KR20070082053A - 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호처리 방법 - Google Patents

Abstract

래그(lag) 신호값에 근거해서 결정된 초기값(스텝T2)에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연분을 제거하고, 보정 후 X선 검출신호를 구하므로, 재귀적 연산처리의 기점 시(時)에 잔류하고 있는 래그(lag) 신호값을 고려한 상태로 시간지연분을 제거할 수가 있다. 래그 신호값은 ＦＰＤ(플랫 패널형 X선 검출기)의 특성에 의존하므로, 지연신호값을 고려한 상태로 시간지연분을 제거함으로써, ＦＰＤ의 특성에 영향을 받지 않고, X선 검출신호로부터 시간지연분을 보다 정확하게 제거할 수가 있다.

래그 신호값, 시간 지연분, X선 검출신호

Description

방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호처리 방법{RADIOGRAPHIC APPARATUS AND RADIATION DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD}

※발명을 설명하기 위해서 현재 가장 알맞다고 생각되는 몇 개의 형태가 도시되어 있지만, 발명이 도시된 대로의 구성 및 방책에 한정되는 것은 아닌 것을 이해받고 싶다.

도1은, 실시예의 X선 투시 촬영장치의 전체구성을 나타내는 블록도이다. 도2는, 실시예 장치에 이용되고 있는 ＦＰＤ의 구성을 나타내는 평면도이다.

도3은, 실시예 장치에 의한 X선 촬영의 실행시의 X선 검출신호의 샘플링 상황을 나타내는 모식도이다.

도4는, 실시예에서의 X선검출 신호처리 방법의 순서를 나타내는 플로우 챠트이다.

도5는, 실시예에서의 X선검출 신호처리 방법에 있어서의 시간지연 제거용의 재귀적 연산처리 프로세스를 나타내는 플로우 챠트이다.

도6은, 방사선 입사상황을 나타내는 도이다.

도7은 、도6 의 입사상황에 대응한 시간지연 상황을 나타내는 도이다.

도8은, 촬영의 래그(시간지연분)가 투시에 겹친 시간지연 상황을 나타내는 도이다.

이 발명은, 피검체(被檢體)로의 방사선조사(放射線照射)에 따라 방사선 검출수단으로부터 소정의 샘플링 시간간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 근거해서 방사선화상(放射線畵像)이 얻을 수 있도록 구성되어 있는 의료용 혹은 공업용 방사선 촬상장치(撮像裝置) 및 방사선 검출신호처리 방법에 관하며, 특히, 방사선 검출수단으로부터 선택된 방사선 검출신호로부터 방사선 검출수단에 기인하는 시간지연분(分)을 제거하기 위한 기술에 관한 것이다.

방사선 촬상장치의 대표적인 장치의 하나인 의료용 X선 진단장치에 있어서, 최근, X선관에 의한 X선 조사(照射)에 따라 생기는 피검체의 X선투과상(透過像)을 검출하는 X선 검출기로서, 반도체 등을 이용한 다수개의 X선 검출소자를 X선 검출면에 종횡으로 배열한 플랫 패널형 X선 검출기 (이하, 적당히 「ＦＰＤ 」라고 한다)가 이용되고 있다.

즉, X선 진단장치로는, X선관에 의한 피검체로의 방사선조사에 따라 ＦＰＤ로부터 샘플링 시간간격으로 선택되는 X선 화상 1매분의 X선 검출신호에 근거하여, 샘플링 시간간격마다 피검체의 X선투과상에 대응하는 X선 화상을 얻을 수 있는 구성이 취해지고 있다. ＦＰＤ를 이용했을 경우, 종래부터 이용되고 있는 이미지 인텐시파이어 등에 비해, 가볍고, 또한, 복잡한 검출 일그러짐이 발생하지 않으므로, 장치구조면이나 화상처리면에서 유리하다.

그렇지만, ＦＰＤ를 이용했을 경우, ＦＰＤ에 기인하는 시간지연에 의한 악영향이 X선화상에 나타나는 문제가 있다. 구체적으로는, ＦＰＤ로부터 X선 검출신호를 선택하는 샘플링 시간간격이 짧을 경우, 전부 선택할 수 없는 신호의 나머지가 시간지연분으로서 다음 X선 검출신호에 가해진다. 이로 인해, ＦＰＤ로부터 1초간에 30회의 샘플링 시간간격으로 화상 1매분의 X선 검출신호를 선택하고 X선화상을 작성하여 동화(動畵)표시할 경우, 시간지연분이 앞의 화면에 잔상으로서 나타나고, 화상 겹침이 생긴다, 그 결과, 동화상이 희미해지는 등의 불량이 생긴다.

이 ＦＰＤ의 시간지연 문제에 대하여, 미국특허명세서 제5249123호에서는, 컴퓨터 단층화상(ＣＴ화상) 취득의 경우에 있어서, ＦＰＤ로부터 샘플링 시간간격Δt에서 선택되는 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 연산처리로 제거하는 기술이 제안되어 있다.

즉, 상기 미국특허명세서에서는, 샘플링 시간 간격에서 선택되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 시간지연분이 몇 개인가의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서, 방사선 검출신호 y_k로부터 시간지연분을 제거한 지연 제거 방사선 검출신호 x_k 라고 하는 연산 처리를 다음 식에 의해 행하고 있다.

x_k =[y_k-Σ^N _{n =1}{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·S_nk}]/Σ^N _{n =1}β_n

여기에서, T_n ＝－Δt/τ_n, S_nk = X_{k -1} + exp(T_n)·Ｓ_n(k-1),

β_{n =} α_n·[1-exp(T_n)]

단, Δt : 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열(時系列) 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n ：지수함수 n의 강도

τ_n ： 지수함수 n의 감쇠시정수(減衰時定數)

그렇지만, 발명자들이 상기 미국 특허명세서가 제안하는 연산 처리기술을 적용 실시해 본 바에서는, 시간지연에 기인하는 아티팩트(artifact)가 회피(回避)되지 않으며, 또한, 제대로 된 X선 화상(畵像)도 얻을 수 없는 결과밖에 얻지 못하고, ＦＰＤ의 시간지연은 해소되지 않는 것이 확인되었다.

그러므로, 발명자는, 「일본국 특개2004-242741호 공보」의 수단을 먼저 제안하고 있다. 이 수단에 의하면, 이 ＦＰＤ의 시간지연에 대하여, 다음 재귀식a∼c에 의해, ＦＰＤ의 임펄스 응답에 기인하는 시간지연을 제거하고 있다.

X_k ＝ Y_k －Σ^N _{n =1}［α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·S_nk] … a

T_n = -Δt/τ_n … b

S_nk = X_{k -1} + exp(T_n)·Ｓ_n(k-1) … c

단, Δt : 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

X_{k -1} : 일시점 전의 X_k

S_{n (k-1)} : 일시점 전의 Ｓ_nk

exp ： 지수함수

N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n : 지수함수 n의 강도

τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

이 재귀식적(再歸式的) 연산에서는, ＦＰＤ의 임펄스 응답계수이다, N, α_n, τ_n 을 사전에 구해 놓고, 그것을 고정한 상태에서 방사선 검출신호 Y_k를 식a∼c에 적용하여, 그 결과, 시간지연분을 제거한 X_k 를 산출하게 된다.

또, 재귀적 연산처리를 위한 초기값은 아래와 같이 결정된다. 즉, k=0으로 설정되어서, 식a의 X₀=0, 식c의 S_n0=0 이 X선 조사 전(前)의 초기값으로서 모두 설정 된다. 지수함수의 수가 3개 (N=3)의 경우는, S₁₀, S₂₀, S₃₀이 모두 0으로 설정 되게 된다.

