부(140), 테스트 입력 버퍼(150), 변조부(160), 테스트 출력 구동부(170) 및 시프트 레지스터(180)를 포함한다.
전압 증폭부(110)는 안테나부(10)로부터 인가되는 무선 신호를 정류 및 승압하여 RFID 태그의 구동전압인 전원 전압을 생성한다.
복조부(120)는 전압 증폭부(110)의 출력전압에 따라 안테나부(10)로부터 입력되는 무선 신호를 복조하여 복조 신호 DEMOD를 생성하고, 생성된 복조 신호 DEMOD를 테스트 입력 버퍼(150)로 출력한다.
클록 발생부(130)는 전압 증폭부(110)에서 생성된 전원 전압에 따라 디지털부(200)의 동작을 제어하기 위한 클록 CLK를 디지털부(200)에 공급한다.
파워 온 리셋부(140)는 전압 증폭부(110)에서 생성된 전원 전압을 감지하여 리셋 동작을 제어하기 위한 파워 온 리셋 신호 POR를 시프트 레지스터(180) 및 디지털부(200)에 출력한다.
파워 온 리셋 신호 POR는 전원 전압이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하는 동안 전원 전압과 같이 상승하다가, 전원 전압이 전원 전압 레벨 VDD로 공급되는 순간 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하여 RFID 태그 내부의 회로를 리셋시키는 신호를 의미한다.
테스트 입력 버퍼(150)는 테스트 신호 입력 패드(13)를 통해 입력되는 테스트 입력 신호 TI와 복조부(120)로부터 입력되는 복조 신호 DEMOD로부터 동작 명령 신호를 검출하여 명령 신호 CMD를 생성한다.
변조부(160)는 디지털부(200)로부터 출력되는 응답 신호 RP를 변조하여 안테나부(10)를 통해 RFID 리더에 전송한다.
전원 전압 인가 패드(15)는 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 전원 전압 VDD이 인가되는 패드를 나타내고, 그라운드 전압 인가 패드(16)는 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 그라운드 전압 GND이 인가되는 패드를 나타낸다.
즉 RFID 태그가 RFID 리더와 통신을 하여 무선 신호를 수신하는 경우에는 전압 증폭부(110)가 전원 전압 VDD을 공급하지만, 본 발명에 따라 웨이퍼 상에서 RFID 태그를 테스트하는 경우에는 별도의 전원 전압 인가 패드(15) 및 그라운드 전압 인가 패드(16)를 통해 전원 전압 VDD 및 그라운드 전압 GND을 공급한다.
테스트 출력 구동부(170)는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 구동하여 테스트 출력 신호 TO를 생성한다.
디지털부(200)는 아날로그부(100)로부터 전원 전압, 파워 온 리셋 신호 POR, 클록 CLK 및 명령 신호 CMD를 입력받아 명령 신호 CMD를 해석하고 제어 신호 및 처리신호들을 생성한다. 그리고 제어 신호 및 처리신호에 대응하는 응답 신호 RP를 아날로그부(100)로 출력한다.
테스트 회로(300)는 시프트 레지스터(180)가 활성화되어 생성된 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화된다. 테스트 회로(300)가 활성화되면, 외부로부터 입력되는 어드레스 신호 XADD,XBANK 및 제어 신호 XDD,XCE,XWE,XOE 또는 디지털부(200)로부터 입력되는 어드레스 신호 DADD,DBANK 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE에 따라 RFID 태그에 포함된 내부 회로, 즉 아날로그부(100), 디지털부(200) 및 메모리(400)를 테스트한다.
디지털부(200)는 테스트 신호 입력 패드(13)를 통해 입력된 테스트 입력 신호 TI에 따라 생성된 명령 신호 CMD에 의해 어드레스 신호 DADD,DBANK 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE를 생성한다. 테스트 회로(300)는 어드레스 신호 DADD,DBANK 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE에 따라 어드레스 신호 ADD,BANK 및 제어 신호 I,CE,WE,OE를 생성하여 메모리(400)를 테스트한다. 테스트 회로(300)는 메모리(400)로부터 테스트 결과인 제어 결과 신호 O를 입력받고 제어 결과 신호 DO를 생성한다. 디지털부(200)는 제어 결과 신호 DO에 따라 응답 신호 RP를 생성하고, 이를 테스트 신호 출력 구동부(170)로 구동하여 테스트 신호 출력 패드(14)를 통해 출력한다.
테스트 회로(300)는 어드레스 신호 입력 패드(301)를 통해 입력된 어드레스 신호 XADD,XBANK 및 제어 신호 입력 패드(302,303,304,305)를 통해 입력된 제어 신호 XDD,XCE,XWE,XOE에 따라 어드레스 신호 ADD,BANK 및 제어 신호 I,CE,WE,OE를 생성하여 메모리(400)를 테스트한다. 테스트 회로(300)는 메모리(400)로부터 테스트 결과인 제어 결과 신호 O를 입력받고 제어 결과 신호 XDO를 생성한다. 테스트 회로(300)는 제어 결과 신호 XDO를 출력하고, 이를 제어 출력 구동부(171)로 구동하여 제어 신호 출력 패드(306)를 통해 출력한다.
메모리(400)는 복수 개의 메모리 셀을 포함하고, 각각의 메모리 셀은 데이터를 저장 소자에 라이트하고, 저장 소자에 저장된 데이터를 리드하는 역할을 한다.
메모리(400)는 불휘발성 강유전체 메모리가 사용될 수 있다. FeRAM은 디램 정도의 데이터 처리 속도를 갖는다. 또한, FeRAM은 디램과 거의 유사한 구조를 가지고, 커패시터의 재료로 강유전체를 사용하여 강유전체의 특성인 높은 잔류 분극을 가진다. 이와 같은 잔류 분극 특성으로 인하여 전계를 제거하더라도 데이터가 지워지지 않는다.
도 22는 본 발명의 제 4 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 22를 참조하면, 본 발명의 제 4 실시예에 따른 RFID 태그는 크게 안테나부(10), 아날로그부(100), 디지털부(200), 테스트 회로(300) 및 메모리(400)를 포함한다.
제 4 실시예의 안테나부, 디지털부(200), 테스트 회로(300) 및 메모리(400)의 구성은 제 3 실시예와 동일하고, 제 4 실시예의 아날로그부(100)는 전압 리미 터(190)를 더 포함한다. 전압 리미터(190)는 전압 증폭부(110)에서 증폭된 전압 또는 외부로부터 공급된 전원 전압이 전원 전압 레벨 VDD보다 순간적으로 높아져서 RFID 태그 내부 회로를 손상시키는 것을 방지하기 위해, 일정 전압 레벨로 전압이 높아지지 않도록 전압의 크기를 제한한다.
도 23은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 시프트 레지스터(180)를 나타내는 블록 다이어그램이다.
도 23을 참고하면, 본 발명의 시프트 레지스터(180)는 시프트 레지스터 회로(185), 정전기 방지부(186) 및 입력 버퍼(187)를 포함한다.
시프트 레지스터 회로(185)는 테스트 칩으로부터 입력되는 테스트 시리얼 입력 신호 또는 다른 RFID 태그로부터 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호의 값을 저장했다가 테스트 클록 TCLK에 의해 시프트 레지스터 회로(185)가 활성화되면 테스트 시리얼 입력 신호 또는 다른 RFID 태그로부터 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호의 값을 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다.
