KR20070087987A - 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스아날로그 회로 - Google Patents

저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스아날로그 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR20070087987A
KR20070087987A KR1020060018026A KR20060018026A KR20070087987A KR 20070087987 A KR20070087987 A KR 20070087987A KR 1020060018026 A KR1020060018026 A KR 1020060018026A KR 20060018026 A KR20060018026 A KR 20060018026A KR 20070087987 A KR20070087987 A KR 20070087987A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power supply
voltage
node
mos transistor
supply terminal
Prior art date
Application number
KR1020060018026A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101163457B1 (ko
Inventor
정무경
신순균
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020060018026A priority Critical patent/KR101163457B1/ko
Priority to CN2007101288849A priority patent/CN101098126B/zh
Priority to US11/709,955 priority patent/US7576613B2/en
Publication of KR20070087987A publication Critical patent/KR20070087987A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101163457B1 publication Critical patent/KR101163457B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/08Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements
    • H03F1/22Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements by use of cascode coupling, i.e. earthed cathode or emitter stage followed by earthed grid or base stage respectively
    • H03F1/223Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements by use of cascode coupling, i.e. earthed cathode or emitter stage followed by earthed grid or base stage respectively with MOSFET's
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/34DC amplifiers in which all stages are DC-coupled
    • H03F3/343DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
    • H03F3/345DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only with field-effect devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Abstract

저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 개시한다. 본 발명의 회로는 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 제1전원단자와 출력단자 사이에 연결된 제1전류원과, 출력단자와 제1노드 사이에 연결된 제1모스 트랜지스터와, 게이트에 바이어스 전압이 인가되고 제1노드와 제2전원단자 사이에 연결된 제2모스 트랜지스터와, 제1전원단자와 상기 제1모스 트랜지스터의 게이트 사이에 연결된 제3모스 트랜지스터와, 제1모스 트랜지스터의 게이트와 제2전원전압 사이에 연결된 제2전류원을 포함한다. 따라서, 1V 이하의 저전압에서도 높은 출력저항과 넓은 전압 스윙폭을 유지하면서도 안정된 동작특성을 유지할 수 있다.

