KR20070117186A - 평판 패널 검사 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판 패널 검사 장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 액정 패널 검사 장치의 상기 스토퍼에는 평판 패널과의 접촉면을 줄이기 위한 오목부가 형성되어 상기 스토퍼가 해당 액정 패널로부터 후퇴하여 이격할 때에 마찰력에 의한 액정 패널 오정렬 현상이 발생하지 않는다. 또한, 액정 패널 검사에서 액정 패널의 오정렬로 인한 액정 패널 외관 검사의 생략을 줄일 수 있으며, 액정 패널의 오정렬이 다음 공정까지 이어져서 패널이 깨지는 문제를 없앨 수 있다. 또한, 액정 패널 검사에서 액정 패널이 바르게 정렬됨으로 인하여 액정 패널에 형성된 블랙 매트릭스나 전극 패드의 손상을 잘 검출할 수 있게 된다.

평판 패널, 스토퍼, 오정렬, 광조사부, 회전축

Description

평판 패널 검사 장치{Flat Panel Display Test Apparatus}

도 1은 종래 기술에 따른 액정 패널 검사 장치의 패널이 안착되는 영역을 도시한 사시도이다.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치의 패널이 안착되는 영역을 도시한 사시도이다.

도 3a 내지 도 3f는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치의 동작을 나타낸 사시도이다.

도 4a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 접촉한 상태의 평면도이다.

도 4b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 이격된 상태의 평면도이다.

도 5a는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 접촉한 상태의 평면도이다.

도 5b는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 이격된 상태의 평면도이다.

도 6a는 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 접촉한 상태의 평면도이다.

도 6b는 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 이격된 상태의 평면도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

100: 플레이트 110: 투광 영역

120: 회전축 210: 스토퍼

220: 푸셔 부재 230: 구동 부재

300: 액정 패널

본 발명은 평판 패널 검사 장치에 관한 것으로, 특히 평판 패널을 정확하면서도 안전하게 정렬하여 평판 패널 검사를 원활하게 진행할 수 있는 평판 패널 검사 장치에 관한 것이다.

일반적으로 평판 표시 장치(FPD, Flat Panel Display) 중에서 가장 광범위하게 사용되는 액정 표시 장치(LCD, Liquid Crystal Display)는, 두 기판 사이에 주입되어 있는 이방성 유전율을 갖는 액정 물질에 전계를 인가하고, 이 전계의 세기를 조절하여 기판에 투과되는 광의 양을 조절함으로써 원하는 화상을 표시하는 장치이다.

상기 액정 표시 장치는 두 기판을 제조하는 공정 및 한 쌍의 기판에 액정을 필링하여 액정 패널을 제조하는 공정, 액정 패널과 구동부를 조립하는 과정 등을 거쳐서 제조되며, 각 공정 후에는 소정의 검사를 하여 불량이 발생하면 그에 대응하는 조치를 취하게 된다.

도 1은 종래 기술에 따른 액정 패널의 외관을 검사하는 장치의 패널이 안착되는 영역을 도시한 사시도이다.

도 1을 참조하면, 종래 기술에 따른 액정 패널 검사 장치는 플레이트(10)와, 상기 플레이트(10)의 오목부에 마련되는 투광 영역(11)과, 상기 투광 영역(11) 상의 액정 패널(30)을 정렬하기 위한 스토퍼(21)를 포함하여 이루어진다.

이와 같은 액정 패널 검사 장치는, 상기 플레이트(10)의 A 영역에 로봇 팔 등에 의해 액정 패널(30)이 놓여지면 해당 액정 패널(30)의 양측에 위치한 한 쌍의 스토퍼(21)가 전진하여 액정 패널(30)을 정렬, 지지한다.

다음으로, 상기 액정 패널 검사 장치는 플레이트(10)의 가운데 위치한 회전축(12)을 회전시켜서 A 영역에 위치된 액정 패널(30)을 B 영역에 위치시킨다.

다음으로, 상기 액정 패널 검사 장치는 액정 패널(30)이 플레이트(10)의 B 영역에 위치되면, 상기 한 쌍의 스토퍼(21)를 후진시켜서 액정 패널(30)과의 접촉을 해제한다.

