KR20070101575A - 테스트 패턴 발생 회로를 포함하는 액정 표시 장치의 구동회로 - Google Patents

테스트 패턴 발생 회로를 포함하는 액정 표시 장치의 구동회로 Download PDF

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Abstract

액정 표시 장치의 구동 회로는, 노멀 모드 회로, 테스트 패턴 발생 회로, 선택 회로, 및 타이밍 컨트롤러를 포함한다. 노멀 모드 회로는 액정 표시 장치의 노멀 영상 데이터 기입 동작에 관련된 노멀 모드 신호를 발생한다. 테스트 패턴 발생 회로는 액정 표시 장치의 테스트 영상 데이터 기입 동작에 관련된 테스트 모드 신호를 발생한다. 선택 회로는 노멀 모드 신호 및 테스트 모드 신호 중 하나를 선택하고 출력한다. 타이밍 컨트롤러는 선택 회로의 출력 신호에 응답하여 액정 표시 장치의 액정 표시 패널에 디스플레이되는 노멀 영상 패턴 또는 테스트 영상 패턴을 구성하는 영상 데이터를 저장하는 메모리를 포함한다.

Description

테스트 패턴 발생 회로를 포함하는 액정 표시 장치의 구동 회로{Driver circuit including test pattern generation circuit in liquid crystal display device}
본 발명의 상세한 설명에서 사용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여, 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 종래의 기술에 따른 LCD 패널을 구동하는 시스템을 나타내는 블락 다이어그램이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 구동 회로를 포함하는 LCD 패널 구동 시스템을 나타내는 블락 다이어그램이다.
도 3은 도 2에 도시된 테스트 패턴 발생 회로를 보다 상세히 나타내는 블락 다이어그램이다.
도 4는 도 3에 도시된 저장부에 저장된 테스트 영상 데이터로 구성되는 테스트 영상 패턴의 예들을 나타낸다.
도 5는 도 3에 도시된 테스트 패턴 발생 회로의 예시적인 동작을 나타내는 타이밍 다이어그램이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
420: 오실레이터 430: 선택 회로
440: 타이밍 컨트롤러 450: 메모리
500: 테스트 패턴 발생 회로 510: 지연부
520: 클락 발생부 530: 어드레스 발생부
540: 테스트 패턴 발생부 550: 저장부
본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 테스트 패턴 발생 회로를 포함하는 액정 표시 장치의 구동 회로에 관한 것이다.
액정 표시 장치(liquid crystal display device)는, 다른 타입(type)의 디스플레이 장치들에 대해, 소형화, 박형화 및 저전력 소모의 장점들을 가지며, 노트북 컴퓨터(notebook computer) 및 휴대 전화기(mobile phone)와 같은 전자 장치들에 사용되고 있다. 특히, 스위치 소자로서 박막 트랜지스터(thin film transistor)를 이용하는 액티브 매트릭스 타입(active matrix type)의 액정 표시 장치는 동영상(moving image)을 표시(display)하기에 적합하다.
도 1은 종래의 기술에 따른 LCD 패널(liquid crystal display panel)을 구동(driving)하는 시스템을 나타내는 블락 다이어그램이다. 도 1을 참조하면, LCD 패널 구동 시스템(100)은, LCD 패널(110), 구동 회로(driver circuit)(120), CPU 인터페이스(central processing unit interface)(170), 및 CPU(180)를 포함한다. CPU(180)는 베이스밴드 프로세서(baseband processor)라고도 한다.
구동 회로(120)는 CPU(180)와 CPU 인터페이스(170)를 통해 직접 인터페이스하고 CPU(180)로부터 영상 데이터(image data)(또는 R(Red), G(Green), B(Blue) 디지털(digital) 영상 데이터) 및 제어 신호를 수신한다. CPU 인터페이스(170)를 사용하는 구동 회로(120)는 휴대 전화기와 같은 이동 통신 장치(mobile communication device)(또는 모바일 셋(mobile set))에 사용될 수 있다.
