KR20100000536A - Apparatus for degating a molded element and system for molding a electronic component including the same - Google Patents
Apparatus for degating a molded element and system for molding a electronic component including the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20100000536A KR20100000536A KR1020080060071A KR20080060071A KR20100000536A KR 20100000536 A KR20100000536 A KR 20100000536A KR 1020080060071 A KR1020080060071 A KR 1020080060071A KR 20080060071 A KR20080060071 A KR 20080060071A KR 20100000536 A KR20100000536 A KR 20100000536A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- molding
- holder
- dummy
- component
- degating
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/77—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
- H01L21/78—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/29—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
- H01L23/293—Organic, e.g. plastic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/367—Cooling facilitated by shape of device
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 성형물 분리 장치 및 전자 부품의 몰딩 시스템에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 칩이 기판 상에 연결된 전자 부품을 수지물에 의해 몰딩 성형한 다음, 불필요한 더미 성형물을 상기 전자 부품에 해당하는 부품 성형물로부터 분리시키기 위한 장치 및 이 장치를 포함하는 몰딩 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to a molding separation device and a molding system of an electronic component, and more particularly, molding an electronic component in which a chip is connected on a substrate by molding a resin, and then forming unnecessary dummy molding parts corresponding to the electronic component. An apparatus for separating from a molding and a molding system comprising the apparatus.
일반적으로, 전자 부품은 전자 기기에 사용되는 부품을 통칭하며, 일 예로 칩이 기판 상에 연결된 구조를 갖는 반도체 소자를 들 수 있다. 상기 반도체 소자는 디램(DRAM), 에스램(SRAM) 등과 같은 메모리 소자를 포함할 수 있다. In general, an electronic component generally refers to a component used in an electronic device, and for example, a semiconductor device having a structure in which a chip is connected on a substrate. The semiconductor device may include a memory device such as a DRAM and an SRAM.
상기 반도체 소자는 실리콘 재질의 얇은 단결정 기판으로 이루어진 웨이퍼를 기초로 하여 제조된다. 구체적으로, 상기 반도체 소자는 상기 웨이퍼 상에 회로 패턴이 패터닝된 다수의 칩들을 형성하는 팹(Fabrication) 공정과, 상기 팹 공정에서 형성된 칩들의 전기적인 특성을 검사하기 위한 EDS(Electrical Die Sorting) 공정과, 상기 칩들 각각을 별도의 기판들 각각에 연결시키는 공정들을 포함하여 제조된 다. The semiconductor device is manufactured based on a wafer made of a thin single crystal substrate made of silicon. In detail, the semiconductor device may include a fabrication process for forming a plurality of chips patterned with a circuit pattern on the wafer, and an electrical die sorting process for inspecting electrical characteristics of the chips formed in the fabrication process. And a process of connecting each of the chips to each of separate substrates.
이러한 상기 반도체 소자는 상기 칩을 외부로 노출하고 있기 때문에, 외부에 존재하는 이물질이나 다른 위험적 요소를 통하여 전기적인 손상을 입을 수 있다. 이에, 상기 반도체 소자는 에폭시(epoxy) 수지와 같은 수지물로 몰딩 성형하여 패키지 상태로 사용된다. Since the semiconductor device exposes the chip to the outside, the semiconductor device may be electrically damaged through foreign matter or other dangerous factors. Thus, the semiconductor device is molded in a resin material such as epoxy resin and used in a packaged state.
상기 반도체 소자는 통상적으로, 금형의 내부에 형성된 성형 공간에 상기 칩이 연결된 상기 기판을 배치시킨 다음, 외부로부터 상기 수지물을 고온의 액체 상태로 상기 성형 공간으로부터 외부로 연장된 공급 라인을 통해 상기 성형 공간으로 주입하여 냉각 및 경화시킴으로써, 제조된다. In the semiconductor device, the substrate is connected to the chip in a molding space formed inside the mold, and then the resin material is externally supplied from the outside through a supply line extending from the molding space to a high temperature liquid state. It is prepared by injecting into the molding space, cooling and curing.
