KR20080058640A - 와전류 탐상기를 위한 검사 장치 - Google Patents

와전류 탐상기를 위한 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 와전류 탐상기의 성능 검사를 쉽게 안전하게 수행할 수 있도록 하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치에 관한 것으로서, 현장에 설치된 와전류 탐상기를 쉽고 신속하게 검사할 수 있도록 하기 위하여, 와전류 탐상기의 커넥터와 결합되어 상기 커넥터의 각 핀과 전기적으로 연결되는 복수의 연결 단자를 포함하는 커넥터부; +/- 단자를 구비하며 상기 +/- 단자 사이의 저항값을 측정하여 디스플레이하는 테스터부; 및 상기 커넥터부의 복수의 연결 단자에 연결되는 다수의 선택 단자와, 상기 테스터부의 +,-단자에 연결되는 고정 단자를 포함하여, 상기 테스터부의 +,-단자를 상기 커넥터부의 복수의 연결 단자에 선택 연결하는 스위치부를 포함하여 구성된다.
와전류 탐상기(ECT), 테스터, 커넥터, 케이블,

Description

와전류 탐상기를 위한 검사 장치{Test apparatus for Eddy current tester}
도 1은 선재 공정을 개략적으로 나타낸 도면,
도 2a 내지 도 2c는 와전류 탐상기의 구조도,
도 3은 본 발명의 와전류 탐상기를 위한 검사 장치를 도시한 블록 구성도, 그리고
도 4는 본 발명에 의한 검사 장치를 실제 와전류 탐상기에 연결한 상태를 보인 그림이다.
본 발명은 선재 공정에서 선재의 표면흠을 검출하는 와전류 탐상기의 성능 검사를 쉽게 안전하게 수행할 수 있도록 하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 선재 제조는 압연소재(S)의 빌렛트를 압연가능한 온도로 가열로 에 의하여 대략 940~1200℃ 정도로 가열한 후 압연공정인 조압연과 중간 조압연, 중간 사상 압연 공정을 거쳐 온도가 1000℃ 이상인 선재를 생산하고, 이후 수냉 공정을 통하여 대략 800℃ 이상으로 냉각시켜 선재 권취 공정을 실행하게 된다. 그리고 공냉의 열처리를 거쳐 300~500℃ 정도로 냉각된 선재제품의 표면 결함을 외관 검사하여 선재 제품의 불량 정도를 최종적으로 판단한다.
도 1은 이러한 선재 제조 공정을 나타낸 것으로서, 사상압연기(1)와 수냉대(3)의 사이에 와전류 탐상기(ECT)(2)가 배치되어 선재 제품의 불연속적인 표면 결함을0 온라인으로 검출하도록 한다. 상기 수냉대(3)를 통과한 선재한 핀치롤(4)를 거쳐 냉헤드-콘(5)에 의하여 원형으로 권취된다.
이때 상기 와전류 탐상기(2)는 교류가 흐르는 코일에는 솔레노이드와 같은 자장이 형성되며, 이 자장속으로 전도체인 선재를 통과시키면 선재 표면으로 와류 전류(Eddy Current)를 발생시키며, 이러한 와류 전류는 선재 제품의 불연속적인 결함에 의하여 변환된다는 원리에 의하여 선재 표면의 결함을 검출한다.
도 2a 내지 도 2c는 상기 와전류 탐상기(2)의 구조를 나타낸 것으로서, 먼저 도 2a에 도시된 바와 같이, 상기 와전류 탐상기(2)는 회로적으로, 와전류 발생을 위한 1차 코일(21)과, 선재의 표면흠에 의한 와전류의 변화를 검출하기 위한 차동형 2차 코일(22)을 포함한다. 외형적으로는 도 2b 및 도 2c에 도시된 바와 같이, 상기 1차 코일(21) 및 2차 코일(22)이 권선되고 그 내부에 선재가 통과하기 위한 구멍이 형성된 본체(25)와, 상기 본체(25)에 연결되어 1차 코일(21) 및 2차 코일(22)의 전기 신호를 입출력하기 위한 커넥터(26)가 구비된다.
