KR20090084908A

KR20090084908A - 시험 장치, 시험 방법 및 제조 방법

Info

Publication number: KR20090084908A
Application number: KR1020097011015A
Authority: KR
Inventors: 가즈히로 사토; 마나부 가이
Original assignee: 후지쯔 가부시끼가이샤
Priority date: 2006-11-30
Filing date: 2007-03-30
Publication date: 2009-08-05
Also published as: US20090224778A1; KR101130440B1; EP2091006A1; US8217672B2; CN101573715A; JP4843056B2; TW200823474A; EP2091006A4; TWI326362B; WO2008065760A1; JPWO2008065760A1; CN101573715B

Abstract

미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 RFID 태그(T1)의 폭 이상의 폭을 가지며, 외부로부터 그 전파 신호에 해당하는 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 그 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 그 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 전파 신호를 발신하고, 상기 제1 도체판의, 상기 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측에 RFID 태그(T1)가 배치되는 스트립 라인 셀(100)과, 스트립 라인 셀(100)의 제1 도체판에 전기 신호를 공급하는 리더 라이터(20)와, RFID 태그(T1)에서의 반응의 유무를 확인하는 컴퓨터(30)를 구비하였다.

시험 장치

Description

시험 장치, 시험 방법 및 제조 방법{TESTING EQUIPMENT, TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD}

본 발명은 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 성능 시험을 행하는 시험 장치, 그러한 성능 시험의 시험 방법, 그러한 시험 방법을 공정으로서 포함하는 전자 장치의 제조 방법에 관한 것이다.

최근, 리더 라이터로 대표되는 외부 기기와의 사이에서, 전파에 의해 비접촉으로 정보를 주고받는 여러 가지 타입의 RFID(Radio Frequency Identification: 무선 자동 식별) 태그가 주목받고 있다. 이 RFID 태그의 일종으로서, 플라스틱이나 종이로 이루어지는 베이스 시트 상에 전파 통신용 안테나 패턴과 IC 칩이 탑재된 구성의 것이 제안되어 있다. 이러한 타입의 RFID 태그에 대해서는, 물품 등에 접착되어, 그 물품에 관한 정보를 외부 기기와 주고받음으로써 물품의 식별 등을 행하는 이용 형태가 고려되며, 예컨대, 농업, 어업, 제조업, 물류, 서비스, 의료, 복지, 공공, 행정, 교통, 운수 등, 모든 분야에서 RFID 태그를 이용한 시스템이 실용화되거나, 또는 검토되고 있다.

이러한 RFID 태그의 개발 시나 제조 시에는, RFID 태그의 주요한 성능의 하나인, 무선 통신 성능에 대한 성능 시험이 행해진다. 종래, 이러한 시험에서는, RFID 태그의 통신 상태를 모의하기 위해서 미리 정해진 안테나로부터 RFID 태그를 향하여 전파를 조사하는 등과 같은 작업이 행해진다. 여기서, 예컨대 RFID 태그의 제조 현장 등에서 이러한 작업이 행해지면, 시험 시에 안테나에서 발생되어 시험 영역 주변으로 전파된 전파가 제조 현장 등에서의 주변 장치의 동작에 영향을 주거나, 시험 대상 이외의 RFID 태그에 잘못 조사되어 버리는 문제점이 발생할 우려도 있다. 또한, 전파되어진 곳에서 반사되어 되돌아오는 반사파가 시험 영역 내의 전파와 간섭하여 정확한 시험을 행할 수 없게 되어 버리는 등의 우려가 있다. 이러한 사태들을 회피하기 위해서, 종래, 전파를 취급하는 시험에서는, 예컨대 전파 암실 등과 같은 특수한 시험 환경이 필요해지고 있다. 그 결과, RFID 태그의 개발 시나 제조 시에 무선 통신 성능에 대한 성능 시험을 행할 때에는, 시험 대상인 RFID 태그를 전파 암실 등으로 이동시키지 않으면 안되어, 이것이 RFID 태그의 개발이나 제조의 효율화를 방해하는 한 원인이 되고 있다.

또한, 제조의 효율화를 무리해서라도 도모하기 위해서, 제조 라인에서 제조 중인 RFID 태그를 전파 암실 등으로 이동시키지 않고 라인 상에서 성능 시험을 실행하는 것도 행해지고는 있으나, 이러한 경우나, 또는 전파 암실 등을 도저히 준비할 수 없는 경우 등에는, 주변에 대한 영향 등을 가능한 한 억제하기 위해서, 안테나로부터의 전파의 출력을 되도록 억제한 시험이 행해지고 있어, 성능 시험으로서는 충분하다고 말하기 어려운 것이 실정이다.

그런데, RFID 태그에는, 무선 통신으로 외부와 주고받는 정보 등이 기억되는 메모리가 탑재되어 있고, RFID 태그의 제조 시나, 또는 RFID 태그를 이용한 시스템 의 구축 시 등에, 이 메모리로의 정보의 기록이나, 메모리 내의 정보의 확인 등이 행해진다. 이러한 정보의 기록이나 확인도 무선 통신으로 행해지지만, 복수의 RFID 태그를 미리 정해진 반송 라인을 따라서 반송하면서 각 RFID 태그에 대해서 정보의 기록이나 확인을 순차적으로 행하고, 어떤 RFID 태그에 대한 정보의 기록이나 확인 시의 통신용 전파가 다른 RFID 태그에 영향을 주지 않도록, 정보의 기록이나 확인이 행해지는 영역을 간이적인 실드로 덮는다고 하는 기술이 제안되어 있다(예컨대, 특허 문헌 1 참조). 이러한 기술을, 상기 성능 시험에 응용하면, 어느 정도까지는 전파 암실 등을 사용하지 않고 통신 성능의 시험이 가능해진다.

특허 문헌 1: 일본 특허 공개 제2005-222206호 공보

그러나, 특허 문헌 1에 개시되어 있는 기술에서는, 예컨대 제조 라인 상에 구축 가능한 간이적인 실드라고 해도 그 나름의 크기의 실드로 덮여진 환경을 필요로 한다.

또한, 여기까지, RFID 태그의 통신 성능에 대한 성능 시험에서의 문제점에 대해서 설명하였으나, 상술한 바와 같은 문제점은, 예컨대 무선으로 신호를 주고받는 회로 기판 등과 같은, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 성능 시험에 대해서 일반적으로 발생할 수 있는 것이다. 또한, 이러한 전자 장치의 반응으로서는, 전파 신호나 전기 신호의 출력, 내부 처리의 개시나 종료 등이 고려된다.

본 발명은, 상기 사정을 감안하여, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 통신 성능에 대한 충분한 성능 시험을 간단히 행할 수 있는 시험 장치와, 그러한 성능 시험을 행할 수 있는 시험 방법과, 그러한 시험 방법을 공정으로서 포함하는 전자 장치의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하는 본 발명의 시험 장치는, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 폭 이상의 폭을 가지며, 외부로부터 그 전파 신호에 해당하는 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 그 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 그 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 그 전파 신호를 발신하고, 상기 제1 도체판의, 상기 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측에 상기 전자 장치가 배치되는 스트립 라인 셀과,

상기 스트립 라인 셀의 상기 제1 도체판에 상기 전기 신호를 공급하는 공급부와,

상기 전자 장치에서의 반응의 유무를 확인하는 반응 확인부를 구비한 것을 특징으로 한다.

종래, 계산상의 취급이 용이한 전파인 TEM(Transverse Electromagnetic)파를 얻기 위한 장치로서 스트립 라인 셀이 알려져 있다. 이 스트립 라인 셀은 외부로부터 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 그 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 양자 사이에 끼워진 공간 내에, 그 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 TEM파를 발신한다. 이 TEM파를 사용하여 상기 전자 장치의 통신 성능의 시험 등을 행할 수도 있으나, 이를 위해서는, 제1 도체판과 제2 도체판 사이에, 그 시험 대상인 전자 장치를 배치하기 위한 공간이 필요해진다. 그 결과, 종래부터 알려져 있는 스트립 라인 셀은, 시험 대상인 전자 장치 주위에 간이적인 실드를 마련한 것과 그다지 다르지 않는 크기의 것이 되어 버린다. 그런데, 스트립 라인 셀을 구성하는 제1 도체판의, 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측, 즉, TEM파가 발생하는 공간과는 반대측에는, TEM파와 거의 동등한 준(準) TEM파라고 불리는 일종의 누설 전파가 발생한다. 또한, 이 준 TEM파는, 제1 도체판으로부터 멀어짐에 따라 급속히 감쇠되어, 제1 도체판 근방의 극히 한정된 영역 내에 밖에 전파되지 않는다. 여기서, 이번 발명에 있어서, 발명자는 이 준 TEM파가 예컨대 RFID 태그 등과 같은 전자 장치의 통신 성능의 시험 등에 적합한 것을 발견하고, 준 TEM파의 한정된 전파 영역을 시험 영역으로서 사용할 수 있는 것을 발견하였다. 본 발명은, 이 발견에 기초하여 이루어진 것이다. 본 발명의 시험 장치에 따르면, 이 준 TEM파를 사용하여 이 전자 장치에 대한 통신 성능의 시험을 행할 수 있다. 이 때문에, 본 발명의 시험 장치에서의 상기 스트립 라인 셀에는, 종래의 스트립 라인 셀에서는 시험 대상물을 배치하기 위해서 필요했던 공간을 상기 제1 도체판과 상기 제2 도체판 사이에 마련할 필요가 없어, 그 공간분만큼 이들 제1 도체판과 제2 도체판을 근접시켜 박형화를 도모할 수 있다. 또한, 상기 스트립 라인 셀은, 상기 제1 도체판의 폭을 전형적으로는 시험 대상인 전자 장치의 폭과 거의 동일한 폭으로 구성하는 것도 가능하여, 시험 대상인 전자 장치와 거의 동일한 사이즈로까지 소형화하는 것이 가능하다. 또한, 준 TEM파의 전파 영역이 한정되어 있기 때문에 상기 전파 신호가 주위로 전파될 우려가 없어, 주변에 대한 영향 등을 회피하기 위한 전파 암실은 물론 간이적인 실드 등 조차도 없이, 시험 대상인 전자 장치를 이 준 TEM파의 전파 영역 내에 단순히 배치하는 것만으로 시험이 가능해진다. 또한, 상기 전파 신호가 주위로 전파될 우려가 없기 때문에, 시험 시에, 이 전파 신호의 출력을 억제할 필요도 없어 충분한 성능 시험이 가능해진다. 이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 시험 장치에 따르면, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 통신 성능에 대한 충분한 성능 시험을 간단히 행할 수 있다.

여기서, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 공급부에 의해 상기 스트립 라인 셀에 공급된 전기 신호가 갖는 전력을, 미리 정해진 안테나가 미리 정해진 출력으로 상기 전파 신호를 발신하고 상기 전자 장치가 수신하는 상황에서의 그 안테나와 그 전자 장치와의 거리로, 기정의 환산 관계에 따라서 환산하는 환산부를 구비하였다」고 하는 형태나, 「상기 공급부는, 서로 다른 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 것이고,

상기 반응 확인부는, 상기 각 전기 신호에 대한 상기 전자 장치의 반응을 확인하는 것이다」라고 하는 형태는 바람직한 형태이다.

이들 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 상기 반응이 확인되는 최소 전력을 상기 안테나로부터의 거리로 환산함으로써 그 전자 장치의 통신 한계 거리를 구하는 등과 같은 운용이 가능해진다.

또한, 상기 환산 관계에 따른 환산은, 예컨대 상기 전력과 상기 거리를 직접적으로 대응시키는 하나의 환산 관계에 따라서 상기 전력을 상기 거리로 환산하는 것이어도 좋다. 또는, 상기 전력과 상기 스트립 라인 셀이 발신하는 상기 전파 신호의 출력을 대응시키는 환산 관계, 및 상기 안테나로부터의 거리와 그 거리에서의 전파 신호의 출력을 대응시키는 환산 관계라고 하는 2개의 환산 관계에 따라서, 상기 전력을 일단 전파 신호의 출력으로 환산하고, 그 환산한 출력을 상기 거리로 환산한다고 하는 2단계의 환산을 행하는 것이어도 좋다. 또한, 상기 하나의 환산 관계나 2개의 환산 관계는, 전자기학의 분야에서의 공지의 수식에 기초하여 구한 것이어도 좋고, 또는, 다음과 같은 일련의 계측 작업에 의해 구한 것이어도 좋다. 우선, 전파 암실 또는 그에 준하는 환경(이하, 전파 암실 등이라고 부름)에서, 상기 안테나가 미리 정해진 출력으로 전파 신호를 발신했을 때의, 이 안테나로부터의 각 거리에서의 전파 신호의 출력을 계측한다. 다음으로, 상기 스트립 라인 셀에 여러 전력을 갖는 전기 신호가 공급되어 여러 출력의 전파 신호가 발신되었을 때의, 각 전력에 대한 전파 신호의 출력을 계측한다. 이러한 계측 작업을 거쳐, 안테나로부터의 거리와 전파 신호의 출력을 대응시키는 환산 관계, 및 스트립 라인 셀을 향하여 공급되는 전기 신호의 전력과 전파 신호의 출력을 대응시키는 환산 관계의 2개의 환산 관계가 얻어진다. 또한, 이들 2개의 환산 관계를, 전파 신호의 출력이 서로 동등한 전력과 거리를 결부시키도록 결합함으로써, 스트립 라인 셀에 공급되는 전기 신호의 전력을, 안테나로부터의 거리로 변환하기 위한 하나의 환산 관계가 얻어진다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 공급부는, 미리 정해진 전력범위에 걸친 각 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 것이고,

상기 반응 확인부는, 상기 각 전기 신호에 대한 상기 전자 장치의 반응을 확인하는 것이며,

복수의 상기 전자 장치를 반송하여 상기 스트립 라인 셀에 대해서 순차적으로 배치하고, 배치된 전자 장치에 대해서 상기 각 전기 신호가 순차적으로 공급되고 있는 도중에서 그 전자 장치가 반응한 경우, 및 상기 각 전기 신호가 최후까지 공급된 경우에, 다음 전자 장치를 배치하는 반송부를 구비하였다」고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 하나의 전자 장치에 대해서 시험이 종료될 때마다, 다음 전자 장치가 자동적으로 시험 위치로 반송되기 때문에, 복수 개의 전자 장치를 효율적으로 시험할 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 스트립 라인 셀은, 상기 전기 신호의 주파수와 동일한 주파수의 전파 신호를 발신하는 것이고,

상기 공급부는, 서로 다른 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 처리를, 미리 정해진 주파수 범위에 걸친 각 주파수에 대해서 실행하는 것이며,

상기 반응 확인부는, 상기 각 전기 신호에 대한 상기 전자 장치의 반응을 확인하는 것이다」라고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 상기 전자 장치에서의, 상기 주파수 범위의 각 주파수와 통신 한계 거리와의 대응 관계라고 하는, 그 전자 장치의 주파수 특성을 간단히 얻을 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 공급부는, 미리 정해진 전력 범위에 걸친 각 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 처리를, 미리 정해진 주파수 범위에 걸친 각 주파수에 대해서 실행하는 것이고,

복수의 상기 전자 장치를 반송하여 상기 스트립 라인 셀에 대해서 순차적으로 배치하고, 배치된 전자 장치에 대해서, 상기 각 전기 신호의 공급이 상기 주파수 범위의 최후의 주파수까지 실행된 경우에, 다음 전자 장치를 배치하는 반송부를 구비하였다」고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 복수의 전자 장치의 주파수 특성을 자동적으로 얻을 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「이 시험 장치는, 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 복수의 스트립 라인 셀을 구비하는 것이고,

상기 공급부는, 상기 복수의 스트립 라인 셀 각각을 향하여 서로 다른 타이밍으로 상기 전기 신호를 공급하는 것이다」라고 하는 형태도 바람직하다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 상기 복수의 스트립 라인 셀 각각에 대해서 배치된 복수의 전자 장치에 대하여, 미시적으로는 서로 타이밍이 어긋난 시험이 행해지지만, 사용자의 외관상, 즉 거시적으로는 동시 병행으로 시험이 행해지기 때문에 효율적이다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「이 시험 장치는, 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 복수의 스트립 라인 셀로 이루어지는 세트를 복수 구비하는 것이고,

상기 공급부는, 상기 복수 세트 각각에 대응한 복수의 공급기를 가지며, 각 공급기에 의해 각 세트를 이루는 복수의 스트립 라인 셀 각각을 향하여 서로 다른 타이밍으로 상기 전기 신호를 공급하는 것이다」라고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 상기 각 공급기를 서로 동시 병행으로 동작시켜, 상기 복수 세트로 이루어지는 다량의 스트립 라인 셀에 대해서 효율적으로 시험할 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 전자 장치는, 제1 전파 신호를 수신하면, 자신을 다른 전자 장치와 구별하는 식별 정보를 출력하고, 자신의 식별 정보를 포함한 제2 전파 신호를 수신하면, 상기 반응 확인부에 의해 확인되는 반응을 행하는 것이고,

상기 스트립 라인 셀을 2개 구비하고, 이들 2개의 스트립 라인 셀은 서로 미리 정해진 간격을 두고 배치되며, 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 것이고,

상기 전자 장치가 출력한 식별 정보를 취득하는 식별 정보 취득부와,

상기 2개의 스트립 라인 셀의 배열을 따라서 상기 전자 장치를 상기 미리 정해진 간격씩 반송함으로써 이들 2개의 스트립 라인 셀에 대해서 그 전자 장치를 순차적으로 배치하는 반송부를 구비하며,

상기 공급부는, 상기 2개의 스트립 라인 셀 중 먼저 상기 전자 장치가 배치되는 제1 스트립 라인 셀을 향하여 상기 제1 전파 신호에 해당하는 제1 전기 신호를 공급하고, 그 제1 전파 신호에 대해서 상기 식별 정보 취득부에서 취득된 식별 정보를 포함한 제2 전파 신호에 해당하는 제2 전기 신호를, 상기 2개의 스트립 라인 셀 중 나중에 상기 전자 장치가 배치되는 제2 스트립 라인 셀을 향하여, 그 식별 정보로 식별되는 전자 장치가 그 제2 스트립 라인 셀에 대해서 배치되는 타이밍으로 공급하는 것이다」라고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 어떤 전자 장치에 대해서 우선 식별 정보를 얻고, 그 식별 정보에 기초하여 그 전자 장치를 지정한 성능 시험이 가능해진다. 이에 따라, 예컨대, 성능 시험 중인 전자 장치 부근에 존재하는 다른 전자 장치가 잘못 반응하여 버리는 등과 같은 문제점이 회피되어, 보다 정확한 시험을 행할 수 있다.

