KR20080114305A - Evaporation control unit, evaporation equipment having the same, and method for controlling evaporation - Google Patents
Evaporation control unit, evaporation equipment having the same, and method for controlling evaporation Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080114305A KR20080114305A KR1020070063722A KR20070063722A KR20080114305A KR 20080114305 A KR20080114305 A KR 20080114305A KR 1020070063722 A KR1020070063722 A KR 1020070063722A KR 20070063722 A KR20070063722 A KR 20070063722A KR 20080114305 A KR20080114305 A KR 20080114305A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- evaporation
- amount
- sensor
- evaporation amount
- reference temperature
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/54—Controlling or regulating the coating process
- C23C14/542—Controlling the film thickness or evaporation rate
- C23C14/543—Controlling the film thickness or evaporation rate using measurement on the vapor source
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른 증착 장치를 개략적으로 나타낸 정면 사시도,1A is a front perspective view schematically showing a deposition apparatus according to an embodiment of the present invention;
도 1b는 도 1a의 A부분에 대한 상세도,Figure 1b is a detailed view of the portion A of Figure 1a,
도 1c는 도 1a의 B부분에 대한 상세도,Figure 1c is a detailed view of the portion B of Figure 1a,
도 2a는 도 1에 도시된 증착 장치의 배면 사시도,FIG. 2A is a rear perspective view of the deposition apparatus shown in FIG. 1; FIG.
도 2b는 도 2a의 C부분에 대한 상세도,Figure 2b is a detailed view of the portion C of Figure 2a,
도 2c는 도 2a의 D부분에 대한 상세도,Figure 2c is a detailed view of the portion D of Figure 2a,
도 3은 도 1에 도시된 증착 장치의 제어 블럭도,3 is a control block diagram of the deposition apparatus shown in FIG. 1;
도 4는 도 1에 도시된 증착 장치의 증발량 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도,4 is a flowchart illustrating a method of controlling an evaporation amount of the deposition apparatus illustrated in FIG. 1;
도 5는 도 4의 요부에 대한 상세 흐름도이다.5 is a detailed flowchart of the main part of FIG.
<도면의 주요 참조부호에 대한 설명><Description of main reference numerals in the drawings>
100; 프레임 120; 증발원100; Frame 120; Evaporation source
140; 증발량 조절 유닛 141; 증발량 감지 센서140;
143; 증발량 감지 센서 구동 유닛 144; 증발량 조절용 구동 모터143; Evaporation detection
145; 증발량 조절용 볼 스크류 146; 증발량 조절용 가이드 유닛145;
150; 전원부 151; 제어부150; A
160; 모니터링 센서 유닛 161; 모니터링 센서160;
164; 모니터링용 구동 모터 165; 모니터링용 볼 스크류164; Drive
166; 모니터링용 가이드 유닛166; Guide unit for monitoring
본 발명은 증착 장치에 관한 것으로서, 특히 하나의 센서로 복수의 증발원의 증발량을 측정하여 제어할 수 있는 증발량 조절 유닛과 이를 포함하는 증착 장치 및 증발량 제어 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a deposition apparatus, and more particularly, to an evaporation amount adjusting unit capable of measuring and controlling evaporation amounts of a plurality of evaporation sources with one sensor, a deposition apparatus including the same, and a method for controlling evaporation amount.
유기 발광 소자 등을 포함하는 유기 반도체 소자는 크게 저분자 물질을 진공 중에서 증발시켜 제작하는 방법과, 고분자 물질을 용제에 녹여서 스핀 코팅(spin coating)하여 제작하는 방법으로 나뉠 수 있다.Organic semiconductor devices including organic light emitting devices and the like can be largely divided into a method of manufacturing by evaporating a low molecular weight material in a vacuum, and a method of manufacturing by spin coating by dissolving a polymer material in a solvent.
이러한 방법 중 고진공(약 10-7Torr)에서 박막을 제작하는 저분자 유기 발광 소자 제작의 경우, 진공펌프에 의해 배기 및 감압된 진공조 내에서 증발원에 충전한 재료를 가열 및 증발시켜 기판에 부착시킨다.In the case of manufacturing a low molecular weight organic light emitting device that manufactures a thin film at high vacuum (about 10 -7 Torr), the material packed in the evaporation source is heated and evaporated in a vacuum chamber exhausted and reduced by a vacuum pump to attach to a substrate. .
최근 대면적 기판에 재료를 증착시킬 수 있는 증착 장치에 대한 수요가 증가 하고 있다. 이러한 수요의 증가로 인해, 최근 개발된 증착 장치에는 다수의 증발원이 설치된다. 그리고, 상기 다수의 증발원 각각에는 각 증발원의 증발량을 측정하기 위한 측정 센서가 상기 증발원의 개수에 대응되는 개수로 설치된다. 그리고 각 센서로부터 입력되는 증발량에 따라 개별적으로 각 증발원의 증발량을 조절하게 된다. 이와 같이 복수의 증발원을 이용하여 증착 작업을 수행함으로써 증착 속도는 향상되고 있으나 장비의 크기가 증가할 뿐만 아니라 장비의 가격이 상승하는 문제점이 있다. 특히, 복수의 증발원에 대응되게 고가의 센서가 복수개 설치됨으로써, 증착 장치의 구조가 복잡해질 뿐만 아니라 증착 장비의 원가가 상승하게 된다.Recently, there is an increasing demand for a deposition apparatus capable of depositing materials on a large area substrate. Due to this increase in demand, a number of evaporation sources are installed in recently developed deposition apparatus. Each of the plurality of evaporation sources is provided with a measurement sensor for measuring the amount of evaporation of each evaporation source corresponding to the number of evaporation sources. The evaporation amount of each evaporation source is individually adjusted according to the evaporation amount input from each sensor. As such, the deposition rate is improved by performing the deposition operation using the plurality of evaporation sources, but there is a problem that not only the size of the equipment increases but also the price of the equipment increases. In particular, by installing a plurality of expensive sensors corresponding to the plurality of evaporation sources, not only the structure of the deposition apparatus is complicated, but also the cost of the deposition equipment is increased.