시프트 레지스터 회로(185)는 파워 온 리셋부(140)로부터 입력되는 파워 온 리셋 신호 POR 또는 외부로부터 테스트 리셋 신호 입력 패드(184)를 통해 입력되는 테스트 리셋 신호 TRST에 의해 리셋된다. 시프트 레지스터 회로(185)가 리셋되면 입력되는 신호에 관계없이 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다.
테스트 클록 TCLK은 테스트 클록 입력 패드(181)를 통해 시프트 레지스터(180)로 입력된다. 테스트 클록 입력 패드(181)와 그라운드 단자 사이에는 정전기 방지부(186)가 병렬로 연결된다.
정전기 방지부(186)는 NMOS 트랜지스터 ND를 포함한다. NMOS 트랜지스터 ND는 게이트 및 소스가 그라운드 단자에 연결되고, 드레인이 테스트 클록 입력 패드(181)에 연결된다. NMOS 트랜지스터 ND는 게이트가 그라운드 단자에 연결되어 있으므로, 턴 오프된 상태를 유지한다. 하지만 테스트 클록 입력 패드(181)에 정전기가 발생하여 순간적으로 높은 전압이 인가되면, NMOS 트랜지스터 ND가 턴 온되어 그라운드 단자를 통해 전류가 흐르게 된다. 따라서 시프트 레지스터 회로(185)에 고전류가 흐르는 것을 방지할 수 있다.
입력 버퍼(187)는 파워 온 리셋 신호 POR와 테스트 리셋 신호 TRST를 입력받아 시프트 레지스터 회로(185)의 리셋 단자로 리셋 신호를 출력한다. 입력 버퍼(187)는 오아 논리 소자로 구현될 수 있다.
파워 온 리셋 신호 POR가 하이 레벨로 입력되는 경우, 즉 RFID 태그에 전원 전압이 공급되기 시작할 때 파워 온 리셋 신호가 하이 레벨로 입력되면, 논리 소자 OR는 리셋 신호를 하이 레벨로 출력하여 시프트 레지스터 회로(185)를 리셋한다. 따라서 시프트 레지스터 회로(185)는 입력되는 신호에 관계없이 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다.
전원 전압이 공급된 이후에 시프트 레지스터 회로(185)를 리셋시키기 위하여 외부로부터 테스트 리셋 신호 TRST가 하이 레벨로 입력되면, 논리 소자OR는 리셋 신호를 하이 레벨로 출력하여 시프트 레지스터 회로(185)를 리셋한다. 따라서 시프트 레지스터 회로(185)는 입력되는 신호에 관계없이 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다.
도 24는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그의 입/출력 패드(500)의 구성을 나타내는 구성도이다.
도 24를 참고하면, 본 발명에 따른 입/출력 패드(500)는 중앙부에 입/출력 회로부(510)를 포함하고, 중앙부 주변 영역에 테스트 신호 입력 패드(13), 테스트 신호 출력 패드(14), 전원 전압 인가 패드(15), 그라운드 전압 인가 패드(16), 테스트 클록 입력 패드(181), 테스트 시리얼 신호 입력 패드(182), 테스트 시리얼 신호 출력 패드(183), 테스트 리셋 신호 입력 패드(184), 어드레스 신호 입력 패드(301), 제어 신호 입력 패드(302,303,304,305) 및 제어 신호 출력 패드(306)가 배열된다. 그리고 중앙부와 주변 영역 사이에 정전기 방지부(520)가 형성되어, 입력 패드에서 발생하는 정전기에 의해 중앙부에 있는 입/출력 회로부(510)가 손상되지 않도록 한다.
도 25은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그 TAG01에 포함된 시프트 레지스터(180)의 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 25를 참고하면, ti에서 전원 전압 인가 패드(15)를 통해 전원 전압 VDD이 공급되기 시작하면 테스트 칩이 초기화된다. 동시에 파워 온 리셋 신호 POR도 로우 레벨에서 하이 레벨로 초기화된다. 파워 온 리셋 신호 POR는 시프트 레지스터 회로(185)에 입력되어 시프트 레지스터 회로(185)를 리셋한다.
ti에서, 테스트 리셋 신호 TRST가 하이 레벨로 입력되는 경우에도 시프트 레지스터 회로(185)가 리셋된다.
t0에서, 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이한다. 즉 테스트 시리얼 입력 신호가 테스트 칩으로부터 RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI01로 입력된다. RFID 태그 TAG01로 입력된 테스트 시리얼 입력 신호는 시프트 레지스터(180)의 시프트 레지스터 회로(185)로 입력된다.
t1에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 시프트 레지스터 회로(185)는 t1에서의 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. t1에서의 테스트 시리얼 입력 신호가 하이 레벨로 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다.
시프트 레지스터 회로(185)는 테스트 클록 TCLK에 의해 세트되므로 t1에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되고 다시 t4에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력될 때까지는 테스트 시리얼 출력 신호를 계속 하이 레벨로 출력한다. 따라서 t2에서 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨로 천이하거나 또는 t3에서, 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 천이하더라도, 테스트 시리얼 출력 신호는 하이 레벨로 출력된다.
RFID 태그 TAG01를 비활성화시키기 위해서는 테스트 시리얼 입력 신호는 다음 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 출력되기 전에 로우 레벨로 설정되는 것이 바람직하다. 즉 본 발명에서는 t3에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되기 시작하지만, 본 발명의 목적을 달성하기 위해서는 t1~t4 사이의 구간에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되면 된다.
테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되면 테스트 회로(300)가 활성화되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되는 동안 테스트 동작을 수행할 수 있다.
t4에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 시프트 레지스터 회로(185)는 t4에서의 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. t4에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다.
테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨로 출력되면 테스트 회로(300)가 비활성화되므로, 테스트 동작을 수행할 수 없다.
도 26은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 복수 개의 RFID 태그가 순차적으로 활성화되는 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 26을 참고하면, ti에서 전원 전압 VDD이 공급되기 시작하면 테스트 칩이 초기화된다. 동시에 파워 온 리셋 신호 POR도 로우 레벨에서 하이 레벨로 초기화된다. 파워 온 리셋 신호 PRO는 시프트 레지스터 회로(185)에도 입력되므로 시프트 레지스터 회로(185)도 파워 온 리셋 신호 POR에 의해 초기화된다.
ti에서, 테스트 리셋 신호 TRST가 하이 레벨로 입력되는 경우에도 시프트 레지스터 회로(185)가 리셋된다.
t0에서, 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이한다. 즉 테스트 시리얼 입력 신호가 테스트 칩으로부터 RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI01로 입력된다. RFID 태그 TAG01로 입력된 테스트 시리얼 입력 신호는 시프트 레지스터(180)의 시프트 레지스터 회로(185)로 입력된다.
t1에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 시프트 레지스터 회 로(185)는 t1에서의 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. t1에서의 테스트 시리얼 입력 신호가 하이 레벨로 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호를 하이 레벨로 출력한다.
시프트 레지스터 회로(185)는 테스트 클록 TCLK에 의해 세트되므로 t1에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되고 다시 t4에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력될 때까지는 테스트 시리얼 출력 신호를 계속 하이 레벨로 출력한다. 따라서 t2에서 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨로 천이하거나 또는 t3에서, 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 천이하더라도, 테스트 시리얼 출력 신호는 하이 레벨로 출력된다.