Description

저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스 아날로그 회로{Low Voltage Regulated Cascade Circuits and CMOS Analog Circuits}
도 1은 종래의 노말 캐스코드 회로를 나타낸 회로도.
도 2는 종래의 레귤레이티드 캐스코드 회로를 나타낸 회로도.
도 3은 본 발명에 의한 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로의 일실시예를 나타낸 회로도.
도 4는 본 발명에 의한 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로의 다른 실시예를 나타낸 회로도.
도 5는 본 발명에 의한 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 이용한 전류미러의 회로도.
도 7은 본 발명과 종래의 캐스코드 구조를 비교하여 시뮬레이션 진행한 결과를 나타낸다.
본 발명은 저전압 시모스 아날로그 회로에 관한 것으로 특히 1V 이하의 동작전압에서도 안정된 동작특성을 유지할 수 있는 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 에 관한 것이다.
최근에 모바일 환경에서 이동성과 휴대성을 만족하기 위하여 전기전자 제품의 경박단소가 급속히 진행되면서 시스템 온 칩화 빠르게 진행되고 있다.
다기능화와 대용량의 저장능력의 요구에 의해 반도체 집적회로의 집적도가 증가되고 배터리 소모를 줄이기 위하여 저전력 회로의 필요성이 증가하면서 동작전압의 지속적인 스케일 다운으로 거의 모든 회로에 대해서 1V 이하의 동작이 요구되어 지고 있다.
하지만 아날로그 회로의 경우 분해능(resolution) 및 회로구현의 한계로 아직도 디지털 회로 대비 높은 전압을 요구하고 있어 원칩화 소형화, 저전력화의 추세에 큰 문제점으로 대두되고 있다.
현재 이를 해결하기 위해 많은 회사와 연구소에서 지속적으로 연구한 결과 많은 부분에 대해 문제를 해결하고 있어 저전압 레퍼런스나 레일 투 레일 입출력회로의 구현은 활용 가능한 단계에 이르고 있지만 높은 출력저항과 넓은 스윙 폭을 확보하기 위한 연구는 큰 진전을 보이지 못하고 있다.
그 이유는 게이트 산화막의 두께와 채널 길이의 스케일 다운으로 인한 게이트 누설전류와 채널 길이 변동의 증가로 원하는 게인을 확보하기 힘들다. 또한 낮은 동작전압에서는 캐스코드 구조의 회로에서 충분한 출력 스윙 폭이 확보되지 않기 때문이다.
이를 해결하기 위한 약 인버젼(weak inversion)영역의 트랜지스터를 이용한 레귤레이티드 캐스코드 방식이 제안되어 졌으나 동작의 안정성 문제로 크게 활용되 지 못하고 있는 실정이다.
본 발명의 목적은 이와 같은 문제점을 해결하기 위하여 따라서 레귤레이티드캐스코드의 게인 부스팅 특성은 그대로 유지하면서 모든 트랜지스터가 강 인버젼 영역에서 동작하도록 하여 트랜지스터의 안정성을 확보하면서도 넓은 스윙 폭과 큰 출력저항을 유지할 수 있는 새로운 구조의 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 이용한 저전압 시모스 아날로그 회로를 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 회로는 출력단자와 제1노드 사이에 연결된 제1모스 트랜지스터와, 게이트에 바이어스 전압이 인가되고 제1노드와 제2전원단자 사이에 연결된 제2모스 트랜지스터와, 제1전원단자와 상기 제1모스 트랜지스터의 게이트 사이에 연결된 제3모스 트랜지스터와, 제1모스 트랜지스터의 게이트와 제2전원전압 사이에 연결된 제2전류원을 구비한 것을 특징으로 한다.
여기서, 제1전원단자에 인가되는 전원전압(고전원전압 VDD)이 제2전원단자에 인가되는 전원전압(저전원전압 VSS)보다 높고, 제1 및 제2모스 트랜지스터의 전도형은 N형이고 제3모스 트랜지스터의 전도형은 P형으로 구성할 수 있다.
또한, 제1전원단자에 인가되는 전원전압(저전원전압 VSS)이 제2전원단자에 인가되는 전원전압(고전원전압 VDD)보다 낮고, 제1 및 제2모스 트랜지스터의 전도 형은 P형이고 상기 제3모스 트랜지스터의 전도형은 N형으로 구성할 수도 있다.
본 발명에서 제3모스 트랜지스터의 문턱전압은 제1 및 제2모스 트랜지스터의 문턱전압보다 높아서 강 인버젼 영역에서 안전하게 동작 될 수 있으므로 약 인버젼 영역에서 동작하는 경우에 비해 보다 안정된 동작이 가능하다.
따라서, 본 발명에서는 제1전원단자에 인가되는 전원전압(VDD 또는 VSS)과 제2전원단자에 인가되는 전원전압(VSS 또는 VDD)의 전위차를 1V이하로 낮출 수 있으면서도 안정된 동작이 가능하게 된다.
또한, 본 발명에서 제3모스트랜지스터는 높은 문턱전압을 유지하기 위하여 바디 바이어스될 수도 있다.
본 발명의 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 이용한 CMOS 전류미러는 제1전원단자와 제1노드 사이에 연결된 제1전류원과, 제1노드와 제2전원단자 사이에 연결되고, 상기 제1노드전압이 바이어스 전압으로 피드백되게 연결된 제1 저전압 레귤레이티드 캐스코드부와, 제1전류원의 전류를 출력노드에 미러링시키기 위하여 출력노드와 상기 제2전원단자 사이에 연결되고, 제1노드전압이 바이어스 전압으로 연결된 제2 저전압 레귤레이티드 캐스코드부를 포함한다.
