TWI506607B - 顯示面板的控制驅動器 - Google Patents
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Description
本發明是有關於一種顯示裝置，且特別是有關於用以驅動顯示面板的一種控制驅動器。
請參照圖1，為說明顯示面板140的傳統控制驅動器120組成的方塊示意圖。此控制驅動器120包括系統介面電路(System Interface Circuit) 122、記憶體控制電路(Memory Control Circuit) 124、影像資料記憶體(Image Data Memory) 126、時序控制電路(Timing Control Circuit) 128、資料線驅動電路(Data Line Driving Circuit) 132、掃描線驅動電路(Scan Line Driving Circuit)134與灰階電壓產生電路(Grayscale Voltage Generating Circuit)136。系統界面電路122耦接到外部的處理器110，而資料線驅動電路132與掃描線驅動電路134則是耦接到顯示面板140。
當控制驅動器120操作在正常操作模式(Normal Operation Mode)時，處理器110將顯示資料經由系統介面電路122傳送給記憶體控制電路124。記憶體控制電路124將顯示資料暫存於影像資料記憶體126。處理器110將控制信號經由系統介面電路122傳送給時序控制電路128。時序控制電路128按時序對記憶體控制電路124、資料線驅動電路132與掃描線驅動電路134發出對應的控制信號。例如，時序控制電路128經由記憶體控制電路124從影像資料記憶體126讀出在影像畫面中對應於同一條掃描線的影像資料，並且將影像資料鎖存於記憶體控制電路124的資料輸出端。在記憶體控制電路124完成所述影像資料的讀取操作後，時序控制電路128更進一步控制資料線驅動電路132與掃描線驅動電路134，以便將鎖存在記憶體控制電路124的資料輸出端的影像資料傳送到顯示面板140中對應掃描線的畫素中。以此類推，控制驅動器120將在影像畫面中對應於其他掃描線的影像資料傳送到顯示面板140中對應掃描線的畫素中，據以顯示對應的影像。
圖2A是說明圖1所示控制驅動器120在正常操作模式的時序圖(Timing Diagram)。在此假設掃描線驅動電路134包含多個輸出端，分別驅動顯示面板140的第1個掃描線G1、第2個掃描線G2、第3個掃描線G3、...、第N個掃描線GN及其他掃描線。從時序控制電路128傳來每隔一預定時間變化的閘極位址GA。掃描線驅動電路134依據閘極位址GA而依序驅動顯示面板140的掃描線。如圖2A上半部所示，將一固定時間，也就是一個畫面(Frame)的時間內，分割成N個閘驅動期間T。基於時序控制電路128的控制，掃描線驅動電路134分別於不同閘驅動期間T依序驅動顯示面板140的其中一條掃描線。
在圖2A下半部包括(1)資料線驅動電路132內的資料線驅動器(Data Line Driver)的顯示資料(Display Data)；(2)從時序控制電路128傳來用以控制記憶體控制電路124之資料輸出端的鎖存信號；(3)從時序控制電路128傳來用以藉由記憶體控制電路124控制影像資料記憶體126的讀取脈衝。
當控制驅動器120操作在測試操作模式(Test Operation Mode)時，外部的處理器110要先透過系統介面電路122與記憶體控制電路124將測試樣式(Test Pattern)事先寫入影像資料記憶體126。在將測試樣式寫入影像資料記憶體126之後，時序控制電路128接著按時序經由記憶體控制電路124將測試樣式從影像資料記憶體126讀出，並且將測試樣式傳送到資料線驅動電路132。時序控制電路128更進一步控制資料線驅動電路132將測試樣式輸出。藉由外部測試儀器量測資料線驅動電路132的輸出來判定控制驅動器120是否通過測試。
