KR20070115014A - 형광램프의 수명말기 검출회로 - Google Patents

형광램프의 수명말기 검출회로 Download PDF

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Abstract

본 발명은 안정기로부터 검출된 전압신호를 정류하여 정류전압을 출력하는 정류기와; 상기 전압신호의 위상을 검출하여 적어도 하나의 위상 검출신호를 출력하는 위상검출부와; 상기 적어도 하나의 위상 검출신호에 응답하여, 상기 정류기로부터의 정류 전압을 각 위상별로 분리하여 제 1 전압신호와 제 2 전압신호를 생성하는 신호분리부와; 상기 제 1 전압신호의 최고치를 검출하는 제 1 최고치 검출부와; 상기 제 2 전압신호의 최고치를 검출하는 제 2 최고치 검출부와; 상기 제 1 최고치 검출부에 의해 검출된 제 1 최고치와 상기 제 2 최고치 검출부에 의해 검출된 제 2 최고치를 비교하여, 그 차가 소정 허용치를 초과하는지 여부를 검출하는 제 1 비교부와; 상기 제 1 비교부로부터의 검출결과에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단하는 제어부를 포함하여 구성되는 형광램프의 수명말기 검출회로에 관한 것이다.
형광램프, 수명말기 검출회로

Description

형광램프의 수명말기 검출회로{Circuit for Detection of the End of Fluorescent Lamp}
도 1은 전자식 안정기의 구성을 도시한 것이다.
도 2는 전자식 안정기에서 형광램프의 점등 전후의 공진특성 변화를 나타낸 그래프이다.
도 3은 종래 형광램프의 수명말기 검출방법을 설명하기 위한 개략도이다.
도 4는 형광램프의 수명 말기시 형광램프의 전압, 전류 변화를 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명에 의한 일 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로의 구성을 도시한 것이다.
도 6은 본 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로에 포함된 버퍼, 정류기 및 위상검출부의 구성을 도시한 것이다.
도 7은 본 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로에 포함된 신호분리부의 구성을 도시한 것이다.
도 8a는 본 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로에 포함된 제 1 비교부의 구성을 도시한 것이다.
도 8b는 본 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로에 포함된 제 2 비교부의 구성을 도시한 것이다.
도 9a는 형광램프의 수명 말기시 본 실시예에 포함된 정류기에 의해 정류된 정류전압의 파형을 도시한 것이다.
도 9b는 본 실시예에서 안정기로부터 검출된 전압신호의 양(陽)위상을 분리한 제 1 전압신호의 파형을 도시한 것이고, 도 9b는 상기 전압신호의 음(陰)위상을 분리한 제 2 전압신호의 파형을 도시한 것이다.
본 발명은 형광램프의 수명말기 검출회로에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 형광램프의 수명말기를 조기에 검출하여 안정기, 소켓 및 관련회로를 효과적으로 보호할 수 있도록 하는 수명말기 검출회로에 관한 것이다.
오랜 시간 동안 형광 램프를 사용하게 되면, 형광 램프 전극(Cathode)에 도포되어 있는 열 전자 방출을 위한 보조 물질(Emitter)인 바륨(Ba)이나 스트로튬(St) 등이 램프 내 또는 외벽으로 흡수되어 필라멘트(Filament)에 도포(Coating)되어 있는 물질의 양이 서서히 감소하게 된다. 필라멘트에 도포되어 있는 물질이 감소함에 따라 형광램프의 전압과 전류는 비대칭 현상이 일어나기 시작하며, 도포 물 질이 완전히 소멸되면 램프는 더 이상 점등되지 않게 된다.
그런데, 필라멘트가 끊어졌거나 형광 물질이 완전히 소멸된 램프는 더 이상 점등되지 않기 때문에 쉽게 판별할 수 있으나, 형광 물질이 완전히 소멸되기 이전의 형광 램프 수명 말기에는 그 증상을 시각적으로 판별하기 힘들기 때문에, 일반 사용자는 형광 램프의 수명이 다했음에도 불구하고 램프를 계속해서 사용하게 된다.
형광 램프 수명 말기 현상을 갖는 램프는 전자 방사 물질이 감소한 전극에서 증가된 필라멘트 열 저항과 일정한 전극 전류로 인해서 열이 발생하게 되므로, 수명 말기로 되어감에 따라 점차적으로 전극 온도가 상승하게 된다. 이 때, 전극에서 발생되는 열은 심할 경우에는 전극과 연결되어 있는 등 기구 소켓을 녹이게 되어 위험한 상태를 초래하게 된다. 이를 도면을 참조하여 좀 더 구체적으로 설명한다.
도 1은 전자식 안정기의 구성을 도시한 것이다. 도시된 바와 같이, 제어IC(10)는 두 개의 트랜지스터(M1, M2) 스위치를 교번하여 구동함으로써 출력단(VA)에 구형파를 만들게 하고, L, Cs, Cp로 구성된 필터를 통과시켜서 형광 램프에 정현파를 공급한다. 형광 램프와 같은 방전등은 부 저항 특성을 가지고 있어서 일단 점등이 되면, 램프 전류가 계속적으로 증가되는 특성을 갖는다. 그러므로, 램프 전류가 계속적으로 증가되는 것을 방지하고, 항상 일정한 전류가 램프로 흐르도록 하는 회로가 필요하며, 이를 안정기(Ballast)라고 한다.
