KR101095082B1

KR101095082B1 - Ｒｆｉｄ 장치

Info

Publication number: KR101095082B1
Application number: KR1020100062901A
Authority: KR
Inventors: 강희복
Original assignee: 주식회사 하이닉스반도체
Priority date: 2010-06-30
Filing date: 2010-06-30
Publication date: 2011-12-20

Abstract

본 발명의 실시예는 RFID 장치에 관한 것으로서, 무선 신호를 이용하여 RFID 리더와 통신을 수행하는 RFID 태그 칩(Radio Frequency IDentification Tag Chip)에 관한 기술이다. 이러한 본 발명은 하부 바이트 데이터를 저장하기 위한 하부 비트라인과, 상부 바이트 데이터를 저장하기 위한 상부 비트라인을 포함하여 데이터의 리드 또는 라이트가 이루어지는 메모리부와, 외부로부터 데이터가 인가되는 공통 테스트 패드, 및 하부 바이트 제어신호의 활성화시 공통 테스트 패드를 통해 인가된 데이터를 구동하여 하부 비트라인에 출력하고, 상부 바이트 제어신호의 활성화시 공통 테스트 패드를 통해 인가된 데이터를 구동하여 상부 비트라인에 출력하는 테스트 인터페이스부를 포함한다.

Description

ＲＦＩＤ 장치 {RFID device}

본 발명의 실시예는 RFID 장치에 관한 것으로서, 무선 신호를 이용하여 RFID 리더와 통신을 수행하는 RFID 태그 칩(Radio Frequency IDentification Tag Chip)에 관한 기술이다.

RFID(Radio Frequency IDentification Tag Chip)란 무선 신호를 이용하여 사물을 자동으로 식별하기 위해 식별 대상이 되는 사물에는 RFID 태그를 부착하고 무선 신호를 이용한 송수신을 통해 RFID 리더와 통신을 수행하는 비접촉식 자동 식별 방식을 제공하는 기술이다. 이러한 RFID가 사용되면서 종래의 자동 식별 기술인 바코드 및 광학 문자 인식 기술의 단점을 보완할 수 있게 되었다.

최근에 들어, RFID 태그는 물류 관리 시스템, 사용자 인증 시스템, 전자 화폐 시스템, 교통 시스템 등의 여러 가지 경우에 이용되고 있다.

예를 들어, 물류 관리 시스템에서는 배달 전표 또는 태그(Tag) 대신에 데이터가 기록된 IC(Integrated Circuit) 태그를 이용하여 화물의 분류 또는 재고 관리 등이 행해지고 있다. 또한, 사용자 인증 시스템에서는 개인 정보 등을 기록한 IC 카드를 이용하여 입실 관리 등을 행하고 있다.

한편, RFID 태그에 사용되는 메모리로 불휘발성 강유전체 메모리가 사용될 수 있다.

일반적으로 불휘발성 강유전체 메모리 즉, FeRAM(Ferroelectric Random Access Memory)은 디램(DRAM;Dynamic Random Access Memory) 정도의 데이터 처리 속도를 갖고, 전원의 오프시에도 데이터가 보존되는 특성 때문에 차세대 기억 소자로 주목받고 있다.

이러한 FeRAM은 디램과 거의 유사한 구조를 갖는 소자로서, 기억 소자로 강유전체 커패시터를 사용한다. 강유전체는 높은 잔류 분극 특성을 가지는데, 그 결과 전계를 제거하더라도 데이터가 지워지지 않는다.

도 1은 일반적인 RFID 장치의 전체 구성도이다.

종래 기술에 따른 RFID 장치는 크게 안테나부(1), 아날로그부(10), 디지털부(20) 및 메모리부(30)를 포함한다.

여기서, 안테나부(1)는 외부의 RFID 리더로부터 송신된 무선 신호를 수신하는 역할을 한다. 안테나부(1)를 통해 수신된 무선 신호는 안테나 패드(11,12)를 통해 아날로그부(10)로 입력된다.

아날로그부(10)는 입력된 무선 신호를 증폭하여, RFID 태그의 구동전압인 전원전압 VDD을 생성한다. 그리고, 입력된 무선 신호에서 동작 명령 신호를 검출하여 명령 신호 CMD를 디지털부(20)에 출력한다. 그 외에, 아날로그부(10)는 출력 전압 VDD을 감지하여 리셋 동작을 제어하기 위한 파워 온 리셋신호 POR와 클록 CLK을 디지털부(20)로 출력한다.

디지털부(20)는 아날로그부(10)로부터 전원전압 VDD, 파워 온 리셋신호 POR, 클록 CLK 및 명령 신호 CMD를 입력받아, 아날로그부(10)에 응답신호 RP를 출력한다. 또한, 디지털부(20)는 어드레스 ADD, 입/출력 데이터 I/O, 제어 신호 CTR 및 클록 CLK을 메모리부(30)에 출력한다.