請參照圖2B，圖2B為說明圖1所示控制驅動器120在測試操作模式的流程圖。首先，如步驟S205，外部的處理器110(例如測試平台)啟動控制驅動器120，並且藉由控制信號TE使控制驅動器120進入測試操作模式。如步驟S210，外部的處理器110(例如測試平台)經由寫入路徑將測試樣式(Test Pattern)經過系統介面電路122與記憶體控制電路124寫入影像資料記憶體126。而後，如步驟S220，經由讀出路徑將測試樣式從影像資料記憶體126中讀出，也就是記憶體控制電路124將測試樣式從影像資料記憶體126讀出至資料線驅動電路132。接著，如步驟S230，藉由量測資料線驅動電路132的輸出，可以判斷控制驅動器120是否通過測試。若未通過測試，則如步驟S250，結束此測試流程。但如是通過測試，則接著進行步驟S240以判斷是否為最後一個測試樣式。若是，則如步驟S250，結束此測試流程。若目前測試樣式不是最後一個測試樣式，則回到步驟S210，以便由外部的處理器110將下一個測試樣式寫入影像資料記憶體126，且再次進行下一個測試程序，即再一次進行步驟S210~S250。
在測試流程中，對於控制驅動器120的顯示時序圖(Display Timing Diagram)，則如圖3所示。此顯示時序圖包括(1)記憶體控制電路124的影像資料記憶體讀取致能信號(image data memory read enable signal of the memory control circuit 124)；(2)列位址(Row Address)；(3)影像資料記憶體126的輸出(output of the image data memory 126)；(4)記憶體控制電路124資料輸出端的鎖存致能信號(Latches Enable signal of the data output terminals of the memory control circuit 124)；(5)資料線驅動電路132的資料線驅動致能信號(Data Line Driving Enable signal of the data line driving circuit 132)；以及(6)資料線驅動電路132的資料線輸出(Data Line Output of the data line driving circuit 132)。
當記憶體控制電路124收到時序控制電路128所發出列位址以及影像資料記憶體讀取致能信號的脈衝時，會在一預定時間內對影像資料記憶體126完成讀取資料的操作。例如圖3所示，在記憶體控制電路124收到影像資料記憶體讀取致能信號的脈衝後，在時間區間TR
內，可根據列位址對影像資料記憶體126進行讀取，而在時間區間TR
後將對應的顯示資料從影像資料記憶體126中讀出，例如圖3的第N列的顯示資料。而在此時間區間TR
內，時序控制電路128輸出給資料線驅動電路132的資料線驅動致能信號是處於邏輯高狀態，而資料線驅動電路132輸出第N-1列的顯示資料。
在時間區間TR
後，記憶體控制電路124完成第N列顯示資料的讀取操作，此時時序控制電路128會傳送鎖存致能信號給記憶體控制電路124。記憶體控制電路124在收到鎖存致能信號(Latches Enable)的脈衝後，會將前述第N列的顯示資料鎖存在記憶體控制電路124的資料輸出端，以及將第N列的顯示資料提供給資料線驅動電路132。因此資料線驅動電路132可以在時序控制電路128輸出的資料線驅動致能信號處於邏輯高狀態的期間將第N列的顯示資料提供給顯示面板140的資料線。以此類推，記憶體控制電路124根據影像資料記憶體讀取致能信號的脈衝，依序輸出第N+1列到第N+n-1列的顯示資料。
對於傳統控制驅動器120而言，不論是正常操作模式或是測試操作模式，都利用相同的傳輸通道傳遞顯示資料與測試樣式。上述的架構，當對控制驅動器120進行測試操作時，必須考慮界面的傳輸效率與傳輸通道的限制條件。這些可能產生的延遲將會大幅增加測試的時間以及降低測試的效率。
例如針對行動電話所使用的控制驅動器IC而言，測試時間較長，在測試資料時皆需要有等待時間，其中等待時間包括有a.將測試資料寫入靜態隨機存取記憶體(SRAM，相當於影像資料記憶體126)的時間；b.將測試資料由SRAM讀出送至源極驅動電路(Source Driver，相當於資料線驅動電路132)的時間。這兩個動作都和SRAM存取速度有關。
本發明提供一種控制驅動器，以改善控制驅動器的測試效率。
