KR20100010020A - 저 정전용량을 갖는 이에스디 보호소자 - Google Patents
저 정전용량을 갖는 이에스디 보호소자 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20100010020A KR20100010020A KR1020090055573A KR20090055573A KR20100010020A KR 20100010020 A KR20100010020 A KR 20100010020A KR 1020090055573 A KR1020090055573 A KR 1020090055573A KR 20090055573 A KR20090055573 A KR 20090055573A KR 20100010020 A KR20100010020 A KR 20100010020A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- insulating ceramic
- ceramic
- esd protection
- protection device
- low capacitance
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
- H01L23/60—Protection against electrostatic charges or discharges, e.g. Faraday shields
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0248—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0254—High voltage adaptations; Electrical insulation details; Overvoltage or electrostatic discharge protection ; Arrangements for regulating voltages or for using plural voltages
- H05K1/0257—Overvoltage protection
- H05K1/0259—Electrostatic discharge [ESD] protection
Abstract
Description
Claims (20)
- 절연세라믹베이스;상기 절연세라믹베이스 위에 형성되는 절연세라믹커버;양단이 외부로 노출되고, 상기 절연세라믹커버의 내부에 또는 상기 절연세라믹베이스와 상기 절연세라믹커버의 접합 면에 수평으로 연장하는 내부전극; 및상기 내부전극의 양단과 전기적으로 결합하는 외부전극을 포함하며,상기 내부전극의 일정 부분을 전기적으로 분리하여 외부에서 상기 외부전극을 통해 유입되는 ESD를 방전하는 공간을 제공하기 위한 에어 갭이 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 절연세라믹베이스;상기 절연세라믹베이스 위에 형성되는 모체세라믹;양단이 외부로 노출되고, 상기 모체세라믹 내부에 수평으로 연장하는 내부전극;상기 모체세라믹을 감싸도록 형성되고 상기 절연세라믹베이스와 접합하는 절연세라믹커버; 및상기 내부전극의 양단과 전기적으로 결합하는 외부전극을 포함하며,상기 모체세라믹 내부에는 상기 내부전극의 일정 부분을 전기적으로 분리하여 외부에서 상기 외부전극을 통해 유입되는 ESD를 방전하는 공간을 제공하기 위한 에어 갭이 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 절연세라믹베이스;상기 절연세라믹베이스 위에 형성되는 버퍼세라믹;상기 버퍼세라믹 위에 형성되는 모체세라믹;양단이 외부로 노출되고, 상기 모체세라믹 내부에 수평으로 연장하는 내부전극;상기 모체세라믹과 버퍼세라믹을 감싸도록 형성되고 상기 절연세라믹베이스와 접합하는 절연세라믹커버; 및상기 내부전극의 양단과 전기적으로 결합하는 외부전극을 포함하며,상기 모체세라믹 내부에는 상기 내부전극의 일정 부분을 전기적으로 분리하여 외부에서 상기 외부전극을 통해 유입되는 ESD를 방전하는 공간을 제공하기 위한 에어 갭이 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 절연세라믹커버는 그린시트가 상기 절연세라믹베이스 위에 압착되고 열처리 과정을 통해 접합되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 절연세라믹베이스는 산화알루미늄이나 질화알루미늄, 산화실리콘, 마그 네시아, 실리콘 웨이퍼 또는 LTCC 중의 어느 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 에어 갭은 다이싱 쏘(Dising saw) 또는 레이저(Laser) 트리밍에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 에어 갭은 10 내지 300㎛의 폭으로 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 에어 갭은 불활성 기체로 충진되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 절연세라믹커버는 알루미나계 산화물이나 규소계 산화물, 마그네시아계 산화물, 페라이트계 산화물 또는 LTCC 중의 어느 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 2 또는 3에 있어서,상기 모체세라믹은 상기 절연세라믹베이스의 상면 가장자리가 노출되도록 상기 절연세라믹베이스보다 작은 면적으로 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 2 또는 3에 있어서,상기 모체세라믹은 알루미나계 산화물이나 규소계 산화물, 마그네시아계 산화물, 페라이트계 산화물 또는 LTCC 중의 어느 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 3에 있어서,상기 버퍼세라믹은 상기 절연세라믹베이스의 면적보다 작고 상기 모체세라믹의 면적보다 크게 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 3에 있어서,상기 버퍼세라믹은 알루미나계 산화물이나 규소계 산화물, 마그네시아계 산화물, 페라이트계 산화물 또는 LTCC 중의 어느 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 내부전극은 상기 절연세라믹베이스의 길이방향으로 일정 간격으로 다수 개 배열되고,상기 외부전극은 상기 내부전극 각각의 노출된 양단에 전기적으로 결합하도록 형성되며,상기 각 내부전극은 상기 길이방향으로 연장 형성된 에어 갭에 의해 전기적으로 분리되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 절연세라믹커버 위에 형성되는 절연코팅층이 더 포함되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자는 EMI 필터로 사용되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 내부전극에서 상기 외부전극과의 접촉 부분에 보조 내부전극이 상기 내부전극 위에 적층되어 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 17에 있어서,상기 내부전극과 상기 보조 내부전극은 동일한 재료로 구성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 17에 있어서,상기 보조 내부전극은 그 폭이 상기 절연세라믹베이스의 폭과 동일하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
- 청구항 17에 있어서,상기 내부 보조전극은 메탈 페이스트에 의한 스크린 인쇄법을 적용하여 형성한 후 열처리하는 것을 특징으로 하는 저 정전용량을 갖는 ESD 보호소자.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080070871 | 2008-07-21 | ||
