KR20180045747A - 다채널 oled 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 oled 소자 수명 측정 방법 - Google Patents

다채널 oled 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 oled 소자 수명 측정 방법 Download PDF

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KR20180045747A KR1020160140462A KR20160140462A KR20180045747A KR 20180045747 A KR20180045747 A KR 20180045747A KR 1020160140462 A KR1020160140462 A KR 1020160140462A KR 20160140462 A KR20160140462 A KR 20160140462A KR 20180045747 A KR20180045747 A KR 20180045747A
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Abstract

본 발명은 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명의 제 1 측면은, 제 1 MCU(111)를 구비하여, 제 1 MCU(111)에 의해 각기 16개의 채널을 제어하는 슬롯 보드(Slot Board)를 8개씩을 제어하는 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110); 제 2 MCU(121)를 구비하여, 제 2 MCU(121)에 의해 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅하고, 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 슬롯 보드(Slot Board)(120); 및 OLED 소자 장착 지그로 슬롯 보드(Slot Board)(120)의 출력단(Output)과 연결되어 형광성 유기 화합물 시료를 연결하는 역할을 하는 시료 장착 지그(300); 를 포함하는 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 제공함에 있다.
본 발명의 제 2 측면은, 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)의 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)가 RS-232를 통해 PC(1)에서 받은 셋팅 값을 각각의 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 전달하며, 반대로 슬롯 보드(Slot Board)(120)에서 UART를 통해 수신한 데이터를 PC(1)로 전송하기 위한 인터페이스 연결을 설정하는 제 1 단계; 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅하는 제 2 단계; 및 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 제 3 단계; 를 포함하는 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법을 제공함에 있다.
이에 의해, 다채널을 개별 제어가 가능하므로 한번에 여러 가지 모드로 OLED 소자를 테스트할 수 있는 효과를 제공한다.
뿐만 아니라, 전압, 전류, 펄스 모드 뿐만 아니라, 포토 다이오드의 출력값 등을 다채널로 한번에 측정이 가능하며, 종합적으로 분석하여 OLED 소자의 수명을 정밀하고 빠르게 측정할 수 있는 효과를 제공한다.