또한, 이 바람직한 형태의 시험 장치에서, 「상기 반송부는, 상기 미리 정해진 간격씩의 반송을 대신하여, 상기 미리 정해진 간격의 정수분의 1에 해당하는 간격씩 반송함으로써 상기 2개의 스트립 라인 셀에 대해서 상기 전자 장치를 순차적으로 배치하는 것이고,

상기 식별 정보 취득부는, 상기 반송부에 의해 상기 2개의 스트립 라인 셀의 한쪽으로부터 다른쪽으로 상기 전자 장치가 이동하기 위한 반송 횟수와 동일한 수의 정보를 선입 선출 방식으로 저장하는 FIFO 메모리를 가지며, 상기 공급부가 상기 제1 전기 신호를 상기 제1 스트립 라인 셀을 향하여 공급할 때마다 그 FIFO 메모리에, 상기 전자 장치로부터 출력된 식별 정보를 저장하는 것이고,

상기 공급부는, 상기 제1 전기 신호의 공급과, 상기 FIFO 메모리로부터의 정보 입수와, 그 입수한 정보에 기초한 상기 제2 전기 신호의 공급을 순차적으로 반복하는 것이다」라고 하는 형태는 더 바람직한 형태이다.

이 보다 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 2개의 스트립 라인 셀의 배치 간격의 정수분의 1이 되는 상기 전자 장치의 반송 간격을, 그 배치 간격까지의 범위에서 예컨대 그 전자 장치의 사이즈에 따라서 조정하는 것 등이 가능해지기 때문에, 여러 사이즈의 전자 장치에 대해서 유연하게 대응할 수 있다.

상기 스트립 라인 셀을 2개 구비하고, 이들 2개의 스트립 라인 셀은 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 것이며,

상기 2개의 스트립 라인 셀 각각에 대해서 그 전자 장치를 배치하는 반송부와,

상기 2개의 스트립 라인 셀 중 한쪽인 제1 스트립 라인 셀에 공급되는 전기 신호를 미리 정해진 정도로 감쇠시켜, 이들 2개의 스트립 라인 셀 중 다른쪽인 제2 스트립 라인 셀에 전달하는 감쇠부를 구비하고,

상기 공급부는, 상기 제1 스트립 라인 셀을 향하여 상기 제1 전파 신호에 해당하는 제1 전기 신호를 공급하고, 그 제1 스트립 라인 셀과 상기 감쇠부를 통해 상기 제2 스트립 라인 셀에, 상기 식별 정보 취득부에서 취득된 식별 정보를 포함한 제2 전파 신호에 해당하는 제2 전기 신호를 공급하는 것이다」라고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태에 따르면, 상기 제1 스트립 라인 셀에 전기 신호가 공급될 때에는, 그 전기 신호는 상기 감쇠부에 의해 감쇠되어 상기 제2 스트립 라인 셀에도 전달된다. 이 때문에, 상기 제1 전기 신호는 상기 제2 스트립 라인 셀에 배치된 전자 장치가 반응하지 않을 정도로 약하게 사용하고, 상기 제2 전기 신호는 제2 스트립 라인 셀에 배치된 전자 장치도 반응할 정도로 강하게 사용함으로써, 이들 전기 신호의 공급처를 전환하지 않고서 이들 전기 신호를 구별하여 사용할 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 공급부와 상기 스트립 라인 셀 사이에 개재하여, 그 공급부가 공급하는 상기 전기 신호의 전력을, 미리 정해진 조작에 따른 전력으로 변환하고, 전력 변환 후의 그 전기 신호를 상기 스트립 라인 셀에 전달하는 전달부를 구비하였다」고 하는 형태도 바람직하다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 예컨대, 여러 출력의 전파 신호에 대해서 상기 전자 장치의 응답의 유무를 확인하는 등의 시험을, 시험용 프로그램 등을 필요로 하지 않고 상기 전달부에 대한 사용자의 조작에 의해 간단히 행할 수 있다.

또한, 이러한 사용자 조작 타입의 시험 장치에서, 「상기 전달부는, 미리 정해진 안테나가 미리 정해진 출력으로 상기 전파 신호를 발신하고 상기 전자 장치가 수신하는 상황에서의 그 안테나와 그 전자 장치와의 거리를 나타내는, 서로 다른 거리를 나타내는 복수의 눈금을 가지며, 미리 정해진 조작자가 그 복수의 눈금 중 어느 하나의 눈금으로 설정되면, 상기 공급부가 공급하는 상기 전기 신호의 전력을, 상기 상황에 있어서, 그 설정된 눈금이 나타내는 거리에서의 전파 신호의 출력과 동등한 출력의 전파 신호를 상기 스트립 라인 셀에서 발신하는 데 필요한 전력으로 변환하는 것이다」라고 하는 형태는 더 바람직한 형태이다.

이 더 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 예컨대 상기 전자 장치의 통신 한계 거리를 구하는 시험 등을, 시험용 프로그램 등을 필요로 하지 않고 상기 전달부에 대한 사용자의 조작에 의해 간단히 행할 수 있다.

또한, 사용자 조작 타입의 시험 장치에서, 「이 시험 장치는, 상기 스트립 라인 셀을 2개 구비하는 것이고,

상기 전달부는, 2개의 상기 스트립 라인 셀 중 한쪽인 제1 스트립 라인 셀에 상기 전기 신호를 전달하는 것이며,

상기 제1 스트립 라인 셀에 전달된 전기 신호를 미리 정해진 조작에 따른 정도로 감쇠시켜, 2개의 상기 스트립 라인 셀 중 제2 스트립 라인 셀에 전달하는 제2 전달부를 구비하였다」고 하는 형태도 더 바람직한 형태이다.

이 더 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 예컨대, 다음과 같은 시험을 효율적으로 행할 수 있다. 상기 전자 장치에 요구되는 성능이, 어떤 출력 범위의 전파 신호에 대해서 반응하는 것인 경우에, 상기 제1 스트립 라인 셀이 그 출력 범위에서의 최대 강도의 전파 신호를 발신하고, 상기 제2 스트립 라인 셀이 최소 강도의 전파 신호를 발신하도록 상기 전달부 및 상기 제2 전달부 각각을 조작해 두며, 각 스트립 라인 셀에 대해서 상기 전자 장치를 순차적으로 배치함으로써 그 전자 장치가 상기와 같은 성능을 갖고 있는지의 여부를 간이적으로 확인할 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 스트립 라인 셀은, 상기 제1 도체판과 상기 제2 도체판의 간격이, 그 제1 도체판의 폭의 1/5 이하의 간격인 것이다」라고 하는 형태는 바람직한 형태이다.

상기 스트립 라인 셀이 갖는 특성 임피던스는, 상기 제1 도체판과 상기 제2 도체판의 간격과, 그 제1 도체판의 폭과의 비에 의해 결정된다. 여기서, 상기 공급부로서 사용할 수 있는 시판되어 있는 장치의 대부분은, 출력 임피던스로서 50옴을 갖고 있다. 이러한 장치와 가장 단순히 임피던스를 정합시키기 위해서는, 상기 스트립 라인 셀의 특성 임피던스를 50옴으로 하지 않으면 안되지만, 이 50옴의 특성 임피던스를 실현하기 위해서는 제1 도체판과 상기 제2 도체판의 간격이 제1 도체판의 폭의 1/5이라고 하는 얇은 구조로 할 필요가 있다. TEM파를 얻는 것을 목적으로 한 종래의 스트립 라인 셀에는, TEM파를 발생시키는 공간임과 아울러 TEM파를 받는 대상물이 배치되는 공간이 제1 도체판과 제2 도체판 사이에 필요하여, 이러한 얇은 구조를 실현하는 것이 무리이다. 이에 비하여, 본 발명의 시험 장치에서의 스트립 라인 셀은, 이러한 공간이 불필요하기 때문에, 제1 도체판과 상기 제2 도체판의 간격이 제1 도체판의 폭의 1/5이라고 하는 얇은 구조를 실현하여 임피던스의 정합과 공간 절약화를 도모하는 것은 물론, 박형화를 한층 더 도모하는 것도 가능하다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 스트립 라인 셀은, 상기 제1 도체판으로서, 상기 전파 신호의 파장의 절반 이하의 길이의 도체판을 갖는 것이다」라고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

본 발명의 시험 장치에서의 스트립 라인 셀에서는, 상술한 바와 같이 한정된 범위로 누설되는 준 TEM파가 이용된다. 이 범위는, 상기 제1 도체판의 길이 방향으로 진행되는 전파의 진행 방향에 대해서는, 그 전파의 반파장 이하의 범위가 된다. 그래서, 이 제1 도체판의 길이로서 실질적으로 필요한 길이도 이 반파장 이하로 충분해져 소형화가 도모된다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 스트립 라인 셀은, 상기 전파 신호가 투과하는 판형상의, 표리면 중 한쪽 면에 상기 전자 장치가 적재되고, 그 한쪽 면에 대한 다른쪽 면이 상기 제1 도체판에 접하는 적재판을 갖는 것이다」라고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 상기 제1 도체판과 상기 전자 장치의 간격이 상기 적재판에 의해 일정한 간격으로 유지되기 때문에 안정적으로 시험을 행할 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 장치에서, 「상기 스트립 라인 셀은, 상기 제1 도체판의 상기 대향면과는 반대측을 미리 정해진 범위를 제외하고 덮음으로써, 그 제1 도체판으로부터 발생된 전파의 양과 방향을, 각각 미리 정해진 양과 미리 정해진 방향으로 제한하는 차폐부를 포함하는 것이다」라고 하는 형태도 바람직한 형태이다.

이 바람직한 형태의 시험 장치에 따르면, 상기 스트립 라인 셀로부터 준 TEM파가 누설되는 범위나 방향을 엄밀하게 설정할 수 있다.

또한, 상기 목적을 달성하는 본 발명의 시험 방법은, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 폭 이상의 폭을 가지며, 외부로부터 그 전파 신호에 해당하는 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 그 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 그 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 그 전파 신호를 발신하고, 상기 제1 도체판의, 상기 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측에 상기 전자 장치가 배치되는 스트립 라인 셀의 상기 제1 도체판에 상기 전기 신호를 공급하는 공급 과정과,

상기 전자 장치에서의 반응의 유무를 확인하는 반응 확인 과정을 갖는 것을 특징으로 한다.

이 본 발명의 시험 방법에 따르면, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 통신 성능에 대한 충분한 성능 시험을 간단히 행할 수 있다.

또한, 상기 목적을 달성하는 본 발명의 제조 방법은, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치를 작성하는 작성 공정과,

상기 전자 장치의 폭 이상의 폭을 가지며, 외부로부터 그 전파 신호에 해당하는 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 그 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 그 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 그 전파 신호를 발신하고, 상기 제1 도체판의, 상기 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측에 상기 전자 장치가 배치되는 스트립 라인 셀의 상기 제1 도체판에 상기 전기 신호를 공급하는 공급 과정과,

상기 전자 장치에서의 반응의 유무를 확인하는 반응 확인 과정을 갖는 시험 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.

이 본 발명의 제조 방법에 따르면, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치를, 통신 성능에 대한 충분한 성능 시험을 간단히 행하는 시험 방법이 공정으로서 포함된 제조 방법으로 제조할 수 있다.

또한, 본 발명의 시험 방법 및 제조 방법에 대해서는, 여기서는 각각의 기본 형태만을 나타내었으나, 이것은 단순히 중복을 피하기 위함이며, 본 발명의 시험 방법 및 제조 방법 각각에는, 상기 기본 형태만이 아니라, 전술한 시험 장치의 각 형태에 대응하는 각종의 형태가 포함된다.

이상, 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 통신 성능에 대한 충분한 성능 시험을 간단히 행할 수 있는 시험 장치와, 그러한 성능 시험을 행할 수 있는 시험 방법과, 그러한 시험 방법을 공정으로서 포함하는 전자 장치의 제조 방법을 얻을 수 있다.

도 1은 본 발명의 제1 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 2는 스트립 라인 셀(100)을 도시하는 모식도이다.

도 3은 스트립 라인 셀(100)에서의 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102)을 도시하는 도면이다.

도 4는 종단 저항(103)을 접속하고, 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102)을 차폐판(104)으로 덮은 상태를 도시하는 도면이다.

도 5는 도 4의 상태에, 스트립 라인 셀(100)의 케이스를 고정하기 위한 금구(金具; 105)를 부착한 상태를 도시하는 도면이다.

도 6은 스트립 라인 셀(100)의 완성 상태를 도시하는 도면이다.

도 7은 적재판(109)의 적재면(109a)과 제1 도체판(101) 사이의 간격을 도시하는 도면이다.

도 8은 다른 예의 스트립 라인 셀(500)에서의 제1 도체판(501)과 제2 도체판(502)을 도시하는 도면이다.

도 9는 제1 도체판(501)과 제2 도체판(502)을 차폐판을 겸한 케이스(504)에 수납한 상태를 도시하는 도면이다.

도 10은 도 9의 상태에 적재판(505)이 부착된 완성 상태를 도시하는 도면이다.

도 11은 다른 예의 스트립 라인 셀의 단면을 도시하는 도면이다.

도 12는 준비 작업에서의 전파 암실 내에서의 작업을 도시하는 도면이다.

도 13은 준비 작업에 의해 취득된 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계와 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계를 표 형식으로 도시한 도면이다.

도 14는 도 13에 표 형식으로 도시하는 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계와 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계를 그래프 형식으로 도시한 도면이다.

도 15는 보정 후의 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계와 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계를 그래프 형식으로 도시한 도면이다.

도 16은 RFID 태그 시험 장치(1)로 실행되는 성능 시험의 흐름을 도시하는 흐름도이다.

도 17은 본 발명의 제2 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 18은 도 17에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(2)를 사용한 RFID 태그의 시험 공정을 포함하는, RFID 태그 제조 방법을 도시하는 흐름도이다.

도 19는 도 18의 시험 공정(단계 S220)의 상세한 흐름을 도시하는 흐름도이다.

도 20은 본 발명의 제3 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 21은 도 20에 도시하는 각 스트립 라인 셀(100)에 서로 다른 타이밍으로 전기 신호가 공급되는 모습을 도시하는 모식도이다.

도 22는 본 발명의 제4 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 23은 본 발명의 제5 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 24는 도 23에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(5)의 상세한 것을, 스트립 라인 셀의 2개의 세트 중 한쪽 세트에 주목하여 도시하는 도면이다.

도 25는 도 23 및 도 24에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(5)를 사용한 RFID 태그의 시험 공정을 포함하는, RFID 태그 제조 방법을 도시하는 흐름도이다.

도 26은 도 25의 시험 공정(단계 S300)의 상세한 흐름을 도시하는 흐름도이 다.

도 27은 제1 및 제2 스트립 라인 셀(220, 230)에서의 RFID 태그(T1)의 배치와 각 스트립 라인 셀이 발신하는 전파 신호의 출력을 도시하는 도면이다.

도 28은 본 발명의 제6 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 29는 가변 감쇠기(320)의 거리의 눈금을 구하는 작업에서 사용되는 그래프이다.

도 30은 본 발명의 제7 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 31은 본 발명의 제8 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 32는 스트립 라인 셀(100)의 주파수 특성을 도시하는 그래프이다.

도 33은 RFID 태그 시험 장치(8)로 실행되는 주파수 특성 취득 처리의 흐름을 도시하는 흐름도이다.

도 34는 도 33의 흐름도가 나타내는 주파수 특성 취득 처리에 의해 취득된 주파수 특성의 일례를 도시하는 그래프이다.

