KR20090006227A - 카드뮴-텔루르계 및 카드뮴-아연-텔루르계 카메라용 고에너지 실시간 직접 방사선 변환 엑스선 이미징 시스템 - Google Patents
카드뮴-텔루르계 및 카드뮴-아연-텔루르계 카메라용 고에너지 실시간 직접 방사선 변환 엑스선 이미징 시스템 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (20)
- 소정 비트 깊이의 픽셀 값의 어레이(45)를 각각 포함하는 다수의 이미지 프레임(44)을 생성할 수 있는 X선 이미징 장치(28)로서, 서로 다른 프레임으로부터의 이미지 픽셀 값(47)을 계산하기 위한 처리 수단(24)을 포함하고, 상기 이미지 픽셀 값(47)의 비트 깊이는 개별 프레임으로부터의 픽셀 값의 상기 소정 비트 깊이보다 큰 X선 이미징 장치(10).
- 제1항에 있어서, 고에너지 X선 이미징 카메라(37)를 더 포함하며, 상기 카메라는 고 픽셀 밀도의 직접 변환식 방사선 검출기 기판(30)을 가지며, 검출기 기판의 픽셀(36)은 ASIC 판독 기판(32) 상의 대응 픽셀 회로(31)에 전기적으로 접속되고, 상기 검출기 기판은 입사하는 고에너지의 X선 및 감마선(80)을 직접 전하로 변환함과 아울러 변환된 전하를 픽셀(36) 사이의 전기 접속부(35)를 거쳐 상기 ASIC 판독 기판(32) 상의 대응 픽셀 회로에 전하 신호로서 공급하기 위한 것이고, 상기 픽셀 회로는 각 픽셀로부터의 전하 신호를 처리하기 위한 것인 X선 이미징 장치(10).
- 제2항에 있어서, 상기 이미징 카메라(37)의 ASIC 판독 기판(32)과 전자적으로 연통하는 고속 이미지 프레임 처리 모듈(18)을 더 포함하며, 상기 고속 이미지 프레임 처리 모듈은 상기 판독 기판의 각 픽셀 회로(31)의 출력으로부터 얻은 디지 털화 픽셀 신호를 수신함과 아울러 상기 픽셀 신호를 이용해서 초당 10 이미지 프레임 이상의 프레임 판독률로 이미지 프레임(44)을 생성할 수 있는 X선 이미징 장치(10).
- 제3항에 있어서, 상기 고속 이미지 프레임 처리 모듈(18)과 선택적으로 디지털 연통하는 캘리브레이션 모듈을 더 포함하며, 상기 캘리브레이션 모듈은 그것이 선택되었을 때 캘리브레이션 루틴(20)을 포함하는 소프트웨어 프로세스에 의해 구동되고, 상기 캘리브레이션 루틴은 이미지 프레임(44)의 각 픽셀(36)에 맞춰진 픽셀 보정 데이터를 룩업 테이블(22)에 기입하도록 된 X선 이미징 장치(10).
- 제4항에 있어서, 룩업 테이블(22)을 더 포함하며, 상기 룩업 테이블은 픽셀 별 보정 데이터를 캘리브레이션 모듈(20)에 의해 기입할 수 있고 정규화 모듈(24)에 의해 판독할 수 있는 X선 이미징 장치(10).
- 제5항에 있어서, 상기 정규화 모듈(24)은 고속 이미지 프레임 처리 모듈(18) 및 룩업 테이블(22)과 선택적으로 연통하고, 상기 정규화 모듈은 고속 이미지 프레임 처리 모듈로부터는 실시간 이미지 프레임 데이터/기록내용을, 룩업 테이블로부터는 픽셀 별 보정 데이터를 수신하며 상기 표시 모듈(14)에서 고에너지 직접 검출 X선 이미징 시스템(10)의 X선 이미지를 표현하는데 사용할 정규화된 이미지 데이터를 표시 이미지 출력부를 통해 제공하는 X선 이미징 장치(10).
- 제6항에 있어서, 상기 정규화 모듈(24)은 상기 표시 모듈(16)에서 고에너지 실시간 직접 검출 X선 이미징 시스템(10)으로부터의 동적 X선 이미지를 표현하는데 사용할 정규화된 이미지 데이터를 표시 이미지 출력부를 통해 제공하는 X선 이미징 장치(10).