이럴 경우, 상기 수지물은 상기 성형 공간과 상기 공급 라인에서 모두 냉각 및 경화됨으로써, 상기 성형 공간에는 상기 반도체 소자에 해당하는 부품 성형물이 형성되고, 상기 공급 라인에는 상기 부품 성형물과 일부 연결된 더미 성형물이 형성된다. 여기서, 상기 더미 성형물은 실질적으로 불필요하는 부분이므로, 상기 부품 성형물로부터 별도의 성형물 분리 장치를 통해 분리시킨다. In this case, the resin material is cooled and cured in both the molding space and the supply line, so that a component molding corresponding to the semiconductor element is formed in the molding space, and a dummy molding part partially connected to the component molding is provided in the supply line. Is formed. Here, the dummy molding is a part which is substantially unnecessary, and thus is separated from the component molding through a separate molding separation device.
상기 성형물 분리 장치는 서로 연결된 상태로 제공된 상기 부품 성형물과 상기 더미 성형물을 각각 부품 홀더 및 더미 홀더를 통하여 홀딩한다. The molding separation device holds the component moldings and the dummy moldings provided while being connected to each other through the component holders and the dummy holders, respectively.
이에, 상기 성형물 분리 장치는 상기 부품 홀더에 힘을 가하고, 상기 힘에 의해 상기 부품 홀더 및 상기 더미 홀더가 절곡되도록 함으로써, 상기 부품 성형물과 상기 더미 성형물을 분리시킨다.Thus, the molding separation device applies a force to the component holder and causes the component holder and the dummy holder to be bent by the force, thereby separating the component molding and the dummy molding.
그러나, 상기 부품 홀더에 힘을 가하여 상기 부품 홀더와 상기 더미 홀더를 분리시키는 도중, 상기 부품 성형물이 완전하게 식지 않은 경우가 발생함으로써, 상기 부품 홀더로부터 상기 부품 성형물을 분리시킬 때 상기 부품 성형물이 휘어지는 문제점이 있다. However, during the separation of the part holder and the dummy holder by applying a force to the part holder, the part molding may not be completely cooled, so that the part molding bends when the part molding is separated from the part holder. There is a problem.
따라서, 본 발명은 이와 같은 문제점을 감안한 것으로써, 본 발명의 목적은 부품 성형물의 휨을 방지하면서 더미 성형물과 분리시킬 수 있는 성형물 분리 장치를 제공하는 것이다. Accordingly, the present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to provide a molding separation device which can be separated from a dummy molding while preventing warpage of the component molding.
또한, 본 발명의 다른 목적은 상기한 성형물 분리 장치를 포함하는 전자 부품의 몰딩 시스템을 제공하는 것이다. Further, another object of the present invention is to provide a molding system for an electronic component including the molding separation device described above.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 일 특징에 따른 성형물 분리 장치는 홀더부, 디게이팅(degating)부 및 냉각부를 포함한다. 상기 홀더부는 몰딩 성형 공정이 진행된 성형물 중 부품 성형물을 홀딩하는 부품 홀더 및 상기 부품 홀더와 연결되고 상기 성형물 중 더미 성형물을 홀딩하는 더미 홀더를 포함한다. 상기 디게이팅부는 상기 부품 홀더의 일부 부위를 가압하도록 구성되고, 상기 가압하는 힘에 의해 상기 부품 성형물과 상기 더미 성형물의 사이를 분리시킨다. 상기 냉각부는 상기 부품 홀더에 결합되고, 상기 디게이팅부가 상기 부품 성형물과 상기 더미 성형물을 분리시킬 때 상기 부품 성형물을 냉각시키기 위하여 외부로부터 에어가 공급된다. In order to achieve the above object of the present invention, the molding separation device according to one feature comprises a holder portion, a degating portion and a cooling portion. The holder part includes a part holder holding a part molding among moldings in which a molding molding process is performed, and a dummy holder connected to the part holder and holding a dummy molding of the molding. The degating portion is configured to press a part of the part holder, and separates between the part molding and the dummy molding by the pressing force. The cooling portion is coupled to the component holder, and air is supplied from the outside to cool the component molding when the degating portion separates the component molding and the dummy molding.