그렇지만, 이렇게 초기값을 결정할 경우에는, 재귀적 연산처리의 기점 시 (時)인 X선 비조사(非照射) 시(k=0 : 선두 프레임)에 시간지연분에 의한 잔류지연(지연신호값)이 없다는 가정에서 행하여지고 있다. 이하에서 자세히 설명한다. 도6 은, 방사선 입사상황을 나타내는 도이며, 도7은, 도6의 입사상황에 대응한 시간지연 상황을 나타내는 도이며, 도8은, 촬영의 래그(시간지연분)가 투시에 겹친 시간지연 상황을 나타내는 도이다. 도면 중의 시간 t0∼t1은 촬영, 시간 t2∼t3은 투시로의 입사이다.

도6에 도시한 바와 같이, 시간 t2∼t3의 사이에 X선이 입사되면, 입사선량(入射線量)에 응한 본래의 신호에, 도7에 사선으로 나타내는 시간지연분이 가해지고, 방사선 검출신호 Y_k는 도7 중에 굵은선으로 나타내게 된다. 상술한 「일본국 특개2004-242741호 공보」의 수단을 이용하고, 시간지연분, 즉 도7의 사선부분을 제거하고, 본래의 신호부분을 선택할 수 있다.

보통, 투시(透視)의 시작 시는, 도7에 도시한 바와 같이, 이전부터의 래그(lag)가 남아 있는 일은 없으므로, 상술한 시간지연분을 제거하는 보정 (「래그 보정」이라고도 불려지고 있다)을 상술한 「일본국 특개2004-242741호 공보」의 수단으로 문제없이 행할 수 있다.

그러나, 이러한 래그 특성은 ＦＰＤ의 센서에 따라 다르다. 래그가 큰 센서에서는, 이전의 투시에 의해 발생한 장기 래그가 잔상으로서 겹치거나, 혹은 촬영 후에 바로 투시를 재개하려고 했을 경우에는, 도8에 도시한 바와 같이, 시간 t0∼t1에서의 촬영 래그가 투시에 겹치거나 한다 (도8 중의 ｋ=0 을 참조). 이러한 경 우에는, 종래의 「일본국 특개2004-242741호 공보」의 수단으로는 대처할 수 없고, 래그 특성이 좋지 않은 센서를 불량품으로 하지 않으면 안된다.

이 발명은, 이러한 사정을 감안하여 이루어진 것이며, 방사선 검출수단의 특성에 영향을 받지 않고, 방사선 검출수단으로부터 선택된 방사선 검출신호로부터 방사선 검출수단에 기인하는 방사선 검출신호의 시간지연을 보다 정확하게 제거할 수 있는 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.

이 발명은, 이러한 목적을 달성하기 위해서, 다음과 같은 구성을 취한다.

즉, 이 발명에 관한 방사선 촬상장치는, 방사선 검출신호에 근거해서 방사선화상을 얻는 방사선 촬상장치에 있어서, 상기 장치는 이하의 요소를 포함한다 :

피검체를 향해서 방사선을 조사(照射)하는 방사선 조사수단

피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출수단

상기 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간간격으로 선택하는 신호 샘플링 수단을 갖추며;

피검체로의 방사선조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 샘플링 시간간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 근거해서 방사선화상을 얻을 수 있도록 상기 장치는 구성되어 있고 ;

상기 장치는 이하의 요소를 더 포함한다 :

샘플링 시간간격으로 선택되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수 개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 시간지연 제거수단;

상기 재귀적 연산처리의 기점(基点) 시에 잔류하고 있는 래그 신호값에 근거해서 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 결정하는 초기값 결정수단을 갖추고, ;

상기 초기값 결정수단으로 결정된 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 상기 시간지연 제거수단은 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구한다.

이 발명에 관한 방사선 촬상장치에 의하면, 방사선 조사수단에 의한 피검체에의 조사선(照射線)에 따라 방사선 검출수단으로부터 소정의 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을, 단수(單數) 또는 감쇠시정수가 다른 복수 개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서, 시간지연 제거수단이 제거한다. 각 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 때는, 재귀적 연산처리에 의해 행한다. 이 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값에 근거하고, 초기값 결정수단은 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 결정한다. 그리고, 초기값 결정수단에서 결정된 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연 제거수단은 시간지연분을 제거하고, 얻어진 보정 후 방사선 검출신호로부터 방사선화상이 취득된다.

이와 같이, 이 발명에 관한 방사선 촬상장치에 의하면, 초기값 결정수단으로 결정된 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연 제거수단은 시간지연분을 제거하고, 보정후 방사선 검출신호를 구하므로, 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거할 수가 있다. 래그 신호값은 방사선 검출수단의 특성에 의존하므로, 래그 신호값을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거함으로써 방사선 검출수단의 특성에 영향을 받지 않고, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 보다 정확하게 제거할 수가 있다. 또한, 래그 특성이 다소 나쁜 방사선 검출수단에서도, 실용상, 문제가 없는 시간지연분의 양으로 억제하고, 방사선 검출수단의 래그 특성허용 범위를 넓히며, 방사선 검출수단의 제품 수율을 향상시킬 수 있는 효과도 가져온다.

상기한 방사선 촬상장치에 있어서,

상기 시간지연 제거수단은 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C,

X_k ＝ Y_k －Σ^N _{n =1}［S_nk] … A

T_n = -Δt/τ_n … B

S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)} … C

단, t: 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

X_{k -1} : 일시점(一時点) 전의 X_k

S_{n (k-1)} : 일시점 전의 S_nk

exp ： 지수함수

N: 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n: 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n : 지수함수 n의 강도

τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

에 의해서 행함과 동시에, 초기값 결정수단은 초기값을 식 D,

X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ … D

단, γ_n : 어떤 감쇠시정수τ_n의 성분n의 잔류비율

Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점시(基点時)인 방사선 비조사(非照射) 시에 잔류하고 있는 래그 신호값

에 의해서 행하며, 상기 식D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식 A∼C에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하도록 구성하는 것이 바람직하다.

방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C에 의해 행할 경우에는, 식 A∼C 라는 간결한 점화식(漸化式)에 의해 시간지연분을 제 거한 보정 후 방사선 검출신호 X_k가 신속하게 구해진다. 예컨대, 도6에서 상기한 바와 같이, 시간 t2∼t3의 사이에 일정량의 방사선이 방사선 검출수단에 입사했을 경우, 방사선 검출수단에 시간지연이 없으면, 방사선 검출신호는, 도6에 도시한 바와 같이 일정한 값이 된다.

그러나, 실제로는 방사선 검출수단에 시간지연이 있으며, 도7에 사선으로 나타내는 시간지연분이 더해지므로, 방사선 검출신호Y_k는 도7 중에 굵은선으로 나타내게 된다.

방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C에 의해 행할 경우에 있어서는, 식A의 우변의 제2항 이후, 즉 식 C에서의 『Ｓ_nk=

exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)}』가 도7에 사선으로 나타내는 각각의 시간지연분에 해당하고, 이것이 방사선 검출신호 Y_k로부터 빼지므로, 보정 후 방사선 검출신호X_k 는 도6에 나타낸 시간지연분이 없게 된다.