本發明實施例提出一種控制驅動器，包括時序控制電路、資料記憶單元、資料選擇單元以及資料線驅動電路。時序控制電路輸出控制信號。資料記憶單元儲存影像資料。資料選擇單元耦接至資料記憶單元。資料選擇單元選擇輸出資料記憶單元所提供的影像資料做為顯示資料，或是依據外部處理器所提供的指令及/或測試樣式產生顯示資料。資料線驅動電路耦接至時序控制電路與資料選擇單元。資料線驅動電路接收來自資料選擇單元的顯示資料，以及依據控制信號輸出相對應的灰階電壓。
在本發明之一實施例中，當控制驅動器操作在正常操作模式時，資料選擇單元直接將資料記憶單元輸出的影像資料做為顯示資料傳送到資料線驅動電路。當控制驅動器操作在測試操作模式時，資料選擇單元依據所述外部處理器所提供的指令或測試樣式產生顯示資料到資料線驅動電路。
在本發明之一實施例中，當控制驅動器操作在測試操作模式時，資料選擇單元將所述外部處理器所輸出的測試樣式提供給資料線驅動電路作為顯示資料。
在本發明之一實施例中，當控制驅動器操作在測試操作模式時，資料選擇單元依據所述外部處理器所輸出的該指令產生對應的測試樣式給資料線驅動電路作為顯示資料。
在本發明之一實施例中，當控制驅動器操作在測試操作模式時，資料選擇單元將該指令進行解碼後，依據解碼結果選擇性的將該測試樣式提供給資料線驅動電路的部份或所有通道作為顯示資料。
在本發明之一實施例中，上述之資料選擇單元包括多個邏輯單元。每一個邏輯單元的輸出端分別連接到資料線驅動電路的多個輸出級電路其中一者。其中，這些邏輯單元選擇將資料記憶單元所提供的影像資料輸出給這些輸出級電路，或是依據所述外部處理器所提供的指令或測試樣式產生顯示資料給這些輸出級電路。
在本發明之一實施例中，上述之控制驅動器更包括系統界面電路。系統界面電路耦接至資料記憶單元、資料選擇單元以及時序控制電路。其中，所述外部處理器經由系統界面電路傳送指令或測試樣式給資料選擇單元。
在本發明之一實施例中，上述之資料記憶單元包括影像資料記憶體以及記憶體控制電路。影像資料記憶體儲存所述影像資料。記憶體控制電路耦接於影像資料記憶體與資料選擇單元之間。
基於上述，本發明實施例所揭示之資料選擇單元可以選擇輸出資料記憶單元所提供的影像資料做為顯示資料。或是，資料選擇單元可以選擇依據外部處理器所提供的指令或測試樣式產生該顯示資料。因此，控制驅動器可以不需要將測試樣式寫入資料記憶單元，也不需要從資料記憶單元讀取測試樣式，進而改善了控制驅動器的測試效率。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
請參照圖4，為本發明說明顯示器組成的一實施例的方塊示意圖。控制驅動器400至少包括系統介面電路(System Interface Circuit) 420、資料記憶單元、時序控制電路(Timing Control Circuit) 424、資料選擇單元(Data Selection Unit) 428、資料線驅動電路(Data Line Driving Circuit) 432、掃描線驅動電路(Scan Line Driving Circuit) 434與灰階電壓產生電路(Grayscale Voltage Generating Circuit) 436。上述資料記憶單元包括記憶體控制電路(Memory Control Circuit) 422以及影像資料記憶體(Image Data Memory) 426。系統界面電路420耦接到外部的處理器410(或是測試平台)，而資料線驅動電路432與掃描線驅動電路434則是耦接到顯示面板440(或是測試平台)。
在圖4所示實施例中，資料選擇單元428配置於記憶體控制電路422與資料線驅動電路432之間。圖4所示資料選擇單元428的實施方式可以是解碼電路、多工電路、邏輯電路或是其他電路，例如圖7顯示了資料選擇單元428的其中一種實施方式(容後詳述)。
請參照圖4，處理器410經由系統界面電路420電性連接到記憶體控制電路422、資料選擇單元428與時序控制電路424，以便傳輸指令(Commands)、控制信號及影像資料。系統界面電路420用以作為指令、控制信號或資料傳輸匯流之耦接與傳送。