또한, 메모리부(30)는 메모리 소자를 이용하여 데이터를 리드/라이트하고, 데이터를 저장한다.

여기서, RFID 장치는 여러 대역의 주파수를 사용하는데, 주파수 대역에 따라 그 특성이 달라진다. 일반적으로 RFID 장치는 주파수 대역이 낮을수록 인식 속도가 느리고 짧은 거리에서 동작하며, 환경의 영향을 적게 받는다. 반대로, 주파수 대역이 높을수록 인식 속도가 빠르고 긴 거리에서 동작하며, 환경의 영향을 많이 받는다.

이러한 RFID 태그가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하는 가장 바람직한 방법은 다음과 같다. 개별적인 RFID 태그의 안테나 패드(11,12)를 통해 무선 신호를 인가하고, RFID 태그 내부의 디지털부(20)에 의해 무선 신호가 처리되어 생성된 응답 신호 RP를 변조하여 RFID 리더로 송신하고, RFID 리더에서 수신된 신호가 원하는 신호인지 여부를 확인하는 것이다.

하지만, 웨이퍼당 수천 개 이상의 RFID 태그에 개별적으로 무선 신호를 인가하여 테스트하는 것은 비용이 많이 들고, 비효율적이라는 문제점이 있다.

본 발명의 실시예는 다음과 같은 특징을 갖는다.

첫째, 웨이퍼 레벨에서 안테나로부터 인가되는 무선 신호를 이용하지 않고 테스트 패드를 통해 측정 신호를 직접 인가하여 RFID 태그 칩의 성능을 테스트할 수 있도록 한다.

둘째, 공통 테스트 패드를 통해 서로 다른 종류의 태그 선택 어드레스 및 메모리 어드레스를 시간 분할로 입력받아 RFID 태그 칩의 성능을 테스트할 수 있도록 한다.

셋째, 하나의 테스트 칩을 태그 칩 어레이에 배치하고, 태그 칩 어레이 상의 모든 태그 칩을 하나의 테스트 칩을 통해 테스트할 수 있도록 한다.

넷째, 공통 테스트 패드를 이용하여 태그 칩을 선택하기 위한 태그 선택 어드레스, 메모리 어드레스 및 입/출력 데이터를 모두 입력받아 테스트 칩의 패드 수를 줄이고 테스트 칩의 레이아웃 면적을 줄일 수 있도록 한다.

다섯째, 하나의 공통 테스트 패드를 이용하여 메모리부의 하부 비트라인, 상부 비트라인에 데이터를 출력하여 패드의 수를 줄이고 여러 기능의 테스트를 수행할 수 있도록 한다.

본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치는, 하부 바이트 데이터를 저장하기 위한 하부 비트라인과, 상부 바이트 데이터를 저장하기 위한 상부 비트라인을 포함하여 데이터의 리드 또는 라이트가 이루어지는 메모리부; 외부로부터 데이터가 인가되는 공통 테스트 패드; 및 하부 바이트 제어신호의 활성화시 공통 테스트 패드를 통해 인가된 데이터를 구동하여 하부 비트라인에 출력하고, 상부 바이트 제어신호의 활성화시 공통 테스트 패드를 통해 인가된 데이터를 구동하여 상부 비트라인에 출력하는 테스트 인터페이스부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명은 다음과 같은 효과를 갖는다.

첫째, 본 발명은 웨이퍼 레벨에서 테스트 패드를 통해 측정 신호를 직접 인가하여 RFID 태그 칩의 성능을 용이하게 테스트할 수 있도록 한다.

둘째, 공통 테스트 패드를 통해 서로 다른 종류의 태그 선택 어드레스 및 메모리 어드레스를 시간 분할로 입력받아 RFID 태그 칩의 성능을 용이하게 테스트할 수 있도록 한다.

셋째, 하나의 테스트 칩을 태그 칩 어레이에 배치하고, 태그 칩 어레이 상의 모든 태그 칩을 하나의 테스트 칩을 통해 테스트하여 테스트에 소요되는 시간 및 비용을 단축시킬 수 있다.

