KR101067887B1

KR101067887B1 - Ｒｆｉｄ 장치

Info

Publication number: KR101067887B1
Application number: KR1020090056393A
Authority: KR
Inventors: 강희복
Original assignee: 주식회사 하이닉스반도체
Priority date: 2009-06-24
Filing date: 2009-06-24
Publication date: 2011-09-27
Also published as: KR20100138049A

Abstract

본 발명은 RFID 장치에 관한 것으로서, 전원이 온 되는 구간과 무선 신호의 오프 구간을 별도로 구분하여 파워 온 리셋 신호를 생성함으로써 전원을 안정화시킬 수 있도록 하는 기술을 개시한다. 이러한 본 발명은 외부로부터 인가되는 테스트 입력 신호에 따라 명령신호를 출력하고, 응답신호에 대응하는 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 아날로그부와, 명령신호에 따라 동작 제어신호를 출력하고, 해당하는 응답신호를 아날로그부에 출력하는 디지털부, 및 동작 제어신호를 입력받아 셀 어레이에 데이터를 리드/라이트 하는 메모리부를 포함하고, 아날로그부는 테스트 모드시 명령신호에 따라 무선신호의 오프 구간을 감지하고, 감지 결과에 대응하는 파워 온 리셋 신호를 출력한다.

Description

ＲＦＩＤ 장치{RFID device}

본 발명은 RFID 장치에 관한 것으로서, 웨이퍼 레벨에서 안테나로부터 인가되는 무선 주파수 신호를 이용하지 않고 테스트 패드를 통해 서로 다른 종류의 어드레스를 시간 분할로 입력받아 RFID 태그 칩(Radio Frequency IDentification Tag Chip)의 성능을 테스트할 수 있도록 하는 기술이다.

RFID(Radio Frequency IDentification Tag Chip)란 무선 신호를 이용하여 사물을 자동으로 식별하기 위해 식별 대상이 되는 사물에는 RFID 태그를 부착하고 무선 신호를 이용한 송수신을 통해 RFID 리더와 통신을 수행하는 비접촉식 자동 식별 방식을 제공하는 기술이다. 이러한 RFID가 사용되면서 종래의 자동 식별 기술인 바코드 및 광학 문자 인식 기술의 단점을 보완할 수 있게 되었다.

최근에 들어, RFID 태그는 물류 관리 시스템, 사용자 인증 시스템, 전자 화폐 시스템, 교통 시스템 등의 여러 가지 경우에 이용되고 있다.

예를 들어, 물류 관리 시스템에서는 배달 전표 또는 태그(Tag) 대신에 데이터가 기록된 IC(Integrated Circuit) 태그를 이용하여 화물의 분류 또는 재고 관리 등이 행해지고 있다. 또한, 사용자 인증 시스템에서는 개인 정보 등을 기록한 IC 카드를 이용하여 입실 관리 등을 행하고 있다.

한편, RFID 태그에 사용되는 메모리로 불휘발성 강유전체 메모리가 사용될 수 있다.

일반적으로 불휘발성 강유전체 메모리 즉, FeRAM(Ferroelectric Random Access Memory)은 디램(DRAM;Dynamic Random Access Memory) 정도의 데이터 처리 속도를 갖고, 전원의 오프시에도 데이터가 보존되는 특성 때문에 차세대 기억 소자로 주목받고 있다.

이러한 FeRAM은 디램과 거의 유사한 구조를 갖는 소자로서, 기억 소자로 강유전체 커패시터를 사용한다. 강유전체는 높은 잔류 분극 특성을 가지는데, 그 결과 전계를 제거하더라도 데이터가 지워지지 않는다.

도 1은 일반적인 RFID 장치의 전체 구성도이다.

종래 기술에 따른 RFID 장치는 크게 안테나부(1), 아날로그부(10), 디지털부(20) 및 메모리부(30)를 포함한다.

여기서, 안테나부(1)는 외부의 RFID 리더로부터 송신된 무선 신호를 수신하는 역할을 한다. 안테나부(1)를 통해 수신된 무선 신호는 안테나 패드(11,12)를 통해 아날로그부(10)로 입력된다.