본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로서, 구조를 간소화할 수 있을 뿐만 아니라 원가를 줄일 수 있는 증발량 조절 유닛과 이를 구비한 증착 장치 및 증발량 제어 방법을 제공하는데 목적이 있다.The present invention has been made in view of the above-described point, and an object of the present invention is to provide an evaporation amount control unit capable of simplifying a structure and reducing costs, a deposition apparatus having the same, and an evaporation amount control method.
본 발명의 다른 목적은 구조를 간소화하면서도 증발량을 정밀하게 제어할 수 있는 증발량 조절 장치와 이를 구비한 증착 장치 및 증발량 제어 방법을 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to provide an evaporation amount adjusting device capable of precisely controlling the evaporation amount while simplifying a structure, a deposition apparatus having the same, and a method for controlling evaporation amount.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 증발량 조절 유닛은 증착 물질이 수용되고 수용된 증착 물질을 가열하기 위한 열선을 구비하며 상호 이격되게 배치된 복수의 증발원의 증발량을 감지하기 위한 증발량 감지 센서; 상기 각 증발원의 증발량을 감지할 수 있는 위치로 상기 증발량 감지 센서를 이동시키기 위한 증발량 감지 센서 구동 유닛; 상기 각 증발원이 가열될 수 있도록 상기 열원에 전류를 공급하는 전원부; 및 상기 각 증발원이 기설정된 기준 온도(T0)로 가열될 수 있도록 상기 전원부를 제어하고, 상기 증발량 감지 센서로부터 입력된 상기 각 증발원의 단위 시간당 증발량을 근거로 상기 기준 온도를 설정하며, 상기 증발량 감지 센서가 상기 복수의 증발원 각각의 증발량을 측정할 수 있는 위치로 상기 증발량 감지 센서를 이동시킬 수 있도록 상기 증발량 감지 센서 구동 유닛을 제어하는 제어부를 포함한다.Evaporation amount control unit according to the present invention for achieving the object as described above is a vaporization amount sensor for detecting the evaporation amount of a plurality of evaporation sources are arranged spaced apart from each other and provided with a heating wire for heating the received deposition material is accommodated deposition material ; An evaporation amount sensor driving unit for moving the evaporation amount detection sensor to a position capable of detecting the evaporation amount of each evaporation source; A power supply unit supplying current to the heat source so that each evaporation source can be heated; And controlling the power supply unit so that each evaporation source is heated to a predetermined reference temperature T 0 , and setting the reference temperature based on an evaporation amount per unit time of each evaporation source input from the evaporation amount sensor, and the evaporation amount And a controller configured to control the evaporation amount sensor driving unit to move the evaporation amount detection sensor to a position where a detection sensor can measure the evaporation amount of each of the plurality of evaporation sources.
한편, 상술한 바와 같은 목적은 프레임; 상호 이격되게 상기 지지 프레임에 설치되며, 기판에 증착될 증착 물질이 수용되고, 수용된 증착 물질을 가열하기 위한 열선을 구비한 복수의 증발원; 상기 복수의 증발원의 증발량을 순차적으로 측정할 수 있게 상기 프레임 상에 상기 복수의 증발원의 배치 방향으로 이동가능하게 설치된 증발량 감지 센서; 상기 증발량 감지 센서를 상기 복수의 증발원 배치 방향으로 이동시키기 위한 증발량 감지 센서 구동 유닛; 상기 복수의 증발원에 수용된 증착 물질이 증발되어 상기 기판에 부착될 수 있도록 상기 열선에 전류를 공급하는 전원부; 및 상기 각 증발원이 기설정된 기준 온도로 가열될 수 있도록 상기 전원부를 제어하고, 상기 증발량 감지 센서로부터 입력된 각 증발원의 단위 시간당 증발량을 근거로 상기 기준 온도를 설정하며, 상기 증발량 감지 센서가 상기 복수의 증발원 각각의 증발량을 측정할 수 있는 위치로 상기 증발량 감지 센서를 이동시킬 수 있도록 상기 증발량 감지 센서 구동 유닛을 제어하는 제어부를 포함하는 증착 장치에 의해서도 달성될 수 있다.On the other hand, the above object is a frame; A plurality of evaporation sources installed on the support frame to be spaced apart from each other, having a deposition material to be deposited on a substrate, and having a heating wire for heating the received deposition material; An evaporation amount sensor installed on the frame to be able to sequentially measure the evaporation amounts of the plurality of evaporation sources so as to be movable in an arrangement direction of the plurality of evaporation sources; An evaporation amount sensor driving unit for moving the evaporation amount detection sensor in the plurality of evaporation source arrangement directions; A power supply unit supplying a current to the heating wire so that the deposition material contained in the plurality of evaporation sources can be evaporated and attached to the substrate; And controlling the power supply unit so that each evaporation source is heated to a predetermined reference temperature, and setting the reference temperature based on an evaporation amount per unit time of each evaporation source input from the evaporation detection sensor, wherein the evaporation detection sensor is configured to provide the plurality of evaporation sensors. It can also be achieved by a deposition apparatus including a control unit for controlling the evaporation amount sensor driving unit to move the evaporation amount detection sensor to a position capable of measuring the evaporation amount of each evaporation source of.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 상기 증발량 감지 센서 구동 유닛은 증발량 조절용 구동 모터; 상기 증발량 조절용 구동 모터에 의해 동력 전달 가능하게 연결되며, 상기 증발량 감지 센서가 상기 복수의 증발원이 배치되는 방향으로 이동될 수 있도록 결합되는 증발량 조절용 볼 스크류; 및 상기 증발량 감지 센서의 이동을 가이드하기 위한 증발량 조절용 가이드 유닛을 포함한다.According to one embodiment of the invention, the evaporation sensor detection unit is a drive motor for adjusting the evaporation amount; An evaporation amount adjusting ball screw connected to the power supply by the driving motor for adjusting the evaporation amount, the evaporation amount detecting sensor coupled to move in a direction in which the plurality of evaporation sources are arranged; And an evaporation amount adjusting guide unit for guiding the movement of the evaporation amount detecting sensor.