當控制驅動器400操作在正常操作模式(Normal Operation Mode)時，處理器410將影像資料與多個控制信號經由系統界面電路420分別傳送給記憶體控制電路422、時序控制電路424以及資料選擇單元428。記憶體控制電路422將外部處理器410所提供的影像資料暫存於影像資料記憶體426。時序控制電路424則是根據所述的控制信號進行各種控制操作。例如，時序控制電路424控制記憶體控制電路422將影像資料從影像資料記憶體426讀出，並且輸出鎖存信號而使記憶體控制電路422的資料輸出端鎖存影像資料，以便將影像資料傳送到資料選擇單元428。在正常操作模式時，資料選擇單元428基於外部處理器410的控制信號TE而處於未致能的狀態，資料選擇單元428直接將控制記憶體控制電路422輸出的影像資料傳送到資料線驅動電路432。時序控制電路424更進一步輸出控制信號以便控制資料線驅動電路432與掃描線驅動電路434。依據時序控制電路424的控制，並且配合掃描線驅動電路434的操作，資料線驅動電路432可以將影像資料轉換為灰階電壓，並且將灰階電壓傳送到顯示面板440的畫素中，據以顯示對應的影像。上述記憶體控制電路422從影像資料記憶體426讀取影像資料的操作細節，以及時序控制電路424、資料線驅動電路432與掃描線驅動電路434驅動顯示面板440的操作細節，可以參照圖1的相關說明。
當控制驅動器400操作在測試操作模式(Test Operation Mode)時，將進行控制驅動器400的測試流程。在測試操作模式中，所述處理器410可以是測試平台，則控制驅動器400的輸出端電性連接至測試平台的量測儀器。此時，資料選擇單元428基於處理器410的控制信號TE處於致能的狀態，使得資料選擇單元428選擇從外部的處理器410(例如測試平台)接收測試指令以及/或是測試樣式(Test Patterns) TP，然後將對應的測試樣式TP傳送到資料線驅動電路432進行測試。外部的處理器410可視不同的測試設計而調整此測試樣式TP，以符合客製化的需求。
控制驅動器400的測試流程示意圖，則如圖5所示。首先，如步驟S510，外部的處理器410(例如測試平台)啟動控制驅動器400，並且藉由控制信號TE使控制驅動器400進入測試操作模式，以便啟動測試樣式的傳輸通道。而後，如步驟S520，處理器410將指令(Commands)及/或測試樣式TP寫入資料選擇單元428。例如，處理器410可以透過資料選擇單元428而將測試樣式TP提供給資料線驅動電路432。在其他實施例中，處理器410可以將指令傳送給資料選擇單元428，而由資料選擇單元428依據該指令產生對應的測試樣式TP給資料線驅動電路432。於本實施例中，當控制驅動器400操作在測試操作模式時，資料選擇單元428將外部處理器410所提供的指令進行解碼後，依據解碼結果選擇性的將測試樣式TP提供給資料線驅動電路432的部份或所有通道作為顯示資料。例如，處理器410可以輸出指令與測試樣式TP分別為“00”與“灰階0”。資料選擇單元428將指令“00”進行解碼後，便對資料線驅動電路432的所有通道提供“灰階0”的測試樣式TP。因此，理想上資料線驅動電路432的所有輸出端均應該輸出“灰階0”的驅動電壓。再例如，處理器410可以輸出指令與測試樣式TP分別為“01”與“灰階255”。資料選擇單元428將指令“01”進行解碼後，便對資料線驅動電路432的第奇數個通道提供“灰階255”的顯示資料，而對資料線驅動電路432的第偶數個通道提供“灰階0”的顯示資料。
接著步驟S530，量測資料線驅動電路432的輸出是否通過測試。若是未通過測試，則如步驟S550，結束此測試流程。但如是通過測試，則接著處理器410進行步驟S540以判斷目前的測試樣式是否為最後一個測試樣式。若目前的測試樣式是最後一個測試樣式，則如步驟S550，結束此測試流程。若目前的測試樣式不是最後一個測試樣式，則回到步驟S520，也就是處理器410將下一個指令及/或測試樣式TP傳送給控制驅動器400，以便針對下一個測試樣式進行測試。
如上所述，在測試操作模式中，資料選擇單元428會依照處理器410的指令而傳送對應的測試樣式給資料線驅動電路432，而不需要透過記憶體控制電路422去存取影像資料記憶體426。因此，上述測試流程不需要對影像資料記憶體426進行頻繁的寫入與讀取操作，使得控制驅動器400可以加速測試速度。