아날로그부(10)는 입력된 무선 신호를 증폭하여, RFID 태그의 구동전압인 전원전압 VDD을 생성한다. 그리고, 입력된 무선 신호에서 동작 명령 신호를 검출하여 명령 신호 CMD를 디지털부(20)에 출력한다. 그 외에, 아날로그부(10)는 출력 전압 VDD을 감지하여 리셋 동작을 제어하기 위한 파워 온 리셋신호 POR와 클록신호 CLK를 디지털부(20)로 출력한다.

디지털부(20)는 아날로그부(10)로부터 전원전압 VDD, 파워 온 리셋신호 POR, 클록신호 CLK 및 명령 신호 CMD를 입력받아, 아날로그부(10)에 응답신호 RP를 출력한다. 또한, 디지털부(20)는 어드레스 ADD, 입/출력 데이터 I/O, 제어 신호 CTR 및 클록 신호 CLK을 메모리부(30)에 출력한다.

또한, 메모리부(30)는 메모리 소자를 이용하여 데이터를 리드/라이트하고, 데이터를 저장한다.

여기서, RFID 장치는 여러 대역의 주파수를 사용하는데, 주파수 대역에 따라 그 특성이 달라진다. 일반적으로 RFID 장치는 주파수 대역이 낮을수록 인식 속도가 느리고 짧은 거리에서 동작하며, 환경의 영향을 적게 받는다. 반대로, 주파수 대역이 높을수록 인식 속도가 빠르고 긴 거리에서 동작하며, 환경의 영향을 많이 받는다.

이러한 RFID 태그가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하는 가장 바람직한 방법은 다음과 같다. 개별적인 RFID 태그의 안테나 패드(11,12)를 통해 무선 신호를 인가하고, RFID 태그 내부의 디지털부(20)에 의해 무선 신호가 처리되어 생성된 응답 신호 RP를 변조하여 RFID 리더로 송신하고, RFID 리더에서 수신된 신호가 원하는 신호인지 여부를 확인하는 것이다.

하지만, 웨이퍼당 수천 개 이상의 RFID 태그에 개별적으로 무선 신호를 인가하여 테스트하는 것은 비용이 많이 들고, 비효율적이라는 문제점이 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 다음과 같은 목적을 갖는다.

첫째, 전원이 온 되는 구간과 무선 신호의 오프 구간을 별도로 구분하여 파워 온 리셋 신호를 생성함으로써 전원을 안정화시킬 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

둘째, 테스트 모드시 테스트 패드를 통해 수신된 명령신호를 이용하여 무선신호의 오프를 감지함으로써 전원에 무관하게 안정된 파워 온 리셋 신호를 생성할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

셋째, 웨이퍼 레벨에서 안테나로부터 인가되는 무선 신호를 이용하지 않고 테스트 패드를 통해 측정 신호를 직접 인가하여 RFID 태그 칩의 성능을 테스트할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

넷째, 공통 테스트 패드를 통해 서로 다른 종류의 태그 선택 어드레스 및 메모리 어드레스를 시간 분할로 입력받아 RFID 태그 칩의 성능을 테스트할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

다섯째, 공통 테스트 패드를 이용하여 태그 칩을 선택하기 위한 태그 선택 어드레스, 메모리 어드레스 및 입/출력 데이터를 모두 입력받아 테스트 칩의 패드 수를 줄이고 테스트 칩의 레이아웃 면적을 줄일 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 RFID 장치는, 외부로부터 인가되는 테스트 입력 신호에 따라 명령신호를 출력하고, 응답신호에 대응하는 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 아날로그부; 명령신호에 따라 동작 제어신호를 출력하고, 해당하는 응답신호를 상기 아날로그부에 출력하는 디지털부; 및 동작 제어신호를 입력받아 셀 어레이에 데이터를 리드/라이트 하는 메모리부를 포함하고, 아날로그부는 복수개의 동작 명령 신호를 조합하여 명령신호를 출력하고, 테스트 모드시 테스트 활성화 신호가 활성화되면 테스트 입력 신호의 레벨에 대응하여 명령신호를 출력하는 테스트 입력 버퍼; 및 명령신호가 로우 레벨로 천이한 이후에, 로우 레벨의 펄스 구간이 한계 시간을 경과하게 되면 파워 온 리셋 신호를 하이 레벨로 출력하는 파워 온 리셋부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 다음과 같은 효과를 갖는다.