기존에 사용되던 안정기는 60Hz 주파수를 갖는 전원을 직접 이용했으므로, 적절한 램프 전류를 공급하고, 유지하기 위해서 매우 큰 값을 갖는 인덕터를 사용해야 했다. 그래서 이러한 문제를 해결하기 위해 전자식 안정기가 개발되었다. 여러 가지 형태의 전자식 안정기가 있지만 그 중에 대표적인 것이 도 1과 같이 half-bridge 인버터 구조를 갖는 공진형 인버터이다. 전자식 안정기는 전압(VDC)을 M1, M2로 스위칭하여 수십 kHz의 고주파 AC를 만들어 냄으로써, 인덕터의 크기를 매우 줄일 수 있다.
램프가 점등되기 전에는 램프 양(兩) 전극 간의 저항값은 매우 큰 상태에 있고, 이후 램프가 점등되면 램프 양 전극 간의 저항은 수백 Ω 정도로 감소하게 된다. L, Cs, Cp 및 상기 전극 간 저항으로 구성되는 공진회로의 특성은 램프 점등 전, 후에 따라서 도 2와 같이 변한다.
그런데, 오랜 기간 동안 형광 램프를 사용하게 되면, 형광 램프 전극(Cathode)에 도포(coating)되어 열 전자 방출을 돕는 전자 방사(Emitter)물질이 점차적으로 램프 내로 흡수됨으로써, 전극에서 램프로 방출되는 열 전자의 양이 감소하게 된다. 이에 따라, 오랜 시간 동안 사용한 형광 램프 전극 부분이 검은색을 띠게 되는데, 이러한 현상을 흑화 현상(Blackening)이라고 한다. 이것은 전극에 도포되어 있는 바륨(Ba)과 스트로튬(St)과 같은 물질들이 램프 유리관 안쪽에 있는 형광 물질에 흡착되어 나타난 결과이다.
상기 흑화현상의 결과, 전극에서 감소한 열 전자의 양으로 인해서, 전극에서 램프로 공급되는 전류의 양은 감소하게 된다. 또한, 형광 램프 양쪽 전극에서 전자 방사 유도 물질이 감소되는 정도가 차이를 갖는다. 따라서, 형광 램프 전극에서 램 프로 유입되는 전류의 양이 감소하는 정도에 따라서 램프 전압은 상대적으로 증가하게 되므로, 램프 전압도 역시 차이를 갖는다. 이와 동시에 램프가 가지는 불 밝기는 램프 전류가 감소함에 따라서 감소하게 된다. 이러한 현상을 형광 램프 수명 말기 현상이라고 한다. 일반적으로 수명 말기 초기에는 시각적으로는 불 밝기가 감소했다는 것을 인지할 수 없다.
형광 램프의 특정 전극(필라멘트)의 수명이 다하면, 수명이 다한 전극에서부터 반대 방향의 전극으로 흐르는 전류의 양은 상대적으로 감소하게 된다. 이와 동시에 전압의 변화는 반대로 나타나게 되어 도 4와 같은 형태를 갖게 된다.
수명 말기 현상이 지속된다면 형광 램프가 가지는 전류와 전압의 비대칭 정도는 더욱 심해지게 되고, 더 나아가 전류가 램프 점등 유지에 필요한 최소 전류보다도 작아지면 점등 상태를 유지할 수 없는 상태가 되어 점등, 소등 동작을 반복하게 된다. 그리고, 최종적으로 형광 램프 전극에서 전자 방사 물질이 완전히 방사하게 되면 램프는 더 이상 점등되지 않게 된다.
아울러, 형광 램프 전극에서 전자 방사 물질의 양이 감소된다면, 전기적으로 형광 램프 전극이 가지는 열 저항값은 증가하게 된다. 또한, 도 1에서 윗쪽 전극에서 흑화현상이 발생하게 되면 ⓐ방향으로의 전류가 감소하면서 ⓑ방향으로의 전류는 많이 증가하게 된다. 따라서, 증가된 형광 램프 전극의 열저항 성분 및 ⓑ방향으로의 전류 증가에 의해 전극에서는 높은 열이 발생하게 된다. 그리고, 이러한 열은 램프 전극과 연결되어 있는 플라스틱 재질의 소켓을 녹이게 된다.
따라서, 이러한 문제점을 해결하기 위하여 종래에는 도 3에 도시된 바와 같 은 방법을 이용하여 램프의 수명말기를 판단하였다. 즉, 도 3에 도시된 바와 같이, 종래에는 램프 양쪽 전극 간의 전압을 전압분배한 전압을 검출하여 그 검출전압이 소정 기준값 이상이 되면, 이를 수명 말기로 판단하여 안정기 동작을 정지시키는 방법을 이용하였다.
