CN101573715A - 测试装置、测试方法以及制造方法 - Google Patents

Abstract

提供一种测试装置、测试方法以及制造方法。该测试装置包括：带状线单元，其具有第一导体板和第二导体板，所述第一导体板的宽度在接收规定的电波信号并做出反应的RFID标签(T1)的宽度以上，用于接收从外部供给的相当于该电波信号的电信号，所述第二导体板与该第一导体板相对置，所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号，并且在所述第一导体板的与所述第二导体板相对置的相对面的相反侧配置RFID标签(T1)；读写器(20)，其用于对带状线单元(100)的所述第一导体板供给电信号；以及计算机(30)，其用于确认RFID标签(T1)有无反应。

Description

测试装置、测试方法以及制造方法

技术领域

本发明涉及进行电子装置的性能测试的测试装置、这样的性能测试的测试方法以及包括这样的测试方法作为工序的电子装置的制造方法，其中，所述电子装置接收规定的电波信号并做出反应。

背景技术

近年来，在与代表读写器的外部设备之间通过电波以非接触的方式进行信息交换的各种类型的RFID(Radio Frequency Identification：无线射频识别)标签备受瞩目。作为该RFID标签的一种，提出了如下结构的标签：在由塑料或纸形成的基片(base sheet)上搭载有电波通信用的天线图案和IC芯片。关于这种类型的RFID标签，考虑了这样的使用方式，即，通过粘贴在物品等上并与外部设备交换与该物品有关的信息，从而进行物品的识别等，例如，在农业、渔业、制造业、物流、服务、医疗、福利、公共、行政、交通、运输等所有领域，应用或研究利用了RFID标签的系统。

当开发或制造这样的RFID标签时，针对RFID标签的主要性能之一的无线通信性能进行性能测试。以往，在这样的测试中，为了模拟RFID标签的通信状态，进行从规定的天线向RFID标签照射电波等操作。在此，例如在RFID标签的制造现场等进行这样的操作，则在测试时有可能发生如下不良状况：从天线发出并传播到测试区域周边的电波对制造现场等的周边装置的动作产生影响，或错误地照射到测试对象以外的RFID标签等。另外，还有可能存在如下状况：传播目的地反射回来的反射波与测试区域内的电波发生干扰，导致无法进行准确的测试。为了避免这样的事态，以往，在涉及电波的测试中，例如需要电波暗室等特殊的测试环境。其结果，当在开发或制造RFID标签时对无线通信性能进行性能测试的情况下，必须将测试对象的RFID标签移动至电波暗室等，而这是妨碍RFID标签的开发和制造的效率的一个因素。

另外，为了强制实现制造的高效化，不是将正在生产线上制造的RFID标签移动至电波暗室等，而是在线执行性能测试，但是在这样的情况下，或者在无论如何都无法准备电波暗室等的情况下，为了尽可能控制对周边的影响等而在尽量控制来自天线的电波的输出的状态下进行测试，但实际上很难认为这种测试是理想的性能测试。

然而，在RFID标签中搭载有存储器，该存储器用于存储通过无线通信与外部交换的信息等，在制作RFID标签时，或者在构筑利用了RFID标签的系统等时，向该存储器写入信息、确认存储器内的信息。提出了如下技术：这样的信息写入和确认也是通过无线通信来进行，一边沿着规定的搬送线搬送多个RFID标签，一边依次对各RFID标签进行信息的写入或确认，并且用简易的防护罩(shield)遮蔽进行信息的写入或确认的区域，使得对某一RFID标签进行信息的写入或确认时，通信用电波不对其他RFID标签产生影响(例如，参照专利文献1)。若将这样的技术应用于上述性能测试，则在一定程度上不使用电波暗室等而能够进行通信性能的测试。

专利文献1：JP特开2005-222206号公报

但是，在专利文献1的技术中，可以说是例如在生产线上可构筑的简单的防护罩，需要以这样大小的防护罩遮蔽的环境。

此外，以上说明了针对RFID标签的通信性能进行性能测试时的问题，但是上述问题一般是在例如通过无线来进行信号交换的电路基板等用于接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的性能测试中发生的问题。此外，作为这样的电子装置的反应，考虑电波信号或电信号的输出、内部处理的开始或结束等。

本发明是鉴于上述情况而提出的，其目的在于，提供一种针对电子装置的通信性能能够简单地进行充分的性能测试的测试装置、能够进行这样的性能测试的测试方法以及包括这样的测试方法作为工序的电子装置的制造方法，其中，所述电子装置接收规定的电波信号并做出反应。

发明内容

实现上述目的的本发明的测试装置，包括：带状线单元(strip line cell)，其具有第一导体板和第二导体板，所述第一导体板的宽度在接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的宽度以上，用于接收从外部供给的相当于该电波信号的电信号，所述第二导体板与该第一导体板相对置，所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号，并且在所述第一导体板的与所述第二导体板相对置的对置面的相反侧配置所述电子装置；供给部，其用于对所述带状线单元的所述第一导体板供给所述电信号；以及反应确认部，其用于确认所述电子装置有无反应。

以往，作为用于取得在计算时容易处理的电波TEM(TransverseElectromagnetic)波(横电磁波)的装置，已知带状线单元。该带状线单元包括接收从外部供给的电信号的第一导体板以及与该第一导体板相对置的第二导体板，并在夹在两者之间的空间内，通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送TEM波。使用该TEM波能够进行上述电子装置的通信性能的测试等，但是，为此，在第一导体板和第二导体板之间需要用于配置其测试对象的电子装置的空间。其结果，已知的带状线单元成为大的单元，与在测试对象的电子装置的周围设置了简易的防护罩的带状线单元相比，没有太大变化。然而，在构成带状线单元的第一导体板上的、与第二导体板相对置的相对面的相反侧，即产生TEM波的空间的相反侧，会产生与TEM波大致相同的称为准TEM波的一种漏电波。而且，该准TEM波随着远离第一导体板而急速衰减，仅传播到第一导体板近旁的极其有限的区域内。在此，在本次发明中，发明人发现该准TEM波适于例如RFID标签等电子装置的通信性能的测试等，发现了能够将准TEM波的有限的传播区域用作为测试区域。本发明是基于该发现而提出的。根据本发明的测试装置，使用该准TEM波能够进行关于该电子装置的通信性能的测试。因此，本发明的测试装置中的上述带状线单元在上述第一导体板和上述第二导体板之间无需设置在现有的带状线单元中为了配置测试对象物而需要的空间，使所述第一导体板和第二导体板接近，从而能够实现薄型化，使第一导体板和第二导体板接近的距离相当于上述空间。而且，典型的上述带状线单元可以使上述第一导体板的宽度与测试对象的电子装置的宽度大致相同，能够减小至与测试对象的电子装置大致相同的大小。而且，由于准TEM波的传播区域有限，因此不存在上述电波信号向周围传播的顾虑，不用说不需要用于回避向周围的影响等的电波暗室，连简易的防护罩等也不需要，仅仅通过在该准TEM波的传播区域内配置测试对象的电子装置，就能够进行测试。另外，由于不存在上述电波信号向周围传播的顾虑，因此，在进行测试时，也不需要控制该电波信号的输出，就能够进行充分的性能测试。如以上说明的那样，根据本发明的测试装置，针对接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的通信性能能够简单地进行充分的性能测试。

在此，在本发明的测试装置中，“包括换算部，该换算部按照既定的换算关系，将由所述供给部向所述带状线单元供给的电信号所具有的功率换算为特定的距离，该特定的距离是指，在规定的天线通过规定的输出来发送所述电波信号并由所述电子装置接收的状况下，该天线和该电子装置之间的距离”的方式，以及“所述供给部用于向所述带状线单元依次供给具有互不相同的功率的各电信号；所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应”的方式为优选的方式。

根据这些优选的方式的测试装置，能够应用于，将能够确认上述反应的最小功率换算为与上述天线相距的距离，由此求出其电子装置的通信界限距离。

此外，根据上述的换算关系的换算，例如可以根据使上述功率和上述距离直接对应的一个换算关系，将上述功率换算为上述距离。或者，也可以进行如下两步骤的换算：根据使上述功率和上述带状线单元所发送的上述电波信号的输出相对应的换算关系，以及使与上述天线相距的距离和在该距离的电波信号的输出相对应的换算关系这两个换算关系，将上述功率先换算为电波信号的输出，并将该换算的输出换算为上述距离。另外，上述一个换算关系或两个换算关系可以是基于电磁学领域的公知的公式来求得的换算关系，或者，也可以是通过如下的一系列的计测操作来求得的换算关系。首先，在电波暗室或者参照该电波暗室的环境(以下，称之为电波暗室等)下，计测上述天线通过规定的输出来发送了电波信号时与该天线相距的各距离处的电波信号的输出。接着，计测向上述带状线单元供给具有各种功率的电信号并由该带状线单元发送了各种输出的电波信号时，相对于各功率的电波信号的输出。经过这样的计测操作，能够得到使与天线相距的距离和电波信号的输出相对应的换算关系，以及使向带状线单元供给的电信号的功率和电波信号的输出相对应的换算关系这两个换算关系。而且，结合这些两个换算关系，以使电波信号的输出彼此相同的功率和距离相对应，由此能够得到用于将向带状线单元供给的电信号的功率转换为与天线相距的距离的一个换算关系。

另外，在本发明的测试装置中，“所述供给部用于向所述带状线单元依次供给具有规定的功率范围内的各功率的各电信号；所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应；所述测试装置还包括搬送部，该搬送部用于搬送多个所述电子装置，并对所述带状线单元依次配置多个所述电子装置，在对所配置的电子装置依次供给所述各电信号的过程中该电子装置做出了反应时，以及在所述各电信号被供给到最后时，所述搬送部配置下一个电子装置”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，在每次针对一个电子装置的测试结束时，下一电子装置自动搬送至测试位置，因此，能够对多个电子装置高效率地进行测试。

另外，在本发明的测试装置中，“所述带状线单元用于发送频率与所述电信号的频率相同的电波信号；所述供给部用于针对规定的频率范围内的各频率执行如下处理，该处理是指，向所述带状线单元依次供给具有互不相同的功率的各电信号的处理；所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，能够简单地得到上述电子装置中的所谓上述频率范围的各频率和通信界限距离之间的对应关系的、上述电子装置的频率特性。

另外，在本发明的测试装置中，“所述带状线单元用于发送频率与所述电信号的频率相同的电波信号；所述供给部用于针对规定的频率范围内的各频率执行如下处理，该处理是指，向所述带状线单元依次供给具有规定的功率范围内的各功率的各电信号的处理；所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应；所述测试装置还包括搬送部，该搬送部用于搬送多个所述电子装置，并对所述带状线单元依次配置多个所述电子装置，在对所配置的电子装置将所述各电信号供给到所述频率范围内的最后的频率时，所述搬送部配置下一个电子装置”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，能够自动地取得多个电子装置的频率特性。

另外，在本发明的测试装置中，“该测试装置包括用于分别配置所述电子装置的多个带状线单元；所述供给部在互不相同的时刻向所述多个带状线单元分别供给所述电信号”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，对于分别配置在上述多个带状线单元上的多个电子装置，在微观上，进行时刻相互错开的测试，但是，在用肉眼观察时，即在宏观上，同时且并行地进行测试，因此效率高。

另外，在本发明的测试装置中，“该测试装置包括多组由用于分别配置所述电子装置的多个带状线单元组成的组合；所述供给部包括分别与多组所述组合对应的多个供给设备，通过各供给设备，在互不相同的时刻向组成各组合的多个带状线单元分别供给所述电信号”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，使上述各供给设备彼此同时且并行地动作，从而针对由上述多个组合构成的大量的带状线单元，能够高效率地进行测试。