또한 본 발명에 의한 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 이용한 하이 게인 증폭기의 출력단은 제1전원단자와 출력노드 사이에 연결된 제1저전압 레귤레이티드 캐스코드 풀업부와, 출력노드와 제2전원단자 사이에 연결된 제2저전압 레귤레이티드 캐스코드 풀다운부를 구비한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 구체적으로 설 명하고자 한다. 이 실시예는 이 기술에 숙련된 자들이 본 발명을 실시할 수 있게 충분히 상세하게 기술한다.
도 1은 종래의 캐스코드 회로를 나타내고 도 2는 종래의 레귤레이티드 캐스코드 회로를 나타낸다.
도 1의 회로는 출력전압(Vo)의 전압 변화에 대해 전류 변화가 최소가 될 수 있도록 하기 위해 트랜지스터(MN1, MN2)의 스택구조로 연결하여 출력측에서 바라보는 출력 저항을 극대화 시켰다. 하지만 반도체 공정의 스케일 다운으로 채널 길이 변조 특성이 열화되어 캐스코드 구조만으로는 충분한 출력저항을 얻지 못하여 이를 더욱 개선하고자 도 2와 같이 X node의 전압을 트랜지스터(MN3)의 바이어스전원으로 이용하여 도 1의 캐스코드 구조 대비 수십 배 가량의 출력저항의 증가를 확보 할 수 있었다.
그러나, 레귤레이티드 캐스코드 구조는 기존 캐스코드 구조 대비 2배의 문턱전압(2Vth)만큼 출력전압의 스윙 폭의 추가 손실을 가져와 1V 이하의 저 전압 동작에는 적합하지 않는 것으로 확인되었다.
이를 보완하기 위해 방법으로 트랜지스터(MN3)의 동작을 약 인버젼(weak inversion)영역에서 이루어지도록 하여 출력 전압 스윙 폭의 손실을 최소화 하고자 하였다. 하지만 이 경우에는 출력전압 스윙 폭의 손실은 개선할 수 있지만 회로 동작의 불안정성과 온도에 대한 불안정이 증가하여 실제 회로에서는 활용이 어려운 상황이다.
도 3은 본 발명에 의한 저전압 캐스코드 회로의 일실시예를 나타낸다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 회로에서는 레귤레이티드 회로의 엔모스 트랜지스터(MN3)를 피모스 트랜지스터(MP1)으로 대체하여 회로의 면적증가 없이 도 2의 레귤레이티드 캐스코드 구조의 출력저항 특성은 유지하면서 출력전압 스윙 폭은 도 1의 캐스코드 구조와 동일한 특성을 가질 수 있다.
전원전압(VDD)과 출력노드(No) 사이에는 전류원(CS1)이 연결되고, 출력노드(No)와 제1노드(N1) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM2)가 연결되고, 제1노드(N1)와 접지전압(VSS) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM1)가 연결되어 종래의 노말 캐스코드 구조를 이룬다. 전원전압(VDD)과 제2노드(N2) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM1)이 연결되고 제2노드(N2)와 접지전압(VSS) 사이에는 전류원(CS2)을 연결한다. 제2노드(N2)는 엔모스 트랜지스터(NM2)의 게이트에 연결된다.
피모스 트랜지스터(PM1)는 엔모스 트랜지스터(NM1, NM2)의 문턱전압(Vthn1, Vthn2) 보다 높은 문턱전압(Vthp)을 가진 디플리션(depletion) 타입 트랜지스터로 구성한다.
이 경우 제1노드(N1)의 전압은 레귤레이션을 위한 피모스 트랜지스터를 동작시키기에 충분히 낮은 전압이므로 별도의 출력전압 스윙 폭의 손실없이 인버젼 영역에서 동작할 수 있고 종래의 레귤레이티드 캐스코드 구조와 동일한 큰 값의 출력저항을 가져갈 수 있다.
이 때 레귤레이션을 위한 피모스트랜지스터(PM1)의 문턱전압(Vthp)가 충분히 큰 값을 가지지 않으면 피모스 트랜지스터의 동작점이 선형영역으로 이동하거나 엔모스 트랜지스터(NM2)가 컷오프(cutoff)영역으로 이동하게 되어 동작특성의 열화가 발생할 수 있다. 이 경우 피모스 트랜지스터(PM1)의 바디 바이어스를 일정 수준으로 가하여 Vthp가 충분히 큰 값을 가지게 회로를 구성하여야 한다.
상기의 조건을 만족하게 되면 엔모스 트랜지스터(NM1)의 오버 드라이브 전압(over-drive voltage)이 제1노드(N1)에 걸리게 되고 제1노드(N1)의 전압에 의해 피모스 트랜지스터(MP1)가 동작하게 되며 VN1와 Vthp값의 차가 제2노드(N2)에 걸리게 되고 제2노드의 전압(VN2)는 엔모스 트랜지스터(NM2)의 게이트 전압으로 인가되어 엔모스 트랜지스터를 구동하게 된다.
즉 엔모스 트랜지스터(NM1, NM2)의 over-drive voltage가 결정되면 그 값을 바탕으로 피모스 트랜지스터(PM1)의 필요한 Vthp값과 over-drive voltage값을 결정할 수 있게 된다.
이렇게 회로를 구성함으로써 출력노드(No)에서 바라본 엔모스 트랜지스터(NM1, NM2)의 저항을 노말 캐시코드 구조 대비 수십 배 증가시킬 수 있게 된다.
도 4는 본 발명에 의한 저전압 캐스코드 회로의 다른 실시예를 나타낸다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예의 회로에서는 접지전압(VSS)과 출력노드(No) 사이에는 전류원(CS3)이 연결되고, 출력노드(No)와 제3노드(N3) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM2)가 연결되고, 제3노드(N3)와 접지전압(VDD) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM3)가 연결된다. 접지전압(VSS)과 제4노드(N4) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM3)가 연결되고 제4노드(N4)와 전원전압(VDD) 사이에는 전류원(CS4)을 연결한다. 제4노드(N4)는 피모스 트랜지스터(PM2)의 게이트에 연결된다.