그런데, 이와 같은 방법은 가장 간단하게 수명 말기 현상을 검출하여 판단할 수 있다는 장점은 가지고 있지만, 수동 소자의 선정 방법에 따라서 보호 회로가 오 동작 할 수도 있는 문제점이 있었다. 뿐만 아니라, 도 3에서 위쪽 전극이 아니라 아랫쪽 전극에서 흑화현상이 발생할 경우에는, 상기 전압 분배에 의해 검출된 전압의 감지만으로는 흑화현상에 따른 전압상승을 검출하지 못하여 수명말기를 제대로 검출하지 못하는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 형광램프의 양쪽 전극뿐만 아니라 그 중 어느 하나의 전극에만 흑화현상이 발생하는 경우에도 이를 효과적으로 검출하여 형광램프의 수명말기를 조기에 검출함으로써, 안정기, 소켓 및 관련회로를 효과적으로 보호할 수 있도록 하는 형광램프의 수명말기 검출회로를 제공하는 데 있다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 안정기로부터 검출된 전압 신호를 정류하여 정류전압을 출력하는 정류기와; 상기 전압신호의 위상을 검출하여 적어도 하나의 위상 검출신호를 출력하는 위상검출부와; 상기 적어도 하나의 위상 검출신호에 응답하여, 상기 정류기로부터의 정류 전압을 각 위상별로 분리하여 제 1 전압신호와 제 2 전압신호를 생성하는 신호분리부와; 상기 제 1 전압신호의 최고치를 검출하는 제 1 최고치 검출부와; 상기 제 2 전압신호의 최고치를 검출하는 제 2 최고치 검출부와; 상기 제 1 최고치 검출부에 의해 검출된 제 1 최고치와 상기 제 2 최고치 검출부에 의해 검출된 제 2 최고치를 비교하여, 그 차가 소정 허용치를 초과하는지 여부를 검출하는 제 1 비교부와; 상기 제 1 비교부로부터의 검출결과에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단하는 제어부를 포함하여 구성되는 형광램프의 수명말기 검출회로를 제공한다.
본 발명에서, 상기 수명말기 검출회로는 상기 안정기로부터 검출된 전압신호를 버퍼링하는 버퍼를 상기 안정기와 정류기 사이에 더 포함하는 것이 바람직하고, 상기 버퍼는 상기 전압신호를 반전버퍼링하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 버퍼는 상기 전압신호를 반전단자로 입력받고 접지전압을 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 비교기와; 상기 비교기의 출력단과 상기 반전단자 간에 설치되는 저항을 포함하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 정류기는 상기 버퍼에 의해 버퍼링된 상기 전압신호와 접지전압을 입력받아 비교동작을 수행하는 제 1 비교기와; 상기 제 1 비교기의 출력단과 제 1 노드 간에 설치되는 제 1 다이오드와; 상기 제 1 비교기의 출력단과 제 2 노드 간에 설치되는 제 2 다이오드와; 상기 제 1 노드로부터의 신호와 상기 제 2 노드로부터의 신호를 입력받아 비교동작을 수행하여 상기 정류전압을 출력하는 제 2 비교기를 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 제 1 비교기는 상기 전압신호는 반전단자로 입력받고 접지전압은 비반전단자로 입력받고; 상기 제 2 비교기는 상기 제 1 노드로부터의 신호는 반전단자로 입력받고 상기 제 2 노드로부터의 신호는 비반전단자로 입력받는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 정류기는 상기 제 1 비교기의 반전단자와 제 1 노드 간에 설치되는 제 1 저항과; 상기 제 2 비교기의 반전단자와 출력단자 간에 설치되는 제 2 저항을 더 포함하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 제 1 다이오드에는 상기 제 1 비교기의 출력단으로부터 역방향 전압이 인가되고, 상기 2 다이오드에는 상기 제 1 비교기의 출력단으로부터 순방향 전압이 인가되는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 적어도 하나의 위상 검출신호는 상기 전압신호의 양(陽)위상을 검출한 제 1 위상검출신호와, 상기 전압신호의 음(陰)위상을 검출한 제 2 위상검출신호를 포함하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 위상검출부는 상기 버퍼에 의해 버퍼링된 상기 전압신호와 접지전압을 입력받아 비교동작을 수행하여 상기 제 1 위상검출신호를 출력하는 비교기와; 상기 비교기의 출력을 반전시켜 상기 제 2 위상검출신호를 출력하는 인버터를 포함하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 비교기는 상기 버퍼링된 전압신호는 반전단자로 입력받고 접지전압은 비반전단자로 입력받는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 제 1 비교부는, 상기 제 1 최고치를 비반전단자로 입력받고 상기 제 2 최고치를 반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 1 비교기와; 상기 제 1 최고치를 반전단자로 입력받고 상기 제 2 최고치를 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 2 비교기와; 상기 제 1 비교기의 출력신호와 제 2 비교기의 출력신호를 논리연산하는 논리부를 포함하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 논리부는 논리합 연산을 수행하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 제 1 최고치와 상기 제 2 최고치를 소정 기준전압과 비교하여, 상기 제 1 최고치 또는 제 2 최고치 중 적어도 어느 하나가 상기 소정 기준전압을 초과하는지 여부를 검출하는 제 2 비교부를 더 포함하되, 상기 제어부는 상기 제 2 비교부로부터의 검출결과에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단하는 것이 바람직하다.
본 발명에서, 상기 제 2 비교부는, 상기 제 1 최고치를 반전단자로 입력받고 상기 기준전압을 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 1 비교기와; 상기 제 2 최고치를 반전단자로 입력받고 상기 기준전압을 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 2 비교기와; 상기 제 1 비교기의 출력신호와 제 2 비교기의 출력신호를 논리연산하는 논리부를 포함하는 것이 바람직하다. 본 발명에서, 상기 논리부는 논리곱 연산을 수행하는 것이 바람직하다.