RFID 태그 TAG01를 비활성화시키기 위해서는 테스트 시리얼 입력 신호는 다음 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 출력되기 전에 로우 레벨로 설정되는 것이 바람직하다. 즉 본 발명에서는 t3에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되기 시작하지만, 본 발명의 목적을 달성하기 위해서는 t1~t4 사이의 구간에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되면 된다.
RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되면 테스트 회로(300)가 활성화되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되는 동안 테스트 동작을 수행할 수 있다.
t4에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 RFID 태그 TAG01의 시프트 레지스터 회로(185)는 t4에서의 테스트 시리얼 입력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. t4에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다. RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨로 출력되면 테스트 회로(300)가 비활성화되므로, RFID 태그 TAG01이 비활성화된다.
한편 RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 출력 신호는 RFID 태그 TAG02의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI02로 입력된다.
t4에서, RFID 태그 TAG02에 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터 회로는 t4에서 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값을 저장했다가 RFID 태그 TAG02의 테스트 시리얼 신호 출력 패드 TSO02를 통해 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다.
t4에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 RFID 태그 TAG01의 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨에서 로우 레벨로 출력된다. 실제 회로에서는 테스트 클록 TCLK이 천이하는 순간과 테스트 시리얼 출력 신호가 천이하는 시점 사이에 약간의 딜레이가 발생한다. t4에서 RFID 태그 TAG02에 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값은 하이 레벨이므로, RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터 회로는 하이 레벨 값을 저장했다가 RFID 태그 TAG02의 출력 패드 TSO02를 통해 하이 레벨의 테스트 출력 신호를 출력한다.
RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터로부터 출력되는 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되면 RFID 태그 TAG02의 테스트 회로가 활성화되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되는 동안 테스트 동작을 수행할 수 있다.
RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터 회로는 테스트 클록 TCLK에 의해 세트되 므로 t4에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되고 다시 t6에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력될 때까지는 테스트 시리얼 출력 신호를 계속 하이 레벨로 출력한다. 따라서 t5에서 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨로 천이하더라도 RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터로부터 출력되는 테스트 시리얼 출력 신호는 t6까지 하이 레벨을 유지한다.
t6에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터 회로는 t6에서 RFID 태그 TAG02로 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. t6에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다.
RFID 태그 TAG02의 시프트 레지스터 회로로부터 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨로 출력되면 테스트 회로(300)가 비활성화되므로, RFID 태그 TAG02가 비활성화된다.
RFID 태그 TAG02의 테스트 시리얼 출력 신호는 RFID 태그 TAG03의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI02로도 입력된다.
t6에서, RFID 태그 TAG03에 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터 회로는 t6에서 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값을 저장했다가 RFID 태그 TAG03의 테스트 시리얼 신호 출력 패드 TSO03를 통해 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다.
t6에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 RFID 태그 TAG02의 테스 트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨에서 로우 레벨로 출력된다. 실제 회로에서는 테스트 클록 TCLK이 천이하는 순간과 테스트 시리얼 출력 신호가 천이하는 시점 사이에 약간의 딜레이가 발생한다. t6에서 RFID 태그 TAG03에 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값은 하이 레벨이므로, RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터 회로는 하이 레벨 값을 저장했다가 RFID 태그 TAG03의 출력 패드 TSO03를 통해 하이 레벨의 테스트 출력 신호를 출력한다.
RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터로부터 출력되는 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되면 RFID 태그 TAG03의 테스트 회로가 활성화되므로, 테스트 시리얼 출력 신호가 하이 레벨로 출력되는 동안 테스트 동작을 수행할 수 있다.
RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터 회로는 테스트 클록 TCLK에 의해 세트되므로 t6에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되고 다시 t8에서 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력될 때까지는 테스트 시리얼 출력 신호를 계속 하이 레벨로 출력한다. 따라서 t7에서 테스트 클록 TCLK이 로우 레벨로 천이하더라도 RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터로부터 출력되는 테스트 시리얼 출력 신호는 t8까지 하이 레벨을 유지한다.
t8에서, 테스트 클록 TCLK이 하이 레벨로 입력되면 RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터 회로는 t8에서 RFID 태그 TAG03로 입력되는 테스트 시리얼 출력 신호 값을 저장했다가 테스트 시리얼 출력 신호로 출력한다. t8에서 테스트 시리얼 입력 신호가 로우 레벨로 입력되므로, 테스트 시리얼 출력 신호를 로우 레벨로 출력한다.
RFID 태그 TAG03의 시프트 레지스터 회로로부터 테스트 시리얼 출력 신호가 로우 레벨로 출력되면 테스트 회로(300)가 비활성화되므로, RFID 태그 TAG03가 비활성화된다.
마찬가지로, RFID 태그 TAG03의 테스트 시리얼 출력 신호는 RFID 태그 TAG04의 테스트 시리얼 신호 입력 패드 TSI04로 입력된다. 그리고 상기와 같이 순차적으로 RFID 태그 TAG04~TAGN를 활성화시키고, 활성화 구간동안 테스트 동작을 수행할 수 있다.
활성화 구간 동안의 테스트 동작은 다음과 같이 이루어진다.
테스트 동작은 RFID 태그의 사용자의 의도에 따라 아날로그부(100), 디지털부(200) 또는 메모리(400)에 수행될 수 있다. 예를 들어, 메모리(400)에 대해 테스트 동작을 수행할 경우, 메모리(400)에 리셋 데이터를 라이트한다. 그리고 입/출력 패드를 통해 테스트 입력 신호 TI가 입력된다. 테스트 입력 신호 TI는 테스트 입력 버퍼(150)에 입력되어 명령 신호 CMD를 생성한다. 명령 신호 CMD에는 RFID 태그에 라이트된 데이터를 리드하도록 동작하는 신호가 포함된다.
테스트 회로(300)는 명령 신호 CMD에 따라 제어 신호 CTR를 이용하여 메모리(400)에 라이트된 데이터를 리드한다. 테스트 회로(300)에서 생성되는 응답 신호 RP는 리드된 데이터에 대한 정보를 포함한다. 응답 신호 RP는 테스트 출력 구동부(170)에 의해 구동되어 테스트 출력 신호 TO의 형태로 테스트 신호 출력 패드(14)를 통해 출력된다. 테스트 출력 신호 TO로부터 리드된 데이터에 대한 정보를 얻고, RFID 태그 외부의 테스트 장비(도시되지 않음)는 리드된 데이터와 라이트된 데이터와 일치하는지 여부를 비교한다. 리드된 데이터와 라이트된 데이터가 일치하면 정상으로 판정하고, 일치하지 않으면 불량으로 판정함으로써 테스트 동작을 완료한다.
도 27은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 테스트하는 방법을 나타내는 순서도이다.
도 27을 참고하면, RFID 태그 어레이에 포함된 테스트 칩에 전원 전압을 공급하여 테스트 칩을 초기화한다(S101).
파워 온 리셋 신호를 이용하여 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 리셋한다(S102).
테스트 칩이 초기화되면, 테스트 칩은 테스트 시리얼 입력 신호를 생성하여 RFID 태그 TAG01로 출력한다(S103).
RFID 태그 TAG01가 테스트 시리얼 입력 신호를 입력받으면, RFID 태그 TAG01가 테스트 클록 TCLK에 동기하여 활성화되고, 비활성화되기 전까지의 활성화 구간동안 테스트 동작을 수행한다(S104).