Description

다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법{DURABILITY MEASURING APPARATUS BASED ON MULTI-CHANNELS FOR ORGANIC LIGHT-EMITTING DIODE ELEMENT, METHOD THEREOF}
본 발명은 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는, 다채널을 개별 제어가 가능하므로 한번에 여러 가지 모드로 OLED 소자를 테스트할 수 있도록 하기 위한 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법에 관한 것이다.
OLED(Organic Light Emitting Diodes) 디스플레이는 LCD와 비교해서 응답속도가 빠르고, 시인성(視認性)이 우수하며, 박형화(페이퍼화)가 가능한 점 등 디스플레이로서의 우위성은 물론 높은 잠재력으로 많은 주목을 받고 있다.
OLED는 유기재료에 전계를 가하여 전기에너지를 광에너지로 바꿔주는 소자를 일컬으며, 이의 기본 원리는 유기물 박막(저분자 혹은 고분자)에서 음극과 양극을 통해 주입된 전자(electron)와 정공(hole)이 재결합되고 이때 생성되는 여기자(exciton)가 바닥상태(ground state)로 되돌아가면서 특정 파장의 빛을 발광한다.
이러한 OLED는 전류가 흐르면서 발광하는 저분자(Small Module) 혹은 고분자(Poymer) 유기물로서 별도의 발광장치(Back Light)가 필요한 LCD와 비교하여 경량화, 박형화가 가능하고, 또한 시야각의 제한이 없는 것은 물론 Flexible 기판까지 적용할 수 있어 미래 디스플레이로 손색이 없다.
또한, OLED는 자체발광소자이고 경량 박형이 가능하며, LCD에 비하여 시야각과 Contrast 그리고 Response Time이 우수한 장점이 있어서 차세대 디스플레이로 주목받고 있다.
대한민국 특허등록공보 등록번호 제10-1347240호 "OLED의 수명예측시험장치(LIFETIME PREDICTION TESTING DEVICE OF OLED)" 대한민국 특허출원 특허출원번호 제10-2009-7015658호 "고효율 및 우수한 수명을 갖는 유기 발광 다이오드(OLEDS HAVING HIGH EFFICIENCY AND EXCELLENT LIFETIME)" 대한민국 특허출원 특허출원번호 제10-2004-0061984호 "개선된 수명 및 광 출력을 위해 OLED 디스플레이소자를 측정 및 제어하는 방법 및 시스템(METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING AND CONTROLLING ANOLED DISPLAY ELEMENT FOR IMPROVED LIFETIME AND LIGHTOUTPUT)"
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 다채널을 개별 제어가 가능하므로 한번에 여러 가지 모드로 OLED 소자를 테스트할 수 있도록 하기 위한 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법을 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명은 전압, 전류, 펄스 모드 뿐만 아니라, 포토 다이오드의 출력값 등을 다채널로 한번에 측정이 가능하며, 종합적으로 분석하여 OLED 소자의 수명을 정밀하고 빠르게 측정할 수 있도록 하기 위한 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법을 제공하기 위한 것이다.
그러나 본 발명의 목적들은 상기에 언급된 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기의 목적을 달성하기 위해 본 발명의 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치는, 제 1 MCU(111)를 구비하여, 제 1 MCU(111)에 의해 각기 16개의 채널을 제어하는 슬롯 보드(Slot Board)를 8개씩을 제어하는 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110); 제 2 MCU(121)를 구비하여, 제 2 MCU(121)에 의해 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅하고, 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 슬롯 보드(Slot Board)(120); 및 OLED 소자 장착 지그로 슬롯 보드(Slot Board)(120)의 출력단(Output)과 연결되어 형광성 유기 화합물 시료를 연결하는 역할을 하는 시료 장착 지그(300); 를 포함할 수 있다.
이때, 본 발명의 다른 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치에 있어서, 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)의 제 1 MCU(111)는 RS-232를 통해 PC(1)에서 받은 셋팅 값을 각각의 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 전달하며, 슬롯 보드(Slot Board)(120)에서 수신한 데이터를 PC(1)로 전송하여, 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)가 인터페이스(Interface) 역할을 수행하도록 할 수 있다.
상기의 목적을 달성하기 위해 본 발명의 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법은, 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)의 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)가 RS-232를 통해 PC(1)에서 받은 셋팅 값을 각각의 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 전달하며, 반대로 슬롯 보드(Slot Board)(120)에서 UART를 통해 수신한 데이터를 PC(1)로 전송하기 위한 인터페이스 연결을 설정하는 제 1 단계; 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅하는 제 2 단계; 및 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 제 3 단계; 를 포함할 수 있다.
이때, 본 발명의 다른 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법은, 상기 제 3 단계 이후, 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 시료 장착 지그(300)에 내장된 포토 다이오드의 출력을 포토 다이오드 센싱 블록(125)에 의해 측정한 뒤, 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 제 4 단계; 를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법은, 상기 제 1 단계 이전에, 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)의 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)가 각기 16개의 채널을 제어하는 슬롯 보드(Slot Board)를 8개와 연결되어 셋팅 되며, 시료 장착 지그(300) 내의 OLED 소자 장착 지그의 형광성 유기 화합물 시료로 슬롯 보드(Slot Board)(120)의 출력단(Output)을 연결하는 단계; 를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법은, 다채널을 개별 제어가 가능하므로 한번에 여러 가지 모드로 OLED 소자를 테스트할 수 있는 효과를 제공한다.
뿐만 아니라, 본 발명의 다른 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치, 이를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법은, 전압, 전류, 펄스 모드 뿐만 아니라, 포토 다이오드의 출력값 등을 다채널로 한번에 측정이 가능하며, 종합적으로 분석하여 OLED 소자의 수명을 정밀하고 빠르게 측정할 수 있는 효과를 제공한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법을 나타내는 흐름도이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예의 상세한 설명은 첨부된 도면들을 참조하여 설명할 것이다. 하기에서 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다.