另外，在本发明的测试装置中，“所述电子装置，当接收到第一电波信号时，输出用于将自身与其他电子装置区分开来的识别信息，当接收到包含自身的识别信息的第二电波信号时，做出能够由所述反应确认部确认的反应；所述测试装置包括两个所述带状线单元，这两个带状线单元彼此隔着规定的间隔而配置，各个带状线单元用于配置所述电子装置；所述测试装置还包括：识别信息取得部，其取得所述电子装置输出的识别信息，以及搬送部，其沿着所述两个带状线单元的排列，将所述电子装置每次搬送所述规定间隔，由此对这两个带状线单元依次配置该电子装置；所述供给部向所述两个带状线单元中先被配置所述电子装置的第一带状线单元供给相当于所述第一电波信号的第一电信号，向所述两个带状线单元中后被配置所述电子装置的第二带状线单元供给与包含所述识别信息取得部针对该第一电波信号所取得的识别信息的第二电波信号相当的第二电信号，并且，向所述第二带状线单元供给第二电信号的时刻为，对该第二带状线单元配置通过该识别信息来识别的电子装置的时刻”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，针对某一电子装置，首先取得识别信息，并根据该识别信息可以进行指定了该电子装置的性能测试。由此，能够避免例如位于性能测试中的电子装置附近的其他电子装置错误地做出反应等不适情况，从而能够进行更准确的测试。

另外，在该优选的方式的测试装置中，“所述搬送部每次搬送相当于所述规定间隔的整数分之一的间隔以代替每次搬送所述规定间隔，由此对所述两个带状线单元依次配置所述电子装置；所述识别信息取得部包括FIFO存储器，该FIFO存储器以先进先出方式存储与搬送次数相同数量的信息，所述搬送次数是，所述搬送部从所述两个带状线单元中的一个带状线单元向另一个带状线单元移动所述电子装置用的次数，在所述供给部向所述第一带状线单元每次供给所述第一电信号时，在该FIFO存储器中存储所述电子装置所输出的识别信息；所述供给部依次重复执行供给所述第一电信号的处理、从所述FIFO存储器中获取信息的处理、基于所获取的信息供给所述第二电信号的处理”的方式是更优选的方式。

根据该更优选的方式的测试装置，关于两个带状线单元的配置间隔的整数分之一的上述电子装置的搬送间隔，在其配置间隔的范围内，例如能够按照上述电子装置的大小来进行调整，因此，能够灵活地对应各种大小的电子装置。

另外，在本发明的测试装置中，“所述电子装置，当接收到第一电波信号时，输出用于将自身与其他电子装置区分开来的识别信息，当接收到包含自身的识别信息的第二电波信号时，做出能够由所述反应确认部确认的反应；所述测试装置包括两个所述带状线单元，这两个带状线单元用于分别配置所述电子装置；所述测试装置包括：识别信息取得部，其取得所述电子装置输出的识别信息，搬送部，其对于所述两个带状线单元分别配置该电子装置，以及衰减部，其使向所述两个带状线单元中的第一带状线单元供给的电信号衰减到规定程度，并将该电信号传输到这两个带状线单元中的第二带状线单元；所述供给部向所述第一带状线单元供给相当于所述第一电波信号的第一电信号，通过该第一带状线单元和所述衰减部，向所述第二带状线单元供给相当于包含所述识别信息取得部所取得的识别信息的第二电波信号的第二电信号”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式，在向上述第一带状线单元供给电信号时，该电信号通过上述衰减部而被衰减，并传输到上述第二带状线单元。因此，以配置在上述第二带状线单元的电子装置不做出反应的程度的弱的强度来使用上述第一电信号，以配置在第二带状线单元的电子装置也做出反应的程度的强的强度使用上述第二电信号，由此，无需切换这些电信号的供给目的地而能够分开使用这些电信号。

另外，在本发明的测试装置中，“包括传输部，该传输部配置在所述供给部和所述带状线单元之间，用于将该供给部供给的所述电信号的功率转换为与规定的操作对应的功率，并将转换过功率后的该电信号传输到所述带状线单元”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，不需要测试用的程序等，而通过用户对上述传输部的操作，能够简单地进行例如针对各种输出的电波信号确认上述电子装置的应答的有无等测试。

另外，在这种用户操作型的测试装置中，“所述传输部具有多个刻度，其中，所述多个刻度表示在规定的天线通过规定的输出来发送所述电波信号并由所述电子装置接收的状况下的该天线和该电子装置之间的距离，并且所述多个刻度分别表示互不相同的距离，当规定的操作件被设定为所述多个刻度中的某一刻度时，将所述供给部供给的所述电信号的功率转换为特定的功率，所述特定的功率是指，在所述状况下，所述带状线单元发送与所设定的该刻度表示的距离处的电波信号的输出相同的输出的电波信号时所需要的功率”的方式是本发明的更优选的方式。

根据该更优选的方式的测试装置，不需要测试用的程序等，而通过用户对上述传输部的操作，能够简单地进行例如求出上述电子装置的通信界限距离的测试等。

另外，在用户操作型的测试装置中，“该测试装置包括两个所述带状线单元；所述传输部向两个所述带状线单元中的第一带状线单元传输所述电信号；该测试装置还包括第二传输部，该第二传输部使传输到所述第一带状线单元的电信号衰减到对应于规定操作的程度，并将该电信号传输到两个所述带状线单元中的第二带状线单元”的方式也是更优选的方式。

根据该更优选的方式的测试装置，例如，能够高效率地进行如下测试。当针对上述电子装置求出的性能对于某一输出范围的电波信号做出反应时，分别对上述传输部以及上述第二传输部进行操作，以使上述第一带状线单元发送其输出范围内的最大强度的电波信号，上述第二带状线单元发送最小强度的电波信号，并对于各带状线单元依次配置上述电子装置，由此能够简单地确认上述电子装置是否具有如上所述的性能。

另外，在本发明的测试装置中，“在所述带状线单元中，所述第一导体板和所述第二导体板之间的间隔为该第一导体板的宽度的1/5以下”的方式是优选的方式。

上述带状线单元所具有的特性阻抗是根据上述第一导体板和上述第二导体板之间的间隔与第一导体板宽度的比例而决定的。在此，能够用作为上述供给部的在市场上卖的大部分装置的输出阻抗为50欧姆。为了使阻抗与这样的装置最简单地匹配，上述带状线单元的特性阻抗必须为50欧姆，但是，为了实现该50欧姆的特性阻抗，需要构成第一导体板和上述第二导体板之间的间隔为第一导体板宽度的1/5的薄型构造。在以取得TEM波为目的的现有的带状线单元中，在第一导体板和第二导体板之间需要用于产生TEM波的、配置用于接收TEM波的对象物的空间，难以实现这样的薄型构造。相对于此，本发明的测试装置中的带状线单元不需要这样的空间，因此实现了第一导体板和上述第二导体板之间的间隔为第一导体板宽度的1/5的薄型构造，从而不仅能够实现阻抗的匹配以及节省空间，还能够实现进一步的薄型化。

另外，在本发明的测试装置中，“在所述带状线单元中，具有长度为所述电波信号的波长的一半以下的导体板作为所述第一导体板”的方式也是优选的方式。

在本发明的测试装置中的带状线单元中，利用如上所述地向有限的范围泄漏的准TEM波。相对于向上述第一导体板的长度方向前进的电波的前进方向，该范围是上述电波的半波长以下的范围。因此，实质上需要的该第一导体板的长度只要是该半波长以下就足够，能够实现小型化。

另外，在本发明的测试装置中，“所述带状线单元具有所述电波信号透过的板状的载置板，在该载置板的表面和背面中的一个面用于载置所述电子装置，相对于该一个面的另一面与所述第一导体板相接触”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，通过上述载置板，使上述第一导体板和上述电子装置之间的间隔保持恒定的间隔，因此能够进行稳定的测试。

另外，在本发明的测试装置中，“所述带状线单元具有遮盖部，该遮盖部用于遮盖所述第一导体板的所述相对面的相反侧的除了规定范围以外的部分，由此将从该第一导体板发出的电波的量和方向分别限制为规定量和规定方向”的方式也是优选的方式。

根据该优选的方式的测试装置，能够严密地设定准TEM波从上述带状线单元泄漏的范围和方向。

另外，实现上述目的的本发明的测试方法，包括：供给过程，对带状线单元的第一导体板供给电信号，其中，所述带状线单元具有所述第一导体板和第二导体板，所述第一导体板的宽度在接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的宽度以上，所述第一导体板用于接收从外部供给的相当于该电波信号的所述电信号，所述第二导体板与所述第一导体板相对置，所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号，并且在所述第一导体板上的与所述第二导体板相对置的相对面的相反侧配置所述电子装置；以及反应确认过程，确认所述电子装置有无反应。

根据该本发明的测试方法，针对接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的通信性能，能够简单地进行充分的性能测试。

另外，实现上述目的的本发明的制造方法，包括制作工序和测试工序，在所述制作工序中，制作接收规定的电波信号并做出反应的电子装置，所述测试工序包括：供给过程，对带状线单元的第一导体板供给电信号，其中，所述带状线单元具有所述第一导体板和第二导体板，所述第一导体板的宽度在所述电子装置的宽度以上，所述第一导体板用于接收从外部供给的相当于该电波信号的所述电信号，所述第二导体板与该第一导体板相对置，所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号，并且在所述第一导体板上的与所述第二导体板相对置的相对面的相反侧配置所述电子装置；以及反应确认过程，确认所述电子装置有无反应。

根据该本发明的制造方法，利用包括针对通信性能简单地进行充分的性能测试的测试方法作为工序的制造方法，能够制造出接收规定的电波信号并做出反应的电子装置。

此外，关于本发明的测试方法以及制造方法，在此仅示出了各自的基本方式，但是这只是为了避免重复，本发明的测试方法以及制造方法各自不仅包括上述的基本方式，还包括与上述测试装置的各方式对应的各种方式。

以上，如上所述，根据本发明，能够得到针对电子装置的通信性能而简单地进行充分的性能测试的测试装置、能够进行这样的性能测试的测试方法、包括这样的测试方法作为工序的电子装置的制造方法，其中，所述电子装置接收规定的电波信号并做出反应。

附图说明

图1是表示本发明的第一实施方式的RFID标签测试装置的图。

图2是表示带状线单元100的示意图。

图3是表示带状线单元100中的第一导体板101和第二导体板102的图。

图4是表示连接终端电阻103并且用屏蔽板104覆盖了第一导体板101和第二导体板102的状态的图。

图5是表示在图4的状态下安装了用于对带状线单元100的盒体进行固定的金属零件105的状态的图。

图6是表示带状线单元100的完成状态的图。

图7是表示载置板109的载置面109a和第一导体板101之间的间隔的图。

图8是表示其他例的带状线单元500中的第一导体板501和第二导体板502的图。

图9是表示将第一导体板501和第二导体板502收纳在兼作屏蔽板的盒体504内的状态的图。

图10是表示在图9的状态下安装了载置板505的完成状态的图。

图11是表示其他例的带状线单元的剖面的图。

图12是表示准备操作中的电波暗室内的操作的图。

图13是以表的形式表示了通过准备操作取得的距离和电场强度的对应关系以及功率和电场强度的对应关系的图。

图14是以曲线图的形式表示了在图13上以表的形式表示的距离和电场强度的对应关系以及功率和电场强度的对应关系的图。

图15是以曲线图的形式表示了修正后的距离和电场强度的对应关系以及功率和电场强度的对应关系的图。

图16是表示在RFID标签测试装置1中执行的性能测试的流程的流程图。

图17是表示本发明的第二实施方式的RFID标签测试装置的图。

图18是表示包括使用了图17所示的RFID标签测试装置2的RFID标签的测试工序在内的RFID标签制造方法的流程图。

图19是表示图18的测试工序(步骤S220)的详细流程的流程图。

图20是表示本发明的第三实施方式的RFID标签测试装置的图。

图21是表示以互不相同的定时(timing)对图20所示的各带状线单元100供给电信号的情形的示意图。

图22是表示本发明的第四实施方式的RFID标签测试装置的图。

国23是表示本发明的第五实施方式的RFID标签测试装置的图。

图24是着眼于两组带状线单元中的一组来表示图23所示的RFID标签测试装置5的细节的图。

图25是表示包括利用了图23以及图24所示的RFID标签测试装置5的RFID标签的测试工序在内的RFID标签制造方法的流程图。

图26是表示图25的测试工序(步骤S300)的详细流程的流程图。

图27是表示第一以及第二带状线单元220、230中的RFID标签T1的配置和各带状线单元发送的电波信号的输出的图。

图28是表示本发明的第六实施方式的RFID标签测试装置的图。

图29是在求出可变衰减器320的距离的刻度的操作中使用的曲线图。

图30是表示本发明的第七实施方式的RFID标签测试装置的图。

图31是表示本发明的第八实施方式的RFID标签测试装置的图。

图32是表示带状线单元100的频率特性的曲线图。

图33是表示在RFID标签测试装置8中执行的频率特性取得处理的流程的流程图。

图34是表示通过图33的流程图所示的频率特性取得处理而取得的频率特性的一例的曲线图。

图35是表示本发明的第九实施方式的RFID标签测试装置的图。

图36是表示在RFID标签测试装置9中执行的频率特性取得处理的流程的流程图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明的实施方式进行说明。