상기 냉각부는 상기 부품 홀더에 밀착되는 몸체, 상기 몸체에 형성되고, 상기 에어가 유입되는 적어도 하나의 유입부, 및 상기 몸체에 형성되고, 상기 유입부와 연결되며, 상기 유입부로 유입된 에어가 배출되는 다수의 배출부들을 포함한다.The cooling unit is formed in the body in close contact with the component holder, the at least one inlet formed in the body, the air flows in, and the body, is connected to the inlet, the air introduced into the inlet is discharged And a plurality of outlets.
상기 디게이팅부는 상기 부품 홀더의 상기 더미 홀더와 반대되는 부위를 가압하는 제1 가압부 및 상기 제1 가압부가 상기 부품 홀더를 가압할 때 상기 부품 성형물과 상기 더미 성형물이 절곡되도록 상기 부품 홀더와 상기 더미 홀더의 사이를 힌지 결합시키는 힌지부를 포함한다.The part holder and the component holder and the dummy molded part may be bent such that the component molded part and the dummy molded part are bent when the first pressing part presses a portion opposite to the dummy holder of the component holder and the first pressing part presses the component holder. It includes a hinge portion for hinge engaging between the dummy holder.
한편, 상기 성형물 분리 장치는 상기 더미 홀더에 결합되고, 상기 가압부에 의한 가압 상태가 해제될 때 상기 홀더부를 원상태로 복원시키기 위한 탄성부를 더 포함할 수 있다. On the other hand, the molding separation device may be further coupled to the dummy holder, and may further include an elastic portion for restoring the holder portion to the original state when the pressing state by the pressing portion is released.
또한, 상기 성형물 분리 장치는 상기 부품 홀더를 가압하여 상기 부품 성형물의 형태를 유지시키기 위한 제2 가압부를 더 포함할 수 있다. In addition, the molding separation device may further include a second pressing portion for pressing the component holder to maintain the shape of the component molding.
상술한 본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 일 특징에 따른 전자 부품의 몰딩 시스템은 성형물 제조부 및 성형물 분리부를 포함한다. 상기 성형물 제조부는 전자 부품을 금형의 내부에 배치시켜 몰딩 성형 공정을 진행함으로써, 부품 성형물과 더미 성형물로 이루어진 성형물을 제조한다. 상기 성형물 분리부는 상기 성형 제조 장치와 연결되고, 상기 성형물을 제공 받아 상기 부품 성형물로부터 상기 더미 성형물을 분리시킨다. 이에, 상기 성형물 분리부는 상기 부품 성형물을 홀딩하는 부품 홀더 및 상기 부품 홀더와 연결되고 상기 더미 성형물을 홀딩하는 더미 홀더를 포함하는 홀더부, 상기 부품 홀더의 일부 부위를 가압하도록 구성되고, 상기 가압하는 힘에 의해 상기 부품 성형물과 상기 더미 성형물의 사이를 분리시키는 디게이팅(degating)부, 및 상기 부품 홀더에 결합되고, 상기 디게이팅부가 상기 부품 성형물과 상기 더미 성형물을 분리시킬 때 상기 부품 성형물을 냉각시키기 위 하여 외부로부터 에어가 공급되는 냉각부를 포함한다.In order to achieve the above object of the present invention, the molding system of an electronic component according to one aspect includes a molding production part and a molding separation part. The molded article manufacturing unit arranges the electronic component inside the mold to perform a molding molding process, thereby manufacturing a molded article consisting of a part molded article and a dummy molded article. The molding separating part is connected to the molding manufacturing apparatus and receives the molding to separate the dummy molding from the component molding. Accordingly, the molding separating part is configured to press a part of the holder, including a holder part including a part holder holding the part molding and a dummy holder connected to the part holder and holding the dummy molding part, A degating portion for separating between the part molding and the dummy molding by a force, and the part holder, and cooling the part molding when the degating portion separates the part molding and the dummy molding. It includes a cooling unit to which air is supplied from the outside to make.