본 명세서에 있어서는 어느 하나의 구성요소가 다른 구성요소로 데이터 또는 신호를 '전송'하는 경우에는 구성요소는 다른 구성요소로 직접 상기 데이터 또는 신호를 전송할 수 있고, 적어도 하나의 또 다른 구성요소를 통하여 데이터 또는 신호를 다른 구성요소로 전송할 수 있음을 의미한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)를 나타내는 도면이다. 도 1을 참조하면, 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)는 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110), 슬롯 보드(Slot Board)(120), 그리고 시료 장착 지그(130)를 포함한다.
여기서 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)는 제 1 MCU(111)를 구비하여, 제 1 MCU(111)에 의해 각기 16개의 채널을 제어하는 슬롯 보드(Slot Board)를 8개씩을 제어한다.
이를 위해 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)의 제 1 MCU(111)는 RS-232를 통해 PC(1)에서 받은 셋팅 값을 각각의 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 전달하며, 반대로 슬롯 보드(Slot Board)(120)에서 수신한 데이터를 PC(1)로 전송함으로써, 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)의 주요 인터페이스(Interface) 역할을 수행한다.
슬롯 보드(Slot Board)(120)는 제 2 MCU(121), 전압 전류 셋팅 블록(122), 펄스 제어 블록(123), 전류 전압 센싱 블록(124), 그리고 포토 다이오드 센싱 블록(125)을 구비한다. 여기서 전압 전류 셋팅 블록(122), 펄스 제어 블록(123), 전류 전압 센싱 블록(124), 포토 다이오드 센싱 블록(125) 각각은 하나의 모듈일 수 있으며, 그리고 본 명세서에서 모듈이라 함은, 본 발명의 기술적 사상을 수행하기 위한 하드웨어 및 상기 하드웨어를 구동하기 위한 소프트웨어의 기능적, 구조적 결합을 의미할 수 있다. 예컨대, 상기 모듈은 소정의 코드와 상기 소정의 코드가 수행되기 위한 하드웨어 리소스의 논리적인 단위를 의미할 수 있으며, 반드시 물리적으로 연결된 코드를 의미하거나, 한 종류의 하드웨어를 의미하는 것은 아님은 본 발명의 기술분야의 평균적 전문가에게는 용이하게 추론될 수 있다.
제 2 MCU(121)는 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅하고, 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송한다.
시료 장착 지그(300)는 OLED 소자 장착 지그로 슬롯 보드(Slot Board)(120)의 출력단(Output)과 연결되어 형광성 유기 화합물 시료를 연결하는 역할을 한다. 또한, 시료 장착 지그(300)는 내장된 포토 다이오드의 출력을 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 출력함으로써, 포토 다이오드 센싱 블록(125)에 의해 측정되도록 한다. 이러한 구성을 통해 다채널을 개별 제어가 가능하므로 한번에 여러 가지 모드로 OLED 소자를 테스트할 수 있다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법을 나타내는 흐름도이다. 도 2를 참조하면, 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)의 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)는 각기 16개의 채널을 제어하는 슬롯 보드(Slot Board)를 8개와 연결되어 셋팅 되며, 시료 장착 지그(300) 내의 OLED 소자 장착 지그의 형광성 유기 화합물 시료로 슬롯 보드(Slot Board)(120)의 출력단(Output)을 연결한다(S11).
단계(S11) 이후, 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)의 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)는 RS-232를 통해 PC(1)에서 받은 셋팅 값을 각각의 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 전달하며, 반대로 슬롯 보드(Slot Board)(120)에서 UART를 통해 수신한 데이터를 PC(1)로 전송하기 위한 인터페이스 연결을 설정한다(S12).
단계(S12) 이후, 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)는 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅한다(S13).
단계(S13) 이후, 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)는 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송한다(S14).
단계(S14) 이후, 각 슬롯 보드(Slot Board)(120)는 시료 장착 지그(300)에 내장된 포토 다이오드의 출력을 포토 다이오드 센싱 블록(125)에 의해 측정한 뒤, 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송한다(S15). 여기서 각 슬롯 브드(Slot Board)(120)는 다채널인 16개의 채널에 대한 개별 제어가 가능하므로 여러 가지 모드로 OLED 소자를 테스트할 수 있다.
한편, OLED와 같은 평판 디스플레이의 수명은 휘도가 초기휘도 대비 50%로 반감되는 시점을 기준으로 삼는다. 수명을 가속시키기 위한 일반적인 요소는 휘도(OLED 소자는 전류)와 온도이다. OLED 소자는 Back light 장치가 불필요한 자체발광 디스플레이로 전원의 인가로 발광을 하게 되며, PC(1)는 전압, 전류, 펄스 모드 뿐만 아니라, 포토 다이오드의 출력값 등을 수신한 뒤, Constant/Progressive/Step 스트레스 가속시험을 통한 수명예측 모듈을 통해 OLED 소자의 수명을 예측할 수 있다.
본 발명의 일 실시예로 PC(1)는 포토 다이오드의 출력값을 이용해 발광되는 빛의 세기를 나타내는 휘도 데이터를 일정 시간의 경과에 따라 기록한 뒤, 시간의 경과에 따라 측정된 측정 휘도 데이터들과의 거리가 최소가 되는 지수함수에 의해 최초 휘도 데이터의 반까지 휘도가 감소하는 시점을 계산하여 OLED 소자의 수명을 예측하며 예측된 수명을 표시할 수 있다.
본 발명은 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록 장치를 포함한다.
컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어, 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다.
또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 그리고 본 발명을 구현하기 위한 기능적인(functional) 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 발명이 속하는 기술 분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.
이상과 같이, 본 명세서와 도면에는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 개시하였으며, 비록 특정 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명의 기술 내용을 쉽게 설명하고 발명의 이해를 돕기 위한 일반적인 의미에서 사용된 것이지, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
1 : PC
100 : 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치
110 : 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)
111 : 제 1 MCU
120 : 슬롯 보드(Slot Board)
121 : 제 2 MCU
122 : 전압 전류 셋팅 블록
123 : 펄스 제어 블록
124 : 전류 전압 센싱 블록
125 : 포토 다이오드 센싱 블록
130 : 시료 장착 지그