首先，对本发明的第一实施方式进行说明。

图1是表示本发明的第一实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图1所示的RFID标签测试装置1用于对RFID标签T1的通信性能进行性能测试，其包括带状线单元100、读写器20以及计算机30，其中，在所述RFID标签T1上搭载有电波通信用的天线图案(antenna pattern)和IC芯片，所述RFID标签T1如果接收到规定的电波信号则返回应答信号。另外，读写器20通过第一电缆31连接到计算机30，带状线单元100通过第二电缆21连接到读写器20。在此，RFID标签T1相当于在本发明中所说的电子装置的一例，带状线单元100相当于在本发明中所说的带状线单元的一例。另外，读写器20相当于在本发明中所说的供给部的一例，计算机30相当于在本发明中所说的反应确认部的一例。

当从读写器20通过第二电缆21向带状线单元100供给了相当于上述电波信号的电信号时，该带状线单元100通过与该电信号所具有的功率对应的输出向规定的传播区域A1发送上述电波信号。在本实施方式中，在带状线单元100上的该传播区域A1上载置作为测试对象的RFID标签T1。另外，若RFID标签T1接收上述电波信号后返回应答信号，则该带状线单元100接收该应答信号。该所接收的应答信号通过第二电缆21被发送至读写器20。

读写器20从计算机30接收向带状线单元100供给具有某一功率的电信号的指示，之后向带状线单元100供给该电信号，当从带状线单元100返回了应答信号时，向计算机30通知已返回了上述应答信号。

计算机30一边按照规定的进程依次变更上述功率，一边对读写器20进行上述指示。关于该进程，将在后面进行叙述。

RFID标签测试装置1的概略结构如下。

接着，对在图1中以一个方框(block)示出的带状线单元100进行详细说明。

图2是表示带状线单元100的示意图。

带状线单元100包括：第一导体板101，其接收读写器20所供给的电信号；第二导体板102，其与该第一导体板101相对置，并且发挥地线的作用。另外，来自读写器20的电信号被供给到第一导体板101的一端，第一导体板101的另一端连接到终端电阻103。在本实施方式中，该终端电阻的电阻值为50欧姆，其原因在于，如后所述，该带状线单元100的特性阻抗(impedance)被设计成50欧姆。

当对第一导体板101作为上述电信号供给规定频率的交流信号时，在第一导体板101和第二导体板102之间的空间，产生从上述电信号的供给侧向终端电阻103侧前进的TEM波W1，并且该TEM波W1在与其前进方向正交的方向上具有电场成分以及磁场成分。该TEM波W1由于计算上的处理容易等理由，在过去被广泛利用在通信性能的测试等中。若假设在使用了该带状线单元100的测试中利用该TEM波W1，则在第一导体板101和第二导体板102之间需要用于与电场成分以及磁场成分平行地配置测试对象的RFID标签T1的空间，即，需要用于将测试对象的RFID标签T1配置在图2的纵方向上的空间。相对于此，在本实施方式中，利用与TEM波大致相同的准TEM波W2，该TEM波W2从第一导体板101向产生该TEM波W1的空间的相反一侧漏出。因此，在本实施方式中，在第一导体板101和第二导体板102之间不需要如上所述的空间，从而如后所述，实现了薄型化。另外，该准TEM波W2相对于第一导体板101而大致在法线方向上前进，因此，为了由测试对象的RFID标签T1来接收该准TEM波W2，将RFID标签T1的配置方向设为图2中的横方向。因此，仅仅通过在实现了薄型化的带状线单元100上载置测试对象的RFID标签T1，就能够进行测试，因此运用简单。而且，如后所述，在本实施方式中进行测试时所使用的该准TEM波W2随着远离第一导体板101而急速衰减，因此，如图2所示，其传播区域A1有限。在本实施方式中，利用该传播区域A1作为测试区域，测试对象的RFID标签T1配置在该传播区域A1内。因此，能够避免测试时的电波对测试区域的周边部产生影响，并且能够避免在传播目的地反射回来的反射波与测试区域内的电波发生干扰等状况。

接着，对该带状线单元100的具体构造进行说明。

图3是表示带状线单元100中的第一导体板101和第二导体板102的图，图4是表示连接终端电阻103并且用屏蔽板104覆盖了第一导体板101和第二导体板102的状态的图，图5是表示在图4的状态下安装了用于对带状线单元100的盒体进行固定的金属零件105的状态的图，图6是表示带状线单元100的完成状态的图。另外，在这些各图的部分(a)示出俯视图，在部分(b)示出侧视图。

如上所述，在本实施方式中，第一导体板101和第二导体板102的间隔H2被设计成第一导体板101的宽度H1的1/5，该第一导体板101的宽度大致与测试对象的RFID标签T1的宽度相同。该值1/5的值是使带状线单元100的特性阻抗的设计值成为50欧姆的值。其计算方法是公知的，因此，在此省略说明。另外，第一导体板101的长度被设计成，作为RFID标签T1的通信频率的电波的约1/2波长的长度，即，设计成在测试时使用的953MHz频率的电波的约1/2波长的长度。而且，如图3所示，在第一导体板101的左侧端部设置有用于连接终端电阻103的终端连接器(connector)106，在右侧端部设置有用于输入来自读写器20的电信号的输入连接器107。在此，该带状线单元100的特性阻抗的实测值为57.36欧姆，另外，该带状线单元100中表示相对于供给的功率而放出的电波程度的所谓的驻波比(SWR：StandingWave Ratio)为1.26。

在图4所示的屏蔽板104上设置有用于使从第一导体板101发出的准TEM波W2通过的开口部104a，该开口104a的尺寸被设计成特定的尺寸，所述特定的尺寸能够使准TEM波W2的宽度被限制在以RFID标签T1为对象进行测试时所需的充分的范围内。该屏蔽板104相当于在本发明中所说的屏蔽板的一例。

在被图5所示的金属零件105所固定的覆盖各导体板等的盒体108(图6)上，设置有比屏蔽板104的开口部104a宽的开口部108a，而且，该开口部108a被丙烯制的载置板109堵塞，所述载置板109用于载置测试对象的RFID标签T1。该载置板109相当于在本发明中所说的载置板的一例。

图7是表示载置板109的载置面109a和第一导体板101之间的间隔的图。

在本实施方式中，载置面109a和第一导体板101之间的间隔L1为7.4mm，载置板109的厚度被设计成能够实现该间隔。

在此，根据实测值，来说明在以上说明的带状线单元100中上述准TEM波W2随着远离上述载置面109a而急速衰减。当从读写器20向带状线单元100输入了具有25.5dBm的功率的电信号时，在与第一导电板101相距的距离互不相同的如下三个位置上配置标准偶极天线并计测各位置的电场强度，由此，得到上述实测值。首先，在与第一导电板101相距的距离为7.4mm、即标准偶极天线配置于上述载置面109a上的状态下进行了计测，接着，在该距离为100mm的位置进行了计测，进而，在150mm的位置进行了计测。若用将7.4mm的位置的计测结果作为基准的、相当于上述输入的电信号的功率的衰减量来表示其结果，则在7.4mm的位置，由于该位置为基准，因此为0dB，在100mm的位置变为-11.9dB，在150mm的位置变为-24.5dB。从该结果可知，在100mm的位置，在dB显示上，相对于输入量25.5dBm，大致衰减至一半，在150mm的位置几乎全部衰减。

这样，从带状线单元100发出的准TEM波W2所到达的范围有限，在图1所示的RFID标签测试装置1中，不存在从带状线单元100发出的电波信号越过测试区域而传播到周边的忧虑。在RFID标签测试装置1中，在进行测试时，RFID标签T1被载置在上述载置面109a上。

接着，对带状线单元的其他例进行说明。

图8是表示其他例的带状线单元500中的第一导体板501和第二导体板502的图，图9是表示将第一导体板501和第二导体板502收纳在兼作屏蔽板的盒体504内的状态的图，图10是表示在图9的状态下安装了载置板505的完成状态的图，图11是表示其他例的带状线单元的剖面的图。另外，图8至图10各图的部分(a)示出俯视图，在部分(b)示出侧视图。

该其他例的带状线单元500也与上述带状线单元100同样地被设计成特性阻抗为50欧姆、使用频率为953MHz。

该其他例的带状线单元500通过将第二导体板502兼用作收纳盒体的底面等来实现进一步的薄型化。另外，在上述带状线单元100中，终端电阻103被朝向盒体108的底面一侧安装，但是，在该其他例的带状线单元500中，终端电阻503被横向安装。而且，在设置于该其他例的带状线单元500上的终端连接器506以及输入连接器507上，在带状线单元500的内侧连接器端子上直接连接有第一导体板501。另外，受到第二导体板502形成为稍微宽的形状的影响，所以为了使准TEM波通过而设置在盒体504上的开口部504a也形成为比上述带状线单元100中的开口104a宽的长方形状。另外，在该其他例的带状线单元500中，如图11所示，由于盒体504的形状有限，第一导体板501和载置面505a之间的间隔L2为9.7mm，稍微比上述带状线单元100中的其距离远。当然，在以上说明的其他例的带状线单元500中也能够得到与上述带状线单元100大致同样的性能。

接着，说明在具有图3至图7所示的带状线单元100的图1的RFID标签测试装置1中实施的测试内容。

RFID标签接收与读写器等连接的天线通过规定的输出来发送的电波信号。由于电波信号随着远离天线而衰减，因此，RFID标签具有能够接收通过这样的输出来发送的电波信号的通信界限距离，该通信界限距离为表示RFID标签的通信性能的重要的指标之一。在过去，该通信界限距离是通过例如在电波暗室等特殊的测试环境中的如下顺序求出的。首先，对于读写器连接天线，并与该天线相对置地配置测试对象的RFID标签。接着，天线通过与使用RFID标签时的输出相同的输出来发送电波信号，并一边确认是否存在来自测试对象的RFID标签的应答信号，一边使该RFID标签渐渐远离该天线。然后，采用无法确认来自RFID标签的应答信号时的与天线相距的距离，作为该RFID标签的通信界限距离。这样的一系列操作，由于需要如上所述的特殊环境、并且在进行测试时需要将测试对象的RFID标签移动至该特殊环境、而且在该特殊环境中必须移动RFID标签等问题，对操作者带来较大负担，并且成为妨碍RFID标签的开发、制造的效率的原因。