구동 회로(120)와 직접 통신하는 CPU(180)의 액세스 부담(access load)을 감소시키고 다양한 영상들(images)을 지원(support)하기 위해, 구동 회로(120)와 CPU(180) 사이에 그래픽 프로세서(graphic processor)(미도시)가 배치될 수 있다. 그래픽 프로세서와 구동 회로(120)는 비디오(video) 인터페이스(또는 RGB 인터페이스)를 통해 연결(coupling)되고, 그래픽 프로세서와 CPU(180)는 CPU 인터페이스를 통해 연결된다.
구동 회로(120)는, 타이밍 컨트롤러(timing controller)(130), 게이트 드라이버 회로(gate driver circuit)(150), 및 소스 드라이버 회로(source driver circuit)(160)를 포함한다.
타이밍 컨트롤러(130)는 CPU 인터페이스(170)를 통하여 CPU(180)로부터 출력되는 영상 데이터 및 제어 신호를 수신하고, 게이트 드라이버 회로(150) 및 소스 드라이버 회로(160)의 동작 타이밍(operation timing)을 각각 제어하는 제어 신호를 발생한다.
타이밍 컨트롤러(130)는 메모리(140)를 포함한다. 메모리(140)는 CPU 인터페이스(170)를 통하여 CPU(180)으로부터 출력되는 영상 데이터를 저장한다. 메모 리(140)는 그래픽 램(graphic RAM)으로 구현될 수 있다. 메모리(140)에 저장된 영상 데이터는 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라 소스 드라이버 회로(160)로 출력된다.
게이트 드라이버 회로(150)는 다수개의 게이트 드라이버들(미도시)을 포함하고, 타이밍 컨트롤러(130)로부터 출력되는 제어 신호에 기초하여(또는 응답하여) LCD 패널(110)의 게이트 라인들(gate lines)(또는 스캔 라인들(scan lines))(G1, G2, ..., GM)을 구동한다.
소스 드라이버 회로(160)는 다수개의 소스 드라이버들(미도시)을 포함하고, 메모리(140)로부터 출력되는 영상 데이터 및 타이밍 컨트롤러(130)로부터 출력되는 제어 신호에 응답하여 LCD 패널(110)의 소스 라인들(source lines)(또는 데이터 라인들(data lines))(S1, S2, ..., SN)을 구동한다.
LCD 패널(110)은, 게이트 드라이버 회로(150)로부터 출력되는 신호들 및 소스 드라이버 회로(160)로부터 출력되는 신호들에 응답하여, CPU(180)로부터 출력되는 영상 데이터를 디스플레이(display)한다.
LCD 패널(110) 및 구동 회로(120)를 포함하는 액정 표시 장치(또는 액정 표시 모듈(module))를 테스트하기 위하여, 구동 회로(120)는 별도의(separate) 외부 테스트 장치(external test device)로부터 다양한 테스트 영상 패턴(test image pattern)을 구성하는 테스트 영상 데이터를 포함하는 신호들을 수신하고, 수신된 테스트 영상 패턴이 LCD 패널(110)에 디스플레이되도록 제어한다.
상기 액정 표시 장치의 테스트는 LCD 패널(110)의 화질 시험(visual quality test) 및 신뢰성 시험(reliance test) 등을 포함한다. LCD 패널(110)을 테스트할 때, 그레이(gray) 패턴, 크로스-토크(cross-talk) 패턴, 또는 플리커(flicker) 패턴과 같은 테스트 영상 패턴이 정확히 디스플레이되는 지 여부를 검사(check)하기 위하여 상기 테스트 영상 패턴이 LCD 패널(110)로 인가된다.