RFID 태그 TAG01가 테스트 시리얼 출력 신호를 RFID 태그 TAG02로 출력한다(S105).
마지막 RFID 태그가 활성화되어 테스트 동작을 완료할 때까지 상기 테스트 시리얼 신호를 다음 RFID 태그로 출력하고 테스트 동작을 수행하는 단계를 반복한다(S106).
도 28은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그 각 각을 테스트하는 제 1 실시예를 나타내는 순서도이다.
도 28을 참고하면, RFID 태그가 활성화된 상태에서 상기 단계 S104의 구체적인 테스트 동작은 다음과 같이 수행될 수 있다.
RFID 태그가 활성화되면 RFID 태그의 테스트 신호 입력 패드(13)를 통해 테스트 입력 신호 TI를 입력한다(S104-1).
테스트 입력 신호 TI에 의해 테스트 회로(300)가 테스트 동작을 수행하고, 테스트 결과 신호 TXO를 테스트 출력 구동부(170)로 출력한다(S104-2).
테스트 출력 구동부(170)는 테스트 결과 신호 TXO를 구동하여 테스트 출력 신호 TO를 생성한 후 테스트 신호 출력 패드(14)를 통해 외부로 출력한다(S104-3).
외부의 테스트 장치는 테스트 입력 신호 TI와 테스트 출력 신호 TO를 비교하여 RFID 태그가 정상적으로 동작하는지 확인한다(S104-4).
도 29는 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그 각각을 테스트하는 제 2 실시예를 나타내는 순서도이다.
도 29를 참고하면, RFID 태그가 활성화된 상태에서 상기 단계 S104의 구체적인 테스트 동작은 다음과 같이 수행될 수 있다.
RFID 태그가 활성화되면 RFID 태그의 어드레스 신호 입력 패드(301) 및 제어 신호 입력 패드(302,303,304,305)를 통해 어드레스 신호 XADD,XBANK 및 제어 신호 XDD,XCE,XWE,XOE를 입력한다(S104-1).
테스트 회로(300)는 어드레스 신호 XADD,XBANK 및 제어 신호 XDD,XCE,XWE,XOE에 따라 테스트 동작을 수행하고, 제어 결과 신호 XDO를 제어 신호 출력 구동부(171)로 출력한다(S104-2).
제어 신호 출력 구동부(171)는 제어 결과 신호 XDO를 구동하여 제어 출력 신호 XO를 생성한 후 제어 신호 출력 패드(306)를 통해 외부로 출력한다(S104-3).
외부의 테스트 장치는 어드레스 신호 XADD,XBANK 및 제어 신호 XDD,XCE,XWE,XOE와 제어 출력 신호 XO를 비교하여 RFID 태그가 정상적으로 동작하는지 확인한다(S104-4).
도 30은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 테스트 입력 버퍼(150)를 나타내는 회로도이다.
도 30을 참고하면, 본 발명의 테스트 입력 버퍼(150)는 복조부(120)로부터 복조 신호 DEMOD가 입력되고, 외부로부터 테스트 입력 신호 TI가 입력되며,시프트 레지스터(180)로부터 테스트 시리얼 출력 신호가 입력된다.
테스트 입력 신호 TI 및 테스트 출력 신호는 논리 소자 AND로 입력된다. 논리 소자 AND는 테스트 입력 신호 TI 및 테스트 출력 신호에 대하여 앤드(And) 연산을 수행한다.
논리 소자 OR는 복조 신호 DEMOD 및 논리 소자 AND로부터 입력되는 신호를 입력받아 오아(Or) 연산을 수행하여 명령 신호 CMD를 생성한다. 명령 신호 CMD는 디지털부(200)로 출력된다.
도 31은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그가 비활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼(150)의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 31을 참고하면, RFID 태그는 비활성화 상태므로 테스트 동작을 수행할 수 없다. 테스트 동작을 수행할 수 없으므로 테스트 입력 신호 TI도 로우 레벨로 입력된다.
테스트 입력 신호 TI가 로우 레벨로 입력되면 논리 소자 AND는 앤드 연산을 수행하여 로우 레벨의 신호를 출력한다.
논리 소자 OR는 오아 연산을 수행하고, 논리 소자 AND로부터 입력되는 신호가 로우 레벨이므로 복조 신호 DEMOD에 따라 명령 신호 CMD를 생성한다. 즉 복조 신호 DEMOD가 하이 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD를 하이 레벨로 출력하고, 복조 신호 DEMOD가 로우 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD를 로우 레벨로 출력한다.
도 32는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그가 활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼(150)의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 32를 참고하면, RFID 태그가 활성화된 상태이므로 테스트 입력 신호에 의해 테스트를 수행할 수 있다. RFID 태그가 활성화된 상태이므로 전원 전압이 전원 전압 레벨 VDD로 공급되고, 그라운드 전압이 그라운드 전압 레벨 GND로 공급된다.
테스트 입력 신호 TI가 로우 레벨로 입력되면 논리 소자 AND는 앤드 연산을 수행하여 로우 레벨의 신호를 출력한다.
RFID 태그가 활성화된 상태이므로 테스트 출력 신호가 하이 레벨로 논리 소자 AND에 입력되고, 논리 소자 AND는 앤드 연산을 수행하므로 테스트 입력 신호 TI에 동기하는 신호가 논리 소자 AND로부터 출력된다.
테스트 동작을 수행하는 동안은 복조 신호 DEMOD가 로우 레벨로 입력되고, 논리 소자 OR는 복조 신호 DEMOD 및 논리 소자 AND의 출력 신호를 오아 연산하여 명령 신호 CMD를 생성한다. 즉 테스트 입력 신호 TI가 하이 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD를 하이 레벨로 출력하고, 테스트 입력 신호 TI가 로우 레벨로 입력되면 명령 신호 CMD를 로우 레벨로 출력한다.
도 33은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 입/출력 회로부(510)를 나타내는 회로도이다.
도 33을 참고하면, 입/출력 회로부(510)는 테스트 출력 구동부(170), 제어 출력 구동부(171), 어드레스 신호 입/출력부(172) 및 제어 신호 입/출력부(173,174,175)를 포함한다.
테스트 출력 구동부(170)는 풀업 구동부 PU_T 및 구동부 DRV_T를 포함한다. 풀업 구동부 PU_T는 그라운드 단자에 연결되어 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 풀업 구동한다. 구동부 DRV_T는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 구동하여 테스트 출력 신호 TO를 생성한 후 테스트 신호 출력 패드(14)을 통해 외부로 출력한다.
제어 출력 구동부(171)는 풀업 구동부 PU_X 및 구동부 DRV_X를 포함한다. 풀업 구동부 PU_X는 제어 신호 입력 패드(305)를 통해 입력되는 제어 신호 XOE에 따라 제어 결과 신호 XDO를 선택적으로 풀업 구동한다. 구동부 DRV_X는 제어 신호 입/출력부(174)로부터 출력되는 제어 결과 신호 XDO를 구동하여 제어 출력 신호 XO를 생성한 후 제어 신호 출력 패드(306)를 통해 외부로 출력한다.