이러한 구조의 와전류 탐상기(2)는 선재 품질 관리를 위한 중요한 설비로서, 센서를 어떻게 관리하느냐에 따라서 검출 결과에 대한 신뢰성의 편차가 심하다.
현재의 와전류 탐상기(2)의 검사는 일반 소형 디지털 테스터의 +,-를 갖는 테스터 봉을 각각 상기 도 2c에 보인 커넥터(26)의 각 핀에 하나하나 접촉시켜, 저항값을 체크하는 방식으로 이루어졌다.
그런데 이러한 기존의 검사 방식은, 검사 시간이 과다하게 걸리며, 실제 현장으로 가서 설치된 각 와전류 탐상기(2)의 각 핀ㄴ에 테스트 봉을 접촉시키는 경우, 소재의 열에 의한 화상 재해 및 cobble에 의한 타격으로 인한 재해 발생등, 안정상 큰 문제점이 있으며, 더하여 커넥터와 신호 케이블 체크가 어렵다는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 기존의 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로서, 그 목적은, 와전류 탐상기의 성능 검사를 쉽게 안전하게 수행할 수 있도록 하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치를 제공하는 것이다.
상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 와전류 탐상기를 위한 검사 장치는,
와전류 탐상기의 커넥터와 결합되어 상기 커넥터의 각 핀과 전기적으로 연결 되는 복수의 연결 단자를 포함하는 커넥터부;
+/- 단자를 구비하며 상기 +/- 단자 사이의 저항값을 측정하여 디스플레이하는 테스터부; 및
상기 커넥터부의 복수의 연결 단자에 연결되는 다수의 선택 단자와, 상기 테스터부의 +,-단자에 연결되는 고정 단자를 포함하여, 상기 테스터부의 +,-단자를 상기 커넥터부의 복수의 연결 단자에 선택 연결하는 스위치부를 포함하여 이루어진다.
더하여, 상기 와전류 탐상기를 위한 검사 장치에 있어서, 상기 커넥터부는, 와전류 탐상기의 1차 코일의 양단에 각각 전기적으로 연결된 제1,2 연결단자와, 상기 와전류 탐상기의 2차 코일의 양단에 각각 전기적으로 연결되는 제3,4 연결단자와, 상기 와전류 탐상기의 그라운드 단자와 연결되는 제5 연결단자와, 접지된 제6 연결단자와, 와전류 탐상기의 몸체 접지를 위한 제7 연결 단자를 포함하는 것을 특징으로 한다.
더하여, 상기 본 발명의 와전류 탐상기를 위한 검사 장치에 있어서, 상기 스위치부는, 상기 커넥터부의 제1 연결 단자와 제2 연결단자를 선택하거나, 제3 연결 단자와 제4 연결단자를 선택하거나, 제1 연결 단자 내지 제4 연결 단자중에서 어느 하나와 제5 연결 단자를 선택하거나, 제6 연결단자와 제7 연결 단자를 선택하여 상기 고정 단자와 연결하도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
더하여, 상기 본 발명의 와전류 탐상기를 위한 검사 장치에 있어서, 상기 스위치부는 로터리 스위치로 구현되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 본 발명의 와전류 탐상기를 위한 검사 장치에 있어서, 상기 스위치부와 테스터부는 하나의 본체에 구성되고, 상기 커넥터부는 케이블을 통해 상기 본체와 연결되도록 구성하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.
또한, 도면 전체에 걸쳐 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '전기적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 구성 요소를 '포함'한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
더하여, 설명의 편의를 위하여 와전류 탐상기의 커넥터에 구비된 핀들에 있어서, 상기 제1 코일(21)의 양 단자(A,B)에 연결된 핀을 각각 제1,2 핀이라 하고, 제2 코일(22)의 양 단자(D,E)에 연결된 핀을 각각 제3,4 핀이라 하며, 그라운드(G) 에 연결되는 핀을 제5 핀이라 한다. 와전류 탐상기의 커넥터(26)는 기본적으로 상기 제1~제 5 핀을 포함한다.