이하, 실시예를 통하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하기로 한다. 이들 실시 예는 단지 본 발명을 예시하기 위한 것이며, 본 발명의 권리 보호 범위가 이들 실시예에 의해 제한되는 것은 아니다.
도 5는 본 발명에 의한 일 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로의 구성을 도시한 것으로서, 이를 참조하여 본 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로의 구성을 설명하면 다음과 같다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로는 안정기(100)로부터 검출된 전압신호(Vdet)를 버퍼링하는 버퍼(200)와; 상기 버퍼(200)를 통하여 제공되는 전압신호(Vdet1)를 정류하여 정류전압(Vrec)을 출력하는 정류기(300)와; 전압신호(Vdet1)의 위상을 검출하여 적어도 하나의 위상 검출신호를 출력하는 위상검출부(400)와; 상기 적어도 하나의 위상 검출신호에 응답하여, 정류기(300)로부터의 정류 전압(Vrec)을 각 위상별로 분리하여 제 1 전압신호(SWA)와 제 2 전압신호(SWB)를 생성하는 신호분리부(500)와; 상기 제 1 전압신호(SWA)의 최고치(SWA1)를 검출하는 제 1 최고치 검출부(600)와; 상기 제 2 전압신호(SWA)의 최고치(SWB1)를 검출하는 제 2 최고치 검출부(650)와; 제 1 최고치(SWA1)와 제 2 최고치(SWB1)를 비교하여, 그 차가 소정 허용치를 초과하는지 여부를 검출하는 제 1 비교부(700)와; 제 1 최고치(SWA1)와 제 2 최고치(SWB1)를 소정 기준전압과 비교하여, 상기 제 1 최고치(SWA1) 또는 제 2 최고치(SWB1) 중 적어도 어느 하나가 상기 소정 기준전압을 초과하는지 여부를 검출하는 제 2 비교부(750)와; 상기 제 1 비교부(700)로부터의 검출결과와 제 2 비교부(750)로부터의 검출결과에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단하는 제어부(800)를 포함하여 구성될 수 있다.
이와 같이 구성된 본 실시예의 동작을 도 5 내지 도 9b를 참조하여 구체적으로 설명한다.
먼저, 도 5에 도시된 바와 같이 안정기(100)로부터 전압신호(Vdet)를 검출한다. 즉, 도 6에 도시된 바와 같이, 형광램프(20)의 양쪽 전극 간의 전압을 저항(R31)과 저항(R32)에 의하여 분배하여 생성된 전압신호(Vdet)를 안정기(100)로부터 검출한다.
버퍼(200)는 전압신호(Vdet)를 버퍼링하여 전압신호(Vdet1)를 출력한다. 즉, 도 6에 도시된 바와 같이, 전압신호(Vdet)는 버퍼(200)를 구성하는 비교기(210)의 반전단자(210)에 입력되고, 비교기(210)는 이를 접지전압과 비교하여 전압신호(Vdet1)를 생성한다. 만약, 전압신호(Vdet)가 양(+)이면 비교기(210)는 이를 반전시켜 음전압을 출력하고, 전압신호(Vdet)가 음(-)이면 비교기(210)는 이를 반전시켜 양전압을 출력한다. 따라서, 버퍼(200)는 전압신호(Vdet)를 버퍼링하되, 반전 버퍼링하는 작용을 수행한다.
이어서, 정류기(300)는 전압신호(Vdet1)를 정류하여 정류전압(Vrec)을 출력한다. 이를 자세히 살펴 보면, 도 6에 도시된 바와 같이, 전압신호(Vdet1)가 저항(R7)을 통하여 비교기(310)에 입력되면, 비교기(310)는 이를 접지전압과 비교하여 노드(A)로 출력한다. 양(+)인 전압신호(Vdet)를 반전 버퍼링한 전압신호(Vdet1)가 음(-)이면, 비교기(310)는 양(+)의 전압신호를 출력한다. 이에 따라, 노드(A)의 전 압신호는 다이오드(D4)를 통하여 비교기(320)의 비반전단자에 공급되고, 비교기(320)는 이를 반전단자의 전압신호와 비교함으로써, 노드(A)의 전압신호와 동상인 신호를 정류전압(Vrec)으로서 출력한다.
반대로, 음(-)인 전압신호(Vdet)를 반전 버퍼링한 전압신호(Vdet1)가 양(+)이면, 비교기(310)는 음(-)의 전압신호를 출력한다. 이에 따라, 노드(A)의 전압신호는 다이오드(D1)를 통하여 비교기(320)의 반전단자에 공급되고, 비교기(320)는 이를 비반전단자의 전압신호와 비교함으로써, 노드(A)의 전압신호와 역상인 신호를 정류전압(Vrec)으로서 출력한다.
따라서, 결과적으로 버퍼(200)와 정류기(300)를 통하여 생성되는 정류 전압(Vrec)은 도 9a에 도시된 바와 같이 안정기(100)로부터의 전압신호(Vdet)를 전파정류한 신호가 된다.