다음으로, 상기 액정 패널 검사 장치는 투광 영역(11) 하부에서 해당 투과 영역(11)을 향하여 광을 조사하고, 상기 투과 영역(11) 상에 놓여진 상기 액정 패널(30)의 외관을 카메라 등을 이용하여 촬영하고 해당 액정 패널(30)의 영상을 판독하여 액정 패널에 형성된 블랙 매트릭스 패턴 및 전극 패드 등의 외관을 검사한다.

이때, 상기 스토퍼(21)가 액정 패널(30)과 접촉되어 있으면 스토퍼(21)에 의해 생기는 음영으로 인하여 영상 판독이 어려워지므로, 상기 스토퍼(21)를 후퇴시켜서 액정 패널(30)과의 접촉을 해제하게 된다.

그러나, 상기 액정 패널 검사 장치는 플레이트(10)의 B 영역에서 상기 한 쌍의 스토퍼(21)와 액정 패널(30)과의 접촉을 해제시킬 때, 스토퍼(21)와 액정 패널(30) 사이의 마찰력으로 인하여 액정 패널(30)의 정렬이 흐트러지게 되는 경우가 자주 발생하게 된다. 이와 같이 오정렬이 발생된 액정 패널(30)은 액정 패널 검사 공정을 생략하게 되며, 해당 액정 패널 검사 장치의 가동률이 낮아지고, 액정 표시 장치의 생산 수율이 낮아지는 등의 문제점이 있다.

본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 도출된 것으로서, 평판 패널 검사 장치 내의 스토퍼의 단면과 평판 패널의 접촉 면적을 줄여서 스토퍼와 평판 패널과의 접촉을 해제시킬 때, 평판 패널의 정렬이 흐트러지지 않는 평판 패널 검사 장치를 제공함을 그 목적으로 한다.

상기 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따르면, 평판 패널 검사 장치에 있어서, 투광 영역을 가지며 해당 투광 영역에 평판 패널이 안착되는 플레이트; 상기 투광 영역 하부에서 해당 투과 영역을 향해 광을 조사하는 광조사부; 상기 투광 영역의 중심을 향해 전후진하는 한 쌍의 푸셔 부재; 및 상기 한 쌍의 푸셔 부재와 연결되는 한 쌍의 스토퍼를 포함하고, 상기 스토퍼에서 평판 패 널과의 접촉면에는 요철이 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치가 제공된다.

상기 스토퍼는 평판 패널과 접촉하는 면이 평판 패널 길이만큼 연장되며, 접촉면에는 오목부가 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 투광 영역의 상부에서 해당 투광 영역 상에 있는 평판 패널의 외관 검사를 하는 검사부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 투광 영역은 플레이트의 서로 대향하는 단부에 형성되고, 상기 플레이트의 중심부에는 해당 플레이트를 회전시킬 수 있는 회전축이 구비된 것을 특징으로 한다.

상기 스토퍼에서 평판 패널과의 접촉면에 형성된 오목부는 사각 톱니 형상으로 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 스토퍼에서 평판 패널과의 접촉면에 형성된 오목부는 삼각 톱니 형상으로 형성되는 것을 특징으로 한다.

상기 스토퍼는 평판 패널과의 접촉면에 오목부가 형성되며, 상기 오목부는 평판 패널과의 접촉면보다 넓은 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.

본 발명은 평판 패널을 정렬하는 스토퍼의 단면과 평판 패널의 접촉 면적을 줄여서 스토퍼와 평판 패널과의 접촉을 해제시킬 때, 평판 패널의 정렬이 흐트러지지 않는 평판 패널 검사 장치에 관한 것이다.

일반적으로 평판 표시 장치(FPD, Flat Panel Display) 중에서 가장 많이 제조되는 액정 표시 장치(LCD, Liquid Crystal Display)는 복수의 게이트 라인과 데이터 라인, 그리고 상기 게이트 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 박막 트랜지스터와 화소 전극을 형성한 박막 트랜지스터 기판, 상기 화소 전극에 대응하는 공통 전극과 컬러 필터를 형성한 컬러 필터 기판, 그리고 상기 두 기판 사이에 형성된 액정층을 포함한다.