또한, 도8에 도시한 바와 같이, 시간 t0∼t1에서의 촬영 래그가 투시에 겹치면, 재귀적 연산처리의 기점 시인 방사선 비조사(非照射) 시(時)(도8 에서는 k=0을 참조)에도, 시간 t0∼t1에서의 촬영에서 발생한 시간지연분에 의한 잔류 래그(래그 신호값)이 존재한다. 즉, 방사선 비조사 시에도 방사선 검출신호 Y_k의 초기값 Y₀ 는 0이 아니다. 그러므로, 식D와 같이 , X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀(Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점 시인 방사선 비조사 시에 잔류하고 있는 래그 신호값)에 의해 재귀적 연산처 리를 위한 초기값을 설정하고, 식D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 식A∼C에 의해 구해진 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구한다.

이러한 식D에 의해, 래그 신호값 Y₀을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거함으로써 방사선 검출수단의 특성에 영향을 받지 않고, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 의해 정확하게 제거할 수가 있다.

또, 각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례로서 이하와 같은 것이 있다. 즉, 각각의 잔류비율 γ_n을 식 E,

Σ^N _{n =1}[γ_n］≤1, 0≤γ_n … E

단, Σ^N _{n =1}[γ_n] : 성분n의 잔류비율 n의 총합

의 조건을 충족시키도록 설정하는 것이 바람직하다.

성분 n의 잔류비율 γ_n의 총합이 1을 넘으면 시간지연분이 과잉으로 제거되며, 반대로 성분 n의 잔류비율 n의 총합이 음의 값의 경우에는 시간지연분이 반대로 가산될 우려가 있다. 그러므로, 성분 n의 잔류비율 γ_n의 총합을 0 이상 1이하로 하고, 잔류비율 n을 0 이상으로 함으로써 시간지연분을 과부족 없이 제거할 수가 있다.

각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례에 있어서, 보다 구체적인 일 례로서 이하와 같은 것이 있다. 즉, 식 E는

Σ^N _{n =1}[γ_n ]= 1 … E´

의 조건을 만족시키는 동시에, 각각의 잔류비율 n을 식 F,

γ₁ = γ₂ =…= γ_n =…= γ_N-1 = γ_N … F

의 조건을 만족하도록 설정함으로써, 식 D는

S_n0 = Y₀/N … D´

로 나타내어 진다.

식 E´ 에 식 F를 대입함으로써 N·γ_n = 1이 된다. 따라서, 각각의 잔류비율 γ_n 은 γ_N = 1/N이 되고, 각각의 잔류비율 γ_n 은 (임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른) 지수함수의 개수 N으로 균등하게 분배된다. 이로부터, γ_N = 1/N을 식 D의 Ｓ_n0 =γ_n·Y₀ 에 대입함으로써 식 D´로 표현된다.

각각의 잔류비율 γ_n 을 설정하는 바람직한 일례에 있어서, 보다 구체적인 다른 일례로서 이하와 같은 것이 있다. 즉, 식 E 는

Σ^N _{n =1}［ γ_n ] < 1 … E″

의 조건을 만족시키는 동시에, 어떤 감쇠시정수τ_m의 성분 m에서의 γ_M잔류비율 , 그 이외의 잔류비율을 γ_N 식 G,

0 <γ_M< 1, γ_N= 0 … G

의 조건을 만족하도록 설정한다.

또한, 방사선 촬상장치에 있어서, 상기 방사선 검출수단의 일례는, 다수개의 X선 검출소자를 X 선 검출면에 종횡으로 배열한 플랫 패널형 X선 검출기이다.

또한, 이 발명에 관한 방사선 촬상장치는, 의료용장치에도 공업용장치에도 적용할 수 있다. 의료용장치의 일례는, X선 투시 촬영장치이며, 다른 일례는, X선ＣＴ장치이다. 공업용장치의 일례는, 비파괴 검사기기이다.

또한, 이 발명에 관한 방사선 검출신호 처리방법은, 피검체를 조사해서 검출된 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간간격으로 선택하고, 샘플링 시간간격으로출력되는 방사선 검출신호에 근거해서 방사선화상을 얻는 신호처리를 행하는 방사선 검출신호처리 방법에 있어서, 상기 방법은 이하의 공정을 포함한다 :

샘플링 시간간격으로 선택되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수 개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 공정;

그 재귀적 연산처리를 행할 때에 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값에 근거해서 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 결정하는 공정;

그 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하는 공정.

이 발명에 관한 방사선 검출신호처리 방법에 의하면, 이 발명에 관한 방사선 촬상장치를 가장 알맞게 실시할 수가 있다.

상기한 방사선 검출신호처리 방법에 있어서, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C에 의해 행할 경우의 방사선 촬상장치와 마찬가지로, 재귀적 연산처리 및 초기값의 일례로서 이하와 같은 것이 있다. 즉, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C,

X_k ＝ Y_k －Σ^N _{n =1}［S_nk] … A

T_n = -Δt/τ_n … B

S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)} … C

단, Δt: 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열(時系列) 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

X_{k -1} : 일시점(一時点) 전의 X_k

S_{n (k-1)} : 일시점 전의 S_nk

exp ： 지수함수

N: 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n: 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n : 지수함수 n의 강도

τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수(減衰時定數)

에 의해서 행함과 동시에, 초기값을 식 D,

X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ … D

단, γ_n : 어떤 감쇠시정수 τ_n의 성분 n의 잔류비율

Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점시(基点時)인 방사선 비조사(非照射) 시에 잔류하고 있는 래그(lag) 신호값

에 의해 행하며, 상기식 D에 의해 결정된 초기값에서의 조건에서, 상기식 A∼C에 의해 요청된 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출 신호를 구하는 것이 바람직하다.

방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C에 의해 행할 경우에 의하면, 이 재귀적 연산처리를 식 A∼C에 의해 행할 경우의 방사선 촬상장치를 가장 알맞게 실시할 수가 있다.

또, 각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례로서 이하와 같은 것이 있다. 즉, 각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례의 방사선 촬상장치와 같이, 각각의 잔류비율 γ_n을 식 E,

Σ^N _{n =1}[γ_n］≤1, 0≤γ_n … E

단, Σ^N _{n =1}［γ_n] : 성분 n의 잔류비율γ_n의 총합

의 조건을 만족시키도록 설정하는 것이 바람직하다.

각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례에 의하면, 각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례의 방사선 촬상장치를 가장 알맞게 실시할 수가 있다.

각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례에 있어서, 보다 구체적인 일례로서 이하와 같은 것이 있다. 즉, 각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 구체적인 일례의 방사선 촬상장치와 마찬가지로, 식 E는

Σ^N _{n =1}[γ_n］= 1 … E´

의 조건을 만족시킴과 동시에, 각각의 잔류비율γ_n을 식 F,

γ₁ = γ₂ =…= γ_n =…= γ_N-1 = γ_N … F

의 조건을 만족하도록 설정함으로써 식 D는

S_n0 = Y₀/N … D´

로 나타내어진다.

각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 일례에 있어서, 보다 구체적인 다른 일례로서 이하와 같은 것이 있다. 즉, 각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는 바람직한 구체적인 다른 일례의 방사선 촬상장치와 마찬가지로, 식 E는

Σ_n=1 ^N ［γ_n] < 1 … E″

의 조건을 만족시키는 동시에, 어떤 감쇠시정수τ_m의 성분m에서의 잔류비율γ_M, 그 이외의 잔류비율 γ_N을 식 G,

0 <γ_M <1, γ_N = 0 … G

의 조건을 만족시키도록 설정한다.