다른 실시예는 일 실시예와 비교하여 엔모스 트랜지스터는 피모스 트랜지스 터로 교체되고 피모스 트랜지스터는 엔모스 트랜지스터로 교체된 구조를 가진다.
도 5는 본 발명에 의한 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 이용한 전류미러를 나타낸다.
도 5를 참조하면, 저전압 전류미러는 전원전압(VDD)과 노드(N3) 사이에 연결된 전류원(CS3)과, 노드(N3)와 접지전압(VSS) 사이에 연결되고, 노드전압(VN3)이 바이어스 전압으로 피드백되게 연결된 제1 저전압 레귤레이티드 캐스코드부(LRC1)와, 전류원(CS3)의 전류를 출력노드(No)에 미러링시키기 위하여 출력노드(No)와 접지전압(VSS) 사이에 연결되고, 노드전압(VN3)이 바이어스 전압으로 연결된 저전압 레귤레이티드 캐스코드부(LRC2)를 포함한다.
저전압 레귤레이티드 캐스코드부(LRC2)는 출력노드(No)와 제1노드(N1) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM2)가 연결되고, 제1노드(N1)와 접지전압(VSS) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM1)가 연결된다. 전원전압(VDD)과 제2노드(N2) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM1)가 연결되고 제2노드(N2)와 접지전압(VSS) 사이에는 전류원(CS2)을 연결한다. 제2노드(N2)는 엔모스 트랜지스터(NM2)의 게이트에 연결된다. 엔모스 트랜지스터(NM1)의 게이트에는 노드전압(VN3)이 인가된다.
저전압 레귤레이티드 캐스코드부(LRC1)는 노드(N3)와 노드(N5) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM4)가 연결되고, 노드(N5)와 접지전압(VSS) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM3)가 연결된다. 전원전압(VDD)과 노드(N4) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM2)가 연결되고 노드(N4)와 접지전압(VSS) 사이에는 전류원(CS4)을 연결한다. 노드(N4)는 엔모스 트랜지스터(NM4)의 게이트에 연결된다. 엔모스 트랜지스터(NM3)의 게이트에는 노드전압(VN3)이 인가된다.
이렇게 전류미러회로를 구성함으로써 출력노드(No)에서 바라본 엔모스 트랜지스터(NM1, NM2)의 저항을 노말 캐시코드 구조 대비 수십 배 증가시킬 수 있게 된다.
도 6은 본 발명에 의한 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로를 이용한 증폭기의 출력단을 나타낸다. 증폭기 출력단은 풀업부(PU)와 풀다운부(PD)로 구성된다. 풀다운부(PD)는 출력노드(No)와 제1노드(N1) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM2)가 연결되고, 제1노드(N1)와 접지전압(VSS) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM1)가 연결된다. 전원전압(VDD)과 제2노드(N2) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM1)가 연결되고 제2노드(N2)와 접지전압(VSS) 사이에는 전류원(CS2)을 연결한다. 제2노드(N2)는 엔모스 트랜지스터(NM2)의 게이트에 연결된다. 풀업부(PU)는 출력노드(No)와 제3노드(N3) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM2)가 연결되고, 제3노드(N3)와 접지전압(VDD) 사이에는 피모스 트랜지스터(PM3)가 연결된다. 접지전압(VSS)과 제4노드(N4) 사이에는 엔모스 트랜지스터(NM3)가 연결되고 제4노드(N4)와 전원전압(VDD) 사이에는 전류원(CS4)을 연결한다. 제4노드(N4)는 피모스 트랜지스터(PM2)의 게이트에 연결된다. 피모스 트랜지스터(PM3)의 게이트에는 바이어스 전압(Vb1)이 인가되고 엔모스 트랜지스터(NM1)의 게이트에는 입력신호(Vin)가 인가된다.
그러므로, 큰 출력저항을 유지하여 높은 게인을 획득할 수 있고 넓은 출력전압 스윙 폭을 유지할 수 있으며 회로 동작을 안정되게 유지할 수 있다.
도 7은 본 발명과 종래의 캐스코드 구조를 비교하여 시뮬레이션 진행한 결과 를 나타낸다. 시뮬레이션 진행한 결과 15dB가량 개선됨을 확인하였고 최적화를 진행한다면 20dB이상도 개선 가능하다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에서는 레귤레이션 트랜지스터를 디플리션 타입의 PMOS 트랜지스터를 사용하고 엔모스 트랜지스터들의 문턱전압보다 높은 문턱전압을 유지하도록 함으로써 1V 이하의 동작전압에서도 큰 출력저항과 넓은 줄력전압 스윙 폭을 유지하면서도 동작특성이 안정된다.

