KR20070028231A - 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법 및 신틸레이션 측정장치 - Google Patents

표시 장치의 신틸레이션 측정 방법 및 신틸레이션 측정장치 Download PDF

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Abstract

광원을 내장한 표시 장치(1)의 표시 화상에 나타나는 신틸레이션(scintilation)을 측정하는 신틸레이션 측정 장치(2)는, 표시 화상을 상기 표시 화상에 대한 촬상(撮像) 각도 θ1, θ2가 서로 다른 복수의 촬상 위치 P1, P2로부터 각각 촬상함으로써 복수의 촬상 화상을 얻는 촬상 수단(21, 22)과, 각 촬상 화상의 표시 화상과의 대응 화소끼리의 비교에서 휘도가 상이한 화소 데이터를 신틸레이션 정보로서 취득하는 신틸레이션 취득 수단(23)을 구비한다. 이것에 의해, 시선을 이동시켰을 때에 느끼기 쉬운 표시 화상의 신틸레이션을 검출할 수 있고, 신틸레이션 정보에 따른 화소 데이터에 의거하여 표시 화상의 신틸레이션 정도를 정량적으로 측정할 수 있게 된다.
표시 화상, 신틸레이션 측정 장치, 촬상 수단, 신틸레이션 취득 수단

Description

표시 장치의 신틸레이션 측정 방법 및 신틸레이션 측정 장치{SCINTILLATION MEASURING METHOD OF DISPLAY DEVICE AND SCINTILLATION MEASURING DEVICE}
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에서의 신틸레이션(scintillation) 측정 장치의 구성 개략도.
도 2는 상기 실시예에서의 신틸레이션 측정 대상인 표시 장치의 표시 화상을 나타낸 평면도.
도 3은 상기 실시예에서의 화상 처리 장치의 구성을 나타낸 블록도.
도 4의 (a)는 상기 실시예에서의 촬상(撮像) 화상 M1을 나타낸 도면.
도 4의 (b)는 상기 실시예에서의 촬상 화상 M2를 나타낸 도면.
도 5는 상기 실시예에서의 화상 처리 장치의 처리를 나타낸 플로차트.
도 6은 상기 실시예에서의 촬상 화상 사이의 차분(差分) 정보를 나타낸 도면.
도 7의 (a)는 상기 실시예에서의 신틸레이션 정보를 나타낸 도면.
도 7의 (b)는 도 7의 (a)의 부분 확대도.
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에서의 신틸레이션 측정 장치의 구성 개략도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 표시 장치 2 : 신틸레이션 측정 장치
10 : 표시 패널 21, 22 : CCD 카메라
23 : 화상 처리 장치 24 : 영상 신호 발생 장치
본 발명은 광원을 내장한 표시 장치의 표시 화상에 나타나는 신틸레이션의 측정 방법 및 신틸레이션 측정 장치에 관한 것이다.
종래 광원광을 화상 정보에 의거하여 변조(變調)함으로써 형성한 광학상을 표시하는 것으로서, CRT(Cathode Ray Tube), 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display), 플라스마 디스플레이(Plasma Display Panel), 유기 EL 디스플레이(electroluminescence display), 프로젝터 등의 각종 표시 장치가 널리 이용되고 있다.
이러한 표시 장치에서의 디스플레이 패널의 표시 화상이나, 스크린 등에 투사된 표시 화상을 눈으로 보고, 시선을 약간 이동시켰을 때 등에, 표시 화상의 일부에 희고 밝은 섬광(신틸레이션)을 느끼는 경우가 있다. 이 신틸레이션은 디스플레이 패널 등에 설치된 확산 부재나 렌즈에 의한 광속(光束) 확산, 반사 등에 기인하는 것으로 생각되며, 표시 화상 중에 휘도가 다른 것보다도 높은 화소가 존재하기 때문에 느낀다. 이 신틸레이션은 매우 미세하여 표시 화상을 보는 위치 등에 따라서는 느끼지 않는 경우도 있으며, 표시 화상을 단순히 촬상(撮像)하여 화상 처리 등을 행하여도, 그 검출이 곤란하다.
이러한 배경에 의해, 신틸레이션을 측정하는 기술은 아직 알려져 있지 않다.
또한, 다른 분야에서는 예를 들어 자동차의 차체 도장면(塗裝面)의 광택을 측정하는 기술이 알려져 있다(문헌 1: 일본국 공개특허평7-27704호 공보). 여기서는, 다수의 슬릿이 평행하게 나열된 슬릿판과 확산판을 갖는 광원 장치에 의해 도장면을 조명하고, 도장면에 평행 격자 패턴의 상을 형성하는 동시에, 도장면을 촬상하여, 화상 처리 장치에 의해, 도장면의 촬상 화상에서의 평행 격자와 직교하는 방향으로 변화되는 신호 변화량을 검출하고, 이 신호 변화량으로부터 얻어진 경사각에 의거하여 도장면의 광택을 측정한다.