相对于此，在图1所示的RFID标签测试装置1中，只要将以下说明的准备操作实施一次，之后仅通过将测试对象的RFID标签T1放置在上述带状线单元100的载置板109(参照图6)上，就能够在计算机30中自动得到通信界限距离。在此，该计算机30还兼作在本发明中所说的换算部的一例。

首先，对上述准备操作进行说明。

在本实施方式中，在进行该准备操作时使用电波暗室。

图12是表示准备操作中的电波暗室内的操作的图。

在该准备操作中，准备与图1所示的RFID标签测试装置1所具有的计算机30以及读写器20相同的计算机42以及读写器44，并将它们配置在电波暗室41内。两者通过第三电缆43而相连，在读写器44上，通过第四电缆45连接规定的天线46。而且，在与该天线46相对置的规定的初始位置配置标准偶极天线47。在该标准偶极天线47上，通过第五电缆48连接有测定器49，该测定器49用于测定该标准偶极天线47所接收到的电波信号的电场强度。

如下所述地进行该电波暗室41内的操作。

首先，计算机42指示读写器44通过与使用RFID标签时的输出相同的输出来发送电波信号。然后，一边利用测定器49来测定按照该指示而从天线46发送并且由标准偶极天线47接收到的电波信号的电场强度，一边使标准偶极天线47从初始位置朝着远离天线46的方向以10cm的幅度移动。通过该电波暗室41内的操作，求出标准偶极天线47所接收到的电波信号的电场强度与特定距离的对应关系，其中，所述特定距离是天线46和标准偶极天线47之间的距离，但是，该距离和电场强度的对应关系相当于，当假设与读写器44连接的天线46通过规定的输出来发送电波信号并且由测试对象的RFID标签接收该电波信号时，由该测试对象的RFID标签接收的电波信号的电场强度与另一特定距离的对应关系，其中，所述另一特定距离是天线46和RFID标签之间的距离。

在准备操作中，除了以上说明的电波暗室41内的操作以外，还进行使用了图1所示的RFID标签测试装置1的如下操作。但是，在该操作中，代替测试对象的RFID标签T1，将上述标准偶极天线47载置在带状线单元100的载置板109上，在该标准偶极天线47上连接上述测定器49。在该操作中，一边使功率以0.5dB的幅度从0dBm增加到5.5dBm，一边从计算机30指示读写器30向带状线单元100供给电信号。然后，测定在供给各功率的电信号时标准偶极天线47所接收到的电波信号的电场强度。通过使用了该RFID标签测试装量1的操作，求出标准偶极天线47所接收到的电波信号的电场强度与对带状线单元100供给的电信号的功率的对应关系，但是该功率和电场强度的对应关系相当于，在进行使用了RFID标签测试装置1的性能测试时，由测试对象的RFID标签接收的电波信号的电场强度与对带状线单元100供给的电信号的功率的对应关系。

图13是以表的形式表示了通过准备操作取得的距离和电场强度的对应关系以及功率和电场强度的对应关系的图。

该图13所示的表Tab，在左侧示出距离和电场强度的对应关系Ta1，在右侧示出功率和电场强度的对应关系Ta2。此外，在功率和电场强度的对应关系Ta2中，以V/m单位和dBμV/m单位这两种单位表示电场强度。

图14是以曲线图的形式表示了在图13上以表的形式表示距离和电场强度的对应关系以及功率和电场强度的对应关系的图。

在该图14的曲线图G1中，纵轴取电场强度，横轴取功率和距离。而且，在该曲线图G1中，以四边形的点描绘了通过使用了电波暗室41的操作得到的距离和电场强度的对应关系，以菱形的点描绘了通过使用了RFID标签测试装置1的操作得到的功率和电场强度的对应关系。而且，在该曲线图G1中，为了做参考，以三角形的点描绘了不通过如上所述的使用了电波暗室41的操作而使用规定的逻辑公式来计算出距离和电场强度的对应关系时的计算结果。

在此，由于在电波暗室41内也发生若干电波的反射等，因此，在距离为100cm至160cm的范围和220cm以上的范围内，基于实测的距离和电场强度的对应关系与基于逻辑公式的距离和电场强度的对应关系相偏离。在本实施方式中，根据基于实测的距离和电场强度的对应关系中的电场强度的值，进行修正，从而消除这样的偏离。在图13的表Tab中的功率和电场强度的对应关系Ta1中，加括号来表示该修正后的电场强度。

图15是以曲线图的形式表示了修正后的距离和电场强度的对应关系以及功率和电场强度的对应关系的图。

如该图15所示，若将从0cm到300cm之间的每隔10cm的各距离和从25.5dBm到0.0dBm之间的每隔0.5dB的各功率一对一地对应起来，则图中的虚线和实线大体上一致，其中，所属虚线表示修正后的距离和电场强度的对应关系，所述实线表示功率和电场强度的对应关系。因此，在本实施方式中，在准备操作中，生成这样的功率和距离的对应关系，即，将在图13所示的表Tab中记载在同一行的对应关系Ta2中的各功率的值和对应关系Ta1中的距离的值之间对应起来而得的功率和距离的对应关系，其中，所述对应关系Ta2是功率和电场强度的对应关系，所述对应关系Ta1是距离和电场强度的对应关系。在图1所示的RFID标签测试装置1的计算机30内的未图示的存储器中存储该生成的功率和距离的对应关系。以上，结束准备操作。在此，该功率和距离的对应关系相当于在本发明中所说的换算关系的一例。

接着，说明在图1的计算机30的控制下，在RFID标签测试装置1中利用通过该准备操作求得的功率和距离的对应关系进行的性能测试。

图16是表示在RFID标签测试装置1中执行的性能测试的流程的流程图。

在此，该图16的流程图所示的处理相当于本发明的测试方法的一实施方式。

当用户通过规定操作指示计算机30开始性能测试时，开始该图16的流程图所示的处理。开始处理后，首先，计算机30指示读写器20执行规定的初始化处理，然后处于待机状态，其中，该规定的初始化处理包括将对带状线单元100供给的电信号的功率设定为0dBm的处理，(步骤S101)。然后，在RFID标签测试装置1的带状线单元100上配置测试对象的RFID标签T1，当用户通过规定的操作指示计算机30开始对于该RFID标签T1的性能测试时，进入到下一步骤(步骤S102)。

在步骤S102中，判断当前在读写器20中所设定的电信号的功率是否为最大设定值(在本实施方式中为25.5dBm)。但是，在步骤S101的初始化处理之后，功率的设定值不是最大设定值(在步骤S102中判断为“否”)，因此进入到下一步骤S103的处理。

在步骤S103的处理中，计算出使读写器20中的当前的设定值增加的值，该值使所述设定值增加了规定幅度的增加量(在本实施方式中为0.5dB)，将该值作为读写器20中的功率的设定值，并向读写器20发送指令C1，该指令C1用于指示将其计算结果设定为对带状线单元100供给的电信号的功率。

在此，在本实施方式中成为测试对象的RFID标签T1中，存储有为了将该RFID标签T1与其他RFID标签区别而使用的识别信息(UID：UniqueIdentifier，唯一标识符)。

如果在上述步骤S103的处理中指示了设定功率，则接着向读写器20发送指令C2，该指令C2用于指示向带状线单元100供给请求信号，该请求信号用于对测试对象的RFID标签T1请求UID(步骤S104)。

组合了该步骤S104的处理和之前的步骤S103的处理的处理相当于在本发明中所说的供给过程的一例。

读写器20向带状线单元100供给具有上述所设定的功率的请求信号。然后，当针对该请求信号，从RFID标签T1输出了表示UID的应答信号S1时，读写器20通过带状线单元100接收该应答信号S1并将其发送到计算机30。

另一方面，在步骤S104之后，计算机30一方转移至规定时间的待机状态(步骤S105)。然后，在经过该规定时间后，判断是否从读写器20发送来应答信号S1(步骤S106)。组合了该步骤S106的处理和之前的步骤S105的处理的处理相当于在本发明中所说的反应确认过程的一例。当未从读写器20发送来应答信号S1时(在步骤S106中判断为“否”)，返回到步骤S102，并重复执行从该步骤S102至步骤S106的处理。该重复持续至功率的设定值达到最大设定值(在步骤S102中判断为“是”)或者从读写器20发送来应答信号S1(在步骤S106中判断为“是”)为止。

当从读写器20发送来应答信号S1时，计算机30使用上述的功率和距离的对应关系，将该时刻的功率的设定值换算为图12所示的电波暗室41中的与天线46相距的距离(步骤S107)。

该换算结果相当于如下通信界限距离，该通信界限距离为：例如，天线46通过规定的输出来发送与上述请求信号对应的电波信号，并由测试对象的RFID标签T1接收该电波信号，在此状况下，使RFID标签T1从充分远离的位置逐渐接近天线46时，RFID标签T1第一次返回应答信号S1的距离，即，该RFID标签T1能够接收从天线46发出的电波信号的通信界限距离。在步骤S107的处理中，当针对测试对象的RFID标签T1求得这样的通信界限距离时，计算机30将该通信界限距离与来自RFID标签T1的应答信号S1所表示的UID相对应地保存在规定的存储器中(步骤S108)。然后，处理返回到步骤S101，指示读写器20执行初始化处理，然后处于针对下一RFID标签的性能测试的待机状态。

另外，当未从读写器20发送来应答信号S1而功率的设定值达到最大设定值时，在规定的显示画面上显示测试对象的RFID标签T1为次品，之后，处理返回到步骤S101，指示执行初始化处理，之后处于下一性能测试的待机状态。

以上，如参照图1至图16来说明的那样，根据本实施方式，只要预先将规定的准备操作执行一次，针对求出测试对象的RFID标签的通信界限距离的性能测试，无需使用电波暗室等特殊环境而能够简单地进行充分的性能测试。

接着，对本发明的第二实施方式进行说明。

图17是表示本发明的第二实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图17所示的RFID标签测试装置2，除了将多个RFID标签作为测试对象这一点以外，其他方面与图1所示的第一实施方式的RFID标签测试装置1相同。因此，在图17中，对于与图1相同的构成要素，标注与图1相同的附图标记，下面，将省略关于这些构成要素的重复说明。

在RFID标签测试装置2中，处理如下状态的标签卷R，即，在形成于轧辊式基体(base)上的多个天线图案各自上搭载IC芯片而成的多个RFID标签T1尚未切割成各个RFID标签。而且，该标签卷R的各个RFID标签T1成为该RFID标签测试装置2中的测试对象物。

在RFID标签测试装置2中具有搬送装置50，该搬送装置50将该标签卷R的各个RFID标签T1顺次搬送至带状线单元100，该搬送装置50通过第六电缆51连接到计算机60。该RFID标签测试装置2中的计算机60除了控制读写器20以外，还控制搬送装置50。当该计算机60向该搬送装置50发送后述的指令时，搬送装置50为了将标签卷R的RFID标签T1向箭头D1方向搬送相当于配置间隔的量，使标签卷R的中心轴向箭头D2的方向旋转，其旋转角度为搬送配置间隔所需要的旋转角度。由此，标签卷R的各RFID标签T1顺次被搬送至带状线单元100，在该带状线单元100的位置实施上述性能测试。在此，该搬送装置50相当于在本发明中所说的搬送部的一例。

图18是表示包括使用了图17所示的RFID标签测试装置2的RFID标签的测试工序在内的RFID标签制造方法的流程图。

该图18所示的RFID标签制造方法包括：制作工序(步骤S210)，制作上述标签卷R；测试工序(步骤S220)，对于标签卷R的各RFID标签T1，进行用于求出通信界限距离的上述性能测试。该图18所示的RFID标签制造方法相当于本发明的制造方法的一个实施方式，制作工序(步骤S210)以及测试工序(步骤S220)分别相当于在本发明中所说的制作工序以及测试工序的一例。另外，测试工序(步骤S220)还相当于本发明的测试方法的一实施方式。在此，由于制作标签卷R的制作工序是公知技术，因此关于该制作工序的细节，省略说明。