- 제6항에 있어서, 상기 정규화 모듈(24)은 상기 표시 모듈(16)에서 고에너지 실시간 직접 검출 X선 이미징 시스템(10)으로부터의 정적 X선 이미지를 표현하는데 사용할 정규화된 이미지 데이터를 표시 이미지 출력부를 통해 제공하는 X선 이미징 장치(10).
- 제8항에 있어서, 상기 정규화 모듈(24)은 정규화된 이미지 데이터를 소정 시간 축적하여 상기 표시 모듈(16)에서 정적 X선 이미지를 표현하는데 사용할 고정밀 표시 이미지 출력을 제공하는 X선 이미징 장치(10).
- 제7항에 있어서, 상기 정규화 모듈(24)은 정규화된 이미지 데이터를 적어도 1/100초 내지 10초의 시간 동안 축적함으로써 상기 표시 모듈(16)에서 동적 X선 이미지를 표현하는데 사용할 각각의 축적 시간에 대한 고정밀 표시 이미지 출력을 제공하는 X선 이미징 장치(10).
- 제9항에 있어서, 상기 정규화 모듈(24)은 정규화된 이미지 데이터를 적어도 1/100초 내지 300초의 시간 동안 축적하는 X선 이미징 장치(10).
- 제9항에 있어서, 상기 정규화 모듈(24)은 정규화된 이미지 데이터를 적어도 5분간 축적하는 X선 이미징 장치(10).
- 제12항에 있어서, 상기 카메라 모듈(12)은 ASIC 판독 기판(32)과 연통하는 카드뮴 텔루르 조성물계 방사선 검출기 기판(30)을 포함하는 X선 이미징 장치(10).
- 제13항에 있어서, 상기 카메라 모듈(12)은 카드뮴-텔루르 및 카드뮴-아연-텔루르로 이루어진 군에서 선택된 조성물로 구성된 방사선 검출기 기판(30)을 포함하는 X선 이미징 장치(10).
- 제1항에 있어서, 상기 카메라 모듈(12)은 검출기 기판 바이어스 스위치 회로(121)를 포함하는 X선 이미징 장치(10).
- 제3항에 있어서, 상기 고속 이미지 프레임 처리 모듈(18)은 상기 판독 기판(32)의 각 픽셀 회로(31)의 출력으로부터 얻어진 디지털화 픽셀 신호를 수신할 수 있고 또한 이 디지털화 픽셀 신호를 이용해서 초당 25 이미지 프레임보다 큰 프레임 판독률로 이미지 프레임(44)을 생성할 수 있는 X선 이미징 장치(10).
- 제3항에 있어서, 상기 고속 이미지 프레임 처리 모듈(18)은 상기 판독 기판(32)의 각 픽셀 회로(31)의 출력으로부터 얻어진 디지털화 픽셀 신호를 수신할 수 있고 또한 상기 디지털화 픽셀 신호를 이용해서 초당 50 이미지 프레임보다 큰 프레임 판독률로 이미지 프레임(44)을 생성할 수 있는 X선 이미징 장치(10).
- 제4항에 있어서, 상기 소프트웨어 프로세스는 캘리브레이션 루틴(20)을 포함하고, 상기 캘리브레이션 루틴은 수집된 캘리브레이션 프레임(44) 중 적어도 일부가 픽셀 값 보정 알고리즘(49)에 따라 분석되는 동안 각각의 디지털화 픽셀 값(47)을 분석함으로써 이미지 프레임(44)의 각 픽셀(36)에 맞는 픽셀 값 보정 데이터를 상기 룩업 테이블(22)로 제공하여 기입하는 X선 이미징 장치(10).
- 제4항에 있어서, 상기 캘리브레이션 모듈(20)을 구동하는 소프트웨어는 시간의 함수로서 각 픽셀(36)에 대한 에러 보정을 행하는 픽셀 비선형 성능 보상 루틴(123)을 포함하는 X선 이미징 장치(10).
- 제19항에 있어서, 상기 픽셀 비선형 성능 보상 루틴(123)은 시간의 함수로서 각 픽셀(36)에 대한 에러 보정을 행하는데 필요한 보정계수를 결정하기 위한 비대칭 선형 다항식 계산을 포함하는 X선 이미징 장치(10).
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