다섯째, 하나의 공통 테스트 패드를 이용하여 메모리부의 하부 비트라인, 상부 비트라인에 데이터를 출력하여 패드의 수를 줄이고 여러 기능의 테스트를 수행할 수 있도록 하는 효과를 제공한다.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 구성 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

도 1은 종래의 RFID 장치의 구성도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치의 구성도.
도 3은 도 2의 RFID 장치에서 웨이퍼 상에서의 테스트 칩 및 태그 칩의 배치 형태를 나타낸 도면.
도 4는 도 3의 RFID 장치에서 테스트 칩과 태그 칩이 스트라이브 라인을 통해 연결되는 구성을 나타낸 도면.
도 5는 도 3의 RFID 장치에서 테스트 칩의 패드 구성을 나타낸 도면.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치의 라이트 동작을 설명하기 위한 플로우 챠트.
도 7은 도 2의 테스트 인터페이스부에 관한 상세 구성도.
도 8 내지 도 10은 도 7의 테스트 인터페이스부와 관련된 라이트 동작을 설명하기 위한 플로우 챠트.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명하고자 한다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치에서 RFID 태그 칩의 구성도이다.

본 발명의 실시예는 상술된 종래의 RFID 장치와 같이 안테나(1)로부터 인가되는 무선 신호를 입력받는 것이 아니라, 웨이퍼 레벨에서 공통 테스트 패드를 통해 측정 신호를 직접 인가받아 RFID 태그 칩(Radio Frequency Identification Tag Chip)의 성능을 테스트할 수 있도록 한다.

본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치는 크게 아날로그 처리부(100)와, 디지털 처리부(200)와, 테스트 인터페이스부(300)와, 메모리부(400) 및 테스트 제어부(500)를 포함한다.

먼저, 아날로그 처리부(100)는 전압 증폭부(110)와, 변조부(120)와, 복조부(130)와, 파워 온 리셋부(140)와, 클록 발생부(150)와, 테스트 입력 버퍼(160) 및 테스트 출력 구동부(170)를 포함한다.

여기서, 전압 증폭부(110)는 전원전압 인가패드 P2로부터 인가되는 전원전압 VDD에 따라 RFID의 구동 전압을 생성한다.

그리고, 변조부(120)는 디지털 처리부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 변조한다. 복조부(130)는 전원전압 인가패드 P2의 출력전압에 따라 동작 명령 신호 DEMOD를 생성하고, 생성된 동작 명령 신호 DEMOD를 테스트 입력 버퍼(160)로 출력한다.

파워 온 리셋부(140)는 전원전압 인가 패드 P2로부터 인가되는 전압을 감지하여 리셋 동작을 제어하기 위한 파워 온 리셋 신호 POR를 디지털 처리부(200)에 출력한다. 클록 발생부(150)는 전원전압 인가 패드 P2의 출력 전압에 따라 디지털 처리부(200)의 동작을 제어하기 위한 클록 CLK을 디지털 처리부(200)에 공급한다.

여기서, 파워 온 리셋 신호 POR는 전원 전압이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하는 동안 전원 전압과 같이 상승하다가, 전원이 전원 전압 레벨 VDD로 공급되는 순간 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하여 RFID 태그 내부의 회로를 리셋시키는 신호를 의미한다.

테스트 입력 버퍼(160)는 테스트 신호 입력 패드 P4를 통해 입력되는 테스트 입력 신호 RXI와, 복조부(130)로부터 입력되는 동작 명령 신호 DEMOD 및 테스트 제어부(500)로부터 인가되는 테스트 활성화 신호 TSTEN에 따라 명령 신호 CMD를 디지털 처리부(200)에 출력한다.

즉, 테스트 입력 버퍼(160)는 노말 동작 모드시 테스트 활성화 신호 TSTEN가 비활성화되면 복조부(130)로부터 인가되는 동작 명령신호 DEMOD에 따라 명령신호 CMD를 디지털 처리부(200)에 공급한다.

반면에, 테스트 입력 버퍼(160)는 테스트 동작 모드시 테스트 활성화 신호 TSTEN가 활성화되면 테스트 신호 입력 패드 P4로부터 인가되는 테스트 입력 신호 RXI에 따라 RFID를 테스트하기 위한 명령신호 CMD를 디지털 처리부(200)에 공급한다.

또한, 테스트 출력 구동부(170)는 디지털 처리부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP에 따라 테스트 출력 신호 TXO를 구동하여 RFID의 명령 처리 결과를 테스트 신호 출력 패드 P1를 통해 외부로 출력한다.

여기서, 전압 증폭부(110), 변조부(120), 복조부(130), 파워 온 리셋부(140), 클록 발생부(150), 테스트 입력 버퍼(160) 및 테스트 출력 구동부(170)는 RFID의 성능을 테스트하기 위한 테스트 동작 모드시 외부의 전원전압 인가 패드 P2로부터 인가되는 전원전압 VDD 및 외부의 그라운드 전압 인가 패드 P3로부터 인가되는 그라운드 전압 GND에 의해 구동된다.

즉, 전원전압 인가 패드 P2는 RFID 태그가 활성화되어 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 전원 전압 VDD이 인가되는 패드를 나타낸다. 그리고, 그라운드 전압 인가 패드 P3는 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 그라운드 전압 GND이 인가되는 패드를 나타낸다.