전술한 바와 같이, 종래의 구동 회로(120)는 외부 테스트 장치로부터 테스트 영상 패턴을 발생하기 위해 필요한 신호들을 수신하므로, 종래의 구동 회로(120)와 외부 테스트 장치의 인터페이스 조건(interface condition)이 고려되어야 한다. 따라서, 종래의 구동 회로(120)를 이용하는 액정 표시 장치의 테스트는 복잡하고 많은 테스트 시간을 필요로 한다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 액정 표시 장치를 용이하게 테스트할 수 있고 테스트 시간을 감소시킬 수 있는 액정 표시 장치의 구동 회로를 제공하는 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 구동 회로는, 상기 액정 표시 장치의 노멀 영상 데이터 기입 동작에 관련된 노멀 모드 신호를 발생하는 노멀 모드 회로; 상기 액정 표시 장치의 테스트 영상 데이터 기입 동작에 관련된 테스트 모드 신호를 발생하는 테스트 패턴 발생 회로; 상기 노멀 모드 신호 및 상기 테스트 모드 신호 중 하나를 선택하고 출력하는 선택 회로; 및 상기 선택 회로의 출력 신호에 응답하여 상기 액정 표시 장치의 액정 표시 패널에 디 스플레이되는 노멀 영상 패턴 또는 테스트 영상 패턴을 구성하는 영상 데이터를 저장하는 메모리를 포함하는 타이밍 컨트롤러를 구비하는 것을 특징으로 한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 테스트 모드 신호는, 상기 테스트 영상 패턴을 구성하는 테스트 영상 데이터, 상기 메모리의 활성화 또는 비활성화시키는 테스트 메모리 선택 신호, 상기 메모리에서의 상기 테스트 영상 데이터의 저장 위치를 지정하는 테스트 로우 어드레스 신호와 테스트 칼럼 어드레스 신호, 상기 테스트 패턴 발생 회로를 인에이블시키는 테스트 인에이블 신호를 지연한 지연된 테스트 인에이블 신호, 및 상기 테스트 메모리 선택 신호와 상기 테스트 로우 어드레스와 상기 테스트 칼럼 어드레스 신호에 동기하는 테스트 기입 클락 신호를 포함하고, 상기 선택 회로는 상기 지연된 테스트 인에이블 신호에 응답하여 동작한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 테스트 패턴 발생 회로는, 상기 테스트 인에이블 신호를 지연하고 상기 지연된 테스트 인에이블 신호를 발생하는 지연부; 상기 테스트 인에이블 신호에 응답하여 인에이블되고, 오실레이터 클락 신호에 응답하여 상기 테스트 기입 클락 신호를 발생하는 클락 발생부; 상기 테스트 기입 클락 신호에 응답하여, 상기 테스트 메모리 선택 신호, 상기 테스트 로우 어드레스 신호, 및 상기 테스트 칼럼 어드레스 신호를 발생하는 어드레스 발생부; 및 테스트 영상 패턴들을 저장하는 저장부를 포함하고, 테스트 패턴 선택 신호 및 R, G, B 데이터에 응답하여 상기 테스트 영상 패턴들 중 하나를 상기 테스트 영상 패턴으로서 선택하고, 상기 선택된 테스트 영상 패턴의 상기 테스트 로우 어드레스 신호 및 상기 테스트 칼럼 어드레스 신호가 지정하는 상기 테스트 영상 데이터를 출력하는 테 스트 패턴 발생부를 구비한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 클락 발생부 및 상기 어드레스 발생부는 리셋 신호에 응답하여 리셋된다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 테스트 인에이블 신호, 상기 리셋 신호, 및 상기 R, G, B 데이터는 CPU 인터페이스를 통해 CPU로부터 입력되고, 상기 테스트 패턴 선택 신호는 상기 액정 표시 장치의 구동 회로의 사용자에 의해 입력된다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 액정 표시 장치의 구동 회로는 상기 오실레이터 클락 신호를 발생하는 오실레이터를 더 구비한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 CPU 인터페이스를 통하여 상기 CPU로부터 출력되는 제어 신호를 수신하고, 상기 액정 표시 패널을 구동하도록 제어하는 제어 신호를 발생하고, 상기 CPU로부터 출력되는 제어 신호는 시스템 클락 신호인 도트 클락 신호를 포함한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 액정 표시 장치의 구동 회로는, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 출력되는 제어 신호에 응답하여 상기 액정 표시 패널의 게이트 라인들을 구동하는 게이트 드라이버 회로; 및 상기 메모리로부터 출력되는 영상 데이터 및 상기 타이밍 컨트롤러로부터 출력되는 제어 신호에 응답하여 상기 액정 표시 패널의 소스 라인들을 구동하는 소스 드라이버 회로를 더 구비한다.