이러한 성형물 분리 장치 및 이를 포함하는 전자 부품의 몰딩 시스템에 따르면, 전자 부품을 몰딩 성형한 부품 성형물이 더미 성형물로부터 디게이팅부에 의해 분리될 때 냉각부를 통하여 상기 부품 성형물을 지속적으로 냉각 및 경화시킴으로써, 상기 부품 성형물이 상기 더미 성형물로부터 분리된 다음 휘는 현상을 방지할 수 있다.According to such a molding separating device and an electronic component molding system including the same, by continuously cooling and curing the component molding through the cooling unit when the component molding molding the electronic component is separated from the dummy molding by the degating unit, The part molding may be separated from the dummy molding and then bent.
이로써, 상기 몰딩 장치에 의해 제조된 상기 부품 성형물의 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 부품 성형물의 불량률을 감소시켜 전체적인 생산성을 향상시킬 수 있다. Thereby, the quality of the said molded article manufactured by the said molding apparatus can be prevented from falling. In addition, it is possible to reduce the defective rate of the molded part to improve the overall productivity.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 성형물 분리 장치 및 전자 부품의 몰딩 시스템에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a molding separation device and an electronic component molding system according to an embodiment of the present invention. As the inventive concept allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text.
그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다.However, this is not intended to limit the present invention to the specific disclosed form, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In describing the drawings, similar reference numerals are used for similar elements. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown in an enlarged scale than actual for clarity of the invention.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprise" or "have" are intended to indicate that there is a feature, number, step, action, component, part, or combination thereof described on the specification, and one or more other features. It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.
한편, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.On the other hand, unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. Terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as having meanings consistent with the meanings in the context of the related art and shall not be construed in ideal or excessively formal meanings unless expressly defined in this application. Do not.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 성형물 분리 장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다. 1 is a schematic view showing a molding separation device according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 성형물 분리 장치(1000)는 홀더부(100), 디게이팅(degating)부(200) 및 냉각부(300)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a
상기 홀더부(100)는 그 내부에 전자 부품(SD)을 대상으로 이를 전기적으로 보호하기 위하여 몰딩 성형 공정이 진행된 성형물(10)이 배치된다. 여기서, 상기 전자 부품(SD)은 일 예로, 기판 상에 회로 패턴이 패터닝된 칩이 연결된 반도체 소자를 의미할 수 있다. The
상기 성형물(10)은 상기 전자 부품(SD)이 실질적으로 배치된 부품 성형물(20)과 추후 제거 대상인 더미 성형물(30)로 구분된다. 구체적으로, 상기 부품 성형물(20)은 금형에서 캐비티(cavity) 위치에서 생성되고, 상기 더미 성형물(30)은 상기 캐비티에 수지물(resin)을 공급하기 위한 통로를 제공하는 공급 라인에 형성될 수 있다. 여기서, 상기 수지물은 일 예로, 에폭시 수지를 포함할 수 있다.The
이때, 상기 캐비티가 평면 상에서 다수 형성될 경우에 상기 공급 라인은 어느 한 지점, 즉 포트를 중심으로 상기 캐비티들 각각과 연결될 수 있다. In this case, when a plurality of cavities are formed on a plane, the supply line may be connected to each of the cavities at one point, that is, about a port.
또한, 상기 포트에는 상기 수지물이 상기 공급 라인을 통해 상기 캐비티들로 주입되도록 상기 수지물을 밀어주는 푸싱 부재가 설치될 수 있다.In addition, the port may be provided with a pushing member for pushing the resin material so that the resin material is injected into the cavities through the supply line.