RFID 태그가 RFID 리더와 통신을 하여 무선 신호를 수신하는 경우에는 전압 증폭부(110)가 전원 전압 VDD을 공급하지만, 본 발명에서는 웨이퍼 상에서 테스트를 수행하기 때문에 별도의 전원전압 인가 패드 P2 및 그라운드 전압 인가 패드 P3를 통해 전원전압 VDD 및 그라운드 전압 GND이 공급된다.

디지털 처리부(200)는 아날로그 처리부(100)로부터 전원 전압 VDD, 파워 온 리셋 신호 POR, 클록 CLK 및 명령 신호 CMD를 입력받아, 명령 신호 CMD를 해석하고 제어 신호 및 처리신호들을 생성한다. 그리고, 디지털 처리부(200)는 제어 신호 및 처리신호들에 대응하는 응답 신호 RP를 아날로그 처리부(100)로 출력한다.

또한, 디지털 처리부(200)는 어드레스 DADD, 입력 데이터 DI, 칩 인에이블 신호 DCE, 라이트 인에이블 신호 DWE 및 출력 인에이블 신호 DOE를 테스트 인터페이스부(300)에 출력한다. 그리고, 디지털 처리부(200)는 테스트 인터페이스부(300)로부터 출력 데이터 DO가 인가된다.

또한, 테스트 인터페이스부(300)는 테스트 제어부(500)로부터 인가되는 테스트 활성화 신호 TSTEN에 따라 활성화된다. 테스트 인터페이스부(300)가 활성화되면, 외부로부터 입력되는 태그 선택 어드레스 X0~X7, 메모리 어드레스 XA0~XA7, 입력 데이터 XDI0~XDI7, 제어 신호 DIN_LATP,ADD_LATP,XCE,XWE,XOE,TACT에 따라 메모리부(400)를 테스트한다.

상술된 제어신호들 중 DIN_LATP는 데이터 래치 활성화 신호, ADD_LATP는 어드레스 래치 활성화 신호를 나타내고, XCE는 칩 인에이블 신호를 나타낸다. 그리고, 제어신호들 중 XWE는 라이트 인에이블 신호를 나타내고, XOE는 출력 인에이블 신호를 나타내며, TACT는 테스트 동작 신호를 나타낸다.

여기서, 테스트 인터페이스부(300)는 공통 테스트 패드 P5를 통해 입력된 태그 선택 어드레스 X0~X7, 메모리 어드레스 XA0~XA7, 입력 데이터 XDI0~XDI7와, 제어 신호 입력 패드 P6,P7,P9~P11, 및 테스트 입력 패드 P12를 통해 입력된 제어 신호 DIN_LATP,ADD_LATP,XCE,XWE,XOE,TACT에 따라 어드레스 ADD 및 제어 신호 I,CE,WE,OE를 생성하여 메모리부(400)를 테스트한다.

그리고, 테스트 인터페이스부(300)는 제어 결과 신호 O를 입력받아 출력 데이터 XDO를 데이터 출력 패드 P8를 통해 외부로 출력한다.

한편, 테스트 인터페이스부(300)가 활성화되면, 디지털 처리부(200)로부터 입력되는 어드레스 DADD 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE에 따라 RFID 태그에 포함된 내부 회로, 즉 아날로그 처리부(100), 디지털 처리부(200) 및 메모리부(400)를 테스트한다.

RFID 태그의 전체 동작을 테스트하기 위해 디지털 처리부(200)는 테스트 입력 신호 RXI에 따라 생성된 명령 신호 CMD에 의해 어드레스 DADD 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE를 생성한다.

테스트 인터페이스부(300)는 어드레스 DADD 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE에 따라 어드레스 ADD 및 제어 신호 I,CE,WE,OE를 생성하여 RFID 태그의 전체 동작을 테스트한다. 그리고, 테스트 인터페이스부(300)는 메모리부(400)로부터 테스트 결과인 제어 결과 신호 O를 입력받고 제어 결과 신호 DO를 생성한다.

그리고, 디지털 처리부(200)는 제어 결과 신호 DO에 따라 응답 신호 RP를 생성한다. 또한, 테스트 출력 구동부(170)는 응답 신호 RP를 구동하여 테스트 신호 출력 패드 P1를 통해 출력한다.

메모리부(400)는 복수 개의 메모리 셀을 포함하고, 각각의 메모리 셀은 데이터를 저장 소자에 라이트하고, 저장 소자에 저장된 데이터를 리드하는 역할을 한다.

