KR20070072352A - 가상 리뷰를 이용한 검사 시스템 및 그 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (22)
- 어레이 기판이나 컬러필터 기판 상에 형성된 결함(defect)을 촬영하여 캡쳐 이미지를 획득하고, 상기 결함과 관련된 검사 정보들을 제공하는 검사 장비;상기 검사 장비로부터 제공받은 상기 검사 정보를 데이터베이스화한 후, 전송하는 메인 서버; 및상기 메인 서버로부터 전송받은 상기 검사 정보에 기초하여 상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 불량 여부를 판정하여 판정 결과를 산출하고, 산출된 판정 결과를 상기 메인 서버로 전송하는 리뷰(review) 호스트를 포함하는 검사 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 결함과 관련된 검사 정보는,상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 ID, 상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판 상에 형성된 복수의 패널 ID, 검출된 결함의 순서에 따른 결함의 번호, 상기 결함을 촬영한 이미지 파일 및 상기 결함을 검출한 검사 장비의 번호를 포함하는 검사 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 판정 결과는,상기 결함의 수리(repair)가 요청되는 경우, 상기 결함의 상태가 양호한 경우, 상기 결함의 상태가 불량인 경우, 상기 결함의 상태를 판정하기 어려운 경우로 구분되는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
- 제3항에 있어서, 상기 판정 결과가 수리 요청인 경우,상기 메인 서버에 의해 상기 검사 장비로 상기 결함의 수리가 요청되고, 이에 따라 상기 검사 장비에 의해 상기 결함이 수리되는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
- 제4항에 있어서,상기 검사 장비에 의해 상기 결함이 수리되면, 수리된 결함 부분을 촬영한 캡쳐 이미지가 생성되고, 생성된 상기 캡쳐 이미지가 상기 검사 장비로부터 상기 메인 서버로 전송되는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
- 제1항에 있어서,상기 메인 서버로부터 상기 캡쳐 이미지를 전송받아 수리된 상기 결함의 상태에 기초하여 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 불량 여부를 판정하는 품질 관리 호스트를 추가로 포함하는 검사 시스템.
- 제1항에 있어서,상기 결함의 상태를 판정하기 어려운 경우, 상기 결함을 실시간으로 촬영한 라이브 이미지에 기초하여 상기 결함의 상태를 재검사하는 재검 호스트를 추가로 포함하는 검사 시스템.
- 어레이 기판이나 컬러필터 기판 상에 형성된 결함(defect)을 촬영하여 캡쳐 이미지를 획득하고, 상기 결함과 관련된 검사 정보들을 제공하는 검사 장비;상기 검사 장비로부터 제공받은 상기 검사 정보를 데이터베이스화한 후, 전송하는 메인 서버;상기 메인 서버로부터 전송받은 상기 검사 정보에 기초하여 상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 불량 여부를 판정하여 판정 결과를 산출하고, 산출된 판정 결과를 상기 메인 서버로 전송하는 제1 리뷰(review) 호스트; 및상기 메인 서버로부터 상기 캡쳐 이미지를 전송받아 수리된 상기 결함의 상태에 기초하여 상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 불량 여부를 판정하는 제2 리뷰 호스트를 포함하는 검사 시스템.
- 제8항에 있어서, 상기 결함과 관련된 검사 정보는,상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 ID, 상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판 상에 형성된 복수의 패널 ID, 검출된 결함의 순서에 따른 결함의 번호, 상기 결함을 촬영한 이미지 파일 및 상기 결함을 검출한 검사 장비의 번호를 포함하는 검사 시스템.
- 제8항에 있어서, 상기 판정 결과는,상기 결함의 수리(repair)가 요청되는 경우, 상기 결함의 상태가 양호한 경우, 상기 결함의 상태가 불량인 경우, 상기 결함의 상태를 판정하기 어려운 경우로 구분되는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
- 제10항에 있어서, 상기 판정 결과가 수리 요청인 경우,상기 메인 서버에 의해 상기 검사 장비로 상기 결함의 수리가 요청되고, 이에 따라 상기 검사 장비에 의해 상기 결함이 수리되는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
- 제11항에 있어서,상기 검사 장비에 의해 상기 결함이 수리되면, 수리된 결함 부분을 촬영한 캡쳐 이미지가 생성되고, 생성된 상기 캡쳐 이미지가 상기 검사 장비로부터 상기 메인 서버로 전송되는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
- 제8항에 있어서,상기 결함의 상태를 판정하기 어려운 경우, 상기 결함을 실시간으로 촬영한 라이브 이미지에 기초하여 상기 결함의 상태를 재검사하는 재검 호스트를 추가로 포함하는 검사 시스템.