이와 같이, 상기 수지물이 상기 캐비티와 상기 공급 라인에서 동시에 경화됨으로써, 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(20)은 일부에서 연결된 구조를 갖게 된다. As such, the resin material is simultaneously cured in the cavity and the supply line, so that the part molding 20 and the
상기 홀더부(100)는 상기 부품 성형물(20)이 배치되는 부품 홀더(110) 및 상기 더미 성형물(20)이 배치되는 더미 홀더(120)를 포함할 수 있다. 상기 부품 홀 더(110) 및 상기 더미 홀더(120)는 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)의 형성으로 인해 서로 연결된 구조를 갖는다. The
상기 홀더부(100)는 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)을 외부로부터 로딩시키거나, 외부로 꺼내기 위하여 상하로 구분되는 구조를 가질 수 있다. The
한편, 상기 성형물 분리 장치(1000)는 상기 부품 홀더(110)에 결합되어 상기 부품 홀더(110)를 가압하는 제1 가압부(400)를 더 포함한다. 상기 제1 가입부(400)는 상기 부품 성형물(20)을 그 형태 그대로 유지시킨다. Meanwhile, the
여기서, 상기 제1 가압부(400)는 그 가압으로 인하여 상기 부품 홀더(110)이 파손되는 것을 방지하기 위해 자체적으로, 탄성을 갖는 스폰지 또는 고무 재질로 이루어질 수 있다. In this case, the first
상기 디게이팅부(200)는 상기 홀더부(100)에 설치된다. 상기 디게이팅부(200)는 상기 부품 홀더(110)에 배치된 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 홀더(120)에 배치된 상기 더미 성형물(30)을 서로 분리시킨다.The
이하, 도 2 및 도 3을 추가적으로 참조하여 상기 디게이팅부(200)에 대하여 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, the
도 2는 도 1에 도시된 성형물 분리 장치의 디게이팅부가 부품 성형물 및 더미 성형물을 분리하는 상태를 나타낸 도면이고, 도 3은 도 2의 A부분의 확대도이다. FIG. 2 is a view illustrating a state in which a degating unit separates a part molding and a dummy molding of the molding separation apparatus illustrated in FIG. 1, and FIG. 3 is an enlarged view of part A of FIG. 2.
도 2 및 도 3을 추가적으로 참조하면, 상기 디게이팅부(200)는 제2 가압부(210) 및 힌지부(220)를 포함한다.2 and 3, the
상기 제2 가압부(210)는 상기 부품 홀더(110)의 상기 더미 홀더(120)과 반대되는 부위를 가압한다. 구체적으로, 상기 제2 가압부(210)는 상기 부품 홀더(110) 및 상기 더미 홀더(120)에 각각 상기 부품 성형물(20) 및 상기 더미 성형물(30)이 안전하게 배치된 상태에서 상기 부품 홀더(110)를 가압한다.The second
그러면, 상기 부품 홀더(110)는 상기 제2 가압부(210)에 의해 가압되는 부위가 하부 방향으로 움직이게 되고, 반대로 상기 부품 홀더(110)는 상기 더미 홀더(120)와 연결된 부위가 상부 방향으로 움직이게 된다. Then, in the
이에, 상기 힌지부(220)는 상기 부품 홀더(110)와 상기 더미 홀더(120)의 사이를 힌지 결합한다. 즉, 상기 제2 가압부(210)가 상기 부품 홀더(110)를 가압할 때 상기 힌지부(220)는 상기 부품 홀더(110)와 상기 더미 홀더(120)의 사이가 절곡되도록 유도한다. Thus, the
이때, 상기 성형물 분리 장치(1000)는 상기 부품 홀더(110)와 상기 더미 홀더(120)의 사이에서 상기 힌지부(220)에 의하여 절곡될 때 그 절곡 정도가 과도하게 진행되는 것을 방지하기 위하여 상기 더미 홀더(120)에 하부 방향으로 탄성을 제공하기 위한 탄성부(500)를 더 포함한다. In this case, the
이렇게 상기 홀더부(100)의 상기 부품 홀더(110)과 상기 더미 홀더(120)의 사이가 상기 제2 가압부(210)와 상기 힌지부(220)에 의해 절곡되면, 상기 부품 홀더(110)과 상기 더미 홀더(120) 각각에 배치된 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)은 물리적으로 서로 분리된다. When the
다시 말하면, 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)은 상기 제2 가 압부(210)와 상기 힌지부(220)에 의해 사이가 부러지게 된다. 이때에도, 상기 부품 성형물(20)의 형태는 상기 제1 가압부(400)에 의해 그 형태가 그대로 유지될 수 있다. In other words, the