상기 가이드 유닛은 상기 복수의 증발원 배치 방향으로 형성된 증발량 조절용 가이드 레일; 및 상기 증발량 감지 센서가 고정되게 설치되며, 상기 증발량 조절용 가이드 레일에 삽입되는 증발량 조절용 가이드 홈이 형성된 증발량 조절용 가이드 부재를 포함한다.The guide unit may include a guide rail for adjusting an evaporation amount formed in the plurality of evaporation source arrangement directions; And an evaporation amount adjusting guide member fixed to the evaporation amount sensor and having an evaporation amount adjusting guide groove inserted into the evaporation amount adjusting guide rail.
그리고, 상기 제어부는 상기 복수의 증발원 중 선택된 증발원의 증발량을 측정할 수 있는 위치로 상기 증발량 감지 센서를 이동시킬 수 있도록 상기 증발량 감지 센서 구동 유닛을 제어하고, 측정된 단위 시간당 증발량을 기설정된 단위 시간당 증발량과 비교하여 상기 기준 온도를 설정하며, 상기 설정된 기준 온도에 따라 상기 선택된 증발원이 가열될 수 있도록 상기 전원부를 제어하고, 상기 복수의 증발원 중 선택된 다른 어느 하나의 증발원의 증발량을 측정할 수 있는 위치로 상기 증발량 감지 센서를 이동시킬 수 있도록 상기 증발량 감지 센서 구동 유닛을 제어한다.The control unit controls the evaporation amount sensor driving unit to move the evaporation amount detection sensor to a position capable of measuring the evaporation amount of the selected evaporation source among the plurality of evaporation sources, and controls the evaporation amount per unit time to be measured per preset unit time. A position at which the reference temperature is set in comparison with the evaporation amount, the power supply unit is controlled to heat the selected evaporation source according to the set reference temperature, and the evaporation amount of any other selected evaporation source among the plurality of evaporation sources can be measured And control the evaporation amount sensor driving unit to move the evaporation amount detection sensor.
상기 증착 장치는 증착 작업의 완료 여부를 결정할 수 있도록 상기 복수의 증발원의 평균 증발량을 측정하여 상기 제어부로 전송하는 모터링 센서 유닛를 포함할 수 있으며, 이 경우 상기 제어부는 상기 모니터링 센서 유닛으로부터 전송된 평균 증발량과 기설정된 기준 증발량을 비교하여 증착 작업의 완료 여부를 결정한다. The deposition apparatus may include a motoring sensor unit measuring the average amount of evaporation of the plurality of evaporation sources and transmitting the average amount of evaporation of the plurality of evaporation sources to the controller, in which case the controller transmits the average transmitted from the monitoring sensor unit. The evaporation amount is compared with a predetermined reference evaporation amount to determine whether the deposition operation is completed.
상기 모니터링 센서 유닛은 상기 프레임에 회전 가능하게 설치되며, 상기 증발원의 배치방향과 나란하게 배치된 모니터링용 볼 스크류; 상기 모니터링용 볼 스크류와 동력 전달 가능하게 연결되며, 상기 모니터링용 볼 스크류를 회전시키기 위한 동력을 제공하는 모니터링용 구동 모터; 및 상기 모니터링용 볼 스크류가 회전함에 따라 상기 증발원의 배치 방향으로 이동될 수 있도록 상기 모니터링용 볼 스크류에 결합되는 모니터링 센서를 포함하며, 상기 제어부는 상기 모니터링 센서를 상기 증발원의 배치 방향으로 일정 주기로 왕복 이동되도록 상기 모니터링용 구동 모터를 제어한다.The monitoring sensor unit is rotatably installed in the frame, the monitoring ball screw disposed parallel to the arrangement direction of the evaporation source; A driving motor for monitoring connected to the monitoring ball screw to transmit power and providing power for rotating the monitoring ball screw; And a monitoring sensor coupled to the monitoring ball screw so that the monitoring ball screw can be moved in an arrangement direction of the evaporation source as the monitoring ball screw rotates, wherein the control unit reciprocates the monitoring sensor at a predetermined cycle in the arrangement direction of the evaporation source. The monitoring drive motor is controlled to move.
또한, 상술한 바와 같은 목적은 복수의 증발원을 구비한 증착 장치의 증발량 제어 방법에 있어서, a) 상기 복수의 증발원을 기준 온도로 가열하여 증착 물질을 증발시키는 단계; 및 b) 상기 복수의 증발원 중 선택된 어느 하나 증발원의 단위 시간당 증발량을 측정하고, 측정된 단위 시간당 증발량을 근거로 상기 기준 온도를 설정하며, 설정된 기준 온도로 상기 선택된 증발원을 가열하는 단계를 포함하는 증발량 제어 방법에 의해서도 달성될 수 있다.In addition, the above object is a method for controlling the amount of evaporation of a deposition apparatus having a plurality of evaporation sources, comprising the steps of: a) heating the plurality of evaporation sources to a reference temperature to evaporate the deposition material; And b) measuring an evaporation amount per unit time of any one selected from the plurality of evaporation sources, setting the reference temperature based on the measured evaporation amount per unit time, and heating the selected evaporation source to a set reference temperature. It can also be achieved by a control method.
본 발명의 일 실시예에 의하면 상기 b)단계는 b1) 상기 선택된 어느 하나의 증발원으로 증발량 감지 센서를 이동시키는 단계; b2) 상기 증발량 감지 센서에 의해 측정된 상기 선택된 증발원의 단위 시간당 증발량을 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 비교하고, 비교 결과에 따라 상기 기준 온도를 설정하는 단계; 및 b3) 상 기 설정된 기준 온도로 상기 선택된 증발원을 가열하는 단계를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, step b) includes: b1) moving the evaporation detection sensor to any one selected evaporation source; b2) comparing the evaporation amount per unit time of the selected evaporation source measured by the evaporation amount detection sensor with a preset evaporation amount per unit time, and setting the reference temperature according to a comparison result; And b3) heating the selected evaporation source to the preset reference temperature.