한편, 위상검출부(400)는 전압신호(Vdet1)의 위상을 검출하여 위상 검출신호(PHA)와 위상 검출신호(PHB)를 출력한다. 즉, 도 6에 도시된 바와 같이, 양(+)인 전압신호(Vdet)를 반전 버퍼링한 전압신호(Vdet1)가 음(-)이면, 위상검출부(400)에 포함된 비교기(410)는 이를 접지전압과 비교하여 양(+)의 전압신호를 출력하고, 이에 따라 위상검출신호(PHA)가 하이로 인에이블된다. 따라서, 전압신호(Vdet)가 양(+)인 구간에서는 위상검출신호(PHA)가 이를 검출하여 하이로 인에이블된다.
반대로, 음(-)인 전압신호(Vdet)를 반전 버퍼링한 전압신호(Vdet1)가 양(+)이면, 비교기(410)는 이를 접지전압과 비교하여 음(-)의 전압신호를 출력하고, 이에 따라 위상검출신호(PHB)가 하이로 인에이블된다. 따라서, 전압신호(Vdet)가 음 (-)인 구간에서는 위상검출신호(PHB)가 이를 검출하여 하이로 인에이블된다.
이어서, 도 5에 도시된 바와 같이, 신호분리부(500)는 상기 위상 검출신호(PHA)와 위상검출신호(PHB)에 응답하여, 상기 정류기(300)로부터의 정류 전압(Vrec)을 각 위상별로 분리하여 제 1 전압신호(SWA)와 제 2 전압신호(SWB)를 생성한다. 이를 자세히 살펴 보면, 도 7에 도시된 바와 같이, 제 1 샘플러(510)는 위상검출신호(PHA)가 인에이블된 구간, 즉, 전압신호(Vdet)가 양(+)인 구간에 대응하는 부분을 정류전압(Vrec)으로부터 분리해 낸다. 이에 따라, 제 1 전압신호(SWA)는 도 9b에 도시된 바와 같은 신호가 된다. 한편, 제 2 샘플러(520)는 위상검출신호(PHB)가 인에이블된 구간, 즉, 전압신호(Vdet)가 음(-)인 구간에 대응하는 부분을 정류전압(Vrec)으로부터 분리해 낸다. 이에 따라, 제 2 전압신호(SWB)는 도 9b에 도시된 바와 같은 신호가 된다.
상기 신호분리부(500) 및 이를 구성하는 제 1 샘플러(510)와 제 2 샘플러(520)로는 각 위상에 따른 신호를 샘플링하여 분리할 수 있는, 일반적으로 널리 사용되는, 샘플링회로를 사용할 수 있다.
다음으로, 도 5에서 제 1 최고치 검출부(600)는 상기 제 1 전압신호(SWA)의 최고치를 검출하여 제 1 최고치(SWA1)를 출력하고, 제 2 최고치 검출부(650)는 상기 제 2 전압신호(SWB)의 최고치를 검출하여 제 2 최고치(SWB1)를 출력한다. 이 때, 제 1 및 제 2 최고치 검출부(600, 650)로는 입력되는 신호의 최고치를 검출하여 그 값을 소정 구간 유지하여 출력하는 일반적인 최고치 검출회로를 사용할 수 있다.
이어서, 제 1 비교부(700)는 제 1 최고치(SWA1)와 제 2 최고치(SWB1)를 비교하여, 그 차가 소정 허용치를 초과하는지 여부를 검출하여 그 검출신호(EOL)를 출력한다. 그 구체적인 동작을 도 8a를 참조하여 설명한다. 도 8a에 도시된 바와 같이, 비교기(710)는 제 1 최고치(SWA1)를 비반전단자로 입력받고 제 2 최고치(SWB1)를 반전단자로 입력받아 이를 비교하여 그 결과를 출력한다. 만약 제 1 최고치(SWA1)가 제 2 최고치(SWB1)보다 소정의 허용치를 초과하여 더 큰 경우에는 비교기(710)는 하이레벨의 신호를 출력하고, 그렇지 않은 경우에는 로우레벨의 신호를 출력한다.
비교기(720)는 제 1 최고치(SWA1)를 반전단자로 입력받고 제 2 최고치(SWB1)를 비반전단자로 입력받아 이를 비교하여 그 결과를 출력한다. 만약 제 2 최고치(SWB1)가 제 1 최고치(SWA1)보다 소정의 허용치를 초과하여 더 큰 경우에는 비교기(720)는 하이레벨의 신호를 출력하고, 그렇지 않은 경우에는 로우레벨의 신호를 출력한다.
그리고, 논리부(730)는 비교기(710)로부터의 신호와 비교기(720)로부터의 신호를 논리합 연산하여 검출신호(EOL)를 출력한다. 따라서, 논리부(730)로부터 출력되는 검출신호(EOL)는 제 1 최고치(SWA1)와 제 2 최고치(SWB1) 간의 차가 상기 허용치를 초과하면 하이레벨로 인에이블되고, 초과하지 않으면 로우레벨로 출력되는 신호가 된다.
다음으로, 제어부(800)는 제 1 비교부(700)로부터의 검출결과(EOL)에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단한다. 즉, 제어부(800)는 검출신호(EOL)가 하 이레벨이면 형광램프의 수명말기인 것으로 판단하여 안정기(100)를 턴오프시킨다.