또한, 상기한 바와 같은 잔류비율을 γ_n이용하지 않고, 0 < S_n0 < Y₀을 만족하도록 Ｓ_n0을 초기값으로서 결정해도 좋다. 즉, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C,

X_k = Y_k －Σ^N _{n =1}［S_nk] … A

T_n = -Δt/τ_n … B

S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)} … C

단, Δt : 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

X_{k -1} : 일시점 전의 X_k

S_{n (k-1)} : 일시점 전의 Ｓ_nk

exp ： 지수함수

N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n : 지수함수 n의 강도

τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

에 의해서 행함과 동시에,

X₀=0, 0 < S_n0 < Y₀를 만족시키는 Ｓ_n0을 초기값으로서 결정하고,

결정된 초기값에서의 조건으로, 상기식 A∼C에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구해도 좋다.

또한, 상기식A∼C의 대신에 식 a∼c을 이용해도 좋다. 즉, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 a∼c,

X_k = Y_k －Σ^N _{n =1}［α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·S_nk] … a

T_n = -Δt/τ_n…b

S_nk = X_{k -1} + exp(T_n)·Ｓ_n(k-1) … c

단, Δt : 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

X_{k -1} : 일시점 전의 X_k

S_{n (k-1)} : 일시점 전의 Ｓ_nk

exp ： 지수함수

N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n : 지수함수 n의 강도

τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

에 의해서 행함과 동시에, 초기값을 식D,

X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ … D

단, γ_n : 어떤 감쇠시정수τ_n의 성분 n의 잔류 비율

Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점 시(時)인 방사선 비조사 시에 잔류하고 있는 지연신호값

에 의해서 행하며, 상기 식D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식a∼c에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구해도 좋다.

또한, 상기한 바와 같은 0 < S_n0 < Y₀를 만족시키는Ｓ_n0을 초기값으로서 결정한 예와, 상기한 바와 같은 식 a~c 를 이용한 예를 조합해도 좋다. 즉, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 a~c,

X_k = Y_k －Σ^N _{n =1}［α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·S_nk] … a

T_n = -Δt/τ_n … b

S_nk = X_{k -1} + exp(T_n)·Ｓ_n(k-1) … c

단, Δt : 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

X_{k -1} : 일시점 전의 X_k

S_{n (k-1)} : 일시점 전의 Ｓ_nk

exp ： 지수함수

N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n : 지수함수 n의 강도

τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

에 의해서 행함과 동시에,

X₀ = 0, 0 < S_n0 < Y₀을 만족시킬 수 있는 S_n0을 초기값으로서 결정하고,

결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식 A∼C에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구해도 좋다.

(실시형태)

이하, 이 발명의 가장 알맞은 실시예를 도면에 근거해서 상세히 설명한다.

도1 은, 실시예에 관한 X선 투시 촬영장치의 전체구성을 나타내는 블록도이다.

X선 투시 촬영장치는, 도1에 도시한 바와 같이, 피검체M을 향해서 X선을 조사(照射)하는 X선관(1)과, 피검체M을 투과한 X선을 검출하는 ＦＰＤ(플랫 패널형 X선검출기)(2)와, ＦＰＤ(2)로부터 X선 검출신호를 소정의 샘플링 시간간격Δt로 디지탈화해서 선택하는 Ａ/D변환기(3)와, A/D변환기(3)으로부터 출력되는 X선 검출 신호에 근거해서 X선 화상을 작성하는 검출 신호처리부(4)와, 검출 신호처리부(4)로 취득된 X선 화상을 표시하는 화상 모니터(5)를 갖추고 있다. 즉, 피검체M으로의 X선 조사에 따라 A/D변환기(3)으로 ＦＰＤ(2)로부터 선택되는 X선 검출신호에 근거해서 X선 화상을 얻을 수 있도록 본 실시예 장치는 구성되고 있으며, 취득된 X선 화상이 화상 모니터(5)의 화면에 비춰진다. 이하, 본 실시예 장치의 각부 구성을 구체적으로 설명한다. X선관(1)은, 이 발명에 있어서의 방사선 조사수단에 상당하고, ＦＰＤ(2)는, 이 발명에 있어서의 방사선 검출수단에 상당하고, A/D변환기(3) 은, 이 발명에 있어서의 신호 샘플링 수단에 상당한다. 또한, X선검출 신호는, 이 발명에 있어서의 방사선 검출신호에 상당하고, X선 화상은, 이 발명에 있어서의 방사선화상에 상당한다.

피검체M을 끼워서 X선관(1)과 ＦＰＤ(2)과를 대향 배치한다.구체적으로는, X선촬영의 때에 X선 조사 제어부(6)의 제어를 받으면서, X선관(1)은 피검체M에 콘 빔 모양의 X선을 조사함과 동시에, X선 조사에 따라 생기는 피검체M의 투과X선상이 ＦＰＤ(2)의 X선 검출면에 투영되도록, X선관(1) 및 ＦＰＤ(2)을 대향 배치한다.

X선관 이동기구(7) 및 X선 검출기 이동기구(8)에 의해 X선관(1) 및 ＦＰＤ(2)가 피검체M에 따라 왕복이동 가능하도록 각각을 구성한다. 또한, X선관(1) 및 ＦＰＤ(2)의 이동에 즈음해서는, X선관 이동기구(7) 및 X선 검출기 이동기구(8)가 조사 검출계 이동 제어부(9)의 제어를 받아서 X선의 조사 중심이 ＦＰＤ(2)의 X선검출면의 중심에 항상 일치하는 상태가 유지되도록 하고, X선관(1)과 ＦＰＤ(2)와의 대향 배치를 유지한 상태로 함께 이동시킨다. X선관(1) 및 ＦＰＤ(2)이 이동함에 따라서 피검체M으로의 X선 조사위치가 변화됨에 따라 촬영 위치가 이동한다.

ＦＰＤ(2)는, 도2에 도시한 바와 같이, 피검체M으로부터의 투과 X선상(X線像)이 투영되는 X선 검출면에 다수의 X선 검출소자 2a가 피검체M의 체축(體軸)방향X와 체측(體側)방향Y에 따라 종횡으로 배열되어 구성되어 있다. 예컨대, 세로 30cm × 가로 30cm 정도의 넓이인 X선 검출면에 X선 검출소자 2a가 세로 1536 × 가로1536의 매트릭스로 종횡으로 배열되어 있다. ＦＰＤ(2)의 각 X선 검출소자 2a가 검출 신호처리부(4)로 작성되는 X선 화상의 각 화소와 대응관계에 있고, ＦＰＤ(2)로 부터 선택된 X선 검출신호에 근거해서 X선 검출면에 투영된 투과 X선상에 대응하는 X선 화상이 검출 신호처리부(4)로 작성된다.

A/D 변환기(3)은, X선 화상 1매 분씩의 X선 검출신호를 샘플링 시간간격Δt로 연속적으로 선택하고, 후단(後段)의 메모리부(10)로 X선 화상작성용의 X선 검출 신호를 기억하고, X선 검출신호의 샘플링 동작(선택)을 X선 조사의 이전에 개시하도록 구성되어 있다.

즉, 도3에 도시한 바와 같이, 샘플링 시간간격Δt로, 그 시점의 투과 X선상에 관한 모든 X선 검출신호가 수집되어서 메모리부(10)에 잇달아 저장된다. X선을 조사하기 이전의 Ａ/D 변환기(3)에 의한 X선 검출신호의 선택 개시는, 오퍼레이터의 수동조작에 의해 행하여지는 구성이어도 좋고, X선 조사 지시조작 등과 연동(連動)해서 자동적으로 행하여지는 구성이어도 좋다.