여기서, 메모리부(400)는 불휘발성 강유전체 메모리(FeRAM)가 사용될 수 있다. FeRAM은 디램 정도의 데이터 처리 속도를 갖는다. 또한, FeRAM은 디램과 거의 유사한 구조를 가지고, 커패시터의 재료로 강유전체를 사용하여 강유전체의 특성인 높은 잔류 분극을 가진다. 이와 같은 잔류 분극 특성으로 인하여 전계를 제거하더라도 데이터가 지워지지 않는다.

테스트 제어부(500)는 테스트 모드시 RFID 태그를 활성화시키기 위한 역할을 한다. 테스트 제어부(500)는 테스트 입력 패드 P12로부터 테스트 동작신호 TACT를 입력받고, 테스트 클록 입력 패드 P13로부터 테스트 클록 TCLK을 입력받는다. 그리고, 테스트 제어부(500)는 RFID 태그의 활성화 여부를 제어하는 테스트 활성화 신호 TSTEN를 테스트 입력 버퍼(160)와 테스트 인터페이스부(300)에 출력한다.

이상에서와 같이, 본 발명은 테스트 모드시 테스트 활성화 신호 TSTEN가 활성화되면, RFID 장치의 테스트 결과를 테스트 신호 출력 패드 P1를 통해 출력하거나, 데이터 출력 패드 P8를 통해 외부로 출력한다.

즉, RFID 장치의 전체 동작을 테스트할 경우, 테스트 신호 입력 패드 P4를 통해 입력되는 테스트 입력 신호 RXI가 디지털 처리부(200), 테스트 인터페이스부(300) 및 메모리부(400)에 전달되고, 다시 테스트 인터페이스부(300), 디지털 처리부(200), 테스트 출력 구동부(170)를 거쳐 테스트 출력 패드 P1를 통해 출력된다. 그러면, 외부 테스트 장비는 테스트 신호 출력 패드 P1의 출력을 측정하여 RFID 장치의 전체 동작을 테스트하게 된다.

반면에, RFID 장치의 메모리부(400) 만 테스트할 경우, 공통 테스트 패드 P5를 통해 입력되는 메모리 어드레스(XA) 및 데이터(XDI)가 테스트 인터페이스부(300)를 거쳐 메모리부(400)에 전달되고, 다시 테스트 인터페이스부(300)를 거쳐 데이터 출력 패드 P8를 통해 출력된다. 그러면, 외부 테스트 장비는 데이터 출력 패드 P8의 출력을 측정하여 메모리부(400)의 동작을 테스트하게 된다.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치의 웨이퍼 상에서 테스트 칩 및 태그 칩의 배치 형태를 나타낸 도면이다.

본 발명의 실시예는 하나의 웨이퍼 상에 로오(ROW)와 컬럼(Column) 방향으로 복수개의 태그 칩이 형성되어 태그 칩 어레이를 이룬다. 각각의 태그 칩 어레이는 복수 개의 태그 칩을 포함한다. 즉, 태그 칩 어레이는 복수 개의 태그 칩을 스크라이브 라인(Scribe lane)을 이용하여 서로 연결한 RFID 태그 칩들의 집합을 의미한다.

그리고, 하나의 태그 칩 어레이는 하나의 테스트 칩과, 복수개의 태그 칩을 포함한다. 여기서, 태그 칩 어레이 상의 중심 위치에 한 개의 테스트 칩을 배치하게 된다. 이러한 한 개의 테스트 칩이, 해당 태그 칩 어레이 상에 배치된 모든 태그 칩들을 테스트하게 된다.

본 발명의 명칭에서 정의된 "RFID 장치"는 웨이퍼 레벨에서 테스트 칩과 복수개의 태그 칩을 모두 포함하는 개념이다.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치에서 테스트 칩과 태그 칩이 스크라이브 라인(Scribe lane)을 통해 연결되는 구성을 나타낸 도면이다.

태그 칩 어레이는 하나의 테스트 칩과 복수 개의 태그 칩을 포함한다.

태그 칩들과 테스트 칩은 테스트 명령 및 테스트 결과를 나타내는 입/출력 신호를 태그 칩 사이에 형성된 스크라이브 라인 영역을 통해 상호 교환하도록 한다. 즉, 테스트 칩과 복수개의 태그 칩들은 X 및 Y 축 방향으로 배열된 복수개의 스크라이브 라인에 의해 서로 연결된다.

이에 따라, 외부로부터 공급된 전원 전압 VDD, 그라운드 전압 GND, 제어신호, 어드레스 및 데이터는 X 및 Y축 방향으로 배열된 복수 개의 스크라이브 라인을 거쳐, 태그 칩의 입/출력 패드를 통해 태그 칩 내부 회로로 공급된다.

그리고, 태그 칩에서 생성된 테스트 출력 신호 TXO, 제어 결과 신호 등은 태그 칩 내부 회로로부터 입/출력 패드를 통해 X 및 Y축 방향으로 배열된 복수 개의 스크라이브 라인을 거쳐 외부로 출력된다.