图19是表示图18的测试工序(步骤S220)的详细流程的流程图。此外，该图19的流程图所示的测试工序，除了包括向上述搬送装置50发送用于指示搬送的指令的处理(步骤S221)这一点以外，其他方面与图16的流程图所示的处理大致相同。因此，在该图19中，对于与该图16的流程图中的处理过程相同的处理过程，标注与图16相同的附图标记，下面，将省略关于这些处理过程的重复说明。

图16所示的初始化处理(步骤S101)是在对读写器赋予初始化指示后处于待机状态的处理，相对于此，该图19所示的初始化处理(步骤S101’)是省略这样的待机状态而进入下一处理的处理。另外，图16所示的步骤S102的处理在功率达到最大设定值时返回到初始化处理(步骤S101)，相对于此，紧接着该步骤S101’后的步骤S102’的处理不返回到初始化处理(步骤S101’)，而进入下面说明的步骤S221的处理。

在以下情况下执行步骤S221的处理，即，在针对当前位于带状线单元100的位置的RFID标签T1求出通信界限距离并经由步骤S108的处理后保存了该通信界限距离时，或者在判断为在步骤S102’的处理中功率达到最大设定值时(在步骤S102’中判断为“是”)执行上述步骤S221的处理。在该步骤S221的处理中，计算机60向搬送装置50发送指令C3，该指令C3用于指示将标签卷R的中心轴旋转，其旋转角度为搬送配置间隔所需要的旋转角度。当搬送装置50按照该指令C3动作时，未测试的RFID标签T1代替测试完毕的RFID标签T1而被配置在带状线单元100的位置。

以上，根据参照图1至图17来说明的第二实施方式，针对多个RFID标签T1，能够高效率地进行测试，而且，能够高效率地制造这样的多个RFID标签T1。

接着，对本能发明的第三实施方式进行说明。

图20是表示本发明的第三实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图20所示的RFID标签测试装置3除了具有多个带状线单元这一点之外，其他方面与图1所示的第一实施方式的RFID标签测试装置1相同。因此，在图20中，对于与图1相同的构成要素，标注与图1相同的附图标记，下面，将省略关于这些构成要素的重复说明。

如该图20所示，第三实施方式的RFID标签测试装置3具有彼此相同的两个带状线单元100，各带状线单元100通过第七以及第八电缆81、82分别连接到在一个读写器80中所具有的两个供电部(以下称之为端口)80a、80b。在此，对于各带状线单元100，如下所述那样以互不相同的定时从读写器80的各端口供给电信号。

图21是表示以互不相同的定时对图20所示的各带状线单元100供给电信号的情形的示意图。

在本实施方式中，分割成多个时隙来进行利用了两个带状线单元100的测试。在一个时隙内，针对一个带状线单元100进行与某设定功率对应的电信号的供给和应答信号的接收。在该图21中，在上下两段分别示出与各带状线单元100对应的时隙，在各时隙，示出了电信号的供给定时t1和应答信号的接收定时t2。例如，若在时隙n中针对一个带状线单元100进行与某设定功率对应的电信号的供给以及应答信号的接收，则在下一时隙n+1中针对另一个带状线单元100进行与相同于时隙n中的设定功率的设定功率对应的电信号的供给以及应答信号的接收。而且，在下一时隙n+2中，针对与时隙n中的对象的带状线单元100相同的带状线单元100，用其他设定功率进行电信号的供给以及应答信号的接收，在接续的时隙n+3中，针对另一个带状线单元100，用该其他设定功率进行电信号的供给以及应答信号的接收。这样，在本实施方式中，针对两个带状线单元100，交互地执行电信号的供给和应答信号的接收的组合。这样的交互执行，在微观上为定时相互错开的执行，但是在肉眼观察时，即，在宏观上可以认为是同时且并行的执行。即，在本实施方式中，使用两个带状线单元100，看起来同时且并行地进行针对两个RFID标签T1的性能测试，因此效率高。

接着，对本发明的第四实施方式进行说明。

图22是表示本发明的第四实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图22所示的RFID标签测试装置4具有两组的组合，其中，所述组合是，图20所示的第三实施方式的RFID标签测试装置3中的两个带状线单元100和一个读写器80的组合，所述读写器80用于对上述两个带状线单元100供给电信号。因此，在该图22中，对于与图20相同的构成要素标注与图20相同的附图标记，下面，将省略关于这些构成要素的重复说明。

在此，上述两组中的各个读写器80相当于在本发明中所说的供给设备的一例。这两个读写器80分别通过第九以及第十电缆91、92连接到计算机90。在此，计算机90控制两个读写器80，使得在各读写器80相互同时且并行地进行参照图21说明的电信号的供给以及应答信号的接收。因此，在本实施方式中，使用四个带状线单元100能够同时且并行地进行针对四个RFID标签T1的性能测试，因此效率更高。在此，针对这些四个带状线单元100中的两个带状线单元100，以相互相同的定时进行电信号的供给以及应答信号的接收，但是由于各带状线单元100中的准TEM波的到达范围有限，因此能够避免各带状线单元100彼此之间的干扰。

接着，对本发明的第五实施方式进行说明。

图23是表示本发明的第五实施方式的RFID标签测试装置的图。

该第五实施方式的RFID标签测试装置5包括与图20所示的第三实施方式的RFID标签测试装置3所具有的读写器80相同的读写器。因此，在该图23中，对于读写器标注与图20相同的附图标记，下面，将省略关于该读写器80的重复说明。

在本实施方式中，在读写器80的两个端口80a、80b上，通过后述的衰减器240分别串联连接有大致相同的第一以及第二带状线单元220、230。在此，这些第一以及第二带状线单元220、230中的第二带状线单元230是与在上述第一至第四实施方式中使用的带状线单元100相同的带状线单元，而第一带状线单元220的结构为，不与上述图4等示出的终端电阻103相连接，而是终端连接器与输入连接器同样伸出到盒体外的结构。并且，在第一带状线单元220的终端连接器和第二带状线单元230的输入连接器之间连接有衰减器240。衰减器240用于使读写器80向第一带状线单元220供给的电信号以规定程度衰减并传输到第二带状线单元230，衰减器240相当于在本发明中所说的衰减部的一例。

另外，该第五实施方式的RFID标签测试装置5与图17所示的第二实施方式的RFID标签测试装置2同样地将标签卷R所包括的多个RFID标签作为测试对象。但是，在该第五实施方式的RFID标签测试装置5中，使用与读写器80中的一个端口连接的带状线单元的组合来进行针对一个标签卷R的测试。即，该RFID标签测试装置5具有同时且并行地进行针对两个标签卷R的测试的功能。在此，与各端口连接的带状线单元的组合彼此相同，使用各组合来进行的测试也相同，因此，以下着眼于带状线单元的两组中的一组来进行说明。

图24是着眼于两组带状线单元中的一组来表示图23所示的RFID标签测试装置5的细节的图。

在该图24中，为了方便观察，测试对象的标签卷R位于远离两个带状线单元220、230的位置，但是，实际上，如图中的虚线所示，将标签卷R配置为与两个带状线单元220、230相接触。另外，在该图24中还示出了在图23中省略了图示的搬送装置250，该搬送装置250通过使标签卷R的旋转轴向箭头D3方向旋转，从而向箭头D4所示的搬送方向搬送标签卷R的各RFID标签T1，并针对两个带状线单元220、230分别依次配置各RFID标签T1。

如该图24所示，在该RFID标签测试装置5中，从箭头D4所示的搬送方向的上游侧，沿着该搬送方向，按照第一带状线单元220、第二带状线单元230的顺序配置有两个带状线单元220、230。而且，两个带状线单元220、230之间的间隔L4为标签卷R中的RFID标签T1的配置间隔L3的3倍。

图25是表示包括利用了图23以及图24所示的RFID标签测试装置5的RFID标签的测试工序在内的RFID标签制造方法的流程图。

该图25所示的RFID标签制造方法包括：制作工序(步骤S210)，该制作工序与图18所示的制作工序相同；测试工序(步骤S300)，针对标签卷R的各RFID标签T1，进行使用RFID标签测试装置5求出通信界限距离的性能测试。该图25所示的RFID标签制造方法相当于本发明的制造方法的一个实施方式，上述测试工序(步骤S300)相当于在本发明中所说的测试工序的一例，并且还相当于本发明的测试方法的一个实施方式。

图26是表示图25的测试工序(步骤S300)的详细流程的流程图。

当在图23以及图24所示的RFID标签测试装置5上设置标签卷R，并且用户通过规定操作指示计算机210开始性能测试时，开始该图26的流程图所示的处理。当开始处理时，首先，计算机210指示读写器80执行上述初始化处理(步骤S301)。

接着，对于读写器80发送指令C4，该指令C4用于指示将功率的设定值设为如下的设定值，该设定值是指，使第一带状线单元220能够通过RFID标签T1可接收的输出来发送电波信号，而使经由衰减器240收到电信号的第二带状线单元230通过RFID标签T1不可接收的低输出来发送电波信号的设定值(步骤S301)。接着，对读写器80发送指令C5，该指令C5用于指示向第一带状线单元220供给第一请求信号，其中，该第一请求信号用于向测试对象的RFID标签T1请求UID(步骤S302)。组合了该步骤S302的处理和之前的步骤S301的处理的处理相当于在本发明中所说的供给过程的一例。另外，本实施方式中的UID相当于在本发明中所说的识别信息的一例，取得表示该UID的应答信号S2的计算机210相当于在本发明中所说的识别信息取得部的一例。

读写器80向第一带状线单元220供给具有上述所设定的功率的第一请求信号。另外，该第一请求信号经由衰减器240还被供给到第二带状线单元230。此时，由于第一请求信号的功率被设定为如上所述的设定值，因此只有针对第一带状线单元220配置的RFID标签T1能够接收与该第一请求信号对应的电波信号。而且，当从该RFID标签T1返回了应答信号S2时，读写器80经由第一带状线单元220接收该应答信号S2并将其发送至计算机210。

另一方面，在步骤S303之后，计算机210转移至待机状态(步骤S304)，之后，判断是否从读写器80发送来应答信号S2(步骤S305)。而且，当从读写器20发送来应答信号S2时(在步骤S305中判断为“是”)，在规定的存储器中临时存储该应答信号S2所表示的UID(步骤S306)，当未从读写器20发送来应答信号S2时(在步骤S305中判断为“否”)，临时存储表示未发送来应答信号的BAD标志(flag)(步骤S307)。

当UID的临时存储(步骤S306)或BAD标志的临时存储(步骤S307)结束时，计算机210向搬送装置250发送指令C6，该指令C6用于指示将标签卷R的中心轴旋转，其旋转角度为搬送配置间隔L3(步骤S308)所需要的旋转角度。然后，在发送该指令C6后，计算机210将临时存储的上述UID或BAD标志存储在自身所具有的FIFO存储器(First In First Out Memory)中，其中，该FIFO存储器以先进先出方式存储信息(步骤S309)。在此，该FIFO存储器相当于在本发明中所说的FIFO存储器的一例。

在此，上述FIFO存储器的缓冲器级数，即该FIFO存储器能够存储的信息数，是RFID标签T1从第一带状线单元220移动至第二带状线单元230所需要的搬送次数。在本实施方式中，从图24可知，该搬送次数为3次，因此FIFO存储器的缓冲器级数被设定为三级。

当步骤S309中向FIFO存储器存储信息结束时，判断当前FIFO存储器的缓冲器是否已满(步骤S310)。在缓冲器中存在空闲时，(在步骤S310中判断为“否”)，处理返回到步骤S302，并重复执行步骤S302至步骤S310的处理。继续进行该处理，直至FIFO存储器的缓冲器占满(在步骤S310中判断为“是”)为止。

