TW201341804A - 微帶線探棒 - Google Patents

Abstract

一種微帶線探棒，應用於無線通訊產品的特性檢測中，諸如天線立體場型、全向接收感度以及多點輸出入效能等檢測，本發明係藉微帶線具體積輕巧、使用頻帶廣以及磁場分佈均勻的特性，搭配平衡不平衡轉換電路、同軸電纜，組構成本發明所稱之微帶線探棒，藉此，以解決現有檢測天線體積較大，致而需建造相對體積的電波暗室，導致檢測成本上升的問題。

Description

微帶線探棒

一種微帶線探棒，本發明尤指一種利用微帶線特性，搭配一平衡不平衡轉換電路，以應用於無線通訊產品特性檢測上的微帶線探棒。

隨著通訊技術的演進，無線通訊逐漸取代有線通訊，成為通訊技術的主流，然而無線通訊的良窳取決於傳輸天線的效能特性，為確保傳輸天線與其他電氣線路搭配實施後，仍可產生所預期之效能，現今，研製完成的傳輸天線或者是具無線傳輸功能的電子裝置，皆透過天線效能測試或無線效能測試，以確認效能是否同於設計，又，為能測試出無線通訊的各項效能特性，現今係藉一電波暗室，搭配不同的測試系統，測得相關效能數據，請參閱「第1圖」，圖中所示係為現有無線通訊測試系統的實施示意圖(一)，圖為一分佈軸系統10，其主要係利用一雙線化對數天線101(Log Periodical Antenna)在待側物周緣適度位移，以對待側物進行檢測，並請搭配參閱「第2圖」，圖中所示係為現有無線通訊測試系統的實施示意圖(二)，圖為一集中軸組合系統20(Combined Axis System)，其係以一雙極化號角天線201作為檢測源，對待測物進行檢測，又，上述所揭的各種測試系統雖可測得效能數據，但實施時，上述的雙線化對數天線101及雙極化號角天線201皆有因設計構造而無法具體微型化的問題，如此，電波暗室(102、202)在系統建構的過程中，便需依雙線化對數天線101(或雙極化號角天線201)的體積尺寸以及實施方式，進行調整，如此一來，普遍導致電波暗室(102、202)具較大體積，進而導致整體測試系統造價成本上昂，相對的導致測試成本提高，且上述所舉僅為部份實施例，現有的測試系統普遍具相同問題，故，上述問題係為業界待需解決的問題。

有鑒上述問題，本發明人係依據多年來從事無線通訊特性檢測的經驗，針對現有測試系統的實施現況，進行相關的研究及分析，期能研製出另一實施方式，以解決前述所揭問題，緣此，本發明主要目的在於提供一種利用微帶線特性，搭配一平衡不平衡轉換電路，以應用於無線通訊產品特性檢測上的微帶線探棒。

為達上述目的，本發明所述的微帶線探棒，主要係藉於一電性基板上，形成有數個微帶輻射體，以成形數個微帶線，而各微帶輻射體一端成形有一饋入部，各饋入部分別與一同軸電纜電性連結，而各同軸電纜的另一端係與一平衡不平衡電路電性連結，依此，本發明藉平衡不平衡電路經同軸電纜，將訊號饋入各微帶線之中，以作測試，且本發明係將微帶輻射體經適當設計後，使其特性效能相符於現有檢測天線，如此一來，可藉本發明取代現今測試系統中的檢測天線，進一步使電波暗室尺寸得以縮小。