상기 액정 표시 장치는 다음과 같은 제조 공정으로 제조된다.

먼저, 일 모기판에 박막 트랜지스터와 화소 전극을 포함하는 복수의 화면 표시 영역을 형성하고, 다른 모기판에 상기 화소 전극에 대응하는 공통 전극과 컬러 필터를 상기 복수의 화면 표시 영역에 대응하여 형성한다.

다음으로, 상기 각각의 모기판을 잘라내어 복수의 화면 표시 영역 별로 단위 기판을 만들고, 상기 두개의 단위 기판을 합착하고 상기 화면 표시 영역에 액정을 필링하여 액정 패널을 제조한다.

다음으로, 상기 액정 패널에 백라이트 모듈 및 구동 모듈을 연결하여 액정 표시 장치를 완성한다.

이하의, 본 발명의 실시예에 따른 평판 패널 검사 장치는, 상기 액정 패널 제조 후에 액정 패널에 형성된 블랙 매트릭스 패턴 및 전극 패드 등의 외관을 검사 하는 장치를 예시한다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치의 패널이 안착되는 영역을 도시한 사시도이다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치는, 플레이트(100), 투광 영역(110), 회전축(120), 스토퍼(210), 푸셔 부재(220) 및 구동 부재(230)를 포함한다.

플레이트(100)는 해당 플레이트의 서로 대향하는 단부에 각각 오목한 부분을 가진다. 또한, 상기 플레이트(100)에서 상기 오목한 부분에는 각각 투광 영역(110)이 위치된다. 상기 투광 영역(110)에는 유리판이나 투명 플라스틱판이 위치되는 것이 바람직하다.

상기 플레이트(100)의 가운데 부분에는 회전축(120)이 설치되어, 해당 플레이트(100)를 회전시킬 수 있다. 즉, 도 2에서 플레이트(100)의 A 영역에 액정 패널(300)이 위치되면, 상기 회전축(120)의 180도 회전에 의해 해당 액정 패널(300)을 B 영역에 위치시킬 수 있다.

또한, 상기 플레이트(100)의 B 영역 하부에는 투광 영역(110)을 향하여 광을 조사하는 광조사부(미도시)가 마련되며, B 영역 상부에는 투광 영역(110) 상에 위치되는 액정 패널(300)을 촬영하여 외관검사를 하는 검사부(미도시)가 마련된다.

한 쌍의 구동 부재(230)는 상기 각각의 투광 영역(110) 양 측에 형성되며, 푸셔 부재(220)를 상기 투광 영역(110) 상의 물체를 향하여 전후진시킨다.

스토퍼(210)는 상기 푸셔 부재(220)의 선단부에 설치되어, 상기 투광 영 역(110) 상에 위치되는 액정 패널(300)을 정렬, 지지시킨다. 상기 스토퍼(20)는 사각형의 바형태로 액정 패널의 측벽 길이만큼의 길이를 가져 액정 패널의 양 측벽과 접촉하여 액정 패널의 양 측벽을 밀어서 정위치에 정렬시킨다. 상기 스토퍼(210)는 신축성이 있는 수지 재료로 만들어지며, 바람직하게는 아세탈로 만들어지는 것이 바람직하다.

이때, 본 발명의 실시예에 따른 스토퍼(210)의 단면은 상기 액정 패널(300) 측면과의 접촉 면적을 줄이기 위한 오목부가 형성된다.

다음으로, 도 3a 내지 도 3f를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치의 동작을 상세하게 설명한다.

도 3a 내지 도 3f는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치의 동작을 나타낸 사시도이다.

먼저, 도 3a를 참조하면, 상기 액정 패널 검사 장치에는 두 개의 투광 영역(110)이 형성된 영역이 도시되어 있다. 상기 일 영역은 외부로부터 반입된 액정 패널을 정렬하는 영역이며, 상기 타 영역은 정렬된 액정 패널의 외관을 검사하고 반출하는 영역이다.

상기 액정 패널 검사 장치에서 두 쌍의 스토퍼(210)는 투광 영역(110)의 양 측면으로 후퇴되어 있다.