상기 b2) 단계는 상기 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량보다 작은 경우, 상기 측정된 단위 시간당 증발량이 상기 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일하도록 상기 기준 온도를 상승시키고 상승된 기준 온도를 새로운 기준 온도로 설정하며, 상기 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량보다 큰 경우, 상기 측정된 단위 시간당 증발량이 상기 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일하도록 상기 기준 온도를 하강시키고 하강된 기준 온도를 새로운 기준 온도로 설정하며, 상기 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 같은 경우, 상기 기준 온도를 변경시키지 않는다.In the step b2), when the measured evaporation amount per unit time is smaller than the preset evaporation amount per unit time, the reference temperature is increased and the elevated reference temperature is increased so that the measured evaporation per unit time is equal to the preset evaporation amount per unit time. When the measured evaporation per unit time is greater than the preset evaporation amount per unit time, the reference temperature is lowered and the lowered reference value is set so as to be equal to the preset evaporation amount per unit time. The temperature is set to a new reference temperature, and if the measured evaporation per unit time is equal to the preset reference evaporation per unit time, the reference temperature is not changed.
한편, 상술한 증발량 제어 방법은 c) 상기 복수의 증발원 중 선택된 다른 어느 하나의 증발원으로 증발량 감지 센서를 이동시키는 단계; d) 상기 증발량 감지 센서에 의해 측정된 상기 선택된 다른 어느 하나의 증발원의 단위 시간당 증발량을 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 비교하고, 비교 결과에 따라 상기 기준 온도를 설정하는 단계; 및 e) 상기 설정된 기준 온도로 상기 선택된 다른 어느 하나의 증발원을 가열하는 단계를 포함할 수 있다.On the other hand, the above evaporation amount control method includes the steps of c) moving the evaporation detection sensor to any other evaporation source selected from the plurality of evaporation sources; d) comparing the evaporation amount per unit time of the selected other evaporation source measured by the evaporation amount detecting sensor with a preset evaporation amount per unit time, and setting the reference temperature according to a comparison result; And e) heating the selected other evaporation source to the set reference temperature.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 증착 장치에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a deposition apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail.
도 1a 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 증착 장치는 프레임(100)과, 상기 프레임(100)에 일정 간격 이격되게 배치되는 복수의 증발원(120)과, 상기 복수의 증발원(120) 각각의 증발량을 측정하고 제어하기 위한 증발량 조 절 유닛(140)과, 증착 공정의 완료 여부를 판단하기 위한 모니터링 센서 유닛(160)을 포함한다.1A to 3, a deposition apparatus according to an embodiment of the present invention includes a frame 100, a plurality of evaporation sources 120 spaced apart from each other by a predetermined interval, and the plurality of evaporation sources. 120 includes an evaporation amount adjusting unit 140 for measuring and controlling each evaporation amount, and a monitoring sensor unit 160 for determining whether the deposition process is completed.
상기 프레임(100)은 상술한 구성들을 지지하기 위한 것으로서, 상기 모니터링 센서 유닛(160)이 지지되는 상부 프레임(101)과, 상기 복수의 증발원(120) 및 증발량 조절 유닛(140)이 지지되는 하부 프레임(102)을 포함한다. 본 실시예에서는 상기 프레임(100)을 편의상 상부 프레임(101)과 하부 프레임(102)으로 나누어 설명하고 있으나, 본 실시예와 달리 상기 상부 프레임(101)과 상기 하부 프레임(102)은 하나의 프레임(100)으로 제작될 수 있을 뿐만 아니라 상기 하부 프레임(102)만으로 상술한 구성들을 지지할 수도 있다.The frame 100 is for supporting the above-described configurations, and an