도 35는 본 발명의 제9 실시형태인 RFID 태그 시험 장치를 도시하는 도면이다.

도 36은 RFID 태그 시험 장치(9)로 실행되는 주파수 특성 취득 처리의 흐름을 도시하는 흐름도이다.

이하 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다.

우선, 본 발명의 제1 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 1에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(1)는, 전파 통신용 안테나 패턴과 IC 칩이 탑재되어 미리 정해진 전파 신호를 수신하면 응답 신호를 회신하는 RFID 태그(T1)의 통신 성능에 대한 성능 시험을 행하는 것이며, 스트립 라인 셀(100)과, 리더 라이터(20)와, 컴퓨터(30)를 구비하고 있다. 또한, 리더 라이터(20)는 컴퓨터(30)에 제1 케이블(31)로 접속되고, 스트립 라인 셀(100)은 리더 라이터(20)에 제2 케이블(21)로 접속되어 있다. 여기서, RFID 태그(T1)가 본 발명에서 말하는 전자 장치의 일례에 해당하고, 스트립 라인 셀(100)이 본 발명에서 말하는 스트립 라인 셀의 일례에 해당한다. 또한, 리더 라이터(20)는 본 발명에서 말하는 공급부의 일례에 해당하고, 컴퓨터(30)는 본 발명에서 말하는 반응 확인부의 일례에 해당한다.

스트립 라인 셀(100)은, 리더 라이터(20)로부터, 상기 전파 신호에 해당하는 전기 신호가 제2 케이블(21)을 통해 공급되면, 그 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 상기 전파 신호를, 미리 정해진 전파 영역(A1)에 발신한다. 본 실시형태에서는, 시험 대상인 RFID 태그(T1)는, 스트립 라인 셀(100) 상에서의 이 전파 영역(A1)에 적재된다. 또한, 이 스트립 라인 셀(100)은, RFID 태그(T1)가 상기 전파 신호를 수신하여 응답 신호를 회신하면 그 응답 신호를 수신한다. 그 수신된 응답 신호는 제2 케이블(21)을 통해 리더 라이터(20)로 보내진다.

리더 라이터(20)는, 어떤 전력을 갖는 전기 신호를 스트립 라인 셀(100)에 공급하라는 지시를 컴퓨터(30)로부터 받아 스트립 라인 셀(100)에 그 전기 신호를 공급하고, 스트립 라인 셀(100)로부터 응답 신호가 보내져 왔을 때에는, 그 취지를 컴퓨터(30)에 통지한다.

컴퓨터(30)는, 리더 라이터(20)에 대해서, 미리 정해진 프로세스에 따라 상기 전력을 순차적으로 변경하면서 상기 지시를 행한다. 이 프로세스에 대해서는 후술한다.

RFID 태그 시험 장치(1)는, 대략 이와 같이 구성되어 있다.

다음으로, 도 1에서는 하나의 블록으로 나타내고 있는 스트립 라인 셀(100)의 상세한 것에 대해서 설명한다.

도 2는 스트립 라인 셀(100)을 도시하는 모식도이다.

스트립 라인 셀(100)은, 리더 라이터(20)로부터 전기 신호가 공급되는 제1 도체판(101)과, 이 제1 도체판(101)에 대향하여 그라운드로서 작용하는 제2 도체판(102)을 구비하고 있다. 또한, 리더 라이터(20)로부터의 전기 신호는 제1 도체판(101)의 일단에 공급되고, 제1 도체판(101)의 타단은 종단 저항(103)에 접속되어 있다. 본 실시형태에서는, 이 종단 저항의 저항은 50옴으로 되어 있으나, 이것은, 후술하는 바와 같이 이 스트립 라인 셀(100)의 특성 임피던스가 50옴으로 설계되어 있기 때문이다.

제1 도체판(101)에, 상기 전기 신호로서 미리 정해진 주파수의 교류 신호가 공급되면, 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102) 사이의 공간에는, 상기 전기 신호의 공급측으로부터 종단 저항(103)측을 향하여 진행하고, 그 진행 방향에 직교하는 방향으로 전계 성분 및 자계 성분을 갖는 TEM파(W1)가 발생한다. 이 TEM파(W1)는, 계산상의 취급이 용이하다는 등의 이유로, 종래, 통신 성능의 시험 등에 널리 사용되고 있다. 만일, 이 스트립 라인 셀(100)을 사용한 시험에서 이 TEM파(W1)를 이용한다고 하면, 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102) 사이에, 시험 대상인 RFID 태그(T1)를 전계 성분 및 자계 성분과 평행하게, 즉, 도 2에서의 세로 방향으로 배치하기 위한 공간이 필요해진다. 이에 비하여, 본 실시형태에서는, 제1 도체판(101)으로부터, 이 TEM파(W1)가 발생하는 공간과는 반대측으로 누설되어 오며, TEM파와 거의 동등한 준 TEM파(W2)가 이용된다. 이 때문에, 본 실시형태에서는, 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102) 사이에 상기와 같은 공간이 불필요하여, 후술하는 바와 같이 박형화가 도모되고 있다. 또한, 이 준 TEM파(W2)는 제1 도체판(101)에 대해서 대략 법선 방향으로 진행되기 때문에, 이 준 TEM파(W2)를 시험 대상인 RFID 태그(T1)로 받기 위해서는, RFID 태그(T1)의 배치 방향은 도 2에서의 가로 방향이 된다. 이 때문에, 시험 대상인 RFID 태그(T1)를, 박형화가 도모된 스트립 라인 셀(100) 위에 놓는 것만으로 시험이 가능해지므로 운용이 간단하다. 또한, 본 실시형태에서 시험 시에 사용되는 이 준 TEM파(W2)는, 후술하는 바와 같이 제1 도체판(101)으로부터 멀어짐에 따라 급속히 감쇠되어 버리기 때문에, 도 2에 도시하는 바와 같이 그 전파 영역(A1)이 한정되고 있다. 본 실시형태에서는, 이 전파 영 역(A1)이 시험 영역으로서 이용되며, 시험 대상인 RFID 태그(T1)는, 이 전파 영역(A1) 내에 배치된다. 이 때문에, 시험 시의 전파가 시험 영역의 주변부에 영향을 주거나, 전파되어진 곳에서 반사되어 되돌아오는 반사파가 시험 영역 내의 전파와 간섭하는 등과 같은 사태가 회피된다.

다음으로, 이 스트립 라인 셀(100)의 구체적인 구조에 대해서 설명한다.

도 3은 스트립 라인 셀(100)에서의 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102)을 도시하는 도면이고, 도 4는 종단 저항(103)을 접속하고, 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102)을 차폐판(104)으로 덮은 상태를 도시하는 도면이며, 도 5는 도 4의 상태에, 스트립 라인 셀(100)의 케이스를 고정하기 위한 금구(金具; 105)를 부착한 상태를 도시하는 도면이고, 도 6은 스트립 라인 셀(100)의 완성 상태를 도시하는 도면이다. 또한, 이들 각 도면의 파트 (a)에는 상면도가 도시되고, 파트 (b)에는 측면도가 도시되어 있다.

상술한 바와 같이, 본 실시형태에서는, 제1 도체판(101)과 제2 도체판(102)의 간격(H2)은, 시험 대상인 RFID 태그(T1)의 폭과 거의 동일한 폭인 제1 도체판(101)의 폭(H1)의 1/5이 되도록 설계되어 있다. 이 1/5이라고 하는 값은, 스트립 라인 셀(100)의 특성 임피던스의 설계값이 50옴이 되도록 산출된 것이다. 이 산출 방법에 대해서는 공지이기 때문에 여기서는 설명을 생략한다. 또한, 제1 도체판(101)의 길이는, RFID 태그(T1)의 통신 주파수이며 시험 시에 사용되는 953 ㎒라고 하는 주파수의 전파의 약 1/2 파장의 길이로 설계되어 있다. 또한, 도 3에 도시하는 바와 같이, 제1 도체판(101)의 좌측 단부에는 종단 저항(103)이 접속되는 종단 커넥터(106)가 마련되고, 우측 단부에는 리더 라이터(20)로부터의 전기 신호가 입력되는 입력 커넥터(107)가 마련되어 있다. 여기서, 이 스트립 라인 셀(100)의 특성 임피던스의 실측값은 57.36옴이고, 또한, 이 스트립 라인 셀(100)에서의, 공급되는 전력에 대해서 방출되는 전파 정도를 나타내는 소위 정재파비(SWR: Standing Wave Ratio)는 1.26으로 되어 있다.

도 4에 도시하는 차폐판(104)에는, 제1 도체판(101)에서 발생된 준 TEM파(W2)가 통과하기 위한 개구부(104a)가 형성되어 있고, 이 개구(104a)의 사이즈는, 준 TEM파(W2)의 확산이, RFID 태그(T1)를 대상으로 한 시험에 필요 충분한 범위로 제한되는 사이즈로 설계되어 있다. 이 차폐판(104)은, 본 발명에서 말하는 차폐판의 일례에 해당한다.

도 5에 도시하는 금구(105)를 통해 고정되며, 각 도체판 등을 덮는 케이스(108)(도 6)에는, 차폐판(104)의 개구부(104a)보다도 넓은 개구부(108a)가 형성되어 있고, 이 개구부(108a)는, 시험 대상인 RFID 태그(T1)가 적재되는 아크릴제의 적재판(109)으로 막혀 있다. 이 적재판(109)은, 본 발명에서 말하는 적재판의 일례에 해당한다.

본 실시형태에서는, 적재면(109a)과 제1 도체판(101) 사이의 간격(L1)이 7.4 ㎜로 되어 있고, 적재판(109)의 두께는, 이 간격이 실현되도록 설계되어 있다.

여기서, 이상에 설명한 스트립 라인 셀(100)에서, 상기 적재면(109a)으로부 터 멀어짐에 따라, 상기 준 TEM파(W2)가 급속하게 감쇠되는 것에 대해서 실측값에 기초하여 설명한다. 이 실측값은, 리더 라이터(20)로부터 25.5 dBm의 전력을 갖는 전기 신호가 스트립 라인 셀(100)에 입력되었을 때에, 표준 다이폴 안테나를 제1 도전판(101)으로부터의 거리가 서로 다른 다음과 같은 3부위에 배치하고 각 위치에서의 전계 강도를 계측함으로써 얻어진 것이다. 우선, 제1 도전판(101)으로부터의 거리가 7.4 ㎜, 즉 상기 적재면(109a) 상에 표준 다이폴 안테나가 배치된 상태에서 계측이 행해지고, 다음으로, 이 거리가 100 ㎜인 위치에서 계측이 행해지며, 150 ㎜의 위치에서 계측이 행해졌다. 그 결과를, 7.4 ㎜의 위치에서의 계측 결과를 기준으로 한, 상기 입력된 전기 신호의 전력에 해당하는 감쇠량으로 나타내면, 7.4 ㎜의 위치에서는 여기가 기준이기 때문에 0 dB이 되고, 100 ㎜의 위치에서는 -11.9 dB이 되며, 150 ㎜의 위치에서는 -24.5 dB이 된다. 이 결과로부터, 100 ㎜의 위치에서는, 입력량인 25.5 dBm에 대해서 dB 표시로 대략 절반으로까지 감쇠되고, 150 ㎜의 위치에서는 거의 감쇠되어 버리는 것을 알 수 있다.

이와 같이, 스트립 라인 셀(100)에서 발생된 준 TEM파(W2)가 도달하는 범위는 한정되어 있어, 도 1에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(1)에서는, 스트립 라인 셀(100)에서 발생된 전파 신호가 시험 영역을 넘어 주변으로 전파될 우려가 없게 된다. 이 RFID 태그 시험 장치(1)에서는, 시험 시에는, RFID 태그(T1)는, 상기 적재면(109a) 상에 실린다.

다음으로, 스트립 라인 셀의 다른 예에 대해서 설명한다.

도 8은 다른 예의 스트립 라인 셀(500)에서의 제1 도체판(501)과 제2 도체 판(502)을 도시하는 도면이고, 도 9는 제1 도체판(501)과 제2 도체판(502)을 차폐판을 겸한 케이스(504)에 수납한 상태를 도시하는 도면이며, 도 10은 도 9의 상태에 적재판(505)이 부착된 완성 상태를 도시하는 도면이고, 도 11은 다른 예의 스트립 라인 셀의 단면을 도시하는 도면이다. 또한, 도 8에서부터 도 10까지의 각 도면의 파트 (a)에는 상면도가 도시되고, 파트 (b)에는 측면도가 도시되어 있다.

이 다른 예의 스트립 라인 셀(500)도, 상술한 스트립 라인 셀(100)과 마찬가지로, 특성 임피던스가 50옴이 되고, 사용 주파수가 953 ㎒가 되도록 설계되어 있다.

이 다른 예의 스트립 라인 셀(500)은, 제2 도체판(502)이, 수납 케이스의 바닥면 등을 겸함으로써 한층 더 박형화가 도모된 것이다. 또한, 상술한 스트립 라인 셀(100)에서는 종단 저항(103)이 케이스(108)의 바닥면측을 향하여 부착되어 있었으나, 이 다른 예의 스트립 라인 셀(500)에서는, 종단 저항(503)은 가로 방향으로 부착되어 있다. 또한, 이 다른 예의 스트립 라인 셀(500)에 마련되어 있는 종단 커넥터(506) 및 입력 커넥터(507)에는, 스트립 라인 셀(500)의 내부측의 커넥터 단자에, 제1 도체판(501)이 직접적으로 접속되어 있다. 또한, 제2 도체판(502)이, 약간 넓은 형상으로 되어 있는 것을 받아, 준 TEM파를 통과시키기 위해서 케이스(504)에 형성된 개구부(504a)도, 상술한 스트립 라인 셀(100)에서의 개구(104a)에 비하여 넓은 직사각형 형상의 것으로 되어 있다. 또한, 이 다른 예의 스트립 라인 셀(500)에서는, 도 11에 도시하는 바와 같이, 케이스(504) 형상의 제약으로 인해, 제1 도체판(501)과 적재면(505a)의 간격(L2)은, 상술한 스트립 라인 셀(100) 에서의 그 거리에 비하여 약간 먼 9.7 ㎜로 되어 있다. 이상 설명한 다른 예의 스트립 라인 셀(500)에서도, 상술한 스트립 라인 셀(100)과 거의 동일한 성능이 얻어지는 것은 물론이다.

다음으로, 도 3 내지 도 7에 도시하는 스트립 라인 셀(100)을 구비한, 도 1의 RFID 태그 시험 장치(1)로 실시되는 시험 내용에 대해서 설명한다.

RFID 태그는, 리더 라이터 등에 접속된 안테나가 미리 정해진 출력으로 발신한 전파 신호를 수신한다. 전파 신호는, 안테나로부터 멀어짐에 따라 감쇠되기 때문에, RFID 태그는, 그러한 출력으로 발신된 전파 신호의 수신이 가능한 통신 한계 거리를 가지며, 이 통신 한계 거리는, RFID 태그의 통신 성능을 나타내는 중요한 지표의 하나가 되고 있다. 종래, 이 통신 한계 거리는, 예컨대 전파 암실 등과 같은 특수한 시험 환경 속에서의 다음과 같은 절차에 의해 구해지고 있다. 우선, 리더 라이터에 안테나가 접속되고, 그 안테나에 대향하여 시험 대상인 RFID 태그가 배치된다. 다음으로, 안테나로부터 RFID 태그의 사용 시에서의 출력과 동등한 출력으로 전파 신호를 발신하고, 시험 대상인 RFID 태그로부터의 응답 신호의 유무를 확인하면서, 그 RFID 태그를 그 안테나로부터 서서히 분리한다. 그리고, RFID 태그로부터의 응답 신호가 확인되지 않게 되었을 때의 안테나로부터의 거리가 그 RFID 태그의 통신 한계 거리로서 채용된다. 이러한 일련의 작업은, 상기와 같은 특수 환경을 필요로 하고, 시험 시에는 시험 대상인 RFID 태그를 그 특수 환경까지 이동시킬 필요가 있으며, 그 특수 환경 속에서 RFID 태그를 이동시키지 않으면 안 되는 등과 같은 점에서, 작업자에게 큰 부담이 되며 RFID 태그의 개발이나 제조의 효율화를 방해하는 하나의 원인이 되고 있다.

이에 비하여, 도 1에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(1)에서는, 이하에 설명하는 준비 작업을 1회 실시해 두면, 다음은 시험 대상인 RFID 태그(T1)를 상술한 스트립 라인 셀(100)의 적재판(109)(도 6참조)에 놓는 것만으로, 컴퓨터(30)에 있어서 자동적으로 통신 한계 거리를 얻을 수 있다. 여기서, 이 컴퓨터(30)는, 본 발명에서 말하는 환산부의 일례도 겸하고 있다.

우선, 상기 준비 작업에 대해서 설명한다.

본 실시형태에서는, 이 준비 작업 시에 전파 암실이 사용된다.