또한, 본 실시예의 X선 투시 촬영장치는, 도1에 도시한 바와 같이, 재귀적 연산처리에 의해 각 X선 검출신호로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 X선 검출신호를 산출하는 시간지연 제거부(11)과, 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 결정하는 초기값 결정부(12)를 갖추고 있다. 시간지연 제거부(11)는, 이 발명에 있어서의 시간지연 제거수단에 상당하고, 초기값 결정부(12)는, 이 발명에 있어서의 초기값 결정수단에 상당한다.

시간지연분은, ＦＰＤ(2)로부터 샘플링 시간간격으로 선택되는 각 X선 검출 신호에 포함되어 있다. 그 시간지연분을 감쇠시정수(減衰時定數)가 다른 단수 또는 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 상술한 재귀적 연산처 리를 행하고, 각 X선 검출신호로부터 시간지연분을 제거한다.

재귀적 연산처리를 위한 초기값을 초기값 결정부(12)로 결정하기 위해서는, 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값에 근거해서 행한다. 여기에서, 재귀적 연산처리의 기점 시(時)란, 선두 프레임에 있어서의 X선 비조사시(k=0)를 나타내고, 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값은, 그 X선 비조사 시에 잔류하고 있는 래그 신호값 Y₀를 나타낸다. 그리고, 초기값 결정부(12)로 결정된 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연 제거부(11)는 시간지연분을 제거하고, 보정 후 X선 검출신호를 구한다.

ＦＰＤ(2)의 경우, 도7에 도시한 바와 같이, 각 시각에서의 X선 검출신호에는, 과거의 X선 조사에 대응하는 신호가 시간지연분(도7 중의 사선부분을 참조)으로서 포함된다. 이 시간지연분을 시간지연 제거부(11)로 제거해서 시간지연이 없는 보정 후 X선 검출신호로 한다. 이 보정 후 X선 검출신호에 근거하여, X선 검출면에 투영된 투과 X선상에 대응하는 X선 화상을 검출신호 처리부(4)가 작성한다.

구체적으로 시간지연 제거부(11)는, 각 X선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를, 다음 식 A∼C을 이용해서 행한다.

X_k ＝ Y_k －Σ^N _{n =1}［S_nk] … A

T_n = -Δt/τ_n … B

S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)} … C

단, t: 샘플링 시간간격

k : 샘플링 한 시계열(時系列) 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

X_{k -1} : 일시점(一時点) 전의 X_k

S_{n (k-1)} : 일시점 전의 S_nk

exp ： 지수함수

N: 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

n: 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

α_n : 지수함수 n의 강도

τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수(減衰時定數)

즉, 식 A의 우변의 제2항 이후, 즉 식 C에서의 『 S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)}』이 시간지연분에 해당하므로, 본 실시예 장치로는, 시간지연분을 제거한 보정 후 X선 검출신호 X_k 가 식 A∼C 라는 간결한 점화식(漸化式)에 의해 신속하게 구해진다.

여기에서, 재귀적 연산처리의 기점 시, 즉 선두 프레임에 있어서의 X선 비조사 시는, k=0 일 때이며, 재귀적 연산처리를 할 때에 k=0 일 때의 X_k, S_nk, 즉 초기 값을 다음 식 D와 같이 결정한다.

X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ … D

단, γ_n : 어떤 감쇠시정수 τ_n의 성분 n의 잔류비율

Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점시(基点時)인 방사선 비조사(非照射) 시에 잔류하고 있는 래그(lag) 신호값

예컨대, 도8에 도시한 바와 같이, 시간 t0∼t1에서의 촬영의 래그가 투시에 겹치면, 재귀적 연산처리의 기점 시인 X선 비조사 시(도8 에서는 k=0 을 참조)에도, 시간 t0∼t1에서의 촬영으로 발생한 시간지연분에 의한 잔류 래그(래그 신호값)가 존재한다. 즉, X선 비조사 시에도 X선 검출신호 Y_k의 초기값Y₀ 는 0이 아니다.

그러므로, 식 D와 같이 , X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ (Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점 시인 X선 비조사 시에 잔류하고 있는 래그 신호값)에 의해 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 설정하고, 식 D에 의해 결정된 초기값에서의 조건에서, 식 A∼C에 의해 구해진 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 X선 검출신호 X_k를 구한다.

또, 본 실시예 장치로는, A/D 변환기(3)나, 검출 신호처리부(4), X선 조사 제어부(6)나 조사 검출계 이동 제어부(9), 시간지연 제거부(11), 초기값 결정부(12)는, 조작부(13)로부터 입력되는 지시나 데이타 혹은 X선 촬영의 진행에 따라 서 주(主)제어부(14)로부터 송출되는 각종 명령에 따라서 제어처리를 실행한다.

다음으로, 상기의 본 실시예 장치를 이용해서 X선 촬영을 실행할 경우에 대해서, 도면을 참조하면서 구체적으로 설명한다. 도4는 실시예에서의 X선 검출신호처리방법의 순서를 나타내는 플로우 챠트이다. 또, 여기에서의 촬영은,도8 에 나타내는 것 같은 과거의 촬영이나, 이번 투시 혹은 촬영도 포함한다.

〔스텝S1〕X선 미조사의 상태에서 A/D 변환기(3)가 샘플링 시간간격Δt (= 1/30초)으로 ＦＰＤ(2)로부터 X선 조사 전(前)의 X선 화상 1매 분의 X선 검출신호Y_k 를 선택한다. 선택된 X선 검출신호를 메모리부(10)에 기억한다.

〔스텝S2〕오퍼레이터의 설정에 의해 X선이 연속 또는 단속적으로 피검체M에 조사되는 것과 병행하여, 샘플링 시간간격Δt에서 A/D 변환기(3)에 의한 X선 화상 1매 분의 X선 검출신호 Y_k 의 취득과 메모리부(10)으로의 기억을 계속한다.

〔스텝S3〕X선 조사가 종료하면 다음 스텝S4으로 진행하고, X선 조사가 종료하지 않으면 스텝S2로 되돌아간다.

〔스텝S4〕메모리부(10)로부터 1회의 샘플링으로 수집한 X선 화상 1매 분의 X선 검출신호 Y_k 를 판독한다.

〔스텝S5〕시간지연 제거부(11)가 식 A∼C에 의한 재귀적 연산처리를 하고, 각 X선 검출신호Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 X선 검출신호X_k 、 즉, 화소값을 구한다.

〔스텝S6〕검출 신호처리부(4)가 1회의 샘플링 분(分)(X선 화상 1매 분)의 보정 후 X선 검출신호 X_k 에 근거해서 X선 화상을 작성한다.

〔스텝S7〕작성한 X선 화상을 화상 모니터(5)에 표시한다.

〔스텝S8〕메모리부(10)에 미처리 X선 검출신호 Y_k 가 남아 있으면, 스텝S4로 되돌아가고, 미처리 X선 검출신호가 남아 있지 않으면, X선 촬영을 종료한다.

또, 본 실시예 장치로는, X선 화상 1매 분의 X선 검출신호Y_k 에 대한 시간지연 제거부(11)에 의한 보정 후 X선 검출신호 X_k 의 산출 및 검출신호 처리부(4)에 의한 X선 화상의 작성을 샘플링 시간간격Δt (= 1/30초)로 행한다. 즉, 1초간에 X선 화상을 30매 정도의 스피이드로 차례로 작성하고, 작성된 X선 화상을 연속 표시 할 수 있도록 구성한다. 따라서, X선 화상의 동화(動畵)표시가 가능하게 된다.