Claims (5)

  1. 제 1 MCU(111)를 구비하여, 제 1 MCU(111)에 의해 각기 16개의 채널을 제어하는 슬롯 보드(Slot Board)를 8개씩을 제어하는 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110);
    제 2 MCU(121)를 구비하여, 제 2 MCU(121)에 의해 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅하고, 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 슬롯 보드(Slot Board)(120); 및
    OLED 소자 장착 지그로 슬롯 보드(Slot Board)(120)의 출력단(Output)과 연결되어 형광성 유기 화합물 시료를 연결하는 역할을 하는 시료 장착 지그(300); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)의 제 1 MCU(111)는 RS-232를 통해 PC(1)에서 받은 셋팅 값을 각각의 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 전달하며, 슬롯 보드(Slot Board)(120)에서 수신한 데이터를 PC(1)로 전송하여, 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)가 인터페이스(Interface) 역할을 수행하도록 하는 것을 특징으로 하는 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치.
  3. 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)의 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)가 RS-232를 통해 PC(1)에서 받은 셋팅 값을 각각의 슬롯 보드(Slot Board)(120)에 전달하며, 반대로 슬롯 보드(Slot Board)(120)에서 UART를 통해 수신한 데이터를 PC(1)로 전송하기 위한 인터페이스 연결을 설정하는 제 1 단계;
    각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)에서 받은 전압, 전류, 펄스 모드(Mode)에 대한 명령을 전압 전류 셋팅 블록(122) 및 펄스 제어 블록(123)에 셋팅하는 제 2 단계; 및
    각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 전류 전압 센싱 블록(124)을 통해 형광성 유기 화합물 시료에서 소모하는 전류 및 전압을 측정하여 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 제 3 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법.
  4. 청구항 3에 있어서, 상기 제 3 단계 이후,
    각 슬롯 보드(Slot Board)(120)가 시료 장착 지그(300)에 내장된 포토 다이오드의 출력을 포토 다이오드 센싱 블록(125)에 의해 측정한 뒤, 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(100)로 전송하는 제 4 단계; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법.
  5. 청구항 3에 있어서, 상기 제 1 단계 이전에,
    다채널 OLED 소자 수명 측정 장치(100)의 메인 컨트롤 보드(Main Control Board)(110)가 각기 16개의 채널을 제어하는 슬롯 보드(Slot Board)를 8개와 연결되어 셋팅 되며, 시료 장착 지그(300) 내의 OLED 소자 장착 지그의 형광성 유기 화합물 시료로 슬롯 보드(Slot Board)(120)의 출력단(Output)을 연결하는 단계; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 OLED 소자 수명 측정 장치를 이용한 다채널 OLED 소자 수명 측정 방법.
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