첫째, 전원이 온 되는 구간과 무선 신호의 오프 구간을 별도로 구분하여 파워 온 리셋 신호를 생성함으로써 전원을 안정화시킬 수 있도록 한다.

둘째, 테스트 모드시 테스트 패드를 통해 수신된 명령신호를 이용하여 무선신호의 오프를 감지함으로써 전원에 무관하게 안정된 파워 온 리셋 신호를 생성할 수 있도록 한다.

셋째, 웨이퍼 레벨에서 안테나로부터 인가되는 무선 신호를 이용하지 않고 테스트 패드를 통해 측정 신호를 직접 인가하여 RFID 태그 칩의 성능을 테스트할 수 있도록 한다.

넷째, 공통 테스트 패드를 통해 서로 다른 종류의 어드레스를 시간 분할로 입력받아 RFID 태그 칩의 성능을 테스트할 수 있도록 한다.

다섯째, 공통 테스트 패드를 이용하여 태그 칩을 선택하기 위한 태그 선택 어드레스, 메모리 어드레스 및 입/출력 데이터를 모두 입력받아 테스트 칩의 패드 수를 줄이고 테스트 칩의 레이아웃 면적을 줄일 수 있도록 하는 효과를 제공한다.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 구성 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명하고자 한다.

도 2는 본 발명에 따른 RFID 장치의 전체 구성도이다.

본 발명은 상술된 종래의 RFID 장치와 같이 안테나(1)로부터 인가되는 무선 신호를 입력받는 것이 아니라, 웨이퍼 레벨에서 공통 테스트 패드를 통해 측정 신호를 직접 인가받아 RFID 태그 칩(Radio Frequency Identification Tag Chip)의 성능을 테스트할 수 있도록 한다.

본 발명의 RFID 장치는 크게 아날로그부(100)와, 디지털부(200)와, 테스트 인터페이스부(300)와, 메모리부(400) 및 테스트 제어부(500)를 포함한다.

먼저, 아날로그부(100)는 전압 증폭부(110)와, 변조부(120)와, 복수개의 복조부(130_1~130_n)와, 파워 온 리셋부(140)와, 클록 발생부(150)와, 테스트 입력 버퍼(160) 및 테스트 출력 구동부(170)를 포함한다.

여기서, 전압 증폭부(110)는 전원전압 인가패드 P2로부터 인가되는 전원전압 VDD에 따라 RFID의 구동 전압을 생성한다.

그리고, 변조부(120)는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP를 변조한다. 복조부(130_1~130_n)는 안테나로부터 전송된 무선신호(RF)에서 동작 명령 신호 RX1~RXn를 검출하고 복조하여 테스트 입력 버퍼(160)로 출력한다.

여기서, 복조부(130_1~130_n)는 안테나의 개수만큼 구비되는 것이 바람직하며, 테스트 모드시에는 동작하지 않게 된다.

파워 온 리셋부(140)는 명령 신호 CMD에 따라 전원전압 인가 패드 P2로부터 인가되는 전압을 감지하여 리셋 동작을 제어하기 위한 파워 온 리셋 신호 POR를 디지털부(200)에 출력한다.

이러한 본 발명에서는 RFID의 전원을 유지한 상태에서도 명령 신호 CMD에 따라 파워 온 리셋 신호 POR를 제어하여 리셋 동작을 제어할 수 있도록 한다.

여기서, 파워 온 리셋 신호 POR는 전원 전압이 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하는 동안 전원 전압과 같이 상승하다가, 전원이 전원 전압 레벨 VDD로 공급되는 순간 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하여 RFID 태그 내부의 회로를 리셋시키는 신호를 의미한다.