對控制驅動器400在測試操作模式下的測試流程時序圖(Timing Diagram)，則如圖6所示。圖6所示顯示時序圖包括(1)資料選擇單元428的指令及/或測試樣式TP；(2)資料線驅動電路432的資料線驅動致能信號(Data Line Driving Enable)；以及(3)資料線驅動電路432的資料線輸出(Data Line Output)。
例如圖6所示，在時間區間TC
內，資料選擇單元428可以從外部的處理器410接收第N-1個指令及/或測試樣式TP，以及傳送對應的第N-1個測試樣式給資料線驅動電路432。因此，資料線驅動電路432可以獲得第N-1個測試樣式，以及針對第N-1個測試樣式進行測試。在下一個時間區間TC
內，資料選擇單元428從處理器410接收第N個指令及/或測試樣式TP，以及傳送對應的第N個測試樣式給資料線驅動電路432。在時序控制電路424輸出給資料線驅動電路432的資料線驅動致能信號處於邏輯高的狀態下，資料線驅動電路432會輸出第N個測試樣式。此時，測試平台可以對資料線驅動電路432的輸出進行量測，以便針對第N個測試樣式(Test Patterns)進行測試。以此類推，處理器410可以依序發出第N+1到N+n-1個指令及/或測試樣式TP，而控制驅動器400可以對應地依序針對第N+1到N+n-1個測試樣式進行顯示資料的測試，即可根據設計而完成不同測試樣式的顯示測試。
請參照圖7，為本發明所提出控制驅動器400的另一個實施例的部分電路方塊示意圖。圖7所示實施例可以參照圖4的相關說明。在圖7所示實施例中，記憶體控制電路422的每一個資料輸出端各自配置一個鎖存單元，例如鎖存單元7100
、7101
、7102
、...、710N-1
。資料線驅動電路432的每一個通道各自配置一個輸出級電路(Output Stage Circuit)，例如輸出級電路7300
、7301
、7302
、...、730N-1
。灰階電壓產生電路436則是用以提供多種灰階電壓信號給資料線驅動電路432的每個輸出級電路7300
～730N-1
。這些輸出級電路7300
～730N-1
可以依據數位資料而從所述多種灰階電壓中選擇輸出一個對應的灰階電壓。
資料選擇單元428配置在記憶體控制電路422與資料線驅動電路432之間。資料選擇單元428中的每一個通道各自配置一個邏輯單元，例如邏輯單元7200
、7201
、7202
、...、720N-1
。每個邏輯單元7200
、7201
、7202
、...、720N-1
的第一輸入端分別連接到所述鎖存單元7100
、7101
、7102
、...、710N-1
其中一者的輸出端，而每個邏輯單元7200
、7201
、7202
、...、720N-1
的第二輸入端分別經由系統介面電路420連接到外部的處理器410。資料選擇單元428中每個邏輯單元7200
、7201
、7202
、...、720N-1
的輸出端分別連接到資料線驅動電路432的輸出級電路(Output Stage Circuit) 7300
、7301
、7302
、...、730N-1
其中一者。
當控制驅動器400操作在正常操作模式(Normal Operation Mode)時，資料選擇單元428則處於未致能的狀態。也就是說，資料選擇單元428中的每個邏輯單元7200
、7201
、7202
、...、720N-1
各自將鎖存單元7100
、7101
、7102
、...、710N-1
所輸出的顯示資料直接傳送到資料線驅動電路432的每個輸出級電路(Output Stage Circuit) 7300
、7301
、7302
、...、730N-1
。
當控制驅動器400操作在測試操作模式(Test Operation Mode)時，資料選擇單元428則處於致能的狀態。也就是說，資料選擇單元428中的每個邏輯單元7200
、7201
、7202
、...、720N-1
接收處理器410所輸出的指令與至少一個測試樣式TP，並將測試樣式傳送到資料線驅動電路432的每個輸出級電路(Output Stage Circuit) 7300
、7301
、7302
、...、730N-1
，以便進行資料線驅動電路的測試。