바람직한 실시예에 따르면, 상기 타이밍 컨트롤러는 CPU 인터페이스를 통하여 CPU로부터 출력되는 제어 신호를 수신하고, 상기 게이트 드라이버 회로 및 상기 소스 드라이버 회로의 동작 타이밍을 각각 제어하는 상기 제어 신호를 발생하고, 상기 CPU로부터 출력되는 제어 신호는 시스템 클락 신호인 도트 클락 신호를 포함한다.
이러한 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 구동 회로는 내부의 오실레이터 클락 신호를 이용하여 액정 표시 장치의 테스트를 위한 테스트 영상 패턴을 내부에서 스스로 발생할 수 있는 테스트 패턴 발생 회로를 포함하므로, 별도의(separate) 테스트 장치를 이용하지 않고 액정 표시 장치를 테스트할 수 있다. 따라서, 본 발명의 액정 표시 장치의 구동 회로는 액정 표시 장치를 용이하게 테스트할 수 있고 테스트 시간을 감소시킬 수 있다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 구동 회로를 포함하는 LCD 패널 구동 시스템을 나타내는 블락 다이어그램이다. 도 2를 참조하면, LCD 패널 구동 시스템(200)은, LCD 패널(또는 액정 표시 패널)(300), 구동 회로(400), CPU 인터페이스(600), 및 CPU(700)를 구비한다. LCD 패널(300) 및 구동 회로(400)는 액정 표시 장치를 구성한다. CPU(700)는 베이스밴드 프로세서(baseband processor)라고도 한다.
본 발명에 따른 액정 표시 장치의 구동 회로(400)는, 노멀 모드 회로(normal mode circuit)(410), 오실레이터(oscillator)(420), 테스트 패턴 발생 회로(500), 선택 회로(selection circuit)(430), 타이밍 컨트롤러(440), 게이트 드라이버 회로(460), 및 소스 드라이버 회로(470)를 구비한다.
노멀 모드 회로(410)는 타이밍 컨트롤러(440)의 메모리(450)에 노멀 영상 데이터(N_DAT)를 기입(write)하는 액정 표시 장치의 노멀 영상 데이터 기입 동작에 관련된 노멀 모드 신호를 발생한다. 노멀 영상 데이터(N_DAT)는 LCD 패널(300)에 디스플레이되는 노멀 영상 패턴을 구성한다. 노멀 모드 회로(410)는, CPU 인터페이스(600)를 통해 CPU(700)로부터 출력되는 영상 데이터 및 제어 신호에 응답하여, 상기 노멀 모드 신호에 포함되는 노멀 영상 데이터(N_DAT) 및 노멀 제어 신호들(N_WCK, N_CS, N_XA, N_YA)을 발생한다. CPU(700)으로부터 출력되는 제어 신호는 시스템 클락 신호인 도트 클락 신호(dot clock signal)를 포함할 수 있다. 도트 클락 신호의 주파수는 4(MHz)를 초과할 수 있다. 노멀 영상 데이터(N_DAT)는, 예를 들어, 24 비트(bit)의 픽셀(pixel) 데이터일 수 있다.
상기 노멀 제어 신호들은, 노멀 기입 클락 신호(N_WCK), 노멀 메모리 선택 신호(normal memory selection signal)(N_CS), 노멀 로우 어드레스 신호(normal row address signal)(N_XA), 및 노멀 칼럼 어드레스 신호(normal column address signal)(N_YA)이다.
노멀 메모리 선택 신호(N_CS)는 타이밍 컨트롤러(440)의 메모리(450)를 활성화(activation) 또는 비활성화(deactivation)시키는 신호이다. 노멀 로우 어드레스 신호(N_XA) 및 노멀 칼럼 어드레스 신호(N_YA)는 타이밍 컨트롤러(440)의 메모리(450)에서의 노멀 영상 데이터(N_DAT)의 저장 위치(즉, 로우 어드레스 및 칼럼 어드레스)를 지정(designation)하는 신호이다. 노멀 메모리 선택 신호(N_CS), 노멀 로우 어드레스 신호(N_XA), 및 노멀 칼럼 어드레스 신호(N_YA)는 액정 표시 장치의 노멀 영상 데이터 기입 동작의 기준 신호인 노멀 기입 클락 신호(N_WCK)에 동기(synchronization)된다.