또한, 마찬가지로, 도장면의 표면 성상(性狀)의 측정에 관하여, LED(Light Emitting Diode) 광원을 도장면에 조사(照射)하고, 카메라에 의해 그 반사 화상을 받아들이며, 화상 처리에 있어서, 도장면의 반사 화상에 확산 정도 등에 따라 생기는 각 화소의 명암, 에지(edge)에서의 반사율 변화 등으로부터 도장면의 광택, 선영성(鮮映性), 평활성 등을 측정하는 기술이 있다(문헌 2: "Paint Quality measurement", [online], Perceptron사, [2005년 8월 17일 검색], 인터넷<URL:www.perceptron.co.jp/product/paint/autospect.html>).
또한, 도장면의 표면 성상의 측정에 관하여, 복수의 각도로부터 도장면을 조명하는 동시에, 이들 조명 각도가 상이한 도장면을 각각 촬상하고, 각 촬상 화상에서의 색 차이에 의거하여 도장면의 금속성, 건조성, 평활성 등을 측정하는 기술이 있다(문헌 3: "변각 광학계 화상 색차계", [online], 쿠라보사, [2005년 8월 17일 검색], 인터넷<URL:http://www.kurabo.co.jp/el/af/afhl_01.html>).
도장면의 표면 성상을 측정 가능한 기술로서는, 문헌 1, 문헌 2, 및 문헌 3 등과 같은 기술이 있지만, 이들은 모두 외부의 광원 장치를 사용하며, 광원(발광체를 포함함)이 내장된 표시 장치에 의한 표시 화질의 측정 원리에 적용할 수는 없었다.
최근의 정보화 사회에 있어서, 텔레비전 방송의 시청, 인터넷 열람, 영상 소프트웨어의 감상을 비롯하여, 프리젠테이션, 회의, 전시회 등 각종 표시 장치가 이용되는 기회가 증대되고 있어 표시 장치의 중요성은 점점 높아지고 있다. 이것에 따라, 표시 장치에서의 화질 향상이 한층 더 요망되고 있다. 고화질 표시 장치를 사무실, 거리, 학교, 가정 등에 안정된 품질로 다수 공급할 필요가 있다.
그를 위해서는, 표시 장치의 제조 시에 표시 화상의 신틸레이션을 정량적으로 측정하는 검사를 실시함으로써, 소정의 신틸레이션 품질을 확보할 필요가 있다.
또한, 정량적으로 측정된 신틸레이션 정도를 피드백함으로써, 신틸레이션이 생기지 않는 표시 장치의 개발에도 기여하고자 한다.
본 발명은 이러한 문제를 감안하여, 표시 장치의 표시 화상에서의 신틸레이션 측정 방법 및 신틸레이션 측정 장치를 제공하는 것을 주요한 목적으로 한다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법은, 광원(光源)을 내장한 표시 장치의 표시 화상에 나타나는 신틸레이션 측정 방법으로서, 상기 표시 화상을 상기 표시 화상에 대한 촬상(撮像) 각도가 서로 다른 복수의 촬상 위치로부터 각각 촬상 함으로써 복수의 촬상 화상을 얻는 촬상 공정과, 상기 각 촬상 화상의 상기 표시 화상과의 대응 화소끼리의 비교에서 휘도가 상이한 화소 데이터를 신틸레이션 정보로서 취득하는 신틸레이션 취득 공정을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 각도를 바꾸어 촬상된 각 촬상 화상의 대응 화소에서의 휘도 상이에 의거하여 신틸레이션 정보를 취득함으로써, 시선을 이동시켰을 때에 느끼기 쉬운 표시 화상의 신틸레이션이 검출되고, 신틸레이션 정보에 따른 화소 데이터에 의거하여 표시 화상의 신틸레이션 정도를 정량적으로 측정할 수 있게 된다.
여기서, 대응 화소는 각 촬상 화상에서 표시 화상의 동일한 위치를 나타내는 화소를 의미한다.
각 촬상 화상을 촬상할 때에 표시 장치에 표시하는 표시 화상은 단색(單色), 예를 들어 광원광이 출사되어 명점(明點)을 파악하기 쉬운 백색의 화상으로 하는 것이 바람직하다.