클록 발생부(150)는 전원전압 인가 패드 P2의 출력 전압에 따라 디지털부(200)의 동작을 제어하기 위한 클록 CLK을 디지털부(200)에 공급한다.

테스트 입력 버퍼(160)는 테스트 신호 입력 패드 P4를 통해 입력되는 테스트 입력 신호 RXI와, 복수개의 복조부(130_1~130_n)로부터 입력되는 동작 명령 신호 RX1~RXn 및 테스트 제어부(500)로부터 인가되는 테스트 활성화 신호 TSTEN에 따라 명령 신호 CMD를 디지털부(200)와 파워 온 리셋부(140)에 출력한다.

여기서, 테스트 모드시 테스트 모드를 활성화시키기 위한 신호는 테스트 활성화 신호 TSTEN에 해당하고, 테스트 모드시 외부에서 인가되는 복조 신호는 테스트 입력 신호 RXI에 해당한다.

즉, 테스트 입력 버퍼(160)는 노말 동작 모드시 테스트 활성화 신호 TSTEN가 비활성화되면 복조부(130_1~130_n)로부터 인가되는 동작 명령 신호 RX1~RXn에 따라 명령신호 CMD를 디지털부(200)와 파워 온 리셋부(140)에 공급한다.

반면에, 테스트 입력 버퍼(160)는 테스트 동작 모드시 테스트 활성화 신호 TSTEN가 활성화되면 테스트 신호 입력 패드 P4로부터 인가되는 테스트 입력 신호 RXI에 따라 RFID를 테스트하기 위한 명령신호 CMD를 디지털부(200)와 파워 온 리셋부(140)에 공급한다.

또한, 테스트 출력 구동부(170)는 디지털부(200)로부터 입력되는 응답 신호 RP에 따라 테스트 출력 신호 TXO를 구동하여 RFID의 명령 처리 결과를 테스트 신호 출력 패드 P1를 통해 외부로 출력한다.

여기서, 전압 증폭부(110), 변조부(120), 복조부(130_1~130_n), 파워 온 리셋부(140), 클록 발생부(150), 테스트 입력 버퍼(160) 및 테스트 출력 구동부(170)는 RFID의 성능을 테스트하기 위한 테스트 동작 모드시 외부의 전원전압 인가 패드 P2로부터 인가되는 전원전압 VDD 및 외부의 그라운드 전압 인가 패드 P3로부터 인가되는 그라운드 전압 GND에 의해 구동된다.

즉, 전원전압 인가 패드 P2는 RFID 태그가 활성화되어 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 전원 전압 VDD이 인가되는 패드를 나타낸다. 그리고, 그라운드 전압 인가 패드 P3는 웨이퍼 상에서 복수 개의 RFID 태그를 테스트할 때 그라운드 전압 GND이 인가되는 패드를 나타낸다.

RFID 태그가 RFID 리더와 통신을 하여 무선 신호를 수신하는 경우에는 전압 증폭부(110)가 전원 전압 VDD을 공급하지만, 본 발명에서는 웨이퍼 상에서 테스트를 수행하기 때문에 별도의 전원전압 인가 패드 P2 및 그라운드 전압 인가 패드 P3를 통해 전원전압 VDD 및 그라운드 전압 GND이 공급된다.

디지털부(200)는 아날로그부(100)로부터 전원 전압 VDD, 파워 온 리셋 신호 POR, 클록 CLK 및 명령 신호 CMD를 입력받아, 명령 신호 CMD를 해석하고 제어 신호 및 처리신호들을 생성한다. 그리고, 디지털부(200)는 제어 신호 및 처리신호들에 대응하는 응답 신호 RP를 아날로그부(100)로 출력한다.

또한, 디지털부(200)는 어드레스 DADD, 입력 데이터 DI, 칩 인에이블 신호 DCE, 라이트 인에이블 신호 DWE 및 출력 인에이블 신호 DOE를 테스트 인터페이스부(300)에 출력한다. 그리고, 디지털부(200)는 테스트 인터페이스부(300)로부터 출력 데이터 DO가 인가된다.