상기 복수의 증발원(120)은 상기 하부 프레임(102)에 일정 간격 이격되게 배치된다. 본 실시예에서는 제1증발원 내지 제5증발원(120a)(120b)(120c)(120d)(120e)으로 구성되는 것을 예시하였으나, 증발원(120)이 복수개로 구성되는 한 그 개수에 관계없이 본 발명의 사상이 적용된다. 상기 각 증발원(120)은 도면에 도시되지 않았으나, 일반적인 증발원이 가지는 대부분의 구성을 구비하고 있다. 즉, 각 증발원(120)은 증착 물질이 수용되는 도가니(미 도시)와, 상기 도가니를 가열하기 위한 열선(미 도시)과, 상기 증착 물질의 온도를 측정하기 위한 온도 센서(121)가 5개(121a)(121b)(121c)(121d)(121e) 설치된다. 상기 열선은 후술한 전원부(150)에 연결된다. 상기 복수의 증발원(120)은 상기 하부 프레임(102)에 고정되게 설치된다. 따라서, 증착 물질이 부착될 기판은 상기 복수의 증발원(120)의 배치 방향과 수직인 방향으로 이동하면서 증착 작업이 수행되게 된 다. 본 실시예에서는 상기 복수의 증발원(120)은 하부 프레임(102)에 고정되어 있는 것을 예시하였으나, 상기 복수의 증발원(120)은 상기 복수의 증발원(120) 배치 방향과 수직한 방향으로 이동가능하게 설치될 수도 있으며, 이러한 경우 기판은 증착 작업 중에는 고정된 상태를 유지하게 된다.The plurality of evaporation sources 120 are disposed on the
상기 증발량 조절 유닛(140)은 각 증발원(120)에서 증발되는 증착 물질의 증발량을 제어하기 위한 것으로서, 증발량 감지 센서(141)와, 증발량 감지 센서 구동 유닛(143)과, 전원부(150) 및 제어부(151)를 포함한다.The evaporation amount adjusting unit 140 is for controlling the evaporation amount of the evaporation material evaporated from each evaporation source 120, the
상기 증발량 감지 센서(141)는 상기 복수의 증발원(120)으로부터 증발되는 증착 물질의 양을 검출하기 위한 것으로서, 수정 진동자 등이 이용될 수 있다. 상기 증발량 감지 센서(141)는 하나로 구성되며, 상기 증발원(120)의 배치 방향으로 왕복 이동 가능하게 설치되어 각 증발원(120)의 증발량을 순차적으로 측정하게 된다. 이를 위해 상기 증발량 감지 센서(141)은 상기 증발원(120)의 배치 방향으로 이동 가능하여야 하며, 이러한 기능은 증발량 감지 센서 구동 유닛(143)에 의해 이루어진다.The
상기 증발량 감지 센서 구동 유닛(143)은 상기 증발량 감지 센서(141)를 상기 증발원(120)의 배치 방향으로 왕복 이동시키기 위한 것으로서, 증발량 조절용 증발량 조절용 구동 모터(144)와, 상기 증발량 조절용 구동 모터(144)에 의해 회전하는 증발량 조절용 증발량 조절용 볼 스크류(145)와, 상기 증발량 감지 센서(141)의 이동을 가이드하기 위한 증발량 조절용 증발량 조절용 가이드 유닛(146)을 포함한다.The evaporation amount
상기 증발량 감지 센서(141)는 지지체(142)를 매개로 상기 증발량 조절용 볼 스크류(145)에 결합된다. 그리고 상기 증발량 조절용 볼 스크류(145)는 상기 증발량 조절용 구동 모터(144)에 연결되어 회전한다. 따라서, 상기 증발량 조절용 구동 모터(144)가 정회전하면 상기 증발량 조절용 볼 스크류(145)가 일 방향으로 회전하게 되고, 상기 증발량 조절용 볼 스크류(145)가 일 방향으로 회전하면, 상기 지지체(142)와 함께 상기 증발량 감지 센서(141)가 상기 증발원(120)이 배치되는 일 방향으로 직선 이동하게 된다. 반면, 상기 증발량 조절용 구동 모터(144)가 역회전하면, 상기 증발량 감지 센서(141)는 상기 증발원(120)이 배치되는 타 방향으로 직선 이동하게 된다.The
상기 증발량 조절용 가이드 유닛(146)은 상기 하부 프레임(102)에 지지 다리(103)를 매개로 지지되는 증발량 조절용 가이드 레일(147)과, 상기 지지체(142)에 결합되며 증발량 조절용 가이드 홈(148)이 형성된 증증발량 조절용 모니터링용 가이드 부재(149)를 포함한다.The evaporation amount adjusting
상기 전원부(150)는 상기 각 증발원(120)을 가열할 수 있도록 열선 및 증발량 조절용 구동 모터(144) 등에 전원을 공급하기 위한 것으로서, 상기 각 증발원(120)의 열선 및 증발량 조절용 구동 모터(144)에 전기적으로 연결될 뿐만 아니라 상기 제어부(151)에 통신 가능하게 연결된다.The
상기 제어부(151)는 상기 전원부(150)와 전기적으로 연결되어 상기 각 증발원(120)의 가열 온도를 제어한다. 보다 구체적으로, 상기 제어부(151)는 기설정된 기준 온도로 상기 각 증발원(120)이 가열되도록 상기 전원부(150)를 제어하고, 증 발량 감지 센서(141)로부터 입력된 각 증발원(120)의 단위 시간당 증발량에 따라 상기 기준 온도를 가변시켜 상기 각 증발원(120)이 가변된 기준 온도로 가열되도록 상기 전원부(150)를 제어한다.The
또한, 상기 제어부(151)는 상기 증발량 조절용 구동 모터(144)를 제어하여 상기 증발량 감지 센서(141)의 위치를 제어한다. 보다 구체적으로, 상기 복수의 증발원(120) 중 어느 하나의 증발원(120) 즉, 제1증발원(120a)의 단위 시간당 증발량을 측정할 수 있도록 상기 증발량 조절용 구동 모터(144)를 제어한다. 그리고, 일정 시간 동안 상기 제1증발원(120a)의 단위 시간당 증발량을 측정한 후에는 상기 제어부(151)는 상기 제1증발원(120a)의 기준 온도를 가변하여 가변된 기준 온도로 제1증발원(120a)이 가열되도록 상기 전원부(150)를 제어하고, 증발량 조절용 구동 모터(144)를 구동시켜 증발량 감지 센서(141)를 제2증발원(120b)의 증발량을 감지할 수 있는 위치로 이동시킨다. 그리고, 상기 제어부(151)는 제2증발원(120b)도 제1증발원(120a)과 동일한 과정으로 기준 온도를 가변시키고 가변된 기준 온도로 제2증발원(120b)을 가열한다. 이후 제3증발원 내지 제5증발원(120c)(120d)(120e)도 동일한 과정으로 상기 제어부(151)에 의해 증발량이 제어된다.In addition, the
상기 모니터링 센서 유닛(160)은 수정 진동자 등으로 구성되는 모니터링 센서(161)와, 상기 모니터링 센서(161)를 구동시키기 위한 모니터링용 구동 모터(164)와, 상기 상부 프레임(101)에 회전 가능하게 지지되며 상기 모니터링용 구동 모터(164)에 연결되는 회전하는 모니터링용 볼 스크류(165)와, 상기 모니터링용 구동 모터(164)와 상기 모니터링용 볼 스크류(165)를 동력 전달 가능하게 연결하는 한 쌍의 베벨 기어(162)와, 상기 모니터링 센서(161)를 상기 복수의 증발원(120) 배치 방향으로 이동될 수 있도록 가이드하는 모니터링용 가이드 유닛(166)을 포함한다. 상기 모니터링용 가이드 유닛(166)은 모니터링 센서(161)가 고정되게 설치되며 모니터링용 가이드 홈(148)이 형성된 모니터링용 가이드 부재(149)와, 상기 가이드 홈(148)에 삽입되는 모니터링용 가이드 레일(167)을 포함한다.The monitoring sensor unit 160 is rotatable to a