여기서, 태그 칩 어레이를 테스트하기 위해서는 먼저 테스트 칩을 초기화한다. 테스트 칩을 초기화하는 방법은 여러 가지 방법이 사용될 수 있다. 예를 들어, 입/출력 패드를 통해 전원 전압 VDD이 공급되기 시작하면 테스트 칩이 초기화되도록 설정할 수 있다.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치에서 테스트 칩의 패드 구성을 나타낸 도면이다.

테스트 칩은 태그 선택 어드레스 X0~X7, 메모리 어드레스 XA0~XA7 및 입력 데이터 XDI0~XDI7가 시분할 적으로 공통 입력되는 공통 테스트 패드 P5를 포함한다. 여기서, 공통 테스트 패드 P5는 태그 선택 어드레스 X0~X7, 메모리 어드레스 XA0~XA7 및 입력 데이터 XDI0~XDI7를 각각 인가하기 위한 공통 입력 패드 P50~P57를 포함한다.

그리고, 테스트 출력 신호 TXO를 외부로 출력하는 테스트 신호 출력 패드 P1와, 전원전압 VDD이 인가되는 전원전압 인가패드 P2 및 그라운드 전압 GND이 인가되는 그라운드 전압 인가 패드 P3을 포함한다.

또한, 테스트 입력 신호 RXI가 인가되는 테스트 신호 입력 패드 P4와, 데이터 래치 활성화 신호 DIN_LATP가 인가되는 패드 P6, 및 어드레스 래치 활성화 신호 ADD_LATP가 인가되는 패드 P7를 포함한다.

또한, 제어 결과 신호인 출력 데이터 XDO를 출력하는 데이터 출력 패드 P8와, 칩 인에이블 신호 XCE가 인가되는 패드 P9와, 라이트 인에이블 신호 XWE가 인가되는 패드 P10와, 출력 인에이블 신호 XOE가 인가되는 패드 P11를 포함한다.

그리고, 테스트 동작 신호 TACT가 인가되는 테스트 입력 패드 P12와, 테스트 클록 TCLK이 인가되는 테스트 클록 입력 패드 P13을 포함한다.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.

먼저, 공통 테스트 패드 P5를 통해 태그 선택 어드레스(X)를 인가하고, 해당 태그 칩을 활성화시킨다.(단계 S1) 다음에, 공통 테스트 패드 P5를 통해 메모리 어드레스(XA)를 인가하고, 해당 어드레스를 활성화시킨다.

이러한 본 발명은 공통 테스트 패드 P5를 통해 서로 다른 종류의 태그 선택 어드레스(X)와, 메모리 어드레스(XA) 및 입력 데이터(XDI)를 각각 시간 분할 방식으로 제어하여 서로 다른 시점에 입력될 수 있도록 한다.

이후에, 테스트 인터페이스부(300)는 하부 바이트 제어신호(LBC)를 활성화 시킬지 상부 바이트 제어신호(UBC)를 활성화 시킬지의 여부를 판단한다.(단계 S2)

이어서, 외부의 테스트 칩으로부터 공통 테스트 패드 P5를 통해 입력 데이터(XDI)가 인가되면, 해당 데이터를 활성화시킨다. 즉, 하부 바이트 제어신호(LBC)가 활성화되면 하부 바이트 영역에 데이터(XDI)가 저장되고, 상부 바이트 제어신호(UBC)가 활성화되면 상부 바이트 영역에 데이터(XDI)가 저장된다.

도 7은 도 2의 테스트 인터페이스부(300)에서 데이터 입력에 관련된 부분의 상세 구성도이다.

테스트 인터페이스부(300)는 라이트 제어부(310)와, 하부 바이트 데이터 버퍼(320), 상부 바이트 데이터 버퍼(330), 복수의 하부 라이트 구동부 WD0~WD7, 및 복수의 상부 라이트 구동부 WD8~WD15를 포함한다.

여기서, 라이트 제어부(310)는 라이트 제어신호 발생부(311)와, 논리조합부인 앤드게이트 AND1,AND2를 포함한다. 라이트 제어신호 발생부(311)는 테스트 동작시 라이트 인에이블 제어신호 WEC를 활성화시켜 출력한다.

앤드게이트 AND1는 라이트 인에이블 제어신호 WEC와 하부 바이트 제어신호 LBC를 앤드연산하여 하부 라이트 인에이블 신호 WEL를 출력한다. 그리고, 앤드게이트 AND2는 라이트 인에이블 제어신호 WEC와 상부 바이트 제어신호 UBC를 앤드연산하여 상부 라이트 인에이블 신호 WEU를 출력한다.