오실레이터(420)는 구동 회로(400)의 내부에 포함되고, 오실레이터 클락 신호(OSCK)를 발생한다. 오실레이터 클락 신호(OSCK)의 주파수는 4(MHz) 이하일 수 있다.
테스트 패턴 발생 회로(500)는 타이밍 컨트롤러(440)의 메모리(450)에 테스트 영상 데이터(T_DAT)를 기입하는 액정 표시 장치의 테스트 영상 데이터 기입 동작에 관련된 테스트 모드 신호를 발생한다. 테스트 영상 데이터(T_DAT)는 LCD 패널(300)에 디스플레이되는 테스트 영상 패턴을 구성한다. 테스트 패턴 발생 회로(500)는 테스트 모드 회로로 언급될 수도 있다. 테스트 패턴 발생 회로(500)는, 테스트 인에이블 신호(T_EN), 리셋 신호(RESET), 테스트 패턴 선택 신호(PAT_SEL), R, G, B 데이터(RGB_DAT), 및 오실레이터 클락 신호(OSCK)에 응답하여, 상기 테스트 모드 신호에 포함되는 테스트 영상 데이터(T_DAT) 및 테스트 제어 신호들(T_WCK, T_CS, T_XA, T_YA, T_END)을 발생한다. 테스트 영상 데이터(T_DAT)는, 예를 들어, 24 비트(bit)의 픽셀(pixel) 데이터일 수 있다.
테스트 인에이블 신호(T_EN)는 테스트 패턴 발생 회로(500)를 인에이 블(enable)시키는 신호이고, 리셋 신호(RESET)는 테스트 패턴 발생 회로(500)를 리셋하는 신호이다. 테스트 패턴 선택 신호(PAT_SEL)는 테스트 영상 패턴을 선택하는 신호이고, 구동 회로(400)의 사용자(user)에 의해 입력된다. R, G, B 데이터(RGB_DAT)는 테스트 영상 패턴에 컬러(color)를 결합하기 위한 데이터이다. 예를 들어, R, G, B 데이터(RGB_DAT) 각각이 8 비트(bit) 디지털 데이터일 때, LCD 패널(300)에 16.7*106(≒ 224)개의 컬러가 디스플레이될 수 있다.
테스트 인에이블 신호(T_EN), 리셋 신호(RESET), 및 R, G, B 데이터(RGB_DAT)는 CPU 인터페이스(600)를 통해 CPU(700)로부터 입력될 수 있다.
상기 테스트 제어 신호들은, 테스트 기입 클락 신호(T_WCK), 테스트 메모리 선택 신호(T_CS), 테스트 로우 어드레스 신호(T_XA), 테스트 칼럼 어드레스 신호(T_YA), 및 지연된(delayed) 테스트 인에이블 신호(T_END)이다.
테스트 메모리 선택 신호(T_CS)는 타이밍 컨트롤러(440)의 메모리(450)를 활성화 또는 비활성화시키는 신호이다. 테스트 로우 어드레스 신호(T_XA) 및 테스트 칼럼 어드레스 신호(T_YA)는 타이밍 컨트롤러(440)의 메모리(450)에서의 테스트 영상 데이터(T_DAT)의 저장 위치(즉, 로우 어드레스 및 칼럼 어드레스)를 지정하는 신호이다. 테스트 메모리 선택 신호(T_CS), 테스트 로우 어드레스 신호(T_XA), 및 테스트 칼럼 어드레스 신호(T_YA)는 액정 표시 장치의 테스트 영상 데이터 기입 동작의 기준 신호인 테스트 기입 클락 신호(T_WCK)에 동기된다.