다음으로, 도4에 있어서의 스텝S5의 시간지연 제거부(11)에 의한 재귀적 연산처리의 프로세스에 대해서, 도5의 플로우 챠트를 이용해서 설명한다. 도5는 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법에 있어서 시간지연 제거용의 재귀적 연산처리 프로세스를 나타내는 플로우 챠트다.

〔스텝T1〕초기값 결정부(12)는, 과거의 촬영에서 발생한 시간지연분에 의한 잔류 래그(래그 신호값)를 수집한다. 구체적으로는, 선두 프레임에 있어서 A/D 변환기(3)가 ＦＰＤ(2)로부터 잔류 래그에 의한 X선 화상 1매 분의 X선 검출신호 Y₀를 선택한다. 이 X선 검출신호 Y₀ 는, 재귀적 연산처리의 기점 시(時)인 X선 비조사 시에 잔류하고 있는 래그 신호값 Y₀이기도 하다.

〔스텝T2〕k=0 으로 설정하고, 식 A의 X₀ = 0 을 초기값으로서 설정한다. 한편, 스텝T1로 취득된 래그 신호값 Y₀ 을 식 D에 대입함으로써 식 C의 S_n0을 구한다.여기에서, 어떤 감쇠시정수τ_n 의 성분 n의 잔류비율 γ_n을, 식 E의 조건을 만족시키도록 설정하는 것이 바람직하다.

즉,

Σ^N _{n =1}[γ_n］≤1, 0≤γ_n … E

단, Σ^N _{n =1}［γ_n] : 성분n의 잔류비율γ_n의 총합

의 조건을 만족시키도록 설정하는 것이 바람직하다.

성분n의 잔류비율 γ_n의 총합이 1을 넘으면 시간지연분이 과잉 제거되며, 반대로 성분n의 잔류비율 γ_n의 총합이 음의 값인 경우에는 시간지연분이 반대로 가산될 염려가 있다. 그러므로, 성분n의 잔류비율 γ_n의 총합을 0 이상 1 이하로 해서, 잔류비율 γ_n을 0 이상으로 함으로써 시간지연분을 과부족 없이 제거할 수가 있다.식 E에 대해서는, 다음 식 E 와 같이 해도 좋고, 다음 식 E″와 같이 해도 좋다.

즉, 식 E가 다음 식 E´의 경우에는, 식 E는,

Σ^N _{n =1}[γ_n ]= 1 … E´

의 조건을 만족시키는 동시에, 각각의 잔류비율 n을 식 F,

γ₁ = γ₂ =…= γ_n =…= γ_N-1 = γ_N … F

의 조건을 만족시키도록 설정한다.

식 E´에 식 F를 대입함으로써 Ｎ·γ_N = 1이 된다. 따라서, 각각의 잔류비율 γ_n 은 γ_N = 1/N 이 되고, 각각의 잔류비율 γ_n 은 (임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른) 지수함수의 개수 N으로 균등하게 분배된다. 이로부터,γ_N = 1/N 을 식D의 S_n0 = γ_n·Y₀ 에 대입함으로써 식 D는 다음 식 D´로 표현된다.

즉, 식 D는

S_n0 = Y₀/N … D´

로 표현된다. 지수함수의 수가 3개 (N=3)의 경우는, S₁₀, S₂₀, S₃₀을 식 D에 따라서 Y₀/3에 모두 설정한다.

또한, 식 E가 다음 식 E″의 경우에는, 식 E는,

Σ_n=1 ^N ［γ_n] < 1 … E″

의 조건을 만족시키는 동시에, 어떤 감쇠시정수τ_m의 성분m에서의 잔류비율 γ_M, 그 이외의 잔류비율 γ_N을 식 G,

0 <γ_M <1, γ_N = 0 … G

의 조건을 만족시키도록 설정한다. 지수함수의 수가 3개 (N=3)로, 감쇠시정수τ₂의 성분 γ₂에서의 잔류비율 γ₂가 0 < γ₂ <1 를 만족시키고(예컨대 γ₂ =0.1), 동시에 그 이외의 잔류 비율이 γ₁ = γ₃ = 0을 만족시킬 경우에는, S₁₀, S₃₀을 식 G 에 따라서 0으로 설정하는 동시에, S₂₀을 식 G 에 따라서 γ_2·Y₀ (예컨대 γ₂ = 0.1)로 설정 한다.

〔스텝T3〕식 A, C에서 k=1로 설정한다. 식 C, 즉 S_n1 = exp(T₁)·{α₁·[1-exp(T₁)]·exp(T₁)·Ｓ_n0}에 따라서 S₁₁, S₂₁, S₃₁을 구하고, 다시금 구해진 S₁₁, S₂₁, S₃₁과 X선 검출신호 Y₁을 식 A에 대입함으로써 보정 후 X선 검출신호 X₁을 산출한다.

〔스텝T4〕식 A, C에서 k를 1만 증가(k=k+1)시킨 후, 계속해서 식 C에 1시 점 전의 X_{k -1}을 대입해서 S_1k, S_2k, S_3k를 구하고, 다시금 구해진 S₁₁, S₂₁, S₃₁과 X선 검출신호 Y_k를 식 A에 대입함으로써 보정 후 X선 검출신호 X_k를 산출한다.

〔스텝T5〕미처리 X선 검출신호 Y_k가 있으면, 스텝T4로 되돌아가고, 미처리 X선 검출신호 Y_k가 없으면, 다음 스텝T6으로 진행한다.

〔스텝T6〕 1회의 샘플링 분(X선 화상1매 분)의 보정 후 제거 X선 검출신호X를 산출하고, 1회의 촬영분에 관한 재귀적 연산처리가 종료가 된다.

상기와 같이, 본 실시예의 X선 투시 촬영장치에 의하면, 초기값 결정부(12)로 결정된 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연 제거부(11)는 시간지연분을 제거하고, 보정 후 X선 검출신호를 구하므로, 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거할 수가 있다. 래그 신호값은 ＦＰＤ(플랫 패널형 X선검출기)(2)의 특성에 의존하므로, 래그 신호값을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거함으로써 ＦＰＤ(2)의 특성에 영향을 받지 않고, X선 검출신호로부터 시간지연분을 보다 정확하게 제거할 수가 있다. 또한, 래그 특성이 다소 나쁜 ＦＰＤ(2)라도, 실용상, 문제가 없는 시간지연분의 양으로 억제하고, ＦＰＤ(2)의 래그 특성 허용범위를 넓혀서, ＦＰＤ(2)의 제품 수율을 향상시킬 수 있는 효과도 가져온다.

본 실시예에서는, 식 A∼C 라는 간결한 점화식에 의해 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호 X_k가 신속하게 구해진다. 도6에 도시한 바와 같이, 시간 t2∼t3의 사이에 일정량의 X선이 ＦＰＤ(2)에 입사했을 경우, ＦＰＤ(2)에 시간지연이 없으면, X선 검출신호는,도6에 도시한 바와 같이 일정한 값이 된다.

그러나, 실제로는 ＦＰＤ(2)에 시간지연이 있으며, 도7에 사선으로 나타내는 시간지연분이 더해지므로, X선 검출신호 Y_k는 도7 중에 굵은 선으로 나타나게 된다.

본 실시예에 있어서는, 식 A의 우변의 제2항 이후, 즉 식 C에서의 『S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)}』이 도7에 사선으로 나타내는 각각의 시간지연분에 해당하고, 이것이 X선 검출신호 Y_k로부터 빼지므로, 보정 후 X선 검출 신호 X_k 는 도6에 나타내는 시간지연분이 없게 된다.