어드레스 신호 입/출력부(172)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되고, 각각의 논리 소자 OR는 외부로부터 어드레스 신호 XADD를, 디지털부(200)로부 터 어드레스 신호 DADD를, 시프트 레지스터(180)로부터 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받아 어드레스 신호 ADD를 생성하고, 어드레스 신호 ADD를 메모리(400)로 출력한다.
제어 신호 입/출력부(173)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되고, 각각의 논리 소자 OR는 외부로부터 제어 신호 XDI를, 디지털부(200)로부터 제어 신호 DI를, 시프트 레지스터(180)로부터 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받아 제어 신호 I를 생성하고, 제어 신호 I를 메모리(400)로 출력한다.
제어 신호 입/출력부(174)는 복수 개의 논리 소자 XOR가 병렬로 연결되고, 각각의 논리 소자 XOR는 메모리(400)로부터 제어 신호 O를, 시프트 레지스터(180)로부터 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받아 제어 결과 신호 XDO를 생성하고, 제어 결과 신호 XDO를 제어 출력 구동부(171)로 출력한다.
제어 신호 입/출력부(175)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되고, 디지털부(200)로부터 제어 신호 DCE,DWE,DOE를, 외부로부터 제어 신호 XCE,XWE,XOE를 입력받아 제어 신호 CE,WE,OE를 생성하고, 제어 신호 CE,WE,OE를 메모리(400)로 출력한다.
도 34는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 테스트 출력 구동부(170)를 나타내는 회로도이다.
도 34를 참고하면, 본 발명에 따른 테스트 출력 구동부(170)는 풀업 구동부 PU_T 및 구동부 DRV_T를 포함한다.
풀업 구동부 PU_T는 PMOS 트랜지스터로 구성된다. PMOS 트랜지스터는 게이트 로 그라운드 전압 인가 패드(16)를 통해 그라운드 전압 GND이 인가되고, 드레인으로 전원 전압 인가 패드(15)를 통해 전원 전압 VDD이 공급되며, 소스가 구동부 DRV_T의 입력 단자에 연결된다. PMOS 트랜지스터의 게이트에 그라운드 전압이 인가되므로, PMOS 트랜지스터는 턴 온 상태를 유지한다. 따라서 풀업 구동부 PU_T는 구동부 DRV_T로 입력되는 응답 신호 RP를 풀업 구동한다.
풀업 구동부 PU_T가 항상 활성화되어 있으므로 구동부 DRV_T는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 구동하여 테스트 출력 신호 TO를 생성한 후 테스트 신호 출력 패드(14)를 통해 출력한다.
도 35는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 테스트 출력 구동부(170)의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 35를 참고하면, 본 발명에 따른 테스트 출력 구동부(170)는 풀업 구동부 PU_T에 의하여 전원 전압 레벨 VDD의 풀업 전압이 구동부 DRV_T의 입력 단자에 공급된다. 따라서 풀업 전압을 이용하여 구동부 DRV_T는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 테스트 출력 신호 TO로 구동한다.
구동부 DRV_T는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP가 로우 레벨로 입력되면 테스트 출력 신호 TO를 로우 레벨로 구동하고, 응답 신호 RP가 하이 레벨로 입력되면 테스트 출력 신호 TO를 하이 레벨로 구동한다.
도 36은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 출력 구동부(171)를 나타내는 회로도이다.
도 36을 참고하면, 본 발명에 따른 제어 출력 구동부(171)는 풀업 구동부 PU_X 및 구동부 DRV_X를 포함한다.
풀업 구동부 PU_X는 PMOS 트랜지스터로 구성된다. PMOS 트랜지스터는 게이트로 제어 신호 입력 패드(305)를 통해 제어 신호 XOE가 입력되고, 드레인으로 전원 전압 VDD이 공급되며, 소스가 구동부 DRV_X의 입력 단자에 연결된다.
제어 신호 XOE가 하이 레벨로 입력되면, PMOS 트랜지스터가 턴 오프되어 전원 전압 VDD의 공급이 차단되므로 풀업 구동부 PU_X는 구동부 DRV_X로 입력되는 제어 결과 신호 XDO를 풀업 구동하지 못한다.
제어 신호 XOE가 로우 레벨로 입력되면, PMOS 트랜지스터가 턴 온되므로 전원 전압 VDD이 구동부 DRV_X의 입력 단자에 공급되어 제어 결과 신호 XDO를 풀업 구동한다. 따라서 제어 결과 신호 XDO가 로우 레벨로 입력되더라도 제어 신호 XOE가 로우 레벨로 입력되면 제어 결과 신호 XDO가 풀업되어 하이 레벨로 리셋된다.
구동부 DRV_X는 디지털부(200)로부터 입력되는 제어 결과 신호 XDO를 구동하여 제어 출력 신호 XO를 생성하고, 제어 출력 신호 XO를 제어 신호 출력 패드(306)를 통해 외부로 출력한다.
제어 신호 XOE가 로우 레벨로 입력되면 풀업 구동부 PU_X가 활성화되어 제어 결과 신호 XDO가 하이 레벨로 리셋되므로 구동부 DRV_X는 제어 결과 신호 XDO를 구동하고, 제어 신호 XOE가 하이 레벨로 입력되면 풀업 구동부 PU_X가 비활성화되므로 구동부 DRV_X는 제어 결과 신호 XDO를 풀업 구동하지 않는다.
도 37은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 출력 구동부(171)의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 37을 참고하면, 제어 출력 구동부(171)는 t1 구간에서 제어 신호 XOE가 로우 레벨로 입력되어 풀업 구동부 PU_X가 활성화된다. 풀업 구동부 PU_X가 활성화되면 전원 전압 VDD을 구동부 DRV_X의 입력 단자에 공급한다. 따라서 구동부 DRV_X에 입력되는 제어 결과 신호 XDO가 풀업되어 하이 레벨로 리셋된다.
t2 구간에서 제어 신호 XOE가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하면, 풀업 구동부 PU_X가 비활성화된다. 풀업 구동부 PU_X가 비활성화되면 전원 전압 VDD이 구동부 DRV_X의 입력 단자에 공급되지 않는다. 따라서 구동부 DRV_X에 입력되는 제어 결과 신호 XDO는 디지털부(200)로부터 입력되는 레벨대로 구동된다. 즉 제어 결과 신호 XDO가 로우 레벨로 입력되면 구동부 DRV_X는 제어 출력 신호 XO를 로우 레벨로 구동하고, 제어 결과 신호 XDO가 하이 레벨로 입력되면 구동부 DRV_X는 제어 출력 신호 XO를 하이 레벨로 구동한다.
t3 구간에서 제어 신호 XOE가 하이 레벨에서 로우 레벨로 다시 천이하면, 풀업 구동부 PU_X가 활성화되어 제어 결과 신호 XDO가 하이 레벨로 풀업된다. 따라서 구동부 DRV_X는 제어 결과 신호 XDO를 하이 레벨로 구동한다.
도 38은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 어드레스 신호 입/출력부(172)를 나타내는 회로도이다.
도 38을 참고하면, 어드레스 신호 입/출력부(172)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되고, 각각의 논리 소자 OR는 외부로부터 어드레스 신호 XADD를, 디지털부(200)로부터 어드레스 신호 DADD를, 시프트 레지스터(180)로부터 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받아 어드레스 신호 ADD를 생성하고, 어드레스 신호 ADD를 메모리(400)로 출력한다.