또한, 테스트 인터페이스부(300)는 테스트 제어부(500)로부터 인가되는 테스트 활성화 신호 TSTEN에 따라 활성화된다. 테스트 인터페이스부(300)가 활성화되면, 외부로부터 입력되는 태그 선택 어드레스 X0~X7, 메모리 어드레스 XA0~XA7, 입력 데이터 XDI0~XDI7, 제어 신호 DIN_LATP,ADD_LATP,XCE,XWE,XOE,TACT에 따라 메모리부를 테스트한다.

상술된 제어신호들 중 DIN_LATP는 데이터 래치 활성화 신호, ADD_LATP는 어드레스 래치 활성화 신호를 나타내고, XCE는 칩 인에이블 신호를 나타낸다. 그리고, 제어신호들 중 XWE는 라이트 인에이블 신호를 나타내고, XOE는 출력 인에이블 신호를 나타내며, TACT는 테스트 동작 신호를 나타낸다.

여기서, 테스트 인터페이스부(300)는 공통 테스트 패드 P5를 통해 입력된 태그 선택 어드레스 X0~X7, 메모리 어드레스 XA0~XA7, 입력 데이터 XDI0~XDI7와, 제어 신호 입력 패드 P6,P7,P9~P11, 및 테스트 입력 패드 P12를 통해 입력된 제어 신호 DIN_LATP,ADD_LATP,XCE,XWE,XOE,TACT에 따라 어드레스 ADD 및 제어 신호 I,CE,WE,OE를 생성하여 메모리부(400)를 테스트한다.

그리고, 테스트 인터페이스부(300)는 제어 결과 신호 O를 입력받아 출력 데이터 XDO를 데이터 출력 패드 P8를 통해 외부로 출력한다.

한편, 테스트 인터페이스부(300)가 활성화되면, 디지털부(200)로부터 입력되는 어드레스 DADD 및 제어신호 DI,DCE,DWE,DOE에 따라 RFID 태그에 포함된 내부 회로, 즉, 아날로그부(100), 디지털부(200) 및 메모리부(400)를 테스트한다.

RFID 태그의 전체 동작을 테스트하기 위해 디지털부(200)는 테스트 입력 신호 RXI에 따라 생성된 명령 신호 CMD에 의해 어드레스 DADD 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE를 생성한다.

테스트 인터페이스부(300)는 어드레스 DADD 및 제어 신호 DI,DCE,DWE,DOE에 따라 어드레스 ADD 및 제어 신호 I,CE,WE,OE를 생성하여 RFID 태그의 전체 동작을 테스트한다. 그리고, 테스트 인터페이스부(300)는 메모리부(400)로부터 테스트 결 과인 제어 결과 신호 O를 입력받고 제어 결과 신호 DO를 생성한다.

그리고, 디지털부(200)는 제어 결과 신호 DO에 따라 응답 신호 RP를 생성한다. 또한, 테스트 출력 구동부(170)는 응답 신호 RP를 구동하여 테스트 신호 출력 패드 P1를 통해 출력한다.

메모리부(400)는 복수 개의 메모리 셀을 포함하고, 각각의 메모리 셀은 데이터를 저장 소자에 라이트하고, 저장 소자에 저장된 데이터를 리드하는 역할을 한다.

여기서, 메모리부(400)는 불휘발성 강유전체 메모리(FeRAM)가 사용될 수 있다. FeRAM은 디램 정도의 데이터 처리 속도를 갖는다. 또한, FeRAM은 디램과 거의 유사한 구조를 가지고, 커패시터의 재료로 강유전체를 사용하여 강유전체의 특성인 높은 잔류 분극을 가진다. 이와 같은 잔류 분극 특성으로 인하여 전계를 제거하더라도 데이터가 지워지지 않는다.

테스트 제어부(500)는 테스트 모드시 RFID 태그를 활성화시키기 위한 역할을 한다. 테스트 제어부(500)는 테스트 입력 패드 P12로부터 테스트 동작신호 TACT를 입력받고, 테스트 클록 입력 패드 P13로부터 테스트 클록 TCLK을 입력받는다. 그리고, 테스트 제어부(500)는 RFID 태그의 활성화 여부를 제어하는 테스트 활성화 신호 TSTEN를 테스트 입력 버퍼(160)와 테스트 인터페이스부(300)에 출력한다.