Claims (8)

  1. 출력단자와 제1노드 사이에 연결되고 제1전도형의 제1모스 트랜지스터;
    게이트에 바이어스 전압이 인가되고 상기 제1노드와 제2전원단자 사이에 연결된 제1전도형의 제2모스 트랜지스터;
    상기 제1전원단자와 상기 제1모스 트랜지스터의 게이트 사이에 연결되고 상기 제1전도형과는 다른 제2전도형을 가진 제3모스 트랜지스터; 및
    상기 제1모스 트랜지스터의 게이트와 상기 제2전원전압 사이에 연결된 제1전류원을 구비한 것을 특징으로 하는 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1전원단자에 인가되는 전원전압이 상기 제2전원단자에 인가되는 전원전압보다 높고,
    상기 제1 및 제2모스 트랜지스터의 제1전도형은 N형이고 상기 제3모스 트랜지스터의 제2전도형은 P형인 것을 특징으로 하는 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1전원단자에 인가되는 전원전압이 상기 제2전원단자에 인가되는 전원전압보다 낮고,
    상기 제1 및 제2모스 트랜지스터의 제1전도형은 P형이고 상기 제3모스 트랜지스터의 제2전도형은 N형인 것을 특징으로 하는 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회 로.
  4. 제1항 및 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제3모스 트랜지스터의 문턱전압이 상기 제1 및 제2모스 트랜지스터의 문턱전압보다 높은 것을 특징으로 하는 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1전원단자에 인가되는 전원전압과 상기 제2전원단자에 인가되는 전원전압의 전위차는 1V이하인 것을 특징으로 하는 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로.
  6. 제4항에 있어서, 상기 제3모스트랜지스터는 높은 문턱전압을 유지하기 위하여 바디 바이어스된 것을 특징으로 하는 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로.
  7. 제1전원단자와 제1노드 사이에 연결된 제1전류원;
    상기 제1노드와 제2전원단자 사이에 연결되고, 상기 제1노드전압이 바이어스 전압으로 피드백되게 연결된 제1 저전압 레귤레이티드 캐스코드부; 및
    상기 제1전류원의 전류를 출력노드에 미러링시키기 위하여 상기 출력노드와 상기 제2전원단자 사이에 연결되고, 상기 제1노드전압이 바이어스 전압으로 연결된 제2 저전압 레귤레이티드 캐스코드부를 구비한 것을 특징으로 하는 시모스 아날로그 회로.
  8. 제1전원단자와 출력노드 사이에 연결되고 바이어스 전압이 인가되는 제1저전압 레귤레이티드 캐스코드 풀업부; 및
    상기 출력노드와 제2전원단자 사이에 연결되고 입력전압이 인가되는 제2저전압 레귤레이티드 캐스코드 풀다운부를 구비한 것을 특징으로 하는 시모스 아날로그 회로.
KR1020060018026A 2006-02-24 2006-02-24 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스아날로그 회로 KR101163457B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060018026A KR101163457B1 (ko) 2006-02-24 2006-02-24 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스아날로그 회로
CN2007101288849A CN101098126B (zh) 2006-02-24 2007-02-17 调节的共源-共栅放大电路及包括其的cmos模拟电路
US11/709,955 US7576613B2 (en) 2006-02-24 2007-02-23 Regulated cascode circuits and CMOS analog circuits including the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060018026A KR101163457B1 (ko) 2006-02-24 2006-02-24 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스아날로그 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070087987A true KR20070087987A (ko) 2007-08-29
KR101163457B1 KR101163457B1 (ko) 2012-07-18