또한, 촬상 화상의 수는 2개로 충분하지만, 3개, 4개 이상 등 촬상 각도가 상이한 다수의 촬상 화상을 사용함으로써, 표시 화상을 다양한 방향으로부터 보았을 때의 신틸레이션을 측정할 수 있게 된다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법에 있어서, 상기 촬상 공정에서는, 상기 각 촬상 위치에 각각 배치된 복수개의 촬상 수단에 의해 상기 촬상 화상을 촬상하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 복수개의 촬상 수단에 의해 복수의 촬상 위치에서의 촬상 화상을 대략 동시에 얻는 것이 가능해지기 때문에, 신틸레이션의 측정을 신속화할 수 있다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법에 있어서, 상기 촬상 공정에서는, 상기 각 촬상 위치를 차례로 이동시키는 촬상 수단에 의해 상기 촬상 화상을 촬상하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 적어도 1개의 촬상 수단에 의해 복수회에 걸쳐 촬상함으로써 각 촬상 화상이 얻어지기 때문에, 신틸레이션 측정에 따른 장치의 구성을 간략화할 수 있다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법에 있어서, 상기 촬상 공정에서는, 상기 각 촬상 위치에서의 상기 촬상 각도의 각도차를 1°∼10°로 하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 각 촬상 화상 사이에서의 촬상 각도의 차가 1°∼10°인 것에 의해, 신틸레이션 측정을 확실하게 실시할 수 있다.
즉, 신틸레이션은 시선을 약간 이동시켰을 때에 감지되는 것으로서, 비교하는 촬상 화상의 촬상 각도의 차가 1° 미만 또는 10° 초과일 때는, 각 촬상 화상 사이에서의 대응 화소의 휘도 상이를 얻는 것이 곤란해진다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법에 있어서, 상기 촬상 공정에서는, 상기 표시 화상에 표지 패턴을 표시한 상태에서 상기 촬상 화상을 촬상하고, 상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 각 촬상 화상에서의 상기 표지 패턴끼리의 위치를 맞춘 후, 상기 각 촬상 화상에서의 동일 위치의 화소를 상기 대응 화소로서 비교하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 표지 패턴을 사용하여 촬상 화상끼리의 위치 보정을 실시하기 때문에, 각 촬상 화상의 대응 화소끼리의 비교를 용이하게 할 수 있다.
또한, 표지 패턴의 형태로서는, 예를 들어 사각형 표시 화상의 4개의 코너에 각각 표시하는 사각형 프레임 형상의 패턴을 예시할 수 있다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법에 있어서, 상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 각 촬상 화상 사이의 감산(減算) 처리에 의해 상기 신틸레이션 정보를 취득하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 촬상 화상끼리의 감산에 의해 각 촬상 화상에서의 대응 화소의 차분(差分)이 즉시 얻어져, 각 촬상 화상 사이의 비교를 용이하게 할 수 있다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법에 있어서, 상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 신틸레이션 정보로부터 상기 대응 화소끼리의 비교에서의 휘도차가 소정의 임계값 이상인 화소 데이터를 추출하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 휘도차가 임계값 미만으로서 눈으로 보았을 때에 신틸레이션으로 느끼지 않는 것이나, 촬상 각도의 상이에 의해 휘도차가 생긴 것이 신틸레이션 정보로부터 제외되어, 신틸레이션의 평가를 적정화할 수 있다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법에 있어서, 상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 신틸레이션 정보에서의 화소 면적에 의거하여 신틸레이션 값을 산출하는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 상술한 휘도의 상이에 의해 신틸레이션 정보로서 취득된 화소 데이터의 화소 면적 값을 이용하여 신틸레이션 값을 산출하기 때문에, 휘도차가 커도 면적이 작을 경우는 신틸레이션 값이 작고, 반대로 휘도차가 작아도 면적이 클 경우는 신틸레이션 값이 커진다. 즉, 신틸레이션 측정 시에 휘도의 상이에 더하여 면적을 이용함으로써, 신틸레이션의 평가를 적정화할 수 있다.
본 발명의 표시 장치의 신틸레이션 측정 장치는, 광원을 내장한 표시 장치의 표시 화상에 나타나는 신틸레이션 측정 장치로서, 상기 표시 화상을 상기 표시 화상에 대한 촬상 각도가 서로 다른 복수의 촬상 위치로부터 각각 촬상함으로써 복수의 촬상 화상을 얻는 촬상 수단과, 상기 각 촬상 화상의 상기 표시 화상과의 대응 화소끼리의 비교에서 휘도가 상이한 화소 데이터를 신틸레이션 정보로서 취득하는 신틸레이션 취득 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 각도를 바꾸어 촬상된 표시 화상의 각 촬상 화상을 서로 비교함으로써, 각 촬상 화상의 상이로부터 시선을 이동시켰을 때에 느끼기 쉬운 표시 화상의 신틸레이션이 검출되고, 각 촬상 화상의 차분량 등에 의거하여 표시 화상의 신틸레이션 정도를 정량적으로 측정할 수 있게 된다.