선택 회로(430)는 상기 노멀 모드 신호 및 상기 테스트 모드 신호 중 하나를 선택하고 상기 노멀 모드 신호 및 상기 테스트 모드 신호 중 하나에 대응하는 신호를 출력 신호(WCK, CS, XA, YA, DAT)로서 출력한다. 선택 회로(430)는 상기 테스트 모드 신호에 포함되는 지연된 테스트 인에이블 신호(T_END)에 응답하여 동작하고, 멀티플렉서(multiplexer)로 구현될 수 있다. 예를 들어, 선택 회로(430)는, 지연된 테스트 인에이블 신호(T_END)가 논리 하이 레벨(logic high level)일 때 상기 테스트 모드 신호를 출력하고, 지연된 테스트 인에이블 신호(T_END)가 논리 로우 레벨(logic low level)일 때 상기 노멀 모드 신호를 출력할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(440)는, 선택 회로(430)의 출력 신호(WCK, CS, XA, YA, DAT)에 응답하여 상기 액정 표시 장치의 LCD 패널(300)에 디스플레이되는 노멀 영상 패턴 또는 테스트 영상 패턴을 구성하는 영상 데이터(DAT)를 저장하는 메모리를 포함한다. 타이밍 컨트롤러(440)는 CPU 인터페이스(600)를 통하여 CPU(700)로부터 출력되는 제어 신호를 수신하고, 게이트 드라이버 회로(460) 및 소스 드라이버 회로(470)의 동작 타이밍을 각각 제어하는 제어 신호를 발생한다. CPU(700)로부터 출력되는 제어 신호는 상기 도트 클락 신호를 포함할 수 있다.
메모리(450)는 그래픽 램(graphic RAM)으로 구현될 수 있다. 메모리(140)에 저장된 영상 데이터(DAT)는 타이밍 컨트롤러(440)의 제어에 따라 소스 드라이버 회로(470)로 출력된다.
게이트 드라이버 회로(460)는 다수개의 게이트 드라이버들(미도시)을 포함하고, 타이밍 컨트롤러(440)로부터 출력되는 제어 신호에 응답하여 LCD 패널(300)의 게이트 라인들(gate lines)(또는 스캔 라인들(scan lines))(G1, G2, ..., GM)을 구 동한다.
소스 드라이버 회로(470)는 다수개의 소스 드라이버들(미도시)을 포함하고, 메모리(450)로부터 출력되는 영상 데이터(DAT) 및 타이밍 컨트롤러(440)로부터 출력되는 제어 신호에 응답하여 LCD 패널(300)의 소스 라인들(source lines)(또는 데이터 라인들(data lines))(S1, S2, ..., SN)을 구동한다.
LCD 패널(300)은, 게이트 드라이버 회로(460)로부터 출력되는 신호들 및 소스 드라이버 회로(470)로부터 출력되는 신호들에 응답하여, 소스 드라이버 회로(470)로부터 출력되는 영상 데이터(DAT)가 구성하는 노멀 영상 패턴 및 테스트 영상 패턴 중 하나를 디스플레이한다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 구동 회로(400)는 오실레이터 클락 신호(OSCK)를 이용하여 테스트 영상 패턴을 발생하는 테스트 패턴 발생 회로(500)를 내부에 포함하므로, 별도의(separate) 테스트 장치를 이용하지 않고 액정 표시 장치를 테스트할 수 있다. 따라서, 본 발명의 액정 표시 장치의 구동 회로는 액정 표시 장치를 용이하게 테스트할 수 있고 테스트 시간을 감소시킬 수 있다.
도 3은 도 2에 도시된 테스트 패턴 발생 회로를 보다 상세히 나타내는 블락 다이어그램이다. 도 3을 참조하면, 테스트 패턴 발생 회로(500)는, 지연부(510), 클락 발생부(520), 어드레스 발생부(530), 및 테스트 패턴 발생부(540)를 구비한다.
지연부(510)는 테스트 인에이블 신호(T_EN)를 소정의 지연 시간 만큼 지연하 고 지연된 테스트 인에이블 신호(T_END)를 발생한다. 상기 지연 시간은 테스트 인에이블 신호(T_EN)를 상기 노멀 모드 신호 및 상기 테스트 모드 신호 중 하나와 동기시키기 위하여 필요한 시간이다.
클락 발생부(520)는 테스트 인에이블 신호(T_EN)에 응답하여 인에이블(enable)되고, 리셋 신호(RESET)에 응답하여 리셋된다. 클락 발생부(520)는 오실레이터 클락 신호(OSCK)에 응답하여 테스트 기입 클락 신호(T_WCK)를 발생한다.