도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 와전류 탐상기를 위한 검사 장치를 개략적으로 도시한 블럭 구성도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 와전류 탐상기를 위한 검사 장치는, 커넥터부(110)와, 스위치부(120)와, 테스터부(130)로 이루어진다.
상기 커넥터부(110)는 와전류 탐상기의 커넥터와 결합되어 상기 커넥터의 각 핀과 전기적으로 연결하기 위한 것으로서, 삽입방식으로 결합될 수 있으며, 더 구체적으로는 상기 와전류 탐상기의 커넥터에 구비되는 제1~제5 핀을 포함한 복수의 핀들과 각각 전기적으로 연결되는 복수의 연결 단자를 포함한다. 예를 들어, 상기 와전류 탐상기의 커넥터에 구비된 제1 핀과 연결되는 제1 연결단자(131)와, 상기 제2 핀과 연결되는 제2 연결단자(132)와, 제3 핀과 연결되는 제3 연결단자(133)와, 제4 핀과 연결되는 제4 연결단자(134)와, 상기 제5 핀과 연결되는 제5 연결단자(135)를 포함하며, 더하여, 접지되는 제6 연결단자(136)과, 와전류 탐상기의 몸체 접지를 위한 제7 연결 단자(137)를 더 포함한다.
스위치부(120)는 상기 커넥터부(110)의 복수의 연결 단자에 연결되는 다수의 선택 단자와, 상기 테스터부(130)의 +,-단자에 연결되는 고정 단자를 포함하여, 상기 테스터부(130)의 +,-단자를 상기 커넥터부(110)의 복수의 연결 단자 중에서 하나와 선택 연결하는 것으로서, 더 바람직하게는, 상기 커넥터부의 제1 연결 단자와 제2 연결단자를 선택하거나, 제3 연결 단자와 제4 연결단자를 선택하거나, 제1 연 결 단자 내지 제4 연결 단자중에서 어느 하나와 제5 연결 단자를 선택하거나, 제6 연결단자와 제7 연결 단자를 선택하여 상기 고정 단자와 연결하도록 구성된다. 상기 스위치부(120)는 로터리 스위치로 구현될 수 있다.
테스터부(130)는 +/- 단자 사이의 저항값을 측정하여, 디스플레이하는 것으로서, 기본적으로 저항 측정 회로와, 상기 저항 측정값을 디스플레이하기 위한 디스플레이수단을 포함한다. 예를 들어, 상기 스위치부(120)에서 커넥터부(110)의 제1 연결 단자과 제2 연결 단자를 선택하는 경우, 상기 테스터부(130)는 상기 커넥터부(110)에 연결된 와전류 탐상기의 1차 코일의 저항값을 측정하여 표시하며, 커넥터부(110)의 제3 연결단자와 제4 연결 단자를 선택하는 경우, 2차 코일의 저항값을 측정하여 표시하고, 제1 연결 단자나 제4 연결 단자 중에서 어느 하나와 제5 연결 단자를 선택하는 경우, 1,2차 코일의 각 단자의 저항값을 측정하여 표시하며, 또한 상기 커넥터부(110)의 제6 연결단자와 제7 연결 단자를 선택하면, 해당 와전류 탐상기의 센서 접지상태를 측정하여 표시한다.
상기 스위치부(120)와 테스터부(110)는 하나의 본체에 구성할 수 있으며, 이때, 커넥터부(110)는 케이블을 통해 상기 본체와 연결시켜 구성할 수 있다. 이 경우, 커넥터부(110)를 검사 대상 와전류 탐상기의 커넥터에 연결시킨 후, 검사자가 좀 떨어진 위치에서 본체를 동작시켜 와전류 탐상기를 검사할 수 있다.
도 4는 본 발명에 의한 검사 장치의 실제 적용 예를 보인 그림으로서, 와전류 탐상기(1)의 커넥터(26)에 본 발명의 검사 장치의 커넥터부(110)가 연결되고, 상기 커넥터부(110)와 케이블로 연결된 본체(200)내에 스위치부(120)와 테스터부(130)가 구비된다. 상기 본체(200)상에서 외형적으로 스위치부(120)를 조작하기 위한 조작수단(122)과, 상기 테스터부(130)의 측정 결과가 표시되는 디스플레이수단이 구비된다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경할 수 있다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 당업자에게 있어 명백할 것이다.