또한, 상술한 신틸레이션 측정 장치의 신틸레이션 취득 수단은 하드웨어에 의해 실현할 수도 있지만, 측정 프로그램을 이용하여 실현할 수도 있다.
그 측정 프로그램에서는, 상기 신틸레이션 측정 장치에 일체로 구성된 컴퓨터를 상기 신틸레이션 취득 수단으로서 기능시키면 된다.
이렇게 구성하면, 상술한 신틸레이션 측정 방법 및 측정 장치와 동일한 작용 효과를 향수(享受)할 수 있다.
여기서, 상기 측정 프로그램은 컴퓨터에 일체로 구성할 수도 있고, 상기 프로그램을 기억한 컴퓨터 판독 가능한 기억 매체를 통하여 일체로 구성할 수도 있다.
이러한 측정 프로그램을 기존 화상 표시 장치 등에 일체로 구성하여, 신틸레이션 측정 기능을 저렴한 비용으로 용이하게 부가할 수 있다.
(제 1 실시예)
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해서 설명한다.
[1. 전체 구성]
도 1은, 본 실시예에 있어서, 표시 장치(1)의 표시 화상에 나타나는 신틸레이션을 측정하는 신틸레이션 측정 장치(2)의 구성 개략도이다.
표시 장치(1)는 도 1에 측면도로서 간략하게 도시되고, 정면에 표시 패널(10)을 구비한 액정 디스플레이로서 구성되어 있다. 또한, 표시 장치(1)는 플라스마 디스플레이, 유기 EL 디스플레이, CRT, 또는 케이싱(casing)의 정면에 설치된 스크린 패널에 패널 후방(後方)으로 되는 케이싱 내부로부터 표시 화상을 투사하는 리어 프로젝터(rear projector) 등일 수도 있다. 또한, 벽 등에 설치된 스크린에 투사 렌즈를 통하여 표시 화상을 투사하는 프런트(front) 투사 타입의 프로젝터일 수도 있다.
도 2는 표시 장치(1)의 정면도이며, 표시 패널(10)에 표시된 대략 평면 사각형 형상의 표시 화상(100)을 나타낸다. 표시 화상(100)의 4개의 코너에는 정사각형 프레임 형상의 표지 패턴(101∼l04)이 각각 표시된다.
도 1로 되돌아가, 신틸레이션 측정 장치(2)는 표시 장치(1)의 표시 화상(100)(도 2)을 촬상하는 촬상 수단인 2개의 CCD(Charge Coupled Devices) 카메라(21, 22)와, CCD 카메라(21, 22)에 의해 각각 촬상한 촬상 화상을 처리하는 화상 처리 장치(23)와, 표시 장치(1)에 송신하는 영상 신호를 생성하는 영상 신호 발생 장치(24)를 구비하여 구성되어 있다.
영상 신호 발생 장치(24)는 표지 패턴(101∼104)을 포함하는 표시 화상(100)의 영상 신호를 생성하는 것이며, 신틸레이션 측정 시는, 일정한 영상 신호를 표시 장치(1)에 공급한다.
여기서, 영상 신호 발생 장치(24)에 의해 생성되는 영상 신호에 있어서, 표지 패널(101∼104) 이외의 측정 영역(A)(표지 패턴(101∼104)의 프레임 내도 포함함)의 각 화소는 모두 동일한 휘도로서, 측정 영역(A)은 본 실시예에서는 백색의 단색 화상이며, 화상 성분은 모두 동일하게 되어 있다.
CCD 카메라(21, 22)는 표시 장치(1)의 표시 화상(100)의 중앙 C 근방(도 2)에 대향 배치되고, 표시 화상(100) 전체를 시야(視野)로 하는 동일한 배율의 것으로 되어 있다.
이들 CCD 카메라(21, 22)는 표시 화상(100)(도 2)의 평면 종방향(도 1 중의 상하 방향)에서 서로 어긋난 위치에 배치되어 있으며, CCD 카메라(21, 22)가 각각 배치된 촬상 위치 P1, P2로부터 표시 화상(100)의 중앙 C를 연결하는 각 시선 L1, L2와, 표시 화상(100)의 평면이 각각 이루는 촬상 각도 θ1, θ2의 각도차 Δθ는 1°∼10°의 범위에서 임의로 설정할 수 있다.