어드레스 발생부(530)는, 테스트 기입 클락 신호(T_WCK)에 응답하여, 테스트 메모리 선택 신호(T_CS), 테스트 로우 어드레스 신호(T_XA), 및 테스트 칼럼 어드레스 신호(T_YA)를 발생한다. 어드레스 발생부(530)는 리셋 신호(RESET)에 응답하여 리셋되고, 카운터(counter)로 구현될 수 있다.
테스트 패턴 발생부(540)는 LCD 패널(도 2의 300)에 디스플레이되는 테스트 영상 패턴들을 저장하는 저장부(550)를 포함한다. 테스트 패턴 발생부(540)는 테스트 패턴 선택 신호(PAT_SEL) 및 R, G, B 데이터(RGB_DAT)에 응답하여 저장부(550)에 저장된 테스트 영상 패턴들 중 하나를 선택하고, 선택된 테스트 영상 패턴의 테스트 로우 어드레스 신호(T_XA) 및 테스트 칼럼 어드레스 신호(T_YA)가 지정하는 테스트 영상 데이터(T_DAT)를 출력한다. 저장부(550)에 테스트 영상 데이터(T_DAT)로 구성되는 테스트 영상 패턴의 예들이 도 4에 도시된다.
도 5는 도 3에 도시된 테스트 패턴 발생 회로의 예시적인 동작을 나타내는 타이밍 다이어그램이다. 도 5를 참조하여, 테스트 패턴 발생 회로(500)의 예시적인 동작이 다음과 같이 설명된다.
리셋 신호(RESET)가 논리 로우 레벨로 비활성화된 상태에서, 오실레이터 클락 신호(OSCK)의 상승 에지(rising edge)에 동기되어 테스트 인에이블 신호(T_EN)가 논리 하이 레벨로 활성화된다. 그 후, 테스트 패턴 선택 신호(PAT_SEL) 및 R, G, B 데이터(RGB_DAT)가 발생된다(또는 활성화된다).
테스트 기입 클락 신호(T_WCK)는 오실레이터 클락 신호(OSCK)에 의해 오실레이터 클락 신호(OSCK)의 한 클락 사이클(clock cycle) 후에 발생될 수 있다. 그 후, 테스트 기입 클락 신호(T_WCK)의 상승 에지에 각각 동기되어, 테스트 메모리 선택 신호(T_CS), 테스트 로우 어드레스 신호(T_XA), 및 테스트 칼럼 어드레스 신호(T_YA)가 활성화된다.
그 후, 상기 발생된 테스트 로우 어드레스 신호(T_XA) 및 테스트 칼럼 어드레스 신호(T_YA)가 지정하는 테스트 데이터(T_DAT)가 연속적으로 출력된다. 상기 출력되는 테스트 데이터(T_DAT)는 상기 발생된 테스트 패턴 선택 신호(PAT_SEL) 및 R, G, B 데이터 신호(RGB_DAT)에 의해 선택되는 테스트 영상 패턴을 구성한다.
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적의 실시예들이 개시되었다. 여기서, 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
본 발명에 따른 액정 표시 장치의 구동 회로는 내부의 오실레이터 클락 신호를 이용하여 액정 표시 장치의 테스트를 위한 테스트 영상 패턴을 내부에서 스스로 발생할 수 있는 테스트 패턴 발생 회로를 포함하므로, 별도의(separate) 테스트 장치를 이용하지 않고 액정 표시 장치를 테스트할 수 있다. 따라서, 본 발명의 액정 표시 장치의 구동 회로는 액정 표시 장치를 용이하게 테스트할 수 있고 테스트 시간을 감소시킬 수 있다.