当FIFO存储器的缓冲器占满时，从FIFO存储器读出信息，并判断该信息是否为BAD标志(步骤S311)。当该信息为BAD标志时(在步骤S311中判断为“是”)，处理返回到步骤S302，并重复执行步骤S302至步骤S311的处理。

另一方面，当该信息不是BAD标志而是UID时(在步骤S311中判断为“否”)，判断当前在读写器80中所设定的电信号的功率是否为最大设定值(步骤S312)。在通过步骤311进行判断之后，由于功率的设定值不是最大设定值(在步骤S312中判断为“否”)，因此进入下一步骤S313的处理。

在步骤S313的处理中，计算出使当前的设定值增加了相当于规定幅度的增加量的值，将其作为读写器80中的功率的设定值，并向读写器80发送指令C7，该指令C7用于指示将其计算结果设定为向第一带状线单元220供给的电信号的功率。接着，向读写器80发送指令C8，该指令C8用于指示向第一带状线单元220供给第二请求信号，其中，该第二请求信号用于向从FIFO存储器读出的UID所识别的RFID标签T1请求规定的反应(步骤S314)。组合了该步骤S314的处理和之前的步骤S313的处理的处理也相当于在本发明中所说的供给过程的一例。

读写器80向第一带状线单元220供给具有上述所设定的功率的第二请求信号。另外，该第二请求信号经由衰减器240还被供给到第二带状线单元230。在此，该第二请求信号请求反应的RFID标签T1在第一带状线单元220的位置返回表示UID的应答信号S2，之后，步骤S308的搬送被重复执行了三次，由此，在向第一带状线单元220供给了第二请求信号的时刻，RFID标签T1配置在第二带状线单元230的位置。另外，此时，在第一带状线单元220的位置配置有另一RFID标签T1，该另一RFID标签T1的UID与该RFID标签T1不同。因此，虽然从第一以及第二带状线单元220、230两者发送第二请求信号，但是有可能对该第二请求信号做出反应的仅是第二带状线单元230的位置的RFID标签T1。

在步骤S314之后，计算机210转移至待机状态(步骤S315)，之后，判断是否从读写器80发送来基于RFID标签T1的反应的应答信号S3(步骤S316)。组合了该步骤S316的处理和之前的步骤S315的处理的处理相当于在本发明中所说的反应确认过程的一例。

当未从读写器80发送来应答信号S3时(在步骤S316中判断为“否”)，返回到步骤S312，并重复执行该步骤S312至步骤S316的处理。该重复操作继续至功率的设定值达到最大设定值(在步骤S312中判断为“是”)或从读写器80发送来应答信号S3(在步骤S316中判断为“是”)为止。

当从读写器80发送来应答信号S3时，计算机210利用上述的功率与距离之间的对应关系，将发送该应答信号时的功率的设定值换算为通信界限距离(步骤S317)，并将该通信界限距离与成为第二请求信号的基础的UID相对应地保存在规定的存储器中(步骤S318)。在经由该步骤S318保存通信界限距离的处理结束时，或者，在未发送来应答信号S3而功率的设定值达到最大设定值时(在步骤S312中判断为“是”)，处理返回到步骤S302，继续进行测试。

以上，对于参照图26的流程图而说明的测试工序，重复进行若干次数，参照上述图24和接下来的图27进一步进行说明。

图27是表示第一以及第二带状线单元220、230中的RFID标签T1的配置和各带状线单元发送的电波信号的输出的图。

如上述图24所示，关于标签卷R的RFID标签T1，从搬送方向(箭头D4)下游侧依次称为标签A、标签B、标签X、标签D、标签X。在此，假设两个标签X均为故障品。而且，假设在RFID标签测试装置5中设置标签卷R，将标签A配置在第一带状线单元220的位置，在此情况下开始进行上述测试工序。此时，如图27所示，在测试工序的开始时刻T0，第二带状线单元230的位置处于空闲状态。

在此，假设第一带状线单元220根据从读写器80供给的、请求UID的第一请求信号而发送的电波信号的电场强度例如为130dBμV/m，通过衰减器240衰减的衰减量为10dB，则第二带状线单元230根据衰减后的第一请求信号而发送的电波信号的电场强度为120dBμV/m。此时，当假设测试对象的RFID标签T1能够接收的最小的电场强度为125dBμV/m时，在T0的时刻，配置在第一带状线单元220的位置的标签A返回应答信号。将这样的处理执行至标签A配置在第二带状线单元230的位置的时刻T3，在该期间，从第一带状线单元220继续发送具有130dBμV/m的电场强度的电波信号，从第二带状线单元230继续发送具有120dBμV/m的电场强度的电波信号。另外，在该时刻T3，对于配置在第二带状线单元230的位置的标签A发送具有120dBμV/m的电场强度的电波信号，但是该电波信号的电场强度低于标签A能够接收的最小的电场强度，因此，标签A不做出反应。在该时刻T3之后，RFID标签T1配置在两个带状线单元220、230两个位置，并且对于这些两个RFID标签发送电波信号，但是仅在配置在第一带状线单元220的位置的RFID标签T1接收到基于第一请求信号的电波信号，其中，所述第一请求信号用于请求UID。

接着，在上述时刻T3之后，紧接着基于第一请求信号的处理之后，一边逐渐增加功率、即增加各带状线单元所发送的电波信号的电场强度，一边执行基于指定了其UID的第二请求信号的处理。在该处理的开始时刻，第一带状线单元220发送具有130dBμV/m的电场强度的电波信号，第二带状线单元230发送具有120dBμV/m的电场强度的电波信号。如上所述，在该例子中，由于RFID标签T1能够接收的最小的电场强度为125dBμV/m，因此，第一带状线单元220的位置的RFID标签T1在处理中始终能够接收。但是，在取得了UID的RFID标签T1配置在第二带状线单元230的位置的时刻，使用所取得的该UID来进行指定了UID的该处理。因此，由于UID不一致，第一带状线单元220的位置的RFID标签T1不做出反应。在此，假设电场强度的增加量最多为10dB，则在处理中，第二带状线单元230发送的电波信号的电场强度最大限度地在从120dBμV/m至130dBμV/m之间变化。而且，当电波信号的电场强度达到RFID标签T1能够接收的强度即125dBμV/m时，若此时配置在第二带状线单元230的位置的RFID标签T1是正常的标签(在该例子中为标签A、标签B、标签C、标签D)，则做出反应，并针对这些RFID标签T1求出通信界限距离。

以上，根据参照图23至图27来说明的第五实施方式，指定UID来进行用于求出通信界限距离的性能测试，因此，能够避免存在于性能测试中的RFID标签T1附近的其他RFID标签T1错误地做出反应等不合适的情况，从而能够进行更准确的测试。

接着，对本发明的第六实施方式进行说明。

图28是表示本发明的第六实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图28所示的RFID标签测试装置6包括与图1所示的第一实施方式的读写器20以及带状线单元100相同的读写器以及带状线单元，在图28中，对于这些读写器以及带状线单元标注与图1相同的附图标记，下面，将省略关于它们的重复说明。

读写器20通过第十一电缆311连接到计算机310，而且，该读写器20通过可变衰减器320连接到带状线单元100，其中，通过对规定的操作件320a进行手动操作能够变更所述可变衰减器320的衰减量。在此，该可变衰减器320相当于在本发明中所说的传输部的一例。

计算机310向读写器20发送指令，该指令用于指示例如以27dBm的规定的设定功率向带状线单元100供给请求规定反应的请求信号。然后，按照该指令，读写器20供给的电信号经由可变衰减器320的衰减而传输到带状线单元100。然后，从读写器20向计算机310通知如下内容：针对由带状线单元100根据该衰减后的电信号而发送的电波信号，测试对象的RFID标签T1是否做出了反应。所通知的结果被显示在计算机310所具有的未图示的显示画面上。

在此，在上述可变衰减器320中，标出了表示互不相同的衰减量的多个刻度，但是与该衰减量的刻度相邻地标出了在上述第一实施方式的准备操作中使用的表示互不相同的距离的多个距离的刻度，这些刻度表示与图12所示的电波暗室41内的天线46相距的距离。而且，如果用户将操作件320a设定在任意距离的刻度，则将读写器20所供给的电信号的功率换算为特定的功率并将其传输至该带状线单元100，所述特定的功率是指，带状线单元100发送与该设定的刻度所表示的距离的电波信号输出功率相同的输出功率的电波信号时所需要的功率。

在此，可变衰减器320中的距离的刻度，是经由如下所述的顺序在可变衰减器320中标出的刻度。首先，与第一实施方式的准备操作同样，通过图12所示的电波暗室41内的计测操作，求得与天线46相距的距离和该距离的电场强度之间的对应关系。

图29是在求出可变衰减器320的距离的刻度的操作中使用的曲线图。

在该图29所示的曲线图G3中，纵轴取电场强度，横轴取距离。

在求得距离的刻度的操作中，通过上述电波暗室41内的计测操作，求得与天线46相距的距离和该距离的电场强度之间的对应关系。首先，在曲线图G3中描绘该对应关系。在该图29的例子中，用四边形描绘了该对应关系。接着，在距离的刻度未标出在可变衰减器320中的状态下的RFID标签测试装置6中，如上所述，从读写器20例如用27dBm的规定的设定功率向带状线单元100供给电信号。然后，一边利用标准偶极天线来计测此时带状线单元100所发送的电波信号的电场强度，一边对可变衰减器320的操作件320a进行操作，从而针对曲线图G3中的四边形的各描绘点，求出能够得出与其描绘点的电场强度大致相同的电场强度的衰减量刻度。在该图29的例子中，在曲线图G3的横轴的各距离的上方，标出针对与该距离对应的描绘点求出的衰减量刻度。而且，在该曲线图G3中，用菱形描绘了通过可变衰减器320的操作得出的衰减量刻度和电场强度之间的对应关系。在此，在该曲线图G3中，可以看到两种描绘点不太一致的部分，但是这是因为用四边形描绘的距离和电场强度之间的对应关系含有因电波暗室41内的反射等引起的误差。实际上，根据通过计测而求出的距离和电场强度之间的对应关系进行修正，来消除这样的影响，从而使用例如在图15所示的曲线图G2中用四边形描绘的修正后的对应关系。

以上，当通过如上所述的操作来求出与天线46相距的距离所对应的衰减量的刻度时，在可变衰减器320中的衰减量刻度的旁边记载与该刻度对应的距离。由此，得到记载有距离的刻度的可变衰减器320，完成图28的RFID标签测试装置6。

然后，用户在该完成的RFID标签测试装置6的带状线单元100上搭载测试对象的RFID标签T1，并一边通过目视确认在计算机310的显示画面上关于是否存在应答的显示，一边对操作件320a进行操作，从而将在增大了电场强度时第一次出现反应时的距离的刻度或在减小了电场强度时第一次消失反应时的距离的刻度用作为该RFID标签T1的通信界限距离。

以上，如上所述，根据第六实施方式，能够通过简单的操作来求出测试对象的RFID标签T1的通信界限距离。

接着，对本发明的第七实施方式进行说明。

图30是表示本发明的第七实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图30所示的RFID标签测试装置7包括与图28所示的第六实施方式的带状线单元100相同的第一以及第二带状线单元330、340，以及与该第六实施方式的可变衰减器320相同但是记载有衰减量的刻度的第一以及第二可变衰减器350、360，除了这一点之外，其他方面与该第六实施方式的RFID标签测试装置6相同。因此，在该图30中，对于与图28的构成要素相同的构成要素，标注与图28相同的附图标记，下面，将省略关于这些构成要素的重复说明。