또한, 본 실시예에서는 표시 화상(100)의 중앙 C와 대략 정대(正對)하는 위치에 CCD 카메라(21, 22)를 설치했지만, CCD 카메라(2l, 22)의 설치 위치는 표시 화상(100)에 대하여 경사지는 위치일 수도 있다.
[2. 화상 처리 장치의 구성]
도 3은 화상 처리 장치(23)의 구성을 나타낸 블록도이다.
화상 처리 장치(23)는 CCD 카메라(21, 22)(도 1)의 촬상 화상에서의 위치를 맞추는 위치 보정 수단(231)과, CCD 카메라(21)의 촬상 화상과 CCD 카메라(22)의 촬상 화상을 감산(減算)하는 감산 수단(232)과, 감산된 데이터를 보정하는 화상 필터(233)와, 이 필터 처리에 의해 취득된 신틸레이션 정보에서의 데이터를 적산(積算)·보정하는 적산·보정 수단(234)을 구비하고, 이들 수단(231∼234)은 CPU 등의 제어 수단(230)에 각각 판독되어 실행된다.
여기서, 위치 보정 수단(231), 감산 수단(232), 화상 필터(233), 및 적산·보정 수단(234)에 의해 신틸레이션 취득 수단이 구성되어 있다.
[3. 신틸레이션 측정 순서]
이러한 구성의 신틸레이션 측정 장치(2)에서의 측정 순서에 대해서 설명한다.
[3-1. 촬상 공정]
우선, CCD 카메라(21, 22)에서는 대략 동시에 표시 화상(100)을 촬상하여, 촬상 화상을 화상 처리 장치(23)에 받아들인다.
본 실시예에서는, 도 4의 (a) 및 (b)에 나타낸 바와 같은 촬상 화상 M1, M2 가 얻어진다.
[3-2. 신틸레이션 취득 공정]
다음으로, 화상 처리 장치(23)에서 CCD 카메라(21, 22)의 각 촬상 화상 M1, M2를 처리하고, 표시 화상(100)에서의 신틸레이션을 신틸레이션 정보로서 취득한다.
도 5는 화상 처리 장치(23)에서의 처리의 플로차트이다.
신틸레이션의 취득 시에, 위치 보정 수단(231)에 의해, CCD 카메라(21, 22)의 각 촬상 화상 M1, M2의 위치 보정을 실시한다(S1). 이 때, 위치 보정 수단(231)은 영상 신호 발생 장치(24)로부터 표지 패턴(101∼104)의 정보를 취득하고, 촬상 화상 M1, M2(도 4의 (a) 및 (b))에서의 표지 패턴(101∼104)끼리의 위치 및 크기를 맞춘다. 이것에 의해, 촬상 화상 M1, M2에서의 동일 위치의 화소(대응 화소)가 표시 화상의 동일 위치를 가리키게 된다.
이렇게 하여 촬상 화상 M1, M2의 위치 보정이 종료되면, 감산 수단(232)에 의해, 촬상 화상 M1, M2 사이에서 감산 처리를 실시하여 차분 정보를 얻는다(S2). 촬상 화상 M1, M2에는, 도 4의 (a) 및 (b)에 나타낸 바와 같이, 촬상 화상 M1에 있고 촬상 화상 M2에 없는 영역(R1)과, 촬상 화상 M2에 있고 촬상 화상 M1에 없는 영역(R2, R3)과, 촬상 화상 M1, M2의 양쪽에 있는 영역(R4)이 존재하고, 촬상 화상 M1, M2 사이의 감산 처리에 의해, 도 6에 나타낸 바와 같이, 휘도가 상이한 화소 데이터만이 추출(抽出)된 차분 정보 M3이 얻어진다. 차분 정보 M3은 영역 Rl, R2, R3을 포함하고, 영역 R4를 포함하지 않는다.
또한, 도 4의 (a), 도 4의 (b) 및 도 6에 있어서, 영역(R1, R2) 등을 일부러 크게 도시했다. 실제로는, 이들 영역은 표시 화상(100)을 순간적으로 눈으로 보았을 때에는 느끼지 않을 만큼 상당히 미세한 것이다. 또한, 이들 영역(R1, R2) 등은 그 형상, 산점(散點) 개소, 및 그 수 등이 불규칙하게 나타난다.
다음으로, 차분 정보 M3을 화상 필터(233)에 의해 보정한다(S3). 이 화상 필터(233)는 소위 「평활(平滑)」이라고 불리는 것이며, 이 화상 필터(233)에 의해, 감산 수단(232)에서의 디지털 감산의 오차 등에 기인하여 추출된 영역(R3)에 상당하는 부분이 차분 정보 M3으로부터 제외되어, 신틸레이션으로 평가할 수 있는 데이터만이 추출된다. 그 결과, 도 7의 (a)에 나타낸 바와 같이, 영역(R1, R2)을 포함하는 신틸레이션 정보 M4가 얻어진다.