이에, 상기 탄성부(500)는 상기 디게이팅부(200)에 의하여 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)이 분리되었을 경우, 상기 더미 홀더(120)에 제공되는 탄성에 의해서 힌지부(220)에 절곡 상태가 원상태로 복원된다. Thus, the
상기 냉각부(300)는 상기 홀더부(100)의 상기 부품 홀더(110)에 결합된다. 구체적으로, 상기 냉각부(300)는 상기 홀더부(100)에 밀착되는 몸체(310), 상기 몸체(310)에 형성되고 외부로부터 에어(air)가 유입되는 적어도 하나의 유입부(320) 및 상기 몸체(310)에 형성되고 상기 유입부(320)로부터 유입된 상기 에어(air)가 배출되는 다수의 배출부(330)들을 포함한다.The
상기 몸체(310)는 내부가 빈 형태로 이루어질 수 있다. 이에, 상기 유입부(320) 및 상기 배출부(330)들은 상기 몸체(310)의 외부에서 상기 몸체(310)의 내부와 연통된 구멍 형태를 포함할 수 있다. The
이에, 상기 냉각부(300)는 상기 제2 가압부(210) 및 상기 힌지부(220)가 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)을 분리시킬 때 상기 에어(air)를 통하여 상기 부품 성형물(20)을 냉각하여 상기 부품 성형물(20)이 완전히 경화되도록 한다.Thus, the
이때, 상기 냉각부(300)의 몸체(310)는 상기 부품 성형물(20)의 냉각 효율을 극대화시키기 위하여 상기 부품 홀더(110)에 최대한 넓은 면적으로 결합될 필요성 이 있다. 또한, 상기 부품 성형물(20)의 냉각 효율을 더욱 향상시키기 위하여 상기 에어(air)도 상온보다 낮게 냉각 처리된 상태로 상기 유입부(320)를 통하여 유입될 수 있다. In this case, the
한편, 상기 유입부(320)에는 상기 에어(air)의 유입을 개폐하는 에어 레귤레이터(air regulator, 미도시)가 설치될 수 있다. 상기 에어 레귤레이터는 상기 성형물(10)을 분리시키고자하는 타이밍 외에, 상기 에어(air)가 지속적으로 유입되는 것을 차단하여 상기 에어(air)가 낭비되는 것을 방지할 수 있다. On the other hand, the
또한, 상기 에어 레귤레이터는 상기 부품 성형물(20)이 경화되는 동안에도 상기 에어(air)의 량을 적절하게 조절하여 더욱더 상기 에어(air)를 효율적으로 활용할 수 있다. In addition, the air regulator may further utilize the air more efficiently by appropriately adjusting the amount of air even while the
따라서, 상기 전자 부품(SD)을 대상으로 몰딩 성형한 상기 성형물(10) 중 상기 부품 성형물(20)이 상기 더미 성형물(30)로부터 상기 제2 가압부(210) 및 상기 힌지부(220)에 의해 분리될 때 상기 냉각부(300)를 통하여 상기 부품 성형물(20)을 지속적으로 냉각시켜 완전히 경화시킴으로써, 상기 부품 성형물(20)이 상기 더미 성형물(30)로부터 분리된 다음 휘는 현상을 방지할 수 있다. Accordingly, the
이로써, 상기 성형물 분리 장치(1000)에 의해 분리된 상기 부품 성형물(20)의 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 부품 성형물(20)의 불량률을 감소시켜 전체적인 생산성을 향상시킬 수 있다. As a result, it is possible to prevent the quality of the
한편, 상기 냉각부(300)에 의하여 완전히 경화된 상태로 상기 부품 성형물(20)을 상기 제2 가압부(210)와 상기 힌지부(220)에 의하여 상기 더미 성형 물(30)로부터 분리시킨 다음에, 상기 제2 가압부(210)를 상기 부품 홀더(110)로부터 이탈시켜 상기 부품 홀더(110)의 가압을 중단한다.Meanwhile, the
이러면, 상기 홀더부(100)는 상기에서 언급하였듯이 상기 탄성부(500)에 의해서 원상태로 복원된다. In this case, the
이후, 상기 홀더부(100)를 상하로 분리하여 그 내부에서 분리된 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)을 외부로 배출시킨다. Thereafter, the
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 부품의 몰딩 시스템을 개략적으로 나타낸 구성도이다. 4 is a schematic diagram illustrating a molding system of an electronic component according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
본 실시예에서, 성형물 분리부는 도 1 내지 도 3에 도시된 성형 분리 장치와 동일한 구성을 가지므로, 동일한 참조 번호를 사용하며, 그 중복되는 상세한 설명은 생략하기로 한다.In the present embodiment, since the molding separation part has the same configuration as the molding separation device shown in FIGS. 1 to 3, the same reference numerals are used, and detailed description thereof will be omitted.