Family

ID=38443415

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060018026A KR101163457B1 (ko) 2006-02-24 2006-02-24 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스아날로그 회로

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7576613B2 (ko)
KR (1) KR101163457B1 (ko)
CN (1) CN101098126B (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101418122B1 (ko) * 2007-12-29 2014-07-11 엘지디스플레이 주식회사 인버터
WO2021246641A1 (ko) * 2020-06-05 2021-12-09 한양대학교 산학협력단 전류 모드 로직 회로

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4859754B2 (ja) * 2007-05-28 2012-01-25 株式会社リコー 基準電圧発生回路及び基準電圧発生回路を使用した定電圧回路
US8264200B2 (en) * 2009-05-15 2012-09-11 Texas Instruments Incorporated Multi-cell power system controller
ITBO20100337A1 (it) * 2010-05-31 2011-12-01 Nat Semiconductor Bv Dispositivo di controllo di alimentatori stacked con anello a rilevamento duplicato
US9893680B2 (en) * 2012-05-10 2018-02-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Regulating cascode circuit with self-calibration capability
US20150054581A1 (en) * 2013-08-26 2015-02-26 Qualcomm Incorporated Combination nmos/pmos power amplifier
US9746869B2 (en) 2013-12-05 2017-08-29 Samsung Display Co., Ltd. System and method for generating cascode current source bias voltage
US10014829B2 (en) * 2015-12-23 2018-07-03 Omni Design Technologies, Inc. Non-inverting amplifier circuits