上述對控制驅動器400的測試流程中，可直接從處理器410接收指令以及測試樣式TP，並將測試樣式傳送到資料線驅動電路432進行測試。而此測試樣式可視不同設計而調整，以符合客製化的需求。
例如，在一實施例中，處理器410可以輸出指令與測試樣式TP分別為“01”與“灰階255”給邏輯單元7200
～720N-1
。邏輯單元7200
～720N-1
將指令“01”進行解碼後，便分別對資料線驅動電路432的第奇數個輸出級電路(例如7301
)提供“灰階255”的顯示資料，而對資料線驅動電路432的第偶數個輸出級電路(例如7300
與7302
)提供“灰階0”的顯示資料。處理器410可以輸出指令與測試樣式TP分別為“10”與“灰階255”給邏輯單元7200
～720N-1
。邏輯單元7200
～720N-1
將指令“10”進行解碼後，便分別對資料線驅動電路432的第偶數個輸出級電路(例如7300
與7302
)提供“灰階255”的顯示資料，而對資料線驅動電路432的第奇數個輸出級電路(例如7301
)提供“灰階0”的顯示資料。測試樣式可以如圖8A所示，資料選擇單元428中的每個邏輯單元7200
、7201
、7202
、...、720N-1
對資料線驅動電路432的相鄰資料通道提供不同的灰階電壓，以測試相鄰資料通道之間是否發生短路的現象。
例如對八位元的顯示資料而言，其灰階電壓為0～255位準，因此，如邏輯單元7200
對輸出級電路7300
施以代表灰階電壓位準為0的測試資料時，則邏輯單元7201
對輸出級電路7301
則施以代表灰階電壓位準為255的測試資料，而邏輯單元7202
對輸出級電路7302
則施以代表灰階電壓位準為0的測試資料，邏輯單元7203
對輸出級電路7303
則施以代表灰階電壓位準為255的測試資料，以此類推。因此，在資料線驅動電路432為良好的情況下，可以在輸出級電路7300
的輸出端與輸出級電路7302
的輸出端量測到灰階電壓位準為0的電壓，而在輸出級電路7301
的輸出端的輸出端量測到灰階電壓位準為255的電壓。在另一個週期，則反過來，當邏輯單元7200
對輸出級電路7300
施以代表灰階電壓位準為255的測試資料時，邏輯單元7201
對輸出級電路7301
則施以代表灰階電壓位準為0的測試資料，而邏輯單元7202
對輸出級電路7302
則施以代表灰階電壓位準為255的測試資料，以此類推。
例如，在另一實施例中，處理器410可以輸出指令與測試樣式TP分別為“00”與“灰階0”給邏輯單元7200
～720N-1
。邏輯單元7200
～720N-1
將指令“00”進行解碼後，便分別對輸出級電路7300
～730N-1
提供“灰階0”的測試資料。測試樣式如圖8B所示，在同一個週期對資料線驅動電路432的所有輸出級電路7300
～730N-1
都進行相同的灰階電壓測試。因此，理想上所有輸出級電路7300
～730N-1
的輸出端均應該輸出“灰階0”的驅動電壓。在下一個週期，處理器410可以輸出指令與測試樣式TP分別為“00”與“灰階1”給邏輯單元7200
～720N-1
，使得邏輯單元7200
～720N-1
分別對輸出級電路7300
～730N-1
提供“灰階1”的測試資料。因此，理想上所有輸出級電路7300
～730N-1
的輸出端均應該輸出“灰階1”的驅動電壓。以此類推，如圖8B所示的第0～255週期，7200
～720N-1
依序輸出0～255的灰階資料給輸出級電路7300
～730N-1
，而輸出級電路7300
～730N-1
依序輸出0～255的灰階電壓。如此，圖8B所示的測試樣式可個別測試出每一個輸出級電路7300
、7301
、7302
、～730N-1
(即控制驅動器400的每一個通道)的變異程度，也可以測試出控制驅動器400的數位類比轉換表現以及對每一個灰階的驅動能力。
上述的測試架構與測試流程，將有效的降低對資料線驅動電路所進行的測試時間與效率。
綜上所述，本發明實施例所揭示之資料選擇單元428可以輸出影像資料記憶體426所提供的影像資料做為顯示資料。或是，資料選擇單元428可以依據外部處理器410所提供的指令及/或測試樣式TP產生顯示資料。因此在測試操作模式中，控制驅動器400可以不需要將測試樣式寫入影像資料記憶體426，也不需要從影像資料記憶體426讀取測試樣式，進而改善了控制驅動器400的測試效率。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