이와 같이, 본 실시예에 따른 형광램프의 말기수명 검출회로는 전압신호(Vdet)의 양(+)인 구간의 최고치에 대응하는 제 1 최고치(SWA1)와 음(-)인 구간의 최고치에 대응하는 제 2 최고치(SWB1)를 비교하여, 그 차가 소정 허용치를 초과하는 경우 형광램프의 수명말기로 판단한다. 따라서, 도 6의 형광램프(20)의 아랫쪽 전극 부위에만 흑화현상이 발생하는 경우, 종래에는 양(+)인 구간의 전압신호의 최고치만 검출하였기 때문에 흑화현상을 검출하지 못하였지만, 본 실시예에 따르면 제 1 최고치(SWA1)와 최고치(SWB1)를 비교함으로써 윗쪽 전극뿐만 아니라 아랫쪽 전극에 발생된 흑화현상도 검출하여 형광램프의 수명말기를 조기에 발견할 수 있고, 안정기, 소켓 및 관련회로를 효과적으로 보호할 수 있다.
한편, 제 2 비교부(750)는 제 1 최고치(SWA1)와 제 2 최고치(SWB1)를 소정 기준전압(VREF)과 비교하여, 제 1 최고치(SWA1) 또는 제 2 최고치(SWB1) 중 적어도 어느 하나가 소정 기준전압(VREF)을 초과하는지 여부를 검출하여 그 검출신호(OVP)를 출력한다. 그 구체적인 동작을 도 8b를 참조하여 설명한다. 도 8b에 도시된 바와 같이, 비교기(760)는 제 1 최고치(SWA1)를 반전단자로 입력받고 기준전압(VREF)을 비반전단자로 입력받아 이를 비교하여 그 결과를 출력한다. 만약 제 1 최고치(SWA1)가 기준전압(VREF)보다 더 큰 경우에는 비교기(760)는 로우레벨의 신호를 출력하고, 그렇지 않은 경우에는 하이레벨의 신호를 출력한다.
비교기(770)는 제 2 최고치(SWB1)를 반전단자로 입력받고 기준전압(VREF)을 비반전단자로 입력받아 이를 비교하여 그 결과를 출력한다. 만약 제 2 최고치 (SWB1)가 기준전압(VREF)보다 더 큰 경우에는 비교기(770)는 로우레벨의 신호를 출력하고, 그렇지 않은 경우에는 하이레벨의 신호를 출력한다.
그리고, 논리부(780)는 비교기(760)로부터의 신호와 비교기(770)로부터의 신호를 논리곱 연산하여 검출신호(OVP)를 출력한다. 따라서, 검출신호(OVP)는 비교기(760)로부터의 신호와 비교기(770)로부터의 신호 중 어느 하나라도 로우레벨인 경우 로우레벨의 검출신호(OVP)를 출력한다. 결과적으로, 검출신호(OVP)는 제 1 최고치(SWA1) 또는 제 2 최고치(SWB1) 중 어느 하나라도 상기 기준전압(VREF)을 초과하는 경우 로우레벨이 된다.
이어서, 제어부(800)는 제 2 비교부(750)로부터의 검출결과(OVP)에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단한다. 즉, 제어부(800)는 검출신호(OVP)가 로우레벨이면 형광램프의 수명말기인 것으로 판단하여 안정기(100)를 턴오프시킨다.
이와 같이, 본 실시예에 따른 형광램프의 말기수명 검출회로는 전압신호(Vdet)의 양(+)인 구간의 최고치에 대응하는 제 1 최고치(SWA1)와 음(-)인 구간의 최고치에 대응하는 제 2 최고치(SWB1)를 소정 기준전압(VREF)과 비교하여, 어느 하나라도 기준전압(VREF)을 초과하는 경우 형광램프의 수명말기로 판단한다. 따라서, 도 6의 형광램프(20)의 아랫쪽 전극과 윗쪽 전극 부위에 흑화현상이 동시에 발생하는 등의 이유로 인해, 제 1 최고치(SWA1)와 제 2 최고치(SWB1) 간의 차가 크지 않은 경우에도, 제 1 최고치(SWA1)와 최고치(SWB1)의 절대값을 기준전압(VREF)과 비교함으로써 흑화현상을 검출하여 형광램프의 수명말기를 조기에 발견할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 형광램프의 수명말기 검출회로는 형광램프의 양쪽 전극뿐만 아니라 그 중 어느 하나의 전극에만 흑화현상이 발생하는 경우에도 이를 효과적으로 검출하여 형광램프의 수명말기를 조기에 검출함으로써, 안정기, 소켓 및 관련회로를 효과적으로 보호할 수 있도록 한다.