KR20080070871 | 2008-07-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100010020A true KR20100010020A (ko) | 2010-01-29 |
KR101008309B1 KR101008309B1 (ko) | 2011-01-13 |
Family
ID=41818257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090055573A KR101008309B1 (ko) | 2008-07-21 | 2009-06-22 | 저 정전용량을 갖는 이에스디 보호소자 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101008309B1 (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101254084B1 (ko) * | 2010-09-29 | 2013-04-12 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | Esd 보호 디바이스 및 그 제조방법 |
KR20150066375A (ko) | 2013-12-06 | 2015-06-16 | 삼성전기주식회사 | 이에스디 페이스트 및 그 제조 방법 |
KR20160004124A (ko) * | 2014-07-02 | 2016-01-12 | 조인셋 주식회사 | Esd 내성을 가지는 폴리머 커패시터 |
CN105722307A (zh) * | 2014-12-23 | 2016-06-29 | 三星电机株式会社 | 静电放电保护器件及其制造方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101323145B1 (ko) | 2011-10-27 | 2013-10-30 | (주)아트로닉스 | 정전기 보호용 반도체 소자의 제조방법 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH097791A (ja) * | 1995-04-18 | 1997-01-10 | Hitachi Chem Co Ltd | チップ型静電気保護素子およびその製造法 |
JP3072707B2 (ja) * | 1995-10-31 | 2000-08-07 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション | 液晶表示装置及びその製造方法 |
JP2001043954A (ja) | 1999-07-30 | 2001-02-16 | Tokin Corp | サージ吸収素子及びその製造方法 |
JP2001143846A (ja) | 1999-11-16 | 2001-05-25 | Tokin Corp | 表面実装型サージアブソーバおよびその製造方法 |
-
2009
- 2009-06-22 KR KR1020090055573A patent/KR101008309B1/ko active IP Right Grant
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101254084B1 (ko) * | 2010-09-29 | 2013-04-12 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | Esd 보호 디바이스 및 그 제조방법 |
EP2437362A3 (en) * | 2010-09-29 | 2014-10-29 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | ESD protection device and manufacturing method therefor |
KR20150066375A (ko) | 2013-12-06 | 2015-06-16 | 삼성전기주식회사 | 이에스디 페이스트 및 그 제조 방법 |
KR20160004124A (ko) * | 2014-07-02 | 2016-01-12 | 조인셋 주식회사 | Esd 내성을 가지는 폴리머 커패시터 |
CN105722307A (zh) * | 2014-12-23 | 2016-06-29 | 三星电机株式会社 | 静电放电保护器件及其制造方法 |
CN105722307B (zh) * | 2014-12-23 | 2019-07-30 | 三星电机株式会社 | 静电放电保护器件及其制造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101008309B1 (ko) | 2011-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101760877B1 (ko) | 복합 소자 및 이를 구비하는 전자기기 | |
KR102084737B1 (ko) | 복합 소자의 제조 방법, 이에 의해 제조된 복합 소자 및 이를 구비하는 전자기기 | |
WO2011145598A1 (ja) | Esd保護デバイス | |
KR101008309B1 (ko) | 저 정전용량을 갖는 이에스디 보호소자 | |
KR20140090466A (ko) | 도전성 수지 조성물, 이를 포함하는 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법 | |
US20050195549A1 (en) | Electrostatic discharge protection component | |
JP3528655B2 (ja) | チップ型サージアブソーバ及びその製造方法 | |
JP4292788B2 (ja) | チップ型サージアブソーバ及びその製造方法 | |
US6498715B2 (en) | Stack up type low capacitance overvoltage protective device | |
JPH056805A (ja) | チツプ型バリスタ | |
JP2004127614A (ja) | サージアブソーバ及びその製造方法 | |
KR100931402B1 (ko) | 표면 실장용 세라믹 전자부품 및 그 제조 방법 | |
KR102053356B1 (ko) | 복합 소자의 제조 방법, 이에 의해 제조된 복합 소자 및 이를 구비하는 전자기기 | |
KR100981037B1 (ko) | 적층형 필터 | |
JP5304998B2 (ja) | サージアブソーバ及びその製造方法 | |
KR100821277B1 (ko) | 칩 세라믹 부품요소, 칩 세라믹 부품 및 그 제조 방법 | |
JP6428938B2 (ja) | Esd保護装置 | |
KR101925277B1 (ko) | 정전기 대책 소자 | |
KR102594641B1 (ko) | Eos 강화형 적층 세라믹 콘덴서 | |
KR102335084B1 (ko) | 복합 소자 및 이를 구비하는 전자기기 | |
KR101236766B1 (ko) | 적층형 복합 칩 소자 | |
JPH09266053A (ja) | チップ型サージアブソーバ及びその製造方法 | |
KR101027122B1 (ko) | 정전방전 보호소자 | |
KR100757902B1 (ko) | 정전기 방전 보호기능을 갖는 세라믹 필터요소 및 그제조방법 | |
JP2008270391A (ja) | 積層型チップバリスタおよびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140103 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150108 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160108 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170110 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180109 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190108 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200108 Year of fee payment: 10 |