以上關於本發明內容之說明及以下之實施方式之說明，係用以示範與解釋本發明之精神與原理，並且提供本發明之專利範圍更進一步解釋。

請參閱「第3圖」，圖中所示係為本發明之構件示意圖，如圖所示，本發明所稱的微帶線探棒30，其主要包含有一電性基板301、一同軸電纜302以及一平衡不平衡轉換電路303，其中，電性基板301上係電性佈設有微帶輻射體，以形成所謂的微帶線，而本發明係以數個微帶線搭配實施，微帶線之數量得依實施需求，調整改變，在此，本實施例係以兩個微帶線進行舉例，如圖，電性基板301上成形有一第一微帶輻射體3011及一第二微帶輻射體3012，兩微帶輻射體(3011、3012)的一端係相鄰成形，相鄰處分別成形有一饋入部(3013、3014)，此饋入部(3013、3014)則分別與前述的同軸電纜302呈電性連結，如圖，每一微帶輻射體(3011或3012)，分別對應一同軸電纜(302、302’)，以傳遞微帶輻射體(3011或3012)所接收或所欲發送的電氣訊號，又，兩微帶輻射體(3011、3012)的相對另一端，分別組設有一電阻元件(3015、3016)，再者，前述的同軸電纜(302、302’)，其相對另一端緣則與平衡不平衡轉換電路303電性連接，所稱的平衡不平衡轉換電路303，又稱巴倫電路(Balun Circuit)，主要係將本發明實施時，微帶輻射體(3011、3012)所接收的電氣訊號導出，或將一測試系統所產之測試訊號，饋入所稱的微帶輻射體(3011、3012)之中，以進行檢測；再者，本發明實施時平衡不平衡轉換電路303係可進一步與一射頻切換控制開關電性連結，以控制各微帶輻射體(3011、3012)的作動情況，又，前述的電性基板301係可為一具可撓性，以用於不同的實施之中，另，前述的微帶輻射體(3011、3012)係成形的方式諸多，並不以本實施成形之態樣為限。

請再參閱「第4圖」，圖中所示係為本發明之實施示意圖(一)，承上，本發明實施時，係裝設於一電波暗室31之中，並與一測試系統(本圖未示)產生連結，而所述的測試系統係與本發明所屬的平衡不平衡轉換電路303電性連結，本發明實施於接收測試時，電性基板301上的微帶輻射體(3011、3012)感應一待測物32所發送的電氣訊號，經饋入部(3013、3014)導入同軸電纜(302、302’)之中，最後由平衡不平衡轉換電路303導入測試系統之中，做數據分析，另，若用於發送測試時，前述的測試系統則將測試訊號，資訊傳遞至平衡不平衡轉換電路303中，此時，平衡不平衡轉換電路303經轉換後，再將測試訊號分別導入同軸電纜(302、302’)中，最後由微帶輻射體(3011、3012)以電氣訊號，發送至待測物32上，以進行發送測試，所稱的待測物32係可為一無線通訊產品，諸如天線元件、手持式行動電話或一具無線通訊的電子裝置。

承上，前述實施例係以單一微帶線探棒30實施舉例，然而本發明所稱的微帶線探棒30，則可依測試需求，同時以多個微帶線探棒30搭配實施，請參閱「第5圖」，圖中所示係為本發明之實施示意圖(二)，如圖，圖中係將多個微帶線探棒30排列成環狀的態樣，各微帶線探棒30僅需經適度調校後，便可用於同時多點輸入或輸出的無線特性測試，再者，本實施例係以環狀排列進行舉例，本發明於多數實施的態樣，並不以此為限，除環形外，更可排列成立體球狀或以Thete函數的方式排列，除此之外，本發明實施時，亦可透過微帶線探棒30預先的偏極化，以用於不同的實施上。

請參閱「第6圖」，圖中所示係為本發明之另一實施例(一)，承「第3圖」所述，本發明所稱的微帶線探棒30，於前述實施中，係以偶極的實施態樣進行舉例，但並不用以限制本發明的實施態樣，如「第6圖」所示，本實施例中的微帶線探棒40，其電性基板401上除成形有原先的第一微帶輻射體4011及第二微帶輻射體4012外，更成形有一第三微帶輻射體4013及一第四微帶輻射體4014，各微帶輻射體(4011、4012、4013、4014)的一端亦相鄰成形，且在相鄰處分別成形有饋入部(4015、4016、4017、4018)，而其他實施方式則與前述微帶線探棒30相同，再此不於贅述，如此一來，微帶線探棒40得依所成的微帶輻射體(4011、4012、4013、4014)，而有別微帶線探棒30實施於相異測試中。

請參閱「第7圖」，圖中所示係為本發明之另一實施例(二)，並請搭配參照「第3圖」所述，所稱的微帶線探棒30，係可進一步於同軸電纜302周緣組設有一吸波體304，如圖，吸波體304係將同軸電纜302完整包覆，而電性基板301可置於吸波體304的頂緣，所述的平衡不平衡轉換電路303則設於相對電性基板301的另一端面，如圖，吸波體304係可成型為一錐柱狀或其他柱狀體，其主要係將傳輸於本發明中的電氣訊號，與電波暗室31(如「第4圖」)隔離，藉此，以避免測試過程中，產生干擾的情事發生，又，前述「第6圖」中所揭的實施例，亦可於同軸電纜402周緣組設有吸波體404，詳述請承上述，在此不於贅述，而實施態樣係如「第8圖」所示，圖中所示係為本發明之另一實施例(三)。