하부 바이트 데이터 버퍼(320)는 디지털 처리부(200)로부터 인가되는 입력 데이터 DI0~DI7 또는 공통 테스트 패드 P5를 통해 인가되는 입력 데이터 XDI0~XDI7를 버퍼링하여 복수의 하부 라이트 구동부 WD0~WD7에 출력한다. 여기서, 하부 라이트 구동부 WD0~WD7의 개수는 데이터 XDI~XDI7의 개수와 동일하다.

그리고, 하부 라이트 구동부 WD0~WD7는 하부 라이트 인에이블 신호 WEL의 활성화시 하부 바이트 데이터 버퍼(320)로부터 인가되는 데이터를 구동하여 메모리부(400)에 출력한다. 이때, 하부 라이트 구동부 WD0~WD7에서 출력된 데이터는 메모리부(400)의 비트라인 BL0~BL7에 인가된다. 여기서, 비트라인 BL0~BL7은 메모리부(400)의 셀 어레이에 하부 바이트 데이터를 저장하기 위한 하부 비트라인에 해당한다.

상부 바이트 데이터 버퍼(330)는 디지털 처리부(200)로부터 인가되는 입력 데이터 DI8~DI5 또는 공통 테스트 패드 P5를 통해 인가되는 입력 데이터 XDI0~XDI7를 버퍼링하여 복수의 사부 라이트 구동부 WD8~WD15에 출력한다. 여기서, 상부 라이트 구동부 WD8~WD15의 개수는 데이터 XD8~XDI5의 개수와 동일하다.

그리고, 상부 라이트 구동부 WD8~WD15는 상부 라이트 인에이블 신호 WEU의 활성화시 상부 바이트 데이터 버퍼(330)로부터 인가되는 데이터를 구동하여 메모리부(400)에 출력한다. 이때, 상부 라이트 구동부 WD8~WD15에서 출력된 데이터는 메모리부(400)의 비트라인 BL8~BL15에 인가된다. 여기서, 비트라인 BL8~BL15은 메모리부(400)의 셀 어레이에 상부 바이트 데이터를 저장하기 위한 상부 비트라인에 해당한다.

여기서, RFID 장치의 정상 동작시에는 디지털부(200)로부터 인가되는 입력 데이터 DI0~DI15가 하부 바이트 데이터 버퍼(320), 상부 바이트 데이터 버퍼(330)에 입력된다. 반면에, 테스트 모드시에는 외부의 테스트 칩으로부터 인가되는 입력 데이터 XDI0~XDI7가 하부 바이트 데이터 버퍼(320), 상부 바이트 데이터 버퍼(330)에 입력된다.

이에 따라, 본 발명의 실시예는 N 개의 데이터 입력 패드를 통해 2×N 개의 데이터를 메모리부(400)에 저장할 수 있게 된다. 예를 들어, 8개의 공통 입력 패드 P50~P57를 통해 데이터 XDI0~XDI7를 입력받아, 16개의 데이터를 비트라인 BL0~BL15에 저장할 수 있다.

이러한 구성을 갖는 본 발명의 라이트 동작 과정을 도 8 내지 도 10의 동작 타이밍도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.

먼저, 도 8은 메모리부(400)의 하부 비트라인 BL0~BL7에 하부 바이트 데이터를 저장하기 위한 동작 타이밍도이다.

디지털 처리부(200)로부터 인가된 입력 데이터 DI0~DI15가 로우 상태인 경우, 공통 테스트 패드 P5를 통해 입력 데이터 XDI0~XDI7가 활성화 상태로 입력된다.

이때, 라이트 제어신호 발생부(311)는 라이트 인에이블 제어신호 WEC를 하이 레벨로 활성화시켜 출력한다. 그리고, 하부 바이트 제어신호 LBC 만 하이 레벨로 활성화될 경우 하부 라이트 인에이블 신호 WEL가 하이 레벨로 활성화된다.

그러면, 하부 라이트 구동부 WD0~WD7가 동작하게 되어, 공통 입력 패드 P50~P57를 통해 인가된 데이터 XDI0~XDI7가 비트라인 BL0~BL7을 통해 메모리부(400)에 저장된다.

반면에, 도 9는 메모리부(400)의 상부 비트라인 BL8~BL15에 상부 바이트 데이터를 저장하기 위한 동작 타이밍도이다.

이때, 라이트 제어신호 발생부(311)는 라이트 인에이블 제어신호 WEC를 하이 레벨로 활성화시켜 출력한다. 그리고, 상부 바이트 제어신호 UBC 만 하이 레벨로 활성화될 경우 상부 라이트 인에이블 신호 WEU가 하이 레벨로 활성화된다.