다음으로, 도 3b를 참조하면, 상기 액정 패널 검사 장치의 일 영역에는 액정 패널(300)이 반입된다. 도 3c를 참조하면, 상기 액정 패널 검사 장치의 일 영역에 액정 패널(300)이 반입되면, 투광 영역(110)을 사이에 두고 대향하는 한 쌍의 스토 퍼(210)는 상기 액정 패널(300)을 향하여 전진하여 해당 액정 패널(300)을 정렬, 지지한다.

다음으로, 도 3d를 참조하면, 상기 액정 패널 검사 장치의 회전축(120)이 180도 회전하여 상기 두 영역이 뒤바뀐다. 즉, 액정 패널(100)은 상기 액정 패널 검사 장치의 일 영역에서 타 영역으로 이동된다.

다음으로, 도 3e를 참조하면, 상기 액정 패널 검사 장치의 일 영역에는 새로운 액정 패널(300)이 반입되고, 타 영역에는 원래 있던 액정 패널(300)에서, 한 쌍의 스토퍼(210)가 후퇴된다. 이때, 상기 액정 패널 검사 장치의 타 영역에서는 투광 영역(110)의 하부에서 광조사부(미도시)가 액정 패널(300)을 향하여 광을 조사하고, 액정 패널(300)의 상부에서는 검사부(미도시)가 해당 액정 패널(300)을 카메라로 찍어 해당 영상을 분석하는 방법으로 외관 검사를 행한다.

다음으로 도 3f를 참조하면, 상기 액정 패널 검사 장치의 일 영역에서는 투광 영역(110)을 사이에 두고 대향하는 한 쌍의 스토퍼(210)가 상기 액정 패널(300)을 향하여 전진하여 해당 액정 패널(300)을 정렬, 지지한다.

또한, 상기 액정 패널 검사 장치의 타 영역에서는 외관 검사가 끝난 액정 패널(300)을 외부로 반송한다.

이와 같은 방법으로 상기 액정 패널 검사 장치는 계속하여 복수의 액정 패널(300)을 순차적으로 외관 검사를 행한다.

도 4a는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 접촉한 상태의 평면도이며, 도 4b는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널 검 사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 이격된 상태의 평면도이다.

도 4a와 도 4b를 참조하면, 한 쌍의 스토퍼(210)가 투광 영역(110) 상에 위치된 액정 패널(300)의 양 측면과 접하고 있는 형상과, 상기 스토퍼(210)가 액정 패널(300)로부터 후퇴하여 이격된 형상이 도시된다.

상기 스토퍼(20)는 소정 길이를 가지는 바형태이며 액정 패널과 접촉하는 면에 요철부를 설치하여 철(凸)부만 액정 패널과 접촉시켜 액정 패널과 접촉하는 면을 줄인다. 또한, 상기 스토퍼(20)는 접촉하는 액정 패널의 길이 만큼의 길이를 가지는 것이 바람직하다.

본 실시예의 경우, 상기 스토퍼(210)에는 액정 패널(300)과의 접촉면을 줄이기 위한 사각 톱니 형상의 오목부(215)가 형성되어 상기 스토퍼(210)가 액정 패널(300)로부터 후퇴하여 이격할 때에 마찰력에 의한 액정 패널(300) 오정렬 현상이 발생하지 않는다.

다음으로, 도 5a 및 도 5b를 참조하여, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에 대하여 상세하게 설명한다. 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치는 제1 실시예와 비교하여 스토퍼에서 액정 패널과의 접촉면의 형상이 상이하다.

도 5a는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 접촉한 상태의 평면도이며, 도 5b는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 이격된 상태의 평면도이다.

도 5a 및 도 5b를 참조하면, 상기 스토퍼(210)에는 액정 패널(300)과의 접촉 면을 줄이기 위한 삼각 톱니 형상의 오목부가 형성되어 상기 스토퍼(210)가 액정 패널(300)로부터 후퇴하여 이격할 때에 마찰력에 의한 액정 패널(300) 오정렬 현상이 발생하지 않는다.

다음으로, 도 6a 및 도 6b를 참조하여, 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에 대하여 상세하게 설명한다. 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치는 제1 실시예와 비교하여 스토퍼에서 액정 패널과의 접촉면의 형상이 상이하다.