외부로부터 입력되는 어드레스 신호 XADD는 제어 신호 XCE,XWE,XOE에 의해 RFID 태그를 테스트하기 위해 사용되는 신호이고, 디지털부(200)로부터 입력되는 어드레스 신호 DADD는 테스트 입력 신호 TI에 의해 RFID 태그를 테스트하기 위해 사용되는 신호이다.
어드레스 신호 입/출력부(172)는 어드레스 신호 XADD,DADD를 입력받아 어떤 방식에 의해 테스트를 수행할 것인가에 따라서 어드레스 신호 ADD를 생성하고, 어드레스 신호 ADD를 메모리(400)로 출력한다. 어드레스 신호 ADD는 메모리(400)에 포함된 메모리 셀의 위치에 대한 정보로서, 메모리(400)에 포함된 전체 메모리 셀 또는 특정 메모리 셀에 대해서 선택적으로 테스트 동작을 수행할 수 있다.
어드레스 신호 입력부(172)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되어 있는데, 각각의 논리 소자 OR는 어드레스 신호 XADD와 테스트 출력 신호를 앤드 연산한 신호와 어드레스 신호 DADD를 오아 연산한다.
논리 소자 OR는 테스트 동작이 수행되어 테스트 출력 신호가 하이 레벨로 출력되는 경우에만 어드레스 신호 ADD를 출력한다. 테스트 출력 신호가 하이 레벨로 출력되고, 어드레스 신호 DADD 또는 어드레스 신호 XADD가 하이 레벨로 입력될 때, 어드레스 신호 ADD를 하이 레벨로 출력한다. 어드레스 신호 XADD 및 어드레스 신호 DADD가 모두 로우 레벨로 입력되면 어드레스 신호 ADD가 로우 레벨로 출력된다.
즉 테스트 입력 신호 TI에 의해 테스트를 수행할 경우에는 어드레스 신호 XADD에 따라 어드레스 신호 ADD를 생성하고, 제어 신호 XCE,XWE,XOE에 의해 테스트 를 수행할 경우에는 어드레스 신호 DADD에 따라 어드레스 신호 ADD를 생성한다.
도 39는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 신호 입/출력부(173)를 나타내는 회로도이다.
도 39를 참고하면, 제어 신호 입/출력부(173)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되고, 각각의 논리 소자 OR는 외부로부터 제어 신호 XDI를, 디지털부(200)로부터 제어 신호 DI를, 시프트 레지스터(180)로부터 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받아 제어 신호 I를 생성하고, 제어 신호 I를 메모리(400)로 출력한다.
외부로부터 입력되는 제어 신호 XDI는 제어 신호 XCE,XWE,XOE와 함께 RFID 태그를 테스트하기 위해 사용되는 신호이고, 디지털부(200)로부터 입력되는 제어 신호 DI는 테스트 입력 신호 TI에 의해 RFID 태그를 테스트하기 위해 사용되는 신호이다.
제어 신호 입/출력부(173)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되어 있는데, 각각의 논리 소자 OR는 제어 신호 XDI와 테스트 출력 신호를 앤드 연산한 신호와 제어 신호 DI를 오아 연산한다. 본 실시예에서는 두 개의 제어 신호 XDI<0>,XDI<1>가 분기되어 4 개의 논리 소자 OR에 입력된다. 하지만 제어 신호 XDI의 개수는 사용자의 의도에 따라 얼마든지 변경 가능하다.
논리 소자 OR는 테스트 동작이 수행되어 테스트 출력 신호가 하이 레벨로 출력되는 경우에만 제어 신호 I를 출력한다. 테스트 출력 신호가 하이 레벨로 출력되고, 제어 신호 XDI 또는 제어 신호 DI가 하이 레벨로 입력될 때, 제어 신호 I를 하이 레벨로 출력한다. 제어 신호 XDI 및 제어 신호 DI가 모두 로우 레벨로 입력되면 제어 신호 I가 로우 레벨로 출력된다.
[표 1]은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 신호 입/출력부(173)의 입/출력 관계를 나타낸다.
[표 1]을 참고하면, 제어 신호 XDI<0>,XDI<1>에 따라 테스트 회로(300)가 제어 신호 I에 의해 메모리(400)를 테스트하고, 그 결과인 제어 결과 신호 XDO를 나타낸다.
예를 들어, 제어 신호 XDI<0>가 로우 레벨로 입력되고, 제어 신호 XDI<1>가 하이 레벨로 입력되며, 제어 신호 DI<0>~<7>가 로우 레벨로 입력되면, 제어 신호 I<1>,I<3>I<5>I<7>이 하이 레벨로 출력되어 해당 메모리 셀에 대한 테스트를 수행한다. 그리고 테스트 결과인 제어 결과 신호 XDO를 하이 레벨로 출력한다.
다른 예로서, 제어 신호 XDI<0> 및 제어 신호 XDI<1>가 모두 하이 레벨로 입력되고, 제어 신호 DI<0>~<7>가 로우 레벨로 입력되면, 제어 신호 I<0>~<7>이 모두 하이 레벨로 출력되어 모든 메모리 셀에 대한 테스트를 수행한다. 그리고 테스트 결과인 제어 결과 신호 XDO를 하이 레벨로 출력한다.
도 40은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 신호 입/출력부(174)를 나타내는 회로도이다.
도 40을 참고하면, 제어 신호 입/출력부(174)는 복수 개의 논리 소자 XOR가 병렬로 연결되고, 각각의 논리 소자 XOR는 메모리(400)로부터 제어 신호 O를, 시프트 레지스터(180)로부터 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받아 제어 결과 신호 XDO를 생성하고, 제어 결과 신호 XDO를 제어 출력 구동부(171)로 출력한다.
제어 결과 신호 O는 메모리(400)에 대한 테스트를 수행한 결과를 나타내는 신호이다. 제어 신호 입/출력부(174)는 메모리(400)로부터 출력되는 제어 결과 신호 O<0>~<7>를 엑스오아(XOR) 연산한다. 즉 제어 결과 신호 O<0>,O<1>, 제어 결과 신호 O<2>,O<3>, 제어 결과 신호 O<4>,O<5>, 제어 결과 신호 O<6>,O<7>를 각각 엑스오아 연산하고, 출력된 4개의 신호를 다시 2개씩 엑스오아 연산하며, 출력된 2 개의 신호를 마지막으로 엑스오아 연산하여 제어 결과 신호 XOROUT를 생성한다.
제어 신호 입/출력부(174)의 출력 단자는 직렬 연결된 2 개의 NMOS 트랜지스터를 포함한다. NMOS 트랜지스터 ND1은 게이트로 제어 결과 신호 XOROUT가 입력되고, 드레인으로 제어 결과 신호 XDO가 출력되며, 소스가 NMOS 트랜지스터 ND2의 소스와 연결된다. NMOS 트랜지스터 ND2는 게이트로 테스트 출력 신호가 입력되고, 드레인이 NMOS 트랜지스터 ND1의 소스와 연결되며, 소스가 그라운드 단자와 연결된다.
제어 신호 입/출력부(174) 는 제어 결과 신호 XOROUT 및 테스트 출력 신호가 동시에 하이 레벨인 경우에는 NMOS 트랜지스터 ND1,ND2가 모두 턴 온되므로 그라운드 레벨로 구동된다.
도 41은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 결과 신호 출력부(175)를 나타내는 회로도이다.