Claims (19)

  1. 안정기로부터 검출된 전압신호를 정류하여 정류전압을 출력하는 정류기와;
    상기 전압신호의 위상을 검출하여 적어도 하나의 위상 검출신호를 출력하는 위상검출부와;
    상기 적어도 하나의 위상 검출신호에 응답하여, 상기 정류기로부터의 정류 전압을 각 위상별로 분리하여 제 1 전압신호와 제 2 전압신호를 생성하는 신호분리부와;
    상기 제 1 전압신호의 최고치를 검출하는 제 1 최고치 검출부와;
    상기 제 2 전압신호의 최고치를 검출하는 제 2 최고치 검출부와;
    상기 제 1 최고치 검출부에 의해 검출된 제 1 최고치와 상기 제 2 최고치 검출부에 의해 검출된 제 2 최고치를 비교하여, 그 차가 소정 허용치를 초과하는지 여부를 검출하는 제 1 비교부와;
    상기 제 1 비교부로부터의 검출결과에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단하는 제어부를 포함하여 구성되는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 안정기로부터 검출된 전압신호를 버퍼링하는 버퍼를 상기 안정기와 정류기 사이에 더 포함하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 버퍼는 상기 전압신호를 반전버퍼링하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 버퍼는
    상기 전압신호를 반전단자로 입력받고 접지전압을 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 비교기와;
    상기 비교기의 출력단과 상기 반전단자 간에 설치되는 저항을 포함하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  5. 제 2항에 있어서,
    상기 정류기는
    상기 버퍼에 의해 버퍼링된 상기 전압신호와 접지전압을 입력받아 비교동작을 수행하는 제 1 비교기와;
    상기 제 1 비교기의 출력단과 제 1 노드 간에 설치되는 제 1 다이오드와;
    상기 제 1 비교기의 출력단과 제 2 노드 간에 설치되는 제 2 다이오드와;
    상기 제 1 노드로부터의 신호와 상기 제 2 노드로부터의 신호를 입력받아 비교동작을 수행하여 상기 정류전압을 출력하는 제 2 비교기를 포함하여 구성되는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 제 1 비교기는 상기 전압신호는 반전단자로 입력받고 접지전압은 비반전단자로 입력받는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 제 2 비교기는 상기 제 1 노드로부터의 신호는 반전단자로 입력받고 상기 제 2 노드로부터의 신호는 비반전단자로 입력받는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 정류기는 상기 제 1 비교기의 반전단자와 제 1 노드 간에 설치되는 제 1 저항과;
    상기 제 2 비교기의 반전단자와 출력단자 간에 설치되는 제 2 저항을 더 포함하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  9. 제 5항에 있어서,
    상기 제 1 다이오드에는 상기 제 1 비교기의 출력단으로부터 역방향 전압이 인가되고, 상기 2 다이오드에는 상기 제 1 비교기의 출력단으로부터 순방향 전압이 인가되는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  10. 제 2 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 위상 검출신호는 상기 전압신호의 양(陽)위상을 검출한 제 1 위상검출신호와, 상기 전압신호의 음(陰)위상을 검출한 제 2 위상검출신호를 포함하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 위상검출부는
    상기 버퍼에 의해 버퍼링된 상기 전압신호와 접지전압을 입력받아 비교동작을 수행하여 상기 제 1 위상검출신호를 출력하는 비교기와;
    상기 비교기의 출력을 반전시켜 상기 제 2 위상검출신호를 출력하는 인버터를 포함하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 비교기는 상기 버퍼링된 전압신호는 반전단자로 입력받고 접지전압은 비반전단자로 입력받는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  13. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 비교부는,
    상기 제 1 최고치를 비반전단자로 입력받고 상기 제 2 최고치를 반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 1 비교기와;
    상기 제 1 최고치를 반전단자로 입력받고 상기 제 2 최고치를 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 2 비교기와;
    상기 제 1 비교기의 출력신호와 제 2 비교기의 출력신호를 논리연산하는 논리부를 포함하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 논리부는 논리합 연산을 수행하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  15. 제 1항에 있어서,
    상기 제 1 최고치와 상기 제 2 최고치를 소정 기준전압과 비교하여, 상기 제 1 최고치 또는 제 2 최고치 중 적어도 어느 하나가 상기 소정 기준전압을 초과하는지 여부를 검출하는 제 2 비교부를 더 포함하되,
    상기 제어부는 상기 제 2 비교부로부터의 검출결과에 응답하여 형광램프의 수명말기 여부를 판단하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  16. 제 15항에 있어서,
    상기 제 2 비교부는,
    상기 제 1 최고치를 반전단자로 입력받고 상기 기준전압을 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 1 비교기와;
    상기 제 2 최고치를 반전단자로 입력받고 상기 기준전압을 비반전단자로 입력받아 비교동작을 수행하는 제 2 비교기와;
    상기 제 1 비교기의 출력신호와 제 2 비교기의 출력신호를 논리연산하는 논리부를 포함하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 논리부는 논리곱 연산을 수행하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  18. 제 1 항에 있어서,
    상기 안정기로부터 검출된 전압신호는 형광램프의 양(兩) 전극 간의 전압을 전압분배하여 생성되는 것을 특징으로 하는 형광램프의 수명말기 검출회로.
  19. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어부는 수명말기로 판단된 경우 상기 안정기를 오프시키는 형광램프의 수명말기 검출회로.