在图30所示的RFID标签测试装置7中，第一可变衰减器350连接在读写器20和第一带状线单元330之间，第二可变衰减器360连接在两个带状线单元330和340之间。在此，第一带状线单元330以及第二带状线单元340分别相当于在本发明中所说的第一带状线单元以及第二带状线单元各自的一例，第一可变衰减器350以及第二可变減表器360分别相当于在本发明中所说的传输部以及第二传输部各自的一例。

例如，如下所述地应用图30所示的RFID标签测试装置7。

例如，RFID标签一般具有能够接收的电场强度的容许范围，在该容许范围内，能够接收具有规定的下限电场强度以上的电场强度的电波信号，进而，如果是规定的上限电场强度，则能够无损地接收电波信号。因此，进行性能测试来确认测试对象的RFID标签T1是否确切地具有这样的有关电场强度的容许范围。

图30所示的RFID标签测试装置7，首先，在计算机310中，向读写器20指示将功率设定为特定的设定值，该特定的设定值超过第一带状线单元330发送上限电场强度的电波信号所需要的设定值。然后，将第一可变衰减器350的衰减量设定为在第一带状线单元330中发送上限电场强度的电波信号的衰减量，将第二可变衰减器360的衰减量设定为在第二带状线单元330中发送下限电场强度的电波信号的衰减量。然后，用户一边将测试对象的RFID标签T1交替地配置在第一带状线单元330和第二带状线单元340上以使这些RFID标签T1暴露在来自各带状线单元的电波信号中，一边在计算机310的未图示的显示画面上确认RFID标签T1有无反应。

以上，根据说明的第七实施方式的RFID标签测试装置7，通过如上所述的一系列的操作，能够简单地确认测试对象的RFID标签T1是否确切地具有上述容许范围。

接着，对本发明的第八实施方式进行说明。

图31是表示本发明的第八实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图31所示的RFID标签测试装置8，是用于取得定义为RFID标签中的电波信号的频率和通信界限距离之间的对应关系的频率特性的装置，除了这一点之外，其他方面与图1所示的第一实施方式的RFID标签测试装置1相同。因此，在图31中，对于与图1相同的构成要素，标注与图1相同的附图标记，下面，将省略关于这些构成要素的重复说明。

在此，说明针对RFID标签取得频率特性的必要性。

如上所述，RFID标签在大多情况下被安装在各种物品上使用。其结果，RFID标签所接收的电波信号经过这样的物品而到达RFID标签。另外，当在物品上安装RFID标签时，为了保护RFID标签自身，有时还设置用于遮盖RFID标签整体的遮盖物。在此，已知电波信号的频率受位于传播路径上的物体的介电常数等的影响而变化。因此，在对设想在这样对电波信号产生影响的环境下使用的RFID标签进行设计时，要将使用环境的影响估计在内，设计成在设想的通信频率下能够得到最大的天线增益。因此，在制造这样的RFID标签时，需要验证所制造出的RFID标签是否具有设计时预计的频率特性，因此必须取得频率特性。

图31所示的RFID标签测试装置8是用于取得该频率特性的装置，针对包括RFID标签T1的通信频率953MHz在内的、从800MHz至1040MHz之间的整个频率范围的各频率，执行参照图16说明的性能测试。在本实施方式中，通过由计算机410按照后述的处理流程控制读写器20来实现。该计算机410也相当于在本发明中所说的反应确认部的一例。

然而，为了可以进行这样的测试，优选使向RFID标签发出电波信号的带状线单元的输出在整个上述频率范围内都稳定。在此，通过实验确认了对于在本实施方式及其他实施方式中使用的带状线单元100的频率的输出特性稳定。

图32是表示针对带状线单元100的频率的输出特性的曲线图。

在该图32所示的曲线图G4中，纵轴取插入损失，横轴取频率。插入损失表示输出相对于输入的衰减量，可以将该插入损失视为该带状线单元100的输出。在曲线图G4中，记载有从800MHz到1040MHz的频率范围的插入损失的变动。从该图32可知，在该频率范围内，带状线单元100中的插入损失稳定在大约“1.0”左右，因此，可以说该带状线单元100的输出在上述频率范围内稳定。

在本实施方式中，使用具有如此相对于频率而稳定的输出特性的带状线单元100，如下所述取得RFID标签T1的频率特性。

图33是表示在RFID标签测试装置8中执行的频率特性取得处理的流程的流程图。

在此，该图33的流程图所示的处理也相当于本发明的测试方法的一个实施方式。

当用户通过规定操作指示计算机410开始性能测试时，开始该图33的流程图所示的处理。开始处理后，首先，计算机410指示读写器20将对带状线单元100供给的电信号的功率设定为0dBm、将频率设定为770MHz。而且，在指示执行初始化处理之后，处于待机状态(步骤S401)。然后，在RFID标签测试装置8的带状线单元100上配置测试对象的RFID标签T1，当用户通过规定的操作指示计算机410开始对该RFID标签T1进行性能测试时，进入到下一步骤(步骤S402)。

在步骤S402中，判断当前在读写器20中所设定的电信号的频率是否为最大设定值(在本实施方式中为1040MHz)。但是，在刚进行过步骤S401的初始化处理之后，频率的设定值不会是最大设定值(在步骤S402中判断为“否”)，因此进入到下一步骤S403的处理。

在步骤S403的处理中，计算出特定的值来作为读写器20中的频率的设定值，该值使得读写器20中的当前的设定值增加规定幅度的增加量(在本实施方式中为30MHz)，并向读写器20发送指令C11，该指令C11用于指示将其计算结果设定为对带状线单元100供给的电信号的频率。

接着，判断当前在读写器20中所设定的电信号的功率是否为最大设定值(在本实施方式中为25.5dBm)(步骤S404)。但是，在刚进行过步骤S401的初始化处理之后，功率的设定值不会是最大设定值(在步骤S404中判断为“否”)，因此进入到下一步骤S405的处理。

在步骤S405的处理中，计算出特定的值来作为读写器20中的功率的设定值，该值使得读写器20中的当前的设定值增加规定幅度的增加量(在本实施方式中为0.5dB)，并向读写器20发送指令C12，该指令C12用于指示将其计算结果设定为对带状线单元100供给的电信号的功率。

当在步骤S403以及步骤S405的处理中设定了功率以及频率时，接着，向读写器20发送指令C13，该指令C13用于指示向带状线单元100供给请求信号，其中，该请求信号用于向测试对象的RFID标签T1请求UID(步骤S406)。

组合了该步骤S404的处理、之前的步骤S403以及步骤S405的处理的处理相当于在本发明中所说的供给过程的一例。

读写器20向带状线单元100供给具有上述所设定的频率和功率的请求信号。然后，当针对该请求信号，从RFID标签T1输出了表示UID的应答信号S11时，读写器20经由带状线单元100接收该应答信号S11并将其发送至计算机410。

另一方面，在步骤S404之后，计算机410转移至规定时间的待机状态(步骤S407)。然后，在经过该规定时间后，判断是否从读写器20发送来应答信号S11(步骤S408)。组合了该步骤S408的处理和之前的步骤S407的处理的处理相当于在本发明中所说的反应确认过程的一例。当未从读写器20发送来应答信号S11时(在步骤S408中判断为“否”)，返回到步骤S404，并重复执行从该步骤S404至步骤S408的处理。该重复持续至功率的设定值达到最大设定值(在步骤S404中判断为“是”)或者从读写器20发送来应答信号S11(在步骤S407中判断为“是”)为止。

当从读写器20发送来应答信号S11时，计算机410使用上述的功率和距离的对应关系，将该时刻的功率的设定值换算为通信界限距离(步骤S409)。

在步骤S407的处理中，当针对测试对象的RFID标签T1求出了这样的通信界限距离时，计算机410将该通信界限距离与该时刻的频率以及来自RFID标签T1的应答信号S11所表示的UID相对应地保存在规定的存储器中(步骤S410)。接着，对功率的设定值进行初始化(步骤S411)，处理返回到步骤S402。

当处理返回到步骤S402时，之后重复执行从该步骤S402至步骤S410的处理，从而针对将之前求出通信界限距离时的频率与上述幅度(30MHz)相加而得的频率，求出通信界限距离。这样的处理持续至频率的设定值达到最大设定值(1040MHz)(在步骤S402中判断为“是”)为止。

然后，当频率的设定值达到最大设定值(1040MHz)时，处理返回到步骤S401，指示读写器20执行针对功率以及频率双方的初始化处理，之后，处于针对下一RFID标签的性能测试的待机状态。

通过以上说明的处理，针对从800MHz到1040MHz的频率范围内每隔30MHz的各频率求出通信界限距离，从而取得RFID标签的频率特性。

图34是表示通过图33的流程图所示的频率特性取得处理而取得的频率特性的一例的曲线图。

在该图34的曲线图G5中，纵轴取频率，横轴取功率和通信界限距离。而且，在该曲线图G5中，针对样品1用菱形的点、针对样品2用四边形的点，这样描绘了通过上述频率特性取得处理分别针对RFID标签的两个样品而取得的频率特性。

根据该图34的曲线图G5，在样品1中，与1020MHz的频率对应的通信界限距离最长，增益最大。另外，在样品2中，与980MHz的频率对应的通信界限距离最长，增益最大。

在此，在本实施方式中，对于RFID标签设想的通信频率均为953MHz。但是，如上所述，在RFID标签收发的电波信号的频率受到存在于传输路径上的物体的介电常数等使用环境的影响而发生变化，其中，所述存在于传输路径上的物体为安装RFID标签的物品或RFID标签的遮盖物。因此，针对预想这样的使用环境的影响的RFID标签，将能够得到最大增益的频率设计为偏离953MHz的频率，使得在放置在这样的使用环境下时对于953MHz的通信频率能够得到最大增益。

设想在对电波信号产生影响的环境下使用上述两个样品，两个样品均被设计成，所能够得到最大增益的频率偏离953MHz。另外，在样品1和样品2中，由于设想的使用环境互不相同，因此，在这些样品之间，设计时的能够得到最大增益的频率偏离953MHz的量互不相同。

在图34的曲线图G5所示的针对各样品实测的频率特性中，能够得到最大增益的频率偏离设想的通信频率953MHz，而且，在两者之间，能够得到最大增益的频率互不相同，其原因在于，考虑使用环境而对各样品进行了如上所述的设计。

在实际制造RFID标签时，判断根据各RFID标签的频率特性读取的、能够得到最大增益的频率和在该频率下的通信界限距离等是否满足判断基准，从而进行合格品和次品的挑选等，其中，所述判断基准是基于考虑了使用环境而设计的基准。

根据本实施方式的RFID标签测试装置8，能够针对分别与多方面的使用环境对应设计的多种RFID标签，分别取得频率特性。而且，由用户判断根据取得的各频率特性而读取的如上所述的特性值是否满足与各使用环境对应的判断基准，由此挑选好坏。

以上，如参照图31至图34说明的那样，根据本实施方式，无需使用电波暗室等特殊环境就能够简单且充分地取得与各种使用环境对应的RFID标签的频率特性，而且能够与各使用环境对应地挑选好坏。

接着，对本发明的第九实施方式进行说明。

图35是表示本发明的第九实施方式的RFID标签测试装置的图。

该图35所示的RFID标签测试装置9，是用于取得频率特性的装置，该频率特性定义为电波信号的频率和通信界限距离之间的对应关系，除了这一点之外，其他方面与图17所示的第二实施方式的RFID标签测试装置2相同。因此，在图35中，对于与图17相同的构成要素，标注与图17相同的附图标记，下面，将省略关于这些构成要素的重复说明。

在该RFID标签测试装置9中，分别针对标签卷R上被搬送装置50依次搬送至带状线单元100的多个RFID标签T1，依次取得频率特性。关于该RFID标签测试装置9中的频率特性取得处理，通过由计算机420按照以下说明的处理流程控制读写器20来实现。该计算机420也相当于在本发明中所说的反应确认部的一例。