또한, 도 7의 (b)에 영역(R1)을 예로 들어 나타낸 바와 같이, 이들 영역(R1, R2)은 휘도가 상이한 복수의 화소(D)에 의해 구성되어 있다.
이어서, 적산·보정 수단(234)에 의해, 신틸레이션 정보 M4에서의 영역(R1, R2)의 각 화소(D)에 대해서 소정의 휘도를 임계값으로 하여 상기 임계값 이상의 휘도인 화소(D)를 추출하는 동시에, 이 화소(D)의 면적을 적산한다(S4).
이 화소(D)의 면적의 적산값을 필요에 따라 보정함으로써, 신틸레이션 값이 산출된다. 이 신틸레이션 값에 의해, 표시 장치(1)의 화질을 정량적으로 평가할 수 있다. 또한, 이 신틸레이션 값을 개발에 피드백함으로써, 신틸레이션이 생기지 않는 표시 장치의 개발에 기여할 수 있다.
상술한 본 실시예에 의하면, 다음과 같은 효과가 얻어진다.
(1) 신틸레이션 측정 장치(2)에서는, 표시 장치(1)의 표시 화상(100)에 대한 각도가 상이한 촬상 화상 M1, M2를 얻어, 이들 촬상 화상 M1, M2에서의 화소(D)의 휘도 상이를 포함하는 신틸레이션 정보 M4를 취득함으로써, 시선을 이동시켰을 때에 느끼는 표시 화상(100)의 신틸레이션을 검출할 수 있다. 그리고, 신틸레이션 정보 M4에 포함되는 화소(D)의 면적에 의거하여 표시 화상(100)의 신틸레이션 값을 정량적으로 측정할 수 있게 된다.
(2) 또한, 신틸레이션 측정 장치(2)는 복수개의 CCD 카메라(21, 22)를 구비하고, 이들 CCD 카메라(21, 22)에 의해 복수의 촬상 위치 P1, P2에서의 촬상 화상 M1, M2를 대략 동시에 얻는 것이 가능해지기 때문에, 신틸레이션의 측정을 신속화할 수 있다.
(3) CCD 카메라(21, 22)의 설치 위치에 관하여, 표시 화상(100)에 대한 서로의 촬상 각도 θ1, θ2의 각도차 Δθ가 1°∼10°로 설정되어 있기 때문에, 눈으로 보아 시선을 약간 이동시켰을 때와 대략 동일하게, 표시 화상(100)에 나타난 신틸레이션을 적절하게 파악할 수 있어 신틸레이션의 측정을 확실하게 실시할 수 있다.
(4) 또한, 표시 화상(100)에 표지 패턴(101∼104)을 표시한 상태에서 촬상을 실시하고, 이들 표지 패턴(101∼104)을 사용하여 촬상 화상 M1, M2끼리의 위치 보정을 실시하기 때문에, 촬상 화상 M1, M2에서의 대응 화소끼리의 비교를 용이하게 할 수 있다.
(5) 또한, 신틸레이션 정보 M4의 취득 시에, 촬상 화상 M1, M2끼리의 감산 처리(S2)에 의해 각 촬상 화상 M1, M2에서의 대응 화소의 차분이 즉시 얻어져, 각 촬상 화상 M1, M2 사이의 비교를 용이하게 할 수 있다.
(6) 또한, 신틸레이션 정보 M4로부터 소정 휘도 이상의 휘도로 되는 화소(D)를 추출하고, 추출한 화소(D)만을 신틸레이션 값의 산출에 이용함으로써, 소정 휘도 미만으로서 눈으로 보았을 때에 신틸레이션으로 느끼지 않는 것이나 촬상 각도의 상이에 의해 휘도차가 생긴 것이 제외되어, 신틸레이션의 평가를 적정화할 수 있다.
(7) 그리고, 신틸레이션 값의 산출 시에는, 화소(D)의 면적 값을 이용함으로써, 신틸레이션의 정량화가 용이해지는 동시에, 신틸레이션의 평가를 적정화할 수 있다.
(제 2 실시예)
다음으로, 본 발명의 제 2 실시예에 대해서 설명한다.
또한, 이하의 설명에서는 상술한 실시예와 동일한 구성에 대해서는 동일한 부호를 첨부하여, 설명을 생략하거나 간략하게 한다.
도 8은 본 실시예에서의 신틸레이션 측정 장치(3)를 나타낸 구성 개략도이다.