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5142696A (en) * 1991-04-16 1992-08-25 Motorola, Inc. Current mirror having increased output swing
US5359296A (en) 1993-09-10 1994-10-25 Motorola Inc. Self-biased cascode current mirror having high voltage swing and low power consumption
US5504444A (en) * 1994-01-24 1996-04-02 Arithmos, Inc. Driver circuits with extended voltage range
US5966005A (en) 1997-12-18 1999-10-12 Asahi Corporation Low voltage self cascode current mirror
JP3751812B2 (ja) 2000-09-21 2006-03-01 株式会社東芝 カスコードトランジスタを出力段に有する電子回路装置
KR100658922B1 (ko) 2000-10-26 2006-12-15 매그나칩 반도체 유한회사 출력임피던스를 개선시킨 캐스코드 스테이지 및 그를사용한 캐스코드 증폭기
US6456540B1 (en) * 2001-01-30 2002-09-24 Intel Corporation Method and apparatus for gating a global column select line with address transition detection
US6590453B2 (en) * 2001-09-21 2003-07-08 Silicon Storage Technology, Inc. Folded cascode high voltage operational amplifier with class AB source follower output stage
US6727758B2 (en) 2002-05-28 2004-04-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Fast cascaded class AB bipolar output stage

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101418122B1 (ko) * 2007-12-29 2014-07-11 엘지디스플레이 주식회사 인버터
WO2021246641A1 (ko) * 2020-06-05 2021-12-09 한양대학교 산학협력단 전류 모드 로직 회로

Also Published As

Publication number Publication date
US20070200632A1 (en) 2007-08-30
CN101098126A (zh) 2008-01-02
US7576613B2 (en) 2009-08-18
CN101098126B (zh) 2011-02-09
KR101163457B1 (ko) 2012-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101163457B1 (ko) 저전압 레귤레이티드 캐스코드 회로 및 이를 이용한 시모스아날로그 회로
US9030186B2 (en) Bandgap reference circuit and regulator circuit with common amplifier
US7262662B2 (en) Operational amplifier
US8476967B2 (en) Constant current circuit and reference voltage circuit
US20060022745A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
CN110737298B (zh) 一种参考电压产生电路
US6924702B2 (en) Low supply voltage and self-biased high speed receiver
US7932712B2 (en) Current-mirror circuit
JP2011528170A (ja) サブスレッショルド集積回路におけるプロセスばらつき防止方法およびボディ電位変調回路
US20210286394A1 (en) Current reference circuit with current mirror devices having dynamic body biasing
US20180287576A1 (en) Transconductance amplifier
JP2022156360A (ja) 基準電流源
JP2007206972A (ja) 基準電圧発生回路
CN109643137B (zh) 低压参考电流电路
CN109582077B (zh) 低耗电电源启动重设电路与参考信号电路
US8547175B2 (en) Output circuit
KR101766586B1 (ko) 콘스탄트 트랜스 컨덕턴스 전류 소스 및 이를 이용한 연산 증폭기
JP4238106B2 (ja) 論理回路
JP7479753B2 (ja) 差動増幅器
JP3806109B2 (ja) 低電圧増幅回路
EP1931032B1 (en) Bias circuit
JP5203809B2 (ja) 電流ミラー回路
Kumar Low-voltage current-mode analog cells
JP2010219486A (ja) 中間電位発生回路
JP2003150258A (ja) バイアス電圧発生回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150630

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160630

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170630

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180629

Year of fee payment: 7