도 41을 참고하면, 제어 신호 입/출력부(175)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되고, 디지털부(200)로부터 제어 신호 DCE,DWE,DOE를, 외부로부터 제어 신호 XCE,XWE,XOE를 입력받아 제어 신호 CE,WE,OE를 생성하고, 제어 신호 CE,WE,OE 를 메모리(400)로 출력한다.
외부로부터 입력되는 제어 신호 XDI는 제어 신호 XCE,XWE,XOE와 함께 RFID 태그를 테스트하기 위해 사용되는 신호이고, 디지털부(200)로부터 입력되는 제어 신호 DI는 테스트 입력 신호 TI에 의해 RFID 태그를 테스트하기 위해 사용되는 신호이다.
제어 신호 입/출력부(173)는 복수 개의 논리 소자 OR가 병렬로 연결되어 있다. 논리 소자 OR1는 제어 신호 XCE와 테스트 출력 신호를 앤드 연산한 신호와 제어 신호 DCE를 오아 연산하여 제어 신호 CE를 출력한다. 논리 소자 OR2는 제어 신호 XWE와 테스트 출력 신호를 앤드 연산한 신호와 제어 신호 DWE를 오아 연산하여 제어 신호 WE를 출력한다. 논리 소자 OR3는 제어 신호XOE와 테스트 출력 신호를 앤드 연산한 신호와 제어 신호 DOE를 오아 연산하여 제어 신호 OE를 출력한다.
도 42는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 정전기 방지부(520)를 나타내는 회로도이다.
도 42를 참고하면, 테스트 시리얼 신호 입력 패드(182)는 외부로부터 테스트 시리얼 입력 신호 또는 테스트 시리얼 출력 신호를 입력받아 시프트 레지스터(180)로 전달한다. 정전기 방지부(520)는 테스트 시리얼 신호 입력 패드(182)와 그라운드 단자 사이에 병렬로 연결된다.
정전기 방지부(520)는 NMOS 트랜지스터 ND를 포함한다. NMOS 트랜지스터 ND는 게이트 및 소스가 그라운드 단자에 연결되고, 드레인이 테스트 시리얼 신호 입력 패드(182)에 연결된다. NMOS 트랜지스터 ND는 게이트가 그라운드 단자에 연결되 어 있으므로, 턴 오프된 상태를 유지한다. 하지만 테스트 시리얼 신호 입력 패드(182)에 정전기가 발생하여 순간적으로 높은 전압이 인가되면, NMOS 트랜지스터 ND가 턴 온되어 그라운드 단자를 통해 전류가 흐르게 된다. 따라서 RFID 태그 내부의 시프트 레지스터(180)에 고전류가 흐르는 것을 방지할 수 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 2는 본 발명에 따른 복수 개의 RFID 태그 어레이를 포함하는 웨이퍼를 나타내는 구성도이다.
도 3은 본 발명에 따른 하나의 RFID 태그 어레이의 구성을 나타내는 구성도이다.
도 4는 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에서 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시키는 과정을 나타내는 구성도이다.
도 5는 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이를 나타내는 회로도이다.
도 6은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시키고, 활성화 구간동안 테스트하는 과정을 나타내는 회로도이다.
도 7은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 활성화시키고, 활성화 구간동안 테스트하는 과정을 나타내는 회로도이다.
도 8은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에서 각각의 RFID 태그가 스크라이브 라인을 통해 연결되는 구성을 나타내는 회로도이다.
도 9는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 10은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 11은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 슬롯 카운터 제어부를 나타 내는 블록 다이어그램이다.
도 12는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 RFID 태그의 테스트에 사용되는 입/출력 패드를 나타내는 구성도이다.
도 13은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 슬롯 카운터 제어부의 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 14는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 복수 개의 RFID 태그가 순차적으로 활성화되는 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 15는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 테스트하는 방법을 나타내는 순서도이다.
도 16는 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 테스트 입력 버퍼를 나타내는 회로도이다.
도 17은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 RFID 태그가 비활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 18은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 RFID 태그가 활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 19는 본 발명에 따른 테스트 출력 구동부를 나타내는 회로도이다.
도 20은 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 테스트 출력 구동부의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 21은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 22는 본 발명의 제 4 실시예에 따른 RFID 태그의 전체 구성도이다.
도 23은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 시프트 레지스터를 나타내는 블록 다이어그램이다.
도 24는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그의 입/출력 패드의 구성을 나타내는 구성도이다.
도 25은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 시프트 레지스터의 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 26은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 복수 개의 RFID 태그가 순차적으로 활성화되는 동작 타이밍을 나타내는 타이밍도이다.
도 27은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그를 순차적으로 테스트하는 방법을 나타내는 순서도이다.
도 28은 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그 각각을 테스트하는 제 1 실시예를 나타내는 순서도이다.
도 29는 본 발명에 따른 RFID 태그 어레이에 포함된 복수 개의 RFID 태그 각각을 테스트하는 제 2 실시예를 나타내는 순서도이다.
도 30은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 테스트 입력 버퍼를 나타내는 회로도이다.
도 31은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그가 비활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 32는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 RFID 태그가 활성화된 상태에서의 테스트 입력 버퍼의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 33은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 입/출력 회로부를 나타내는 회로도이다.
도 34는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 테스트 출력 구동부를 나타내는 회로도이다.
도 35는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 테스트 출력 구동부의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 36은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 출력 구동부를 나타내는 회로도이다.
도 37은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 출력 구동부의 동작을 나타내는 타이밍도이다.
도 38은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 어드레스 신호 입/출력부를 나타내는 회로도이다.
도 39는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 신호 입/출력부를 나타내는 회로도이다.
도 40은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 신호 입/출력부를 나타내는 회로도이다.
도 41은 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 제어 결과 신호 출력부를 나타내는 회로도이다.
도 42는 본 발명의 제 3 및 제 4 실시예에 따른 정전기 방지부를 나타내는 회로도이다.

Claims (26)

  1. 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터;
    상기 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 테스트 입력 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부; 및
    외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 상기 테스트 시리얼 입력 신호, 상기 테스트 클럭 및 상기 테스트 입력 신호를 입력받고, 상기 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 시프트 레지스터는
    상기 테스트 시리얼 입력 신호의 값을 저장했다가 테스트 클럭에 동기하여 상기 테스트 시리얼 입력 신호의 값을 테스트 시리얼 출력 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 시프트 레지스터는 파워 온 리셋 신호에 의해 리셋되는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  4. 청구항 22에 있어서,
    상기 시프트 레지스터는 외부로부터 입력되는 테스트 리셋 신호에 의해 리셋되는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  5. 청구항 1에 있어서,
    RFID 리더로부터 수신한 무선 신호를 복조한 복조 신호 및 상기 테스트 입력 신호를 입력받아 명령 신호를 생성하는 테스트 입력 버퍼를 더 포함하는 RFID 태그.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 테스트 입력 버퍼는 오아 논리 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 테스트 입력 신호가 로우 레벨로 입력되면 상기 복조 신호를 상기 명령 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  8. 청구항 6에 있어서,
    상기 복조 신호가 로우 레벨로 입력되면 상기 테스트 입력 신호를 상기 명령 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  9. 청구항 5에 있어서,
    상기 테스트 입력 버퍼는
    상기 테스트 입력 소자가 입력되는 입력 단자와 그라운드 단자 사이에 병렬로 연결되어, 상기 테스트 입력 신호를 로우 레벨로 바이어스시키는 저항 소자를 포함하는 RFID 태그.