請參閱「第9圖」，圖中所示係為本發明之另一實施例(四)，承上所述，前述各實施例中，平衡不平衡轉換電路403並未設置於電性基板401上，而是佈設於另一電性基板上或者是其他構件上，然而，所述的平衡不平衡轉換電路403亦可透過印刷電路或表面黏著技術，成形於電性基板401之上，實施態樣係如「第9圖」所示，再者，前述微帶線探棒30所舉的實施例，亦可將平衡不平衡轉換電路303設於電性基板301之上，本實施例並不僅適用於「第6圖」所揭的微帶線探棒40之中。

綜上所述，本發明主要係利用微帶線應用於無線技術領域的特性，搭配同軸電纜以及平衡與不平衡電路實施，且將本發明中所具有的微帶輻射體經適當設計，使其特性效能相符於現有檢測天線，藉此，以取代現有檢測天線，解決現今因檢測天線體積過大，致而需較大體積之電波暗室的問題，據此，本發明據以實施後，確實可提供一種利用微帶線特性，而得以應用於無線通訊產品特性檢測的微帶線探棒。

唯，以上所述者，僅為本發明之較佳之實施例而已，並非用以限定本發明實施之範圍；任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神與範圍下所作之均等變化與修飾，皆應涵蓋於本發明之專利範圍內。

綜上所述，本發明之功效，係具有發明之「產業可利用性」、「新穎性」與「進步性」等專利要件；申請人爰依專利法之規定，向　鈞局提起發明專利之申請。

10．．．分佈軸系統

101．．．雙線化對數天線

102．．．電波暗室

20．．．集中軸組合系統

201．．．雙極化號角天線

202．．．電波暗室

30．．．微帶線探棒

301．．．電性基板

3011．．．第一微帶輻射體

3012．．．第二微帶輻射體

3013．．．饋入部

3014．．．饋入部

302．．．同軸電纜

302’．．．同軸電纜

3015．．．電阻元件

3016．．．電阻元件

303．．．平衡不平衡轉換電路

304．．．吸波體

31．．．電波暗室

32．．．待測物

40．．．微帶線探棒

401．．．電性基板

4011．．．第一微帶輻射體

4012．．．第二微帶輻射體

4013．．．第三微帶輻射體

4014．．．第四微帶輻射體

4015．．．饋入部

4016．．．饋入部

4017．．．饋入部

4018．．．饋入部

403．．．平衡不平衡電路

404．．．吸波體

第1圖，係為現有無線通訊測試系統的實施示意圖(一)。

第2圖，係為現有無線通訊測試系統的實施示意圖(二)。

第3圖，係為本發明之構件示意圖。

第4圖，係為本發明之實施示意圖(一)。

第5圖，係為本發明之實施示意圖(二)。

第6圖，係為本發明之另一實施例(一)。

第7圖，係為本發明之另一實施例(二)。

第8圖，係為本發明之另一實施例(三)。

第9圖，係為本發明之另一實施例(四)。

30．．．微帶線探棒

301．．．電性基板

3011．．．第一微帶輻射體

3012．．．第二微帶輻射體

3013．．．饋入部

3014．．．饋入部

3015．．．電阻元件

3016．．．電阻元件

302．．．同軸電纜

302’．．．同軸電纜

303．．．平衡不平衡轉換電路

Claims (7)

1. 一種微帶線探棒，用於一無線通訊測試上，可裝設於一電波暗室之中，其包括：一電性基板，其表面上具有數個微帶輻射體，各該微帶輻射體的一端，分別成形有一饋入部，而相對另一端則組設有一電阻元件；數個同軸電纜，各該同軸電纜的一端分別與該饋入部組設，以與各該微帶輻射體產生連結；以及一平衡不平衡電路，一端係與一測試系統連結，另一端則分別與各該同軸電纜組設，以將該測試系統與各該微帶輻射體連接。
2. 如申請專利範圍第1項所述的微帶線探棒，其中，該微帶線探棒可以多數個同時實施。
3. 如申請專利範圍第1項所述的微帶線探棒，其中，該電性基板具可撓性。
4. 如申請專利範圍第1項所述的微帶線探棒，其中，各該同軸電纜周緣組設有一吸波體。
5. 如申請專利範圍第4項所述的微帶線探棒，其中，該吸波體成形為一錐柱狀。
6. 如申請專利範圍第1項所述的微帶線探棒，其中，該平衡不平衡電路電性連結有一射頻切換控制開關。
7. 如申請專利範圍第1項所述的微帶線探棒，其中，該平衡不平衡電路可成形於該電性基板之上。