이상에서와 같이, 본 발명은 테스트 모드시 테스트 활성화 신호 TSTEN가 활성화되면, RFID 장치의 테스트 결과를 테스트 신호 출력 패드 P1를 통해 출력하거나, 데이터 출력 패드 P8를 통해 외부로 출력한다.

즉, RFID 장치의 전체 동작을 테스트할 경우, 테스트 신호 입력 패드 P4를 통해 입력되는 테스트 입력 신호 RXI가 디지털부(200), 테스트 인터페이스부(300) 및 메모리부(400)에 전달되고, 다시 테스트 인터페이스부(300), 디지털부(200) 테스트 출력 구동부(170)를 거쳐 테스트 출력 패드 P1를 통해 출력된다. 그러면, 외부 테스트 장비는 테스트 신호 출력 패드 P1의 출력을 측정하여 RFID 장치의 전체 동작을 테스트하게 된다.

반면에, RFID 장치의 메모리부(400) 만 테스트할 경우, 공통 테스트 패드 P5를 통해 입력되는 어드레스 및 데이터가 테스트 인터페이스부(300)를 거쳐 메모리부(400)에 전달되고, 다시 테스트 인터페이스부(300)를 거쳐 데이터 출력 패드 P8를 통해 출력된다. 그러면, 외부 테스트 장비는 데이터 출력 패드 P8의 출력을 측정하여 메모리부(400)의 동작을 테스트하게 된다.

도 3은 도 2의 테스트 입력 버퍼(160)에 관한 상세 회로도이다.

테스트 입력 버퍼(160)는 앤드게이트 AND1와, 오아게이트 OR1를 포함한다. 여기서, 앤드게이트 AND1는 테스트 입력 신호 RXI와 테스트 활성화 신호 TSTEN를 앤드연산한다. 즉, 테스트 입력 신호 RXI와 테스트 활성화 신호 TSTEN가 모두 하이 레벨로 활성화될 경우 하이 레벨의 신호를 출력하게 된다.

그리고, 오아게이트 OR1는 복수개의 동작 명령 신호 RX1~RXn와, 앤드게이트 AND1의 출력신호를 오아연산한다. 즉, 복수개의 동작 명령 신호 RX1~RXn 및 앤드게이트 AND1의 출력신호 중 적어도 어느 하나가 하이 레벨로 활성화될 경우 명령 신호 CMD를 하이 레벨로 출력하게 된다.

도 4는 노말 동작 모드시 도 2의 테스트 입력 버퍼(160)에 관한 동작 타이밍도이다.

본 발명에서는 복수개의 동작 명령 신호 RX1~RXn 중 동작 명령 신호 RX1가 입력되는 경우를 그 실시예로 설명하고자 한다.

먼저, 테스트 입력 신호 RXI와, 테스트 활성화 신호 TSTEN가 로우 레벨일 경우, 앤드게이트 AND1가 로우 레벨의 신호를 출력한다. 이 상태에서, 복수개의 동작 명령 신호 RX1~RXn 중 동작 명령 신호 RX1가 하이 레벨일 경우 오아게이트 OR1의 출력인 명령 신호 CMD가 하이 레벨로 출력된다. 반면에, 동작 명령 신호 RX1가 하이에서 로우 레벨로 천이할 경우 오아게이트 OR1의 출력인 명령 신호 CMD가 로우 레벨로 천이하게 된다.

즉, 테스트 입력 버퍼(160)는 테스트 모드가 아닐 경우 동작 명령 신호 RX1~RXn의 상태에 따라 명령 신호 CMD를 출력하게 된다. 예를 들어, 동작 명령 신호 RX1가 하이 레벨일 경우 명령 신호 CMD가 하이 레벨이 되고, 동작 명령 신호 RX1가 로우 레벨일 경우 명령 신호 CMD가 로우 레벨이 된다.

도 5는 테스트 모드시 도 2의 테스트 입력 버퍼(160)에 관한 동작 타이밍도이다.