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TW096118321A TWI369922B (en) 2006-05-30 2007-05-23 Circuit for detecting end of life of fluorescent lamp
DE102007024486A DE102007024486A1 (de) 2006-05-30 2007-05-25 Schaltung zur Bestimmung des Lebensdauerendes von Leuchtstofflampen
IT000374A ITTO20070374A1 (it) 2006-05-30 2007-05-29 Circuito per riconoscere il termine della vita di una lampada fluorescente
CN2007101073669A CN101082656B (zh) 2006-05-30 2007-05-29 用于检测荧光灯的寿命末期的电路
US11/807,632 US7486029B2 (en) 2006-05-30 2007-05-30 Circuit for detecting end of life of fluorescent lamp
JP2007144244A JP4543062B2 (ja) 2006-05-30 2007-05-30 蛍光ランプの寿命末期検出回路

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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101394613B1 (ko) * 2007-07-04 2014-05-14 페어차일드코리아반도체 주식회사 진단 장치 및 이를 이용하는 램프 안정기 회로
CN101398337B (zh) * 2008-09-18 2010-07-28 威友光电(苏州)有限公司 一种灯管检测方法及其装置
US8018165B2 (en) * 2008-10-14 2011-09-13 International Rectifier Corporation End-of-lamp life detection circuit
GB0823473D0 (en) 2008-12-23 2009-01-28 Signplay Limtied Lamp end of life prediction
US7911210B2 (en) * 2009-02-25 2011-03-22 Fairchild Korea Semiconductor Ltd Diagnosis device, diagnosis method, and lamp ballast circuit using the same
JP2010257659A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Panasonic Electric Works Co Ltd 高圧放電灯点灯装置及びそれを用いた照明器具
CN101707846B (zh) * 2009-10-23 2013-08-07 海洋王照明科技股份有限公司 一种荧光灯异常保护电路、电子镇流器及荧光灯装置
US8410713B2 (en) * 2010-01-07 2013-04-02 Osram Sylvania Inc. Lamp end of life (EOL) detection circuit
US8564216B1 (en) 2011-02-02 2013-10-22 Universal Lighting Technologies, Inc. Asymmetric end-of-life protection circuit for fluorescent lamp ballasts
CN102914734B (zh) * 2011-08-04 2015-04-08 台达电子企业管理（上海）有限公司 气体放电灯寿终检测电路及其所适用的安定器
US9084304B2 (en) 2012-09-17 2015-07-14 Osram Sylvania Inc. Fault condition of detection circuit
US10317441B2 (en) 2013-10-14 2019-06-11 Signify Holding B.V. Problem detection for cable-fed-loads
CN104198960B (zh) * 2014-09-25 2017-02-15 聊城市科特祥瑞新能源有限公司 Led灯具老化检验装置
DE102015105914B3 (de) * 2015-04-17 2016-08-11 Siteco Beleuchtungstechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Lebenserwartungs-Information eines LED-Moduls
CN107957563B (zh) * 2017-11-15 2020-04-03 浙江大华技术股份有限公司 一种灯状态检测电路及装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3026681B2 (ja) * 1992-06-30 2000-03-27 三洋電機株式会社 蛍光灯制御装置
US5739645A (en) 1996-05-10 1998-04-14 Philips Electronics North America Corporation Electronic ballast with lamp flash protection circuit
US5808422A (en) 1996-05-10 1998-09-15 Philips Electronics North America Lamp ballast with lamp rectification detection circuitry
CN2319819Y (zh) * 1997-11-20 1999-05-19 叶炜 电光源寿命测试仪
JPH11162679A (ja) * 1997-11-25 1999-06-18 Hitachi Lighting Ltd 蛍光灯点灯装置
US5883473A (en) 1997-12-03 1999-03-16 Motorola Inc. Electronic Ballast with inverter protection circuit
FI104035B (fi) * 1998-02-12 1999-10-29 Teknoware Oy Menetelmä ja järjestely loisteputken jäljellä olevan käyttöiän määrittämiseksi
US6008592A (en) * 1998-06-10 1999-12-28 International Rectifier Corporation End of lamp life or false lamp detection circuit for an electronic ballast
JP2001006892A (ja) * 1999-06-16 2001-01-12 Ikeda Electric Co Ltd 放電灯点灯装置
JP2001035679A (ja) 1999-07-21 2001-02-09 Ikeda Electric Co Ltd 放電灯点灯装置
FI107111B (fi) * 1999-09-27 2001-05-31 Teknoware Oy Loisteputken jäljellä olevan käyttöajan määrittäminen
CN2422651Y (zh) * 2000-05-24 2001-03-07 郭建 一种荧光灯综合试验台
JP4981217B2 (ja) 2001-05-25 2012-07-18 パナソニック株式会社 高圧放電灯点灯装置
US6720739B2 (en) 2001-09-17 2004-04-13 Osram Sylvania, Inc. Ballast with protection circuit for quickly responding to electrical disturbances
US6661182B2 (en) * 2002-04-03 2003-12-09 Radionic Industries, Inc. Lamp ballast system having improved power factor and end-of-lamp-life protection circuit
US6784667B2 (en) * 2002-04-03 2004-08-31 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Estimated remaining lamp life indicator system
DE10328718A1 (de) * 2003-06-25 2005-01-13 Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH Verfahren zum Betrieb mindestens einer Niederdruckentladungslampe und Betriebsgerät für mindestens eine Niederdruckentladungslampe
CN100508686C (zh) * 2003-12-15 2009-07-01 上海贝岭股份有限公司 灯寿的检测及保护装置
DE102004037390B4 (de) * 2004-08-02 2008-10-23 Infineon Technologies Ag Ansteuerschaltung für eine Leuchtstofflampe mit einer Diagnoseschaltung und Verfahren zur Diagnose einer Leuchtstofflampe

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