Claims (12)

  1. 액정 표시 장치의 구동 회로에 있어서,
    상기 액정 표시 장치의 노멀 영상 데이터 기입 동작에 관련된 노멀 모드 신호를 발생하는 노멀 모드 회로;
    상기 액정 표시 장치의 테스트 영상 데이터 기입 동작에 관련된 테스트 모드 신호를 발생하는 테스트 패턴 발생 회로;
    상기 노멀 모드 신호 및 상기 테스트 모드 신호 중 하나를 선택하고 출력하는 선택 회로; 및
    상기 선택 회로의 출력 신호에 응답하여 상기 액정 표시 장치의 액정 표시 패널에 디스플레이되는 노멀 영상 패턴 또는 테스트 영상 패턴을 구성하는 영상 데이터를 저장하는 메모리를 포함하는 타이밍 컨트롤러를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 모드 신호는,
    상기 테스트 영상 패턴을 구성하는 테스트 영상 데이터, 상기 메모리의 활성화 또는 비활성화시키는 테스트 메모리 선택 신호, 상기 메모리에서의 상기 테스트 영상 데이터의 저장 위치를 지정하는 테스트 로우 어드레스 신호와 테스트 칼럼 어드레스 신호, 상기 테스트 패턴 발생 회로를 인에이블시키는 테스트 인에이블 신호를 지연한 지연된 테스트 인에이블 신호, 및 상기 테스트 메모리 선택 신호와 상기 테스트 로우 어드레스와 상기 테스트 칼럼 어드레스 신호에 동기하는 테스트 기입 클락 신호를 포함하고,
    상기 선택 회로는 상기 지연된 테스트 인에이블 신호에 응답하여 동작하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 테스트 패턴 발생 회로는,
    상기 테스트 인에이블 신호를 지연하고 상기 지연된 테스트 인에이블 신호를 발생하는 지연부;
    상기 테스트 인에이블 신호에 응답하여 인에이블되고, 오실레이터 클락 신호에 응답하여 상기 테스트 기입 클락 신호를 발생하는 클락 발생부;
    상기 테스트 기입 클락 신호에 응답하여, 상기 테스트 메모리 선택 신호, 상기 테스트 로우 어드레스 신호, 및 상기 테스트 칼럼 어드레스 신호를 발생하는 어드레스 발생부; 및
    테스트 영상 패턴들을 저장하는 저장부를 포함하고, 테스트 패턴 선택 신호 및 R, G, B 데이터에 응답하여 상기 테스트 영상 패턴들 중 하나를 상기 테스트 영상 패턴으로서 선택하고, 상기 선택된 테스트 영상 패턴의 상기 테스트 로우 어드레스 신호 및 상기 테스트 칼럼 어드레스 신호가 지정하는 상기 테스트 영상 데이터를 출력하는 테스트 패턴 발생부를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  4. 제3항에 있어서, 상기 클락 발생부 및 상기 어드레스 발생부는
    리셋 신호에 응답하여 리셋되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 테스트 인에이블 신호, 상기 리셋 신호, 및 상기 R, G, B 데이터는 CPU 인터페이스를 통해 CPU로부터 입력되고, 상기 테스트 패턴 선택 신호는 상기 액정 표시 장치의 구동 회로의 사용자에 의해 입력되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  6. 제5항에 있어서, 상기 액정 표시 장치의 구동 회로는
    상기 오실레이터 클락 신호를 발생하는 오실레이터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  7. 제6항에 있어서, 상기 타이밍 컨트롤러는
    상기 CPU 인터페이스를 통하여 상기 CPU로부터 출력되는 제어 신호를 수신하고, 상기 액정 표시 패널을 구동하도록 제어하는 제어 신호를 발생하고, 상기 CPU로부터 출력되는 제어 신호는 시스템 클락 신호인 도트 클락 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  8. 제7항에 있어서, 상기 메모리는 그래픽 램으로 구현되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 선택 회로는 멀티플렉서로 구현되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 어드레스 발생부는 카운터로 구현되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  11. 제1항에 있어서, 상기 액정 표시 장치의 구동 회로는,
    상기 타이밍 컨트롤러로부터 출력되는 제어 신호에 응답하여 상기 액정 표시 패널의 게이트 라인들을 구동하는 게이트 드라이버 회로; 및
    상기 메모리로부터 출력되는 영상 데이터 및 상기 타이밍 컨트롤러로부터 출력되는 제어 신호에 응답하여 상기 액정 표시 패널의 소스 라인들을 구동하는 소스 드라이버 회로를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는 CPU 인터페이스를 통하여 CPU로부터 출력되는 제어 신호를 수신하고, 상기 게이트 드라이버 회로 및 상기 소스 드라이버 회로의 동작 타이밍을 각각 제어하는 상기 제어 신호를 발생하고, 상기 CPU로부터 출력되는 제어 신호는 시스템 클락 신호인 도트 클락 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 구동 회로.
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