도 6a는 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 접촉한 상태의 평면도이며, 도 6b는 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치에서 액정 패널이 스토퍼와 이격된 상태의 평면도이다.

도 6a 및 도 6b를 참조하면, 상기 스토퍼(210)에는 액정 패널(300)과의 접촉면을 줄이기 위한 2 개의 오목부가 형성되며, 상기 오목부는 평판 패널과의 접촉면보다 넓게 형성된다. 따라서, 상기 스토퍼(210)가 액정 패널(300)로부터 후퇴하여 이격할 때에 마찰력에 의한 액정 패널(300) 오정렬 현상이 발생하지 않는다.

본 발명의 실시예에 따른 액정 패널 검사 장치를 이용하면, 액정 패널 검사에서 액정 패널의 오정렬로 인한 액정 패널 외관 검사의 생략을 줄일 수 있으며, 액정 패널의 오정렬이 다음 공정까지 이어져서 패널이 깨지는 문제를 없앨 수 있다. 또한, 액정 패널 검사에서 액정 패널이 바르게 정렬됨으로 인하여 액정 패널에 형성된 블랙 매트릭스나 전극 패드의 손상을 잘 검출할 수 있게 된다.

본 발명의 실시예에서는 평판 표시 장치 중에서 가장 많이 사용되는 액정 표 시 장치의 액정 패널을 예로서 설명하였으나, 이와는 달리 플라즈마 표시 장치나 OLED(유기 다이오드, Organic Light Emitting Diodes) 등의 평판 패널에도 적용할 수 있다.

본 발명의 권리 범위는 앞에서 설명한 각 실시예에 한정되는 것이 아니라, 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자에 의한 모든 변경 및 개량도 본 발명의 권리 범위에 속한다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정 패널 검사 장치의 상기 스토퍼에는 평판 패널과의 접촉면을 줄이기 위한 오목부가 형성되어 상기 스토퍼가 해당 액정 패널로부터 후퇴하여 이격할 때에 마찰력에 의한 액정 패널 오정렬 현상이 발생하지 않는다.

또한, 액정 패널 검사에서 액정 패널의 오정렬로 인한 액정 패널 외관 검사의 생략을 줄일 수 있으며, 액정 패널의 오정렬이 다음 공정까지 이어져서 패널이 깨지는 문제를 없앨 수 있다. 또한, 액정 패널 검사에서 액정 패널이 바르게 정렬됨으로 인하여 액정 패널에 형성된 블랙 매트릭스나 전극 패드의 손상을 잘 검출할 수 있게 된다.

Claims (7)

1. 평판 패널 검사 장치에 있어서,

   투광 영역을 가지며 해당 투광 영역에 평판 패널이 안착되는 플레이트;

   상기 투광 영역 하부에서 해당 투과 영역을 향해 광을 조사하는 광조사부;

   상기 투광 영역의 중심을 향해 전후진하는 한 쌍의 푸셔 부재; 및

   상기 한 쌍의 푸셔 부재와 연결되는 한 쌍의 스토퍼를 포함하고,

   상기 스토퍼에서 평판 패널과의 접촉면에는 요철이 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치.
2. 청구항 1에 있어서,

   상기 스토퍼는 평판 패널과 접촉하는 면이 평판 패널 길이만큼 연장되며, 접촉면에는 오목부가 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치.
3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,

   상기 투광 영역의 상부에서 해당 투광 영역 상에 있는 평판 패널의 외관 검사를 하는 검사부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치.
4. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,

   상기 투광 영역은 플레이트의 서로 대향하는 단부에 형성되고, 상기 플레이 트의 중심부에는 해당 플레이트를 회전시킬 수 있는 회전축이 구비된 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치.
5. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,

   상기 스토퍼에서 평판 패널과의 접촉면에 형성된 오목부는 사각 톱니 형상으로 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치.
6. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,

   상기 스토퍼에서 평판 패널과의 접촉면에 형성된 오목부는 삼각 톱니 형상으로 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치.
7. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,

   상기 스토퍼는 평판 패널과의 접촉면에 오목부가 형성되며, 상기 오목부는 평판 패널과의 접촉면보다 넓은 것을 특징으로 하는 평판 패널 검사 장치.

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