먼저, 테스트 모드시에는 복수개의 동작 명령 신호 RX1~RXn가 로우 레벨로 입력된다. 그리고, 테스트 입력 신호 RXI가 하이 레벨이고 테스트 활성화 신호 TSTEN가 로우 레벨일 경우, 앤드게이트 AND1가 로우 레벨의 신호를 출력한다. 이에 따라, 오아게이트 OR1의 출력인 명령 신호 CMD가 로우 레벨로 출력된다.

이 상태에서, 테스트 모드시 테스트 활성화 신호 TSTEN가 하이 레벨로 천이하는 경우 앤드게이트 AND1의 출력이 하이 레벨이 된다. 이에 따라, 오아게이트 OR1의 출력인 명령 신호 CMD가 하이 레벨로 출력된다.

이후에, 테스트 입력 신호 RXI가 로우 레벨로 천이하는 경우 앤드게이트 AND1의 출력이 로우 레벨이 되고, 오아게이트 OR1의 출력인 명령 신호 CMD가 로우 레벨로 천이하게 된다.

즉, 테스트 입력 버퍼(160)는 테스트 모드일 경우 동작 명령 신호 RX1~RXn가 입력되지 않고, 테스트 입력 신호 RXI와 테스트 활성화 신호 TSTEN가 모두 하이 레벨일 경우에만, 명령 신호 CMD를 하이 레벨로 출력하게 된다.

도 6은 도 2의 파워 온 리셋부(140)에 관한 상세 회로도이다.

파워 온 리셋부(140)는 전원 레벨 검출부(141)와, 명령신호 오프 검출부(142) 및 오아게이트 OR2를 포함한다.

여기서, 전원 레벨 검출부(141)는 초기 동작시 전원전압(VDD)의 레벨을 검출하여 전원전압(VDD)의 레벨에 대응하는 검출신호 por1를 출력한다.

그리고, 명령신호 오프 검출부(142)는 명령 신호 CMD가 로우 레벨인 구간, 즉 무선신호(RF)가 인가되지 않는 오프 구간을 검출하여 검출신호 por2를 출력한다. 즉, 명령신호 오프 검출부(142)는 명령 신호 CMD가 로우 레벨인 구간을 나타내는 오프 펄스(로우 레벨의 펄스)를 검출하여 검출신호 por2를 출력한다. 또한, 오아게이트 OR2는 두 검출신호 por1,por2를 오아연산하여 파워 온 리셋신호 POR를 디지털부(200)에 출력한다.

도 7은 도 6의 파워 온 리셋부(140)에 관한 동작 타이밍도이다.

먼저, 전원 레벨 검출부(141)는 전원전압(VDD)이 전원 검출 레벨에 도달한 경우 로우 레벨의 검출신호 por1를 출력한다. 즉, 검출신호 por1의 전압 레벨은 전원전압 레벨과 함께 상승하다가 전원전압(VDD)의 레벨이 전원 검출 레벨 이상이 될 경우 로우 레벨로 천이하게 된다.

그리고, 명령신호 오프 검출부(142)는 명령신호 CMD의 레벨을 검출하여, 명령신호 CMD가 하이 레벨로 인가될 경우 로우 레벨의 검출신호 por2를 출력하게 된다.

이때, 명령신호 오프 검출부(142)는 명령신호 CMD가 로우 레벨로 천이한 이후에, 오프 펄스 한계 시간(Off pulse limit time)이 경과 하게 되면 검출신호 por2를 하이 레벨로 출력하게 된다. 여기서, '오프 펄스 한계 시간'은 무선신호(RF)가 일정 시간 동안 입력되지 않고 오프 펄스로 인가되는 구간을 검출하는 시간을 나타낸다.

그리고, 명령신호 오프 검출부(142)는 명령신호 CMD가 하이 레벨로 다시 천이하게 되면, 검출신호 por2를 로우 레벨로 출력하게 된다.