图36是表示在RFID标签测试装置9中执行的频率特性取得处理的流程的流程图。此外，该图36的流程图所示的频率特性取得处理，除了包括向搬送装置50发送用于指示搬送的指令的处理(步骤S501)这一点之外，其他方面与图33的流程图所示的处理大致相同。因此，在该图36中，对于与该图33的流程图中的处理过程相同的处理过程，标注与图33相同的附图标记，下面，将省略关于这些处理过程的重复说明。

图33所示的初始化处理(步骤S401)是在对读写器发出初始化指示后处于待机状态的处理，相对于此，该图36所示的初始化处理(步骤S401’)是省略这样的待机状态而进入下一处理的处理。另外，图33所示的步骤S402的处理在频率达到最大设定值时，返回到初始化处理(步骤S401)，相对于此，紧接着该步骤S401’的步骤S402’的处理不返回到初始化处理(步骤S401’)，而进入下面说明的步骤S501的处理。

在针对当前位于带状线单元100的位置的RFID标签T1的频率设定值达到最大设定值时(在步骤S402’中判断为“是”)，即，在取得该RFID标签T1的频率特性结束时，执行步骤S501的处理。在该步骤S501的处理中，计算机420向搬送装置50发送指令C14，该指令C14用于指示将标签卷R的中心轴旋转，其旋转角度为搬送配置间隔所需要的旋转角度。当搬送装置50按照该指令C14动作时，未取得频率特性的RFID标签T1代替已取得频率特性的RFID标签T1配置在带状线单元100的位置。

以上，根据参照图35和图36来说明的第九实施方式，针对多个RFID标签T1，能够高效率地取得频率特性，而且，能够高效率地制造这样的多个RFID标签T1。

此外，在上述说明中，作为在本发明中所说的换算关系的一例，举例说明了功率和距离之间的对应关系，但是本发明并不限定于此。在本发明中所说的换算关系例如可以是在生成其功率和距离之间的对应关系时使用的、距离和电场强度之间的对应关系以及功率和电场强度之间的对应关系的组合。此时，通过对照这些两个对应关系，将功率换算成距离。另外，在本发明中所说的换算关系例如也可以不是基于这样的实测的对应关系，而是根据功率求出距离的计算式，或者，也可以是根据距离求出电场强度的计算式和根据功率求出电场强度的计算式的组合等。

另外，在上述说明中，作为在本发明中所说的带状线单元的一例，举例说明了这样的带状线单元，即，两张导体板之间的间隔为一张导体板的宽度的1/5、长度为953MHz的电波波长的约1/2，但是本发明并不限定于此，本发明的带状线单元的两张导体板之间的间隔也可以是一张导体板的宽度的1/5以外的间隔，长度也可以是953MHz的电波波长的约1/2以外的长度。

另外，在上述说明中，作为在本发明中所说的载置板的一例，举例说明了丙烯制的载置板109，但是本发明并不限定于此，本发明的载置板例如也可以是泡沫苯乙烯制的载置板。

另外，在上述说明中，举例说明了一个读写器具有两个带状线单元100的实施方式，但是本发明并不限定于此，例如，也可以是一个读写器具有三个以上的带状线单元100的实施方式等。

另外，在上述说明中，举例说明了具有两个读写器的实施方式，但是本发明并不限定于此，也可以是具有三个以上的读写器的实施方式。

另外，在上述说明中，作为在本发明中所说的FIFO存储器的一例，举例说明了缓冲器级数为三级的FIFO存储器，但是本发明并不限定于此，本发明的FIFO存储器也可以是三级以外的级数的FIFO存储器。

Claims (20)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

带状线单元，其具有第一导体板和第二导体板，所述第一导体板的宽度在接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的宽度以上，用于接收从外部供给的相当于该电波信号的电信号，所述第二导体板与该第一导体板相对置，所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号，并且在所述第一导体板的与所述第二导体板相对置的对置面的相反侧配置所述电子装置；

供给部，其用于对所述带状线单元的所述第一导体板供给所述电信号；以及

反应确认部，其用于确认所述电子装置有无反应。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，包括换算部，该换算部按照既定的换算关系，将所述供给部向所述带状线单元供给的电信号所具有的功率换算为特定的距离，该特定的距离是指，在规定的天线通过规定的输出来发送所述电波信号并由所述电子装置接收的状况下，该天线和该电子装置之间的距离。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述供给部用于向所述带状线单元依次供给具有互不相同的功率的各电信号，

所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述供给部用于向所述带状线单元依次供给具有规定的功率范围内的各功率的各电信号，

所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应，

所述测试装置还包括搬送部，该搬送部用于搬送多个所述电子装置，并对所述带状线单元依次配置多个所述电子装置，在对所配置的电子装置依次供给所述各电信号的过程中该电子装置做出了反应时，以及在所述各电信号被供给到最后时，所述搬送部配置下一个电子装置。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述带状线单元用于发送频率与所述电信号的频率相同的电波信号，

所述供给部用于针对规定的频率范围内的各频率执行如下处理，该处理是指，向所述带状线单元依次供给具有互不相同的功率的各电信号的处理，

所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述带状线单元用于发送频率与所述电信号的频率相同的电波信号，

所述供给部用于针对规定的频率范围内的各频率执行如下处理，该处理是指，向所述带状线单元依次供给具有规定的功率范围内的各功率的各电信号的处理，

所述反应确认部用于确认所述电子装置对于所述各电信号的反应，

所述测试装置还包括搬送部，该搬送部用于搬送多个所述电子装置，并对所述带状线单元依次配置多个所述电子装置，在对所配置的电子装置将所述各电信号供给到所述频率范围内的最后的频率时，所述搬送部配置下一个电子装置。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

该测试装置包括用于分别配置所述电子装置的多个带状线单元，

所述供给部在互不相同的时刻向所述多个带状线单元分别供给所述电信号。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

该测试装置包括多组由用于分别配置所述电子装置的多个带状线单元组成的组合，

所述供给部包括分别与多组所述组合对应的多个供给设备，通过各供给设备，在互不相同的时刻向组成各组合的多个带状线单元分别供给所述电信号。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述电子装置，当接收到第一电波信号时，输出用于将自身与其他电子装置区分开来的识别信息，当接收到包含自身的识别信息的第二电波信号时，做出能够由所述反应确认部确认的反应，

所述测试装置包括两个所述带状线单元，这两个带状线单元彼此隔着规定的间隔而配置，各个带状线单元用于配置所述电子装置，

所述测试装置还包括：

识别信息取得部，其取得所述电子装置输出的识别信息，以及

搬送部，其沿着所述两个带状线单元的排列，将所述电子装置每次搬送所述规定间隔，由此对这两个带状线单元依次配置该电子装置；

所述供给部向所述两个带状线单元中先被配置所述电子装置的第一带状线单元供给相当于所述第一电波信号的第一电信号，向所述两个带状线单元中后被配置所述电子装置的第二带状线单元供给与包含所述识别信息取得部针对该第一电波信号所取得的识别信息的第二电波信号相当的第二电信号，并且，向所述第二带状线单元供给第二电信号的时刻为，对该第二带状线单元配置通过该识别信息来识别的电子装置的时刻。

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，

所述搬送部每次搬送相当于所述规定间隔的整数分之一的间隔以代替每次搬送所述规定间隔，由此对所述两个带状线单元依次配置所述电子装置，

所述识别信息取得部包括FIFO存储器，该FIFO存储器以先进先出方式存储与搬送次数相同数量的信息，所述搬送次数是，所述搬送部从所述两个带状线单元中的一个带状线单元向另一个带状线单元移动所述电子装置用的次数，在所述供给部向所述第一带状线单元每次供给所述第一电信号时，在该FIFO存储器中存储所述电子装置所输出的识别信息，

所述供给部依次重复执行供给所述第一电信号的处理、从所述FIFO存储器中获取信息的处理、基于所获取的信息供给所述第二电信号的处理。

11.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述电子装置，当接收到第一电波信号时，输出用于将自身与其他电子装置区分开来的识别信息，当接收到包含自身的识别信息的第二电波信号时，做出能够由所述反应确认部确认的反应，

所述测试装置包括两个所述带状线单元，这两个带状线单元用于分别配置所述电子装置，

所述测试装置包括：

识别信息取得部，其取得所述电子装置输出的识别信息，

搬送部，其对于所述两个带状线单元分别配置该电子装置，以及

衰减部，其使向所述两个带状线单元中的第一带状线单元供给的电信号衰减到规定程度，并将该电信号传输到这两个带状线单元中的第二带状线单元；

所述供给部向所述第一带状线单元供给相当于所述第一电波信号的第一电信号，通过该第一带状线单元和所述衰减部，向所述第二带状线单元供给相当于包含所述识别信息取得部所取得的识别信息的第二电波信号的第二电信号。

12.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，包括传输部，该传输部配置在所述供给部和所述带状线单元之间，用于将该供给部供给的所述电信号的功率转换为与规定的操作对应的功率，并将转换过功率后的该电信号传输到所述带状线单元。

13.根据权利要求12所述的测试装置，其特征在于，所述传输部具有多个刻度，所述多个刻度表示在规定的天线通过规定的输出来发送所述电波信号并由所述电子装置接收的状况下的该天线和该电子装置之间的距离，并且所述多个刻度分别表示互不相同的距离，当规定的操作件被设定为所述多个刻度中的某一刻度时，将所述供给部供给的所述电信号的功率转换为特定的功率，所述特定的功率是指，在所述状况下，所述带状线单元发送与所设定的该刻度表示的距离处的电波信号的输出相同的输出的电波信号时所需要的功率。

14.根据权利要求12所述的测试装置，其特征在于，

该测试装置包括两个所述带状线单元，

所述传输部向两个所述带状线单元中的第一带状线单元传输所述电信号，

该测试装置还包括第二传输部，该第二传输部使传输到所述第一带状线单元的电信号衰减到对应于规定操作的程度，并将该电信号传输到两个所述带状线单元中的第二带状线单元。

15.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，在所述带状线单元中，所述第一导体板和所述第二导体板之间的间隔为该第一导体板的宽度的1/5以下。

16.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，在所述带状线单元中，具有长度为所述电波信号的波长的一半以下的导体板作为所述第一导体板。

17.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述带状线单元具有所述电波信号透过的板状的载置板，在该载置板的表面和背面中的一个面用于载置所述电子装置，相对于该一个面的另一面与所述第一导体板相接触。

18.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述带状线单元具有遮盖部，该遮盖部用于遮盖所述第一导体板的所述相对面的相反侧的除了规定范围以外的部分，由此将从该第一导体板发出的电波的量和方向分别限制为规定量和规定方向。

19.一种测试方法，其特征在于，包括：

供给过程，对带状线单元的第一导体板供给电信号，其中，所述带状线单元具有所述第一导体板和第二导体板，所述第一导体板的宽度在接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的宽度以上，所述第一导体板用于接收从外部供给的相当于该电波信号的所述电信号，所述第二导体板与所述第一导体板相对置，所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号，并且在所述第一导体板的与所述第二导体板相对置的相对面的相反侧配置所述电子装置；以及

反应确认过程，确认所述电子装置有无反应。

20.一种制造方法，其特征在于，包括制作工序和测试工序，

在所述制作工序中，制作接收规定的电波信号并做出反应的电子装置，

所述测试工序包括：

供给过程，对带状线单元的第一导体板供给电信号，其中，所述带状线单元具有所述第一导体板和第二导体板，所述第一导体板的宽度在所述电子装置的宽度以上，所述第一导体板用于接收从外部供给的相当于该电波信号的所述电信号，所述第二导体板与该第一导体板相对置，所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号，并且在所述第一导体板的与所述第二导体板相对置的相对面的相反侧配置所述电子装置；以及

反应确认过程，确认所述电子装置有无反应。

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