도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 부품의 몰딩 시스템(1200)은 성형물 제조부(1100) 및 성형물 분리부(1000)를 포함한다.Referring to FIG. 4, the
상기 성형물 제조부(1100)는 전자 부품(SD)을 금형(미도시)의 내부에 배치시킨 다음, 상기 금형의 내부에 에폭시와 같은 수지물을 주입하여 이를 경화시킴으로써, 성형물(10)을 제조한다. The molded
이때, 상기 금형에는 상기 전자 부품(SD)이 배치되는 캐비티와 상기 캐비티에 상기 수지물을 제공하기 위한 통로를 제공하는 공급 라인이 형성된다.At this time, the mold is provided with a cavity in which the electronic component SD is disposed and a supply line providing a passage for providing the resin material to the cavity.
이에, 상기 성형물(10)은 상기 금형의 형상으로 인하여 상기 전자 부품(SD)이 실제로 배치된 상기 캐비티에 의해 형성된 부품 성형물(20) 및 상기 공급 라인 에 의해 형성된 더미 성형물(30)로 나누어진다.Thus, the
상기 성형물 분리부(1000)는 상기 성형물(10)을 상기 부품 성형물(20)과 상기 더미 성형물(30)로 분리시킨다. 이때, 본 발명에 따른 상기 성형물 분리부(1000)는 상기 부품 성형물(20)을 상기 더미 성형물(30)로부터 분리시킬 때, 상기 부품 성형물(20)을 냉각부(도 2의 300)를 지속적으로 냉각시킴으로써, 상기 부품 성형물(20)이 분리된 다음 휘어지는 현상을 방지할 수 있다. The
앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. Although the detailed description of the present invention has been described with reference to the preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art will have the idea of the present invention described in the claims to be described later. It will be understood that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the scope of the present invention.
상술한 본 발명은 전자 부품을 몰딩 성형한 부품 성형물이 더미 성형물로부터 디게이팅부에 의해 분리될 때 냉각부를 통하여 상기 부품 성형물을 지속적으로 냉각 및 경화시킴으로써, 상기 부품 성형물이 상기 더미 성형물로부터 분리된 다음 휘는 현상을 방지하는 장치에 이용될 수 있다. The present invention described above continuously cools and hardens the part molding through a cooling part when the part molding molded electronic component is separated from the dummy molding by the degating part, whereby the part molding is separated from the dummy molding. It can be used in a device that prevents warping.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 성형물 분리 장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다. 1 is a schematic view showing a molding separation device according to an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 성형물 분리 장치의 디게이팅부가 부품 성형물 및 더미 성형물을 분리하는 상태를 나타낸 도면이다.FIG. 2 is a view illustrating a state in which a degating portion of the molding separation apparatus illustrated in FIG. 1 separates a part molding and a dummy molding.