또한, 도8에 도시한 바와 같이, 시간 t0∼t1에서의 촬영의 래그가 투시에 겹 치면, 재귀적 연산처리의 기점 시인 X선 비조사 시(도8에서는 k=0을 참조)에도, 시간 t0∼t1에서의 촬영에서 발생한 시간지연분에 의한 잔류 래그(래그 신호값)이 존재한다. 즉, X선 비조사 시에도 X선 검출신호 Y_k의 초기값 Y₀는 0이 아니다. 그러므로, 식 D와 같이, X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀(Y₀:재귀적 연산처리의 기점 시인 X선 비조사 시에 잔류하고 있는 래그 신호값)에 의해 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 설정하고, 식 D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 식 A∼C에 의해 구해진 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 X선 검출신호를 구한다.

이러한 식 D에 의해, 래그 신호값 Y₀을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거함으로써 ＦＰＤ(2)의 특성에 영향을 받지 않고, X선 검출신호로부터 시간지연분을 보다 정확하게 제거할 수가 있다.

이 발명은, 상기실시 형태에 한정되는 일은 없고, 하기와 같이 변형 실시할 수가 있다.

(1)상기의 실시예에서는, 방사선 검출수단이 ＦＰＤ이었지만, 이 발명은, ＦＰＤ이외의 X선 검출신호의 시간지연이 생기는 방사선 검출수단을 이용한 구성의 장치에도 이용할 수 있다.

(2)상기의 실시예 장치는 X선 투시 촬영장치였지만, 이 발명은 X선 ＣＴ장치와 같이 X선 투시 촬영장치 이외의 것에도 적용할 수가 있다.

(3)상기의 실시예 장치는 의료용 장치였지만, 이 발명은, 의료용에 한하지 않고, 비파괴 검사기기 등의 공업용장치에도 적용할 수가 있다.

(4)상기의 실시예 장치는, 방사선으로서 X선을 이용하는 장치이었지만, 이 발명은, X선에 한하지 않고, X선이외의 방사선 (예컨대 선)을 이용하는 장치에도 적용 할 수가 있다.

(5)상기의 실시예에서는, 초기값을 식 D (X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀)에 의해 결정했지만, 잔류비율 γ_n을 이용하지 않고, 0 < S_n0 < Y₀을 만족시키도록 S_n0을 초기값으로서 결정해도 좋다.

(6)상기의 실시예에서는, 식D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 식 A∼C에 의해 구해진 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구했지만, 「일본국 특개2004-242741호 공보」의 수단에서도 언급한 것과 같이, 식 a∼c에 의해 구해진 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거할 경우에 있어서도 식D에 의해 결정된 초기값에서의 조건을 적용해도 좋다. 즉, 식 D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 식 a∼c에 의해 요청된 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구해도 좋다.

(7)상기의 실시예에서는, 바람직하게는 각각의 잔류비율 γ_n을 설정하는데도 식 E (Σ^N _{n =1}[γ_n］≤1, 0≤γ_n )의 조건을 만족시키고, 그 식 E의 조건을 만족시키는 일례로서, 식 E´(Σ^N _{n =1}[γ_n］= 1)를 만족시키는 동시에, 각각의 잔류비율 γ_n을 식 F ( γ₁ = γ₂ =…= γ_n =…= γ_N-1 = γ_N … F )의 조건을 만족하도록 설정한다, 또 는 E의 조건을 만족시키는 다른 일례로서, 식 E″(Σ^N _{n =1}［γ_n] < 1 )의 조건을 만족시키는 동시에, 어떤 감쇠시정수τ_m의 성분m에서의 잔류비율 γ_M, 그 이외의 잔류비율 γ_N을 식 G (0 < γ_N <1, γ_n = 0)의 조건을 만족시키도록 설정했지만, 식 E의 조건을 만족시키는 것이라면, 이들에 한정되지 않는다.

※ 이 발명은, 그 사상 또는 본질로부터 일탈하지 않고 다른 구체적 형태로 실시할 수 있으며, 따라서, 발명의 범위를 나타내는 것으로서, 상기의 설명이 아니라, 부가된 클레임을 참조해야 한다.

이 발명에 관한 방사선 촬상장치에 의하면, 초기값 결정수단으로 결정된 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연 제거수단은 시간지연분을 제거하고, 보정후 방사선 검출신호를 구하므로, 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거할 수가 있다. 래그 신호값은 방사선 검출수단의 특성에 의존하므로, 래그 신호값을 고려한 상태에서 시간지연분을 제거함으로써 방사선 검출수단의 특성에 영향을 받지 않고, 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 보다 정확하게 제거할 수가 있다. 또한, 래그 특성이 다소 나쁜 방사선 검출수단에서도, 실용상, 문제가 없는 시간지연분의 양으로 억제하고, 방사선 검출수단의 래그 특성허용 범위를 넓히며, 방사선 검출수단의 제품 수율을 향상시킬 수 있는 효과를 가져온다.

Claims (19)

1. 방사선 검출신호에 근거해서 방사선화상(放射線畵像)을 얻는 방사선 촬상(撮像)장치에 있어서,

   피검체(被檢體)를 향해서 방사선을 조사하는 방사선 조사(照射)수단;

   피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출수단;

   상기 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간간격으로 선택하는 신호 샘플링 수단을 갖추고 ;

   피검체에의 방사선조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 샘플링 시간간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 근거해서 방사선화상을 얻을 수 있도록 상기 장치는 구성되어 있고 ;

   상기 장치는,

   샘플링 시간간격으로선택되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수(單數) 또는 감쇠시정수(減衰時定數)가 다른 복수 개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적(再歸的) 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 시간지연 제거수단;

   상기 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 지연(lag) 신호값에 근거해서 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 결정하는 초기값 결정수단을 더 갖추고, ;

   상기 초기값 결정수단에서 결정된 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 상기 시간지연 제거수단은 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하는 요소를 포함하는 방사선 촬상장치.
2. 제1항에 있어서,

   상기 시간지연 제거수단은 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C,

   X_k ＝ Y_k －Σ^N _{n =1}［S_nk] … A

   T_n = -Δt/τ_n … B

   S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)} … C

   단, Δt: 샘플링 시간간격

   k : 샘플링 한 시계열(時系列) 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

   Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

   X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

   X_{k -1} : 일시점(一時点) 전의 X_k

   S_{n (k-1)} : 일시점 전의 S_nk

   exp ： 지수함수

   N: 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

   n: 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

   α_n : 지수함수 n의 강도

   τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수(減衰時定數)

   에 의해서 행함과 동시에, 초기값 결정수단은 초기값을 식 D,

   X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ … D

   단, γ_n : 어떤 감쇠시정수τ_n의 성분n의 잔류비율

   Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점시(基点時)인 방사선 비조사(非照射) 시에 잔류하고 있는 래그(lag) 신호값

   에 의해서 행하며, 상기 식 D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식 A∼C에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하도록 구성하는 방사선 촬상장치.
3. 제2항에 있어서,