이 준비 작업에서는, 도 1에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(1)가 갖는 컴퓨터(30) 및 리더 라이터(20)와 동등한 컴퓨터(42) 및 리더 라이터(44)가 준비되어, 전파 암실(41) 내에 배치된다. 양자는, 제3 케이블(43)로 접속되고, 리더 라이터(44)에는, 제4 케이블(45)을 통해, 미리 정해진 안테나(46)가 접속된다. 또한, 이 안테나(46)에 대향하는 미리 정해진 초기 위치에 표준 다이폴 안테나(47)가 배치된다. 이 표준 다이폴 안테나(47)에는, 제5 케이블(48)을 통해, 그 표준 다이폴 안테나(47)가 수신한 전파 신호에서의 전계 강도를 측정하는 측정기(49)가 접속되어 있다.

이 전파 암실(41) 내에서의 작업은, 다음과 같이 진행된다.

우선, 컴퓨터(42)가, RFID 태그의 사용 시에서의 출력과 동등한 출력으로 전파 신호를 발신하라는 취지의 지시를 리더 라이터(44)에 대해서 행한다. 그리고, 그 지시에 따라서 안테나(46)로부터 발신되어 표준 다이폴 안테나(47)에 의해 수신된 전파 신호에서의 전계 강도를 측정기(49)로 측정하면서, 표준 다이폴 안테나(47)가 안테나(46)로부터 멀어지는 방향으로 초기 위치로부터 10 ㎝씩 움직여진다. 이 전파 암실(41) 내에서의 작업에 의해, 표준 다이폴 안테나(47)가 수신한 전파 신호에서의 전계 강도와, 안테나(46)와 표준 다이폴 안테나(47)의 거리와의 대응 관계가 구해지는데, 이 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계는, 리더 라이터(44)에 접속된 안테나(46)가 미리 정해진 출력으로 전파 신호를 발신하고 시험 대상인 RFID 태그가 그 전파 신호를 수신한다고 가정했을 때에, 그 시험 대상인 RFID 태그가 수신할 전파 신호에서의 전계 강도와, 안테나(46)와 RFID 태그의 거리와의 대응 관계에 해당한다.

준비 작업에서는, 이상에 설명한 전파 암실(41) 내에서의 작업에 더하여, 도 1에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(1)를 사용한 다음과 같은 작업도 행해진다. 단, 이 작업에서는, 시험 대상인 RFID 태그(T1)를 대신하여, 상기 표준 다이폴 안테나(47)가 스트립 라인 셀(100)의 적재판(109)에 적재되고, 그 표준 다이폴 안테나(47)에 상기 측정기(49)가 접속된다. 이 작업에서는, 전력을 0 dBm에서부터 25.5 dBm까지 0.5 dB씩 증가시키면서 스트립 라인 셀(100)에 전기 신호를 공급하라는 취지의 지시가, 컴퓨터(30)로부터 리더 라이터(20)에 대해서 이루어진다. 그리고, 각 전력의 전기 신호의 공급 시에 표준 다이폴 안테나(47)가 수신한 전파 신호에서의 전계 강도가 측정된다. 이 RFID 태그 시험 장치(1)를 사용한 작업에 의해, 표준 다이폴 안테나(47)가 수신한 전파 신호에서의 전계 강도와, 스트립 라인 셀(100)에 공급되는 전기 신호의 전력과의 대응 관계가 구해지는데, 이 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계는, RFID 태그 시험 장치(1)를 사용한 성능 시험이 행해질 때에, 시험 대상인 RFID 태그가 수신할 전파 신호에서의 전계 강도와, 스트립 라인 셀(100)에 공급되는 전기 신호의 전력과의 대응 관계에 해당한다.

이 도 13에 도시하는 표(Tab)는, 좌측에 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계(Ta1)가 나타나고, 우측에 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계(Ta2)가 나타나 있다. 또한, 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계(Ta2)에서는, 전계 강도가, V/m 단위와 dBμV/m 단위의 2종류의 단위로 나타나 있다.

이 도 14의 그래프(G1)에서는, 세로축에 전계 강도가 취해지고, 가로축에 전력과 거리가 취해지고 있다. 그리고, 이 그래프(G1)에는, 전파 암실(41)을 사용한 작업으로 얻어진 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계가 사각형의 점으로 플롯되어 있고, RFID 태그 시험 장치(1)를 사용한 작업으로 얻어진 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계가 마름모형의 점으로 플롯되어 있다. 또한, 이 그래프(G1)에는, 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계를 상기와 같은 전파 암실(41)을 사용한 작업에 상관 없이 미리 정해진 이론 공식을 사용하여 산출했을 때의 산출 결과가 참고를 위해 삼각형의 점으로 플롯되어 있다.

여기서, 전파 암실(41) 내에서도, 약간의 전파의 반사 등이 발생하기 때문에, 실측에 기초하는 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계는, 거리가 100 ㎝에서부터 160 ㎝까지의 범위와, 220 ㎝ 이상의 범위 등에 있어서, 이론 공식에 기초하는 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계와 어긋나 버리고 있다. 본 실시형태에서는, 실측에 기초하는 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계에서의 전계 강도의 값으로부터, 이러한 어긋남을 제거하는 보정이 행해진다. 도 13의 표(Tab)에서의 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계(Ta1)에서는, 이 보정 후의 전계 강도가 괄호 안에 나타나 있다.

이 도 15에 도시하는 바와 같이, 보정 후의 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계를 나타내는 점선의 라인과, 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계를 나타내는 실선의 라인은, 0 ㎝에서부터 300 ㎝까지의 10 ㎝마다의 각 거리와, 25.5 dBm에서부터 0.0 dBm까지의 0.5 dB마다의 각 전력을 서로 1 대 1로 대응시키면 대략 일치한다. 그래서, 본 실시형태에서는, 준비 작업에 있어서, 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계(Ta2)에서의 각 전력과, 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계(Ta1)에서의 각 거리를, 도 13에 도시하는 표(Tab)에 있어서, 서로 동일한 행에 기재되어 있는 값끼리를 대응시키는 전력에 대한 거리의 대응 관계가 작성된다. 그 작성된 전력에 대한 거리의 대응 관계는, 도 1에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(1)의 컴퓨터(30) 내의 도시하지 않은 메모리에 기억된다. 이상으로, 준비 작업이 종료된다. 여기서, 이 전력에 대한 거리의 대응 관계가, 본 발명에서 말하는 환산 관계의 일례에 해당한다.

다음으로, 이 준비 작업에서 구해진 전력에 대한 거리의 대응 관계를 사용하여, 도 1의 컴퓨터(30)의 제어하에서, RFID 태그 시험 장치(1)로 실행되는 성능 시험에 대해서 설명한다.

여기서, 이 도 16의 흐름도가 나타내는 처리가, 본 발명의 시험 방법의 일 실시형태에 해당한다.

이 도 16의 흐름도가 나타내는 처리는, 사용자가, 컴퓨터(30)에 대해서 미리 정해진 조작을 통해 성능 시험의 시작을 지시하면 시작한다. 처리가 시작되면, 우선, 컴퓨터(30)는, 리더 라이터(20)에 대해서, 스트립 라인 셀(100)에 공급하는 전기 신호의 전력을 0 dBm로 설정하는 처리를 포함하는 미리 정해진 초기화 처리의 실행을 지시한 후 대기 상태가 된다(단계 S101). 그리고, RFID 태그 시험 장치(1)의 스트립 라인 셀(100)에 시험 대상인 RFID 태그(T1)가 배치되고, 사용자가 컴퓨터(30)에 대해서 미리 정해진 조작을 통해 이 RFID 태그(T1)에 대한 성능 시험의 시작을 지시하면 다음 단계(단계 S102)로 진행된다.

단계 S102에서는, 현재, 리더 라이터(20)에서 설정되어 있는 전기 신호의 전력이 최대 설정값(본 실시형태에서는 25.5 dBm)으로 되어 있는지의 여부가 판정된다. 그러나, 단계 S101의 초기화 처리 직후에서는, 전력의 설정값은 최대 설정값 이 아니므로(단계 S102에서의 No 판정), 다음 단계 S103의 처리로 진행된다.

단계 S103의 처리에서는, 리더 라이터(20)에서의 전력의 설정값으로서, 현재의 설정값에 미리 정해진 피치분의 증가분(본 실시형태에서는 0.5 dB)만큼 증가시킨 값이 산출되고, 그 산출 결과를, 스트립 라인 셀(100)에 공급하는 전기 신호의 전력으로 설정하도록 지시하는 커맨드(C1)가 리더 라이터(20)에 보내진다.

여기서, 본 실시형태에서 시험 대상이 되는 RFID 태그(T1)에는, 그 RFID 태그(T1)를 다른 RFID 태그와 구별하기 위해 사용되는 식별 정보(UID: Unique Identifier)가 기억되어 있다.

상기 단계 S103의 처리에서 전력의 설정이 지시되면, 다음으로, 시험 대상인 RFID 태그(T1)에 UID를 요구하는 요구 신호를 스트립 라인 셀(100)에 공급하라는 취지를 지시하는 커맨드(C2)가 리더 라이터(20)에 보내진다(단계 S104).

이 단계 S104의 처리와, 그 전의 단계 S103의 처리를 합한 처리는, 본 발명에서 말하는 공급 과정의 일례에 해당한다.

리더 라이터(20)는, 상기 설정된 전력을 갖는 요구 신호를 스트립 라인 셀(100)에 공급한다. 그리고, 이 요구 신호에 대해서 UID를 나타내는 응답 신호(S1)의 출력이 RFID 태그(T1)로부터 있었던 경우에는, 리더 라이터(20)는, 그 응답 신호(S1)를 스트립 라인 셀(100)을 통해 수신하여 컴퓨터(30)에 보낸다.

한편, 컴퓨터(30) 쪽은, 단계 S104 후, 미리 정해진 시간의 대기 상태로 이행한다(단계 S105). 그리고, 그 미리 정해진 시간의 경과 후, 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S1)가 보내져 왔는지의 여부가 판정된다(단계 S106). 이 단계 S106의 처리와, 그 전의 단계 S105의 처리를 합한 처리가, 본 발명에서 말하는 반응 확인 과정의 일례에 해당한다. 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S1)가 보내져 와 있지 않은 경우(단계 S106에서의 No 판정), 단계 S102까지 되돌아가, 이 단계 S102로부터 단계 S106까지의 처리가 반복된다. 이 반복은, 전력의 설정값이 최대 설정값에 도달하거나(단계 S102에서의 Yes 판정), 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S1)가 보내져 올 때까지(단계 S106에서의 Yes 판정) 계속된다.

리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S1)가 보내져 오면, 컴퓨터(30)는, 그 시점에서의 전력의 설정값을, 상술한 전력에 대한 거리의 대응 관계를 사용하여, 도 12에 도시하는 전파 암실(41)에서의 안테나(46)로부터의 거리로 환산한다(단계 S107).

이 환산 결과는, 예컨대 안테나(46)가 미리 정해진 출력으로 상기 요구 신호에 따른 전파 신호를 발신하고 시험 대상인 RFID 태그(T1)가 수신한다고 하는 상황에 있어서, RFID 태그(T1)를 충분히 떨어진 위치로부터 서서히 안테나(46)에 접근시켰을 때에, 최초에 RFID 태그(T1)가 응답 신호(S1)를 회신하는 거리, 즉, 이 RFID 태그(T1)가 안테나(46)에서 발생된 전파 신호를 수신할 수 있는 통신 한계 거리에 해당한다. 단계 S107의 처리에서, 시험 대상인 RFID 태그(T1)에 대해서 이러한 통신 한계 거리가 구해지면, 컴퓨터(30)는, 그 통신 한계 거리를, RFID 태그(T1)로부터의 응답 신호(S1)가 나타내는 UID와 대응시켜 미리 정해진 메모리에 보존한다(단계 S108). 그리고, 단계 S101까지 처리가 되돌아가 리더 라이터(20)에 대해서 초기화 처리의 실행을 지시한 후, 다음 RFID 태그에 대한 성능 시험의 대기 상태가 된다.

또한, 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S1)가 보내져 오지 않고서 전력의 설정값이 최대 설정값에 도달한 경우에는, 미리 정해진 표시 화면에 시험 대상인 RFID 태그(T1)가 불량품인 것이 표시된 후에, 처리가 단계 S101까지 되돌아가 초기화 처리의 실행을 지시한 후, 다음 성능 시험의 대기 상태가 된다.

이상, 도 1 내지 도 16까지를 참조하여 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 따르면, 사전에 미리 정해진 준비 작업을 1회 실행해 두면, 시험 대상인 RFID 태그의 통신 한계 거리를 구한다고 하는 성능 시험에 대해서는, 전파 암실 등과 같은 특수 환경을 사용하지 않고서 충분한 성능 시험을 간단히 행할 수 있다.

다음으로, 본 발명의 제2 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 17에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(2)는, 복수의 RFID 태그를 시험 대상으로 하고 있는 점을 제외하면, 도 1에 도시하는 제1 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(1)와 동등하다. 이 때문에, 도 17에서는, 도 1과 동등한 구성 요소에 대해서는 도 1과 동일한 부호를 붙이고 있고, 이하에서는, 이들 구성 요소에 대한 중복 설명을 생략한다.

RFID 태그 시험 장치(2)에서는, 롤형의 베이스에 형성된 복수의 안테나 패턴 각각에 IC 칩이 탑재되어 이루어지는 복수의 RFID 태그(T1)가 아직 개개의 RFID 태그로서 분리되어 있지 않은 상태의 태그 롤(R)이 취급된다. 그리고, 이 태그 롤(R)에서의 개개의 RFID 태그(T1)가, 이 RFID 태그 시험 장치(2)에서의 시험 대상물이 된다.

RFID 태그 시험 장치(2)에는, 이 태그 롤(R)에서의 개개의 RFID 태그(T1)를 순차적으로 스트립 라인 셀(100)까지 반송하는 반송 장치(50)가 구비되어 있고, 제6 케이블(51)을 통해 컴퓨터(60)에 접속되어 있다. 이 RFID 태그 시험 장치(2)에서의 컴퓨터(60)는, 리더 라이터(20)에 더하여 반송 장치(50)도 제어한다. 컴퓨터(60)가 이 반송 장치(50)에 후술하는 커맨드를 보내면, 반송 장치(50)는, 태그 롤(R)의 RFID 태그(T1)를 배치 간격분만큼 화살표 D1 방향으로 보내도록, 그 이송분만큼 태그 롤(R)의 중심축을 화살표 D2 방향으로 회전시킨다. 이에 따라, 태그 롤(R)의 각 RFID 태그(T1)가 순차적으로 스트립 라인 셀(100)까지 반송되고, 그 스트립 라인 셀(100)의 위치에서 상술한 성능 시험이 실시되게 된다. 여기서, 이 반송 장치(50)는, 본 발명에서 말하는 반송부의 일례에 해당한다.

이 도 18에 도시하는 RFID 태그 제조 방법은, 상기 태그 롤(R)을 작성하는 작성 공정(단계 S210)과, 태그 롤(R)의 각 RFID 태그(T1)에 대해서 통신 한계 거리를 구하는 상기 성능 시험을 행하는 시험 공정(단계 S220)을 구비하고 있다. 이 도 18에 도시하는 RFID 태그 제조 방법이, 본 발명의 제조 방법의 일 실시형태에 해당하고, 작성 공정(단계 S210) 및 시험 공정(단계 S220)은, 각각 본 발명에서 말하는 작성 공정 및 시험 공정의 일례에 해당한다. 또한, 시험 공정(단계 S220)은, 본 발명의 시험 방법의 일 실시형태도 겸하고 있다. 여기서, 태그 롤(R)을 작성하는 작성 공정에 대해서는 공지되어 있기 때문에, 이 작성 공정의 상세한 것에 대해서는 설명을 생략한다.

도 19는 도 18의 시험 공정(단계 S220)의 상세한 흐름을 도시하는 흐름도이다. 또한, 이 도 19의 흐름도가 나타내는 시험 공정은, 상기 반송 장치(50)에 반송을 지시하는 커맨드를 보내는 처리(단계 S221)를 갖고 있는 점을 제외하고, 도 16의 흐름도가 나타내는 처리와 거의 동등하다. 이 때문에, 이 도 19에서는, 이 도 16의 흐름도에서의 처리 과정과 동등한 처리 과정에 대해서는 도 16과 동일한 부호가 붙여져 있고, 이하에서는, 이들 처리 과정에 대한 중복 설명을 생략한다.

이 도 19에 도시하는 초기화 처리(단계 S101')는, 도 16에 도시하는 초기화 처리(단계 S101)가, 리더 라이터에 초기화의 지시를 부여한 후 대기 상태가 되는 처리인 데 비하여, 그러한 대기 상태를 생략하고 다음 처리로 진행하는 처리이다. 또한, 그 단계 S101'에 잇따르는 단계 S102'의 처리는, 도 16에 도시하는 단계 S102의 처리가, 전력이 최대 설정값에 도달한 경우에는 초기화 처리(단계 S101)로 되돌아가는 처리인 데 비하여, 초기화 처리(단계 S101')로는 되돌아가지 않고 이하에 설명하는 단계 S221의 처리로 진행되는 처리이다.