제 1 실시예의 신틸레이션 측정 장치(2)(도 1)는 2개의 CCD 카메라(21, 22)를 구비하고 있었지만, 본 실시예의 신틸레이션 측정 장치(3)는 CCD 카메라(31)를 1개만 구비한다. 신틸레이션 측정 장치(3)의 그 이외의 구성은 제 1 실시예의 신틸레이션 측정 장치(2)와 대략 동일하다.
CCD 카메라(31)는 이동 수단(도시 생략)에 의해 표시 화상(100)(도 2)의 종방향을 따라 이동 가능하게 설치되고, 표시 장치(1)의 표시 화상(100)의 중앙 C와 정대하는 촬상 위치 P1과 촬상 위치 P2에 정지할 수 있게 되어 있다.
촬상 위치 P1과 표시 화상(100)의 중앙 C를 연결하는 시선 L1과 표시 화상(100)의 평면이 이루는 촬상 각도 θ1은 90°이고, 촬상 위치 P2와 표시 화상(100)의 중앙 C를 연결하는 시선 L2와 표시 화상(100)의 평면이 이루는 촬상 각도 θ2는 100°이며, 이들 촬상 각도 θ1, θ2의 각도차 Δθ는, 본 실시예에서는 10°로 되어 있다. 이 Δθ는 1°∼10°로 설정할 수 있다.
이러한 구성에 의해, 표시 장치(1)의 표시 화상(100)을 촬상하여 신틸레이션을 측정할 때에는, CCD 카메라(31)가 촬상 위치 P1에 정지한 상태에서 촬상 화상 M1을 얻은 후, CCD 카메라(31)를 촬상 위치 P2까지 이동시키고, CCD 카메라(31)가 촬상 위치 P2에 정지한 상태에서 다시 촬상하여 촬상 화상 M2를 얻는다.
이들 촬상 화상 M1, M2를 화상 처리 장치(23)에 받아들여, 제 1 실시예와 동일하게 처리함으로써, 표시 화상(100)에 나타나는 신틸레이션이 정량적으로 측정된다.
본 실시예에 의하면, 상술한 (1) 및 (3)∼(7)의 효과에 더하여 다음의 효과가 얻어진다.
(8) CCD 카메라(31)가 촬상 위치 P1, P2를 이동 가능하게 설치되고, 이 CCD카메라(31)에 의해 복수회 촬상함으로써 촬상 화상 M1, M2가 얻어지기 때문에, 복수개의 카메라를 구비할 필요가 없어, 신틸레이션 측정 장치(3)의 구성을 간략화할 수 있다.
(본 발명의 변형예)
또한, 본 발명은 상술한 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 목적을 달성할 수 있는 범위에서의 변형, 개량 등이 본 발명에 포함되는 것이다.
예를 들어 상기 각 실시예에서는 사각형 표시 화상(100)(도 2)의 종방향에서의 각도가 상이한 촬상 위치 P1, P2로부터 각각 표시 화상(100)을 촬상했지만, 이것에 한정되지 않아, 예를 들어 표시 화상(100)의 횡방향 또는 대각 방향 등에서 각도가 상이한 촬상 위치로부터 촬상한 경우의 촬상 화상에 의거하여 신틸레이션을 측정할 수도 있다.
또한, 제 1 실시예에서의 CCD 카메라는 동일한 배율이며, 시야가 표시 화상(100)의 사각형 범위로 설정되어 있었지만, 이것에 한정되지는 않는다. 배율이나 시야가 상이한 카메라를 사용할 경우는, 표지 패턴 등을 사용하여 각 촬상 화상 사이의 위치 보정을 행하면 된다.
또한, CCD 카메라 이외의 촬상 수단도 사용할 수 있다.
촬상 화상 사이의 위치 보정용으로서 표시 화상에 표시하는 표지 패턴의 형태는, 상기 각 실시예에 나타낸 것에 한정되지 않는다. 사각, 삼각, 선 등의 도형에 한정되지 않아, 문자 등의 패턴을 표지 패턴으로서 표시하는 것도 가능하며, 표지 패턴의 표시 위치, 수 등도 임의이다.
또한, 표지 패턴을 사용하지 않고, 예를 들어 액정 패널에서의 블랙 매트릭스의 위치 등을 기준으로 하여 촬상 화상 사이의 위치 보정을 행하는 것도 생각할 수 있다.
또한, 상기 각 실시예에서는 표시 화상이 촬상되는 촬상 위치가 2개소였지만, 이것에 한정되지 않아, 3개소, 4개소, 그 이상일 수도 있다. 이와 같이, 촬상 각도가 상이한 다수의 촬상 위치로부터의 촬상 화상을 사용함으로써, 표시 화상을 다양한 방향으로부터 보았을 때의 신틸레이션을 측정할 수 있게 된다.