   각각의 잔류비율γ_n을 식 E,

   Σ^N _{n =1}[γ_n］≤1, 0≤γ_n … E

   단, Σ^N _{n =1}［γ_n] : 성분n의 잔류비율γ_n의 총합

   의 조건을 만족시키도록 설정하는 방사선 촬상장치.
4. 제3항에 있어서,

   식E는

   Σ^N _{n =1}[γ_n ]= 1 … E´

   의 조건을 만족시키는 동시에, 각각의 잔류비율 n을 식 F,

   γ₁ = γ₂ =…= γ_n =…= γ_N-1 = γ_N … F

   의 조건을 만족시키도록 설정함으로써 식 D는

   S_n0 = Y₀/N … D´

   로 표현되는 방사선 촬상장치.
5. 제3항에 있어서,

   식 E는

   Σ_n=1 ^N ［γ_n] < 1 … E″

   의 조건을 만족시키는 동시에, 어떤 감쇠시정수τ_m의 성분m에서의 잔류비율 γ_M, 그 이외의 잔류비율 γ_N을 식 G,

   0 <γ_M <1, γ_N = 0 … G

   의 조건을 만족시키도록 설정하는 방사선 촬상장치.
6. 제1항에 있어서,

   상기 방사선 검출수단은, 다수개의 X선 검출소자를 X선 검출면에 종횡으로 배열한 플랫 패널형 X선 검출기인 방사선 촬상장치.
7. 제1항에 있어서,

   상기 장치는 의료용장치인 방사선 촬상장치.
8. 제7항에 있어서,

   상기 의료용장치는, X선 투시 촬영장치인 방사선 촬상장치.
9. 제7항에 있어서,

   상기 의료용장치는, X선 ＣＴ장치인 방사선 촬상장치.
10. 제1항에 있어서,

    상기 장치는 공업용장치인 방사선 촬상장치.
11. 제10항에 있어서,

    상기 공업용장치는, 비파괴 검사기기인 방사선 촬상장치.
12. 피검체를 조사(照射)해서 검출된 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간간격 으로 선택하고, 샘플링 시간간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 근거해서 방사선화상을 얻는 신호처리를 하는 방사선검출 신호 처리방법에 있어서,

    상기 방법은,

    샘플링 시간간격으로 선택되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수 개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 공정;

    그 재귀적 연산처리를 행할 때에 재귀적 연산처리의 기점 시에 잔류하고 있는 래그 신호값에 근거해서 재귀적 연산처리를 위한 초기값을 결정하는 공정;

    그 초기값에 근거하는 재귀적 연산처리에 의해, 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하는 공정을 포함하는 방사선 검출신호 처리방법.
13. 제12항에 있어서,

    방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식A∼C,

    X_k = Y_k －Σ^N _{n =1}［S_nk] … A

    T_n = -Δt/τ_n … B

    S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)} … C

    단, Δt : 샘플링 시간간격

    k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

    Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

    X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

    X_{k -1} : 일시점 전의 X_k

    S_{n (k-1)} : 일시점 전의 Ｓ_nk

    exp ： 지수함수

    N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

    n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

    α_n : 지수함수 n의 강도

    τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

    에 의해서 행함과 동시에, 초기값을 식 D,

    X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ … D

    단, γ_n : 어떤 감쇠시정수τ_n의 성분n의 잔류 비율

    Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점 시(時)인 방사선 비조사 시에 잔류하고 있는 래그 신호값

    에 의해서 행하며, 상기 식 D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식 A∼C에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하는 방사선 검출신호 처리방법.
14. 제13항에 있어서,

    각각의 잔류비율 γ_n을 식E,

    Σ^N _{n =1}[γ_n］≤1, 0≤γ_n … E

    단, Σ^N _{n =1}［γn] : 성분n의 잔류비율γ_n의 총합

    의 조건을 만족시키도록 설정하는 방사선 검출신호 처리방법.
15. 제14항에 있어서,

    식E는

    Σ^N _{n =1} [γ_n ] = 1 … E´

    의 조건을 만족시키는 동시에, 각각의 잔류비율 n을 식 F,

    γ₁ = γ₂ =…= γ_n =…= γ_N-1 = γ_N … F

    의 조건을 만족하도록 설정함으로써, 식 D는

    S_n0 = Y₀/N … D´

    로 표현되는 방사선 검출신호 처리방법.
16. 제14항에 있어서,

    식E는

    Σ^N _{n =1}［γ_n] < 1 … E″

    의 조건을 만족시키는 동시에, 어떤 감쇠시정수τ_m의 성분m에서의 잔류비율 M, 그 이외의 잔류비율 N을 식 G,

    0 <γ_M <1, γ_N = 0 … G

    의 조건을 만족시키도록 설정하는 방사선 검출신호처리 방법.
17. 제12항에 있어서,

    방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A∼C,

    X_k ＝ Y_k －Σ^N _{n =1}［S_nk] … A

    T_n = -Δt/τ_n … B

    S_nk = exp(T_n)·{α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·Ｓ_n(k-1)} … C

    단, t : 샘플링 시간간격

    k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

    Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

    X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

    X_{k -1} : 일시점(一時点) 전의 X_k

    S_{n (k-1)} : 일시점 전의 S_nk

    exp ： 지수함수

    N: 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

    n: 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

    α_n : 지수함수 n의 강도

    τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

    에 의해서 행함과 동시에,

    X₀ = 0, 0 < S_n0 < Y₀을 만족시킬 수 있는 S_n0을 초기값으로서 결정하고,

    결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식A∼C에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하는 방사선 검출신호처리 방법.
18. 제12항에 있어서,

    방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 a∼c,

    X_k = Y_k －Σ^N _{n =1}［α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·S_nk] … a

    T_n = -Δt/τ_n…b

    S_nk = X_{k -1} + exp(T_n)·Ｓ_n(k-1) … c

    단, Δt : 샘플링 시간간격

    k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

    Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

    X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

    X_{k -1} : 일시점 전의 X_k

    S_{n (k-1)} : 일시점 전의 Ｓ_nk

    exp ： 지수함수

    N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

    n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

    α_n : 지수함수 n의 강도

    τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

    에 의해서 행함과 동시에, 초기값을 식D,

    X₀ = 0, S_n0 = γ_n·Y₀ … D

    단, γ_n : 어떤 감쇠시정수τ_n의 성분 n의 잔류 비율

    Y₀ : 재귀적 연산처리의 기점 시(時)인 방사선 비조사 시에 잔류하고 있는 지연신호값

    에 의해서 행하며, 상기 식D에 의해 결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식a∼c에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하는 방사선 검출신호 처리방법.
19. 청구항 12에 기재의 방사선 검출신호처리 방법에 있어서,

    방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 a∼c,

    X_k = Y_k －Σ^N _{n =1}［α_n·[1-exp(T_n)]·exp(T_n)·S_nk] … a

    T_n = -Δt/τ_n … b

    S_nk = X_{k -1} + exp(T_n)·Ｓ_n(k-1) … c

    단, Δt : 샘플링 시간간격

    k : 샘플링 한 시계열 내의 ｋ번째의 시점을 나타내는 첨자

    Y_k ： k번째의 샘플링 시점에서 선택된 방사선 검출신호

    X_k ： Y_k 로부터 시간지연분을 제거한 보정 후 방사선 검출신호

    X_{k -1} : 일시점 전의 X_k

    S_{n (k-1)} : 일시점 전의 Ｓ_nk

    exp ： 지수함수

    N : 임펄스 응답을 구성할 때 정수가 다른 지수함수의 개수

    n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중의 하나를 나타내는 첨자

    α_n : 지수함수 n의 강도

    τ_n : 지수함수 n의 감쇠시정수

    에 의해서 행함과 동시에,

    X₀ = 0, 0 < S_n0 < Y₀을 만족시킬 수 있는 S_n0을 초기값으로서 결정하고,

    결정된 초기값에서의 조건으로, 상기 식 A∼C에 의해 구해진 상기 임펄스 응답에 근거해서 시간지연분을 제거하고, 보정 후 방사선 검출신호를 구하는 방사선 검출신호처리 방법.

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