단계 S221의 처리는, 현재, 스트립 라인 셀(100)의 위치에 있는 RFID 태그(T1)에 대해서 통신 한계 거리가 구해지고, 단계 S108의 처리를 거쳐 그 통신 한계 거리가 보존되었거나, 또는, 단계 S102'의 처리에서, 전력이 최대 설정값에 도달했다고 판정된 경우(단계 S102'에서의 Yes 판정)에 실행된다. 이 단계 S221의 처리에서는, 컴퓨터(60)는, 반송 장치(50)에, 태그 롤(R)의 중심축을, 배치 간격분의 반송에 해당하는 각도만큼 회전하도록 지시하는 커맨드(C3)를 보낸다. 반송 장치(50)가, 이 커맨드(C3)에 따라서 동작하면, 시험이 끝난 RFID 태그(T1)를 대신하여 미시험의 RFID 태그(T1)가 스트립 라인 셀(100)의 위치에 배치되게 된다.

이상으로, 도 1에서부터 도 17까지를 참조하여 설명한 제2 실시형태에 따르면, 복수의 RFID 태그(T1)에 대해서 효율적으로 시험할 수 있고, 나아가서는, 그러한 복수의 RFID 태그(T1)를 효율적으로 제조할 수 있다.

다음으로, 본 발명의 제3 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 20에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(3)는, 복수의 스트립 라인 셀을 구비하고 있는 점을 제외하면, 도 1에 도시하는 제1 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(1)와 동등하다. 이 때문에, 도 20에서는, 도 1과 동등한 구성 요소에 대해서는 도 1과 동일한 부호를 붙이고 있고, 이하에서는, 이들 구성 요소에 대한 중복 설명을 생략한다.

이 도 20에 도시하는 바와 같이, 제3 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(3)는, 서로 동등한 2개의 스트립 라인 셀(100)을 구비하고 있고, 각 스트립 라인 셀(100)은, 하나의 리더 라이터(80)에 구비된 2개의 급전부(이하, 포트라고 부름)(80a, 80b)의 각각에 제7 및 제8 케이블(81, 82)로 접속되어 있다. 여기서, 각 스트립 라인 셀(100)에는, 리더 라이터(80)의 각 포트로부터, 다음과 같이 서로 다른 타이 밍으로 전기 신호가 공급된다.

본 실시형태에서는, 2개의 스트립 라인 셀(100)을 사용한 시험이, 복수의 타임 슬롯으로 시분할되어 실행된다. 하나의 타임 슬롯에서는, 한쪽의 스트립 라인 셀(100)에 대해서, 어떤 설정 전력에 대응한 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신이 행해진다. 이 도 21에는, 상하 2단 각각에, 각 스트립 라인 셀(100)에 대응하는 타임 슬롯이 도시되어 있고, 각 타임 슬롯에는, 전기 신호의 공급 타이밍(t1)과 응답 신호의 수신 타이밍(t2)이 나타나 있다. 예컨대 타임 슬롯 n에서, 한쪽의 스트립 라인 셀(100)에 대해서, 어떤 설정 전력에 대응한 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신이 행해지면, 다음 타임 슬롯 n+1에서는, 다른쪽의 스트립 라인 셀(100)에 대해서, 타임 슬롯 n에서의 설정 전력과 동일한 설정 전력에 대응한 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신이 행해진다. 또한, 다음 타임 슬롯 n+2에서는, 타임 슬롯 n에서의 대상의 스트립 라인 셀(100)과 동일한 스트립 라인 셀(100)에 대해서, 다른 설정 전력에서의 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신이 행해지고, 잇따르는 타임 슬롯 n+3에서 다른 한쪽의 스트립 라인 셀(100)에 대해서, 그 다른 설정 전력에서의 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신이 행해진다. 이와 같이, 본 실시형태에서는, 2개의 스트립 라인 셀(100)에 대해서, 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신과의 세트가 교대로 실행된다. 이러한 교대 실행은, 미시적으로는 서로 타이밍이 어긋난 실행이지만, 사용자의 외관상, 즉 거시적으로는 동시 병 행의 실행이라고 할 수 있다. 즉, 본 실시형태에서는, 2개의 스트립 라인 셀(100)을 사용하여, 2개의 RFID 태그(T1)에 대한 성능 시험이 외관상 동시 병행으로 행해지게 되기 때문에 효율적이다.

다음으로, 본 발명의 제4 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 22에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(4)는, 도 20에 도시하는 제3 실시형태인 RFID 태그 시험 장치(3)에서의 2개의 스트립 라인 셀(100)과 이들 스트립 라인 셀(100)에 전기 신호를 공급하는 리더 라이터(80)와의 세트를 2세트 구비한 것이다. 이 때문에, 이 도 22에서는, 도 20과 동등한 구성 요소에 대해서는 도 20과 동일한 부호를 붙이고 있고, 이하에서는, 이들 구성 요소에 대한 중복 설명을 생략한다.

여기서, 상기 2세트 각각에서의 리더 라이터(80)가, 본 발명에서 말하는 공급기의 일례에 해당한다. 이들 2개의 리더 라이터(80) 각각은, 컴퓨터(90)에, 각각 제9 및 제10 케이블(91, 92)로 접속되어 있다. 여기서, 컴퓨터(90)는, 각 리더 라이터(80) 사이에서는, 도 21을 참조하여 설명한 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신이, 서로 동시 병행으로 행해지도록 2개의 리더 라이터(80)를 제어한다. 이 때문에, 본 실시형태에서는, 4개의 스트립 라인 셀(100)을 사용하여, 4개의 RFID 태그(T1)에 대한 성능 시험을 동시 병행으로 행할 수 있기 때문에 더 효율적이다. 여기서, 이들 4개의 스트립 라인 셀(100) 중 2개의 스트립 라인 셀(100)에 대해서 는, 서로 동일한 타이밍으로 전기 신호의 공급과 응답 신호의 수신이 행해지게 되지만, 각 스트립 라인 셀(100)에서의 준 TEM파가 도달하는 범위가 한정되어 있기 때문에 각 스트립 라인 셀(100) 상호간에서의 간섭 등을 피할 수 있다.

다음으로, 본 발명의 제5 실시형태에 대해서 설명한다.

이 제5 실시형태인 RFID 태그 시험 장치(5)는, 도 20에 도시하는 제3 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(3)가 구비하는 리더 라이터(80)와 동등한 리더 라이터를 구비하고 있다. 그래서, 이 도 23에서는 리더 라이터에 대해서 도 20과 동일한 부호가 붙여지고, 이하에서는 이 리더 라이터(80)에 대한 중복 설명을 생략한다.

본 실시형태에서는, 리더 라이터(80)의 2개의 포트(80a, 80b) 각각에는, 서로 거의 동등한 제1 및 제2 스트립 라인 셀(220, 230)이 후술하는 감쇠기(240)를 통해 직렬 접속되어 있다. 여기서, 이들 제1 및 제2 스트립 라인 셀(220, 230) 중 제2 스트립 라인 셀(230)은, 상술한 제1 내지 제4 실시형태에서 사용되고 있는 스트립 라인 셀(100)과 동일한 것이지만, 제1 스트립 라인 셀(220)은, 상기 도 4 등에 도시되어 있는 종단 저항(103)이 접속되어 있지 않고, 종단 커넥터가 입력 커넥터와 마찬가지로 케이스 밖으로 나온 구조로 되어 있다. 그리고, 제1 스트립 라인 셀(220)의 종단 커넥터와 제2 스트립 라인 셀(230)의 입력 커넥터 사이에 감쇠기(240)가 접속되어 있다. 감쇠기(240)는, 리더 라이터(80)가 제1 스트립 라인 셀(220)에 공급한 전기 신호를 미리 정해진 정도로 감쇠시켜 제2 스트립 라인 셀(230)에 전달하는 것으로, 본 발명에서 말하는 감쇠부의 일례에 해당한다.

또한, 이 제5 실시형태인 RFID 태그 시험 장치(5)는, 도 17에 도시하는 제2 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(2)와 마찬가지로, 태그 롤(R)에 포함되는 복수의 RFID 태그를 시험 대상으로 하고 있다. 단, 이 제5 실시형태인 RFID 태그 시험 장치(5)에서는, 하나의 태그 롤(R)에 대한 시험이, 리더 라이터(80)에서의 하나의 포트에 접속되어 있는 스트립 라인 셀의 세트를 사용하여 행해진다. 즉, 이 RFID 태그 시험 장치(5)는, 2개의 태그 롤(R)에 대한 시험을 동시 병행으로 행한다고 하는 기능을 갖고 있다. 여기서, 각 포트에 접속되어 있는 스트립 라인 셀의 세트는 서로 동등하며, 각 세트를 사용하여 행해지는 시험도 동등하기 때문에, 이하에서는, 스트립 라인 셀의 2개의 세트 중 한쪽 세트에 주목하여 설명한다.

이 도 24에서는, 시험 대상인 태그 롤(R)이, 도면을 보기 쉽게 하기 위해서 2개의 스트립 라인 셀(220, 230)로부터 떨어진 위치에 기재되어 있으나, 실제로는, 도면 중에 점선으로 나타내는 바와 같이, 태그 롤(R)은 2개의 스트립 라인 셀(220, 230)에 접하도록 배치된다. 또한, 이 도 24에는, 태그 롤(R)의 회전축을 화살표 D3 방향으로 회전시킴으로써 태그 롤(R)의 각 RFID 태그(T1)를 화살표 D4가 나타내는 반송 방향으로 반송하여, 각 RFID 태그(T1)를, 2개의 스트립 라인 셀(220, 230) 각각에 대해서 순차적으로 배치하는, 도 23에서는 도시가 생략되어 있는 반송 장치(250)도 도시되어 있다.

이 도 24에 도시하는 바와 같이, 이 RFID 태그 시험 장치(5)에서는, 2개의 스트립 라인 셀(220, 230)이, 화살표 D4가 나타내는 반송 방향의 상류측으로부터, 제1 스트립 라인 셀(220), 제2 스트립 라인 셀(230)의 순으로, 이 반송 방향을 따라서 배치되어 있다. 또한, 2개의 스트립 라인 셀(220, 230)의 간격(L4)은, 태그 롤(R)에서의 RFID 태그(T1)의 배치 간격(L3)의 3배로 되어 있다.

이 도 25에 도시하는 RFID 태그 제조 방법은, 도 18에 도시하는 작성 공정과 동등한 작성 공정(단계 S210)과, 태그 롤(R)의 각 RFID 태그(T1)에 대해서 통신 한계 거리를 RFID 태그 시험 장치(5)를 사용하여 구하는 성능 시험을 행하는 시험 공정(단계 S300)을 구비하고 있다. 이 도 25에 도시하는 RFID 태그 제조 방법은, 본 발명의 제조 방법의 일 실시형태에 해당하고, 상기 시험 공정(단계 S300)은, 본 발명에서 말하는 시험 공정의 일례에 해당하며, 본 발명의 시험 방법의 일 실시형태도 겸하고 있다.

도 26은 도 25의 시험 공정(단계 S300)의 상세한 흐름을 도시하는 흐름도이다.

이 도 26의 흐름도가 나타내는 처리는, 도 23 및 도 24에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(5)에 태그 롤(R)이 세트되고, 사용자가, 컴퓨터(210)에 대해서 미리 정해진 조작을 통해 성능 시험의 시작을 지시하면 시작한다. 처리가 시작되면, 우선, 컴퓨터(210)가, 리더 라이터(80)에 대해서 상기 초기화 처리의 실행을 지시한 다(단계 S301).

다음으로, 리더 라이터(80)에 대해서, 전력의 설정값을, 제1 스트립 라인 셀(220)에서는 RFID 태그(T1)가 수신 가능한 출력으로 전파 신호가 발신되고, 감쇠기(240)를 통해 전기 신호가 전달되는 제2 스트립 라인 셀(230)에서는 RFID 태그(T1)가 수신 불가능한 낮은 출력으로 전파 신호가 발신되는 것과 같은 설정값으로 하도록 지시하는 커맨드(C4)가 보내진다(단계 S301). 계속해서, 시험 대상인 RFID 태그(T1)에 UID를 요구하는 제1 요구 신호를 제1 스트립 라인 셀(220)에 공급하라는 취지를 지시하는 커맨드(C5)가 리더 라이터(80)에 보내진다(단계 S302). 이 단계 S302의 처리와, 그 전의 단계 S301의 처리를 합한 처리는, 본 발명에서 말하는 공급 과정의 일례에 해당한다. 또한, 본 실시형태에서의 UID가, 본 발명에서 말하는 식별 정보의 일례에 해당하고, 이 UID를 나타내는 응답 신호(S2)를 취득하는 컴퓨터(210)가, 본 발명에서 말하는 식별 정보 취득부의 일례에 해당한다.

리더 라이터(80)는, 상기 설정된 전력을 갖는 제1 요구 신호를 제1 스트립 라인 셀(220)에 공급한다. 또한, 이 제1 요구 신호는, 감쇠기(240)를 통해 제2 스트립 라인 셀(230)에도 공급된다. 이때, 제1 요구 신호의 전력이 상기와 같은 설정값으로 설정되어 있기 때문에, 제1 스트립 라인 셀(220)에 대해서 배치되어 있는 RFID 태그(T1)만이 이 제1 요구 신호에 따른 전파 신호를 수신할 수 있게 된다. 그리고, 이 RFID 태그(T1)로부터 응답 신호(S2)의 회신이 있었던 경우에는, 리더 라이터(80)는, 그 응답 신호(S2)를 제1 스트립 라인 셀(220)을 통해 수신하여 컴퓨터(210)에 보낸다.

한편, 컴퓨터(210)는, 단계 S303 후, 대기 상태로 이행하고(단계 S304), 그 후, 리더 라이터(80)로부터 응답 신호(S2)가 보내져 왔는지의 여부가 판정된다(단계 S305). 그리고, 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S2)가 보내져 온 경우(단계 S305에서의 Yes 판정)에는, 그 응답 신호(S2)가 나타내는 UID가 미리 정해진 메모리에 일시적으로 기억되고(단계 S306), 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S2)가 보내져 와 있지 않은 경우(단계 S305에서의 No 판정)에는, 그 취지를 나타내는 BAD 플래그가 일시적으로 기억된다(단계 S307).

UID의 일시 기억(단계 S306) 또는 BAD 플래그의 일시 기억(단계 S307)이 종료되면, 컴퓨터(210)는, 태그 롤(R)의 중심축을, 배치 간격(L3)분의 반송에 해당하는 각도 만큼 회전하도록 지시하는 커맨드(C6)를 반송 장치(250)에 보낸다(단계 S308). 그리고, 이 커맨드(C6)의 송신 후, 컴퓨터(210)는, 일시 기억되어 있던 상기 UID 또는 BAD 플래그를, 자신이 구비하고 있는, 선입 선출 방식으로 정보를 저장하는 FIFO 메모리에 저장한다(단계 S309). 여기서, 이 FIFO 메모리가, 본 발명에서 말하는 FIFO 메모리의 일례에 해당한다.

여기서, 상기 FIFO 메모리의 버퍼단수, 즉, 이 FIFO 메모리가 기억할 수 있는 정보의 수는, 제1 스트립 라인 셀(220)로부터 제2 스트립 라인 셀(230)까지 RFID 태그(T1)가 이동하기 위한 반송 횟수이다. 본 실시형태에서는, 도 24로부터 알 수 있듯이 이 반송 횟수가 3회로 되어 있기 때문에, FIFO 메모리의 버퍼단수는 3단으로 설정되어 있다.

단계 S309에서의 FIFO 메모리로의 정보의 저장이 종료되면, 현재, FIFO 메모 리의 버퍼가 채워져 있는지의 여부가 판정된다(단계 S310). 버퍼의 빈 공간이 있는 경우(단계 S310에서의 No 판정), 단계 S302까지 처리가 되돌아가, 단계 S302로부터 단계 S310까지의 처리가 반복된다. 이 처리는, FIFO 메모리의 버퍼가 채워질 때까지(단계 S310에서의 Yes 판정) 계속된다.

FIFO 메모리의 버퍼가 채워져 있었던 경우에는, FIFO 메모리로부터 정보가 독출되고, 그 정보가 BAD 플래그인지의 여부가 판정된다(단계 S311). 그 정보가 BAD 플래그였던 경우(단계 S311에서의 Yes 판정), 단계 S302까지 처리가 되돌아가, 단계 S302로부터 단계 S311까지의 처리가 반복된다.

한편, 그 정보가 BAD 플래그가 아니라 UID였던 경우(단계 S311에서의 No 판정), 현재, 리더 라이터(80)에서 설정되어 있는 전기 신호의 전력이 최대 설정값으로 되어 있는지의 여부가 판정된다(단계 S312). 단계 S311에 의한 판정 직후에서는, 전력의 설정값은 최대 설정값이 아니므로(단계 S312에서의 No 판정), 다음 단계 S313의 처리로 진행된다.