110、410．．．處理器
120、400．．．控制驅動器
122、420．．．系統介面電路
124、422．．．記憶體控制電路
126、426．．．影像資料記憶體
128、424．．．時序控制電路
132、432．．．資料線驅動電路
134、434．．．掃描線驅動電路
136、436．．．灰階電壓產生電路
140、440．．．顯示面板
428．．．資料選擇單元
7100
、7101
、7102
、710N-1
．．．鎖存單元
7200
、7201
、7202
、720N-1
．．．邏輯單元
7300
、7301
、7302
、730N-1
．．．輸出級電路
G1、G2、G3、GN．．．掃描線
GA．．．閘極位址
S205~S250、S510~S550．．．步驟
TE．．．控制信號
TP．．．測試樣式
圖1是說明顯示面板的傳統控制驅動器的功能方塊示意圖。
圖2A是說明圖1所示控制驅動器在正常操作模式的時序圖。
圖2B為說明圖1所示控制驅動器在測試操作模式的流程圖。
圖3為說明圖1所示控制驅動器在測試操作模式的時序圖。
圖4為依據本發明實施例說明一種控制驅動器的功能方塊示意圖。
圖5為依據本發明實施例說明圖4所示控制驅動器的測試流程示意圖。
圖6為依據本發明實施例說明圖4所示控制驅動器在測試操作模式下的信號時序示意圖。
圖7為依據本發明另一個實施例說明控制驅動器的部分電路方塊示意圖。
圖8A與圖8B為依據本發明實施例說明圖4所示控制驅動器在測試操作模式下測試樣式的信號時序示意圖。
400．．．控制驅動器
410．．．處理器
420．．．系統介面電路
422．．．記憶體控制電路
424．．．時序控制電路
426．．．影像資料記憶體
428．．．資料選擇單元
432．．．資料線驅動電路
434．．．掃描線驅動電路
436．．．灰階電壓產生電路
440．．．顯示面板
TE．．．控制信號
TP．．．測試樣式
Claims (7)
- 一種顯示面板的控制驅動器，包括：一時序控制電路，輸出一控制信號；一資料記憶單元，用以儲存一影像資料；一資料選擇單元，耦接至該資料記憶單元，該資料選擇單元選擇輸出該資料記憶單元所提供的該影像資料做為一顯示資料，或是依據外部處理器所提供的一指令產生該顯示資料；以及一資料線驅動電路，耦接至該時序控制電路與該資料選擇單元，該資料線驅動電路接收來自該資料選擇單元的該顯示資料，以及依據該控制信號輸出相對應的一灰階電壓。
- 如申請專利範圍第1項所述之控制驅動器，其中當該控制驅動器操作在一正常操作模式時，該資料選擇單元直接將該資料記憶單元輸出的該影像資料做為該顯示資料傳送到該資料線驅動電路；當該控制驅動器操作在一測試操作模式時，該資料選擇單元依據所述外部處理器所提供的該指令產生該顯示資料到該資料線驅動電路。
- 如申請專利範圍第2項所述之控制驅動器，當該控制驅動器操作在該測試操作模式時，該資料選擇單元依據所述外部處理器所輸出的該指令產生對應的測試樣式給該資料線驅動電路作為該顯示資料。
- 如申請專利範圍第2項所述之控制驅動器，當該控制驅動器操作在該測試操作模式時，該資料選擇單元將該 指令進行解碼後，依據解碼結果選擇性的將一測試樣式提供給該資料線驅動電路的部份或所有通道作為該顯示資料。
- 如申請專利範圍第1項所述之控制驅動器，其中該資料選擇單元包括：多個邏輯單元，每一個邏輯單元的輸出端分別連接到該資料線驅動電路的多個輸出級電路其中一者，其中該些邏輯單元選擇將該資料記憶單元所提供的該影像資料輸出給該些輸出級電路，或是依據所述外部處理器所提供的該指令產生該顯示資料給該些輸出級電路。
- 如申請專利範圍第1項所述之控制驅動器，更包括：一系統界面電路，耦接至該資料記憶單元、該資料選擇單元以及該時序控制電路，其中所述外部處理器經由該系統界面電路傳送該指令給該資料選擇單元。
- 如申請專利範圍第1項所述之控制驅動器，其中該資料記憶單元包括：一影像資料記憶體，其儲存所述影像資料；以及一記憶體控制電路，耦接於該影像資料記憶體與該資料選擇單元之間。
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