즉, 상기 모니터링 센서(161)는 상기 증발량 감지 센서(141)와 대략 동일한 구성으로 인해 복수의 증발원(120) 배치 방향으로 이동된다. 그러나 상기 모니터링 센서(161)는 복수의 증발원(120)의 전체 증발량 즉, 증착량을 측정하여 증착 공정의 종료 여부를 결정하기 위한 것으로서, 상기 모니터링 센서(161)는 주기적으로 상기 복수의 증발원(120)을 왕복 이동하게 된다. That is, the
상기 모니터링 센서(161)도 상기 증발량 감지 센서(141)와 동일하게 상기 제어부(151)에 전기적으로 연결되어 상기 모니터링 센서(161)로부터 측정된 증발량은 상기 제어부(151)로 전송된다. 그러면, 상기 제어부(151)는 기설정된 증발량과 비교하여 증착 공정의 완료 여부를 결정하게 된다.The
상술한 구성을 가지는 모니터링 센서 유닛(160)의 동작을 살펴보면, 우선 상기 제어부(151)가 전원부(150)를 제어하여 상기 모니터링용 구동 모터(164)에 전원을 인가하면, 상기 모니터링용 구동 모터(164)는 베벨 기어(162)를 통해 상기 모니터링용 볼 스크류(165)를 회전시킨다. 상기 모니터링용 볼 스크류(165)가 회전되면, 상기 모니터링 센서(161)는 복수의 증발원(120) 배치 방향으로 직선 이동하게 된다. 이때, 상기 제어부(151)는 상기 모니터링용 구동 모터(164)를 정회전과 역회 전을 주기적으로 반복하여 상기 모니터링 센서(161)가 상기 증발원(120) 배치 방향으로 주기적으로 왕복 이동된다. 상기 모니터링 센서(161)의 이동은 상기 모니터링용 가이드 홈(168)이 상기 가이드 레일(167)을 따라 이동함으로써 안내된다.Referring to the operation of the monitoring sensor unit 160 having the above-described configuration, first, when the
이와 같은 동작에 의해 상기 모니터링 센서(161)는 각 증발원(120)으로부터 증발되는 증발량의 평균값을 감지할 수 있게 된다. 본 실시예에서는 별도의 모니터링 센서(161)를 구비하여 증착 공정의 완료 여부를 결정하고 있으나, 별도의 모니터링 센서(161) 없이 상기 증발량 감지 센서(141)에 의해 감지되는 증발량으로부터 증착 공정의 완료 여부를 결정하기 위한 증착량에 대한 데이터를 구할 수도 있다. By such an operation, the
이하, 상술한 바와 같은 구성을 가지는 증착 장치의 증발량 제어 방법에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the evaporation amount control method of the vapor deposition apparatus which has the structure as mentioned above is demonstrated in detail.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 제어부(151)는 복수의 증발원(120) 모두를 기준 온도(T0)로 가열되도록 제어한다(S10). 보다 구체적으로, 상기 제어부(151)는 각 증발원(120)의 온도 센서(121)로부터 입력된 실제 온도와 기준 온도(T0)를 비교하고, 비교 결과에 따라 상기 각 증발원(120)에 인가되는 전류의 크기를 조절하게 된다. 이와 같은 제어 모드를 온도 제어 모드라고 정의할 수 있다.3 to 5, the
그리고 상기 제어부(151)는 증발량 감지 센서(141)를 제1증발원(120a)의 증발량을 감지할 수 있는 위치로 이동된다(S20). 보다 구체적으로, 상기 제어부(151)는 상기 증발량 조절용 구동 모터(144)를 구동시킨다. 그러면, 증발량 조절용 볼 스크류(145)가 회전하여 상기 증발량 감지 센서(141)가 복수의 증발원(120) 배치 방향으로 일정 거리 이동하여 제1증발원(120a)의 상부에 위치하게 된다. In addition, the
한편, 모니터링 센서(161)는 주기적으로 복수의 증발원(120)의 배치 방향으로 이동하면서 전체 평균 증발량을 측정하도록 상기 제어부(151)는 모니터링용 구동 모터(164)를 구동시킨다. 보다 구체적으로, 상기 제어부(151)가 상기 모니터링용 구동 모터(164)가 주기적으로 정회전 및 역회시키면, 모니터링용 볼 스크류(165)는 상기 모니터링용 구동 모터(164)에 의해 정회전 및 역회전하면서 상기 모니터링 센서(161)를 모니터링용 가이드 레일(167)을 따라 상기 복수의 증발원(120) 배치 방향으로 주기적으로 왕복 이동시킨다.Meanwhile, the
증발량 감지 센서(141)가 제1증발원(120a)의 증발량을 측정할 수 있는 위치인 제1증발원(120a)의 상부에 도달하면, 제어부(151)는 기설정된 시간 동안 상기 증발량 감지 센서(141)의 구동을 멈추고, 상기 증발량 감지 센서(141)는 단위 시간당 증발량을 측정하여 제어부(151)에 전송한다(S30).When the evaporation
그러면 제어부(151)는 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 측정된 단위 시간당 증발량을 비교한다(S40). 즉, 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일한지 여부를 판단하고(S40) 그 판단 결과에 따라 기준 온도를 새로이 설정한다(S50). 이러한 제어 방법을 증발량 제어 모드로 정의될 수 있다.Then, the
보다 구체적으로, 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일하지 않은 경우, 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량보다 큰지 여부를 판단한다(S51). More specifically, when the measured evaporation amount per unit time is not the same as the reference evaporation amount per unit time, it is determined whether the measured evaporation amount per unit time is greater than the preset standard evaporation amount per unit time (S51).