- 제8항에 있어서,상기 검사 장비의 상태를 모니터링하여 작업자를 호출하기 위한 알람 호스트를 추가로 포함하는 검사 시스템.
- 제8항에 있어서,상기 메인 서버가 동작하지 않을 경우에 상기 메인 서버와 동일한 기능을 수행하는 서브 서버를 추가로 포함하는 검사 시스템.
- 어레이 기판이나 컬러필터 기판 상에 형성된 결함(defect)을 촬영하여 캡쳐 이미지를 획득하고, 상기 결함과 관련된 검사 정보들이 검사 장비로부터 제공되는 단계;상기 검사 장비로부터 제공되는 상기 검사 정보가 메인 서버에 의해 데이터베이스화된 후, 전송되는 단계; 및상기 메인 서버로부터 전송된 상기 검사 정보에 기초하여 상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 불량 여부가 판정되어 판정 결과가 산출되고, 산출된 판정 결과가 상기 메인 서버로 전송되는 단계를 포함하는 검사 방법.
- 제16항에 있어서, 상기 결함과 관련된 검사 정보는,상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판의 ID, 상기 어레이 기판이나 컬러필터 기판 상에 형성된 복수의 패널 ID, 검출된 결함의 순서에 따른 결함의 번호, 상기 결함을 촬영한 이미지 파일 및 상기 결함을 검출한 검사 장비의 번호를 포함하는 검사 방법.
- 제16항에 있어서, 상기 판정 결과는,상기 결함의 수리(repair)가 요청되는 경우, 상기 결함의 상태가 양호한 경우, 상기 결함의 상태가 불량인 경우, 및 상기 결함의 상태를 판정하기 어려운 경우로 구분되는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 판정 결과가 수리 요청인 경우,상기 메인 서버에 의해 상기 검사 장비로 상기 결함의 수리가 요청되고, 이에 따라 상기 검사 장비에 의해 상기 결함이 수리되는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
- 제19항에 있어서,상기 검사 장비에 의해 상기 결함이 수리되면, 수리된 결함 부분을 촬영한 캡쳐 이미지가 생성되고, 생성된 상기 캡쳐 이미지가 상기 검사 장비로부터 상기 메인 서버로 전송되는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
- 제16항에 있어서,상기 메인 서버로부터 상기 캡쳐 이미지를 전송받아 수리된 상기 결함의 상태에 기초하여 기판의 불량 여부를 판정하는 단계를 추가로 포함하는 검사 방법.
- 제16항에 있어서,상기 결함의 상태를 판정하기 어려운 경우, 상기 결함을 실시간으로 촬영한 라이브 이미지에 기초하여 상기 결함의 상태를 재검사하는 단계를 추가로 포함하는 검사 방법.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006338022A JP4762876B2 (ja) | 2005-12-30 | 2006-12-15 | 仮想レビューを利用した検査システム及びそれを用いた検査方法 |
TW095147288A TWI328111B (en) | 2005-12-30 | 2006-12-15 | Test system and test method using virtual review |
US11/644,637 US7509237B2 (en) | 2005-12-30 | 2006-12-22 | Test system and test method using virtual review |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050135812 | 2005-12-30 | ||
KR20050135812 | 2005-12-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070072352A true KR20070072352A (ko) | 2007-07-04 |
KR100926117B1 KR100926117B1 (ko) | 2009-11-11 |
Family
ID=38251136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060114947A KR100926117B1 (ko) | 2005-12-30 | 2006-11-21 | 가상 리뷰를 이용한 검사 시스템 및 그 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7509237B2 (ko) |
JP (1) | JP4762876B2 (ko) |
KR (1) | KR100926117B1 (ko) |
CN (1) | CN1995991A (ko) |
TW (1) | TWI328111B (ko) |
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-
2006
- 2006-11-21 KR KR1020060114947A patent/KR100926117B1/ko active IP Right Grant
- 2006-12-15 TW TW095147288A patent/TWI328111B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-12-15 JP JP2006338022A patent/JP4762876B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-12-22 US US11/644,637 patent/US7509237B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-12-28 CN CNA2006101682535A patent/CN1995991A/zh active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1995991A (zh) | 2007-07-11 |
JP4762876B2 (ja) | 2011-08-31 |
US20070159179A1 (en) | 2007-07-12 |
TW200734627A (en) | 2007-09-16 |
TWI328111B (en) | 2010-08-01 |
JP2007183260A (ja) | 2007-07-19 |
US7509237B2 (en) | 2009-03-24 |
KR100926117B1 (ko) | 2009-11-11 |
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A201 | Request for examination | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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