즉, 파워 온 리셋부(140)는 오아게이트 OR2에 의해 두 검출신호 por1,por2를 오아 연산하여 파워 온 리셋 신호 POR를 출력하게 되므로, 검출신호 por1 또는 검출신호 por2 중 적어도 어느 하나가 하이 레벨로 천이하는 구간에서 파워 온 리셋 신호 POR가 하이 레벨로 출력된다. 이때, 파워 온 리셋 신호 POR가 하이 레벨로 천이하는 구간은 리셋 구간에 해당된다.

도 1은 종래의 RFID 장치의 전체 구성도.

도 2는 본 발명에 따른 RFID 장치의 전체 구성도.

도 3은 도 2의 테스트 입력 버퍼에 관한 상세 회로도.

도 4는 노말 동작 모드시 도 2의 테스트 입력 버퍼에 관한 동작 타이밍도.

도 5는 테스트 모드시 도 2의 테스트 입력 버퍼에 관한 동작 타이밍도.

도 6은 도 2의 파워 온 리셋부에 관한 상세 회로도.

도 7은 도 6의 파워 온 리셋부에 관한 동작 타이밍도.

Claims

외부로부터 인가되는 테스트 입력 신호에 따라 명령신호를 출력하고, 응답신호에 대응하는 테스트 출력 신호를 외부로 출력하는 아날로그부;

상기 명령신호에 따라 동작 제어신호를 출력하고, 해당하는 상기 응답신호를 상기 아날로그부에 출력하는 디지털부; 및

상기 동작 제어신호를 입력받아 셀 어레이에 데이터를 리드/라이트 하는 메모리부를 포함하고,

상기 아날로그부는

복수개의 동작 명령 신호를 조합하여 상기 명령신호를 출력하고, 테스트 모드시 테스트 활성화 신호가 활성화되면 상기 테스트 입력 신호의 레벨에 대응하여 상기 명령신호를 출력하는 테스트 입력 버퍼; 및

상기 명령신호가 로우 레벨로 천이한 이후에, 로우 레벨의 펄스 구간이 한계 시간을 경과하게 되면 파워 온 리셋 신호를 하이 레벨로 출력하는 파워 온 리셋부를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 아날로그부는

무선신호를 복조하여 상기 복수개의 동작 명령 신호를 출력하는 복수개의 복조부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 외부로부터 인가되는 테스트 동작신호와 테스트 클록에 따라 상기 테스트 모드를 활성화 시키기 위한 상기 테스트 활성화 신호를 상기 테스트 입력 버퍼에 출력하는 테스트 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 4은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 테스트 입력 버퍼는

노말 동작 모드시 상기 테스트 입력 신호가 비활성화될 경우 상기 복수개의 동작 명령 신호에 대응하여 상기 명령신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 테스트 입력 버퍼는

상기 테스트 모드시 상기 테스트 입력 신호와 상기 테스트 활성화 신호가 모두 하이 레벨일 경우 상기 명령 신호를 하이 레벨로 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
삭제
청구항 7은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 파워 온 리셋부는

전원전압의 레벨을 감지하여 제 1검출신호를 출력하는 전원 레벨 검출부;

상기 명령신호가 로우 레벨의 펄스로 인가되는 구간을 검출하여 제 2검출신호를 출력하는 명령신호 오프 검출부; 및

상기 제 1검출신호와 제 2검출신호를 논리연산하여 상기 파워 온 리셋 신호를 출력하는 논리연산 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 8은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 7항에 있어서, 상기 명령신호 오프 검출부는

상기 명령신호가 로우 레벨로 천이한 이후에, 상기 로우 레벨의 펄스 구간이 한계 시간을 경과 하게 되면 상기 제 2검출신호를 하이 레벨로 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 9은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 7항에 있어서, 상기 논리연산 소자는 상기 제 1검출신호와 상기 제 2검출신호 중 적어도 어느 하나가 활성화될 경우 상기 파워 온 리셋신호를 하이 레벨로 출력하는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.
청구항 10은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제 1항에 있어서, 상기 메모리부는 불휘발성 강유전체 소자를 포함하여 데이터의 리드/라이트 동작이 수행되는 것을 특징으로 하는 RFID 장치.