단계 S313의 처리에서는, 리더 라이터(80)에서의 전력의 설정값으로서, 현재의 설정값에 미리 정해진 피치분의 증가분만큼 증가시킨 값이 산출되고, 그 산출 결과를, 제1 스트립 라인 셀(220)에 공급하는 전기 신호의 전력으로 설정하도록 지시하는 커맨드(C7)가 리더 라이터(80)에 보내진다. 다음으로, FIFO 메모리로부터 독출된 UID가 식별하는 RFID 태그(T1)에 대해서 미리 정해진 반응을 요구하는 제2 요구 신호를 제1 스트립 라인 셀(220)에 공급하라는 취지를 지시하는 커맨드(C8)가 리더 라이터(80)에 보내진다(단계 S314). 이 단계 S314의 처리와, 그 전의 단계 S313의 처리를 합한 처리도, 본 발명에서 말하는 공급 과정의 일례에 해당한다.

리더 라이터(80)는, 상기 설정된 전력을 갖는 제2 요구 신호를 제1 스트립 라인 셀(220)에 공급한다. 또한, 이 제2 요구 신호는, 감쇠기(240)를 통해 제2 스트립 라인 셀(230)에도 공급된다. 여기서, 이 제2 요구 신호가 반응을 요구하고 있는 RFID 태그(T1)는, 제1 스트립 라인 셀(220)의 위치에서 UID를 나타내는 응답 신호(S2)를 회신한 후, 단계 S308에 의한 반송이 3회 반복됨으로써, 제2 요구 신호가 제1 스트립 라인 셀(220)에 공급된 시점에서는, 제2 스트립 라인 셀(230)의 위치에 배치되어 있다. 또한, 이때 제1 스트립 라인 셀(220)의 위치에는 이 RFID 태그(T1)와는 UID가 상이한 다른 RFID 태그(T1)가 배치되어 있다. 이 때문에, 제2 요구 신호는 제1 및 제2 스트립 라인 셀(220, 230)의 양쪽으로부터 발신되지만, 그 제2 요구 신호에 대해서 반응할 가능성이 있는 것은 제2 스트립 라인 셀(230)의 위치의 RFID 태그(T1)만이 된다.

컴퓨터(210)는, 단계 S314 후에는 대기 상태로 이행하고(단계 S315), 그 후, 리더 라이터(80)로부터 RFID 태그(T1)의 반응에 기초하는 응답 신호(S3)가 보내져 왔는지의 여부가 판정된다(단계 S316). 이 단계 S316의 처리와, 그 전의 단계 S315의 처리를 합한 처리는, 본 발명에서 말하는 반응 확인 과정의 일례에 해당한다.

리더 라이터(80)로부터 응답 신호(S3)가 보내져 와 있지 않은 경우(단계 S316에서의 No 판정), 단계 S312까지 되돌아가, 이 단계 S312로부터 단계 S316까지의 처리가 반복된다. 이 반복은, 전력의 설정값이 최대 설정값에 도달했거나(단계 S312에서의 Yes 판정), 리더 라이터(80)로부터 응답 신호(S3)가 보내져 올 때까지(단계 S316에서의 Yes 판정) 계속된다.

리더 라이터(80)로부터 응답 신호(S3)가 보내져 오면, 컴퓨터(210)는, 그 응답 신호가 보내져 왔을 때의 전력의 설정값을, 상술한 전력에 대한 거리의 대응 관계를 사용하여 통신 한계 거리로 환산하고(단계 S317), 그 통신 한계 거리를 제2 요구 신호의 기초가 된 UID와 대응시켜 미리 정해진 메모리에 보존한다(단계 S318). 이 단계 S318을 거쳐 통신 한계 거리의 보존이 종료되거나, 응답 신호(S3)가 보내져 오지 않고서 전력의 설정값이 최대 설정값에 도달한 경우(단계 S312에서의 Yes 판정)에는, 처리가 단계 S302까지 되돌아가 시험이 계속된다.

이상, 도 26의 흐름도를 참조하여 설명한 시험 공정에 대해서, 약간 반복되긴 하지만, 상기 도 24와, 다음의 도 27을 참조하여 더 설명한다.

상기 도 24에 도시하는 바와 같이 태그 롤(R)의 RFID 태그(T1)를, 반송 방향(화살표 D4) 하류측으로부터 태그 A, 태그 B, 태그 X, 태그 D, 태그 X라고 부른다. 여기서, 2개의 태그 X는 모두 고장품이라고 하자. 그리고, 상기 시험 공정은, 태그 롤(R)이, 제1 스트립 라인 셀(220)의 위치에 태그 A가 배치되도록 RFID 태그 시험 장치(5)에 세트되면 시작하는 것으로 한다. 이 경우, 도 27에 도시하는 바와 같이 시험 공정의 시작 시점(T0)에서는, 제2 스트립 라인 셀(230)의 위치는 빈 상태로 되어 있다.

여기서, 리더 라이터(80)로부터 공급되는 UID를 요구하는 제1 요구 신호에 기초하여 제1 스트립 라인 셀(220)이 발신하는 전파 신호에서의 전계 강도를 예컨대 130 dBμV/m로 하고, 감쇠기(240)에 의한 감쇠량을 10 dB로 하면, 감쇠 후의 제1 요구 신호에 기초하여 제2 스트립 라인 셀(230)이 발신하는 전파 신호에서의 전계 강도는 120 dBμV/m가 된다. 이때, 시험 대상인 RFID 태그(T1)가 수신 가능한 최소의 전계 강도가 125 dBμV/m였다고 하면, T0의 시점에서는, 제1 스트립 라인 셀(220)의 위치에 배치된 태그 A가 응답 신호를 회신하게 된다. 이러한 처리가, 태그 A가 제2 스트립 라인 셀(230)의 위치에 배치되는 시점(T3)까지 실행되며, 그 동안, 제1 스트립 라인 셀(220)로부터는 130 dBμV/m의 전계 강도를 갖는 전파 신호가 계속 발신되고, 제2 스트립 라인 셀(230)로부터는 120 dBμV/m의 전계 강도를 갖는 전파 신호가 계속 발신된다. 또한, 이 시점(T3)에서는, 제2 스트립 라인 셀(230)의 위치에 배치된 태그 A에 대해서 120 dBμV/m의 전계 강도를 갖는 전파 신호가 발신되지만, 이 전파 신호의 전계 강도는 태그 A가 수신 가능한 최소의 전계 강도를 하회하고 있기 때문에 태그 A는 무반응이 된다. 이 시점(T3) 이후, 2개의 스트립 라인 셀(220, 230)의 양쪽의 위치에 RFID 태그(T1)가 배치되고, 이들 2개의 RFID 태그의 양쪽에 대해서 전파 신호가 발신되게 되지만, UID를 요구하는 제1 요구 신호에 기초하는 전파 신호는 제1 스트립 라인 셀(220)의 위치에 배치된 RFID 태그(T1)만으로 수신되게 된다.

다음으로, 상기 시점(T3) 이후, 제1 요구 신호에 기초하는 처리에 이어서, 그 UID를 지정한 제2 요구 신호에 기초하는 처리가, 전력을 서서히 증가시키면서, 즉, 각 스트립 라인 셀이 발신하는 전파 신호의 전계 강도를 증가시키면서 실행된다. 이 처리의 시작 시점에서는, 제1 스트립 라인 셀(220)은 130 dBμV/m의 전계 강도를 갖는 전파 신호를 발신하고, 제2 스트립 라인 셀(230)은 120 dBμV/m의 전계 강도를 갖는 전파 신호를 발신한다. 상술한 바와 같이, 여기서의 예에서는, RFID 태그(T1)가 수신 가능한 최소의 전계 강도는 125 dBμV/m이기 때문에, 제1 스트립 라인 셀(220)의 위치의 RFID 태그(T1)는 처리 중에는 항상 수신 가능하다. 그러나, 이 UID를 지정한 처리는, UID를 취득한 RFID 태그(T1)가 제2 스트립 라인 셀(230)의 위치에 배치된 시점에서, 그 취득된 UID를 사용하여 행해진다. 따라서, 제1 스트립 라인 셀(220)의 위치의 RFID 태그(T1)는 UID가 불일치하기 때문에 무반응이 된다. 여기서, 전계 강도의 증가분을 최대로 10 dB로 하면, 처리 중에는 제2 스트립 라인 셀(230)이 발신하는 전파 신호의 전계 강도는, 최대로 120 dBμV/m에서 130 dBμV/m까지 변화한다. 그리고, 전파 신호의 전계 강도가, RFID 태그(T1)의 수신 가능한 강도인 125 dBμV/m에 도달하면, 그때에 제2 스트립 라인 셀(230)의 위치에 배치되어 있는 RFID 태그(T1)가 정상적인 태그(여기서의 예에서는, 태그 A, 태그 B, 태그 C, 태그 D)이면 반응하여, 이들 RFID 태그(T1)에 대해서 통신 한계 거리가 구해지게 된다.

이상, 도 23 내지 도 27을 참조하여 설명한 제5 실시형태에 따르면, 통신 한계 거리를 구하는 성능 시험이, UID를 지정하여 행해지기 때문에, 성능 시험 중인 RFID 태그(T1) 근방에 존재하는 다른 RFID 태그(T1)가 잘못 반응해 버리는 등과 같은 문제점이 회피되어, 보다 정확한 시험을 행할 수 있다.

다음으로, 본 발명의 제6 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 28에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(6)는, 도 1에 도시하는 제1 실시형태의 리더 라이터(20) 및 스트립 라인 셀(100)과 동등한 리더 라이터 및 스트립 라인 셀을 구비하고 있으며, 도 28에서는, 이들 리더 라이터 및 스트립 라인 셀에 도 1과 동일한 부호가 붙여져 있고, 이하에서는, 이들에 대한 중복 설명을 생략한다.

리더 라이터(20)는, 컴퓨터(310)에, 제11 케이블(311)로 접속되어 있고, 또한, 이 리더 라이터(20)는, 감쇠량을 미리 정해진 조작자(320a)에 대한 수동 조작으로 변경 가능한 가변 감쇠기(320)를 통해 스트립 라인 셀(100)에 접속되어 있다. 여기서, 이 가변 감쇠기(320)가, 본 발명에서 말하는 전달부의 일례에 해당한다.

컴퓨터(310)는, 리더 라이터(20)에 대해서, 미리 정해진 반응을 요구하는 요구 신호를 스트립 라인 셀(100)에 예컨대 27 dBm라고 하는 미리 정해진 설정 전력으로 공급하도록 지시하는 커맨드를 송신한다. 그리고, 그 커맨드에 따라서, 리더 라이터(20)가 공급하는 전기 신호는, 가변 감쇠기(320)에서의 감쇠를 거쳐 스트립 라인 셀(100)에 전달된다. 그리고, 그 감쇠 후의 전기 신호에 기초하여 스트립 라인 셀(100)이 발신하는 전파 신호에 시험 대상인 RFID 태그(T1)가 반응했는지의 여부가, 리더 라이터(20)로부터 컴퓨터(310)에 통지된다. 통지된 결과는, 컴퓨터(310)가 갖는 도시하지 않은 표시 화면에 표시된다.

여기서, 상기 가변 감쇠기(320)에는, 서로 다른 감쇠량을 나타내는 복수의 눈금이 기록되어 있는데, 그 감쇠량의 눈금에 인접하여, 상술한 제1 실시형태에서의 준비 작업에서 사용된, 도 12에 도시하는 전파 암실(41) 내에서의 안테나(46)로부터의 거리를 나타내는, 서로 다른 거리를 나타내는 복수의 거리의 눈금이 기록되어 있다. 그리고, 사용자가, 조작자(320a)를 어느 하나의 거리의 눈금으로 설정하면, 리더 라이터(20)가 공급하는 전기 신호의 전력을, 그 설정된 눈금이 나타내는 거리에서의 전파 신호의 출력과 동등한 출력의 전파 신호를 스트립 라인 셀(100)에서 발신하는 데 필요한 전력으로 변환하여 그 스트립 라인 셀(100)에 전달한다.

여기서, 가변 감쇠기(320)에서의 거리의 눈금은, 다음과 같은 절차를 거쳐 가변 감쇠기(320)에 기록된 것이다. 우선, 제1 실시형태에서의 준비 작업과 마찬가지로, 도 12에 도시하는 전파 암실(41) 내에서의 계측 작업에 의해, 안테나(46)로부터의 거리와, 그 거리에서의 전계 강도와의 대응 관계가 구해진다.

이 도 29에 도시하는 그래프(G3)는, 세로축에 전계 강도가 취해지고, 가로축에 거리가 취해지고 있다.

거리의 눈금을 구하는 작업에서는, 상기 전파 암실(41) 내에서의 계측 작업에 의해, 안테나(46)로부터의 거리와, 그 거리에서의 전계 강도와의 대응 관계가 구해지면, 우선, 그 대응 관계가 그래프(G3)에 플롯된다. 이 도 29의 예에서는, 이 대응 관계가 사각형으로 플롯되어 있다. 다음으로, 가변 감쇠기(320)에 거리의 눈금이 기록되어 있지 않은 상태의 RFID 태그 시험 장치(6)에 있어서, 상기한 바와 같이 리더 라이터(20)로부터 예컨대 27 dBm라고 하는 미리 정해진 설정 전력으로 전기 신호를 스트립 라인 셀(100)에 공급한다. 그리고, 그때에 스트립 라인 셀(100)이 발신하는 전파 신호에서의 전계 강도를 표준 다이폴 안테나를 사용하여 계측하면서 가변 감쇠기(320)의 조작자(320a)를 조작하여, 그래프(G3)에서의 사각형의 각 플롯점에 대해서, 그 플롯점의 전계 강도와 거의 동등한 전계 강도가 얻어지는 감쇠량의 눈금이 구해진다. 이 도 29의 예에서는, 그래프(G3)의 가로축에서의 각 거리의 상측에, 그 거리에 대응하는 플롯점에 대해서 구해진 감쇠량의 눈금이 기록되어 있다. 또한, 이 그래프(G3)에는, 가변 감쇠기(320)의 조작에 의해 얻어진 감쇠량의 눈금과 전계 강도와의 대응 관계가 마름모형으로 플롯되어 있다. 여기서, 이 그래프(G3)에서는, 2종류의 플롯점이 그다지 일치하고 있지 않은 부분이 보여지는데, 이것은, 사각형으로 플롯되어 있는 거리와 전계 강도의 대응 관계가, 전파 암실(41) 내에서의 반사 등에 기인하는 오차를 포함하고 있기 때문이다. 실제로는, 계측으로 구한 거리와 전계 강도의 대응 관계로부터 이러한 영향을 제거하는 보정이 행해지고, 예컨대 도 15에 도시하는 그래프(G2)에서 사각형으로 플롯되어 있는 것과 같은 보정 후의 대응 관계가 사용된다.

이상, 설명한 바와 같은 작업을 거쳐 안테나(46)로부터의 거리에 대응하는 감쇠량의 눈금이 구해지면, 가변 감쇠기(320)에서의 감쇠량의 눈금 옆에 그 눈금에 대응하는 거리를 기재한다. 이에 따라, 거리의 눈금이 기재된 가변 감쇠기(320)가 얻어지고, 도 28의 RFID 태그 시험 장치(6)가 완성된다.

그리고, 사용자는, 그 완성된 RFID 태그 시험 장치(6)의 스트립 라인 셀(100)에 시험 대상인 RFID 태그(T1)를 탑재하고, 컴퓨터(310)의 표시 화면에서의 응답의 유무에 대한 표시를 눈으로 확인하면서, 조작자(320a)를 조작하여, 전계 강도를 증가시켰을 때에 맨 처음으로 반응이 나타났을 때의 거리의 눈금, 또는, 전계 강도를 감소시켰을 때에 맨 처음으로 반응이 없어졌을 때의 거리의 눈금을, 그 RFID 태그(T1)의 통신 한계 거리로서 채용한다.

이상, 설명한 바와 같이 제6 실시형태에 따르면, 시험 대상인 RFID 태그(T1)의 통신 한계 거리를, 간단한 수동 조작에 의해 구할 수 있다.

다음으로, 본 발명의 제7 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 30에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(7)는, 도 28에 도시하는 제6 실시형태의 스트립 라인 셀(100)과 동등한 제1 및 제2 스트립 라인 셀(330, 340)과, 그 제6 실시형태의 가변 감쇠기(320)와 동등하지만 감쇠량의 눈금만이 기재된 제1 및 제2 가변 감쇠기(350, 360)가 구비되어 있는 점을 제외하면, 이 제6 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(6)와 동등하다. 그래서, 이 도 30에서는, 도 28의 구성 요소와 동등한 구성 요소에는 도 28과 동일한 부호가 붙여져 있고, 이하에서는, 이들 구성 요소에 대한 중복 설명을 생략한다.

도 30에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(7)에서는, 제1 가변 감쇠기(350)가 리더 라이터(20)와 제1 스트립 라인 셀(330) 사이에 접속되고, 제2 가변 감쇠 기(360)가 2개의 스트립 라인 셀(330, 340) 사이에 접속되어 있다. 여기서, 제1 스트립 라인 셀(330) 및 제2 스트립 라인 셀(340)은, 각각 본 발명에서 말하는 제1 스트립 라인 셀 및 제2 스트립 라인 셀의 각 일례에 해당하고, 제1 가변 감쇠기(350) 및 제2 가변 감쇠기(360)는, 각각 본 발명에서 말하는 전달부 및 제2 전달부의 각 일례에 해당한다.