  10. 청구항 1에 있어서,
    테스트가 완료되면 상기 테스트 회로부로부터 출력되는 테스트 결과 신호를 테스트 출력 신호로 구동하여 출력하는 테스트 신호 출력 구동부를 더 포함하는 RFID 태그.
  11. 청구항 10에 있어서,
    상기 테스트 신호 출력 구동부는
    상기 테스트 결과 신호를 구동하여 상기 테스트 출력 신호를 생성하는 구동부; 및
    상기 구동부의 입력 단자로 입력되는 상기 테스트 결과 신호를 풀업시키는 풀업 구동부를 포함하는 RFID 태그.
  12. 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신 호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터;
    상기 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 어드레스 신호 및 제어 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부; 및
    외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 상기 테스트 시리얼 입력 신호, 상기 테스트 클럭 및 상기 어드레스 신호 및 상기 제어 신호를 입력받고, 상기 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 시프트 레지스터는
    상기 테스트 시리얼 입력 신호의 값을 저장했다가 테스트 클럭에 동기하여 상기 테스트 시리얼 입력 신호의 값을 테스트 시리얼 출력 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  14. 청구항 12에 있어서,
    상기 테스트 회로부는
    상기 어드레스 신호 및 상기 제어 신호에 따라 테스트를 수행하고 제어 결과 신호를 생성하여 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  15. 청구항 14에 있어서,
    상기 제어 결과 신호를 구동하여 제어 출력 신호를 생성하는 제어 신호 출력 구동부를 더 포함하는 RFID 태그.
  16. 청구항 15에 있어서,
    상기 제어 신호 출력 구동부는
    상기 제어 결과 신호르르 구동하여 상기 테스트 출력 신호를 생성하는 구동부; 및
    풀업 제어 신호에 의해 선택적으로 상기 제어 결과 신호를 풀업시키는 풀업 구동부를 포함하는 RFID 태그.
  17. 청구항 16에 있어서,
    상기 풀업 구동부는 PMOS 트랜지스터로 구성되고, 상기 PMOS 트랜지스터는 게이트로 상기 풀업 제어 신호가 인가되고 드레인이 전원 전압 단자에 연결되며 소스가 상기 제어 신호 출력 구동부의 입력 단자에 연결되는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  18. 청구항 1 또는 청구항 12에 있어서,
    외부로부터 공급되는 전원 전압이 전원 전압 레벨보다 높아지지 않도록 제한하는 전압 리미터를 더 포함하는 RFID 태그.
  19. 청구항 1 또는 청구항 12에 있어서,
    데이터를 저장하는 복수 개의 메모리 셀을 구비한 메모리 블록을 포함하는 RFID 태그.
  20. 청구항 19에 있어서,
    상기 테스트 회로부는
    상기 테스트 입력 신호에 따라 상기 복수 개의 메모리 셀 중 테스트 대상이되는 메모리 셀을 선택적으로 테스트하는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.
  21. 청구항 19에 있어서,
    상기 복수 개의 메모리 셀은 강유전체 커패시터 소자를 포함하는 RFID 태그.
  22. 청구항 10에 있어서
    상기 입/출력 패드부는
    상기 전원 전압이 인가되는 전원 전압 인가 패드;
    상기 그라운드 전압이 인가되는 그라운드 전압 인가 패드;
    상기 테스트 시리얼 입력 신호가 입력되는 테스트 시리얼 신호 입력 패드;
    상기 테스트 시리얼 출력 신호가 출력되는 테스트 시리얼 신호 출력 패드;
    상기 테스트 클럭이 입력되는 테스트 클럭 입력 패드;
    상기 테스트 입력 신호가 입력되는 테스트 신호 입력 패드; 및
    상기 테스트 출력 신호가 출력되는 테스트 신호 출력 패드를 포함하는 RFID 태그.
  23. 청구항 15에 있어서,
    상기 입/출력 패드부는
    상기 전원 전압이 인가되는 전원 전압 인가 패드;
    상기 그라운드 전압이 인가되는 그라운드 전압 인가 패드;
    상기 테스트 시리얼 입력 신호가 입력되는 테스트 시리얼 신호 입력 패드;
    상기 테스트 시리얼 출력 신호가 출력되는 테스트 시리얼 신호 출력 패드;
    상기 테스트 클럭이 입력되는 테스트 클럭 입력 패드;
    상기 어드레스 신호가 입력되는 어드레스 신호 입력 패드;
    상기 제어 신호가 입력되는 제어 신호 입력 패드; 및
    상기 제어 출력 신호가 출력되는 제어 신호 출력 패드를 포함하는 RFID 태그.
  24. 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터,
    상기 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 테스트 입력 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및
    외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 상기 테스트 시리얼 입력 신호, 상기 테스트 클럭 및 상기 테스트 입력 신호를 입력받고, 상기 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그를 테스트하는 방법으로서,
    상기 테스트 시리얼 출력 신호에 의해 상기 테스트 회로부를 활성화시키는 단계;
    상기 입/출력 패드부를 통해 상기 테스트 입력 신호를 입력하는 단계;
    상기 테스트 입력 신호에 따라 상기 테스트 회로부가 테스트 동작을 수행하고 테스트 출력 신호를 생성하는 단계;
    상기 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 단계; 및
    상기 테스트 입력 신호와 상기 테스트 출력 신호를 비교하는 단계를 포함하는 RFID 태그 테스트 방법.
  25. 청구항 24에 있어서,
    상기 테스트 동작을 수행하고 테스트 출력 신호를 생성하는 단계는,
    상기 테스트 입력 신호로부터 어드레스 신호 및 제어 신호를 생성하는 단계;
    상기 어드레스 신호 및 상기 제어 신호에 따라 테스트 동작을 수행하는 단계; 및
    테스트를 완료하고 상기 테스트 출력 신호를 생성하는 단계를 포함하는 RFID 태그 테스트 방법.
  26. 테스트 시리얼 입력 신호 및 테스트 클럭을 입력받아 테스트 시리얼 출력 신호를 생성하여 출력하는 시프트 레지스터,
    상기 테스트 시리얼 출력 신호에 의하여 활성화되고, 활성화 구간동안 외부로부터 입력된 어드레스 신호 및 제어 신호에 따라 테스트를 수행하는 테스트 회로부, 및
    외부로부터 전원 전압, 그라운드 전압을 공급받고, 상기 테스트 시리얼 입력 신호, 상기 테스트 클럭, 상기 어드레스 신호 및 상기 제어 신호를 입력받고, 상기 테스트 시리얼 출력 신호를 출력하는 입/출력 패드부를 포함하는 RFID 태그를 테스트하는 방법으로서,
    상기 테스트 시리얼 출력 신호에 의해 상기 테스트 회로부를 활성화시키는 단계;
    상기 입/출력 패드부를 통해 상기 어드레스 신호 및 상기 제어 신호를 입력하는 단계;
    상기 어드레스 신호 및 상기 제어 신호에 따라 상기 테스트 회로부가 테스트 동작을 수행하고 테스트 출력 신호를 생성하는 단계;
    상기 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 단계; 및
    상기 테스트 입력 신호와 상기 테스트 출력 신호를 비교하는 단계를 포함하는 RFID 태그 테스트 방법.
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