상술한 구성에 의하면, 본 발명은 선재 공정에 구비되는 와전류 탐상기의 검사시, 커넥터부를 와전류 탐상기의 커넥터에 연결시킨 후, 좀 떨어진 위치에서 릴레이부를 조작함에 의하여 여러 가지 상태를 안전하고 쉽게 검사할 수 있으며, 더하여, 기존에 일일이 테스터봉을 접촉시키는 경우보다 더 정확하게 검사할 수 있는 우수한 효과가 있으며, 이와 같이 와전류 탐상기의 품질 관리를 용이하게 함으로써, 와전류 탐상기의 에러 및 고장을 예방할 수 있어, 선재 공정의 작업 효율을 향상시킬 수 있다.

Claims (5)

  1. 와전류 탐상기의 커넥터와 결합되어 상기 커넥터의 각 핀과 전기적으로 연결되는 복수의 연결 단자를 포함하는 커넥터부;
    +/- 단자를 구비하며 상기 +/- 단자 사이의 저항값을 측정하여 디스플레이하는 테스터부; 및
    상기 커넥터부의 복수의 연결 단자에 연결되는 다수의 선택 단자와, 상기 테스터부의 +,-단자에 연결되는 고정 단자를 포함하여, 상기 테스터부의 +,-단자를 상기 커넥터부의 복수의 연결 단자에 선택 연결하는 스위치부를 포함하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 커넥터부는
    와전류 탐상기의 1차 코일의 양단에 각각 전기적으로 연결된 제1,2 연결단자와, 상기 와전류 탐상기의 2차 코일의 양단에 각각 전기적으로 연결되는 제3,4 연결단자와, 상기 와전류 탐상기의 그라운드 단자와 연결되는 제5 연결단자와, 접지된 제6 연결단자와, 와전류 탐상기의 몸체 접지를 위한 제7 연결 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 스위치부는
    상기 커넥터부의 제1 연결 단자와 제2 연결단자를 선택하거나, 제3 연결 단자와 제4 연결단자를 선택하거나, 제1 연결 단자 내지 제4 연결 단자중에서 어느 하나와 제5 연결 단자를 선택하거나, 제6 연결단자와 제7 연결 단자를 선택하여 상기 고정 단자와 연결하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치.
  4. 제1항 또는 제3항에 있어서,
    상기 스위치부는 로터리 스위치로 구현되는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 스위치부와 테스터부는 하나의 본체에 구성되고, 상기 커넥터부는 케이블을 통해 상기 본체와 연결되도록 구성하는 것을 특징으로 하는 와전류 탐상기를 위한 검사 장치.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100931935B1 (ko) * 2008-10-07 2009-12-15 (주)레이나 Ｐｅｃ를 이용한 결함 측정장치를 이용한 측정방법
KR101227869B1 (ko) * 2011-08-26 2013-01-31 한국기초과학지원연구원 자유결선이 가능한 멀티 ｄ―ｓｕｂ 케이블
CN101750588B (zh) * 2008-11-28 2013-04-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 检测装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07311180A (ja) * 1994-05-19 1995-11-28 Hitachi Cable Ltd 渦流探傷コイル
KR200184837Y1 (ko) * 1997-09-05 2000-06-01 김형국 발전소 복수기의 와전류 탐상검사장치용 탐촉자
KR200247319Y1 (ko) * 1998-08-10 2001-12-28 김형국 와전류탐상검사장치용표면탐촉자
KR101105107B1 (ko) * 2004-10-12 2012-01-16 주식회사 포스코 열간 선재 표면결함 온-라인 와전류 탐상장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100931935B1 (ko) * 2008-10-07 2009-12-15 (주)레이나 Ｐｅｃ를 이용한 결함 측정장치를 이용한 측정방법
CN101750588B (zh) * 2008-11-28 2013-04-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 检测装置
KR101227869B1 (ko) * 2011-08-26 2013-01-31 한국기초과학지원연구원 자유결선이 가능한 멀티 ｄ―ｓｕｂ 케이블

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