도 30에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(7)는, 예컨대, 이하와 같이 운용된다.

예컨대, RFID 태그는, 일반적으로, 미리 정해진 하한 전계 강도 이상의 전계 강도를 갖는 전파 신호를 수신할 수 있고, 또한 미리 정해진 상한 전계 강도까지라면 파손되지 않고서 전파 신호를 수신할 수 있다고 하는, 수신 가능한 전계 강도의 허용 범위를 갖고 있다. 그래서, 시험 대상인 RFID 태그(T1)가, 이러한 전계 강도에 대한 허용 범위를 확실히 갖고 있는지의 여부를 확인한다고 하는 성능 시험이 행해지고 있다.

도 30에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(7)는, 우선, 컴퓨터(310)에 있어서, 제1 스트립 라인 셀(330)이 상한 전계 강도의 전파 신호를 발신하는 데 필요로 하는 설정값을 초과하는 설정값으로 전력을 설정하도록 리더 라이터(20)에 대해서 지시가 이루어진다. 그리고, 제1 가변 감쇠기(350)의 감쇠량이, 제1 스트립 라인 셀(330)에서 상한 전계 강도의 전파 신호가 발신되는 감쇠량으로 설정되고, 제2 가변 감쇠기(360)의 감쇠량이, 제2 스트립 라인 셀(330)에서 하한 전계 강도의 전파 신호가 발신되는 감쇠량으로 설정된다. 그리고, 사용자는, 시험 대상인 RFID 태 그(T1)를, 제1 스트립 라인 셀(330)과 제2 스트립 라인 셀(340)에 교대로 배치하여 각 스트립 라인 셀로부터의 전파 신호에 노출시키면서, 컴퓨터(310)의 도시하지 않은 표시 화면으로, RFID 태그(T1)의 반응의 유무를 확인한다.

이상, 설명한 제7 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(7)에 따르면, 상기와 같은 일련의 작업에 의해, 시험 대상인 RFID 태그(T1)가, 상기 허용 범위를 확실히 갖고 있는지의 여부를 간단히 확인할 수 있다.

다음으로, 본 발명의 제8 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 31에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(8)는, RFID 태그에서의, 전파 신호의 주파수와 통신 한계 거리와의 대응 관계로 정의되는 주파수 특성을 얻기 위한 장치라고 하는 점을 제외하면, 도 1에 도시하는 제1 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(1)와 동등하다. 이 때문에, 도 31에서는, 도 1과 동등한 구성 요소에 대해서는 도 1과 동일한 부호를 붙이고 있고, 이하에서는, 이들 구성 요소에 대한 중복 설명을 생략한다.

여기서, RFID 태그에 대해서 주파수 특성을 취득하는 것의 필요성에 대해서 설명한다.

상술한 바와 같이, RFID 태그는 여러 물품에 부착되어 사용되는 경우가 많다. 그 결과, RFID 태그가 수신하는 전파 신호는, 그러한 물품 너머로 RFID 태그에 도달하는 경우가 있다. 또한, RFID 태그가 물품에 부착될 때에는, RFID 태그 자체의 보호를 위해 RFID 태그 전체를 덮는 피복이 마련되는 경우도 있다. 여기서, 전파 신호의 주파수는, 전파 경로 상에 있는 물체의 비유전율 등의 영향을 받아 변화하는 것이 알려져 있다. 그래서, 이와 같이 전파 신호에 대해서 영향이 있는 환경하에서의 사용이 상정되는 RFID 태그의 설계는, 사용 환경에 따른 영향을 예상하여, 상정되는 통신 주파수에서 최대의 안테나 이득이 얻어지도록 행해진다. 따라서, 이러한 RFID 태그의 제조 시에는, 제조된 RFID 태그가, 설계 시의 예상대로의 주파수 특성을 갖고 있는지의 여부를 검증할 필요가 있어, 주파수 특성의 취득이 필수적이다.

도 31에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(8)는, 이 주파수 특성을 얻기 위한 장치이며, 도 16을 참조하여 설명한 성능 시험이, RFID 태그(T1)의 통신 주파수인 953 ㎒를 포함하는, 800 ㎒에서부터 1040 ㎒까지의 주파수 범위에 걸친 각 주파수에 대해서 실행된다. 본 실시형태에서는, 컴퓨터(410)가, 후술하는 처리의 흐름을 따라 리더 라이터(20)를 제어함으로써 실현되고 있다. 이 컴퓨터(410)도, 본 발명에서 말하는 반응 확인부의 일례에 해당한다.

그런데, 이러한 시험이 가능해지기 위해서는, RFID 태그를 향하여 전파 신호를 발생하는 스트립 라인 셀의 출력이, 상기 주파수 범위에 걸쳐 안정적인 것이 바람직하다. 여기서, 본 실시형태나 다른 실시형태에도 사용되고 있는 스트립 라인 셀(100)의 주파수에 대한 출력 특성이 안정된 것이 실험에 의해 확인되어 있다.

도 32는 스트립 라인 셀(100)의 주파수에 대한 출력 특성을 도시하는 그래프이다.

이 도 32에 도시하는 그래프(G4)는, 세로축에 삽입 손실이 취해지고, 가로축에 주파수가 취해지고 있다. 삽입 손실은, 입력에 대한 출력의 감쇠량을 나타내는 것이며, 이 스트립 라인 셀(100)의 출력이라고 바꿔 읽을 수 있다. 그래프(G4)에는, 800 ㎒에서부터 1040 ㎒까지의 주파수 범위에 걸친 삽입 손실의 변동이 기재되어 있다. 이 도 32로부터 알 수 있듯이, 스트립 라인 셀(100)에서의 삽입 손실은, 이 주파수 범위에 걸쳐 대략 「1.0」 전후로 안정되어 있기 때문에, 이 스트립 라인 셀(100)의 출력이, 상기 주파수 범위에 걸쳐 안정되어 있다고 할 수 있다.

본 실시형태에서는, 이와 같이 주파수에 대해서 안정된 출력 특성을 갖는 스트립 라인 셀(100)을 사용하여, RFID 태그(T1)의 주파수 특성이 다음과 같이 취득된다.

여기서, 이 도 33의 흐름도가 나타내는 처리도, 본 발명의 시험 방법의 일 실시형태에 해당한다.

이 도 33의 흐름도가 나타내는 처리는, 사용자가, 컴퓨터(410)에 대해서 미리 정해진 조작을 통해 성능 시험의 시작을 지시하면 시작한다. 처리가 시작되면, 우선, 컴퓨터(410)는, 리더 라이터(20)에 대해서, 스트립 라인 셀(100)에 공급하는 전기 신호의 전력을 0 dBm로 설정하고, 주파수를 770 ㎒로 설정한다. 또한, 초기화 처리의 실행을 지시한 후 대기 상태가 된다(단계 S401). 그리고, RFID 태그 시험 장치(8)의 스트립 라인 셀(100)에 시험 대상인 RFID 태그(T1)가 배치되고, 사용 자가, 컴퓨터(410)에 대해서 미리 정해진 조작을 통해 이 RFID 태그(T1)에 대한 성능 시험의 시작을 지시하면 다음 단계(단계 S402)로 진행된다.

단계 S402에서는, 현재, 리더 라이터(20)에서 설정되어 있는 전기 신호의 주파수가 최대 설정값(본 실시형태에서는 1040 ㎒)으로 되어 있는지의 여부가 판정된다. 그러나, 단계 S401의 초기화 처리 직후에서는, 주파수의 설정값은 최대 설정값이 아니므로(단계 S402에서의 No 판정), 다음 단계 S403의 처리로 진행된다.

단계 S403의 처리에서는, 리더 라이터(20)에서의 주파수의 설정값으로서, 현재의 설정값에 미리 정해진 피치분의 증가분(본 실시형태에서는 30 ㎒)만큼 증가시킨 값이 산출되고, 그 산출 결과를, 스트립 라인 셀(100)에 공급하는 전기 신호의 주파수로 설정하는 커맨드(C11)가 리더 라이터(20)에 보내진다.

계속해서, 현재, 리더 라이터(20)에서 설정되어 있는 전기 신호의 전력이 최대 설정값(본 실시형태에서는 25.5 dBm)으로 되어 있는지의 여부가 판정된다(단계 S404). 그러나, 단계 S401의 초기화 처리 직후에서는, 전력의 설정값은 최대 설정값이 아니므로(단계 S404에서의 No 판정), 다음 단계 S405의 처리로 진행된다.

단계 S405의 처리에서는, 리더 라이터(20)에서의 전력의 설정값으로서, 현재의 설정값에 미리 정해진 피치분의 증가분(본 실시형태에서는 0.5 dB)만큼 증가시킨 값이 산출되고, 그 산출 결과를, 스트립 라인 셀(100)에 공급하는 전기 신호의 전력으로 설정하는 커맨드(C12)가 리더 라이터(20)에 보내진다.

단계 S403 및 단계 S405의 처리에서 전력 및 주파수가 설정되면, 다음으로, 시험 대상인 RFID 태그(T1)에 UID를 요구하는 요구 신호를 스트립 라인 셀(100)에 공급하라는 취지를 지시하는 커맨드(C13)가 리더 라이터(20)에 보내진다(단계 S406).

이 단계 S404의 처리, 그 전의 단계 S403, 및 단계 S405의 처리를 합한 처리는, 본 발명에서 말하는 공급 과정의 일례에 해당한다.

리더 라이터(20)는, 상기 설정된 주파수와 전력을 갖는 요구 신호를 스트립 라인 셀(100)에 공급한다. 그리고, 이 요구 신호에 대해서 UID를 나타내는 응답 신호(S11)의 출력이 RFID 태그(T1)로부터 있었던 경우에는, 리더 라이터(20)는, 그 응답 신호(S11)를 스트립 라인 셀(100)을 통해 수신하여 컴퓨터(410)에 보낸다.

한편, 컴퓨터(410) 쪽은, 단계 S404 후, 미리 정해진 시간의 대기 상태로 이행한다(단계 S407). 그리고, 그 미리 정해진 시간 경과 후, 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S11)가 보내져 왔는지의 여부가 판정된다(단계 S408). 이 단계 S408의 처리와, 그 전의 단계 S407의 처리를 합한 처리가, 본 발명에서 말하는 반응 확인 과정의 일례에 해당한다. 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S11)가 보내져 와 있지 않은 경우(단계 S408에서의 No 판정), 단계 S404까지 되돌아가, 이 단계 S404로부터 단계 S408까지의 처리가 반복된다. 이 반복은, 전력의 설정값이 최대 설정값에 도달하거나(단계 S404에서의 Yes 판정), 리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S11)가 보내져 올 때까지(단계 S407에서의 Yes 판정) 계속된다.

리더 라이터(20)로부터 응답 신호(S11)가 보내져 오면, 컴퓨터(410)는, 그 시점에서의 전력의 설정값을, 상술한 전력에 대한 거리의 대응 관계를 사용하여 통신 한계 거리로 환산한다(단계 S409).

단계 S407의 처리에서, 시험 대상인 RFID 태그(T1)에 대해서 이러한 통신 한계 거리가 구해지면, 컴퓨터(410)는, 그 통신 한계 거리를, 그 시점에서의 주파수, 및 RFID 태그(T1)로부터의 응답 신호(S11)가 나타내는 UID와 대응시켜 미리 정해진 메모리에 보존한다(단계 S410). 계속해서, 전력의 설정값이 초기화되고(단계 S411), 처리가 단계 S402까지 되돌아간다.

단계 S402까지 처리가 되돌아가면, 그 후, 이 단계 S402로부터 단계 S410까지의 처리가 반복되고, 먼저 통신 한계 거리가 구해졌을 때의 주파수에, 상기 피치(30 ㎒)만큼 더한 주파수에 대해서 통신 한계 거리가 구해진다. 이러한 처리가, 주파수의 설정값이 최대 설정값(1040 ㎒)에 도달할 때까지(단계 S402에서의 Yes 판정) 계속된다.

그리고, 주파수의 설정값이 최대 설정값(1040 ㎒)에 도달하면, 단계 S401까지 처리가 되돌아가 리더 라이터(20)에 대해서 전력 및 주파수 양쪽에 관하여 초기화 처리의 실행을 지시한 후, 다음 RFID 태그에 대한 성능 시험의 대기 상태가 된다.

이상에 설명한 처리에 의해, 800 ㎒에서부터 1040 ㎒까지의 주파수 범위에 걸친 30 ㎒마다의 각 주파수에 대한 통신 한계 거리가 구해지고, RFID 태그의 주파수 특성이 얻어지게 된다.

이 도 34의 그래프(G5)에서는, 세로축에 주파수가 취해지고, 가로축에 전력 과 통신 한계 거리가 취해지고 있다. 그리고, 이 그래프(G5)에는, 상기 주파수 특성 취득 처리에 의해, RFID 태그의 2개의 샘플 각각에 대해서 취득된 주파수 특성이, 샘플 1에 대해서는 원형의 점으로 플롯되고, 샘플 2에 대해서는 사각형의 점으로 플롯되어 있다.

이 도 34의 그래프(G5)에 따르면, 샘플 1에서는 1020 ㎒의 주파수에 대한 통신 한계 거리가 가장 길게 이득이 최대로 되어 있다. 또한, 샘플 2에서는 980 ㎒의 주파수에 대한 통신 한계 거리가 가장 길게 이득이 최대로 되어 있다.

여기서, 본 실시형태에서는, RFID 태그에 대해서 상정되어 있는 통신 주파수는 양쪽 모두 953 ㎒이다. 그러나, 상술한 바와 같이, RFID 태그로 송수신되는 전파 신호의 주파수는, RFID 태그가 부착되는 물품이나 RFID 태그의 피복 등과 같은, 전파 경로 상에 있는 물체의 비유전율 등과 같은 사용 환경의 영향을 받아 변화하는 경우가 있다. 그래서, 이러한 사용 환경의 영향이 예상되는 RFID 태그에 대해서는, 그러한 사용 환경하에 놓여졌을 때에 953 ㎒의 통신 주파수에 대해서 최대 이득이 얻어지도록, 최대 이득이 얻어지는 주파수가 953 ㎒로부터 어긋나게 설계된다.

상기한 2개의 샘플은, 전파 신호에 대하여 영향이 있는 환경하에서의 사용이 상정되어 있고, 양쪽 모두, 최대 이득이 얻어지는 주파수가 953 ㎒로부터 어긋나게 설계되어 있다. 또한, 샘플 1과 샘플 2에서는 상정되는 사용 환경이 서로 다르기 때문에, 이들 샘플 사이에서는, 설계 시에서의, 최대 이득이 얻어지는 주파수의 953 ㎒로부터의 어긋남이 서로 다르다.

도 34의 그래프(G5)에 나타내고 있는, 각 샘플에 대해서 실측된 주파수 특성에 있어서, 최대 이득이 얻어지는 주파수가, 상정되어 있는 통신 주파수 953 ㎒로부터 어긋나 있고, 양자 사이에서, 최대 이득이 얻어지는 주파수가 서로 다른 것은, 각 샘플이 사용 환경을 고려하여 상기한 바와 같이 설계되어 있기 때문이다.

실제 RFID 태그의 제조 시에는, 각 RFID 태그의 주파수 특성으로부터 판독할 수 있는, 최대 이득이 얻어지는 주파수나 그 주파수에서의 통신 한계 거리 등이, 사용 환경을 고려한 설계에 기초하는 판정 기준을 만족시키고 있는지의 여부가 판정되어, 양품과 불량품의 선별 등이 행해진다.

본 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(8)에 따르면, 다방면에 걸친 사용 환경 각각에 대응하여 설계된 여러 종류의 RFID 태그 각각에 대해서 주파수 특성을 취득할 수 있다. 그리고, 취득된 각 주파수 특성으로부터 판독할 수 있는 상기와 같은 특성값이, 각 사용 환경에 대응한 판정 기준을 만족시키고 있는지의 여부가 사용자에 의해 판정됨으로써 양부 선별이 행해진다.

이상, 도 31에서부터 도 34까지를 참조하여 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 따르면, 여러 사용 환경 각각에 대응한 RFID 태그의 주파수 특성을, 전파 암실 등과 같은 특수 환경을 사용하지 않고서 간단하고 충분하게 얻을 수 있으며, 각 사용 환경에 대응한 양부 선별을 행할 수 있다.

다음으로, 본 발명의 제9 실시형태에 대해서 설명한다.

이 도 35에 도시하는 RFID 태그 시험 장치(9)는, 전파 신호의 주파수와 통신 한계 거리와의 대응 관계로 정의되는 주파수 특성을 얻기 위한 장치라고 하는 점을 제외하면, 도 17에 도시하는 제2 실시형태의 RFID 태그 시험 장치(2)와 동등하다. 이 때문에, 도 35에서는, 도 17과 동등한 구성 요소에 대해서는 도 17과 동일한 부호를 붙이고 있고, 이하에서는, 이들 구성 요소에 대한 중복 설명을 생략한다.

