KR20100009925A - 고휘도 엘이디의 특성 측정장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (4)
- LED의 온도를 일정하게 유지하는 온도 조절수단을 가지며 다수개의 측정용 LED를 장착할 수 있는 LED 장착부와, 상기 각각의 LED에 대응되는 위치에 설치된 포토다이오드를 구비한 수광부로 구성된 지그들과;상기 지그(Jig)가 적어도 하나 이상 장착되며 그 지그에 장착된 각각의 고휘도 LED에 전원을 공급하고, 공급된 전류에 의해 점등된 LED의 광량을 측정하는 전류 공급/ 광량 측정부와, 상기 온도조절 수단의 온도를 조절하기 위한 온도제어부와, 상기 전류 공급/광량 측정부와 온도 제어부를 PC와 연결하고 PC에서 입력된 명령에 따라 전류 및 온도를 제어하는 MCU와, 상기 전류 공급/광량 측정부와 온도제어부에 전원을 인가하는 전원공급부를 구비한 프레임을 포함하는 것을 특징으로 하는 고휘도 LED의 특성측정 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 고휘도 LED 특성 측정장치는,적어도 하나 이상의 지그가 체결되는 다수개의 프레임과;상기 프레임들 사이에 설치되는 컴퓨터와;상기 프레임과 컴퓨터가 장착된 하우징을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고휘도 LED의 특성 측정장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 전류 공급/광량 측정부는,상기 전원공급부로부터 제공된 전류를 일정한 크기로 제공하기 위한 CC( Constant Current)와;상기 CC에서 공급되는 전류의 크기를 측정하기 위한 전류 메타(IM) 및 그 전류에 따른 전압의 크기를 측정하기 위한 전압 메타(VM)와;상기 지그의 수광부에 설치된 포토다이오드로부터 제공되는 전류의 크기를 측정하는 광전류 메타(LIM)를 포함하는 것을 특징으로 하는 고휘도 LED의 특성 측정장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 온도 제어부는상기 지그 하부에 부착되며 전기적으로 가열(Heating)과 식힘(Cooling)이 용이하게 이루어지는 온도조절수단인 TEC와;상기 TEC의 작동을 위해 전원을 공급하는 전원부와,상기 전원부에서 공급된 전원에 의해 구동되는 TEC의 온도를 측정하는 온도메타를 포함하는 것을 특징으로 하는 고휘도 LED의 특성 측정장치
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080070757A KR100975836B1 (ko) | 2008-07-21 | 2008-07-21 | 고휘도 엘이디의 특성 측정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
KR1020080070757A KR100975836B1 (ko) | 2008-07-21 | 2008-07-21 | 고휘도 엘이디의 특성 측정장치 |
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---|---|
KR20100009925A true KR20100009925A (ko) | 2010-01-29 |
KR100975836B1 KR100975836B1 (ko) | 2010-08-16 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080070757A KR100975836B1 (ko) | 2008-07-21 | 2008-07-21 | 고휘도 엘이디의 특성 측정장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100975836B1 (ko) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2005049131A (ja) | 2003-07-30 | 2005-02-24 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | Ledチップの光学特性測定装置及びledチップの光学特性測定方法 |
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JP2008101946A (ja) | 2006-10-17 | 2008-05-01 | Sharp Corp | 発光素子の特性検査装置および特性検査方法 |
JP2008249411A (ja) | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Dkk Toa Corp | 測定装置用光源モジュール及び測定装置 |
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KR20220087400A (ko) | 2020-12-17 | 2022-06-24 | 서울대학교산학협력단 | 발광 소자의 발광특성 측정 장치 및 이의 측정방법 |
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KR100975836B1 (ko) | 2010-08-16 |
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