측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량보다 큰 경우, 기준 온도(T0)를 일정 온도(ΔT0) 감소시키고(S52), 제1증발원(120a)의 단위 시간당 증발량을 다시 측정하여(S30), 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일한지 여부를 판단한다(S40). 상술한 바와 같은 과정을 반복하면서 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일할 때의 새로운 기준 온도(T0)를 찾게 된다.If the measured evaporation per unit time is greater than the preset evaporation per unit time, the reference temperature (T 0 ) is decreased by a predetermined temperature (ΔT 0 ) (S52), and the evaporation amount per unit time of the
측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량보다 큰지 않은 경우, 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량보다 작은 것을 의미하므로, 기준 온도(T0)를 일정 온도(ΔT0) 증가시키고(S53), 제1증발원(120a)의 단위 시간당 증발량을 다시 측정하여(S30), 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일한지 여부를 판단한다(S40). 상술한 바와 같은 과정을 반복하면서 측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일할 때의 새로운 기준 온도(T0)를 찾게 된다.If the measured evaporation per unit time is not greater than the preset evaporation per unit time, it means that the measured evaporation per unit time is smaller than the preset evaporation per unit time, so that the reference temperature (T 0 ) is increased by a constant temperature (ΔT 0 ) In operation S53, the amount of evaporation per unit time of the
측정된 단위 시간당 증발량이 기설정된 단위 시간당 기준 증발량과 동일한 경우, 기준 온도(T0)는 기존의 기준 온도(T0)로 설정한다. 즉, 기준 온도(T0)를 변경하지 않는다.When the measured evaporation amount per unit time is the same as the reference evaporation amount per unit time, the reference temperature T 0 is set to the existing reference temperature T 0 . In other words, the reference temperature T 0 is not changed.
이와 같은 과정에 의해 제1증발원(120a)를 가열하기 위한 기준 온도(T0)를 새로이 설정하고, 상기 제어부(151)는 새로이 설정된 기준 온도(T0)로 상기 제1증발 원(120a)이 가열되도록 전원부(150)를 제어한다(S60).By the above process, a new reference temperature T 0 for heating the
그런 후에, 상기 제어부(151)는 모니터링 센서(161)로부터 입력된 전체 평균 증발량을 근거로 증착 공정의 종료 여부를 판단한다(S70). 보다 구체적으로, 모니터링 센서(161)로부터 입력된 전체 평균 증발량이 평균 기준 증발량과 동일한 경우, 제어부(151)는 증착 공정이 완료된 것으로 판단하고 증착 공정을 종료시키게 된다(S80). 증착 공정을 종료시키기 위해 제어부(151)는 전원부(150)를 제어하여 각 구성에 인가되는 전원을 차단하게 된다.Thereafter, the
그러나 제어부(151)는 모니터링 센서(161)로부터 입력된 전체 평균 증발량이 평균 기준 증발량보다 작은 경우, 증착 공정이 종료되지 않은 것으로 판단하고 다음 측정 대상 증발원(120)인 제2증발원(120b)으로 증발량 감지 센서(141)가 이동되도록 증발량 조절용 구동 모터(144)를 제어한다(S20). 그리고, 제어부(151)는 상술한 S10 내지 S70의 단계를 동일하게 실행한다. 이와 같이, 온도 제어 모드와 함께 증발량 제어 모드로 각 증발원(120)의 증발량을 제어함으로써, 새로운 기준 온도(T0)를 설정하여 각 증발원(120)의 증발량을 제어함으로써, 증발량을 더욱 정밀하게 제어할 수 있을 뿐만 아니라 복수의 증발원(120)을 하나의 증발량 감지 센서(141)를 이용하여 증발량을 제어할 수 있게 된다. 이와 같이 하나의 증발량 감지 센서(141)를 이용함으로써, 고가의 증발량 감지 센서(141)의 개수를 줄일 수 있고 이에 의해 증착 장치의 구조를 간소화시킬 수 있을 뿐만 아니라 증착 장치의 제조 원가를 줄일 수 있게 된다.However, when the total average evaporation amount input from the
이와 같은 과정들은 제3증발원 내지 제5증발원(120c)(120d)(120e)도 동일하 게 진행되며, 증착 공정이 종료될 때까지 반복적으로 진행된다. 본 실시예에서는 하나의 증발량 감지 센서(141)를 이용하여 5개 증발원(120)의 증발량을 제어하는 것을 예시하였으나, 증발원(120)의 개수보다 작은 개수의 증발량 감지 센서(141)로 복수의 증발원(120)의 증발량을 제어하는 모든 경우가 본 발명의 사상에 포함될 것이다.These processes are the same for the third to
이상에서 설명한 본 발명에 의하면, 하나의 증발량 감지 센서를 복수의 증발원의 배치 방향으로 이동시키면서 각 증발원의 증발량을 감지하도록 함으로써, 고가의 증발량 감지 센서의 개수를 줄일 수 있다. 이에 의해 증착 장치의 구조를 간소화할 수 있을 뿐만 아니라 증착 장치의 원가를 줄일 수 있다.According to the present invention described above, by detecting one evaporation amount of each evaporation source while moving one evaporation detection sensor in the arrangement direction of the plurality of evaporation sources, the number of expensive evaporation detection sensors can be reduced. As a result, the structure of the deposition apparatus can be simplified, and the cost of the deposition apparatus can be reduced.
또한, 각 증발원의 증발량을 제어하기 위한 방법으로 온도 제어 모드와 증발량 제어 모드를 동시에 이용함으로써, 증발량을 보다 정밀하게 제어할 수 있을 뿐만 아니라 증발량 감지 센서의 개수를 줄일 수 있게 된다.In addition, by using the temperature control mode and the evaporation control mode at the same time as a method for controlling the evaporation amount of each evaporation source, it is possible to control the evaporation more precisely and to reduce the number of evaporation detection sensors.
또한, 별도의 모니터링 센서를 구비하여 증착 완료 시점을 산출함으로써, 기판에 정밀한 두께로 증착 물질을 증착할 수 있게 된다. 특히, 모니터링 센서를 복수의 증발원 배치 방향으로 주기적으로 이동시키면서 증착 두께를 측정함으로써, 기판에 증착 물질을 더욱 정밀한 두께로 증착시킬 수 있게 된다.In addition, by providing a separate monitoring sensor to calculate the completion time of deposition, it is possible to deposit the deposition material to a precise thickness on the substrate. In particular, by measuring the deposition thickness while periodically moving the monitoring sensor in the direction of the plurality of evaporation source arrangement, it is possible to deposit the deposition material on the substrate with a more precise thickness.