이 RFID 태그 시험 장치(9)에서는, 반송 장치(50)에 의해 스트립 라인 셀(100)까지 순차적으로 반송되는, 태그 롤(R)의 복수의 RFID 태그(T1) 각각에 대해서 순차적으로 주파수 특성이 취득된다. 이 RFID 태그 시험 장치(9)에서의 주파수 특성 취득 처리는, 컴퓨터(420)가, 이하에 설명하는 처리 흐름을 따라 리더 라이터(20)를 제어함으로써 실현되고 있다. 이 컴퓨터(420)도, 본 발명에서 말하는 반응 확인부의 일례에 해당한다.

도 36은 RFID 태그 시험 장치(9)로 실행되는 주파수 특성 취득 처리의 흐름을 도시하는 흐름도이다. 또한, 이 도 36의 흐름도가 나타내는 주파수 특성 취득 처리는, 반송 장치(50)에 반송을 지시하는 커맨드를 보내는 처리(단계 S501)를 갖고 있는 점을 제외하고, 도 33의 흐름도가 나타내는 처리와 거의 동등하다. 이 때문에, 이 도 36에서는, 이 도 33의 흐름도에서의 처리 과정과 동등한 처리 과정에 대해서는 도 33과 동일한 부호가 붙여져 있고, 이하에서는, 이들 처리 과정에 대한 중복 설명을 생략한다.

이 도 36에 도시하는 초기화 처리(단계 S401')는, 도 33에 도시하는 초기화 처리(단계 S401)가, 리더 라이터에 초기화의 지시를 부여한 후 대기 상태가 되는 처리인 데 비하여, 그러한 대기 상태를 생략하고 다음 처리로 진행하는 처리이다. 또한, 그 단계 S401'에 잇따르는 단계 S402'의 처리는, 도 33에 도시하는 단계 S402의 처리가, 주파수가 최대 설정값에 도달한 경우에는 초기화 처리(단계 S401)로 되돌아가는 처리인 데 비하여, 초기화 처리(단계 S401')로는 되돌아가지 않고 이하에 설명하는 단계 S501의 처리로 진행되는 처리이다.

단계 S501의 처리는, 현재, 스트립 라인 셀(100)의 위치에 있는 RFID 태그(T1)에 대한 주파수의 설정값이 최대 설정값에 도달한 경우(단계 S402'에서의 Yes 판정), 즉, 그 RFID 태그(T1)에 대한 주파수 특성의 취득이 종료되었을 때에 실행된다. 이 단계 S501의 처리에서는, 컴퓨터(420)는, 반송 장치(50)에, 태그 롤(R)의 중심축을, 배치 간격분의 반송에 해당하는 각도만큼 회전하도록 지시하는 커맨드(C14)를 보낸다. 반송 장치(50)가, 이 커맨드(C14)에 따라서 동작하면, 주파수 특성 취득이 끝난 RFID 태그(T1)를 대신하여 미취득의 RFID 태그(T1)가 스트립 라인 셀(100)의 위치에 배치되게 된다.

이상으로, 도 35와 도 36을 참조하여 설명한 제9 실시형태에 따르면, 복수의 RFID 태그(T1)에 대해서 효율적으로 주파수 특성을 취득할 수 있고, 나아가서는, 그러한 복수의 RFID 태그(T1)를 효율적으로 제조할 수 있다.

또한, 상기에서는, 본 발명에서 말하는 환산 관계의 일례로서, 전력에 대한 거리의 대응 관계를 예시하였으나 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 본 발명에서 말하는 환산 관계는, 예컨대, 그 전력에 대한 거리의 대응 관계의 작성에 사용된, 거리에 대한 전계 강도의 대응 관계와 전력에 대한 전계 강도의 대응 관계 의 세트여도 좋다. 이 경우에는, 이들 2개의 대응 관계를 서로 대조함으로써 전력이 거리로 환산된다. 또한, 본 발명에서 말하는 환산 관계는, 예컨대, 이러한 실측에 기초하는 대응 관계가 아니라, 전력으로부터 거리를 구하는 계산식이어도 좋고, 또는, 거리로부터 전계 강도를 구하는 계산식과 전력으로부터 전계 강도를 구하는 계산식의 세트 등이어도 좋다.

또한, 상기에서는 본 발명에서 말하는 스트립 라인 셀의 일례로서, 2장의 도체판의 간격이 1장의 도체판의 폭의 1/5이고, 길이가 953 ㎒의 전파의 약 1/2 파장의 길이인 스트립 라인 셀을 예시하였으나, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 스트립 라인 셀은, 2장의 도체판의 간격이 1장의 도체판의 폭의 1/5 이외의 간격이어도 좋고, 길이가 953 ㎒의 전파의 약 1/2 파장 이외의 길이여도 좋다.

또한, 상기에서는 본 발명에서 말하는 적재판의 일례로서, 아크릴제의 적재판(109)을 예시하였으나, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 적재판은, 예컨대 발포 스티롤제의 것 등이어도 좋다.

또한, 상기에서는, 하나의 리더 라이터가 2개의 스트립 라인 셀(100)을 구비한 실시형태를 나타내었으나, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니며, 예컨대, 하나의 리더 라이터가 3개 이상의 스트립 라인 셀(100)을 구비한 형태 등이어도 좋다.

또한, 상기에서는, 2개의 리더 라이터를 구비한 형태를 나타내었으나, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니며, 3개 이상의 리더 라이터를 구비한 형태 등이어 도 좋다.

또한, 상기에서는 본 발명에서 말하는 FIFO 메모리의 일례로서, 버퍼단수가 3단인 FIFO 메모리를 예시하였으나, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 FIFO 메모리는, 3단 이외의 단수의 FIFO 메모리여도 좋다.

Claims

미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 폭 이상의 폭을 가지며, 외부로부터 상기 전파 신호에 해당하는 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 상기 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 상기 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 상기 전파 신호를 발신하고, 상기 제1 도체판의, 상기 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측에 상기 전자 장치가 배치되는 스트립 라인 셀과,

상기 스트립 라인 셀의 상기 제1 도체판에 상기 전기 신호를 공급하는 공급부와,

상기 전자 장치에서의 반응의 유무를 확인하는 반응 확인부를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 공급부에 의해 상기 스트립 라인 셀에 공급된 전기 신호가 갖는 전력을, 미리 정해진 안테나가 미리 정해진 출력으로 상기 전파 신호를 발신하고 상기 전자 장치가 수신하는 상황에서의 상기 안테나와 상기 전자 장치와의 거리로, 기정의 환산 관계에 따라서 환산하는 환산부를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 공급부는, 서로 다른 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 것이고,

상기 반응 확인부는, 상기 각 전기 신호에 대한 상기 전자 장치의 반응을 확인하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 공급부는, 미리 정해진 전력 범위에 걸친 각 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 것이고,

상기 반응 확인부는, 상기 각 전기 신호에 대한 상기 전자 장치의 반응을 확인하는 것이며,

복수의 상기 전자 장치를 반송하여 상기 스트립 라인 셀에 대해서 순차적으로 배치하고, 배치된 전자 장치에 대해서 상기 각 전기 신호가 순차적으로 공급되고 있는 도중에서 상기 전자 장치가 반응한 경우, 및 상기 각 전기 신호가 최후까지 공급된 경우에, 다음 전자 장치를 배치하는 반송부를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 스트립 라인 셀은, 상기 전기 신호의 주파수와 동일한 주파수의 전파 신호를 발신하는 것이고,

상기 공급부는, 서로 다른 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 처리를, 미리 정해진 주파수 범위에 걸친 각 주파수에 대해서 실행하는 것이며,

상기 반응 확인부는, 상기 각 전기 신호에 대한 상기 전자 장치의 반응을 확인하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 스트립 라인 셀은, 상기 전기 신호의 주파수와 동일한 주파수의 전파 신호를 발신하는 것이고,

상기 공급부는, 미리 정해진 전력 범위에 걸친 각 전력을 갖는 각 전기 신호를 순차적으로 상기 스트립 라인 셀에 공급하는 처리를, 미리 정해진 주파수 범위에 걸친 각 주파수에 대해서 실행하는 것이며,

상기 반응 확인부는, 상기 각 전기 신호에 대한 상기 전자 장치의 반응을 확인하는 것이고,

복수의 상기 전자 장치를 반송하여 상기 스트립 라인 셀에 대해서 순차적으로 배치하고, 배치된 전자 장치에 대해서, 상기 각 전기 신호의 공급이 상기 주파수 범위의 최후의 주파수까지 실행된 경우에, 다음 전자 장치를 배치하는 반송부를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 이 시험 장치는, 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 복수의 스트립 라인 셀을 구비하는 것이고,

상기 공급부는, 상기 복수의 스트립 라인 셀 각각을 향하여 서로 다른 타이밍으로 상기 전기 신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 이 시험 장치는, 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 복수의 스트립 라인 셀로 이루어지는 세트를 복수 구비하는 것이고,

상기 공급부는, 상기 복수 세트 각각에 대응한 복수의 공급기를 가지며, 각 공급기에 의해 각 세트를 이루는 복수의 스트립 라인 셀 각각을 향하여 서로 다른 타이밍으로 상기 전기 신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 전자 장치는, 제1 전파 신호를 수신하면, 자신을 다른 전자 장치와 구별하는 식별 정보를 출력하고, 자신의 식별 정보를 포함한 제2 전파 신호를 수신하면, 상기 반응 확인부에 의해 확인되는 반응을 행하는 것이고,

상기 스트립 라인 셀을 2개 구비하고, 이들 2개의 스트립 라인 셀은 서로 미리 정해진 간격을 두고 배치되며, 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 것이고,

상기 전자 장치가 출력한 식별 정보를 취득하는 식별 정보 취득부와,

상기 2개의 스트립 라인 셀의 배열을 따라서 상기 전자 장치를 상기 미리 정해진 간격씩 반송함으로써 이들 2개의 스트립 라인 셀에 대해서 상기 전자 장치를 순차적으로 배치하는 반송부를 구비하며,

상기 공급부는, 상기 2개의 스트립 라인 셀 중 먼저 상기 전자 장치가 배치되는 제1 스트립 라인 셀을 향하여 상기 제1 전파 신호에 해당하는 제1 전기 신호를 공급하고, 상기 제1 전파 신호에 대해서 상기 식별 정보 취득부에서 취득된 식별 정보를 포함한 제2 전파 신호에 해당하는 제2 전기 신호를, 상기 2개의 스트립 라인 셀 중 나중에 상기 전자 장치가 배치되는 제2 스트립 라인 셀을 향하여, 상기 식별 정보로 식별되는 전자 장치가 그 제2 스트립 라인 셀에 대해서 배치되는 타이밍으로 공급하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제9항에 있어서, 상기 반송부는, 상기 미리 정해진 간격씩의 반송을 대신하여, 상기 미리 정해진 간격의 정수분의 1에 해당하는 간격씩 반송함으로써 상기 2개의 스트립 라인 셀에 대해서 상기 전자 장치를 순차적으로 배치하는 것이고,

상기 식별 정보 취득부는, 상기 반송부에 의해 상기 2개의 스트립 라인 셀의 한쪽으로부터 다른쪽으로 상기 전자 장치가 이동하기 위한 반송 횟수와 동일한 수의 정보를 선입 선출 방식으로 저장하는 FIFO 메모리를 가지며, 상기 공급부가 상기 제1 전기 신호를 상기 제1 스트립 라인 셀을 향하여 공급할 때마다 상기 FIFO 메모리에, 상기 전자 장치로부터 출력된 식별 정보를 저장하는 것이고,

상기 공급부는, 상기 제1 전기 신호의 공급과, 상기 FIFO 메모리로부터의 정보 입수와, 그 입수한 정보에 기초한 상기 제2 전기 신호의 공급을 순차적으로 반복하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 전자 장치는, 제1 전파 신호를 수신하면, 자신을 다른 전자 장치와 구별하는 식별 정보를 출력하고, 자신의 식별 정보를 포함한 제2 전파 신호를 수신하면, 상기 반응 확인부에 의해 확인되는 반응을 행하는 것이고,

상기 스트립 라인 셀을 2개 구비하고, 이들 2개의 스트립 라인 셀은 각각에 상기 전자 장치가 배치되는 것이며,

상기 전자 장치가 출력한 식별 정보를 취득하는 식별 정보 취득부와,

상기 2개의 스트립 라인 셀 각각에 대해서 상기 전자 장치를 배치하는 반송 부와,

상기 2개의 스트립 라인 셀 중 한쪽인 제1 스트립 라인 셀에 공급되는 전기 신호를 미리 정해진 정도로 감쇠시켜, 이들 2개의 스트립 라인 셀 중 다른쪽인 제2 스트립 라인 셀에 전달하는 감쇠부를 구비하고,

상기 공급부는, 상기 제1 스트립 라인 셀을 향하여 상기 제1 전파 신호에 해당하는 제1 전기 신호를 공급하고, 상기 제1 스트립 라인 셀과 상기 감쇠부를 통해 상기 제2 스트립 라인 셀에, 상기 식별 정보 취득부에서 취득된 식별 정보를 포함한 제2 전파 신호에 해당하는 제2 전기 신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 공급부와 상기 스트립 라인 셀 사이에 개재하여, 상기 공급부가 공급하는 상기 전기 신호의 전력을, 미리 정해진 조작에 따른 전력으로 변환하고, 전력 변환 후의 상기 전기 신호를 상기 스트립 라인 셀에 전달하는 전달부를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제12항에 있어서, 상기 전달부는, 미리 정해진 안테나가 미리 정해진 출력으로 상기 전파 신호를 발신하고 상기 전자 장치가 수신하는 상황에서의 상기 안테나와 상기 전자 장치와의 거리를 나타내는, 서로 다른 거리를 나타내는 복수의 눈금을 가지며, 미리 정해진 조작자가 상기 복수의 눈금 중 어느 하나의 눈금으로 설정되면, 상기 공급부가 공급하는 상기 전기 신호의 전력을, 상기 상황에 있어서, 그 설정된 눈금이 나타내는 거리에서의 전파 신호의 출력과 동등한 출력의 전파 신호를 상기 스트립 라인 셀에서 발신하는 데 필요한 전력으로 변환하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제12항에 있어서, 이 시험 장치는, 상기 스트립 라인 셀을 2개 구비하는 것이고,

상기 전달부는, 2개의 상기 스트립 라인 셀 중 한쪽인 제1 스트립 라인 셀에 상기 전기 신호를 전달하는 것이며,

상기 제1 스트립 라인 셀에 전달된 전기 신호를 미리 정해진 조작에 따른 정도로 감쇠시켜, 2개의 상기 스트립 라인 셀 중 제2 스트립 라인 셀에 전달하는 제2 전달부를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 스트립 라인 셀은, 상기 제1 도체판과 상기 제2 도체판의 간격을, 상기 제1 도체판의 폭의 1/5 이하의 간격으로 하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 스트립 라인 셀은, 상기 제1 도체판으로서, 상기 전파 신호의 파장의 절반 이하의 길이의 도체판을 갖는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 스트립 라인 셀은, 상기 전파 신호가 투과하는 판형상 의, 표리면 중 한쪽 면에 상기 전자 장치가 적재되고, 상기 한쪽 면에 대한 다른쪽 면이 상기 제1 도체판에 접하는 적재판을 갖는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
제1항에 있어서, 상기 스트립 라인 셀은, 상기 제1 도체판의 상기 대향면과는 반대측을 미리 정해진 범위를 제외하고 덮음으로써, 상기 제1 도체판으로부터 발생된 전파의 양과 방향을, 각각 미리 정해진 양과 미리 정해진 방향으로 제한하는 차폐부를 포함하는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치의 폭 이상의 폭을 가지며, 외부로부터 상기 전파 신호에 해당하는 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 상기 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 상기 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 상기 전파 신호를 발신하고, 상기 제1 도체판의, 상기 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측에 상기 전자 장치가 배치되는 스트립 라인 셀의 상기 제1 도체판에 상기 전기 신호를 공급하는 공급 과정과,

상기 전자 장치에서의 반응의 유무를 확인하는 반응 확인 과정을 갖는 것을 특징으로 하는 시험 방법.
미리 정해진 전파 신호를 수신하여 반응하는 전자 장치를 작성하는 작성 공정과,

상기 전자 장치의 폭 이상의 폭을 가지며, 외부로부터 상기 전파 신호에 해 당하는 전기 신호가 공급되는 제1 도체판과, 상기 제1 도체판에 대향하는 제2 도체판을 가지며, 상기 전기 신호가 갖는 전력에 따른 출력으로 상기 전파 신호를 발신하고, 상기 제1 도체판의, 상기 제2 도체판에 대향하는 대향면과는 반대측에 상기 전자 장치가 배치되는 스트립 라인 셀의 상기 제1 도체판에 상기 전기 신호를 공급하는 공급 과정과,

상기 전자 장치에서의 반응의 유무를 확인하는 반응 확인 과정을 갖는 시험 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 제조 방법.