도 3은 도 2의 A부분의 확대도이다. 3 is an enlarged view of a portion A of FIG. 2.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 부품의 몰딩 시스템을 개략적으로 나타낸 구성도이다. 4 is a schematic diagram illustrating a molding system of an electronic component according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
SD : 전자 부품 R : 수지물SD: Electronic Component R: Resin
20 : 부품 성형물 30 : 더미 성형물20: part molding 30: dummy molding
100 : 홀더부 110 : 부품 홀더100: holder portion 110: component holder
120 : 더미 홀더 200 : 디게이팅부120: dummy holder 200: degating section
210 : 제2 가압부 220 : 힌지부210: second pressing portion 220: hinge portion
300 : 냉각부 400 : 제1 가압부300: cooling unit 400: first pressurizing unit
1000 : 성형물 분리(부) 장치 1100 : 성형물 제조부1000: molding separation unit 1100: molding production unit
1200 : 전자 부품의 몰딩 시스템1200: Molding System for Electronic Components
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20080060071A KR100999023B1 (en) | 2008-06-25 | 2008-06-25 | Apparatus for degating a molded element and system for molding a electronic component including the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20080060071A KR100999023B1 (en) | 2008-06-25 | 2008-06-25 | Apparatus for degating a molded element and system for molding a electronic component including the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100000536A true KR20100000536A (en) | 2010-01-06 |
KR100999023B1 KR100999023B1 (en) | 2010-12-09 |
Family
ID=41810918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR20080060071A KR100999023B1 (en) | 2008-06-25 | 2008-06-25 | Apparatus for degating a molded element and system for molding a electronic component including the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100999023B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101407480B1 (en) * | 2010-06-10 | 2014-06-16 | 에스티에스반도체통신 주식회사 | Degating apparatus and degating block having thermoelectric element |
US10431300B2 (en) | 2017-08-11 | 2019-10-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nonvolatile memory device and operating method of nonvolatile memory device |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10223663A (en) | 1997-02-10 | 1998-08-21 | Oki Electric Ind Co Ltd | Method and device for isolation of unnecessary resin |
JP3107037B2 (en) | 1998-03-20 | 2000-11-06 | 日本電気株式会社 | Lead frame degate device and lead frame degate method |
TWI306056B (en) * | 2006-08-18 | 2009-02-11 | Advanced Semiconductor Eng | Degating apparatus |
-
2008
- 2008-06-25 KR KR20080060071A patent/KR100999023B1/en active IP Right Grant
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101407480B1 (en) * | 2010-06-10 | 2014-06-16 | 에스티에스반도체통신 주식회사 | Degating apparatus and degating block having thermoelectric element |
US10431300B2 (en) | 2017-08-11 | 2019-10-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nonvolatile memory device and operating method of nonvolatile memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100999023B1 (en) | 2010-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6560498B2 (en) | Resin sealing method and resin molded product manufacturing method | |
US20080020510A1 (en) | Fabrication method of semiconductor device | |
KR100999023B1 (en) | Apparatus for degating a molded element and system for molding a electronic component including the same | |
TW201910091A (en) | Resin molding device and method for producing resin molded article | |
TW201910088A (en) | Transport mechanism of resin molded product, resin molding device, and method of manufacturing resin molded article | |
TWI689402B (en) | Resin molding device and method for manufacturing resin molded product | |
JP4954171B2 (en) | Compressed resin sealing molding method and apparatus for electronic parts | |
JP5153548B2 (en) | Resin sealing mold heating / cooling device | |
KR101344496B1 (en) | Apparatus for molding substrates | |
JP4954172B2 (en) | Compressed resin sealing molding method for electronic parts | |
KR101496033B1 (en) | Wafer level molding apparatus | |
JP2004311855A (en) | Mold for resin seal molding of electronic part | |
KR20070035725A (en) | Molding die having double gate structure | |
JP5128430B2 (en) | Method and apparatus for attaching release film to lower cavity surface | |
KR101947610B1 (en) | Device and method for at least partially encapsulating a closed flat carrier with electronic components | |
JP2010082889A (en) | Gate nozzle for supplying liquid resin material | |
KR200466084Y1 (en) | Molding apparatus for manufacturing semiconductor package | |
JP5153549B2 (en) | Common work body such as substrate supply | |
KR100923251B1 (en) | Method and apparatus for molding a electronic component | |
KR100962619B1 (en) | Apparatus for fixing a substrate and molding apparatus for semiconductor package manufacturing | |
TW445611B (en) | Encapsulating method of semiconductor device | |
KR20130021251A (en) | Substrate strip and molding method therefor | |
KR101496032B1 (en) | Wafer level molding apparatus | |
JP5192968B2 (en) | Supply device for liquid resin material used for compression resin sealing molding | |
KR101327496B1 (en) | Method and apparatus of molding for manufacturing a semiconductor package |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131203 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141201 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151126 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161202 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171204 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191203 Year of fee payment: 10 |