그러면, 상부 라이트 구동부 WD8~WD15가 동작하게 되어, 공통 입력 패드 P50~P57를 통해 인가된 데이터 XDI0~XDI7가 비트라인 BL8~BL15을 통해 메모리부(400)에 저장된다.

한편, 도 10은 메모리부(400)의 하부 비트라인 BL0~BL7과 상부 비트라인 BL8~BL15에 하부 바이트 데이터와 상부 바이트 데이터를 저장하기 위한 동작 타이밍도이다.

여기서, 입력 데이터 XDI0~XDI7는 하부 라이트 데이터 버퍼(320)와 상부 바이트 데이터 버퍼(330)에 공통으로 입력된다.

이때, 라이트 제어신호 발생부(311)는 라이트 인에이블 제어신호 WEC를 하이 레벨로 활성화시켜 출력한다. 그리고, 하부 바이트 제어신호 LBC와 상부 바이트 제어신호 UBC가 모두 하이 레벨로 활성화될 경우 하부 라이트 인에이블 신호 WEL와 상부 라이트 인에이블 신호 WEU가 모두 하이 레벨로 활성화된다.

그러면, 하부 라이트 구동부 WD0~WD7와 상부 라이트 구동부 WD8~WD15가 모두 동작하게 되어, 공통 입력 패드 P50~P57를 통해 인가된 데이터 XDI0~XDI7가 비트라인 BL0~BL15을 통해 메모리부(400)에 저장된다.

Claims

하부 바이트 데이터를 저장하기 위한 하부 비트라인과, 상부 바이트 데이터를 저장하기 위한 상부 비트라인을 포함하여 데이터의 리드 또는 라이트가 이루어지는 메모리부;
외부로부터 상기 데이터가 인가되는 공통 테스트 패드; 및
하부 바이트 제어신호의 활성화시 상기 공통 테스트 패드를 통해 인가된 상기 데이터를 구동하여 상기 하부 비트라인에 출력하고, 상부 바이트 제어신호의 활성화시 상기 공통 테스트 패드를 통해 인가된 상기 데이터를 구동하여 상기 상부 비트라인에 출력하는 테스트 인터페이스부를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 하부 바이트 제어신호와 상기 상부 바이트 제어신호가 모두 활성화된 경우 상기 공통 테스트 패드를 통해 인가된 상기 데이터가 상기 하부 비트라인과 상기 상부 비트라인에 동시에 저장되는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서,
외부로부터 인가되는 테스트 입력 신호에 따라 명령신호를 출력하고, 응답신호에 대응하는 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 아날로그 처리부; 및
상기 명령신호에 따라 동작 제어신호들을 상기 테스트 인터페이스부에 출력하고, 상기 응답신호를 상기 아날로그 처리부에 출력하는 디지털 처리부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 4은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 3항에 있어서, 상기 RFID 장치의 정상 동작시 상기 디지털 처리부로부터 인가되는 데이터가 상기 테스트 인터페이스부에 입력되는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 테스트 인터페이스부는
상기 데이터를 버퍼링하는 하부 바이트 데이터 버퍼;
상기 데이터를 버퍼링하는 상부 바이트 데이터 버퍼;
라이트 인에이블 제어신호가 활성화된 상태에서 상기 하부 바이트 제어신호, 상기 하부 바이트 제어신호에 따라 하부 라이트 인에이블 신호, 상부 라이트 인에이블 신호를 선택적으로 활성화시키는 라이트 제어부;
상기 하부 라이트 인에이블 신호의 활성화시 상기 하부 바이트 데이터 버퍼의 출력 데이터를 구동하여 상기 하부 비트라인에 출력하는 복수의 하부 라이트 구동부; 및
상기 상부 라이트 인에이블 신호의 활성화시 상기 상부 바이트 데이터 버퍼의 출력 데이터를 구동하여 상기 상부 비트라인에 출력하는 복수의 상부 라이트 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 6은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 5항에 있어서, 상기 라이트 제어부는
상기 라이트 인에이블 제어신호를 생성하는 라이트 제어신호 발생부; 및
상기 라이트 인에이블 제어신호, 상기 하부 바이트 제어신호, 상기 상부 바이트 제어신호를 논리조합하여 상기 하부 라이트 인에이블 신호, 상기 상부 라이트 인에이블 신호를 선택적으로 활성화시키는 논리조합부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 7은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 공통 테스트 패드는 상기 데이터의 입력 이전에 태그 선택 어드레스와 메모리 어드레스가 시분할 적으로 인가되는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 8은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 외부로부터 인가되는 테스트 동작 신호와 테스트 클록에 따라 상기 테스트 인터페이스부의 테스트 동작을 제어하기 위한 테스트 활성화 신호를 생성하는 테스트 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 9은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 메모리부는 불휘발성 강유전체 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 10은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 데이터는 테스트 칩으로부터 인가되는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.