이상에서 본 발명은 기재된 구체적인 실시예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연 한 것이다.Although the invention has been described in detail only with respect to the specific embodiments described, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations are possible within the spirit of the invention, and such modifications and modifications belong to the appended claims. will be.
Claims (11)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070063722A KR20080114305A (en) | 2007-06-27 | 2007-06-27 | Evaporation control unit, evaporation equipment having the same, and method for controlling evaporation |
TW097120464A TW200913060A (en) | 2007-06-27 | 2008-06-02 | Evaporation control unit, evaporation apparatus having the same, and method for controlling evaporation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070063722A KR20080114305A (en) | 2007-06-27 | 2007-06-27 | Evaporation control unit, evaporation equipment having the same, and method for controlling evaporation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080114305A true KR20080114305A (en) | 2008-12-31 |
Family
ID=40371426
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070063722A KR20080114305A (en) | 2007-06-27 | 2007-06-27 | Evaporation control unit, evaporation equipment having the same, and method for controlling evaporation |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20080114305A (en) |
TW (1) | TW200913060A (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101127740B1 (en) * | 2009-10-30 | 2012-03-22 | 김교선 | Multi point sensor system for measuring of high vacuum evaporation rate |
KR101394393B1 (en) * | 2012-06-29 | 2014-05-13 | 세메스 주식회사 | Apparatus and method of depositing organic thin film |
KR101450598B1 (en) * | 2012-01-04 | 2014-10-15 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | Apparatus for Continuously Depositing Thin Film |
KR101470729B1 (en) * | 2013-04-04 | 2014-12-09 | 주식회사 야스 | Linear type deposition rate sensor |
CN104630735A (en) * | 2013-11-06 | 2015-05-20 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | Temperature monitoring device and plasma processing apparatus |
KR20160084755A (en) * | 2015-01-06 | 2016-07-14 | 주식회사 원익아이피에스 | Deposition system |
KR20160088722A (en) * | 2015-01-16 | 2016-07-26 | 주식회사 원익아이피에스 | Thin Film Deposition Apparatus |
KR102708491B1 (en) * | 2024-06-20 | 2024-09-23 | (주)펀솔루션테크놀러지 | Deposition Device using revolver-type point source array module |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102262617B1 (en) * | 2020-03-31 | 2021-06-09 | (주)알파플러스 | Deposition control device and method for manufacturing display using thereof |
-
2007
- 2007-06-27 KR KR1020070063722A patent/KR20080114305A/en active IP Right Grant
-
2008
- 2008-06-02 TW TW097120464A patent/TW200913060A/en unknown
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101127740B1 (en) * | 2009-10-30 | 2012-03-22 | 김교선 | Multi point sensor system for measuring of high vacuum evaporation rate |
KR101450598B1 (en) * | 2012-01-04 | 2014-10-15 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | Apparatus for Continuously Depositing Thin Film |
KR101394393B1 (en) * | 2012-06-29 | 2014-05-13 | 세메스 주식회사 | Apparatus and method of depositing organic thin film |
KR101470729B1 (en) * | 2013-04-04 | 2014-12-09 | 주식회사 야스 | Linear type deposition rate sensor |
CN104630735A (en) * | 2013-11-06 | 2015-05-20 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | Temperature monitoring device and plasma processing apparatus |
CN104630735B (en) * | 2013-11-06 | 2017-12-19 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | Device for monitoring temperature and plasma processing device |
KR20160084755A (en) * | 2015-01-06 | 2016-07-14 | 주식회사 원익아이피에스 | Deposition system |
KR20160088722A (en) * | 2015-01-16 | 2016-07-26 | 주식회사 원익아이피에스 | Thin Film Deposition Apparatus |
KR102708491B1 (en) * | 2024-06-20 | 2024-09-23 | (주)펀솔루션테크놀러지 | Deposition Device using revolver-type point source array module |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200913060A (en) | 2009-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20080114305A (en) | Evaporation control unit, evaporation equipment having the same, and method for controlling evaporation | |
US10870914B2 (en) | Heating device for evaporation, evaporation device and evaporation method | |
KR101487954B1 (en) | Film formation apparatus and film formation method | |
KR101781073B1 (en) | Film formation apparatus and film formation method | |
CN101362125A (en) | Cream applying device and method | |
CN208104523U (en) | Microscope carrier mechanism and evaporated device | |
JP6289930B2 (en) | Wet etching equipment | |
KR101218228B1 (en) | Method for vaporizing material at a uniform rate | |
JP4464085B2 (en) | Thin film forming apparatus and thin film forming method | |
KR100977971B1 (en) | Evaporation equipment | |
KR20080004816A (en) | Adaptive height evaporator | |
CN109161855B (en) | Evaporation device and evaporation method | |
KR102144783B1 (en) | Depositon appratus and in line deposition system coprising the same | |
KR101640354B1 (en) | Method for supplying deposition material, method for producing substrate, control device, and deposition device | |
KR100996908B1 (en) | Apparats for Adjusting the Roll Gap of Roll Coater | |
CN111188020A (en) | Vacuum steamed bun steaming equipment | |
US8632635B2 (en) | Vapor deposition apparatus and vapor deposition method | |
JP7102130B2 (en) | Thin-film deposition equipment and thin-film deposition method | |
JP6036270B2 (en) | Vapor deposition apparatus and vapor deposition method | |
CN212800529U (en) | Vacuum film evaporating equipment | |
KR102285056B1 (en) | Measuring system using terahertz spectroscopy | |
KR102169017B1 (en) | Sputtering device and sputtering method | |
CN212316238U (en) | Vacuum film evaporating equipment | |
KR102547687B1 (en) | Deposition rate monitoring apparatus and deposition rate monitoring method using the same | |
TW201233978A (en) | Roll gap measuring system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
NORF | Unpaid initial registration fee |