이 경우, 표시 화상(100)에 대한 촬상 위치를 표시 화상(100)(도 2)의 종방향에 따른 순서로 P1, P2, P3의 3개소로 하면, P1과 P2, P2와 P3, P1과 P3 각각에서의 촬상 화상끼리를 비교할 수 있다.
또한, 본 발명에 의해 얻어지는 신틸레이션 값에 의해 표시 장치의 화질 향상이 촉진되는 결과, 신틸레이션이 저감되고, 상당히 미세한 신틸레이션의 측정이 곤란해졌을 경우에는, 예를 들어 제 1 실시예의 CCD 카메라(21, 22)에 의해 각각 복수회 표시 화상(100)을 촬상했을 때의 촬상 화상 데이터를 적분함으로써, 분해능(分解能)을 향상시키는 것을 생각할 수 있다. 이들 CCD 카메라(21, 22)에 의해 각각 적분된 데이터에 대하여 감산 처리 등의 화상 처리를 실시함으로써, 상당히 미세한 신틸레이션일지라도 측정할 수 있게 된다.
본 발명을 실시하기 위한 최선의 구성, 방법 등은 이상의 기재에서 개시되어 있지만, 본 발명이 이것에 한정되지는 않는다. 즉, 본 발명은 주로 특정 실시예에 관하여 특별히 도시되고, 또한 설명되어 있지만, 본 발명의 기술적 사상 및 목적의 범위로부터 일탈하지 않고, 상술한 실시예에 대하여 형상, 재질, 수량, 그 이외의 상세한 구성에서 당업자가 다양한 변형을 부가할 수 있는 것이다.
따라서, 상기에 개시한 형상, 재질 등을 한정한 기재는 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위해 예시적으로 기재한 것이며, 본 발명을 한정하지는 않기 때문에, 이들 형상, 재질 등의 한정의 일부 또는 전부의 한정을 벗어난 부재의 명칭에서의 기재는 본 발명에 포함되는 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 의하면, 표시 장치의 표시 화상에서의 신틸레이션 측정 방법 및 신틸레이션 측정 장치를 제공할 수 있다.

Claims (9)

  1. 광원(光源)을 내장한 표시 장치의 표시 화상에 나타나는 신틸레이션(scintillation) 측정 방법으로서,
    상기 표시 화상을 상기 표시 화상에 대한 촬상(撮像) 각도가 서로 다른 복수의 촬상 위치로부터 각각 촬상함으로써 복수의 촬상 화상을 얻는 촬상 공정과,
    상기 각 촬상 화상의 상기 표시 화상과의 대응 화소끼리의 비교에서 휘도가 상이한 화소 데이터를 신틸레이션 정보로서 취득하는 신틸레이션 취득 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 촬상 공정에서는, 상기 각 촬상 위치에 각각 배치된 복수개의 촬상 수단에 의해 상기 촬상 화상을 촬상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 촬상 공정에서는, 상기 각 촬상 위치를 차례로 이동시키는 촬상 수단에 의해 상기 촬상 화상을 촬상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬상 공정에서는, 상기 각 촬상 위치에서의 상기 촬상 각도의 각도차를 1°∼10°로 하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  5. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬상 공정에서는, 상기 표시 화상에 표지 패턴을 표시한 상태에서 상기 촬상 화상을 촬상하고,
    상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 각 촬상 화상에서의 상기 표지 패턴끼리의 위치를 맞춘 후, 상기 각 촬상 화상에서의 동일 위치의 화소를 상기 대응 화소로서 비교하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  6. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 각 촬상 화상 사이의 감산(減算) 처리에 의해 상기 신틸레이션 정보를 취득하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  7. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 신틸레이션 정보로부터 상기 대응 화소끼리의 비교에서의 휘도차가 소정의 임계값 이상인 화소 데이터를 추출(抽出)하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  8. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 신틸레이션 취득 공정에서는, 상기 신틸레이션 정보에서의 화소 면적에 의거하여 신틸레이션 값을 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 방법.
  9. 광원을 내장한 표시 장치의 표시 화상에 나타나는 신틸레이션 측정 장치로서,
    상기 표시 화상을 상기 표시 화상에 대한 촬상 각도가 서로 다른 복수의 촬상 위치로부터 각각 촬상함으로써 복수의 촬상 화상을 얻는 촬상 수단과,
    상기 각 촬상 화상의 상기 표시 화상과의 대응 화소끼리의 비교에서 휘도가 상이한 화소 데이터를 신틸레이션 정보로서 취득하는 신틸레이션 취득 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 신틸레이션 측정 장치.
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